JP6542094B2 - Contact determination device and measurement device - Google Patents

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本発明は、被接触部に接触させた接触端子を介して直流信号を測定対象に供給している状態で被測定量を測定する測定装置における接触端子と被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置、およびその接触判定装置を備えた測定装置に関するものである。   The present invention can determine the contact state between the contact terminal and the to-be-contacted portion in a measuring device that measures the amount to be measured in a state where a DC signal is supplied to the measurement object via the contact terminal brought into contact with the to-be-contacted portion The present invention relates to a contact determination device and a measurement device including the contact determination device.

この種の測定装置として、下記特許文献1に開示された2端子回路素子測定装置(以下、単に「測定装置」ともいう)が知られている。この測定装置は、電流計、直流電圧に交流電圧を重畳した電圧を発生する直流電圧発生回路、およびCPU等を備えて、測定対象(DUT)の絶縁抵抗を測定可能に構成されている。ここで、測定対象に電圧を供給するケーブルと測定対象との接触状態が不良のときには、絶縁抵抗を正しく測定することができないため、この測定装置には、ケーブルと測定対象との接触状態を判定する機能が搭載されている。この場合、ケーブルと測定対象との接触状態が良好なときには測定対象の容量を介して電流の交流成分が流れ、接触状態が不良のときには電流の直流成分および交流成分の双方が流れないため、この測定装置では、電流計によって測定された電流の直流成分および交流成分の双方が0Aのときには接触状態が不良と判定し、電流の交流成分が0Aではないときには接触状態が良好と判定している。   As a measuring apparatus of this type, a two-terminal circuit element measuring apparatus (hereinafter, also simply referred to as “measuring apparatus”) disclosed in Patent Document 1 below is known. This measuring apparatus includes an ammeter, a DC voltage generating circuit that generates a voltage obtained by superimposing an AC voltage on a DC voltage, a CPU, and the like, and is configured to be able to measure the insulation resistance of a measurement target (DUT). Here, when the contact state between the cable supplying the voltage to the object to be measured and the object to be measured is poor, the insulation resistance can not be measured correctly, so the measuring device determines the contact state between the cable and the object to be measured. Functions are installed. In this case, when the contact state between the cable and the object to be measured is good, the AC component of the current flows through the capacity of the object to be measured, and when the contact state is defective, neither the DC component nor the AC component of the current flows. In the measuring device, when both the DC component and the AC component of the current measured by the ammeter are 0 A, the contact state is determined to be defective, and when the AC component of the current is not 0 A, the contact state is determined to be good.

特開2004−245584号公報(第6−7頁、第1図)JP-A-2004-245584 (pages 6-7, FIG. 1)

ところが、上記の測定装置には、以下の問題点がある。すなわち、上記の測定装置では、測定対象に電圧を供給するケーブルとして、芯線(第1導体)とシールド(第2導体)とを有する同軸ケーブル(シールド線)を用いている。この場合、同軸ケーブルのケーブル長が規定値よりも長い場合には、芯線とシールドとの間の容量が大きくなるため、電流計によって測定される電流の交流成分が、ケーブル長が規定値のときに測定される交流成分よりも小さくなる結果、接触状態を誤判定するおそれがある。また、同軸ケーブルのケーブル長が規定値よりも短い場合には、芯線とシールドとの間の容量が小さくなるため、電流計によって測定される電流の交流成分が、ケーブル長が規定値のときに測定される交流成分よりも大きくなる結果、接触状態を誤判定するおそれがある。したがって、上記の測定装置には、ケーブル長が規定値とは異なる同軸ケーブルを使用するときに、そのケーブル長に合わせて増幅器の感度や交流電圧の振幅を再調整する必要があり作業が煩雑となるという問題点が存在する。   However, the above-described measuring apparatus has the following problems. That is, in the above-mentioned measuring device, a coaxial cable (shield wire) which has a core wire (the 1st conductor) and a shield (the 2nd conductor) is used as a cable which supplies voltage to a measuring object. In this case, when the cable length of the coaxial cable is longer than the specified value, the capacity between the core wire and the shield increases, so when the AC component of the current measured by the ammeter is the specified value As a result of being smaller than the alternating current component measured in the above, there is a possibility that the contact state may be erroneously determined. In addition, when the cable length of the coaxial cable is shorter than the specified value, the capacity between the core wire and the shield becomes smaller, so when the cable length of the alternating current component measured by the ammeter is the specified value. As a result of being larger than the AC component to be measured, there is a possibility that the contact state may be erroneously determined. Therefore, when using a coaxial cable whose cable length is different from the specified value, it is necessary to readjust the sensitivity of the amplifier and the amplitude of the AC voltage according to the cable length in the above-mentioned measuring device, which makes the operation complicated. There is a problem that

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、シールド線の長さが変更された場合においても、煩雑な作業を行うことなく接触端子と測定対象の被接触部との接触状態の良否を正確に判定し得る接触判定装置および測定装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and even when the length of the shield wire is changed, the contact state between the contact terminal and the to-be-contacted portion to be measured without performing a complicated operation. A main object of the present invention is to provide a contact determination device and a measurement device capable of accurately determining the quality.

上記目的を達成すべく請求項1記載の接触判定装置は、芯線および当該芯線を取り囲むシールドを有するシールド線における当該芯線の先端部に接続された第1の接触端子を測定対象における一方の被接触部に接触させると共に導線の先端部に接続された第2の接触端子を前記測定対象における他方の被接触部に接触させて、前記芯線および前記導線を介して直流信号源からの直流信号を前記測定対象に供給している状態で当該測定対象の被測定量を測定する測定装置における前記各接触端子と前記各被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置であって、前記芯線の基端部と前記直流信号源の一方の電極とを結ぶ第1回路と、前記シールドの基端部と前記一方の電極とを結ぶ第2回路と、前記シールドの前記基端部と前記一方の電極とを結んで前記第2回路に並列に接続される第3回路と、前記接触状態を判定可能な物理量を検出する検出回路とを備え、前記第1回路は、電流電圧変換用の第1変換素子を備え、前記第2回路は、直列接続された可変容量素子および電流電圧変換用の第2変換素子を備え、前記第3回路は、前記接触状態の判定用の交流信号を出力する交流信号源を備え、前記検出回路は、前記第1変換素子によって電流電圧変換された電圧と前記第2変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を前記物理量として検出する。   In order to achieve the above object, the contact determination device according to claim 1 comprises a core wire and a shield wire having a shield surrounding the core wire, the first contact terminal connected to the tip of the core wire being one contact target in the measurement object A second contact terminal connected to the tip of the lead wire and in contact with the other contact portion of the object to be measured, and the DC signal from the DC signal source is transmitted through the core wire and the lead wire. A contact determination device capable of determining a contact state between each contact terminal and each contact portion in a measurement device that measures an amount to be measured of the measurement target in a state of being supplied to the measurement target, A first circuit connecting the base end and one electrode of the DC signal source; a second circuit connecting the base end of the shield and the one electrode; the base end of the shield and the one With the electrodes A third circuit connected in parallel to the second circuit, and a detection circuit for detecting a physical quantity capable of determining the contact state, the first circuit comprising a first conversion element for current-voltage conversion The second circuit includes a variable capacitance element connected in series and a second conversion element for current-voltage conversion, and the third circuit is an AC signal source that outputs an AC signal for determining the contact state. The detection circuit detects, as the physical quantity, a voltage difference between a voltage subjected to current-voltage conversion by the first conversion element and a voltage subjected to current-voltage conversion by the second conversion element.

また、請求項2記載の接触判定装置は、請求項1記載の接触判定装置において、前記交流信号源は、前記交流信号の周波数を変更可能に構成されている。   A contact determination apparatus according to a second aspect is the contact determination apparatus according to the first aspect, wherein the alternating current signal source is configured to be capable of changing the frequency of the alternating current signal.

また、請求項3記載の接触判定装置は、請求項1または2記載の接触判定装置において、前記可変容量素子における容量の調節範囲内で前記検出回路から出力される前記電圧差が0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えている。   The contact determination apparatus according to claim 3 is the contact determination apparatus according to claim 1 or 2, wherein the voltage difference output from the detection circuit does not become 0 V within the adjustment range of the capacitance of the variable capacitance element. Is provided with a notification unit that notifies that.

また、請求項4記載の測定装置は、請求項1から3のいずれかに記載の接触判定装置と、前記直流信号源と、前記第1回路に設けられた電流計とを備え、当該電流計によって検出される電流値に基づいて前記測定対象の前記被測定量を測定する。   The measuring device according to claim 4 includes the contact determination device according to any one of claims 1 to 3, the DC signal source, and an ammeter provided in the first circuit, and the ammeter The measured amount of the measurement target is measured based on the current value detected by

請求項1記載の接触判定装置、および請求項4記載の測定装置では、第1変換素子を有してシールド線の芯線と直流信号源とを結ぶ第1回路と、可変容量素子および第2変換素子を有してシールド線のシールドと直流信号源とを結ぶ第2回路と、交流信号を出力する交流信号源を有して第2回路に並列に接続される第3回路と、第1変換素子によって電流電圧変換された電圧と第2変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を検出する検出回路とを備えている。このため、この接触判定装置および測定装置によれば、各接触端子を測定対象の各被接触部から離した状態で検出回路から出力される電圧差が0Vとなるように可変容量素子の容量を調節した後に、各接触端子を測定対象の各被接触部に接触させる操作をすることで、シールド線の容量を介して流れる電流の影響を受けることなく、各接触端子と測定対象の各被接触部との接触状態の良否を正確に判定することができる。また、この接触判定装置および測定装置によれば、接触状態の判定を行う前に、可変容量素子の容量を調節することによって可変容量素子の容量とシールド線の容量とを等しくすることができるため、シールド線を変更してシールド線の容量が変わったとしても、煩雑な作業を行うことなく、シールド線の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受ける事態を確実に防止して、接触状態の良否を正確に判定することができる。   In the contact determination device according to claim 1 and the measurement device according to claim 4, a first circuit having a first conversion element and connecting a core wire of a shield wire and a DC signal source, a variable capacitance element and a second conversion A second circuit having an element and connecting a shield of the shield wire to a DC signal source, an AC signal source outputting an AC signal, and a third circuit connected in parallel to the second circuit; And a detection circuit that detects a voltage difference between the voltage converted from current to voltage by the element and the voltage converted from current to voltage by the second conversion element. Therefore, according to the contact determination device and the measurement device, the capacitance of the variable capacitance element is set such that the voltage difference output from the detection circuit becomes 0 V in a state where each contact terminal is separated from each contact portion to be measured. After adjustment, each contact terminal can be brought into contact with each contact portion of the measurement object, without being affected by the current flowing through the capacitance of the shield wire. The quality of the contact state with the unit can be accurately determined. Further, according to the contact determination device and the measurement device, the capacitance of the variable capacitance element can be equalized to the capacitance of the shield wire by adjusting the capacitance of the variable capacitance element before the determination of the contact state. Even if the shield wire is changed and the capacitance of the shield wire is changed, it is possible to reliably prevent a situation in which the determination of the contact state is affected by the change of the shield wire without performing complicated work, and the contact state It is possible to accurately determine the quality of the

また、請求項2記載の接触判定装置、および請求項4記載の測定装置によれば、交流信号の周波数を変更可能に交流信号源を構成したことにより、例えば、同種類の他の測定装置を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各測定装置における各交流信号源から出力される交流信号の周波数を互いに異ならせることで、各交流信号源から出力される各交流信号同士の干渉によって可変容量素子の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することができる。   Further, according to the contact determination device of claim 2 and the measuring device of claim 4, the alternating current signal source is configured so as to be able to change the frequency of the alternating current signal, so that, for example, other measuring devices of the same type. Each AC signal output from each AC signal source by making the frequency of the AC signal output from each AC signal source different in each measurement apparatus different from each other in a measurement environment in which the used measurement is simultaneously performed in adjacent places It is possible to reliably prevent a situation in which the adjustment of the capacitance of the variable capacitance element and the determination of the contact state become inaccurate due to the interference between the two.

また、請求項3記載の接触判定装置、および請求項4記載の測定装置によれば、可変容量素子における容量の調節範囲内で検出回路から出力される電圧差が0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、例えば、容量が大きすぎる(長すぎる)シールド線を用いて測定をしようとしたときに、そのことを使用者に確実に報知することができる。このため、この接触判定装置および測定装置によれば、容量が大きすぎる(長すぎる)シールド線を用いて測定を行うことによって各接触端子と各被接触部との接触状態の判定を正確に行うことができなかったり、シールド線の容量の影響によって測定対象の被測定量を正確に測定することができなかったりする事態を確実に防止することができる。   Further, according to the contact determination device of claim 3 and the measurement device of claim 4, when the voltage difference output from the detection circuit does not become 0 V within the adjustment range of the capacitance of the variable capacitance element By providing the notification unit for notifying, for example, when it is intended to perform measurement using a shielded wire whose capacity is too large (too long), the user can be reliably notified of that. Therefore, according to the contact determination device and the measurement device, the determination of the contact state between each contact terminal and each contact portion can be accurately performed by performing measurement using a shield wire having a large capacity (too large). It is possible to reliably prevent such a situation that can not be performed or the measured amount of the measurement object can not be accurately measured due to the influence of the capacity of the shield wire.

抵抗測定装置1の構成を示す構成図である。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a resistance measuring device 1; 測定部2の回路構成を示す構成図である。FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration of a measurement unit 2; 抵抗測定装置1を用いた測定方法を説明する第1の説明図である。FIG. 5 is a first explanatory view for explaining a measurement method using the resistance measurement device 1; 抵抗測定装置1を用いた測定方法を説明する第2の説明図である。FIG. 5 is a second explanatory view illustrating a measurement method using the resistance measurement device 1;

以下、本発明に係る接触判定装置および測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of a contact determination device and a measurement device according to the present invention will be described with reference to the attached drawings.

最初に、図1に示す抵抗測定装置1の構成について説明する。抵抗測定装置1は、測定装置の一例であって、測定対象50の絶縁抵抗Ri(被測定量の一例)を測定可能に構成されている。具体的には、抵抗測定装置1は、同図に示すように、測定部2、操作部3、表示部4および処理部5を備えて構成されている。   First, the configuration of the resistance measuring device 1 shown in FIG. 1 will be described. The resistance measuring device 1 is an example of a measuring device, and is configured to be able to measure an insulation resistance Ri (an example of a measured amount) of the measuring object 50. Specifically, as shown in the figure, the resistance measuring device 1 is configured to include a measuring unit 2, an operation unit 3, a display unit 4 and a processing unit 5.

測定部2は、図2に示すように、直流電源21(直流信号源)、電流計22、インダクタ23a,23b、可変コンデンサ24(可変容量素子)、抵抗25a,25b,25c、交流電源26(交流信号源)、および差動アンプ27(検出回路)を備えて構成されている。なお、インダクタ23a,23b、可変コンデンサ24、抵抗25a,25b、交流電源26および差動アンプ27によって接触判定装置が構成される。   As shown in FIG. 2, the measurement unit 2 includes a DC power supply 21 (DC signal source), an ammeter 22, inductors 23a and 23b, a variable capacitor 24 (variable capacitance element), resistors 25a, 25b and 25c, and an AC power supply 26 An AC signal source and a differential amplifier 27 (detection circuit) are provided. The inductors 23a and 23b, the variable capacitor 24, the resistors 25a and 25b, the AC power supply 26, and the differential amplifier 27 constitute a contact determination device.

また、測定部2には、交流電圧(交流信号)および直流電圧(直流信号)を測定対象50に供給するためのシールド線60および導線70(図2参照)を接続するための図外の接続端子が配設されている。この場合、シールド線60は、同図に示すように、芯線61と、絶縁体を介して芯線61を取り囲むように配設されたシールド62とを備えた同軸ケーブルで構成されている。また、シールド線60における芯線61の先端部61aには、測定対象50の被接触部51に接触させる接触端子63(第1の接触端子)が接続されている。また、シールド線60における芯線61の基端部61bおよびシールド62の基端部62bには、測定部2の接続端子に接続可能な図外の接続端子が接続されている。また、導線70の先端部70aには、測定対象50の被接触部51に接触させる接触端子71(第2の接触端子)が接続され、導線70の基端部70bには、測定部2の接続端子に接続可能な図外の接続端子が接続されている。   In addition, a connection (not shown) for connecting the shield wire 60 and the conducting wire 70 (see FIG. 2) for supplying the measuring object 50 with an alternating current voltage (alternating current signal) and a direct current voltage (direct current signal). A terminal is provided. In this case, as shown in the figure, the shield wire 60 is constituted by a coaxial cable including a core wire 61 and a shield 62 disposed so as to surround the core wire 61 via an insulator. Further, a contact terminal 63 (first contact terminal) to be brought into contact with the to-be-contacted portion 51 of the measurement target 50 is connected to the tip end portion 61 a of the core wire 61 in the shield wire 60. A connection terminal (not shown) connectable to the connection terminal of the measurement unit 2 is connected to the base end 61 b of the core wire 61 and the base end 62 b of the shield 62 in the shield wire 60. In addition, a contact terminal 71 (second contact terminal) to be brought into contact with the to-be-contacted portion 51 of the measurement object 50 is connected to the tip end portion 70a of the lead 70. Connection terminals (not shown) connectable to the connection terminals are connected.

直流電源21は、処理部5の制御に従い、絶縁抵抗測定用の直流電圧(直流信号)を出力する。また、図2に示すように、直流電源21の負極21a(一方の電極)は、第1回路Pc1、第2回路Pc2および第3回路Pc3を介して、シールド線60における芯線61の基端部61bおよびシールド62の基端部62bに接続され、直流電源21の正極21b(他方の電極)は、導線70の基端部70bに接続される。この場合、同図に示すように、第1回路Pc1は、電流計22、インダクタ23aおよび抵抗25aを備えて構成され、第2回路Pc2は、インダクタ23b、可変コンデンサ24および抵抗25bを備えて構成され、第3回路Pc3は、抵抗25cおよび交流電源26を備えて構成されている。   The DC power supply 21 outputs a DC voltage (DC signal) for measuring the insulation resistance according to the control of the processing unit 5. Further, as shown in FIG. 2, the negative electrode 21a (one electrode) of the DC power supply 21 is a base end portion of the core wire 61 in the shield wire 60 via the first circuit Pc1, the second circuit Pc2 and the third circuit Pc3. The positive electrode 21 b (the other electrode) of the direct current power source 21 is connected to the proximal end 70 b of the conducting wire 70. In this case, as shown in the figure, the first circuit Pc1 includes the ammeter 22, the inductor 23a, and the resistor 25a, and the second circuit Pc2 includes the inductor 23b, the variable capacitor 24, and the resistor 25b. The third circuit Pc3 is configured to include the resistor 25c and the AC power supply 26.

電流計22は、図2に示すように、シールド線60における芯線61の基端部61bと直流電源21の負極21aとを結ぶ第1回路Pc1に設けられて、第1回路Pc1に流れる電流I1(図3参照)の電流値を検出する。   As shown in FIG. 2, the ammeter 22 is provided in a first circuit Pc1 connecting the base end 61b of the core wire 61 in the shield wire 60 and the negative electrode 21a of the DC power supply 21 and a current I1 flowing in the first circuit Pc1. The current value (see FIG. 3) is detected.

インダクタ23aは、図2に示すように、第1回路Pc1において電流計22に対して直列に接続されている。このインダクタ23aは、第1回路Pc1を流れる電流を電圧に変換するための(電流電圧変換用の)第1変換素子として機能すると共に、高周波から電流計22を保護する機能を有している。この抵抗測定装置1では、インダクタ23aには、一例として、1000μHのインダクタが用いられている。   The inductor 23a is connected in series to the ammeter 22 in the first circuit Pc1, as shown in FIG. The inductor 23a functions as a first conversion element (for current-voltage conversion) for converting a current flowing through the first circuit Pc1 into a voltage, and also has a function of protecting the ammeter 22 from high frequency. In the resistance measuring device 1, as an example, a 1000 μH inductor is used as the inductor 23a.

抵抗25aは、電流計22の保護用の抵抗であって、図2に示すように、第1回路Pc1において電流計22およびインダクタ23aに対して直列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置1では、一例として、1kΩの抵抗25aが用いられている。   The resistor 25a is a resistor for protecting the ammeter 22. As shown in FIG. 2, the resistor 25a is connected in series to the ammeter 22 and the inductor 23a in the first circuit Pc1. In this case, in the resistance measuring device 1, a resistor 25 a of 1 kΩ is used as an example.

可変コンデンサ24は、容量を調節可能なコンデンサであって、図2に示すように、シールド線60におけるシールド62の基端部62bと直流電源21の負極21aとを結ぶ第2回路Pc2に設けられている。   The variable capacitor 24 is a capacitor whose capacitance can be adjusted, and is provided in a second circuit Pc2 connecting the base end 62b of the shield 62 in the shield wire 60 and the negative electrode 21a of the DC power supply 21 as shown in FIG. ing.

インダクタ23bは、図2に示すように、第2回路Pc2において可変コンデンサ24に対して直列に接続されている。この場合、インダクタ23bは、第2回路Pc2を流れる電流を電圧に変換するための(電流電圧変換用の)第2変換素子として機能する。この抵抗測定装置1では、第1回路Pc1におけるインダクタ23aと同じ1000μHのインダクタ23bが用いられている。   The inductor 23b is connected in series to the variable capacitor 24 in the second circuit Pc2, as shown in FIG. In this case, the inductor 23b functions as a second conversion element (for current-voltage conversion) for converting the current flowing through the second circuit Pc2 into a voltage. In the resistance measuring device 1, an inductor 23b of 1000 μH, which is the same as the inductor 23a in the first circuit Pc1, is used.

抵抗25bは、第2回路Pc2の全体の抵抗値を第1回路Pc1の全体の抵抗値と同等にするための調整用の抵抗であって、第2回路Pc2における可変コンデンサ24とインダクタ23bとの間に、可変コンデンサ24およびインダクタ23bに対して直列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置1では、第1回路Pc1における抵抗25aと同じ1kΩの抵抗25bが用いられている。   The resistor 25b is a resistor for adjustment to make the overall resistance value of the second circuit Pc2 equal to the overall resistance value of the first circuit Pc1, and the resistor 25b is a resistor for adjusting the variable capacitor 24 and the inductor 23b in the second circuit Pc2. In between, it is connected in series to the variable capacitor 24 and the inductor 23b. In this case, in the resistance measuring device 1, the same resistance 25b of 1 kΩ as the resistance 25a in the first circuit Pc1 is used.

交流電源26は、図2に示すように、シールド線60におけるシールド62の基端部62bと直流電源21の負極21aとを結んで第2回路Pc2に並列な第3回路Pc3に設けられている。この交流電源26は、処理部5の制御に従い、交流電圧(接触状態判定用の交流信号)を出力する。また、交流電源26は、処理部5の制御に従って交流電圧の周波数を変更することが可能に構成されている。この場合、この抵抗測定装置1では、予め設定された複数の周波数の中から、操作部3の操作によって任意の1つの周波数を選択することによって交流電源26の周波数を変更する構成が採用されている。   As shown in FIG. 2, the AC power supply 26 is provided in a third circuit Pc3 parallel to the second circuit Pc2 by connecting the base end 62b of the shield 62 in the shield wire 60 and the negative electrode 21a of the DC power supply 21. . The AC power supply 26 outputs an AC voltage (AC signal for contact state determination) under the control of the processing unit 5. Further, the AC power supply 26 is configured to be capable of changing the frequency of the AC voltage according to the control of the processing unit 5. In this case, the resistance measuring device 1 adopts a configuration in which the frequency of the AC power supply 26 is changed by selecting any one frequency from the plurality of preset frequencies by the operation of the operation unit 3 There is.

抵抗25cは、交流電源26を終端する(保護するための)終端抵抗であって、図2に示すように、交流電源26に対して並列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置1では、一例として、50Ωの抵抗25cが用いられている。   The resistor 25 c is a termination resistor for terminating (protecting) the AC power supply 26, and is connected in parallel to the AC power supply 26 as shown in FIG. 2. In this case, in the resistance measuring device 1, a resistor 25 c of 50Ω is used as an example.

差動アンプ27は、図2に示すように、第1回路Pc1におけるインダクタ23aと抵抗25aとの間の位置A1の電圧V1(インダクタ23aによって電流電圧変換された電圧)と、第2回路Pc2におけるインダクタ23bと抵抗25bとの間の位置A2の電圧V2(インダクタ23bによって電流電圧変換された電圧)との電圧差Vs(接触状態を判定可能な物理量)を出力(検出)する。   The differential amplifier 27 is, as shown in FIG. 2, a voltage V1 at a position A1 between the inductor 23a and the resistor 25a in the first circuit Pc1 (voltage subjected to current-voltage conversion by the inductor 23a), and It outputs (detects) a voltage difference Vs (a physical quantity capable of determining a contact state) between a voltage V2 at a position A2 between the inductor 23b and the resistor 25b (a voltage subjected to current-voltage conversion by the inductor 23b).

操作部3は、各種のスイッチを備えて構成され、これらが操作されたときに操作信号を出力する。表示部4は、処理部5の制御に従って各種の値や文字情報を表示する。具体的には、表示部4は、処理部5によって測定される絶縁抵抗Riの値、測定部2の差動アンプ27から出力される電圧差Vsの値、および後述する文字情報等を表示する。   The operation unit 3 includes various switches, and outputs an operation signal when these are operated. The display unit 4 displays various values and character information according to the control of the processing unit 5. Specifically, the display unit 4 displays the value of the insulation resistance Ri measured by the processing unit 5, the value of the voltage difference Vs output from the differential amplifier 27 of the measurement unit 2, and character information described later, etc. .

処理部5は、操作部3から出力される操作信号に従って各種の処理を実行する。具体的には、処理部5は、測定部2の電流計22によって検出される電流値および直流電源21から出力される直流電圧の電圧値に基づいて測定対象50の絶縁抵抗Riを測定し、絶縁抵抗Riの値を表示部4に表示させる。また、処理部5は、表示部4と共に報知部として機能し、測定部2の可変コンデンサ24における容量の調節範囲内では、差動アンプ27から出力される電圧差Vsが0Vとならないことを示す文字情報を表示部4に表示させる。   The processing unit 5 executes various processes in accordance with the operation signal output from the operation unit 3. Specifically, the processing unit 5 measures the insulation resistance Ri of the object to be measured 50 based on the current value detected by the ammeter 22 of the measurement unit 2 and the voltage value of the DC voltage output from the DC power supply 21; The value of the insulation resistance Ri is displayed on the display unit 4. The processing unit 5 functions as a notification unit together with the display unit 4 and indicates that the voltage difference Vs output from the differential amplifier 27 does not become 0 V within the adjustment range of the capacitance of the variable capacitor 24 of the measurement unit 2. Text information is displayed on the display unit 4.

次に、抵抗測定装置1を用いて測定対象50の絶縁抵抗Riを測定する方法、およびその際の抵抗測定装置1の動作について、図面を参照して説明する。   Next, a method of measuring the insulation resistance Ri of the object to be measured 50 using the resistance measuring device 1 and the operation of the resistance measuring device 1 at that time will be described with reference to the drawings.

測定に先立ち、測定部2における可変コンデンサ24の容量調節を行う。この容量調節では、まず、操作部3を操作して、交流電源26から出力される交流電圧の周波数を、予め設定された複数の周波数の中から選択して設定する。   Prior to measurement, the capacity adjustment of the variable capacitor 24 in the measurement unit 2 is performed. In this capacity adjustment, first, the operation unit 3 is operated to select and set the frequency of the AC voltage output from the AC power supply 26 from among a plurality of preset frequencies.

次いで、図3に示すように、シールド線60に接続されている接触端子63を測定対象50の被接触部51から離した状態で、操作部3を操作して、測定部2の交流電源26による交流電圧の出力を指示する。続いて、処理部5が、操作部3から出力された操作信号に従って交流電源26を制御して交流電圧を出力させる。   Next, as shown in FIG. 3, in a state in which the contact terminal 63 connected to the shield wire 60 is separated from the to-be-contacted portion 51 of the measurement target 50, the operation unit 3 is operated to operate the AC power supply 26 of the measurement unit 2. Direct the output of AC voltage by. Subsequently, the processing unit 5 controls the AC power supply 26 according to the operation signal output from the operation unit 3 to output an AC voltage.

この場合、この状態では、図3に示すように、接触端子63が測定対象50の被接触部51から離れているため、被接触部51には交流電圧が供給されず、測定対象50には電流が流れていない。一方、芯線61とシールド62との間には容量(以下、この容量を「容量C1」ともいう)が存在するため、交流電圧の出力により、第1回路Pc1には、容量C1に応じた電流I1が流れる。また、交流電圧の出力により、第2回路Pc2には、可変コンデンサ24の容量(以下、この容量を「容量C2」ともいう)に応じた電流I2が流れる。また、第3回路Pc3には、電流I1,I2の合成電流I3が流れる。   In this case, in this state, as shown in FIG. 3, since the contact terminal 63 is separated from the to-be-contacted portion 51 of the measurement target 50, no alternating voltage is supplied to the to-be-contacted portion 51. There is no current flow. On the other hand, since there is a capacitance (hereinafter, this capacitance is also referred to as “capacitance C1”) between the core wire 61 and the shield 62, the first circuit Pc1 has a current according to the capacitance C1 by the output of the alternating voltage. I1 flows. Further, due to the output of the alternating voltage, a current I2 flows in the second circuit Pc2 according to the capacitance of the variable capacitor 24 (hereinafter, this capacitance is also referred to as "capacitance C2"). A combined current I3 of the currents I1 and I2 flows through the third circuit Pc3.

また、差動アンプ27が、インダクタ23aによって電流電圧変換された位置A1の電圧V1と、インダクタ23bによって電流電圧変換された位置A2の電圧V2との電圧差Vsを出力する。また、処理部5は、電圧差Vsの値を表示部4に表示させる。   The differential amplifier 27 outputs a voltage difference Vs between the voltage V1 at the position A1 current-voltage converted by the inductor 23a and the voltage V2 at the position A2 current-voltage converted by the inductor 23b. Further, the processing unit 5 causes the display unit 4 to display the value of the voltage difference Vs.

この場合、電圧差Vsが0Vではないとき(つまり、電圧V1,V2が異なるとき)には、表示部4に表示される電圧差Vsの値を見ながら、電圧差Vsが0Vとなるように可変コンデンサ24の容量C2を調節する。ここで、この抵抗測定装置1では、第1回路Pc1におけるインダクタ23aのインダクタンスおよび第2回路Pc2におけるインダクタ23bのインダクタンスが互いに等しく、第1回路Pc1における抵抗25aの抵抗値および第2回路Pc2における抵抗25bの抵抗値が互いに等しいため、シールド線60の容量C1と可変コンデンサ24の容量C2とが等しいときには、第1回路Pc1に流れる電流I1と第2回路Pc2に流れる電流I2とが等しくなり、この結果、電圧V1,V2が等しくなって、電圧差Vsが0Vとなる。つまり、電圧差Vsが0Vとなったときには、シールド線60の容量C1と可変コンデンサ24の容量C2とが等しくなったこととなる。   In this case, when the voltage difference Vs is not 0 V (that is, when the voltages V1 and V2 are different), the voltage difference Vs is 0 V while looking at the value of the voltage difference Vs displayed on the display unit 4 The capacitance C2 of the variable capacitor 24 is adjusted. Here, in the resistance measuring device 1, the inductance of the inductor 23a in the first circuit Pc1 and the inductance of the inductor 23b in the second circuit Pc2 are equal to each other, and the resistance value of the resistor 25a in the first circuit Pc1 and the resistance in the second circuit Pc2 Since the resistances 25b are equal to each other, when the capacitance C1 of the shield wire 60 and the capacitance C2 of the variable capacitor 24 are equal, the current I1 flowing through the first circuit Pc1 and the current I2 flowing through the second circuit Pc2 become equal. As a result, the voltages V1 and V2 become equal, and the voltage difference Vs becomes 0V. That is, when the voltage difference Vs becomes 0 V, the capacitance C1 of the shield wire 60 and the capacitance C2 of the variable capacitor 24 become equal.

次いで、操作部3を操作して交流電圧の出力の停止を指示し、これに応じて、処理部5が交流電源26を制御して交流電圧の出力を停止させる。以上により、可変コンデンサ24の容量調節が終了する。   Then, the operation unit 3 is operated to instruct stop of the output of the AC voltage, and in response to this, the processing unit 5 controls the AC power supply 26 to stop the output of the AC voltage. Thus, the adjustment of the capacitance of the variable capacitor 24 is completed.

なお、可変コンデンサ24の容量調節において、可変コンデンサ24の容量調節範囲内では電圧差Vsが0Vとならないときには、処理部5は、その旨を示す文字情報を表示部4に表示させる。また、この際には、処理部5は、参考値として、可変コンデンサ24の容量C2を表示部4に表示させる。このような情報が表示部4に表示されたときには、シールド線60の容量C1が大きすぎる(つまり、シールド線60が長すぎる)ことを意味している。このときには、後述する接触端子63,71と被接触部51との接触状態の良否の判定を正確に行うことができず、また、測定対象50の絶縁抵抗Riを測定する際に、シールド線60の容量C1の影響によって絶縁抵抗Riを正確に測定することができないおそれがある。このため、このような情報が表示部4に表示されたときには、シールド線60を短いものと交換して、可変コンデンサ24の容量調節を再度行う。   When the voltage difference Vs does not become 0 V in the capacity adjustment range of the variable capacitor 24 in the capacity adjustment of the variable capacitor 24, the processing unit 5 causes the display unit 4 to display character information indicating that. At this time, the processing unit 5 causes the display unit 4 to display the capacitance C2 of the variable capacitor 24 as a reference value. When such information is displayed on the display unit 4, it means that the capacitance C1 of the shield line 60 is too large (that is, the shield line 60 is too long). At this time, it is not possible to accurately determine whether the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the to-be-contacted portion 51 described later is correct or not, and when measuring the insulation resistance Ri of the object 50 to be measured There is a possibility that the insulation resistance Ri can not be accurately measured due to the influence of the capacitance C1. Therefore, when such information is displayed on the display unit 4, the shield wire 60 is replaced with a short one, and the capacity adjustment of the variable capacitor 24 is performed again.

続いて、測定対象50における絶縁抵抗Riの測定を開始する。まず、図4に示すように、接触端子63,71を測定対象50の各被接触部51に接触させる操作を行う。次いで、操作部3を操作して、接触端子63,71と被接触部51との接触状態の判定を指示する。続いて、処理部5は、操作部3から出力された操作信号に従って交流電源26を制御して交流電圧を出力させる。   Subsequently, the measurement of the insulation resistance Ri in the measurement target 50 is started. First, as shown in FIG. 4, an operation of bringing the contact terminals 63 and 71 into contact with the respective contact portions 51 of the measuring object 50 is performed. Then, the operation unit 3 is operated to instruct determination of the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the to-be-contacted portion 51. Subsequently, the processing unit 5 controls the AC power supply 26 in accordance with the operation signal output from the operation unit 3 to output an AC voltage.

この場合、図4に示すように、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71が接触しているときには、測定対象50の容量C3を介しても電流I1が流れるため、第1回路Pc1に流れる電流I1の電流値と第2回路Pc2に流れる電流I2の電流値とが異なることとなり、位置A1の電圧V1と位置A2の電圧V2とが異なる値となって電圧差Vsが0Vではない値となる。したがって、0V以外の電圧差Vsの値が表示部4に表示されたときには、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71が接触している(接触状態が良好である)ことを把握することができる。   In this case, as shown in FIG. 4, when the contact terminals 63 and 71 are in contact with the respective contact portions 51 of the measuring object 50, the current I1 flows even through the capacitance C3 of the measuring object 50. The current value of the current I1 flowing to the circuit Pc1 and the current value of the current I2 flowing to the second circuit Pc2 will be different, and the voltage V1 at the position A1 and the voltage V2 at the position A2 will be different values. It is not a value. Therefore, when the value of the voltage difference Vs other than 0 V is displayed on the display unit 4, the contact terminals 63 and 71 are in contact with the respective contact portions 51 of the measurement target 50 (the contact state is good). It can be grasped.

一方、図3に示すように、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71の少なくとも一方(同図では、接触端子63のみ)が接触していないときには、上記した可変コンデンサ24の容量調節において説明したように、第1回路Pc1に流れる電流I1と第2回路Pc2に流れる電流I2とが等しくなり、この結果、電圧V1,V2が等しくなって、電圧差Vsが0Vとなる。したがって、0Vの電圧差Vsの値が表示部4に表示されたときには、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71が接触していない(接触状態が不良である)ことを把握することができる。この際には、測定対象50の各被接触部51に接触させる操作を再度行う。   On the other hand, as shown in FIG. 3, when at least one of the contact terminals 63 and 71 (only the contact terminal 63 in the same figure) is not in contact with each contact portion 51 of the measuring object 50 As described in the capacity adjustment, the current I1 flowing in the first circuit Pc1 and the current I2 flowing in the second circuit Pc2 become equal, and as a result, the voltages V1 and V2 become equal, and the voltage difference Vs becomes 0V. Therefore, when the value of the voltage difference Vs of 0 V is displayed on the display unit 4, it is understood that the contact terminals 63 and 71 are not in contact with the respective contact portions 51 of the measuring object 50 (the contact state is defective). can do. At this time, the operation of bringing the contact portions 51 of the measuring object 50 into contact with each other is performed again.

この抵抗測定装置1では、測定部2を上記した構成として、接触状態の判定に先立ち、可変コンデンサ24の容量C2を調整してシールド線60の容量C1と可変コンデンサ24の容量C2とを等しくすることで、上記したように、シールド線60の容量C1を介して流れる電流の影響を受けることなく、接触端子63,71と測定対象50の各被接触部51との接触状態の良否を正確に判定することが可能となっている。また、この抵抗測定装置1では、接触状態の判定に先立って容量C2とシールド線60の容量C1とを等しくしているため、シールド線60を変更してシールド線60の容量C1が変わったとしても、シールド線60の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受けることがないため、接触状態の判定を正しく行うことが可能となっている。   In the resistance measuring device 1, the measuring unit 2 is configured as described above, and the capacitance C2 of the variable capacitor 24 is adjusted to equalize the capacitance C1 of the shield wire 60 and the capacitance C2 of the variable capacitor 24 prior to the determination of the contact state. Thus, as described above, the quality of the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the respective contact portions 51 of the measuring object 50 can be accurately determined without being affected by the current flowing through the capacitance C1 of the shield wire 60. It is possible to determine. Further, in the resistance measuring device 1, since the capacitance C2 and the capacitance C1 of the shield wire 60 are made equal prior to the determination of the contact state, it is assumed that the capacitance C1 of the shield wire 60 is changed by changing the shield wire 60. Also, since the correctness of the determination of the contact state is not affected by the change of the shield wire 60, the determination of the contact state can be performed correctly.

また、この抵抗測定装置1では、交流電源26から出力される交流電圧の周波数を変更することができるため、同種類の他の抵抗測定装置1を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各抵抗測定装置1における各交流電源26から出力される交流電圧の周波数を互いに異ならせることで、各交流電源26から出力される各交流電圧同士の干渉によって可変コンデンサ24の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することが可能となっている。   Further, in the resistance measuring device 1, since the frequency of the AC voltage output from the AC power supply 26 can be changed, the measurement using the other resistance measuring device 1 of the same type can be simultaneously performed at adjacent places. In the measurement environment, the frequencies of the AC voltages output from the AC power supplies 26 in the resistance measuring devices 1 are made different from each other, so that the capacity adjustment of the variable capacitor 24 is caused by the interference between the AC voltages output from the AC power supplies 26. In addition, it is possible to reliably prevent a situation in which the determination of the contact state is incorrect.

次いで、接触端子63,71と被接触部51との接触状態が良好であると判定したときには、操作部3を操作して、接触状態の判定の終了を指示し、続いて、操作部3を操作して測定の実行を指示する。次いで、処理部5は、操作部3から出力された操作信号に従って交流電源26を制御して交流電圧の出力を停止させ、続いて、直流電源21を制御して直流電圧を出力させる。この際に、直流電圧が接触端子63,71を介して測定対象50の各被接触部51に供給される。これに伴い、測定対象50の絶縁抵抗Riに応じた電流I11(図4参照)が第1回路Pc1を流れ、電流計22が、その電流I11を検出する。   Next, when it is determined that the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the to-be-contacted portion 51 is good, the operation unit 3 is operated to instruct the end of the determination of the contact state, and subsequently, the operation unit 3 is Operate to instruct to perform measurement. Next, the processing unit 5 controls the AC power supply 26 in accordance with the operation signal output from the operation unit 3 to stop the output of the AC voltage, and then controls the DC power supply 21 to output the DC voltage. At this time, a DC voltage is supplied to the respective contact portions 51 of the object 50 to be measured via the contact terminals 63 and 71. Along with this, the current I11 (see FIG. 4) according to the insulation resistance Ri of the measurement target 50 flows through the first circuit Pc1, and the ammeter 22 detects the current I11.

次いで、処理部5は、電流計22によって検出される電流I11の電流値と、直流電源21から出力される直流電圧の電圧値とに基づいて測定対象50の絶縁抵抗Riを測定し、続いて、絶縁抵抗Riの値を表示部4に表示させる。以上により、絶縁抵抗Riの測定が終了する。   Next, the processing unit 5 measures the insulation resistance Ri of the object to be measured 50 based on the current value of the current I11 detected by the ammeter 22 and the voltage value of the DC voltage output from the DC power supply 21. The value of the insulation resistance Ri is displayed on the display unit 4. Thus, the measurement of the insulation resistance Ri is completed.

この場合、絶縁抵抗Riが予め決められたしきい値以上のときには、測定対象50の絶縁状態が良好と判定し、絶縁抵抗Riがしきい値未満のときには、測定対象50の絶縁状態が不良と判定する。この抵抗測定装置1では、上記したように、接触端子63,71と測定対象50の各被接触部51との接触状態の良否を正確に判定することができるため、接触状態が良好のときにのみ絶縁抵抗Riの測定を行うことができる。このため、この抵抗測定装置1では、接触状態が不良であるときに絶縁抵抗Riの測定を行った結果、測定対象50の絶縁抵抗Riが実際には小さい(絶縁状態が不良)にも拘わらず、絶縁抵抗Riが大きい値として測定され、これによって絶縁状態が実際には不良の測定対象50が良好と誤判定される事態を確実に防止することが可能となっている。   In this case, when the insulation resistance Ri is equal to or higher than a predetermined threshold value, the insulation state of the object to be measured 50 is determined to be good. When the insulation resistance Ri is less than the threshold value, the insulation state of the object to be measured 50 is defective. judge. In the resistance measuring device 1, as described above, since the quality of the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the respective contact portions 51 of the measurement object 50 can be accurately determined, when the contact state is good Only the measurement of the insulation resistance Ri can be performed. For this reason, in this resistance measuring device 1, as a result of measuring the insulation resistance Ri when the contact state is defective, the insulation resistance Ri of the object 50 to be measured is actually small (despite the insulation state being defective). The insulation resistance Ri is measured as a large value, which makes it possible to reliably prevent the insulation state from being erroneously determined as a good measurement target 50 of a failure.

このように、この接触判定装置および抵抗測定装置1では、インダクタ23aを有してシールド線60の芯線61と直流電源21とを結ぶ第1回路Pc1と、可変コンデンサ24およびインダクタ23bを有してシールド線60のシールド62と直流電源21とを結ぶ第2回路Pc2と、交流電圧を出力する交流電源26を有して第2回路Pc2に並列に接続される第3回路Pc3と、第1回路Pc1における位置A1の電圧V1と第2回路Pc2における位置A2の電圧V2との電圧差Vsを検出する差動アンプ27とを備えている。このため、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、接触端子63,71を測定対象50の被接触部51から離した状態で差動アンプ27から出力される電圧差Vsが0Vとなるように可変コンデンサ24の容量C2を調節した後に、接触端子63,71を測定対象50の各被接触部51に接触させる操作をすることで、シールド線60の容量C1を介して流れる電流の影響を受けることなく、接触端子63,71と測定対象50の各被接触部51との接触状態の良否を正確に判定することができる。また、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、接触状態の判定を行う前に、可変コンデンサ24の容量C2を調節することによって容量C2とシールド線60の容量C1とを等しくすることができるため、シールド線60を変更してシールド線60の容量C1が変わったとしても、煩雑な作業を行うことなく、シールド線60の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受ける事態を確実に防止して、接触状態の良否を正確に判定することができる。   As described above, in the contact determination device and the resistance measurement device 1, the first circuit Pc 1 having the inductor 23 a and connecting the core wire 61 of the shield wire 60 to the DC power supply 21, the variable capacitor 24 and the inductor 23 b A third circuit Pc3 having a second circuit Pc2 connecting the shield 62 of the shield wire 60 and the DC power supply 21 and an AC power supply 26 outputting an AC voltage and connected in parallel to the second circuit Pc2 A differential amplifier 27 is provided to detect a voltage difference Vs between the voltage V1 at the position A1 in Pc1 and the voltage V2 at the position A2 in the second circuit Pc2. Therefore, according to the contact determination device and the resistance measurement device 1, the voltage difference Vs output from the differential amplifier 27 becomes 0 V in a state in which the contact terminals 63 and 71 are separated from the contacted portion 51 of the measurement target 50 As described above, after the capacitance C2 of the variable capacitor 24 is adjusted, the contact terminals 63 and 71 are brought into contact with the respective contact portions 51 of the measurement target 50, whereby the influence of the current flowing through the capacitance C1 of the shield wire 60 It is possible to accurately determine the quality of the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the respective to-be-contacted portions 51 of the measuring object 50 without receiving the problem. Further, according to the contact determination device and the resistance measurement device 1, it is possible to equalize the capacitance C2 and the capacitance C1 of the shield wire 60 by adjusting the capacitance C2 of the variable capacitor 24 before performing the determination of the contact state. Therefore, even if the capacity C1 of the shield wire 60 is changed by changing the shield wire 60, it is possible to ensure that the change in the shield wire 60 affects the determination of the contact state without performing complicated work. It can prevent and can judge correctly the quality of a contact state.

また、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、交流電圧の周波数を変更可能に交流電源26を構成したことにより、例えば、同種類の他の抵抗測定装置1を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各抵抗測定装置1における各交流電源26から出力される交流電圧の周波数を互いに異ならせることで、各交流電源26から出力される各交流電圧同士の干渉によって可変コンデンサ24の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することができる。   Further, according to the contact determination device and the resistance measuring device 1, by configuring the AC power supply 26 so that the frequency of the AC voltage can be changed, for example, the measurement using the other resistance measuring device 1 of the same type is adjacent By making the frequencies of the AC voltages output from the AC power supplies 26 in the resistance measuring devices 1 different from each other in a measurement environment in which measurement is performed simultaneously at a location, interference between AC voltages output from the AC power supplies 26 is caused. It is possible to reliably prevent a situation in which the adjustment of the capacitance of the variable capacitor 24 and the determination of the contact state become inaccurate.

また、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、可変コンデンサ24における容量の調節範囲内で差動アンプ27から出力される電圧差Vsが0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、例えば、容量C1が大きすぎる(長すぎる)シールド線60を用いて測定をしようとしたときに、そのことを使用者に確実に報知することができる。このため、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、容量C1が大きすぎる(長すぎる)シールド線60を用いて測定を行うことによって接触端子63,71と被接触部51との接触状態の判定を正確に行うことができなかったり、シールド線60の容量C1の影響によって絶縁抵抗Riを正確に測定することができなかったりする事態を確実に防止することができる。   Further, according to the contact determination device and the resistance measurement device 1, a notification unit that notifies that the voltage difference Vs output from the differential amplifier 27 does not become 0 V within the adjustment range of the capacitance of the variable capacitor 24 Due to the provision, for example, when it is intended to perform measurement using the shielded wire 60 in which the capacitance C1 is too large (too long), the user can be reliably notified of that. Therefore, according to the contact determination device and the resistance measurement device 1, the contact state between the contact terminals 63 and 71 and the to-be-contacted portion 51 is performed by performing measurement using the shield wire 60 whose capacitance C1 is too large (too long). It is possible to reliably prevent such a situation that the determination of V can not be accurately made or the insulation resistance Ri can not be accurately measured due to the influence of the capacitance C1 of the shield wire 60.

なお、接触判定装置および測定装置の構成は、上記した構成に限定されない。例えば、接触状態の判定の際に、直流電圧を出力させずに交流電圧だけを出力させる構成例について上記したが、直流電圧および交流電圧の双方を出力させて、直流電圧に交流電圧を重畳させた重畳電圧を用いて接触状態の判定を行う構成を採用することもできる。また、この重畳電圧を用いて絶縁抵抗Riの測定を行う構成を採用することもできる。   In addition, the structure of a contact determination apparatus and a measuring apparatus is not limited to an above-described structure. For example, in the determination of the contact state, although the configuration example has been described above in which only the AC voltage is output without outputting the DC voltage, both the DC voltage and the AC voltage are output to superimpose the AC voltage on the DC voltage. A configuration in which the contact state is determined using the superimposed voltage may be employed. Also, a configuration may be employed in which the insulation resistance Ri is measured using this superimposed voltage.

また、接触状態の判定と絶縁抵抗Riの測定とを操作部3の操作で切り替えて行う構成例について上記したが、接触状態が良好であるか否かの判定を処理部5が実行し、接触状態が良好であるとの判定をしたときに絶縁抵抗Riの測定を処理部5が自動的に実行する構成を採用することもできる。この場合、接触状態が良好であるか否かの判定を開始させる指示については、操作部3を操作することによる指示であってもよいし、外部機器からの信号による指示であってもよい。   In addition, although the above describes the configuration example in which the determination of the contact state and the measurement of the insulation resistance Ri are switched by the operation of the operation unit 3, the processing unit 5 executes the determination of whether the contact state is good or not It is also possible to adopt a configuration in which the processing unit 5 automatically executes the measurement of the insulation resistance Ri when it is determined that the state is good. In this case, the instruction to start the determination of whether or not the contact state is good may be an instruction by operating the operation unit 3 or an instruction from a signal from an external device.

また、被測定量として絶縁抵抗Riを測定する例について上記したが、被測定量は絶縁抵抗Riに限定されない。例えば、電流計22によって検出された電流値を測定対象50の被測定量として測定する構成を採用することもできる。   In addition, although the above describes the example of measuring the insulation resistance Ri as the measurement amount, the measurement amount is not limited to the insulation resistance Ri. For example, a configuration may be employed in which the current value detected by the ammeter 22 is measured as the amount to be measured of the measurement target 50.

また、第1変換素子および第2変換素子としてインダクタ23a,23bをそれぞれ用いる例について上記したが、第1変換素子および第2変換素子として抵抗を用いる構成を採用することもできる。また、抵抗25a,25b,25cは、第1回路Pc1、第2回路Pc2および第3回路Pc3を構成する他の構成要素の内容に応じて、適宜省略することもできる。   Further, although the example in which the inductors 23a and 23b are respectively used as the first conversion element and the second conversion element has been described above, a configuration using resistances as the first conversion element and the second conversion element can also be adopted. Also, the resistors 25a, 25b, 25c can be omitted as appropriate according to the contents of the other components constituting the first circuit Pc1, the second circuit Pc2, and the third circuit Pc3.

1 抵抗測定装置
4 表示部
5 処理部
21 直流電源
21a 負極
21b 正極
22 電流計
23a インダクタ
23b インダクタ
24 可変コンデンサ
26 交流電源
27 差動アンプ
50 測定対象
51 被接触部
60 シールド線
61 芯線
61a 先端部
61b 基端部
62 シールド
63 接触端子
70 導線
70a 先端部
71 接触端子
A1,A2 位置
Pc1 第1回路
Pc2 第2回路
Pc3 第3回路
Ri 絶縁抵抗
V1,V2 電圧
Vs 電圧差
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 resistance measurement apparatus 4 display part 5 process part 21 DC power supply 21a negative electrode 21b positive electrode 22 current meter 23a inductor 24b inductor 24 variable capacitor 26 AC power supply 27 differential amplifier 50 measurement object 51 to-be-contacted part 60 shield wire 61 core 61a tip 61b Base end 62 Shield 63 Contact terminal 70 Conductor 70a Tip 71 Contact terminal A1, A2 Position Pc1 1st circuit Pc 2 2nd circuit Pc 3 3rd circuit Ri insulation resistance V1, V2 voltage Vs voltage difference

Claims (4)

芯線および当該芯線を取り囲むシールドを有するシールド線における当該芯線の先端部に接続された第1の接触端子を測定対象における一方の被接触部に接触させると共に導線の先端部に接続された第2の接触端子を前記測定対象における他方の被接触部に接触させて、前記芯線および前記導線を介して直流信号源からの直流信号を前記測定対象に供給している状態で当該測定対象の被測定量を測定する測定装置における前記各接触端子と前記各被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置であって、
前記芯線の基端部と前記直流信号源の一方の電極とを結ぶ第1回路と、前記シールドの基端部と前記一方の電極とを結ぶ第2回路と、前記シールドの前記基端部と前記一方の電極とを結んで前記第2回路に並列に接続される第3回路と、前記接触状態を判定可能な物理量を検出する検出回路とを備え、
前記第1回路は、電流電圧変換用の第1変換素子を備え、
前記第2回路は、直列接続された可変容量素子および電流電圧変換用の第2変換素子を備え、
前記第3回路は、前記接触状態の判定用の交流信号を出力する交流信号源を備え、
前記検出回路は、前記第1変換素子によって電流電圧変換された電圧と前記第2変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を前記物理量として検出する接触判定装置。
A core wire and a shield wire having a shield surrounding the core wire The first contact terminal connected to the tip of the core wire is brought into contact with one of the contact parts on the object to be measured, and the second contact wire is connected to the tip of the lead wire The measured amount of the measuring object in a state in which the contact terminal is brought into contact with the other to-be-contacted part in the measuring object and the direct current signal from the direct current signal source is supplied to the measuring object via the core wire and the conducting wire. A contact determination device capable of determining a contact state between each contact terminal and each contact portion in a measurement device that measures
A first circuit connecting the proximal end of the core wire to one electrode of the DC signal source, a second circuit connecting the proximal end of the shield to the one electrode, and the proximal end of the shield And a third circuit connected in parallel to the second circuit by connecting to the one electrode, and a detection circuit that detects a physical quantity capable of determining the contact state,
The first circuit includes a first conversion element for current-voltage conversion,
The second circuit includes a variable capacitance element connected in series and a second conversion element for current-voltage conversion,
The third circuit includes an AC signal source that outputs an AC signal for determining the contact state,
The detection circuit detects, as the physical quantity, a voltage difference between a voltage obtained by current-voltage conversion by the first conversion element and a voltage obtained by current-voltage conversion by the second conversion element.
前記交流信号源は、前記交流信号の周波数を変更可能に構成されている請求項1記載の接触判定装置。   The contact determination apparatus according to claim 1, wherein the alternating current signal source is configured to be capable of changing the frequency of the alternating current signal. 前記可変容量素子における容量の調節範囲内で前記検出回路から出力される前記電圧差が0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えている請求項1または2記載の接触判定装置。   The contact determination apparatus according to claim 1, further comprising a notification unit that notifies that the voltage difference output from the detection circuit does not become 0 V within the adjustment range of the capacitance of the variable capacitance element. 請求項1から3のいずれかに記載の接触判定装置と、前記直流信号源と、前記第1回路に設けられた電流計とを備え、当該電流計によって検出される電流値に基づいて前記測定対象の前記被測定量を測定する測定装置。   The contact determination apparatus according to any one of claims 1 to 3, the direct current signal source, and an ammeter provided in the first circuit, the measurement based on the current value detected by the ammeter. A measuring device for measuring the measured amount of a subject.
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