JP6542094B2 - Contact determination device and measurement device - Google Patents
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Description
本発明は、被接触部に接触させた接触端子を介して直流信号を測定対象に供給している状態で被測定量を測定する測定装置における接触端子と被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置、およびその接触判定装置を備えた測定装置に関するものである。 The present invention can determine the contact state between the contact terminal and the to-be-contacted portion in a measuring device that measures the amount to be measured in a state where a DC signal is supplied to the measurement object via the contact terminal brought into contact with the to-be-contacted portion The present invention relates to a contact determination device and a measurement device including the contact determination device.
この種の測定装置として、下記特許文献1に開示された2端子回路素子測定装置(以下、単に「測定装置」ともいう)が知られている。この測定装置は、電流計、直流電圧に交流電圧を重畳した電圧を発生する直流電圧発生回路、およびCPU等を備えて、測定対象(DUT)の絶縁抵抗を測定可能に構成されている。ここで、測定対象に電圧を供給するケーブルと測定対象との接触状態が不良のときには、絶縁抵抗を正しく測定することができないため、この測定装置には、ケーブルと測定対象との接触状態を判定する機能が搭載されている。この場合、ケーブルと測定対象との接触状態が良好なときには測定対象の容量を介して電流の交流成分が流れ、接触状態が不良のときには電流の直流成分および交流成分の双方が流れないため、この測定装置では、電流計によって測定された電流の直流成分および交流成分の双方が0Aのときには接触状態が不良と判定し、電流の交流成分が0Aではないときには接触状態が良好と判定している。
As a measuring apparatus of this type, a two-terminal circuit element measuring apparatus (hereinafter, also simply referred to as “measuring apparatus”) disclosed in
ところが、上記の測定装置には、以下の問題点がある。すなわち、上記の測定装置では、測定対象に電圧を供給するケーブルとして、芯線(第1導体)とシールド(第2導体)とを有する同軸ケーブル(シールド線)を用いている。この場合、同軸ケーブルのケーブル長が規定値よりも長い場合には、芯線とシールドとの間の容量が大きくなるため、電流計によって測定される電流の交流成分が、ケーブル長が規定値のときに測定される交流成分よりも小さくなる結果、接触状態を誤判定するおそれがある。また、同軸ケーブルのケーブル長が規定値よりも短い場合には、芯線とシールドとの間の容量が小さくなるため、電流計によって測定される電流の交流成分が、ケーブル長が規定値のときに測定される交流成分よりも大きくなる結果、接触状態を誤判定するおそれがある。したがって、上記の測定装置には、ケーブル長が規定値とは異なる同軸ケーブルを使用するときに、そのケーブル長に合わせて増幅器の感度や交流電圧の振幅を再調整する必要があり作業が煩雑となるという問題点が存在する。 However, the above-described measuring apparatus has the following problems. That is, in the above-mentioned measuring device, a coaxial cable (shield wire) which has a core wire (the 1st conductor) and a shield (the 2nd conductor) is used as a cable which supplies voltage to a measuring object. In this case, when the cable length of the coaxial cable is longer than the specified value, the capacity between the core wire and the shield increases, so when the AC component of the current measured by the ammeter is the specified value As a result of being smaller than the alternating current component measured in the above, there is a possibility that the contact state may be erroneously determined. In addition, when the cable length of the coaxial cable is shorter than the specified value, the capacity between the core wire and the shield becomes smaller, so when the cable length of the alternating current component measured by the ammeter is the specified value. As a result of being larger than the AC component to be measured, there is a possibility that the contact state may be erroneously determined. Therefore, when using a coaxial cable whose cable length is different from the specified value, it is necessary to readjust the sensitivity of the amplifier and the amplitude of the AC voltage according to the cable length in the above-mentioned measuring device, which makes the operation complicated. There is a problem that
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、シールド線の長さが変更された場合においても、煩雑な作業を行うことなく接触端子と測定対象の被接触部との接触状態の良否を正確に判定し得る接触判定装置および測定装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and even when the length of the shield wire is changed, the contact state between the contact terminal and the to-be-contacted portion to be measured without performing a complicated operation. A main object of the present invention is to provide a contact determination device and a measurement device capable of accurately determining the quality.
上記目的を達成すべく請求項1記載の接触判定装置は、芯線および当該芯線を取り囲むシールドを有するシールド線における当該芯線の先端部に接続された第1の接触端子を測定対象における一方の被接触部に接触させると共に導線の先端部に接続された第2の接触端子を前記測定対象における他方の被接触部に接触させて、前記芯線および前記導線を介して直流信号源からの直流信号を前記測定対象に供給している状態で当該測定対象の被測定量を測定する測定装置における前記各接触端子と前記各被接触部との接触状態を判定可能な接触判定装置であって、前記芯線の基端部と前記直流信号源の一方の電極とを結ぶ第1回路と、前記シールドの基端部と前記一方の電極とを結ぶ第2回路と、前記シールドの前記基端部と前記一方の電極とを結んで前記第2回路に並列に接続される第3回路と、前記接触状態を判定可能な物理量を検出する検出回路とを備え、前記第1回路は、電流電圧変換用の第1変換素子を備え、前記第2回路は、直列接続された可変容量素子および電流電圧変換用の第2変換素子を備え、前記第3回路は、前記接触状態の判定用の交流信号を出力する交流信号源を備え、前記検出回路は、前記第1変換素子によって電流電圧変換された電圧と前記第2変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を前記物理量として検出する。
In order to achieve the above object, the contact determination device according to
また、請求項2記載の接触判定装置は、請求項1記載の接触判定装置において、前記交流信号源は、前記交流信号の周波数を変更可能に構成されている。 A contact determination apparatus according to a second aspect is the contact determination apparatus according to the first aspect, wherein the alternating current signal source is configured to be capable of changing the frequency of the alternating current signal.
また、請求項3記載の接触判定装置は、請求項1または2記載の接触判定装置において、前記可変容量素子における容量の調節範囲内で前記検出回路から出力される前記電圧差が0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えている。
The contact determination apparatus according to
また、請求項4記載の測定装置は、請求項1から3のいずれかに記載の接触判定装置と、前記直流信号源と、前記第1回路に設けられた電流計とを備え、当該電流計によって検出される電流値に基づいて前記測定対象の前記被測定量を測定する。
The measuring device according to
請求項1記載の接触判定装置、および請求項4記載の測定装置では、第1変換素子を有してシールド線の芯線と直流信号源とを結ぶ第1回路と、可変容量素子および第2変換素子を有してシールド線のシールドと直流信号源とを結ぶ第2回路と、交流信号を出力する交流信号源を有して第2回路に並列に接続される第3回路と、第1変換素子によって電流電圧変換された電圧と第2変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を検出する検出回路とを備えている。このため、この接触判定装置および測定装置によれば、各接触端子を測定対象の各被接触部から離した状態で検出回路から出力される電圧差が0Vとなるように可変容量素子の容量を調節した後に、各接触端子を測定対象の各被接触部に接触させる操作をすることで、シールド線の容量を介して流れる電流の影響を受けることなく、各接触端子と測定対象の各被接触部との接触状態の良否を正確に判定することができる。また、この接触判定装置および測定装置によれば、接触状態の判定を行う前に、可変容量素子の容量を調節することによって可変容量素子の容量とシールド線の容量とを等しくすることができるため、シールド線を変更してシールド線の容量が変わったとしても、煩雑な作業を行うことなく、シールド線の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受ける事態を確実に防止して、接触状態の良否を正確に判定することができる。
In the contact determination device according to
また、請求項2記載の接触判定装置、および請求項4記載の測定装置によれば、交流信号の周波数を変更可能に交流信号源を構成したことにより、例えば、同種類の他の測定装置を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各測定装置における各交流信号源から出力される交流信号の周波数を互いに異ならせることで、各交流信号源から出力される各交流信号同士の干渉によって可変容量素子の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することができる。
Further, according to the contact determination device of
また、請求項3記載の接触判定装置、および請求項4記載の測定装置によれば、可変容量素子における容量の調節範囲内で検出回路から出力される電圧差が0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、例えば、容量が大きすぎる(長すぎる)シールド線を用いて測定をしようとしたときに、そのことを使用者に確実に報知することができる。このため、この接触判定装置および測定装置によれば、容量が大きすぎる(長すぎる)シールド線を用いて測定を行うことによって各接触端子と各被接触部との接触状態の判定を正確に行うことができなかったり、シールド線の容量の影響によって測定対象の被測定量を正確に測定することができなかったりする事態を確実に防止することができる。
Further, according to the contact determination device of
以下、本発明に係る接触判定装置および測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments of a contact determination device and a measurement device according to the present invention will be described with reference to the attached drawings.
最初に、図1に示す抵抗測定装置1の構成について説明する。抵抗測定装置1は、測定装置の一例であって、測定対象50の絶縁抵抗Ri(被測定量の一例)を測定可能に構成されている。具体的には、抵抗測定装置1は、同図に示すように、測定部2、操作部3、表示部4および処理部5を備えて構成されている。
First, the configuration of the
測定部2は、図2に示すように、直流電源21(直流信号源)、電流計22、インダクタ23a,23b、可変コンデンサ24(可変容量素子)、抵抗25a,25b,25c、交流電源26(交流信号源)、および差動アンプ27(検出回路)を備えて構成されている。なお、インダクタ23a,23b、可変コンデンサ24、抵抗25a,25b、交流電源26および差動アンプ27によって接触判定装置が構成される。
As shown in FIG. 2, the
また、測定部2には、交流電圧(交流信号)および直流電圧(直流信号)を測定対象50に供給するためのシールド線60および導線70(図2参照)を接続するための図外の接続端子が配設されている。この場合、シールド線60は、同図に示すように、芯線61と、絶縁体を介して芯線61を取り囲むように配設されたシールド62とを備えた同軸ケーブルで構成されている。また、シールド線60における芯線61の先端部61aには、測定対象50の被接触部51に接触させる接触端子63(第1の接触端子)が接続されている。また、シールド線60における芯線61の基端部61bおよびシールド62の基端部62bには、測定部2の接続端子に接続可能な図外の接続端子が接続されている。また、導線70の先端部70aには、測定対象50の被接触部51に接触させる接触端子71(第2の接触端子)が接続され、導線70の基端部70bには、測定部2の接続端子に接続可能な図外の接続端子が接続されている。
In addition, a connection (not shown) for connecting the
直流電源21は、処理部5の制御に従い、絶縁抵抗測定用の直流電圧(直流信号)を出力する。また、図2に示すように、直流電源21の負極21a(一方の電極)は、第1回路Pc1、第2回路Pc2および第3回路Pc3を介して、シールド線60における芯線61の基端部61bおよびシールド62の基端部62bに接続され、直流電源21の正極21b(他方の電極)は、導線70の基端部70bに接続される。この場合、同図に示すように、第1回路Pc1は、電流計22、インダクタ23aおよび抵抗25aを備えて構成され、第2回路Pc2は、インダクタ23b、可変コンデンサ24および抵抗25bを備えて構成され、第3回路Pc3は、抵抗25cおよび交流電源26を備えて構成されている。
The
電流計22は、図2に示すように、シールド線60における芯線61の基端部61bと直流電源21の負極21aとを結ぶ第1回路Pc1に設けられて、第1回路Pc1に流れる電流I1(図3参照)の電流値を検出する。
As shown in FIG. 2, the
インダクタ23aは、図2に示すように、第1回路Pc1において電流計22に対して直列に接続されている。このインダクタ23aは、第1回路Pc1を流れる電流を電圧に変換するための(電流電圧変換用の)第1変換素子として機能すると共に、高周波から電流計22を保護する機能を有している。この抵抗測定装置1では、インダクタ23aには、一例として、1000μHのインダクタが用いられている。
The
抵抗25aは、電流計22の保護用の抵抗であって、図2に示すように、第1回路Pc1において電流計22およびインダクタ23aに対して直列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置1では、一例として、1kΩの抵抗25aが用いられている。
The
可変コンデンサ24は、容量を調節可能なコンデンサであって、図2に示すように、シールド線60におけるシールド62の基端部62bと直流電源21の負極21aとを結ぶ第2回路Pc2に設けられている。
The
インダクタ23bは、図2に示すように、第2回路Pc2において可変コンデンサ24に対して直列に接続されている。この場合、インダクタ23bは、第2回路Pc2を流れる電流を電圧に変換するための(電流電圧変換用の)第2変換素子として機能する。この抵抗測定装置1では、第1回路Pc1におけるインダクタ23aと同じ1000μHのインダクタ23bが用いられている。
The
抵抗25bは、第2回路Pc2の全体の抵抗値を第1回路Pc1の全体の抵抗値と同等にするための調整用の抵抗であって、第2回路Pc2における可変コンデンサ24とインダクタ23bとの間に、可変コンデンサ24およびインダクタ23bに対して直列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置1では、第1回路Pc1における抵抗25aと同じ1kΩの抵抗25bが用いられている。
The
交流電源26は、図2に示すように、シールド線60におけるシールド62の基端部62bと直流電源21の負極21aとを結んで第2回路Pc2に並列な第3回路Pc3に設けられている。この交流電源26は、処理部5の制御に従い、交流電圧(接触状態判定用の交流信号)を出力する。また、交流電源26は、処理部5の制御に従って交流電圧の周波数を変更することが可能に構成されている。この場合、この抵抗測定装置1では、予め設定された複数の周波数の中から、操作部3の操作によって任意の1つの周波数を選択することによって交流電源26の周波数を変更する構成が採用されている。
As shown in FIG. 2, the
抵抗25cは、交流電源26を終端する(保護するための)終端抵抗であって、図2に示すように、交流電源26に対して並列に接続されている。この場合、この抵抗測定装置1では、一例として、50Ωの抵抗25cが用いられている。
The
差動アンプ27は、図2に示すように、第1回路Pc1におけるインダクタ23aと抵抗25aとの間の位置A1の電圧V1(インダクタ23aによって電流電圧変換された電圧)と、第2回路Pc2におけるインダクタ23bと抵抗25bとの間の位置A2の電圧V2(インダクタ23bによって電流電圧変換された電圧)との電圧差Vs(接触状態を判定可能な物理量)を出力(検出)する。
The
操作部3は、各種のスイッチを備えて構成され、これらが操作されたときに操作信号を出力する。表示部4は、処理部5の制御に従って各種の値や文字情報を表示する。具体的には、表示部4は、処理部5によって測定される絶縁抵抗Riの値、測定部2の差動アンプ27から出力される電圧差Vsの値、および後述する文字情報等を表示する。
The
処理部5は、操作部3から出力される操作信号に従って各種の処理を実行する。具体的には、処理部5は、測定部2の電流計22によって検出される電流値および直流電源21から出力される直流電圧の電圧値に基づいて測定対象50の絶縁抵抗Riを測定し、絶縁抵抗Riの値を表示部4に表示させる。また、処理部5は、表示部4と共に報知部として機能し、測定部2の可変コンデンサ24における容量の調節範囲内では、差動アンプ27から出力される電圧差Vsが0Vとならないことを示す文字情報を表示部4に表示させる。
The
次に、抵抗測定装置1を用いて測定対象50の絶縁抵抗Riを測定する方法、およびその際の抵抗測定装置1の動作について、図面を参照して説明する。
Next, a method of measuring the insulation resistance Ri of the object to be measured 50 using the
測定に先立ち、測定部2における可変コンデンサ24の容量調節を行う。この容量調節では、まず、操作部3を操作して、交流電源26から出力される交流電圧の周波数を、予め設定された複数の周波数の中から選択して設定する。
Prior to measurement, the capacity adjustment of the
次いで、図3に示すように、シールド線60に接続されている接触端子63を測定対象50の被接触部51から離した状態で、操作部3を操作して、測定部2の交流電源26による交流電圧の出力を指示する。続いて、処理部5が、操作部3から出力された操作信号に従って交流電源26を制御して交流電圧を出力させる。
Next, as shown in FIG. 3, in a state in which the
この場合、この状態では、図3に示すように、接触端子63が測定対象50の被接触部51から離れているため、被接触部51には交流電圧が供給されず、測定対象50には電流が流れていない。一方、芯線61とシールド62との間には容量(以下、この容量を「容量C1」ともいう)が存在するため、交流電圧の出力により、第1回路Pc1には、容量C1に応じた電流I1が流れる。また、交流電圧の出力により、第2回路Pc2には、可変コンデンサ24の容量(以下、この容量を「容量C2」ともいう)に応じた電流I2が流れる。また、第3回路Pc3には、電流I1,I2の合成電流I3が流れる。
In this case, in this state, as shown in FIG. 3, since the
また、差動アンプ27が、インダクタ23aによって電流電圧変換された位置A1の電圧V1と、インダクタ23bによって電流電圧変換された位置A2の電圧V2との電圧差Vsを出力する。また、処理部5は、電圧差Vsの値を表示部4に表示させる。
The
この場合、電圧差Vsが0Vではないとき(つまり、電圧V1,V2が異なるとき)には、表示部4に表示される電圧差Vsの値を見ながら、電圧差Vsが0Vとなるように可変コンデンサ24の容量C2を調節する。ここで、この抵抗測定装置1では、第1回路Pc1におけるインダクタ23aのインダクタンスおよび第2回路Pc2におけるインダクタ23bのインダクタンスが互いに等しく、第1回路Pc1における抵抗25aの抵抗値および第2回路Pc2における抵抗25bの抵抗値が互いに等しいため、シールド線60の容量C1と可変コンデンサ24の容量C2とが等しいときには、第1回路Pc1に流れる電流I1と第2回路Pc2に流れる電流I2とが等しくなり、この結果、電圧V1,V2が等しくなって、電圧差Vsが0Vとなる。つまり、電圧差Vsが0Vとなったときには、シールド線60の容量C1と可変コンデンサ24の容量C2とが等しくなったこととなる。
In this case, when the voltage difference Vs is not 0 V (that is, when the voltages V1 and V2 are different), the voltage difference Vs is 0 V while looking at the value of the voltage difference Vs displayed on the
次いで、操作部3を操作して交流電圧の出力の停止を指示し、これに応じて、処理部5が交流電源26を制御して交流電圧の出力を停止させる。以上により、可変コンデンサ24の容量調節が終了する。
Then, the
なお、可変コンデンサ24の容量調節において、可変コンデンサ24の容量調節範囲内では電圧差Vsが0Vとならないときには、処理部5は、その旨を示す文字情報を表示部4に表示させる。また、この際には、処理部5は、参考値として、可変コンデンサ24の容量C2を表示部4に表示させる。このような情報が表示部4に表示されたときには、シールド線60の容量C1が大きすぎる(つまり、シールド線60が長すぎる)ことを意味している。このときには、後述する接触端子63,71と被接触部51との接触状態の良否の判定を正確に行うことができず、また、測定対象50の絶縁抵抗Riを測定する際に、シールド線60の容量C1の影響によって絶縁抵抗Riを正確に測定することができないおそれがある。このため、このような情報が表示部4に表示されたときには、シールド線60を短いものと交換して、可変コンデンサ24の容量調節を再度行う。
When the voltage difference Vs does not become 0 V in the capacity adjustment range of the
続いて、測定対象50における絶縁抵抗Riの測定を開始する。まず、図4に示すように、接触端子63,71を測定対象50の各被接触部51に接触させる操作を行う。次いで、操作部3を操作して、接触端子63,71と被接触部51との接触状態の判定を指示する。続いて、処理部5は、操作部3から出力された操作信号に従って交流電源26を制御して交流電圧を出力させる。
Subsequently, the measurement of the insulation resistance Ri in the
この場合、図4に示すように、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71が接触しているときには、測定対象50の容量C3を介しても電流I1が流れるため、第1回路Pc1に流れる電流I1の電流値と第2回路Pc2に流れる電流I2の電流値とが異なることとなり、位置A1の電圧V1と位置A2の電圧V2とが異なる値となって電圧差Vsが0Vではない値となる。したがって、0V以外の電圧差Vsの値が表示部4に表示されたときには、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71が接触している(接触状態が良好である)ことを把握することができる。
In this case, as shown in FIG. 4, when the
一方、図3に示すように、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71の少なくとも一方(同図では、接触端子63のみ)が接触していないときには、上記した可変コンデンサ24の容量調節において説明したように、第1回路Pc1に流れる電流I1と第2回路Pc2に流れる電流I2とが等しくなり、この結果、電圧V1,V2が等しくなって、電圧差Vsが0Vとなる。したがって、0Vの電圧差Vsの値が表示部4に表示されたときには、測定対象50の各被接触部51に接触端子63,71が接触していない(接触状態が不良である)ことを把握することができる。この際には、測定対象50の各被接触部51に接触させる操作を再度行う。
On the other hand, as shown in FIG. 3, when at least one of the
この抵抗測定装置1では、測定部2を上記した構成として、接触状態の判定に先立ち、可変コンデンサ24の容量C2を調整してシールド線60の容量C1と可変コンデンサ24の容量C2とを等しくすることで、上記したように、シールド線60の容量C1を介して流れる電流の影響を受けることなく、接触端子63,71と測定対象50の各被接触部51との接触状態の良否を正確に判定することが可能となっている。また、この抵抗測定装置1では、接触状態の判定に先立って容量C2とシールド線60の容量C1とを等しくしているため、シールド線60を変更してシールド線60の容量C1が変わったとしても、シールド線60の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受けることがないため、接触状態の判定を正しく行うことが可能となっている。
In the
また、この抵抗測定装置1では、交流電源26から出力される交流電圧の周波数を変更することができるため、同種類の他の抵抗測定装置1を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各抵抗測定装置1における各交流電源26から出力される交流電圧の周波数を互いに異ならせることで、各交流電源26から出力される各交流電圧同士の干渉によって可変コンデンサ24の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することが可能となっている。
Further, in the
次いで、接触端子63,71と被接触部51との接触状態が良好であると判定したときには、操作部3を操作して、接触状態の判定の終了を指示し、続いて、操作部3を操作して測定の実行を指示する。次いで、処理部5は、操作部3から出力された操作信号に従って交流電源26を制御して交流電圧の出力を停止させ、続いて、直流電源21を制御して直流電圧を出力させる。この際に、直流電圧が接触端子63,71を介して測定対象50の各被接触部51に供給される。これに伴い、測定対象50の絶縁抵抗Riに応じた電流I11(図4参照)が第1回路Pc1を流れ、電流計22が、その電流I11を検出する。
Next, when it is determined that the contact state between the
次いで、処理部5は、電流計22によって検出される電流I11の電流値と、直流電源21から出力される直流電圧の電圧値とに基づいて測定対象50の絶縁抵抗Riを測定し、続いて、絶縁抵抗Riの値を表示部4に表示させる。以上により、絶縁抵抗Riの測定が終了する。
Next, the
この場合、絶縁抵抗Riが予め決められたしきい値以上のときには、測定対象50の絶縁状態が良好と判定し、絶縁抵抗Riがしきい値未満のときには、測定対象50の絶縁状態が不良と判定する。この抵抗測定装置1では、上記したように、接触端子63,71と測定対象50の各被接触部51との接触状態の良否を正確に判定することができるため、接触状態が良好のときにのみ絶縁抵抗Riの測定を行うことができる。このため、この抵抗測定装置1では、接触状態が不良であるときに絶縁抵抗Riの測定を行った結果、測定対象50の絶縁抵抗Riが実際には小さい(絶縁状態が不良)にも拘わらず、絶縁抵抗Riが大きい値として測定され、これによって絶縁状態が実際には不良の測定対象50が良好と誤判定される事態を確実に防止することが可能となっている。
In this case, when the insulation resistance Ri is equal to or higher than a predetermined threshold value, the insulation state of the object to be measured 50 is determined to be good. When the insulation resistance Ri is less than the threshold value, the insulation state of the object to be measured 50 is defective. judge. In the
このように、この接触判定装置および抵抗測定装置1では、インダクタ23aを有してシールド線60の芯線61と直流電源21とを結ぶ第1回路Pc1と、可変コンデンサ24およびインダクタ23bを有してシールド線60のシールド62と直流電源21とを結ぶ第2回路Pc2と、交流電圧を出力する交流電源26を有して第2回路Pc2に並列に接続される第3回路Pc3と、第1回路Pc1における位置A1の電圧V1と第2回路Pc2における位置A2の電圧V2との電圧差Vsを検出する差動アンプ27とを備えている。このため、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、接触端子63,71を測定対象50の被接触部51から離した状態で差動アンプ27から出力される電圧差Vsが0Vとなるように可変コンデンサ24の容量C2を調節した後に、接触端子63,71を測定対象50の各被接触部51に接触させる操作をすることで、シールド線60の容量C1を介して流れる電流の影響を受けることなく、接触端子63,71と測定対象50の各被接触部51との接触状態の良否を正確に判定することができる。また、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、接触状態の判定を行う前に、可変コンデンサ24の容量C2を調節することによって容量C2とシールド線60の容量C1とを等しくすることができるため、シールド線60を変更してシールド線60の容量C1が変わったとしても、煩雑な作業を行うことなく、シールド線60の変更によって接触状態の判定の正否が影響を受ける事態を確実に防止して、接触状態の良否を正確に判定することができる。
As described above, in the contact determination device and the
また、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、交流電圧の周波数を変更可能に交流電源26を構成したことにより、例えば、同種類の他の抵抗測定装置1を用いた測定を隣接した箇所で同時に行うような測定環境において、各抵抗測定装置1における各交流電源26から出力される交流電圧の周波数を互いに異ならせることで、各交流電源26から出力される各交流電圧同士の干渉によって可変コンデンサ24の容量調節や、接触状態の判定が不正確となる事態を確実に防止することができる。
Further, according to the contact determination device and the
また、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、可変コンデンサ24における容量の調節範囲内で差動アンプ27から出力される電圧差Vsが0Vとならないときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、例えば、容量C1が大きすぎる(長すぎる)シールド線60を用いて測定をしようとしたときに、そのことを使用者に確実に報知することができる。このため、この接触判定装置および抵抗測定装置1によれば、容量C1が大きすぎる(長すぎる)シールド線60を用いて測定を行うことによって接触端子63,71と被接触部51との接触状態の判定を正確に行うことができなかったり、シールド線60の容量C1の影響によって絶縁抵抗Riを正確に測定することができなかったりする事態を確実に防止することができる。
Further, according to the contact determination device and the
なお、接触判定装置および測定装置の構成は、上記した構成に限定されない。例えば、接触状態の判定の際に、直流電圧を出力させずに交流電圧だけを出力させる構成例について上記したが、直流電圧および交流電圧の双方を出力させて、直流電圧に交流電圧を重畳させた重畳電圧を用いて接触状態の判定を行う構成を採用することもできる。また、この重畳電圧を用いて絶縁抵抗Riの測定を行う構成を採用することもできる。 In addition, the structure of a contact determination apparatus and a measuring apparatus is not limited to an above-described structure. For example, in the determination of the contact state, although the configuration example has been described above in which only the AC voltage is output without outputting the DC voltage, both the DC voltage and the AC voltage are output to superimpose the AC voltage on the DC voltage. A configuration in which the contact state is determined using the superimposed voltage may be employed. Also, a configuration may be employed in which the insulation resistance Ri is measured using this superimposed voltage.
また、接触状態の判定と絶縁抵抗Riの測定とを操作部3の操作で切り替えて行う構成例について上記したが、接触状態が良好であるか否かの判定を処理部5が実行し、接触状態が良好であるとの判定をしたときに絶縁抵抗Riの測定を処理部5が自動的に実行する構成を採用することもできる。この場合、接触状態が良好であるか否かの判定を開始させる指示については、操作部3を操作することによる指示であってもよいし、外部機器からの信号による指示であってもよい。
In addition, although the above describes the configuration example in which the determination of the contact state and the measurement of the insulation resistance Ri are switched by the operation of the
また、被測定量として絶縁抵抗Riを測定する例について上記したが、被測定量は絶縁抵抗Riに限定されない。例えば、電流計22によって検出された電流値を測定対象50の被測定量として測定する構成を採用することもできる。
In addition, although the above describes the example of measuring the insulation resistance Ri as the measurement amount, the measurement amount is not limited to the insulation resistance Ri. For example, a configuration may be employed in which the current value detected by the
また、第1変換素子および第2変換素子としてインダクタ23a,23bをそれぞれ用いる例について上記したが、第1変換素子および第2変換素子として抵抗を用いる構成を採用することもできる。また、抵抗25a,25b,25cは、第1回路Pc1、第2回路Pc2および第3回路Pc3を構成する他の構成要素の内容に応じて、適宜省略することもできる。
Further, although the example in which the
1 抵抗測定装置
4 表示部
5 処理部
21 直流電源
21a 負極
21b 正極
22 電流計
23a インダクタ
23b インダクタ
24 可変コンデンサ
26 交流電源
27 差動アンプ
50 測定対象
51 被接触部
60 シールド線
61 芯線
61a 先端部
61b 基端部
62 シールド
63 接触端子
70 導線
70a 先端部
71 接触端子
A1,A2 位置
Pc1 第1回路
Pc2 第2回路
Pc3 第3回路
Ri 絶縁抵抗
V1,V2 電圧
Vs 電圧差
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記芯線の基端部と前記直流信号源の一方の電極とを結ぶ第1回路と、前記シールドの基端部と前記一方の電極とを結ぶ第2回路と、前記シールドの前記基端部と前記一方の電極とを結んで前記第2回路に並列に接続される第3回路と、前記接触状態を判定可能な物理量を検出する検出回路とを備え、
前記第1回路は、電流電圧変換用の第1変換素子を備え、
前記第2回路は、直列接続された可変容量素子および電流電圧変換用の第2変換素子を備え、
前記第3回路は、前記接触状態の判定用の交流信号を出力する交流信号源を備え、
前記検出回路は、前記第1変換素子によって電流電圧変換された電圧と前記第2変換素子によって電流電圧変換された電圧との電圧差を前記物理量として検出する接触判定装置。 A core wire and a shield wire having a shield surrounding the core wire The first contact terminal connected to the tip of the core wire is brought into contact with one of the contact parts on the object to be measured, and the second contact wire is connected to the tip of the lead wire The measured amount of the measuring object in a state in which the contact terminal is brought into contact with the other to-be-contacted part in the measuring object and the direct current signal from the direct current signal source is supplied to the measuring object via the core wire and the conducting wire. A contact determination device capable of determining a contact state between each contact terminal and each contact portion in a measurement device that measures
A first circuit connecting the proximal end of the core wire to one electrode of the DC signal source, a second circuit connecting the proximal end of the shield to the one electrode, and the proximal end of the shield And a third circuit connected in parallel to the second circuit by connecting to the one electrode, and a detection circuit that detects a physical quantity capable of determining the contact state,
The first circuit includes a first conversion element for current-voltage conversion,
The second circuit includes a variable capacitance element connected in series and a second conversion element for current-voltage conversion,
The third circuit includes an AC signal source that outputs an AC signal for determining the contact state,
The detection circuit detects, as the physical quantity, a voltage difference between a voltage obtained by current-voltage conversion by the first conversion element and a voltage obtained by current-voltage conversion by the second conversion element.
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