JP6480498B2 - 測定データメモリを備えた光電センサ及びメモリテスト方法 - Google Patents
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Description
Claims (12)
- 測定データを保存するための少なくとも1つの測定データメモリ(48)と、前記測定データメモリの機能テストを行うように構成された制御装置(36)とを備えた光電センサ(10)において、
前記制御装置(36)が更に、前記機能テストのために測定データをテストデータで周期的に置き換えるとともに、該測定データを破棄するように構成されていること、
前記測定データメモリ(48)が前記センサ(10)の測定データ用処理チェーン(46)の一部であること、及び
前記制御装置(36)が、所期のテストデータ処理結果が前記処理チェーン(46)の終端に現れているかどうか検査するように構成されていること、
を特徴とするセンサ。 - 前記処理チェーン(46)が別のメモリ(48a〜c)及び/又は少なくとも1つの処理ユニット(52a〜d)を備えていることを特徴とする請求項1に記載のセンサ(10)。
- 前記処理チェーン(46)が測定データを変化させないことを特徴とする請求項1又は2に記載のセンサ(10)。
- 測定データを出力するための出力部(38)を備え、所期のテストデータ処理結果が現れているかどうか検査する評価ユニット(54)が該出力部(38)に接続されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のセンサ(10)。
- レーザスキャナとして構成され、該レーザスキャナの監視領域(20)の各走査の結果がそれぞれ測定データレコードであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記テストデータが一連の交互に変わるビット状態を示していることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 1つのテストデータレコードが1つの測定データレコードと同じ長さ及び構造を有していることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記制御装置(36)が完全な測定データレコードをテストデータレコードでそれぞれ置き換えることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記テストデータが測定データレコード内の測定データの一部のみを置き換え、前記制御装置(36)がその置き換え部分を巡回的に変えることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 安全規格の意味において危険領域を防護するための安全センサとして構成されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載のセンサ(10)。
- 前記測定データ内において安全上重大な状況を認識する安全評価ユニット(36、54)が設けられ、そこでは、ノイズの抑制のため、n回の連続する測定及び評価のうち少なくともm回(m≦n)の安全上重大な状況が認識されることが要求され、その際にテストデータレコードが1つの標識として評価されることを特徴とする請求項10に記載のセンサ(10)。
- 測定データを保存するための少なくとも1つの測定データメモリ(48)を有する測定データ用処理チェーン(46)を備えた光電センサ(10)のためのメモリテスト方法において、
周期的に又は要求に応じて測定データが破棄され、代わりにテストデータが前記測定データメモリ(48)に格納され、その後、所期のテストデータ処理結果が前記処理チェーン(46)の終端に現れているかどうか検査されることを特徴とする方法。
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