JP6484026B2 - Printed wiring board substrate, printed wiring board, and printed wiring board manufacturing method - Google Patents
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Description
本発明は、プリント配線板用基板及びプリント配線板並びにプリント配線板用基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a printed wiring board substrate, a printed wiring board, and a method for manufacturing a printed wiring board substrate.
例えば樹脂等で形成される絶縁性のベースフィルムの表面に、例えば金属等で形成される金属層を積層し、この金属層をエッチングすることで導電パターンを形成してプリント配線板を得るためのプリント配線板用基板が広く使用されている。 For example, a metal layer made of metal or the like is laminated on the surface of an insulating base film made of resin or the like, and a conductive pattern is formed by etching the metal layer to obtain a printed wiring board. Printed wiring board substrates are widely used.
このようなプリント配線板用基板を使用して形成したプリント配線板に曲げ折力が作用した際に、ベースフィルムから金属層が剥離しないよう、ベースフィルムと金属層との剥離強度が大きいプリント配線板用基板が求められている。 Printed wiring with high peel strength between the base film and the metal layer so that the metal layer does not peel from the base film when bending bending force is applied to the printed wiring board formed using such a printed wiring board substrate There is a need for board substrates.
また、近年、電子機器の小型化及び高性能化に伴い、プリント配線板の高密度化が要求されている。このような高密度化の要求を満たすプリント配線板用基板として、金属層の厚さを低減したプリント配線板用基板が求められている。 In recent years, with the miniaturization and high performance of electronic devices, it has been required to increase the density of printed wiring boards. As a printed wiring board substrate that satisfies such a demand for higher density, a printed wiring board substrate having a reduced metal layer thickness is required.
上記剥離強度向上及び薄型化への要求に対し、耐熱性絶縁ベースフィルムに接着剤層を介することなく銅薄層を積層したプリント配線板用基板が提案されている(特許第3570802号公報参照)。この従来のプリント配線板用基板は、耐熱性絶縁ベースフィルムの両面にスパッタリング法を用いて厚さ0.25〜0.30μmの銅薄膜層(第1導電層)を形成し、その上に電気メッキ法を用いて銅厚膜層(第2導電層)を形成している。 In response to the demand for improvement in peel strength and thinning, a printed wiring board substrate in which a copper thin layer is laminated on a heat-resistant insulating base film without an adhesive layer has been proposed (see Japanese Patent No. 3570802). . In this conventional printed wiring board substrate, a copper thin film layer (first conductive layer) having a thickness of 0.25 to 0.30 μm is formed on both surfaces of a heat-resistant insulating base film using a sputtering method, and an electric layer is formed on the copper thin film layer. A copper thick film layer (second conductive layer) is formed using a plating method.
上記公報に記載のプリント配線板用基板は、剥離強度が大きく薄い金属層を形成できる点において上記剥離強度向上及び薄型化への要求に沿う基板であるといえる。しかし、上記公報に記載のプリント配線板用基板は、金属層をベースフィルムに密着させるためスパッタリング法を用いて第1導電層を形成しているので、真空設備を必要とし、設備の建設、維持、運転等におけるコストが高くなる。また、使用するベースフィルムの供給、金属層の形成、ベースフィルムの収納等の全てを真空中で取り扱わなければならない。また設備面において、基板のサイズを大きくすることに限界がある。 The printed wiring board substrate described in the above publication can be said to be a substrate that meets the demands for improving the peel strength and reducing the thickness in that a thin metal layer having a large peel strength can be formed. However, the printed wiring board substrate described in the above publication requires a vacuum facility to construct and maintain the facility because the first conductive layer is formed using a sputtering method in order to adhere the metal layer to the base film. , Driving costs and the like are high. Also, supply of the base film to be used, formation of the metal layer, storage of the base film, etc. must all be handled in a vacuum. Further, in terms of equipment, there is a limit to increasing the size of the substrate.
本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであり、剥離強度の大きい金属層を備える安価なプリント配線板用基板及びプリント配線板並びにそのようなプリント配線板用基板の製造方法を提供することを課題とする。 The present invention has been made based on the circumstances as described above, and provides an inexpensive printed wiring board substrate and printed wiring board having a metal layer with high peel strength, and a method for manufacturing such a printed wiring board substrate. The issue is to provide.
上記課題を解決するためになされた本発明の一態様に係るプリント配線板用基板は、絶縁性を有するベースフィルムと、このベースフィルムの少なくとも一方の面側に積層される金属層とを備えるプリント配線板用基板であって、上記ベースフィルム中にパラジウムが分散して存在する分散部分を有する。 A printed wiring board substrate according to an aspect of the present invention made to solve the above-described problem is a printed board including an insulating base film and a metal layer laminated on at least one surface side of the base film. A wiring board substrate having a dispersed portion in which palladium is dispersed in the base film.
また、上記課題を解決するためになされた本発明の別の態様に係るプリント配線板は、導電パターンを有するプリント配線板であって、上記導電パターンが、上記プリント配線板用基板の金属層にサブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いることで形成されている。 Moreover, the printed wiring board which concerns on another aspect of this invention made | formed in order to solve the said subject is a printed wiring board which has a conductive pattern, Comprising: The said conductive pattern is a metal layer of the said board | substrate for printed wiring boards. It is formed by using a subtractive method or a semi-additive method.
また、上記課題を解決するためになされた本発明のさらに別の態様に係るプリント配線板用基板の製造方法は、絶縁性を有するベースフィルムの少なくとも一方の面側に金属粒子を含む導電性インクを塗布及び焼成する工程と、上記導電性インクの塗布及び焼成後、一方の面側にパラジウムを触媒として無電解メッキを施す工程と、上記無電解メッキ工程後、熱処理する工程とを備え、上記熱処理工程で上記パラジウムを分散する。 Moreover, the manufacturing method of the printed wiring board board | substrate which concerns on another aspect of this invention made | formed in order to solve the said subject is the conductive ink which contains a metal particle in the at least one surface side of the base film which has insulation. A step of applying and baking the conductive ink, a step of applying electroless plating using palladium as a catalyst on one side of the conductive ink, and a step of performing a heat treatment after the electroless plating step. The palladium is dispersed in the heat treatment step.
本発明の一態様に係るプリント配線板用基板及び別の態様に係るプリント配線板は、剥離強度の大きい金属層を備えると共に安価である。本発明のさらに別の態様に係るプリント配線板用基板の製造方法は、剥離強度の大きい金属層を備えるプリント配線板用基板を安価に製造できる。 The printed wiring board substrate according to one aspect of the present invention and the printed wiring board according to another aspect include a metal layer having high peel strength and are inexpensive. The printed wiring board substrate manufacturing method according to still another aspect of the present invention can inexpensively manufacture a printed wiring board substrate including a metal layer having high peel strength.
[本発明の実施形態の説明]
本発明の一態様に係るプリント配線板用基板は、絶縁性を有するベースフィルムと、このベースフィルムの少なくとも一方の面側に積層される金属層とを備えるプリント配線板用基板であって、上記ベースフィルム中にパラジウムが分散して存在する分散部分を有する。
[Description of Embodiment of the Present Invention]
A printed wiring board substrate according to an aspect of the present invention is a printed wiring board substrate comprising a base film having insulating properties and a metal layer laminated on at least one surface side of the base film, It has a dispersed portion in which palladium is dispersed in the base film.
当該プリント配線板用基板は、上記ベースフィルム中にパラジウムが分散して存在する分散部分を有することによって、ベースフィルムの金属層に対する密着性が向上し、金属層の剥離強度を大きくすることができる。また、当該プリント配線板用基板は、このようにパラジウムを分散させることで密着性を向上しているので、その製造のために真空設備等を必要とせず、安価に提供できる。 The printed wiring board substrate has a dispersed portion in which palladium is dispersed in the base film, thereby improving the adhesion of the base film to the metal layer and increasing the peel strength of the metal layer. . In addition, since the printed wiring board substrate has improved adhesion by dispersing palladium in this way, a vacuum facility or the like is not required for its manufacture, and can be provided at low cost.
上記分散部分で、EDXによる定量で含有率が1質量%以上となるようパラジウムが存在するとよい。このように、上記分散部分で、EDXによる定量で含有率が1質量%以上となるようパラジウムが存在することによって、ベースフィルムの金属層に対する密着性向上効果がより確実に得られる。 Palladium is preferably present in the dispersed portion so that the content is 1% by mass or more as determined by EDX. Thus, in the said dispersion | distribution part, the adhesive improvement effect with respect to the metal layer of a base film is acquired more reliably by palladium existing so that a content rate may become 1 mass% or more by fixed_quantity | quantitative_assay by EDX.
上記分散部分が、金属層との界面から平均500nm以上の領域を含むとよい。このように、上記分散部分が、金属層との界面から平均500nm以上の領域を含むことによって、ベースフィルムの金属層に対する界面の密着性をより向上できる。 It is preferable that the dispersed portion includes a region having an average of 500 nm or more from the interface with the metal layer. Thus, when the said dispersion | distribution part contains the area | region of an average 500 nm or more from the interface with a metal layer, the adhesiveness of the interface with respect to the metal layer of a base film can be improved more.
上記ベースフィルムにおける金属層との界面から厚さ方向に1μm以下のA層のパラジウム含有率が、上記金属層におけるベースフィルムとの界面から厚さ方向に500nm以下のB層のパラジウム含有率より大きいとよい。このように、上記ベースフィルムにおける金属層との界面から厚さ方向に1μm以下のA層のパラジウム含有率が上記金属層におけるベースフィルムとの界面から厚さ方向に500nm以下のB層のパラジウム含有率より大きいことによって、ベースフィルムの金属層に対する密着性向上効果がより確実となる。 The palladium content of the A layer of 1 μm or less in the thickness direction from the interface with the metal layer in the base film is larger than the palladium content of the B layer of 500 nm or less in the thickness direction from the interface with the base film in the metal layer. Good. Thus, the palladium content of the A layer of 1 μm or less in the thickness direction from the interface with the metal layer in the base film is 500 nm or less in the thickness direction from the interface with the base film in the metal layer. By being larger than the rate, the effect of improving the adhesion of the base film to the metal layer becomes more reliable.
上記ベースフィルムにおける金属層との界面から厚さ方向に1μmの位置でのパラジウム含有率に対する500nmの位置でのパラジウム含有率の比としては、0.7以上1.1以下が好ましい。このように、上記ベースフィルムにおける金属層との界面から厚さ方向に1μmの位置でのパラジウム含有率に対する500nmの位置でのパラジウム含有率の比が上記範囲内であることによって、ベースフィルム内へのパラジウムの十分な分散が担保され、ベースフィルムの金属層に対する密着性向上効果がより確実となる。 The ratio of the palladium content at a position of 500 nm to the palladium content at a position of 1 μm in the thickness direction from the interface with the metal layer in the base film is preferably 0.7 or more and 1.1 or less. Thus, when the ratio of the palladium content at the position of 500 nm to the palladium content at the position of 1 μm in the thickness direction from the interface with the metal layer in the base film is within the above range, the base film enters the base film. Sufficient dispersion of palladium is ensured, and the effect of improving the adhesion of the base film to the metal layer is more certain.
上記金属層が、金属粒子を含む導電性インクの塗布及び焼成により形成される第1導電層と、この第1導電層の一方の面側に無電解メッキにより形成される第2導電層とを有するとよい。このように、上記金属層が、金属粒子を含む導電性インクの塗布及び焼成により形成される第1導電層を有することによって、この第1導電層を下地として第2導電層を効率よく形成することができる。また、第1導電層を下地として無電解メッキにより第2導電層を形成することによって、金属層の厚さを大きくすることができると共に、第1導電層の隙間を埋めて緻密化することができる。これによって、金属層の導電性及びベースフィルムに対する密着性を向上できる。 A first conductive layer formed by applying and firing a conductive ink containing metal particles, and a second conductive layer formed by electroless plating on one surface side of the first conductive layer. It is good to have. As described above, the metal layer has the first conductive layer formed by applying and baking the conductive ink containing the metal particles, so that the second conductive layer is efficiently formed using the first conductive layer as a base. be able to. In addition, by forming the second conductive layer by electroless plating with the first conductive layer as a base, the thickness of the metal layer can be increased, and the gap between the first conductive layers can be filled and densified. it can. Thereby, the electroconductivity of a metal layer and the adhesiveness with respect to a base film can be improved.
上記金属粒子の平均粒子径としては、1nm以上500nm以下が好ましい。このように、上記金属粒子の平均粒子径が上記範囲内であることによって、ベースフィルムの表面に薄い導電性の被膜を形成できると共に、金属粒子の隙間をメッキにより確実に埋めることができる。 The average particle diameter of the metal particles is preferably 1 nm to 500 nm. Thus, when the average particle diameter of the metal particles is within the above range, a thin conductive film can be formed on the surface of the base film, and the gaps between the metal particles can be reliably filled by plating.
上記金属層が、上記第2導電層の一方の面側に電気メッキにより形成される第3導電層をさらに有するとよい。このように、上記金属層が、上記第2導電層の一方の面側に電気メッキにより形成される第3導電層をさらに有することにより、金属層を容易かつ高精度にさらに厚くすることができる。 The metal layer may further include a third conductive layer formed by electroplating on one surface side of the second conductive layer. Thus, when the metal layer further includes the third conductive layer formed by electroplating on one surface side of the second conductive layer, the metal layer can be further thickened easily and with high accuracy. .
また、本発明の別の態様に係るプリント配線板は、導電パターンを有するプリント配線板であって、上記導電パターンが、上記プリント配線板用基板の金属層にサブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いることで形成されている。 Moreover, the printed wiring board which concerns on another aspect of this invention is a printed wiring board which has a conductive pattern, Comprising: The said conductive pattern uses a subtractive method or a semiadditive method for the metal layer of the said board | substrate for printed wiring boards. It is formed by that.
当該プリント配線板は、導電パターンが、上記プリント配線板用基板の金属層にサブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いることで形成されていることによって、安価であり、かつ導電パターンが精細かつベースフィルムから剥離し難い。 The printed wiring board is inexpensive because the conductive pattern is formed on the metal layer of the printed wiring board substrate by using a subtractive method or a semi-additive method, and the conductive pattern is fine and has a base film. Difficult to peel from.
また、本発明のさらに別の態様に係るプリント配線板用基板の製造方法は、絶縁性を有するベースフィルムの少なくとも一方の面側に金属粒子を含む導電性インクを塗布及び焼成する工程と、上記導電性インクの塗布及び焼成後、一方の面側にパラジウムを触媒として無電解メッキを施す工程と、上記無電解メッキ工程後、熱処理する工程とを備え、上記熱処理工程で上記パラジウムを分散する。 Moreover, the method for manufacturing a printed wiring board substrate according to still another aspect of the present invention includes a step of applying and baking a conductive ink containing metal particles on at least one surface side of an insulating base film; After the conductive ink is applied and baked, the method includes a step of performing electroless plating on one side using palladium as a catalyst, and a step of performing a heat treatment after the electroless plating step, wherein the palladium is dispersed in the heat treatment step.
当該プリント配線板用基板の製造方法は、金属粒子を含む導電性インクを塗布及び焼成する工程を備えることによって、ベースフィルムの表面に薄い導電性の被膜を容易に形成できるので、これをベースとして容易に金属層を形成できる。また、当該プリント配線板用基板の製造方法は、パラジウムを触媒として無電解メッキを施す工程を備えるので、金属粒子を焼成して形成した層の隙間を金属で埋めることができ、金属層を緻密化して、ベースフィルムに対する接合を強化できる。さらに、当該プリント配線板用基板の製造方法は、上記パラジウムを分散する熱処理工程を備えることによって、ベースフィルムと金属層との間から密着性を低下させ得るパラジウムを排除するので、ベースフィルムと金属層との剥離強度が大きいプリント配線板用基板を製造できる。また、当該プリント配線板用基板の製造方法は、真空設備が不要であり、安価にプリント配線板用基板を製造できる。 The printed wiring board manufacturing method can easily form a thin conductive film on the surface of the base film by applying and baking a conductive ink containing metal particles. A metal layer can be formed easily. In addition, since the method for manufacturing a printed wiring board substrate includes a step of performing electroless plating using palladium as a catalyst, gaps between layers formed by firing metal particles can be filled with metal, and the metal layer can be densely formed. To strengthen the bonding to the base film. Furthermore, since the manufacturing method of the printed wiring board substrate includes a heat treatment step for dispersing the palladium, the palladium that can lower the adhesion from between the base film and the metal layer is excluded. A printed wiring board substrate having a high peel strength from the layer can be produced. Moreover, the manufacturing method of the said printed wiring board board | substrate does not require a vacuum installation, and can manufacture the printed wiring board board | substrate cheaply.
ここで、「EDX」とは、エネルギー分散型X線分析(Energy Dispersive X−ray Spectrometry)の略である。「平均粒子径」とは、レーザー回折法により測定される粒度分布において体積積算値50%となる粒径を意味し、例えば日機装株式会社のマイクロトラック粒度分布計「UPA−150EX」で測定することができる。 Here, “EDX” is an abbreviation for Energy Dispersive X-ray Spectrometry. The “average particle size” means a particle size at which the volume integrated value is 50% in the particle size distribution measured by the laser diffraction method. For example, it is measured with a Nikkiso Co., Ltd. Microtrac particle size distribution analyzer “UPA-150EX”. Can do.
[本発明の実施形態の詳細]
以下、本発明の実施形態に係るプリント配線板用基板、プリント配線板及びプリント配線板用基板の製造方法を図面を参照しつつ説明する。
[Details of the embodiment of the present invention]
Hereinafter, a printed wiring board substrate, a printed wiring board, and a method for manufacturing a printed wiring board substrate according to embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
〔プリント配線板用基板〕
図1及び図2の当該プリント配線板用基板は、絶縁性を有するベースフィルム1と、このベースフィルム1の少なくとも一方の面側に積層される金属層2とを備える。
[PCB board]
The printed wiring board substrate of FIGS. 1 and 2 includes an insulating
<ベースフィルム>
ベースフィルム1は、当該プリント配線板用基板の基材となるシート状の部材である。このベースフィルム1は、当該プリント配線板用基板を用いて形成されるプリント配線板において、導電パターンを支持する基材となる。
<Base film>
The
また、ベースフィルム1は、その中にパラジウムが分散して存在する分散部分3を有する。図3は、図2と同じ断面領域のパラジウムの含有率をEDXにより定量してマッピングしたものである。なお、パラジウムが「分散して存在する」とは、EDXによる定量で有意なパラジウムが検出されない領域、好ましくはパラジウム含有率が1質量%未満である領域に描き得る真円の直径が20nm以下であることをいう。つまり、ベースフィルム1は、分散部分3でEDXによる定量で含有率が1質量%以上となるようパラジウムが存在することが好ましい。
The
ベースフィルム1の材料としては、例えばポリイミド、液晶ポリマー、フッ素樹脂、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等の可撓性を有する樹脂、紙フェノール、紙エポキシ、ガラスコンポジット、ガラスエポキシ、テフロン(登録商標)、ガラス基材等のリジッド材、硬質材料と軟質材料とを複合したリジッドフレキシブル材を用いることが可能である。これらの中でも、金属層2の表面に形成される金属酸化物等との結合力が大きいことから、ポリイミドが特に好ましい。
As a material of the
ベースフィルム1の厚さは、当該プリント配線板用基板を利用するプリント配線板によって設定されるものであり特に限定されないが、例えばベースフィルム1の平均厚さの下限としては、5μmが好ましく、12μmがより好ましい。一方、ベースフィルム1の平均厚さの上限としては、2mmが好ましく、1.6mmがより好ましい。ベースフィルム1の平均厚さが上記下限に満たない場合、ベースフィルム1の強度が不十分となるおそれがある。逆に、ベースフィルム1の平均厚さが上記上限を超える場合、プリント配線板の薄板化が困難となるおそれがある。
The thickness of the
上記ベースフィルム1には、金属層2を積層する側の表面に親水化処理を施すことが好ましい。上記親水化処理として、例えばプラズマを照射して表面を親水化するプラズマ処理や、アルカリ溶液で表面を親水化するアルカリ処理等を採用することができる。ベースフィルム1に親水化処理を施すことにより、導電性インクのベースフィルム1に対する表面張力が小さくなるので、導電性インクをベースフィルム1に均一に塗り易くなる。
The
(分散部分)
分散部分3は、ベースフィルム1の表面からベースフィルム1の内部にパラジウムが導入及び分散されて形成される。この分散部分3は、ベースフィルム1の金属層2との界面からパラジウムが略均等に導入及び分散され、金属層2との界面を基端として厚さ方向にベースフィルム1の一部又は全部を占めるよう、略一定の厚さを有する層状に形成されることが好ましい。つまり、分散部分3は、ベースフィルム1の金属層2との界面から一定の深さまでの領域を含むことが好ましい。
(Distributed part)
The dispersion portion 3 is formed by introducing and dispersing palladium from the surface of the
この分散部分3の金属層2との界面からの平均深さの下限としては、500nmが好ましく、1μmがより好ましい。一方、上記分散部分3の平均深さの上限としては、100μmが好ましく、10μmがより好ましい。上記分散部分3の平均深さが上記下限に満たない場合、パラジウムの分散によるベースフィルム1と金属層2との剥離強度向上効果が不十分となるおそれがある。上記分散部分3の平均深さが上記上限を超える場合、パラジウムを分散させるためのコスト、ひいては当該プリント配線板用基板の製造コストが不必要に増大するおそれがある。
The lower limit of the average depth from the interface between the dispersed portion 3 and the
ベースフィルム1における金属層2との界面から厚さ方向に1μm以下の領域La(以下A層という)のパラジウム含有率の下限としては、EDXによる定量で3質量%が好ましく、5質量%がより好ましく、10質量%がさらに好ましい。一方、上記A層Laのパラジウム含有率の上限としては、40質量%が好ましく、25質量%がより好ましく、15質量%がさらに好ましい。A層Laのパラジウム含有率が上記下限に満たない場合、パラジウムの分散によるベースフィルム1と金属層2との剥離強度向上効果が不十分となるおそれがある。一方、A層Laのパラジウム含有率が上記上限を超える場合、ベースフィルム1の強度が不十分となるおそれがある。
The lower limit of the palladium content in the region La (hereinafter referred to as “A layer”) of 1 μm or less in the thickness direction from the interface with the
また、上記A層Laのパラジウム含有率は、金属層2におけるベースフィルム1との界面から厚さ方向に500nm以下の領域Lb(以下B層という)のパラジウム含有率より大きいことが好ましい。上記A層Laのパラジウム含有率が上記B層Lbのパラジウム含有率未満の場合、パラジウムの分散によるベースフィルム1と金属層2との剥離強度向上効果が不十分となるおそれがある。
The palladium content of the A layer La is preferably larger than the palladium content of the region Lb (hereinafter referred to as B layer) of 500 nm or less in the thickness direction from the interface with the
ベースフィルム1における金属層2との界面から厚さ方向に1μmの位置でのパラジウム含有率に対する500nmの位置でのパラジウム含有率の比の下限としては、0.7が好ましく、0.8がより好ましい。一方、上記パラジウム含有率の比の上限としては、1.1が好ましく、1がより好ましい。上記パラジウム含有率の比が上記下限に満たない場合、ベースフィルム1内でのパラジウムの含有率の勾配が大きく、ベースフィルム1と金属層2との剥離強度の向上効果が不十分となるおそれがある。逆に、上記パラジウム含有率の比が上記上限を超える場合、ベースフィルムの深部に多くパラジウムを分散させることになるので、製造コストが不必要に大きくなるおそれがある。
The lower limit of the ratio of the palladium content at the position of 500 nm to the palladium content at the position of 1 μm from the interface with the
<金属層>
金属層2は、金属粒子を含む導電性インクの塗布及び焼成により形成される第1導電層4と、この第1導電層4の一方の面側(ベースフィルム1と反対側)に無電解メッキにより形成される第2導電層5と、この第2導電層5の一方の面側(ベースフィルム1と反対側)に電気メッキにより形成される第3導電層6とを有する。
<Metal layer>
The
金属層2の厚さは、当該プリント配線板用基板を用いてどのようなプリント回路を作成するかによって定められる。金属層2の平均厚さの下限としては、特に限定されないが、1μmが好ましく、2μmがより好ましい。一方、金属層2の平均厚さの上限としては、特に限定されないが、100μmが好ましく、50μmがより好ましい。金属層2の平均厚さが上記下限に満たない場合、金属層2が損傷し易くなるおそれがある。逆に、金属層2の平均厚さが上記上限を超える場合、プリント配線板の薄板化が困難となるおそれがある。
The thickness of the
金属層2の上記B層Lbのパラジウム含有率の下限としては、EDXによる定量で1質量%が好ましく、3質量%がより好ましく、5質量%がさらに好ましい。一方、B層Lbのパラジウム含有率の上限としては、20質量%が好ましく、15質量%がより好ましく、10質量%がさらに好ましい。B層Lbのパラジウム含有率が上記下限に満たない場合、パラジウムの分散によるベースフィルム1と金属層2との剥離強度向上効果が不十分となるおそれがある。一方、B層Lbのパラジウム含有率が上記上限を超える場合、ベースフィルム1の強度が不十分となるおそれがある。
The lower limit of the palladium content of the B layer Lb of the
(第1導電層)
上記第1導電層4は、金属粒子を含む導電性インクの塗布及び焼成により、ベースフィルム1の一方の面に積層されている。当該プリント配線板用基板では、導電性インクの塗布及び焼成により第1導電層4を形成するので、ベースフィルム1の一方の面を容易に導電性の皮膜で覆うことができる。なお、導電性インク中の不要な有機物等を除去して金属粒子を確実にベースフィルム1の一方の面に固着させるため、第1導電層4は導電性インクの塗布後に焼成されることにより形成される。
(First conductive layer)
The first conductive layer 4 is laminated on one surface of the
《導電性インク》
上記第1導電層4を形成する導電性インクは、導電性をもたらす導電性物質として金属粒子を含んでいる。本実施形態では、導電性インクとして、金属粒子と、その金属粒子を分散させる分散剤と、分散媒とを含むものを用いる。このような導電性インクを用いて塗布することで、微細な金属粒子による第1導電層4がベースフィルム1の一方の面に積層される。
<Conductive ink>
The conductive ink forming the first conductive layer 4 contains metal particles as a conductive substance that provides conductivity. In this embodiment, the conductive ink includes metal particles, a dispersant that disperses the metal particles, and a dispersion medium. By applying using such conductive ink, the first conductive layer 4 made of fine metal particles is laminated on one surface of the
上記導電性インクに含まれる金属粒子を構成する金属は、特に限定されるものではないが、第1導電層4とベースフィルム1との間の密着力向上の観点より、その金属に基づく金属酸化物又はその金属酸化物に由来する基並びにその金属に基づく金属水酸化物又はその金属水酸化物に由来する基が生成されるものであるものが好ましく、例えば銅、ニッケル、アルミニウム、金又は銀を用いることができる。この中でも、導電性がよく、ベースフィルム1との密着性に優れる金属として、銅が好ましく用いられる。
Although the metal which comprises the metal particle contained in the said conductive ink is not specifically limited, From a viewpoint of the adhesive force improvement between the 1st conductive layer 4 and the
上記導電性インクに含まれる金属粒子の平均粒子径の下限としては、1nmが好ましく、30nmがより好ましい。一方、上記金属粒子の平均粒子径の上限としては、500nmが好ましく、100nmがより好ましい。上記金属粒子の平均粒子径が上記下限に満たない場合、導電性インク中での金属粒子の分散性及び安定性が低下するおそれがある。逆に、上記金属粒子の平均粒子径が上記上限を超える場合、金属粒子が沈殿し易くなるおそれや、導電性インクを塗布した際に金属粒子の密度が均一になり難くなるおそれがある。 The lower limit of the average particle diameter of the metal particles contained in the conductive ink is preferably 1 nm, and more preferably 30 nm. On the other hand, the upper limit of the average particle diameter of the metal particles is preferably 500 nm, and more preferably 100 nm. When the average particle diameter of the metal particles is less than the lower limit, the dispersibility and stability of the metal particles in the conductive ink may be reduced. Conversely, when the average particle diameter of the metal particles exceeds the upper limit, the metal particles may be easily precipitated, or the density of the metal particles may not be uniform when the conductive ink is applied.
上記第1導電層4の平均厚さの下限としては、0.05μmが好ましく、0.1μmがより好ましい。一方、上記第1導電層4の平均厚さの上限としては、2μmが好ましく、1.5μmがより好ましい。上記第1導電層4の平均厚さが上記下限に満たない場合、第1導電層4に切れ目が生じて導電性が低下するおそれがある。逆に、上記第1導電層4の平均厚さが上記上限を超える場合、金属層2の薄膜化が困難となるおそれや、第1導電層4の空孔に後述する第2導電層5形成時に金属を充填できず、第1導電層4ひいては金属層2の導電性及び強度が不十分となるおそれがある。
The lower limit of the average thickness of the first conductive layer 4 is preferably 0.05 μm, and more preferably 0.1 μm. On the other hand, the upper limit of the average thickness of the first conductive layer 4 is preferably 2 μm, and more preferably 1.5 μm. When the average thickness of the first conductive layer 4 is less than the lower limit, the first conductive layer 4 may be cut and the conductivity may be lowered. On the other hand, if the average thickness of the first conductive layer 4 exceeds the upper limit, it may be difficult to reduce the thickness of the
(第2導電層)
上記第2導電層5は、無電解メッキにより第1導電層4の表面、つまりベースフィルム1と反対側の面に積層されている。このように上記第2導電層5が無電解メッキにより形成されているので、第1導電層4を形成する金属粒子間の空隙には第2導電層5の金属が充填されている。第1導電層4に空隙が残存していると、この空隙部分が破壊起点となって第1導電層4がベースフィルム1から剥離し易くなるが、この空隙部分に第2導電層5を構成する金属が充填されていることにより第1導電層4の剥離が防止される。
(Second conductive layer)
The second
上記無電解メッキに用いる金属として、導通性のよい銅、ニッケル、銀等を用いることができるが、第1導電層4を形成する金属粒子に銅を使用する場合には、第1導電層4との密着性を考慮して、銅又はニッケルを用いることが好ましい。なお、無電解メッキに用いるメッキ液は、ニッケル以外の金属を無電解メッキに用いる場合、メッキ金属に加えてニッケル又はニッケル化合物を含有させたものを用いることが好ましい。 As the metal used for the electroless plating, copper, nickel, silver or the like having good conductivity can be used. When copper is used for the metal particles forming the first conductive layer 4, the first conductive layer 4 is used. It is preferable to use copper or nickel in consideration of the adhesion to the substrate. In addition, when using metals other than nickel for electroless plating, it is preferable to use the plating solution used for electroless plating which contained nickel or the nickel compound in addition to the plating metal.
無電解メッキにより形成する第2導電層5の平均厚さの下限としては、0.2μmが好ましく、0.3μmがより好ましい。一方、上記無電解メッキにより形成する第2導電層5の平均厚さの上限としては、1μmが好ましく、0.5μmがより好ましい。上記無電解メッキにより形成する第2導電層5の平均厚さが上記下限に満たない場合、第2導電層5が第1導電層4の空隙部分に十分に充填されず導電性が低下するおそれがある。逆に、上記無電解メッキにより形成する第2導電層5の平均厚さが上記上限を超える場合、無電解メッキに要する時間が長くなり生産性が低下するおそれがある。
The lower limit of the average thickness of the second
(第3導電層)
第3導電層6は、無電解メッキにより形成される上記第2導電層5の表面に、電気メッキにより積層して形成される。このように、第2導電層5の表面に電気メッキにより形成される第3導電層6を積層することによって、金属層2の厚さの調整が容易かつ正確に行え、また比較的短時間でプリント配線板を形成するのに必要な厚さの金属層を形成することができる。
(Third conductive layer)
The third
この第3導電層6を形成する電気メッキに用いる金属として、導通性のよい銅、ニッケル、銀等を用いることができる。
As a metal used for electroplating for forming the third
また、第3導電層6の厚さは、必要とされる金属層2全体の厚さに応じて定められる。
The thickness of the third
〔プリント配線板用基板の製造方法〕
図4のプリント配線板用基板の製造方法は、図1のプリント配線板用基板を製造する方法である。
[Method of manufacturing printed circuit board]
The method for manufacturing the printed wiring board substrate in FIG. 4 is a method for manufacturing the printed wiring board substrate in FIG. 1.
当該プリント配線板用基板の製造方法は、金属粒子を含む導電性インクを調製する工程(ステップS1:導電性インク調製工程)と、絶縁性を有するベースフィルム1の一方の面側への上記導電性インクの塗布及び焼成により第1導電層4を形成する工程(ステップS2:導電性インク塗布焼成工程)と、この第1導電層形成工程後に、第1導電層4の一方の面側にパラジウムを触媒として無電解メッキを施すことにより、第1導電層4の表面及び第1導電層4の内部の空孔に金属を析出させることにより第2導電層を形成する工程(ステップS3:無電解メッキ工程)と、この無電解メッキ工程後に、熱処理によりベースフィルム1中にパラジウムを分散させる工程(ステップS4:熱処理工程)と、この熱処理工程後に第2導電層5のベースフィルム1と反対側の面に電気メッキによって第3導電層6を形成する工程(ステップS5:電気メッキ工程)とを備える。
The printed wiring board substrate manufacturing method includes a step of preparing a conductive ink containing metal particles (step S1: conductive ink preparation step) and the above-described conduction to one surface side of the
<調製工程>
ステップS1の調製工程では、分散媒に分散剤を溶解し、上述の金属粒子を分散媒中に分散させる。つまり、分散剤が金属粒子を取り囲むことで凝集を防止して金属粒子を分散媒中に良好に分散させる。なお、分散剤は、水又は水溶性有機溶媒に溶解した溶液の状態で反応系に添加することもできる。
<Preparation process>
In the preparation step of Step S1, a dispersant is dissolved in a dispersion medium, and the above-described metal particles are dispersed in the dispersion medium. That is, the dispersing agent surrounds the metal particles to prevent aggregation and to disperse the metal particles well in the dispersion medium. The dispersant can also be added to the reaction system in the form of a solution dissolved in water or a water-soluble organic solvent.
(金属粒子の製造方法)
ここで、導電性インクに分散させる金属粒子の製造方法について説明する。上記金属粒子は、高温処理法、液相還元法、気相法等で製造することができるが、粒子径が均一な粒子を比較的安価に製造できる液相還元法によることが好ましい。
(Method for producing metal particles)
Here, a method for producing metal particles dispersed in the conductive ink will be described. The metal particles can be produced by a high-temperature treatment method, a liquid phase reduction method, a gas phase method, or the like, but preferably by a liquid phase reduction method that can produce particles having a uniform particle diameter at a relatively low cost.
液相還元法によって上記金属粒子を製造するためには、例えば水に金属粒子を形成する金属のイオンのもとになる水溶性の金属化合物と分散剤とを溶解すると共に、還元剤を加えて一定時間金属イオンを還元反応させればよい。液相還元法の場合、製造される金属粒子は形状が球状又は粒状で揃っており、しかも微細な粒子とすることができる。上記金属イオンのもとになる水溶性の金属化合物として、例えば銅の場合は、硝酸銅(II)(Cu(NO3)2)、硫酸銅(II)五水和物(CuSO4・5H2O)等を挙げることができる。また銀の場合は硝酸銀(I)(AgNO3)、メタンスルホン酸銀(CH3SO3Ag)等、金の場合はテトラクロロ金(III)酸四水和物(HAuCl4・4H2O)、ニッケルの場合は塩化ニッケル(II)六水和物(NiCl2・6H2O)、硝酸ニッケル(II)六水和物(Ni(NO3)2・6H2O)等を挙げることができる。他の金属粒子についても、塩化物、硝酸化合物、硫酸化合物等の水溶性の化合物を用いることができる。 In order to produce the above metal particles by the liquid phase reduction method, for example, a water-soluble metal compound that is a source of metal ions that form metal particles in water and a dispersant are dissolved, and a reducing agent is added. What is necessary is just to make a metal ion reduce-react for a fixed time. In the case of the liquid phase reduction method, the metal particles to be produced have a spherical or granular shape and can be made into fine particles. For example, in the case of copper, copper (II) nitrate (Cu (NO 3 ) 2 ), copper (II) sulfate pentahydrate (CuSO 4 .5H 2 ) as the water-soluble metal compound that is the basis of the metal ions. O) and the like. In the case of silver, silver nitrate (I) (AgNO 3 ), silver methanesulfonate (CH 3 SO 3 Ag), etc. In the case of gold, tetrachloroauric (III) acid tetrahydrate (HAuCl 4 .4H 2 O) In the case of nickel, nickel chloride (II) hexahydrate (NiCl 2 · 6H 2 O), nickel nitrate (II) hexahydrate (Ni (NO 3 ) 2 · 6H 2 O) and the like can be mentioned. . For other metal particles, water-soluble compounds such as chlorides, nitric acid compounds and sulfuric acid compounds can be used.
液相還元法によって金属粒子を製造する場合の還元剤としては、液相(水溶液)の反応系において、金属イオンを還元及び析出させることができる種々の還元剤を用いることができる。この還元剤として、例えば水素化ホウ素ナトリウム、次亜リン酸ナトリウム、ヒドラジン、3価のチタンイオンや2価のコバルトイオン等の遷移金属のイオン、アスコルビン酸、グルコースやフルクトース等の還元性糖類、エチレングリコールやグリセリン等の多価アルコールなどを挙げることができる。このうち、3価のチタンイオンが4価に酸化する際の酸化還元作用によって金属イオンを還元し、金属粒子を析出させる方法がチタンレドックス法である。チタンレドックス法で得られる金属粒子は、粒子径が小さくかつ揃っており、さらにチタンレドックス法は金属粒子の形状を球形又は粒状にすることができる。そのため、チタンレドックス法を用いることで、金属粒子がより高密度に充填され、上記第1導電層4をより緻密な層に形成することができる。 As a reducing agent when producing metal particles by a liquid phase reduction method, various reducing agents capable of reducing and precipitating metal ions in a liquid phase (aqueous solution) reaction system can be used. Examples of the reducing agent include sodium borohydride, sodium hypophosphite, hydrazine, transition metal ions such as trivalent titanium ions and divalent cobalt ions, reducing sugars such as ascorbic acid, glucose and fructose, ethylene Examples thereof include polyhydric alcohols such as glycol and glycerin. Among these, the titanium redox method is a method in which metal ions are reduced by a redox action when trivalent titanium ions are oxidized to tetravalent and metal particles are precipitated. The metal particles obtained by the titanium redox method have small and uniform particle diameters, and the titanium redox method can make the shape of the metal particles spherical or granular. Therefore, by using the titanium redox method, the metal particles are filled with higher density, and the first conductive layer 4 can be formed in a denser layer.
金属粒子の粒子径を調整するには、金属化合物、分散剤、還元剤の種類及び配合割合を調整すると共に、金属化合物を還元反応させる際に、攪拌速度、温度、時間、pH等を調整すればよい。例えば反応系のpHは、微小な粒子径の金属粒子を得るには、7以上13以下とすることが好ましい。このときpH調整剤を用いることで、反応系のpHを上記範囲に調整することができる。このpH調整剤としては、塩酸、硫酸、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム等の一般的な酸又はアルカリが使用されるが、特に周辺部材の劣化を防止するために、アルカリ金属やアルカリ土類金属、塩素等のハロゲン元素、硫黄、リン、ホウ素等の不純物元素を含まない硝酸やアンモニアが好ましい。 To adjust the particle size of the metal particles, adjust the type and blending ratio of the metal compound, dispersant, and reducing agent, and adjust the stirring speed, temperature, time, pH, etc. when reducing the metal compound. That's fine. For example, the pH of the reaction system is preferably 7 or more and 13 or less in order to obtain metal particles having a minute particle diameter. At this time, the pH of the reaction system can be adjusted to the above range by using a pH adjuster. As this pH adjuster, a general acid or alkali such as hydrochloric acid, sulfuric acid, sodium hydroxide, sodium carbonate or the like is used. In particular, in order to prevent deterioration of peripheral members, alkali metal or alkaline earth metal, Nitric acid and ammonia which do not contain halogen elements such as chlorine and impurity elements such as sulfur, phosphorus and boron are preferable.
なお、液相還元法で金属粒子を製造する場合、液相(水溶液)の反応系で析出させた金属粒子は、ろ別、洗浄、乾燥、解砕等の工程を経て、一旦粉末状としたものを用いて導電性インクを調整することができる。この場合は、粉末状の金属粒子と、分散媒である水と、分散剤と、必要に応じて水溶性の有機溶媒とを所定の割合で配合し、金属粒子を含む導電性インクとすることができる。このとき、金属粒子を析出させた液相(水溶液)を出発原料として導電性インクを調整することが好ましい。具体的には、析出した金属粒子を含む液相(水溶液)を限外ろ過、遠心分離、水洗、電気透析等の処理に供して不純物を除去し、必要に応じて濃縮して水を除去する。又は、逆に水を加えて金属粒子の濃度を調整した後、さらに必要に応じて水溶性の有機溶媒を所定の割合で配合することによって金属粒子を含む導電性インクを調整する。この方法では、金属粒子の乾燥時の凝集による粗大で不定形な粒子の発生を防止することができ、緻密で均一な第1導電層4を形成し易い。 In addition, when producing metal particles by the liquid phase reduction method, the metal particles deposited in the liquid phase (aqueous solution) reaction system are once powdered through steps such as filtration, washing, drying, and crushing. The conductive ink can be adjusted by using one. In this case, a powdered metal particle, water as a dispersion medium, a dispersant, and, if necessary, a water-soluble organic solvent are blended in a predetermined ratio to obtain a conductive ink containing metal particles. Can do. At this time, it is preferable to adjust the conductive ink using a liquid phase (aqueous solution) in which metal particles are deposited as a starting material. Specifically, the liquid phase (aqueous solution) containing the precipitated metal particles is subjected to treatment such as ultrafiltration, centrifugation, washing with water, and electrodialysis to remove impurities, and if necessary, concentrated to remove water. . Or conversely, after adding water and adjusting the density | concentration of a metal particle, the electroconductive ink containing a metal particle is adjusted by mix | blending a water-soluble organic solvent in a predetermined | prescribed ratio further as needed. In this method, generation of coarse and irregular particles due to agglomeration of metal particles during drying can be prevented, and the dense and uniform first conductive layer 4 can be easily formed.
(分散媒)
上記導電性インクの分散媒としては、水、高極性溶媒、又はこれらの2種若しくは3種以上を混合したものを使用することができ、中でも水を主成分とし、水と相溶する高極性溶媒を混合したものが好適に使用される。
(Dispersion medium)
As a dispersion medium for the conductive ink, water, a highly polar solvent, or a mixture of two or more of these can be used. What mixed the solvent is used suitably.
導電性インクにおける分散媒の主成分となる水の含有割合の下限としては、金属粒子100質量部当たり20質量部が好ましく、50質量部がより好ましい。一方、導電性インクにおける分散媒の主成分となる水の含有割合の上限としては、金属粒子100質量部当たり1,900質量部が好ましく、1,000質量部がより好ましい。分散媒の水は、分散剤を十分に膨潤させて分散剤で囲まれた金属粒子を良好に分散させるが、上記水の含有割合が上記下限に満たない場合、水によるこの分散剤の膨潤効果が不十分となるおそれがある。逆に、上記水の含有割合が上記上限を超える場合、導電性インク中の金属粒子割合が少なくなり、ベースフィルム1の表面に必要な厚さと密度とを有する良好な第1導電層4を形成できないおそれがある。
As a minimum of the content rate of the water used as the main component of the dispersion medium in electroconductive ink, 20 mass parts is preferable per 100 mass parts of metal particles, and 50 mass parts is more preferable. On the other hand, the upper limit of the content ratio of water that is the main component of the dispersion medium in the conductive ink is preferably 1,900 parts by weight, more preferably 1,000 parts by weight per 100 parts by weight of the metal particles. The water of the dispersion medium sufficiently swells the dispersing agent to disperse the metal particles surrounded by the dispersing agent well, but when the content ratio of the water is less than the lower limit, the swelling effect of the dispersing agent by water May become insufficient. On the other hand, when the content ratio of the water exceeds the upper limit, the metal particle ratio in the conductive ink is reduced, and a good first conductive layer 4 having the necessary thickness and density is formed on the surface of the
上記導電性インクに必要に応じて配合する有機溶媒として、水溶性である種々の有機溶媒が使用可能である。その具体例としては、メチルアルコール、エチルアルコール、n−プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、n−ブチルアルコール、イソブチルアルコール、sec−ブチルアルコール、tert−ブチルアルコール等のアルコール類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類、エチレングリコール、グリセリン等の多価アルコールやその他のエステル類、エチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等のグリコールエーテル類等を挙げることができる。 Various organic solvents that are water-soluble can be used as the organic solvent blended into the conductive ink as necessary. Specific examples thereof include alcohols such as methyl alcohol, ethyl alcohol, n-propyl alcohol, isopropyl alcohol, n-butyl alcohol, isobutyl alcohol, sec-butyl alcohol and tert-butyl alcohol, ketones such as acetone and methyl ethyl ketone, Examples thereof include polyhydric alcohols such as ethylene glycol and glycerin and other esters, and glycol ethers such as ethylene glycol monoethyl ether and diethylene glycol monobutyl ether.
水溶性の有機溶媒の含有割合の下限としては、金属粒子100質量部当たり30質量部が好ましく、80質量部がより好ましい。一方、水溶性の有機溶媒の含有割合の上限としては、金属粒子100質量部当たり900質量部が好ましく、500質量部がより好ましい。上記水溶性の有機溶媒の含有割合が上記下限に満たない場合、上記有機溶媒による分散液の粘度調整及び蒸気圧調整の効果が十分に得られないおそれがある。逆に、上記水溶性の有機溶媒の含有割合が上記上限を超える場合、水による分散剤の膨潤効果が不十分となり、導電性インク中で金属粒子の凝集が生じるおそれがある。 As a minimum of the content rate of a water-soluble organic solvent, 30 mass parts is preferable per 100 mass parts of metal particles, and 80 mass parts is more preferable. On the other hand, as an upper limit of the content rate of a water-soluble organic solvent, 900 mass parts is preferable per 100 mass parts of metal particles, and 500 mass parts is more preferable. When the content ratio of the water-soluble organic solvent is less than the lower limit, the effects of adjusting the viscosity and vapor pressure of the dispersion with the organic solvent may not be sufficiently obtained. On the other hand, when the content ratio of the water-soluble organic solvent exceeds the upper limit, the swelling effect of the dispersant due to water becomes insufficient, and the metal particles may be aggregated in the conductive ink.
(分散剤)
上記導電性インクに含まれる分散剤としては、当該プリント配線板用基板の劣化防止の観点より、硫黄、リン、ホウ素、ハロゲン及びアルカリを含まないものが好ましい。このような好ましい分散剤としては、ポリエチレンイミン、ポリビニルピロリドン等のアミン系の高分子分散剤、ポリアクリル酸、カルボキシメチルセルロース等の分子中にカルボン酸基を有する炭化水素系の高分子分散剤、ポバール(ポリビニルアルコール)、スチレン−マレイン酸共重合体、オレフィン−マレイン酸共重合体、1分子中にポリエチレンイミン部分とポリエチレンオキサイド部分とを有する共重合体等の極性基を有する高分子分散剤等を挙げることができる。
(Dispersant)
The dispersant contained in the conductive ink is preferably one that does not contain sulfur, phosphorus, boron, halogen, and alkali from the viewpoint of preventing deterioration of the printed wiring board substrate. Such preferred dispersants include amine-based polymer dispersants such as polyethyleneimine and polyvinylpyrrolidone, hydrocarbon-based polymer dispersants having a carboxylic acid group in the molecule such as polyacrylic acid and carboxymethylcellulose, and poval. (Polyvinyl alcohol), styrene-maleic acid copolymer, olefin-maleic acid copolymer, polymer dispersant having a polar group such as a copolymer having a polyethyleneimine moiety and a polyethylene oxide moiety in one molecule, etc. Can be mentioned.
上記分散剤の分子量の下限としては、2,000が好ましく、5,000がより好ましい。一方、上記分散剤の分子量の上限としては、300,000が好ましく、100,000がより好ましい。上記分散剤の分子量が上記下限に満たない場合、金属粒子の凝集を防止して分散を維持する効果が十分に得られないおそれがあり、その結果、ベースフィルム1に積層される第1導電層4を緻密で欠陥の少ないものにできないおそれがある。逆に、上記分散剤の分子量が上記上限を超える場合、分散剤の嵩が大きすぎ、導電性インクの塗工後に行う熱処理において、金属粒子同士の焼結を阻害してボイドを生じさせたりして第1導電層4の膜質の緻密さが低下するおそれや、分散剤の分解残渣が導電性を低下させるおそれがある。
The lower limit of the molecular weight of the dispersant is preferably 2,000, and more preferably 5,000. On the other hand, the upper limit of the molecular weight of the dispersant is preferably 300,000, more preferably 100,000. If the molecular weight of the dispersant is less than the lower limit, the effect of preventing the aggregation of metal particles and maintaining the dispersion may not be sufficiently obtained. As a result, the first conductive layer laminated on the
導電性インクにおける分散剤の含有割合の下限としては、金属粒子100質量部当たり1質量部が好ましく、5質量部がより好ましい。一方、導電性インクにおける分散剤の含有割合の上限としては、金属粒子100質量部当たり60質量部が好ましく、40質量部がより好ましい。上記分散剤の含有割合が上記下限に満たない場合、この凝集防止効果が不十分となるおそれがある。逆に、上記分散剤の含有割合が上記上限を超える場合、導電性インクの塗装後の熱処理時に、過剰の分散剤が金属粒子の焼結を含む焼成を阻害してボイドが発生するおそれや、高分子分散剤の分解残渣が不純物として第1導電層4中に残存して導電性を低下させるおそれがある。 As a minimum of a content rate of a dispersing agent in conductive ink, 1 mass part is preferred per 100 mass parts of metal particles, and 5 mass parts is more preferred. On the other hand, the upper limit of the content ratio of the dispersant in the conductive ink is preferably 60 parts by mass and more preferably 40 parts by mass per 100 parts by mass of the metal particles. When the content ratio of the dispersant is less than the lower limit, the aggregation preventing effect may be insufficient. On the contrary, when the content ratio of the dispersant exceeds the upper limit, during the heat treatment after coating the conductive ink, excessive dispersant may inhibit firing including sintering of metal particles, and voids may be generated, There is a possibility that the decomposition residue of the polymer dispersant remains as an impurity in the first conductive layer 4 to lower the conductivity.
<導電性インク塗布焼成工程>
ステップS2の導電性インク塗布焼成工程では、ステップS1で調製した導電性インクをベースフィルム1の表面に塗布し、乾燥した後、加熱して焼成する。
<Conductive ink application firing process>
In the conductive ink coating and baking process of step S2, the conductive ink prepared in step S1 is applied to the surface of the
(導電性インクの塗布)
金属粒子を分散させた導電性インクをベースフィルム1の一方の面に塗布する方法としては、スピンコート法、スプレーコート法、バーコート法、ダイコート法、スリットコート法、ロールコート法、ディップコート法等の従来公知の塗布法を用いることができる。またスクリーン印刷、ディスペンサ等によりベースフィルム1の一方の面の一部のみに導電性インクを塗布するようにしてもよい。
(Applying conductive ink)
As a method of applying the conductive ink in which metal particles are dispersed on one surface of the
続いて、ベースフィルム1に塗布した導電性インク中の分散媒を蒸発させて、この導電性インクを乾燥する。
Subsequently, the dispersion medium in the conductive ink applied to the
導電性インクの乾燥方法としては、自然乾燥、加熱による乾燥、温風による乾燥等を適用することができる。但し、乾燥前の導電性インクにその表面を荒らすような強い風を当てないような方法とされる。 As a method for drying the conductive ink, natural drying, drying by heating, drying by warm air, or the like can be applied. However, the method is such that the conductive ink before drying is not exposed to a strong wind that roughens the surface.
さらに、乾燥した導電性インクを加熱することによって導電性インク中の分散媒を熱分解すると共に金属粒子を焼成し、第1導電層4を形成する。この焼成により、金属粒子が焼結状態又は焼結に至る前段階にあって相互に密着して固体接合したような状態となる。このため、この導電性インク塗布焼成工程後の第1導電層4は、上記金属粒子の粒子間の隙間に相当する空孔を有するものとなり得る。 Further, by heating the dried conductive ink, the dispersion medium in the conductive ink is thermally decomposed and the metal particles are baked to form the first conductive layer 4. By this firing, the metal particles are in a sintered state or a state before being sintered, and are brought into close contact with each other and solid joined. For this reason, the first conductive layer 4 after the conductive ink coating and baking step can have pores corresponding to the gaps between the metal particles.
上記焼成は、一定量の酸素が含まれる雰囲気下で行う。焼成時の雰囲気の酸素濃度の下限は、1体積ppmであり、10体積ppmがより好ましい。また、上記酸素濃度の上限としては、10,000体積ppmであり、1,000体積ppmがより好ましい。上記酸素濃度が上記下限に満たない場合、第1導電層4の界面近傍における金属酸化物の生成量が少なくなり、金属酸化物による第1導電層4とベースフィルム1との密着力の向上効果が十分に得られないおそれがある。一方、上記酸素濃度が上記上限を超える場合、金属粒子が過剰に酸化してしまい第1導電層4の導電性が低下するおそれがある。
The firing is performed in an atmosphere containing a certain amount of oxygen. The lower limit of the oxygen concentration in the atmosphere during firing is 1 ppm by volume, and more preferably 10 ppm by volume. Moreover, as an upper limit of the said oxygen concentration, it is 10,000 volume ppm, and 1,000 volume ppm is more preferable. When the oxygen concentration is less than the lower limit, the amount of metal oxide generated in the vicinity of the interface of the first conductive layer 4 is reduced, and the effect of improving the adhesion between the first conductive layer 4 and the
上記焼成の温度の下限としては、150℃が好ましく、200℃がより好ましい。また、上記焼成の温度の上限としては、500℃が好ましく、400℃がより好ましい。上記焼成の温度が上記下限未満になると、第1導電層4の界面低剥離強度近傍における金属酸化物の生成量が少なくなり、金属酸化物による第1導電層4とベースフィルム1との密着力の向上効果が十分に得られないおそれがある。一方、上記焼成の温度が上記上限を超えると、ベースフィルム1がポリイミド等の有機樹脂の場合にベースフィルム1が変形するおそれがある。
As a minimum of the temperature of the said baking, 150 degreeC is preferable and 200 degreeC is more preferable. Moreover, as an upper limit of the temperature of the said baking, 500 degreeC is preferable and 400 degreeC is more preferable. When the firing temperature is less than the lower limit, the amount of metal oxide generated in the vicinity of the low interface peel strength of the first conductive layer 4 decreases, and the adhesion between the first conductive layer 4 and the
<無電解メッキ工程>
ステップS3の無電解メッキ工程では、上記導電性インク塗布焼成工程でベースフィルム1に積層した第1導電層4にパラジウムを触媒として無電解メッキを行うことにより、第1導電層4のベースフィルム1と反対側の面に第2導電層5を形成すると共に、第1導電層4内部の空孔に金属を析出させる。
<Electroless plating process>
In the electroless plating process of step S3, the
無電解メッキ工程は、第1導電層4にパラジウムを吸着させる触媒吸着工程と、第1導電層4の積層体を無電解メッキ液に浸漬することで、第1導電層4の表面及び内部に金属を析出させる金属析出工程とを有する。なお、無電解メッキ工程は、上記触媒吸着工程及び金属層形成工程の他、例えばクリーニング工程、水洗工程、酸処理工程、水洗工程、還元工程、乾燥工程等の公知のさらなる工程を有してもよい。 In the electroless plating process, a catalyst adsorption process for adsorbing palladium on the first conductive layer 4 and a laminate of the first conductive layer 4 are immersed in an electroless plating solution, so that the surface and the inside of the first conductive layer 4 are immersed. A metal deposition step of depositing a metal. In addition to the catalyst adsorption step and the metal layer formation step, the electroless plating step may include known additional steps such as a cleaning step, a water washing step, an acid treatment step, a water washing step, a reduction step, and a drying step. Good.
(触媒吸着工程)
上記触媒吸着工程では、第1導電層4をパラジウムを含む触媒溶液に接触させることによりパラジウムイオンを吸着させ、このパラジウムイオンを金属パラジウムに還元する。この触媒溶液のパラジウム濃度としては、例えば20質量ppm以上1000質量ppm以下とすることができる。
(Catalyst adsorption process)
In the catalyst adsorption step, palladium ions are adsorbed by bringing the first conductive layer 4 into contact with a catalyst solution containing palladium, and the palladium ions are reduced to metallic palladium. As a palladium concentration of this catalyst solution, it can be 20 mass ppm or more and 1000 mass ppm or less, for example.
浸漬時の触媒溶液の温度の下限としては、浸漬時間にもよるが、30℃が好ましく、40℃がより好ましい。一方、浸漬時の触媒溶液の温度の上限としては、70℃が好ましく、60℃がより好ましい。浸漬時の触媒溶液の温度が上記下限に満たない場合、パラジウムの吸着が不十分となるおそれがある。逆に、浸漬時の触媒溶液の温度が上記上限を超える場合、パラジウム吸着量の調節が容易でなくなるおそれがある。 As a minimum of the temperature of the catalyst solution at the time of immersion, although depending on immersion time, 30 degreeC is preferable and 40 degreeC is more preferable. On the other hand, as an upper limit of the temperature of the catalyst solution at the time of immersion, 70 degreeC is preferable and 60 degreeC is more preferable. When the temperature of the catalyst solution at the time of immersion is less than the said minimum, there exists a possibility that adsorption | suction of palladium may become inadequate. On the contrary, when the temperature of the catalyst solution at the time of immersion exceeds the above upper limit, the adjustment of the palladium adsorption amount may not be easy.
触媒溶液への浸漬時間の下限としては、触媒溶液の温度にもよるが、1分が好ましく、2分がより好ましく、3分がさらに好ましい。一方、触媒溶液への浸漬時間の上限としては、10分が好ましく、7分がより好ましく、5分がさらに好ましい。触媒溶液への浸漬時間が上記下限に満たない場合、パラジウムの吸着が不十分となるおそれがある。逆に、触媒溶液への浸漬時間が上記上限を超える場合、パラジウム吸着量が多すぎて第1導電層4を緻密化できないおそれがある。 The lower limit of the immersion time in the catalyst solution depends on the temperature of the catalyst solution, but is preferably 1 minute, more preferably 2 minutes, and even more preferably 3 minutes. On the other hand, the upper limit of the immersion time in the catalyst solution is preferably 10 minutes, more preferably 7 minutes, and even more preferably 5 minutes. If the immersion time in the catalyst solution is less than the above lower limit, the adsorption of palladium may be insufficient. On the other hand, when the immersion time in the catalyst solution exceeds the above upper limit, the palladium adsorption amount is too large and the first conductive layer 4 may not be densified.
(金属析出工程)
上記金属析出工程で析出させる金属としては、上述したように、銅、ニッケル、銀等が挙げられる。例えば銅を析出させる場合、無電解メッキで用いる銅メッキ液として、微量のニッケルを含有する銅メッキ液を用いる。ニッケル又はニッケル化合物を含有させた銅メッキ液を用いることにより、低応力の第2導電層5を形成することができる。上記銅メッキ液として、例えば100モルの銅に対し0.1モル以上60モル以下のニッケルを含有するものが好ましい。また、上記銅メッキ液に、錯化剤、還元剤、pH調整剤等の他の成分を適宜配合させてもよい。
(Metal deposition process)
Examples of the metal deposited in the metal deposition step include copper, nickel, and silver as described above. For example, when copper is deposited, a copper plating solution containing a small amount of nickel is used as a copper plating solution used in electroless plating. By using a copper plating solution containing nickel or a nickel compound, the low-stress second
この無電解メッキ工程において、第1導電層4表面に金属を析出させることによって第2導電層5が形成されると同時に、第1導電層4内部の空孔内にも金属が析出することによって、第1導電層4が緻密化される。この第1導電層4の緻密化によって、第1導電層4の導電性が向上するだけでなく、ベースフィルム1に対する第1導電層4の密着面積が増加することにより、この第1導電層4ひいては金属層2のベースフィルム1からの剥離強度が増大する。
In this electroless plating step, the second
<熱処理工程>
ステップS4の熱処理工程では、金属層2のベースフィルム1との界面近傍に存在するパラジウムを、熱処理によってベースフィルム1の内部に分散させる。
<Heat treatment process>
In the heat treatment step of step S4, palladium present in the vicinity of the interface between the
この熱処理工程における処理温度の下限としては、150℃が好ましく、200℃がより好ましい。一方、熱処理工程における処理温度の上限としては、500℃が好ましく、400℃がより好ましい。熱処理工程における処理温度が上記下限に満たない場合、第1導電層4中のパラジウムをベースフィルム1内に十分に分散することができないおそれがある。逆に、熱処理工程における処理温度が上記上限を超える場合、ベースフィルム1等を損傷するおそれがある。
As a minimum of processing temperature in this heat treatment process, 150 ° C is preferred and 200 ° C is more preferred. On the other hand, the upper limit of the treatment temperature in the heat treatment step is preferably 500 ° C, more preferably 400 ° C. When the treatment temperature in the heat treatment step is less than the lower limit, palladium in the first conductive layer 4 may not be sufficiently dispersed in the
熱処理工程における熱処理時間の下限としては、15分が好ましく、30分がより好ましい。一方、熱処理工程における熱処理時間の上限としては、720分が好ましく、360分がより好ましい。熱処理工程における熱処理時間が上記下限に満たない場合、パラジウムをベースフィルム1中に十分に分散させられないおそれがある。逆に、熱処理工程における熱処理時間が上記上限を超える場合、当該プリント配線板用基板の製造コストが不必要に増大するおそれがある。
The lower limit of the heat treatment time in the heat treatment step is preferably 15 minutes, and more preferably 30 minutes. On the other hand, the upper limit of the heat treatment time in the heat treatment step is preferably 720 minutes, and more preferably 360 minutes. If the heat treatment time in the heat treatment step is less than the lower limit, palladium may not be sufficiently dispersed in the
<電気メッキ工程>
ステップS5の電気メッキ工程では、上記無電解メッキ工程において形成した第2導電層5の表面に電気メッキにより金属をさらに積層することによって、第3導電層6を形成する。このとき、上記無電解メッキ工程後に第1導電層4の内部に残る空孔及び上記熱処理工程においてパラジウムがベースフィルム内に拡散することにより形成される新たな空孔に電気メッキにより金属を充填することで第1導電層4をより緻密化し、第1導電層4のベースフィルム1からの剥離強度をさらに増大させる。つまり、金属層2内のベースフィルム1に対する密着性向上に対する寄与が小さいパラジウムをベースフィルム1内に分散させ、その代りに密着性向上に寄与する金属を電気メッキにより充填することで、金属層2の剥離強度をより大きくすることができる。また、この電気メッキ工程により、金属層2の厚さを所望の厚さまで、容易かつ確実に成長させられる。
<Electroplating process>
In the electroplating step of step S5, the third
この電気メッキ工程における電気メッキの具体的方法としては、公知の電気メッキ方法を適用することができる。 As a specific method of electroplating in this electroplating step, a known electroplating method can be applied.
〔プリント配線板〕
当該プリント配線板は、図1に示す上記プリント配線板用基板に導電パターンを形成することにより製造される。上記導電パターンは、上記プリント配線板用基板の金属層2にサブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いて形成される。
[Printed wiring board]
The printed wiring board is manufactured by forming a conductive pattern on the printed wiring board substrate shown in FIG. The conductive pattern is formed on the
〔プリント配線板の製造方法〕
当該プリント配線板は、図1のプリント配線板用基板に導電パターンを形成することにより製造される。上記導電パターンは、当該プリント配線板用基板の金属層2をベースとして、サブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いることで形成される。
[Method of manufacturing printed wiring board]
The printed wiring board is manufactured by forming a conductive pattern on the printed wiring board substrate of FIG. The conductive pattern is formed by using a subtractive method or a semi-additive method based on the
サブトラクティブ法では、当該プリント配線板用基板の一方の面に、感光性のレジストを被覆形成し、露光、現像等によりレジストに対して導電パターンに対応するパターニングを行う。続いて、パターニングしたレジストをマスクとしてエッチングにより導電パターン以外の部分の金属層2を除去する。そして最後に、残ったレジストを除去することにより、図1の当該プリント配線板用基板の金属層2の残された部分から形成される導電パターンを有する当該プリント配線板が得られる。
In the subtractive method, a photosensitive resist is formed on one surface of the printed wiring board substrate, and patterning corresponding to the conductive pattern is performed on the resist by exposure, development, or the like. Subsequently, the
セミアディティブ法では、当該プリント配線板用基板の一方の面に、感光性のレジストを被覆形成し、露光、現像等によりレジストに対して導電パターンに対応する開口をパターニングする。続いて、パターニングしたレジストをマスクとしてメッキを行うことにより、このマスクの開口部に露出している金属層2に選択的に導体層を積層する。その後、レジストを剥離してからエッチングにより上記導体層の表面及び導体層が形成されていない金属層2を除去することにより、図1の当該プリント配線板用基板の金属層2の残された部分にさらなる導体層が積層されて形成される導電パターンを有する当該プリント配線板が得られる。
In the semi-additive method, a photosensitive resist is formed on one surface of the printed wiring board substrate, and an opening corresponding to the conductive pattern is patterned on the resist by exposure, development, or the like. Subsequently, by plating using the patterned resist as a mask, a conductor layer is selectively laminated on the
〔利点〕
当該プリント配線板用基板は、ベースフィルム1中にパラジウムが分散して存在する分散部分3を有することによって、ベースフィルム1の金属層2に対する密着性が向上し、金属層2の剥離強度を大きくすることができる。さらに、当該プリント配線板用基板は、このようにパラジウムを分散させることで密着性を向上しているので、その製造のために真空設備等を必要とせず、安価に提供できる。
〔advantage〕
The printed wiring board substrate has the dispersed portion 3 in which palladium is dispersed in the
また、当該プリント配線板用基板は、上記分散部分で、EDXによる定量で含有率が1質量%以上となるようパラジウムが存在することによって、ベースフィルム1中にパラジウムが存在する効果、つまり金属層2に対する密着性向上効果がより確実に得られる。
In addition, the printed wiring board substrate has the effect that the presence of palladium in the
また、当該プリント配線板は、当該プリント配線板用基板の金属層にサブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いることで導電パターンが形成されていることによって、導電パターンが精細で、かつベースフィルムから剥離し難い。 In addition, the printed wiring board has a fine conductive pattern and is peeled from the base film by forming a conductive pattern on the metal layer of the printed wiring board substrate by using a subtractive method or a semi-additive method. It is hard to do.
また、当該プリント配線板用基板の製造方法は、金属粒子を含む導電性インクを塗布及び焼成する工程を備えることによって、ベースフィルム1の表面に第1導電層4を容易に形成できる。また、当該プリント配線板用基板の製造方法は、パラジウムを触媒として無電解メッキを施す工程を備えるので、第1導電層4の隙間を金属で埋めることにより金属層2を緻密化してベースフィルムに対する接合を強化できると共に、第2導電層5を積層することにより金属層2を成長させられる。また、当該プリント配線板用基板の製造方法は、電気メッキにより第3導電層を形成する工程を備えることによって、金属層2を安価かつ正確に所望の厚さに成長させることができる。さらに、当該プリント配線板用基板の製造方法は、上記パラジウムを分散する熱処理工程を備えることによって、ベースフィルム1と金属層2との間から密着性を低下させ得るパラジウムを排除するので、ベースフィルム1と金属層2との剥離強度が大きい。
Moreover, the manufacturing method of the said board | substrate for printed wiring boards can form the 1st conductive layer 4 on the surface of the
[その他の実施形態]
今回開示された実施の形態は全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記実施形態の構成に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
[Other Embodiments]
The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is not limited to the configuration of the embodiment described above, but is defined by the scope of the claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims. The
上記実施形態では、ベースフィルム1の一方の面に金属層を積層する構成としたが、同様の形成方法によりベースフィルムの両面に金属層を積層する構成の両面プリント配線板用基板としてもよい。また、上記実施形態で得たプリント配線板用基板の他方の面に、他の方法で金属層を形成してもよい。例えば、上記プリント配線板用基板の他方の面に、金属箔を接着して金属層を形成させてもよい。
In the said embodiment, although it was set as the structure which laminates | stacks a metal layer on one surface of the
また、当該プリント配線板用基板における金属層は、第1導電層、第2導電層及び第3導電層の3層構造としたが、単層構造、2層構造又は4層以上の構造としてもよい。また、各導電層の形成方法も任意である。具体例としては、金属粒子の焼成による導電層を形成することなく直接ベースフィルムに無電解メッキを行ってもよい。 In addition, the metal layer in the printed wiring board substrate has a three-layer structure of a first conductive layer, a second conductive layer, and a third conductive layer. However, a single-layer structure, a two-layer structure, or a structure having four or more layers may be used. Good. Moreover, the formation method of each conductive layer is also arbitrary. As a specific example, electroless plating may be directly performed on the base film without forming a conductive layer by firing metal particles.
以下、プリント配線板用基板を試作した結果に基づいて本発明を詳述するが、この試作品の記載に基づいて本発明が限定的に解釈されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in detail based on the results of trial production of a printed wiring board substrate, but the present invention is not limitedly interpreted based on the description of the prototype.
<試作品>
第2導電層を形成するための無電解メッキ用触媒溶液(アクチベーター液)のパラジウム濃度及び第2導電層形成後の熱処理の条件を変えて、試作品1〜8の9種類のプリント配線板用基板を試作した。
<Prototype>
Nine types of printed wiring boards of
(試作品1)
プリント配線板用基板の試作品1は、次の要領で試作した。まず、平均粒子径が60nmの銅粒子を溶媒の水に分散させ、銅濃度が26質量%の導電性インクを調製した。次に、絶縁性を有するベースフィルムとして平均厚さ25μmのポリイミドフィルム(東レ・デュポン株式会社のカプトン「EN−S」)を用い、このポリイミドフィルムの一方の面に上記導電性インクを塗布し、大気中で乾燥した後、酸素濃度が100体積ppmの窒素雰囲気中において350℃で30分間加熱することにより上記導電性インク中の銅粒子を焼成して平均厚さ0.15μmの第1導電層を形成した。次に、第1導電層の一方の面に、銅の無電解メッキを行い、無電解メッキによる平均厚さ0.4μmの第2導電層を形成した。この無電解メッキには触媒溶液として、パラジウムを50質量ppm含有するものを用い、液温40℃で120秒間浸漬することにより、第1導電層にパラジウムを吸着させた。また、この無電解メッキに用いる無電解銅メッキ液としては、銅100モルに対してニッケル0.1モルを含有するものを用いた。無電解メッキ後に、熱処理温度350℃、処理時間120分の熱処理をして、ベースフィルム中にパラジウムを分散させた。その後、さらに銅の電気メッキを行い、第3導電層を形成し、金属層の合計平均厚さを18μmとすることにより、プリント配線板用基板の試作品1を得た。
(Prototype 1)
(試作品2〜9)
プリント配線板用基板の試作品2〜8は、表1に示すように、触媒溶液のパラジウム濃度及び浸漬時の液温及び浸漬時間が異なる以外は、上記試作品1と同じ条件で試作した。なお、試作品6は、触媒溶液を使用していない。
(Prototypes 2-9)
As shown in Table 1,
<剥離強度>
試作品1〜8のプリント配線板用基板について、ポリイミドフィルム及び金属層間の剥離強度を、JIS−C6471(1995)に準拠して、金属層をポリイミドフィルムに対して180°方向に引き剥がす方法で測定した。この測定結果を表1に併せて示す。
<Peel strength>
For the printed wiring board substrates of
<パラジウム含有率の測定>
試作品1〜8のプリント配線板用基板の断面について、エネルギー分散型X線分析装置(株式会社日立ハイテクノロジーズの走査電子顕微鏡「SU8020」)を用いて、加速電圧6kVでA層(ベースフィルムの界面から1μmまでの領域)及びB層(金属層の界面から500nmまでの領域)のパラジウム含有率を測定した。この測定結果も表1に併せて示す。
<Measurement of palladium content>
About the cross section of the printed wiring board substrate of the prototypes 1-8, using an energy dispersive X-ray analyzer (scanning electron microscope “SU8020” of Hitachi High-Technologies Corporation), the A layer (base film) The palladium content of the B layer (region from the interface of the metal layer to 500 nm) was measured. The measurement results are also shown in Table 1.
[評価結果]
表1の結果より、試作品1〜5のプリント配線板用基板は、A層に十分にパラジウムが分散されており、十分な剥離強度を有する。一方、試作品6〜8は、A層のパラジウム含有率が小さく、剥離強度も小さい値となっている。この結果から、ベースフィルム中にパラジウムを分散させることにより、金属層の剥離強度を向上できることが分かる。
[Evaluation results]
From the results shown in Table 1, the printed wiring board substrates of
本発明のプリント配線板用基板及びプリント配線板は、安価でありながら金属層の剥離強度が大きいので、フレキシブルプリント配線板等に好適に利用できる。また、本発明のプリント配線板用基板の製造方法は、フレキシブルプリント配線板等を形成するのに適したプリント配線板用基板を製造するために好適に利用できる。 Since the printed wiring board substrate and printed wiring board of the present invention are inexpensive and have high peel strength of the metal layer, they can be suitably used for flexible printed wiring boards and the like. Moreover, the manufacturing method of the printed wiring board board | substrate of this invention can be utilized suitably in order to manufacture the printed wiring board board | substrate suitable for forming a flexible printed wiring board etc.
1 ベースフィルム
2 金属層
3 分散部分
4 第1導電層
5 第2導電層
6 第3導電層
La A層
Lb B層
S1 導電性インク調製工程
S2 導電性インク塗布焼成工程
S3 無電解メッキ工程
S4 熱処理工程
S5 電気メッキ工程
DESCRIPTION OF
Claims (9)
このベースフィルムの少なくとも一方の面側に積層される金属層と
を備えるプリント配線板用基板であって、
上記ベースフィルム中にパラジウムが分散して存在する分散部分を有し、
上記金属層が、
銅粒子を含む導電性インクの塗布及び焼成により形成される第1導電層と、
この第1導電層の一方の面側に無電解メッキにより形成される第2導電層と
を有し、
上記パラジウムは、上記無電解メッキの触媒に由来し、
上記分散部分は、上記無電解メッキ後の熱処理により形成されるプリント配線板用基板。 An insulating base film;
A printed wiring board substrate comprising a metal layer laminated on at least one surface side of the base film,
Having a dispersed portion in which palladium is dispersed in the base film;
The metal layer is
A first conductive layer formed by applying and firing a conductive ink containing copper particles;
Have a second conductive layer formed by electroless plating on one surface of the first conductive layer,
The palladium is derived from the electroless plating catalyst,
The dispersed portion is a printed wiring board substrate formed by a heat treatment after the electroless plating .
上記導電パターンが、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載のプリント配線板用基板の金属層にサブトラクティブ法又はセミアディティブ法を用いることで形成されているプリント配線板。 A printed wiring board having a conductive pattern,
The printed wiring board by which the said conductive pattern is formed by using a subtractive method or a semi-additive method in the metal layer of the board | substrate for printed wiring boards of any one of Claims 1-7.
上記導電性インクの塗布及び焼成後、一方の面側にパラジウムを触媒として無電解メッキを施す工程と、
上記無電解メッキ工程後、熱処理する工程と
を備え、
上記熱処理工程で上記パラジウムを分散するプリント配線板用基板の製造方法。 Applying and baking a conductive ink containing metal particles on at least one surface side of an insulating base film; and
After applying and baking the conductive ink, a step of performing electroless plating on one surface side using palladium as a catalyst;
And after the electroless plating step, a heat treatment step,
A method for producing a printed wiring board substrate, wherein the palladium is dispersed in the heat treatment step.
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