JP6564614B2 - Inductor and method of manufacturing inductor - Google Patents

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本発明は、インダクタ及びインダクタの製造方法に関するものである。   The present invention relates to an inductor and a method for manufacturing the inductor.

近年、ゲーム機や携帯電話機等の電子機器の小型化が加速化しており、これに伴って、このような電子機器に搭載されるインダクタ等の各種素子に対しても小型化の要求が高まっている。このような電子機器に搭載されるインダクタとしては、例えば、巻き線コイルを用いたものが知られている。巻き線コイルを用いたインダクタは、例えば、電子機器の電源回路等に用いられている(例えば、特許文献1参照)。   In recent years, downsizing of electronic devices such as game machines and mobile phones has been accelerated, and along with this, demands for downsizing of various elements such as inductors mounted on such electronic devices have increased. Yes. As an inductor mounted on such an electronic device, for example, an inductor using a wound coil is known. An inductor using a wound coil is used, for example, in a power supply circuit of an electronic device (see, for example, Patent Document 1).

特開2003−168610号公報JP 2003-168610 A

しかしながら、巻き線コイルを用いたインダクタの小型化の限界は、平面形状が1.6mm×1.6mm程度であると考えられている。これは、巻き線の太さに限界があるため、これ以上に小型化しようとすると、インダクタの総面積に対する巻き線の体積の割合が減少し、インダクタンスを大きくすることができないためである。このため、小型化が容易に実現可能なインダクタの開発が望まれている。   However, it is considered that the limit of downsizing of an inductor using a wound coil is about 1.6 mm × 1.6 mm in a planar shape. This is because there is a limit to the thickness of the winding, and if the size is further reduced, the ratio of the volume of the winding to the total area of the inductor decreases, and the inductance cannot be increased. Therefore, it is desired to develop an inductor that can be easily reduced in size.

本発明の一観点によれば、コイルの一部となる配線と、前記配線上に形成された絶縁層とを有する構造体を複数積層した積層体と、前記積層体を厚さ方向に貫通する第1貫通孔と、前記積層体の表面に露出された前記配線の表面を被覆する絶縁膜と、を有し、前記絶縁膜は、前記第1貫通孔の内壁面に露出された前記配線の端面を被覆するとともに、前記第1貫通孔の内壁面に露出された前記絶縁層の端面を露出するように形成されており、前記第1貫通孔内には、磁性体を含有する絶縁性樹脂が充填されており、上下に隣接する前記構造体の前記配線同士が直列に接続されて螺旋状の前記コイルが形成されている。 According to one aspect of the present invention, a stacked body in which a plurality of structures each having a wiring that is a part of a coil and an insulating layer formed on the wiring is stacked, and the stacked body is penetrated in the thickness direction. A first through hole and an insulating film covering the surface of the wiring exposed on the surface of the multilayer body, wherein the insulating film of the wiring exposed on the inner wall surface of the first through hole. The insulating resin that covers the end surface and is exposed to the end surface of the insulating layer exposed on the inner wall surface of the first through hole, and that contains a magnetic substance in the first through hole. And the wirings of the structures adjacent to each other in the vertical direction are connected in series to form the spiral coil.

本発明の一観点によれば、小型化することができるという効果を奏する。   According to one aspect of the present invention, there is an effect that the size can be reduced.

第1実施形態のコイル基板を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the coil board | substrate of 1st Embodiment. 第1実施形態のコイル基板の一部を拡大した拡大平面図。The enlarged plan view which expanded a part of coil board of a 1st embodiment. 第1実施形態のコイル基板を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the coil board | substrate of 1st Embodiment. 第1実施形態のコイル基板を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the coil board | substrate of 1st Embodiment. 第1実施形態の積層体の分解斜視図。The disassembled perspective view of the laminated body of 1st Embodiment. 第1実施形態の積層体の分解斜視図。The disassembled perspective view of the laminated body of 1st Embodiment. 第1実施形態の配線を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the wiring of 1st Embodiment. (a)は、個片化後のコイル基板を示す概略断面図、(b)は、第1実施形態のインダクタを示す概略断面図。(A) is a schematic sectional drawing which shows the coil board | substrate after singulation, (b) is a schematic sectional drawing which shows the inductor of 1st Embodiment. 第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図10(b)における10a−10a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (10a-10a sectional drawing in FIG.10 (b)) which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment, (b) shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. FIG. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図10(b)における10a−10a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図11(c)における11b−11b断面図)、(c)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (10a-10a sectional drawing in FIG.10 (b)) which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment, (b) shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. The schematic sectional drawing (11b-11b sectional drawing in FIG.11 (c)) shown, (c) is a schematic plan view which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図12(c)における12a−12a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図12(c))における12b−12b断面図、(c)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (12a-12a sectional drawing in FIG.12 (c)) which shows the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment, (b) is the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment. 12b-12b sectional view in a schematic sectional view (FIG. 12C) shown, (c) is a schematic plan view showing a manufacturing method of the coil substrate of the first embodiment. (a)〜(c)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A)-(c) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図15(b)における15a−15a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (15a-15a sectional drawing in FIG.15 (b)) which shows the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment, (b) is the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment. FIG. (a)〜(c)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A)-(c) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図17(b)における17a−17a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (17a-17a sectional drawing in FIG.17 (b)) which shows the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment, (b) is the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment. FIG. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図19(b)における19a−19a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (19a-19a sectional drawing in FIG.19 (b)) which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment, (b) shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. FIG. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図21(b)における21a−21a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (21a-21a sectional drawing in FIG.21 (b)) which shows the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment, (b) is the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment. FIG. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図23(c)における23a−23a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図23(c)における23b−23b断面図)、(c)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (23a-23a sectional drawing in FIG.23 (c)) which shows the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment, (b) is the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment. Schematic cross-sectional view (cross-sectional view of 23b-23b in FIG. 23C), (c) is a schematic plan view showing a manufacturing method of the coil substrate of the first embodiment. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A), (b) is a schematic plan view which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. 成形前の金属層を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the metal layer before shaping | molding. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図28(b)における28a−28a断面図)、(b)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (28a-28a sectional drawing in FIG.28 (b)) which shows the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment, (b) is the manufacturing method of the coil substrate of 1st Embodiment. FIG. 第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment. (a)は、第1実施形態のコイル基板の製造方法を示す概略断面図(図29における30a−30a断面図)、(b)は、第1実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A) is schematic sectional drawing (30a-30a sectional drawing in FIG. 29) which shows the manufacturing method of the coil board | substrate of 1st Embodiment, (b) is schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 1st Embodiment. . (a),(b)は、第1実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 1st Embodiment. 変形例のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of a modification. 変形例のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of a modification. 第2実施形態のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of 2nd Embodiment. (a)〜(c)は、第2実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A)-(c) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 2nd Embodiment. (a),(b)は、第2実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 2nd Embodiment. (a),(b)は、第2実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 2nd Embodiment. 第2実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 2nd Embodiment. 第3実施形態のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of 3rd Embodiment. (a)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図(図40(c)における40a−40a断面図)、(b)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図(図40(c)における40b−40b断面図)、(c)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing (40a-40a sectional drawing in FIG.40 (c)) which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment, (b) is schematic which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. Sectional drawing (40b-40b sectional drawing in FIG.40 (c)), (c) is a schematic plan view which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. (a)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図、(b)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図(図41(c)における41b−41b断面図)、(c)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略平面図。(A) is schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment, (b) is schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment (41b-41b cross section in FIG.41 (c)) (FIG.), (C) is a schematic plan view which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. (a)〜(d)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A)-(d) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. (a),(b)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. (a),(b)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. (a),(b)は、第3実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 3rd Embodiment. 変形例のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of a modification. 変形例のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of a modification. 第4実施形態のインダクタを示す概略断面図(図49における48−48断面図)。FIG. 50 is a schematic cross-sectional view showing the inductor of the fourth embodiment (48-48 cross-sectional view in FIG. 49). 第4実施形態のインダクタの積層体を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the laminated body of the inductor of 4th Embodiment. (a),(b)は、第4実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A), (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 4th Embodiment. (a)は、第4実施形態のインダクタの製造方法を示す概略平面図、(b)は、第4実施形態のインダクタの製造方法を示す概略断面図。(A) is a schematic plan view which shows the manufacturing method of the inductor of 4th Embodiment, (b) is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the inductor of 4th Embodiment. 変形例のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of a modification. 変形例のインダクタを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the inductor of a modification.

以下、添付図面を参照して各実施形態を説明する。なお、添付図面は、特徴を分かりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。また、断面図では、各部材の断面構造を分かりやすくするために、一部の部材のハッチングを梨地模様に代えて示し、一部の部材のハッチングを省略している。   Hereinafter, each embodiment will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, in order to make the features easy to understand, the portions that become the features may be shown in an enlarged manner for the sake of convenience, and the dimensional ratios and the like of the respective components are not always the same as the actual ones. In the cross-sectional view, in order to make the cross-sectional structure of each member easy to understand, the hatching of some members is shown in place of a satin pattern, and the hatching of some members is omitted.

(第1実施形態)
以下、図1〜図31に従って第1実施形態を説明する。
まず、コイル基板10の構造について説明する。
(First embodiment)
Hereinafter, the first embodiment will be described with reference to FIGS.
First, the structure of the coil substrate 10 will be described.

図1に示すように、コイル基板10は、例えば、平面視略矩形状に形成されている。コイル基板10は、複数の個別領域A1が設けられたブロック11と、ブロック11よりも外側に突出して形成された外枠13とを有している。ブロック11は、例えば、平面視略矩形状に形成されている。ブロック11には、複数の個別領域A1がマトリクス状(ここでは、2×6)に設けられている。ここで、個別領域A1は、最終的に破線に沿って切断されて個片化され、各々個別の単位コイル基板(コイル基板)20となる領域である。すなわち、ブロック11は、個々のコイル基板20となる個別領域A1を複数有する領域である。   As shown in FIG. 1, the coil substrate 10 is formed in, for example, a substantially rectangular shape in plan view. The coil substrate 10 has a block 11 provided with a plurality of individual regions A1 and an outer frame 13 formed to protrude outward from the block 11. The block 11 is formed in, for example, a substantially rectangular shape in plan view. In the block 11, a plurality of individual regions A1 are provided in a matrix (here 2 × 6). Here, the individual regions A1 are regions that are finally cut along the broken lines to be separated into individual unit coil substrates (coil substrates) 20. That is, the block 11 is a region having a plurality of individual regions A1 that become individual coil substrates 20.

なお、複数の個別領域A1は、図1に示すように所定の間隔を介して配列されてもよいし、互いに接するように配列されてもよい。また、図1に示した例では、ブロック11は、12個の個別領域A1を有するが、個別領域A1の数は特に制限されない。   The plurality of individual regions A1 may be arranged at a predetermined interval as shown in FIG. 1, or may be arranged so as to be in contact with each other. In the example shown in FIG. 1, the block 11 has 12 individual areas A1, but the number of individual areas A1 is not particularly limited.

ブロック11は、複数のコイル基板20を連結する連結部12を有している。連結部12は、複数のコイル基板20を囲むように形成されている。連結部12は、複数のコイル基板20を支持している。   The block 11 has a connecting portion 12 that connects a plurality of coil substrates 20. The connecting portion 12 is formed so as to surround the plurality of coil substrates 20. The connecting portion 12 supports a plurality of coil substrates 20.

外枠13は、例えば、コイル基板10の両端領域に形成されている。外枠13は、例えば、ブロック11の短辺から外側に張り出すように形成されている。この外枠13には、複数のスプロケットホール13Xが形成されている。複数のスプロケットホール13Xは、例えば、コイル基板10の短手方向(図中の上下方向)に沿って略一定間隔で連続的に形成されている。各スプロケットホール13Xの平面形状は、例えば、平面視略矩形状に形成されている。なお、コイル基板10のうち個別領域A1以外の部分(つまり、連結部12及び外枠13)は、個片化の際に廃棄される部分である。   For example, the outer frame 13 is formed in both end regions of the coil substrate 10. The outer frame 13 is formed, for example, so as to protrude outward from the short side of the block 11. The outer frame 13 has a plurality of sprocket holes 13X. The plurality of sprocket holes 13X are continuously formed at substantially constant intervals, for example, along the short side direction (vertical direction in the drawing) of the coil substrate 10. The planar shape of each sprocket hole 13X is formed in a substantially rectangular shape in plan view, for example. It should be noted that portions of the coil substrate 10 other than the individual region A1 (that is, the connecting portion 12 and the outer frame 13) are portions that are discarded when separated into individual pieces.

次に、図2〜図7に従って、個々のコイル基板20の構造について説明する。
図2に示すように、各個別領域A1に設けられたコイル基板20は、例えば、平面視略長方形状に形成されている。本例のコイル基板20の平面形状は、長方形の角部が面取りされるように形成され、さらに長方形の短辺から外側(図中下側及び図中上側)に突出する突出部21,22が形成されている。コイル基板20の平面形状は、図2に示した形状に限定されず、任意の形状とすることができる。また、コイル基板20の平面形状は、任意の大きさとすることができる。例えば、コイル基板20の平面形状は、当該コイル基板20を用いて図8(b)に示すインダクタ90を製造した際に、そのインダクタ90の平面形状が1.6mm×0.8mm程度の略矩形状となる程度の大きさとすることができる。コイル基板20の厚さは、例えば、0.5mm程度とすることができる。
Next, the structure of each coil substrate 20 will be described with reference to FIGS.
As shown in FIG. 2, the coil board | substrate 20 provided in each separate area | region A1 is formed in the substantially rectangular shape in planar view, for example. The planar shape of the coil substrate 20 of this example is formed so that the corners of the rectangle are chamfered, and the projecting portions 21 and 22 projecting outward from the short side of the rectangle (the lower side in the figure and the upper side in the figure). Is formed. The planar shape of the coil substrate 20 is not limited to the shape shown in FIG. 2, and can be an arbitrary shape. Further, the planar shape of the coil substrate 20 can be set to an arbitrary size. For example, when the inductor 90 shown in FIG. 8B is manufactured using the coil substrate 20, the planar shape of the coil substrate 20 is substantially rectangular with the planar shape of the inductor 90 being about 1.6 mm × 0.8 mm. The size of the shape can be obtained. The thickness of the coil substrate 20 can be about 0.5 mm, for example.

また、コイル基板20の平面視略中央部には、貫通孔20Xが形成されている。貫通孔20Xは、コイル基板20を厚さ方向に貫通するように形成されている。貫通孔20Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、貫通孔20Xの平面形状は、略楕円形状又は略長円形状とすることができる。   In addition, a through hole 20X is formed in a substantially central portion of the coil substrate 20 in plan view. The through hole 20X is formed so as to penetrate the coil substrate 20 in the thickness direction. The planar shape of the through hole 20X can be any shape and any size. For example, the planar shape of the through hole 20X can be a substantially elliptical shape or a substantially oval shape.

コイル基板20と連結部12との間には、当該コイル基板20を画定する開口部20Yが形成されている。開口部20Yは、コイル基板10を厚さ方向に貫通するように形成されている。   An opening 20 </ b> Y that defines the coil substrate 20 is formed between the coil substrate 20 and the connecting portion 12. The opening 20Y is formed so as to penetrate the coil substrate 10 in the thickness direction.

図3及び図4に示すように、コイル基板20は、大略すると、基板30と、基板30の下面30Aに積層された構造体41と、基板30の上面30Bに積層された構造体42〜47とを含む積層体23を有し、その積層体23の表面を被覆する絶縁膜25を有している。   As shown in FIGS. 3 and 4, the coil substrate 20 is roughly composed of a substrate 30, a structure 41 stacked on the lower surface 30 </ b> A of the substrate 30, and structures 42 to 47 stacked on the upper surface 30 </ b> B of the substrate 30. And an insulating film 25 that covers the surface of the stacked body 23.

積層体23の平面形状は、コイル基板20の平面形状と同様の形状に形成されている。例えば、積層体23の平面形状は、絶縁膜25の分だけコイル基板20の平面形状よりも一回り小さく形成されている。また、積層体23の平面視略中央部には、当該積層体23を厚さ方向に貫通する貫通孔23Xが形成されている。貫通孔23Xの平面形状は、例えば、貫通孔20Xの平面形状と同様に、略楕円形状又は略長円形状とすることができる。   The planar shape of the laminate 23 is formed in the same shape as the planar shape of the coil substrate 20. For example, the planar shape of the stacked body 23 is slightly smaller than the planar shape of the coil substrate 20 by the amount of the insulating film 25. In addition, a through hole 23 </ b> X that penetrates the stacked body 23 in the thickness direction is formed at a substantially central portion in plan view of the stacked body 23. The planar shape of the through hole 23X can be, for example, a substantially elliptical shape or a substantially oval shape, similarly to the planar shape of the through hole 20X.

積層体23では、基板30の上面30Bに、接着層71を介して構造体42が積層され、構造体42上に、接着層72を介して構造体43が積層され、構造体43上に、接着層73を介して構造体44が積層されている。また、積層体23では、構造体44上に、接着層74を介して構造体45が積層され、構造体45上に、接着層75を介して構造体46が積層され、構造体46上に、接着層76を介して構造体47が積層されている。   In the stacked body 23, the structure 42 is stacked on the upper surface 30B of the substrate 30 via the adhesive layer 71, and the structure 43 is stacked on the structure 42 via the adhesive layer 72. The structural body 44 is laminated via the adhesive layer 73. In the laminate 23, the structure 45 is laminated on the structure 44 via the adhesive layer 74, and the structure 46 is laminated on the structure 45 via the adhesive layer 75. The structure 47 is laminated via the adhesive layer 76.

ここで、接着層71〜76としては、例えば、エポキシ系接着剤等の絶縁性樹脂製の耐熱性接着剤を用いることができる。接着層71〜76の厚さは、例えば、12〜35μm程度とすることができる。   Here, as the adhesive layers 71 to 76, for example, a heat-resistant adhesive made of an insulating resin such as an epoxy-based adhesive can be used. The thickness of the adhesive layers 71 to 76 can be set to about 12 to 35 μm, for example.

図4に示すように、構造体41は、絶縁層51と、配線61と、接続部61Aと、金属層61Dとを有し、構造体42は、絶縁層52と、配線62と、金属層62Dとを有し、構造体43は、絶縁層53と、配線63と、金属層63Dとを有している。構造体44は、絶縁層54と、配線64と、金属層64Dとを有し、構造体45は、絶縁層55と、配線65と、金属層65Dとを有している。構造体46は、絶縁層56と、配線66と、金属層66Dとを有し、構造体47は、絶縁層57と、配線67と、接続部67Aと、金属層67Dとを有している。   As shown in FIG. 4, the structure 41 includes an insulating layer 51, a wiring 61, a connecting portion 61A, and a metal layer 61D. The structure 42 includes an insulating layer 52, a wiring 62, and a metal layer. 62D, and the structure 43 includes an insulating layer 53, a wiring 63, and a metal layer 63D. The structure 44 includes an insulating layer 54, a wiring 64, and a metal layer 64D, and the structure 45 includes an insulating layer 55, a wiring 65, and a metal layer 65D. The structure 46 includes an insulating layer 56, a wiring 66, and a metal layer 66D, and the structure 47 includes an insulating layer 57, a wiring 67, a connection portion 67A, and a metal layer 67D. .

ここで、絶縁層51〜57の材料としては、例えば、エポキシ系樹脂等を主成分とする絶縁性樹脂を用いることができる。絶縁層51〜57の材料としては、例えば、熱硬化性樹脂を主成分とする絶縁性樹脂を用いることができる。絶縁層51〜57は、例えば、シリカやアルミナ等のフィラーを含有していてもよい。なお、絶縁層51〜57の熱膨張係数は、例えば、50〜120ppm/℃程度とすることができる。絶縁層51〜57の厚さは、例えば、12〜20μm程度とすることができる。   Here, as a material of the insulating layers 51 to 57, for example, an insulating resin whose main component is an epoxy resin or the like can be used. As a material of the insulating layers 51 to 57, for example, an insulating resin whose main component is a thermosetting resin can be used. The insulating layers 51 to 57 may contain a filler such as silica or alumina, for example. In addition, the thermal expansion coefficient of the insulating layers 51-57 can be about 50-120 ppm / degrees C, for example. The thickness of the insulating layers 51-57 can be about 12-20 micrometers, for example.

また、最下層の配線61、接続部61A及び金属層61Dの材料としては、例えば、基板30よりも絶縁膜25との密着性が高い金属材料であることが好ましい。例えば、配線61、接続部61A及び金属層61Dの材料としては、銅(Cu)や銅合金を用いることができる。また、配線62〜67、接続部67A及び金属層62D〜67Dの材料としては、例えば、銅や銅合金を用いることができる。配線61〜67、接続部61A,67A及び金属層61D〜67Dの厚さは、例えば、12〜35μm程度とすることができる。   In addition, as a material of the lowermost wiring 61, the connection portion 61 </ b> A, and the metal layer 61 </ b> D, for example, a metal material having higher adhesion to the insulating film 25 than the substrate 30 is preferable. For example, copper (Cu) or a copper alloy can be used as the material for the wiring 61, the connecting portion 61A, and the metal layer 61D. Moreover, as a material of wiring 62-67, connection part 67A, and metal layers 62D-67D, copper and a copper alloy can be used, for example. The thicknesses of the wirings 61 to 67, the connecting portions 61A and 67A, and the metal layers 61D to 67D can be set to about 12 to 35 μm, for example.

基板30としては、例えば、シート状の絶縁基板を用いることができる。基板30の材料としては、例えば、当該基板30の熱膨張係数が絶縁層51〜57の熱膨張係数よりも低くなるように調整された絶縁性樹脂であることが好ましい。例えば、基板30の熱膨張係数は、10〜25ppm/℃程度に設定されている。また、基板30の材料としては、例えば、耐熱性に優れた材料であることが好ましい。さらに、基板30の材料としては、絶縁層51〜57よりも弾性率の高い材料であることが好ましい。このような基板30としては、例えば、ポリイミド(PI)フィルムやポリエチレンナフタレート(PEN)フィルム等の樹脂フィルムを用いることができる。基板30としては、熱膨張係数の低いポリイミドフィルムを好適に用いることができる。基板30の厚さは、例えば、絶縁層51〜57よりも厚く設定されている。例えば、基板30の厚さは、12〜50μm程度とすることができる。このような基板30は、絶縁層51〜57よりも高い剛性を持つ。   As the substrate 30, for example, a sheet-like insulating substrate can be used. As a material of the substrate 30, for example, an insulating resin that is adjusted so that the thermal expansion coefficient of the substrate 30 is lower than the thermal expansion coefficients of the insulating layers 51 to 57 is preferable. For example, the thermal expansion coefficient of the substrate 30 is set to about 10-25 ppm / ° C. Moreover, as a material of the board | substrate 30, it is preferable that it is a material excellent in heat resistance, for example. Furthermore, the material of the substrate 30 is preferably a material having a higher elastic modulus than the insulating layers 51 to 57. As such a board | substrate 30, resin films, such as a polyimide (PI) film and a polyethylene naphthalate (PEN) film, can be used, for example. As the substrate 30, a polyimide film having a low thermal expansion coefficient can be suitably used. The thickness of the substrate 30 is set to be thicker than the insulating layers 51 to 57, for example. For example, the thickness of the substrate 30 can be about 12 to 50 μm. Such a substrate 30 has higher rigidity than the insulating layers 51 to 57.

基板30には、当該基板30を厚さ方向に貫通する貫通孔30Xが形成されている。貫通孔30Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、貫通孔30Xの平面形状は、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。   The substrate 30 is formed with a through hole 30X that penetrates the substrate 30 in the thickness direction. The planar shape of the through hole 30X can be any shape and any size. For example, the planar shape of the through hole 30X can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm.

次に、構造体41の構造について説明する。
絶縁層51は、基板30の下面30Aに積層されている。絶縁層51には、当該絶縁層51を厚さ方向に貫通する貫通孔51Xが形成されている。貫通孔51Xは、基板30の貫通孔30Xと連通するように形成されている。すなわち、貫通孔51Xは、貫通孔30Xと平面視で重複する位置に形成されている。貫通孔51Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、貫通孔51Xの平面形状は、貫通孔30Xと同様に、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。
Next, the structure of the structure 41 will be described.
The insulating layer 51 is stacked on the lower surface 30 </ b> A of the substrate 30. The insulating layer 51 is formed with a through hole 51X that penetrates the insulating layer 51 in the thickness direction. The through hole 51X is formed to communicate with the through hole 30X of the substrate 30. That is, the through hole 51X is formed at a position overlapping the through hole 30X in plan view. The planar shape of the through hole 51X can be an arbitrary shape and an arbitrary size. For example, the planar shape of the through hole 51X can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm, similarly to the through hole 30X.

連通する貫通孔30X,51X内の一部には、ビア配線V1が形成されている。本例のビア配線V1は、貫通孔51Xを充填するとともに、貫通孔30Xの一部に形成されている。本例のビア配線V1は、配線61の上面から貫通孔30Xの厚さ方向の中途位置まで形成されている。このため、貫通孔30Xの上側の内側面は、ビア配線V1から露出されている。ビア配線V1は、配線61と電気的に接続されている。ビア配線V1の平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、ビア配線V1の平面形状は、貫通孔30X,51Xと同様に、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。   A via wiring V1 is formed in a part of the through holes 30X and 51X that communicate with each other. The via wiring V1 of this example fills the through hole 51X and is formed in a part of the through hole 30X. The via wiring V1 of this example is formed from the upper surface of the wiring 61 to a midway position in the thickness direction of the through hole 30X. Therefore, the upper inner surface of the through hole 30X is exposed from the via wiring V1. The via wiring V1 is electrically connected to the wiring 61. The planar shape of the via wiring V1 can be an arbitrary shape and an arbitrary size. For example, the planar shape of the via wiring V1 can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm, like the through holes 30X and 51X.

配線61、接続部61A及び金属層61Dは、絶縁層51の下面に積層されている。これら配線61、接続部61A及び金属層61Dは、積層体23の最下層に形成されている。配線61の幅は、例えば、100〜200μm程度とすることができる。配線61は、コイルの一部となる配線であり、コイルの1層目の配線(約1巻)である。なお、以下の説明では、コイルの一部となる配線における渦巻きに沿う方向を長手方向、その長手方向と平面視で直交する幅方向を短手方向とする。   The wiring 61, the connecting portion 61A, and the metal layer 61D are stacked on the lower surface of the insulating layer 51. The wiring 61, the connecting portion 61A, and the metal layer 61D are formed in the lowermost layer of the stacked body 23. The width of the wiring 61 can be, for example, about 100 to 200 μm. The wiring 61 is a wiring that becomes a part of the coil, and is a first-layer wiring (about one turn) of the coil. In the following description, the direction along the spiral in the wiring that is a part of the coil is the longitudinal direction, and the width direction orthogonal to the longitudinal direction in plan view is the short direction.

図5に示すように、配線61の平面形状は、略楕円形状に形成されている。但し、配線61には、所要箇所に当該配線61の短手方向(幅方向)及び厚さ方向を貫通する溝部61Yが形成されており、配線61は非環状に形成されている。   As shown in FIG. 5, the planar shape of the wiring 61 is formed in a substantially elliptical shape. However, in the wiring 61, a groove portion 61Y penetrating in the short direction (width direction) and the thickness direction of the wiring 61 is formed at a required portion, and the wiring 61 is formed in a non-annular shape.

接続部61Aは、配線61の一端部に形成されている。接続部61Aは、コイル基板20の突出部21(図2参照)に対応する位置に形成されている。接続部61Aは、配線61と一体に形成されている。換言すると、接続部61Aは、配線61の一部である。図4に示すように、接続部61Aは、連結部12(図3参照)に形成された金属層81と電気的に接続されている。金属層81は、例えば、めっき給電用の給電ラインである。なお、接続部61Aは、コイル基板20が個片化されたときに、その個片化後のコイル基板20の側面20A(図8(a)参照)から露出する。この露出した接続部61Aにはインダクタの電極が接続される。   The connecting portion 61A is formed at one end of the wiring 61. 61 A of connection parts are formed in the position corresponding to the protrusion part 21 (refer FIG. 2) of the coil board | substrate 20. As shown in FIG. The connecting portion 61A is formed integrally with the wiring 61. In other words, the connecting portion 61A is a part of the wiring 61. As shown in FIG. 4, the connecting portion 61A is electrically connected to the metal layer 81 formed on the connecting portion 12 (see FIG. 3). The metal layer 81 is, for example, a power supply line for plating power supply. Note that, when the coil substrate 20 is separated into pieces, the connecting portion 61A is exposed from the side surface 20A (see FIG. 8A) of the coil substrate 20 after the separation. An inductor electrode is connected to the exposed connecting portion 61A.

金属層61Dは、配線61と離間して形成されている。具体的には、金属層61Dと配線61との間には溝部61Zが形成されている。すなわち、金属層61Dは、溝部61Zによって配線61と電気的に絶縁されている。金属層61Dは、例えば、構造体41に形成された金属層(配線61、接続部61A及び金属層61D)の形状と、他の構造体に形成された金属層(例えば、構造体47に形成された配線67、接続部67A及び金属層67D)の形状との差を小さくするために設けられたダミーパターンである。金属層61Dは、コイル基板20の突出部22(図2参照)に対応する位置に形成されている。具体的には、金属層61Dは、最上層の構造体47に形成された接続部67Aと平面視で重複する位置に設けられている。なお、金属層61Dは、コイル基板20が個片化されたときに、他の配線や金属層と電気的に接続されずに、電気的に孤立(フローティング)した状態となる。   The metal layer 61 </ b> D is formed away from the wiring 61. Specifically, a groove 61Z is formed between the metal layer 61D and the wiring 61. That is, the metal layer 61D is electrically insulated from the wiring 61 by the groove 61Z. The metal layer 61D includes, for example, the shape of the metal layer (the wiring 61, the connection portion 61A, and the metal layer 61D) formed on the structure 41, and the metal layer (for example, formed on the structure 47) formed on another structure. This is a dummy pattern provided to reduce the difference from the shapes of the wiring 67, the connecting portion 67A and the metal layer 67D). The metal layer 61 </ b> D is formed at a position corresponding to the protrusion 22 (see FIG. 2) of the coil substrate 20. Specifically, the metal layer 61 </ b> D is provided at a position overlapping the connection portion 67 </ b> A formed in the uppermost structure 47 in plan view. The metal layer 61D is electrically isolated (floating) without being electrically connected to other wirings or metal layers when the coil substrate 20 is separated.

次に、基板30の上面30Bに積層された構造体の構造について説明する。
基板30の上面30Bには、接着層71が積層されている。接着層71は、ビア配線V1から露出する貫通孔30Xの内側面を被覆するように形成されている。すなわち、接着層71は、基板30の上面30Bに形成されるとともに、貫通孔30X内に形成されている。接着層71には、当該接着層71を厚さ方向に貫通してビア配線V1の上面の一部を露出する貫通孔71Xが形成されている。貫通孔71Xは、接着層71の上面から貫通孔30X内に形成された接着層71の下面までを貫通するように形成されている。すなわち、貫通孔71Xは、貫通孔30Xの一部と連通するように形成され、さらに当該貫通孔71Xの一部が貫通孔30X内に形成されている。ここで、貫通孔71Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。但し、貫通孔71Xの平面形状は、貫通孔30Xの平面形状よりも小さく形成されている。例えば、貫通孔71Xの平面形状は、貫通孔71Xと同様に、直径が140〜180μm程度の円形状とすることができる。
Next, the structure of the structure stacked on the upper surface 30B of the substrate 30 will be described.
An adhesive layer 71 is laminated on the upper surface 30 </ b> B of the substrate 30. The adhesive layer 71 is formed so as to cover the inner side surface of the through hole 30X exposed from the via wiring V1. That is, the adhesive layer 71 is formed on the upper surface 30B of the substrate 30 and is formed in the through hole 30X. The adhesive layer 71 is formed with a through hole 71X that penetrates the adhesive layer 71 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the via wiring V1. The through hole 71X is formed so as to penetrate from the upper surface of the adhesive layer 71 to the lower surface of the adhesive layer 71 formed in the through hole 30X. That is, the through hole 71X is formed so as to communicate with a part of the through hole 30X, and a part of the through hole 71X is further formed in the through hole 30X. Here, the planar shape of the through hole 71X can be an arbitrary shape and an arbitrary size. However, the planar shape of the through hole 71X is smaller than the planar shape of the through hole 30X. For example, the planar shape of the through hole 71X can be a circular shape having a diameter of about 140 to 180 μm, like the through hole 71X.

構造体42は、接着層71を介して、基板30の上面30Bに積層されている。配線62及び金属層62Dは、接着層71上に積層されている。図5に示すように、配線62は、平面視略コ字状に形成されている。配線62は、コイルの一部となる配線であり、コイルの2層目の配線(1巻の約3/4)である。   The structure 42 is stacked on the upper surface 30 </ b> B of the substrate 30 with the adhesive layer 71 interposed therebetween. The wiring 62 and the metal layer 62D are stacked on the adhesive layer 71. As shown in FIG. 5, the wiring 62 is formed in a substantially U shape in plan view. The wiring 62 is a wiring that becomes a part of the coil, and is a wiring in the second layer of the coil (about 3/4 of one turn).

配線62には、当該配線62を厚さ方向に貫通して、接着層71の貫通孔71Xと連通する貫通孔62Xが形成されている。貫通孔62Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。但し、貫通孔62Xの平面形状は、貫通孔30Xの平面形状よりも小さく形成されている。例えば、貫通孔62Xの平面形状は、直径が140〜180μm程度の円形状とすることができる。   In the wiring 62, a through hole 62 </ b> X that penetrates the wiring 62 in the thickness direction and communicates with the through hole 71 </ b> X of the adhesive layer 71 is formed. The planar shape of the through-hole 62X can be an arbitrary shape and an arbitrary size. However, the planar shape of the through hole 62X is smaller than the planar shape of the through hole 30X. For example, the planar shape of the through hole 62X can be a circular shape having a diameter of about 140 to 180 μm.

金属層62Dは、例えば、金属層61Dと同様のダミーパターンである。金属層62Dの一部は、溝部62Yによって配線62と離間して形成されている。この金属層62Dは、配線61の一部と平面視で重複する位置に形成されている。また、金属層62Dの一部は、溝部62Zによって配線62と離間して形成されている。この金属層62Dは、接続部61A及び接続部67A(図6参照)と平面視で重複する位置に形成されている。   The metal layer 62D is, for example, a dummy pattern similar to the metal layer 61D. A part of the metal layer 62D is formed away from the wiring 62 by the groove 62Y. The metal layer 62D is formed at a position overlapping a part of the wiring 61 in plan view. A part of the metal layer 62D is formed away from the wiring 62 by the groove 62Z. The metal layer 62D is formed at a position overlapping with the connecting portion 61A and the connecting portion 67A (see FIG. 6) in plan view.

図4に示すように、配線62及び金属層62Dの側面の一部は、接着層71によって被覆されている。例えば、本例の接着層71は、図5に示した溝部62Y,62Zを充填するように形成されている。   As shown in FIG. 4, part of the side surfaces of the wiring 62 and the metal layer 62 </ b> D are covered with an adhesive layer 71. For example, the adhesive layer 71 of this example is formed so as to fill the grooves 62Y and 62Z shown in FIG.

絶縁層52は、配線62及び金属層62Dの上面を被覆するように、接着層71上に積層されている。絶縁層52には、当該絶縁層52を厚さ方向に貫通して、貫通孔62X,71Xと連通する貫通孔52Xが形成されている。貫通孔52Xは、貫通孔62Xの周囲に位置する配線62の上面を露出するように形成されている。すなわち、貫通孔52Xの平面形状は、貫通孔62X,71Xの平面形状よりも大きく形成されている。例えば、貫通孔52Xの平面形状は、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。   The insulating layer 52 is laminated on the adhesive layer 71 so as to cover the upper surfaces of the wiring 62 and the metal layer 62D. The insulating layer 52 has a through hole 52X that penetrates the insulating layer 52 in the thickness direction and communicates with the through holes 62X and 71X. The through hole 52X is formed so as to expose the upper surface of the wiring 62 positioned around the through hole 62X. That is, the planar shape of the through hole 52X is larger than the planar shape of the through holes 62X and 71X. For example, the planar shape of the through hole 52X can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm.

連通する貫通孔52X,62X,71X内には、ビア配線V2が形成されている。ビア配線V2は、例えば、貫通孔71Xから露出するビア配線V1上に形成され、貫通孔52X,62X,71Xを全て充填するように形成されている。このため、ビア配線V2は、断面視略T字状に形成されている。ビア配線V2は、貫通孔62Xの内側面を構成する配線62と接続されるとともに、貫通孔62Xの周囲に位置する配線62の上面と接続されている。そして、2層目の配線62は、ビア配線V1,V2からなる貫通電極を介して、1層目の配線61と直列に接続されている。ここで、ビア配線V1,V2からなる貫通電極は、絶縁層51と、基板30と、接着層71と、配線62と、絶縁層52とを貫通して形成されている。   A via wiring V2 is formed in the communicating through holes 52X, 62X, 71X. For example, the via wiring V2 is formed on the via wiring V1 exposed from the through hole 71X, and is formed to fill all the through holes 52X, 62X, and 71X. For this reason, the via wiring V2 is formed in a substantially T shape in a sectional view. The via wiring V2 is connected to the wiring 62 constituting the inner side surface of the through hole 62X and is connected to the upper surface of the wiring 62 positioned around the through hole 62X. The second-layer wiring 62 is connected in series with the first-layer wiring 61 through a through electrode composed of via wirings V1 and V2. Here, the through electrode composed of the via wirings V <b> 1 and V <b> 2 is formed through the insulating layer 51, the substrate 30, the adhesive layer 71, the wiring 62, and the insulating layer 52.

また、絶縁層52には、当該絶縁層52を厚さ方向に貫通して、配線62の上面の一部を露出する貫通孔52Yが形成されている。貫通孔52Yの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、貫通孔52Yの平面形状は、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。   The insulating layer 52 has a through hole 52 </ b> Y that penetrates the insulating layer 52 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 62. The planar shape of the through hole 52Y can be an arbitrary shape and an arbitrary size. For example, the planar shape of the through hole 52Y can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm.

絶縁層52上には接着層72が積層され、接着層72上には構造体43が積層されている。配線63及び金属層63Dは、接着層72上に積層されている。
図5に示すように、配線63は、平面視略楕円形状に形成されている。但し、配線63には、所要箇所に当該配線63の短手方向(幅方向)及び厚さ方向を貫通する溝部63Yが形成されており、配線63は非環状に形成されている。配線63は、コイルの一部となる配線であり、コイルの3層目の配線(約1巻)である。
An adhesive layer 72 is laminated on the insulating layer 52, and a structure 43 is laminated on the adhesive layer 72. The wiring 63 and the metal layer 63D are stacked on the adhesive layer 72.
As shown in FIG. 5, the wiring 63 is formed in a substantially elliptical shape in plan view. However, in the wiring 63, a groove portion 63Y penetrating in the short side direction (width direction) and the thickness direction of the wiring 63 is formed at a required location, and the wiring 63 is formed in a non-annular shape. The wiring 63 is a wiring that becomes a part of the coil, and is a third-layer wiring (about one turn) of the coil.

金属層63Dは、例えば、金属層61Dと同様のダミーパターンである。金属層63Dは、例えば、溝部63Zによって配線63と離間して形成されている。金属層63Dは、例えば、接続部61A又は接続部67A(図6参照)と平面視で重複する位置に形成されている。   The metal layer 63D is a dummy pattern similar to the metal layer 61D, for example. For example, the metal layer 63D is formed away from the wiring 63 by the groove 63Z. The metal layer 63D is formed, for example, at a position overlapping with the connecting portion 61A or the connecting portion 67A (see FIG. 6) in plan view.

図4に示すように、接着層72は、その一部が貫通孔52Y内に形成され、貫通孔52Yの内側面を被覆するように形成されている。また、接着層72は、配線63及び金属層63Dの側面の一部を被覆するように形成されている。接着層72は、例えば、図5に示した溝部63Y,63Zを充填するように形成されている。   As shown in FIG. 4, the adhesive layer 72 is formed so that a part thereof is formed in the through hole 52Y and covers the inner surface of the through hole 52Y. The adhesive layer 72 is formed so as to cover part of the side surfaces of the wiring 63 and the metal layer 63D. For example, the adhesive layer 72 is formed to fill the grooves 63Y and 63Z shown in FIG.

接着層72には、当該接着層72を厚さ方向に貫通して配線62の上面の一部を露出する貫通孔72Xが形成されている。貫通孔72Xは、接着層72の上面から貫通孔52Y内に形成された接着層72の下面まで貫通するように形成されている。すなわち、貫通孔72Xは、その一部が貫通孔52Y内に形成されている。   In the adhesive layer 72, a through hole 72 </ b> X that penetrates the adhesive layer 72 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 62 is formed. The through hole 72X is formed so as to penetrate from the upper surface of the adhesive layer 72 to the lower surface of the adhesive layer 72 formed in the through hole 52Y. That is, a part of the through hole 72X is formed in the through hole 52Y.

配線63には、当該配線63を厚さ方向に貫通して、貫通孔72Xと連通する貫通孔63Xが形成されている。ここで、貫通孔63X,72Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。但し、貫通孔63X,72Xの平面形状は、貫通孔52Yの平面形状よりも小さく形成されている。例えば、貫通孔63X,72Xの平面形状は、直径が140〜180μm程度の円形状とすることができる。   The wiring 63 is formed with a through hole 63X that penetrates the wiring 63 in the thickness direction and communicates with the through hole 72X. Here, the planar shapes of the through holes 63X and 72X can be any shape and any size. However, the planar shape of the through holes 63X and 72X is smaller than the planar shape of the through hole 52Y. For example, the planar shape of the through holes 63X and 72X can be a circular shape having a diameter of about 140 to 180 μm.

絶縁層53は、配線63及び金属層63Dの上面を被覆するように、接着層72上に積層されている。絶縁層53には、当該絶縁層53を厚さ方向に貫通して、貫通孔63X,72Xと連通する貫通孔53Xが形成されている。貫通孔53Xは、貫通孔63Xの周囲に位置する配線63の上面を露出するように形成されている。すなわち、貫通孔53Xの平面形状は、貫通孔63X,72Xの平面形状よりも大きく形成されている。例えば、貫通孔53Xの平面形状は、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。   The insulating layer 53 is laminated on the adhesive layer 72 so as to cover the upper surfaces of the wiring 63 and the metal layer 63D. The insulating layer 53 is formed with a through hole 53X that penetrates the insulating layer 53 in the thickness direction and communicates with the through holes 63X and 72X. The through hole 53X is formed so as to expose the upper surface of the wiring 63 positioned around the through hole 63X. That is, the planar shape of the through hole 53X is larger than the planar shape of the through holes 63X and 72X. For example, the planar shape of the through hole 53X can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm.

連通する貫通孔53X,63X,72X内には、ビア配線V3が形成されている。ビア配線V3は、例えば、貫通孔72Xから露出する配線62上に形成され、貫通孔53X,63X,72Xを全て充填するように形成されている。このため、ビア配線V3は、断面視略T字状に形成されている。ビア配線V3は、貫通孔63Xの内側面を構成する配線63と接続されるとともに、貫通孔63Xの周囲に位置する配線63の上面と接続されている。そして、3層目の配線63は、ビア配線V3を介して、2層目の配線62と直列に接続されている。ここで、ビア配線V3は、上下に隣接する構造体42,43のうち下側の構造体42の絶縁層52と、接着層72と、上側の構造体43の配線63及び絶縁層53とを貫通して形成されている。   A via wiring V3 is formed in the through holes 53X, 63X, and 72X that communicate with each other. The via wiring V3 is formed on the wiring 62 exposed from the through hole 72X, for example, and is formed so as to fill all the through holes 53X, 63X, and 72X. For this reason, the via wiring V3 is formed in a substantially T shape in a sectional view. The via wiring V3 is connected to the wiring 63 constituting the inner surface of the through hole 63X and is connected to the upper surface of the wiring 63 located around the through hole 63X. The third-layer wiring 63 is connected in series with the second-layer wiring 62 via the via wiring V3. Here, the via wiring V3 includes the insulating layer 52 of the lower structure 42, the adhesive layer 72, and the wiring 63 and the insulating layer 53 of the upper structure 43 among the structures 42 and 43 that are vertically adjacent to each other. It is formed through.

図5に示すように、絶縁層53には、当該絶縁層53を厚さ方向に貫通して、配線63の上面の一部を露出する貫通孔53Yが形成されている。貫通孔53Yの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、貫通孔53Yの平面形状は、直径が200〜300μm程度の円形状とすることができる。   As shown in FIG. 5, the insulating layer 53 is formed with a through hole 53 </ b> Y that penetrates the insulating layer 53 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 63. The planar shape of the through hole 53Y can be an arbitrary shape and an arbitrary size. For example, the planar shape of the through hole 53Y can be a circular shape having a diameter of about 200 to 300 μm.

絶縁層53上には接着層73が積層され、接着層73上には構造体44が積層されている。配線64及び金属層64Dは、接着層73上に積層されている。絶縁層54は、配線64及び金属層64Dの上面を被覆するように、接着層73上に積層されている。なお、構造体44は、構造体42と同一の構造であり、例えば、構造体42を絶縁層52の上面の法線を軸に180度回転させた構造に相当する構造を有している。   An adhesive layer 73 is laminated on the insulating layer 53, and the structure 44 is laminated on the adhesive layer 73. The wiring 64 and the metal layer 64 </ b> D are stacked on the adhesive layer 73. The insulating layer 54 is laminated on the adhesive layer 73 so as to cover the upper surfaces of the wiring 64 and the metal layer 64D. Note that the structure 44 is the same structure as the structure 42, and has a structure corresponding to, for example, a structure obtained by rotating the structure 42 by 180 degrees about the normal line of the upper surface of the insulating layer 52.

配線64は、平面視略コ字状に形成されている。配線64は、コイルの一部となる配線であり、コイルの4層目の配線(1巻の約3/4)である。金属層64Dは、例えば、金属層61Dと同様のダミーパターンである。金属層64Dは、例えば、溝部64Y又は溝部64Zによって配線64と離間して形成されている。   The wiring 64 is formed in a substantially U shape in plan view. The wiring 64 is a wiring that becomes a part of the coil, and is a wiring on the fourth layer of the coil (about 3/4 of one turn). The metal layer 64D is a dummy pattern similar to the metal layer 61D, for example. The metal layer 64D is formed to be separated from the wiring 64 by, for example, the groove part 64Y or the groove part 64Z.

接着層73は、接着層72と同様に、貫通孔53Yの内側面を被覆するように形成されている。接着層73は、例えば、配線64及び金属層64Dの側面の一部を被覆するように形成され、溝部64Y,64Zを充填するように形成されている。接着層73には、当該接着層73を厚さ方向に貫通して配線63の上面の一部を露出する貫通孔73Xが形成されている。貫通孔73Xは、貫通孔53Yと平面視で重なる位置に形成され、その一部が貫通孔53Y内に形成されている。   Similar to the adhesive layer 72, the adhesive layer 73 is formed so as to cover the inner surface of the through hole 53Y. For example, the adhesive layer 73 is formed so as to cover part of the side surfaces of the wiring 64 and the metal layer 64D, and is formed so as to fill the grooves 64Y and 64Z. In the adhesive layer 73, a through hole 73 </ b> X that penetrates the adhesive layer 73 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 63 is formed. The through hole 73X is formed at a position overlapping the through hole 53Y in plan view, and a part of the through hole 73X is formed in the through hole 53Y.

配線64には、当該配線64を厚さ方向に貫通して、貫通孔73Xと連通する貫通孔64Xが形成されている。貫通孔64X,73Xの平面形状は、貫通孔53Yの平面形状よりも小さく形成されている。   The wiring 64 has a through hole 64X that penetrates the wiring 64 in the thickness direction and communicates with the through hole 73X. The planar shape of the through holes 64X and 73X is smaller than the planar shape of the through hole 53Y.

絶縁層54には、当該絶縁層54を厚さ方向に貫通して、貫通孔64X,73Xと連通する貫通孔54Xが形成されている。貫通孔54Xの平面形状は、貫通孔64X,73Xの平面形状よりも大きく形成されている。また、絶縁層54には、当該絶縁層54を厚さ方向に貫通して、配線64の上面の一部を露出する貫通孔54Yが形成されている。   The insulating layer 54 is formed with a through hole 54X that penetrates the insulating layer 54 in the thickness direction and communicates with the through holes 64X and 73X. The planar shape of the through hole 54X is larger than the planar shape of the through holes 64X and 73X. The insulating layer 54 has a through hole 54Y that penetrates the insulating layer 54 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 64.

連通する貫通孔54X,64X,73X内には、ビア配線V4(図7参照)が形成されている。ビア配線V4は、例えば、貫通孔73Xから露出する配線63上に形成され、貫通孔54X,64X,73Xを全て充填するように形成されている。このため、ビア配線V4は、上下に隣接する構造体43,44のうち下側の構造体43の絶縁層53と、接着層73と、上側の構造体44の配線64及び絶縁層54とを貫通して形成されている。そして、4層目の配線64は、ビア配線V4を介して、3層目の配線63と直列に接続されている。   A via wiring V4 (see FIG. 7) is formed in the communicating through holes 54X, 64X, and 73X. For example, the via wiring V4 is formed on the wiring 63 exposed from the through hole 73X, and is formed so as to fill all the through holes 54X, 64X, and 73X. For this reason, the via wiring V4 includes the insulating layer 53 of the lower structure 43, the adhesive layer 73, and the wiring 64 and the insulating layer 54 of the upper structure 44 among the structures 43 and 44 that are vertically adjacent to each other. It is formed through. The fourth-layer wiring 64 is connected in series with the third-layer wiring 63 through the via wiring V4.

図4に示すように、絶縁層54上には接着層74が積層され、接着層74上には構造体45が積層されている。配線65及び金属層65Dは、接着層74上に積層されている。絶縁層55は、配線65及び金属層65Dの上面を被覆するように接着層74上に積層されている。なお、図5及び図6に示すように、構造体45は、構造体43と同一の構造であり、構造体43を絶縁層53の上面の法線を軸に180度回転させた構造に相当する構造を有している。   As shown in FIG. 4, an adhesive layer 74 is laminated on the insulating layer 54, and a structure 45 is laminated on the adhesive layer 74. The wiring 65 and the metal layer 65 </ b> D are stacked on the adhesive layer 74. The insulating layer 55 is laminated on the adhesive layer 74 so as to cover the upper surfaces of the wiring 65 and the metal layer 65D. As shown in FIGS. 5 and 6, the structure 45 has the same structure as the structure 43 and corresponds to a structure in which the structure 43 is rotated 180 degrees about the normal line of the upper surface of the insulating layer 53. It has the structure to do.

図6に示すように、配線65は、平面視略楕円形状に形成されている。但し、配線65には、所要箇所に当該配線65の短手方向及び厚さ方向を貫通する溝部65Yが形成されており、配線65は非環状に形成されている。配線65は、コイルの一部となる配線であり、コイルの5層目の配線(約1巻)である。金属層65Dは、例えば、金属層61D(図5参照)と同様のダミーパターンであり、溝部65Zによって配線65と離間して形成されている。   As shown in FIG. 6, the wiring 65 is formed in a substantially elliptical shape in plan view. However, in the wiring 65, a groove portion 65Y penetrating in the short direction and the thickness direction of the wiring 65 is formed at a required location, and the wiring 65 is formed in a non-annular shape. The wiring 65 is a wiring that becomes a part of the coil, and is a fifth-layer wiring (about one turn) of the coil. The metal layer 65D is, for example, a dummy pattern similar to the metal layer 61D (see FIG. 5), and is formed away from the wiring 65 by the groove 65Z.

接着層74は、接着層72(図4参照)と同様に、貫通孔54Yの内側面を被覆するように形成されている。接着層74は、例えば、配線65及び金属層65Dの側面の一部を被覆するように形成され、溝部65Y,65Zを充填するように形成されている。接着層74には、当該接着層74を厚さ方向に貫通して配線64(図5参照)の上面の一部を露出する貫通孔74Xが形成されている。貫通孔74Xは、貫通孔54Yと平面視で重なる位置に形成され、その一部が貫通孔54Y内に形成されている。   Similar to the adhesive layer 72 (see FIG. 4), the adhesive layer 74 is formed to cover the inner surface of the through hole 54Y. For example, the adhesive layer 74 is formed so as to cover part of the side surfaces of the wiring 65 and the metal layer 65D, and is formed so as to fill the groove portions 65Y and 65Z. The adhesive layer 74 has a through hole 74X that penetrates the adhesive layer 74 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 64 (see FIG. 5). The through hole 74X is formed at a position overlapping the through hole 54Y in plan view, and a part of the through hole 74X is formed in the through hole 54Y.

配線65には、当該配線65を厚さ方向に貫通して、貫通孔74Xと連通する貫通孔65Xが形成されている。貫通孔65X,74Xの平面形状は、貫通孔54Yの平面形状よりも小さく形成されている。   The wiring 65 is formed with a through hole 65X that penetrates the wiring 65 in the thickness direction and communicates with the through hole 74X. The planar shapes of the through holes 65X and 74X are smaller than the planar shape of the through hole 54Y.

絶縁層55には、当該絶縁層55を厚さ方向に貫通して、貫通孔65X,74Xと連通する貫通孔55Xが形成されている。貫通孔55Xの平面形状は、貫通孔65X,74Xの平面形状よりも大きく形成されている。また、絶縁層55には、当該絶縁層55を厚さ方向に貫通して、配線65の上面の一部を露出する貫通孔55Yが形成されている。   The insulating layer 55 is formed with a through hole 55X that penetrates the insulating layer 55 in the thickness direction and communicates with the through holes 65X and 74X. The planar shape of the through hole 55X is larger than the planar shape of the through holes 65X and 74X. The insulating layer 55 is formed with a through hole 55 </ b> Y that penetrates the insulating layer 55 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 65.

連通する貫通孔55X,65X,74X内には、ビア配線V5(図7参照)が形成されている。ビア配線V5は、例えば、貫通孔74Xから露出する配線64(図5参照)上に形成され、貫通孔55X,65X,74Xを全て充填するように形成されている。このため、ビア配線V5は、上下に隣接する構造体44,45のうち下側の構造体44の絶縁層54と、接着層74と、上側の構造体45の配線65及び絶縁層55とを貫通して形成されている。そして、5層目の配線65は、ビア配線V5を介して、4層目の配線64と直列に接続されている。   A via wiring V5 (see FIG. 7) is formed in the through holes 55X, 65X, and 74X that communicate with each other. The via wiring V5 is formed, for example, on the wiring 64 (see FIG. 5) exposed from the through hole 74X, and is formed so as to fill all the through holes 55X, 65X, and 74X. Therefore, the via wiring V5 includes the insulating layer 54 of the lower structure 44, the adhesive layer 74, and the wiring 65 and the insulating layer 55 of the upper structure 45 among the vertically adjacent structures 44 and 45. It is formed through. The fifth-layer wiring 65 is connected in series with the fourth-layer wiring 64 via the via wiring V5.

絶縁層55上には接着層75が積層され、接着層75上には構造体46が積層されている。配線66及び金属層66Dは、接着層75上に積層されている。絶縁層56は、配線66及び金属層66Dの上面を被覆するように接着層75上に積層されている。なお、構造体46は、構造体42(図5参照)と同一の構造である。   An adhesive layer 75 is stacked on the insulating layer 55, and the structure 46 is stacked on the adhesive layer 75. The wiring 66 and the metal layer 66 </ b> D are stacked on the adhesive layer 75. The insulating layer 56 is laminated on the adhesive layer 75 so as to cover the upper surfaces of the wiring 66 and the metal layer 66D. The structure 46 has the same structure as the structure 42 (see FIG. 5).

図6に示すように、配線66は、平面視略コ字状に形成されている。配線66は、コイルの一部となる配線であり、コイルの6層目の配線(1巻の約3/4)である。金属層66Dは、例えば、金属層61D(図5参照)と同様のダミーパターンである。金属層66Dは、例えば、溝部66Y又は溝部66Zによって配線66と離間して形成されている。   As shown in FIG. 6, the wiring 66 is formed in a substantially U shape in plan view. The wiring 66 is a wiring that becomes a part of the coil, and is the wiring on the sixth layer of the coil (about 3/4 of one turn). The metal layer 66D is, for example, a dummy pattern similar to the metal layer 61D (see FIG. 5). For example, the metal layer 66D is formed to be separated from the wiring 66 by the groove 66Y or the groove 66Z.

図4に示すように、接着層75は、貫通孔55Yの内側面を被覆するように形成されている。接着層75は、例えば、配線66及び金属層66Dの側面の一部を被覆するように形成され、溝部66Y,66Z(図6参照)を充填するように形成されている。接着層75には、当該接着層75を厚さ方向に貫通して配線65の上面の一部を露出する貫通孔75Xが形成されている。貫通孔75Xは、貫通孔55Yと平面視で重なる位置に形成され、その一部が貫通孔55Y内に形成されている。   As shown in FIG. 4, the adhesive layer 75 is formed so as to cover the inner surface of the through hole 55Y. For example, the adhesive layer 75 is formed so as to cover part of the side surfaces of the wiring 66 and the metal layer 66D, and is formed so as to fill the grooves 66Y and 66Z (see FIG. 6). In the adhesive layer 75, a through hole 75 </ b> X that penetrates the adhesive layer 75 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 65 is formed. The through hole 75X is formed at a position overlapping the through hole 55Y in plan view, and a part thereof is formed in the through hole 55Y.

配線66には、当該配線66を厚さ方向に貫通して、貫通孔75Xと連通する貫通孔66Xが形成されている。貫通孔66X,75Xの平面形状は、貫通孔55Yの平面形状よりも小さく形成されている。   The wiring 66 is formed with a through hole 66X that penetrates the wiring 66 in the thickness direction and communicates with the through hole 75X. The planar shape of the through holes 66X and 75X is smaller than the planar shape of the through hole 55Y.

絶縁層56には、当該絶縁層56を厚さ方向に貫通して、貫通孔66X,75Xと連通する貫通孔56Xが形成されている。貫通孔56Xの平面形状は、貫通孔66X,75Xの平面形状よりも大きく形成されている。また、絶縁層56には、当該絶縁層56を厚さ方向に貫通して、配線66の上面の一部を露出する貫通孔56Yが形成されている。   The insulating layer 56 is formed with a through hole 56X that penetrates the insulating layer 56 in the thickness direction and communicates with the through holes 66X and 75X. The planar shape of the through hole 56X is larger than the planar shape of the through holes 66X and 75X. The insulating layer 56 is formed with a through hole 56 </ b> Y that penetrates the insulating layer 56 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 66.

連通する貫通孔56X,66X,75X内には、ビア配線V6が形成されている。ビア配線V6は、例えば、貫通孔75Xから露出する配線65上に形成され、貫通孔56X,66X,75Xを全て充填するように形成されている。このため、ビア配線V6は、上下に隣接する構造体45,46のうち下側の構造体45の絶縁層55と、接着層75と、上側の構造体46の配線66及び絶縁層56とを貫通して形成されている。そして、6層目の配線66は、ビア配線V6を介して、5層目の配線65と直列に接続されている。   A via wiring V6 is formed in the through holes 56X, 66X, and 75X that communicate with each other. The via wiring V6 is formed, for example, on the wiring 65 exposed from the through hole 75X, and is formed so as to fill all the through holes 56X, 66X, and 75X. Therefore, the via wiring V6 includes the insulating layer 55 of the lower structure 45, the adhesive layer 75, and the wiring 66 and the insulating layer 56 of the upper structure 46 among the structures 45 and 46 that are vertically adjacent to each other. It is formed through. The sixth-layer wiring 66 is connected in series with the fifth-layer wiring 65 through the via wiring V6.

絶縁層56上には接着層76が積層され、接着層76上には構造体47が積層されている。配線67、接続部67A及び金属層67Dは、接着層76上に積層されている。絶縁層57は、配線67、接続部67A及び金属層67Dの上面を被覆するように接着層76上に積層されている。   An adhesive layer 76 is laminated on the insulating layer 56, and a structure 47 is laminated on the adhesive layer 76. The wiring 67, the connecting portion 67A, and the metal layer 67D are stacked on the adhesive layer 76. The insulating layer 57 is laminated on the adhesive layer 76 so as to cover the upper surfaces of the wiring 67, the connecting portion 67A, and the metal layer 67D.

図6に示すように、配線67の平面形状は、略楕円形状に形成されている。但し、配線67には、所要箇所に当該配線67の短手方向(幅方向)及び厚さ方向を貫通する溝部67Yが形成されており、配線67は非環状に形成されている。配線67は、コイルの一部となる配線であり、コイルの7層目の配線(約1巻)である。   As shown in FIG. 6, the planar shape of the wiring 67 is substantially elliptical. However, in the wiring 67, a groove portion 67Y penetrating in the short direction (width direction) and the thickness direction of the wiring 67 is formed at a required place, and the wiring 67 is formed in a non-annular shape. The wiring 67 is a wiring that is a part of the coil, and is a seventh-layer wiring (about one turn) of the coil.

接続部67Aは、配線67の一端部に形成されている。接続部67Aは、コイル基板20の突出部22(図2参照)に対応する位置に形成されている。接続部67Aは、配線67と一体に形成されている。換言すると、接続部67Aは、配線67の一部である。なお、接続部67Aは、コイル基板20が個片化されたときに、その個片化後のコイル基板20の側面20B(図8(a)参照)から露出する。この露出した接続部67Aにはインダクタの電極が接続される。また、金属層67Dは、例えば、金属層61D(図5参照)と同様のダミーパターンであり、溝部67Zによって配線67と離間して形成されている。   The connecting portion 67A is formed at one end of the wiring 67. The connecting portion 67A is formed at a position corresponding to the protruding portion 22 (see FIG. 2) of the coil substrate 20. The connecting portion 67A is formed integrally with the wiring 67. In other words, the connecting portion 67 </ b> A is a part of the wiring 67. Note that, when the coil substrate 20 is separated into pieces, the connection portion 67A is exposed from the side surface 20B (see FIG. 8A) of the coil substrate 20 after the separation. An inductor electrode is connected to the exposed connection portion 67A. The metal layer 67D is, for example, a dummy pattern similar to the metal layer 61D (see FIG. 5), and is formed apart from the wiring 67 by the groove 67Z.

図4に示すように、接着層76は、貫通孔56Yの内側面を被覆するように形成されている。接着層76は、例えば、配線67、接続部67A及び金属層67Dの側面の一部を被覆するように形成され、溝部67Y,67Z(図6参照)を充填するように形成されている。接着層76には、当該接着層76を厚さ方向に貫通して配線66の上面の一部を露出する貫通孔76Xが形成されている。貫通孔76Xは、貫通孔56Yと平面視で重なる位置に形成され、その一部が貫通孔56Y内に形成されている。   As shown in FIG. 4, the adhesive layer 76 is formed so as to cover the inner surface of the through hole 56Y. For example, the adhesive layer 76 is formed so as to cover part of the side surfaces of the wiring 67, the connecting portion 67A, and the metal layer 67D, and is formed so as to fill the groove portions 67Y and 67Z (see FIG. 6). In the adhesive layer 76, a through hole 76 </ b> X that penetrates the adhesive layer 76 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 66 is formed. The through hole 76X is formed at a position overlapping the through hole 56Y in plan view, and a part of the through hole 76X is formed in the through hole 56Y.

配線67には、当該配線67を厚さ方向に貫通して、貫通孔76Xと連通する貫通孔67Xが形成されている。貫通孔67X,76Xの平面形状は、貫通孔56Yの平面形状よりも小さく形成されている。   The wiring 67 is formed with a through hole 67X that penetrates the wiring 67 in the thickness direction and communicates with the through hole 76X. The planar shape of the through holes 67X and 76X is smaller than the planar shape of the through hole 56Y.

絶縁層57には、当該絶縁層57を厚さ方向に貫通して、貫通孔67X,76Xと連通する貫通孔57Xが形成されている。貫通孔57Xの平面形状は、貫通孔67X,76Xの平面形状よりも大きく形成されている。   The insulating layer 57 is formed with a through hole 57X that penetrates the insulating layer 57 in the thickness direction and communicates with the through holes 67X and 76X. The planar shape of the through hole 57X is larger than the planar shape of the through holes 67X and 76X.

連通する貫通孔57X,67X,76X内には、ビア配線V7が形成されている。ビア配線V7は、例えば、貫通孔76Xから露出する配線66上に形成され、貫通孔57X,67X,76Xを全て充填するように形成されている。そして、7層目の配線67は、ビア配線V7を介して、6層目の配線66と直列に接続されている。ここで、ビア配線V7は、上下に隣接する構造体46,47のうち下側の構造体46の絶縁層56と、接着層76と、上側の構造体47の配線67及び絶縁層57とを貫通して形成されている。   A via wiring V7 is formed in the communicating through holes 57X, 67X, and 76X. For example, the via wiring V7 is formed on the wiring 66 exposed from the through hole 76X, and is formed so as to fill all the through holes 57X, 67X, and 76X. The seventh-layer wiring 67 is connected in series with the sixth-layer wiring 66 through the via wiring V7. Here, the via wiring V7 includes the insulating layer 56 of the lower structure 46, the adhesive layer 76, the wiring 67 and the insulating layer 57 of the upper structure 47 among the structures 46 and 47 that are vertically adjacent to each other. It is formed through.

また、図6に示すように、絶縁層57には、当該絶縁層57を厚さ方向に貫通して、配線67の上面の一部を露出する貫通孔57Yが形成されている。この貫通孔57Yには、ビア配線V8(図7参照)が充填されている。配線67は、ビア配線V8と電気的に接続されている。   As shown in FIG. 6, the insulating layer 57 is formed with a through hole 57 </ b> Y that penetrates the insulating layer 57 in the thickness direction and exposes a part of the upper surface of the wiring 67. The through hole 57Y is filled with a via wiring V8 (see FIG. 7). The wiring 67 is electrically connected to the via wiring V8.

なお、貫通孔64X〜67X,73X〜76Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、貫通孔64X〜67X,73X〜76Xの平面形状は、直径が140〜180μm程度の円形状とすることができる。これら貫通孔64X〜67X,73X〜76Xの平面形状よりも大きい貫通孔54X〜57X,54Y〜57Yの平面形状は、例えば、直径が200〜300μm程度とすることができる。また、図7に示したビア配線V1〜V8の材料としては、例えば、銅や銅合金を用いることができる。   In addition, the planar shape of the through holes 64X to 67X and 73X to 76X can be an arbitrary shape and an arbitrary size. For example, the planar shape of the through holes 64X to 67X and 73X to 76X can be a circular shape having a diameter of about 140 to 180 μm. The planar shapes of the through holes 54X to 57X and 54Y to 57Y that are larger than the planar shapes of the through holes 64X to 67X and 73X to 76X can be, for example, about 200 to 300 μm in diameter. Moreover, as a material of the via wirings V1 to V8 shown in FIG. 7, for example, copper or a copper alloy can be used.

このように、コイル基板20では、図7に示すように、上下に隣接する配線61〜67同士をビア配線V1〜V8を介して直列に接続し、接続部61Aから接続部67Aに至る螺旋状のコイルを形成している。すなわち、螺旋状のコイルは、その一端部に接続部61Aが設けられ、他端部に接続部67Aが設けられている。   In this way, in the coil substrate 20, as shown in FIG. 7, the upper and lower adjacent wirings 61 to 67 are connected in series via the via wirings V1 to V8, and the spiral shape extends from the connecting portion 61A to the connecting portion 67A. The coil is formed. That is, the spiral coil is provided with a connecting portion 61A at one end and a connecting portion 67A at the other end.

図2に示すように、以上説明した積層体23の平面視略中央部には、当該積層体23を厚さ方向に貫通する貫通孔23Xが形成されている。図3及び図4に示すように、貫通孔23Xの内壁面には、配線61〜67の側面が露出されている。   As shown in FIG. 2, a through hole 23 </ b> X that penetrates the laminated body 23 in the thickness direction is formed at a substantially central portion in plan view of the laminated body 23 described above. As shown in FIGS. 3 and 4, the side surfaces of the wirings 61 to 67 are exposed on the inner wall surface of the through hole 23 </ b> X.

絶縁膜25は、積層体23の表面全面を被覆するように形成されている。具体的には、図4に示すように、絶縁膜25は、積層体23の外壁面(側壁)、最下層の配線61の下面及び側面、最上層の絶縁層57の上面、ビア配線V7の上面、ビア配線V8(図7参照)の上面、及び貫通孔23Xの内壁面を連続的に被覆するように形成されている。この絶縁膜25により、貫通孔23Xの内壁面に露出された配線61〜67の側面が被覆されている。絶縁膜25により、溝部61Y,61Zに露出する配線61の側面が被覆されている。また、例えば、図2に示すように、積層体23の上面及び下面を被覆する絶縁膜25は、少なくとも、接続部67Aと平面視で重複する位置まで積層体23を被覆するとともに、金属層67Dと平面視で重複する位置まで積層体23を被覆するように形成されている。なお、本例の絶縁膜25は、連結部12の一部を被覆するように形成されている。但し、連結部12の大部分及び外枠13の全面は、絶縁膜25から露出されている。なお、図2では、絶縁層57の図示を省略し、積層体23上の絶縁膜25の図示を省略している。   The insulating film 25 is formed so as to cover the entire surface of the stacked body 23. Specifically, as illustrated in FIG. 4, the insulating film 25 includes the outer wall surface (side wall) of the stacked body 23, the lower and side surfaces of the lowermost wiring 61, the upper surface of the uppermost insulating layer 57, and the via wiring V <b> 7. It is formed so as to continuously cover the upper surface, the upper surface of the via wiring V8 (see FIG. 7), and the inner wall surface of the through hole 23X. The insulating film 25 covers the side surfaces of the wirings 61 to 67 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. The insulating film 25 covers the side surfaces of the wiring 61 exposed in the groove portions 61Y and 61Z. Further, for example, as shown in FIG. 2, the insulating film 25 covering the upper surface and the lower surface of the multilayer body 23 covers the multilayer body 23 at least to a position overlapping with the connection portion 67A in plan view, and also includes a metal layer 67D. And the laminated body 23 is formed so as to cover up to a position overlapping in plan view. The insulating film 25 in this example is formed so as to cover a part of the connecting portion 12. However, most of the connecting portion 12 and the entire surface of the outer frame 13 are exposed from the insulating film 25. In FIG. 2, illustration of the insulating layer 57 is omitted, and illustration of the insulating film 25 on the stacked body 23 is omitted.

ここで、絶縁膜25の材料としては、例えば、エポキシ系樹脂やアクリル系樹脂などの絶縁性樹脂を用いることができる。絶縁膜25は、例えば、シリカやアルミナ等のフィラーを含有していてもよい。絶縁膜25の厚さは、例えば、10〜50μm程度とすることができる。   Here, as a material of the insulating film 25, for example, an insulating resin such as an epoxy resin or an acrylic resin can be used. The insulating film 25 may contain, for example, a filler such as silica or alumina. The thickness of the insulating film 25 can be, for example, about 10 to 50 μm.

以上説明したコイル基板20は、隣接するコイル基板20と連結部12を介して連結されている。以下に、連結部12の構造について簡単に説明する。
図3に示すように、連結部12を構成する基板30の下面30Aには、絶縁層51と、金属層81とが順次積層されている。また、連結部12を構成する基板30の上面30Bには、接着層71、金属層82、絶縁層52、接着層72、金属層83、絶縁層53、接着層73、金属層84、絶縁層54、接着層74、金属層85、絶縁層55、接着層75、金属層86、絶縁層56、接着層76、金属層87、及び絶縁層57が順に積層されている。図4に示すように、金属層81は金属層61D及び接続部61Aと電気的に接続され、金属層82は金属層62Dと電気的に接続され、金属層83は金属層63Dと電気的に接続され、金属層84は金属層64Dと電気的に接続されている。また、金属層85は金属層65Dと電気的に接続され、金属層86は金属層66Dと電気的に接続され、金属層87は金属層67D及び接続部67Aと電気的に接続されている。なお、金属層81〜87の材料としては、例えば、銅や銅合金を用いることができる。
The coil substrate 20 described above is connected to the adjacent coil substrate 20 via the connecting portion 12. Below, the structure of the connection part 12 is demonstrated easily.
As shown in FIG. 3, an insulating layer 51 and a metal layer 81 are sequentially stacked on the lower surface 30 </ b> A of the substrate 30 constituting the connecting portion 12. Further, an adhesive layer 71, a metal layer 82, an insulating layer 52, an adhesive layer 72, a metal layer 83, an insulating layer 53, an adhesive layer 73, a metal layer 84, and an insulating layer are provided on the upper surface 30 </ b> B of the substrate 30 constituting the connecting portion 12. 54, an adhesive layer 74, a metal layer 85, an insulating layer 55, an adhesive layer 75, a metal layer 86, an insulating layer 56, an adhesive layer 76, a metal layer 87, and an insulating layer 57 are sequentially laminated. As shown in FIG. 4, the metal layer 81 is electrically connected to the metal layer 61D and the connecting portion 61A, the metal layer 82 is electrically connected to the metal layer 62D, and the metal layer 83 is electrically connected to the metal layer 63D. The metal layer 84 is electrically connected to the metal layer 64D. The metal layer 85 is electrically connected to the metal layer 65D, the metal layer 86 is electrically connected to the metal layer 66D, and the metal layer 87 is electrically connected to the metal layer 67D and the connection portion 67A. In addition, as a material of the metal layers 81-87, copper and a copper alloy can be used, for example.

図2に示すように、連結部12には、所要箇所に認識マーク12Xが形成されている。認識マーク12Xは、連結部12を厚さ方向に貫通するように形成されている。認識マーク12Xは、例えば、アライメントマークとして利用される。認識マーク12Xの平面形状は、任意の形状及び任意の大きさとすることができる。例えば、認識マーク12Xの平面形状は、略円形状とすることができる。   As shown in FIG. 2, recognition marks 12 </ b> X are formed on the connecting portion 12 at required locations. The recognition mark 12X is formed so as to penetrate the connecting portion 12 in the thickness direction. The recognition mark 12X is used as an alignment mark, for example. The planar shape of the recognition mark 12X can be any shape and any size. For example, the planar shape of the recognition mark 12X can be a substantially circular shape.

次に、外枠13の構造について簡単に説明する。
図3に示すように、外枠13は、基板30のみによって構成されている。外枠13は、例えば、基板30の両端領域に形成されている。例えば、外枠13は、個別領域A1及び連結部12を構成する基板30が連結部12よりも外側に延在して形成されている。すなわち、基板30のみが連結部12よりも外側に張り出すように形成されている。そして、外枠13を構成する基板30に、上述したスプロケットホール13Xが形成されている。すなわち、スプロケットホール13Xは、基板30を厚さ方向に貫通するように形成されている。
Next, the structure of the outer frame 13 will be briefly described.
As shown in FIG. 3, the outer frame 13 is configured only by the substrate 30. For example, the outer frame 13 is formed in both end regions of the substrate 30. For example, the outer frame 13 is formed by extending the substrate 30 constituting the individual region A1 and the connecting portion 12 to the outside of the connecting portion 12. That is, only the substrate 30 is formed so as to protrude outward from the connecting portion 12. And the sprocket hole 13X mentioned above is formed in the board | substrate 30 which comprises the outer frame 13. As shown in FIG. That is, the sprocket hole 13X is formed so as to penetrate the substrate 30 in the thickness direction.

図8(a)には、図4に破線で示した切断位置で絶縁膜25、基板30、絶縁層51〜57、金属層61D〜67D等が切断されて個片化された後のコイル基板20が示されている。個片化後のコイル基板20では、一方の側面20Aに接続部61Aが露出され、側面20Aと対向する側面20Bに接続部67Aが露出されている。なお、この個片化後のコイル基板20は、天地逆の状態で用いることができ、又は任意の角度で配置することができる。   8A shows the coil substrate after the insulating film 25, the substrate 30, the insulating layers 51 to 57, the metal layers 61D to 67D, and the like are cut and separated into pieces at the cutting position indicated by the broken line in FIG. 20 is shown. In the coil substrate 20 after separation, the connection portion 61A is exposed on one side surface 20A, and the connection portion 67A is exposed on the side surface 20B facing the side surface 20A. In addition, the coil board | substrate 20 after this singulation can be used in the state upside down, or can be arrange | positioned at arbitrary angles.

次に、図8(b)に従って、コイル基板20を有するインダクタ90の構造について説明する。
インダクタ90は、コイル基板20を封止樹脂91で封止し、電極92,93を形成したチップインダクタである。インダクタ90の平面形状は、例えば、1.6mm×0.8mm程度の略矩形状とすることができる。インダクタ90の厚さは、例えば、1.0mm程度とすることができる。インダクタ90は、例えば、小型の電子機器の電圧変換回路等に用いることができる。
Next, the structure of the inductor 90 having the coil substrate 20 will be described with reference to FIG.
The inductor 90 is a chip inductor in which the coil substrate 20 is sealed with a sealing resin 91 and electrodes 92 and 93 are formed. The planar shape of the inductor 90 can be a substantially rectangular shape of about 1.6 mm × 0.8 mm, for example. The thickness of the inductor 90 can be about 1.0 mm, for example. The inductor 90 can be used, for example, in a voltage conversion circuit of a small electronic device.

封止樹脂91は、コイル基板20の側面20A及び側面20Bを除く部分を封止している。すなわち、封止樹脂91は、接続部61A,67Aが露出する側面20A,20Bを除いてコイル基板20(積層体23及び絶縁膜25)を全体的に被覆するように形成されている。例えば、封止樹脂91は、絶縁膜25の上面及び下面を被覆し、貫通孔23Xの内壁面を被覆する絶縁膜25の側面を被覆するように形成されている。すなわち、封止樹脂91は、貫通孔20X内にも形成されている。本例の封止樹脂91は、貫通孔20Xの内壁面全面を被覆するように貫通孔20X内に充填されている。封止樹脂91の材料としては、例えば、フェライトや金属磁性粉末等の磁性体のフィラーを含有する絶縁性樹脂(例えば、エポキシ系樹脂)を用いることができる。金属磁性粉末の材料としては、例えば、鉄や鉄系合金を用いることができる。なお、磁性体は、インダクタ90のインダクタンスを大きくする機能を有している。   The sealing resin 91 seals a portion of the coil substrate 20 excluding the side surface 20A and the side surface 20B. That is, the sealing resin 91 is formed so as to entirely cover the coil substrate 20 (the laminated body 23 and the insulating film 25) except for the side surfaces 20A and 20B from which the connection portions 61A and 67A are exposed. For example, the sealing resin 91 is formed so as to cover the upper surface and the lower surface of the insulating film 25 and to cover the side surface of the insulating film 25 that covers the inner wall surface of the through hole 23X. That is, the sealing resin 91 is also formed in the through hole 20X. The sealing resin 91 of this example is filled in the through hole 20X so as to cover the entire inner wall surface of the through hole 20X. As a material of the sealing resin 91, for example, an insulating resin (for example, epoxy resin) containing a magnetic filler such as ferrite or metal magnetic powder can be used. As a material of the metal magnetic powder, for example, iron or an iron-based alloy can be used. The magnetic body has a function of increasing the inductance of the inductor 90.

ここで、インダクタ90では、コイル基板20の略中央部に貫通孔20Xが形成されており、その貫通孔20Xも磁性体を含有する絶縁性樹脂で充填されている。これにより、貫通孔20Xを形成しない場合に比べて、コイル基板20の周囲のより多くの部分を、磁性体を含有する封止樹脂91で封止することができる。このため、インダクタ90のインダクタンスを向上させることができる。   Here, in the inductor 90, a through hole 20X is formed in a substantially central portion of the coil substrate 20, and the through hole 20X is also filled with an insulating resin containing a magnetic material. Thereby, compared with the case where the through-hole 20X is not formed, a larger portion around the coil substrate 20 can be sealed with the sealing resin 91 containing the magnetic material. For this reason, the inductance of the inductor 90 can be improved.

なお、貫通孔20X内に、フェライト等の磁性体のコアを配置し、コアを含めてコイル基板20を封止するように封止樹脂91を形成してもよい。このとき、コアの形状は、例えば、円柱状や直方体状とすることができる。   Note that a core of magnetic material such as ferrite may be disposed in the through hole 20X, and the sealing resin 91 may be formed so as to seal the coil substrate 20 including the core. At this time, the shape of the core can be, for example, a cylindrical shape or a rectangular parallelepiped shape.

電極92は、封止樹脂91の外側に形成され、接続部61Aの一部と接続されている。電極92は、コイル基板20の側面20Aと、その側面20A側に形成された封止樹脂91の側面と、封止樹脂91の上面及び下面の一部とを連続的に被覆するように形成されている。電極92の内壁面は、コイル基板20の側面20Aから露出する接続部61Aの側面と接している。これにより、電極92と接続部61Aとは電気的に接続されている。   The electrode 92 is formed outside the sealing resin 91 and connected to a part of the connecting portion 61A. The electrode 92 is formed so as to continuously cover the side surface 20A of the coil substrate 20, the side surface of the sealing resin 91 formed on the side surface 20A, and part of the upper surface and the lower surface of the sealing resin 91. ing. The inner wall surface of the electrode 92 is in contact with the side surface of the connecting portion 61 </ b> A exposed from the side surface 20 </ b> A of the coil substrate 20. Thereby, the electrode 92 and the connection part 61A are electrically connected.

電極93は、封止樹脂91の外側に形成され、接続部67Aの一部と接続されている。電極93は、コイル基板20の側面20Bと、その側面20B側に形成された封止樹脂91の側面と、封止樹脂91の上面及び下面の一部とを連続的に被覆するように形成されている。電極93の内壁面は、コイル基板20の側面20Bから露出する接続部67Aの側面と接している。これにより、電極93と接続部67Aとは電気的に接続されている。   The electrode 93 is formed outside the sealing resin 91 and is connected to a part of the connecting portion 67A. The electrode 93 is formed so as to continuously cover the side surface 20B of the coil substrate 20, the side surface of the sealing resin 91 formed on the side surface 20B, and part of the upper surface and the lower surface of the sealing resin 91. ing. The inner wall surface of the electrode 93 is in contact with the side surface of the connecting portion 67 </ b> A exposed from the side surface 20 </ b> B of the coil substrate 20. Thereby, the electrode 93 and the connection part 67A are electrically connected.

電極92,93の材料としては、例えば、銅や銅合金を用いることができる。また、電極92,93は、複数の金属層を積層した構造としてもよい。
なお、電極92,93は、ダミーパターンである金属層61D〜67Dとも接続されている。但し、金属層61D〜67Dは、配線61〜67及び他の金属層と電気的に接続されておらず、電気的に孤立している。このため、金属層61D〜67D及び電極92,93に起因して配線61〜67等が短絡することはない。
As a material of the electrodes 92 and 93, for example, copper or a copper alloy can be used. The electrodes 92 and 93 may have a structure in which a plurality of metal layers are stacked.
The electrodes 92 and 93 are also connected to the metal layers 61D to 67D which are dummy patterns. However, the metal layers 61D to 67D are not electrically connected to the wirings 61 to 67 and other metal layers, and are electrically isolated. For this reason, the wirings 61 to 67 and the like are not short-circuited due to the metal layers 61D to 67D and the electrodes 92 and 93.

次に、コイル基板10の製造方法について説明する。
まず、図9に示す工程では、基板100を用意する。基板100は、ブロック11と外枠13とを有する基板30が複数個連設された構造を有している。各ブロック11には、複数の個別領域A1が設けられ、それら複数の個別領域A1を囲むように連結部12が設けられている。また、外枠13は、基板100の短手方向又は各基板30の長手方向(つまり、図中上下方向)の両端領域に設けられている。この外枠13には、基板30を厚さ方向に貫通するスプロケットホール13Xが、基板100の長手方向(つまり、図中左右方向)に沿って略一定間隔で連続的に形成されている。スプロケットホール13Xは、例えば、プレス加工法やレーザ加工法を用いて形成することができる。なお、スプロケットホール13Xは、コイル基板10を製造する過程で基板100が各種製造装置等に装着された際に、モータ等により駆動されるスプロケットのピンと噛み合って、基板100をピッチ送りするための貫通孔(つまり、搬送用の貫通孔)である。このため、隣接するスプロケットホール13Xの間隔は、製造過程で基板100が装着される製造装置に対応して設定される。
Next, a method for manufacturing the coil substrate 10 will be described.
First, in the step shown in FIG. 9, a substrate 100 is prepared. The substrate 100 has a structure in which a plurality of substrates 30 each having a block 11 and an outer frame 13 are connected. Each block 11 is provided with a plurality of individual areas A1, and a connecting portion 12 is provided so as to surround the plurality of individual areas A1. Further, the outer frame 13 is provided in both end regions in the short direction of the substrate 100 or in the longitudinal direction of each substrate 30 (that is, the vertical direction in the drawing). In the outer frame 13, sprocket holes 13 </ b> X penetrating the substrate 30 in the thickness direction are continuously formed at substantially constant intervals along the longitudinal direction of the substrate 100 (that is, the left-right direction in the drawing). The sprocket hole 13X can be formed using, for example, a press processing method or a laser processing method. The sprocket hole 13X is a through-hole for pitch-feeding the substrate 100 by meshing with a pin of a sprocket driven by a motor or the like when the substrate 100 is mounted on various manufacturing apparatuses or the like in the process of manufacturing the coil substrate 10. It is a hole (that is, a through-hole for conveyance). For this reason, the interval between adjacent sprocket holes 13X is set corresponding to the manufacturing apparatus to which the substrate 100 is mounted in the manufacturing process.

基板100としては、リール状(テープ状)の可撓性を有する絶縁樹脂フィルムを用いることができる。基板100の幅(スプロケットホール13Xの配列方向と平面視で直交する方向の長さ)は、基板100が装着される製造装置に対応するように決定される。例えば、基板100の幅は、40〜90mm程度とすることができる。また、基板100の長手方向の長さは、任意に決定することができる。図9に示した例では、各基板30に設ける個別領域A1を6行2列としたが、各基板30を長くして個別領域A1を例えば数100列程度とすることもできる。なお、切断位置A2は、後工程でリール状の基板100を切断してシート状とするための切断位置である。   As the substrate 100, a reel-like (tape-like) flexible insulating resin film can be used. The width of the substrate 100 (the length in the direction orthogonal to the arrangement direction of the sprocket holes 13X in plan view) is determined so as to correspond to the manufacturing apparatus on which the substrate 100 is mounted. For example, the width of the substrate 100 can be about 40 to 90 mm. Further, the length of the substrate 100 in the longitudinal direction can be arbitrarily determined. In the example shown in FIG. 9, the individual areas A1 provided on each substrate 30 are 6 rows and 2 columns. However, the individual areas A1 can be made to be several hundred columns, for example, by lengthening each substrate 30. The cutting position A2 is a cutting position for cutting the reel-like substrate 100 into a sheet shape in a subsequent process.

以下では、便宜上、1つの基板30の1つの個別領域A1(図9において一点鎖線枠で示した領域)に着目して説明を行う。
次に、図10(a)及び図10(b)に示す工程では、外枠13を除く領域(つまり、ブロック11)に位置する基板30の下面30Aに、半硬化状態の絶縁層51を積層する。絶縁層51は、例えば、ブロック11に位置する基板30の下面30A全面を被覆するように形成される。例えば、絶縁層51の材料としてフィルム状の絶縁性樹脂を用いる場合には、基板30の下面30Aにフィルム状の絶縁性樹脂をラミネートする。但し、この工程では、フィルム状の絶縁性樹脂の熱硬化は行わず、B−ステージ状態(半硬化状態)にしておく。なお、絶縁層51を真空雰囲気中でラミネートすることにより、絶縁層51中へのボイドの巻き込みを抑制することができる。一方、絶縁層51の材料として液状又はペースト状の絶縁性樹脂を用いる場合には、基板30の下面30Aに液状又はペースト状の絶縁性樹脂を、例えば、印刷法やスピンコート法により塗布する。その後、塗布した液状又はペースト状の絶縁性樹脂をプリベークしてB−ステージ状態にする。
In the following, for the sake of convenience, description will be given focusing on one individual region A1 (region indicated by a one-dot chain line in FIG. 9) of one substrate 30.
Next, in the steps shown in FIGS. 10A and 10B, a semi-cured insulating layer 51 is laminated on the lower surface 30A of the substrate 30 located in the region excluding the outer frame 13 (that is, the block 11). To do. The insulating layer 51 is formed so as to cover the entire lower surface 30A of the substrate 30 located in the block 11, for example. For example, when a film-like insulating resin is used as the material of the insulating layer 51, the film-like insulating resin is laminated on the lower surface 30 </ b> A of the substrate 30. However, in this step, the film-like insulating resin is not thermally cured, and is in a B-stage state (semi-cured state). In addition, by laminating the insulating layer 51 in a vacuum atmosphere, the inclusion of voids in the insulating layer 51 can be suppressed. On the other hand, when a liquid or paste insulating resin is used as the material of the insulating layer 51, the liquid or paste insulating resin is applied to the lower surface 30A of the substrate 30 by, for example, a printing method or a spin coating method. Thereafter, the applied liquid or paste-like insulating resin is pre-baked to obtain a B-stage state.

続いて、各個別領域A1の基板30に貫通孔30Xを形成するとともに、各個別領域A1の絶縁層51に、貫通孔30Xと連通する貫通孔51Xを形成する。これら貫通孔30X,51Xは、例えば、プレス加工法やレーザ加工法により形成することができる。なお、本工程において、上述したスプロケットホール13Xを形成するようにしてもよい。すなわち、貫通孔30X,51Xとスプロケットホール13Xとを同一の工程で形成するようにしてもよい。   Subsequently, the through hole 30X is formed in the substrate 30 in each individual area A1, and the through hole 51X communicating with the through hole 30X is formed in the insulating layer 51 in each individual area A1. These through holes 30X and 51X can be formed by, for example, a press processing method or a laser processing method. In this step, the sprocket hole 13X described above may be formed. That is, the through holes 30X and 51X and the sprocket hole 13X may be formed in the same process.

次いで、図11(a)に示す工程では、半硬化状態の絶縁層51の下面に、金属箔161を積層する。金属箔161は、例えば、絶縁層51の下面全面を被覆するように形成される。例えば、半硬化状態の絶縁層51の下面に、金属箔161を熱圧着によりラミネートする。その後、半硬化状態の絶縁層51を150℃程度の温度雰囲気でキュア(熱硬化処理)を行うことにより硬化させる。このとき、絶縁層51の硬化に伴って、絶縁層51の上面に基板30が接着されるとともに、絶縁層51の下面に金属箔161が接着される。すなわち、本工程における絶縁層51は、基板30と金属箔161とを接着する接着剤として機能する。なお、金属箔161は、後工程でパターニングされて配線61及び接続部61A等となる部位であり、例えば、銅箔を用いることができる。   Next, in the step shown in FIG. 11A, the metal foil 161 is laminated on the lower surface of the semi-cured insulating layer 51. The metal foil 161 is formed so as to cover the entire lower surface of the insulating layer 51, for example. For example, the metal foil 161 is laminated on the lower surface of the semi-cured insulating layer 51 by thermocompression bonding. Thereafter, the semi-cured insulating layer 51 is cured by curing (thermosetting treatment) in a temperature atmosphere of about 150 ° C. At this time, as the insulating layer 51 is cured, the substrate 30 is bonded to the upper surface of the insulating layer 51 and the metal foil 161 is bonded to the lower surface of the insulating layer 51. That is, the insulating layer 51 in this step functions as an adhesive that bonds the substrate 30 and the metal foil 161. Note that the metal foil 161 is a portion that is patterned in a later step to become the wiring 61, the connection portion 61A, and the like, and for example, a copper foil can be used.

次いで、貫通孔51Xの底部に露出する金属箔161上にビア配線V1を形成する。本工程では、ビア配線V1は、貫通孔51X内を充填するとともに、貫通孔30X内の一部に形成される。ビア配線V1は、例えば、金属箔161を給電層に利用する電解めっき法により、貫通孔30X,51X内にめっき膜を析出させることで形成することができる。また、ビア配線V1は、貫通孔51Xの底部に露出する金属箔161上に銅等の金属ペーストを充填して形成するようにしてもよい。   Next, the via wiring V1 is formed on the metal foil 161 exposed at the bottom of the through hole 51X. In this step, the via wiring V1 fills the inside of the through hole 51X and is formed in a part of the through hole 30X. The via wiring V1 can be formed, for example, by depositing a plating film in the through holes 30X and 51X by an electrolytic plating method using the metal foil 161 as a power feeding layer. The via wiring V1 may be formed by filling a metal paste such as copper on the metal foil 161 exposed at the bottom of the through hole 51X.

次に、金属箔161をパターニングし、図11(b)及び図11(c)に示すように、各個別領域A1に位置する絶縁層51の下面に、金属層61Eを形成し、金属層61Eの一端部に接続部61Aを形成するとともに、ダミーパターンである金属層61Dを形成する。これにより、基板30の下面30Aに、絶縁層51、金属層61E及び接続部61Aを有する構造体41が積層される。本工程で形成される金属層61Eは、例えば、図7に示した配線61(つまり、螺旋状のコイルの一部を構成する形状の配線61)よりも平面形状が大きく形成されている。そして、この金属層61Eは、最終的に型抜き等により成形されて、コイルの一部となる1層目の配線61(約1巻)となる部位である。また、本工程では、図11(c)に示すように、連結部12に位置する絶縁層51の下面に、接続部61A及び金属層61Dと接続される金属層81を形成する。換言すると、本工程では、図11(a)に示した金属箔161をパターニングして、開口部201Y及び溝部61Y,61Zを形成する。溝部61Yは、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするために設けるものである。なお、本工程で形成された金属層81は、後工程において電解めっきにおける給電層として使用するものである。後工程において電解めっきを行わない場合には金属層81の形成を省略してもよい。また、図11(c)では、開口部201Y及び溝部61Y,61Zから露出する絶縁層51を梨地模様で示している。   Next, the metal foil 161 is patterned, and as shown in FIGS. 11B and 11C, a metal layer 61E is formed on the lower surface of the insulating layer 51 located in each individual region A1, and the metal layer 61E is formed. The connection part 61A is formed at one end of the metal layer 61D and the metal layer 61D as a dummy pattern is formed. Thereby, the structure 41 having the insulating layer 51, the metal layer 61E, and the connection portion 61A is laminated on the lower surface 30A of the substrate 30. For example, the metal layer 61E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 61 shown in FIG. 7 (that is, the wiring 61 having a shape constituting a part of the spiral coil). And this metal layer 61E is a site | part used as the 1st layer wiring 61 (about 1 volume) finally shape | molded by die cutting etc. and used as a part of coil. In this step, as shown in FIG. 11C, a metal layer 81 connected to the connecting portion 61A and the metal layer 61D is formed on the lower surface of the insulating layer 51 located in the connecting portion 12. In other words, in this step, the metal foil 161 shown in FIG. 11A is patterned to form the opening 201Y and the grooves 61Y and 61Z. The groove 61Y is provided to facilitate the formation of a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a subsequent process. The metal layer 81 formed in this step is used as a power feeding layer in electrolytic plating in a subsequent step. The formation of the metal layer 81 may be omitted when electrolytic plating is not performed in a subsequent process. Moreover, in FIG.11 (c), the insulating layer 51 exposed from the opening part 201Y and the groove parts 61Y and 61Z is shown with the satin pattern.

金属箔161のパターニングは、例えば、サブトラクティブ法などの各種配線形成方法を用いて行うことができる。例えば、金属箔161の下面に感光性のレジストを塗布し、所定の領域を露光及び現像してレジストに開口部を形成し、開口部内に露出する金属箔161をエッチングで除去することでパターニングできる。なお、金属層61E、接続部61A、金属層61D及び金属層81は一体に形成されている。   The patterning of the metal foil 161 can be performed using various wiring forming methods such as a subtractive method. For example, patterning can be performed by applying a photosensitive resist on the lower surface of the metal foil 161, exposing and developing a predetermined region to form an opening in the resist, and removing the metal foil 161 exposed in the opening by etching. . The metal layer 61E, the connecting portion 61A, the metal layer 61D, and the metal layer 81 are integrally formed.

次に、図12に示す工程では、まず、基板100と同様の構造を有する支持フィルム102を準備する。すなわち、図12(a)及び図12(c)に示すように、複数の個別領域A1が設けられたブロック11と、そのブロック11の外側に張り出すように形成された外枠13とを有する支持フィルム102を準備する。支持フィルム102としては、例えば、リール状(テープ状)の可撓性を有する絶縁樹脂フィルムを用いることができる。支持フィルム102としては、例えば、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、ポリイミドフィルムやポリエチレンナフタレートフィルムを用いることができる。支持フィルム102の厚さは、例えば、12〜50μm程度とすることができる。   Next, in the step shown in FIG. 12, first, a support film 102 having the same structure as the substrate 100 is prepared. That is, as shown in FIG. 12A and FIG. 12C, it has a block 11 provided with a plurality of individual regions A1 and an outer frame 13 formed so as to protrude outside the block 11. A support film 102 is prepared. As the support film 102, for example, a reel-like (tape-like) flexible insulating resin film can be used. As the support film 102, for example, polyphenylene sulfide (PPS), a polyimide film, or a polyethylene naphthalate film can be used. The thickness of the support film 102 can be about 12-50 micrometers, for example.

続いて、図9〜図11(a)に示した工程と同様に、支持フィルム102の下面102Aに、絶縁層52と金属層62Eとを有する構造体42を積層する。具体的には、外枠13に位置する支持フィルム102にスプロケットホール102Xを形成した後、外枠13を除く支持フィルム102の下面102Aに半硬化状態の絶縁層52を積層する。次いで、図12(b)に示すように、プレス加工法やレーザ加工法により、支持フィルム102及び絶縁層52を厚さ方向に貫通する貫通孔52X,52Yを形成する。その後、半硬化状態の絶縁層52の下面に金属箔を積層し、その金属箔をサブトラクティブ法等によりパターニングする。これにより、図12(b)及び図12(c)に示すように、各個別領域A1に位置する絶縁層52の下面に、金属層62Eを形成するとともに、ダミーパターンである金属層62Dを形成する。また、図12(c)に示すように、連結部12に位置する絶縁層52の下面に、一部の金属層62Dに接続する金属層82を形成する。換言すると、本工程では、絶縁層52の下面に積層した金属箔をパターニングして、開口部202Y及び溝部62Y,62Zを形成する。ここで、本工程で形成される金属層62Eは、例えば、図7に示した配線62よりも平面形状が大きく形成されている。この金属層62Eは、最終的に成形(型抜き等)されて、コイルの一部となる2層目の配線62(1巻の約3/4)となる部位である。この金属層62Eと金属層82とは開口部202Y及び溝部62Zによって分離されて形成されている。また、溝部62Yは、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするために設けるものである。なお、図12(c)では、開口部202Y及び溝部62Y,62Zから露出する絶縁層52を梨地模様で示している。   Subsequently, the structure 42 having the insulating layer 52 and the metal layer 62E is laminated on the lower surface 102A of the support film 102 in the same manner as in the steps shown in FIGS. Specifically, after the sprocket holes 102X are formed in the support film 102 positioned on the outer frame 13, the semi-cured insulating layer 52 is laminated on the lower surface 102A of the support film 102 excluding the outer frame 13. Next, as shown in FIG. 12B, through holes 52X and 52Y that penetrate the support film 102 and the insulating layer 52 in the thickness direction are formed by a press working method or a laser working method. Thereafter, a metal foil is laminated on the lower surface of the semi-cured insulating layer 52, and the metal foil is patterned by a subtractive method or the like. As a result, as shown in FIGS. 12B and 12C, the metal layer 62E is formed on the lower surface of the insulating layer 52 located in each individual region A1, and the metal layer 62D which is a dummy pattern is formed. To do. Further, as shown in FIG. 12C, a metal layer 82 connected to a part of the metal layer 62 </ b> D is formed on the lower surface of the insulating layer 52 located in the connecting portion 12. In other words, in this step, the metal foil laminated on the lower surface of the insulating layer 52 is patterned to form the opening 202Y and the grooves 62Y and 62Z. Here, the metal layer 62E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 62 shown in FIG. 7, for example. The metal layer 62E is a portion that is finally formed (die-cut or the like) and becomes a second-layer wiring 62 (about 3/4 of one turn) that becomes a part of the coil. The metal layer 62E and the metal layer 82 are formed by being separated by the opening 202Y and the groove 62Z. Further, the groove 62Y is provided to facilitate the formation of a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a subsequent process. In FIG. 12C, the insulating layer 52 exposed from the opening 202Y and the grooves 62Y and 62Z is shown in a satin pattern.

また、スプロケットホール102Xは、スプロケットホール13Xと同様に、コイル基板10を製造する過程で支持フィルム102が各種製造装置等に装着された際に、モータ等により駆動されるスプロケットのピンと噛み合って、支持フィルム102をピッチ送りするための貫通孔(つまり、搬送用の貫通孔)である。   Similarly to the sprocket hole 13X, the sprocket hole 102X meshes with the pin of the sprocket driven by a motor or the like when the support film 102 is mounted on various manufacturing apparatuses in the process of manufacturing the coil substrate 10. This is a through hole (that is, a through hole for conveyance) for pitch feeding the film 102.

次に、図13及び図14に示す工程について説明する。なお、図13及び図14は、図12(c)の12b−12b線位置に対応する断面図である。
まず、図13(a)に示す工程では、絶縁層52の下面に、金属層62D,62E,82の表面(下面及び側面)全面を被覆する半硬化状態の接着層71を積層する。接着層71は、例えば、溝部62Y,62Z及び開口部202Y(図12(a)参照)を充填するように形成される。例えば、接着層71の材料としてフィルム状の絶縁性樹脂を用いる場合には、絶縁層52の下面にフィルム状の絶縁性樹脂を熱圧着によりラミネートする。この熱圧着は、例えば、真空雰囲気下において、フィルム状の絶縁性樹脂を所定の圧力(例えば、0.5〜0.6MPa程度)で押圧することにより行うことができる。但し、この工程では、フィルム状の絶縁性樹脂の熱硬化は行わず、B−ステージ状態(半硬化状態)にしておく。また、接着層71の材料として液状又はペースト状の絶縁性樹脂を用いる場合には、絶縁層52の下面に液状又はペースト状の絶縁性樹脂を、例えば、印刷法やスピンコート法により塗布する。その後、塗布した液状又はペースト状の絶縁性樹脂をプリベークしてB−ステージ状態にする。なお、接着層71の材料としては、例えば、流動性の高い絶縁性樹脂を用いることが好ましい。このように流動性の高い絶縁性樹脂を用いることにより、溝部62Y,62Z及び開口部202Yを好適に充填することができる。
Next, the process shown in FIGS. 13 and 14 will be described. 13 and 14 are cross-sectional views corresponding to the position of line 12b-12b in FIG.
First, in the step shown in FIG. 13A, a semi-cured adhesive layer 71 that covers the entire surface (lower surface and side surfaces) of the metal layers 62D, 62E, and 82 is laminated on the lower surface of the insulating layer 52. For example, the adhesive layer 71 is formed so as to fill the grooves 62Y and 62Z and the opening 202Y (see FIG. 12A). For example, when a film-like insulating resin is used as the material of the adhesive layer 71, the film-like insulating resin is laminated on the lower surface of the insulating layer 52 by thermocompression bonding. This thermocompression bonding can be performed, for example, by pressing a film-like insulating resin with a predetermined pressure (for example, about 0.5 to 0.6 MPa) in a vacuum atmosphere. However, in this step, the film-like insulating resin is not thermally cured, and is in a B-stage state (semi-cured state). When a liquid or paste insulating resin is used as the material of the adhesive layer 71, the liquid or paste insulating resin is applied to the lower surface of the insulating layer 52 by, for example, a printing method or a spin coating method. Thereafter, the applied liquid or paste-like insulating resin is pre-baked to obtain a B-stage state. In addition, as a material of the contact bonding layer 71, it is preferable to use insulating resin with high fluidity, for example. By using an insulating resin having high fluidity in this way, the grooves 62Y and 62Z and the opening 202Y can be filled appropriately.

次に、図13(b)に示す工程では、貫通孔52Xから露出された金属層62Eに貫通孔62Xを形成するとともに、接着層71に、貫通孔62Xと連通する貫通孔71Xを形成する。これら貫通孔62X,71Xは、貫通孔52Xよりも平面形状が小さく形成される。本例では、貫通孔62X,71Xの直径は、貫通孔52Xの直径よりも小さく形成される。これにより、貫通孔62Xの周囲に位置する金属層62Eの上面が貫通孔52Xから露出される。なお、貫通孔62X,71Xは、例えば、プレス加工法やレーザ加工法により形成することができる。   Next, in the step shown in FIG. 13B, the through hole 62X is formed in the metal layer 62E exposed from the through hole 52X, and the through hole 71X communicating with the through hole 62X is formed in the adhesive layer 71. These through holes 62X and 71X are formed to have a smaller planar shape than the through hole 52X. In this example, the diameters of the through holes 62X and 71X are formed smaller than the diameter of the through hole 52X. Thereby, the upper surface of the metal layer 62E located around the through hole 62X is exposed from the through hole 52X. The through holes 62X and 71X can be formed by, for example, a press processing method or a laser processing method.

貫通孔52X,62X,71Xは、図13(c)に示すように、基板30の上面30Bに構造体42が積層されたときに、貫通孔30Xと平面視で重複する位置に形成される。また、貫通孔52Yの底部には、金属層62Eの上面が露出されている。   As shown in FIG. 13C, the through holes 52X, 62X, and 71X are formed at positions that overlap the through hole 30X in plan view when the structure 42 is stacked on the upper surface 30B of the substrate 30. Further, the upper surface of the metal layer 62E is exposed at the bottom of the through hole 52Y.

続いて、図13(c)に示す工程では、図13(b)に示した構造体(つまり、支持フィルム102の下面102Aに構造体42と接着層71が順に積層された構造体)を、基板30の下面30Aに構造体41が積層された構造体の上方に配置する。このとき、図13(b)に示した構造体は、接着層71が基板30の上面30Bと対向するように、構造体42及び接着層71を下側に向けた状態で配置される。   Subsequently, in the step shown in FIG. 13C, the structure shown in FIG. 13B (that is, the structure in which the structure 42 and the adhesive layer 71 are sequentially laminated on the lower surface 102A of the support film 102), The substrate is disposed above the structure in which the structure 41 is stacked on the lower surface 30A of the substrate 30. At this time, the structure shown in FIG. 13B is arranged with the structure 42 and the adhesive layer 71 facing downward so that the adhesive layer 71 faces the upper surface 30B of the substrate 30.

次いで、図14(a)に示す工程では、基板30の上面30Bに接着層71を介して構造体42を積層する。すなわち、基板30と構造体42とを接着層71を介して対向配置し、構造体41及び支持フィルム102が外側に配置されるように、構造体42を基板30の上面30Bに積層する。例えば、図13(c)に示した2つの構造体を、真空プレス等により上下両面から加熱・加圧(ホットプレス)する。すると、半硬化状態の接着層71は、金属層62Eの下面と基板30の上面30Bとによってそれぞれ押圧されて平面方向に広がる。このとき、接着層71の材料として流動性の高い絶縁性樹脂を用いる場合には、平面方向に広がった接着層71が貫通孔71X内に漏れだし、平面方向に広がった接着層71によって貫通孔71Xが閉塞されるおそれがある。この場合には、貫通孔30Xから露出するビア配線V1の上面全面が接着層71によって被覆されてしまうため、後工程においてビア配線V1と接続されるビア配線V2を形成することができなくなる。これに対し、本例では、基板30の貫通孔30Xを、接着層71の貫通孔71Xよりも大径に形成するようにした。これにより、貫通孔30Xの周囲の接着層71にかかる圧力が小さくなるため、貫通孔71X内への接着層71の漏れだしを好適に抑制することができる。換言すると、ホットプレスにおいて、貫通孔71Xの平面形状が小さくなることを好適に抑制することができる。また、本工程により、接着層71の一部が貫通孔30X内に広がり、その広がった接着層71によって、ビア配線V1から露出される貫通孔30Xの内側面が被覆される。これにより、貫通孔71Xの一部が、ビア配線V1から露出される貫通孔30X内に形成される。なお、上述したホットプレスでは、例えば、絶縁層52の下面に接着層71をラミネートする際の圧力と同程度、もしくは接着層71をラミネートする際の圧力よりも小さい圧力(例えば、0.2〜0.6MPa程度)により、図13(c)に示した2つの構造体が上下両面から押圧される。   14A, the structure 42 is laminated on the upper surface 30B of the substrate 30 with the adhesive layer 71 interposed therebetween. That is, the substrate 30 and the structure 42 are disposed to face each other with the adhesive layer 71 interposed therebetween, and the structure 42 is laminated on the upper surface 30B of the substrate 30 so that the structure 41 and the support film 102 are disposed outside. For example, the two structures shown in FIG. 13C are heated and pressed (hot pressed) from the upper and lower surfaces by a vacuum press or the like. Then, the semi-cured adhesive layer 71 is pressed by the lower surface of the metal layer 62E and the upper surface 30B of the substrate 30 and spreads in the planar direction. At this time, in the case where an insulating resin having high fluidity is used as the material of the adhesive layer 71, the adhesive layer 71 spreading in the planar direction leaks into the through hole 71X, and the adhesive layer 71 spreading in the planar direction causes the through hole 71X may be blocked. In this case, since the entire upper surface of the via wiring V1 exposed from the through hole 30X is covered with the adhesive layer 71, the via wiring V2 connected to the via wiring V1 cannot be formed in a subsequent process. On the other hand, in this example, the through hole 30X of the substrate 30 is formed to have a larger diameter than the through hole 71X of the adhesive layer 71. Thereby, since the pressure applied to the adhesive layer 71 around the through hole 30X is reduced, the leakage of the adhesive layer 71 into the through hole 71X can be suitably suppressed. In other words, in a hot press, it can suppress suitably that the planar shape of the through-hole 71X becomes small. Further, by this step, a part of the adhesive layer 71 extends into the through hole 30X, and the inner surface of the through hole 30X exposed from the via wiring V1 is covered with the expanded adhesive layer 71. Thereby, a part of the through hole 71X is formed in the through hole 30X exposed from the via wiring V1. In the above-described hot press, for example, a pressure that is approximately the same as the pressure when laminating the adhesive layer 71 on the lower surface of the insulating layer 52 or smaller than the pressure when laminating the adhesive layer 71 (for example, 0.2 to The two structural bodies shown in FIG. 13C are pressed from both the upper and lower surfaces.

その後、接着層71を硬化させる。このとき、貫通孔71Xと、貫通孔62Xと、貫通孔52Xとが連通する。このため、貫通孔71Xの底部には、ビア配線V1の上面の一部が露出される。   Thereafter, the adhesive layer 71 is cured. At this time, the through hole 71X, the through hole 62X, and the through hole 52X communicate with each other. For this reason, a part of the upper surface of the via wiring V1 is exposed at the bottom of the through hole 71X.

なお、図12、図13及び図14(a)に示した工程において、接着層71を介して構造体42を基板30の上面30Bに積層した後に、貫通孔62X,71Xを形成するようにしてもよい。   In the steps shown in FIGS. 12, 13, and 14A, the through holes 62X and 71X are formed after the structure 42 is laminated on the upper surface 30B of the substrate 30 with the adhesive layer 71 interposed therebetween. Also good.

次に、図14(b)に示す工程では、図14(a)に示した支持フィルム102を絶縁層52から除去(剥離)する。例えば、絶縁層52から支持フィルム102を機械的に剥離する。   Next, in the step shown in FIG. 14B, the support film 102 shown in FIG. 14A is removed (peeled) from the insulating layer 52. For example, the support film 102 is mechanically peeled from the insulating layer 52.

続いて、貫通孔71Xの底部に露出するビア配線V1上に、貫通孔71X,62X,52Xを充填するビア配線V2を形成する。このとき、貫通孔52Xが貫通孔71X,62Xよりも大径に形成されているため、金属層62Eの上面の一部にもビア配線V2が形成される。これにより、ビア配線V2は、貫通孔62Xの内側面を構成する金属層62Eと接続されるとともに、貫通孔62Xの周囲に位置する金属層62Eの上面と接続される。そして、ビア配線V1,V2を介して、金属層61Eと金属層62Eとが直列に接続される。なお、本工程では、例えば、ビア配線V2は、その上面が絶縁層52の上面と略面一になるように形成される。ビア配線V2は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。このとき、貫通孔52Yにめっき膜等が形成されないように、貫通孔52Yから露出する金属層62Eをマスクしてビア配線V2の形成が行われる。   Subsequently, the via wiring V2 filling the through holes 71X, 62X, and 52X is formed on the via wiring V1 exposed at the bottom of the through hole 71X. At this time, since the through hole 52X has a larger diameter than the through holes 71X and 62X, the via wiring V2 is also formed on a part of the upper surface of the metal layer 62E. As a result, the via wiring V2 is connected to the metal layer 62E constituting the inner surface of the through hole 62X and to the upper surface of the metal layer 62E located around the through hole 62X. The metal layer 61E and the metal layer 62E are connected in series via the via wirings V1 and V2. In this step, for example, the via wiring V2 is formed so that the upper surface thereof is substantially flush with the upper surface of the insulating layer 52. The via wiring V2 can be formed by, for example, an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer or a method such as filling with a metal paste. At this time, the via wiring V2 is formed by masking the metal layer 62E exposed from the through hole 52Y so that a plating film or the like is not formed in the through hole 52Y.

以上説明した製造工程により、基板30の下面30Aに構造体41が積層され、基板30の上面30Bに構造体42が積層された積層体において、金属層61Eと、ビア配線V1,V2と、金属層62Eとが直列に接続される。この直列に接続された導体部分は、最終的に成形されて約1巻きと3/4のコイルとなる。   Through the manufacturing process described above, in the stacked body in which the structure 41 is stacked on the lower surface 30A of the substrate 30 and the structure 42 is stacked on the upper surface 30B of the substrate 30, the metal layer 61E, the via wirings V1 and V2, and the metal Layer 62E is connected in series. The conductor parts connected in series are finally formed into a coil of about 1 turn and 3/4.

次に、図15に示す工程では、支持フィルム103の下面103Aに、絶縁層53及び金属層63Eを有する構造体43と、接着層72とが順に積層された構造体を積層する。本工程は、図12(a)〜図13(b)に示した工程と同様に行うことができる。具体的には、本工程と図12(a)〜図13(b)に示した工程とは、貫通孔の位置や金属箔をパターニングした後の金属層(配線)の形状が異なるだけである。このため、本工程における製造方法の説明を割愛し、図15に示した構造体の構造について説明する。なお、支持フィルム103及び後工程で使用する支持フィルム104〜107の形状、厚さ及び材料等は、図12に示した支持フィルム102と同様である。各支持フィルム103〜107の外枠13に形成されるスプロケットホール103X〜107Xについても、支持フィルム102のスプロケットホール102Xと同様の機能を有する。   Next, in the process illustrated in FIG. 15, a structure body in which the structure body 43 including the insulating layer 53 and the metal layer 63 </ b> E and the adhesive layer 72 are sequentially stacked is stacked on the lower surface 103 </ b> A of the support film 103. This step can be performed in the same manner as the steps shown in FIGS. 12 (a) to 13 (b). Specifically, this step and the steps shown in FIGS. 12A to 13B only differ in the positions of the through holes and the shape of the metal layer (wiring) after patterning the metal foil. . Therefore, the description of the manufacturing method in this step is omitted, and the structure of the structure shown in FIG. 15 will be described. In addition, the shape, thickness, material, etc. of the support film 103 and the support films 104 to 107 used in the subsequent process are the same as those of the support film 102 shown in FIG. The sprocket holes 103X to 107X formed in the outer frames 13 of the support films 103 to 107 also have the same function as the sprocket holes 102X of the support film 102.

図15(a)に示す構造体では、支持フィルム103及び絶縁層53を厚さ方向に貫通する貫通孔53X,53Yが形成され、金属層63E及び接着層72を厚さ方向に貫通して貫通孔53Xと連通する貫通孔63X,72Xが形成されている。貫通孔53Xは、貫通孔63X,72Xよりも大径に形成されている。これにより、貫通孔63Xの周囲に位置する金属層63Eの上面が貫通孔53Xから露出される。また、図15(b)に示すように、絶縁層53の下面には、金属層63Eと、金属層63Dと、金属層83とが形成されている。金属層63Eと金属層63D,83とは開口部203Y及び溝部63Zによって分離されて形成されている。また、金属層63Eには、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするための溝部63Yが形成されている。本工程で形成される金属層63Eは、例えば、図7に示した配線63よりも平面形状が大きく形成されている。そして、この金属層63Eは、最終的に成形(型抜き等)されて、コイルの一部となる3層目の配線63(約1巻)となる部位である。また、図15(a)に示すように、接着層72は、金属層63Eの下面及び側面を被覆するように、且つ開口部203Y、溝部63Y及び溝部63Z(図15(b)参照)を充填するように、絶縁層53の下面に形成されている。なお、図15(b)では、接着層72の図示を省略し、開口部203Y及び溝部63Y,63Zから露出する絶縁層53を梨地模様で示している。   In the structure shown in FIG. 15A, through holes 53X and 53Y that penetrate the support film 103 and the insulating layer 53 in the thickness direction are formed, and penetrate through the metal layer 63E and the adhesive layer 72 in the thickness direction. Through holes 63X and 72X communicating with the hole 53X are formed. The through hole 53X has a larger diameter than the through holes 63X and 72X. Thereby, the upper surface of the metal layer 63E located around the through hole 63X is exposed from the through hole 53X. As shown in FIG. 15B, a metal layer 63E, a metal layer 63D, and a metal layer 83 are formed on the lower surface of the insulating layer 53. The metal layer 63E and the metal layers 63D and 83 are formed by being separated by the opening 203Y and the groove 63Z. In addition, the metal layer 63E is provided with a groove portion 63Y for facilitating formation of a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a later process. For example, the metal layer 63E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 63 shown in FIG. The metal layer 63E is a portion that is finally formed (die-cut or the like) and becomes a third-layer wiring 63 (about 1 turn) that becomes a part of the coil. As shown in FIG. 15A, the adhesive layer 72 fills the opening 203Y, the groove 63Y, and the groove 63Z (see FIG. 15B) so as to cover the lower surface and the side surface of the metal layer 63E. Thus, it is formed on the lower surface of the insulating layer 53. In FIG. 15B, the illustration of the adhesive layer 72 is omitted, and the insulating layer 53 exposed from the opening 203Y and the grooves 63Y and 63Z is shown in a satin pattern.

次に、図16(a)〜図16(c)に示す工程について説明する。なお、図16(a)〜図16(c)は、図15(b)の15a−15a線位置に対応する断面図である。
まず、図16(a)に示す工程では、図14(a)に示した工程と同様に、構造体42の絶縁層52上に、接着層72を介して構造体43及び支持フィルム103を積層する。すなわち、構造体42と構造体43とを接着層72を介して対向配置し、構造体41及び支持フィルム103が外側に配置されるように、構造体43を構造体42上に積層する。このとき、絶縁層52の貫通孔52Yを、接着層72の貫通孔72Xよりも大径に形成したため、接着層71と同様に、貫通孔72X内への接着層72の漏れだしを好適に抑制することができる。また、貫通孔52Yの内側面が接着層72によって被覆され、その接着層72の貫通孔72Xの一部が貫通孔52Y内に形成される。さらに、貫通孔72Xと、貫通孔63Xと、貫通孔53Xとが連通し、貫通孔72Xの底部に金属層62Eが露出される。
Next, the steps shown in FIGS. 16A to 16C will be described. 16A to 16C are cross-sectional views corresponding to the position of the line 15a-15a in FIG.
First, in the process shown in FIG. 16A, the structure 43 and the support film 103 are laminated on the insulating layer 52 of the structure 42 via the adhesive layer 72, as in the process shown in FIG. To do. That is, the structure body 42 and the structure body 43 are disposed to face each other via the adhesive layer 72, and the structure body 43 is laminated on the structure body 42 so that the structure body 41 and the support film 103 are disposed on the outside. At this time, since the through hole 52Y of the insulating layer 52 has a larger diameter than the through hole 72X of the adhesive layer 72, similarly to the adhesive layer 71, leakage of the adhesive layer 72 into the through hole 72X is suitably suppressed. can do. Further, the inner surface of the through hole 52Y is covered with the adhesive layer 72, and a part of the through hole 72X of the adhesive layer 72 is formed in the through hole 52Y. Furthermore, the through hole 72X, the through hole 63X, and the through hole 53X communicate with each other, and the metal layer 62E is exposed at the bottom of the through hole 72X.

次に、図16(b)に示す工程では、図16(a)に示した支持フィルム103を絶縁層53から剥離する。例えば、絶縁層53から支持フィルム103を機械的に剥離する。
続いて、図16(c)に示す工程では、図14(b)に示した工程と同様に、貫通孔72X,63X,53Xを充填するビア配線V3を形成する。ビア配線V3は、貫通孔63Xの内側面を構成する金属層63Eと接続され、貫通孔63Xの周囲に位置する金属層63Eの上面と接続されるとともに、貫通孔72Xから露出する金属層62Eの上面と接続される。これにより、金属層62Eと金属層63Eとがビア配線V3を介して直列に接続される。本工程では、例えば、ビア配線V3は、その上面が絶縁層53の上面と略面一になるように形成される。ビア配線V3は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。
Next, in the step illustrated in FIG. 16B, the support film 103 illustrated in FIG. 16A is peeled from the insulating layer 53. For example, the support film 103 is mechanically peeled from the insulating layer 53.
Subsequently, in the step shown in FIG. 16C, the via wiring V3 filling the through holes 72X, 63X, and 53X is formed in the same manner as the step shown in FIG. 14B. The via wiring V3 is connected to the metal layer 63E constituting the inner surface of the through hole 63X, is connected to the upper surface of the metal layer 63E located around the through hole 63X, and is connected to the metal layer 62E exposed from the through hole 72X. Connected to the top surface. Thereby, the metal layer 62E and the metal layer 63E are connected in series via the via wiring V3. In this step, for example, the via wiring V3 is formed so that the upper surface thereof is substantially flush with the upper surface of the insulating layer 53. The via wiring V3 can be formed by, for example, an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer or a method such as filling with a metal paste.

以上説明した製造工程により、構造体41と、基板30と、構造体42と、構造体43とが積層された積層体において、金属層61E,62E,63Eが、ビア配線V1〜V3を介して直列に接続される。この直列に接続された導体部分は、最終的に成形されて約2巻きと3/4のコイルとなる。   In the stacked body in which the structure 41, the substrate 30, the structure 42, and the structure 43 are stacked by the manufacturing process described above, the metal layers 61E, 62E, and 63E are connected via the via wirings V1 to V3. Connected in series. The conductor parts connected in series are finally formed into coils of about 2 turns and 3/4.

なお、図15、図16(a)及び図16(b)に示した工程において、接着層72を介して構造体43を構造体42上に積層した後に、貫通孔63X,72Xを形成するようにしてもよい。   In the steps shown in FIGS. 15, 16A and 16B, the through holes 63X and 72X are formed after the structure 43 is laminated on the structure 42 via the adhesive layer 72. It may be.

次に、図17に示す工程では、支持フィルム104の下面104Aに、絶縁層54と金属層64Eとを有する構造体44を積層する。本工程は、図12(a)〜図13(b)に示した工程と同様に行うことができるため、製造方法の説明を割愛し、図17に示した構造体の構造について説明する。   Next, in the step shown in FIG. 17, the structure 44 having the insulating layer 54 and the metal layer 64 </ b> E is laminated on the lower surface 104 </ b> A of the support film 104. Since this step can be performed in the same manner as the steps shown in FIGS. 12A to 13B, the description of the manufacturing method is omitted and the structure of the structure shown in FIG. 17 will be described.

図17(a)に示す構造体では、支持フィルム104及び絶縁層54を厚さ方向に貫通する貫通孔54X,54Yが形成され、金属層64E及び接着層73を厚さ方向に貫通して貫通孔54Xと連通する貫通孔64X,73Xが形成されている。貫通孔54Xは、貫通孔64X,73Xよりも大径に形成されている。これにより、貫通孔64Xの周囲に位置する金属層64Eの上面が貫通孔54Xから露出される。また、絶縁層54の下面には、金属層64Eと、金属層64Dと、金属層84とが形成されている。図17(b)に示すように、金属層64Eと金属層64D,84とは開口部204Y及び溝部64Zによって分離されて形成されている。また、金属層64Eには、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするための溝部64Yが形成されている。本工程で形成される金属層64Eは、例えば、図7に示した配線64よりも平面形状が大きく形成されている。そして、この金属層64Eは、最終的に成形(型抜き等)されて、コイルの一部となる4層目の配線64(1巻の約3/4)となる部位である。また、図17(a)に示すように、接着層73は、金属層64Eの下面及び側面を被覆するように、且つ開口部204Y(図17(b)参照)及び溝部64Y,64Zを充填するように、絶縁層54の下面に形成されている。なお、図17(b)では、接着層73の図示を省略し、開口部204Y及び溝部64Y,64Zから露出する絶縁層54を梨地模様で示している。   In the structure shown in FIG. 17A, through holes 54X and 54Y that penetrate the support film 104 and the insulating layer 54 in the thickness direction are formed, and penetrate through the metal layer 64E and the adhesive layer 73 in the thickness direction. Through holes 64X and 73X communicating with the hole 54X are formed. The through hole 54X has a larger diameter than the through holes 64X and 73X. Thereby, the upper surface of the metal layer 64E located around the through hole 64X is exposed from the through hole 54X. Further, a metal layer 64E, a metal layer 64D, and a metal layer 84 are formed on the lower surface of the insulating layer 54. As shown in FIG. 17B, the metal layer 64E and the metal layers 64D and 84 are formed by being separated by an opening 204Y and a groove 64Z. The metal layer 64E is provided with a groove portion 64Y for facilitating formation of a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a later process. For example, the metal layer 64E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 64 shown in FIG. The metal layer 64E is a part that is finally formed (die-cut or the like) and becomes the fourth-layer wiring 64 (about 3/4 of one turn) that becomes a part of the coil. Also, as shown in FIG. 17A, the adhesive layer 73 fills the opening 204Y (see FIG. 17B) and the grooves 64Y and 64Z so as to cover the lower surface and side surfaces of the metal layer 64E. Thus, it is formed on the lower surface of the insulating layer 54. In FIG. 17B, illustration of the adhesive layer 73 is omitted, and the insulating layer 54 exposed from the opening 204Y and the grooves 64Y and 64Z is shown in a satin pattern.

次に、図18(a)及び図18(b)に示す工程について説明する。なお、図18(a)及び図18(b)は、図17(b)の17a−17a線位置に対応する断面図である。
まず、図18(a)に示す工程では、図14(a)に示した工程と同様に、構造体43の絶縁層53上に、接着層73を介して構造体44及び支持フィルム104を積層する。すなわち、構造体43と構造体44とを接着層73を介して対向配置し、構造体41及び支持フィルム104が外側に配置されるように、構造体44を構造体43上に積層する。このとき、絶縁層53の貫通孔53Yを、接着層73の貫通孔73Xよりも大径に形成したため、接着層71と同様に、貫通孔73X内への接着層73の漏れだしを好適に抑制することができる。また、貫通孔53Yの内側面が接着層73によって被覆され、その接着層73の貫通孔73Xの一部が貫通孔53Y内に形成される。さらに、貫通孔73Xと、貫通孔64Xと、貫通孔54Xとが連通し、貫通孔73Xの底部に金属層63Eが露出される。次いで、支持フィルム104を絶縁層54から剥離する。
Next, the steps shown in FIGS. 18A and 18B will be described. 18 (a) and 18 (b) are cross-sectional views corresponding to the position of line 17a-17a in FIG. 17 (b).
First, in the step shown in FIG. 18A, the structure 44 and the support film 104 are laminated on the insulating layer 53 of the structure 43 via the adhesive layer 73, as in the step shown in FIG. To do. That is, the structure body 43 and the structure body 44 are disposed to face each other via the adhesive layer 73, and the structure body 44 is laminated on the structure body 43 so that the structure body 41 and the support film 104 are disposed on the outside. At this time, since the through hole 53Y of the insulating layer 53 has a larger diameter than the through hole 73X of the adhesive layer 73, similarly to the adhesive layer 71, leakage of the adhesive layer 73 into the through hole 73X is suitably suppressed. can do. Further, the inner surface of the through hole 53Y is covered with the adhesive layer 73, and a part of the through hole 73X of the adhesive layer 73 is formed in the through hole 53Y. Further, the through hole 73X, the through hole 64X, and the through hole 54X communicate with each other, and the metal layer 63E is exposed at the bottom of the through hole 73X. Next, the support film 104 is peeled off from the insulating layer 54.

続いて、図18(b)に示す工程では、図14(b)に示した工程と同様に、貫通孔73X,64X,54Xを充填するビア配線V4を形成する。ビア配線V4は、貫通孔64Xの内側面を構成する金属層64Eと接続され、貫通孔64Xの周囲に位置する金属層64Eの上面と接続されるとともに、貫通孔73Xから露出する金属層63Eの上面と接続される。これにより、金属層63Eと金属層64Eとがビア配線V4を介して直列に接続される。本工程では、例えば、ビア配線V4は、その上面が絶縁層54の上面と略面一になるように形成される。ビア配線V4は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。   Subsequently, in the step shown in FIG. 18B, the via wiring V4 filling the through holes 73X, 64X, and 54X is formed in the same manner as the step shown in FIG. 14B. The via wiring V4 is connected to the metal layer 64E that forms the inner surface of the through hole 64X, is connected to the upper surface of the metal layer 64E that is located around the through hole 64X, and is connected to the metal layer 63E that is exposed from the through hole 73X. Connected to the top surface. Thereby, the metal layer 63E and the metal layer 64E are connected in series via the via wiring V4. In this step, for example, the via wiring V4 is formed so that the upper surface thereof is substantially flush with the upper surface of the insulating layer 54. The via wiring V4 can be formed by, for example, an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer or a method such as filling with a metal paste.

以上説明した製造工程により、構造体41と、基板30と、構造体42〜44とが積層された積層体において、金属層61E,62E,63E,64Eが、ビア配線V1〜V4を介して直列に接続される。この直列に接続された導体部分は、最終的に成形されて約3巻きのコイルとなる。   In the stacked body in which the structure 41, the substrate 30, and the structures 42 to 44 are stacked by the manufacturing process described above, the metal layers 61E, 62E, 63E, and 64E are connected in series via the via wirings V1 to V4. Connected to. The conductor portions connected in series are finally formed into a coil of about 3 turns.

なお、図17及び図18(a)に示した工程において、接着層73を介して構造体44を構造体43上に積層した後に、貫通孔64X,73Xを形成するようにしてもよい。
次に、図19に示す工程では、支持フィルム105の下面105Aに、絶縁層55と金属層65Eとを有する構造体45を積層する。本工程は、図12(a)〜図13(b)に示した工程と同様に行うことができるため、製造方法の説明を割愛し、図19に示した構造体の構造について説明する。
In the step shown in FIGS. 17 and 18A, the through holes 64X and 73X may be formed after the structure 44 is laminated on the structure 43 via the adhesive layer 73.
Next, in the step shown in FIG. 19, the structure 45 having the insulating layer 55 and the metal layer 65E is laminated on the lower surface 105A of the support film 105. Since this step can be performed in the same manner as the steps shown in FIGS. 12A to 13B, the description of the manufacturing method is omitted and the structure of the structure shown in FIG. 19 will be described.

図19(a)に示す構造体では、支持フィルム105及び絶縁層55を厚さ方向に貫通する貫通孔55X,55Yが形成され、金属層65E及び接着層74を厚さ方向に貫通して貫通孔55Xと連通する貫通孔65X,74Xが形成されている。貫通孔55Xは、貫通孔65X,74Xよりも大径に形成されている。これにより、貫通孔65Xの周囲に位置する金属層65Eの上面が貫通孔55Xから露出される。また、図19(b)に示すように、絶縁層55の下面には、金属層65Eと、金属層65Dと、金属層85とが形成されている。金属層65Eと金属層65D,85とは開口部205Y及び溝部65Zによって分離されて形成されている。また、金属層65Eには、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするための溝部65Yが形成されている。本工程で形成される金属層65Eは、例えば、図7に示した配線65よりも平面形状が大きく形成されている。そして、この金属層65Eは、最終的に成形(型抜き等)されて、コイルの一部となる5層目の配線65(約1巻)となる部位である。また、図19(a)に示すように、接着層74は、金属層65Eの下面及び側面を被覆するように、且つ開口部205Y、溝部65Y及び溝部65Z(図19(b)参照)を充填するように、絶縁層55の下面に形成されている。なお、図19(b)では、接着層74の図示を省略し、開口部205Y及び溝部65Y,65Zから露出する絶縁層55を梨地模様で示している。   In the structure shown in FIG. 19A, through holes 55X and 55Y that penetrate the support film 105 and the insulating layer 55 in the thickness direction are formed, and penetrate through the metal layer 65E and the adhesive layer 74 in the thickness direction. Through holes 65X and 74X communicating with the hole 55X are formed. The through hole 55X is formed with a larger diameter than the through holes 65X and 74X. Thereby, the upper surface of the metal layer 65E located around the through hole 65X is exposed from the through hole 55X. Further, as shown in FIG. 19B, a metal layer 65E, a metal layer 65D, and a metal layer 85 are formed on the lower surface of the insulating layer 55. The metal layer 65E and the metal layers 65D and 85 are formed by being separated by the opening 205Y and the groove 65Z. In addition, the metal layer 65E is provided with a groove portion 65Y for facilitating formation of a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a later step. For example, the metal layer 65E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 65 shown in FIG. And this metal layer 65E is a site | part which becomes the wiring 65 (about 1 volume) of the 5th layer which is finally shape | molded (die cutting etc.) and becomes a part of coil. Further, as shown in FIG. 19A, the adhesive layer 74 fills the opening 205Y, the groove 65Y, and the groove 65Z (see FIG. 19B) so as to cover the lower surface and side surfaces of the metal layer 65E. Thus, it is formed on the lower surface of the insulating layer 55. In FIG. 19B, the illustration of the adhesive layer 74 is omitted, and the insulating layer 55 exposed from the opening 205Y and the groove portions 65Y and 65Z is shown in a satin pattern.

次に、図20(a)及び図20(b)に示す工程について説明する。なお、図20(a)及び図20(b)は、図19(b)の19a−19a線位置に対応する断面図である。
まず、図20(a)に示す工程では、図14(a)に示した工程と同様に、構造体44の絶縁層54上に、接着層74を介して構造体45及び支持フィルム105を積層する。すなわち、構造体44と構造体45とを接着層74を介して対向配置し、構造体41及び支持フィルム105が外側に配置されるように、構造体45を構造体44上に積層する。このとき、絶縁層54の貫通孔54Yを、接着層74の貫通孔74Xよりも大径に形成したため、接着層71と同様に、貫通孔74X内への接着層74の漏れだしを好適に抑制することができる。また、貫通孔54Yの内側面が接着層74によって被覆され、その接着層74の貫通孔74Xの一部が貫通孔54Y内に形成される。さらに、貫通孔74Xと、貫通孔65Xと、貫通孔55Xとが連通し、貫通孔74Xの底部に金属層64Eが露出される。次いで、支持フィルム105を絶縁層55から剥離する。
Next, the steps shown in FIGS. 20A and 20B will be described. 20A and 20B are cross-sectional views corresponding to the position of line 19a-19a in FIG. 19B.
First, in the process shown in FIG. 20A, the structure 45 and the support film 105 are laminated on the insulating layer 54 of the structure 44 via the adhesive layer 74, as in the process shown in FIG. To do. That is, the structure body 44 and the structure body 45 are disposed to face each other via the adhesive layer 74, and the structure body 45 is laminated on the structure body 44 so that the structure body 41 and the support film 105 are disposed on the outside. At this time, since the through hole 54Y of the insulating layer 54 has a larger diameter than the through hole 74X of the adhesive layer 74, similarly to the adhesive layer 71, leakage of the adhesive layer 74 into the through hole 74X is suitably suppressed. can do. Further, the inner surface of the through hole 54Y is covered with the adhesive layer 74, and a part of the through hole 74X of the adhesive layer 74 is formed in the through hole 54Y. Further, the through hole 74X, the through hole 65X, and the through hole 55X communicate with each other, and the metal layer 64E is exposed at the bottom of the through hole 74X. Next, the support film 105 is peeled from the insulating layer 55.

続いて、図20(b)に示す工程では、図14(b)に示した工程と同様に、貫通孔74X,65X,55Xを充填するビア配線V5を形成する。ビア配線V5は、貫通孔65Xの内側面を構成する金属層65Eと接続され、貫通孔65Xの周囲に位置する金属層65Eの上面と接続されるとともに、貫通孔74Xから露出する金属層64Eの上面と接続される。これにより、金属層64Eと金属層65Eとがビア配線V5を介して直列に接続される。本工程では、例えば、ビア配線V5は、その上面が絶縁層55の上面と略面一になるように形成される。ビア配線V5は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。   Subsequently, in the step shown in FIG. 20B, the via wiring V5 that fills the through holes 74X, 65X, and 55X is formed as in the step shown in FIG. 14B. The via wiring V5 is connected to the metal layer 65E constituting the inner surface of the through hole 65X, is connected to the upper surface of the metal layer 65E located around the through hole 65X, and is connected to the metal layer 64E exposed from the through hole 74X. Connected to the top surface. Thereby, the metal layer 64E and the metal layer 65E are connected in series via the via wiring V5. In this step, for example, the via wiring V5 is formed so that the upper surface thereof is substantially flush with the upper surface of the insulating layer 55. The via wiring V5 can be formed by, for example, an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer, or a method such as filling with a metal paste.

以上説明した製造工程により、構造体41と、基板30と、構造体42〜45とが積層された積層体において、金属層61E,62E,63E,64E,65Eが、ビア配線V1〜V5を介して直列に接続される。この直列に接続された導体部分は、最終的に成形されて約4巻きのコイルとなる。   In the stacked body in which the structure 41, the substrate 30, and the structures 42 to 45 are stacked by the manufacturing process described above, the metal layers 61E, 62E, 63E, 64E, and 65E are connected via the via wirings V1 to V5. Connected in series. The conductor parts connected in series are finally formed into a coil of about 4 turns.

なお、図19及び図20(a)に示した工程において、接着層74を介して構造体45を構造体44上に積層した後に、貫通孔65X,74Xを形成するようにしてもよい。
次に、図21に示す工程では、支持フィルム106の下面106Aに、絶縁層56と金属層66Eとを有する構造体46を積層する。本工程は、図12(a)〜図13(b)に示した工程と同様に行うことができるため、製造方法の説明を割愛し、図21に示した構造体の構造について説明する。
In the step shown in FIGS. 19 and 20A, the through holes 65X and 74X may be formed after the structure 45 is stacked on the structure 44 via the adhesive layer 74.
Next, in the step shown in FIG. 21, the structure 46 having the insulating layer 56 and the metal layer 66 </ b> E is laminated on the lower surface 106 </ b> A of the support film 106. Since this step can be performed in the same manner as the steps shown in FIGS. 12A to 13B, the description of the manufacturing method is omitted and the structure of the structure shown in FIG. 21 will be described.

図21(a)に示す構造体では、支持フィルム106及び絶縁層56を厚さ方向に貫通する貫通孔56X,56Yが形成され、金属層66E及び接着層75を厚さ方向に貫通して貫通孔56Xと連通する貫通孔66X,75Xが形成されている。貫通孔56Xは、貫通孔66X,75Xよりも大径に形成されている。これにより、貫通孔66Xの周囲に位置する金属層66Eの上面が貫通孔56Xから露出される。また、図21(b)に示すように、絶縁層56の下面には、金属層66Eと、金属層66Dと、金属層86とが形成されている。金属層66Eと金属層66D,86とは開口部206Y及び溝部66Zによって分離されて形成されている。また、金属層66Eには、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするための溝部66Yが形成されている。本工程で形成される金属層66Eは、例えば、図7に示した配線66よりも平面形状が大きく形成されている。そして、この金属層66Eは、最終的に成形(型抜き等)されて、コイルの一部となる6層目の配線66(1巻の約3/4)となる部位である。また、図21(a)に示すように、接着層75は、金属層66Eの下面及び側面を被覆するように、且つ開口部206Y(図21(b)参照)及び溝部66Y,66Zを充填するように、絶縁層56の下面に形成されている。なお、図21(b)では、接着層75の図示を省略し、開口部206Y及び溝部66Y,66Zから露出する絶縁層56を梨地模様で示している。   In the structure shown in FIG. 21A, through holes 56X and 56Y that penetrate the support film 106 and the insulating layer 56 in the thickness direction are formed, and penetrate through the metal layer 66E and the adhesive layer 75 in the thickness direction. Through holes 66X and 75X communicating with the hole 56X are formed. The through hole 56X has a larger diameter than the through holes 66X and 75X. Thereby, the upper surface of the metal layer 66E located around the through hole 66X is exposed from the through hole 56X. As shown in FIG. 21B, a metal layer 66E, a metal layer 66D, and a metal layer 86 are formed on the lower surface of the insulating layer 56. The metal layer 66E and the metal layers 66D and 86 are formed by being separated by the opening 206Y and the groove 66Z. In addition, the metal layer 66E is provided with a groove portion 66Y for facilitating formation of a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a later step. For example, the metal layer 66E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 66 shown in FIG. The metal layer 66E is a part that is finally formed (die-cut or the like) and becomes a sixth-layer wiring 66 (about 3/4 of one turn) that becomes a part of the coil. Further, as shown in FIG. 21A, the adhesive layer 75 covers the lower surface and side surfaces of the metal layer 66E, and fills the opening 206Y (see FIG. 21B) and the grooves 66Y and 66Z. Thus, it is formed on the lower surface of the insulating layer 56. In FIG. 21B, the illustration of the adhesive layer 75 is omitted, and the insulating layer 56 exposed from the opening 206Y and the grooves 66Y and 66Z is shown in a satin pattern.

次に、図22(a)及び図22(b)に示す工程について説明する。なお、図22(a)及び図22(b)は、図21(b)の21a−21a線位置に対応する断面図である。
まず、図22(a)に示す工程では、図14(a)に示した工程と同様に、構造体45の絶縁層55上に、接着層75を介して構造体46及び支持フィルム106を積層する。すなわち、構造体45と構造体46とを接着層75を介して対向配置し、構造体41及び支持フィルム106が外側に配置されるように、構造体46を構造体45上に積層する。このとき、絶縁層55の貫通孔55Yを、接着層75の貫通孔75Xよりも大径に形成したため、接着層71と同様に、貫通孔75X内への接着層75の漏れだしを好適に抑制することができる。また、貫通孔55Yの内側面が接着層75によって被覆され、その接着層75の貫通孔75Xの一部が貫通孔55Y内に形成される。さらに、貫通孔75Xと、貫通孔66Xと、貫通孔56Xとが連通し、貫通孔75Xの底部に金属層65Eが露出される。次いで、支持フィルム106を絶縁層56から剥離する。
Next, the steps shown in FIGS. 22A and 22B will be described. 22A and 22B are cross-sectional views corresponding to the position of the line 21a-21a in FIG.
First, in the step shown in FIG. 22A, the structure 46 and the support film 106 are laminated on the insulating layer 55 of the structure 45 via the adhesive layer 75, as in the step shown in FIG. To do. That is, the structure body 45 and the structure body 46 are disposed to face each other via the adhesive layer 75, and the structure body 46 is laminated on the structure body 45 so that the structure body 41 and the support film 106 are disposed on the outside. At this time, since the through hole 55Y of the insulating layer 55 has a larger diameter than the through hole 75X of the adhesive layer 75, similarly to the adhesive layer 71, leakage of the adhesive layer 75 into the through hole 75X is suitably suppressed. can do. Further, the inner surface of the through hole 55Y is covered with the adhesive layer 75, and a part of the through hole 75X of the adhesive layer 75 is formed in the through hole 55Y. Further, the through hole 75X, the through hole 66X, and the through hole 56X communicate with each other, and the metal layer 65E is exposed at the bottom of the through hole 75X. Next, the support film 106 is peeled from the insulating layer 56.

続いて、図22(b)に示す工程では、図14(b)に示した工程と同様に、貫通孔75X,66X,56Xを充填するビア配線V6を形成する。ビア配線V6は、貫通孔66Xの内側面を構成する金属層66Eと接続され、貫通孔66Xの周囲に位置する金属層66Eの上面と接続されるとともに、貫通孔75Xから露出する金属層65Eの上面と接続される。これにより、金属層65Eと金属層66Eとがビア配線V6を介して直列に接続される。本工程では、例えば、ビア配線V6は、その上面が絶縁層56の上面と略面一になるように形成される。ビア配線V6は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。   Subsequently, in the step shown in FIG. 22B, via wiring V6 filling the through holes 75X, 66X, and 56X is formed in the same manner as the step shown in FIG. 14B. The via wiring V6 is connected to the metal layer 66E constituting the inner surface of the through hole 66X, is connected to the upper surface of the metal layer 66E located around the through hole 66X, and is connected to the metal layer 65E exposed from the through hole 75X. Connected to the top surface. Thereby, the metal layer 65E and the metal layer 66E are connected in series via the via wiring V6. In this step, for example, the via wiring V6 is formed so that the upper surface thereof is substantially flush with the upper surface of the insulating layer 56. The via wiring V6 can be formed by, for example, a method such as an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer or a metal paste filling.

以上説明した製造工程により、構造体41と、基板30と、構造体42〜46とが積層された積層体において、金属層61E,62E,63E,64E,65E,66Eが、ビア配線V1〜V6を介して直列に接続される。この直列に接続された導体部分は、最終的に成形されて約4巻きと3/4のコイルとなる。   In the stacked body in which the structure 41, the substrate 30, and the structures 42 to 46 are stacked by the manufacturing process described above, the metal layers 61E, 62E, 63E, 64E, 65E, and 66E are connected to the via wirings V1 to V6. Are connected in series. The conductor parts connected in series are finally formed into approximately 4 turns and 3/4 coils.

なお、図21及び図22(a)に示した工程において、接着層75を介して構造体46を構造体45上に積層した後に、貫通孔66X,75Xを形成するようにしてもよい。
次に、図23に示す工程では、支持フィルム107の下面107Aに、絶縁層57と金属層67Eとを有する構造体47を積層する。本工程は、図12(a)〜図13(b)に示した工程と同様に行うことができるため、製造方法の説明を割愛し、図23に示した構造体の構造について説明する。
In the step shown in FIGS. 21 and 22A, the through holes 66X and 75X may be formed after the structure 46 is laminated on the structure 45 via the adhesive layer 75.
Next, in the step shown in FIG. 23, a structure 47 having an insulating layer 57 and a metal layer 67E is laminated on the lower surface 107A of the support film 107. Since this step can be performed in the same manner as the steps shown in FIGS. 12A to 13B, the description of the manufacturing method is omitted and the structure of the structure shown in FIG. 23 will be described.

図23(b)に示す構造体では、支持フィルム107及び絶縁層57を厚さ方向に貫通する貫通孔57X,57Yが形成され、金属層67E及び接着層76を厚さ方向に貫通して貫通孔57Xと連通する貫通孔67X,76Xが形成されている。貫通孔57Xは、貫通孔67X,76Xよりも大径に形成されている。これにより、貫通孔67Xの周囲に位置する金属層67Eの上面が貫通孔57Xから露出される。また、図23(c)に示すように、絶縁層57の下面には、金属層67Eと、接続部67Aと、金属層67Dと、金属層87とが形成されている。金属層67Eと金属層67D,87とは開口部207Y及び溝部67Zによって分離されて形成されている。また、金属層67Eには、後工程でコイル基板を成形する際に、コイルを構成する渦巻き形状を形成しやすくするための溝部67Yが形成されている。本工程で形成される金属層67Eは、例えば、図7に示した配線67よりも平面形状が大きく形成されている。そして、この金属層67Eは、最終的に成形(型抜き等)されて、コイルの一部となる7層目の配線67(約1巻)となる部位である。また、図23(a)及び図23(b)に示すように、接着層76は、金属層67Eの下面及び側面を被覆するように、且つ開口部207Y及び溝部67Y,67Zを充填するように、絶縁層57の下面に形成されている。なお、図23(c)では、接着層76の図示を省略し、開口部207Y及び溝部67Y,67Zから露出する絶縁層57を梨地模様で示している。   In the structure shown in FIG. 23B, through holes 57X and 57Y that penetrate the support film 107 and the insulating layer 57 in the thickness direction are formed, and penetrate through the metal layer 67E and the adhesive layer 76 in the thickness direction. Through holes 67X and 76X communicating with the hole 57X are formed. The through hole 57X has a larger diameter than the through holes 67X and 76X. Thereby, the upper surface of the metal layer 67E located around the through hole 67X is exposed from the through hole 57X. As shown in FIG. 23C, a metal layer 67E, a connecting portion 67A, a metal layer 67D, and a metal layer 87 are formed on the lower surface of the insulating layer 57. The metal layer 67E and the metal layers 67D and 87 are formed by being separated by the opening 207Y and the groove 67Z. In addition, the metal layer 67E is provided with a groove portion 67Y for easily forming a spiral shape constituting the coil when the coil substrate is formed in a later step. For example, the metal layer 67E formed in this step has a larger planar shape than the wiring 67 shown in FIG. The metal layer 67E is a portion that is finally formed (die-cut or the like) and becomes a seventh-layer wiring 67 (about one turn) that becomes a part of the coil. Further, as shown in FIGS. 23A and 23B, the adhesive layer 76 covers the lower surface and side surfaces of the metal layer 67E, and fills the opening 207Y and the grooves 67Y and 67Z. And formed on the lower surface of the insulating layer 57. In FIG. 23C, illustration of the adhesive layer 76 is omitted, and the insulating layer 57 exposed from the opening 207Y and the grooves 67Y and 67Z is shown in a satin pattern.

次に、図24及び図25に示す工程について説明する。なお、図24及び図25(a)は、図23(c)の23a−23a線位置に対応する断面図であり、図25(b)は、図23(c)の23b−23b線位置に対応する断面図である。   Next, the steps shown in FIGS. 24 and 25 will be described. 24 and 25 (a) are cross-sectional views corresponding to the position of line 23a-23a in FIG. 23 (c), and FIG. 25 (b) is at the position of line 23b-23b in FIG. 23 (c). FIG.

まず、図24(a)に示す工程では、図14(a)に示した工程と同様に、構造体46の絶縁層56上に、接着層76を介して構造体47及び支持フィルム107を積層する。すなわち、構造体46と構造体47とを接着層76を介して対向配置し、構造体41及び支持フィルム107が外側に配置されるように、構造体47を構造体46上に積層する。このとき、絶縁層56の貫通孔56Yを、接着層76の貫通孔76Xよりも大径に形成したため、接着層71と同様に、貫通孔76X内への接着層76の漏れだしを好適に抑制することができる。また、貫通孔56Yの内側面が接着層76によって被覆され、その接着層76の貫通孔76Xの一部が貫通孔56Y内に形成される。さらに、貫通孔76Xと、貫通孔67Xと、貫通孔57Xとが連通し、貫通孔76Xの底部に金属層66Eが露出される。次いで、図24(b)に示す工程では、図24(a)に示した支持フィルム107を絶縁層57から剥離する。   First, in the step shown in FIG. 24A, as in the step shown in FIG. 14A, the structure 47 and the support film 107 are laminated on the insulating layer 56 of the structure 46 via the adhesive layer 76. To do. That is, the structure 46 and the structure 47 are disposed to face each other with the adhesive layer 76 interposed therebetween, and the structure 47 is laminated on the structure 46 so that the structure 41 and the support film 107 are disposed on the outside. At this time, since the through hole 56Y of the insulating layer 56 has a larger diameter than the through hole 76X of the adhesive layer 76, similarly to the adhesive layer 71, leakage of the adhesive layer 76 into the through hole 76X is suitably suppressed. can do. Further, the inner surface of the through hole 56Y is covered with the adhesive layer 76, and a part of the through hole 76X of the adhesive layer 76 is formed in the through hole 56Y. Furthermore, the through hole 76X, the through hole 67X, and the through hole 57X communicate with each other, and the metal layer 66E is exposed at the bottom of the through hole 76X. Next, in the step shown in FIG. 24B, the support film 107 shown in FIG. 24A is peeled from the insulating layer 57.

続いて、図25(a)及び図25(b)に示す工程では、図14(b)に示した工程と同様に、貫通孔76X,67X,57Xを充填するビア配線V7を形成する。ビア配線V7は、貫通孔67Xの内側面を構成する金属層67Eと接続され、貫通孔67Xの周囲に位置する金属層67Eの上面と接続されるとともに、貫通孔76Xから露出する金属層66Eの上面と接続される。これにより、金属層66Eと金属層67Eとがビア配線V7を介して直列に接続される。また、図25(b)に示すように、貫通孔57Yを充填するビア配線V8を形成する。これにより、金属層67Eがビア配線V8と電気的に接続される。なお、本工程では、例えば、ビア配線V7,V8は、その上面が絶縁層57の上面と略面一になるように形成される。ビア配線V7,V8は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。   Subsequently, in the process shown in FIGS. 25A and 25B, the via wiring V7 that fills the through holes 76X, 67X, and 57X is formed as in the process shown in FIG. 14B. The via wiring V7 is connected to the metal layer 67E constituting the inner surface of the through hole 67X, is connected to the upper surface of the metal layer 67E located around the through hole 67X, and is connected to the metal layer 66E exposed from the through hole 76X. Connected to the top surface. Thereby, the metal layer 66E and the metal layer 67E are connected in series via the via wiring V7. Also, as shown in FIG. 25B, a via wiring V8 that fills the through hole 57Y is formed. Thereby, the metal layer 67E is electrically connected to the via wiring V8. In this step, for example, the via wirings V7 and V8 are formed so that the upper surfaces thereof are substantially flush with the upper surface of the insulating layer 57. The via wirings V7 and V8 can be formed by, for example, a method such as an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer or a metal paste filling.

以上説明した製造工程により、構造体41と、基板30と、構造体42〜47とが積層された積層体において、金属層61E,62E,63E,64E,65E,66E,67Eが、ビア配線V1〜V7を介して直列に接続される。この直列に接続された導体部分は、最終的に成形されて約5巻きと1/2のコイルとなる。   In the stacked body in which the structure 41, the substrate 30, and the structures 42 to 47 are stacked by the manufacturing process described above, the metal layers 61E, 62E, 63E, 64E, 65E, 66E, and 67E are connected to the via wiring V1. Are connected in series via V7. The conductor parts connected in series are finally formed into approximately 5 turns and 1/2 coil.

なお、図23及び図24に示した工程において、接着層76を介して構造体47を構造体46上に積層した後に、貫通孔67X,76Xを形成するようにしてもよい。
以上の製造工程により、各個別領域A1に、基板30の下面30Aに構造体41が積層され、基板30の上面30Bに複数の構造体42〜47が順に積層された積層体23を製造することができる。
In the steps shown in FIGS. 23 and 24, the through holes 67X and 76X may be formed after the structure 47 is laminated on the structure 46 via the adhesive layer 76.
By the above manufacturing process, the stacked body 23 in which the structure 41 is stacked on the lower surface 30A of the substrate 30 and the multiple structures 42 to 47 are stacked in order on the upper surface 30B of the substrate 30 is manufactured in each individual region A1. Can do.

次に、図26(a)に示す工程では、図25に示した構造体を、図9に示した切断位置A2に沿って切断して個片化し、個々のシート状のコイル基板10を得る。図26(a)の例では、コイル基板10には、12個の個別領域A1が形成されている。なお、図26(a)に示した工程を実施せずに、図25に示した工程が終了したリール状の基板100を、そのまま製品として出荷してもよい。   Next, in the step shown in FIG. 26A, the structure shown in FIG. 25 is cut along the cutting position A2 shown in FIG. 9 into individual pieces to obtain individual sheet-like coil substrates 10. . In the example of FIG. 26A, twelve individual regions A <b> 1 are formed on the coil substrate 10. In addition, the reel-like board | substrate 100 which completed the process shown in FIG. 25 may be shipped as a product as it is, without implementing the process shown to Fig.26 (a).

次に、図26(b)〜図28に示す工程では、コイル基板10を型抜き等により成形して不要部分を除去し、各層に形成された金属層61E〜67Eを螺旋状のコイルの一部を構成する形状の配線61〜67に加工する。ここで、図26(b)は、コイル基板10を成形する前の金属層67E及び接着層76を例示する平面図である。なお、図26(b)では、絶縁層57の図示を省略し、開口部207Y及び溝部67Y,67Zから露出する接着層76を梨地模様で示している。図27は、コイル基板10を成形する前の各層に形成された金属層61E〜67Eの形状を模式的に例示する斜視図である。図26(b)及び図27に示したコイル基板10を、例えば金型を用いたプレス加工法等により成形し、図28(a)及び図28(b)に示した形状とする。具体的には、図26(b)及び図27に示したコイル基板10の不要部分、つまり開口部20Yに対応する位置の基板30、絶縁層51〜57、金属層61E〜67E及び接着層71〜76(図25(b)参照)をプレス加工により打ち抜いて除去する。さらに、コイル基板10の不要部分、つまり図26(b)及び図27に破線で示した領域と平面視で重複する位置の基板30、絶縁層51〜57、金属層61E〜67E、及び接着層71〜76をプレス加工により打ち抜いて除去する。これにより、図28(b)に示すように、ブロック11の所要箇所に開口部20Yが形成され、積層体23の外形が略長方形状に成形される。さらに、積層体23の略中央部に貫通孔23Xが形成される。これらにより、各層に形成された金属層61E〜67Eが成形されて、図28(a)に示すように、それぞれ配線61〜67となる。これら配線61〜67は、ビア配線V1〜V7を介して直列に接続され、約5巻きと1/2の螺旋状のコイルとなる。また、貫通孔23Xの形成により、その貫通孔23Xの内壁面から配線61〜67の各々の一部が露出される。ここでは図示を省略するが、開口部20Yの形成により、積層体23の外壁面(側壁)からも配線61〜67の各々の一部が露出される(図3参照)。なお、このように成形された積層体23は各個別領域A1に形成され、隣接する積層体23同士は連結部12を介して相互に連結されている。   Next, in the steps shown in FIGS. 26 (b) to 28, the coil substrate 10 is molded by die cutting or the like to remove unnecessary portions, and the metal layers 61E to 67E formed in the respective layers are formed into one spiral coil. The wirings 61 to 67 having a shape constituting the part are processed. Here, FIG. 26B is a plan view illustrating the metal layer 67E and the adhesive layer 76 before the coil substrate 10 is formed. In FIG. 26B, the insulating layer 57 is not shown, and the adhesive layer 76 exposed from the opening 207Y and the grooves 67Y and 67Z is shown in a satin pattern. FIG. 27 is a perspective view schematically illustrating the shapes of the metal layers 61 </ b> E to 67 </ b> E formed in each layer before the coil substrate 10 is formed. The coil substrate 10 shown in FIGS. 26 (b) and 27 is formed by, for example, a press working method using a mold to obtain the shapes shown in FIGS. 28 (a) and 28 (b). Specifically, unnecessary portions of the coil substrate 10 shown in FIGS. 26B and 27, that is, the substrate 30 at positions corresponding to the openings 20Y, the insulating layers 51 to 57, the metal layers 61E to 67E, and the adhesive layer 71. To 76 (see FIG. 25 (b)) are removed by stamping. Furthermore, the unnecessary part of the coil substrate 10, that is, the substrate 30, the insulating layers 51 to 57, the metal layers 61E to 67E, and the adhesive layer that overlap with the regions shown by the broken lines in FIG. 26B and FIG. 71 to 76 are removed by stamping. As a result, as shown in FIG. 28B, the opening 20Y is formed at a required location of the block 11, and the outer shape of the laminate 23 is formed into a substantially rectangular shape. Furthermore, a through hole 23 </ b> X is formed in a substantially central portion of the stacked body 23. As a result, the metal layers 61E to 67E formed in the respective layers are formed, and become wirings 61 to 67, respectively, as shown in FIG. These wirings 61 to 67 are connected in series via via wirings V1 to V7 to form a spiral coil of about 5 turns and 1/2. Moreover, a part of each of the wirings 61 to 67 is exposed from the inner wall surface of the through hole 23X by forming the through hole 23X. Although illustration is omitted here, a part of each of the wirings 61 to 67 is also exposed from the outer wall surface (side wall) of the stacked body 23 by the formation of the opening 20Y (see FIG. 3). In addition, the laminated body 23 shape | molded in this way is formed in each separate area | region A1, and the adjacent laminated bodies 23 are mutually connected via the connection part 12. FIG.

本工程において、各構造体41〜47に形成された成形前の金属層(金属層61E〜67Eや金属層61D〜67D)がほとんど同じ形状に形成されている。すなわち、各構造体41〜47にダミーパターンである金属層61D〜67Dを設けることにより、各構造体41〜47に形成された金属層の形状差を小さくしている。これにより、プレス加工時に上記形状差に起因して積層体23が変形することを抑制することができる。   In this step, the metal layers before forming (metal layers 61E to 67E and metal layers 61D to 67D) formed in the structures 41 to 47 are formed in almost the same shape. That is, the metal layers 61D to 67D, which are dummy patterns, are provided on the structures 41 to 47, thereby reducing the shape difference between the metal layers formed on the structures 41 to 47. Thereby, it can suppress that the laminated body 23 deform | transforms due to the said shape difference at the time of press work.

なお、コイル基板10の成形(つまり、開口部20Y及び貫通孔23Xの形成)を、金型を用いたプレス加工法に代えて、レーザ加工法等により行うようにしてもよい。また、本工程において、開口部20Y及び貫通孔23Xの形成と併せて、図28(b)に示すように、連結部12の所要箇所に、当該連結部12を厚さ方向に貫通する認識マーク12Xを形成するようにしてもよい。この認識マーク12Xは、例えば、金型を用いたプレス加工法やレーザ加工法により形成することができる。   In addition, you may make it shape | mold (namely, formation of the opening part 20Y and the through-hole 23X) of the coil board | substrate 10 with a laser processing method etc. instead of the press processing method using a metal mold | die. Further, in this step, in addition to the formation of the opening 20Y and the through hole 23X, as shown in FIG. 28 (b), a recognition mark that penetrates the connecting portion 12 in the thickness direction at a required portion of the connecting portion 12. 12X may be formed. This recognition mark 12X can be formed by, for example, a press working method using a mold or a laser working method.

次に、図29及び図30(a)に示す工程では、貫通孔23Xの内壁面を含む積層体23の表面全面を被覆する絶縁膜25を形成する。すなわち、各個別領域A1に形成された積層体23の外壁面(側壁)、最下層の配線61の下面及び側面、最上層の絶縁層57の上面、ビア配線V7,V8の上面、及び貫通孔23Xの内壁面を連続的に被覆する絶縁膜25を形成する。積層体23の外壁面や貫通孔23Xの内壁面には各配線61〜67の端面が露出しているため、インダクタ90(図8(b)参照)を製造した際に、各配線61〜67が封止樹脂91に含有される場合がある導電体(磁性体のフィラー等)と短絡するおそれがある。これに対し、本例では、積層体23の表面を被覆する絶縁膜25を形成するため、封止樹脂91に含有される場合がある導電体との短絡を抑制することができる。   Next, in the step shown in FIGS. 29 and 30A, an insulating film 25 that covers the entire surface of the laminate 23 including the inner wall surface of the through hole 23X is formed. That is, the outer wall surface (side wall) of the laminate 23 formed in each individual region A1, the lower surface and side surfaces of the lowermost wiring 61, the upper surface of the uppermost insulating layer 57, the upper surfaces of the via wirings V7 and V8, and the through hole An insulating film 25 that continuously covers the inner wall surface of 23X is formed. Since the end faces of the wirings 61 to 67 are exposed on the outer wall surface of the multilayer body 23 and the inner wall surface of the through hole 23X, when the inductor 90 (see FIG. 8B) is manufactured, the wirings 61 to 67 are manufactured. May be short-circuited with a conductor (such as a magnetic filler) that may be contained in the sealing resin 91. On the other hand, in this example, since the insulating film 25 covering the surface of the laminate 23 is formed, a short circuit with a conductor that may be contained in the sealing resin 91 can be suppressed.

なお、絶縁膜25は、例えば、スピンコート法やスプレーコート法により形成することができる。また、絶縁膜25として、電着レジストを用いるようにしてもよい。この場合には、電着塗布法により、積層体23の外壁面や貫通孔23Xの内壁面に露出する各配線61〜67の端面のみに電着レジスト(絶縁膜25)が被着される。   The insulating film 25 can be formed by, for example, a spin coating method or a spray coating method. Further, as the insulating film 25, an electrodeposition resist may be used. In this case, the electrodeposition resist (insulating film 25) is applied only to the end surfaces of the wirings 61 to 67 exposed on the outer wall surface of the laminate 23 and the inner wall surface of the through hole 23X by the electrodeposition coating method.

以上の製造工程により、各個別領域A1にコイル基板20が製造され、複数のコイル基板20が設けられたコイル基板10が製造される。
次に、インダクタ90の製造方法について説明する。
Through the above manufacturing process, the coil substrate 20 is manufactured in each individual region A1, and the coil substrate 10 provided with a plurality of coil substrates 20 is manufactured.
Next, a method for manufacturing the inductor 90 will be described.

まず、図30(b)に示す工程では、各個別領域A1に形成されたコイル基板20全体を封止する封止樹脂91を形成する。すなわち、各個別領域A1全体に封止樹脂91を形成する。これにより、コイル基板20の貫通孔20Xが封止樹脂91によって充填され、コイル基板20の外壁面(側壁)、コイル基板20の上面(絶縁膜25の上面)及びコイル基板20の下面(絶縁膜25の下面)が封止樹脂91によって被覆される。封止樹脂91を充填する方法としては、例えば、トランスファーモールド法、コンプレッションモールド法、インジェクションモールド法を用いることができる。   First, in the step shown in FIG. 30B, a sealing resin 91 that seals the entire coil substrate 20 formed in each individual region A1 is formed. That is, the sealing resin 91 is formed over the entire individual area A1. Thus, the through hole 20X of the coil substrate 20 is filled with the sealing resin 91, and the outer wall surface (side wall) of the coil substrate 20, the upper surface of the coil substrate 20 (upper surface of the insulating film 25), and the lower surface of the coil substrate 20 (insulating film). 25) is covered with a sealing resin 91. As a method for filling the sealing resin 91, for example, a transfer molding method, a compression molding method, or an injection molding method can be used.

次に、図30(b)に示した構造体を破線で示した切断位置に沿って切断する、つまり、コイル基板10を個別領域A1毎に切断する。これにより、連結部12及び外枠13が除去され、封止樹脂91によって封止されたコイル基板20が個片化され、図31(a)に示す構造体が複数個得られる。このとき、コイル基板20の一方の側面20Aには接続部61Aが露出され、コイル基板20の他方の側面20Bには接続部67Aが露出される。   Next, the structure shown in FIG. 30B is cut along a cutting position indicated by a broken line, that is, the coil substrate 10 is cut for each individual region A1. As a result, the connecting portion 12 and the outer frame 13 are removed, and the coil substrate 20 sealed with the sealing resin 91 is singulated to obtain a plurality of structures shown in FIG. At this time, the connecting portion 61A is exposed on one side surface 20A of the coil substrate 20, and the connecting portion 67A is exposed on the other side surface 20B of the coil substrate 20.

なお、図30(b)及び図31(a)に示した工程では、各個別領域A1に形成されたコイル基板20を封止する封止樹脂91を形成した後に、コイル基板20を個片化するようにした。これに限らず、例えば、コイル基板20を個片化した後に、各コイル基板20の側面20A,20Bを除く部分を封止するように封止樹脂91を形成するようにしてもよい。   In the steps shown in FIGS. 30B and 31A, after the sealing resin 91 for sealing the coil substrate 20 formed in each individual area A1 is formed, the coil substrate 20 is separated into individual pieces. I tried to do it. For example, the sealing resin 91 may be formed so as to seal the portions other than the side surfaces 20A and 20B of each coil substrate 20 after the coil substrates 20 are separated into pieces.

続いて、図31(b)に示す工程では、コイル基板20の側面20A、封止樹脂91の一方の側面、上面及び下面の一部を連続的に被覆する電極92を形成する。また、コイル基板20の側面20B、封止樹脂91の他方の側面、上面及び下面の一部を連続的に被覆する電極93を形成する。電極92の内壁面は、コイル基板20の側面20Aから露出する接続部61Aの側面と接する。これにより、接続部61A及びその接続部61Aと一体に形成された配線61は、電極92と電気的に接続される。また、電極93の内壁面は、コイル基板20の側面20Bから露出する接続部67Aの側面と接する。これにより、接続部67A及びその接続部67Aと一体に形成された配線67は、電極93と電気的に接続される。   Subsequently, in the step shown in FIG. 31B, an electrode 92 that continuously covers a part of the side surface 20A of the coil substrate 20, the one side surface, the upper surface, and the lower surface of the sealing resin 91 is formed. In addition, an electrode 93 that continuously covers a part of the side surface 20B of the coil substrate 20 and the other side surface, upper surface, and lower surface of the sealing resin 91 is formed. The inner wall surface of the electrode 92 is in contact with the side surface of the connecting portion 61 </ b> A exposed from the side surface 20 </ b> A of the coil substrate 20. Thereby, the connecting portion 61A and the wiring 61 formed integrally with the connecting portion 61A are electrically connected to the electrode 92. Further, the inner wall surface of the electrode 93 is in contact with the side surface of the connecting portion 67A exposed from the side surface 20B of the coil substrate 20. Thereby, the connecting portion 67A and the wiring 67 formed integrally with the connecting portion 67A are electrically connected to the electrode 93.

以上の製造工程により、図8(b)に示したインダクタ90を製造することができる。
以上説明した本実施形態によれば、以下の効果を奏することができる。
(1)螺旋状のコイルの一部となる配線61〜67と、絶縁層51〜57とを有する構造体41〜47を積層し、上下に隣接する配線61〜67同士をビア配線V1〜V7を介して直列に接続して、1本の螺旋状のコイルを作製するようにした。これにより、構造体の積層数を調整することで、平面形状を変更することなく任意の巻き数のコイルを作製することができる。このため、従来のサイズ(例えば、平面形状が1.6mm×1.6mm)よりも小さいサイズ(例えば、平面形状が1.6mm×0.8mm)のコイルを容易に作製することができる。
Through the above manufacturing process, the inductor 90 shown in FIG. 8B can be manufactured.
According to this embodiment described above, the following effects can be obtained.
(1) The structures 41 to 47 having the wirings 61 to 67 that are part of the spiral coil and the insulating layers 51 to 57 are laminated, and the wirings 61 to 67 that are vertically adjacent to each other are connected to the via wirings V1 to V7. In this way, a single spiral coil is produced. Thus, by adjusting the number of stacked layers of the structure, a coil having an arbitrary number of turns can be produced without changing the planar shape. For this reason, a coil having a size (for example, the planar shape is 1.6 mm × 0.8 mm) smaller than the conventional size (for example, the planar shape is 1.6 mm × 1.6 mm) can be easily manufactured.

(2)また、構造体の積層数を増加させることにより、平面形状を変更することなくコイルの巻き数(ターン数)を増加させることができる。このため、小型でインダクタンスの大きいコイルを容易に作製することができる。   (2) Further, by increasing the number of stacked structures, the number of turns (number of turns) of the coil can be increased without changing the planar shape. For this reason, a small coil with a large inductance can be easily manufactured.

(3)各構造体42〜47において、配線62〜67にそれぞれ設けられた貫通孔62X〜67Xよりも平面形状の大きい貫通孔52X〜57Xを絶縁層52〜57にそれぞれ形成するようにした。さらに、貫通孔62X,52Xを充填するビア配線V2、貫通孔63X,53Xを充填するビア配線V3、貫通孔64X,54Xを充填するビア配線V4、貫通孔65X,55Xを充填するビア配線V5、貫通孔66X,56Xを充填するビア配線V6、貫通孔67X,57Xを充填するビア配線V7を形成するようにした。これらにより、ビア配線V2〜V7を、貫通孔62X〜67Xの内側面と併せて、貫通孔62X〜67Xの周囲に位置し、貫通孔52X〜57Xから露出する配線62〜67の上面にそれぞれ接続させることができる。このため、例えば、貫通孔52X〜57Xの平面形状を貫通孔62X〜67Xと同じ大きさに形成した場合に比べて、ビア配線V2〜V7と配線62〜67との接触面積を増大させることができる。この結果、ビア配線V2〜V7と配線62〜67との間の接続信頼性を向上させることができる。ひいては、上下に隣接する配線62〜67同士の接続信頼性を向上させることができる。   (3) In each of the structures 42 to 47, the through holes 52X to 57X having a planar shape larger than the through holes 62X to 67X provided in the wirings 62 to 67 are formed in the insulating layers 52 to 57, respectively. Furthermore, a via wiring V2 filling the through holes 62X and 52X, a via wiring V3 filling the through holes 63X and 53X, a via wiring V4 filling the through holes 64X and 54X, a via wiring V5 filling the through holes 65X and 55X, The via wiring V6 filling the through holes 66X and 56X and the via wiring V7 filling the through holes 67X and 57X are formed. Thus, the via wirings V2 to V7 are connected to the upper surfaces of the wirings 62 to 67 located around the through holes 62X to 67X and exposed from the through holes 52X to 57X together with the inner surfaces of the through holes 62X to 67X. Can be made. Therefore, for example, the contact area between the via wirings V2 to V7 and the wirings 62 to 67 can be increased as compared with the case where the planar shapes of the through holes 52X to 57X are formed to the same size as the through holes 62X to 67X. it can. As a result, the connection reliability between the via wirings V2 to V7 and the wirings 62 to 67 can be improved. As a result, the connection reliability of the wirings 62 to 67 adjacent in the vertical direction can be improved.

(4)例えば、支持フィルム103の下面103A上に、貫通孔63Xを有する金属層63Eと絶縁層53とを有する構造体43と、貫通孔63Xと連通する貫通孔72Xを有する接着層72とが順に積層された構造体を準備する。また、貫通孔63X,72Xよりも平面形状の大きい貫通孔52Yを構造体42の絶縁層52に形成する。そして、構造体42上に接着層72を介して、支持フィルム103上に積層された構造体43を対向配置し、支持フィルム103が外側になるように積層するようにした。このとき、貫通孔52Yが、接着層72の貫通孔72Xの平面形状よりも大きく形成されているため、貫通孔72X内への接着層72の漏れだしを好適に抑制することができる。したがって、構造体42上に接着層72を介して構造体43を積層する際に、それら構造体42,43及び接着層72に高い圧力をかけた場合であっても、又は接着層72の材料として流動性の高い材料を用いた場合であっても、貫通孔72Xの平面形状が小さくなることを好適に抑制することができる。なお、その他の構造体44〜47の積層時にも同様のことが言える。   (4) For example, on the lower surface 103A of the support film 103, a structure 43 having a metal layer 63E having a through hole 63X and an insulating layer 53, and an adhesive layer 72 having a through hole 72X communicating with the through hole 63X are provided. A stacked structure is prepared in order. Also, a through hole 52Y having a larger planar shape than the through holes 63X and 72X is formed in the insulating layer 52 of the structure 42. And the structure 43 laminated | stacked on the support film 103 was opposingly arranged on the structure 42 through the contact bonding layer 72, and it laminated | stacked so that the support film 103 might become an outer side. At this time, since the through hole 52Y is formed larger than the planar shape of the through hole 72X of the adhesive layer 72, leakage of the adhesive layer 72 into the through hole 72X can be suitably suppressed. Therefore, when the structure 43 is laminated on the structure 42 via the adhesive layer 72, even when a high pressure is applied to the structures 42, 43 and the adhesive layer 72, or the material of the adhesive layer 72 Even when a material with high fluidity is used, it is possible to suitably suppress a reduction in the planar shape of the through hole 72X. The same can be said when the other structures 44 to 47 are stacked.

(5)上下に隣接する配線62〜67を電気的に接続する貫通電極(ビア配線V2〜V8)を、上下に隣接する構造体のうち下側の構造体に含まれる絶縁層と、上側の構造体に含まれる配線及び絶縁層とを貫通して形成するようにした。このため、構造体42〜47に含まれる絶縁層52〜57には、当該絶縁層52〜57を厚さ方向に貫通する貫通電極(ビア配線V2〜V8)が2箇所に形成される。例えば、絶縁層52にはビア配線V2,V3が形成され、絶縁層53にはビア配線V3,V4が形成され、絶縁層54にはビア配線V4,V5が形成され、絶縁層55にはビア配線V5,V6が形成され、絶縁層56にはビア配線V6,V7が形成され、絶縁層57にはビア配線V7,V8が形成される。これにより、絶縁層52〜57中においてはビア配線V2〜V8が支持体となって剛性を保つため、インダクタ90全体のねじれ等を抑制することができる。   (5) A through electrode (via wiring V2 to V8) that electrically connects the upper and lower adjacent wirings 62 to 67 is connected to the insulating layer included in the lower structure among the upper and lower adjacent structures, and the upper side The wiring and the insulating layer included in the structure are formed so as to penetrate therethrough. For this reason, in the insulating layers 52 to 57 included in the structures 42 to 47, penetrating electrodes (via wirings V2 to V8) penetrating the insulating layers 52 to 57 in the thickness direction are formed in two places. For example, via wirings V2 and V3 are formed in the insulating layer 52, via wirings V3 and V4 are formed in the insulating layer 53, via wirings V4 and V5 are formed in the insulating layer 54, and vias are formed in the insulating layer 55. Wirings V5 and V6 are formed, via wirings V6 and V7 are formed in the insulating layer 56, and via wirings V7 and V8 are formed in the insulating layer 57. Thereby, in the insulating layers 52 to 57, the via wirings V <b> 2 to V <b> 8 serve as a support body and maintain rigidity, so that twisting of the inductor 90 as a whole can be suppressed.

(6)積層体23の中に、構造体41〜47が有する絶縁層51〜57よりも熱膨張係数の低い基板30を設けるようにした。これにより、コイル基板20に温度変化が生じた際に、基板30の熱変形(熱収縮又は熱膨脹)を小さくできるため、各層に形成された配線61〜67の位置の変位を抑制できる。すなわち、コイル基板20に温度変化が生じた場合であっても、配線61〜67から構成されるコイル(コイル基板20)の位置が設計値からずれることを好適に抑制することができる。換言すると、配線61〜67から構成されるコイルの位置精度を向上させることができる。   (6) In the laminated body 23, the board | substrate 30 whose thermal expansion coefficient is lower than the insulating layers 51-57 which the structures 41-47 have was provided. Thereby, when a temperature change occurs in the coil substrate 20, the thermal deformation (thermal contraction or thermal expansion) of the substrate 30 can be reduced, so that the displacement of the positions of the wirings 61 to 67 formed in each layer can be suppressed. That is, even when a temperature change occurs in the coil substrate 20, it is possible to suitably suppress the position of the coil (coil substrate 20) configured from the wirings 61 to 67 from being deviated from the design value. In other words, the positional accuracy of the coil composed of the wirings 61 to 67 can be improved.

(7)基板30の剛性を絶縁層51〜57よりも高くした。例えば、基板30を絶縁層51〜57よりも厚く形成した。このように基板30に高い剛性を持たせることにより、コイル基板20全体の熱変形を抑制することができる。   (7) The rigidity of the substrate 30 is made higher than that of the insulating layers 51 to 57. For example, the substrate 30 is formed thicker than the insulating layers 51 to 57. Thus, by giving the board | substrate 30 high rigidity, the thermal deformation of the coil substrate 20 whole can be suppressed.

(8)基板30の上下両面に構造体41〜47を積層して積層体23を形成し、その積層体23の最下層に配線61を露出するようにした。このとき、配線61(例えば、銅層)は、基板30(例えば、ポリイミドフィルム)よりも絶縁膜25との密着性が高い。このため、積層体23の最下層に基板30を露出させる場合に比べて、積層体23と絶縁膜25との密着性を向上させることができる。また、積層体23の最下層に基板30を露出させた場合には、その基板30と絶縁膜25との密着性が低いため、絶縁膜25を形成する前に基板30の下面に対して絶縁膜25との密着性を高めるための表面処理(例えば、プラズマ処理)を施す必要がある。これに対し、本例では、配線61と絶縁膜25との密着性が高いため、上述したような表面処理を施す必要がない。   (8) The stacked bodies 23 are formed by laminating the structures 41 to 47 on the upper and lower surfaces of the substrate 30, and the wiring 61 is exposed in the lowermost layer of the stacked body 23. At this time, the wiring 61 (for example, a copper layer) has higher adhesion to the insulating film 25 than the substrate 30 (for example, a polyimide film). For this reason, compared with the case where the board | substrate 30 is exposed to the lowest layer of the laminated body 23, the adhesiveness of the laminated body 23 and the insulating film 25 can be improved. In addition, when the substrate 30 is exposed in the lowermost layer of the stacked body 23, the adhesion between the substrate 30 and the insulating film 25 is low, so that the insulating film 25 is insulated from the lower surface of the substrate 30 before the insulating film 25 is formed. It is necessary to perform a surface treatment (for example, a plasma treatment) for improving the adhesion with the film 25. On the other hand, in this example, since the adhesion between the wiring 61 and the insulating film 25 is high, it is not necessary to perform the surface treatment as described above.

(9)コイル基板10では、積層体23を構成する基板30の一部を外枠13として利用し、その外枠13にスプロケットホール13Xを形成するようにした。これにより、積層体23を構成する部材以外の追加の部材を設けることなく、基板30のスプロケットホール13Xを利用してコイル基板10の搬送を容易に行うことができる。   (9) In the coil substrate 10, a part of the substrate 30 constituting the laminate 23 is used as the outer frame 13, and the sprocket hole 13 </ b> X is formed in the outer frame 13. Thereby, the coil board | substrate 10 can be easily conveyed using the sprocket hole 13X of the board | substrate 30, without providing additional members other than the member which comprises the laminated body 23. FIG.

(10)ところで、コイルの一部を構成する形状の配線を予め各構造体に形成し、その各構造体を積層する方法も考えられる。すなわち、本例で言えば、貫通孔23Xが形成された状態の配線61〜67を対応する構造体41〜47に形成し、その各構造体41〜47を基板30の上下両面に積層して積層体23を形成する方法も考えられる。しかし、この方法では、各配線が平面方向(例えば、左右)にずれて平面視で完全に重複するようには積層できない。その後、積層体に貫通孔等を形成すると、位置ずれした配線の一部が除去されるおそれがある。このような問題は、例えば、予め各構造体に形成する配線を細くすることで解決することができる。しかし、この場合には、コイルの直流抵抗が増加するという新たな問題が生じる。   (10) By the way, it is also conceivable to form a wiring having a shape constituting a part of the coil in each structure in advance, and to stack the structures. That is, in this example, the wirings 61 to 67 in the state where the through holes 23X are formed are formed in the corresponding structures 41 to 47, and the structures 41 to 47 are stacked on both upper and lower surfaces of the substrate 30. A method of forming the laminate 23 is also conceivable. However, with this method, it is not possible to stack the wirings so that they are shifted in the planar direction (for example, left and right) and completely overlap in plan view. Thereafter, when a through hole or the like is formed in the laminate, a part of the misaligned wiring may be removed. Such a problem can be solved, for example, by thinning the wiring formed in each structure in advance. However, in this case, there arises a new problem that the DC resistance of the coil increases.

これに対し、本実施形態の製造方法では、螺旋状のコイルを構成する形状の配線61〜67よりも平面形状の大きい金属層61E〜67Eを予め各構造体41〜47に形成するようにした。そして、各構造体41〜47を基板30の上下両面に積層して積層体23を形成し、この積層体23を厚さ方向に成形して、各金属層61E〜67Eを螺旋状のコイルの一部を構成する形状の配線61〜67に同時に加工するようにした。このため、各配線61〜67が平面方向にずれることなく、平面視で重複するように高精度に積層された配線61〜67から螺旋状のコイルを形成することができる。この結果、配線61〜67から構成されるコイルの直流抵抗を小さくすることができる。すなわち、各配線61〜67の平面方向への位置ずれを考慮する必要がないため、各配線61〜67の幅を太くすることが可能となり、コイルの直流抵抗を小さくすることができる。   On the other hand, in the manufacturing method of the present embodiment, the metal layers 61E to 67E having a planar shape larger than the wirings 61 to 67 having the shape of the spiral coil are formed in the respective structures 41 to 47 in advance. . And each structure 41-47 is laminated | stacked on the upper and lower surfaces of the board | substrate 30, the laminated body 23 is formed, this laminated body 23 is shape | molded in the thickness direction, and each metal layer 61E-67E is made of a helical coil. The wirings 61 to 67 having a part of the shape are simultaneously processed. Therefore, a spiral coil can be formed from the wirings 61 to 67 that are stacked with high precision so that the wirings 61 to 67 are not displaced in the plane direction and overlap in a plan view. As a result, it is possible to reduce the DC resistance of the coil constituted by the wirings 61 to 67. That is, since it is not necessary to consider the positional deviation of the wirings 61 to 67 in the planar direction, the widths of the wirings 61 to 67 can be increased, and the DC resistance of the coil can be reduced.

(11)基板100及び支持フィルム102〜107としてリール状(テープ状)の可撓性を有する絶縁樹脂フィルムを用いるようにした。これにより、コイル基板10をリールトゥリールで製造することができる。このため、大量生産によるコイル基板10の低コスト化を実現することができる。   (11) As the substrate 100 and the support films 102 to 107, reel-like (tape-like) flexible insulating resin films are used. Thereby, the coil board | substrate 10 can be manufactured by a reel to reel. For this reason, cost reduction of the coil board | substrate 10 by mass production is realizable.

(12)1つの構造体41〜47(1層)に形成する配線61〜67をコイルの1巻き以下とするようにした。このため、1つの構造体41〜47(1層)に形成する配線の幅を太くすることが可能となる。すなわち、配線61〜67の幅方向の断面積を増やすことが可能となり、インダクタの性能に直結する巻き線抵抗を低減することができる。   (12) The wirings 61 to 67 formed in one structure 41 to 47 (one layer) are set to be one turn or less of the coil. For this reason, it becomes possible to increase the width of the wiring formed in one structure 41 to 47 (one layer). That is, the cross-sectional area in the width direction of the wirings 61 to 67 can be increased, and the winding resistance directly connected to the performance of the inductor can be reduced.

(13)各構造体41〜47にダミーパターンである金属層61D〜67Dを設けるようにした。これにより、各構造体41〜47に形成された金属層の形状差を小さくすることができる。このため、上述した形状差に起因して、上記金属層を被覆する絶縁層51〜57に凹凸が生じることを好適に抑制できる。   (13) The metal layers 61D to 67D, which are dummy patterns, are provided on the structures 41 to 47, respectively. Thereby, the shape difference of the metal layer formed in each structure 41-47 can be made small. For this reason, it can suppress suitably that the unevenness | corrugation arises in the insulating layers 51-57 which coat | cover the said metal layer resulting from the shape difference mentioned above.

(14)連結部12に位置する基板30の上下両面に金属層81〜87を積層するようにした。これにより、コイル基板10全体の機械的強度を高めることができる。
(第1実施形態の変形例)
なお、上記第1実施形態は、これを適宜変更した以下の態様にて実施することもできる。
(14) The metal layers 81 to 87 are laminated on the upper and lower surfaces of the substrate 30 located in the connecting portion 12. Thereby, the mechanical strength of the whole coil board | substrate 10 can be raised.
(Modification of the first embodiment)
In addition, the said 1st Embodiment can also be implemented in the following aspects which changed this suitably.

・上記第1実施形態の製造工程における開口部201Y〜207Yの形成を省略してもよい。この場合には、例えば、金属箔161等をパターニングする工程(例えば、図11(b)に示した工程)において、絶縁層51の下面全面を被覆する金属箔161に溝部61Y,61Zのみを形成する。すなわち、この場合には、溝部61Y,61Z以外の金属箔161を残し、溝部61Y,61Z以外の絶縁層51の下面を被覆する金属層を形成する。なお、他の層についても同様である。例えば、絶縁層52の下面に、溝部62Y,62Z以外の絶縁層52の下面を被覆する金属層を形成する。   -You may abbreviate | omit formation of the opening parts 201Y-207Y in the manufacturing process of the said 1st Embodiment. In this case, for example, in the process of patterning the metal foil 161 and the like (for example, the process shown in FIG. 11B), only the groove portions 61Y and 61Z are formed in the metal foil 161 covering the entire lower surface of the insulating layer 51. To do. That is, in this case, the metal foil 161 other than the groove portions 61Y and 61Z is left, and a metal layer that covers the lower surface of the insulating layer 51 other than the groove portions 61Y and 61Z is formed. The same applies to the other layers. For example, a metal layer that covers the lower surface of the insulating layer 52 other than the grooves 62Y and 62Z is formed on the lower surface of the insulating layer 52.

・上記第1実施形態及び上記変形例における認識マーク12Xと同様の認識マークを外枠13に形成するようにしてもよい。すなわち、外枠13に、位置決め(位置合わせ)のための貫通孔を形成するようにしてもよい。この場合において、外枠13に認識マーク及びスプロケットホール13Xの両方を形成するようにしてもよいし、外枠13に認識マークのみを形成するようにしてもよい。   A recognition mark similar to the recognition mark 12X in the first embodiment and the modification may be formed on the outer frame 13. That is, a through hole for positioning (positioning) may be formed in the outer frame 13. In this case, both the recognition mark and the sprocket hole 13X may be formed on the outer frame 13, or only the recognition mark may be formed on the outer frame 13.

・上記第1実施形態では、絶縁層51の貫通孔51Xと基板30の貫通孔30Xの一部とにビア配線V1を形成した後に、基板30の上面30Bに接着層71を介して構造体42を積層し、ビア配線V1上に貫通孔71X,62X,52Xを充填するビア配線V2を形成するようにした。これに限らず、ビア配線V1の形成を省略し、基板30の上面30Bに接着層71を介して構造体42を積層した後に、貫通孔51X,30X,71X,62X,52Xを充填するビア配線V2を形成するようにしてもよい。   In the first embodiment, after the via wiring V1 is formed in the through hole 51X of the insulating layer 51 and a part of the through hole 30X of the substrate 30, the structure 42 is formed on the upper surface 30B of the substrate 30 via the adhesive layer 71. The via wiring V2 filling the through holes 71X, 62X and 52X is formed on the via wiring V1. Not limited to this, the formation of the via wiring V1 is omitted, and after the structure 42 is laminated on the upper surface 30B of the substrate 30 via the adhesive layer 71, the via wiring filling the through holes 51X, 30X, 71X, 62X, and 52X. V2 may be formed.

・上記第1実施形態及び上記各変形例では、絶縁層52〜56の貫通孔52Y〜56Yを、直上の接着層72〜76の貫通孔72X〜76Xの平面形状よりも大きく形成するようにした。これに限らず、例えば図32に示すように、貫通孔52Y〜56Y(図32では、貫通孔52Y,55Y,56Yのみを図示)を、直上の接着層72〜76の貫通孔72X〜76X(図32では、貫通孔72X,75X,76X)の平面形状と略同じ大きさに形成するようにしてもよい。このような構造であっても、上記実施形態の(1)〜(3),(5)〜(14)の効果と同様の効果を奏することができる。   In the first embodiment and each of the modifications described above, the through holes 52Y to 56Y of the insulating layers 52 to 56 are formed larger than the planar shape of the through holes 72X to 76X of the adhesive layers 72 to 76 immediately above. . For example, as shown in FIG. 32, the through holes 52Y to 56Y (only the through holes 52Y, 55Y, and 56Y are shown in FIG. 32) are replaced with the through holes 72X to 76X ( In FIG. 32, it may be formed to have substantially the same size as the planar shape of the through holes 72X, 75X, and 76X). Even with such a structure, the same effects as the effects (1) to (3) and (5) to (14) of the above embodiment can be obtained.

・上記第1実施形態及び上記各変形例では、基板30の貫通孔30X及び絶縁層51の貫通孔51Xを、基板30上に積層される接着層71の貫通孔71Xの平面形状よりも大きく形成するようにした。これに限らず、例えば図32に示すように、貫通孔30X,51Xを、貫通孔71Xの平面形状と略同じ大きさに形成するようにしてもよい。この場合には、ビア配線V1を、貫通孔51X,30Xを充填するように形成してもよい。また、ビア配線V1の形成を省略し、ビア配線V2を、貫通孔51X,30X,71X,62X,52Xを充填するように形成してもよい。   In the first embodiment and each of the modifications described above, the through hole 30X of the substrate 30 and the through hole 51X of the insulating layer 51 are formed larger than the planar shape of the through hole 71X of the adhesive layer 71 laminated on the substrate 30. I tried to do it. For example, as shown in FIG. 32, the through holes 30X and 51X may be formed to have substantially the same size as the planar shape of the through hole 71X. In this case, the via wiring V1 may be formed so as to fill the through holes 51X and 30X. Alternatively, the via wiring V1 may be omitted, and the via wiring V2 may be formed so as to fill the through holes 51X, 30X, 71X, 62X, and 52X.

・上記第1実施形態及び上記各変形例における基板30の上下両面に積層する構造体の数は特に制限されない。例えば、基板30の下面30Aに2つ以上の構造体を積層するようにしてもよいし、基板30の上面30Bに1〜5つ、又は7つ以上の構造体を積層するようにしてもよい。また、基板30が積層体23の厚さ方向の中心付近に配置されるように、基板30の下面30Aに積層する構造体の数と、基板30の上面30Bに積層する構造体の数とを設定するようにしてもよい。   -The number of the structures laminated on the upper and lower surfaces of the substrate 30 in the first embodiment and each of the modifications is not particularly limited. For example, two or more structures may be stacked on the lower surface 30A of the substrate 30, or 1 to 5, or seven or more structures may be stacked on the upper surface 30B of the substrate 30. . In addition, the number of structures stacked on the lower surface 30A of the substrate 30 and the number of structures stacked on the upper surface 30B of the substrate 30 are set so that the substrate 30 is disposed near the center of the stacked body 23 in the thickness direction. You may make it set.

・上記第1実施形態及び上記各変形例における基板30を省略してもよい。
例えば図33に示したインダクタ90Aの積層体23Aでは、構造体41の絶縁層51上に接着層71を介して、構造体42が積層される。この場合には、配線61と配線62とは、貫通孔71X,62X,52Xを充填するビア配線V2により電気的に接続される。このように基板30を省略することにより、配線61,62間の層間距離を短くすることができるため、インダクタ90Aのインダクタンスを向上させることができる。また、基板30を省略したことにより、インダクタ90A全体を薄型化することができる。
-You may abbreviate | omit the board | substrate 30 in the said 1st Embodiment and said each modification.
For example, in the laminate 23A of the inductor 90A shown in FIG. 33, the structure 42 is laminated on the insulating layer 51 of the structure 41 via the adhesive layer 71. In this case, the wiring 61 and the wiring 62 are electrically connected by the via wiring V2 that fills the through holes 71X, 62X, and 52X. By omitting the substrate 30 in this way, the interlayer distance between the wirings 61 and 62 can be shortened, so that the inductance of the inductor 90A can be improved. Further, since the substrate 30 is omitted, the entire inductor 90A can be thinned.

(第2実施形態)
次に、図34〜図38に従って第2実施形態を説明する。
図34に示したインダクタ90Bの積層体23Bでは、図8(b)に示したインダクタ90から構造体41(絶縁層51及び配線61)と基板30とビア配線V1とが省略され、接着層71上に構造体42が積層される。積層体23Bでは、接着層71の下面が積層体23Bの最表面(ここでは、最下面)になる。この場合には、例えば、貫通孔71X,62X,52Xにビア配線V2が充填され、そのビア配線V2の下端面が接着層71から露出される。そして、ビア配線V2の下端面及び接着層71の下面を被覆するように絶縁膜25が形成される。なお、積層体23Bでは、配線62が最下層の配線となるため、配線62の一端部には接続部61Aと同様の接続部62Aが形成される。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS.
In the laminated body 23B of the inductor 90B shown in FIG. 34, the structure 41 (insulating layer 51 and wiring 61), the substrate 30, and the via wiring V1 are omitted from the inductor 90 shown in FIG. The structure 42 is laminated on the top. In the stacked body 23B, the lower surface of the adhesive layer 71 is the outermost surface (here, the lowermost surface) of the stacked body 23B. In this case, for example, the via wiring V2 is filled in the through holes 71X, 62X, and 52X, and the lower end surface of the via wiring V2 is exposed from the adhesive layer 71. Then, the insulating film 25 is formed so as to cover the lower end surface of the via wiring V2 and the lower surface of the adhesive layer 71. In the laminate 23B, since the wiring 62 is the lowermost wiring, a connection portion 62A similar to the connection portion 61A is formed at one end of the wiring 62.

次に、インダクタ90Bの製造方法の一例について説明する。
まず、図35(a)に示す工程では、図12に示した工程と同様に、支持フィルム102の下面102Aに、貫通孔52X,52Yを有する絶縁層52と、金属層62D,62E,82及び接続部62Aを有する金属箔とを順に積層した構造体を準備する。続いて、接着層71を、金属層62D,62E,82の下方に配置する。
Next, an example of a method for manufacturing the inductor 90B will be described.
First, in the step shown in FIG. 35A, as in the step shown in FIG. 12, the insulating layer 52 having the through holes 52X and 52Y, the metal layers 62D, 62E, and 82 on the lower surface 102A of the support film 102, and A structure in which a metal foil having the connecting portion 62A is sequentially laminated is prepared. Subsequently, the adhesive layer 71 is disposed below the metal layers 62D, 62E, and 82.

次に、図35(b)に示す工程では、図13(a)に示した工程と同様に、絶縁層52の下面に、金属層62D,62E,82及び接続部62Aの表面全面を被覆する半硬化状態の接着層71を積層する。続いて、図13(b)に示した工程と同様に、貫通孔52Xから露出された金属層62Eに貫通孔62Xを形成するとともに、接着層71に、貫通孔62Xと連通する貫通孔71Xを形成する。   Next, in the step shown in FIG. 35 (b), as in the step shown in FIG. 13 (a), the entire surface of the metal layers 62D, 62E, 82 and the connecting portion 62A is covered on the lower surface of the insulating layer 52. A semi-cured adhesive layer 71 is laminated. Subsequently, as in the step shown in FIG. 13B, the through hole 62X is formed in the metal layer 62E exposed from the through hole 52X, and the through hole 71X communicating with the through hole 62X is formed in the adhesive layer 71. Form.

次いで、図35(c)に示す工程では、支持基板110の上面110Aに接着層71を介して構造体42を積層する。例えば、図35(b)に示した構造体と支持基板110とを、真空プレス等により上下両面から加熱・加圧する。その後、接着層71を硬化させる。これにより、接着層71が支持基板110と接着されるとともに、接着層71が構造体42と接着される。このとき、貫通孔71Xの底部には、支持基板110の上面110Aの一部が露出される。なお、支持基板110としては、例えば、金属板や金属箔を用いることができる。また、支持基板110としては、ポリイミドフィルム、PPS(ポリフェニレンサルファド)フィルムなどの樹脂フィルムやガラス板等のテープ状基板を用いることもできる。本実施形態では、支持基板110として銅板を用いる。また、支持基板110は、例えば、配線62よりも厚く形成され、絶縁層52よりも厚く形成されている。このような支持基板110によって製造途中の構造体の機械的強度を十分に確保することができる。このため、基板30を省略した場合であっても、製造途中における構造体のハンドリング性が低下することを好適に抑制することができる。   Next, in the step illustrated in FIG. 35C, the structure 42 is stacked on the upper surface 110 </ b> A of the support substrate 110 with the adhesive layer 71 interposed. For example, the structure shown in FIG. 35B and the support substrate 110 are heated and pressed from above and below by a vacuum press or the like. Thereafter, the adhesive layer 71 is cured. Thereby, the adhesive layer 71 is bonded to the support substrate 110 and the adhesive layer 71 is bonded to the structure 42. At this time, a part of the upper surface 110A of the support substrate 110 is exposed at the bottom of the through hole 71X. For example, a metal plate or a metal foil can be used as the support substrate 110. Further, as the support substrate 110, a resin film such as a polyimide film or a PPS (polyphenylene sulfide) film, or a tape-shaped substrate such as a glass plate can be used. In this embodiment, a copper plate is used as the support substrate 110. Further, the support substrate 110 is formed thicker than the wiring 62 and thicker than the insulating layer 52, for example. Such a support substrate 110 can sufficiently secure the mechanical strength of the structure being manufactured. For this reason, even if it is a case where the board | substrate 30 is abbreviate | omitted, it can suppress suitably that the handleability of the structure in the middle of manufacture falls.

次に、図36(a)に示す工程では、貫通孔71Xの底部に露出する支持基板110の上面110A上に、貫通孔71X,62X,52Xを充填するビア配線V2を形成する。ビア配線V2は、例えば、電解めっき法により形成することができる。例えば、支持基板110(ここでは、銅板)を給電層とする電解めっき法により、貫通孔71Xの底部に露出する支持基板110上に第1導電層(例えば、Ni層)を形成する。続いて、支持基板110を給電層とする電解めっき法により、第1導電層上に第2導電層(例えば、Cu層)を形成する。これにより、2層構造のビア配線V2が形成される。第1導電層の材料としては、後工程で支持基板110をエッチング除去する際にエッチングストッパ層となることが可能な材料であることが好ましい。このように、本例の支持基板110は、製造過程における支持体として機能するとともに、電解めっき法における給電層としても機能する。なお、ビア配線V2は、金属ペーストの充填等の他の方法により形成することもできる。   Next, in the step shown in FIG. 36A, via wiring V2 filling the through holes 71X, 62X, and 52X is formed on the upper surface 110A of the support substrate 110 exposed at the bottom of the through hole 71X. The via wiring V2 can be formed by, for example, an electrolytic plating method. For example, the first conductive layer (for example, Ni layer) is formed on the support substrate 110 exposed at the bottom of the through hole 71X by an electrolytic plating method using the support substrate 110 (here, a copper plate) as a power feeding layer. Subsequently, a second conductive layer (for example, a Cu layer) is formed on the first conductive layer by electrolytic plating using the support substrate 110 as a power feeding layer. As a result, a via wiring V2 having a two-layer structure is formed. The material of the first conductive layer is preferably a material that can be an etching stopper layer when the support substrate 110 is removed by etching in a later step. Thus, the support substrate 110 of this example functions as a support in the manufacturing process, and also functions as a power supply layer in the electrolytic plating method. The via wiring V2 can also be formed by other methods such as filling with a metal paste.

続いて、図36(b)に示す工程では、図15〜図25に示した工程と同様に、支持基板110の上面110Aに積層された構造体42上に、構造体43〜47を積層する。以上の製造工程により、各個別領域A1における支持基板110の上面110A上に、複数の構造体42〜47が順に積層された積層体23Bを製造することができる。なお、本工程において、ビア配線V3〜V7を電解めっき法により形成する場合には、支持基板110及びビア配線V2を給電層として利用することができる。   Subsequently, in the process illustrated in FIG. 36B, the structures 43 to 47 are stacked on the structure 42 stacked on the upper surface 110 </ b> A of the support substrate 110 as in the processes illustrated in FIGS. 15 to 25. . Through the above manufacturing process, it is possible to manufacture a stacked body 23B in which a plurality of structures 42 to 47 are sequentially stacked on the upper surface 110A of the support substrate 110 in each individual region A1. In this step, when the via wirings V3 to V7 are formed by an electrolytic plating method, the support substrate 110 and the via wiring V2 can be used as a power feeding layer.

次いで、図37(a)に示す工程では、図26〜図28に示した工程と同様に、各層に形成された金属層62E〜67E(図36(b)参照)を型抜き等により成形し、螺旋状のコイルの一部を構成する形状の配線62〜67に加工する。本工程では、高い剛性を持つ支持基板110上に積層体23Bが積層された状態で金属層62E〜67Eの成形が実施されるため、その成形時における配線62〜67の位置の変位を抑制できる。これにより、配線62〜67の位置精度を向上させることができ、それら配線62〜67から構成されるコイルの位置精度を向上させることができる。   Next, in the step shown in FIG. 37 (a), the metal layers 62E to 67E (see FIG. 36 (b)) formed in the respective layers are formed by die cutting or the like, as in the steps shown in FIGS. Then, the wirings 62 to 67 having a shape constituting a part of the spiral coil are processed. In this step, since the metal layers 62E to 67E are formed in a state where the laminate 23B is laminated on the support substrate 110 having high rigidity, the displacement of the positions of the wirings 62 to 67 during the formation can be suppressed. . Thereby, the positional accuracy of wiring 62-67 can be improved, and the positional accuracy of the coil comprised from these wirings 62-67 can be improved.

次に、仮基板として用いた支持基板110を除去する。例えば、支持基板110として銅板を用いる場合には、塩化第二鉄水溶液、塩化第二銅水溶液、過硫酸アンモニウム水溶液等を用いたウェットエッチングにより、ビア配線V2(具体的には、Ni層である第1導電層)及び接着層71に対して選択的にエッチングして除去する。このとき、ビア配線V2内の第1導電層(Ni層)及び接着層71が、支持基板110をエッチングする際のエッチングストッパ層として機能する。なお、支持基板110としてPIフィルム等を用いる場合や剥離層を設けている場合には、支持基板110を積層体23Bから機械的に剥離するようにしてもよい。本工程により、図37(b)に示すように、ビア配線V2の下端面及び接着層71の下面が外部に露出される。   Next, the support substrate 110 used as the temporary substrate is removed. For example, when a copper plate is used as the support substrate 110, the via wiring V2 (specifically, the Ni layer is formed by wet etching using a ferric chloride aqueous solution, a cupric chloride aqueous solution, an ammonium persulfate aqueous solution, or the like). 1 conductive layer) and the adhesive layer 71 are selectively etched away. At this time, the first conductive layer (Ni layer) and the adhesive layer 71 in the via wiring V2 function as an etching stopper layer when the support substrate 110 is etched. In addition, when using a PI film etc. as the support substrate 110, or when providing the peeling layer, you may make it mechanically peel the support substrate 110 from the laminated body 23B. By this step, as shown in FIG. 37B, the lower end surface of the via wiring V2 and the lower surface of the adhesive layer 71 are exposed to the outside.

また、本工程により、製造過程における構造体の機械的強度を確保するために比較的厚く形成された支持基板110を積層体23Bから除去できる。このため、製造過程における構造体の機械的強度を確保するために、積層体23Bの各部材を厚く形成する必要がない。したがって、積層体23B全体の薄型化を図ることができる。   Further, according to this step, the support substrate 110 formed relatively thick in order to ensure the mechanical strength of the structure in the manufacturing process can be removed from the laminate 23B. For this reason, in order to ensure the mechanical strength of the structure in the manufacturing process, it is not necessary to form each member of the laminated body 23B thickly. Accordingly, the entire laminate 23B can be thinned.

続いて、図38に示す工程では、貫通孔23Xの内壁面を含む積層体23Bの表面全面を被覆する絶縁膜25を形成する。これにより、各個別領域A1にコイル基板20が製造される。その後、図30(b)〜図31(b)に示した工程と同様の工程を実施することにより、図34に示したインダクタ90Bを製造することができる。   Subsequently, in the step shown in FIG. 38, the insulating film 25 that covers the entire surface of the multilayer body 23B including the inner wall surface of the through hole 23X is formed. Thereby, the coil board | substrate 20 is manufactured in each separate area | region A1. Thereafter, by performing a process similar to the process illustrated in FIGS. 30B to 31B, the inductor 90B illustrated in FIG. 34 can be manufactured.

このように構造体41(絶縁層51及び配線61)と基板30とビア配線V1とを省略することにより、インダクタ90Bのインダクタンスを向上させることができる。
(第3実施形態)
次に、図39〜図45に従って第3実施形態を説明する。
Thus, by omitting the structure 41 (the insulating layer 51 and the wiring 61), the substrate 30, and the via wiring V1, the inductance of the inductor 90B can be improved.
(Third embodiment)
Next, a third embodiment will be described with reference to FIGS.

図39に示したインダクタ90Cの積層体23Cでは、図8(b)に示したインダクタ90から基板30が省略され、構造体41の絶縁層51上に接着層71を介して、構造体42が積層されている。詳述すると、最下層の配線61の上面に、貫通孔51Xを有する絶縁層51が積層され、その絶縁層51の上面に接着層71が積層されている。このとき、接着層71は、その一部が貫通孔51X内に形成され、貫通孔51Xの内側面を被覆するように形成されている。また、接着層71は、配線62及び金属層62Dの側面の一部を被覆するように形成されている。接着層71には、当該接着層71を厚さ方向に貫通して配線61の上面の一部を露出する貫通孔71Xが形成されている。貫通孔71Xは、接着層71の上面から貫通孔51X内に形成された接着層71の下面まで貫通するように形成されている。すなわち、貫通孔71Xは、その一部が貫通孔51X内に形成されている。換言すると、貫通孔51Xの平面形状は、貫通孔71Xの平面形状よりも大きく形成されている。   In the laminated body 23C of the inductor 90C shown in FIG. 39, the substrate 30 is omitted from the inductor 90 shown in FIG. 8B, and the structure 42 is formed on the insulating layer 51 of the structure 41 via the adhesive layer 71. Are stacked. More specifically, the insulating layer 51 having the through hole 51X is laminated on the upper surface of the lowermost wiring 61, and the adhesive layer 71 is laminated on the upper surface of the insulating layer 51. At this time, a part of the adhesive layer 71 is formed in the through hole 51X and is formed so as to cover the inner surface of the through hole 51X. The adhesive layer 71 is formed so as to cover part of the side surfaces of the wiring 62 and the metal layer 62D. A through hole 71 </ b> X is formed in the adhesive layer 71 so as to penetrate the adhesive layer 71 in the thickness direction and expose a part of the upper surface of the wiring 61. The through hole 71X is formed to penetrate from the upper surface of the adhesive layer 71 to the lower surface of the adhesive layer 71 formed in the through hole 51X. That is, a part of the through hole 71X is formed in the through hole 51X. In other words, the planar shape of the through hole 51X is formed larger than the planar shape of the through hole 71X.

接着層71の上面には、貫通孔71Xと連通する貫通孔62Xを有する配線62が積層されている。配線62の上面及び接着層71の上面には絶縁層52が積層されている。絶縁層52には、当該絶縁層52を厚さ方向に貫通して、貫通孔62X,71Xと連通する貫通孔52Xが形成されている。貫通孔52Xは、貫通孔62Xの周囲に位置する配線62の上面を露出するように形成されている。すなわち、貫通孔52Xの平面形状は、貫通孔62X,71Xの平面形状よりも大きく形成されている。   A wiring 62 having a through hole 62X communicating with the through hole 71X is laminated on the upper surface of the adhesive layer 71. An insulating layer 52 is laminated on the upper surface of the wiring 62 and the upper surface of the adhesive layer 71. The insulating layer 52 has a through hole 52X that penetrates the insulating layer 52 in the thickness direction and communicates with the through holes 62X and 71X. The through hole 52X is formed so as to expose the upper surface of the wiring 62 positioned around the through hole 62X. That is, the planar shape of the through hole 52X is larger than the planar shape of the through holes 62X and 71X.

連通する貫通孔52X,62X,71X内には、ビア配線V2が形成されている。ビア配線V2は、貫通孔71Xから露出する配線61上に形成され、貫通孔52X,62X,71Xを全て充填するように形成されている。そして、配線61と配線62とが、ビア配線V2を介して直列に接続されている。   A via wiring V2 is formed in the communicating through holes 52X, 62X, 71X. The via wiring V2 is formed on the wiring 61 exposed from the through hole 71X, and is formed so as to fill all the through holes 52X, 62X, 71X. The wiring 61 and the wiring 62 are connected in series via the via wiring V2.

また、本例のコイル基板20では、図8(b)に示した積層体23の表面全面を被覆する絶縁膜25の代わりに、積層体23Cの表面の一部のみを被覆する絶縁膜25Cが形成されている。具体的には、絶縁膜25Cは、積層体23Cの表面に露出された導電体の表面(露出部)を被覆するように形成されている。より具体的には、絶縁膜25Cは、貫通孔23Xの内壁面に露出された配線62〜67の側面と、積層体23Cの外壁面に露出された配線62〜67の側面と、最下層の配線61の側面及び下面と、最上層のビア配線V7,V8(図39では、ビア配線V7のみを図示)の上面とを被覆するように形成されている。各配線61〜67及び各ビア配線V7,V8を被覆する絶縁膜25Cは互いに分離されて形成されている。例えば、配線61の側面及び下面を被覆する絶縁膜25Cと、貫通孔23Xの内壁面に露出された配線62の側面を被覆する絶縁膜25Cとは互いに分離されて形成されている。このような絶縁膜25Cは、例えば、電着法(電着塗布法)により形成された電着樹脂からなる。電着樹脂の材料としては、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂やイミド系樹脂等の絶縁性樹脂を用いることができる。なお、配線61〜67及びビア配線V7,V8の周囲に形成された絶縁層51〜57及び接着層71〜76等の一部を被覆するように絶縁膜25Cを形成してもよい。   Further, in the coil substrate 20 of this example, an insulating film 25C that covers only a part of the surface of the multilayer body 23C is used instead of the insulating film 25 that covers the entire surface of the multilayer body 23 shown in FIG. 8B. Is formed. Specifically, the insulating film 25C is formed so as to cover the surface (exposed portion) of the conductor exposed on the surface of the multilayer body 23C. More specifically, the insulating film 25C includes the side surfaces of the wirings 62 to 67 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X, the side surfaces of the wirings 62 to 67 exposed on the outer wall surface of the stacked body 23C, and the bottom layer. The wiring 61 is formed so as to cover the side surface and the lower surface of the wiring 61 and the upper surface of the uppermost via wirings V7 and V8 (only the via wiring V7 is shown in FIG. 39). The insulating films 25C covering the wirings 61 to 67 and the via wirings V7 and V8 are formed separately from each other. For example, the insulating film 25C that covers the side surface and the lower surface of the wiring 61 and the insulating film 25C that covers the side surface of the wiring 62 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X are formed separately from each other. Such an insulating film 25C is made of, for example, an electrodeposition resin formed by an electrodeposition method (electrodeposition coating method). As a material for the electrodeposition resin, an insulating resin such as an epoxy resin, an acrylic resin, or an imide resin can be used. The insulating film 25C may be formed so as to cover a part of the insulating layers 51 to 57 and the adhesive layers 71 to 76 formed around the wirings 61 to 67 and the via wirings V7 and V8.

但し、積層体23Cの側面20A,20Bに露出された接続部61A,67Aの表面は、絶縁膜25Cから露出されている(つまり、絶縁膜25Cに被覆されていない)。
封止樹脂91は、接続部61A,67Aが露出する側面20A,20Bを除いてコイル基板20(積層体23C及び絶縁膜25C)を全体的に被覆するように形成されている。例えば、封止樹脂91は、各絶縁膜25Cの隙間を充填するように形成されている。換言すると、封止樹脂91は、絶縁層51〜57及び接着層71〜76の表面の一部を直接被覆するように形成されている。これにより、磁性体のフィラーを含有する封止樹脂91(例えば貫通孔23X内における封止樹脂91)の体積を増加させることができるため、インダクタ90Cのインダクタンスを向上させることができる。また、基板30を省略したことにより、インダクタ90C全体を薄型化することができる。
However, the surfaces of the connecting portions 61A and 67A exposed on the side surfaces 20A and 20B of the stacked body 23C are exposed from the insulating film 25C (that is, not covered with the insulating film 25C).
The sealing resin 91 is formed so as to entirely cover the coil substrate 20 (laminated body 23C and insulating film 25C) except for the side surfaces 20A and 20B from which the connecting portions 61A and 67A are exposed. For example, the sealing resin 91 is formed so as to fill the gaps between the insulating films 25C. In other words, the sealing resin 91 is formed so as to directly cover a part of the surfaces of the insulating layers 51 to 57 and the adhesive layers 71 to 76. Thereby, since the volume of the sealing resin 91 containing the magnetic filler (for example, the sealing resin 91 in the through hole 23X) can be increased, the inductance of the inductor 90C can be improved. Further, since the substrate 30 is omitted, the entire inductor 90C can be thinned.

本実施形態において、貫通孔23Xは第1貫通孔の一例、貫通孔52Yは第2貫通孔の一例、貫通孔72Xは第3貫通孔の一例、貫通孔63Xは第4貫通孔の一例、貫通孔53Xは第5貫通孔の一例、貫通孔62Xは第6貫通孔の一例、貫通孔52Xは第7貫通孔の一例、貫通孔71Xは第8貫通孔の一例、貫通孔51Xは第9貫通孔の一例である。配線62は第1配線の一例、配線63は第2配線の一例、配線61は第3配線の一例、絶縁層52は第1絶縁層の一例、絶縁層53は第2絶縁層の一例、絶縁層51は第3絶縁層の一例である。接着層72は第1接着層の一例、接着層71は第2接着層の一例、ビア配線V2〜V7は貫通電極の一例、ビア配線V3は第1貫通電極の一例、ビア配線V2は第2貫通電極の一例である。   In the present embodiment, the through hole 23X is an example of a first through hole, the through hole 52Y is an example of a second through hole, the through hole 72X is an example of a third through hole, the through hole 63X is an example of a fourth through hole, The hole 53X is an example of a fifth through hole, the through hole 62X is an example of a sixth through hole, the through hole 52X is an example of a seventh through hole, the through hole 71X is an example of an eighth through hole, and the through hole 51X is a ninth through hole. It is an example of a hole. The wiring 62 is an example of a first wiring, the wiring 63 is an example of a second wiring, the wiring 61 is an example of a third wiring, the insulating layer 52 is an example of a first insulating layer, the insulating layer 53 is an example of a second insulating layer, The layer 51 is an example of a third insulating layer. The adhesive layer 72 is an example of a first adhesive layer, the adhesive layer 71 is an example of a second adhesive layer, the via wirings V2 to V7 are examples of through electrodes, the via wiring V3 is an example of a first through electrode, and the via wiring V2 is a second one. It is an example of a penetration electrode.

次に、インダクタ90Cの製造方法の一例について説明する。
まず、図40(a)〜図40(c)に示す工程では、図9に示した基板100と同様の構造を有する支持フィルム101を準備する。すなわち、図40(a)及び図40(c)に示すように、複数の個別領域A1が設けられたブロック11と、そのブロック11の外側に張り出すように形成された外枠13とを有する支持フィルム101を準備する。支持フィルム101としては、例えば、リール状の可撓性を有する絶縁樹脂フィルムを用いることができる。支持フィルム101としては、例えば、ポリフェニレンサルファイド、ポリイミドフィルムやポリエチレンナフタレートフィルムを用いることができる。支持フィルム101の厚さは、例えば、12〜50μm程度とすることができる。
Next, an example of a method for manufacturing the inductor 90C will be described.
First, in the steps shown in FIGS. 40A to 40C, a support film 101 having the same structure as the substrate 100 shown in FIG. 9 is prepared. That is, as shown in FIGS. 40 (a) and 40 (c), it has a block 11 provided with a plurality of individual regions A1 and an outer frame 13 formed so as to protrude outside the block 11. A support film 101 is prepared. As the support film 101, for example, a reel-like flexible insulating resin film can be used. As the support film 101, for example, polyphenylene sulfide, polyimide film, or polyethylene naphthalate film can be used. The thickness of the support film 101 can be about 12-50 micrometers, for example.

次に、図10に示した工程と同様に、外枠13を除く領域(つまり、ブロック11)に位置する支持フィルム101の下面101Aに、半硬化状態の絶縁層51を積層する。続いて、図40(a)及び図40(b)に示すように、プレス加工法やレーザ加工法により、支持フィルム101及び絶縁層51を厚さ方向に貫通する貫通孔51Xを形成する。なお、本工程と同時、もしくは絶縁層51を積層する前に、外枠13に位置する支持フィルム101にスプロケットホール101Xを形成する。   Next, as in the step shown in FIG. 10, the semi-cured insulating layer 51 is laminated on the lower surface 101 </ b> A of the support film 101 located in the region excluding the outer frame 13 (that is, the block 11). Subsequently, as shown in FIGS. 40A and 40B, through-holes 51X penetrating the support film 101 and the insulating layer 51 in the thickness direction are formed by a press working method or a laser working method. Note that the sprocket hole 101X is formed in the support film 101 located on the outer frame 13 simultaneously with this step or before the insulating layer 51 is laminated.

次いで、図41(a)に示す工程では、半硬化状態の絶縁層51の下面に、金属箔161を積層する。金属箔161は、例えば、絶縁層51の下面全面を被覆するように形成される。例えば、半硬化状態の絶縁層51の下面に、金属箔161を熱圧着によりラミネートする。その後、半硬化状態の絶縁層51を150℃程度の温度雰囲気でキュアを行うことにより硬化させる。   Next, in the step shown in FIG. 41A, a metal foil 161 is laminated on the lower surface of the semi-cured insulating layer 51. The metal foil 161 is formed so as to cover the entire lower surface of the insulating layer 51, for example. For example, the metal foil 161 is laminated on the lower surface of the semi-cured insulating layer 51 by thermocompression bonding. Thereafter, the semi-cured insulating layer 51 is cured by curing in a temperature atmosphere of about 150 ° C.

次に、図11(b)及び図11(c)に示した工程と同様に、金属箔161をサブトラクティブ法等によりパターニングする。具体的には、図41(b)及び図41(c)に示すように、各個別領域A1に位置する絶縁層51の下面に、金属層61Eを形成し、金属層61Eの一端部に接続部61Aを形成するとともに、ダミーパターンである金属層61Dを形成する。これにより、支持フィルム101の下面101Aに、絶縁層51、金属層61E及び接続部61Aを有する構造体41が積層される。また、本工程では、図41(c)に示すように、連結部12に位置する絶縁層51の下面に、接続部61A及び金属層61Dと接続される金属層81を形成する。換言すると、本工程では、図41(a)に示した金属箔161をパターニングして、開口部201Y及び溝部61Y,61Zを形成する。なお、図41(c)では、開口部201Y及び溝部61Y,61Zから露出する絶縁層51を梨地模様で示している。   Next, similarly to the steps shown in FIGS. 11B and 11C, the metal foil 161 is patterned by a subtractive method or the like. Specifically, as shown in FIGS. 41B and 41C, a metal layer 61E is formed on the lower surface of the insulating layer 51 located in each individual region A1, and is connected to one end of the metal layer 61E. A portion 61A is formed, and a metal layer 61D that is a dummy pattern is formed. Thereby, the structure 41 having the insulating layer 51, the metal layer 61E, and the connection portion 61A is laminated on the lower surface 101A of the support film 101. In this step, as shown in FIG. 41C, a metal layer 81 connected to the connecting portion 61A and the metal layer 61D is formed on the lower surface of the insulating layer 51 located in the connecting portion 12. In other words, in this step, the metal foil 161 shown in FIG. 41A is patterned to form the opening 201Y and the grooves 61Y and 61Z. In FIG. 41C, the insulating layer 51 exposed from the opening 201Y and the grooves 61Y and 61Z is shown in a satin pattern.

続いて、図42(a)に示す工程では、図41(b)に示した支持フィルム101を絶縁層51から除去する。例えば、絶縁層51から支持フィルム101を機械的に剥離する。   Subsequently, in the step shown in FIG. 42A, the support film 101 shown in FIG. 41B is removed from the insulating layer 51. For example, the support film 101 is mechanically peeled from the insulating layer 51.

次いで、図42(b)に示す工程では、図12に示した工程と同様に、支持フィルム102の下面102Aに、貫通孔52X,52Yを有する絶縁層52と、金属層62D,62E,82を有する金属箔とを順に積層した構造体を準備する。続いて、図13(a)に示した工程と同様に、絶縁層52の下面に、金属層62D,62E,82の表面全面を被覆する半硬化状態の接着層71を積層する。   Next, in the step shown in FIG. 42B, as in the step shown in FIG. 12, the insulating layer 52 having the through holes 52X and 52Y and the metal layers 62D, 62E, and 82 are formed on the lower surface 102A of the support film 102. The structure which laminated | stacked the metal foil which has in order is prepared. Subsequently, as in the process shown in FIG. 13A, a semi-cured adhesive layer 71 that covers the entire surface of the metal layers 62 </ b> D, 62 </ b> E, 82 is laminated on the lower surface of the insulating layer 52.

次に、図42(c)に示す工程では、図13(b)に示した工程と同様に、貫通孔52Xから露出された金属層62Eに貫通孔62Xを形成するとともに、接着層71に、貫通孔62Xと連通する貫通孔71Xを形成する。その後、貫通孔62X,71Xが形成された構造体を、接着層71を下側に向けた状態で、図42(a)に示した構造体41の上方に配置する。これにより、接着層71の下面と絶縁層51の上面とが対向配置される。   Next, in the step shown in FIG. 42C, as in the step shown in FIG. 13B, the through hole 62X is formed in the metal layer 62E exposed from the through hole 52X, and in the adhesive layer 71, A through hole 71X communicating with the through hole 62X is formed. Thereafter, the structure in which the through holes 62X and 71X are formed is disposed above the structure 41 shown in FIG. 42A with the adhesive layer 71 facing downward. Thereby, the lower surface of the adhesive layer 71 and the upper surface of the insulating layer 51 are arranged to face each other.

続いて、図42(d)に示す工程では、絶縁層51の上面に接着層71を介して構造体42を積層する。すなわち、構造体41と構造体42とを接着層71を介して対向配置し、支持フィルム102が外側に配置されるように、構造体42を絶縁層51の上面に積層する。例えば、図42(c)に示した2つの構造体を、真空プレス等により上下両面から加熱・加圧する。すると、半硬化状態の接着層71は、金属層62Eの下面と絶縁層51の上面とによってそれぞれ押圧されて平面方向に広がる。これにより、接着層71の一部が貫通孔51X内に広がり、その広がった接着層71によって、貫通孔51Xの内側面が被覆される。このため、貫通孔71Xの一部が貫通孔51X内に形成される。   Subsequently, in the step illustrated in FIG. 42D, the structure 42 is stacked on the upper surface of the insulating layer 51 with the adhesive layer 71 interposed therebetween. That is, the structure 41 and the structure 42 are disposed to face each other with the adhesive layer 71 interposed therebetween, and the structure 42 is stacked on the upper surface of the insulating layer 51 so that the support film 102 is disposed on the outside. For example, the two structures shown in FIG. 42C are heated and pressurized from both the upper and lower surfaces by a vacuum press or the like. Then, the semi-cured adhesive layer 71 is pressed by the lower surface of the metal layer 62E and the upper surface of the insulating layer 51, and spreads in the planar direction. As a result, a part of the adhesive layer 71 extends into the through hole 51X, and the expanded adhesive layer 71 covers the inner surface of the through hole 51X. For this reason, a part of through-hole 71X is formed in the through-hole 51X.

次いで、接着層71を硬化させる。このとき、貫通孔71Xと、貫通孔62Xと、貫通孔52Xとが連通する。このため、貫通孔71Xの底部には、金属層61Eの上面の一部が露出される。その後、支持フィルム102を絶縁層52から除去する。   Next, the adhesive layer 71 is cured. At this time, the through hole 71X, the through hole 62X, and the through hole 52X communicate with each other. Therefore, a part of the upper surface of the metal layer 61E is exposed at the bottom of the through hole 71X. Thereafter, the support film 102 is removed from the insulating layer 52.

次に、図43(a)に示す工程では、貫通孔71Xの底部に露出する金属層61Eの上面に、貫通孔71X,62X,52Xを充填するビア配線V2を形成する。これにより、ビア配線V2を介して、金属層61Eと金属層62Eとが直列に接続される。ビア配線V2は、例えば、金属層81及び金属層61Eを給電層に利用する電解めっき法や金属ペーストの充填等の方法により形成することができる。   Next, in the step shown in FIG. 43A, via wiring V2 filling the through holes 71X, 62X, and 52X is formed on the upper surface of the metal layer 61E exposed at the bottom of the through hole 71X. Thereby, the metal layer 61E and the metal layer 62E are connected in series via the via wiring V2. The via wiring V2 can be formed by, for example, an electrolytic plating method using the metal layer 81 and the metal layer 61E as a power feeding layer or a method such as filling with a metal paste.

以上説明した製造工程により、構造体41と構造体42とが積層された積層体において、金属層61Eと、ビア配線V2と、金属層62Eとが直列に接続される。
続いて、図43(b)に示す工程では、図15〜図25に示した工程と同様に、構造体42上に、構造体43〜47を積層する。以上の製造工程により、各個別領域A1に、複数の構造体41〜47が順に積層された積層体23Cを製造することができる。
Through the manufacturing process described above, in the stacked body in which the structure 41 and the structure 42 are stacked, the metal layer 61E, the via wiring V2, and the metal layer 62E are connected in series.
Subsequently, in the step illustrated in FIG. 43B, the structures 43 to 47 are stacked on the structure 42 as in the steps illustrated in FIGS. 15 to 25. Through the above manufacturing process, it is possible to manufacture a stacked body 23C in which a plurality of structures 41 to 47 are sequentially stacked in each individual region A1.

次いで、図44(a)及び図44(b)に示す工程では、図26〜図28に示した工程と同様に、各層に形成された金属層61E〜67E(図43(b)参照)を型抜き等により成形し、螺旋状のコイルの一部を構成する形状の配線61〜67に加工する。図44(a)に示すように、本工程により、積層体23Cの略中央部に貫通孔23Xが形成される。この貫通孔23Xの形成により、その貫通孔23Xの内壁面から配線61〜67の各々の一部が露出される。また、図44(b)に示すように、各個別領域A1の所要箇所に開口部20Yが形成され、積層体23Cの外形が略長方形状に成形される。この開口部20Yの形成により、積層体23Cの外壁面(側壁)からも配線61〜67の各々の一部が露出される。なお、図44(b)は、図41(c)における44b−44b線に対応する位置におけるコイル基板の断面図を示している。   Next, in the steps shown in FIGS. 44A and 44B, similarly to the steps shown in FIGS. 26 to 28, the metal layers 61E to 67E (see FIG. 43B) formed in the respective layers. Molded by die cutting or the like, and processed into wirings 61 to 67 having a shape constituting a part of a spiral coil. As shown in FIG. 44A, through this step, a through hole 23X is formed at a substantially central portion of the laminate 23C. By forming the through hole 23X, a part of each of the wirings 61 to 67 is exposed from the inner wall surface of the through hole 23X. As shown in FIG. 44 (b), an opening 20Y is formed at a required portion of each individual area A1, and the outer shape of the laminated body 23C is formed into a substantially rectangular shape. By forming the opening 20Y, a part of each of the wirings 61 to 67 is also exposed from the outer wall surface (side wall) of the stacked body 23C. FIG. 44 (b) shows a cross-sectional view of the coil substrate at a position corresponding to the line 44b-44b in FIG. 41 (c).

続いて、図45(a)及び図45(b)に示す工程では、電着法により、積層体23Cの表面に露出された配線61〜67及びビア配線V7,V8の表面を被覆する絶縁膜25Cを形成する。具体的には、貫通孔23Xの内壁面に露出された配線62〜67の端面と、積層体23Cの外壁面に露出された配線62〜67の端面と、配線61の下面及び側面と、ビア配線V7,V8の上面とを被覆する絶縁膜25Cを形成する。このとき、絶縁膜25Cを電着法により形成したため、絶縁膜25Cの厚さを容易に制御できる。これにより、絶縁膜25Cをできる限り薄く形成することができる。さらに、電着法を用いることにより、配線61〜67及びビア配線V7,V8に対して選択的に絶縁膜25Cを精度良く被膜させることができる。これにより、絶縁膜25Cの形成領域を必要最小限とすることができ、絶縁膜25C中にボイドが発生することを好適に抑制することができる。なお、図45(b)は、図41(c)における44b−44b線に対応する位置におけるコイル基板の断面図を示している。   Subsequently, in the steps shown in FIGS. 45A and 45B, an insulating film that covers the surfaces of the wirings 61 to 67 and the via wirings V7 and V8 exposed on the surface of the stacked body 23C by electrodeposition. 25C is formed. Specifically, the end surfaces of the wirings 62 to 67 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X, the end surfaces of the wirings 62 to 67 exposed on the outer wall surface of the stacked body 23C, the lower surface and side surfaces of the wiring 61, and vias. An insulating film 25C that covers the upper surfaces of the wirings V7 and V8 is formed. At this time, since the insulating film 25C is formed by the electrodeposition method, the thickness of the insulating film 25C can be easily controlled. Thereby, the insulating film 25C can be formed as thin as possible. Furthermore, by using the electrodeposition method, the insulating film 25C can be selectively coated on the wirings 61 to 67 and the via wirings V7 and V8 with high accuracy. As a result, the formation region of the insulating film 25C can be minimized, and generation of voids in the insulating film 25C can be suitably suppressed. FIG. 45 (b) shows a cross-sectional view of the coil substrate at a position corresponding to the line 44b-44b in FIG. 41 (c).

その後、図30(b)〜図31(b)に示した工程と同様の工程を実施することにより、図39に示したインダクタ90Cを製造することができる。このとき、絶縁膜25Cが薄く形成されているため、封止樹脂91を配線61〜67に近接させて形成することができるとともに、封止樹脂91の体積を増加させることができる。これにより、インダクタ90Cのインダクタンスを向上させることができる。   Thereafter, the inductor 90C shown in FIG. 39 can be manufactured by performing the same process as that shown in FIGS. 30 (b) to 31 (b). At this time, since the insulating film 25C is formed thin, the sealing resin 91 can be formed close to the wirings 61 to 67, and the volume of the sealing resin 91 can be increased. Thereby, the inductance of the inductor 90C can be improved.

(第3実施形態の変形例)
・上記第3実施形態のインダクタ90Cでは、図33に示したインダクタ90Aの絶縁膜25を絶縁膜25Cに変更したが、その他のインダクタ90,90Bについても同様に変形することができる。
(Modification of the third embodiment)
In the inductor 90C of the third embodiment, the insulating film 25 of the inductor 90A shown in FIG. 33 is changed to the insulating film 25C, but the other inductors 90 and 90B can be similarly modified.

例えば図46に示すように、図8(b)に示したインダクタ90の絶縁膜25を、積層体23の表面に露出された配線61〜67及びビア配線V7等の導電体の表面を被覆する絶縁膜25Cに変更してもよい。   For example, as shown in FIG. 46, the insulating film 25 of the inductor 90 shown in FIG. 8B covers the surface of the conductor such as the wirings 61 to 67 and the via wiring V7 exposed on the surface of the multilayer body 23. The insulating film 25C may be changed.

また、図47に示すように、図34に示したインダクタ90Bの絶縁膜25を、積層体23Bの表面に露出された配線62〜67及びビア配線V2,V7等の導電体の表面を被覆する絶縁膜25Cに変更してもよい。このときの絶縁膜25Cは、ビア配線V2の下面を被覆するように形成される。   Further, as shown in FIG. 47, the insulating film 25 of the inductor 90B shown in FIG. 34 covers the surfaces of the conductors such as the wirings 62 to 67 and the via wirings V2 and V7 exposed on the surface of the multilayer body 23B. The insulating film 25C may be changed. The insulating film 25C at this time is formed so as to cover the lower surface of the via wiring V2.

なお、図示は省略するが、図32に示したインダクタ90についても同様に、絶縁膜25を絶縁膜25Cに変更してもよい。
(第4実施形態)
次に、図48〜図51に従って第4実施形態を説明する。
Although illustration is omitted, the insulating film 25 may be similarly changed to the insulating film 25C in the inductor 90 shown in FIG.
(Fourth embodiment)
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS.

図48及び図49に示した積層体23Dでは、貫通孔23Xの内壁面に、ビア配線V2〜V7(図48では、ビア配線V2,V3,V6,V7のみ図示)の一部が露出されている。図49に示すように、本例の積層体23Dでは、例えば、図2に示した積層体23よりも貫通孔23Xの平面形状が大きく形成されている。図49に示した例では、貫通孔23Xによって、平面視略円形状に形成されたビア配線V2〜V8の略1/4円に相当する部分が切り欠かれている。すなわち、貫通孔23Xによって、ビア配線V2〜V8の一部が積層方向に切断されている。これにより、ビア配線V2〜V8の切断面が貫通孔23Xの内壁面に露出されている。例えば図48に示すように、絶縁層51,52と配線62と接着層71とを厚さ方向に貫通するビア配線V2の切断面(端面)が貫通孔23Xの内壁面に露出されている。具体的には、配線61の上面から接着層72の下面までのビア配線V2の切断面(端面)が貫通孔23Xの内壁面に露出されている。換言すると、貫通孔51X,52X,62X,71Xは、貫通孔23Xに連通して形成されている。また、貫通孔23Xの内壁面に露出されたビア配線V2の直下には、配線61が設けられている。すなわち、貫通孔23Xの内壁面には、ビア配線V2の端面と、そのビア配線V2の直下に形成された配線61の端面とが積層方向に連続して露出されている。なお、その他のビア配線V3〜V8及び配線62〜67も同様に、ビア配線V2及び配線61と同様の態様で、貫通孔23Xの内壁面に露出されている。   In the stacked body 23D shown in FIGS. 48 and 49, a part of the via wirings V2 to V7 (only the via wirings V2, V3, V6, and V7 are shown in FIG. 48) are exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. Yes. As shown in FIG. 49, in the laminated body 23D of this example, the planar shape of the through hole 23X is formed larger than, for example, the laminated body 23 shown in FIG. In the example shown in FIG. 49, a portion corresponding to approximately ¼ circle of the via wirings V2 to V8 formed in a substantially circular shape in plan view is cut out by the through hole 23X. That is, a part of the via wirings V2 to V8 is cut in the stacking direction by the through hole 23X. Thereby, the cut surfaces of the via wirings V2 to V8 are exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. For example, as shown in FIG. 48, the cut surface (end surface) of the via wiring V2 that penetrates the insulating layers 51 and 52, the wiring 62, and the adhesive layer 71 in the thickness direction is exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. Specifically, a cut surface (end surface) of the via wiring V2 from the upper surface of the wiring 61 to the lower surface of the adhesive layer 72 is exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. In other words, the through holes 51X, 52X, 62X, 71X are formed in communication with the through hole 23X. A wiring 61 is provided directly below the via wiring V2 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. That is, the end surface of the via wiring V2 and the end surface of the wiring 61 formed immediately below the via wiring V2 are continuously exposed in the stacking direction on the inner wall surface of the through hole 23X. The other via wirings V3 to V8 and the wirings 62 to 67 are also exposed on the inner wall surface of the through hole 23X in the same manner as the via wiring V2 and the wiring 61.

本例のコイル基板20では、積層体23Dの表面に露出された導電体の表面を被覆する絶縁膜25Dが形成されている。絶縁膜25Dは、貫通孔23Xの内壁面に露出された配線62〜67の端面及びビア配線V2〜V8の端面と、積層体23Dの外壁面に露出された配線62〜67の端面と、最下層の配線61の下面及び側面と、最上層のビア配線V7,V8(図48では、ビア配線V7のみ図示)を被覆するように形成されている。各配線61〜67及び各ビア配線V2〜V8を被覆する絶縁膜25Dは互いに分離されて形成されている。但し、一部の絶縁膜25Dは、貫通孔23Xの内壁面に連続して露出された配線61〜67及びビア配線V2〜V8を連続して被覆するように形成されている。なお、絶縁膜25Dは、例えば、電着法により形成された電着樹脂からなる。   In the coil substrate 20 of this example, an insulating film 25D that covers the surface of the conductor exposed on the surface of the multilayer body 23D is formed. The insulating film 25D includes end surfaces of the wirings 62 to 67 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X and end surfaces of the via wirings V2 to V8, an end surface of the wirings 62 to 67 exposed on the outer wall surface of the stacked body 23D, and The lower wiring 61 is formed so as to cover the lower surface and side surfaces of the lower wiring 61 and the uppermost via wirings V7 and V8 (only the via wiring V7 is shown in FIG. 48). The insulating films 25D covering the wirings 61 to 67 and the via wirings V2 to V8 are formed separately from each other. However, a part of the insulating film 25D is formed so as to continuously cover the wirings 61 to 67 and the via wirings V2 to V8 exposed continuously on the inner wall surface of the through hole 23X. The insulating film 25D is made of, for example, an electrodeposition resin formed by an electrodeposition method.

積層体23Dを有するインダクタ90Dでは、貫通孔23Xの平面形状を大きく形成することができるため、貫通孔23X内に形成される封止樹脂91の体積を増加させることができる。これにより、磁性体のフィラーを含有する封止樹脂91の体積が増加するため、インダクタ90Dのインダクタンスを向上させることができる。   In the inductor 90D having the multilayer body 23D, since the planar shape of the through hole 23X can be formed large, the volume of the sealing resin 91 formed in the through hole 23X can be increased. Thereby, since the volume of the sealing resin 91 containing the magnetic filler increases, the inductance of the inductor 90D can be improved.

次に、インダクタ90Dの製造方法の一例について説明する。
まず、図50(a)に示す工程では、図40(a)〜図43(b)に示した工程と同様に、複数の構造体41〜47が順に積層された積層体23Dを製造する。
Next, an example of a method for manufacturing the inductor 90D will be described.
First, in the step shown in FIG. 50A, a stacked body 23D in which a plurality of structures 41 to 47 are sequentially stacked is manufactured in the same manner as the steps shown in FIGS. 40A to 43B.

次いで、図50(b)に示す工程では、図26〜図28に示した工程と同様に、各層に形成された金属層61E〜67E(図50(a)参照)を型抜き等により成形し、螺旋状のコイルの一部を構成する形状の配線61〜67に加工する。本工程では、積層体23Dの略中央部であって、ビア配線V2〜V8(図50(b)では、ビア配線V2,V3,V6,V7のみ図示)の一部と平面視で重なる位置に貫通孔23Xが形成される。この貫通孔23Xの形成により、その貫通孔23Xの内壁面から配線61〜67及びビア配線V2〜V8の各々の一部が露出される。すなわち、貫通孔23Xによりビア配線V2〜V8の一部が積層方向に切断され、それらビア配線V2〜V8の切断面が貫通孔23Xの内壁面から露出される。また、図51(a)に示すように、本工程では、各個別領域A1の所要箇所に開口部20Yが形成され、積層体23Dの外形が略長方形状に成形される。この開口部20Yの形成により、積層体23Dの外壁面から配線61〜67(図51(a)では、配線67のみ図示)の各々の一部が露出される。   Next, in the step shown in FIG. 50 (b), the metal layers 61E to 67E (see FIG. 50 (a)) formed in each layer are formed by die cutting or the like, as in the steps shown in FIGS. Then, the wirings 61 to 67 having a shape constituting a part of the spiral coil are processed. In this step, in the substantially central portion of the stacked body 23D, the via wirings V2 to V8 (only the via wirings V2, V3, V6, and V7 are shown in FIG. 50B) are overlapped in plan view. A through hole 23X is formed. By forming the through hole 23X, a part of each of the wirings 61 to 67 and the via wirings V2 to V8 is exposed from the inner wall surface of the through hole 23X. That is, a part of the via wirings V2 to V8 is cut in the stacking direction by the through hole 23X, and the cut surfaces of the via wirings V2 to V8 are exposed from the inner wall surface of the through hole 23X. In addition, as shown in FIG. 51A, in this step, openings 20Y are formed at required locations in the individual regions A1, and the outer shape of the stacked body 23D is formed into a substantially rectangular shape. By forming the opening 20Y, a part of each of the wirings 61 to 67 (only the wiring 67 is shown in FIG. 51A) is exposed from the outer wall surface of the stacked body 23D.

続いて、図51(b)に示す工程では、電着法により、積層体23Dの表面に露出された導電体の表面を被覆する絶縁膜25Dを形成する。具体的には、貫通孔23Xの内壁面に露出された配線62〜67及びビア配線V2〜V8の端面と、積層体23Dの外壁面に露出された配線62〜67の端面と、配線61の下面及び側面と、ビア配線V7,V8(図51(b)では、ビア配線V7のみ図示)の上面とを被覆する絶縁膜25Dを形成する。このとき、絶縁膜25Dを電着法により形成したため、絶縁膜25Dの厚さを容易に制御できる。さらに、電着法を採用したことにより、絶縁膜25Dの形成領域が広がっても、絶縁膜25D中にボイドが発生することを好適に抑制することができる。なお、図51(b)は、図51(a)における51b−51b線に対応する位置におけるコイル基板の断面図を示している。   Subsequently, in the step shown in FIG. 51B, an insulating film 25D that covers the surface of the conductor exposed on the surface of the multilayer body 23D is formed by electrodeposition. Specifically, the end surfaces of the wirings 62 to 67 and the via wirings V2 to V8 exposed on the inner wall surface of the through hole 23X, the end surfaces of the wirings 62 to 67 exposed on the outer wall surface of the stacked body 23D, and the wiring 61 An insulating film 25D is formed to cover the lower and side surfaces and the upper surfaces of the via wirings V7 and V8 (only the via wiring V7 is shown in FIG. 51B). At this time, since the insulating film 25D is formed by the electrodeposition method, the thickness of the insulating film 25D can be easily controlled. Furthermore, by employing the electrodeposition method, it is possible to suitably suppress the generation of voids in the insulating film 25D even when the formation region of the insulating film 25D is widened. FIG. 51 (b) shows a cross-sectional view of the coil substrate at a position corresponding to the line 51b-51b in FIG. 51 (a).

その後、図30(b)〜図31(b)に示した工程と同様の工程を実施することにより、図48に示したインダクタ90Dを製造することができる。
(第4実施形態の変形例)
・上記第4実施形態のインダクタ90Dでは、図39に示したインダクタ90Cの貫通孔23Xの平面形状を大きく形成してビア配線V2〜V8の一部を貫通孔23Xの内壁面に露出するようにしたが、その他のインダクタ90,90Bについても同様に変形することができる。
Thereafter, the same process as that shown in FIGS. 30B to 31B is performed, whereby the inductor 90D shown in FIG. 48 can be manufactured.
(Modification of the fourth embodiment)
In the inductor 90D of the fourth embodiment, the planar shape of the through hole 23X of the inductor 90C shown in FIG. 39 is formed large so that part of the via wirings V2 to V8 is exposed on the inner wall surface of the through hole 23X. However, the other inductors 90 and 90B can be similarly modified.

例えば図52に示すように、図46に示したインダクタ90におけるビア配線V1〜V8(図52では、ビア配線V1〜V3,V6,V7のみ図示)の一部を貫通孔23Xの内壁面に露出させるようにしてもよい。   For example, as shown in FIG. 52, a part of the via wirings V1 to V8 (only the via wirings V1 to V3, V6, and V7 are shown in FIG. 52) in the inductor 90 shown in FIG. 46 are exposed to the inner wall surface of the through hole 23X. You may make it make it.

また、図53に示すように、図47に示したインダクタ90Bにおけるビア配線V2〜V8(図53では、ビア配線V2,V3,V6,V7のみ図示)の一部を貫通孔23Xの内壁面に露出させるようにしてもよい。   As shown in FIG. 53, a part of via wirings V2 to V8 (only the via wirings V2, V3, V6, and V7 are shown in FIG. 53) in the inductor 90B shown in FIG. 47 are formed on the inner wall surface of the through hole 23X. You may make it expose.

・図48、図52及び図53に示したインダクタ90D,90,90Bにおいて、開口部20Yを、ビア配線V1〜V8の一部と平面視で重なる位置に形成するようにしてもよい。すなわち、図48、図52及び図53に示したインダクタ90D,90,90Bにおいて、積層体23D,23,23Bの外壁面にビア配線V1〜V7の断面(端面)を露出するようにしてもよい。これにより、インダクタ90D,90,90Bの小型化に貢献することができる。   In the inductors 90D, 90, and 90B shown in FIGS. 48, 52, and 53, the opening 20Y may be formed at a position that overlaps part of the via wirings V1 to V8 in plan view. That is, in the inductors 90D, 90, and 90B shown in FIGS. 48, 52, and 53, the cross sections (end faces) of the via wirings V1 to V7 may be exposed on the outer wall surfaces of the multilayer bodies 23D, 23, and 23B. . Thereby, it can contribute to size reduction of inductor 90D, 90, 90B.

・図48、図52及び図53に示したインダクタ90D,90,90Bにおける絶縁膜25Dを、積層体23D,23,23Bの表面全面を被覆する絶縁膜25に変更してもよい。   The insulating film 25D in the inductors 90D, 90, and 90B shown in FIGS. 48, 52, and 53 may be changed to the insulating film 25 that covers the entire surface of the multilayer bodies 23D, 23, and 23B.

(他の実施形態)
なお、上記各実施形態は、これを適宜変更した以下の態様にて実施することもできる。
・上記各実施形態及び上記各変形例における金属層81〜87の形成を省略してもよい。
(Other embodiments)
In addition, each said embodiment can also be implemented in the following aspects which changed this suitably.
-You may abbreviate | omit formation of the metal layers 81-87 in each said embodiment and said each modification.

・上記各実施形態及び上記各変形例における金属層61D〜67D(ダミーパターン)の形成を省略してもよい。
・上記第1及び第2実施形態における絶縁膜25及び上記第4実施形態における絶縁膜25Dを省略してもよい。例えば、封止樹脂91が磁性体を含有しない場合には、コイル基板20を被覆する絶縁膜25が不要となるため、その絶縁膜25を省略してもよい。なお、この場合には、封止樹脂91が短絡の原因となる磁性体を含有していないため、コイル基板20上に直接、封止樹脂91を形成することができる。
-You may abbreviate | omit formation of the metal layers 61D-67D (dummy pattern) in said each embodiment and said each modification.
The insulating film 25 in the first and second embodiments and the insulating film 25D in the fourth embodiment may be omitted. For example, when the sealing resin 91 does not contain a magnetic material, the insulating film 25 that covers the coil substrate 20 becomes unnecessary, and therefore the insulating film 25 may be omitted. In this case, since the sealing resin 91 does not contain a magnetic substance that causes a short circuit, the sealing resin 91 can be formed directly on the coil substrate 20.

・上記第1実施形態における絶縁層51を省略してもよい。この場合には、基板30と配線61との密着性を向上させるために、基板30の下面30Aに対してプラズマ処理等の表面処理を施すことが好ましい。なお、この場合であっても、配線61と配線62との間の絶縁は基板30によって十分に確保することが可能である。   The insulating layer 51 in the first embodiment may be omitted. In this case, in order to improve the adhesion between the substrate 30 and the wiring 61, it is preferable to subject the lower surface 30A of the substrate 30 to a surface treatment such as a plasma treatment. Even in this case, the insulation between the wiring 61 and the wiring 62 can be sufficiently secured by the substrate 30.

・上記各実施形態及び上記各変形例において、1つの構造体41〜47に形成する配線の巻き数は任意に組み合わせることができる。上記実施形態のように、約1巻きの配線と約3/4巻きの配線を組み合わせてもよいし、約1巻きの配線と約1/2巻きの配線を組み合わせてもよい。約3/4巻きの配線を用いた場合には、4種類のパターン(上記実施形態の例では、配線62,63,64,65)の配線が必要となる一方で、約1/2巻きの配線を用いる場合には、2種類のパターンの配線のみで構成することができる。   -In each said embodiment and said each modification, the winding number of the wiring formed in one structure 41-47 can be combined arbitrarily. As in the above embodiment, about 1 turn of wiring and about 3/4 turn of wiring may be combined, or about 1 turn of wiring and about 1/2 turn of wiring may be combined. When about 3/4 turns of wiring is used, 4 types of patterns (in the example of the above embodiment, wirings 62, 63, 64, 65) are required, while about 1/2 turns are required. When wiring is used, it can be configured with only two types of wiring patterns.

10 コイル基板
11 ブロック
12 連結部
13 外枠
13X スプロケットホール
20 コイル基板
20X 貫通孔
23,23A〜23D 積層体
23X 貫通孔
25,25C,25D 絶縁膜
30 基板
41〜47 構造体
51〜57 絶縁層
52X〜57X,52Y〜56Y 貫通孔
61〜67 配線
61A,67A 接続部
61Y,61Z 溝部
61E〜67E 金属層
62X〜67X 貫通孔
71〜76 接着層
72X〜76X 貫通孔
90,90A〜90D インダクタ
91 封止樹脂
92,93 電極
101〜107 支持フィルム
V1〜V8 ビア配線
A1 個別領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Coil board | substrate 11 Block 12 Connection part 13 Outer frame 13X Sprocket hole 20 Coil board | substrate 20X Through-hole 23,23A-23D Laminate 23X Through-hole 25,25C, 25D Insulating film 30 Substrate 41-47 Structure 51-57 Insulating layer 52X 57X, 52Y-56Y Through-hole 61-67 Wiring 61A, 67A Connection 61Y, 61Z Groove 61E-67E Metal layer 62X-67X Through-hole 71-76 Adhesive layer 72X-76X Through-hole 90, 90A-90D Inductor 91 Sealing Resin 92,93 Electrode 101-107 Support film V1-V8 Via wiring A1 Individual area

Claims (13)

コイルの一部となる配線と、前記配線上に形成された絶縁層とを有する構造体を複数積層した積層体と、
前記積層体を厚さ方向に貫通する第1貫通孔と、
前記積層体の表面に露出された前記配線の表面を被覆する絶縁膜と、を有し、
前記絶縁膜は、前記第1貫通孔の内壁面に露出された前記配線の端面を被覆するとともに、前記第1貫通孔の内壁面に露出された前記絶縁層の端面を露出するように形成されており、
前記第1貫通孔内には、磁性体を含有する絶縁性樹脂が充填されており、
上下に隣接する前記構造体の前記配線同士が直列に接続されて螺旋状の前記コイルが形成されていることを特徴とするインダクタ。
A laminate in which a plurality of structures having a wiring that becomes a part of a coil and an insulating layer formed on the wiring are stacked;
A first through hole penetrating the laminate in the thickness direction;
An insulating film covering the surface of the wiring exposed on the surface of the laminate,
The insulating film covers the end surface of the wiring exposed on the inner wall surface of the first through hole, and also exposes the end surface of the insulating layer exposed on the inner wall surface of the first through hole. And
The first through hole is filled with an insulating resin containing a magnetic material,
An inductor, wherein the wirings of the structures adjacent vertically are connected in series to form the spiral coil.
上下に隣接する前記配線同士は貫通電極を介して電気的に接続され、
前記絶縁膜は、前記第1貫通孔の内壁面に露出された前記貫通電極の端面を被覆していることを特徴とする請求項1に記載のインダクタ。
The wirings adjacent to each other in the vertical direction are electrically connected through a through electrode,
2. The inductor according to claim 1, wherein the insulating film covers an end face of the through electrode exposed on an inner wall surface of the first through hole.
前記貫通電極の端面と、該貫通電極の直下に形成された前記配線の端面とは、前記第1貫通孔の内壁面から積層方向に連続して露出し、
前記絶縁膜は、前記第1貫通孔の内壁面から連続して露出する、前記貫通電極の端面及び前記配線の端面を連続して被覆していることを特徴とする請求項2に記載のインダクタ。
The end surface of the through electrode and the end surface of the wiring formed immediately below the through electrode are continuously exposed from the inner wall surface of the first through hole in the stacking direction,
3. The inductor according to claim 2, wherein the insulating film continuously covers an end surface of the through electrode and an end surface of the wiring that are continuously exposed from an inner wall surface of the first through hole. .
前記絶縁膜は、前記積層体の外壁面に露出された前記貫通電極の端面を被覆するように形成されていることを特徴とする請求項2又は3に記載のインダクタ。   The inductor according to claim 2, wherein the insulating film is formed so as to cover an end face of the through electrode exposed on an outer wall surface of the multilayer body. 前記絶縁膜は、前記積層体の外壁面に露出された前記配線の端面を被覆するように形成されていることを特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載のインダクタ。   5. The inductor according to claim 1, wherein the insulating film is formed so as to cover an end face of the wiring exposed on an outer wall surface of the multilayer body. 前記絶縁膜は、電着樹脂からなることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載のインダクタ。   The inductor according to claim 1, wherein the insulating film is made of an electrodeposition resin. 複数の前記構造体は接着層を介して積層され、
前記積層体の表面に露出された前記絶縁層及び前記接着層は、前記絶縁膜から露出されていることを特徴とする請求項1〜6の何れか一項に記載のインダクタ。
The plurality of structures are stacked via an adhesive layer,
The inductor according to claim 1, wherein the insulating layer and the adhesive layer exposed on the surface of the multilayer body are exposed from the insulating film.
前記積層体は、
第1配線と、
前記第1配線の上面の一部を露出する第2貫通孔を有し、前記第1配線の上面に積層された第1絶縁層と、
前記第2貫通孔と連通する第3貫通孔を有し、前記第1絶縁層の上面に積層された第1接着層と、
前記第3貫通孔と連通する第4貫通孔を有し、前記第1接着層の上面に積層された第2配線と、
前記第4貫通孔と連通する第5貫通孔を有し、前記第2配線の上面に積層された第2絶縁層と、
前記第2貫通孔と、前記第3貫通孔と、前記第4貫通孔と、前記第5貫通孔とを充填する第1貫通電極と、を有し、
前記第1配線と前記第2配線とが前記第1貫通電極を介して直列に接続され、
前記第5貫通孔は、前記第4貫通孔よりも平面形状が大きく形成されていることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載のインダクタ。
The laminate is
A first wiring;
A first insulating layer having a second through hole exposing a part of the upper surface of the first wiring, and being stacked on the upper surface of the first wiring;
A first adhesive layer having a third through hole communicating with the second through hole and laminated on the upper surface of the first insulating layer;
A second wiring having a fourth through hole communicating with the third through hole and laminated on an upper surface of the first adhesive layer;
A second insulating layer having a fifth through hole communicating with the fourth through hole and stacked on an upper surface of the second wiring;
A first through electrode filling the second through hole, the third through hole, the fourth through hole, and the fifth through hole;
The first wiring and the second wiring are connected in series via the first through electrode,
The inductor according to any one of claims 1 to 7, wherein the fifth through hole is formed to have a larger planar shape than the fourth through hole.
前記第2貫通孔は、前記第3貫通孔よりも平面形状が大きく形成され、
前記第1接着層は、前記第2配線の側面の一部を被覆するとともに、前記第2貫通孔の内側面を被覆し、
前記第3貫通孔の一部は、前記第2貫通孔内に形成されていることを特徴とする請求項8に記載のインダクタ。
The second through hole is formed to have a larger planar shape than the third through hole,
The first adhesive layer covers a part of the side surface of the second wiring, and covers the inner side surface of the second through hole,
The inductor according to claim 8, wherein a part of the third through hole is formed in the second through hole.
前記積層体は、
前記第1配線を厚さ方向に貫通する第6貫通孔と、
前記第1絶縁層を厚さ方向に貫通して前記第6貫通孔と連通するとともに、前記第6貫通孔よりも平面形状が大きく形成された第7貫通孔と、
前記第6貫通孔と連通する第8貫通孔を有し、前記第1配線の下面に積層された第2接着層と、
前記第8貫通孔と連通する第9貫通孔を有し、前記第2接着層の下面に積層された第3絶縁層と、
前記第3絶縁層の下面に積層され当該積層体の最下層に形成された第3配線と、
前記第8貫通孔及び前記第9貫通孔に露出する前記第3配線の上面に形成され、前記第6貫通孔と、前記第7貫通孔と、前記第8貫通孔と、前記第9貫通孔とを充填する第2貫通電極と、を有し、
前記絶縁膜は、前記第3配線の下面及び側面を被覆し、
前記第3配線と前記第1配線とが前記第2貫通電極を介して直列に接続されていることを特徴とする請求項8又は9に記載のインダクタ。
The laminate is
A sixth through hole penetrating the first wiring in the thickness direction;
A seventh through-hole that penetrates the first insulating layer in the thickness direction and communicates with the sixth through-hole, and has a planar shape larger than the sixth through-hole,
A second adhesive layer having an eighth through hole communicating with the sixth through hole and laminated on a lower surface of the first wiring;
A third insulating layer having a ninth through hole communicating with the eighth through hole and laminated on a lower surface of the second adhesive layer;
A third wiring stacked on the lower surface of the third insulating layer and formed in the lowermost layer of the stacked body;
The sixth through hole, the seventh through hole, the eighth through hole, and the ninth through hole are formed on an upper surface of the third wiring exposed in the eighth through hole and the ninth through hole. A second through electrode filling
The insulating film covers a lower surface and a side surface of the third wiring;
The inductor according to claim 8 or 9, wherein the third wiring and the first wiring are connected in series via the second through electrode.
前記コイルの端部には接続部が設けられ、
前記接続部は、前記絶縁膜から露出し、
前記絶縁性樹脂は、前記接続部を除いて前記積層体及び前記絶縁膜を被覆し
前記絶縁性樹脂を被覆するように形成され、前記接続部と電気的に接続された電極をすることを特徴とする請求項1〜10の何れか一項に記載のインダクタ。
A connection portion is provided at the end of the coil,
The connecting portion is exposed from the insulating film;
The insulating resin covers the laminated body and the insulating film except for the connection portion ,
The formed to cover the insulating resin, inductor according to any one of claims 1 to 10, characterized in that perforated the connection portion electrically connected to the electrodes.
金属層と、前記金属層上に形成された絶縁層とを有する構造体を複数個準備する工程と、
上下に隣接する前記構造体の前記金属層同士を直列に接続しながら、複数の前記構造体を順次積層して積層体を形成する工程と、
前記積層体を成形して、複数の前記金属層をコイルの一部を構成する形状の配線に加工し、複数の前記配線同士が直列に接続された螺旋状の前記コイルを形成するとともに、前記積層体を厚さ方向に貫通する貫通孔を形成する工程と、
電着法により、前記貫通孔の内壁面に露出された前記配線の端面を被覆する絶縁膜を形成する工程と、を有することを特徴とするインダクタの製造方法。
Preparing a plurality of structures having a metal layer and an insulating layer formed on the metal layer;
A step of sequentially laminating a plurality of the structures to form a laminate while connecting the metal layers of the structures adjacent to each other in series up and down;
Forming the laminate, processing the plurality of metal layers into a wiring having a shape constituting a part of the coil, forming the spiral coil in which the plurality of wirings are connected in series, and Forming a through-hole penetrating the laminate in the thickness direction;
Forming an insulating film covering an end face of the wiring exposed on the inner wall surface of the through hole by electrodeposition.
前記積層体を形成する工程では、上下に隣接する前記金属層同士を貫通電極を介して電気的に接続し、
前記絶縁膜を形成する工程では、前記積層体の表面に露出された前記貫通電極の表面を被覆するように前記絶縁膜を形成することを特徴とする請求項12に記載のインダクタの製造方法。
In the step of forming the laminated body, the metal layers adjacent to each other in the vertical direction are electrically connected through a through electrode,
The method for manufacturing an inductor according to claim 12, wherein in the step of forming the insulating film, the insulating film is formed so as to cover a surface of the through electrode exposed on a surface of the multilayer body.
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