JP6501448B2 - Processing apparatus and processing method - Google Patents
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Description
本発明の実施形態は、処理装置および処理方法に関する。 Embodiments of the present invention relate to a processing apparatus and a processing method.
半導体装置やフォトマスクなどの製造においては、硫酸イオンを含む液を用いて、被処理物の表面を処理している。例えば、硫酸や、硫酸と過酸化水素水との混合液(SPM;Sulfuric acid Hydrogen-Peroxide Mixture)などを用いて、被処理物の表面にあるレジストマスクなどの除去対象物の除去を行っている。
そして、硫酸イオンを含む液を用いた処理の後に、純水を用いた洗浄を行い、被処理物の表面に残留する硫酸イオンを含む液や溶解した除去対象物の除去を行っている。
ところが、純水を用いた洗浄では、被処理物の表面に付着している硫酸イオンの十分な除去を行うことができない。
そのため、純水を用いた洗浄の後に、被処理物の表面にアルカリを含む液(例えば、純水、アンモニア水、および過酸化水素水の混合液;APM;Ammonium Hydrogen-peroxide mixture)を供給して、硫酸イオンの除去を行うようにしている(例えば、特許文献1を参照)。
しかしながら、この様に同じ装置内で、酸を含む液とアルカリを含む液を用いて処理を行うと、化学反応により塩が生成されてパーティクルとなる。したがって、硫酸イオンを含む液を用いた処理を行う装置と、アルカリを含む液を用いた処理を行う装置とを分ける必要がある。
そのため、システムの大型化や複雑化を招くことになっていた。
またさらに、被処理物の表面には、アルカリを含む液により寸法が変化したり、損傷したりするおそれがある材料からなる要素(例えば、パターンなど)が露出している場合がある。例えば、石英、クロム、珪化モリブデンなどからなる要素が被処理物の表面にあると、アルカリを含む液によりこの様な要素の寸法が変化したり、損傷したりするおそれがある。
そのため、簡易、且つ効果的に除去対象物の除去と、硫酸イオンの除去を行うことができる技術の開発が望まれていた。
In the manufacture of semiconductor devices, photomasks, and the like, the surface of an object to be processed is treated using a solution containing sulfate ions. For example, sulfuric acid or a mixture of sulfuric acid and hydrogen peroxide solution (SPM; Sulfuric acid Hydrogen-Peroxide Mixture) is used to remove an object to be removed such as a resist mask on the surface of the object to be treated. .
Then, after treatment with a solution containing sulfate ions, washing with pure water is performed to remove the solution containing sulfate ions remaining on the surface of the object to be treated and the object to be removed which has been dissolved.
However, in the washing using pure water, it is not possible to sufficiently remove the sulfate ion adhering to the surface of the object to be treated.
Therefore, after washing with pure water, a solution containing an alkali (for example, a mixture of pure water, ammonia water, and hydrogen peroxide water; APM; Ammonium Hydrogen-peroxide mixture) is supplied to the surface of the object to be treated. To remove sulfate ions (see, for example, Patent Document 1).
However, when processing is performed using a solution containing an acid and a solution containing an alkali in the same apparatus, a salt is generated by a chemical reaction to form particles. Therefore, it is necessary to separate an apparatus for performing treatment using a solution containing sulfate ion and an apparatus for performing treatment using a solution containing alkali.
As a result, the size and complexity of the system have been increased.
Furthermore, on the surface of the object to be treated, an element (for example, a pattern or the like) made of a material which may be changed in size or damaged by a liquid containing alkali may be exposed. For example, when an element made of quartz, chromium, molybdenum silicide or the like is present on the surface of the object to be treated, the liquid containing the alkali may change or damage the dimension of such an element.
Therefore, there has been a demand for development of a technique that can easily and effectively remove the object to be removed and sulfate ions.
本発明が解決しようとする課題は、簡易、且つ効果的に除去対象物の除去と、硫酸イオンの除去を行うことができる処理装置および処理方法を提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide a processing apparatus and a processing method capable of performing the removal of the removal target and the removal of the sulfate ion simply and effectively.
実施形態に係る処理装置は、被処理物を載置する載置部と、前記載置部に載置された前記被処理物の表面に、硫酸イオンを含む液を供給する第1の供給部と、前記載置部に載置された前記被処理物の表面に、過酸化水素水を供給する第2の供給部と、前記第1の供給部と、前記第2の供給部と、を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記第1の供給部と、前記第2の供給部と、を制御して、前記被処理物の表面に、前記硫酸イオンを含む液と、前記過酸化水素水と、の混合液を供給し、前記第1の供給部による前記硫酸イオンを含む液の供給を維持しつつ、前記混合液における前記硫酸イオンを含む液の割合を時間経過に伴って減らすように変化させ、前記第1の供給部による前記硫酸イオンを含む液の供給を停止した後、前記過酸化水素水によって所定時間前記被処理物の表面が覆われるように前記第2の供給部から前記過酸化水素水のみを供給する。
A processing apparatus according to an embodiment includes a mounting unit for mounting an object to be processed, and a first supply unit for supplying a solution containing sulfate ions to the surface of the object to be processed mounted on the mounting unit. A second supply unit for supplying a hydrogen peroxide solution to the surface of the processing object placed in the placement unit; a first supply unit; and a second supply unit. A control unit that controls the control unit, the control unit controls the first supply unit and the second supply unit, and a liquid containing the sulfate ion is provided on the surface of the object to be processed; And supplying the mixed solution of the hydrogen peroxide solution, and maintaining the supply of the solution containing the sulfate ion by the first supply unit, while the ratio of the solution containing the sulfate ion in the mixed solution is set to time passage varied to reduce with the, after stopping the supply of the liquid containing the sulfate ion by the first supply unit, the peracid Predetermined time wherein the hydrogen water supplies only the hydrogen peroxide solution from said second supply portion so that the surface of the object is covered.
本発明の実施形態によれば、簡易、且つ効果的に除去対象物の除去と、硫酸イオンの除去を行うことができる処理装置および処理方法が提供される。 According to an embodiment of the present invention, there is provided a processing apparatus and a processing method capable of performing removal of a removal target and removal of sulfate ion in a simple and effective manner.
以下、図面を参照しつつ、実施の形態について例示をする。なお、各図面中、同様の構成要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1は、本実施の形態に係る処理装置1を例示するための模式図である。
図1に示すように、処理装置1には、処理部2、第1の供給部3、第2の供給部4、および制御部5が設けられている。
被処理物100は、例えば、半導体装置に用いられるウェーハや、フォトマスクなどに用いられる石英基板などである。
Hereinafter, embodiments will be illustrated with reference to the drawings. In the drawings, the same components are denoted by the same reference numerals and the detailed description will be appropriately omitted.
FIG. 1 is a schematic view for illustrating the
As shown in FIG. 1, the
The
処理部2には、載置部21、カバー22、およびノズル23が設けられている。
載置部21には、載置台21a、回転軸21b、および駆動部21cが設けられている。 載置台21aは、板状を呈している。
また、載置台21aの一方の主面には、被処理物100の周縁を保持する複数の突出部21a1が設けられている。複数の突出部21a1の上には、被処理物100が載置される。複数の突出部21a1により被処理物100の周縁を保持するようにすれば、被処理物100と載置台21a側とが接触する部分を少なくすることができる。そのため、被処理物100の汚れや損傷などを抑制することができる。
The
The
Further, on one main surface of the mounting table 21a, a plurality of protruding portions 21a1 for holding the peripheral edge of the object to be processed 100 are provided. The
回転軸21bは、柱状を呈している。
回転軸21bの一方の端部は、載置台21aの突出部21a1が設けられる側とは反対側の面に接続されている。
回転軸21bは、挿通部22bの内部を通り、カバー22の外部に延びている。
回転軸21bの他方の端部は、カバー22の外部において駆動部21cと接続されている。
The rotating
One end of the
The
The other end of the
駆動部21cは、モータなどの回転機器を有するものとすることができる。
駆動部21cの回転力は、回転軸21bを介して載置台21aに伝達される。
そのため、駆動部21cにより載置台21a、ひいては載置台21aに載置された被処理物100を回転させることができる。
また、駆動部21cは、回転の開始と回転の停止のみならず、回転数(回転速度)を変化させるものとすることができる。この場合、駆動部21cは、サーボモータなどの制御モータを有するものとすることができる。
The
The rotational force of the
Therefore, it is possible to rotate the
Further, the
カバー22は、載置台21aの周囲を覆っている。
カバー22は、被処理物100の表面に供給され、被処理物100が回転することで被処理物100の外部に排出された処理液(硫酸イオンを含む液102、過酸化水素水103、あるいはこれらの混合液)や、除去された除去対象物を受け止める。
カバー22の側壁の上部には、中心方向に向けて屈曲する屈曲部22aが設けられている。屈曲部22aを設けるようにすれば、被処理物100の上方に飛び散る処理液や、除去された除去対象物の捕捉が容易となる。
カバー22の底面の中央部分には、カバー22の内部に向けて突出する筒状の挿通部22bが設けられている。
挿通部22bは、カバー22の内部に向けて突出しているので、回転軸21bがカバー22の外部に出る部分から処理液が漏れるのを抑制することができる。
The
The
At an upper portion of the side wall of the
At a central portion of the bottom surface of the
The
カバー22の底面には、排出口22cが設けられている。
排出口22cには、開閉弁22dを設けることができる。
また、開閉弁22dに配管22eを接続し、配管22eを介して開閉弁22dと図示しない工場配管や回収装置などとを接続することもできる。
この場合、カバー22の底面に排出口22cに向けて傾斜する傾斜面を設けることもできる。この様な傾斜面を設けるようにすれば、カバー22の底面側に流出した処理液や、除去された除去対象物の排出が容易となる。
A
The
Further, the
In this case, the bottom surface of the
また、カバー22を昇降させる昇降装置を設けることもできる。
カバー22を昇降させる昇降装置を設けるようにすれば、被処理物100の搬入搬出時にはカバー22を下降させ、載置台21aがカバー22から露出するようにすることができる。
そのため、被処理物100の載置台21aへの受け渡しを容易とすることができる。
Moreover, the raising / lowering apparatus which raises / lowers the
By providing a lifting device for lifting and lowering the
Therefore, delivery to the
ノズル23は、硫酸イオンを含む液102、または過酸化水素水103、あるいは、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103との混合液を吐出する吐出口23aを有する。
ノズル23は、吐出口23aが載置台21aの方を向くように設けられている。
また、ノズル23は、硫酸イオンを含む液102を供給するための供給口23b、過酸化水素水103を供給するための供給口23cを有する。
The
The
Further, the
なお、ノズル23において、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103とを混合することができる場合を例示したが、ノズル23の上流側において、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103とを混合することができるようにしてもよい。例えば、配管34に配管44が接続されるようにしてもよい。
また、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103とを交互に吐出させて、被処理物100の表面において混合液を生成してもよい。
ノズル23は、所定の位置に固定されていてもよいし、載置台21aの上方を移動できるように設けられていてもよい。
また、硫酸イオンを含む液102を吐出するノズルと、過酸化水素水103を吐出するノズルを別個に設けることもできる。
この場合、一のノズルから吐出させた硫酸イオンを含む液102と、他のノズルから吐出させた過酸化水素水103を被処理物100の表面において混合させて、混合液を生成してもよい。
Although the case where the
Alternatively, the mixed solution may be generated on the surface of the
The
Alternatively, a nozzle for discharging the
In this case, the liquid 102 containing the sulfate ion discharged from one nozzle and the
第1の供給部3には、収納部31、溶液供給部32、流量制御部33、および配管34が設けられている。
収納部31は、硫酸イオンを含む液102を収納する。
硫酸イオンを含む液102は、ウェットエッチング、ウェットアッシング、洗浄などのウェット処理に用いる。
硫酸イオンを含む液102は、例えば、硫酸や、硫酸と過酸化水素水との混合液(SPM;Sulfuric acid Hydrogen-Peroxide Mixture)とすることができる。
なお、硫酸は、濃硫酸であってもよいし、希硫酸であってもよい。硫酸濃度は、除去対象物に含まれる成分などに応じて適宜変更することができる。硫酸濃度は、例えば、実験やシミュレーションを行うことで決定することができる。
In the
The
The
The
The sulfuric acid may be concentrated sulfuric acid or dilute sulfuric acid. The concentration of sulfuric acid can be appropriately changed according to the components contained in the removal target. The sulfuric acid concentration can be determined, for example, by performing experiments or simulations.
溶液供給部32は、収納部31に接続されている。溶液供給部32は、収納部31の内部に収納されている硫酸イオンを含む液102をノズル23に向けて供給する。
溶液供給部32は、硫酸イオンを含む液102に対する耐性を有するポンプなどとすることができる。溶液供給部32は、例えば、ケミカルポンプなどとすることができる。
ただし、溶液供給部32は、ポンプに限定されるわけではない。例えば、溶液供給部32は、収納部31の内部にガスを供給し、収納部31の内部に収納されている硫酸イオンを含む液102を圧送するものとすることもできる。
The
The
However, the
流量制御部33は、溶液供給部32に接続されている。流量制御部33は、溶液供給部32により供給される硫酸イオンを含む液102の流量を制御する。流量制御部33は、例えば、流量制御弁とすることができる。
また、流量制御部33は、硫酸イオンを含む液102の供給の開始と供給の停止をも行えるものとすることもできる。
配管34の一端は、流量制御部33に接続されている。配管34の他端は、ノズル23の供給口23bに接続されている。
The flow
The flow
One end of the
第2の供給部4には、収納部41、溶液供給部42、流量制御部43、配管44、および温度制御部45が設けられている。
収納部41は、過酸化水素水103を収納する。
過酸化水素水103は、被処理物100の表面に付着している硫酸イオンの除去に用いられる。
溶液供給部42は、収納部41に接続されている。溶液供給部42は、収納部41の内部に収納されている過酸化水素水103をノズル23に向けて供給する。
溶液供給部42は、過酸化水素水103に対する耐性を有するポンプなどとすることができる。溶液供給部42は、例えば、ケミカルポンプなどとすることができる。
ただし、溶液供給部42は、ポンプに限定されるわけではない。例えば、溶液供給部42は、収納部41の内部にガスを供給し、収納部41の内部に収納されている過酸化水素水103を圧送するものとすることもできる。
In the second supply unit 4, a
The
The
The
The
However, the
流量制御部43は、溶液供給部42に接続されている。流量制御部43は、溶液供給部42により供給される過酸化水素水103の流量を制御する。流量制御部43は、例えば、流量制御弁とすることができる。
また、流量制御部43は、過酸化水素水103の供給の開始と供給の停止をも行えるものとすることもできる。
配管44の一端は、流量制御部43に接続されている。配管44の他端は、ノズル23の供給口23cに接続されている。
The
Further, the flow
One end of the
温度制御部45は、過酸化水素水103の温度を制御する。
被処理物100の表面に供給される過酸化水素水103の温度を高くすれば、硫酸イオンの除去効率を向上させることができる。
一方、被処理物100の表面に供給される過酸化水素水103の温度を高くしすぎると、発生する酸素の量が多くなり安定した供給ができなくなるおそれがある。
The
If the temperature of the
On the other hand, if the temperature of the
ここで、過酸化水素水103の沸点は、濃度90wt%において141℃程度である。 しかしながら、本発明者らの得た知見によれば、過酸化水素水103の温度を60℃以下としなければ、過酸化水素水103の供給を安定させることができない。
また、温度制御部45は、加熱機能を有したものとするもできるし、加熱機能と冷却機能を有したものとすることもできる。
Here, the boiling point of the
The
温度制御部45は、例えば、ジュール熱を発生するヒータ、熱媒体を循環させるものなどとすることができる。また、温度制御部45は、例えば、ペルティエ素子(Peltier device)などの冷却機能を有するものをさらに備えることができる。
図1に例示をしたように、温度制御部45は、配管44を覆うように設けることができる。ただし、これに限定されるわけではなく、温度制御部45は、被処理物100の表面に供給される過酸化水素水103の温度を制御することができる位置に設けられていればよい。例えば、温度制御部45は、収納部41の内部に設けることもできる。
The
As illustrated in FIG. 1, the
また、硫酸イオンを含む液102および過酸化水素水103の少なくともいずれかに超音波振動を印加する超音波振動装置を設けることもできる。
例えば、ノズル23や載置台21aなどに超音波振動装置を内蔵させることができる。 また、カバー22の排出口22cから排出された硫酸イオンを含む液102を回収して再利用する回収装置を設けることもできる。
In addition, an ultrasonic vibration device may be provided which applies ultrasonic vibration to at least one of the
For example, the ultrasonic vibration device can be built in the
制御部5は、処理装置1に設けられた要素の動作を制御する。
例えば、制御部5は、駆動部21cを制御して、載置台21a(被処理物100)の回転の開始、回転の停止、および回転数(回転速度)の変更を行う。
制御部5は、開閉弁22dを制御して、硫酸イオンを含む液102、過酸化水素水103、これらの混合液、および除去された除去対象物をカバー22から排出させる。
The
For example, the
The
制御部5は、第1の供給部3(溶液供給部32)を制御して、硫酸イオンを含む液102の供給の開始、供給の停止、供給時間の制御などを行う。
制御部5は、第1の供給部3(流量制御部33)を制御して、硫酸イオンを含む液102の流量(供給量)を制御する。
制御部5は、第2の供給部4(溶液供給部42)を制御して、過酸化水素水103の供給の開始、供給の停止、供給時間の制御などを行う。
制御部5は、第2の供給部4(流量制御部43)を制御して、過酸化水素水103の流量(供給量)を制御する。
The
The
The
The
この場合、制御部5は、第1の供給部3を制御して、被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102を供給し、第2の供給部4を制御して、硫酸イオンを含む液102が供給された被処理物100の表面に、過酸化水素水103を供給することができる。
また、制御部5は、第1の供給部3と、第2の供給部4とを制御して、被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102と、過酸化水素水103との混合液を供給し、一の被処理物100の表面において、時間経過に伴って混合液における硫酸イオンを含む液102の割合を減らすように変化させることもできる。
In this case, the
Further, the
制御部5は、温度制御部45を制御して、過酸化水素水103の温度が常温(25℃)以上、60℃以下となるようにする。
制御部5は、第2の供給部4を制御して、過酸化水素水を300秒以上供給する。
The
The
次に、処理装置1の作用とともに、本実施の形態に係る処理方法について例示をする。 まず、被処理物100が、搬送装置により、載置台21aの主面に設けられた突出部21a1の上に載置される。
次に、載置部21が、駆動部21cにより回転される。載置部21が回転することで、載置された被処理物100が回転する。
次に、収納部31に収納されている硫酸イオンを含む液102が、溶液供給部32によりノズル23に向けて送られる。この際、硫酸イオンを含む液102の供給量が、流量制御部33により制御される。
ノズル23に向けて送られた硫酸イオンを含む液102は、ノズル23から吐出され、被処理物100の表面に供給される。被処理物100の表面に供給された硫酸イオンを含む液102により、被処理物100の表面にある除去対象物が除去される。除去された除去対象物と、硫酸イオンを含む液102は、被処理物100の回転により被処理物100の外方に排出される。
Next, the processing method according to the present embodiment will be illustrated together with the operation of the
Next, the
Next, the
The
また、硫酸イオンを含む液102が硫酸である場合には、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103の混合液を生成することもできる。
この場合は、さらに、収納部41に収納されている過酸化水素水103が、溶液供給部42により、ノズル23に向けて送られる。この際、過酸化水素水103の供給量が、流量制御部43により制御される。
そして、溶液供給部32により供給された硫酸イオンを含む液102と、溶液供給部42により供給された過酸化水素水103とが、ノズル23の内部やノズル23の上流側において混合されて、混合液が生成される。
生成された混合液は、ノズル23から吐出され、被処理物100の表面に供給される。被処理物100の表面に供給された混合液により、被処理物100の表面にある除去対象物が除去される。除去された除去対象物と、混合液は、被処理物100の回転により被処理物100の外方に排出される。
また、被処理物100の表面に、別個のノズルから硫酸イオンを含む液102と、過酸化水素水103のそれぞれをほぼ同時に吐出させたりして、被処理物100の表面において混合液を生成することもできる。
When the
In this case, the
Then, the
The generated mixed solution is discharged from the
Further, the mixed solution is generated on the surface of the object to be treated 100 by discharging the
硫酸イオンを含む液102や、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103の混合液は、被処理物100の回転により被処理物100の外方に排出されるが、被処理物100の表面には、硫酸イオンが残留している。
被処理物100の表面に硫酸イオンが残留していると、硫酸イオンと大気中にあるアンモニウムイオンとが反応して、硫酸アンモニウムが析出するおそれがある。硫酸アンモニウムの析出は、異物の発生要因となる。
The
When the sulfate ion remains on the surface of the object to be treated 100, the sulfate ion may react with the ammonium ion in the air to precipitate ammonium sulfate. Precipitation of ammonium sulfate causes the generation of foreign matter.
そのため、次に、収納部41に収納されている過酸化水素水103が、溶液供給部42により、ノズル23に向けて送られる。この際、過酸化水素水103の供給量が、流量制御部43により制御される。ノズル23に向けて送られた過酸化水素水103は、ノズル23から吐出され、被処理物100の表面に供給される。被処理物100の表面に供給された過酸化水素水103により、被処理物100の表面に残留している硫酸イオンが除去される。
この際、温度制御部45により、過酸化水素水103の温度が常温(25℃)以上、60℃以下となるように制御される。
本発明者らの得た知見によれば、被処理物100の表面が過酸化水素水103により覆われている時間(処理時間)を300秒以上とすれば、硫酸イオンの除去を確実なものとすることができる。
そのため、制御部5は、第2の供給部4を制御して、過酸化水素水103を300秒以上供給する。
Therefore, next, the
At this time, the
According to the knowledge obtained by the present inventors, if the time (treatment time) in which the surface of the object to be treated 100 is covered with the
Therefore, the
また、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103の混合液を生成する場合には、混合液における硫酸イオンを含む液102の割合を減らすように変化させることができる。 例えば、混合液における硫酸イオンを含む液102の割合を、一の被処理物100に対し、時間経過に伴って段階的または漸次減らしていき、最終的には過酸化水素水103のみが供給されるようにすることができる。
この様にすれば、被処理物100の表面が過酸化水素水103により覆われている時間を実質的に長くすることができるので、処理時間の短縮を図ることができる。
また、例えば、硫酸イオンを含む液102の割合を減らす変化率(過酸化水素水103の割合を増やす変化率)を処理の前半と後半とで変え、後半において当該変化率を増大させることができる。そのようにすれば、被処理物100の表面に除去対象物が多く残っている処理の前半においては、除去対象物を除去できる硫酸イオンを含む液102の割合を増やして、除去対象物を除去するようにすることができる。そして、除去対象物が少ない処理の後半においては、硫酸イオンを含む液102の割合を減らす(硫酸イオンを除去できる過酸化水素水103の割合を増やす)様にして、残った除去対象物とともに硫酸イオンを除去するようにすることができる。
なお、硫酸イオンの除去効果に関する詳細は後述する。
When a mixture of the
In this way, the time for which the surface of the object to be treated 100 is covered with the
Also, for example, the change rate to reduce the ratio of the
In addition, the detail regarding the removal effect of a sulfate ion is mentioned later.
次に、流量制御部43により、過酸化水素水103の供給が停止される。
次に、被処理物100の表面に残留している過酸化水素水103が、載置台21aの回転により、被処理物100の外方に排出される。この際、載置台21aの回転数が高くなるようにすることができる。被処理物100の表面に残留している過酸化水素水103が排出されることで、被処理物100が乾燥する。
次に、被処理物100が、搬送装置により、搬出される。
以後、前述した動作を繰り返すことで、被処理物100が連続的に処理される。
Next, the
Next, the
Next, the
Thereafter, the
次に、硫酸イオンの除去効果についてさらに説明する。
図2は、硫酸イオンの除去効果を例示するためのグラフ図である。
比較例に係る場合は、硫酸と過酸化水素水との混合液が供給された被処理物100の表面に、純水を供給した場合である。
本実施の形態に係る場合は、硫酸と過酸化水素水との混合液が供給された被処理物100の表面に、過酸化水素水103を供給した場合である。
また、硫酸イオンの除去効果は、全反射蛍光X線分析装置(Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer)を用いて、被処理物100の表面における硫黄の量を測定し、硫酸と過酸化水素水との混合液を供給する前の状態からの硫黄の増加率を算出して評価した。
図2からは、比較例に係る場合は、硫酸と過酸化水素水との混合液を供給する前の状態と比較して、硫黄が約100%増加したことが分かる。
また、図2からは、本実施の形態に係る場合は、硫酸と過酸化水素水との混合液を供給する前の状態と比較して、硫黄が約20%減少したことが分かる。
図2から分かるように、被処理物100の表面に過酸化水素水103を供給すれば、被処理物100の表面に残留している硫酸イオンを効果的に除去することができる。
Next, the removal effect of sulfate ion will be further described.
FIG. 2 is a graph for illustrating the removal effect of sulfate ion.
The case of the comparative example is a case where pure water is supplied to the surface of the object to be treated 100 to which the mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide solution is supplied.
In the case of the present embodiment, the
Moreover, the removal effect of a sulfate ion measures the quantity of the sulfur in the surface of the to-
It can be seen from FIG. 2 that in the case of the comparative example, sulfur increased by about 100% as compared to the state before supplying the mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide solution.
In addition, it can be seen from FIG. 2 that, in the case of the present embodiment, sulfur is reduced by about 20% as compared to the state before supplying the mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide solution.
As can be seen from FIG. 2, when the
以上に説明したように、本実施の形態に係る処理方法は、以下の工程を備えることができる。
被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102を供給する工程。
硫酸イオンを含む液102が供給された被処理物100の表面に、過酸化水素水103を供給する工程。
この場合、過酸化水素水103を供給する工程において、常温(25℃)以上、60℃以下の過酸化水素水103を供給することができる。
また、過酸化水素水103を供給する工程において、300秒以上過酸化水素水103を供給することができる。
また、本実施の形態に係る処理方法は、以下の様にすることもできる。
被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102と、過酸化水素水103と、の混合液を供給する工程を備え、混合液における硫酸イオンを含む液102の割合を減らすように変化させる。
なお、各工程における内容は、前述したものと同様とすることができるので、詳細な説明は省略する。
As described above, the processing method according to the present embodiment can include the following steps.
Supplying a
A step of supplying a
In this case, in the step of supplying the
Further, in the step of supplying the
Further, the processing method according to the present embodiment can also be performed as follows.
A step of supplying a mixed solution of a
In addition, since the content in each process can be made to be the same as that of what was mentioned above, detailed description is abbreviate | omitted.
また、以上においては、回転する被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102、過酸化水素水103、あるいはこれらの混合液を供給したが、被処理物100の回転は必ずしも必要ではない。例えば、静止状態にある被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102、過酸化水素水103、あるいはこれらの混合液を供給してもよい。
また、硫酸イオンを含む液102、または、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103の混合液が収納された槽と、過酸化水素水103が収納された槽とを備えた処理装置とすることもできる。
そして、被処理物100を、硫酸イオンを含む液102、または、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103の混合液が収納された槽の内部に浸漬させ、その後、被処理物100を、過酸化水素水103が収納された槽に浸漬させるようにしてもよい。
この場合、硫酸イオンを含む液102、または、硫酸イオンを含む液102と過酸化水素水103の混合液が収納された槽は、第1の供給部3として機能する。
過酸化水素水103が収納された槽は、第2の供給部4として機能する。
ただし、回転する被処理物100の表面に、硫酸イオンを含む液102、過酸化水素水103、あるいはこれらの混合液を供給すれば、除去効率の向上を図ることができる。また、被処理物100の乾燥も併せて行うことができる。また、処理装置1の小型化を図ることができる。
In the above, the
Further, a processing apparatus including a tank containing a
Then, the object to be treated 100 is immersed in the bath containing the
In this case, the bath containing the sulfate ion-containing
The tank in which the
However, if the
以上に説明したように、本発明の実施形態によれば、簡易、且つ効果的に除去対象物の除去と、硫酸イオンの除去を行うことができる処理装置および処理方法が提供される。
以上、実施の形態について例示をした。しかし、本発明はこれらの記述に限定されるものではない。
前述の実施の形態に関して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除若しくは設計変更を行ったもの、または、工程の追加、省略若しくは条件変更を行ったものも、本発明の特徴を備えている限り、本発明の範囲に包含される。
例えば、処理装置1が備える各要素の形状、寸法、材質、数、配置などは、例示をしたものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。
また、前述した各実施の形態が備える各要素は、可能な限りにおいて組み合わせることができ、これらを組み合わせたものも本発明の特徴を含む限り本発明の範囲に包含される。
As described above, according to the embodiment of the present invention, there is provided a processing apparatus and a processing method capable of performing removal of a removal target and removal of sulfate ion in a simple and effective manner.
The embodiments have been illustrated above. However, the present invention is not limited to these descriptions.
Those skilled in the art can appropriately add, delete, or change design elements of the above-described embodiment, or can add, omit, or change the process of the components, to which the features of the present invention are included As long as it is included in the scope of the present invention.
For example, the shape, size, material, number, arrangement, and the like of each element included in the
Moreover, each element with which each embodiment mentioned above is equipped can be combined as much as possible, and what combined these is also included in the scope of the present invention as long as the feature of the present invention is included.
1 処理装置、2 処理部、3 第1の供給部、4 第2の供給部、5 制御部、21 載置部、21a 載置台、21b 回転軸、21c 駆動部、22 カバー、23 ノズル、31 収納部、32 溶液供給部、33 流量制御部、41 収納部、42 溶液供給部、43 流量制御部、45 温度制御部、100 被処理物、102 硫酸イオンを含む液、103 過酸化水素水
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記載置部に載置された前記被処理物の表面に、硫酸イオンを含む液を供給する第1の供給部と、
前記載置部に載置された前記被処理物の表面に、過酸化水素水を供給する第2の供給部と、
前記第1の供給部と、前記第2の供給部と、を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記第1の供給部と、前記第2の供給部と、を制御して、前記被処理物の表面に、前記硫酸イオンを含む液と、前記過酸化水素水と、の混合液を供給し、前記第1の供給部による前記硫酸イオンを含む液の供給を維持しつつ、前記混合液における前記硫酸イオンを含む液の割合を時間経過に伴って減らすように変化させ、前記第1の供給部による前記硫酸イオンを含む液の供給を停止した後、前記過酸化水素水によって所定時間前記被処理物の表面が覆われるように前記第2の供給部から前記過酸化水素水のみを供給する処理装置。 A placement unit for placing an object to be treated;
A first supply unit for supplying a solution containing sulfate ions to the surface of the object to be treated placed on the placement unit;
A second supply unit configured to supply a hydrogen peroxide solution to the surface of the processing object placed in the placement unit;
A control unit that controls the first supply unit and the second supply unit;
Equipped with
The control unit controls the first supply unit and the second supply unit so that the solution containing the sulfate ion on the surface of the object to be treated and the hydrogen peroxide solution The mixed solution is supplied, and while maintaining the supply of the solution containing the sulfate ion by the first supply unit, the ratio of the solution containing the sulfate ion in the mixed solution is changed to decrease with time. After stopping the supply of the solution containing the sulfate ion by the first supply unit, the hydrogen peroxide from the second supply unit is arranged to cover the surface of the object for a predetermined time by the hydrogen peroxide solution. Processor that supplies only water.
前記制御部は、前記第2の供給部による前記過酸化水素水の供給を停止した後、前記駆動部を制御して、前記載置部の回転数を高くすることで、前記過酸化水素水が残留する前記被処理物の乾燥を行う請求項1または2に記載の処理装置。 It further has a drive unit for rotating the placement unit,
Wherein, after stopping the supply of the hydrogen peroxide solution according to the second supply unit, and controls the drive unit, by increasing the rotational speed of the placement portion, the hydrogen peroxide solution The processing apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed which is left is dried.
前記硫酸イオンを含む液の供給を維持しつつ、前記混合液における前記硫酸イオンを含む液の割合を時間経過に伴って減らすように変化させ、前記硫酸イオンを含む液の供給を停止した後、前記硫酸イオンを含む液が残留する前記被処理物の表面に前記過酸化水素水のみを供給して前記過酸化水素水によって所定時間前記被処理物の表面を覆うことで前記硫酸イオンを含む液を除去する処理方法。 Providing a mixture of a solution containing sulfate ions and a hydrogen peroxide solution on the surface of the object to be treated;
After maintaining the supply of the solution containing the sulfate ion and changing the proportion of the solution containing the sulfate ion in the mixed solution so as to decrease over time, and stopping the supply of the solution containing the sulfate ion, The solution containing the sulfate ion is supplied by supplying only the hydrogen peroxide solution to the surface of the object to be treated on which the solution containing the sulfate ion remains, and covering the surface of the object with the hydrogen peroxide solution for a predetermined time How to remove
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