JP6443251B2 - レーザ穴あけ装置 - Google Patents
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Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態1について説明する。
図1は、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置1の概略構成を示す図である。図1に示すように、レーザ穴あけ装置1は、レーザ出射部としてのレーザ発振器2と、レーザ走査部としてのスキャナ3と、制御部としての制御装置4と、検出部としての受光センサ5及び処理装置6と、を備える。
図2は、ワークWとしてのCFRPの概略構成について示す図である。図2に示すように、CFRPは、強化材としての炭素繊維と、母材としての樹脂(主にエポキシ樹脂)と、から構成される複合材料である。CFRPは、高い強度と軽さとを併せ持つため、自動車や航空機の部品など様々な用途に使用されている。
上述したように、レーザ光LfがワークWを貫通すると戻り光Lbの強度が急激に低下することから、戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下になったか否かで、ワークWがレーザ光照射箇所において貫通したか否かを判断できる。なお、ワークWがレーザ光照射箇所において貫通したか否かについて、戻り光Lbの強度の単位時間あたりの変化量(微分値)によって判断してもよい。
図7は、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置1において、戻り光Lbの強度によりレーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を終了するタイミングを判断する処理フローのフローチャートである。なお、以下の説明では図1についても適宜参照する。図7に示すように、まず、ステップS101では、レーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を開始する。次に、ステップS102では、戻り光Lbの強度を測定し、測定された戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下であるときにワークWのレーザ光照射箇所における貫通を検出する。具体的には、受光センサ5において戻り光Lbの強度を測定し、処理装置6において、測定された戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下であるか否かを判断する。そして、測定された戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下であるときには、処理装置6が、ワークWのレーザ光照射箇所における貫通を検出した旨の信号を制御装置4に出力する。
本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置1の戻り光Lbの強度によりレーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を終了するタイミングを判断する処理フローの変形例について以下で説明する。図7で説明した処理フローとの違いは、穴あけを開始してからの経過時間である加工時間Tpによってレーザ光の出力を上げる否かの判断をする点である。
図8は、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置1において、戻り光Lbの強度によりレーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を終了するタイミングを判断する処理フローのフローチャートである。なお、以下の説明では図1についても適宜参照する。図8に示すように、まず、ステップS201では、レーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を開始する。次に、ステップS202では、戻り光Lbの強度を測定し、測定された戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下であるときにワークWのレーザ光照射箇所における貫通を検出する。具体的には、受光センサ5において戻り光Lbの強度を測定し、処理装置6において、測定された戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下であるか否かを判断する。そして、測定された戻り光Lbの強度が予め定められた閾値以下であるときには、処理装置6が、ワークWのレーザ光照射箇所における貫通を検出した旨の信号を制御装置4に出力する。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態2について説明する。なお、実施の形態1と共通の部分には共通の符号を付してその説明を省略する。
図9は、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置21の概略構成を示す図である。
実施の形態1にかかるレーザ穴あけ装置1では、ワークWに対してレーザ光Lfを照射する側に戻り光Lbの強度を測定する受光センサ5を設け、戻り光Lbの強度によりワークWのレーザ照射箇所における貫通を判断する(図1参照)。これに対し、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置21では、ワークWのレーザ光Lfを照射する側の裏側に配置されたカメラ25により撮影された画像情報において、ワークWを貫通したときに貫通箇所から漏れる貫通光Ltが検出されたか否かによって、ワークWのレーザ照射箇所における貫通を判断する(図9参照)。
次に、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置1において、戻り光Lbの強度によりレーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を終了するタイミングを判断する処理フローについて以下で説明する。
図10は、本実施の形態にかかるレーザ穴あけ装置21における、カメラ25の撮影した画像情報に基づいて、レーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を終了するタイミングを判断する処理フローのフローチャートである。なお、以下の説明では図9についても適宜参照する。図10に示すように、まず、ステップS301では、レーザ光Lfの走査軌跡に対する出射を開始する。次に、ステップS302では、ワークWのレーザ光Lfを照射する側の裏側を連続して撮影し、撮影された画像情報に貫通光Ltが含まれているときにワークWのレーザ光照射箇所における貫通を検出する。具体的には、カメラ25においてワークWのレーザ光Lfを照射する側の裏側を連続して撮影を行い、撮影された画像情報について処理装置26で画像解析を行う。処理装置26は、画像解析の結果、当該画像情報に貫通光Ltが含まれていると判断したときに、ワークWのレーザ光照射箇所における貫通を検出した旨の信号を制御装置4に出力する。
2 レーザ発振器
3 スキャナ
4 制御装置
5 受光センサ
6 処理装置
Claims (2)
- ワークに穴をあけるために当該穴の周囲領域にレーザ光を走査して照射することにより前記ワークの穴あけ加工を行うレーザ穴あけ装置であって、
レーザ光を出射するレーザ出射部と、
レーザ光を走査するレーザ走査部と、
前記レーザ出射部および前記レーザ走査部を制御する制御部と、
前記ワークのレーザ光照射箇所における貫通を検出する検出部と、を備え、
前記制御部は、前記検出部によって前記レーザ光照射箇所における貫通が連続して検出された時間を計測し、当該計測した時間が前記ワーク上において前記レーザ光が走査によって穴の周囲に一周照射される時間以上となったときに、前記ワーク上におけるレーザ光の走査軌跡に対する出射を終了させ、
前記制御部は、穴あけ加工を開始してからの経過時間が予め定められた穴あけ完了予定時間を超えても前記検出部により前記レーザ光照射箇所における貫通が検出されない場合にレーザ光の出力を上げるレーザ穴あけ装置。 - 前記検出部は、前記レーザ光照射箇所から熱放射した戻り光の強度を測定する受光センサと、前記受光センサにより測定された前記戻り光の強度が予め定められた閾値以下であるときに前記ワークの前記レーザ光照射箇所においてレーザ光が貫通したと判断する処理装置と、を備える請求項1に記載のレーザ穴あけ装置。
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