JP6487343B2 - 金属化変形可能基材に対する低力電気接点 - Google Patents

金属化変形可能基材に対する低力電気接点 Download PDF

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Description

本開示は、生体液中における１つ以上の物質の存在又は濃度を試験するための試験装置に関し、より詳細には、試験ストリップ（生体液のサンプルを有する）と試験メーターとの間の１つ以上の電気接続を含むそのようなデバイスに関する。
物質の濃度の測定を、特に他の物質の存在下で行うことは、多くの分野において重要である。このことは、医学的な試験及び診断において特に当てはまる。例えば、血液などの生体液中のグルコース測定は、糖尿病の効果的な治療に不可欠である。糖尿病に罹患している患者の血中グルコースレベルを測定するための診断デバイスとして、血中グルコースメーターが用いられる。血中グルコースメーターは、患者の血液サンプルを受ける試験ストリップを用いる。この試験ストリップは、試験ストリップがメーターに挿入された際に電気接触される電気接点をストリップ上に有する。メーターは、ストリップの電気接点を通る電流を測定することによって血中グルコースレベルを特定し、グルコースレベルの読み取りを提供する。
試験装置のサンプル受け取り部分は、通常、血液サンプルの幾何学的形状を規制する。例えば、血中グルコースメーターの場合、血液サンプルは、通常、使い捨て試験ストリップの上又はその中に配置され、それが試験メーターに挿入される。電気化学試験メーターの場合、電気シグナルは、メーターと試験ストリップとの間を転送される必要があり、逆も同様である。公知のメーターは、挿入方向に試験ストリップを受け、それはまた、試験ストリップの電気ストリップ導電体とメーターの電気接点との連結も行う。試験ストリップがユーザーによって装填されると、その挿入の動きを用いて、試験ストリップの電気接点がメーターの接点と連結される。
ユーザーエクスペリエンスを改善する目的で、正確な測定のために、必要とされるサンプルのサイズを最小限に抑えることが試験システムの設計者によって所望される。得られた試験センサー及び試験ストリップの小型化は、メッキ及び続いてのレーザーアブレーションなどによってプラスチック基材上に堆積されて電極及び付随する試験ストリップのコネクタ接点パッドを形成する貴金属から成る薄膜試験ストリップパターンを用いる結果となった。試験ストリップとしては、例えば、純金を５０ｎｍの厚さまでスパッタリングすることなどによって被覆されるポリエステルなどのポリマー材料の薄膜の試験ストリップが挙げられる。金膜が非常に薄く、プラスチック膜への接着が良くないことから、金膜の被覆は、現在市販されているコネクタによる引っ掻きを受けやすい。従って、試験ストリップの接点パッドとメーターのコネクタ接点ワイヤとの間の摩耗を低減することが、バイオセンサーの設計において特に重要である。試験ストリップを繰り返し挿入することで（２から４回）、このような薄膜被覆バイオセンサーを使用不能にしてしまう恐れがある。試験メーターへの試験ストリップの最初の挿入でさえ、試験メーターのコネクタによって、このような薄膜被覆の一部の剥がれを引き起こす可能性がある。その結果、試験ストリップ上の接点パッドと試験メーター中のコネクタ接点ワイヤとの間の接続の信頼性が損なわれる。
血中グルコースメーターに現在用いられているコネクタは、フレキシビリティを提供するための長く伸びた第一のビーム部分、及び試験ストリップとの接点端部にある第二の逆方向に屈曲したワイヤ成形部の両方を含み得る。屈曲ワイヤ成形部は、コネクタに残留応力を与える。屈曲ワイヤ成形部はまた、試験ストリップがコネクタと接触するクリアランスポイントでの寸法制御も困難である。従って、屈曲ワイヤ成形部は、一般的に、必要以上に試験ストリップに近く配置されるため、移動により大きな力を必要とし、及びそれによって、金層が剥がれる可能性も高められる。
本明細書で提供される背景技術の記載は、本開示の状況を全般的に提示することを目的とするものである。この背景技術のセクションに記載される範囲内での本発明に記載の発明者の研究、並びに出願の時点においてそうでなければ先行技術として見なされないであろう記載の態様を、明示的にも黙示的にも本開示に対する先行技術として認めるものではない。
本開示の１つの実施形態では、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムは、試験位置まで挿入方向に移動される試験ストリップを受けるコネクタアセンブリを有する試験デバイスを含む。コネクタアセンブリは、コネクタアセンブリ本体を含む。導電体は、コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体、及び導電体接点本体に一体的に接続され、全体が挿入方向に伸びる接点アームを含む。
別の実施形態では、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムは、複数の接点がその上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップを含む。試験デバイスは、複数の導電性ストリップを有する回路基板を含む。コネクタアセンブリは、回路基板に固定され、試験ストリップが試験位置まで挿入方向に移動するに従って、試験ストリップを受ける。コネクタアセンブリは、コネクタアセンブリ本体及び複数の導電体を含む。各導電体は、コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体を含む。接点アームが、導電体接点本体に一体的に接続され、全体が挿入方向に自由に伸びる。接点アームは、試験ストリップの複数の接点のうちの１つによって直接接触されると、偏向する。
本開示のさらなる実施形態では、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムは、複数の接点がその上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップを含む。試験デバイスは、複数の導電性ストリップを有する回路基板を含む。コネクタアセンブリは、回路基板に固定され、試験ストリップが試験位置まで挿入方向に移動するに従って、試験ストリップを受ける。コネクタアセンブリは、コネクタアセンブリ本体及びプレートを含み、プレートは、プレートとコネクタアセンブリ本体との間に試験ストリップをスライド式に受けるように配置されている。複数の導電体の各々は、コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体、及び導電体接点本体に一体的に接続され、全体が挿入方向に自由に伸びる接点アームを含む。接点アームは、試験ストリップの複数の接点のうちの１つによって直接接触されると、偏向する。接点アームは、プレートの内側に向いた面とコネクタアセンブリ本体の内壁との間に作られたキャビティ中に配置された接点部分を有する。
さらなる実施形態では、血中グルコース測定システムは、複数の接点がその上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップを含む。試験デバイスは、複数の導電性ストリップを有する回路基板を含む。コネクタアセンブリは、回路基板に固定され、試験ストリップが試験位置まで挿入方向に移動するに従って、試験ストリップを受ける。コネクタアセンブリは、コネクタアセンブリ本体及び複数の導電体を含む。各導電体は、コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体、及び導電体接点本体に一体的に接続され、全体が挿入方向に自由に伸びる接点アームを含む。接点アームは、挿入された試験ストリップのエッジによって偏向し、試験ストリップが完全に挿入されると、ストリップの接点パッドは、接点の下にスライドする。接点アームは、凸状に湾曲した接点部分を有し、偏向部まで伸びる第一の偏向可能ビーム部分及び偏向部から剛性ビーム部分まで延びる第二の偏向可能ビーム部分を含む２つの主要部分に分割可能である偏向可能ビーム部分を有する。
他の実施形態では、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムは、接点がその上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップを含む。液体分析試験デバイスは、試験ストリップを、それが挿入方向へ移動するに従って受けるためのコネクタを含む。コネクタは、接点の面と直接接触するように整列されたフラットシートから作られるビームを含む。ビームは、試験ストリップが挿入方向へ移動するに従って、接点に沿って追随する。ビームのコイニングされたエッジ（coined edges）は、各々、二方向に湾曲した面を定め、試験ストリップと接触している導電体の部分の圧力面積を最小限に抑える。
さらなる実施形態では、試験ストリップと生体液分析物測定デバイスの導電体との間の接触を最小限に抑えるための方法が提供される。
このセクションは、本開示の全般的な概要を提供するものであり、その全範囲又はその特徴のすべてを包括的に開示するものではない。さらなる適用範囲は、本明細書で提供される記述から明らかとなるであろう。本概要における記述及び具体的な例は、単に説明する目的を意図するものであり、本開示の範囲を限定することを意図するものではない。
図１は、本開示の低力電気接点を有する液体分析デバイスの平面図を示す。 図２は、図１のデバイスの端面図を示す。 図３は、本開示の回路基板アセンブリの左上からの平面図を示す。 図４は、本開示のコネクタアセンブリの左上からの平面図を示す。 図５は、図４のコネクタアセンブリの底面図を示す。 図６は、図５の断面６から見た断面側面図を示す。 図７は、装着された試験位置にある試験ストリップをさらに示す図６に類似の断面側面図を示す。 図８は、図６の断面８から見た前面断面図を示す。
対応する符号は、図面の複数の図を通して対応する部分を示す。本明細書で述べる図面は、すべての考え得る実施ではなく、選択された実施形態を説明するだけの目的であり、本開示の範囲を限定することを意図するものではない。
ここで、例としての実施形態について、添付の図面を参照してより詳細に記載する。
ここで図１を参照すると、代表的な生物学的試験システム１０は、分析試験結果、及びユーザーに操作選択の入力を促す、又は試験ストリップ１８を取り出すためのアイコンを表示することができるデータ入力／ビューウィンドウ１６を持つ本体１４を有する繰り返し使える試験メーター又は液体分析試験デバイス１２を含む。使い捨て試験ストリップ１８は、本体１４に開けられたスロット２０を通して挿入方向「Ａ」の方向に挿入される。試験ストリップ１８は、少なくとも１つの接点を含み、いくつかの態様によると、試験ストリップ１８の挿入端部２４の近傍に、接点パッド２２として示される複数の接点を含む（単なる例として、そのような複数の接点を図１に示す）。接点パッド２２は、導電体２６を介して、試験ストリップ１８の第二の端部３０の近傍の電極２８と接続される。試験操作の完了時、試験結果は、データ入力／ビューウィンドウ１６に提供され、試験ストリップ１８は、本体１４から、取り出し方向「Ｂ」の方向に取り出される。
ここで、図２及び再度図１を参照すると、試験ストリップ１８は、いくつかの態様によると本体１４の第一の端部３２に提供されるスロット２０にスライド式に受けられる。いくつかの態様によると、スロット２０は、本体１４の上側本体部分などの第一の本体部分３４を通して伸びていてよい。他の態様では（図示せず）、スロット２０は、本体１４の下側本体部分などの第二の本体部分３６を通して伸びていてよい。第一及び第二の本体部分３４、３６は、試験デバイス１２の内部コンポーネントを搭載した後、組み立てられ、一緒に接合される。
ここで図３及び再度図１〜２を参照すると、第一及び第二の本体部分３４、３６は、代表的な回路基板アセンブリ４０の説明を分かりやすくするために除いてある。回路基板アセンブリは、プリント回路基板などの回路基板４２を少なくとも含む。コネクタアセンブリ４４は、回路基板４２の面４６に実装される。スロット２０が、コネクタアセンブリ４４に備えられる。本発明の１つの態様では、コネクタアセンブリ４４は、装着方向「Ａ」の方向への試験ストリップ１８のスライドする動きによって、スロット２０を通して試験デバイス１２に挿入された試験ストリップ１８を受ける。図示した構成では、試験ストリップ１８は、コネクタアセンブリ４４内に完全に装着された位置又は試験位置で示されている。コネクタアセンブリ４４は、図４を参照してより詳細に記載する複数のスナップコネクタ５０を用いて、金属プレート５２を受けるコネクタアセンブリ本体４８を含む。プレート５２は、試験ストリップ１８をスロット２０と整列させる補助となる屈曲又は成形された端部分５４を含んでよい。
図４及び再度図１〜３を参照すると、スロット２０は、プレート５２の端部分５４、並びにさらには、向かい合う第一及び第二の側壁５６、５８によって定められ、コネクタアセンブリ本体４８の一部分を成す。いくつかの態様によると、コネクタアセンブリ本体４８は、例えば射出成形プロセスで成形されたポリマー材料である。第一及び第二の側壁５６、５８の間にわたっている入り口部長さ方向壁６０は、端部分５４に対して平行に向かい合って位置しており、それによって、スロット２０の閉じた長方形状が定められる。第一及び第二の側壁５６、５８の各々は、外向きに湾曲した凸状面６２、６４を含んでよく、これらも、スロット２０への挿入の際の試験ストリップ１８の整列を補助し、その首振りの動き（yawing motion）を低減する。
４つの実質的に同一であるスナップコネクタ５０、５０’、５０’’、５０’’’が示されるが、スナップコネクタ５０の数は限定されない。スナップコネクタ５０の各々は、プレート５２の一体的延長部であり、プレート５２に対して実質的に直角に配向されるブレード部分６６を含む。各ブレード部分６６は、コネクタアセンブリ本体４８から一体的に外向きに伸びる歯７０を受ける細長スロット６８を含む。プレート５２は、コネクタアセンブリ本体４８に作られたキャビティ７２にスナップコネクタ５０、５０’、５０’’、５０’’’を挿入して、プレート５２を装着方向「Ｃ」の方向へ押すことによってコネクタアセンブリ本体４８と結合される。各スナップコネクタ５０、５０’、５０’’、５０’’’が歯７０に当たると、スナップコネクタ５０、５０’、５０’’、５０’’’は、各細長スロット６８が歯７０を受けるまで、代表的な偏向方向「Ｄ」の方向へ外向きに偏向する。スナップコネクタ５０、５０’、５０’’、５０’’’は、歯７０が対応する細長スロット６８にロックされると、偏向前の状態に戻り、それによって、プレート５２及びコネクタアセンブリ本体４８が保持される。コネクタアセンブリ４４が出来上がると、試験ストリップ１８の個々の接点パッド２２と接触する複数の導電体７４が提供される。図４では、導電体７４のうちの１つだけが、プレート５２にある細長開口部７６を通して見られる。
図５及び再度図１〜４を参照すると、図４に対してコネクタアセンブリ４４の反対側から見た場合、複数の細長スロット８０を持つ底壁７８が提供される。いくつかの態様によると、８個の細長スロット８０があり、各々、８個の導電体７４の１つ１つの一部が底壁７８から外向きに伸びるようにされている。コネクタアセンブリ本体４８は、複数の細長スロット８０を提供し、各々は、複数の導電体７４のうちの１つを受け、それによって、導電体７４は、順次互いに間隔「Ｓ」で間隔が開けられ、それは、連続する試験ストリップの接点又は接点パッド２２の間の間隔に等しい。８個の導電体は、導電体７４ａ、７４ｂ、７４ｃ、７４ｄ、７４ｅ、７４ｆ、７４ｇ、７４ｈを含む。導電体７４の各々は、図６を参照してより詳細に述べるように、コネクタアセンブリ本体４８の内側部分に固定されている。導電体７４の数は限定されず、試験ストリップ１８に提供される接点パッド２２の数に対応して決定される。導電体７４の長さ方向階段状の配列は、示されるように、接点パッド２２の位置に応じて、及び接点パッド２２と接触する際の個々の導電体７４間の電気接触クリアランスを維持するために導電体を分離する必要性に応じて様々であってよい。導電体７４はすべて互いに平行である。導電体７４すべての配向は、導電体７４ｃの長さ方向軸線８１によって例示されるように、各導電体７４の長さ全体にわたって、挿入方向「Ａ」に対して平行である。導電体７４の長さ方向千鳥状又は階段状の配列が提供されるのはまた、コネクタのピッチ（個々の接点間の間隔）よりも接点パッド２２を広くすることができるようにするためでもあり、それによって、試験ストリップ１８との接触点が、より広い標的面積と接触することができる。
図６及び再度図１〜５を参照すると、導電体７４ｃが、代表的な装着として提示される。残りの導電体７４は、類似の設計及び機能であり、従って、これ以上考察されない。導電体７４ｃは、導電体７４ｃを受ける細長スロット８０の外側に自由に伸びる延長部分８４を有する導電体接点本体８２を含む。延長部分８４の端面８６は、回路基板４２の面９０に堆積された導電性ストリップ８８と直接接触する（例えば、はんだ付け又は押し付けによる接続を用いて）。回路基板４２は、導電体７４の数と少なくとも等しい数の導電性ストリップ８８を含む。連結本体９２は、導電体接点本体８２と一体的に接続されており、端面８６に対して逆方向に向いている。連結本体９２は、コネクタアセンブリ本体４８のポリマー材料中に作られた受けキャビティ９４に押し付けられるか、又はそれ以外の方法で固定される。連結本体９２は、少なくとも１つの、いくつかの態様によると、第一及び第二の連結リブ９６、９８を含み、その各々は、連結本体９２から外向きに伸びて、摩擦接触及び連結本体９２の保持のための追加の表面積を提供する。
フレキシブルビーム又は接点アーム１００は、連結本体９２から延び、試験ストリップの装着方向「Ａ」と同じ方向にその全体が配向される。いくつかの態様によると、接点アームは、フラットシート材料から作られる。接点アーム１００は、凸状湾曲部分１０２を提供し、それは、プレート５２の内向き面１０６とコネクタアセンブリ本体４８の内壁１０８との間に作られたキャビティ１０４に位置する。内向き面１０６と内壁１０８との間のギャップ「Ｅ」は、試験ストリップ１８を受けるためのスライド式の嵌合を提供する。いくつかの態様によると、凸状湾曲部分１０２は、凸状湾曲面１１０を含み、それによって、接点アーム１００と試験ストリップ１８との間の電気接触が成される接触点１１２が提供される。接触点１１２とプレート５２の内向き面１０６との間に、公称クリアランス（nominal clearance）「Ｆ」が提供される。公称クリアランスは、ギャップ「Ｅ」よりも小さく、いくつかの態様によると、およそ０．１からおよそ０．１５ｍｍである。接点アーム１００は、金属のシートからプロファイルを打ち抜くことによって形成され、従って、公知の導電体設計で提供される多重又は二重屈曲と比較して、屈曲のないプロファイルが提供される。形成の過程で屈曲がまったくないことは、接点アーム１００のワイヤ成形接点の屈曲からの残留応力を無くし、それによって、接触点１１２の位置のより良好な寸法制御が得られる。移行部分１１４は、接触点１１２から伸びている。加えて、導電体接点本体８２のショルダー１１６は、コネクタアセンブリ本体４８の面１１８との反復可能な直接接触位置を提供し、このことはさらに、接触点１１２の位置の寸法制御を改善する。
すべての導電体７４の各接点アーム１００又はフレキシブルビームは、その導電体接点本体８２と一体的に接続されている。すべての接点アーム１００は、個々に、導電体接点本体８２から、挿入方向「Ａ」の方向にその全体が自由に伸びており、それによって、接点アームは、試験ストリップが挿入方向「Ａ」の方向に移動するに従って、試験ストリップ１８上を追随する又は引きずられる「追随ビーム（trailing beams）」を定める。接点アーム１００のこの配向により、試験ストリップ１８の接点との電気接触を確実に維持するために要する力が最小限に抑えられる。接点アーム１００のいずれの部分も、それ自体の上に二重になって戻ったり、又は挿入方向「Ａ」に対して逆方向に向いたり、又は挿入方向「Ａ」から外れたりしない。
ここで図７及び再度図６を参照すると、分かりやすくするために、回路基板４２は除いてあり、試験ストリップ１８は、装着方向「Ａ」の方向に挿入後の完全に装着された試験位置で示される。試験ストリップ１８は、明確で反復可能な停止及び試験位置を定めるキャビティ１０４の端壁１２０と接触してよく、それによって、種々の導電体７４の各々の接触点１１２の個々の位置において試験ストリップ面１２２上に配置されている試験ストリップ１８の接点パッド２２が明確に位置決めされる。接点アーム１００の偏向可能ビーム部分は、２つの主要部分に分割可能である。接触点１１２での接点アームの部分は、実質的に偏向可能ではない。従って、第一の偏向可能ビーム部分１２４は、凸状湾曲部分１０２から伸びる移行領域１１４を含む。第二の偏向可能ビーム部分１２６は、移行領域１１４からビーム部分１２７まで伸びる。このビーム部分１２７は、コネクタアセンブリ本体４８の材料と直接接触しており、導電体接点本体８２の一部分を形成し、従って、接点アーム１００の移行部分１１４よりも偏向を大きく抑えることができる。第一及び第二のビーム部分１２４、１２６の弾性屈曲は、試験ストリップ１８の挿入の過程で発生する。接点アーム１００の屈曲に対する抵抗性の低減は、第二のビーム部分１２６の長さの増加、及び／又は接点アーム１００の厚さの減少によって提供することができる。接点アーム１００の屈曲は、従って、所望に応じて調節することができる。試験ストリップ１８の挿入時の摩擦に起因する力、及び接点アーム１００と試験ストリップの金属化領域（接点パッド２２）との間に作用するせん断力は、接点アーム１００が試験ストリップ１８上に作用する限りにおいて、下向きの力「Ｈ」に正比例する。この下向きの力「Ｈ」を減少させることによって、公知の導電体と比較して、摩擦力及びせん断力が低減される。
ここで図８及び再度図６〜７を参照すると、接点アーム１００の形状は、「アイオブザニードル（eye of the needle）」コイニングプロセスの使用によってさらに制御される。このプロセスは、面の不規則性を低減する円形状とされた又はコイニングされたエッジ１２８、及び円形状とされた面１３２の反対側のフラット面１３０を提供する。接点アーム１００の引きずりの特徴（drag features）は、それによって最小限に抑えられ、周囲面１３４上の微細表面形状（micro-features）が、硫酸バリウムなどの試験ストリップ１８上に一般的に存在する微粒子のサイズよりも小さくされる。ビーム又は接点アーム１００のコイニングされたエッジ１２８は、各々、二方向に湾曲した面を定め、試験ストリップ１８と接触する導電体７４の部分の圧力面積を最小限に抑える。
接点アーム１００を、連結本体９２におけるその装着位置から装着方向「Ａ」にのみ向けることにより、いくつかの利点が得られる。これらとしては、以下が挙げられる：１）偏向方向「Ｇ」への接点アーム１００の偏向がすべて、公知の導電体設計での複数のビームと比較して、接点アーム１００によって定められる単一のビームにのみ発生することに起因する接点部分１０２と試験ストリップ１８との間の摩擦の低減；２）装着方向「Ａ」に向く接点アーム１００の配向が、試験時の接触を確実にするために試験ストリップ１８の電気接触の完全性を維持する必要がある場合に、装着の過程で試験ストリップ１８に発生するチャタリングの可能性も低減すること；３）接点アーム１００の作製に用いられる「アイオブザニードル」コイニングプロセスが、接点アーム１００のエッジを完全にコイニングし、それによって、硫酸バリウム粒子などの試験ストリップ１８のポリマー材料中の粒子が、接点アーム１００の微細表面形状によって拾い上げられ、試験ストリップ１８の面上を引きずられることのないように、平滑な二方向湾曲面が作り出されること；並びに４）接点アーム１００の単一ビーム設計が、公知の二重又は屈曲ビーム設計よりも高い寸法制御を有しており、接触点１１２の位置のより高い制御が可能となることから、公称クリアランス「Ｆ」が、公知の導電体設計と比較して増加され、それによって、接点アーム１００の移動に要する偏向の量が低減され、そのことが、試験ストリップ１８の装着の過程での摩擦を低減すること。
本開示の生物学的試験システム１０は、いくつかのさらなる利点を提供する。このような利点としては、剛性を低下させた接点アーム１００の使用によって得られる低接触力、及びコイニングプロセスを用いることで得られる接点アーム１００の断面積の減少によるビームのフレキシビリティの増加が挙げられる。電気接触の向上は、絶対力にではなく接点アーム１００に印加される圧力に依存しており、それによって、接触負荷又は圧力負荷が分散される。このことにより、圧力接触面積（接触点１１２の面積）を減少させることができ、減少された面積での所望される接触圧力、及びすべり摩擦面積の減少が得られ、それは、試験ストリップ１８に溝が付く（gouging）可能性を低減する。なおさらに、接点アーム１００の四角形状により、導電体７４の屈曲面に対して直角方向の角度での移動が可能であり、従って、接点アーム１００は、試験ストリップ１８に存在する不純物の大部分を「滑って避ける（ski-around）」か、又は避けて移動することができる。なおさらに、接点アーム１００は、挿入時に試験ストリップの面１２２を引きずるように配向され、それにより、硫酸バリウム粒子に関して、スタッタリング（stuttering）又はチャタリングは試験ストリップ１８の引き抜き時にのみ発生するようになり、それによって、全体としての接触経路が改善される。
本開示の生物学的試験システム１０は、個人用試験メーターを持つ個別のユーザーのメーターに用いることができる。本開示の生物学的試験システム１０はまた、病院用メーター、例えば、ベースユニットへの装着によって装填される装填式試験メーター、及び／又はロシェダイアグノスティクス（Roche Diagnostics）製のＡＣＣＵ‐ＣＨＥＫ（登録商標）Ｉｎｆｏｒｍ Ｓｙｓｔｅｍグルコースメーターなどの血中グルコースメーターなどの市販のデバイスに組み込むこともできる。そのような病院用メーター及びグルコース試験メーターに用いられる試験ストリップは、その試験及び／又は試験メーターの必要条件に適合させるために、本明細書で明らかにされる試験ストリップとは異なる構成であり得るが、本開示の生物学的試験システム１０は、同様に構成され、同様な方法で機能する。
加えて、本開示の生物学的試験システム１０はまた、ロシェダイアグノスティクス製のＣｏａｇｕＣｈｅｋ（登録商標）ＸＳ Ｓｙｓｔｅｍ凝固試験メーターなどの血液凝固時間試験メーターを例とする血液凝固試験メーターなどの個人又は市販のデバイスにも組み込むことができる。そのような血液凝固試験メーターに用いられる試験ストリップは、その試験及び／又は試験メーターの必要条件に適合させるために、本明細書で明らかにされる試験ストリップとは異なる構成であり得るが、本開示の生物学的試験システム１０は、同様に構成され、同様な方法で機能する。
本明細書で述べる装置及び方法は、１つ以上のプロセッサによって実行される１つ以上のコンピュータプログラムによって実施されてよい。コンピュータプログラムは、一時的でない有形のコンピューター読み取り可能媒体に保存されるプロセッサ実行可能命令を含む。コンピュータプログラムはまた、保存されたデータも含んでよい。一時的でない有形のコンピューター読み取り可能媒体の限定されない例は、不揮発性メモリ、磁気記憶装置、及び光学記憶装置である。番号を付けた実施形態を以下に記載する。
１．生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムであって：
試験位置まで挿入方向に移動される試験ストリップを受けるコネクタアセンブリを含み、コネクタアセンブリは：
コネクタアセンブリ本体；及び
導電体
を含み、
導電体は：
コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体；及び
導電体接点本体に一体的に接続され、全体が挿入方向に伸びる接点アーム
を含む、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
２．コネクタアセンブリが、回路基板に実装され、それによって、回路基板アセンブリが定められ、回路基板アセンブリは、試験デバイス中に保持される、実施形態１の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
３．導電体接点本体の延長部分；及び
導電体接点本体の前記延長部分によって直接接触される前記回路基板の導電性ストリップ
をさらに含む、実施形態２の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
４．コネクタアセンブリ本体へ固定するための複数のスナップコネクタを用いてコネクタアセンブリ本体へ接続された金属プレートをさらに含む、実施形態１の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
５．金属プレートが、試験ストリップをスロットと整列させるための、金属プレートに対して角度を付けて配向された成形端部分を含む、実施形態４の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
６．導電体接点本体の延長部分をさらに含み；及び
コネクタアセンブリ本体が、延長部分が中を通って自由に伸びる細長スロットを含む、実施形態４の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
７．接点が上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップ；及び
試験ストリップの接点と直接接触するように整列された接点アーム
をさらに含む、実施形態１の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
８．接点アームが、挿入方向に試験ストリップが移動するに従って接点に沿って追随するビームを定める、実施形態７の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
９．導電体が、二方向に湾曲した面を定め、試験ストリップと接触している導電体の表面積を最小限に抑えるコイニングされたエッジを含む、実施形態１の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１０．生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムであって：
複数の接点が上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップ；及び
試験デバイス
を含み、試験デバイスは：
複数の導電性ストリップを有する回路基板；及び
回路基板に固定され、試験ストリップが試験位置まで挿入方向に移動するに従って、試験ストリップを受けるコネクタアセンブリ
を有し、コネクタアセンブリは：
コネクタアセンブリ本体；及び
複数の導電体
を含み、各導電体は：
コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体；及び
導電体接点本体に一体的に接続され、全体が挿入方向に自由に伸びる接点アーム、
を有し、接点アームは、試験ストリップの挿入の過程でまず偏向され、試験ストリップ装着位置にある試験ストリップの接点のうちの１つと直接接触する、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１１．複数の導電体の各々の導電体接点本体が、コネクタアセンブリの外側に自由に伸び、回路基板の導電性ストリップのうちの１つと直接接触する延長部分を含む、実施形態１０の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１２．導電体の各々が、導電体接点本体と一体的に接続され、延長部分の端面に対して逆方向に向いている連結本体をさらに含む、実施形態１１の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１３．連結本体が、コネクタアセンブリ本体に作られた受けキャビティに固定される、実施形態１２の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１４．連結本体が、連結本体から外向きに伸びて、摩擦接触及び連結本体保持のための追加の表面積を提供する少なくとも１つの連結リブを含む、実施形態１２の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１５．コネクタアセンブリ本体が、各々が複数の導電体のうちの１つを受ける複数の細長スロットを含み、それによって、導電体は、順次互いに、連続する試験ストリップの接点の間の間隔に等しい間隔で間隔が開けられる、実施形態１０の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１６．生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムであって：
接点がその上に形成された生体液のサンプルを受けるための試験ストリップ；及び
試験ストリップを、それが挿入方向へ移動するに従って受けるためのコネクタを有する液体分析試験デバイス
を含み、コネクタは：
接点の面と直接接触するように整列されたフラットシートから作られるビームであって、ビームは、試験ストリップが挿入方向へ移動するに従って、接点に沿って追随する、ビーム；及び
各々、二方向に湾曲した面を定め、試験ストリップと接触している導電体の部分の圧力面積を最小限に抑えるビームのコイニングされたエッジ
を含む、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１７．液体分析試験デバイスが、複数の導電性ストリップを有する回路基板をさらに含む、実施形態１６の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１８．コネクタアセンブリ本体を有し、回路基板に実装され、ビームがコネクタアセンブリ本体中に配置されるコネクタアセンブリをさらに含む、実施形態１７の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
１９．ビームが、コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体を含む、実施形態１８の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
２０．ビームが、導電体接点本体に一体的に接続され、ビームが、挿入方向に全体が自由に伸び、ビームが、試験ストリップの接点と直接接触すると偏向する、実施形態１９の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
２１．コネクタアセンブリ本体が、試験ストリップがコネクタアセンブリ本体内に部分的に配置される時点で定められる試験位置まで試験ストリップが挿入方向に移動するに従って試験ストリップを受けるスロットを含む、実施形態１８の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。

Claims (17)

  1. 生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムであって：
    複数の導電性ストリップを有する回路基板；及び
    前記回路基板の１の側にマウントされ、そして試験位置まで挿入方向に移動される試験ストリップを受容するように構成されたコネクタアセンブリを含み、前記コネクタアセンブリは：
    コネクタアセンブリ本体；
    前記コネクタアセンブリ本体へ固定するための複数のスナップコネクタを用いて前記コネクタアセンブリ本体へ接続された金属プレートであって、ここで当該金属プレートが試験ストリップを整列させるために、前記金属プレートに対して角度を付けて配向された成形端部分を含む金属プレート；及び
    導電体
    を含み、
    前記導電体は：
    前記コネクタアセンブリ本体に直接マウントされた導電体接点本体；及び
    導電体接点本体の延長部分；
    ここで、コネクタアッセンブリ本体が、細長スロットを含み、その中を前記延長部分が自由に伸長しており、そして
    前記導電体接点本体に一体的に接続され、全体が前記挿入方向に自由に伸びる接点アーム
    を含む、前記システム。
  2. 前記コネクタアセンブリが、回路基板に実装され、それによって、回路基板アセンブリが定められ、前記回路基板アセンブリは、試験デバイス中に保持される、請求項１に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  3. 接点が上に形成された前記生体液のサンプルを受けるための試験ストリップ；及び
    前記試験ストリップの前記接点と直接接触するように整列された前記接点アーム
    をさらに含む、請求項１又は２に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  4. 前記接点アームが、前記挿入方向に前記試験ストリップが移動するに従って前記接点に沿って追随するビームを定める、請求項3に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  5. 前記導電体が、二方向に湾曲した面を定め、前記試験ストリップと接触する前記導電体の表面積を最小限に抑えるコイニングされたエッジ（coined edges）を含む、請求項１から4のいずれか一項に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  6. 生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムであって：
    複数の接点が上に形成された前記生体液のサンプルを受けるための試験ストリップ；及び
    試験デバイス
    を含み、前記試験デバイスは：
    複数の導電性ストリップを有する回路基板；及び
    前記回路基板に固定され、前記試験ストリップが試験位置まで挿入方向に移動するに従って、前記試験ストリップを受けるコネクタアセンブリ
    を有し、前記コネクタアセンブリは：
    コネクタアセンブリ本体；
    前記コネクタアセンブリ本体へ固定するための複数のスナップコネクタを用いて前記コネクタアセンブリ本体へ接続された金属プレートであって、ここで当該金属プレートが試験ストリップを整列させるために、前記金属プレートに対して角度を付けて配向された成形端部分を含む金属プレート；及び
    複数の導電体
    を含み、前記各導電体は：
    前記コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体；及び
    前記導電体接点本体に一体的に接続され、全体が前記挿入方向に自由に伸びる接点アーム、
    を有し、ここで、コネクタアッセンブリ本体が、各々が前記複数の導電体のうちの１つを受ける複数の細長スロットを含み、前記導電体は、順次互いに、連続する前記試験ストリップの接点の間の間隔に等しい間隔で間隔が開けられる、
    前記接点アームは、前記試験ストリップの挿入の過程でまず偏向され、試験ストリップ装着位置にある前記試験ストリップの前記接点のうちの１つと直接接触する、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  7. 前記複数の導電体の各々の前記導電体接点本体が、前記コネクタアセンブリの外側に自由に伸び、前記回路基板の前記導電性ストリップのうちの１つと直接接触する延長部分を含む、請求項６に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  8. 前記導電体の各々が、前記導電体接点本体と一体的に接続され、前記延長部分の端面に対して逆方向に向いている連結本体をさらに含む、請求項６又は７に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  9. 前記連結本体が、前記コネクタアセンブリ本体に作られた受けキャビティに固定される、請求項８に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  10. 前記連結本体が、前記連結本体から外向きに伸びて、摩擦接触及び前記連結本体保持のための追加の表面積を提供する少なくとも１つの連結リブを含む、請求項７又は８に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  11. 前記導電体は、順次互いに、連続する前記試験ストリップの接点の間の間隔に等しい間隔で間隔が開けられる、請求項６から１０のいずれか一項に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  12. 生体液中の目的の分析物を測定するためのシステムであって：
    接点がその上に形成された前記生体液のサンプルを受けるための試験ストリップ；及び
    前記試験ストリップを、前記試験ストリップが挿入方向へ移動するに従って受けるためのコネクタを有する液体分析試験デバイス
    を含み、前記コネクタは：
    コネクタアセンブリ本体；
    前記コネクタアセンブリ本体へ固定するための複数のスナップコネクタを用いて前記コネクタアセンブリ本体へ接続された金属プレートであって、ここで当該金属プレートが試験ストリップを整列させるために、前記金属プレートに対して角度を付けて配向された成形端部分を含む金属プレート；
    前記接点の面と直接接触するように整列されたフラットシートから作られるビームであって、前記ビームは、前記試験ストリップが前記挿入方向へ移動するに従って、前記接点に沿って追随する、ビーム；及び
    各々、二方向に湾曲した面を定め、前記試験ストリップと接触する前記導電体の部分の圧力面積を最小限に抑えるビームのコイニングされたエッジ
    導電体接点本体の延長部分；
    ここで、コネクタアッセンブリ本体が、各々が前記複数の導電体のうちの１つを受ける複数の細長スロットを含み、
    を含む、生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  13. 前記液体分析試験デバイスが、複数の導電性ストリップを有する回路基板をさらに含む、請求項１２に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  14. コネクタアセンブリ本体を有し、前記回路基板に実装され、前記ビームが前記コネクタアセンブリ本体中に配置されるコネクタアセンブリをさらに含む、請求項１３に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  15. 前記ビームが、前記コネクタアセンブリ本体に固定して接続された導電体接点本体を含む、請求項１２から１４のいずれか一項に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  16. 前記ビームが、前記導電体接点本体に一体的に接続され、前記ビームが、前記挿入方向に全体が自由に伸び、前記ビームが、前記試験ストリップの接点と直接接触すると偏向する、請求項１２から１５のいずれか一項に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
  17. 前記コネクタアセンブリ本体が、前記試験ストリップが前記コネクタアセンブリ本体内に部分的に配置される時点で定められる試験位置まで前記試験ストリップが挿入方向に移動するに従って前記試験ストリップを受けるスロットを含む、請求項１２から１４のいずれか一項に記載の生体液中の目的の分析物を測定するためのシステム。
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