JP6550271B2 - Back grind tape - Google Patents

Back grind tape Download PDF

Info

Publication number
JP6550271B2
JP6550271B2 JP2015108280A JP2015108280A JP6550271B2 JP 6550271 B2 JP6550271 B2 JP 6550271B2 JP 2015108280 A JP2015108280 A JP 2015108280A JP 2015108280 A JP2015108280 A JP 2015108280A JP 6550271 B2 JP6550271 B2 JP 6550271B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive layer
pressure
weight
sensitive adhesive
back grind
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015108280A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2016225389A (en
Inventor
勝利 亀井
勝利 亀井
喬之 戸田
喬之 戸田
浩二 水野
浩二 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP2015108280A priority Critical patent/JP6550271B2/en
Publication of JP2016225389A publication Critical patent/JP2016225389A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6550271B2 publication Critical patent/JP6550271B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Description

本発明は、バックグラインドテープに関する。   The present invention relates to backgrind tape.

従来、半導体ウエハを加工する際、所望の厚さにまで半導体ウエハの裏面を研削するバックグラインド工程においては、半導体ウエハを固定し、また研削面とは反対側の面を保護するために、粘着テープ(バックグラインドテープ)が用いられている(例えば、特許文献1)。通常、バックグラインドテープは、基材と粘着剤層とから構成される。このようなバックグラインドテープは、粘着剤層側を半導体ウエハの表面(ウエハの研削面とは反対側の面)に貼り付けて用いられ、半導体ウエハの裏面を研削した後に剥離され、廃棄される。   Conventionally, when processing a semiconductor wafer, in a back grinding step of grinding the back surface of the semiconductor wafer to a desired thickness, adhesion is used to fix the semiconductor wafer and protect the surface opposite to the grinding surface. Tape (back grind tape) is used (for example, patent document 1). Usually, a backgrind tape is composed of a substrate and an adhesive layer. Such a back grind tape is used by sticking the adhesive layer side to the surface of the semiconductor wafer (the surface opposite to the grinding surface of the wafer), and is peeled off and discarded after grinding the back surface of the semiconductor wafer. .

上記バックグラインドテープにより半導体ウエハの回路面を保護した場合、該テープを剥離した後、凹凸のある回路形状の跡がレプリカとして粘着剤層に残り、長時間あるいは永続的にその状態が維持される。このような状態で使用後のバックグラインドテープを廃棄すると、秘密情報としての回路形状が漏洩するおそれがある。   When the circuit surface of the semiconductor wafer is protected by the above-mentioned backgrind tape, after peeling off the tape, traces of the uneven circuit shape remain as replicas in the adhesive layer and the state is maintained for a long time or permanently . If the backgrind tape after use is discarded in such a state, there is a possibility that the circuit shape as secret information may leak.

特開2011−151163号公報JP, 2011-151163, A

本発明は上記従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、凹凸面(例えば、半導体ウエハの回路面)に貼着した場合に、凹凸形状が粘着剤層に残らないバックグラインドテープを提供することにある。   The present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and the object of the present invention is to provide a pressure-sensitive adhesive layer with a concavo-convex shape when it is attached to a concavo-convex surface (for example, a circuit surface of a semiconductor wafer). It is about providing the back grinding tape which does not remain.

本発明のバックグラインドテープは、基材と、該基材の片側に配置された粘着剤層とを備え、該粘着剤層の応力緩和量が、12kPa以下である。
1つの実施形態においては、上記粘着剤層の23℃における貯蔵弾性率が、0.1MPa以下である。
1つの実施形態においては、上記粘着剤層の23℃における損失正接(tanδ)が、0.15以上である。
1つの実施形態においては、上記粘着剤層のゲル分率が、50%〜95%である。
The back grind tape of the present invention comprises a substrate and an adhesive layer disposed on one side of the substrate, and the stress relaxation amount of the adhesive layer is 12 kPa or less.
In one embodiment, the storage elastic modulus at 23 ° C. of the pressure-sensitive adhesive layer is 0.1 MPa or less.
In one embodiment, the loss tangent (tan δ) at 23 ° C. of the pressure-sensitive adhesive layer is 0.15 or more.
In one embodiment, the gel fraction of the pressure-sensitive adhesive layer is 50% to 95%.

本発明によれば、粘着剤層の応力緩和量を特定値とすることにより、凹凸面(例えば、半導体ウエハの回路面)に貼着した場合に、粘着剤層に生じた凹凸形状(レプリカ形状)が速やかに消失し得るバックグラインドテープを提供することができる。   According to the present invention, by setting the stress relaxation amount of the pressure-sensitive adhesive layer to a specific value, the uneven shape (replica shape) generated in the pressure-sensitive adhesive layer when attached to an uneven surface (for example, a circuit surface of a semiconductor wafer) Can provide a back grind tape which can be rapidly eliminated.

本発明の1つの実施形態によるバックグラインドテープの概略断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a backgrind tape according to one embodiment of the present invention.

A.バックグラインドテープの全体構成
図1は、本発明の1つの実施形態によるバックグラインドテープの概略断面図である。バックグラインドテープ100は、基材10と、基材10の片側に配置された粘着剤層20を備える。図示していないが、本発明のバックグラインドテープは、使用に供するまでの間、粘着面を保護する目的で、粘着剤層の外側に剥離ライナーが設けられていてもよい。
A. Overall Structure of Backgrind Tape FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a back grind tape according to an embodiment of the present invention. The backgrind tape 100 includes a substrate 10 and an adhesive layer 20 disposed on one side of the substrate 10. Although not shown, the backgrind tape of the present invention may be provided with a release liner on the outside of the pressure-sensitive adhesive layer for the purpose of protecting the adhesive surface until it is used.

バックグラインドテープの厚みは、好ましくは50μm〜500μmであり、より好ましくは150μm〜350μmである。このような範囲であれば、半導体ウエハの裏面研削精度を向上させ得るバックグラインドテープを得ることができる。   The thickness of the backgrind tape is preferably 50 μm to 500 μm, more preferably 150 μm to 350 μm. With such a range, it is possible to obtain a back grind tape capable of improving the back surface grinding accuracy of the semiconductor wafer.

バックグラインドテープの25℃における粘着力は、好ましくは、0.1N/20mm〜5N/20mmであり、より好ましくは0.2N/20mm〜3N/20mmである。なお、本明細書において粘着力とは、ミラーウエハ(シリコン製)を試験板として、JIS Z 0237(2000)に準じた方法(貼り合わせ条件:2kgローラー1往復、エージング:測定温度下で1時間、剥離速度:300mm/min、剥離角度:90°)により測定した粘着力をいう。   The adhesive strength at 25 ° C. of the backgrind tape is preferably 0.1 N / 20 mm to 5 N / 20 mm, more preferably 0.2 N / 20 mm to 3 N / 20 mm. In this specification, adhesive force refers to a method according to JIS Z 0237 (2000) using a mirror wafer (made of silicon) as a test plate (bonding conditions: 2 kg roller, 1 reciprocation, aging: 1 hour under measurement temperature) , Peeling speed: 300 mm / min, Peeling angle: 90 °).

B.粘着剤層
上記粘着剤層の応力緩和量は、12kPa以下であり、好ましくは8kPaであり、より好ましくは2kPa〜8kPaであり、さらに好ましくは3kPa〜6kPaである。なお、「応力緩和量」とは、粘着剤層単体を短冊状のサンプルとし、23℃/50%RHの環境下で、該サンプルを測定部分の長さが(初期長さ+15mm)となるまで長さ方向に引き延ばし、引き延ばし直後の応力(S1)と、引き延ばし後(初期長さ+15mm)の状態を1分間維持した後の応力(S2)と、サンプルの断面積(d)とから、|S1−S2|/dの式により求められる。応力の測定は、引っ張り試験機を用い、チャック間距離30mm、引っ張り速度200mm/minの条件で行われる。上記サンプルとしては、幅10mm×長さ50mm(測定部分の長さ(初期長さ)30mm)のサンプルが用いられ得る。上記サンプルの厚みは、例えば、2mmに設定される。
B. Pressure-sensitive adhesive layer The stress relaxation amount of the pressure-sensitive adhesive layer is 12 kPa or less, preferably 8 kPa, more preferably 2 kPa to 8 kPa, and still more preferably 3 kPa to 6 kPa. The “stress relaxation amount” means that the adhesive layer alone is a strip-like sample, and the length of the measurement portion of the sample is (initial length + 15 mm) in an environment of 23 ° C./50% RH. From the stress (S1) after stretching in the longitudinal direction and immediately after stretching, the stress (S2) after maintaining the state after stretching (initial length + 15 mm) for 1 minute, and the cross-sectional area (d) of the sample, | S1 It is calculated | required by the formula of -S2 | / d. The stress is measured using a tensile tester under conditions of a chuck distance of 30 mm and a tensile speed of 200 mm / min. A sample having a width of 10 mm and a length of 50 mm (the length of the measurement portion (initial length) 30 mm) may be used as the sample. The thickness of the sample is set to, for example, 2 mm.

本発明においては、粘着剤層の応力緩和量を上記範囲とすることにより、半導体ウエハの凹凸面(例えば、回路面)に貼着し、その後、剥離した場合に、粘着剤層に転写された凹凸形状(レプリカ形状)が速やかに消失し得るバックグラインドテープを得ることができる。半導体ウエハの凹凸面において、凸部の高さは、例えば、5μm〜50μmであり、好ましくは5μm〜20μmである。本発明のバックグラインドテープにおいては、該テープを凹凸面から剥離して、例えば、40時間以内、好ましくは36時間以内、より好ましくは24時間以内、さらに好ましくは12時間以内、最も好ましくは4時間以内に、粘着剤層に生じた凹凸形状(レプリカ形状)が消失する。   In the present invention, by setting the stress relaxation amount of the pressure-sensitive adhesive layer in the above range, the adhesive layer is attached to the uneven surface (for example, the circuit surface) of the semiconductor wafer and then transferred to the pressure-sensitive adhesive layer when peeled off. It is possible to obtain a back grind tape in which the uneven shape (replica shape) can disappear quickly. In the uneven surface of the semiconductor wafer, the height of the projections is, for example, 5 μm to 50 μm, and preferably 5 μm to 20 μm. In the backgrind tape of the present invention, the tape is peeled off from the uneven surface, for example, within 40 hours, preferably within 36 hours, more preferably within 24 hours, still more preferably within 12 hours, most preferably 4 hours Within the surface, the uneven shape (replica shape) generated in the pressure-sensitive adhesive layer disappears.

上記粘着剤層の応力緩和量は、例えば、粘着剤に含まれるベースポリマーの種類、分子量および/または架橋度;粘着剤に含まれる架橋剤の種類および/または量;粘着剤に含まれる可塑剤の種類および/または量等により調節することができる。   The stress relaxation amount of the pressure-sensitive adhesive layer is, for example, the type, molecular weight and / or degree of crosslinking of the base polymer contained in the pressure-sensitive adhesive; the type and / or amount of crosslinking agent contained in the pressure-sensitive adhesive; It can be adjusted by the type and / or amount of

上記粘着剤層の23℃における貯蔵弾性率G’は、好ましくは0.1MPa以下であり、より好ましくは0.09MPa以下であり、さらに好ましくは0.03MPa〜0.09MPaであり、特に好ましくは0.05MPa〜0.09MPaである。このような貯蔵弾性率を有する粘着剤層を備えるバックグラインドテープは、バックグラインド工程における優れた研削精度の達成に寄与し得る。本発明によれば、優れた研削精度を実現し得、かつ、上記のようにレプリカ形状が速やかに消失するバックグラインドテープを得ることができる。貯蔵弾性率G’の測定方法は後述する。   The storage elastic modulus G ′ at 23 ° C. of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 0.1 MPa or less, more preferably 0.09 MPa or less, and still more preferably 0.03 MPa to 0.09 MPa, particularly preferably It is 0.05MPa-0.09MPa. A backgrind tape provided with a pressure-sensitive adhesive layer having such a storage elastic modulus can contribute to the achievement of excellent grinding accuracy in the backgrind process. According to the present invention, excellent grinding accuracy can be realized, and as described above, it is possible to obtain a back grind tape in which the replica shape rapidly disappears. The measuring method of storage elastic modulus G 'is mentioned later.

上記粘着剤層の23℃における損失正接(tanδ)は、好ましくは0.15以上であり、より好ましくは0.15〜0.25であり、さらに好ましくは0.15〜0.22である。このような範囲であれば、バックグラインド工程における優れた研削精度の達成に寄与し得るバックグラインドテープを得ることができる。損失正接(tanδ)は粘着剤層の23℃における損失弾性率(G’’)と23℃における貯蔵弾性率(G’)の比(G’’/G’)をいう。損失正接(tanδ)の測定方法は、後述する。   The loss tangent (tan δ) at 23 ° C. of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 0.15 or more, more preferably 0.15 to 0.25, and still more preferably 0.15 to 0.22. Within such a range, it is possible to obtain a back grind tape that can contribute to the achievement of excellent grinding accuracy in the back grind process. The loss tangent (tan δ) refers to the ratio (G ′ ′ / G ′) of the loss modulus (G ′ ′) at 23 ° C. of the adhesive layer to the storage modulus (G ′) at 23 ° C. The method of measuring the loss tangent (tan δ) will be described later.

上記粘着剤層のゲル分率は、好ましくは50%〜95%であり、より好ましくは55%〜85%である。ゲル分率は、以下のようにして測定される。粘着剤層の約0.1gを、0.2μm径の孔を有するテフロン(登録商標)シート(商品名「NTF1122」、日東電工株式会社製)に包んだ後、凧糸で縛り、その際の重量を測定し、該重量を浸漬前重量とする。なお、浸漬前重量は、粘着剤層と、テフロンシートと、凧糸との総重量である。また、使用するテフロンシートと凧糸との重量も測定しておき、前記重量を包袋重量とする。次に、前記粘着剤層をテフロンシートで包み、凧糸で縛ったものを、酢酸エチルで満たした50ml容器に入れ、室温にて1週間静置する。その後、容器からテフロンシートを取り出し、130℃で2時間、乾燥機中で乾燥して酢酸エチルを除去した後、サンプル重量を測定し、該重量を浸漬後重量とする。そして、下記式からゲル分率を算出する。なお、下記式中のAは浸漬後重量であり、Bは包袋重量であり、Cは浸漬前重量である。
ゲル分率(重量%)=(A−B)/(C−B)×100
The gel fraction of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 50% to 95%, more preferably 55% to 85%. The gel fraction is measured as follows. About 0.1 g of the pressure-sensitive adhesive layer is wrapped in a Teflon (registered trademark) sheet (trade name "NTF1122" manufactured by Nitto Denko Corporation) having a 0.2 μm diameter hole, and then tied with a silk thread, The weight is measured, and the weight is taken as the weight before immersion. The weight before immersion is the total weight of the pressure-sensitive adhesive layer, the Teflon sheet, and the cocoon thread. Also, the weight of the teflon sheet and the cocoon thread to be used is also measured, and the weight is taken as the weight of the package. Next, the pressure-sensitive adhesive layer is wrapped with a teflon sheet, and the one bound with a cocoon thread is put in a 50 ml container filled with ethyl acetate and left at room temperature for 1 week. Thereafter, the Teflon sheet is removed from the container and dried in a drier at 130 ° C. for 2 hours to remove ethyl acetate, and then the sample weight is measured, and the weight is taken as the weight after immersion. Then, the gel fraction is calculated from the following equation. In addition, in the following formula, A is a weight after immersion, B is a package weight, and C is a weight before immersion.
Gel fraction (% by weight) = (A-B) / (C-B) × 100

上記粘着剤層の厚みは、好ましくは10μm〜200μmであり、より好ましくは20μm〜150μmであり、さらに好ましくは30μm〜100μmである。このような厚みの粘着剤層を備えるバックグラインドテープは、バックグラインド工程における優れた研削精度の達成に寄与し得る。   The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 10 μm to 200 μm, more preferably 20 μm to 150 μm, and still more preferably 30 μm to 100 μm. A backgrind tape provided with an adhesive layer of such a thickness can contribute to the achievement of excellent grinding accuracy in the backgrind process.

上記粘着剤層は、任意の適切な粘着剤により形成され得る。粘着剤としては、熱硬化型粘着剤、活性エネルギー線硬化型粘着剤等の硬化型粘着剤;ポリオレフィン系粘着剤;アクリル系粘着剤;スチレン系粘着剤等が挙げられる。好ましくは、硬化型樹脂をベースポリマーとして含む硬化型粘着剤(より好ましくは、熱硬化型粘着剤)が用いられる。   The pressure-sensitive adhesive layer may be formed of any appropriate pressure-sensitive adhesive. Examples of the pressure-sensitive adhesive include curable pressure-sensitive adhesives such as thermosetting pressure-sensitive adhesives and active energy ray-curable pressure-sensitive adhesives; polyolefin-based pressure-sensitive adhesives; acrylic pressure-sensitive adhesives; and styrene-based pressure-sensitive adhesives. Preferably, a curable adhesive (more preferably, a thermosetting adhesive) containing a curable resin as a base polymer is used.

上記硬化型粘着剤に含まれるベースポリマーとしては、側鎖、主鎖中、または、主鎖末端の少なくとも1つに硬化性の官能基を有するアクリル系樹脂、ゴム系樹脂、シリコン系樹脂、ポリビニルエーテル系樹脂等が挙げられる。また、硬化型粘着剤は、硬化性のモノマー成分および/または硬化性のオリゴマー成分を含み得る。上記硬化性の官能基を有するベースポリマーを含む粘着剤に、硬化性のモノマー成分および/または硬化性のオリゴマー成分を添加してもよい。   As a base polymer contained in the said curable adhesive, acrylic resin which has a curable functional group in a side chain, in a principal chain, or at least one of the principal chain terminal, rubber-type resin, silicone resin, polyvinyl Ether resin etc. are mentioned. The curable pressure sensitive adhesive may also contain a curable monomer component and / or a curable oligomer component. A curable monomer component and / or a curable oligomer component may be added to the pressure-sensitive adhesive containing the base polymer having the curable functional group.

上記アクリル系樹脂としては、任意の適切なアクリル系樹脂を用いることができる。例えば、上記アクリル系樹脂としては、(メタ)アクリル酸エステルを主モノマー成分として含む樹脂が挙げられる。上記(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば、メチルエステル、エチルエステル、プロピルエステル、イソプロピルエステル、ブチルエステル、イソブチルエステル、sec−ブチルエステル、t−ブチルエステル、ペンチルエステル、イソペンチルエステル、ヘキシルエステル、ヘプチルエステル、オクチルエステル、2−エチルヘキシルエステル、イソオクチルエステル、ノニルエステル、デシルエステル、イソデシルエステル、ウンデシルエステル、ドデシルエステル、トリデシルエステル、テトラデシルエステル、ヘキサデシルエステル、オクタデシルエステル、エイコシルエステル等の炭素数1〜30の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基を含む(メタ)アクリル酸アルキルエステル;シクロペンチルエステル、シクロヘキシルエステル等の(メタ)アクリル酸シクロアルキルエステル等が挙げられる。これらのモノマーは1種のみを用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。   Any appropriate acrylic resin can be used as the acrylic resin. For example, as said acrylic resin, resin which contains (meth) acrylic acid ester as a main monomer component is mentioned. Examples of the (meth) acrylic acid ester include methyl ester, ethyl ester, propyl ester, isopropyl ester, butyl ester, isobutyl ester, sec-butyl ester, t-butyl ester, pentyl ester, isopentyl ester, hexyl ester, Heptyl ester, octyl ester, 2-ethylhexyl ester, isooctyl ester, nonyl ester, decyl ester, isodecyl ester, undecyl ester, dodecyl ester, tridecyl ester, tetradecyl ester, hexadecyl ester, octadecyl ester, eicosyl ester (Meth) acrylic acid alkyl ester containing a linear or branched alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, such as: cyclopentyl ester, cyclohexy (Meth) cycloalkyl esters of acrylic acid such as esters. One of these monomers may be used alone, or two or more thereof may be used in combination.

上記アクリル系樹脂は、必要に応じ、モノマー成分として、上記(メタ)アクリル酸エステルと共重合可能な他の共重合性モノマーを含んでいてもよい。他の共重合性モノマーとしては、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸、フマル酸、無水マレイン酸などのカルボキシル基又は酸無水物基含有モノマー;(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチルなどのヒドロキシル基含有モノマー;(メタ)アクリル酸モルホリルなどのアミノ基含有モノマー;(メタ)アクリルアミドなどのアミド基含有モノマー等が挙げられる。上記共重合性モノマー由来の構成単位の含有割合は、ベースポリマー100重量部に対して、好ましくは20重量部以下であり、より好ましくは15重量部以下であり、さらに好ましくは2.5重量部〜10重量部である。   The acrylic resin may contain, as a monomer component, another copolymerizable monomer copolymerizable with the (meth) acrylic acid ester, if necessary. As another copolymerizable monomer, for example, a carboxyl group- or acid anhydride group-containing monomer such as acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, fumaric acid and maleic anhydride; hydroxyl such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate Group-containing monomers; amino group-containing monomers such as morpholine (meth) acrylate; and amide group-containing monomers such as (meth) acrylamide. The content ratio of the structural unit derived from the above-mentioned copolymerizable monomer is preferably 20 parts by weight or less, more preferably 15 parts by weight or less, and still more preferably 2.5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the base polymer. 10 parts by weight.

また、上記アクリル系樹脂は、モノマー成分として、上記アクリル酸エステルと共重合可能なヒドロキシル基含有モノマーを含んでいてもよい。ヒドロキシル基含有モノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸10−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒドロキシラウリル、(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)メチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。上記ヒドロキシル基含有モノマーは1種のみを用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。   Moreover, the said acrylic resin may contain the hydroxyl group containing monomer which can be copolymerized with the said acrylic ester as a monomer component. Examples of the hydroxyl group-containing monomer include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate, Examples thereof include 8-hydroxyoctyl (meth) acrylate, 10-hydroxydecyl (meth) acrylate, 12-hydroxylauryl (meth) acrylate, and (4-hydroxymethylcyclohexyl) methyl (meth) acrylate. The above-mentioned hydroxyl group-containing monomer may be used alone or in combination of two or more.

また、上記粘着剤は、分子内に硬化性の官能基を有するイソシアネート系化合物をさらに含んでいてもよい。該イソシアネート系化合物としては、例えば、メタクリロイルイソシアネート、2−メタクリロイルオキシエチルイソシアネート、2−アクリロイルオキシエチルイソシアネート、m−イソプロペニル−α,α−ジメチルベンジルイソシアネート等が挙げられる。   Moreover, the said adhesive may further contain the isocyanate type compound which has a curable functional group in a molecule | numerator. Examples of the isocyanate compound include methacryloyl isocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, 2-acryloyloxyethyl isocyanate, m-isopropenyl-α, α-dimethylbenzyl isocyanate and the like.

上記アクリル系樹脂は、モノマー成分を任意の適切な重合方法により重合することにより得られ得る。該重合方法としては、例えば、溶液重合、乳化重合、塊状重合、懸濁重合等が挙げられる。   The acrylic resin can be obtained by polymerizing the monomer component by any appropriate polymerization method. Examples of the polymerization method include solution polymerization, emulsion polymerization, bulk polymerization, suspension polymerization and the like.

上記硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分としては、任意の適切な化合物を用いることができる。例えば、上記イソシアネート系化合物、ウレタンオリゴマー、ウレタン(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリストールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリストールモノヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Any appropriate compound can be used as the curable monomer component or oligomer component. For example, the above-mentioned isocyanate compound, urethane oligomer, urethane (meth) acrylate, trimethylol propane tri (meth) acrylate, tetramethylol methane tetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate And dipentaerythritol monohydroxy penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate and the like.

上記粘着剤を構成するベースポリマーの重量平均分子量は、好ましくは20万〜300万であり、より好ましくは25万〜150万である。重量平均分子量は、GPC(溶媒:THF)により測定され得る。   The weight average molecular weight of the base polymer constituting the pressure-sensitive adhesive is preferably 200,000 to 3,000,000, and more preferably 250,000 to 1,500,000. The weight average molecular weight can be measured by GPC (solvent: THF).

上記粘着剤を構成するベースポリマーのガラス転移温度は、好ましくは−70℃〜−20℃であり、より好ましくは−60℃〜−40℃である。   The glass transition temperature of the base polymer constituting the pressure-sensitive adhesive is preferably -70 ° C to -20 ° C, more preferably -60 ° C to -40 ° C.

上記粘着剤は、任意の適切な添加剤をさらに含んでいてもよい。上記添加剤としては、例えば、重合開始剤、架橋剤、可塑剤、粘着性付与剤、老化防止剤、充填剤、着色剤、帯電防止剤、界面活性剤等が挙げられる。上記添加剤は単独で用いてもよく、2種以上組み合わせて用いてもよい。2種以上の添加剤を用いる場合、1種ずつ添加してもよく、2種以上の添加剤を同時に添加してもよい。上記添加剤の配合量は、任意の適切な量に設定され得る。   The pressure-sensitive adhesive may further contain any appropriate additive. As said additive, a polymerization initiator, a crosslinking agent, a plasticizer, a tackifier, an antiaging agent, a filler, a coloring agent, an antistatic agent, surfactant, etc. are mentioned, for example. The above additives may be used alone or in combination of two or more. When two or more additives are used, they may be added one by one or two or more additives may be added simultaneously. The compounding amount of the additive may be set to any appropriate amount.

上記架橋剤としては、任意の適切な架橋剤を用いることができる。例えば、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤などが挙げられる。架橋剤は1種のみを用いてもよく、2種以上組み合わせて用いてもよい。なお、架橋剤の使用量は、使用用途に応じて任意の適切な値に設定され得る。架橋剤の使用量は、ベースポリマー100重量部に対して、好ましくは20重量部以下であり、より好ましくは1重量部〜6重量部であり、さらに好ましくは1.8重量部〜5重量部である。このような範囲であれば、弾性率および応力緩和量が適切な粘着剤層を形成させることができる。   Any appropriate crosslinking agent can be used as the above-mentioned crosslinking agent. For example, isocyanate type crosslinking agent, epoxy type crosslinking agent, melamine type crosslinking agent, peroxide type crosslinking agent, urea type crosslinking agent, metal alkoxide type crosslinking agent, metal chelate type crosslinking agent, metal salt type crosslinking agent, carbodiimide type crosslinking Agents, oxazoline based crosslinking agents, aziridine based crosslinking agents, amine based crosslinking agents and the like. The crosslinking agent may be used alone or in combination of two or more. In addition, the usage-amount of a crosslinking agent may be set to arbitrary appropriate values according to a use application. The amount of the crosslinking agent used is preferably 20 parts by weight or less, more preferably 1 part by weight to 6 parts by weight, and still more preferably 1.8 parts by weight to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the base polymer It is. Within such a range, a pressure-sensitive adhesive layer can be formed in which the elastic modulus and the amount of stress relaxation are appropriate.

上記可塑剤としては、任意の適切な可塑剤を用いることができる。例えば、フタル酸エステル系可塑剤、トリメリット酸エステル系可塑剤、ピロメリット酸エステル系可塑剤、アジピン酸エステル系可塑剤等のカルボン酸エステル系可塑剤の他、リン酸系可塑剤、エポキシ系可塑剤、ポリエステル系可塑剤(低分子ポリエステル等)などが挙げられる。可塑剤の使用量は、ベースポリマー100重量部に対して、好ましくは30重量部以下であり、より好ましくは5重量部〜25重量部であり、さらに好ましくは8重量部〜15重量部である。このような範囲であれば、弾性率および応力緩和量が適切な粘着剤層を形成させることができる。   Any appropriate plasticizer can be used as the above-mentioned plasticizer. For example, in addition to carboxylic acid ester plasticizers such as phthalic acid ester plasticizers, trimellitic acid ester plasticizers, pyromellitic acid ester plasticizers, adipic acid ester plasticizers, etc., phosphoric acid plasticizers, epoxy resins Plasticizers, polyester plasticizers (low molecular weight polyester etc.) and the like can be mentioned. The amount of the plasticizer used is preferably 30 parts by weight or less, more preferably 5 parts by weight to 25 parts by weight, and still more preferably 8 parts by weight to 15 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the base polymer . Within such a range, a pressure-sensitive adhesive layer can be formed in which the elastic modulus and the amount of stress relaxation are appropriate.

本発明のバックグラインドテープでは、上記基材上に、上記粘着剤を塗工することにより製造され得る。塗工方法としては、バーコーター塗工、エアナイフ塗工、グラビア塗工、グラビアリバース塗工、リバースロール塗工、リップ塗工、ダイ塗工、ディップ塗工、オフセット印刷、フレキソ印刷、スクリーン印刷など種々の方法を採用することができる。また、別途、剥離ライナーに粘着剤層を形成した後、それを基材層または帯電防止層に貼り合せる方法等を採用してもよい。   The back grind tape of the present invention can be manufactured by applying the above-mentioned adhesive on the above-mentioned base material. Coating methods include bar coater coating, air knife coating, gravure coating, gravure reverse coating, reverse roll coating, lip coating, die coating, dip coating, offset printing, flexo printing, screen printing, etc. Various methods can be employed. Alternatively, a pressure-sensitive adhesive layer may be separately formed on the release liner, and then the pressure-sensitive adhesive layer may be bonded to the base material layer or the antistatic layer.

粘着剤として硬化型の粘着剤を用いる場合、粘着剤層に硬化処理を施して、該粘着剤層の特性(粘着力、弾性率等)を調整してもよい。硬化処理としては、例えば、紫外線照射、加熱処理等が挙げられる。   When a curable pressure-sensitive adhesive is used as the pressure-sensitive adhesive, the pressure-sensitive adhesive layer may be subjected to a curing treatment to adjust the characteristics (adhesive strength, elastic modulus, etc.) of the pressure-sensitive adhesive layer. Examples of the curing treatment include ultraviolet irradiation, heat treatment and the like.

C.基材
上記基材を構成する材料としては、任意の適切な材料が選択され得る。基材を構成する材料としては、例えば、樹脂系材料(例えば、シート状、ネット状、織布、不織布、発泡シート)、紙、金属等が挙げられる。基材は、単層であってもよく、同一材料または異なる材料から構成される複層であってもよい。基材層を構成する樹脂の具体例としては、例えば、ポリエステル、ポリオレフィン、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン−(メタ)アクリル酸エステル共重合体、エチレン−ブテン共重合体、エチレン−ヘキセン共重合体、ポリウレタン、ポリエーテルケトン、ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニリデン、ポリ塩化ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリ酢酸ビニル、ポリアミド、ポリイミド、セルロース系樹脂、フッ素系樹脂、シリコーン樹脂、ポリエーテル、ポリスチレン系樹脂(ポリスチレンなど)、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホンおよびこれらの架橋体等が挙げられる。
C. Substrate Any appropriate material may be selected as the material constituting the substrate . As a material which comprises a base material, resin-type material (for example, sheet-like, net-like, woven fabric, a nonwoven fabric, a foam sheet), paper, a metal etc. are mentioned. The substrate may be a single layer or a multilayer composed of the same or different materials. Specific examples of the resin constituting the substrate layer include, for example, polyester, polyolefin, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid ester copolymer, Ethylene-butene copolymer, ethylene-hexene copolymer, polyurethane, polyether ketone, polyvinyl alcohol, polyvinylidene chloride, polyvinyl chloride, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, polyvinyl acetate, polyamide, polyimide, cellulose type Examples thereof include resins, fluorine resins, silicone resins, polyethers, polystyrene resins (such as polystyrene), polycarbonates, polyether sulfones, and cross-linked products thereof.

上記基材は、任意の適切な方法で製造することができる。例えば、カレンダー製膜、キャスティング製膜、インフレーション押し出し、Tダイ押し出し等の方法により製造することができる。また、必要に応じて、延伸処理を行って製造してもよい。   The substrate can be manufactured in any suitable manner. For example, it can be manufactured by methods such as calendar film formation, casting film formation, inflation extrusion, T-die extrusion and the like. Moreover, you may manufacture by performing an extending | stretching process as needed.

目的に応じて、上記基材に、任意の適切な表面処理を施してもよい。該表面処理としては、クロム酸処理、オゾン暴露、火炎暴露、高圧電撃暴露、イオン化放射線処理、マット処理、コロナ放電処理、プライマー処理、架橋処理等が挙げられる。   Depending on the purpose, the substrate may be subjected to any suitable surface treatment. Examples of the surface treatment include chromic acid treatment, ozone exposure, flame exposure, high piezoelectric bombardment exposure, ionizing radiation treatment, matting treatment, corona discharge treatment, primer treatment, crosslinking treatment and the like.

上記基材の厚みは、好ましくは10μm〜300μmであり、より好ましくは30μm〜200μmである。   The thickness of the substrate is preferably 10 μm to 300 μm, and more preferably 30 μm to 200 μm.

以下、実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発明はこれら実施例によって限定されるものではない。また、実施例において、特に明記しない限り、「部」および「%」は重量基準である。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples, but the present invention is not limited by these examples. In the examples, "parts" and "%" are by weight unless otherwise specified.

[実施例1]
アクリル酸ブチル100重量部と、アクリル酸3重量部とを重合し、重量平均分子量100万のアクリル系樹脂を含む樹脂液を得た。得られた樹脂液に、エポキシ系架橋剤(三菱ガス化学社製、商品名「テトラッドC」)0.03重量部と、イソシアネート系架橋剤(東ソー社製、商品名「コロネートL」)2重量部と、可塑剤(DIC社製、商品名「W−230−H」)15重量部とを添加して、粘着剤を得た。
得られた粘着剤をセパレーター(三菱化学社製、商品名「MRF36」)に塗布し、120℃で2分間加熱して、粘着剤層(厚み:55μm)を形成し、該粘着剤層を基材(厚み85μmのエチレン酢酸ビニル共重合体フィルムと厚み30μmのランダムポリプロピレンフィルムを積層してなる基材)のエチレン酢酸ビニル共重合体フィルム側に転写して、基材と粘着剤層とからなるバックグラインドテープを得た。
Example 1
100 parts by weight of butyl acrylate and 3 parts by weight of acrylic acid were polymerized to obtain a resin liquid containing an acrylic resin having a weight average molecular weight of 1,000,000. In the obtained resin liquid, 0.03 parts by weight of an epoxy-based crosslinking agent (Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name "Tetrad C"), and 2 parts by weight of an isocyanate-based crosslinking agent (Tosoh Corp., trade name "Colonate L") A pressure-sensitive adhesive was obtained by adding 1 part and 15 parts by weight of a plasticizer (trade name "W-230-H" manufactured by DIC Corporation).
The obtained pressure-sensitive adhesive is applied to a separator (Mitsubishi Chemical Co., Ltd., trade name "MRF36") and heated at 120 ° C. for 2 minutes to form a pressure-sensitive adhesive layer (thickness: 55 μm). Transfer to the ethylene vinyl acetate copolymer film side of the material (a base formed by laminating an ethylene vinyl acetate copolymer film with a thickness of 85 μm and a random polypropylene film with a thickness of 30 μm), and it comprises a substrate and an adhesive layer I got a back grind tape.

[実施例2]
エポキシ系架橋剤(三菱ガス化学社製、商品名「テトラッドC」)の配合量を0.05重量部としたこと以外は、実施例1と同様にしてバックグラインドテープを得た。
Example 2
A back grind tape was obtained in the same manner as Example 1, except that the compounding amount of the epoxy-based crosslinking agent (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name "Tetrad C") was 0.05 parts by weight.

[実施例3]
エポキシ系架橋剤(三菱ガス化学社製、商品名「テトラッドC」)の配合量を0.09重量部としたこと以外は、実施例1と同様にしてバックグラインドテープを得た。
[Example 3]
A back grind tape was obtained in the same manner as Example 1, except that the compounding amount of the epoxy-based crosslinking agent (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name "Tetrad C") was changed to 0.09 parts by weight.

[実施例4]
エポキシ系架橋剤(三菱ガス化学社製、商品名「テトラッドC」)の配合量を0.13重量部としたこと以外は、実施例1と同様にしてバックグラインドテープを得た。
Example 4
A back grind tape was obtained in the same manner as Example 1, except that the compounding amount of the epoxy-based crosslinking agent (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name "Tetrad C") was 0.13 parts by weight.

[実施例5]
エポキシ系架橋剤(三菱ガス化学社製、商品名「テトラッドC」)の配合量を0.15重量部としたこと以外は、実施例1と同様にしてバックグラインドテープを得た。
[Example 5]
A back grind tape was obtained in the same manner as Example 1, except that the compounding amount of the epoxy-based crosslinking agent (manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name "Tetrad C") was 0.15 parts by weight.

[実施例6]
エポキシ系架橋剤(三菱ガス化学社製、商品名「テトラッドC」)の配合量を0.09重量部とし、粘着剤層の厚みを90μmとしたこと以外は、実施例1と同様にしてバックグラインドテープを得た。
[Example 6]
In the same manner as in Example 1, except that the compounding amount of the epoxy-based crosslinking agent (Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., trade name "Tetrad C") was 0.09 parts by weight, and the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was 90 μm. I got a grind tape.

[比較例1]
アクリル酸ブチル87重量部と、アクリロニトリル13重量部と、アクリル酸2重量部とを重合し、重量平均分子量100万のアクリル系樹脂を含む樹脂液を得た。得られた樹脂液に、メラミン系架橋剤(DIC社製、商品名「スーパーベッカミンJ−820−60N」)4重量部と、イソシアネート系架橋剤(東ソー社製、商品名「コロネートL」)3重量部と、可塑剤としてのジオクチルフタレート30重量部とを添加して、粘着剤を得た。
得られた粘着剤をセパレーター(三菱化学社製、商品名「MRF36」)に塗布し、120℃で2分間加熱して粘着剤層(厚み:45μm)を形成し、該粘着剤層をエチレン酢酸ビニル共重合体から構成される基材(厚み:115μm)に転写して、基材と粘着剤層とからなるバックグラインドテープを得た。
Comparative Example 1
87 parts by weight of butyl acrylate, 13 parts by weight of acrylonitrile and 2 parts by weight of acrylic acid were polymerized to obtain a resin liquid containing an acrylic resin having a weight average molecular weight of 1,000,000. To the obtained resin solution, 4 parts by weight of a melamine-based crosslinking agent (trade name "Super Beckcamine J-820-60N" manufactured by DIC Corporation) and an isocyanate-based crosslinking agent (trade name "Corronate L" manufactured by Tosoh Corp.) 3 parts by weight and 30 parts by weight of dioctyl phthalate as a plasticizer were added to obtain an adhesive.
The obtained pressure-sensitive adhesive is applied to a separator (Mitsubishi Chemical Co., Ltd., trade name "MRF36") and heated at 120 ° C. for 2 minutes to form a pressure-sensitive adhesive layer (thickness: 45 μm). It transferred to the base material (thickness: 115 micrometers) comprised from a vinyl copolymer, and obtained the back grind tape which consists of a base material and an adhesive layer.

[比較例2]
粘着剤層の厚みを65μmとしたこと以外は、比較例1と同様にしてバックグラインドテープを得た。
Comparative Example 2
A back grind tape was obtained in the same manner as in Comparative Example 1 except that the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was 65 μm.

[比較例3]
アクリル酸ブチル100重量部と、アクリル酸エチル78重量部と、アクリル酸ヒドロキシルエチル40重量部と、2−イソシアナトエチルメタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI」)42.6重量部とを重合し、重量平均分子量50万のアクリル系樹脂を含む樹脂液を得た。得られた樹脂液に、イソシアネート系架橋剤(東ソー社製、商品名「コロネートL」)0.2重量部と、光重合開始剤(BASF社製、イルガキュア651)3重量部とを添加して、粘着剤を得た。
得られた粘着剤をセパレーター(三菱化学社製、商品名「MRF36」)に塗布し、120℃で2分間加熱して粘着剤層の前駆層を形成し、該前駆層をPET基材(東レ社製、商品名「ルミラーS105」)に転写した。その後、該前駆層に、UVを照射して(照射量:300mJ/cm)粘着剤層を形成し、バックグラインドテープを得た。なお、下記評価(4)および(5)の際には、ウエハに貼着した後、粘着剤層に上記UV照射を行った。
Comparative Example 3
100 parts by weight of butyl acrylate, 78 parts by weight of ethyl acrylate, 40 parts by weight of hydroxyl ethyl acrylate, and 42.6 parts by weight of 2-isocyanatoethyl methacrylate (trade name "Kalens MOI" manufactured by Showa Denko KK) Were polymerized to obtain a resin liquid containing an acrylic resin having a weight average molecular weight of 500,000. 0.2 parts by weight of an isocyanate-based crosslinking agent (Tosoh Corp., trade name "Coronato L") and 3 parts by weight of a photopolymerization initiator (manufactured by BASF Corp., Irgacure 651) are added to the obtained resin solution , Got an adhesive.
The obtained pressure-sensitive adhesive is applied to a separator (Mitsubishi Chemical Co., Ltd., trade name "MRF36") and heated at 120 ° C. for 2 minutes to form a pressure-sensitive adhesive layer precursor layer, and the precursor layer is a PET substrate (Toray Industries, Ltd.) It transferred to the company make and brand name "Lumirror S105". Thereafter, the precursor layer was irradiated with UV (irradiation dose: 300 mJ / cm 2 ) to form a pressure-sensitive adhesive layer, to obtain a back grind tape. In addition, in the case of following evaluation (4) and (5), after sticking to a wafer, said UV irradiation was performed to the adhesive layer.

<評価>
実施例および比較例で得られたバックグラインドテープを以下の評価に供した。結果を表1に示す。
(1)応力緩和量
各実施例および比較例と同様の組成の粘着剤層(幅10mm×長さ50mm×厚み2mm)を形成し、これをサンプルとした。
エーアンド・デイ社製のテンシロン万能材料試験機を用い、以下の条件で引っ張り試験を行った。
・温度:23℃
・湿度:50%
・チャック間距離:30mm
・引っ張り速度:200mm/min
上記条件で引っ張り試験を開始し、チャック間距離が45mm(すなわち、初期長さ+15mm)となるまで、サンプルを引き延ばした。引き延ばし直後の応力(S1)と、引き延ばし後(初期長さ+15mm)の状態を1分間維持した後の応力(S2)と、サンプルの断面積(d)とから、|S1−S2|/dの式により、応力緩和量を求めた。
(2)貯蔵弾性率G’、tanδ
各実施例および比較例と同様の組成の粘着剤層(幅10mm×長さ50mm×厚み2mm)を形成し、粘弾性測定装置(TA Instruments社製、商品名「ARES−G2」)を用いて、23℃での貯蔵弾性率G’およびtanδを測定した。測定条件は以下のとおりである。
・モード:ねじりモード
・プレート径:7.9mmφ
・歪み:1%(25℃)
・周波数:1Hz
・測定範囲:−20℃〜100℃
(3)粘着剤層のゲル分率
粘着剤層の約0.1gを、0.2μm径の孔を有するテフロン(登録商標)シート(商品名「NTF1122」、日東電工株式会社製)に包んだ後、凧糸で縛り、その際の重量を測定し、該重量を浸漬前重量とした。なお、浸漬前重量は、粘着剤層と、テフロンシートと、凧糸との総重量である。また、使用するテフロンシートと凧糸との重量も測定しておき、前記重量を包袋重量とした。次に、前記粘着剤層をテフロンシートで包み、凧糸で縛ったものを、酢酸エチルで満たした50ml容器に入れ、室温にて1週間静置した。その後、容器からテフロンシートを取り出し、130℃で2時間、乾燥機中で乾燥して酢酸エチルを除去した後、サンプル重量を測定し、該重量を浸漬後重量とした。下記式からゲル分率を算出した。なお、下記式中のAは浸漬後重量であり、Bは包袋重量であり、Cは浸漬前重量である。
ゲル分率(重量%)=(A−B)/(C−B)×100
(4)埋まり性
高さ12μm×幅20μm×長さ125μmの凸部が、18μm間隔で幅方向に並んで形成されているウエハを準備した。
室温下で、このウエハの凸部形成面に、実施例および比較例で得られたバックグラインドテープ(幅:20mm)を、5kgローラーを用いて貼着した。貼着して30分後にバックグラインドテープの貼着状態を確認した。ウエハとバックグラインドテープとの間に気泡が生じず埋まり性に優れるバックグラインドテープを合格(表中、○)、凸部とバックグラインドテープとの間に気泡が生じ、バックグラインドテープがウエハを十分に埋めていない場合を不合格(表中、×)とした。
(5)レプリカ消失までの時間
上記評価(4)と同様にして、バックグラインドテープをウエハに貼着した。
その後、ウエハからバックグラインドテープを剥離し、バックグラインドテープを23℃、50%RHの環境下に置いた。KEYENCE社製のレーザー顕微鏡VK−8500を用いて、1時間ごとに、上記バックグラインドテープの粘着剤層表面を観察し、粘着剤層に形成されたウエハのレプリカ形状が消失するまでの時間を測定した。
<Evaluation>
The back grind tapes obtained in Examples and Comparative Examples were subjected to the following evaluation. The results are shown in Table 1.
(1) Stress Relaxation Amount An adhesive layer (width 10 mm × length 50 mm × thickness 2 mm) having the same composition as that of each example and comparative example was formed and used as a sample.
A tensile test was conducted under the following conditions using an A & D Tenselon universal material tester.
・ Temperature: 23 ° C
Humidity: 50%
-Distance between chucks: 30 mm
-Pulling speed: 200 mm / min
The tensile test was started under the above conditions, and the sample was stretched until the distance between the chucks was 45 mm (that is, the initial length + 15 mm). From the stress (S1) immediately after stretching, the stress (S2) after maintaining the state after stretching (initial length + 15 mm) for 1 minute, and the cross-sectional area (d) of the sample, | S1-S2 | / d The stress relaxation amount was determined by the equation.
(2) Storage elastic modulus G ', tan δ
A pressure-sensitive adhesive layer (width 10 mm × length 50 mm × thickness 2 mm) having the same composition as that of each example and comparative example is formed, and a viscoelasticity measuring apparatus (trade name “ARES-G2” manufactured by TA Instruments) is used. Storage modulus G 'and tan δ at 23 ° C. were measured. The measurement conditions are as follows.
-Mode: Torsion mode-Plate diameter: 7.9 mmφ
Distortion: 1% (25 ° C)
・ Frequency: 1 Hz
・ Measurement range: -20 ° C to 100 ° C
(3) Gel fraction of pressure-sensitive adhesive layer Approximately 0.1 g of the pressure-sensitive adhesive layer was wrapped in a Teflon (registered trademark) sheet (trade name "NTF1122", manufactured by Nitto Denko Corporation) having a 0.2 μm diameter hole. After that, it was tied with a cocoon thread, the weight at that time was measured, and this weight was taken as the weight before immersion. The weight before immersion is the total weight of the pressure-sensitive adhesive layer, the Teflon sheet, and the cocoon thread. Moreover, the weight of the Teflon sheet and the cocoon thread to be used was also measured, and the above-mentioned weight was used as the weight of the packaging. Next, the pressure-sensitive adhesive layer was wrapped with a Teflon sheet, and the one bound with a cocoon was put in a 50 ml container filled with ethyl acetate and allowed to stand at room temperature for 1 week. Thereafter, the Teflon sheet was removed from the container and dried in a drier at 130 ° C. for 2 hours to remove ethyl acetate, and then the sample weight was measured, and the weight was taken as the weight after immersion. The gel fraction was calculated from the following equation. In addition, in the following formula, A is a weight after immersion, B is a package weight, and C is a weight before immersion.
Gel fraction (% by weight) = (A-B) / (C-B) × 100
(4) Fillability A wafer was prepared in which convex portions of height 12 μm × width 20 μm × length 125 μm were formed in the width direction at intervals of 18 μm.
The back grind tape (width: 20 mm) obtained in Examples and Comparative Examples was attached to the convex portion forming surface of this wafer at room temperature using a 5 kg roller. 30 minutes after sticking, the sticking state of the back grind tape was confirmed. Pass the back grind tape which has no bubbles between the wafer and the back grind tape and is excellent in filling property (○ in the table), air bubbles are generated between the convex part and the back grind tape, and the back grind tape is enough for the wafer The case where it did not fill in was made into rejection (in the table, x).
(5) Time to Disappearance of Replica In the same manner as in the above evaluation (4), a back grind tape was attached to the wafer.
Thereafter, the back grind tape was peeled off from the wafer, and the back grind tape was placed in an environment of 23 ° C. and 50% RH. The pressure-sensitive adhesive layer surface of the above-mentioned back grind tape is observed every hour using a laser microscope VK-8500 manufactured by KEYENCE Corporation, and the time until the replica shape of the wafer formed in the pressure-sensitive adhesive layer disappears is measured did.

Figure 0006550271
Figure 0006550271

表1から明らかなように、本願発明によれば、粘着剤層の応力緩和量を特定値以下とすることにより、粘着剤層に形成された凹凸面のレプリカ形状が消失し得るバックグラインドテープを得ることができる。また、粘着剤層の貯蔵弾性率およびtanδを適切に調整すれば、被着体である半導体ウエハの凹凸面を良好に埋め得るバックグラインドテープを得ることができる。   As apparent from Table 1, according to the present invention, by setting the stress relaxation amount of the pressure-sensitive adhesive layer to a specific value or less, a back grind tape which can lose the replica shape of the uneven surface formed in the pressure-sensitive adhesive layer You can get it. In addition, if the storage elastic modulus and tan δ of the pressure-sensitive adhesive layer are appropriately adjusted, it is possible to obtain a back grind tape capable of satisfactorily filling the uneven surface of the semiconductor wafer as the adherend.

10 基材
20 粘着剤層
100 バックグラインドテープ
10 base 20 adhesive layer 100 back grind tape

Claims (4)

基材と、該基材の片側に配置された粘着剤層とを備え、
該粘着剤層の応力緩和量が、12kPa以下であり、
該応力緩和量が、該粘着剤層単体を短冊状のサンプルとし、23℃/50%RHの環境下で、該サンプルを測定部分の長さが(初期長さ+15mm)となるまで長さ方向に引き延ばし、引き延ばし直後の応力(S1)と、引き延ばし後(初期長さ+15mm)の状態を1分間維持した後の応力(S2)と、サンプルの断面積(d)とから、|S1−S2|/dの式により求められる、
バックグラインドテープ。
A substrate, and an adhesive layer disposed on one side of the substrate,
The stress relaxation amount of the pressure-sensitive adhesive layer is 12 kPa or less
When the stress relaxation amount is a strip-like sample of the pressure-sensitive adhesive layer, and the length of the measurement portion becomes (initial length + 15 mm) in an environment of 23 ° C./50% RH, the length direction From the stress (S1) immediately after stretching and the stress (S2) after maintaining the state after stretching (initial length + 15 mm) for 1 minute, and the cross-sectional area (d) of the sample, | S1-S2 | Obtained by the equation of / d,
Back grind tape.
前記粘着剤層の23℃における貯蔵弾性率が、0.1MPa以下である、請求項1に記載のバックグラインドテープ。   The back grind tape of Claim 1 whose storage elastic modulus at 23 degrees C of the said adhesive layer is 0.1 Mpa or less. 前記粘着剤層の23℃における損失正接(tanδ)が、0.15以上である、請求項1または2に記載のバックグラインドテープ。   The back grind tape according to claim 1 or 2, wherein the loss tangent (tan δ) at 23 ° C of the pressure-sensitive adhesive layer is 0.15 or more. 前記粘着剤層のゲル分率が、50%〜95%である、請求項1から3のいずれかに記載のバックグラインドテープ。   The back grind tape according to any one of claims 1 to 3, wherein the gel fraction of the pressure-sensitive adhesive layer is 50% to 95%.
JP2015108280A 2015-05-28 2015-05-28 Back grind tape Active JP6550271B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015108280A JP6550271B2 (en) 2015-05-28 2015-05-28 Back grind tape

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015108280A JP6550271B2 (en) 2015-05-28 2015-05-28 Back grind tape

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016225389A JP2016225389A (en) 2016-12-28
JP6550271B2 true JP6550271B2 (en) 2019-07-24

Family

ID=57748420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015108280A Active JP6550271B2 (en) 2015-05-28 2015-05-28 Back grind tape

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6550271B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7404073B2 (en) * 2018-02-07 2023-12-25 リンテック株式会社 Adhesive tape for semiconductor processing
KR20230150366A (en) * 2021-03-04 2023-10-30 덴카 주식회사 Adhesive tape, tape for semiconductor wafer processing

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2708462B2 (en) * 1988-04-28 1998-02-04 株式会社日立製作所 Semiconductor substrate surface treatment method, semiconductor substrate surface treatment device, and semiconductor substrate surface treatment film
JP4364368B2 (en) * 1999-10-27 2009-11-18 リンテック株式会社 Manufacturing method of semiconductor chip
JP2006216721A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Sekisui Chem Co Ltd Pressure sensitive adhesive sheet for semiconductor wafer grinding, and method of grinding semiconductor wafer
JP5235273B2 (en) * 2005-12-27 2013-07-10 日東電工株式会社 Water-dispersible acrylic pressure-sensitive adhesive composition for re-peeling and pressure-sensitive adhesive sheet
JP4991348B2 (en) * 2006-04-06 2012-08-01 リンテック株式会社 Adhesive sheet
JP5049620B2 (en) * 2007-03-20 2012-10-17 リンテック株式会社 Adhesive sheet
JP5184161B2 (en) * 2008-03-17 2013-04-17 古河電気工業株式会社 Semiconductor processing tape
JP5950869B2 (en) * 2013-06-20 2016-07-13 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for semiconductor wafer surface protection

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016225389A (en) 2016-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108174616B (en) Semiconductor processing sheet
JP6059499B2 (en) Surface protection sheet
JP4970863B2 (en) Workpiece processing method
TWI781102B (en) Back Grinding Belt
JP6695959B2 (en) Adhesive sheet and magnetic disk device
JP6545712B2 (en) Adhesive sheet for laser dicing and method of manufacturing semiconductor device
JP6306362B2 (en) Extensible sheet and laminated chip manufacturing method
JP2008143924A (en) Repeelable adhesive composition, and adhesive tape or sheet
TWI741335B (en) Dicing sheet
JP2009064975A (en) Dicing adhesive sheet and dicing method
JP2008047558A (en) Pressure-sensitive adhesive sheet for grinding warpage suppression wafer
KR102494629B1 (en) Adhesive tape for dicing, method for manufacturing the adhesive tape and method for manufacturing semiconductor chip
JP6412873B2 (en) Adhesive sheet
JP5406110B2 (en) Adhesive sheet for semiconductor wafer processing
JP4822885B2 (en) Adhesive sheet for semiconductor
JP6461892B2 (en) Surface protection sheet
JP6550271B2 (en) Back grind tape
JP6550270B2 (en) Back grind tape
JP6334223B2 (en) Adhesive sheet
JP2012012506A (en) Pressure-sensitive adhesive composition easily releasable with energy ray
JP2010106283A (en) Re-peelable pressure-sensitive adhesive composition and pressure-sensitive adhesive tape or sheet
JP2019145575A (en) Masking material
JP2017005072A (en) Semiconductor wafer protection adhesive sheet
JP2007099984A (en) Pressure-sensitive adhesive sheet and method for producing electronic component using the same
TWI702644B (en) Semiconductor processing plate

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180323

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190311

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190618

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190701

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6550271

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250