JP6406878B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents

Description

本発明は、画像処理装置に関し、特に光干渉断層撮影装置において好適に機能する画像処理装置及び画像処理方法に関する。

現在、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光干渉断層撮影装置が眼科において適用されている。この光干渉断層撮影装置は低コヒーレント光である測定光を被検眼に照射し、その被検眼からの反射散乱光に対し、干渉系を用いてこれを受光することで測定を行う装置である。その際、該測定光を被検眼上で走査することで被検眼の断層画像を高解像度に撮影することが可能となっている。

このような光干渉断層撮影装置で撮影した被検眼の断層画像には様々なノイズが発生する。その為同一領域で撮影された複数枚の断層画像を平均処理することによりノイズ低減が図られている。加えて被検眼は固視微動等を行うため、その影響により完全に同一領域を撮影することは出来ない。このことから、複数枚の断層画像を平均処理する為の前処理として、複数枚の断層画像間の位置ずれの検出と断層画像全体を並進、回転処理させることによる位置ずれ補正の処理がされている。

ここで、一般的な位置ずれ検出のための手法について詳細に述べる。検出に際し、パターンマッチングを用いて複数枚の断層画像間の類似度（或いは相違度）をまず算出する。この類似度(或いは相違度)が最大（或いは最小）となる断層画像間の位置関係を取得することで位置ずれの検出を行う。

更に、近年、位置ずれ検出及び位置ずれ補正を高精度に行うことで高精細な断層画像を提供する眼科撮影装置が提案されている。特許文献１に開示される装置では、断層画像を複数領域へ分割し、分割領域毎にパターンマッチングを行う。これにより分割領域毎に位置ずれ検出及び位置ずれ補正を行うことができ、一枚の断層画像の中の局所的な位置ずれに対応した良好な断層画像を取得することが可能となる。

特許５１９９０３１号公報

特許文献１に開示される手法のように、断層画像を複数領域へ分割し、この分割領域毎に位置ずれ補正を行うと、得られる断層画像は分割領域との境界上でアーティファクトが発生する。例えば、局所的な位置ずれが断層の深度方向にある断層画像に対して位置ずれ補正を行うと、得られる断層画像に描写される断層は分割領域との境界上で深度方向に位置ずれ補正量分ずれが生じる。アーティファクトとは、このような現象により生じる画像上の不連続点のことである。

特許文献１に開示される手法の場合、平均処理が行われる断層画像の全数において領域分割位置が同じである為、アーティファクトが起こる箇所が常に同一箇所となり、平均処理後に得られる断層画像にもアーティファクトが残ってしまう。

本発明はこのような状況に対して為されたものであって、従来に比べてアーティファクトの少ない良好な断層画像を提供し得る光干渉断層撮影装置に好適に用いられる画像処理装置の提供を目的とする。

上記課題を解決する為の本発明の一形態による画像処理装置は以下の構成を備える。
即ち、複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記複数の断層画像の中から、基準断層画像と、ずれ量を検出する検出対象となる対象断層画像とを選択する選択手段と、
前記基準断層画像において複数のテンプレートを設定するテンプレート設定手段と、
前記複数のテンプレート各々に対応する前記基準断層画像の領域の中の画像を、前記対象断層画像から探索することにより、前記基準断層画像に対する前記対象断層画像の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、
前記位置ずれ検出手段の出力に基づいて前記対象断層画像の位置ずれを補正する位置合わせ手段と、を備え、
前記テンプレート設定手段により前記基準断層画像に設定される前記複数のテンプレートの境界の位置が、前記対象断層画像に応じて異なることを特徴とする。

本発明により、被検眼の断層画像間の局所的な位置ずれを補正すると共に、平均処理後に得られる断層画像は局所的な位置ずれ補正によって発生するアーティファクトがない、良好な断層画像を提供することができる。

本発明の一実施例に係る画像処理装置を有する光干渉断層撮影装置の構成図である。 図１に示す実施例におけるデータ取得部の構成を模式的に示す図である。 図１に示す実施例における画像処理部及び表示部の構成を模式的に示す図である。 観察時に表示部に表示される前眼部観察像とＳＬＯ画像とを例示する図である。 平均画像生成部において行われる処理の流れを示したフローチャートである。 基準断層画像を分割することによって得られるテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４の例を示す図である。 検出対象断層画像と複数のテンプレートを構成する座標の関係を例示する表である。

［実施例］
以下、添付の図面を参照して本発明の好適な一実施例を説明する。図１は本実施例による画像処理装置を有する光干渉断層撮影装置の構成図である。

光干渉断層撮影装置は、データ取得部１００、本発明の画像処理装置たる画像処理部１０１、及び表示部１０２を有する。データ取得部１００は、測定光を被検眼上で走査するとともにこれにより得られた画像データを取得する。画像処理部１０１は、データ取得部１００で取得された画像データから被検眼の断層画像を構成する。表示部１０２は、画像処理部１０１で構成された被検眼の断層画像を表示する。

まずデータ取得部１００の構成について説明する。

図２は本実施例におけるデータ取得部１００の構成を示したものである。被検眼Ｅｒに対向して対物レンズ１が設置され、その光軸上に第１ダイクロックミラー２および第２ダイクロイックミラー３が配置されている。これらのダイクロイックミラーによってＯＣＴ光学系の光路Ｌ１、被検眼Ｅｒの観察を行う為のＳＬＯ光学系と固視灯用の光路Ｌ２、および前眼部観察用の光路Ｌ３、に波長帯域ごとに光路が分岐される。

ＳＬＯ光学系及び固視灯用の光路Ｌ２は、ＳＬＯ走査手段４、レンズ５および６、ミラー７、第３ダイクロイックミラー８、フォトダイオード９、ＳＬＯ光源１０、固視灯１１を有している。

ミラー７は、穴あきミラーや中空のミラーが蒸着されたプリズムであり、ＳＬＯ光源１０による照明光と、被検眼からの戻り光とを分離する。第３ダイクロイックミラー８はＳＬＯ光源１０および固視灯１１への光路へと、光路Ｌ２を波長帯域ごとに分離する。

ＳＬＯ走査手段４は、ＳＬＯ光源１０と固視灯１１とから発せられた光を被検眼Ｅｒ上で走査するものであり、Ｘ方向に走査するＸスキャナ、Ｙ方向に走査するＹスキャナから構成されている。本実施形態では、Ｘスキャナは高速走査を行う必要があるためポリゴンミラーによって、Ｙスキャナはガルバノミラーによって構成されている。

レンズ５はＳＬＯ光学系および固視灯１１の焦点合わせのため、不図示のモータによって駆動される。ＳＬＯ光源１０は７８０ｎｍ付近の波長の光を発生する。フォトダイオード９は、被検眼からの戻り光を検出する。固視灯１１は可視光を発生して被検者の固視を促すものである。

ＳＬＯ光源１０から発せられた光は、第３ダイクロイックミラー８で反射され、ミラー７を通過し、レンズ６、５を通り、ＳＬＯ走査手段４によって、被検眼Ｅｒ上で走査される。被検眼Ｅｒからの戻り光は、投影光と同じ経路を戻ったのち、ミラー７によって反射され、フォトダイオード９へと導かれる。

固視灯１１は第３ダイクロイックミラー８、ミラー７を透過し、レンズ６、５を通り、ＳＬＯ走査手段４によって、被検眼Ｅｒ上で走査される。このとき、ＳＬＯ走査手段の動きに合わせて固視灯１１を点滅させることによって、被検眼Ｅｒ上の任意の位置に任意の形状をつくり、被検者の固視を促す。

前眼部観察用の光路Ｌ３には、レンズ１２、スプリットプリズム１３、レンズ１４、及び前眼部観察用のＣＣＤ１５が配置されている。このＣＣＤ１５は、不図示の前眼部観察用光源の波長、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つものである。

スプリットプリズム１３は、被検眼Ｅｒの瞳孔と共役な位置に配置されている。当該スプリットプリズム１３により、被検眼Ｅｒとデータ取得部１００のＺ方向（前後方向）の距離を、前眼部のスプリット像として検出することができる。

被検眼Ｅｒの画像データを撮像する為のＯＣＴ光学系の光路Ｌ１には、ＸＹスキャナ１６、及びレンズ１７、１８が配置されている。ＸＹスキャナ１６はＯＣＴ光源２０からの光を被検眼上Ｅｒで走査するためのものである。なお、同図においてＸＹスキャナ１６は１枚のミラーとして図示してあるが、実際にはＸＹ２軸方向の走査を行う二枚のガルバノミラーより構成される。

レンズ１７は、ファイバー２１から出射するＯＣＴ光源２０からの光を、被検眼Ｅｒに焦点合わせするためのものであり、不図示のモータによって駆動される。この焦点合わせによって、被検眼Ｅｒからの戻り光は同時にファイバー２１の先端に、スポット状に結像されて入射されることとなる。

ＯＣＴ光学系は、更に光カプラー１９、ＯＣＴ光源２０、光カプラー１９に接続され一体化している光ファイバー２１〜２４、レンズ２５、分散補償用ガラス２６、参照ミラー２７、分光器２８を有している。

光ファイバー２２を介してＯＣＴ光源２０から出射された光は、測定光と参照光に光カプラー１９にて分割される。測定光は光ファイバー２１により、ＯＣＴ光学系の光路Ｌ１に導かれ、更に第２ダイクロイックミラー３から対物レンズ１までの光路を通じて被検眼Ｅｒに向けて出射される。この被検眼Ｅｒに向けて出射された測手光は被検眼Ｅｒにて反射散乱し同じ行路を通じて、戻り光として光カプラー１９に達する。

一方参照光は光ファイバー２３を通じて、レンズ２５及び分散補償用ガラス２６を介して参照ミラー２７に向けて出射される。参照ミラー２７から反射した参照光は同じ光路を通じて再び光カプラー１９に達する。

このようにして光カプラー１９に達した測定光（その戻り光）と参照光とは合波され干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長とがほぼ同一となったときに干渉を生じる。参照ミラー２７は、不図示のモータおよび駆動機構によって光軸方向に調整可能に保持され、被検眼Ｅｒによって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。これら測定光と参照光の合波より得られる干渉光は光ファイバー２４を介して分光器２８に導かれる。

分光器２８はレンズ２９、３１、回折格子３０、及びラインセンサ３２を有する。光ファイバー２４から出射された干渉光はレンズ２９を介して平行光となった後、回折格子３０で分光され、レンズ３１によってラインセンサ３２上に結像される。

なお、本実施形態では干渉系としてマイケルソン干渉系を用いたが、マッハツェンダー干渉系を用いても良い。測定光と参照光との光量差に応じて、光量差が大きい場合にはマッハツェンダー干渉系を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉系を用いることが望ましい。

次に画像処理部１０１及び表示部１０２の構成について説明する。
図３は画像処理部１０１及び表示部１０２の構成例を示したものである。本実施例における画像処理部１０１は、画像生成部３３、記憶部３４、及び平均画像生成部３５を有している。画像生成部３３はデータ取得部１００のフォトダイオード９及びラインセンサ３２、及び画像処理部１０１内の記憶部３４と接続されている。画像生成部３３は、ＳＬＯ走査手段４を用いて被検眼ＥｒをＸ方向、Ｙ方向に走査した際にフォトダイオート９から得られる複数のデータからＳＬＯ画像を生成する。

また、画像生成部３３は、ラインセンサ３２から得られるデータをフーリエ変換し、得られるデータを輝度或いは濃度情報に変換することによって被検眼の深さ方向（Ｚ方向）の画像を取得する。このようなスキャン方式をＡスキャンと呼び、得られる断層画像をＡスキャン画像と呼ぶ。

被検眼Ｅｒの所定の横断方向において測定光をＸＹスキャナ１６にて走査することによって、複数のＡスキャン画像を取得することができる。このＡスキャン画像を複数並置することにより断層画像が得られる。例えば測定光をＸ方向に走査すればＸＺ面における断層画像が得られ、Ｙ方向に走査すればＹＺ面における断層画像が得られる。このように被検眼Ｅｒを所定の横断方向に走査する方式をＢスキャンと呼び、得られる断層画像をＢスキャン画像と呼ぶ。

記憶部３４は画像生成部３３、平均画像生成部３５、及び表示部１０２と接続され、画像生成部３３或いは平均画像生成部３５から得られたＳＬＯ画像及び断層画像を記憶する。

平均画像生成部３５は記憶部３４と接続され、記憶部３４から複数枚の断層画像を取得し平均処理する。表示部１０２は記憶部３４に記憶されたＳＬＯ画像及び断層画像を表示する。

以上説明したデータ取得部１００、画像処理部１０１、及び表示部１０２から構成される光干渉断層撮影装置において行われる、被検眼の観察から撮影までの操作を説明する。

まず観察について図４を用いて説明する。図４は観察時に表示部１０２に表示される前眼部観察像３６とＳＬＯ画像３８とを示したものである。対物レンズ１の正面に被検眼Ｅｒを位置させると、撮影者は前眼部観察像３６を見ながら被検眼Ｅｒとデータ取得部１００とのＸＹＺ方向の位置合わせを図示なきジョイスティックを用いて行う。ＸＹ方向の位置合わせでは、前眼部観察像３６の瞳孔中心が前眼部観察像の表示される画面の中心に位置するようにする。Ｚ方向の位置合わせでは、Ｚ方向の位置合わせが適切でない場合点線３７に沿って前眼部観察像３６が上下でスプリットされるので、スプリットされないよう上下の画像が合致するように位置合わせする。

このようにして被検眼とデータ取得部１００とのＸＹＺ方向の位置合わせが完了すると、ＳＬＯ走査手段４のＸＹ方向の測定光の走査により生成される被検眼眼底のＳＬＯ画像３８が表示される。この前眼部観察像３６とＳＬＯ画像３８は随時更新され、撮影者は被検眼Ｅｒをディレイなく観察できる。

更にＳＬＯ画像３８中のスキャンライン３９は断層画像の取得時に測定光が走査される走査位置及び範囲を示したものであり、ＳＬＯ画像３８に重畳されて表示される。撮影者はこのスキャンライン３９をマウスやタッチパネル等の図示なき走査位置変更手段を操作し、所望の走査位置を設定する。これらの操作にて観察が終了する。

次に撮影について説明する。撮影者により図示なき撮影開始ボタンが操作されると、データ取得部１００及び画像生成部３３はスキャンライン３９に沿って走査しＢスキャン画像を生成する。画像生成部３３で生成されたＢスキャン画像は記憶部３４に記憶されると共に表示部１０２に表示される。

次に平均画像生成部３５の動作について説明する。平均画像生成部３５は画像生成部３３によってＢスキャン画像が生成された後に動作する。ここでは、スキャンライン３９として示される走査位置を複数回走査し、同一箇所の断層画像を複数枚取得した場合を例にする。図５は平均画像生成部３５の処理の流れを示したフローチャートである。

まず、スキャンライン３９に示される走査位置を複数回走査し、同一箇所の断層画像が複数枚取得されると平均画像生成部３５は、複数枚取得された断層画像の中から１枚の断層画像を選択し、これを基準断層画像に設定する（ステップＳ２０１）。なお基準断層画像として選択された断層画像以外の選択されなかった断層画像は検出対象断層画像とする(ステップＳ２０２)。該検出対象断層画像は、基準断層画像からのずれ量を検出する検出対象の断層画像として処理される。なお、本実施例では基準断層画像として複数の断層画像より任意にこれを選択することとしているが、基準断層画像として得られる最初の断層画像を用いてもよい。さらには公知の種々の画像選択法を用いることが可能であり、例えば明瞭な画像となるコントラストの高い断層画像を基準断層画像とすることとしてもよい。

ステップＳ２０２からＳ２０８は、全ての検出対象断層画像が処理されるまで繰り返される。

ステップＳ２０３ではステップＳ２０１で設定された基準断層画像から複数のテンプレートが設定される。図６は基準断層画像からの領域分割により設定される複数のテンプレートの例を示したものである。この複数のテンプレートの設定は、図６に示す点線部のように基準断層画像を複数の領域に分割することにより行われる。本実施例では４分割する場合を示しており、得られるテンプレートをテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４とする。更に断層画像はＡスキャンを最小単位とし、その集合によって構成される為、基準断層画像の複数領域への分割はＡスキャン方向つまり断層画像の縦方向（厚さ方向）に行う。

本実施例ではテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４は断層画像の画像輝度を用いた場合を例として用いたが、断層画像のエッジ情報と言った画像の特徴を抽出したものをテンプレートとしてもよい。なお、基準断層画像におけるこれらテンプレートの設定は、平均画像生成部３５において異なる複数のテンプレートを設定するテンプレート設定手段として機能するモジュール領域により実行される。該テンプレート設定手段は、基準断層画像と選択されなかった断層画について該基準断層画像からのずれ量を検出する検出対象となる断層画像毎に応じて、該基準断層画像において異なる複数のテンプレートを設定する。

次にステップＳ２０４からステップＳ２０６では、各テンプレートによるパターンマッチングが行われる。このステップＳ２０４からステップＳ２０６は各テンプレートと検出対象断層画像との位置ずれが検出されるまで繰り返される。本実施例の場合、テンプレートＲＩ１〜ＲＩ４の其々に対する位置ずれが検出される。当該位置ずれの検出は、複数のテンプレート各々と検出対象の断層画像との位置ずれを検出する位置ずれ検出手段として機能する、平均画像生成部３５内のモジュール領域により実行される。該位置ずれ検出手段は、基準断層画像における複数のテンプレート各々と検出対象の断層画像との間における位置ずれを検出する。

ステップＳ２０５のパターンマッチングでは各テンプレートと検出対象断層画像から類似度を算出する。各テンプレートと検出対象断層画像の位置関係を順次ずらしながら、類似度が最大となる位置ずれ量を探索し、検出対象断層画像内の探索が全て終了した場合にパターンマッチングが終了する。

ステップＳ２０６が終了するとステップ２０７では各テンプレートと検出対象断層画像とで得られる位置ずれ量に基づいて、検出対象画像の位置ずれ補正が行われる。この位置ずれ補正はテンプレートに対応した検出対象断層画像の部分的な領域毎に行われ、並進等の変位を行うことで基準断層画像との位置ずれを無くすものである。これにより検出対象断層画像内の局所的な位置ずれが補正される。この位置ずれ検出手段の出力に基づいた位置ずれの補正、即ち検出対象断層画像と基準断層画像との位置合わせは、平均画像生成部３５において位置合わせ手段として機能するモジュール領域により実行される。

ステップＳ２０２からステップＳ２０８が全ての検出対象断層画像について処理されると、ステップＳ２０９では基準断層画像と検出対象断層像の全体を画素毎に加算及び除算を行うことで平均処理を行う。

ステップＳ２０５にて各テンプレートと検出対象断層画像とにより類似度が得られるが、この類似度が所定値以下である場合には、ステップＳ２０９で行われる平均処理から除外する。

なお、ステップＳ２０５にて各テンプレートと検出対象断層画像との位置ずれ量も同時に得られるが、この位置ずれ量が所定値以上である場合に、ステップＳ２０９で行われる平均処理から除外することとしてもよい。

次に本発明の特徴について説明する。これまで説明したステップＳ２０１からステップＳ２０９で示される平均画像生成部３５の処理の中で、本発明の特徴的な処理はステップＳ２０３である。前述のステップＳ２０３の説明では基準断層画像から複数のテンプレートを設定するとだけ述べた。これは平均画像生成部３５の全体の処理フローを説明するに足りる内容としたからである。

本発明の特徴は、基準断層画像を分割することにより設定される複数のテンプレートにおいて、複数のテンプレートを構成する座標が検出対象断層画像同士で異なることである。即ち、検出対象断層画像毎に応じて、基準断層画像において適宜異なるテンプレートの設定が為される。その為、ステップＳ２０２からステップＳ２０８のループの中にステップＳ２０３が配置されている。この様な、検出対象の断層画像毎に応じて、テンプレート設定手段に基準断層画像に対して複数のテンプレートの再設定を行わせる操作は、平気画像生成部３５において制御手段として機能するモジュール領域により実行される。その結果、基準断層画像を領域分割する際の分割の位置について、テンプレート設定手段は検出対象の断層画像に応じて異ならせ、異なるテンプレートの設定を行う。

一方本発明ではない場合にはステップＳ２０３の基準断層画像から複数のテンプレートを設定するという処理は全体の処理フロー内で一度行われればよく、ステップＳ２０２からステップＳ２０８のループの外、つまりステップＳ２０１とステップＳ２０２の間に配置されればよい。

このステップＳ２０３の動作について、図７を用いて更に詳細に説明する。図７はステップＳ２０２からＳ２０８のループ内の処理対象である検出対象断層画像について、その検出対象断層画像を処理する際に用いられるテンプレートを構成する座標を表にしたものである。図７も前述の平均画像生成部３５の全体の処理フローの説明と同様に４分割する場合を示しており、得られるテンプレートをテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４とする。なお図７のテンプレートを構成する座標は基準断層画像の横方向の座標を示し、基準断層画像は横方向にＮ画素（座標数Ｎ）で構成されているものとする。また、各テンプレートに配される画素数は一枚目の検出対象断層画像ではＨ個の画素（座標数Ｈ）で構成されているものとする。テンプレートの縦方向の座標は記載を省略している。これはテンプレートを設定する為に行われる基準断層画像の分割がＡスキャン方向つまり断層画像の縦方向に行われている為である。

同一箇所の複数回走査により断層画像が複数枚取得され、ステップＳ２０１にて基準断層画像が設定されると、まず検出対象断層画像の１枚目に対しステップＳ２０３にてテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４が設定される。検出対象断層画像の１枚目の場合、テンプレートＲＩ１〜ＲＩ４を構成する座標は図７の表に示すパターン１のようになる。即ち、テンプレートＲＩ１では座標１からＨまで、テンプレートＲＩ２では座標（Ｈ＋１）から（２×Ｈ）まで、テンプレートＲＩ３では座標（２×Ｈ＋１）から（３×Ｈ）まで、テンプレートＲＩ４では座標（３×Ｈ＋１）からＮまでと設定される。このように設定されたテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４を用いて、ステップＳ２０４からステップＳ２０７が処理される。即ち、本実施例では、領域分割により得られるテンプレートの境界の位置を、検出対象の断層画像に応じて境界の延在方向と直行する方向にシフトさせることにより、異なるテンプレートの設定を行う。

この時ステップＳ２０７で行われる位置ずれ補正はテンプレートに対応した検出対象断層画像の部分的な領域毎に行われ、それにより得られる検出対象断層画像にはテンプレート間の境界線上にアーティファクトが発生する。ここで言うアーティファクトとは、前述したように、断層画像に描写される断層がテンプレート間の境界を境に位置ずれの補正量分ずれて不連続となることである。この断層画像のアーティファクト（不連続）の発生は、検出対象断層画像内に局所的な位置ずれがある場合に発生する。検出対象断層画像の一枚目の場合、位置ずれ補正後に得られる断層画像は横方向の座標Ｈと（Ｈ＋１）との境界線上、（２×Ｈ２）と（２×Ｈ＋１）との境界線上、及び（３×Ｈ）と（３×Ｈ＋１）との境界線上でアーティファクト（不連続）が起こる。

続いて検出対象断層画像の２枚目に対しステップＳ２０３にてテンプレートＲＩ１〜ＲＩ４が設定される際には、テンプレートＲＩ１〜ＲＩ４を構成する座標はパターン２となる。検出対象断層画像の２枚目の場合、位置ずれ補正後に得られる断層画像は横方向の座標（Ｈ−１）とＨとの境界線上、（２×Ｈ−１）と（２×Ｈ）との境界線上、（３×Ｈ−１）と（３×Ｈ）との境界線上でアーティファクト（不連続）が起きる。

同様に検出対象断層画像の３枚目の場合、テンプレートＲＩ１〜ＲＩ４はパターン３で構成され、位置ずれ補正後に得られる断層画像は横方向の座標（Ｈ＋１）と（Ｈ＋２）との境界線上、（２×Ｈ＋１）と（２×Ｈ＋２）との境界線上、（３×Ｈ＋１）と（３×Ｈ＋２）との境界線上でアーティファクト（不連続）が起きる。

検出対象断層画像の４枚目以降の場合は、テンプレートＲＩ１〜ＲＩ４には検出対象断層画像の１枚目、２枚目、３枚目で説明したようにパターン１、パターン２、パターン３が順に設定され、そして位置ずれ補正後に得られる検出対象断層画像は、設定されたテンプレート間の境界線上でアーティファクト（不連続）が起きる。

このように複数のテンプレートを構成する座標が検出対象断層画像で異なることによって、位置ずれ補正後の検出対象断層画像の不連続の起こる位置が検出対象断層画像で異なるようにすることができる。本実施例ではアーティファクト（不連続）の起こる位置がパターン１、２、３のいずれかとなるようにした。

このように不連続の起こる位置が１パターンでなく分散されていると、ステップＳ２０９にて平均処理をおこなうことによりアーティファクト（不連続）を除去することができる。一方、複数のテンプレートを構成する座標が検出対象断層画像で異ならない場合には全ての検出対象断層画像において不連続の起こる位置が１パターンとなり、平均処理後の断層画像にもアーティファクト（不連続）は残ってしまう。

このような本発明の特徴であるステップＳ２０３の処理によって、検出対象断層画像内に局所的な位置ずれを補正することができる。更にこの局所的な位置ずれを補正する為の弊害として起きてしまった断層画像のアーティファクト（不連続）も除去することできるので良好な断層画像を提供することができる。

なお上記実施形態では複数のテンプレートを構成する座標が検出対象断層画像で異なるようにする為に、テンプレートの分割する座標を３つのパターンを例に挙げ説明したが、３つのパターンでなくともよく、少なくとも２つ以上のパターンであれば本発明の効果が得られる。

更に上記実施形態ではテンプレートの分割する座標が所定のパターンの繰り返しとして説明したが、例えば検出対象断層画像の１〜３枚目をパターン１でテンプレートを分割、検出対象断層画像の４〜６枚目をパターン２でテンプレートを分割と言った様に、所定パターンの繰り返しをしなくとも本発明の効果が得られる。また、本実施形態では、最初に選択された基準断層画像に基づいて以降の処理を行う態様を例示しているが、該基準断層画像は固定でなくともよい。例えば、三枚の断層画像が存在した場合に、一枚目を基準断層画像として選択した後、これを二枚目の断層画像と比較して二枚目の断層画像を基準断層画像とする、更には三枚目の断層画像と二枚目の断層画像とを比較して三枚目の断層画像を再度基準断層画像として設定する等、を行ってもよい。

なお上記実施形態ではターゲット枠（テンプレートの取得範囲或いは設定範囲）は検出対象画像内で順次移動していくとして説明したが、移動に加えてスキャンライン３９上の任意の点を中心とする回転処理を行うこととしてもよい。

なお上記実施形態ではデータ取得部１００と画像処理部１０１及び表示部１０２は別個に配置して説明するが、一つの筐体に納められた構成でもよい。

また上記実施形態における画像処理部１０１はパーソナルコンピュータによって実現されてもよい。
（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

１００：データ取得部
１０１：画像処理部
１０２：表示部
Ｅｒ：被検眼
４：ＳＬＯ走査手段
９：フォトダイオード
１０：ＳＬＯ光源
１６：ＸＹスキャナ
１９：光カプラー
２０：ＯＣＴ光源
２１〜２４：光ファイバー
２８：分光器
３２：ラインセンサ
３３：画像生成部
３５：平均画像生成部
３６：前眼部観察像
３８：ＳＬＯ画像
３９：スキャンライン

Claims (8)

1. 複数の断層画像を取得する取得手段と、
   前記複数の断層画像の中から、基準断層画像と、ずれ量を検出する検出対象となる対象断層画像とを選択する選択手段と、
   前記基準断層画像において複数のテンプレートを設定するテンプレート設定手段と、
   前記複数のテンプレート各々に対応する前記基準断層画像の中の領域の画像を、前記対象断層画像から探索することにより、前記基準断層画像に対する前記対象断層画像の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、
   前記位置ずれ検出手段の出力に基づいて前記対象断層画像の位置ずれを補正する位置合わせ手段と、を備え、
   前記テンプレート設定手段により前記基準断層画像に設定される前記複数のテンプレートの境界の位置が、前記対象断層画像に応じて異なることを特徴とする画像処理装置。
2. 前記テンプレート設定手段は、前記基準断層画像を領域分割する際の分割の位置について、前記対象断層画像に応じて異ならせることで前記境界の位置が異なる複数のテンプレートの設定を行うことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記テンプレート設定手段は、前記領域分割により得られる前記テンプレートの境界の位置を、前記対象断層画像に応じて、前記境界の延在方向と直交する方向にシフトさせて前記境界の位置が異なる複数のテンプレートの設定を行うことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
4. 複数の断層画像を取得する取得手段と、
   前記複数の断層画像より選択された基準断層画像の領域分割を行って、分割された領域を複数のテンプレートとして設定するテンプレート設定手段と、
   前記基準断層画像における前記複数のテンプレート各々に対応する前記基準断層画像の領域の画像を、前記複数の断層画像各々から探索することにより、前記基準断層画像に対する前記複数の断層画像各々の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と
   前記位置ずれに応じて前記複数の断層画像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
   前記テンプレート設定手段に前記複数のテンプレートの設定を行わせる際に、前記複数のテンプレートの境界の位置が、前記複数の断層画像に応じて異なるように制御する制御手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。
5. 前記制御手段は、前記テンプレート設定手段に対して、前記領域分割により得られる前記複数のテンプレートの境界の位置を、前記複数の断層画像に応じて前記境界の延在方向と直交する方向にシフトさせて前記境界の位置が異なる複数のテンプレートの設定を行わせることを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
6. 複数の断層画像を取得する取得工程と、
   前記複数の断層画像の中から、基準断層画像と、ずれ量を検出する検出対象となる対象断層画像とを選択する選択工程と、
   前記基準断層画像において複数のテンプレートを設定するテンプレート設定工程と、
   前記複数のテンプレート各々に対応する前記基準断層画像の領域の中の画像を、前記対象断層画像から探索することにより、前記基準断層画像に対する前記対象断層画像の位置ずれを位置ずれ検出手段により検出する位置ずれ検出工程と、
   前記位置ずれ検出手段の出力に基づいて前記対象断層画像の位置ずれを補正する位置合わせ工程と、を含み、
   前記テンプレート設定工程において前記基準断層画像に設定される前記複数のテンプレートの境界の位置が、前記対象断層画像に応じて異なることを特徴とする画像処理方法。
7. 複数の断層画像を取得する取得工程と、
   前記複数の断層画像より選択された基準断層画像の領域分割を行って、分割された領域を複数のテンプレートとして設定するテンプレート設定工程と、
   前記基準断層画像における前記複数のテンプレート各々に対応する前記基準断層画像の領域の画像を、前記複数の断層画像各々から探索することにより、前記基準断層画像に対する前記複数の断層画像各々の位置ずれを検出する位置ずれ検出工程と、
   前記位置ずれに応じて前記複数の断層画像の位置合わせを行う位置合わせ工程と、を含み、
   前記テンプレート設定工程を実行して前記複数のテンプレートの設定を行う際に、前記複数のテンプレートの境界の位置が、前記複数の断層画像に応じて異なるように制御することを特徴とする画像処理方法。
8. 請求項６又は７に記載の画像処理方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。