JP6577478B2 - タッチ・センサ上の指追跡線形性を改良する動的にスケール化された線形補正の使用 - Google Patents

Description

本発明は全般的にタッチ・センサに関するものである。具体的には、本発明は、相対的により広い電極間の間隔を有する結果、非線形の追跡となることがあり、測定した指のサイズに基づいてオンザフライでスケール化される補正を適用することによって補正される大規模タッチ・センサに関する。

容量感応タッチ・センサには様々な設計がある。いずれの容量感応タッチパッドであれ、どのように変更すれば本発明と共に動作可能になるかより良く理解するためには、基礎技術を調べることが有用である。

CIRQUE Corporation製のタッチパッドは、相互容量検知デバイスであり、一例を図１にブロック図として示す。このタッチパッド１０では、Ｘ（１２）およびＹ（１４）電極の格子ならびに検知電極１６が、タッチパッドのタッチ感応エリア１８を規定するために用いられる。通例、タッチパッド１０は約１６×１２電極、または空間に制約があるときには８×６電極の矩形格子である。これらＸ（１２）およびＹ（１４）（または行および列）電極には、１つの検知電極１６が織りまぜられる。全ての位置測定は検知電極１６を通じて行われる。

CIRQUE Corporation製のタッチパッド１０は、検知線１６上における電荷の不均衡を測定する。タッチパッド１０上またはその近傍にポインティング・オブジェクトがない場合、タッチパッド回路２０は均衡状態にあり、検知線１６上には電荷の不均衡はない。ポインティング・オブジェクトがタッチ表面（タッチパッド１０の検知エリア１８）に接近またはタッチしたときの容量性結合のために、指示物体が不均衡を生ずると、電極１２、１４上に容量変化が生ずる。測定するのは容量変化であって、電極１２、１４上における絶対容量値ではない。タッチパッド１０は、検知ライン上において電荷均衡を再確立するため即ち再現するために、検知ライン１６に注入しなければならない電荷量を測定することによって、容量変化を判定する。

以上のシステムは、タッチパッド１０上またはその近傍にある指の位置を、以下のようにして判定するために利用される。この例では、行電極１２について説明し、列電極１４についても同様に繰り返される。行および列電極の測定から得られた値が、タッチパッド１０上またはその近傍にあるポインティング・オブジェクトの重心である交点を決定する。

第１ステップでは、Ｐ，Ｎ発生器２２からの第１信号によって第１組の行電極１２が駆動され、Ｐ，Ｎ発生器からの第２信号によって、異なるが隣接する第２組の行電極が駆動される。タッチパッド回路２０は、どの行電極がポインティング・オブジェクトに最も近いかを示す相互容量測定デバイス２６を用いて、検知線１６からの値を得る。しかしながら、マイクロコントローラ２８の制御下にあるタッチパッド回路２０は、行電極のどちら側にポインティング・オブジェクトが位置するか未だ判定することができず、タッチパッド回路２０は、指示物体が電極からどの位離れて位置するか判定することもできない。このため、このシステムは駆動されることになる電極１２のグループを１電極だけシフトする。言い換えると、グループの一方側に電極を追加し、グループの逆側にある電極はもはや駆動されない。次いで、新たなグループがＰ，Ｎ発生器２２によって駆動され、検知線１６の第２測定値が取り込まれる。

これら２つの測定値から、行電極のどちら側にポインティング・オブジェクトが位置するのか、そしてどれ位離れて位置するのか判定することが可能になる。次いで、２つの測定された信号の振幅を比較する式を用いて、指示物体の位置判定を行う。
CIRQUE Corporation製のタッチパッドの感度または分解能は、１６×１２格子の行および列電極が含意するよりも遥かに高い。分解能は、通例、１インチ当たり約９６０カウント以上である。正確な分解能は、コンポーネントの感度、同じ行および列上にある電極１２、１４間の間隔、そして本発明にとっては重要でないその他の要因によって決定される。以上のプロセスは、Ｐ，Ｎ発生器２４を用いて、Ｙ即ち列電極１４に対して繰り返される。
以上で説明したCIRQUE製タッチパッドは、ＸおよびＹ電極１２、１４の格子、ならびに別個の単独検知電極１６を使用するが、多重化を使用することによって、実際には検知電極もＸまたはＹ電極１２、１４にすることができる。

広い電極間隔を有する大規模なタッチ・センサでは、幾らかの非線形性の問題を有するカーソル移動を結果として生じさせることなく、小さい指の追跡を正確に行うことは困難である。タッチ・センサで測定される固定サイズを有するペンまたはスタイラスを使用するときに、２つの線形修正ルックアップ・テーブルを使用して、ＸおよびＹ軸で補償することができる。残念なことに、この方法では、ポインティング・オブジェクト（例えば指）が移動するにつれて追跡されるポインティング・オブジェクトがサイズを変化する場合に、非線形性を補正することができない。これは、指のサイズが一定ではないことに因る。指のサイズはユーザに対して変化することになる。ユーザがセンサの表面にわたり指を移動するときでさえ、指のサイズは変化する。

したがって、移動中にサイズが変化するオブジェクトについて補償し、また、大規模なタッチ・センサ上で追跡されるにつれて移動の線形反応を生成するのを可能にするための方法が必要とされる。

第１実施形態では、本発明は、オブジェクトの非線形な追跡を補正するシステムおよび方法である。オブジェクトは、電極間に比較的大きな間隔を有する大規模タッチ・センサ上を移動するときにサイズを変化させることがある。本システムおよび方法は、タッチ・センサによって測定される指のサイズを常に計算することによってオンザフライで動的に補償し、次いで、測定したサイズをスケール化することによって、ルックアップ・テーブルを用いてＸおよびＹ軸で如何なるサイズの指についても補償できるようにする。

本発明のこれらおよびその他の目的、特徴、利点、ならびに代替態様は、以下の詳細な説明を添付図面と合わせて検討し考察することから、当業者には明白となるであろう。

図１は、CIRQUE Corporationによって製造され、本発明の原理にしたがって動作させることができる容量感応タッチパッドが有するコンポーネントのブロック図である。 図２は、本明細書で規定される、電極間の広い間隔、即ちピッチを有する大規模タッチ・センサの表面にわたる指の平行移動についての図である。 図３は、電極間の広いピッチを有する大規模タッチ・センサの表面にわたる同一の指の平行移動についての図であるが、広いピッチによって生じる測定時の誤りを補正するために、本発明の第１実施形態を用いるものである。 図４は、本発明の第１実施形態で使用される線形補正(Linear Correction)テーブルである。

これより、本発明の種々のエレメントに番号指定(numeral designation)が与えられた図面を参照して、当業者が本発明を行い、使用することを可能にするように、本発明について説明する。尚、以下の記載は、本発明の原理の説明に過ぎず、後に続く特許請求の範囲を狭めるように解釈してはならないことは言うまでない。
尚、本文書を通じて、「タッチ・センサ」という用語の使用は、「近接センサ」、「タッチ・センサ」、「タッチおよび近接センサ」、「タッチ・パネル」、「タッチパッド」、および「タッチ・スクリーン」と相互交換可能に使用されてもよいことは、理解されてしかるべきである。

本発明は、広い電極間隔を有する大規模なタッチ・センサの非線形反応を低減させることによって動作を改良することを目的とする。広い間隔を有する大規模なタッチ・センサは、同一平面上の平行電極間の間隔が、指または検出されている他のポインティング・オブジェクトの最小幅に近いか、またはこれよりも広いタッチ・センサとして規定される。より詳細には、Ｘ電極の各々の間の等距離の間隔、またはＹ電極の各々の間の等距離の間隔のことを、通例は電極のピッチと称する。電極のピッチが、追跡されている指のサイズに近づいていくと、隣接した電極に対してより少ない影響を指が及ぼし始める。その結果、タッチ・センサにわたり対角直線に移動している指におけるタッチ・センサからの反応は、段階を追うように移動しているように出現する。更に一般的には、タッチ・センサの反応は、非線形であるものとして規定することができる。

なお、タッチ・センサとの接触を行う全ての指またはポインティング・オブジェクト（以降、単に指と称する。）の非線形反応をタッチ・センサが与えることにはならないことが理解されるべきである。例えば、指がピッチより非常に大きい場合は、タッチ・センサの反応は線形となる。したがって、本発明は、タッチ・センサによって実質的な非線形反応を補正するためのものである。ここでは、実質的な非線形反応とは、直線に移動している指に、線形ではない反応を有するようにさせることがある任意の反応である。

ピッチが指の幅よりも非常に大きいか、或いは非常に小さいときに、ピッチはまた、タッチ・センサの反応に影響を及ぼすこともある。

図２は、従来技術について示すものである。具体的には、表示３２上に示される線３０は、タッチ・センサ（非図示）の表面上で平行な対角線を移動する指の追跡を表している。線３０は、直線ではなく、変動(fluctuating)即ち波形の(wavy)外観を有する。タッチ・センサのピッチは、指の幅に近い。この例では、ＸおよびＹ電極のピッチは約８ｍｍである。本発明によって解決される課題を示すために、ポインティング・オブジェクトは、８ｍｍの正確で変化することのない径を有する。

図３は、図２で使用した指の追跡を表すが、本発明の原理を適用する表示３２上の線３０について図示するものである。線は、目下、非常により直線的であり、第１実施形態によって適用されている線形補正を示している。

本発明の第１実施形態は、タッチ・センサによって検出される指のサイズを最初に測定することによって開始する。サイズが計算されるレートは、本発明において限定的ではない。タッチ・センサのハードウェアは、当該タッチ・センサの動作に遅延を引き起こすことなく所望の計算を実行する能力を有するものと想定することができる。指のサイズは、１秒あたり１回から最大１０００回まで再計算することができる。指のサイズは、補正される指の位置を決定するために実行される計算ごとに決定することができる。

指のサイズを測定した後、次のステップは、スケール因子を決定することである。スケール因子は測定した指のサイズをスケール化するのに使用され、その結果、タッチ・センサ上の指の位置に適用されることになる線形補正を決定するために、単一のルックアップ・テーブルを使用することができる。したがって、指のサイズを決定するのに行われる全ての測定は常にスケール化され、その結果、指のサイズがあたかも一定であるかのように、線形補正が常に適用される。

測定された指に適用されるスケール因子は、オンザフライ(on-the-fly)で計算され、その結果、位置の計算に適用される線形補間を整合させることができる。正確なスケール因子を適用する際の整合性は、指がタッチ・センサの表面に沿って移動するにつれて指のサイズが変化するときでも維持される。例えば、ユーザがタッチ・センサ上でより激しくまたはより軽く押圧するときに、指はサイズを変化させることがあり、幾分の指先の変形を引き起こす。

一旦スケール因子が決定されると、スケール因子はルックアップ・テーブルに適用される。第１実施形態では、ルックアップ・テーブルは、タッチ・センサによって検出されることになる最小の指サイズについて生成することができる。次いで、スケール因子が使用されて、どれくらいより大きくまたは小さく、適用される線形補正が行われることになるかが決定される。換言すれば、測定された指のサイズが、線形補正テーブルを生成するのに使用された指のサイズと同一である場合には、スケール因子は線形補正を変更することにはならない。しかしながら、測定された指のサイズが、線形補正のルックアップ・テーブルについて使用されたサイズよりも大きいか或いは小さいと見いだされると、スケール因子は増加または減少される。

この第１実施形態では、最小の指が８ｍｍであると想定される。しかしながら、追跡されている指または他のポインティング・オブジェクトが、実際はより小さくてもよいことが理解されるべきである。ルックアップ・テーブルは、タッチ・センサによって追跡される最小のオブジェクトについて較正されるのに使用される必要がある。

指が追跡されるにつれて、（直接のタッチ・センサの測定から）報告される位置は、線形補正ルックアップ・テーブルを使用して計算された、補正された位置と比較される。第１実施形態は、適用される必要がある補正の量を効果的にスケール・ダウンさせることができる。何故ならば、タッチ・センサの反応は、指サイズが増えるにつれてより非線形となるからである。指のサイズが増加するにつれて、指は、電極のピッチよりもかなり大きくなり、非線形性は減少し、補正はより一層必要がなくなる。

第１実施形態の１つの利点は、線形補正を実行するという本発明の機能を有しなくても見込まれるよりも、より広い電極間隔を有する大規模なタッチ・センサを提供できることである。つまり、電極数を増加させる必要なしに大規模なタッチ・センサを製造することができ、それでいて尚も同じパフォーマンスを達成することができる。

線形補正がより大きなタッチ・センサに適用される詳細な例を挙げる。第１ステップは、計算で必要となる定数である４つの値を生成することである。この定数は、特定のタッチ・センサに一意であるが、特定のピッチを有するタッチ・センサのために一度決定しさえすればよい。定数は、ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ１、ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ２、８ｍｍＹｒａｗ、および１ｍｍＤｅｌｔａである。これら定数は、次のように決定される。

８ｍｍＹｒａｗおよび１ｍｍＤｅｌｔａの値は、基本的に信号強度の計算である。これらの値は、実験に基づいて(empirically)タッチ・センサから取得することができる。つまり、８ｍｍの指は、約９０００ユニットの信号を生成する。約９０００ユニットは、線形補正を提供するために、この例では第１実施形態が設計される、最小の指に対して割り当てられる値である。値は実際にはわずかにより高くてもよいが、差分は関連しない。９０００の値は、第１実施形態が正しく動作するのに十分近いものとなる。同様に、１ｍｍＤｅｌｔａの１３００ユニットという値は、１ｍｍのオブジェクトについての、タッチ・センサによって検出される８ｍｍの指よりも大きいサイズとの信号強度の差分である。

定数ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ１およびＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ２は、特定のサイズの指についてのスケール因子を決定する式で使用される係数である。ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ１およびＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ２は、線に対して線形回帰(linear regression)を行うことによって計算され、異なるサイズの指についてルックアップ・テーブルのデータに必要とされるスケールの量を表す。補正の必要がない指に対するタッチ・センサの反応を表すデータがあるものと想定する。また、そのデータは直線によって表されるものと想定する。線形回帰関数ｙ＝ＣＯ＋Ｃ１＊ｘ（ここで、ｘはｘ座標である）を用いて、何らの補正も必要とされない直線に一致させるのにスケール・ダウンする必要がある特定の指サイズのデータがどれくらいかを計算する。

例えば、（最も多くの補正を必要とする）最小の指サイズは、スケール１を表すことになる。わずかにより大きい指の場合は、より少ない補正を必要とすることになるので、必要な補正量は０．９となる。更により大きい指の場合は、０．７５のスケール因子を必要とすることになる。これらスケール因子を使用して、指サイズ対スケール因子の値を表す線を生成することができる。このデータに線形回帰を実行することで、任意の指サイズを採用して、使用するスケール因子を計算するのを可能とするために使用される定数を生成することになる。使用される実際のスケール係数は、新規のタッチ・センサごとに計算される。スケール因子は、同一のセンサ上で多くの異なるサイズの指について必要とされる補正を比較することによって、計算される。

所望の反応に一致させるために、これら指サイズのそれぞれからどれくらいの線がスケールされる必要があるかについて一旦決定すると、次いで、このデータは線形回帰関数において使用され、他の２つの係数、ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ１およびＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ２を取得することができる。

一旦定数が計算されると、これらは、同一のピッチおよび誘電性特性を有する如何なるタッチ・センサにも使用することができ、再計算される必要がない。次の例において、定数は次のように決定される。
ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ１ ＝０．９９７６
ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ２ ＝−０．２５９６
８ｍｍＹｒａｗ ＝９０００
１ｍｍＤｅｌｔａ ＝１３００
なお、次の計算は、タッチ・センサ電極におけるＹ軸の指の位置を取得するために使用されることが理解されるべきである。しかしながら、同じ原理が、Ｘ軸における指の位置を取得するのに適用される。

第１ステップは、線形補正が適用される前に、測定されたＹ位置を取得することである。この例では、ＹＲａｗが、１７２２カウントであると見いだされる。この値は、タッチ・センサ回路から取得される。CIRQUE Corporation製の大規模タッチ・センサの典型的なサイズは、４０００カウントにわたるものとすることができる。しかしながら、このサイズは、制限的なものとみなしてはならない。タッチ・スクリーンとの比較を試行する場合、カウントはピクセルと類似のものとなる。

第２ステップは、次の式を使用して指のサイズを測定することである。
Ｓｉｚｅ ＝（ＹＲａｗ −８ｍｍＹｒａｗ） ／１ｍｍＤｅｌｔａ
ここでは、ＹＲａｗは、１０ｍｍのサイズである指の信号強度、即ち１６７０ユニットであり、８ｍｍＹｒａｗは、システムが補正可能な最小の指の信号強度を表す定数である。Ｓｉｚｅは、２．０５３８４６であると決定される。換言すれば、測定されている指からの信号強度に基づけば、指は、ベースとなる指である８ｍｍの指よりも２．０５３８４ｍｍ大きい。つまり、指は１０．０５３８４６ｍｍのサイズである。

第３ステップは、次の式を用いてスケール因子（ＳｃａｌｅＦａｃｔｏｒ）を計算することである。
ＳｃａｌｅＦａｃｔｏｒ ＝ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅｌ ＋（Ｓｉｚｅ ＊ＳｃａｌｅＳｌｏｐｅ２）
ここでは、ＳｃａｌｅＦａｃｔｏｒは０．４６４４２２であった。換言すれば、Ｙ軸の指の測定位置に付加する補正の量を決定するために適用されることになるＳｃａｌｅＦａｃｔｏｒが０．４６４４２２である。なお、指が９ｍｍまたは８ｍｍのサイズである場合よりも少ない補正となることが留意されるべきである。

第４ステップは、次の式を用いて電極カウント（ＥｌｅｃｔｒｏｄｅＣｏｕｎｔ）を計算することである。
ＥｌｅｃｔｒｏｄｅＣｏｕｎｔ ＝Ｍｅａｓｕｒｅｄ ＹＰｏｓｉｔｉｏｎ ／２５６
ここでは、ＥｌｅｃｔｒｏｄｅＣｏｕｎｔは６．７２６５６３であると決定される。
次のステップは、ＥｌｅｃｔｒｏｄｅＣｏｕｎｔの整数部分を小数部分から分離することである。整数部、即ちＥｌｅｃｔｒｏｄｅは６であり、小数部、即ちインデックス（Ｉｎｄｅｘ）は０．７２６５６３である。

次のステップは、次の式を用いてインデックス・カウント（ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔ）を決定することである。
ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔ ＝Ｉｎｄｅｘ ＊２５６
ここでは、ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔが１８６であると計算される。

次のステップは、線形補正（Linear Correction）テーブルを使用して、測定した位置に適用する線形補正の量を決定することである。通例、ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔ値の１８６は、ルックアップ・テーブルにおいて対応の補正値の位置を特定するのに使用される。

図４は、第１実施形態で使用される線形補正テーブルである。線形補正テーブルは、見込まれるあらゆる測定済みＹ位置に対して実際のＹ位置を見いだすのに使用される単純なルックアップ・テーブルである。測定された指が、目下、あたかもそれが８ｍｍの指であるかのようにスケール化されているので、取得した値が、測定された位置に適用されるべき線形補正の量となる。この例では、ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔ値の１８６は、対応する新規の値である１６９を特定するのに使用される。これら２つの位置における差分は、８ｍｍの指に必要とされる補正の量を表す。

次のステップは、次の式を使用することである。
ＤｅｌｔａＣｏｒｒｅｃｔｉｏｎ ＝８ｍｍＬＣ Ｖａｌｕｅ −ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔ
ここでは、ＤｅｌｔａＣｏｒｒｅｃｔｉｏｎは１６９−１８６の（−１７）であるであると計算される。

次のステップは、次の式を使用することによって、スケール化された補正値を取得することである。スケール化された補正値は、実際に測定された指サイズについての補正である。
ＳｃａｌｅｄＣｏｒｒｅｃｔｉｏｎ ＝ ＤｅｌｔａＣｏｒｒｅｃｔｉｏｎ ＊ ＳｃａｌｅＦａｃｔｏｒ
ここでは、ＳｃａｌｅｄＣｏｒｒｅｃｔｉｏｎ ＝ −７．８９５１７である。

次のステップは、次の式を使用してＣｏｒｒｅｃｔｅｄｌｎｄｅｘ値を取得することである。
Ｃｏｒｒｅｃｔｅｄｌｎｄｅｘ ＝ＳｃａｌｅｄＣｏｒｒｅｃｔｉｏｎ ＋ ＩｎｄｅｘＣｏｕｎｔ
ここでは、Ｃｏｒｒｅｃｔｅｄｌｎｄｅｘ ＝ １７８．１０４８である。

最後のステップは、指の新規の位置を取得することである。これは、次の式を使用する：
ＮｅｗＰｏｓｉｔｉｏｎ ＝ｉｎｔｐａｒｔ（ＣｏｒｒｅｃｔｅｄＩｎｄｅｘ） ＋ （Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ ＊ ２５６）
ここでは、ＮｅｗＰｏｓｉｔｉｏｎ ＝ １７１４である。実際のＹ位置である１７１４と比較される、測定されたＹ位置（ＹＰｏｓｉｔｉｏｎ）は１７２２である。

次のステップは、先に示したＹ軸の代わりにＸ軸において測定を行うこと除いて、同じ計算を実行することとしてよい。両方の軸で線形補正アルゴリズムを実行することによって、タッチ・センサで測定される如何なるサイズの指について、タッチ・センサは位置を補正することができる。

本発明はまた、複数の指のために同時に同じ計算を実行することもできる。このように、本発明はまた、単一の指のアプリケーションと同様、マルチ・タッチ・アプリケーションに対しても機能することもできる。

第１実施形態は、本発明が、電極の間の非常に広いピッチを有するタッチ・センサの線形補正を提供することを可能にする。つまり、第１実施形態は、指の幅に近いかまたは指の幅よりさらに広い電極ピッチを有するセンサ上で線形補正を行う機能を提供する。このように、第１実施形態は、統合された単一のタッチ測定回路が、複数のタッチ測定回路を以前に必要としたものより大規模のタッチ・センサで動作させるのを可能にする。

本発明は、ファームウェアで実装することができる。つまり、迅速なプロセス、即ち一秒あたり１回から２０００回の間で計算および位置補正を行う。

幾らかの例示の実施形態のみを詳細に説明してきたが、当業者であれば、本発明から具体的に逸脱することなく、多くの変更態様が例示の実施形態で可能であることを容易に理解するであろう。したがって、このような全ての変更態様は、添付した特許請求の範囲で規定される本開示の範囲内に含まれることを意図したものである。特許請求の範囲が「するための手段(means for)」の記載およびそれに関連する機能的な記載を明示的に用いたものを除き、本願の如何なる請求項における如何なる限定に対しても、35 U.S.C. 第112条第6パラグラフを適用させないことが、本出願人の明確な意図である。

Claims (7)

1. 電極間のピッチが接触中のポインティング・オブジェクトの幅と概ね等しいときに、タッチ・センサからの非線形反応を補償する方法であって、
   １）２つの平行した面に配置されたＸおよびＹ電極の直交アレイを有するタッチ・センサを設けるステップであって、一方の面が他方の面を直接覆い、同一平面上の電極間のピッチが、前記タッチ・センサによって測定される前記ポインティング・オブジェクトの幅と概ね等しいか、それよりも広い、ステップと、
   ２）前記タッチ・センサ上で非線形性を体験することになる所与のサイズのオブジェクトについて較正される線形補正テーブルを設けるステップと、
   ３）前記タッチ・センサによって検出される前記ポインティング・オブジェクトのサイズを測定し、第１軸において前記ポインティング・オブジェクトの位置を測定するステップと、
   ４）前記線形補正テーブルが前記ポインティング・オブジェクトについて測定した位置を補正するのに使用できるように、前記ポインティング・オブジェクトについて前記測定したサイズに対するスケール因子を決定するステップと、
   ５）前記ポインティング・オブジェクトの前記測定した位置に適用されることになる補正の量を見いだして、前記第１軸と前記ポインティング・オブジェクトについて前記測定したサイズとに関する実際の位置を決定するために、前記スケール因子を前記線形補正テーブルに適用するステップと、
   ６）第２軸に対して上記ステップ３）から５）を繰り返し、前記第２軸と前記ポインティング・オブジェクトについて前記測定したサイズとに関する実際の位置を決定するステップと、
   を含む、方法。
2. 請求項１記載の方法であって、更に、
   前記タッチ・センサ上で使用され、前記タッチ・センサ上で実質的な非線形性を生じさせることになる所定のサイズのポインティング・オブジェクトについて前記線形補正テーブルを較正するステップを含む、方法。
3. 請求項１記載の方法であって、更に、
   所定のサイズを有する前記オブジェクトによって発生される、前記タッチ・センサによって測定される信号の強度を決定することによって、前記線形補正テーブルを生成するステップを含む、方法。
4. 請求項３記載の方法であって、更に、
   前記所定のサイズを有する前記オブジェクトについての前記所定のサイズの線における傾きを決定するために、線形回帰関数で用いられる２つの係数を見いだすステップを含む、方法。
5. 請求項４記載の方法であって、更に、
   前記線形補正テーブルを生成するのに使用される前記所定のサイズのオブジェクトに対する前記ポインティング・オブジェクトの前記サイズを決定するステップを含む、方法。
6. 請求項５記載の方法であって、更に、
   前記線形補正テーブルから適用されることになる前記補正の量を減らすために、スケール因子を計算するステップを含む、方法。
7. 電極間のピッチが接触中のポインティング・オブジェクトの幅と概ね等しいか、それよりも広いときに、タッチ・センサからの非線形反応を補償するシステムであって、
   ２つの平行する面に配置されたＸおよびＹ電極の直交アレイを有するタッチ・センサであって、一方の面が他方の平面を直接覆い、同一平面上の電極間のピッチが、前記タッチ・センサによって測定される前記ポインティング・オブジェクトの幅と概ね等しいか、それよりも広い、タッチ・センサと、
   前記タッチ・センサによって検出される前記ポインティング・オブジェクトのサイズを測定する、前記タッチ・センサにおける手段と、
   線形補正テーブルが前記ポインティング・オブジェクトについて測定した位置を補正するのに使用できるように、前記ポインティング・オブジェクトについて前記測定したサイズに対するスケール因子を決定する、前記タッチ・センサにおける手段と、
   前記タッチ・センサ上で非線形性を体験することになる所与のサイズのオブジェクトについて較正される、前記タッチ・センサにおける前記線形補正テーブルと、
   前記ポインティング・オブジェクトについて前記測定した位置に適用されることになる補正の量を見いだして、第１軸と前記ポインティング・オブジェクトについて前記測定したサイズとに関する実際の位置を決定するために、前記スケール因子を前記線形補正テーブルに適用する、前記タッチ・センサにおける手段と、
   を含む、システム。

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