JP6515986B2 - コンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルム - Google Patents
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Description
(1) 重量平均分子量が25万〜45万、分子量分布が6〜12であるポリプロピレン;並びに
(2) 長鎖分岐ポリプロピレン(2a)、
エチレン含有量が5mol%未満のエチレン−プロピレンコポリマー(2b)、及び
重量平均分子量が80万〜140万、分子量分布が3〜6である超高分子量ポリプロピレン(2c)
よりなる群から選ばれる少なくとも1種のポリマー;
を含む項1〜3のいずれかに記載のコンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルム。
[ここで、dは面間隔値、θは測定される回折ブラッグ角、λは、用いたX線の波長である(本発明ではλ=1.5418Åである)。]
本発明では、二軸延伸ポリプロピレンフィルムのα晶の回折強度曲線、つまり、回折角度2θ値を測定するために、より具体的には、リガク社製のディストップX線回折装置MiniFlex300(商品名)を使用し、以下の条件によって測定される。
軸の格子定数、βはa軸及びc軸がなす傾斜角である(α晶を単斜晶とした場合)]
「Polymer Handbook」, 4th ed. 、John Wiley & Sons(N.Y.) 1999によると、 アイ
ソタクチックポリプロピレンのα晶(単斜晶)の格子定数は、a=6.65Å、b=20.96Å、c=6.50Å、β=99.33°と記述されている。格子定数は固有の値であるため、純粋なポリプロピレンの場合、この格子定数とほぼ同値となるはずであるが、本発明においては、後述のように、少なくとも2種以上のポリプロピレンのブレンド等の効果によって、内部構造(分子鎖充填状態=面間隔値)が変化し、a−b面格子を拡大させる。
[式(3)中、Dは、結晶子サイズ(nm)、Kは定数(形状因子)、λは使用X線波長(nm)、βはα晶(040)面の回折反射ピークの半価幅、θはα晶(040)面の回折ブラッグ角である]
本発明では、α晶(040)面の回折反射ピークを測定するために、より具体的には、リガク社製のディストップX線回折装置MiniFlex300(商品名)を使用する。出力30kV、10mAで発生させたX線を用いる。受光モノクローメーターで単色化したCuKα線(波長1.5418Å)をスリットで平行化し、測定フィルムに照射する。回折強度は、シンチュレーションカウンターを用い、ゴニオメーターを用いて2θ/θ連動走査して測定する。装置に標準で付属されている統合粉末X線解析ソフトウェアPDXLを用いて、得られたデータを利用して、α晶(040)面の回折反射ピークの半価幅を求める。
えば、GPCカラムとして東ソー株式会社製、TSKgel GMHHR−H(20)H
Tを3本連結させたものが用いられ、カラム温度は140℃に設定され、溶離液としてトリクロロベンゼンが用いられ、流速1.0ml/分にて測定される。通常、標準ポリスチレンを用いて検量線を作製し、ポリスチレン換算により重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)を得る。
のDaploy HMS-PP(WB130HMS、WB135HMS、及びWB140HMS等)等が例示できる。
,551頁(2003)」等の記載を参考に、算出することができる。
(商品名:イルガノックス245)、1,6−ヘキサンジオール−ビス[3−(3,5−ジ−ターシャリー−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](商品名:イル
ガノックス259)、ペンタエリスルチル・テトラキス[3−(3,5−ジ−ターシャリーブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](商品名:イルガノックス1010)、2,2−チオ−ジエチレンビス[3−(3,5−ジ−ターシャリー−ブチルー4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](商品名:イルガノックス1035)、オクタデ
シル−3−(3,5−ジ−ターシャリー−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネ
ート(商品名:イルガノックス1076)、N,N’−ヘキサメチレンビス(3,5−ジ−ターシャリー−ブチル−4−ヒドロキシ−ヒドロシンナマミド)(商品名:イルガノッ
クス1098)等が挙げられる。なかでも、高分子量であってポリプロピレンとの相溶性に富み、低揮発性かつ耐熱性に優れたペンタエリスルチル・テトラキス[3−(3,5−ジ−ターシャリーブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート]が、最も好ましい。
ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)を用い、以下の条件で、各樹脂の重量平均分子量(Mw)、数平均分子量(Mn)、及び分子量分布(Mw/Mn)を測定
した。
ポリプロピレンを溶媒に溶解し、高温型フーリエ変換核磁気共鳴装置(高温FT−NMR)を用いて、以下の条件で、メソペンタッド分率([mmmm])を求めた。
測定機:日本電子株式会社製、高温FT−NMR JNM−ECP500
観測核:13C(125MHz)
測定温度:135℃
溶媒:オルト−ジクロロベンゼン〔ODCB:ODCBと重水素化ODCBの混合溶媒(
4/1)〕
測定モード:シングルパルスプロトンブロードバンドデカップリング
パルス幅:9.1μsec(45°パルス)
パルス間隔:5.5sec
積算回数:4500回
シフト基準:CH3(mmmm)=21.7ppm
5連子(ペンタッド)の組み合わせ(mmmmやmrrm等)に由来する各シグナルの強度積分値より、百分率(%)で算出した。mmmmやmrrm等に由来する各シグナルの帰属に関し、例えば、「T.Hayashi et al.,Polymer,29巻,138頁(1988)」等のスペクトルの記載を参考とした。
JIS K 7210−1999に準拠して230℃にて測定した。
エチレン含有率は、フーリエ変換核磁気共鳴装置(FT−NMR)を用いて、以下の条件で求めた。
観測核:13C(100.6MHz)
測定モード:逆ゲーテッドデカップリング
シフト基準:プロピレン単位5連鎖(mmmm)(21.86ppm)
エチレン含有率(mol%)は、頭−尾結合2連鎖に基づくメチレン炭素のシグナル積分値より、例えば、「Y.−D. Zhang et al.,Polym. J.,35巻,551頁(2003)」等の記載を参考として算出した。
ポリプロピレン(1)(Mw=31×104、Mw/Mn=8.6、mmmm=95mol%、MFR=4.6g/10min)に、長鎖分岐ポリプロピレン(2a)として、Borealis社製のDaploy HMS-PP、WB135HM(MFR=2.5g/10min、溶融張力=
32cN)を表1に示した含有割合で混合し、混合ドライブレンド体を得た。得られたドライブレンド体を、ジーエムエンジニアリング社製の単軸押出機(GM65−32押出機)に供給して、樹脂温度250℃の温度で溶融し、Tダイを用いて押出し、金属ドラムに巻きつけて固化させ、厚さ約250μmのキャスト原反シートを作製した。引き続きこの未延伸キャスト原反シートをブルックナー社製のバッチ式研究用二軸延伸装置(KARO
IV ラボストレッチャー)にて、165℃の温度で、流れ方向に5倍に延伸した後、直ちに横方向に10倍に延伸して、厚さ5μmの薄い二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。
表2は、表1の配合より得た二軸延伸ポリプロピレンフィルムの物性値である。
実施例1の長鎖分岐ポリプロピレン(2a)の配合量を、表1に従って変えて混合した以外は、実施例1と同様にして、厚さ5μmの薄い二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。
表2は、表1の配合より得られた二軸延伸ポリプロピレンフィルムの物性値である。
実施例1の長鎖分岐ポリプロピレン(2a)に代えて、エチレン−プロピレンコポリマー(2b)としてエチレン含有率2.5mol%であり、MFRが6g/10min、Mw=16×104、Mw/Mn=3である日本ポリプロ社製のノバテックPP、BC03B(エチレン−プロピレンランダムコポリマー)を混合した以外は、表1の配合に従い、実施例2と同様にして、厚さ5μmの薄い二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。
表2は、表1の配合より得られた二軸延伸ポリプロピレンフィルムの物性値である。
実施例1の長鎖分岐ポリプロピレン(2a)に代えて、超高分子量ポリプロピレン(2c)としてMw=109×104、Mw/Mn=5の樹脂を混合した以外は、表1の配合に従い、実施例1と同様にして、厚さ5μmの薄い二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。なお、超高分子量ポリプロピレン(2c)は、下記の方法により製造した。
高圧重合槽を用いてプロピレン重合体を得た。内容積1リットルの重合器に溶媒としてヘプタン、触媒として、ジエーテル系チーグラー・ナッタ触媒15mg、助触媒としてトリイソブチルアルミニウムを使用した。全量500mlとして、プロピレン圧を5気圧に調整した。反応器温度50℃で1時間重合した後、少量のエタノールにて反応停止し、プロピレンをパージした。その後、粉末を分離し、キシレン/メタノールによって再沈殿後、80℃で一晩減圧乾燥することで、ポリプロピレン重合体を得た。
樹脂としてポリプロピレン(1)のみを用いた以外は、実施例1と同様にして、厚さ5μmの薄い二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。
表2は、表1の配合より得られた二軸延伸ポリプロピレンフィルムの物性値である。
実施例1の長鎖分岐ポリプロピレン(2a)の配合量を、表1に従って変えて混合した以外は、実施例1と同様にして、厚さ5μmの薄い二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。
表2は、表1の配合より得られた二軸延伸ポリプロピレンフィルムの物性値である。
実施例3の超高分子量ポリプロピレン(2c)の配合を表1に従って変えて混合した以外は、実施例3と同様にして、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得ようとしたが、薄いフィルムを得るに至らなかった。
表2に、結果を記す。
実施例及び比較例における特性値の測定方法等は以下の通りである。
二軸延伸ポリプロピレンフィルムの厚さは、マイクロメーター(JIS−B7502)を用いて、JIS−C2330に準拠して測定した。
二軸延伸ポリプロピレンフィルムの結晶子サイズ及び面間隔値の測定は、XRD(広角X線回折)装置を用い、以下の通り、測定した。
X線発生出力:30KV、10mA
照射X線:モノクローメーター単色化CuKα線(波長1.5418Å)
検出器:シンチュレーションカウンター
ゴニオメーター走査:2θ/θ連動走査
得られたデータから、解析コンピューターを用い、装置標準付属の統合粉末X線解析ソフトウェアPDXLを用い、回折強度曲線を得た。
[ここで、Dは、結晶子サイズ(nm)、Kは定数(形状因子)、λは使用X線波長(nm)、βはα晶(040)面の回折反射ピークの半価幅、θはα晶(040)面の回折ブラッグ角である]
また、α晶(040)面における面間隔値は、XRD実験により得られたα晶(040)面の回折反射ピークの回折角度2θ値を測定し、以下のBraggの式を用いて算出した。
[ここで、dは面間隔値、θは測定された回折角度、λは、用いたX線の波長である(本発明ではλ=1.5418Åである)。]
さらに、XRD測定から得られたα晶(110)面、α晶(040)面、α晶(130)面等の複数の結晶性回折の面間隔値dを用い、、以下の式(2)によって、ポリプロピレンの結晶のa軸、b軸、及びc軸の格子定数が求められた。
軸の格子定数、βはa軸及びc軸がなす傾斜角である(α晶を単斜晶とした場合)]
<絶縁破壊電圧>
JIS C2330(2001)7.4.11.2 B法(平板電極法)にならって、交流(ac)電源を使用し、100℃で、絶縁破壊電圧値を測定した。12回の測定の平均絶縁破壊電圧値(VAC)を、フィルムの厚み(μm)で割り、上位2回及び下位2回の値を除いた8回の平均値を、絶縁破壊電圧(VAC/μm)とした。
実施例1、2、3及び4から明らかな通り、本発明の二軸延伸ポリプロピレンフィルム
は、100℃の高温下で、高い絶縁破壊電圧値を有しているフィルムである。そのため、耐熱・高耐電圧性能に優れた、コンデンサ用フィルムとして、極めて好適なものであった。
Claims (4)
- ポリプロピレン樹脂を含む二軸延伸ポリプロピレンフィルムであって、X線回折によって測定されるα晶(040)面の面間隔値が5.25〜5.30Åであり、
ポリプロピレンフィルムの広角X線回折法により測定したα晶(040)面反射ピークの半価幅からScherrerの式を用いて算出した結晶子サイズが、10.5nm以上13.4nm以下であり、
前記ポリプロピレンフィルムを構成する樹脂が、
(1) 重量平均分子量が25万〜45万、分子量分布が7〜12であるポリプロピレン;並びに
(2) 長鎖分岐ポリプロピレン(2a)、
エチレン含有量が5mol%未満のエチレン−プロピレンコポリマー(2b)、及び
重量平均分子量が80万〜140万、分子量分布が3〜6である超高分子量ポリプロピレン(2c)
よりなる群から選ばれる少なくとも1種のポリマー;
を含み、かつ、極性基を実質的に含まない石油樹脂及び極性基を実質的に含まないテルペン樹脂を含まず、
ポリプロピレン樹脂中、前記ポリマー(2)を、20〜40質量%含有し、
厚さが1〜6μmである
コンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルム。 - X線回折によって測定されるα晶の面間隔値から算出されるa軸方向の格子定数が6.65〜6.75Åであり、かつ、b軸方向の格子定数が21.00〜21.20Åである請求項1に記載のコンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルム。
- 請求項1又は2に記載のコンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルムの片面又は両面に電極を有する、コンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルム。
- 請求項1〜3のいずれかに記載のコンデンサ用二軸延伸ポリプロピレンフィルムを用いて得られるコンデンサ。
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