JP6418739B2 - 評価装置、表面実装機、評価方法 - Google Patents
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Description
・前記画像処理部は、認識対象の画像の明るさを変化させる処理を実行し、前記評価部は、認識アルゴリズムの明るさの変化に対するロバスト性を評価する。明るさの変化に対するロバスト性を評価することで、認識対象を撮影する際の照明光量の変動や、外乱光等の影響を受け難い認識データを作成可能な認識アルゴリズムが選択可能となる。尚、ロバストとは、変化(外乱)に対して頑強であることを意味する。
本発明の実施形態1を図1ないし図15によって説明する。
1.概要説明
「認識アルゴリズム」とは、認識対象を画像認識するアルゴリズムであり、例えば、プリント基板に実装する電子部品の画像認識等に使用される。認識アルゴリズムによる認識内容は、認識対象の形状等であり、認識対象がリード付きの電子部品50の場合、図1にて示すように、電子部品50の画像からリード等を検出してリード幅d、リード間のピッチP、リード51の先端間距離L1、リード先端座標、リード本数、リード長L2、検出閾値等を画像認識する。また、これら認識結果から電子部品50の中心座標Oや傾きθを検出することが出来る。電子部品50の中心座標Oや傾きθは、得られた認識結果から演算できるほか、部品の基準データが存在する場合には、基準データと認識結果を照合して位置のズレを求めることでも検出できる。
認識アルゴリズムの適否を評価する評価方法は、以下の(a)〜(c)の3ステップから構成されている。
(b)認識処理(図12:S34)
(c)評価処理(図13:S41、S43)
認識アルゴリズム自動選択装置10は、図9に示すように、CPU(本発明の「制御部」の一例)21、入力部23、RAM31、画像メモリ33、ROM35、表示部37などから構成されている。入力部23は、カメラ41、スキャナ43、メディア45等の外部機器から認識対象の画像データ(入力画像)を受け付ける機能を果たす。
次に、CPU21により実行される認識アルゴリズムの評価シーケンスについて、図10〜図15を参照して説明を行う。認識アルゴリズムの評価シーケンスは、図10に示すように、S10〜S50の処理から構成されている。尚、以下の説明において、ROM35に対して、電子部品用の認識アルゴリズムとして、全N個が記憶されているものとして説明を行う。
このような処理が、認識アルゴリズムを1つずつ読み出して繰り返し行われる。
ユーザのスキルが十分でない場合には、電子部品等を画像認識するにあたり、どの認識アルゴリズムが最適か選択することが難しかった。この点、本実施形態では、認識に最適な認識アルゴリズムを自動選択できるので、ユーザが認識アルゴリズムを誤って選択したり、選択に戸惑うことがない。
次に本発明の実施形態2を、図16、図17を参照して説明する。
実施形態1では、認識アルゴリズムの適否の評価項目として、「明るさの変動耐性」、「サイズ変動耐性」、「位置追従性」、「回転追従性」の4項目を挙げた。
次に、本発明の実施形態3を図18〜図20を参照して説明する。
実施形態3は、実施形態1の認識アルゴリズム自動選択装置10を、表面実装機100の一部に組み込んでいる。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
21...CPU(本発明の「制御部」の一例)
21A...画像処理部
21B...認識部
21C...評価部
21D...選択部
21E...計測部
23...入力部
31...RAM
33...画像メモリ
35...ROM
37...表示部
100...表面実装機
130...部品搭載装置(本発明の「実装部」の一例)
180...部品認識カメラ(本発明の「撮影部」の一例)
190...基板認識カメラ(本発明の「撮影部」の一例)
W...電子部品
M...位置マーク(本発明の「マーク」の一例)
Claims (6)
- 認識アルゴリズムの適否を評価する評価装置であって、
認識対象の画像に変化を与える画像処理を実行する画像処理部と、
前記画像処理部にて変化を与えた画像を、複数の認識アルゴリズムを用いて、それぞれ認識する認識部と、
各認識アルゴリズムの認識結果から、認識対象に対する認識の適否を評価する評価部と、
前記評価部による評価結果に基づいて、認識に適した認識アルゴリズムを自動選択する選択部を含み、
前記画像処理部は、画像の明るさを変化させる処理と、画像のサイズを変化させる処理と、画像の位置を変化させる処理と、画像の角度を変化させる処理のうち、少なくとも2以上の処理を実行し、
前記評価部は、各変化に対する各認識アルゴリズムの評価点をそれぞれ算出し、
前記選択部は、各変化に対する各認識アルゴリズムの評価点に基づいて、前記複数の認識アルゴリズムの中から、認識に適した認識アルゴリズムを自動選択する、評価装置。 - 各認識アルゴリズムが認識に要する時間を計測する計測部を含み、
前記評価部は、変化に対する各認識アルゴリズムの認識結果と、各認識アルゴリズムの認識時間とに基づいて、認識の適否を評価する請求項1に記載の評価装置。 - 前記画像処理部と、前記認識部と、前記評価部と、前記選択部とを含む、制御部を有する請求項1又は請求項2に記載の評価装置。
- 表示部を備え、
前記制御部は、前記評価結果を前記表示部に表示させる請求項3に記載の評価装置。 - 電子部品をプリント基板上に実装する実装部と、
前記電子部品又は前記プリント基板を撮影する撮影部と、
請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の評価装置と、を含み、
前記認識対象は、前記電子部品又は、前記プリント基板上に設けられたマークを含む、表面実装機。 - 認識アルゴリズムの適否を評価する評価方法であって、
認識対象の画像に変化を与える画像処理ステップと、
前記画像処理ステップにて変化を与えた画像を、複数の認識アルゴリズムを用いて、それぞれ認識させる認識ステップと、
各認識アルゴリズムの認識結果から、認識対象に対する認識の適否を評価する評価ステップと、
前記評価ステップでの評価結果に基づいて、認識に適した認識アルゴリズムを自動選択する選択ステップと、を含み、
前記画像処理ステップでは、画像の明るさを変化させるステップと、画像のサイズを変化させるステップと、画像の位置を変化させるステップと、画像の角度を変化させるステップのうち、少なくとも2以上のステップを実行し、
前記評価ステップでは、各変化に対する各認識アルゴリズムの評価点をそれぞれ算出し、
前記選択ステップでは、各変化に対する各認識アルゴリズムの評価点に基づいて、前記複数の認識アルゴリズムの中から、認識に適した認識アルゴリズムを自動選択する、評価方法。
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