JP6419266B2 - 制御可能なクランプを有する電力用インバータのためのシステムおよび方法 - Google Patents

制御可能なクランプを有する電力用インバータのためのシステムおよび方法 Download PDF

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Description

本発明は、一般的には電力用インバータに関するものであり、特定の実施形態によれば、制御可能なクランプを有する電力用インバータのためのシステムおよび方法に関する。
電力用インバータは、直流(DC)電力を交流(AC)電力に変換する。太陽光発電機や風力発電機といったDC発電機により発電された電力は、電力網へ供給(または伝送)できるように、インバータによってAC電力に変換される。中性点クランプ(NPC)型インバータと呼ばれることもある3レベルインバータのトポロジーには、3つの切替状態がある。NPCインバータの各出力電圧ステップは小さく、これによりサージ電圧を低減して出力AC波形を改善することができる。NPCインバータは、ソーラパネルや風力タービンなど、かなり高い電圧の用途において用いられることが多い。NPCインバータは、通常のコンディションでは高いパルス幅変調(PWM)指数によって動作し、1に近い力率を有することができる。
発電機は、短時間の電圧降下(たとえばブラウンアウト)または完全な停電(たとえばブラックアウト)が生じることによって、脱落する場合がある。脱落中、電気は電力網へ供給され続ける。低電圧ライドスルー(low voltage ride through, LVRT)と呼ばれるこのようなコンディションにおいて、インバータは低電圧状態中も動作し続ける。LVRT期間中、インバータのための電源電圧および変調指数は小さい。電力網が誘導特性を示し始めると、インバータの力率も低下する可能性がある。LVRT期間中、インバータは大きいサージ電流を受ける可能性があり、それによってインバータ内の電気素子に過大な負荷が加わる。
本発明による1つの好ましい実施形態によれば装置は、第1の電圧振幅経路と、第2の電圧振幅経路と、第1の電圧振幅経路に結合された第1のクランプ素子と、第2の電圧振幅経路に結合された第2のクランプ素子とを含む。この場合、第1の電圧振幅経路は、第1の複数の電力トランジスタを含み、第1の電圧振幅経路には、アクティブなときに出力信号の正の半波の部分が発生する。第2の電圧振幅経路は、第2の複数の電力トランジスタを含み、この第2の電圧振幅経路には、アクティブなときに出力信号の負の半波の部分が発生する。第1のクランプ素子は、第1の電圧振幅経路のためのフリーホイール経路を成し、第1のクランプ素子は制御端子を含み、第1のクランプ素子は、制御端子が第1の状態にあるときに第1の蓄積電荷を有し、制御端子が第2の状態にあるときに、第2の蓄積電荷を有し、ただし第1の蓄積電荷は第2の蓄積電荷よりも多い。さらに第2のクランプ素子は、第2の電圧振幅経路のためのフリーホイール経路を成し、第2のクランプ素子は制御端子を含み、第2のクランプ素子は、制御端子が第1の状態にあるとき第1の蓄積電荷を有し、制御端子が第2の状態にあるときに、第2の蓄積電荷を有する。
本発明およびその利点についていっそう完全に理解するために、添付の図面と併せて以下の説明を参照されたい。
NPCインバータを示す図 アクティブNPCインバータを示す図 制御可能なダイオードに蓄積したプラズマ電荷を示すグラフ 電力システムのブロック図 NPCインバータにおける制御ラインのタイミングチャート インバータ保護方法を示す図
以下では、種々の実施形態の実施および使用について詳しく説明する。ただし自明のとおり、ここで説明する種々の実施形態は、多種多様な固有の状況において適用可能である。ここで説明する特定の実施形態は、種々の実施形態を実施および使用する特定の態様を例示したにすぎず、発明の範囲が限定されるものとして捉えられるべきものではない。
種々の実施形態によれば、NPCインバータの様々な分野において制御可能なダイオードが実装される。制御可能なダイオードは、蓄積電荷が比較的少ない通常動作モードと、蓄積電荷が比較的多いサージ電流動作モードとの間で、切り替え可能である。通常動作モード中、ダイオードは比較的小さい逆回復損失を有しており、サージ電流動作モード中、ダイオードは比較的大きいサージ電流を阻止することができる。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは、このダイオードの分岐がスイッチオンされる前に、ダイオードに蓄積されたいずれの電荷も放電するように制御される。インバータの1つの分岐をスイッチオンする前にダイオードを放電させることによって、インバータのその分岐におけるスイッチング損失を低減することができる。
図1には、NPCインバータ100が示されている。NPCインバータ100には、電力トランジスタT〜T、フリーホイールダイオードD〜DおよびクランプダイオードD〜Dが含まれている。DC入力信号VDCおよび−VDCによって、NPCインバータ100に電力が供給され、NPCインバータ100はAC出力信号VACを発生する。電力トランジスタT〜Tおよびそれらの個々のフリーホイールダイオードD〜Dを、ダイオード制御機能付き逆導通型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)(RCDC IGBT)などのような1つの同じデバイスの、それぞれ異なる素子とすることができる。
通常動作中、NPCインバータ100を流れる電流は、第1の出力モードまたは第2の出力モードに従って切り替わる。第1の出力モード中、NPCインバータ100は、トランジスタT〜Tを含む第1の経路Pと、クランプダイオードDおよびトランジスタTを含む第2の経路P’と、の間で切り替わる。第2の出力モード中、NPCインバータ100は、トランジスタT〜Tを含む第1の経路Pと、クランプダイオードDおよびトランジスタTを含む第2の経路P’と、の間で切り替わる。第1の出力モード中、NPCインバータ100は、出力信号VACの正の半波の各部分を発生し、第2の出力モード中、NPCインバータ100は、出力信号VACの負の半波の各部分を発生する。クランプダイオードD〜Dは通常動作中、順方向バイアスされており、通常は大きな負荷を受けない。第1の経路P/Pと第2の経路P’/P’との間で切り替わるとき、クランプダイオードD/Dの逆回復電流IRRがトランジスタT/Tにおいて放電され、それによってこれらのトランジスタT/Tにより生じる損失が増大する。これらの損失によって、NPCインバータ100の出力が制限される可能性がある。
LVRTの間、第3の出力モードに従って電流が流れ、このモードによれば電流は、トランジスタTおよびクランプダイオードDを含む第1の経路と、トランジスタTおよびクランプダイオードDを含む第2の経路と、の間で切り替わる。クランプダイオードD〜Dの一方または両方は、LVRTの間、逆方向バイアスされて、大きな負荷を受ける可能性がある。LVRT中、たとえばクランプダイオードD〜Dが電流サージを受けている間、NPCインバータ100の力率および変調指数も減少する可能性がある。負荷が大きくなるにつれて、クランプダイオードD〜Dの温度が上昇し、それによってクランプダイオードD〜Dが破壊される可能性があり、または時間が経過するにつれて消耗する可能性がある。クランプダイオードD〜Dのサイズを大きくすれば、それらが蓄積可能な電荷量を増加させることができ、それらのダイオードが耐えることのできるサージが大きくなる。クランプダイオードD〜Dのサイズを小さくすれば、ある種のシステムでは厳格な場合もある所要スペースを小さくすることができる。また、クランプダイオードが蓄積可能な電荷量を増加させれば、通常動作中のトランジスタT/Tのスイッチング損失が大きくなる可能性がある。このようにNPCインバータ100の最適化は、スイッチング損失の低減(これはクランプダイオードを小さくすることとみなせる)と、サージ容量の増大(これはクランプダイオードを大きくすることとみなせる)と、の間で相反する対立関係を表すといえる。
1つの実施形態によれば、クランプダイオードD〜Dは、プログラマブルダイオードとして実装されており、このダイオードは、MOSゲート制御型ダイオードのように、複数の選択可能な状態で動作可能である。クランプダイオードD〜Dは、アノードとカソードとを有し、さらにトランジスタのゲートに類似した第3の(制御)端子を有する。第3の端子によってクランプダイオードD〜Dは、通常動作モードとサージ電流モードとの間で切り替えられる。通常動作モード中、クランプダイオードD〜Dの蓄積電荷は少なくなっており、これによってダイオードの逆回復損失が低減され、トランジスタT〜Tにおける電力損失を小さくすることができる。サージ電流動作モード中、クランプダイオードD〜Dの導通損失は小さくなっており、これによってクランプダイオードD〜Dが耐えることのできる電流負荷が大きくなる。これに加えサージ電流動作モード中、クランプダイオードD〜Dの蓄積電荷は多くなっており、これによりそれらの逆回復損失が大きくなる。第3の端子は、制御信号VC1〜VC2によって制御される。制御可能なクランプダイオードを用いることで、サイズを低減することができ、さらにNPCインバータ100の効率を高めることができる。クランプダイオードD〜Dを、米国特許出願公開第9,105,679号明細書(U.S. Patent No. 9,105,679)に開示されているダイオードと同様のダイオードとすることができる。ここでこの文献を参照したことにより、その開示内容全体がそのまま取り込まれたものとする。たとえばクランプダイオードD〜Dは、ドリフト領域と電荷キャリア輸送領域との間に挟まれたバリア領域を含むことができる。ダイオードにおける制御構造を、ドリフト(n型)領域に反転層が形成され、または反転状態でバリア(p型)領域が形成され、さらにドリフト領域に非反転層が形成され非反転状態でバリア領域が形成されるように、構成することができる。ドリフト領域に反転層を形成すれば、ダイオードの蓄積電荷を多くすることができる。
いくつかの実施形態によれば、クランプダイオードD〜Dは、アノード効率を制御可能なダイオードである。ダイオードのアノード効率を、アノードとカソードとの間において横方向でダイオード全体にわたり均質に変化させることができる。かかる実施形態の場合、ダイオードは、ダイオードを貫通しかつn型ドーピングされた埋込層を含むことができる。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは、制御可能なMOSゲート型ダイオード(MGD)と通常のダイオードとの混合体を含むことができる。
いくつかの実施形態によれば、クランプダイオードD〜Dは、少なくとも2つの動作モードを有する。第1の動作モード中、ダイオードはアクティブであり、順方向動作の間、通常のダイオードとして動作する。第2の動作モードにおいて、ダイオードは制御可能であるアクティブな半導体領域を有し、サージ電流を搬送するためにいっそう広い領域が得られるように、この領域を拡大することができる。ダイオードの制御端子に供給される信号を制御することによって、アクティブな半導体領域を制御することができる。このダイオードによって、アクティブな半導体領域を小さくすれば、NPCにおける損失を小さくすることができる。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは、第1の半導体領域と第2の半導体領域とを含むことができる。両方の領域をイネーブル状態にすることによって、ダイオードのアクティブな半導体領域を拡大することができる。半導体領域の一方または両方をディスエーブル状態にすることによって、アクティブな半導体領域を縮小することができる。いくつかの実施形態によれば、第2の領域のサイズを第1の領域のサイズの倍数とすることができる。たとえば第2の領域を、第1の領域の約30%、50%、100%または200%とすることができる。
アクティブな半導体領域を変化させることには、ダイオードのアノード効率を変化させることを含めることができる。第2の動作モード中、効率が高められたアノード効率を有するように、ダイオードを構成することができる。第1の動作モード中は、ダイオードが第2の動作モードよりも低い効率のアノード効率となるようにすることができる。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは第3の動作モードを有することができ、このモードにおいてダイオードは、第1の動作モードよりも低い効率のアノード効率を有する。第3の動作モードで動作しているとき、ダイオードは急速に放電可能である。
図2には、アクティブNPC(ANPC)インバータ200が示されている。ANPCインバータ200は、NPCインバータ100と同様のものであるが、ANPCインバータ200には、クランプダイオードD〜Dを有するトランジスタT〜Tが含まれている点で異なっている。いくつかの実施形態によれば、クランプダイオードD〜Dを制御可能なダイオードとすることができる。いくつかの実施形態によれば、トランジスタTとクランプダイオードDとを第1のRCDC IGBTとすることができ、トランジスタTとクランプダイオードDとを第2のRCDC IGBTとすることができる。第1および第2のRCDC IGBTによって、いくつかのダイオード制御機能を提供することができ、ANPCインバータ200におけるクランプダイオードD〜Dによって、通常動作モードとサージ電流モードとを切り替えることができる。
図3は、クランプダイオードD〜Dに蓄積されるプラズマ電荷をゲート電圧の関数として示すグラフである。図3のグラフには、クランプダイオードが3つの異なる動作領域を有することが示されている。
第1の動作領域は、クリティカルな制御端子電圧(Vcrit)よりも低い電圧を有する。図示されているように、クランプダイオードの蓄積電荷は、第1の領域で動作しているときには多くなっている。その結果、クランプダイオードは、第1の領域で動作しているときには、高いサージ電流対応能力を有しており、したがって第1の領域をサージ電流モードと呼ぶことができる。いくつかの実施形態によれば、クリティカルな制御端子電圧Vcritは、約−3V〜約−7Vの間にあり、たとえば約−5Vである。
第2の動作領域は、クリティカルな制御端子電圧Vcritよりも高く、閾値制御端子電圧(VTH)よりも低い電圧を有する。図示されているように、クランプダイオードの蓄積電荷は、第2の領域で動作しているときには少なくなっている。その結果、第2の領域で動作しているときには、クランプダイオードの逆回復損失は小さく、したがって第2の領域を通常動作モードと呼ぶことができる。いくつかの実施形態によれば、閾値制御端子電圧VTHは約5V〜約6Vの間にあり、たとえば約5Vである。いくつかの実施形態によれば、閾値制御端子電圧VTHを、クリティカルな制御端子電圧Vcritよりも高い任意の値とすることができ、たとえば0V、2V、5V等とすることができる。
第3の動作領域は、閾値制御端子電圧(VTH)よりも高い電圧を有する。図示されているように、クランプダイオードの蓄積電荷は、第3の領域で動作しているときには少なくなっている。制御端子電圧が閾値制御端子電圧VTHを超えると、クランプダイオードにおける電荷キャリアが除去される。その結果、ダイオードに蓄積された電荷が急速に減少し、それによってこのダイオードがその一部を成すNPCインバータ内のトランジスタのスイッチング損失が減少する。したがって第3の領域を、放電モードと呼ぶことができる。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは、第3の動作領域においては逆阻止特性をもたないようにすることができる。
図4は、負荷420に電力供給するインバータシステム410を含む電力システム400のブロック図である。インバータシステム410は、ソーラパネルまたは風力タービンといった発電機から入力DC信号を受け取り、その信号を出力AC信号に変換する。出力AC信号は負荷420へ供給される。インバータシステム410は、種々の実施形態によるインバータと、LVRT中、インバータを保護する制御装置と、を含む。
インバータシステム410は、インバータ412と検出器414とコントローラ416とを含む。インバータシステム410は、LVRT中、システムを保護するために、インバータ412内のクランプダイオードの動作モードを制御する。インバータシステム410は、入力端子、出力端子、およびインバータシステム410の出力を検出するためのフィードバックを有する。
インバータ412を、NPCインバータ100またはANPCインバータ200と同様のものとすることができ、NPCの各分岐をクランプするために、制御可能なダイオードまたはRCDC IGBTを使用する。LVRT中、クランプダイオードまたはIGBTは、蓄積電荷が比較的多い第1のモードで動作する。蓄積電荷が多くなると、サージ電流対応能力が高まるが、逆回復損失も大きくなる。通常動作中、クランプダイオードまたはIGBTは、蓄積電荷が比較的少ない第2のモードで動作する。蓄積電荷が少なくなっていることから、逆回復損失が低下するが、サージ電流対応能力も低下する。
検出器414は、インバータシステム410の出力を測定する。図示されている実施形態の場合、検出器414は、出力を測定するために負荷420を直接的に測定するが、他のフィードバックメカニズムを用いてもよい。たとえば検出器416は、インバータ412の力率または変調指数の測定によって、出力を間接的に測定または近似してもよい。
インバータ412および検出器414には、コントローラ416が接続されている。コントローラ416はインバータ412を制御し、出力信号VACの各半波ごとに適切な出力モード間でインバータ412を切り替えることによって、AC信号を発生させる。コントローラ416を、マイクロコントローラ、マイクロプロセッサ、DSP、ディジタルロジックデバイス等とすることができる。いくつかの実施形態によれば、コントローラ416は、正弦波変調されたAC信号を発生させることができ、その際にインバータ412は、出力信号よりも高いレートで出力モード間において切り替えられる。たとえばインバータ412を、AC信号の周波数の倍数であるサンプリングレートで切り替えることができる。いくつかの実施形態によれば、この倍数を約50〜約400とすることができ、たとえば約100とすることができる。いくつかの実施形態によれば、インバータ412を、約500Hz〜約20kHzの周波数で切り替えて、それぞれ約1Hz〜50Hzの周波数のAC信号を発生させることができる。
動作中、コントローラ416は、検出器414を用いてインバータシステム410の出力を特定する。出力の低下を検出すると、コントローラ416は、インバータ412がLVRTおよびサージ状態に入ったのかを、またはLVRTおよびサージ状態に入ろうとしているのか、を検出することができる。たとえば、検出器414により測定された出力電圧が予め定められた閾値を下回ると、コントローラ416はサージを検出することができる。通常動作中、コントローラ416は、インバータ412内のクランプダイオードを第2のモードにセットする。コントローラ416がサージ状態であることを特定すると、コントローラ416は、インバータ412内のクランプダイオードを第1のモードに切り替える。コントローラ416は、インバータ412における制御可能なダイオードのゲート電圧を変更することによって、クランプダイオードのモードを変更する。
出力AC信号によって負荷420に電力が供給され、この場合、負荷420をかなり大規模な配電網を表すものとすることができる。LVRT中、電力網に障害が及ぼされるのを阻止するために、インバータシステム410は負荷420に電力を供給し続ける。LVRT中、負荷420は、インバータシステム410の視点からすると誘導特性を示し始める可能性があり、それによってインバータ412のクランプダイオードD〜Dにおいて熱によるストレスが引き起こされる。
いくつかの実施形態によれば、コントローラ416は、クランプダイオードの出力経路においてトランジスタをイネーブル状態にする前に、インバータ412内のクランプダイオードを短期間、第3のモードに切り替える。第3のモード中、制御可能なダイオードまたはRCDC IGBTは、出力経路におけるトランジスタがターンオンする前に、それらのダイオードまたはRCDC IGBTに蓄積された電荷を放電する。トランジスタがターンオンする前に、蓄積電荷を放電することによって、トランジスタを介した蓄積電荷の放電が回避される。これによって、トランジスタのスイッチング損失を低減することができ、さらにはインバータ412における損失が低減される。
図5には、NPCインバータ100などのインバータにおける素子のための制御ラインのタイミングチャートが示されている。このタイミングチャートは、ある1つの分岐のためのクランプダイオードたとえばクランプダイオードDが、その分岐内のトランジスタたとえばトランジスタTがターンオンされる前に、放電される実施形態を表すものである。図示されているように、クランプダイオードDに対する制御電圧は、トランジスタTがターンオンする前、時間tにわたり短期間、高められる。図3のところで既に述べたように、制御電圧を高めることによって、クランプダイオードDに蓄積された電荷が低減される。たとえば、NPCインバータ100が第2のモードで動作しているときに、クランプダイオードDを短期間、第3のモードに切り替えて、その後、第2のモードに戻すことができる。時間tを、NPCインバータ100の動作条件に基づき変化させることができる。クランプダイオードD〜Dが、約2000Vよりも低い電圧を阻止するならば、この時間を約1ms〜約10msとすることができる。クランプダイオードD〜Dが、約6.5kVの電圧を阻止するならば、この時間を約20ms〜約100msとすることができる。放電後、クランプダイオードDが切り替えられて第2のモードに戻される理由は、第3のモードにあるときには、たとえば放電状態のときには、逆方向電圧を阻止する能力が得られないからである。したがってトランジスタTがターンオンされる前、リードタイムtにわたりクランプダイオードDをスイッチオフすることができる。リードタイムtを、約10ns〜約2μsとすることができる。
図6は、インバータ保護方法600を示す図である。インバータ保護方法600を、上述のインバータシステム410などのようなインバータシステムにおいて生じるオペレーションを表すものとすることができる。この方法は、シーケンシャルなフローチャートとして示されているけれども、自明のとおり、このインバータ保護方法600を、様々な順序で実施することができる。
最初にオプションとして、インバータ内のクランプダイオードが放電される(ステップ602)。クランプダイオードの制御電圧を放電閾値よりも高く設定することによって、それらのクランプダイオードを放電させることができる。クランプダイオードを放電させることによって、インバータ内のトランジスタを保護することができ、またはそれらのトランジスタのスイッチング損失を低減することができる。クランプダイオードが放電閾値よりも高く設定される時間の長さを、インバータが動作する電圧に従って決定することができる。
次に、インバータ内のクランプダイオードが、通常動作となるよう設定される(ステップ604)。通常動作中、クランプダイオードの蓄積電荷は少ない。ダイオードの制御電圧をクリティカルレベルよりも高くなるよう設定することによって、それらのダイオードを通常動作モードにセットすることができる。
次に、インバータの1つの分岐のトランジスタがターンオンされる(ステップ606)。その際、インバータの正の半波振幅の分岐のためのトランジスタを、またはインバータの負の半波振幅のためのトランジスタを、ターンオンすることができる。
次に、インバータにおいてサージ条件が検出される(ステップ608)。サージ条件は、たとえばLVRT中などに電圧降下によって引き起こされる可能性がある。サージ条件を、インバータの出力電圧を直接的に測定することによって、または力率または変調指数などのようなインバータの特性を測定することによって、検出することができる。
次に、クランプダイオードがサージモードにセットされる(ステップ610)。ダイオードの制御電圧をクリティカルレベルよりも低くなるよう設定することによって、それらのダイオードをサージ動作モードにセットすることができる。サージモード中、クランプダイオードの蓄積電荷は多く、これによって、重大な損傷または過熱を被ることなく、それらのダイオードが大電流に耐えることができるようになる。
本発明による1つの好ましい実施形態の利点は、インバータ内のクランプダイオードのサイズを著しく増大させることなくそれらを保護できる、という点にある。一般的には、素子のアクティブな半導体領域を拡大することによって、それらのサージ電流対応能力が高められる。また、クランプダイオードのサイズを低減することによって、所要スペースを小さくすることができ、かつ電気的な性能を高めることができる。このことによって、ダイオードを損傷させるリスクを高めることなく、ダイオードの逆回復損失を最適化することができる。よって、電力効率を改善することができる。さらに、通常動作の前にダイオードを放電させることによって、そのダイオードを含むインバータ分岐内のトランジスタを保護することができ、それによってトランジスタのスイッチング損失を低減することができ、さらにそれらのトランジスタの出力効率が高められる。
本発明による1つの好ましい実施形態によれば装置は、第1の電圧振幅経路と、第2の電圧振幅経路と、第1の電圧振幅経路に結合された第1のクランプ素子と、第2の電圧振幅経路に結合された第2のクランプ素子とを含む。この場合、第1の電圧振幅経路は、第1の複数の電力トランジスタを含み、第1の電圧振幅経路には、アクティブなときに出力信号の正の半波の部分が発生する。第2の電圧振幅経路は、第2の複数の電力トランジスタを含み、この第2の電圧振幅経路には、アクティブなときに出力信号の負の半波の部分が発生する。第1のクランプ素子は、第1の電圧振幅経路のためのフリーホイール経路を成し、第1のクランプ素子は制御端子を含み、第1のクランプ素子は、制御端子が第1の状態にあるときに第1の蓄積電荷を有し、制御端子が第2の状態にあるときに、第2の蓄積電荷を有し、ただし第1の蓄積電荷は第2の蓄積電荷よりも多い。さらに第2のクランプ素子は、第2の電圧振幅経路のためのフリーホイール経路を成し、第2のクランプ素子は制御端子を含み、第2のクランプ素子は、制御端子が第1の状態にあるとき第1の蓄積電荷を有し、制御端子が第2の状態にあるときに、第2の蓄積電荷を有する。
いくつかの実施形態によれば、第1の電圧振幅経路は、正の電圧源および出力信号を出力する共通の端子に結合された第1の複数の電力スイッチを含む。第1のクランプ素子はアノードとカソードとを含み、第1のクランプ素子のアノードには入力信号が供給され、第1のクランプ素子のカソードには、第1の複数の電力スイッチが結合されている。第2の電圧振幅経路は、負の電圧源および上記の共通の端子に結合された第2の複数の電力スイッチを含む。第2のクランプ素子はアノードとカソードを含み、第2のクランプ素子のカソードには入力信号が供給され、第2のクランプ素子のアノードには、第2の複数の電力スイッチが結合されている。いくつかの実施形態によれば、第1のクランプ素子および第2のクランプ素子はダイオードであり、それらのダイオードは、制御端子が第1の状態にあるときには低いアノード効率を有し、制御端子が第2の状態にあるときには高いアノード効率を有する。いくつかの実施形態によれば、それらのダイオードは、アノードとカソードとの間において横方向でダイオードを貫通しかつn型ドーピングされた埋込層を含む。いくつかの実施形態によれば、それらのダイオードはMOSゲート型ダイオードである。いくつかの実施形態によれば、第1のクランプ素子および第2のクランプ素子は、ダイオード制御機能付き逆導通型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(RCDC IGBT)である。いくつかの実施形態によれば、第1のクランプ素子および第2のクランプ素子は、制御端子が第3の状態にあるときには、第2の蓄積電荷よりも少ない第3の蓄積電荷を有する。いくつかの実施形態によれば、第1のクランプ素子および第2のクランプ素子はコントローラに結合されており、このコントローラは以下のように構成されている。すなわち、出力信号を測定し、出力信号が予め定められた閾値よりも小さくなると、第1のクランプ素子および第2のクランプ素子の制御端子を第1の状態へ切り替えるように構成されている。いくつかの実施形態によれば、コントローラはさらに、出力信号が予め定められた閾値を超えると、第1のクランプ素子および第2のクランプ素子の制御端子を第2の状態へ切り替えるように構成されている。いくつかの実施形態によれば、コントローラはさらに以下のように構成されている。すなわち、第1のクランプ素子の制御端子を第3の状態に切り替え、所定の期間経過後、第1のクランプ素子の制御端子を第2の状態に切り替え、第1の電圧振幅経路をアクティブ状態にするように構成されている。
本発明の1つの好ましい実施形態によれば、システムは、NPCインバータと、検出器と、これらの検出器およびNPCインバータに結合されたコントローラとを含む。この場合、NPCインバータは複数のクランプデバイスを含み、複数のクランプデバイス各々は制御端子を有し、これらの複数のクランプデバイス各々は、制御端子が第1の状態であれば第1の蓄積電荷を有し、制御端子が第2の状態にあれば第2の蓄積電荷を有し、ただし第1の蓄積電荷は第2の蓄積電荷よりも多く、NPCインバータはDC入力信号からAC出力信号を発生する。検出器は、NPCインバータのAC出力信号を測定するように構成されている。コントローラは、検出器により測定されたAC出力信号が予め定められた閾値よりも小さくなると、複数のクランプデバイス各々の制御端子を第1の状態に切り替えるように構成されている。
いくつかの実施形態によれば、複数のクランプデバイスは、制御可能なダイオードと並列にIGBTを含み、IGBTと制御可能なダイオードは、NPCインバータの電圧振幅経路内にある。いくつかの実施形態によれば、複数のクランプデバイスは、第1の状態では低いアノード効率を有し、第2の状態では高いアノード効率を有するダイオードである。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは制御可能なアクティブな半導体領域を含み、第1の状態における制御可能なアクティブな半導体領域のサイズは、第2の状態における制御可能なアクティブな半導体領域のサイズよりも大きい。いくつかの実施形態によれば、ダイオードは、それらのダイオードのアノードとカソードとの間において、横方向でダイオードを貫通しかつn型ドーピングされた埋込層を含む。いくつかの実施形態によれば、それらのダイオードはMOSゲート型ダイオードである。いくつかの実施形態によれば、複数のクランプデバイスは、ダイオード制御機能付き逆導通型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(RCDC IGBT)である。いくつかの実施形態によれば、コントローラはさらに、検出器により測定されたAC出力信号が予め定められた閾値を超えると、複数のクランプデバイス各々の制御端子を第2の状態に切り替えるように構成されている。いくつかの実施形態によれば、複数のクランプデバイス各々は、制御端子が第3の状態にあるときには、第2の蓄積電荷よりも少ない第3の蓄積電荷を有する。いくつかの実施形態によれば、コントローラはさらに以下のように構成されている。すなわち、複数のクランプデバイスのうち第1のクランプデバイスの制御端子を第3の状態に切り替え、所定の期間経過後、第1のクランプデバイスの制御端子を第2の状態に切り替え、第1のクランプデバイスのアノードおよびカソードに結合されたNPCインバータの1つの経路をアクティブ状態にするように構成されている。いくつかの実施形態によれば、NPCインバータの経路は、第1のクランプデバイスの制御端子が第2の状態に切り替えられた後、約100ns〜約2μsの間、アクティブ状態にされる。いくつかの実施形態によれば、上記の所定の期間は約1ms〜約10msの間であり、クランプデバイスの阻止電圧は、約2000Vよりも低い。いくつかの実施形態によれば、上記の所定の期間は約20ms〜約100msの間であり、クランプデバイスの阻止電圧は約6.5kVである。いくつかの実施形態によれば、DC入力信号はソーラパネルを供給源とする。いくつかの実施形態によれば、DC入力信号は風力タービンを供給源とする。いくつかの実施形態によれば、AC出力信号は電力網に伝送される。
本発明の1つの好ましい実施形態によれば、方法は以下のステップを含む。すなわち、インバータ内のクランプデバイスを第1のモードで動作するように設定するステップであって、インバータは、第1のモードにおいて第1の電圧と等しい出力信号を発生するステップと、クランプデバイスに結合されたインバータの1つの分岐をイネーブル状態にするステップと、出力信号を測定するステップと、測定された出力信号が第1の電圧よりも低い第2の電圧であれば、第2のモードで動作するようにクランプデバイスを切り替えるステップとを含む。
いくつかの実施形態によれば、上記の方法はさらに、インバータの分岐をイネーブル状態にするステップの前に、クランプデバイスを第3のモードに切り替えるステップと、所定の期間、待機するステップと、クランプデバイスを第1のモードに切り替えるステップとを含む。
これまで例示的な実施形態を参照しながら本発明について説明してきたが、この説明はそれらに限定するという趣旨で解釈されることを意図したものではない。上述の説明を参照すれば当業者には、それらの例示的な実施形態の種々の変形および組み合わせ、ならびに本発明の他の実施形態も容易に理解されよう。よって、添付の特許請求の範囲は、あらゆる変形または実施形態を包含するものである。

Claims (28)

  1. 第1の電圧振幅経路と、第2の電圧振幅経路と、前記第1の電圧振幅経路に結合された第1のクランプ素子と、前記第2の電圧振幅経路に結合された第2のクランプ素子と、を含む装置であって、
    ・前記第1の電圧振幅経路は、第1の複数の電力トランジスタを含み、前記第1の電圧振幅経路には、アクティブなときに出力信号の正の半波の部分が発生し、
    ・前記第2の電圧振幅経路は、第2の複数の電力トランジスタを含み、前記第2の電圧振幅経路には、アクティブなときに出力信号の負の半波の部分が発生し、
    ・前記第1のクランプ素子は、前記第1の電圧振幅経路のためのフリーホイール経路を成し、前記第1のクランプ素子は、制御端子を含み、前記第1のクランプ素子は、前記制御端子が第1の状態にあるときに第1の蓄積電荷を有し、前記制御端子が第2の状態にあるときに第2の蓄積電荷を有し、ただし前記第1の蓄積電荷は前記第2の蓄積電荷よりも多く、
    ・前記第2のクランプ素子は、前記第2の電圧振幅経路のためのフリーホイール経路を成し、前記第2のクランプ素子は、制御端子を含み、前記第2のクランプ素子は、前記制御端子が前記第1の状態にあるときに第1の蓄積電荷を有し、前記制御端子が前記第2の状態にあるときに第2の蓄積電荷を有する、
    装置。
  2. ・前記第1の電圧振幅経路は、正の電圧源と前記出力信号を出力する共通の端子とに結合された第1の複数の電力スイッチを含み、
    ・前記第1のクランプ素子は、アノードとカソードとを含み、前記第1のクランプ素子のアノードには入力信号が供給され、前記第1のクランプ素子のカソードには前記第1の複数の電力スイッチが結合されており、
    ・前記第2の電圧振幅経路は、負の電圧源と前記共通の端子とに結合された第2の複数の電力スイッチを含み、
    ・前記第2のクランプ素子は、アノードとカソードとを含み、前記第2のクランプ素子のカソードには入力信号が供給され、前記第2のクランプ素子のアノードには前記第2の複数の電力スイッチが結合されている、
    請求項1記載の装置。
  3. 前記第1のクランプ素子および前記第2のクランプ素子は、ダイオードであり、前記ダイオードは、前記制御端子が前記第1の状態にあるときには低いアノード効率を有し、前記制御端子が前記第2の状態にあるときには高いアノード効率を有する、
    請求項2記載の装置。
  4. 前記ダイオードは、アノードとカソードとの間において横方向で前記ダイオードを貫通しかつn型ドーピングされた埋込層を含む、
    請求項3記載の装置。
  5. 前記ダイオードは、MOSゲート型ダイオードである、
    請求項3記載の装置。
  6. 前記第1のクランプ素子および前記第2のクランプ素子は、ダイオード制御機能付き逆導通型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(RCDC IGBT)である、
    請求項1記載の装置。
  7. 前記第1のクランプ素子および前記第2のクランプ素子は、前記制御端子が第3の状態にあるときには、前記第2の蓄積電荷よりも少ない第3の蓄積電荷を有する、
    請求項1記載の装置。
  8. 前記第1のクランプ素子および前記第2のクランプ素子は、コントローラに結合されており、前記コントローラは、
    ・前記出力信号を測定し、
    ・前記出力信号が予め定められた閾値よりも小さくなると、前記第1のクランプ素子および前記第2のクランプ素子の制御端子を前記第1の状態へ切り替える、
    ように構成されている、
    請求項7記載の装置。
  9. 前記コントローラは、さらに、
    前記出力信号が前記予め定められた閾値を超えると、前記第1のクランプ素子および前記第2のクランプ素子の制御端子を前記第2の状態へ切り替える、
    ように構成されている、
    請求項8記載の装置。
  10. 前記コントローラは、さらに、
    ・前記第1のクランプ素子の制御端子を前記第3の状態に切り替え、
    ・所定の期間経過後、前記第1のクランプ素子の制御端子を前記第2の状態に切り替え、
    ・前記第1の電圧振幅経路をアクティブ状態にする、
    ように構成されている、
    請求項8記載の装置。
  11. NPCインバータと、検出器と、前記検出器および前記NPCインバータに結合されたコントローラと、を含むシステムであって、
    ・前記NPCインバータは、複数のクランプデバイスを含み、前記複数のクランプデバイスの各々は、制御端子を有し、前記複数のクランプデバイスの各々は、前記制御端子が第1の状態にあるときには第1の蓄積電荷を有し、前記制御端子が第2の状態にあるときには第2の蓄積電荷を有し、ただし前記第1の蓄積電荷は、前記第2の蓄積電荷よりも多く、前記NPCインバータは、DC入力信号からAC出力信号を発生し、
    ・前記検出器は、前記NPCインバータの前記AC出力信号を測定するように構成されており、
    ・前記コントローラは、前記検出器により測定された前記AC出力信号が予め定められた閾値よりも小さくなると、前記複数のクランプデバイス各々の制御端子を前記第1の状態に切り替えるように構成されている、
    システム。
  12. 前記複数のクランプデバイスは、制御可能なダイオードと並列にIGBTを含み、前記IGBTおよび前記制御可能なダイオードは、前記NPCインバータの電圧振幅経路内にある、
    請求項11記載のシステム。
  13. 前記複数のクランプデバイスは、前記第1の状態では低いアノード効率を有し、前記第2の状態では高いアノード効率を有するダイオードである、
    請求項11記載のシステム。
  14. 前記ダイオードは、制御可能なアクティブな半導体領域を含み、前記第1の状態における前記制御可能なアクティブな半導体領域のサイズは、前記第2の状態における前記制御可能なアクティブな半導体領域のサイズよりも大きい、
    請求項13記載のシステム。
  15. 前記ダイオードは、前記ダイオードのアノードとカソードとの間において、横方向で前記ダイオードを貫通しかつn型ドーピングされた埋込層を含む、
    請求項13記載のシステム。
  16. 前記ダイオードは、MOSゲート型ダイオードである、
    請求項13記載のシステム。
  17. 前記複数のクランプデバイスは、ダイオード制御機能付き逆導通型絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(RCDC IGBT)である、
    請求項11記載のシステム。
  18. 前記コントローラは、さらに、
    前記検出器により測定された前記AC出力信号が予め定められた閾値を超えると、前記複数のクランプデバイス各々の制御端子を前記第2の状態に切り替える、
    ように構成されている、
    請求項11記載のシステム。
  19. 前記複数のクランプデバイスの各々は、前記制御端子が第3の状態にあるときには、前記第2の蓄積電荷よりも少ない第3の蓄積電荷を有する、
    請求項11記載のシステム。
  20. 前記コントローラは、さらに、
    ・前記複数のクランプデバイスのうち第1のクランプデバイスの制御端子を前記第3の状態に切り替え、
    ・所定の期間経過後、前記第1のクランプデバイスの制御端子を前記第2の状態に切り替え、
    ・前記第1のクランプデバイスのアノードおよびカソードに結合された前記NPCインバータの経路をアクティブ状態にする、
    ように構成されている、
    請求項19記載のシステム。
  21. 前記NPCインバータの経路は、前記第1のクランプデバイスの制御端子が前記第2の状態に切り替えられた後、約100ns〜約2μsの間、アクティブ状態にされる、
    請求項20記載のシステム。
  22. 前記所定の期間は、約1ms〜約10msの間であり、前記クランプデバイスの阻止電圧は、約2000Vよりも低い、
    請求項20記載のシステム。
  23. 前記所定の期間は、約20ms〜約100msの間であり、前記クランプデバイスの阻止電圧は、約6.5kVである、
    請求項20記載のシステム。
  24. 前記DC入力信号は、ソーラパネルを供給源とする、
    請求項11記載のシステム。
  25. 前記DC入力信号は、風力タービンを供給源とする、
    請求項11記載のシステム。
  26. 前記AC出力信号は、電力網に伝送される、
    請求項11記載のシステム。
  27. 以下のステップを含む方法であって、すなわち、
    ・インバータ内のクランプデバイスの制御電圧をクリティカルレベルよりも高くなるよう設定することによって、前記クランプデバイスを第1のモードで動作するように設定するステップと
    ・前記クランプデバイスに結合された前記インバータの1つの分岐をイネーブル状態にするステップと
    ・前記クランプデバイスの前記制御電圧を前記クリティカルレベルよりも低くなるよう設定することによって、第2のモードで動作するように前記クランプデバイスを切り替えるステップと、
    を含み、
    前記第1のモードにおける前記クランプデバイスの蓄積電荷は、前記第2のモードにおける前記クランプデバイスの蓄積電荷より小さい、
    方法。
  28. ・前記インバータの分岐をイネーブル状態にする前記ステップの前に、前記クランプデバイスを第3のモードに切り替えるステップと、
    ・所定の期間、待機するステップと、
    ・前記クランプデバイスを前記第1のモードに切り替えるステップと、
    を含む、
    請求項27記載の方法。
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