JP6421523B2 - 軟包装容器の漏れ検出装置 - Google Patents

Description

本発明は、パウチ等の軟包装容器における漏れ（穴開き）を検出する漏れ検出装置に関し、さらには、圧力調整されたチャンバー内部に収容された軟包装容器の被検査領域の変位を光学式変位センサで計測することにより、軟包装容器の漏れを検出する漏れ検出装置に関する。

日常生活において、主要な消費商品である調味料や洗剤等の内容物は、プラスチックボトルに充填して販売されているが、省資源や環境保護の面から、消費後のプラスチックボトルに、詰め替え用として廃棄しやすい軟包装容器に充填、密封されている内容物を詰め替え、プラスチックボトルを繰り返して使用することが多くなっている。
そして、繰り返し使用するプラスチックボトルに詰め替える際に、内容物を注ぎやすくするために、詰め替え用の軟包装容器として、パウチに立体的な注出口（ノズル）成形を施した注出口付パウチ（注出機能付き包装袋）が広く使用されている。（特許文献１）

一方、柔軟性を有する包装体や変形可能な蓋を有する容器をチャンバー内部に収容し、チャンバー内部の圧力を減圧させた際の柔軟性を有する包装体膨れ変化量もしくはチャンバー内を加圧した後の蓋の変位を測定することにより、包装体や容器の密閉度を検出することができる検査装置が知られている。（特許文献２、３）

また、フィルム製包装体の蓋付き栓を一対の小型チャンバーで気密に囲繞するとともに、栓における船形台座を挟持体により挟圧した状態でチャンバー内を減圧した後、挟持体による挟圧を緩めたときのチャンバー内の圧力変化を検出することにより、フィルム製包装体に設けた蓋付き栓とフィルムとの間の空気の漏洩を検出する検出装置は知られている。（特許文献４）

特開２０００−１７７７５６ 特開昭６０−２０２３４１ 特開２０００−８８６９４ 特開２００５−２０７８０６

特許文献１に示されているパウチ等の軟包装容器では、注出口部等の所定領域を立体的に成形することにより、その形成段階や軟包装容器の搬送段階において立体成形部、および、その近傍にピンポール等の穴やクラック等のひび割れ（以下、これらを総じて穴開きと称する。）が発生する可能性がある。このため、内容物を充填、密封した軟包装容器の内容物漏洩の原因となる所定領域の穴開きを有効に検出する必要がある。

また、特許文献２、３に記載されている検査装置は、被検査対象である包装体や容器の全体をチャンバー内に収容して密閉度を検査するため、被検査対象の全体的な密閉度を検査することはできるが、軟包装容器の立体的な注出口部などの穴開きが発生する可能性がある所定領域を集中して検査をするものではなかった。そのため、チャンバーが大型化してしまい、チャンバー内部の減圧等に時間がかかるなどの課題があった。
また、内容物充填密封前のパウチ等の軟包装容器など、曲がりやたわみ等の変形し易い被検査対象の変位の計測には対応できず、正確に変位を計測することができなかった。

一方、特許文献４に記載されている検査装置は、圧力センサや挟持体をチャンバー内に配置させる必要があることから、装置構成が複雑にならざるを得ないという課題があった。

本発明は、これらの問題点を解決するものであり、立体成形部分等を有する特定領域の漏れを正確かつ迅速に検出する軟包装容器の漏れ検出装置を提供することを目的とするものである。

本発明の軟包装容器の漏れ検出装置は、前記課題を解決するために、一対のチャンバー容器により形成され、内部に軟包装容器の被検査領域を片持ち状に収容するように軟包装容器における前記被検査領域の外側を挟み込むチャンバーと、チャンバー内部の空間の空気を吸引する真空発生手段と、一対のチャンバー容器外方にそれぞれ設けられ、チャンバー内部に収容された前記被検査領域の表裏の変位を計測する光学式変位センサと、前記光学式変位センサにより計測された前記被検査領域の表裏の変位から前記被検査領域の漏れを判定する漏れ判定手段とを備え、前記一対のチャンバー容器は、前記光学式変位センサに対向する面に前記光学式変位センサの光線を透過する透明窓が設けられているものである。

軟包装容器の被検査領域の変位を計測する光学式変位センサがチャンバーを形成する一対のチャンバー容器の外方にそれぞれ設けられているので、被検査領域の膨張による変位を正確に計測することができ、被検査領域の漏れの有無を正確かつ迅速に検出することができる。

（ａ）は、本発明の実施形態に係る漏れ検出装置の概略説明図、（ｂ）は、漏れ検出の対象となる軟包装容器の概略説明図である。 （ａ）は、本発明の実施形態に係る漏れ検出装置のチャンバーの平面図、（ｂ）は、同側面図である。 本発明の実施形態に係る漏れ検出装置による漏れ検出工程を説明する図であって、被検査領域を検出位置に配置する状態を説明する図である。 本発明の実施形態に係る漏れ検出装置による漏れ検出工程を説明する図であって、チャンバー内部に収容した被検査領域の変位を計測する状態を説明する図である。 本発明の実施形態に係る漏れ検出装置による漏れ検出工程を説明する図であって、被検査領域の変位を計測後、チャンバー内部の真空を大気圧に解放する状態を説明する図である。 本発明の実施形態に係る漏れ検出装置の真空発生手段に係る真空電磁弁及び真空破壊手段に係る真空破壊電磁弁の駆動状態、軟包装容器被検査領域の変化量、及び、チャンバー内部の圧力の関係を示すグラフである。 本発明の実施形態に係る漏れ検出装置の光学式変位センサによる計測状態を説明する図であり、（ａ）は、通常時における軟包装容器の計測状態、（ｂ）は、軟包装容器に曲がりが生じた場合の計測状態を説明する図である。 本発明の実施形態に係る漏れ検出装置の判定手段による判定方法を説明する図である。

−漏れ検出装置の構成−
（全体の構成）
本発明の実施形態に係る漏れ検出装置を図面を参照して説明する。
本発明の漏れ検出装置Ａは、図１（ａ）に示すように、内部に被検査領域を収容するチャンバー１を構成する一対のチャンバー容器１１，１２と、チャンバー１内部の空気を吸引する真空発生手段２１と、チャンバー容器１１，１２それぞれの外方に配置され、チャンバー１内部に収容された被検査領域の変位を計測する一対の光学式変位センサ３ａ，３ｂと、光学式変位センサ３ａ，３ｂにより計測された被検査領域の変位から漏れを判定する漏れ判定手段（図示しない。）とにより構成されている。

本発明の漏れ検出装置により漏れを検出する、軟包装容器の被検査領域の一例を、図１（ｂ）に示す注出口付パウチ５を用いて説明する。注出口付パウチ５は、プラスチックフィルムをヒートシールしてなり、注出口部５１を有するパウチ５（包装袋）として形成されている。注出口部５１の近傍には図示しないノッチ等の切り込みが設けられ、切り込みから注出口部先端を引きちぎることにより注出口部を開口し、そこから詰め替え容器、例えば液体洗剤等の内容物を注ぎ込んで詰め替えることができる。そして、注出口部５１には膨らみのある立体成形部５２が形成され、内容物の注ぎ込み時に注出口部が閉塞することがないよう流路を確保し、また注出口部５１の折れ曲がり等を防止して安定した内容物の注出を行うことができる。そして、この立体成形部５２を含む注出口部５１周辺が本実施形態における被検査領域Ｂとなる。

（チャンバー）
チャンバー１を形成するチャンバー容器１１、１２は、たとえばステンレスやアルミ合金等の金属材料から形成された部材の内部を、パウチ５の被検査領域Ｂの外周に対応した形状（例えば被検査領域Ｂの外周に沿う形状）にくり抜いてなる壁部材１１ａ，１２ａ同士が離反する側の面（図１の壁部材１１ａの上側、および、壁部材１２ａの下側）に、光学式変位センサの光線が透過できるアクリル等の合成樹脂やガラス等からなる透明板１１ｂ，１２ｂを固定することにより底部に透明窓を有する箱状に形成されている。そして、壁部材１１ａ，１２ａ同士が対向する側の面（図１の壁部材１１ａの下側、および、壁部材１２ａの上側）が当接部１１ｃ，１２ｃとして構成される。そして、チャンバー１を形成した際に密閉性を高めるため、また、パウチ５を挟み込む際にパウチ５の傷つきを防止するために、当接部１１ｃ，１２ｃの少なくとも一方（本実施形態においては当接部１１ｃ）にウレタンゴム等の弾性材１１ｄが設けられている。なお、チャンバー１の密閉性が保てる場合には、弾性材１１ｄは必ずしも必要ではない。

チャンバー容器１１，１２の壁部材１１ａ，１２ａの当接部１１ｃ，１２ｃの内縁は被検査領域Ｂの外周に対応した形状をしているので、チャンバー１内部に無駄な空間が少なく、後述するチャンバー１内部の圧力の調節が迅速にできる。また、図２のようにチャンバー容器１１，１２の当接部１１ｃ，１２ｃを直接当接、または、パウチの被検査領域Ｂの外周ごと挟持して密閉して被検査領域Ｂをチャンバー１内部に収容することにより、パウチ５の立体成形部５２およびその周辺箇所の検査を行いたい領域を特定して検査を行うことができる。

そして、一対のチャンバー容器１１，１２は、図示しないアクチュエータの動力により、当接部１１ｃ，１２ｃ同士が当接、または、パウチの被検査領域Ｂの外周ごと挟持して密閉する密閉状態、及び、当接部１１ｃ，１２ｃ同士が離間する開放状態に移動可能に構成されており、チャンバー容器１１，１２の当接部１１ｃ，１２ｃを密閉状態にすることにより、内部に密閉空間を備えるチャンバー１が構成される。
なお、漏れ検出装置Ａに対するパウチ５の被検査領域Ｂの配置動作等に支障がなければ、チャンバー容器１１，１２の一方を固定し、他方のみを移動可能に構成することにより密閉状態と開放状態とを切り替えてもよい。

（真空発生手段）
真空発生手段２１は、チャンバー１内部の空気を吸引し、チャンバー１内部を真空にする真空発生装置２１ａと、真空発生装置２１ａに接続されてチャンバー１内部の負圧状態を調節する真空圧力調整装置２１ｂと、真空圧力調整装置２１ｂに接続されて真空発生装置２１ａとチャンバー１内部との間の開放、及び閉鎖を切り替える真空電磁弁２１ｃとからなる。

（真空破壊手段）
真空破壊手段２２は、大気圧（ゲージ圧０ｋＰａ、絶対圧１０１．３ｋＰａ）より高い正圧の圧縮空気を発生させて送り込む圧縮空気発生装置２２ａと、圧縮空気発生装置２２ａに接続されて送り込まれる圧縮空気の圧力を調整する真空破壊圧力調整装置２２ｂと、真空破壊圧力調整装置２２ｂに接続されて真空破壊圧力調整装置２２ｂとチャンバー１内部との間の開放及び閉鎖を切り替える真空破壊電磁弁２２ｃとからなる。

そして、図２に示すように、真空電磁弁２１ｃの出力管２１ｄと真空破壊電磁弁２２ｃの出力管２２ｄは合流して連通管２３に接続され、連通管２３はチャンバー１内部へ、パウチ５の被検査領域Ｂ外の開口２３ａに配管され連通している。したがって、真空発生手段２１によるチャンバー１内部の空気の吸引、及び、真空破壊手段２２によるチャンバー１内部への空気の圧送に伴う空気流による被検査領域Ｂの曲がりや振動を防止できるため、被検査領域Ｂの変位の計測を安定した状態で行うことができる。

（光学式変位センサ）
光学式変位センサ３ａ，３ｂは、それぞれ一対のチャンバー容器１１，１２の外方に配置されており、投光部より照射したレーザ等の光線をチャンバー容器１１，１２それぞれの透明窓を介して被検査領域Ｂ内の計測箇所に投光し、計測箇所より反射する反射光を受光することにより、被検査領域Ｂ内の計測箇所の変位を計測する。

−漏れ検出装置による変位の計測方法−
図３乃至６を参照して、本発明の漏れ検出装置Ａによる被検査領域Ｂの変位の計測方法について説明する。
図３に示すように、例えば、製造ラインにより製造されたパウチ５は、図示しない搬送手段により矢印アに示す方向に搬送され、その注出口部５１を含む被検査領域Ｂが、離間状態に移動された上下一対のチャンバー容器１１，１２の間に位置決めされる。

パウチ５の被検査領域Ｂがチャンバー容器１１，１２の間の所定の位置に位置決めされると、図示しないアクチュエータにより、上下一対のチャンバー容器１１，１２を矢印イ、ウに示す方向に移動させ、チャンバー容器１１，１２の当接部１１ｃ、１２ｃが被検査領域Ｂを挟み込んで密閉状態となることにより、チャンバー１内部にパウチ５の被検査領域Ｂを密封空間に収容する。

図４に示すように、チャンバー１内部にパウチ５の被検査領域Ｂが収容されると、光学式変位センサ３ａ，３ｂにより初期状態における被検査領域Ｂの所定箇所、例えば、立体成形部５２中心の変位（初期値）を計測する。そして、光学式変位センサ３ａ，３ｂがそれぞれ計測した値ａ０，ｂ０を図示しない判定手段に送信し、判定手段の記憶手段に初期値として記憶する（図６のｔ０）。

ここで、図６も併せて説明すると、実線はチャンバー内を減圧後の大気解放を、自然大気圧（外気）により行う場合（ケース１）である。破線はケース１における大気解放を自然大気圧に換えて圧縮空気を送り込む真空破壊により行う場合（ケース２）を示し、時間ｔだけ大気圧開放時間を短縮することができる。また、一点鎖線はケース２と同様に、真空破壊により大気解放を行うが、短縮した大気解放の時間ｔの分を検査時間に充てるため、真空破壊電磁弁２２ｃのＯＮを時間ｔだけ遅らせた場合（ケース３）である。
なお、真空電磁弁２１ｃのＯＮの時間とチャンバー１内部の空気が吸引し始めて内圧が下がり始める時間、チャンバー１の内圧が下がり始める時間と被検査領域Ｂが膨張し始める時間、真空電磁弁ＯＦＦの時間とチャンバー１内部が解放し始めて内圧が上がり始める時間、チャンバー１の内圧が上がり始める時間と被検査領域Ｂが収縮し始める時間等には若干の時間差（応答時間）があるが、装置の動作をわかりやすく説明するために各応答時間を無視している。

そして、初期値ａ０，ｂ０が計測された後に、真空発生手段２１の真空電磁弁２１ｃを開放して、真空発生装置２１ａによりチャンバー１内部の空気を吸引を開始する（ｔ１）。チャンバー１内部の空気を吸引し、チャンバー１内部の圧力を減圧するとパウチ５の被検査領域Ｂがパウチ内部に存在する空気とチャンバー１内部との圧力差により膨張される。次いで、真空圧力調整装置２１ｂによりチャンバー１内部の圧力を真空（所定の負圧。例えばゲージ圧−８０ｋＰａ）まで減圧させ、パウチ５の被検査領域Ｂをさらに膨張させる（ｔ２）。そして、真空電磁弁２１ｃを所定時間開放してチャンバー１内部の圧力を漏れ検出に必要な所定時間真空に維持する。

このように、チャンバー１内部が真空状態を維持している時間を含むように設定された所定時間（ケース１，２におけるｔａ〜ｔｂ、すなわち検査区間Ａ、および、ケース３におけるｔａ〜ｔｂ’、すなわち検査区間Ａ’）において、被検査領域Ｂの変位を所定時間計測する。所定時間計測した値は随時判定手段に送信し、判定手段の記憶手段に光学式変位センサ３ａの計測値ａ１，ａ２・・・、および、光学式変位センサ３ｂの計測値ｂ１，ｂ２・・・として記憶する。
なお、計測箇所の初期状態の厚み等が予め判明している場合には、初期値ａ０，ｂ０の計測は必要ないが、初期値を計測しておくことにより、被検査領域Ｂの初期状態のたわみ等による誤差を把握して適宜補正することができ、被検査領域Ｂの膨張前後の正確な膨張（被検査領域の変形量）を求めることができる。

そして、計測値ａ１，ａ２・・・，ｂ１，ｂ２・・・が計測され、後述の漏れ判定が終了すると、図５に示すように、真空発生手段２１の真空電磁弁２１ｃを閉鎖するとともに、真空破壊電磁弁２２ｃを開放し、チャンバー１内部の大気解放を行う。ここで、前述したケース２，３の場合には、真空破壊電磁弁２２ｃの開放により、圧縮空気発生装置２２ａ、および、真空破壊圧力調整装置２２ｂにより圧力調整された圧縮空気を、チャンバー１内部に送り込む（図６中、ケース１，２におけるｔ３、ケース３におけるｔ３’）。
次いで、チャンバー１内部の圧力が大気圧付近に昇圧・解放され、パウチ５の被検査領域Ｂが初期状態の形状に復元される（図６中、ケース１，３におけるｔ４、ケース２におけるｔ４’）。
なお、ケース２，３においては、真空破壊手段２２によってチャンバー１内部に強制的に圧縮空気が送り込まれることにより、チャンバー１内部の圧力は迅速に大気圧付近に昇圧・解放される。そして、チャンバー１内部が大気圧に解放されたチャンバー容器１１，１２を矢印エ、オに示す方向に移動させてチャンバー１を開放し、パウチ５は図示しない搬送手段により検査装置外へ移動させて、一連の漏れ検出工程が終了する。

図６から判るように、チャンバー１内部の大気圧への昇圧・解放を、圧縮空気発生装置２２ａと、真空破壊圧力調整装置２２ｂが存在せず、真空破壊電磁弁２２ｃを開放して自然大気圧により行う場合の大気圧への昇圧・解放時間（図６の、ケース１におけるｔ３〜ｔ４）に比べて、真空破壊手段２２によりチャンバー１内部に強制的に圧縮空気を送り込むことにより行う場合の大気圧への昇圧・解放時間（図６の、ケース２におけるｔ３〜ｔ４’、ケース３におけるｔ３’〜ｔ４）は、時間ｔだけ短縮される。
そして、短縮した時間ｔを、変位を計測する時間に充て計測することにより（図６中、ケース３におけるｔａ〜ｔｂ’）一連の検出工程時間全体に要する時間が、自然大気圧を利用した大気解放の場合と同じであっても、後述の漏れ判例方法によって、より正確に漏れを検出することができる（図６中、一点鎖線のケース３）。また、大気解放時間を短縮した時間ｔをそのまま削減することにより、一連の検出工程時間全体の短縮ができる（図６中、破線のケース２。）。

次に、図７を参照して、チャンバー１内部における注出口部５１に立体成形部５２を有するパウチ５の変位の計測方法をさらに説明する。
初期状態においては、図７（ａ）の破線で示すように、パウチ５の被検査領域Ｂは、立体成形部５２に空気が残留し、他は、プラスチックフィルムが密着された状態でチャンバー１内部に収容されている。その状態で、光学式変位センサ３ａ，３ｂで初期状態における被検査領域Ｂの計測箇所の変位を計測することにより、被検査領域Ｂ（初期状態）の変位として、それぞれ初期値ａ０，ｂ０が得られる。

次いで、密閉状態のチャンバー１内部が真空発生手段２１により真空状態に調整されると、パウチ５が良品である場合には、パウチ５の被検査領域Ｂの立体成形部５２等に残留している空気によりパウチ５内の圧力がチャンバー１内部の圧力に対して相対的に高くなる。その結果、パウチ５の被検査領域Ｂが図７（ａ）の実線で示すように膨張する。そして、光学式変位センサ３ａ，３ｂで被検査領域Ｂの所定箇所の変位を計測することにより、膨張時の位置として計測値ａｉ，ｂｉ（ｉは１からｎの整数。なお、ｎは計測時間中に変位を計測する回数）が得られる。
なお、変位の計測は、チャンバー１内部が減圧された状態において所定時間（図６中、ケース１，２の場合は検査区間Ａ、ケース３の場合は検査区間Ａ’）に亘って計測され、複数の計測値ａ１，ａ２，・・・，ａｉ，・・・ａｎ、ｂ１，ｂ２，・・・，ｂｉ，・・・，ｂｎを得ることが好ましい。
そして、計測値ａｉ，ｂｉと初期値ａ０，ｂ０とを用いて、被検査領域Ｂの膨張（被検査領域の変化量）として算出することができる。

ところで、本発明のように、被検査対象が柔軟性を備えるパウチ５の場合には、変位の計測過程において常に安定した形状を維持しているとは限らず、例えば、図７（ｂ）の実線に示すように、チャンバー１内部の空気の吸引やパウチ５の自重等により被検査領域Ｂにたわみが生じてしまう場合がある。本発明の漏れ検出装置Ａは、このような状態であっても、被検査領域Ｂの変化量を正確に算出することができる。
すなわち、本発明の漏れ検出装置Ａは、チャンバー１の外方に備えた一対の光学式変位センサ３ａ，３ｂにより、被検査領域Ｂの変位を計測するため、図７（ｂ）のように、一方の光学式変位センサ３ａには、パウチ５のたわみにより初期値ａ０と計測値ａｉとがほぼ等しくなり、一方の光学式変位センサ３ａのみから被検査領域Ｂの変化量が算出されない場合であっても、他方の光学式変位センサ３ｂに被検査領域Ｂのたわみによる変形を加算した計測値ｂｉが測定され、初期値ａ０，ｂ０と計測値ａｉ，ｂｉとから、パウチ５のたわみを考慮した被検査領域Ｂの変化量を正確に算出することができる。

なお、初期値ａ０，ｂ０と計測値ａｉ，ｂｉとから被検査領域Ｂの変化量を算出する方法としては、計測値ａｉ，ｂｉと初期値ａ０，ｂ０から、例えばａｉ−ａ０＋ｂｉ−ｂ０により求めた変化量を算出するなど、適宜設定すればよい。
また、被検査領域Ｂの変化量を、一対の光学式変位センサ３ａ，３ｂの計測値ａｉ，ｂｉを合わせた値として算出することにより、検出感度を高くすることができる。

−漏れ判定方法−
図８を参照して、漏れ判定手段による漏れ判定方法について説明する。
被検査領域Ｂに穴開きがない場合、すなわち、パウチ５が良品である場合には、パウチ５の被検査領域Ｂの立体成形部５２等に残留している空気により、被検査領域Ｂ内の圧力が、空気を吸引され真空状態となるチャンバー１内部の圧力に対して相対的に高いため、被検査領域Ｂが膨張する（図８ａ良品）。

これに対して、被検査領域Ｂに比較的大きな穴開きが存在する場合には、真空発生手段２１によりチャンバー１内部の空気が吸引されても、被検査領域Ｂの立体成形部５２等に残留している空気は、被検査領域Ｂの穴開き箇所を通ってチャンバー１内部に放出・拡散され、チャンバー１内部の空気と共に吸引されるために被検査領域Ｂ内の圧力は相対的に高くならず、膨張しない。仮に、空気の吸引初期において、その急激に生じた圧力差により膨張したとしても、被検査領域Ｂ内の空気はすぐに穴開き箇所を通って真空発生手段２１により吸引されるため、その膨張状態を維持することはできず、パウチ５の弾性により初期状態に復元してしまう（図８ａ穴開き大）。

したがって、チャンバー１内部が真空状態となっている時間を含むよう適宜設定した検査区間Ａにおける被検査領域Ｂの変化量を算出し、算出した変位量と予め定めた閾値１とを比較し、変位量の方が大きい場合（ａｉ−ａ０＋Ｂｉ−Ｂ０＞閾値１）、パウチ５に大きな穴開きが存在しない良品である（漏れなし）と判別することができる。

しかしながら、例えば、被検査領域Ｂに極小さな穴開きが存在する場合などは、チャンバー１内部の減圧により被検査領域Ｂが一旦膨張した後に、膨張した被検査領域Ｂ内から極小さな穴開き箇所を通って空気が徐々にチャンバー１内に放出，拡散されるため、被検査領域Ｂの変化量が検査区間内では閾値１以下とはならずに、良品であると判断されてしまう可能性がある（図８ａ穴開き小）。

そのため、本発明では、被検査領域Ｂの穴開き検出方法として、検査区間での変化量と閾値１とを比較する判別方法（図８ａ）に加えて、検査区間での２点の変化量の変化を求めて漏れの有無を検出する判別方法をさらに採用している（図８ｂ）。
この方法は、チャンバー１内部が真空状態初期の時期ｔ２を含むように設定された時間の検査区間Ｂにおける最大変化量（第１の変化量ａｉ_B−ａ０＋ｂｉ_B−ｂ０）と、検査区間Ｂから所定時間経過後（例えば、真空破壊電磁弁２２ｃのトリガータイミングｔ３、または、ｔ３’）の検査Ｃにおける変化量（第２の変化量ａｉ_C−ａ０＋ｂｉ_C−ｂ０）とを比較する。そして、第１の変化量と第２の変化量との差が所定値（閾値２）以上である場合（ａｉ_B−ａｉ_C＋ｂｉ_B−ｂｉ_C≧閾値２）には、検査区間内において被検査領域Ｂが一旦膨張した後に、膨張した被検査領域Ｂから極小さな穴開き箇所を通って空気が徐々に漏れて収縮したと判断して、パウチ５に穴開きが存在する（漏れあり）と判定することができる（図８ｂ穴開き小）。

この判定方法を採用することにより、パウチ５に対して、極小さな穴開きの有無を的確に判定することが可能となる。但し、検査区間での離れた２点の変化量の変化を求めて穴開きの有無を検出する判別方法のみでは、被検査領域Ｂに極めて大きな穴開きが存在する場合、チャンバー１内部の負圧状態において、ほとんど膨張せず（図８ｂ穴開き特大）、第１の変化量と第２の変化量との差が検出されないために、穴開きの存在を検出することができない。

このため、本発明の漏れ検出装置Ａの漏れ判定手段においては、図８ａに示した、検査区間の全ての変化量と閾値１とを比較する判定方法と、図８ｂに示した、検査区間の２点変化量の差と閾値２を比較する判別方法とを併用することが多様な穴開きを検出する上で好ましい。
なお、検査区間で閾値と比較する判定方法において、該検査区間で計測・算出される複数の変化量のすべてが閾値以上であることを条件としてもよく、また、該複数の変化量の平均値が閾値以上であることを条件としてもよい。
また、光学式変位センサ読み取りのノイズの影響を緩和するため、ｉ番目の変位について、例えばｉ−１番目、ｉ番目、ｉ＋１番目の変位とを合わせて移動平均をとった値から計算した変化量で判定してもよい。
また、前述した実施形態では、初期値ａ０，ｂ０を計測し、計測値ａｉ，ｂｉから被検査領域Ｂの変化量を求め、その変化量について閾値と比較し漏れ判定を行ったが、初期値ａ０，ｂ０の代わりに予め設定した閾値と計測値ａｉ，ｂｉとから判定してもよい。例えば、計測値ａｉとｂｉの和、ａｉ＋ｂｉについて、設定した閾値１’との大小を比較して判定を行えばよく、本実施形態の変位測定結果をもとに、検査区間Ａについて、ａｉ＋ｂｉ＞閾値１’を満たし、必要に応じて更に、初期の検査区間Ｂ内の任意の時間のａｉ_B＋ｂｉ_Bの最大値と検査Ｃでのａｉ_C＋ｂｉ_Cとの差が、ａｉ_B＋ｂｉ_B−（ａｉ_C＋ｂｉ_C）（＝ａｉ_B−ａｉ_C＋ｂｉ_B−ｂｉ_C）＜閾値２も満たす場合に、穴開きは存在しない（漏れなし）とする判定条件に設定してもよい。
また、検査区間で２点の差を比較する判別方法において、検査区間Ｂにおける変位量は、検査区間Ｂにおいて算出できる複数の変位量の平均値としてもよい。
さらに、漏れ判定手段について、他にも被検査領域の変化量または計測値ａｉ，ｂｉがそれぞれ所定の閾値の範囲に入っている場合に漏れがないとする判定条件に設定してもよい。
さらにまた、一対の光学式変位センサでパウチ５の表裏１箇所ずつについて計測したが、適宜複数箇所について計測し、個々の値について判定、または、平均をとって判定してもよい。

本実施形態の装置は、パウチ等の軟包装容器の製造ラインに組込まれるインライン装置として構成しても、また、独立するオフライン装置として構成してもよい。
また、被検査対象は注出口部に立体成形部を備えた注出口付パウチに限らず、例えば単純な矩形状パウチの中央に立体形成部を形成したものなど、軟包装容器の形態や立体成形部の形成位置、形状は特に問わない。

Ａ 漏れ検出装置
Ｂ 被検査領域
１ チャンバー
１１ チャンバー容器
１１ａ 壁部材
１１ｂ 透明板
１１ｃ 当接部
１１ｄ 弾性材
１２ チャンバー容器
１２ａ 壁部材
１２ｂ 透明板
１２ｃ 当接部
２ 圧力調節手段
２１ 真空発生手段
２１ａ 真空発生装置
２１ｂ 真空圧力調整装置
２１ｃ 真空電磁弁
２１ｄ 出力管
２２ 真空破壊手段
２２ａ 圧縮空気発生装置
２２ｂ 真空破壊圧力調整装置
２２ｃ 真空破壊電磁弁
２２ｄ 出力管
２３ 連通管
２３ａ 開口
３ａ 光学式変位センサ
３ｂ 光学式変位センサ
５ 注出口付パウチ（軟包装容器）
５１ 注出口部
５２ 立体成形部

Claims (8)

1. 一対のチャンバー容器により形成され、内部に軟包装容器の被検査領域を片持ち状に収容するように軟包装容器における前記被検査領域の外側を挟み込むチャンバーと、
   チャンバー内部の空間の空気を吸引する真空発生手段と、
   一対のチャンバー容器外方にそれぞれ設けられ、チャンバー内部に収容された前記被検査領域の表裏の変位を計測する光学式変位センサと、
   前記光学式変位センサにより計測された前記被検査領域の表裏の変位から前記被検査領域の漏れを判定する漏れ判定手段とを備え、
   前記一対のチャンバー容器は、前記光学式変位センサに対向する面に前記光学式変位センサの光線を透過する透明窓が設けられている
   ことを特徴とする軟包装容器の漏れ検出装置。
2. 前記チャンバーは、一対のチャンバー容器に設けられた当接部同士を当接することにより形成され、
   前記当接部の内縁は、前記被検査領域の外周に対応した形状をなし、
   前記当接部を押圧させることにより前記被検査領域の外側における軟包装容器の一部を密閉して前記被検査領域をチャンバー内部に収容する
   ことを特徴とする請求項１に記載の軟包装容器の漏れ検出装置。
3. 前記チャンバー内部の空間に圧縮空気を送り込む真空破壊手段を備え、
   前記真空破壊手段は、前記光学式変位センサによる前記被検査領域の変位を計測した後、圧縮空気を送り込むことを特徴とする請求項１又は２に記載の軟包装容器の漏れ検出装置。
4. 前記真空破壊手段は、前記チャンバー内部に連通する連通口が前記チャンバー内部に収容された前記被検査領域外に設けてある
   ことを特徴とする請求項３に記載の軟包装容器の漏れ検出装置。
5. 前記真空発生手段は、前記チャンバー内部に連通する連通口が前記チャンバー内部に収容された前記被検査領域外に設けてある
   ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の軟包装容器の漏れ検出装置。
6. 前記光学式変位センサは、圧力調節手段によりチャンバー内部の圧力を調節する前に前記被検査領域の変位を計測し、被検査領域の変位量を算出する際の基準とする
   ことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の軟包装容器の漏れ検出装置。
7. 前記漏れ判定手段は、前記光学式変位センサにより計測した測定値により求めた変位量が所定値以上である場合に漏れなしと判定する
   ことを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の軟包装容器の漏れ検出装置。
8. 前記漏れ判定手段は、前記光学式変位センサにより計測した測定値により求めた変位量が所定値以上であって、かつ、該変位量が所定時間内に所定値以上変化しない場合に漏れなしと判定する
   ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の軟包装容器の漏れ検出装置。

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