JP6446803B2 - 光送受信器 - Google Patents
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Description
入力される連続光の位相を、入力される電気信号に応じて変調した光信号とする光位相変調器と、
前記光位相変調器で変調された光信号が前記出力側光結合器に到達する時間に差を生じさせる光遅延器と、を有し、
前記光位相変調器はシリコン光導波路中のキャリア密度を変化させることによって動作し、
前記光位相変調器として前記2本のアームのそれぞれに設置された第1の光位相変調器と第2の光位相変調器を有し、
前記第1の光位相変調器に電気信号0が入力したときの光位相シフト量をφ10、電気信号1が入力したときの光位相シフト量をφ11、前記第2の光位相変調器に電気信号0が入力したときの光位相シフト量をφ20、電気信号1が入力したときの光位相シフト量をφ21としたとき、概ねφ10-φ20=φ21-φ11の関係が成り立ち、
前記光遅延器は、前記第1の光位相変調器及び前記第2の光位相変調器で変調された光信号が前記出力側光結合器に到達する時間に、前記第1の光位相変調器及び前記第2の光位相変調器に入力される電気信号のビットレートの概ね0.5から1.5ビット分の差を生じさせ、
前記光遅延器として前記2本のアームのそれぞれに設置された第1の光遅延器と第2の光遅延器を有し、
前記2本のアームの一方には、前記第1の光位相変調器と前記出力側光結合器の間に前記第1の光遅延器が設置され、
前記2本のアームの他方には、前記第2の光位相変調器と前記入力側光結合器の間に前記第2の光遅延器が設置されており、
前記第1の光遅延器と前記第2の光遅延器の遅延時間が概ね等しい。
なお、前記の説明ではマッハツェンダ干渉計11の入力側の光結合器(機能的には光分岐器)5を同相光結合器、出力側の光結合器6をπ/2光結合器としたが、入力側の光結合器(機能的には光分岐器)5をπ/2光結合器、出力側の光結合器6を同相光結合器、としてもよい。その場合、光結合器5はクロスポートに出力する光とバーポートに出力する光の間にπ/2の位相差を付加して出力する光結合器、光結合器6は2つの入力ポートからの入力された光を同位相で干渉させ出力する光結合器となる。
また、図1では入力側の光結合器(機能的には光分岐器)5を1×2光結合器、出力側の光結合器6を2×2光結合器としたが、入力側の光結合器(機能的には光分岐器)5を1×2光結合器、出力側の光結合器6を2×1光結合器、または、入力側の光結合器(機能的には光分岐器)5を2×2光結合器、出力側の光結合器6を2×1光結合器、または、入力側の光結合器(機能的には光分岐器)5を2×2光結合器、出力側の光結合器6を2×2光結合器、としてもよい。
同相光結合器の例としては、対称Y分岐器、対称スター型結合器、対称1×2マルチモード干渉(MMI)結合器などがある。π/2光結合器としては、方向性結合器、対称2×2MMI結合器などがある。図1のように、出力側光結合器6を2×2とした場合、2つの出力ポートには差動信号が出力されるので、光差動伝送を行なうことも可能である。
P=cos2[(φ1-φ2+φ0)/2]・・・(1)
ここで、φ1およびφ2はそれぞれマッハツェンダ干渉計のアーム1(図1において、光遅延器3が設けられるアーム)の位相変調器1およびアーム2(図1において、光減衰器9が設けられるアーム)の位相変調器2に入力される電気信号によって生じる光位相シフト量、φ0はアーム1と2の間のバイアス位相差である。図1に示す第1の実施形態では、入力側光結合器が同相光結合器、出力側光結合器がπ/2光結合器となっているので、φ0=π/2となる。入力電気信号は0と1の2値のデジタル信号とする。まず最も簡単な例として、アーム1、2共に入力電気信号が0の時の光位相シフト量を0、入力電気信号が1の時の光位相シフト量をπ/2(ラジアン)とする。光遅延器3の遅延時間は入力電気信号の約1ビット分の時間とする。この場合、出力側光結合器6で2つのアームの光が干渉する際に、アーム1の光信号がアーム2の光信号に対して約1ビット分遅れて干渉することになる。この場合のマッハツェンダ干渉計の出力を式(1)から求めたものを表1に示す。入力電気信号の連続する2ビットが0→0の場合、および1→1の場合、つまり、変化しない場合には光出力は中間値の0.5となり、0→1の場合に最大値の1、1→0の場合に最小値の0となる。このような入出力の関係は微分特性と呼ばれ、PN接合またはPIN接合の電気特性である-20dB/decの周波数応答特性を補償する+20dB/decの周波数応答特性を実現することができる。
φ10−φ20=φ21−φ11・・・(2)
実施形態1では2つのアームの光路長が異なるため、温度や光の波長が変化すると動作点がずれてしまうが、実施形態2では2つのアームの光路長が等しいため、温度や光の波長が変化しても動作点がずれないという優位性がある。
本実施の形態の光送受信機102の動作は概ね第1の実施形態と同様であるが、両アームに配置される部品が同じものとなるため、両アームの光損失および光路長を等しくすることが容易になる。これにより、第1の実施形態に比べて、マッハツェンダ干渉計の光出力の消光比を高くすることが容易になるという特徴があり、また、光出力の波長依存性や温度依存性を小さくできる等の特徴がある。一般に半導体の屈折率温度係数はニオブ酸リチウムやガラス等の誘電体に比べて大きいため、第1の実施形態のマッハツェンダ干渉計をシリコン等の半導体で形成したものと比較すると、本実施形態は広い温度範囲で安定動作を行なう上で極めて有用な構成となる。
3〜4 光遅延器
5 入力側光結合器
6 出力側光結合器
7 入力電気信号用電気配線
8 光導波路
9 光減衰器
11〜13 マッハツェンダ干渉計
20 レーザ光源
21 バランス型受光器
34〜35 光送信器
44〜45 光受信器
54〜55 光導波路
101〜105 光送受信器
Claims (2)
- 入力側光結合器と出力側光結合器と、該入力側光結合器と出力側光結合器の間に設けられた、光が伝搬する2本のアームを備え、前記2本のアームを伝搬する光の間に概ねπ/2+2nπ(nは整数)のバイアス位相差を付加する干渉計と、
入力される連続光の位相を、入力される電気信号に応じて変調した光信号とする光位相変調器と、
前記光位相変調器で変調された光信号が前記出力側光結合器に到達する時間に差を生じさせる光遅延器と、を有し、
前記光位相変調器はシリコン光導波路中のキャリア密度を変化させることによって動作し、
前記光位相変調器として前記2本のアームのそれぞれに設置された第1の光位相変調器と第2の光位相変調器を有し、
前記第1の光位相変調器に電気信号0が入力したときの光位相シフト量をφ10、電気信号1が入力したときの光位相シフト量をφ11、前記第2の光位相変調器に電気信号0が入力したときの光位相シフト量をφ20、電気信号1が入力したときの光位相シフト量をφ21としたとき、概ねφ10-φ20=φ21-φ11の関係が成り立ち、
前記光遅延器は、前記第1の光位相変調器及び前記第2の光位相変調器で変調された光信号が前記出力側光結合器に到達する時間に、前記第1の光位相変調器及び前記第2の光位相変調器に入力される電気信号のビットレートの概ね0.5から1.5ビット分の差を生じさせ、
前記光遅延器として前記2本のアームのそれぞれに設置された第1の光遅延器と第2の光遅延器を有し、
前記2本のアームの一方には、前記第1の光位相変調器と前記出力側光結合器の間に前記第1の光遅延器が設置され、
前記2本のアームの他方には、前記第2の光位相変調器と前記入力側光結合器の間に前記第2の光遅延器が設置されており、
前記第1の光遅延器と前記第2の光遅延器の遅延時間が概ね等しい光送受信器。 - 請求項1に記載の光送受信器において、
前記入力側光結合器と出力側光結合器のうち、一方は1つの入力ポートから入力された光が同位相で2つの出力ポートに出力される1x2または2x2光結合器であり、他方はクロスポートに出力される光とバーポートに出力される光の間にπ/2の位相差が生じる1x2または2x2光結合器である光送受信器。
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