JP6388815B2 - 粒子検出器 - Google Patents
粒子検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6388815B2 JP6388815B2 JP2014218137A JP2014218137A JP6388815B2 JP 6388815 B2 JP6388815 B2 JP 6388815B2 JP 2014218137 A JP2014218137 A JP 2014218137A JP 2014218137 A JP2014218137 A JP 2014218137A JP 6388815 B2 JP6388815 B2 JP 6388815B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- superconducting
- bias
- strip
- bias current
- superconducting strip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
特に、飛行時間型質量分析計では、粒子の質量が大きくなるほど飛行速度が低下するが、質量分析計に広く用いられている二次電子生成を基本原理とする検出器では、飛行速度が遅い粒子に対する検出感度が劣化するのに対し、超伝導検出器では、質量の大きな(飛行速度が遅い)分子に対しても検出感度を有しており、分子の質量に依存しない質量分析を実現できる。
本出願人は、質量に依存しない検出感度と、粒子径同等の有感面積を持つ超伝導ストリップ線に直流バイアス電流をかけた超伝導ストリップ型粒子・光子検出器を既に出願しており(特許文献1〜3参照)、このうち特許文献2、3では、超伝導ストリップ線の並列配置に取り組んできた。
なお、超伝導ストリップ型粒子・光子検出器は、超伝導状態に保たれた超伝導ストリップ線に光子又は粒子が衝突すると該衝突箇所が常伝導状態に転移し抵抗変化を生じることにより光子又は粒子が検出されたことを示す電気信号を出力する構成であるから、直流バイアス電流の大きさは超伝導臨界電流、すなわち、これ以上の電流を流すと抵抗が生じる臨界電流より低い直流バイアス電流を用いる。
このため、従来の構成では、量子効率100%を保証する領域まで直流バイアス電流を検出器に印加することは不可能であった。
したがって、本発明が解決しようとする課題は、検出器の特性を劣化させることなく、粒子を検出した際に直流バイアス電流が並列に接続された超伝導ストリップ線に流出することを抑制した超伝導ストリップ型粒子検出器を提供することにある。
また、本発明は、上記粒子・光子検出器において、前記粒子は荷電粒子を含むことを特徴とする。
図2に示した本発明の検出器では、直流のバイアス電流がバイアス抵抗を流れない回路構成によってジュール発熱は発生せず、バイアス抵抗によって、光子や粒子を検出した際の並列ストリップ線へのバイアス電流の流出を抑制することが可能となった。従来の図1の回路構成では、並列ストリップ線のカスケードスイッチングのために、十分な検出感度が得られる領域までバイアス電流を印加することが不可能であったが、本発明により、量子効率100%を保証する領域までバイアス電流を印加してもストリップ線のカスケードスイッチは観測されず、大きな有感面積と100%の検出感度を同時に実現することが可能となった。
図2では、超伝導ストリップに直列に接続されたコンデンサとバイアス抵抗の配置は、「超伝導ストリップ−コンデンサ−バイアス抵抗」の順で、コイルは超伝導ストリップとコンデンサの間に接続したものが図示されているが、配置が「超伝導ストリップ−バイアス抵抗−コンデンサ」の順である場合にも、コイルを超伝導ストリップとバイアス抵抗の間に接続すれば同様の効果が得られる。すなわち、バイアス抵抗によって、超伝導ストリップに粒子や光子が衝突した際に、各超伝導ストリップを流れていた直流バイアス電流が、並列に接続された超伝導ストリップに流出することを抑制することができ、さらに、コンデンサとコイルの配置によって、直流バイアス電流がバイアス抵抗を流れないようにしてジュール発熱を回避することができるのである。
図3は、横軸がバイアス電流/臨界電流、縦軸が計数率[s-1]を表し(ここで臨界電流とは、超伝導状態に保たれた超伝導ストリップ線にこれ以上直流バイアス電流を流すと抵抗が生じて常伝導状態に転移する電流値のことを意味する)、■でプロットしたものが図1の従来の検出器で測定した測定結果であり、●でプロットしたものが図2の本発明の検出器で測定した測定結果を表すグラフである。図3によれば、本発明の検出器により量子効果100%を保証する領域まで検出できることが確認でき、従来なし得なかった100メガダルトンを超える質量を持つウイルスの凝集体の検出に成功した。
Claims (2)
- 超伝導状態に保たれた超伝導ストリップに粒子又は光子が衝突すると該衝突により超伝導状態から常伝導状態に転移することにより抵抗変化を生じて生成される電気信号により粒子又は光子を検出する粒子・光子検出器であって、
複数の超伝導ストリップの一端を共通に接地し、各超伝導ストリップの他端にコンデンサとバイアス抵抗を直列に接続したものを並列に合成して前記電気信号として出力するとともに、
直流バイアス電流源を、各超伝導ストリップとこれに直列に接続された前記コンデンサまたはバイアス抵抗との間にコイルを介して接続し、前記直流バイアス電流源から臨界電流より低い直流バイアス電流を各超伝導ストリップに供給することを特徴とする粒子・光子検出器。 - 前記粒子は荷電粒子を含むことを特徴とする請求項1記載の粒子・光子検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014218137A JP6388815B2 (ja) | 2014-10-27 | 2014-10-27 | 粒子検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014218137A JP6388815B2 (ja) | 2014-10-27 | 2014-10-27 | 粒子検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016085867A JP2016085867A (ja) | 2016-05-19 |
JP6388815B2 true JP6388815B2 (ja) | 2018-09-12 |
Family
ID=55973208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014218137A Active JP6388815B2 (ja) | 2014-10-27 | 2014-10-27 | 粒子検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6388815B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6933260B2 (ja) * | 2017-09-26 | 2021-09-08 | Tdk株式会社 | リチウムイオン二次電池用非水電解液およびそれを用いたリチウムイオン二次電池 |
EP3764068B1 (en) | 2019-07-11 | 2023-11-29 | Université de Genève | Device and system for single photon detection using a plurality of superconducting detection means connected in parallel |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2642903B1 (fr) * | 1989-01-13 | 1995-05-05 | Thomson Csf | Detecteur de rayonnement |
JP2004214293A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-29 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 粒子検出器 |
JP4919485B2 (ja) * | 2006-11-28 | 2012-04-18 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 中性子検出装置及びその使用方法 |
JP5093654B2 (ja) * | 2007-07-13 | 2012-12-12 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 粒子・光子検出器 |
JP5317126B2 (ja) * | 2010-03-05 | 2013-10-16 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | イオン価数弁別高速粒子検出器 |
JP6015948B2 (ja) * | 2013-03-29 | 2016-10-26 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 粒子・光子検出器 |
-
2014
- 2014-10-27 JP JP2014218137A patent/JP6388815B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016085867A (ja) | 2016-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10338104B2 (en) | Leakage current detection device for conducting wires | |
JP6388815B2 (ja) | 粒子検出器 | |
JP2012141301A5 (ja) | ||
Ebran et al. | Picosecond resolution on relativistic heavy ions' time-of-flight measurement | |
JP2015075348A (ja) | イオン移動度分光計 | |
CN110476086A (zh) | 脉冲整形器 | |
JP2022037688A5 (ja) | ||
JP2018531383A5 (ja) | ||
JP5093654B2 (ja) | 粒子・光子検出器 | |
JP5317126B2 (ja) | イオン価数弁別高速粒子検出器 | |
Gill | XCIX. A space charge effect | |
US10276359B2 (en) | Ion mobility spectrometer | |
CN103518140B (zh) | 用于测量电荷的系统 | |
JP6015948B2 (ja) | 粒子・光子検出器 | |
JPWO2021066153A5 (ja) | ||
SE427704B (sv) | Stralningsdetektoranordning | |
CN102623287A (zh) | 一种真空放电等离子体的离子流检测装置及方法 | |
Semenov et al. | Quantum phase slips and voltage fluctuations in superconducting nanowires | |
KR102445626B1 (ko) | 포톤 검출기 | |
Fabris et al. | Simultaneous ballistic deficit immunity and resilience to parallel noise sources: A new pulse shaping technique | |
Peltonen et al. | On-chip error counting for hybrid metallic single-electron turnstiles | |
Shirvani et al. | A transient model of lightning breakdown process based on photographic measurements | |
Hirano et al. | Magnetic energy analyzer with a microchannel plate calibrated using cellulose nitrate film | |
Yamamoto et al. | Timing modeling of multi-pixel photon counter | |
Poenaru | Current and voltage pulses given by semiconductor radiation detectors |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170914 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180814 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180815 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6388815 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |