JP6494845B1 - Manufacturing method of resin film - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、樹脂フィルムの小さなキズを防止するために、樹脂フィルムの乾燥工程において、改良を加えることを目的とする。
【解決手段】本発明は、支持体上に樹脂ワニスを塗布することにより得られた樹脂フィルムを支持体から剥離した後に乾燥させる工程において、前記樹脂フィルムの単位幅あたりに掛かる張力が82N/m以下であることを特徴とする樹脂フィルムの製造方法を提供する。
【選択図】図2
An object of the present invention is to improve the resin film drying process in order to prevent small scratches on the resin film.
According to the present invention, in the step of drying a resin film obtained by applying a resin varnish on a support after peeling from the support, a tension applied per unit width of the resin film is 82 N / m. A method for producing a resin film, characterized by the following:
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、樹脂フィルムの製造方法、特に視認性の高い透明な樹脂フィルムの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for producing a resin film, and more particularly to a method for producing a transparent resin film having high visibility.

液晶表示装置及び太陽電池のようなデバイスの透明部材として、透明樹脂フィルムが用いられることがある。この透明樹脂フィルムとして、高い耐熱性を有するポリイミドフィルムが利用されることがある(特許文献1)。   A transparent resin film may be used as a transparent member of devices such as liquid crystal display devices and solar cells. As this transparent resin film, a polyimide film having high heat resistance may be used (Patent Document 1).

また、透明なポリイミドフィルムを得る場合、ポリイミドを含有するワニスを支持体上に塗布してから、支持体を剥離した後乾燥して、更に保護層を積層することが行われている。   Moreover, when obtaining a transparent polyimide film, after apply | coating the varnish containing a polyimide on a support body, after peeling a support body and drying, laminating | stacking a protective layer is performed.

特開平10−310639号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-310639

ところが、ポリイミドフィルムを乾燥する工程は、ポリイミドフィルムを支持体から剥離して、フィルムを移動している状態で乾燥を行い、乾燥後に保護フィルムを付着してポリイミドフィルムを保護することにより行われているが、フィルムが移動して乾燥している時に、ポリイミドフィルムに通常では認識しにくい非常に小さなキズ(例えば、微小キズや擦りキズ)が形成される。このようなキズは、ポリイミドフィルムでは、明るい光源下で使用される高度な透明性が要求されるポリイミドフィルムでは、避けなければならない。   However, the process of drying the polyimide film is performed by peeling the polyimide film from the support, drying the film while moving, and attaching the protective film after drying to protect the polyimide film. However, when the film is moved and dried, very small scratches (for example, micro scratches and rubbing scratches) that are not normally recognized are formed on the polyimide film. Such scratches must be avoided in polyimide films that require high transparency and are used under a bright light source.

そこで、本発明は、上記した小さなキズを防止するために検討を行い、ポリイミドフィルムの乾燥工程において、改良を加えることを目的とする。   Therefore, the present invention has been studied in order to prevent the above-described small scratches, and aims to improve the polyimide film drying process.

即ち、本発明は、支持体上に樹脂ワニスを塗布することにより得られた樹脂フィルムを支持体から剥離した後に乾燥させる工程において、前記樹脂フィルムの単位幅あたりに掛かる張力が82N/m以下であることを特徴とする樹脂フィルムの製造方法を提供する。   That is, according to the present invention, in the step of drying the resin film obtained by coating the resin varnish on the support after peeling from the support, the tension applied per unit width of the resin film is 82 N / m or less. A method for producing a resin film is provided.

上記樹脂ワニスは、好ましくはポリイミド、ポリアミドイミドおよびポリアミドからなる群から選ばれる少なくとも1種の樹脂を含有する。   The resin varnish preferably contains at least one resin selected from the group consisting of polyimide, polyamideimide and polyamide.

支持体から剥離した後の前記樹脂フィルム中の残存溶媒量が5質量%以上であり、かつ前記樹脂ワニス中の樹脂の重量平均分子量が200,000〜500,000であることが好ましい。   It is preferable that the amount of residual solvent in the resin film after peeling from the support is 5% by mass or more, and the weight average molecular weight of the resin in the resin varnish is 200,000 to 500,000.

前記樹脂フィルム中の残存溶媒量は、好ましくは30質量%以下である。   The amount of residual solvent in the resin film is preferably 30% by mass or less.

本発明では、乾燥工程において、前記樹脂フィルムの単位幅あたりに掛かる張力を82N/m以下にすることにより、細かいキズ、特に微小キズを防止することができる。微小キズが生じないことより、樹脂フィルムの透明性が向上する。また、微小キズが防止できることにより、光の乱反射が減少し、バックライト等で光を透過させる場合に、バックライト電力も削減出来得る。   In the present invention, in the drying process, by setting the tension applied per unit width of the resin film to 82 N / m or less, fine flaws, particularly fine flaws, can be prevented. The transparency of the resin film is improved because no minute scratches are generated. In addition, since the micro-scratch can be prevented, the irregular reflection of light is reduced, and the backlight power can be reduced when the light is transmitted through the backlight or the like.

図1は、本発明の樹脂フィルムの製造工程を記載した工程図である。FIG. 1 is a process diagram describing the production process of the resin film of the present invention. 図2は、本発明の樹脂フィルムの製造方法の工程を模式的に表した図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing the steps of the method for producing a resin film of the present invention. 図3は、単位幅あたりに掛かる張力を説明するための模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the tension applied per unit width. 図4は、微小キズが多い樹脂フィルムの写真である。FIG. 4 is a photograph of a resin film with many fine scratches.

以下、本発明のいくつかの実施形態について図1〜図4を用いて詳細に説明する。ただし、本発明の樹脂フィルムの製造方法は、図1〜図4の態様に限定されるものではない。   Hereinafter, several embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. However, the manufacturing method of the resin film of this invention is not limited to the aspect of FIGS.

図1は、本発明の樹脂フィルムの製造工程を記載した工程図である。図1に記載するように、本発明の樹脂フィルムは、ワニス化、プレ製膜、支持体剥離および乾燥という工程を経て製造される。ワニス化の工程では、樹脂を溶媒に溶解または分散して樹脂ワニスを形成し、プレ製膜工程では、得られた樹脂ワニスを、塗装装置を用いて支持体上に塗装して、簡単に乾燥したのち保護フィルムを樹脂フィルム上に被覆して一旦積層フィルムとする。この積層フィルムを次いで支持体剥離工程に移して、支持体を剥離痕が無いように剥離する。剥離工程で得られた樹脂フィルムと保護フィルムとからなるものを、図1の乾燥工程に移行して、保護フィルムを剥離するとともに、樹脂フィルムを乾燥する。   FIG. 1 is a process diagram describing the production process of the resin film of the present invention. As described in FIG. 1, the resin film of the present invention is manufactured through steps of varnishing, pre-film formation, support peeling and drying. In the varnishing process, the resin is dissolved or dispersed in a solvent to form a resin varnish, and in the pre-film forming process, the obtained resin varnish is coated on a support using a coating device and dried easily. After that, a protective film is coated on the resin film to make a laminated film once. The laminated film is then transferred to a support peeling process, and the support is peeled off so that there is no peeling mark. The resin film and the protective film obtained in the peeling step are transferred to the drying step in FIG. 1 to peel off the protective film and dry the resin film.

図1のワニス化の工程では、上述のように樹脂を溶媒に溶解または分散して樹脂ワニスを形成するのであるが、本発明に製造方法で使用される樹脂は、例えばポリイミド系高分子(ポリイミド及びポリアミドイミドを含む)、ポリアミド、ポリエステル、ポリ(メタ)アクリレート、アセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、シクロオレフィンポリマー及びそれらの共重合体等が挙げられる。透明性、耐熱性、各種機械物性に優れる点から、好ましくはポリイミド系高分子及びポリアミドであり、さらに好ましくはポリイミドである。含まれる樹脂は1種類であっても、2種類以上であってもよい。得られる樹脂フィルムは、着色あるいは無色の樹脂フィルムであってよいが、好適には無色透明の樹脂フィルムである。   In the varnishing step of FIG. 1, a resin varnish is formed by dissolving or dispersing a resin in a solvent as described above. The resin used in the production method of the present invention is, for example, a polyimide polymer (polyimide). And polyamideimide), polyamide, polyester, poly (meth) acrylate, acetylcellulose, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, cycloolefin polymer, and copolymers thereof. From the point which is excellent in transparency, heat resistance, and various mechanical properties, it is preferably a polyimide polymer and polyamide, and more preferably polyimide. The resin contained may be one type or two or more types. The resulting resin film may be a colored or colorless resin film, but is preferably a colorless and transparent resin film.

本明細書においてポリイミドとは、イミド基を含む繰返し構造単位を主とする重合体であり、ポリアミドとは、アミド基を含む繰返し構造単位を主とする重合体であり、ポリイミド系高分子とは、ポリイミド並びにイミド基を含む構造単位及びアミド基を含む構造単位を主とする重合体を示す。   In this specification, the polyimide is a polymer mainly composed of repeating structural units containing an imide group, and the polyamide is a polymer mainly containing repeating structural units containing an amide group. , A polymer mainly composed of a structural unit containing polyimide and an imide group and a structural unit containing an amide group.

本発明のポリイミド系高分子は、後述するテトラカルボン酸化合物とジアミン化合物とを主な原料として製造することができ、式(10)で表される繰り返し構造単位を有する。ここで、Gは4価の有機基であり、Aは2価の有機基である。G及び/又はAが異なる、2種類以上の式(10)で表される構造を含んでいてもよい。また、本実施形態に係るポリイミド系高分子は、得られるポリイミド系高分子フィルムの各種物性を損なわない範囲で、式(11)、式(12)又は式(13)で表される構造を含んでいてもよい。   The polyimide polymer of the present invention can be produced using a tetracarboxylic acid compound and a diamine compound described later as main raw materials, and has a repeating structural unit represented by the formula (10). Here, G is a tetravalent organic group, and A is a divalent organic group. The structure represented by two or more types of Formula (10) from which G and / or A differ may be included. Moreover, the polyimide polymer which concerns on this embodiment contains the structure represented by Formula (11), Formula (12), or Formula (13) in the range which does not impair the various physical properties of the polyimide polymer film obtained. You may go out.

G及びGは4価の有機基であり、好ましくは炭化水素基又はフッ素置換された炭化水素基で置換されていてもよい有機基であり、式(20)、式(21)、式(22)、式(23)、式(24)、式(25)、式(26)、式(27)、式(28)又は式(29)で表される基並びに4価の炭素数6以下の鎖式炭化水素基が例示される。式中の*は結合手を表し、Zは、単結合、−O−、−CH−、−CH−CH−、−CH(CH)−、−C(CH−、−C(CF−、−Ar−、−SO−、−CO−、−O−Ar−O−、−Ar−O−Ar−、−Ar−CH−Ar−、−Ar−C(CH−Ar−又は−Ar−SO−Ar−を表す。Arはフッ素原子で置換されていてもよい炭素数6〜20のアリーレン基を表し、具体例としてはフェニレン基が挙げられる。 G and G 1 are tetravalent organic groups, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and are represented by formula (20), formula (21), formula ( 22), the formula (23), the formula (24), the formula (25), the formula (26), the formula (27), the group represented by the formula (28) or the formula (29), and a tetravalent carbon number of 6 or less. The chain hydrocarbon group is exemplified. In the formula * represents a bond, Z is a single bond, -O -, - CH 2 - , - CH 2 -CH 2 -, - CH (CH 3) -, - C (CH 3) 2 -, -C (CF 3) 2 -, - Ar -, - SO 2 -, - CO -, - O-Ar-O -, - Ar-O-Ar -, - Ar-CH 2 -Ar -, - Ar- C (CH 3) represents a 2 -Ar- or -Ar-SO 2 -Ar-. Ar represents an arylene group having 6 to 20 carbon atoms which may be substituted with a fluorine atom, and specific examples thereof include a phenylene group.

は3価の有機基であり、好ましくは炭化水素基又はフッ素置換された炭化水素基で置換されていてもよい有機基であり、式(20)、式(21)、式(22)、式(23)、式(24)、式(25)、式(26)、式(27)、式(28)又は式(29)で表される基の結合手のいずれか1つが水素原子に置き換わった基並びに3価の炭素数6以下の鎖式炭化水素基が例示される。 G 2 is a trivalent organic group, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and has the formula (20), formula (21), formula (22) Any one of the bonds of the group represented by formula (23), formula (24), formula (25), formula (26), formula (27), formula (28) or formula (29) is a hydrogen atom And a trivalent chain hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms are exemplified.

は2価の有機基であり、好ましくは炭化水素基又はフッ素置換された炭化水素基で置換されていてもよい有機基であり、式(20)、式(21)、式(22)、式(23)、式(24)、式(25)、式(26)、式(27)、式(28)又は式(29)で表される基の結合手のうち、隣接しない2つが水素原子に置き換わった基及び炭素数6以下の鎖式炭化水素基が例示される。 G 3 is a divalent organic group, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and is represented by formula (20), formula (21), formula (22) Among the bonds of the group represented by formula (23), formula (24), formula (25), formula (26), formula (27), formula (28) or formula (29), Examples thereof include a group replaced with a hydrogen atom and a chain hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms.

A、A、A、Aはいずれも2価の有機基であり、好ましくは炭化水素基又はフッ素置換された炭化水素基で置換されていてもよい有機基であり、以下の式(30)、式(31)、式(32)、式(33)、式(34)、式(35)、式(36)、式(37)もしくは式(38)で表される基;それらがメチル基、フルオロ基、クロロ基もしくはトリフルオロメチル基で置換された基並びに炭素数6以下の鎖式炭化水素基が例示される。式中の*は結合手を表し、Z、Z及びZは、それぞれ独立して、単結合、−O−、−CH−、−CH−CH−、−CH(CH)−、−C(CH−、−C(CF−、−SO−又は−CO−を表す。1つの例は、Z及びZが−O−であり、かつ、Zが−CH−、−C(CH−、−C(CF−又は−SO−である。ZとZ、及び、ZとZは、それぞれ、各環に対してメタ位又はパラ位であることが好ましい。 Each of A, A 1 , A 2 and A 3 is a divalent organic group, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group. 30), formula (31), formula (32), formula (33), formula (34), formula (35), formula (36), formula (37) or a group represented by formula (38); Examples thereof include a group substituted with a methyl group, a fluoro group, a chloro group or a trifluoromethyl group, and a chain hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms. In the formula * represents a bond, Z 1, Z 2 and Z 3 are each independently a single bond, -O -, - CH 2 - , - CH 2 -CH 2 -, - CH (CH 3 ) -, - C (CH 3 ) 2 -, - C (CF 3) 2 -, - representing the or -CO- - SO 2. One example is when Z 1 and Z 3 are —O— and Z 2 is —CH 2 —, —C (CH 3 ) 2 —, —C (CF 3 ) 2 — or —SO 2 —. is there. Z 1 and Z 2 , and Z 2 and Z 3 are each preferably in the meta position or the para position with respect to each ring.

本発明のポリアミドは、式(13)で表される繰り返し構造単位を主とする重合体である。好ましい例及び具体例は、ポリイミド系高分子におけるG及びAと同じである。G及び/又はAが異なる、2種類以上の式(13)で表される構造を含んでいてもよい。 The polyamide of the present invention is a polymer mainly composed of repeating structural units represented by the formula (13). Preferred examples and specific examples are the same as G 3 and A 3 in the polyimide polymer. G 3 and / or A 3 may contain structures represented by two or more types of formula (13).

ポリイミド系高分子は、例えば、ジアミンとテトラカルボン酸化合物(テトラカルボン酸二無水物等)との重縮合によって得られ、例えば特開2006−199945号公報又は特開2008−163107号公報に記載されている方法にしたがって合成することができる。ポリイミドの市販品としては、三菱瓦斯化学(株)製ネオプリムなどを挙げることができる。   The polyimide polymer is obtained, for example, by polycondensation of a diamine and a tetracarboxylic acid compound (tetracarboxylic dianhydride or the like), and is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-199945 or Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-163107. It can be synthesized according to the method. Examples of commercially available polyimide products include Neoprim produced by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.

ポリイミドの合成に用いられるテトラカルボン酸化合物としては、芳香族テトラカルボン酸二無水物等の芳香族テトラカルボン酸化合物及び脂肪族テトラカルボン酸二無水物等の脂肪族テトラカルボン酸化合物が挙げられる。テトラカルボン酸化合物は、単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。テトラカルボン酸化合物は、二無水物の他、酸クロライド化合物等のテトラカルボン酸化合物類縁体であってもよい。   Examples of the tetracarboxylic acid compound used for the synthesis of polyimide include aromatic tetracarboxylic acid compounds such as aromatic tetracarboxylic dianhydrides and aliphatic tetracarboxylic acid compounds such as aliphatic tetracarboxylic dianhydrides. A tetracarboxylic acid compound may be used independently and may use 2 or more types together. The tetracarboxylic acid compound may be a dianhydride or a tetracarboxylic acid compound analog such as an acid chloride compound.

芳香族テトラカルボン酸二無水物の具体例としては、4,4’−オキシジフタル酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシフェニル)プロパン二無水物、4,4’−(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ジフタル酸二無水物、1,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、4,4’−(p−フェニレンジオキシ)ジフタル酸二無水物、4,4’−(m−フェニレンジオキシ)ジフタル酸二無水物及び2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物が挙げられる。これらは単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。   Specific examples of the aromatic tetracarboxylic dianhydride include 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 2,2 ′, 3, 3′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2 ′, 3,3′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-Diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (2,3-dicarboxyphenyl) propane Dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenoxyphenyl) propane dianhydride, 4,4 ′-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride, 1,2-bis (2,3 -Zika Boxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 4,4 ′-( p-phenylenedioxy) diphthalic dianhydride, 4,4 ′-(m-phenylenedioxy) diphthalic dianhydride and 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride. These can be used alone or in combination of two or more.

脂肪族テトラカルボン酸二無水物としては、環式又は非環式の脂肪族テトラカルボン酸二無水物が挙げられる。環式脂肪族テトラカルボン酸二無水物とは、脂環式炭化水素構造を有するテトラカルボン酸二無水物であり、その具体例としては、1,2,4,5−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物等のシクロアルカンテトラカルボン酸二無水物、ビシクロ[2.2.2]オクト−7−エン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ジシクロヘキシル3,3’−4,4’−テトラカルボン酸二無水物及びこれらの位置異性体が挙げられる。これらは単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。非環式脂肪族テトラカルボン酸二無水物の具体例としては、1,2,3,4−ブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−ペンタンテトラカルボン酸二無水物等が挙げられ、これらは単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。   Examples of the aliphatic tetracarboxylic dianhydride include a cyclic or acyclic aliphatic tetracarboxylic dianhydride. The cycloaliphatic tetracarboxylic dianhydride is a tetracarboxylic dianhydride having an alicyclic hydrocarbon structure, and specific examples thereof include 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride. 1, 2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, cycloalkanetetracarboxylic dianhydride such as 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2 .2] Oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, dicyclohexyl 3,3′-4,4′-tetracarboxylic dianhydride and their positional isomers. . These can be used alone or in combination of two or more. Specific examples of the acyclic aliphatic tetracarboxylic dianhydride include 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-pentanetetracarboxylic dianhydride, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記テトラカルボン酸二無水物の中でも、高透明性及び低着色性の観点から、1,2,4,5−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、ビシクロ[2.2.2]オクト−7−エン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物及び4,4’−(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ジフタル酸二無水物が好ましい。   Among the above tetracarboxylic dianhydrides, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2.2] oct-7-ene are used from the viewpoint of high transparency and low colorability. -2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride and 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride are preferred.

なお、本発明のポリイミド系高分子は、得られるポリイミド系高分子フィルムの各種物性を損なわない範囲で、上記のポリイミド合成に用いられるテトラカルボン酸の無水物に加えて、テトラカルボン酸、トリカルボン酸及びジカルボン酸並びにそれらの無水物及び誘導体を更に反応させたものであってもよい。   In addition, in addition to the tetracarboxylic acid anhydride used for the said polyimide synthesis | combination, the polyimide-type polymer of this invention is a tetracarboxylic acid and tricarboxylic acid in the range which does not impair the various physical properties of the polyimide-type polymer film obtained. And dicarboxylic acids and anhydrides and derivatives thereof may be further reacted.

トリカルボン酸化合物としては、芳香族トリカルボン酸、脂肪族トリカルボン酸及びそれらの類縁の酸クロライド化合物、酸無水物等が挙げられ、2種以上を併用してもよい。
具体例としては、1,2,4−ベンゼントリカルボン酸の無水物;2,3,6−ナフタレントリカルボン酸−2,3−無水物;フタル酸無水物と安息香酸とが単結合、−O−、−CH−、−C(CH−、−C(CF−、−SO−もしくはフェニレン基で連結された化合物が挙げられる。
Examples of tricarboxylic acid compounds include aromatic tricarboxylic acids, aliphatic tricarboxylic acids, and related acid chloride compounds, acid anhydrides, and the like, and two or more of them may be used in combination.
Specific examples include 1,2,4-benzenetricarboxylic acid anhydride; 2,3,6-naphthalenetricarboxylic acid-2,3-anhydride; phthalic anhydride and benzoic acid are a single bond, -O- , —CH 2 —, —C (CH 3 ) 2 —, —C (CF 3 ) 2 —, —SO 2 —, or a compound connected by a phenylene group.

ジカルボン酸化合物としては、芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸及びそれらの類縁の酸クロライド化合物、酸無水物等が挙げられ、2種以上を併用してもよい。具体例としては、テレフタル酸;イソフタル酸;ナフタレンジカルボン酸;4,4’−ビフェニルジカルボン酸;3,3’−ビフェニルジカルボン酸;炭素数8以下である鎖式炭化水素、のジカルボン酸化合物及び2つの安息香酸が単結合、−O−、−CH−、−C(CH−、−C(CF−、−SO−もしくはフェニレン基で連結された化合物が挙げられる。 Examples of the dicarboxylic acid compound include aromatic dicarboxylic acids, aliphatic dicarboxylic acids, and related acid chloride compounds, acid anhydrides, and the like, and two or more kinds may be used in combination. Specific examples include terephthalic acid; isophthalic acid; naphthalenedicarboxylic acid; 4,4′-biphenyldicarboxylic acid; 3,3′-biphenyldicarboxylic acid; chain hydrocarbons having 8 or less carbon atoms; And a compound in which two benzoic acids are linked by a single bond, —O—, —CH 2 —, —C (CH 3 ) 2 —, —C (CF 3 ) 2 —, —SO 2 — or a phenylene group.

ポリイミドの合成に用いられるジアミンとしては、脂肪族ジアミン、芳香族ジアミン又はそれらの混合物でもよい。なお、本実施形態において「芳香族ジアミン」とは、アミノ基が芳香環に直接結合しているジアミンを表し、その構造の一部に脂肪族基又はその他の置換基を含んでいてもよい。芳香環は単環でも縮合環でもよく、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環及びフルオレン環等が例示されるが、これらに限定されるわけではない。これらの中でも、好ましくはベンゼン環である。また「脂肪族ジアミン」とは、アミノ基が脂肪族基に直接結合しているジアミンを表し、その構造の一部に芳香環やその他の置換基を含んでいてもよい。   The diamine used for the synthesis of the polyimide may be an aliphatic diamine, an aromatic diamine or a mixture thereof. In the present embodiment, the “aromatic diamine” represents a diamine in which an amino group is directly bonded to an aromatic ring, and an aliphatic group or other substituent may be included in a part of the structure. The aromatic ring may be a single ring or a condensed ring, and examples thereof include, but are not limited to, a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring, and a fluorene ring. Among these, a benzene ring is preferable. The “aliphatic diamine” refers to a diamine in which an amino group is directly bonded to an aliphatic group, and an aromatic ring or other substituent may be included in a part of the structure.

脂肪族ジアミンとしては、例えば、ヘキサメチレンジアミン等の非環式脂肪族ジアミン及び1,3−ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、1,4−ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、ノルボルナンジアミン、4,4’−ジアミノジシクロヘキシルメタン等の環式脂肪族ジアミン等が挙げられ、これらは単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。   Examples of the aliphatic diamine include acyclic aliphatic diamines such as hexamethylene diamine, 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,4-bis (aminomethyl) cyclohexane, norbornane diamine, 4,4′- Examples include cycloaliphatic diamines such as diaminodicyclohexylmethane, and these can be used alone or in combination of two or more.

芳香族ジアミンとしては、例えば、p−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、2,4−トルエンジアミン、m−キシリレンジアミン、p−キシリレンジアミン、1,5−ジアミノナフタレン、2,6−ジアミノナフタレン等の、芳香環を1つ有する芳香族ジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルプロパン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、ビス〔4−(3−アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2’−ジメチルベンジジン、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、9,9−ビス(4−アミノ−3−メチルフェニル)フルオレン、9,9−ビス(4−アミノ−3−クロロフェニル)フルオレン、9,9−ビス(4−アミノ−3−フルオロフェニル)フルオレン等の、芳香環を2つ以上有する芳香族ジアミンが挙げられ、これらは単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。   Examples of the aromatic diamine include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2,4-toluenediamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 1,5-diaminonaphthalene, and 2,6-diaminonaphthalene. Aromatic diamine having one aromatic ring, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenylpropane, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 3,4′-diaminodiphenyl ether, 3,3 ′ -Diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis ( 4-Aminophenoxy) benzene, 4,4'-diaminodiphe Sulfone, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2, 2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2′-dimethylbenzidine, 2,2′-bis (trifluoromethyl) benzidine, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl 4,4′-diaminodiphenyl ether, 3,4′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, 9,9-bis (4-amino-3- Methylphenyl) fluorene, 9,9-bis (4-amino-3-chlorophenyl) fluorene, 9,9-bis (4- Mino-3-fluorophenyl) fluorene, etc., aromatic diamines include having two or more aromatic rings, they may be used individually or in combination of two or more.

上記ジアミンの中でも、高透明性及び低着色性の観点からは、ビフェニル構造を有する芳香族ジアミンからなる群から選ばれる1種以上を用いることが好ましい。2,2’−ジメチルベンジジン、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル及び4,4’−ジアミノジフェニルエーテルからなる群から選ばれる1種以上を用いることがさらに好ましく、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)ベンジジンが含まれることがよりさらに好ましい。   Among the diamines, from the viewpoint of high transparency and low colorability, it is preferable to use one or more selected from the group consisting of aromatic diamines having a biphenyl structure. One selected from the group consisting of 2,2′-dimethylbenzidine, 2,2′-bis (trifluoromethyl) benzidine, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl and 4,4′-diaminodiphenyl ether It is more preferable to use the above, and it is even more preferable that 2,2′-bis (trifluoromethyl) benzidine is included.

式(10)、式(11)、式(12)又は式(13)で表される繰り返し構造単位を少なくとも1種含む重合体であるポリイミド系高分子及びポリアミドは、ジアミンと、テトラカルボン酸化合物(酸クロライド化合物、テトラカルボン酸二無水物等のテトラカルボン酸化合物類縁体)、トリカルボン酸化合物(酸クロライド化合物、トリカルボン酸無水物等のトリカルボン酸化合物類縁体)及びジカルボン酸化合物(酸クロライド化合物等のジカルボン酸化合物類縁体)からなる群に含まれる少なくとも1種類の化合物との重縮合生成物である縮合型高分子である。出発原料としては、これらに加えて、さらにジカルボン酸化合物(酸クロライド化合物等の類縁体を含む)を用いることもある。式(11)で表される繰り返し構造単位は、通常、ジアミン類及びテトラカルボン酸化合物から誘導される。式(12)で表される繰り返し構造単位は、通常、ジアミン及びトリカルボン酸化合物から誘導される。式(13)で表される繰り返し構造単位は、通常、ジアミン及びジカルボン酸化合物から誘導される。ジアミン及びテトラカルボン酸化合物の具体例は、上述のとおりである。   Polyimide polymers and polyamides that are polymers containing at least one repeating structural unit represented by formula (10), formula (11), formula (12) or formula (13) are diamine and tetracarboxylic acid compound (Tetracarboxylic acid compound analogues such as acid chloride compounds and tetracarboxylic dianhydrides), tricarboxylic acid compounds (tricarboxylic acid compound analogues such as acid chloride compounds and tricarboxylic anhydrides) and dicarboxylic acid compounds (acid chloride compounds etc.) A polycondensation polymer that is a polycondensation product with at least one compound included in the group consisting of dicarboxylic acid compound analogs). In addition to these, a dicarboxylic acid compound (including analogs such as an acid chloride compound) may be used as a starting material. The repeating structural unit represented by the formula (11) is usually derived from diamines and tetracarboxylic acid compounds. The repeating structural unit represented by the formula (12) is usually derived from a diamine and a tricarboxylic acid compound. The repeating structural unit represented by the formula (13) is usually derived from a diamine and a dicarboxylic acid compound. Specific examples of the diamine and the tetracarboxylic acid compound are as described above.

本発明のポリイミド系高分子及びポリアミドにおいては、標準ポリスチレン換算の重量平均分子量は、通常10,000〜500,000、好ましくは50,000〜500,000、より好ましくは100,000〜500,000、さらに好ましくは200,000〜500,000、さらにより好ましくは300,000〜450,000である。ポリイミド系高分子及びポリアミドの重量平均分子量が前記の範囲にあると、フィルム化した際に高い耐屈曲性を発現しやすい傾向があり、また樹脂を含む溶液の粘度が高くなり過ぎず、加工性が低下しにくい傾向がある。本発明において、2種以上のポリイミド系高分子又はポリアミドを用いてもよい。   In the polyimide polymer and polyamide of the present invention, the weight average molecular weight in terms of standard polystyrene is usually 10,000 to 500,000, preferably 50,000 to 500,000, more preferably 100,000 to 500,000. More preferably, it is 200,000 to 500,000, and still more preferably 300,000 to 450,000. If the weight average molecular weight of the polyimide polymer and polyamide is in the above range, high flexibility tends to be exhibited when formed into a film, and the viscosity of the solution containing the resin does not become too high, and the processability is high. Tends to be less likely to decrease. In the present invention, two or more kinds of polyimide polymers or polyamides may be used.

ポリイミド系高分子及びポリアミドは、含フッ素置換基を含むことにより、フィルム化した際の弾性率が向上するとともに、YI値が低減される傾向がある。フィルムの弾性率が高いと、キズ及びシワ等の発生が抑制される傾向がある。フィルムの透明性の観点から、ポリイミド系高分子及びポリアミドは、含フッ素置換基を有することが好ましい。含フッ素置換基の具体例としては、フルオロ基及びトリフルオロメチル基が挙げられる。   By including a fluorine-containing substituent, the polyimide polymer and the polyamide tend to improve the elastic modulus when formed into a film and reduce the YI value. When the elastic modulus of the film is high, generation of scratches and wrinkles tends to be suppressed. From the viewpoint of transparency of the film, the polyimide polymer and the polyamide preferably have a fluorine-containing substituent. Specific examples of the fluorine-containing substituent include a fluoro group and a trifluoromethyl group.

ポリイミド系高分子及びポリアミドにおけるフッ素原子の含有量は、ポリイミド系高分子又はポリアミドの質量を基準として、好ましくは1質量%以上40質量%以下、さらに好ましくは5質量%以上40質量%以下である。   The fluorine atom content in the polyimide polymer and polyamide is preferably 1% by mass to 40% by mass, more preferably 5% by mass to 40% by mass, based on the mass of the polyimide polymer or polyamide. .

樹脂ワニスには、前記のポリイミド系高分子及び/又はポリアミドに加えて、無機粒子等の無機材料を更に含有していてもよい。   The resin varnish may further contain an inorganic material such as inorganic particles in addition to the polyimide polymer and / or polyamide.

無機材料として好ましくは、シリカ粒子、オルトケイ酸テトラエチル等の4級アルコキシシラン等のケイ素化合物が挙げられ、ワニス安定性の観点から、好ましくはシリカ粒子が挙げられる。   Preferred inorganic materials include silica particles and silicon compounds such as quaternary alkoxysilanes such as tetraethyl orthosilicate, and silica particles are preferred from the viewpoint of varnish stability.

シリカ粒子の平均一次粒子径は、好ましくは10〜100nm、さらに好ましくは20〜80nmである。シリカ粒子の平均一次粒子径が前記の範囲にあると、透明性が向上し、また、シリカ粒子の凝集力が弱まるために取り扱い易くなる傾向がある。   The average primary particle diameter of the silica particles is preferably 10 to 100 nm, more preferably 20 to 80 nm. When the average primary particle diameter of the silica particles is in the above range, the transparency is improved, and the cohesive force of the silica particles is weakened, so that the handling tends to be easy.

本発明のシリカ微粒子は、有機溶剤等にシリカ粒子を分散させたシリカゾルであっても、気相法で製造したシリカ微粒子粉末を用いてもよいが、ハンドリングが容易であることからシリカゾルであることが好ましい。   The silica fine particle of the present invention may be a silica sol in which silica particles are dispersed in an organic solvent or the like, or a silica fine particle powder produced by a vapor phase method may be used, but it is a silica sol because of easy handling. Is preferred.

得られた樹脂フィルム中のシリカ粒子の平均一次粒子径は、透過型電子顕微鏡(TEM)による観察で求めることができる。樹脂フィルムを形成する前のシリカ粒子の粒度分布は、市販のレーザー回折式粒度分布計により求めることができる。   The average primary particle diameter of the silica particles in the obtained resin film can be determined by observation with a transmission electron microscope (TEM). The particle size distribution of the silica particles before forming the resin film can be determined by a commercially available laser diffraction particle size distribution meter.

本発明の樹脂フィルムにおいて、無機材料の含有量は、好ましくは0質量%以上90質量%以下、より好ましくは10質量%以上60質量%以下、さらに好ましくは20質量%以上50質量%以下である。無機材料の含有量が上記の範囲内であると、樹脂フィルムの透明性及び機械的強度を両立させやすい傾向がある。   In the resin film of the present invention, the content of the inorganic material is preferably 0% by mass to 90% by mass, more preferably 10% by mass to 60% by mass, and still more preferably 20% by mass to 50% by mass. . When the content of the inorganic material is within the above range, the transparency and mechanical strength of the resin film tend to be compatible.

樹脂フィルムは、以上説明した成分に加えて、他の成分を更に含有していてもよい。他の成分としては、例えば、酸化防止剤、離型剤、安定剤、ブルーイング剤、難燃剤、滑剤及びレベリング剤が挙げられる。   The resin film may further contain other components in addition to the components described above. Examples of other components include antioxidants, mold release agents, stabilizers, bluing agents, flame retardants, lubricants, and leveling agents.

樹脂成分及び無機材料以外の成分の含有量は、樹脂フィルムの質量に対して、好ましくは0質量%超20質量%以下、より好ましくは0質量%超10質量%以下である。   Content of components other than a resin component and an inorganic material becomes like this. Preferably it is more than 0 mass% and 20 mass% or less with respect to the mass of a resin film, More preferably, it is more than 0 mass% and 10 mass% or less.

本発明で用いる樹脂ワニスは、例えば、前記テトラカルボン酸化合物、前記ジアミン及び前記のその他の原料から選択して反応させて得られる、ポリイミド系高分子及び/又はポリアミドの反応液、溶媒、ならびに必要に応じて用いられる前記のその他の成分を混合、攪拌することにより調製することができる。ポリイミド系高分子等の反応液に変えて、購入したポリイミド系高分子等の溶液や、購入した固体のポリイミド系高分子等の溶液を用いてもよい。   The resin varnish used in the present invention is, for example, a reaction solution of a polyimide polymer and / or a polyamide obtained by selecting and reacting the tetracarboxylic acid compound, the diamine, and the other raw materials, a solvent, and the necessary It can be prepared by mixing and stirring the other components used according to the above. Instead of a reaction solution such as a polyimide polymer, a solution such as a purchased polyimide polymer or a solution such as a purchased solid polyimide polymer may be used.

樹脂ワニスに用いられる溶媒は、樹脂成分を溶解または分散させるものあればよく、例えばN,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミドなどのアミド系溶媒、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン等のラクトン系溶媒、ジメチルスルホン、ジメチルスルホキシド、スルホラン等の含硫黄系溶剤、エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート等のカーボネート系溶媒などが挙げられる。溶媒の量は、樹脂ワニスの取り扱いが可能な粘度になるように選択されるので、特に制限はないが、例えば樹脂ワニス全体に対して、通常70〜95質量%、好ましくは80〜90質量%である。   The solvent used for the resin varnish may be any solvent that dissolves or disperses the resin component. Examples thereof include amide solvents such as N, N-dimethylformamide and N, N-dimethylacetamide, γ-butyrolactone, and γ-valerolactone. Examples thereof include lactone solvents, sulfur-containing solvents such as dimethyl sulfone, dimethyl sulfoxide and sulfolane, and carbonate solvents such as ethylene carbonate and propylene carbonate. The amount of the solvent is selected so that the viscosity of the resin varnish can be handled, and is not particularly limited. For example, the amount is usually 70 to 95% by mass, preferably 80 to 90% by mass with respect to the entire resin varnish. It is.

樹脂ワニスの形成は、上記樹脂フィルムの成分を溶媒で混合することにより製造される。混合は通常の混合装置を用いて行われる。   The resin varnish is formed by mixing the components of the resin film with a solvent. Mixing is performed using a normal mixing apparatus.

無機材料を含有する樹脂フィルムを製造する場合、無機材料を添加し、撹拌及び混合して、無機材料が均一に分散された樹脂ワニス(分散液)を調製する。   When manufacturing the resin film containing an inorganic material, an inorganic material is added, it stirs and mixes, and the resin varnish (dispersion liquid) in which the inorganic material was disperse | distributed uniformly is prepared.

樹脂ワニスを形成した後、図1に示すように、プレ製膜工程に移動する。プレ製膜工程では、樹脂ワニスを塗装装置により支持体上に塗布して、簡単に乾燥して支持体上に樹脂フィルムの層を形成する。支持体は、例えば、樹脂フィルム基材、スチール基材(例えばSUSベルト)であってもよい。樹脂フィルム基材としては、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムが挙げられる。支持体の厚さは、特に制限されないが、好ましくは50〜250μm、より好ましくは100〜200μmである。薄い方がコストを抑えられる傾向があり、厚い方が溶媒の一部を除去する工程で生じることがあるカールを抑制できる傾向がある。   After forming the resin varnish, as shown in FIG. In the pre-film forming step, the resin varnish is applied onto a support by a coating apparatus and is simply dried to form a resin film layer on the support. The support may be, for example, a resin film base or a steel base (for example, a SUS belt). Examples of the resin film substrate include a polyethylene terephthalate (PET) film. The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably 50 to 250 μm, more preferably 100 to 200 μm. The thinner one tends to reduce the cost, and the thicker one tends to suppress curling that may occur in the process of removing a part of the solvent.

上述のように、プレ乾燥工程では、支持体上に樹脂フィルムの層が形成されるが、通常樹脂フィルム上に更に保護フィルムが形成される。保護フィルムは、樹脂フィルムを保護するためのフィルムであって、ポリエチレンやポリプロピレン等のポリオレフィン系フィルム、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル系フィルム等のフィルムが用いられる。従って、プレ乾燥工程では、支持体上に樹脂フィルムの層が形成され、更に樹脂フィルムの層の上に保護フィルムが形成された積層フィルムが形成される。   As described above, in the pre-drying step, a resin film layer is formed on the support, but a protective film is usually further formed on the resin film. The protective film is a film for protecting the resin film, and a film such as a polyolefin film such as polyethylene or polypropylene or a polyester film such as polyethylene terephthalate is used. Accordingly, in the pre-drying step, a laminated film in which a resin film layer is formed on the support and a protective film is further formed on the resin film layer is formed.

図1のプレ乾燥工程の次の工程は、支持体剥離工程である。支持体剥離工程は、次の乾燥工程に掛ける前に、樹脂フィルム層から支持体を剥離痕が無いように支持体を剥離する工程である。この時点の樹脂フィルムはまだ乾燥工程を経ていないもので、溶媒分が多く残存するものであり、乾燥工程に掛ける前に、支持体を注意深く剥離する必要があり、この支持体剥離工程を設けている。ここで得られた樹脂フィルムは、保護フィルムと樹脂フィルムとの2層からなり、通常はロール状に巻き取られている。ロールは、例えば、外径50〜200mmの巻取り管(プラスチックコア、金属ロール等)の周りに積層体を巻き取って、積層体のロールすることができる。巻取り管としては、市販の3インチ、6インチ径のプラスチックコアなどを用いてもよい。このロールは、図2の乾燥工程でも、積層フィルムを巻き取るロールに使用できる。   The next step of the pre-drying step in FIG. 1 is a support peeling step. A support body peeling process is a process of peeling a support body so that there may be no peeling trace from a resin film layer, before applying to the next drying process. The resin film at this point has not yet undergone a drying process, and a large amount of solvent remains, and it is necessary to carefully peel the support before it is subjected to the drying process. Yes. The resin film obtained here consists of two layers of a protective film and a resin film, and is usually wound into a roll. For example, the roll can be rolled by winding the laminate around a take-up tube (plastic core, metal roll, etc.) having an outer diameter of 50 to 200 mm. As the winding tube, a commercially available plastic core having a diameter of 3 inches or 6 inches may be used. This roll can be used as a roll for winding a laminated film even in the drying step of FIG.

乾燥工程は、具体的に図2に模式的に示されている。前のプレ乾燥工程で得られた樹脂フィルムと保護フィルムとの2層の積層フィルムは、ロール1の形態で図2に表示されている。ロール1から送り出された積層フィルムは、保護フィルムを保護フィルム巻取ロール2に巻き取り、樹脂フィルム3だけにして乾燥炉4内の複数のガイドロール5上を走行する。この場合、樹脂フィルム3がガイドロール5と接する面は、上記支持体剥離前に支持体に接していた支持体面またはその反対の支持体に接していなかった反支持体面のどちらでもよいが、硬度が高いことから、反支持体面の方が好ましい。ガイドロールを走行中に乾燥炉4内で十分に乾燥した後、ガイドロール9を通して、第2ロール6に巻き取る。この第2ロール6に巻き取る時にも、通常、保護フィルムを保護フィルムロール7から送り出し、保護フィルムで被覆する。図2中、8で示される矢印は、樹脂フィルムの流れ方向(縦方向)を示す。   The drying process is schematically shown in FIG. The two-layer laminated film of the resin film and the protective film obtained in the previous pre-drying step is displayed in FIG. The laminated film fed from the roll 1 is wound around the protective film take-up roll 2 by the protective film, and travels on the plurality of guide rolls 5 in the drying furnace 4 by using only the resin film 3. In this case, the surface of the resin film 3 in contact with the guide roll 5 may be either the support surface that was in contact with the support before the support was peeled off or the anti-support surface that was not in contact with the opposite support. Is higher, the anti-support surface is preferred. After the guide roll is sufficiently dried in the drying furnace 4 while traveling, the guide roll is wound around the second roll 6 through the guide roll 9. Also when winding on this 2nd roll 6, normally, a protective film is sent out from the protective film roll 7, and is coat | covered with a protective film. In FIG. 2, an arrow indicated by 8 indicates the flow direction (longitudinal direction) of the resin film.

本発明では、上記の乾燥工程において、樹脂フィルム3の単位幅に掛かる張力が82N/m以下であれば、微小キズが軽減される。本明細書において、「単位幅あたりに掛かる張力」とは、樹脂フィルムの流れ方向(縦方向)に掛かる張力を樹脂フィルムの幅の長さで割った値をいう。図3を用いて単位幅あたりに掛かる張力を説明する。図3のFは、樹脂フィルムの流れ方向(縦方向)に掛かる張力であり、単位はN(ニュートン)である。
Lは流れ方向に直角の方向の樹脂フィルムの幅を表し、単位はm(メートル)である。「単位幅あたりに掛かる張力」は、張力(F)を幅(L)で割った値であり、F/L(N/m)である。本発明では、単位幅あたりに掛かる張力が82N/m以下であるので、F/L≦82N/mでなければならない。単位幅あたりに掛かる張力が82N/mを超えると、微小キズが増えて、透明性に支障をきたす。単位幅あたりに掛かる張力は、好ましくは30〜81N/m、より好ましくは35〜65N/m、さらに好ましくは40〜60N/mである。単位幅あたりに掛かる張力が小さすぎると、樹脂フィルムが乾燥炉内で蛇行することによって擦り傷など他の欠陥が発生する懸念がある。
In the present invention, in the above drying step, if the tension applied to the unit width of the resin film 3 is 82 N / m or less, minute scratches are reduced. In this specification, the “tension applied per unit width” means a value obtained by dividing the tension applied in the flow direction (longitudinal direction) of the resin film by the width of the resin film. The tension applied per unit width will be described with reference to FIG. F in FIG. 3 is a tension applied in the flow direction (longitudinal direction) of the resin film, and its unit is N (Newton).
L represents the width of the resin film in the direction perpendicular to the flow direction, and the unit is m (meters). “Tension applied per unit width” is a value obtained by dividing tension (F) by width (L), and is F / L (N / m). In the present invention, since the tension applied per unit width is 82 N / m or less, F / L ≦ 82 N / m must be satisfied. When the tension applied per unit width exceeds 82 N / m, fine scratches increase and the transparency is hindered. The tension applied per unit width is preferably 30 to 81 N / m, more preferably 35 to 65 N / m, and still more preferably 40 to 60 N / m. If the tension applied per unit width is too small, the resin film may meander in the drying furnace to cause other defects such as scratches.

乾燥炉4での乾燥は、塗膜から溶媒を除去する乾燥のために、塗膜を必要に応じて加熱してもよい。例えば、加熱温度を40〜240℃の範囲、加熱時間を10〜180分、好ましくは10〜120分の範囲で調整することができる。熱風による乾燥(溶媒の除去)の場合、熱風の風速を0〜15m/秒の範囲で調整することができる。溶媒の除去の際、不活性雰囲気や減圧の条件下で塗膜を加熱してもよい。乾燥炉4内のガイドロールの直径は、好ましくは10〜300mm、より好ましくは30〜250mm、さらに好ましくは50〜200mmである。また、JIS B0601に準拠して測定したガイドロールの表面粗さ(Rmax)は、好ましくは0.01以上1.0以下、より好ましくは0.03以上0.9以下、さらに好ましくは0.05以上0.7以下である。表面粗さが0.01よりも大きいと、樹脂フィルムと接触した際の抵抗が小さくなり、1.0よりも小さいと、ガイドロール表面形状が樹脂フィルムへ転写される難い。さらに、JIS Z2244に準拠して測定したガイドロールのビッカース硬度は、好ましくは500以上2,000以下、より好ましくは520以上1,500以下、さらに好ましくは550以上1,300以下である。金属ロールの表面処理方法としては、ニッケルメッキ、無電解ニッケルメッキ、ニッケル−ホウ素メッキ、硬質クロムメッキ、パーカーメッキなどが挙げられ、好ましくは硬質クロムメッキが挙げられる。   Drying in the drying furnace 4 may heat the coating film as necessary for drying to remove the solvent from the coating film. For example, the heating temperature can be adjusted in the range of 40 to 240 ° C., and the heating time can be adjusted in the range of 10 to 180 minutes, preferably 10 to 120 minutes. In the case of drying with hot air (removal of solvent), the wind speed of the hot air can be adjusted in the range of 0 to 15 m / sec. When removing the solvent, the coating film may be heated under an inert atmosphere or under reduced pressure. The diameter of the guide roll in the drying furnace 4 is preferably 10 to 300 mm, more preferably 30 to 250 mm, and still more preferably 50 to 200 mm. Further, the surface roughness (Rmax) of the guide roll measured in accordance with JIS B0601 is preferably 0.01 or more and 1.0 or less, more preferably 0.03 or more and 0.9 or less, and further preferably 0.05. It is 0.7 or more. When the surface roughness is larger than 0.01, the resistance when contacting with the resin film is decreased, and when it is smaller than 1.0, the guide roll surface shape is hardly transferred to the resin film. Furthermore, the Vickers hardness of the guide roll measured according to JIS Z2244 is preferably 500 or more and 2,000 or less, more preferably 520 or more and 1,500 or less, and further preferably 550 or more and 1,300 or less. Examples of the surface treatment method of the metal roll include nickel plating, electroless nickel plating, nickel-boron plating, hard chrome plating, parker plating, and the like, and preferably hard chrome plating.

得られる樹脂フィルムの厚さは、樹脂フィルムが適用される各種デバイスに応じて適宜調整されるが、好ましくは10〜500μm、より好ましくは15〜200μm、さらに好ましくは20〜100μmである。このような構成の樹脂フィルムは、特に優れた屈曲性を有することができる。   Although the thickness of the resin film obtained is suitably adjusted according to the various devices to which the resin film is applied, it is preferably 10 to 500 μm, more preferably 15 to 200 μm, and still more preferably 20 to 100 μm. The resin film having such a configuration can have particularly excellent flexibility.

なお、本明細書において「微小キズ」とは、3,000ルーメン以上、例えば3,400ルーメンの照度の光をフィルムの流れ方向(即ち、縦方向)から照射して、目視で認識できる点状の欠陥であり、大きさは40〜400μmの大きさのものを言う。樹脂フィルム表面の微小キズの写真を図4に示す。   In the present specification, the term “micro scratch” refers to a point that can be recognized visually by irradiating light with an illuminance of 3,000 lumens or more, for example, 3,400 lumens, from the flow direction of the film (ie, the vertical direction). This is a defect having a size of 40 to 400 μm. A photograph of the fine scratches on the surface of the resin film is shown in FIG.

微小キズの発生は、樹脂フィルムの製膜以降の工程で、樹脂フィルム中の残存溶媒量と関係がある。樹脂フィルム中の残存溶媒の量が多いと、フィルム表面が柔らかくなり微小キズが付きやすくなる。上記プレ製膜後の樹脂フィルム中の残存溶媒は、該樹脂フィルム100質量部中、通常5〜30質量%、好ましくは5〜20質量%程度であり、乾燥工程を経る後の残存溶媒の量は、通常0〜10質量%、好ましくは0〜5質量%である。乾燥工程後の残存溶媒量であれば、樹脂フィルムを搬送中の微小キズの発生のリスクは非常に小さくなると考えられている。   The generation of minute scratches is related to the amount of residual solvent in the resin film in the steps after the formation of the resin film. If the amount of residual solvent in the resin film is large, the film surface becomes soft and minute scratches are easily formed. The residual solvent in the resin film after the pre-film formation is usually 5 to 30% by mass, preferably about 5 to 20% by mass in 100 parts by mass of the resin film, and the amount of the residual solvent after passing through the drying step. Is usually 0 to 10% by mass, preferably 0 to 5% by mass. If the amount of residual solvent after the drying step, it is considered that the risk of generation of fine scratches during transport of the resin film is very small.

上記の残存溶媒量の測定は「TG−DTA測定」で行う。TG−DTAの測定装置として、日立ハイテクサイエンス社製「TG/DTA6300」を用いることができる。測定手順は、次の通りである:
作製されたポリイミドフィルムから約20mgの試料を取得する。
採取した試料を室温から120℃まで10℃/分の昇温速度で昇温し、120℃で5分間保持した後、400℃まで10℃/分の昇温速度で昇温する条件で加熱しながら、試料の質量変化を測定する。
TG−DTA測定結果から、120℃から250℃にかけての質量減少率T(%)を下記式によって算出し、残存溶媒量とする。
T(%)=100−(W/W)×100
(上記式中、Wは120℃で5分間保持した後の試料の質量を表し、
は250℃における試料の質量を表す。)
The measurement of the residual solvent amount is performed by “TG-DTA measurement”. As a TG-DTA measuring device, “TG / DTA6300” manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd. can be used. The measurement procedure is as follows:
A sample of about 20 mg is obtained from the produced polyimide film.
The collected sample is heated from room temperature to 120 ° C. at a rate of 10 ° C./min, held at 120 ° C. for 5 minutes, and then heated to 400 ° C. at a rate of 10 ° C./min. While measuring the mass change of the sample.
From the TG-DTA measurement result, the mass reduction rate T (%) from 120 ° C. to 250 ° C. is calculated by the following formula, and is defined as the residual solvent amount.
T (%) = 100− (W 1 / W 0 ) × 100
(In the above formula, W 0 represents the mass of the sample after being held at 120 ° C. for 5 minutes,
W 1 represents the mass of the sample at 250 ° C. )

本発明のポリアミド系の樹脂フィルムにおいては、微小キズをほとんど視認することができず、光学用途に使用することができる優れたものである。   The polyamide-based resin film of the present invention is excellent in that it can hardly be visually recognized and can be used for optical applications.

尚、ポリイミド系樹脂およびポリアミドの重量平均分子量測定は、ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)測定により以下の方法で行われる。
(1)前処理方法
試料をγ−ブチロラクトン(GBL)に溶解させて20質量%溶液とした後、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)溶離液にて100倍に希釈し、0.45μmメンブランフィルターでろ過されたものを測定溶液とする。
(2)測定条件
装置:(株)島津製作所製 LC−10Atvp
カラム:TSKgel Super AWM−H×2+SuperAW2500×1(6.0mm I.D.×150mm×3本)
溶離液:DMF(10mMの臭化リチウム添加)
流量:0.6mL/min.
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:20μL
分子量標準:標準ポリスチレン
In addition, the weight average molecular weight measurement of a polyimide-type resin and polyamide is performed by the following method by gel permeation chromatography (GPC) measurement.
(1) Pretreatment method The sample was dissolved in γ-butyrolactone (GBL) to give a 20% by mass solution, then diluted 100-fold with an N, N-dimethylformamide (DMF) eluent, and a 0.45 μm membrane filter. The solution filtered is used as the measurement solution.
(2) Measurement condition apparatus: LC-10 Atvp manufactured by Shimadzu Corporation
Column: TSKgel Super AWM-H × 2 + SuperAW 2500 × 1 (6.0 mm ID × 150 mm × 3)
Eluent: DMF (10 mM lithium bromide added)
Flow rate: 0.6 mL / min.
Detector: RI detector Column temperature: 40 ° C
Injection volume: 20 μL
Molecular weight standard: Standard polystyrene

以下、実施例を挙げて本発明についてさらに具体的に説明する。ただし、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples. However, the present invention is not limited to these examples.

実施例1
重量平均分子量が360,000であるポリイミド(河村産業(株)製「KPI−MX300F」)を準備した。このポリイミドをN,N−ジメチルアセトアミド及びγ−ブチロラクトンの9:1の混合溶媒に溶解し、樹脂ワニス(濃度20質量%)を調製した。この樹脂ワニスを、厚み188μm、幅900mmである長尺状のポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム基材上にキャスト法により幅870mmで塗布して製膜した。製膜された樹脂ワニスを、温度を段階的に70℃から120℃になるように設定した長さ12mの炉内を線速0.4m/分で通過させることにより樹脂溶液から溶媒を除去して、樹脂フィルム(厚み80μm)を形成させた。その後、樹脂フィルムに保護フィルム(東レフィルム加工(株)製「7332」、弱粘着力のポリオレフィン保護フィルム)を貼合し、保護フィルムと樹脂フィルムとPETフィルムから構成されるフィルム状の積層体をロール芯に巻取ってロール状(250m)とした。
Example 1
A polyimide having a weight average molecular weight of 360,000 (“KPI-MX300F” manufactured by Kawamura Sangyo Co., Ltd.) was prepared. This polyimide was dissolved in a 9: 1 mixed solvent of N, N-dimethylacetamide and γ-butyrolactone to prepare a resin varnish (concentration 20% by mass). This resin varnish was coated on a long polyethylene terephthalate (PET) film substrate having a thickness of 188 μm and a width of 900 mm by a casting method to form a film having a width of 870 mm. The solvent is removed from the resin solution by passing the film-formed resin varnish through a 12 m long oven set at a temperature of 70 ° C. to 120 ° C. at a linear velocity of 0.4 m / min. Thus, a resin film (thickness 80 μm) was formed. Thereafter, a protective film (“7332” manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., a weakly adhesive polyolefin protective film) is bonded to the resin film, and a film-like laminate composed of the protective film, the resin film, and the PET film is formed. It was wound around a roll core to form a roll (250 m).

上記でロール状に巻き取られた積層体を巻き出しながらPETフィルム基材を剥離し、樹脂フィルムと保護フィルムから構成される積層体を巻き取った(200m取得)。   The PET film base material was peeled off while unwinding the laminate wound up in a roll shape as described above, and the laminate composed of the resin film and the protective film was wound up (obtained 200 m).

上記でロール状に巻き取られた積層体を30N(33.3N/m)の張力で巻き出しながら、保護フィルムを剥離しつつ、樹脂フィルムを張力80.5N/mで乾燥炉に導入して更に乾燥させた。乾燥炉内では、保護フィルムを剥離したのちの樹脂フィルムが剥離前のPETフィルム基材と接触していた面(支持体面)側とは反対側の面(反支持体面)側で、金属製の直径100mm、表面粗さ(Rmax)0.6S、ビッカース硬度850の硬質クロムメッキのガイドロール10本と接触するようにして搬送した。乾燥炉内では、樹脂フィルム幅870mm、乾燥炉張力70Nであった。従って、単位幅あたりに掛かる張力は80.5N/mであった。尚、乾燥炉の温度は200℃とし、搬送速度は0.4m/分とし、乾燥時間は30分とした。乾燥炉で乾燥させた後の樹脂フィルムは、両面に保護フィルム(東レフィルム加工(株)製「7332」、弱粘着力のポリオレフィン保護フィルム)を貼合し、ロール芯に巻き取った。   While the laminate wound up in a roll shape as described above is unwound at a tension of 30 N (33.3 N / m), the protective film is peeled off, and the resin film is introduced into the drying furnace at a tension of 80.5 N / m. It was further dried. In the drying furnace, the resin film after peeling off the protective film is made of metal on the surface (anti-supporting surface) side opposite to the surface (supporting surface) side that was in contact with the PET film substrate before peeling. It was conveyed so as to be in contact with 10 hard chrome-plated guide rolls having a diameter of 100 mm, a surface roughness (Rmax) of 0.6 S, and a Vickers hardness of 850. In the drying furnace, the resin film width was 870 mm and the drying furnace tension was 70 N. Therefore, the tension applied per unit width was 80.5 N / m. The temperature of the drying furnace was 200 ° C., the conveyance speed was 0.4 m / min, and the drying time was 30 minutes. The resin film after being dried in a drying furnace was laminated on both sides with a protective film (“7332” manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., a weak protective adhesive polyolefin protective film) and wound around a roll core.

実施例1得られた乾燥後の樹脂フィルムについて、両面の保護フィルムを剥離し、200mのロールから無作為に1mを切り出し、以下のように微小キズを評価した。
微小キズの評価
ポラリオンライト〔ポラリオン社製「PS−X1」〕(3,400ルーメン)を流れ方向(即ち、縦方向)から照射した。その際、フィルム面に対して20〜70°程度の寝かせた角度で照射した。視認する方向は、評価する樹脂フィルムの面のほぼ真上(樹脂フィルム面から90°の角度)からであり、人の目で評価を行った。視認した面積については、微小キズ群の全てを含むように四角を描き、その面積を足し合せ、発生領域(「微小キズ面積」と言う。)とした。ただし、その四角が隣と0.5cm以上離れていない場合は、同一発生領域とした。
微小キズの評価は以下の通りとした。
○:目視した微小キズの発生領域が全面積の5%未満
△:目視した微小キズの発生領域が全面積の5%以上10%未満
×:目視した微小キズの発生領域が全面積の10%以上
実施例1で得られた樹脂フィルムの微小キズの上記測定での評価は、○であった。実施例1の結果を表1に記載する。表1には、ガイドロールとの接触面、樹脂フィルム幅(mm)、乾燥炉張力(N)、単位幅あたりに掛かる張力(N/m)の値、フィルム評価面積(cm)、微小キズ面積(cm)、フィルム全体における微小キズ割合(%)も示した。なお、フィルム評価面積(cm)とは、微小キズを評価したフィルムの面積であり、フィルム全体の微小キズ割合(%)は、微小キズ面積(cm)をフィルム評価面積(cm)で割って100倍したものである。
Example 1 About the obtained resin film after drying, the protective films on both sides were peeled off, and 1 m was randomly cut out from a 200 m roll, and minute scratches were evaluated as follows.
Evaluation of minute scratches Polarion light ["PS-X1" manufactured by Polarion Co., Ltd.] (3,400 lumens) was irradiated from the flow direction (that is, the vertical direction). At that time, irradiation was performed at an angle of about 20 to 70 ° with respect to the film surface. The viewing direction was from almost directly above the surface of the resin film to be evaluated (90 ° angle from the resin film surface), and the evaluation was performed with the human eye. About the visually recognized area, a square was drawn so as to include all of the minute scratch group, and the areas were added to form a generation region (referred to as “small scratch area”). However, when the square was not more than 0.5 cm away from the next, it was set as the same generation | occurrence | production area | region.
Evaluation of minute scratches was as follows.
○: Visually observed area of minute flaws is less than 5% of the total area Δ: Visually observed area of minute flaws is 5% or more and less than 10% of the total area ×: Visually observed area of minute flaws is 10% of the total area As described above, the evaluation in the above measurement of the fine scratches of the resin film obtained in Example 1 was “◯”. The results of Example 1 are listed in Table 1. Table 1 shows the contact surface with the guide roll, resin film width (mm), drying furnace tension (N), tension value per unit width (N / m), film evaluation area (cm 2 ), minute scratches The area (cm 2 ) and the minute scratch ratio (%) in the entire film are also shown. The film evaluation area (cm 2 ) is the area of the film where micro scratches were evaluated, and the micro scratch ratio (%) of the entire film is the micro scratch area (cm 2 ) as the film evaluation area (cm 2 ). It is divided and multiplied by 100.

残存溶媒量の測定
得られた樹脂フィルム中の残存溶媒量の測定は「TG−DTA測定」で行った。測定手順は、以下の通りであった:
作製された樹脂フィルムから約20mgの試料を取得した。
採取した試料を室温から120℃まで10℃/分の昇温速度で昇温し、120℃で5分間保持した後、400℃まで10℃/分の昇温速度で昇温する条件で加熱しながら、試料の質量変化をTG−DTAの測定装置:日立ハイテクサイエンス社製「TG/DTA6300」で測定した。
TG−DTA測定結果から、120℃から250℃にかけての質量減少率L(%)を下記式:
L(%)=100−(W/W)×100
(上記式中、Wは120℃で5分間保持した後の試料の質量を表し、
は250℃における試料の質量を表す。)
から計算し、これを残存溶媒量とした。乾燥前の樹脂フィルムと乾燥後の樹脂フィルムについて、それぞれ残存溶媒量が測定され、その結果を表1に記載した。
Measurement of residual solvent amount The residual solvent amount in the obtained resin film was measured by “TG-DTA measurement”. The measurement procedure was as follows:
About 20 mg of sample was obtained from the produced resin film.
The collected sample is heated from room temperature to 120 ° C. at a rate of 10 ° C./min, held at 120 ° C. for 5 minutes, and then heated to 400 ° C. at a rate of 10 ° C./min. However, the mass change of the sample was measured with a TG-DTA measuring device: “TG / DTA6300” manufactured by Hitachi High-Tech Science Corporation.
From the TG-DTA measurement result, the mass reduction rate L (%) from 120 ° C. to 250 ° C. is expressed by the following formula:
L (%) = 100− (W 1 / W 0 ) × 100
(In the above formula, W 0 represents the mass of the sample after being held at 120 ° C. for 5 minutes,
W 1 represents the mass of the sample at 250 ° C. )
This was calculated as a residual solvent amount. The residual solvent amount was measured for each of the resin film before drying and the resin film after drying, and the results are shown in Table 1.

弾性率の測定
得られた樹脂フィルムを200℃で20分間乾燥し、ダンベルカッターを用いて10mm×100mmの短冊状にカットし、サンプルを得た。このサンプルの弾性率を(株)島津製作所製オートグラフAG−ISを用い、チャック間距離500mm、引張速度20mm/分の条件でS−S曲線を測定し、その傾きから光学フィルムの弾性率を算出した。結果を表1に記載した。
Measurement of Elastic Modulus The obtained resin film was dried at 200 ° C. for 20 minutes and cut into a 10 mm × 100 mm strip using a dumbbell cutter to obtain a sample. Using an autograph AG-IS manufactured by Shimadzu Corporation, the elastic modulus of this sample was measured under conditions of a distance between chucks of 500 mm and a tensile speed of 20 mm / min, and the elastic modulus of the optical film was determined from the inclination. Calculated. The results are shown in Table 1.

実施例2〜8および比較例1〜2
実施例1で得られた樹脂フィルムについて、樹脂フィルムがガイドロールと接触するガイドロールとの接触面(支持体面側/反支持体面側)、樹脂フィルム幅(mm)、乾燥炉張力(N)および単位幅あたりに掛かる張力(N/m)を表1に記載のように変更して、乾燥させた後、微小キズの評価を行った。結果を表1に示す。表1には、フィルム評価面積(cm)、微小キズ面積(cm)、フィルム全体における微小キズ割合(%)、残存溶媒量(乾燥前)、残存溶媒量(乾燥後)および弾性率も記載した。
Examples 2-8 and Comparative Examples 1-2
About the resin film obtained in Example 1, the contact surface (support surface side / anti-support surface side) with which the resin film comes into contact with the guide roll, the resin film width (mm), the drying furnace tension (N) and The tension (N / m) applied per unit width was changed as shown in Table 1 and dried, and then the fine scratches were evaluated. The results are shown in Table 1. Table 1 also shows the film evaluation area (cm 2 ), minute scratch area (cm 2 ), minute scratch ratio (%) in the entire film, residual solvent amount (before drying), residual solvent amount (after drying), and elastic modulus. Described.

表1の結果から明らかなように、単位幅あたりに掛かる張力が82N/m以下の場合は、微小キズが少なく、樹脂フィルムの透明性が大きくなる。逆に、単位幅あたりに掛かる張力が82N/mを超えると、比較例1〜2に見られるように、微小キズが多く、樹脂フィルムの透明性が悪くなる。また、図4に示す白い点々部分が微小キズである。   As is apparent from the results in Table 1, when the tension applied per unit width is 82 N / m or less, there are few micro scratches and the transparency of the resin film is increased. On the contrary, when the tension applied per unit width exceeds 82 N / m, as seen in Comparative Examples 1 and 2, there are many fine scratches and the transparency of the resin film is deteriorated. Moreover, the white dots shown in FIG. 4 are minute scratches.

本発明の樹脂フィルムの製造方法は、透明な樹脂フィルムを製造する時の乾燥時に、単位幅あたりに掛かる張力を調整することにより、小さなキズ(特に、微小キズ)が防止できるのであり、透明性を要求されるフィルムの製造に広く応用することができる。   The method for producing a resin film of the present invention can prevent small flaws (particularly, fine flaws) by adjusting the tension applied per unit width during drying when producing a transparent resin film. Can be widely applied to the production of required films.

1…ロール、
2…保護フィルム巻取ロール、
3…樹脂フィルム、
4…乾燥炉、
5…ガイドロール、
6…第2ロール、
7…保護フィルムロール、
8…流れ方向(縦方向)、
9…ガイドロール。
1 ... roll,
2 ... Protective film winding roll,
3 ... resin film,
4 ... drying oven,
5 ... Guide roll,
6 ... Second roll,
7 ... Protective film roll,
8 ... Flow direction (vertical direction),
9 ... Guide roll.

Claims (3)

支持体上に樹脂ワニスを塗布することにより得られた樹脂フィルムを支持体から剥離した後に乾燥させる工程において、前記樹脂フィルムの単位幅あたりに掛かる張力が82N/m以下であり、支持体から剥離された後の樹脂フィルム中の残存溶媒量が5質量%以上であり、かつ前記樹脂ワニス中の樹脂の重量平均分子量が200,000〜500,000であることを特徴とする樹脂フィルムの製造方法。 In the step of drying the resin film obtained by applying a resin varnish on the support after being peeled off the support, Ri tension der less 82N / m applied per unit width of the resin film, from the support residual solvent amount of resin film after being peeled is 5 mass% or more and a weight average molecular weight of the resin of the resin varnish of the resin film characterized 200,000~500,000 der Rukoto Production method. 前記樹脂ワニスが、ポリイミド、ポリアミドイミドおよびポリアミドからなる群から選ばれる少なくとも1種の樹脂を含有する、請求項1記載の樹脂フィルムの製造方法。   The method for producing a resin film according to claim 1, wherein the resin varnish contains at least one resin selected from the group consisting of polyimide, polyamideimide, and polyamide. 前記樹脂フィルム中の残存溶媒量が30質量%以下である、請求項記載の樹脂フィルムの製造方法。 The residual solvent amount of resin film is not more than 30 wt%, the production method of the resin film according to claim 1, wherein.
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