JP6569816B2 - 半導体素子の駆動装置 - Google Patents
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Description
しかしながら、上記のように1パルスの保護動作通知信号を出力するだけでは、半導体素子の異常が解消されても、これを検出することができないという問題を含んでいる。そこで、本出願人は、先に上記不具合を回避するために、異常要因が発生したときに異常要因を識別可能な所定幅のアラーム信号を予め設定した時間間隔で出力し、異常要因が解除されてアラーム信号の出力が終了したときに、アラーム信号とは異なるパルス幅のアラーム解除信号を出力することにより、アラーム信号の判別および異常解消の検出を容易化する半導体素子の駆動装置を提唱した(特許文献2参照)。
また、アラーム解除信号の識別をせずに、パルス信号が出続けているか否かを検出し、パルス信号の出力が止まったらアラームが解除されたと判断する場合でも、パルス信号が出続けているか否かを検出する回路はある程度規模の大きい回路が必要となる。例えば、1つのアラーム信号が検出されてから次のアラーム信号を検出するまでの間は、アラーム信号が存在しない。このため、アラーム信号間では、継続を判断するためには、アラーム信号を検出したことを記憶しておく必要があり、この記憶をアラーム解除信号で消去することが必要となる。アラームが解除されたか否かが知りたいだけなら、異常状態の有無に応じてLレベルもしくはHレベルとなる2値信号の方が検出は簡単である。
本発明は、上記従来例の未解決の課題に着目してなされたものであり、駆動装置のアラーム端子から異常要因を識別する信号と異常要因の発生が継続していることを表す信号とを選択して出力できる半導体素子の駆動装置を提供することを目的としている。
また、以下に示す実施の形態は、本発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された請求項が規定する技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。
電力変換装置1は、図1に示すように、直流電力を交流電力に変換するインバータ2と、このインバータ2を構成する各相(U相〜Z相)の半導体素子を個別に駆動する半導体素子の駆動装置としての各相のドライバ回路3U〜3Zとを備えている。
インバータ2は、6個の半導体素子としてのIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)11〜16を有する。
ゲート制御回路31には、ドライバ回路3U〜3Zの外部からパルス幅変調(PWM)信号が動作信号DSGとして入力されるとともに、継続信号生成部36から出力される保護要因継続信号Spcが入力されている。このゲート制御回路31は、保護要因継続信号Spcがローレベルであるときに、動作信号DSGをIGBT1iのゲートに出力し、保護要因継続信号Spcがハイレベルであるときに、動作信号DSGのIGBT1iのゲートへの出力を停止する。
識別信号生成部35は、ワンショット回路で構成される第1ワンショット回路35a、第2ワンショット回路35b、第3ワンショット回路35cと、これらの出力パルスが入力されるオアゲート35dとを備えている。
ここで、保護要因識別信号Spdのパルス幅は2〜8[ms]と十分に短いため、例えば、過電流状態が生じた後それを原因として過熱状態が発生し、2以上のパルス信号PSj(j=oc,uv,oh)が発生しても、2以上のパルス信号PSjが同時に入力されることは殆どない。
継続信号生成部36は、オアゲート36aを備えている。オアゲート36aには、過電流検出回路32から出力される過電流検出信号Soc、制御電圧検出回路33から出力される低電圧検出信号Suv及びチップ温度検出回路34から出力される過熱検出信号Sohが入力されている。このオアゲート36aは、過電流検出信号Soc、低電圧検出信号Suv及び過熱検出信号Sohの入力信号のうち何れか1つが通常状態のローレベルからハイレベルに状態変化したときに、通常状態のローレベルからハイレベルに状態変化させ、全ての入力信号が通常状態に復帰したときに通常状態に状態変化する保護要因継続信号Spcをゲート制御回路31と信号選択部37とに出力する。
アラーム信号出力部40は、アラーム信号出力端子ta及び接地間に直列に接続された、抵抗41(制限抵抗)及び半導体スイッチ素子としてのNチャネルのMOSFET42の直列回路を有する。ここで、MOSFET42は、ドレイン(高電位側端子)が抵抗41を介してアラーム信号出力端子taに接続され、ソース(低電位側端子)が接地に接続され、ゲート(制御端子)が信号選択部37のオアゲート37cの出力端子に接続されている。
このため、MOSFET42がオフ状態であるときには、接続点43が制御電圧Vccとなり、アラーム信号出力端子taがハイレベルとなる制御電圧Vccとなる。一方、MOSFET42がオン状態であるときには、定電流回路44からの定電流が接地に流れるので、接続点43はローレベルとなるグランド電位となり、アラーム信号出力端子taもグランド電位となる。
したがって、アラーム信号出力端子taからハイレベル及びローレベルの2つのレベルをとるアラーム信号ALMが出力される。
まず、時点t0において、インバータ2を構成するIGBT11〜16に流れる電流の検出値が過電流閾値Vth1未満で正常であり、且つ、IGBT11〜16を形成したチップ17内の温度の検出値が過熱閾値Vht3以上で正常であり、さらに各ドライバ回路3U〜3Zに供給する制御電圧Vcc(IC電源電圧)が低電圧閾値Vth2を超えていて正常であるものとする。
そのため、図4(d)〜(f)に示すように、識別信号生成部35の第1ワンショット回路35a、第2ワンショット回路35b及び第3ワンショット回路35cの出力はローレベルを維持する。したがって、オアゲート35dから出力される保護要因識別信号Spdは図4(g)に示すようにローレベルを維持しているとともに保護要因継続信号Spcも図4(h)に示すようにローレベルを維持している。
その後、このインバータ2の各相のIGBT11〜16が正常状態であり、IC電源電圧が正常である状態から、時点t1で、例えば、あるドライバ回路3kの過電流検出回路32でインバータ2を構成するIGBT1iのコレクタ電流の検出値が過電流閾値Vth1以上となったことを検出したものとする。
識別信号生成部35では、ハイレベルの過電流検出信号Socが第1ワンショット回路35aに供給されるので、この第1ワンショット回路35aから図4(d)に示すハイレベルの、パルス幅がTとなるパルス信号PSocが出力される。
一方、継続信号生成部36では、オアゲート36aに過電流検出回路32からハイレベルの過電流検出信号Socが入力されるので、このオアゲート36aから出力される保護要因継続信号Spcがハイレベルとなる。このハイレベルの保護要因継続信号Spcがゲート制御回路31と信号選択部37の第2アンドゲート37bとに供給される。
このため、信号選択部37のオアゲート37cから出力される内部選択信号Sseがハイレベルとなり、このハイレベルの内部選択信号Sseがアラーム信号出力部40のMOSFET42のゲートに供給される。このため、MOSFET42がターンオン状態となり、図4(i)に示すように、アラーム信号出力端子taからローレベルとなるアラーム信号ALMが外部の制御装置に出力される。
その後、時点t1からパルス幅T分の時間が経過した時点t2で、識別信号生成部35の第1ワンショット回路35aから出力されるパルス信号PSocが図4(d)に示すようにハイレベルからローレベルに復帰する。これに応じてアラーム信号出力部40のMOSFET42はターンオフ状態となる。このため、接続点43の電位が制御電圧Vccまで上昇し、アラーム信号出力端子taから出力されるアラーム信号が図4(i)に示すように、ローレベルからハイレベルに復帰する。
同様に、時点t4で、あるドライバ回路3kに供給されるIC電源電圧である制御電圧Vccが低電圧閾値Vth2以下に低下する低電圧異常が発生したときには、この低電圧異常が制御電圧検出回路33で検出される。
このとき、識別信号生成部35から出力される保護要因識別信号Spdが図4(g)に示すように、ハイレベルとなるので、信号選択部37の第1アンドゲート37aの論理積出力信号がハイレベルとなる。このため、オアゲート37cから出力される内部選択信号Sseがハイレベルとなり、アラーム信号出力部40のMOSFET42はターンオン状態となる。それゆえ、接続点43がMOSFET42を通じて接地に接続され、接続点の電位がグランド電位GNDであるローレベルとなる。そのため、アラーム信号ALMの電位は図4(i)に示すように電源電位Vccのハイレベルから異常が発生して保護状態となったことを表すグランド電位GNDのローレベルに状態変化する。
このため、外部の制御装置では、アラーム信号ALMのグランド電位GNDとなるローレベルのパルス幅が2Tであることから、制御電圧Vccが低電圧閾値Vth2より低い制御電圧低下保護要因が発生していると認識することができる。
同様に、あるドライバ回路3kのチップ温度検出回路34でインバータ2を構成するIGBT1iを内蔵するチップ17内の温度の検出値が過熱閾値Vht3未満となったことを検出した場合は、チップ温度検出回路34からハイレベルの過熱検出信号Sohが出力される。この過熱検出信号Sohが識別信号生成部35に供給される。このため、識別信号生成部35の第3ワンショット回路35cからハイレベルのパルス幅が4Tとなる1ショットパルス信号PSohが出力される。したがって、識別信号生成部35から出力される保護要因識別信号Spdが1ショットパルス信号PSohに対応したものとなり、アラーム信号出力部40のMOSFET42がターンオン状態となり、1ショットパルス信号PSohのパルス幅4Tに対応するローレベルのアラーム信号ALMが外部の制御装置に出力される。
このように、外部の制御装置から出力される選択用信号SELがハイレベルであるときには、信号選択部37で識別信号生成部35から出力される保護要因識別信号Spdが選択される。このため、アラーム信号出力部40から出力されるアラーム信号ALMは、図5に示すように、過電流保護要因、制御電圧低下保護要因、過熱保護要因の各種保護要因の発生に応じて識別信号生成部35で生成されるパルス幅がT、2T及び4Tと異なる1ショットパルス信号PSoc、PSuv及びPSohに応じたパルス幅となる。
したがって、保護要因識別信号Spdのみで、保護要因の発生期間を判別することはできない。
すなわち、外部の制御装置が、IGBT1iに対する保護要因の種別を重要視する場合には、選択用信号SELをハイレベルに設定しておくことにより、保護要因が生じたときに、その種別をアラーム信号ALMのパルス幅から認識することができる。
例えば、過電流検出回路32、制御電圧検出回路33及びチップ温度検出回路34で検出した保護要因を検出したときに、ワンショット回路35a、35b及び35cで発生するパルス幅をT、2T及び4Tとする場合に限らず、識別可能な異なるパルス幅であれば、任意のパルス幅を設定することができる。また、各検出回路32、33及び34のハイレベルのパルス幅を設定する場合に限らすローレベルのパルス幅を設定するようにしてもよい。
さらに、上記実施形態では、アラーム信号ALMのローレベルで保護要因の識別や継続状態を判断する場合について説明したが、論理を反転させて、アラーム信号ALMのハイレベルで保護要因の識別も継続状態を判別するようにしてもよい。
さらに、アラーム信号出力部40に定電流回路44を設けた場合について説明したが、これに限定されるものではなく、定電流回路44に代えてプルアップ抵抗を適用するようにしてもよい。
Claims (6)
- 電力変換装置を構成する半導体素子の保護動作に必要な保護要因の発生を検出し、保護要因発生信号を出力する複数の保護要因発生検出部と、
前記複数の保護要因発生検出部の何れかで保護要因発生信号が出力されたときに、当該複数の保護要因発生検出部毎に異なるパルス幅の保護要因識別信号を生成する識別信号生成部と、
前記保護要因発生検出部から保護要因発生信号が出力されている間保護要因継続信号を生成する継続信号生成部と、
前記保護要因識別信号及び前記保護要因継続信号の何れか1つを選択する信号選択部と、
該信号選択部で選択した選択信号をアラーム信号として出力するアラーム信号出力部とを備えたことを特徴とする半導体素子の駆動装置。 - 前記識別信号生成部は、前記複数の保護要因検出部から出力される保護要因信号が個別に入力され、保護要因検出部毎に異なるパルス幅のパルスを生成する複数のワンショット回路と、前記複数のワンショット回路の出力信号が入力され前記保護要因識別信号として出力するオアゲートとで構成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子の駆動装置。
- 前記継続信号生成部は、前記保護要因が発生して前記保護要因発生信号が通常状態から状態変化した場合に、前記保護要因継続信号を通常状態から状態変化させ、前記保護要因の終息時に前記保護要因発生信号が状態変化して通常状態に復帰したときに前記保護要因継続信号を通常状態に状態変化させることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体素子の駆動装置。
- 前記信号選択部は、前記保護要因識別信号が一方の入力端子に入力される第1アンドゲートと、前記保護要因継続信号が一方の入力端子に入力される第2アンドゲートとを備え、前記第1アンドゲートは、選択用信号が他方の入力端子に入力され、前記第2アンドゲートは、前記選択用信号の反転信号が他方の入力端子に入力され、前記第1アンドゲート及び前記第2アンドゲートの出力信号がオアゲートを介して前記選択信号として前記アラーム信号出力部に出力されることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の半導体素子の駆動装置。
- 前記アラーム信号出力部は、制御端子に前記信号選択部の選択信号が入力される半導体スイッチ素子を備え、前記半導体スイッチ素子の高電位側端子及び低電位側端子の何れかに接続された出力端子からアラーム信号を出力することを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の半導体素子の駆動装置。
- 前記半導体スイッチ素子は、ドレインが定電流回路及びプルアップ抵抗の何れか一方を介して直流電源端子に接続され、ソースが接地に接続され、ゲートが前記信号選択部に接続されたNチャネルMOSFETで構成され、ドレインと定電流回路及びプルアップ抵抗の何れか一方との接続点に出力端子が接続されていることを特徴とする請求項5に記載の半導体素子の駆動装置。
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