JP6625184B2 - 焦点検出装置、撮像装置、焦点検出方法および焦点検出プログラム - Google Patents
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Description
C(k)=Σ|E(n)−F(n+k)| (1)
シフト量kは整数(1,2,3,・・・)、すなわち離散的な値であり、所定のシフト量の可変範囲(シフト量検出範囲)1〜mで変更される。
D={C(kj−1)−C(kj+1)}/2 (3)
SLOP=MAX{C(kj+1)−C(kj),C(kj−1)−C(kj)} (4)
このようにして、画素セット以下の単位(精度)で最小相関値C(ks)を与えるシフト量ksが推定される。推定されたシフト量(以下、推定シフト量という)ksは、A像信号406aとB像信号406bの相関度が最大となるシフト量、すなわちA像信号406aとB像信号406bの位相差としてデフォーカス量算出部404に入力される。
DEF=KX・PY・ks (5)
ただし、PYはA像およびB像信号のうち一方を生成するためのサブ画素のピッチであり、KXはA像およびB像を形成する一対の光束の重心の射出瞳での開き角の大きさによって決まる変換係数(単位はmm/サブ画素)である。開き角の大きさは撮像光学系104の絞り値に応じて変化し、絞り値が大きく開き角が小さくなるほど、変換係数KXは大きな値となる。本実施例では、変換係数KXを、撮像光学系104の絞り値に応じて決定する。
図10には、合成係数αを示している。横軸は相関値の傾きSLOPを示し、縦軸は合成係数αの値(0〜1)を示している。A像信号405aおよびB像信号405bに高い空間周波数の成分が含まれる場合は、固定フィルタ処理部901を高い空間周波数の成分が高い振幅で通過するため、3点内挿部903が出力する相関値の傾きSLOPも大きくなり、合成係数αも大きくなる。このため、デフォーカス量合成部910からは、A像信号405aおよびB像信号405bに高い空間周波数の成分が含まれる場合は、シフト量検出範囲にかかわらず推定精度が高い合成デフォーカス量DEF_Mが出力される。
ただし、Anはx座標nにおけるA像信号の値であり、|An−An+1|はA像信号の1次微分絶対値である。同様に、Bnはx座標nにおけるB像信号の値であり、|Bn−Bn+1|はB像信号の1次微分絶対値である。つまり、コントラスト評価値OLCは、可変フィルタ処理部401を通過したA像信号406aとB像信号406bのエッジ成分の積分値である。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
104 撮像光学系
105 撮像部
107 画像処理部(焦点検出装置)
Claims (12)
- 撮像光学系により形成された被写体像を撮像素子により撮像して得られた位相差検出用の一対の像信号に対してバンドパスフィルタ処理を行う処理手段と、
前記フィルタ処理後の一対の像信号を所定のシフト量検出範囲で相対的にシフトさせて相関演算を行い、該相関演算結果に基づいてシフト量を算出する算出手段とを有し、
前記処理手段は、前記撮像光学系の被写界深度に対応する前記シフト量検出範囲の幅に応じて、前記バンドパスフィルタ処理に用いるバンドパスフィルタ特性を変更することを特徴とする焦点検出装置。 - 前記処理手段は、前記バンドパスフィルタの特性を、前記シフト量検出範囲で決まる周波数より高い周波数の信号を抑圧する特性に変更することを特徴とする請求項1に記載の焦点検出装置。
- 前記処理手段は、前記シフト量検出範囲の幅に応じた複数の前記バンドパスフィルタ特性のうち振幅周波数特性のピーク周波数が最も高いバンドパスフィルタ特性を選択することを特徴とする請求項1または2に記載の焦点検出装置。
- 前記算出手段は、前記シフト量から前記撮影光学系のデフォーカス量を算出することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の焦点検出装置。
- 前記処理手段は、前記撮像光学系の焦点距離および絞り値に応じて前記シフト量検出範囲の幅を変更することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の焦点検出装置。
- 前記バンドパスフィルタ処理後の前記一対の像信号のコントラスト評価値を生成する生成手段と、
前記コントラスト評価値を用いて前記デフォーカス量の信頼度を判定する判定手段とを有することを特徴とする請求項4に記載の焦点検出装置。 - 前記処理手段は、撮像により得られた前記一対の像信号に対して、前記バンドパスフィルタ処理として、前記シフト量検出範囲の幅に応じて変更した前記バンドパスフィルタ特性を用いた第1のバンドパスフィルタ処理と前記第1のバンドパスフィルタ処理にて用いる前記バンドパスフィルタ特性とは異なり、かつ前記シフト量検出範囲の幅に応じて変更しないバンドパスフィルタ特性を用いた第2のバンドパスフィルタ処理とを行い、
前記算出手段は、前記デフォーカス量として、前記第1のバンドパスフィルタ処理後の前記一対の像信号から第1のデフォーカス量を算出するとともに前記第2のバンドパスフィルタ処理後の前記一対の像信号から第2のデフォーカス量を算出し、該第1および第2のデフォーカス量の重み付け加算により得られた第3のデフォーカス量を算出することを特徴とする請求項4に記載の焦点検出装置。 - 前記第1のバンドパスフィルタ処理後の前記一対の像信号のコントラスト評価値を生成する生成手段と、
前記コントラスト評価値を用いて前記デフォーカス量の信頼度を判定する判定手段とを有することを特徴とする請求項7に記載の焦点検出装置。 - 前記撮像素子は、1つのマイクロレンズと複数の画素とを含む画素セットを複数有し、
前記算出手段は、前記画素セット以下の単位で前記位相差を算出することを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の焦点検出装置。 - 撮像光学系により形成された被写体像を撮像する撮像素子と、
請求項1から9のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、
前記焦点検出装置により算出された前記シフト量に基づいて前記撮像光学系のフォーカス制御を行う制御手段とを有することを特徴とする撮像装置。 - 撮像光学系により形成された被写体像を撮像素子により撮像して得られた位相差検出用の一対の像信号に対してバンドパスフィルタ処理を行い、
前記フィルタ処理後の一対の像信号を所定のシフト量検出範囲で相対的にシフトさせて相関演算を行い、該相関演算結果に基づいてシフト量を算出する焦点検出方法であって、
前記撮像光学系の被写界深度に対応する前記シフト量検出範囲の幅に応じて、前記バンドパスフィルタ処理に用いるバンドパスフィルタ特性を変更することを特徴とする焦点検出方法。 - コンピュータに、
撮像光学系により形成された被写体像を撮像素子により撮像して得られた位相差検出用の一対の像信号に対してバンドパスフィルタ処理を行わせ、
前記フィルタ処理後の一対の像信号を所定のシフト量検出範囲で相対的にシフトさせて相関演算を行い、該相関演算結果に基づいてシフト量を算出させるコンピュータプログラムであって、
前記撮像光学系の被写界深度に対応する前記シフト量検出範囲の幅に応じて、前記バンドパスフィルタ処理に用いるバンドパスフィルタ特性を変更させることを特徴とする焦点検出プログラム。
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JP2018183042A JP6625184B2 (ja) | 2018-09-28 | 2018-09-28 | 焦点検出装置、撮像装置、焦点検出方法および焦点検出プログラム |
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