KR101755189B1 - 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부 - Google Patents

금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부 Download PDF

Info

Publication number
KR101755189B1
KR101755189B1 KR1020177001839A KR20177001839A KR101755189B1 KR 101755189 B1 KR101755189 B1 KR 101755189B1 KR 1020177001839 A KR1020177001839 A KR 1020177001839A KR 20177001839 A KR20177001839 A KR 20177001839A KR 101755189 B1 KR101755189 B1 KR 101755189B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test strip
contact
connector assembly
test
conductor
Prior art date
Application number
KR1020177001839A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170019465A (ko
Inventor
매튜 씨 소어스
Original Assignee
에프. 호프만-라 로슈 아게
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에프. 호프만-라 로슈 아게 filed Critical 에프. 호프만-라 로슈 아게
Publication of KR20170019465A publication Critical patent/KR20170019465A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101755189B1 publication Critical patent/KR101755189B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28—Electrolytic cell components
    • G01N27/30—Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • G01N27/327—Biochemical electrodes, e.g. electrical or mechanical details for in vitro measurements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/28—Electrolytic cell components
    • G01N27/30—Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
    • G01N27/327—Biochemical electrodes, e.g. electrical or mechanical details for in vitro measurements
    • G01N27/3271—Amperometric enzyme electrodes for analytes in body fluids, e.g. glucose in blood
    • G01N27/3273—Devices therefor, e.g. test element readers, circuitry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/483—Physical analysis of biological material
    • G01N33/487—Physical analysis of biological material of liquid biological material
    • G01N33/48785—Electrical and electronic details of measuring devices for physical analysis of liquid biological material not specific to a particular test method, e.g. user interface or power supply
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/50—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/48—Biological material, e.g. blood, urine; Haemocytometers
    • G01N33/50—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing
    • G01N33/66—Chemical analysis of biological material, e.g. blood, urine; Testing involving biospecific ligand binding methods; Immunological testing involving blood sugars, e.g. galactose
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/66—Structural association with built-in electrical component
    • H01R13/70—Structural association with built-in electrical component with built-in switch
    • H01R13/703—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part
    • H01R13/7039—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part the coupling part with coding means activating the switch to establish different circuits
    • H01R23/725—
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70—Coupling devices
    • H01R12/71—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
    • H01R12/712—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
    • H01R12/716—Coupling device provided on the PCB
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2442—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted with a single cantilevered beam
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/40—Securing contact members in or to a base or case; Insulating of contact members
    • H01R13/405—Securing in non-demountable manner, e.g. moulding, riveting
    • H01R13/41—Securing in non-demountable manner, e.g. moulding, riveting by frictional grip in grommet, panel or base
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Hematology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Urology & Nephrology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Cell Biology (AREA)
  • Microbiology (AREA)
  • Biotechnology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Diabetes (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Abstract

생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템은, 테스트 스트립 상에 형성된 다중 접촉부들을 갖는, 생물학적 유체의 샘플을 수용하기 위한 테스트 스트립을 포함한다. 테스트 디바이스는 다중 컨덕팅 스트립들을 갖는 회로 기판을 포함한다. 커넥터 어셈블리는 회로 기판에 고정되고 테스트 스트립이 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동함에 따라 테스트 스트립을 수용한다. 커넥터 어셈블리는 커넥터 어셈블리 보디 및 다중 컨덕터들을 포함한다. 각각의 컨덕터들은 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디, 및 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 삽입 방향으로 전적으로 자유롭게 연장하는 접촉 아암을 포함한다. 접촉 아암은 테스트 스트립의 다중 접촉부들 중 하나에 의해 직접적으로 접촉되는 때에 편향된다.

Description

금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부{LOW FORCE ELECTRICAL CONTACT ON METALIZED DEFORMABLE SUBSTRATES}
본 발명은 생물학적 유체 내에 하나 이상의 물질들의 존재 또는 농도를 검사하기 위한 검사 장치에 관한 것이고, 더 구체적으로는, 테스트 스트립 (생물학적 유체의 샘플을 함유함) 과 테스트 측정기 (meter) 사이에 하나 이상의 전기 연결들을 포함하는 디바이스에 관한 것이다.
특히 다른 물질들의 존재 하에서 물질들의 농도를 측정하는 것은 다양한 분야들에서 중요하다. 이는 의료 검사 및 진단에서 특히 적용된다. 예를 들어, 혈액과 같은 체액에서 포도당의 측정은 당뇨병의 효과적인 치료에 있어서 아주 중대하다. 혈당 측정기는 진단 디바이스로서 당뇨병으로 고통 받는 환자들의 혈당 레벨들을 측정하기 위해 사용된다. 혈당 측정기들은 환자의 혈액 샘플을 수용하는 테스트 스트립을 사용한다. 테스트 스트립은 테스트 스트립이 측정기에 삽입되는 때에 전기적으로 접촉되는 전기적인 접촉부들을 스트립상에 구비한다. 측정기는 스트립의 전기 접촉부들을 관통한 전류들을 측정함으로써 혈당 레벨을 결정하고 혈당 레벨의 판독에 대해 대비한다.
검사 장치의 샘플-수용 부분은 혈액 샘플의 기하학적 구조를 통상적으로 제어한다. 예를 들어, 혈당 측정기의 경우에, 혈액 샘플은 테스트 측정기에 삽입되는 일회용 테스트 스트립 상에 또는 내에 통상적으로 배치된다. 전기화학적 (electrochemical) 테스트 측정기의 경우에, 전기 신호들은 측정기와 테스트 스트립 사이에서 전송되어야 하고, 그 반대도 마찬가지이다. 공지된 측정기들은 테스트 스트립을 삽입 방향으로 수용하고, 상기 테스트 스트립은 테스트 스트립의 전기적인 스트립 컨덕터들을 측정기의 전기 접촉부들과 또한 맞물리게 한다. 테스트 스트립이 사용자에 의해 로딩되기 때문에, 삽입 모션은 테스트 스트립의 전기적인 접촉부들을 측정기의 접촉부들과의 맞물림으로 구동하는데 사용된다.
테스트 시스템 디자이너들은 사용자 경험을 개선하기 위하여 정확한 측정에 필요한 샘플의 크기를 최소화하는 것을 원한다. 생성된 테스트 센서 및 테스트 스트립 소형화는, 테스트 스트립의 전극들 및 관련된 커넥터 접촉 패드들을 형성하기 위하여 예컨대 도금 및 후속하는 레이저 어블레이션 (laser ablation) 에 의해 플라스틱 기재들에 디포짓된 귀금속들로 구성된 박막 테스트 스트립 패턴들의 사용을 초래하였다. 예를 들어, 테스트 스트립들은 예컨대 50㎚ 두께로 순금을 스퍼터링 (sputtering) 함으로써 코팅되는 폴리에스테르와 같은 고분자 재료의 박막을 포함할 수 있다. 금 막이 너무 얇고 플라스틱 막에 잘 부착되지 않으므로, 금 막 코팅들은 현재 상업적으로 이용 가능한 커넥터들에 의해 스크래칭 (scratching) 되기 쉽다. 그러므로, 테스트 스트립의 접촉 패드와 측정기의 커넥터 접촉 와이어 사이의 마멸을 감소시키는 것은 바이오센서 디자인들에 있어서 특히 중요하다. 테스트 스트립의 반복 삽입들 (2 ~ 4 회) 은 이러한 박막-코팅된 바이오센서들을 쓸모 없게 만든다. 심지어 테스트 측정기로의 테스트 스트립의 첫 번째 삽입이 테스트 측정기 커넥터에 의해 이러한 박막 코팅들의 일부 제거를 야기할 수도 있다. 그 결과, 테스트 스트립 상의 접촉 패드와 테스트 측정기 내의 커넥터 접촉 와이어 사이의 연결부의 신뢰성이 덜하다.
혈당 측정기들 내에 사용된 현 커넥터들은 유연성을 제공하는 길게 연장된 제 1 의 빔 부분과, 테스트 스트립을 갖는 접촉 단부에의 제 2 의 대향 배향된 구부러진 와이어 폼 (form) 을 모두 포함할 수 있다. 구부러진 와이어 폼은 커넥터에서 잔류 응력을 전한다. 또한, 구부러진 와이어 폼은 테스트 스트립이 커넥터와 접촉하는 간극 지점에서 열악한 치수 제어 (dimensional control) 를 제공한다. 그러므로, 구부러진 와이어 폼은 필요 이상으로 테스트 스트립에 더 근접하게 주로 위치되어, 변위를 위해 더 큰 힘을 필요로 하고, 그럼으로써 금 층의 제거를 위해 더 큰 포텐셜 (potential) 을 또한 야기한다.
본원에서 제공되는 배경 기술은 일반적으로 본 발명의 맥락을 제시하기 위한 것이다. 이러한 배경 기술 섹션에 기재된 범위까지 현재 지명된 발명자들의 연구뿐만 아니라, 출원 시에 종래 기술로서 달리 제한되지 않을 수도 있는 상세한 설명의 양태들도 본 발명에 대해 종래 기술로서 명시적으로도 또는 묵시적으로도 인정되지 않는다.
본 발명의 일 실시형태에서, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템은 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동된 테스트 스트립을 수용하는 커넥터 어셈블리를 구비하는 테스트 디바이스를 포함한다. 커넥터 어셈블리는 커넥터 어셈블리 보디를 포함한다. 컨덕터는 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디, 및 상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 삽입 방향으로 전적으로 연장하는 접촉 아암을 포함한다.
다른 실시형태에서, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템은 그 위에 형성된 다중 접촉부들을 갖는, 생물학적 유체의 샘플을 수용하기 위한 테스트 스트립을 포함한다. 테스트 디바이스는 다중 컨덕팅 스트립들을 구비하는 회로 기판을 포함한다. 커넥터 어셈블리는 회로 기판에 고정되어, 테스트 스트립이 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동함에 따라 테스트 스트립을 수용한다. 커넥터 어셈블리는 커넥터 어셈블리 보디 및 다중 컨덕터들을 포함한다. 각각의 컨덕터들은 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디를 포함한다. 접촉 아암은 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 삽입 방향으로 전적으로 자유롭게 연장한다. 접촉 아암은 테스트 스트립의 다중 접촉부들 중 하나에 의해 직접적으로 접촉되는 때에 편향된다.
본 발명의 추가의 실시형태에서, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템은 그 위에 형성된 다중 접촉부들을 갖는, 생물학적 유체의 샘플을 수용하기 위한 테스트 스트립을 포함한다. 테스트 디바이스는 다중 컨덕팅 스트립들을 구비하는 회로 기판을 포함한다. 커넥터 어셈블리는 회로 기판에 고정되어, 테스트 스트립이 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동함에 따라 테스트 스트립을 수용한다. 커넥터 어셈블리는 커넥터 어셈블리 보디 플레이트를 포함하고, 상기 플레이트는 커넥터 어셈블리 보디 사이에 테스트 스트립을 슬라이딩 가능하게 수용하도록 위치된다. 다중 컨덕터들은 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디, 및 상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 삽입 방향으로 전적으로 자유롭게 연장하는 접촉 아암을 각각 포함한다. 접촉 아암은 테스트 스트립의 다중 접촉부들 중 하나에 의해 직접적으로 접촉되는 때에 편향된다. 접촉 아암은 플레이트의 내향 표면과 커넥터 어셈블리 보디의 내부벽 사이에 형성된 공동 내에 위치된 접촉 부분을 가진다.
추가의 실시형태들에서, 혈당 측정 시스템은 그 위에 형성된 다중 접촉부들을 갖는, 생물학적 유체의 샘플을 수용하기 위한 테스트 스트립을 포함한다. 테스트 디바이스는 다중 컨덕팅 스트립들을 구비하는 회로 기판을 포함한다. 커넥터 어셈블리는 회로 기판에 고정되어, 테스트 스트립이 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동함에 따라 테스트 스트립을 수용한다. 커넥터 어셈블리는 커넥터 어셈블리 보디 및 다중 컨덕터들을 포함한다. 각각의 컨덕터들은 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디, 및 상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 삽입 방향으로 전적으로 자유롭게 연장하는 접촉 아암을 포함한다. 접촉 아암은 삽입된 테스트 스트립의 엣지에 의해 편향되고, 스트립의 접촉 패드는 테스트 스트립이 완전히 삽입되는 때에 접촉부 아래에서 슬라이딩한다. 접촉 아암은, 오목하게 만곡된 접촉 부분을 갖고 굽힘부를 향해 연장하는 제 1 편향가능한 빔 부분, 및 굽힘부로부터 강성 빔 부분으로 연장하는 제 2 편향가능한 빔 부분을 포함하는, 두 개의 주된 부분들로 분리할 수 있는 편향가능한 빔 부분을 구비한다.
다른 실시형태들에서, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템은, 생물학적 유체의 샘플을 수용하고 그 위에 형성된 접촉부를 구비하는 테스트 스트립을 포함한다. 유체 분석 테스트 디바이스는 테스트 스트립이 삽입 방향으로 이동함에 따라 테스트 스트립을 수용하기 위한 커넥터를 포함한다. 커넥터는 접촉부의 표면에 직접적으로 접촉하도록 정렬된 편평한 판으로부터 형성된 빔을 포함한다. 빔은 테스트 스트립이 삽입 방향으로 이동함에 따라 접촉부를 따라서 트레일링한다. 빔의 코이닝된 엣지들은 테스트 스트립과 접촉하는 컨덕터의 일부의 압력 영역을 최소화하는 양방향으로 만곡된 표면을 각각 규정한다.
추가의 실시형태에서, 생물학적 유체 분석물질 측정 디바이스의 컨덕터와 테스트 스트립 사이의 접촉을 최소화하기 위한 방법이 제공된다.
이 섹션은 본 발명의 일반적인 개요를 제공하지만, 전체 범위 또는 모든 특징들의 포괄적인 개시는 아니다. 추가의 영역들의 이용가능성은 본원에 제공된 상세한 설명으로부터 현저해질 것이다. 이 개요에서 상세한 설명 및 특정 실시예들은 단지 예시의 목적으로 의도된 것이지, 본 발명의 범위를 제한하려는 의도는 아니다.
도 1 은 본 발명의 로우 포스 (low force) 전기 접촉부를 갖는 유체 분석 디바이스의 상면도를 도시한다.
도 2 는 도 1 의 디바이스의 단부측 정면도를 도시한다.
도 3 은 본 발명의 회로 기판 조립체의 상부 좌측 사시도를 도시한다.
도 4 는 본 발명의 커넥터 어셈블리의 상부 좌측 사시도를 도시한다.
도 5 는 도 4 의 커넥터 어셈블리의 저면도를 도시한다.
도 6 은 도 5 의 섹션 6 에서 취해진 단면의 측정면도를 도시한다.
도 7 은 설치된 테스트 위치에서 테스트 스트립을 추가로 도시하는 도 6 과 유사한 단면의 측정면도를 도시한다.
도 8 은 도 6 의 섹션 8 에서 취해진 전방 단면도를 도시한다.
상응하는 참조 번호들은 도면들의 여러 관점들을 통해 상응하는 부재들을 나타낸다. 본원에 기재된 도면들은 단지 선택된 실시형태들의 예시적인 목적들을 위한 것일 뿐, 모든 가능한 구현들이 아니며, 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 의도되지 않는다.
예시적인 실시형태들은 첨부 도면들을 참조하여 보다 완전하게 설명될 것이다.
도 1 을 참조하면, 예시적인 생물학적 검사 시스템 (10; biological testing system) 은 작업 선택을 위해 또는 테스트 스트립 (18) 을 배출하기 위해 사용자에게 프롬프팅하는 (prompting) 분석 테스트 결과들 및 아이콘들을 디스플레이하는 데이터 입력/표시창 (16; viewing window) 을 갖는 보디 (14) 를 구비하는 재사용가능한 검사 측정기 또는 유체 분석 테스트 디바이스 (12) 를 포함한다. 일회용 테스트 스트립 (18) 은 보디 (14) 를 통해 개방하는 슬롯 (20) 을 통하여 삽입 방향 "A" 로 삽입된다. 테스트 스트립 (18) 은 적어도 하나의 접촉부를 포함하고, 여러 양태들에 따라, 테스트 스트립 (18) 의 삽입 단부 (24) 에 근접한 접촉 패드들 (22) 로서 나타낸 다중 접촉부들 (이러한 다중 접촉부들은 단지 한 예로서 도 1 에 도시됨) 을 포함한다. 접촉 패드들 (22) 은 컨덕터들 (26) 을 통해 테스트 스트립 (18) 의 제 2 단부 (30) 에 근접한 전극들 (28) 에 연결된다. 검사 작업이 완료되면, 테스트 결과들은 데이터 입력/표시창 (16) 에 제공되고, 테스트 스트립 (18) 은 보디 (14) 로부터 배출 방향 "B" 로 배출된다.
도 2 를 참조하면 그리고 다시 도 1 을 참조하면, 테스트 스트립 (18) 은 여러 양태들에 따라 보디 (14) 의 제 1 단부 (32) 에 제공되는 슬롯 (20) 에서 슬라이딩 가능하게 수용된다. 여러 양태들에 따라, 슬롯 (20) 은 보디 (14) 의 상부 보디 부분과 같은 제 1 보디 부분 (34) 을 통해 연장할 수 있다. 다른 양태들 (미도시) 에서는, 슬롯 (20) 이 보디 (14) 의 하부 보디 부분과 같은 제 2 보디 부분 (36) 을 통해 연장할 수 있다. 제 1 보디 부분 및 제 2 보디 부분 (34, 36) 은 테스트 디바이스 (12) 의 내부 컴포넌트들을 로딩한 후에 함께 조립되어 연결된다.
도 3 을 참조하면 그리고 다시 도 1 내지 도 2 를 참조하면, 제 1 보디 부분 및 제 2 부분 (34, 36) 은 예시적인 회로 기판 어셈블리 (40) 를 도시하기 위하여 명확성을 위해 제거된다. 회로 기판 어셈블리는 적어도 인쇄 회로 기판과 같은 회로 기판 (42) 을 포함한다. 커넥터 어셈블리 (44) 는 회로 기판 (42) 의 표면 (46) 에 탑재된다. 슬롯 (20) 에는 커넥터 어셈블리 (44) 가 제공된다. 본 발명의 일 양태에서, 커넥터 어셈블리 (44) 는 테스트 스트립 (18) 을 삽입 방향 "A" 로 슬라이딩 이동시킴으로써 슬롯 (20) 을 통해 검사 디바이스 (12) 에 삽입된 테스트 스트립 (18) 을 수용한다. 도시된 구성에서, 테스트 스트립 (18) 은 커넥터 어셈블리 (44) 내의 완전히 설치된 위치 또는 테스트 위치에서 도시된다. 커넥터 어셈블리 (44) 는 도 4 와 관련하여 더 상세하게 설명될 다중 스냅 커넥터들 (50) 을 이용하여 금속판 (52) 을 수용하는 커넥터 어셈블리 보디 (48) 를 포함한다. 판 (52) 은 테스트 스트립 (18) 을 슬롯 (20) 과 정렬시키는데 도움이 되는 구부러진 또는 성형된 단부 부분 (54) 을 포함할 수 있다.
도 4 를 참조하면 그리고 다시 도 1 내지 도 3 을 참조하면, 슬롯 (20) 은 판 (52) 의 단부 부분 (54) 에 의해, 그리고 또한 커넥터 어셈블리 보디 (48) 의 일부들로 형성된 대향하는 제 1 단부벽 및 제 2 단부벽 (56, 58) 에 의해 규정된다. 여러 양태들에 따라, 커넥터 어셈블리 보디 (48) 는 예를 들어 사출 성형 프로세스에서 몰딩된 고분자 재료이다. 제 1 측벽과 제 2 측벽 (56, 58) 사이에서 이어지는 입구의 길이방향 벽 (60) 은 단부 부분 (54) 에 평행하고 대향하게 위치되며, 그럼으로써 슬롯 (20) 의 에워싸인 직사각형 형상을 규정한다. 각각의 제 1 측벽 및 제 2 측벽 (56, 58) 은 외측으로 만곡되는 볼록한 표면 (62, 64) 을 포함할 수 있고, 상기 볼록한 표면은 또한 슬롯 (20) 으로의 진입 동안 테스트 스트립 (18) 의 정렬을 돕고 상기 테스트 스트립 (18) 의 요잉 모션 (yawing motion) 을 감소시킨다.
네 개의 실질적으로 동일한 스냅 커넥터들 (50, 50', 50'', 50''') 이 도시되어 있지만, 스냅 커넥터들 (50) 의 개수는 제한적이지 않다. 각각의 스냅 커넥터들 (50) 은, 판 (52) 의 일체형 연장부이고 상기 판 (52) 에 실직적으로 수직하게 배향되는 블레이드 부분 (66) 을 포함한다. 각각의 블레이드 부분 (66) 은 커넥터 어셈블리 보디 (48) 로부터 일체형으로 외측으로 연장하는 치형부 (70) 를 수용하는 세장형 슬롯 (68) 을 포함한다. 판 (52) 은, 커넥터 어셈블리 보디 (48) 에 형성되고 설치 방향 "C" 로 판 (52) 을 통과시키는 공동들 (72) 에서 스냅 커넥터들 (50, 50', 50'', 50''') 의 삽입에 의해 커넥터 어셈블리 보디 (48) 에 커플링된다. 각각의 스냅 커넥터들 (50, 50', 50'', 50''') 이 치형부 (70) 와 접하기 때문에, 스냅 커넥터들 (50, 50', 50'', 50''') 은, 치형부 (70) 가 각각의 세장형 슬롯들 (68) 에 수용될 때까지, 예시적인 편향 방향 "D" 로 외측으로 편향한다. 스냅 커넥터들 (50, 50', 50'', 50''') 은, 치형부 (70) 가 상응하는 세장형 슬롯들 (68) 내에 잠궈지자 마자, 스냅 커넥터들의 편향전 (pre-deflected) 상태들로 복귀하고, 그럼으로써 판 (52) 및 커넥터 어셈블리 보디 (48) 를 유지한다. 커넥터 어셈블리 (44) 가 완전해지면, 테스트 스트립 (18) 의 각각의 접촉 패드들 (22) 과 접촉하는 다수의 컨덕터들 (74) 이 제공된다. 도 4 에는 컨덕터들 (74) 중 단 하나만이 판 (52) 의 세장형 개구 (76) 를 통해 볼 수 있다.
도 5 를 참조하면 그리고 도 1 내지 도 4 를 참조하면, 도 4 의 관점에 대해 커넥터 어셈블리 (44) 의 대향 측으로부터 보았을 때, 저부벽 (78) 에는 다수의 세장형 슬롯들 (80) 이 제공된다. 여러 양태들에 따라, 8 개의 세장형 슬롯들 (80) 이 있어서, 각각은 저부벽 (78) 의 외측으로 연장하도록 8 개의 컨덕터들 (74) 의 각각의 하나의 일부에 제공한다. 커넥터 어셈블리 보디 (48) 는 다중 컨덕터들 (74) 중 하나를 각각 수용하기 위해 다중 세장형 슬롯들 (80) 을 제공하고, 그럼으로써 테스트 스트립 접촉부들 또는 접촉 패드들 (22) 의 연속하는 접촉부들 또는 접촉 패드들 사이의 간격을 동등하게 하는 간격 "S" 로 컨덕터들 (74) 이 서로로부터 연속적으로 간격을 둔다. 8 개의 컨덕터들은 컨덕터들 (74a, 74b, 74c, 74d, 74e, 74f, 74g, 74h) 을 포함한다. 각각의 컨덕터들 (74) 은 도 6 을 참조하여 더 상세하게 설명되는 바와 같은 커넥터 어셈블리 보디 (48) 의 내부 부분에 고정된다. 컨덕터들 (74) 의 개수는 제한적이지 않고, 테스트 스트립 (18) 에 제공된 접촉 패드들 (22) 의 상응하는 개수에 의해 결정된다. 컨덕터들 (74) 의 단차형 길이방향 구성은 접촉 패드들 (22) 의 위치에 따라, 그리고 접촉 패드들 (22) 과 접촉하는 때에 각각의 컨덕터들 (74) 사이의 전기 접촉 간극을 유지하기 위한 컨덕터들의 분리 바람직성에 따라 도시된 바와 같이 다양할 수 있다. 모든 컨덕터들 (74) 은 서로 평행하다. 컨덕터 (74c) 의 길이방향 축 (81) 에 의해 예시되는 바와 같이 모든 컨덕터들 (74) 의 배향은 각각의 컨덕터 (74) 의 길이를 통틀어 삽입 방향 "A" 에 평행하다. 또한, 컨덕터들 (74) 의 교차형 (staggered) 또는 단차형 길이방향 구성은, 테스트 스트립 (18) 으로의 접촉점이 더 넓은 타겟 영역과 접촉할 수 있도록, 접촉 패드들 (22) 이 커넥터의 피치 (각각의 접촉부들 사이의 간격) 보다 더 넓어지게 제공된다.
도 6 을 참조하면 그리고 다시 도 1 내지 도 5 를 참조하면, 컨덕터 (74c) 는 예시적인 설치로서 나타내어 진다. 나머지 컨덕터들 (74) 은 디자인 및 기능이 유사하고, 따라서 추가로 논의되지 않는다. 컨덕터 (74c) 는 컨덕터 (74c) 를 수용하는 세장형 슬롯 (80) 의 외측으로 자유롭게 연장하는 연장부 (84) 를 갖는 컨덕터 접촉 보디 (82) 를 포함한다. 연장부 (84) 의 단부면 (86) 은 회로 기판 (42) 의 표면 (90) 에 디포짓된 컨덕팅 스트립 (88) 과 (예를 들어 납땜된 또는 가압된 연결부를 이용하여) 직접적으로 접촉하게 된다. 회로 기판 (42) 은 컨덕터들 (74) 의 개수와 적어도 동등한 컨덕팅 스트립들 (88) 의 개수를 포함한다. 맞물림 보디 (92) 는 컨덕터 접촉 보디 (82) 에 일체형으로 연결되고 단부면 (86) 에 대하여 대향하게 배향된다. 맞물림 보디 (92) 는 고분자 재료의 커넥터 어셈블리 보디 (48) 에 형성된 수용 공동 (94) 에서 가압되거나 그렇지 않으면 고정된다. 맞물림 보디 (92) 는 적어도 하나의 맞물림 리브를 포함하고, 여러 양태들에 따라, 맞물림 보디 (92) 의 유지 및 마찰 접촉을 위한 추가의 표면 영역을 제공하기 위하여 맞물림 보디 (92) 로부터 멀리 외측으로 각각 연장하는 제 1 맞물림 리브 및 제 2 맞물림 리브 (96, 98) 를 포함한다.
가요성 빔 또는 접촉 아암 (100) 은 맞물림 보디 (92) 로부터 멀리 연장하고, 전체적으로 테스트 스트립의 설치 방향 "A" 과 동일한 방향으로 배향된다. 여러 양태들에 따라, 접촉 아암은 재료의 편평한 판으로부터 형성된다. 접촉 아암 (100) 은 커넥터 어셈블리 보디 (48) 의 내부벽 (108) 과 판 (52) 의 내향 표면 (106) 사이에 형성된 공동 (104) 내에 위치되는 볼록하게 만곡된 부분 (102) 을 제공한다. 내향 표면 (106) 과 내부벽 (108) 사이의 갭 "E" 은 테스트 스트립 (18) 의 수용을 위해 미끄럼 끼워맞춤을 제공한다. 여러 양태들에 따라, 오목하게 만곡된 부분 (102) 은 오목하게 만곡된 표면 (110) 을 포함하고, 그럼으로써 접촉 아암 (100) 과 테스트 스트립 (18) 사이의 전기 접촉이 일어나는 접촉점 (112) 을 제공한다. 공칭 간극 "F" 는 판 (52) 의 내향 표면 (106) 과 접촉점 (112) 사이에 제공된다. 공칭 간극은 갭 "E" 보다 더 작고, 여러 양태들에 따라 약 0.1 내지 약 0.15 ㎜ 이다. 접촉 아암 (100) 은 금속판으로부터 윤곽을 스탬핑 (stamping) 함으로써 형성되고, 따라서 공지된 컨덕터 디자인들에 제공된 다중 또는 이중 굽힘부들과 비교하여 어떠한 굽힘부도 가지지 않는 윤곽을 제공한다. 성형 중에 임의의 굽힘이 없으면 잔류 응력에 의한 접촉 아암 (100) 에서의 와이어 성형된 (wire-formed) 접촉부의 굽힘이 제거되고, 그럼으로써 접촉점 (112) 의 위치의 더 큰 치수 제어를 제공한다. 전이부 (114) 는 접촉점 (112) 으로부터 멀리 연장한다. 게다가, 컨덕터 접촉 보디 (82) 의 숄더 (116) 는 커넥터 어셈블리 보디 (48) 의 표면 (118) 과의 반복가능한 직접 접촉 위치를 제공하고, 이는 접촉점 (112) 의 위치의 치수 제어를 추가로 개선한다.
모든 컨덕터들 (74) 의 각각의 가요성 빔 또는 접촉 아암 (100) 은 컨덕터 접촉 보디 (82) 에 일체형으로 연결된다. 모든 접촉 아암들 (100) 은, 테스트 스트립이 삽입 방향 "A" 로 변위 됨에 따라 테스트 스트립 (18) 에서 트레일링 또는 드래깅하는 "트레일링 빔" 을 접촉 아암들이 규정하도록, 삽입 방향 "A" 로 전적으로 컨덕터 접촉 보디 (82) 로부터 멀리 개별적으로 자유롭게 연장한다. 접촉 아암들 (100) 의 이러한 배향은 테스트 스트립 (18) 의 접촉들로 유지되는 전기 접촉을 보장하는데 필요한 힘을 최소화시킨다. 접촉 아암들 (100) 중 어느 하나의 일부도 접히지 않거나, 또는 삽입 방향 "A" 에 대향하여 배향되지 않거나 삽입 방향 "A" 으로부터 멀리 벗어나지 않는다.
도 7 을 참조하면 그리고 다시 도 6 을 참조하면, 회로 기판 (42) 이 명확성을 위해 제거되고, 테스트 스트립 (18) 은 삽입 방향 "A" 으로의 삽입 후에 완전히 설치된 테스트 위치에서 도시된다. 테스트 스트립 (18) 은 포지티브한 그리고 반복가능한 정지 및 테스트 위치를 규정하는 공동 (104) 의 단부벽 (120) 과 접촉할 수 있고, 그럼으로써 여러 컨덕터들 (74) 의 각각의 접촉점들 (112) 의 각각의 위치들에서 테스트 스트립 표면 (122) 상에 위치되는 테스트 스트립 (18) 의 접촉 패드들 (22) 을 포지티브하게 위치결정한다. 접촉 아암 (100) 의 편향가능한 빔 부분은 두 개의 주요한 부분들로 나눌 수 있다. 접촉점 (112) 에서 접촉 아암 부분은 실질적으로 편향불가능하다. 그러므로, 제 1 편향가능한 빔 부분 (124) 은 오목하게 만곡된 부분 (102) 으로부터 멀리 연장하는 전이 구역 (114) 을 포함한다. 제 2 편향가능한 빔 부분 (126) 은 전이 구역 (114) 으로부터 빔 부분 (127) 으로 연장한다. 빔 부분 (127) 은 커넥터 어셈블리 보디 (48) 의 재료와 직접적으로 접촉하게 되고, 컨덕터 접촉 보디 (82) 의 일부를 형성하며, 따라서 접촉 아암 (100) 의 전이부 (114) 보다 실질적으로 덜 편향할 수 있다. 제 1 빔 부분 및 제 2 빔 부분 (124, 126) 의 탄성 굽힘은 테스트 스트립 (18) 의 삽입 동안 일어난다. 접촉 아암 (100) 의 굽힘에 대한 감소된 저항은 제 2 빔 부분 (126) 의 길이를 증가시킴으로써 그리고/또는 접촉 아암 (100) 의 두께를 감소시킴으로써 제공될 수 있다. 그러므로 접촉 아암 (100) 의 굽힘은 원하는 대로 조율될 수 있다. 접촉 아암 (100) 과 테스트 스트립의 금속화된 영역들 (접촉 패드들 (22)) 사이에서 작용하는 전단력 및 테스트 스트립 (18) 이 삽입될 때의 마찰로 인한 힘은 테스트 스트립 (18) 에 작용하는 접촉 아암 (100) 에 의해 제공되는 하향력 "H" 에 직접적으로 비례한다. 하향력 "H" 을 감소시킴으로써, 마찰력 및 전단력은 공지된 컨덕터들에 비해 감소된다.
도 8 을 참조하면 그리고 다시 도 6 내지 도 7 을 참조하면, 접촉 아암 (100) 의 기하학적 형상은 "바늘 구멍" 코이닝 프로세스의 사용에 의해 추가로 제어된다. 이러한 프로세스는 표면 불규칙을 감소시키는 라운딩된 또는 코이닝된 엣지들 (128), 및 라운딩된 표면 (132) 에 대향된 편평한 표면 (130) 을 제공한다. 그럼으로써, 접촉 아암 (100) 의 드래그 특성들은 최소화되어, 주변 표면 (134) 상에, 황산 바륨과 같은 테스트 스트립 (18) 에 주로 존재하는 미립자들의 크기보다 더 작은 미소 특성부들을 형성한다. 빔들 또는 접촉 아암들 (100) 의 코이닝된 엣지들 (128) 은 테스트 스트립 (18) 과 접촉하는 컨덕터 (74) 의 일부의 압력 영역을 최소화하는 양방향으로 만곡된 표면을 각각 규정한다.
수개의 이점들은, 맞물림 보디 (92) 에 설치된 위치로부터 먼 설치 방향 "A" 로만 접촉 아암 (100) 을 배향시킴으로써 제공된다. 이들은 다음을 포함한다: 1) 편향 방향 "G" 로의 접촉 아암 (100) 의 모든 편향이 접촉 아암 (100) 에 의해 규정된 단일 빔으로만 발생하므로, 공지된 컨덕터 디자인들에서의 다중 빔들에 비해 접촉점 (102) 과 테스트 스트립 (18) 사이의 마찰이 감소됨; 2) 테스트 스트립 (18) 의 전기 접촉부들의 통합이 테스트 접촉을 보장하기 위해 유지되어야 하는 때에, 설치 방향 "A" 로 향하는 접촉 아암 (100) 의 배향이 설치 동안 테스트 스트립 (18) 에서 발생하는 채터 (chatter) 의 가능성을 또한 감소시킴; 3) 접촉 아암 (100) 을 형성하기 위해 사용되는 "바늘 구멍" 코이닝 프로세스가 접촉 아암 (100) 의 엣지들을 전적으로 코이닝하며, 그럼으로써 매끄럽게 양방향으로 만곡된 표면을 형성하여, 테스트 스트립 (18) 의 고분자 재료에서 황산 바륨 입자들과 같은 입자들이 접촉 아암 (100) 에서 미소 특성부들에 의해 포착되지 않고 테스트 스트립 (18) 의 표면에 드래깅됨; 및 4) 접촉 아암 (100) 의 단일 빔 디자인이 공지된 이중의 또는 굽힘된 빔 디자인들보다 더 큰 치수상 제어를 가져서, 접촉점 (112) 의 위치의 더 큰 제어를 허용하고, 그럼으로써 테스트 스트립 (18) 의 설치 동안 마찰을 감소시키는 접촉 아암 (100) 을 변위시키기 위해 요구되는 편향의 정도를 감소시키기 때문에, 공지된 컨덕터 디자인들에 비해 공칭 간극 "F" 이 증가됨.
본 발명의 생물학적 검사 시스템들 (10) 은 여러 추가의 이점들을 제공한다. 이러한 이점들은 감소된 강성의 접촉 아암들 (100) 을 이용하여 달성된 저접촉력을 포함하고, 빔 유연성을 증가시키기 위해 코이닝 프로세스를 이용하여 달성된 접촉 아암들 (100) 의 감소된 단면을 이용한다. 절대적 힘 대신에 접촉 아암들 (100) 에 가해진 압력은 강화된 전기 접촉에 의존하고, 그럼으로써 분산된 접촉 부하 또는 압력 부하를 형성한다. 이는 감소된 압력 접촉 영역 (접촉점 (112) 의 영역) 이 감소된 영역에서 원하는 접촉 압력, 및 테스트 스트립 (18) 의 가우징 가능성 (the possibility of gouging) 을 감소시키는 슬라이딩 마찰 영역의 감소를 달성하는 것을 허용한다. 여전히 추가로, 접촉 아암들 (100) 의 사각 형상은 컨덕터 (74) 의 굽힘면에 수직한 각변위를 허용하여서, 접촉 아암들 (100) 이 테스트 스트립 (18) 내에 존재하는 불순물들의 더 큰 부분들의 주위에서 스키-어라운드 (ski-around) 또는 변위할 수 있다. 여전히 추가로, 접촉 아암들 (100) 은 진입 시에 테스트 스트립 표면 (122) 을 드래그하도록 배향되고, 그럼으로써 황산 바륨 입자들에 대하여 테스트 스트립 (18) 의 추출에 대해서만 스투터링 (stuttering) 또는 채터를 허용하며, 그럼으로써 전반적인 접촉 경로를 개선한다.
본 발명의 생물학적 검사 시스템들 (10) 은 퍼스널 테스트 측정기들을 갖는 각각의 사용자들에 의해 측정기들 내에서 사용될 수 있다. 본 발명의 생물학적 검사 시스템 (10) 은 병원용 측정기들과 같은, 예를 들어 베이스 유닛에의 설치에 의해 재충전되는 재충전가능한 테스트 측정기들과 같은 상업적인 디바이스들, 및/또는 Roche Diagnostics 에 의해 제조된 ACCU-CHEK® 인폼 시스템 글루코스 측정기와 같은 혈당 측정기들 내에서 또한 통합될 수 있다. 이러한 병원용 측정기들 및 혈당 테스트 측정기들에 의해 사용되는 테스트 스트립들이 테스트 및/또는 테스트 측정기의 요건들을 따르기 위하여 본 명세서에서 확인된 테스트 스트립들로부터 상이하게 구성될 수 있지만, 본 발명의 생물학적 검사 시스템 (10) 은 유사하게 구성될 것이고 유사한 방식으로 기능할 것이다.
게다가, 본 발명의 생물학적 검사 시스템들 (10) 은 개별적인 또는 상업적인 디바이스들, 예컨대 혈액 응고 테스트 측정기들, 예를 들어 Roche Diagnostics 에 의해 제조된 CoaguChek® XS 시스템 응고 테스트 측정기와 같은 혈액 응고 시간 테스트 측정기들 내에서 또한 통합될 수 있다. 이러한 혈액 응고 테스트 측정기들에 의해 사용된 테스트 스트립들은 테스트 및/또는 테스트 측정기의 요건들을 따르기 위하여 본 명세서에서 확인된 테스트 스트립들로부터 상이하게 구성될 수 있지만, 본 발명의 생물학적 검사 시스템 (10) 이 유사하게 구성될 것이고 유사한 방식으로 기능할 것이다.
본 명세서에 기재된 장치들 및 방법들은 하나 이상의 프로세서들에 의해 실행된 하나 이상의 컴퓨터 프로그램들에 의해 시행될 수도 있다. 컴퓨터 프로그램들은 비일시적인 (non-transitory) 유형 (有形) 의 컴퓨터 판독가능한 매체에 저장되는 프로세서-실행가능한 지시들을 포함한다. 또한, 컴퓨터 프로그램들은 저장된 데이터를 포함할 수도 있다. 비일시적인 유형의 컴퓨터 판독가능한 매체의 비제한적인 실시예들은 비휘발성 메모리, 자기 기억 장치, 및 광학 기억 장치이다. 넘버링된 실시형태들이 이하에 기재되어 있다.
1. 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템으로서,
상기 시스템은 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동된 테스트 스트립을 수용하는 커넥터 어셈블리를 포함하고,
상기 커넥터 어셈블리는:
커넥터 어셈블리 보디; 및
컨덕터를 구비하고,
상기 컨덕터는:
상기 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디; 및
상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 상기 삽입 방향으로 전적으로 자유롭게 연장하는 접촉 아암을 구비한다.
2. 실시형태 1 에 있어서,
상기 커넥터 어셈블리는 회로 기판에 탑재되어서, 회로 기판 어셈블리를 규정하며, 상기 회로 기판 어셈블리는 테스트 디바이스에서 유지된다.
3. 실시형태 2 에 있어서,
상기 시스템은:
상기 컨덕터 접촉 보디의 연장부; 및
상기 컨덕터 접촉 보디의 상기 연장부에 의해 직접적으로 접촉되는 상기 회로 기판의 컨덕팅 스트립을 추가로 포함한다.
4. 실시형태 1 에 있어서,
상기 시스템은 상기 커넥터 어셈블리 보디에 금속판을 체결하기 위하여 다중 스냅 커넥터들을 이용하여 상기 커넥터 어셈블리 보디에 연결된 상기 금속판을 추가로 포함한다.
5. 실시형태 4 에 있어서,
상기 금속판은 테스트 스트립을 슬롯과 정렬시키기 위하여 상기 금속판에 대해 각을 이루어 배향된 성형된 단부 부분을 포함한다.
6. 실시형태 4 에 있어서,
상기 시스템은 상기 컨덕터 접촉 보디의 연장부를 추가로 포함하고,
상기 커넥터 어셈블리 보디는 상기 연장부가 자유롭게 연장하는 세장형 슬롯을 포함한다.
7. 실시형태 1 에 있어서,
상기 시스템은, 테스트 스트립 상에 형성된 접촉부를 구비하는, 상기 생물학적 유체의 샘플을 수용하기 위한 테스트 스트립을 추가로 포함하고,
상기 접촉 아암은 상기 테스트 스트립의 상기 접촉부와 직접적으로 접촉하도록 정렬된다.
8. 실시형태 7 에 있어서,
상기 접촉 아암은 상기 테스트 스트립이 상기 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 접촉부를 따라서 트레일링하는 빔을 규정한다.
9. 실시형태 1 에 있어서,
상기 컨덕터는 상기 테스트 스트립과 접촉하는 상기 컨덕터의 표면 영역을 최소화하는 양방향으로 만곡된 표면들을 규정하는 코이닝된 엣지들을 포함한다.
10. 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템으로서,
상기 시스템은:
테스트 스트립 상에 형성된 다중 접촉부들을 갖는, 생물학적 유체의 샘플을 수용하기 위한 테스트 스트립; 및
테스트 디바이스를 포함하고,
상기 테스트 디바이스는:
다중 컨덕팅 스트립들을 갖는 회로 기판; 및
상기 회로 기판에 고정되어, 상기 테스트 스트립이 테스트 위치로 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 테스트 스트립을 수용하는 커넥터 어셈블리를 포함하며,
상기 커넥터 어셈블리는:
커넥터 어셈블리 보디; 및
다중 컨덕터들을 포함하고,
상기 다중 컨덕터들 각각은:
상기 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디; 및
상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 상기 삽입 방향으로 전적으로 자유롭게 연장하는 접촉 아암으로서, 상기 접촉 아암은 상기 테스트 스트립의 삽입 중에 초기에 편향되어 테스트 스트립 설치 위치에서 상기 테스트 스트립의 접촉부들 중 하나와 직접적으로 접촉하는, 상기 접촉 아암을 포함한다.
11. 실시형태 10 에 있어서,
상기 다중 컨덕터들의 각각의 상기 컨덕터 접촉 보디는, 상기 커넥터 어셈블리의 외측에서 자유롭게 연장하고 상기 회로 기판의 상기 컨덕팅 스트립들 중 하나에 직접적으로 접촉되는 연장부를 포함한다.
12. 실시형태 11 에 있어서,
각각의 상기 컨덕터들은, 상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고 상기 연장부의 단부면에 대해 대향하게 배향되는 맞물림 보디를 추가로 포함한다.
13. 실시형태 12 에 있어서,
상기 맞물림 보디는 상기 커넥터 어셈블리 보디 내에 형성된 수용 공동 내에 고정된다.
14. 실시형태 12 에 있어서,
상기 맞물림 보디는 상기 맞물림 보디의 유지 및 마찰 접촉을 위한 추가의 표면 영역을 제공하기 위하여 상기 맞물림 보디로부터 멀리 외측으로 연장하는 적어도 하나의 맞물림 리브를 포함한다.
15. 실시형태 10 에 있어서,
상기 커넥터 어셈블리 보디는 상기 다중 컨덕터들 중 하나를 각각 수용하는 다중 세장형 슬롯들을 포함하고, 그럼으로써 상기 테스트 스트립의 접촉부들 중 연속하는 접촉부들 사이의 간격을 동일하게 하는 간격으로 상기 컨덕터들이 서로로부터 연속적으로 간격을 둔다.
16. 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템으로서,
상기 시스템은:
상기 생물학적 유체의 샘플을 수용하고 테스트 스트립 상에 형성된 접촉부를 구비하는 테스트 스트립; 및
상기 테스트 스트립이 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 테스트 스트립을 수용하기 위한 커넥터를 구비하는 유체 분석 테스트 디바이스를 포함하고,
상기 커넥터는:
상기 접촉부의 표면에 직접적으로 접촉하도록 정렬된 편평한 판으로부터 형성되는 빔으로서, 상기 빔은 상기 테스트 스트립이 상기 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 접촉부를 따라서 트레일링하는, 상기 빔; 및
상기 테스트 스트립과 접촉하는 컨덕터의 일부의 압력 영역을 최소화하는 양방향으로 만곡된 표면을 각각 규정하는 상기 빔의 코이닝된 엣지들을 포함한다.
17. 실시형태 16 에 있어서,
상기 유체 분석 테스트 디바이스는 다중 컨덕팅 스트립들을 구비하는 회로 기판을 추가로 포함한다.
18. 실시형태 17 에 있어서,
상기 시스템은 커넥터 어셈블리 보디에 위치된 상기 빔과 상기 회로 기판에 탑재된 커넥터 어셈블리 보디를 구비하는 커넥터 어셈블리를 추가로 포함한다.
19. 실시형태 18 에 있어서,
상기 빔은 상기 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디를 포함한다.
20. 실시형태 19 에 있어서,
상기 빔은 상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고, 상기 빔은 상기 삽입 방향으로 전적으로 연장하며, 상기 빔은 상기 테스트 스트립의 접촉부와 직접적으로 접촉하는 때에 편향된다.
21. 실시형태 18 에 있어서,
상기 커넥터 어셈블리 보디는, 상기 테스트 스트립이 상기 커넥터 어셈블리 보디 내에 부분적으로 위치되는 때에 규정된 테스트 위치로 상기 테스트 스트립이 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 테스트 스트립을 수용하는 슬롯을 포함한다.

Claims (6)

  1. 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템으로서,
    상기 생물학적 유체의 샘플을 수용하고 테스트 스트립 상에 형성된 접촉부를 구비하는 테스트 스트립; 및
    상기 테스트 스트립이 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 테스트 스트립을 수용하기 위한 커넥터를 구비하는 유체 분석 테스트 디바이스를 포함하고,
    상기 커넥터는:
    상기 접촉부의 표면에 직접적으로 접촉하도록 정렬된 편평한 판으로부터 형성되는 빔으로서, 상기 빔은 상기 테스트 스트립이 상기 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 접촉부를 따라서 트레일링하는, 상기 빔; 및
    상기 테스트 스트립과 접촉하는 컨덕터의 일부의 압력 영역을 최소화하는 양방향으로 만곡된 표면을 각각 규정하는 상기 빔의 코이닝된 엣지들을 포함하는, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 유체 분석 테스트 디바이스는 다중 컨덕팅 스트립들을 구비하는 회로 기판을 추가로 포함하는, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템.
  3. 제 2 항에 있어서,
    커넥터 어셈블리 보디에 위치된 상기 빔과 상기 회로 기판에 탑재된 커넥터 어셈블리 보디를 구비하는 커넥터 어셈블리를 추가로 포함하는, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 빔은 상기 커넥터 어셈블리 보디에 고정식으로 연결된 컨덕터 접촉 보디를 포함하는, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 빔은 상기 컨덕터 접촉 보디에 일체형으로 연결되고, 상기 빔은 상기 삽입 방향으로 전적으로 연장하며, 상기 빔은 상기 테스트 스트립의 접촉부와 직접적으로 접촉하는 때에 편향되는, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템.
  6. 제 3 항에 있어서,
    상기 커넥터 어셈블리 보디는, 상기 테스트 스트립이 상기 커넥터 어셈블리 보디 내에 부분적으로 위치되는 때에 규정된 테스트 위치로 상기 테스트 스트립이 삽입 방향으로 이동함에 따라 상기 테스트 스트립을 수용하는 슬롯을 포함하는, 생물학적 유체에서 관심 분석물질을 측정하기 위한 시스템.
KR1020177001839A 2013-03-13 2014-03-12 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부 KR101755189B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/798,453 2013-03-13
US13/798,453 US9461416B2 (en) 2013-03-13 2013-03-13 Low force electrical contact on metalized deformable substrates
PCT/EP2014/054884 WO2014140126A1 (en) 2013-03-13 2014-03-12 Low force electrical contact on metalized deformable substrates

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157026693A Division KR101755142B1 (ko) 2013-03-13 2014-03-12 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170019465A KR20170019465A (ko) 2017-02-21
KR101755189B1 true KR101755189B1 (ko) 2017-07-06

Family

ID=50289649

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157026693A KR101755142B1 (ko) 2013-03-13 2014-03-12 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부
KR1020177001839A KR101755189B1 (ko) 2013-03-13 2014-03-12 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157026693A KR101755142B1 (ko) 2013-03-13 2014-03-12 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부

Country Status (10)

Country Link
US (1) US9461416B2 (ko)
EP (1) EP2972272B1 (ko)
JP (1) JP6487343B2 (ko)
KR (2) KR101755142B1 (ko)
CN (2) CN107255663B (ko)
CA (1) CA2901090C (ko)
ES (1) ES2803505T3 (ko)
HK (1) HK1219536A1 (ko)
PL (1) PL2972272T3 (ko)
WO (1) WO2014140126A1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9995743B2 (en) 2015-07-01 2018-06-12 Htc Corporation Test apparatus and pressurizing assembly thereof
US20180059092A1 (en) * 2016-08-25 2018-03-01 Cilag Gmbh International Hand-held test meter with smooth dimpled electrical contacts, contact stopper ribs, and metal shield plate
US11408881B2 (en) * 2017-05-04 2022-08-09 Roche Diabetes Care, Inc. Test meter and method for detecting undue pressure applied to an inserated test strip

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4638559A (en) 1984-10-30 1987-01-27 At&T Technologies, Inc. Methods of and apparatus for making slotted beam contact elements
US6152754A (en) 1999-12-21 2000-11-28 Masimo Corporation Circuit board based cable connector
US20040110423A1 (en) 2002-11-28 2004-06-10 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Card connector
US20070249921A1 (en) * 2006-04-21 2007-10-25 Henning Groll Biological testing system
US20090054737A1 (en) 2007-08-24 2009-02-26 Surendar Magar Wireless physiological sensor patches and systems
US20090325205A1 (en) 2008-06-16 2009-12-31 Takaaki Fujii Method for measuring analysis object, biosensor and measuring device
US20160143562A1 (en) 2014-11-26 2016-05-26 Icon Health & Fitness, Inc. Footwear Apparatus with Technique Feedback

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3092067B2 (ja) * 1998-05-22 2000-09-25 モレックス インコーポレーテッド 電気コネクタの製造方法
JP2000133367A (ja) * 1998-10-20 2000-05-12 Yazaki Corp 防水コネクタ及び該防水コネクタの組付方法
US6478594B1 (en) * 2001-07-09 2002-11-12 Molex Incorporated Electrical connector for receiving electrical plug
US20080112852A1 (en) * 2002-04-25 2008-05-15 Neel Gary T Test Strips and System for Measuring Analyte Levels in a Fluid Sample
US6921270B2 (en) * 2003-06-11 2005-07-26 Cinch Connectors, Inc. Electrical connector
AU2004294796A1 (en) 2003-12-03 2005-06-16 Lifescan Scotland Limited Improvements relating to hand held analytical devices
EP1983339A4 (en) * 2006-01-22 2010-02-17 Arkray Inc ANALYSIS DEVICE HAVING A DISPOSAL MECHANISM
CN101772702A (zh) * 2007-03-28 2010-07-07 爱科来株式会社 分析装置
CN201562792U (zh) * 2009-10-21 2010-08-25 凡甲电子(苏州)有限公司 电连接器
TW201121158A (en) 2009-12-14 2011-06-16 Taidoc Technology Corp Connector and biosensing meter with the connector
US20120143085A1 (en) * 2010-12-02 2012-06-07 Matthew Carlyle Sauers Test element ejection mechanism for a meter
JP5181400B2 (ja) 2011-09-06 2013-04-10 Ｓｍｋ株式会社 ヒンジカバー式メモリカードコネクタ
KR101161322B1 (ko) 2012-01-13 2012-07-02 주식회사 아이센스 바이오센서와 이의 측정기를 연결하는 커넥터

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4638559A (en) 1984-10-30 1987-01-27 At&T Technologies, Inc. Methods of and apparatus for making slotted beam contact elements
US6152754A (en) 1999-12-21 2000-11-28 Masimo Corporation Circuit board based cable connector
US20040110423A1 (en) 2002-11-28 2004-06-10 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Card connector
US20070249921A1 (en) * 2006-04-21 2007-10-25 Henning Groll Biological testing system
US20090054737A1 (en) 2007-08-24 2009-02-26 Surendar Magar Wireless physiological sensor patches and systems
US20090325205A1 (en) 2008-06-16 2009-12-31 Takaaki Fujii Method for measuring analysis object, biosensor and measuring device
US20160143562A1 (en) 2014-11-26 2016-05-26 Icon Health & Fitness, Inc. Footwear Apparatus with Technique Feedback

Also Published As

Publication number Publication date
KR101755142B1 (ko) 2017-07-06
CA2901090A1 (en) 2014-09-18
US20140273549A1 (en) 2014-09-18
CN107255663A (zh) 2017-10-17
CN105209893A (zh) 2015-12-30
US9461416B2 (en) 2016-10-04
HK1219536A1 (zh) 2017-04-07
KR20150122756A (ko) 2015-11-02
CN107255663B (zh) 2020-04-17
KR20170019465A (ko) 2017-02-21
JP6487343B2 (ja) 2019-03-20
PL2972272T3 (pl) 2020-09-07
EP2972272A1 (en) 2016-01-20
CN105209893B (zh) 2019-01-18
WO2014140126A1 (en) 2014-09-18
EP2972272B1 (en) 2020-05-06
JP2016516984A (ja) 2016-06-09
CA2901090C (en) 2017-12-12
ES2803505T3 (es) 2021-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8398443B2 (en) Biological testing system and connector therefor
CA2578901A1 (en) Electrical connector for a test strip
KR101755189B1 (ko) 금속화된 변형가능한 기판들에서의 로우 포스 전기 접촉부
US9933409B2 (en) Strip connector with reliable insertion and ejection
EP4332561A1 (en) Measurement system
JP6892871B2 (ja) 試験要素分析システム
EP4332560A1 (en) Measurement device
JP4032078B2 (ja) カード型標的物質検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A107 Divisional application of patent
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right