JP6388815B2 - 粒子検出器 - Google Patents

粒子検出器 Download PDF

Info

Publication number
JP6388815B2
JP6388815B2 JP2014218137A JP2014218137A JP6388815B2 JP 6388815 B2 JP6388815 B2 JP 6388815B2 JP 2014218137 A JP2014218137 A JP 2014218137A JP 2014218137 A JP2014218137 A JP 2014218137A JP 6388815 B2 JP6388815 B2 JP 6388815B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
superconducting
bias
strip
bias current
superconducting strip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014218137A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016085867A (ja
Inventor
伸幸 全
伸幸 全
成友 志岐
成友 志岐
大久保 雅隆
雅隆 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2014218137A priority Critical patent/JP6388815B2/ja
Publication of JP2016085867A publication Critical patent/JP2016085867A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6388815B2 publication Critical patent/JP6388815B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

本発明は、粒子(荷電粒子を含む)・光子検出器に関し、特に、超伝導ストリップ型粒子・光子検出器に関する。
超伝導検出器は、厚さ数nm〜数μmの超伝導薄膜から構成されるが、光や粒子(荷電粒子を含む)が超伝導薄膜に入射した際のクーパー対の破壊によって生じる準粒子生成を検出原理としている。クーパー対の束縛エネルギーが極めて小さいため、超高感度な光・粒子検出器として期待されている。
特に、飛行時間型質量分析計では、粒子の質量が大きくなるほど飛行速度が低下するが、質量分析計に広く用いられている二次電子生成を基本原理とする検出器では、飛行速度が遅い粒子に対する検出感度が劣化するのに対し、超伝導検出器では、質量の大きな(飛行速度が遅い)分子に対しても検出感度を有しており、分子の質量に依存しない質量分析を実現できる。
本出願人は、質量に依存しない検出感度と、粒子径同等の有感面積を持つ超伝導ストリップ線に直流バイアス電流をかけた超伝導ストリップ型粒子・光子検出器を既に出願しており(特許文献1〜3参照)、このうち特許文献2、3では、超伝導ストリップ線の並列配置に取り組んできた。
なお、超伝導ストリップ型粒子・光子検出器は、超伝導状態に保たれた超伝導ストリップ線に光子又は粒子が衝突すると該衝突箇所が常伝導状態に転移し抵抗変化を生じることにより光子又は粒子が検出されたことを示す電気信号を出力する構成であるから、直流バイアス電流の大きさは超伝導臨界電流、すなわち、これ以上の電流を流すと抵抗が生じる臨界電流より低い直流バイアス電流を用いる。
特開2004−214293号公報 特開2009−021478号公報 特開2011−185642号公報
N. Zen et al., Applied Physics Letters 104, 012601 (2014).
粒子径同等の面積を実現するためには、図1に示すような超伝導ストリップ線の並列配置が必須であるが、本発明者等の研究によって、図1に示した従来の直流バイアス電流回路では、粒子を検出する毎に、超伝導ストリップ線を流れていた直流バイアス電流が、並列に接続された超伝導ストリップ線に流れ込むことが明らかとなった(非特許文献1参照)。検出器の感度を上げるためには、さらに直流バイアス電流を増加させる必要があるが、バイアス電流が並列超伝導ストリップ線に流れ込むことにより全超伝導ストリップ線のカスケード的な超伝導−常伝導転移が誘発された。また、本発明者等は、光子や粒子を検出した際に、バイアス電流が並列に接続された超伝導ストリップ線に流出することを抑制するために、各超伝導ストリップ線にバイアス抵抗を直列に接続することが有効であることもシミュレーションによって明らかにした(非特許文献1参照)が、しかしながら、図1に示した回路構成の各超伝導ストリップ線に対してバイアス抵抗を直列に接続したのでは、直流バイアス電流がバイアス抵抗を流れてしまい、発生するジュール発熱によって検出器の特性が劣化することも明らかになった。
このため、従来の構成では、量子効率100%を保証する領域まで直流バイアス電流を検出器に印加することは不可能であった。
したがって、本発明が解決しようとする課題は、検出器の特性を劣化させることなく、粒子を検出した際に直流バイアス電流が並列に接続された超伝導ストリップ線に流出することを抑制した超伝導ストリップ型粒子検出器を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明は、超伝導状態に保たれた超伝導ストリップに粒子又は光子が衝突すると該衝突により超伝導状態から常伝導状態に転移することにより抵抗変化を生じて生成される電気信号により粒子又は光子を検出する粒子・光子検出器であって、複数の超伝導ストリップの一端を共通に接地し、各超伝導ストリップの他端にコンデンサとバイアス抵抗を直列に接続したものを並列に合成して前記電気信号として出力するとともに、直流バイアス電流源を、各超伝導ストリップとこれに直列に接続された前記コンデンサまたはバイアス抵抗との間にコイルを介して接続し、前記直流バイアス電流源から臨界電流より低い直流バイアス電流を各超伝導ストリップに供給することを特徴とする。
また、本発明は、上記粒子・光子検出器において、前記粒子は荷電粒子を含むことを特徴とする。
本発明によれば、直流バイアス電流がバイアス抵抗を流れない回路構成であるためバイアス抵抗でジュール発熱は発生せず、かつ、バイアス抵抗によって、光子や粒子を検出した際の並列ストリップ線へのバイアス電流の流出を抑制することができるので、検出器の特性を劣化させることなく、直流バイアス電流の値を大きくして感度を上げることができる。
図1は、従来の直流バイアスを用いた並列超伝導ストリップ粒子検出器の説明図である。直流バイアス電流はコイルを介して各超伝導ストリップに供給される。粒子や光子が超伝導ストリップに衝突し、超伝導ストリップが常伝導転移すると、直流バイアス電流の一部がコンデンサを介して電流パルスとして負荷へ出力される。ここで、並列に接続された超伝導ストリップの抵抗がゼロであるので、直流バイアス電流の一部は同時に、並列に接続された超伝導ストリップに流出する。 図2は、本発明の直流バイアスを用いた並列超伝導ストリップ粒子検出器の一実施例を説明した図である。超伝導ストリップに粒子や光子が衝突した際に、各超伝導ストリップを流れていた直流バイアス電流が、並列に接続された超伝導ストリップに流出することを抑制するために、超伝導ストリップに直列に有限の抵抗(バイアス抵抗)を接続している。ジュール発熱を回避するため、直流バイアス電流がバイアス抵抗を流れないようにコンデンサとコイルを配置する。超伝導ストリップに直列に接続されたコンデンサとバイアス抵抗は、これらの順序が逆であっても同様の効果が得られる。コイルは、超伝導ストリップとコンデンサまたはバイアス抵抗との間に接続する。 図3は、図1の従来の検出器で測定した測定結果(■でプロット)と図2の本発明の検出器で測定した測定結果(●でプロット)を比較したグラフである。
図2は、本発明の直流バイアスを用いた並列超伝導ストリップ粒子検出器の一実施例を示した図である。図に示すごとく、本発明では、複数の超伝導ストリップの一方の端子は共通に接地され、各超伝導ストリップの他方の端子にコンデンサとバイアス抵抗を直列に接続されたものが、負荷に対して共通に接続されており、負荷において読み出しを行う。直流バイアス電流源は、コイルを介して各超伝導ストリップの他方の端子とコンデンサまたはバイアス抵抗の間に接続されており、直流バイアス電流源からは臨界電流以下のバイアス電流が供給される。
図2に示した本発明の検出器では、直流のバイアス電流がバイアス抵抗を流れない回路構成によってジュール発熱は発生せず、バイアス抵抗によって、光子や粒子を検出した際の並列ストリップ線へのバイアス電流の流出を抑制することが可能となった。従来の図1の回路構成では、並列ストリップ線のカスケードスイッチングのために、十分な検出感度が得られる領域までバイアス電流を印加することが不可能であったが、本発明により、量子効率100%を保証する領域までバイアス電流を印加してもストリップ線のカスケードスイッチは観測されず、大きな有感面積と100%の検出感度を同時に実現することが可能となった。
図2では、超伝導ストリップに直列に接続されたコンデンサとバイアス抵抗の配置は、「超伝導ストリップ−コンデンサ−バイアス抵抗」の順で、コイルは超伝導ストリップとコンデンサの間に接続したものが図示されているが、配置が「超伝導ストリップ−バイアス抵抗−コンデンサ」の順である場合にも、コイルを超伝導ストリップとバイアス抵抗の間に接続すれば同様の効果が得られる。すなわち、バイアス抵抗によって、超伝導ストリップに粒子や光子が衝突した際に、各超伝導ストリップを流れていた直流バイアス電流が、並列に接続された超伝導ストリップに流出することを抑制することができ、さらに、コンデンサとコイルの配置によって、直流バイアス電流がバイアス抵抗を流れないようにしてジュール発熱を回避することができるのである。
図3は、横軸がバイアス電流/臨界電流、縦軸が計数率[s-1]を表し(ここで臨界電流とは、超伝導状態に保たれた超伝導ストリップ線にこれ以上直流バイアス電流を流すと抵抗が生じて常伝導状態に転移する電流値のことを意味する)、■でプロットしたものが図1の従来の検出器で測定した測定結果であり、●でプロットしたものが図2の本発明の検出器で測定した測定結果を表すグラフである。図3によれば、本発明の検出器により量子効果100%を保証する領域まで検出できることが確認でき、従来なし得なかった100メガダルトンを超える質量を持つウイルスの凝集体の検出に成功した。
遺伝子治療におけるウイルスベクターの品質管理、ウイルスディスプレイによる抗体医薬品の開発、抗体医薬品の凝集形成評価、工業用ナノ粒子の凝集形成評価等の巨大分子を評価する手法として、エレクトロスプレーイオン化法を用いた質量分析が行われており、当該手法は、多価のイオンを生成するために、超伝導検出器のような超高感度な検出器を必要としないが、分子の質量によって帯電量が異なっており、質量を一意に決定することが従来の検出器では困難であった。しかしながら、本発明の検出器であれば、巨大分子の1価であっても十分に検出感度があり、質量を一意に決定することが可能である。また、二次電子生成を基本原理とする検出器において、2メガダルトンの1価を測定可能な検出器が従来市販されているが、本発明の検出器により実証された100メガダルトンの1価の検出は、それらの性能を大きく上回る。

Claims (2)

  1. 超伝導状態に保たれた超伝導ストリップに粒子又は光子が衝突すると該衝突により超伝導状態から常伝導状態に転移することにより抵抗変化を生じて生成される電気信号により粒子又は光子を検出する粒子・光子検出器であって、
    複数の超伝導ストリップの一端を共通に接地し、各超伝導ストリップの他端にコンデンサとバイアス抵抗を直列に接続したものを並列に合成して前記電気信号として出力するとともに、
    直流バイアス電流源を、各超伝導ストリップとこれに直列に接続された前記コンデンサまたはバイアス抵抗との間にコイルを介して接続し、前記直流バイアス電流源から臨界電流より低い直流バイアス電流を各超伝導ストリップに供給することを特徴とする粒子・光子検出器。
  2. 前記粒子は荷電粒子を含むことを特徴とする請求項1記載の粒子・光子検出器。
JP2014218137A 2014-10-27 2014-10-27 粒子検出器 Active JP6388815B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014218137A JP6388815B2 (ja) 2014-10-27 2014-10-27 粒子検出器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014218137A JP6388815B2 (ja) 2014-10-27 2014-10-27 粒子検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016085867A JP2016085867A (ja) 2016-05-19
JP6388815B2 true JP6388815B2 (ja) 2018-09-12

Family

ID=55973208

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014218137A Active JP6388815B2 (ja) 2014-10-27 2014-10-27 粒子検出器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6388815B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6933260B2 (ja) * 2017-09-26 2021-09-08 Tdk株式会社 リチウムイオン二次電池用非水電解液およびそれを用いたリチウムイオン二次電池
EP3764068B1 (en) 2019-07-11 2023-11-29 Université de Genève Device and system for single photon detection using a plurality of superconducting detection means connected in parallel

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2642903B1 (fr) * 1989-01-13 1995-05-05 Thomson Csf Detecteur de rayonnement
JP2004214293A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 粒子検出器
JP4919485B2 (ja) * 2006-11-28 2012-04-18 独立行政法人科学技術振興機構 中性子検出装置及びその使用方法
JP5093654B2 (ja) * 2007-07-13 2012-12-12 独立行政法人産業技術総合研究所 粒子・光子検出器
JP5317126B2 (ja) * 2010-03-05 2013-10-16 独立行政法人産業技術総合研究所 イオン価数弁別高速粒子検出器
JP6015948B2 (ja) * 2013-03-29 2016-10-26 国立研究開発法人産業技術総合研究所 粒子・光子検出器

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016085867A (ja) 2016-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10338104B2 (en) Leakage current detection device for conducting wires
JP6388815B2 (ja) 粒子検出器
JP2012141301A5 (ja)
Ebran et al. Picosecond resolution on relativistic heavy ions' time-of-flight measurement
JP2015075348A (ja) イオン移動度分光計
CN110476086A (zh) 脉冲整形器
JP2022037688A5 (ja)
JP2018531383A5 (ja)
JP5093654B2 (ja) 粒子・光子検出器
JP5317126B2 (ja) イオン価数弁別高速粒子検出器
Gill XCIX. A space charge effect
US10276359B2 (en) Ion mobility spectrometer
CN103518140B (zh) 用于测量电荷的系统
JP6015948B2 (ja) 粒子・光子検出器
JPWO2021066153A5 (ja)
SE427704B (sv) Stralningsdetektoranordning
CN102623287A (zh) 一种真空放电等离子体的离子流检测装置及方法
Semenov et al. Quantum phase slips and voltage fluctuations in superconducting nanowires
KR102445626B1 (ko) 포톤 검출기
Fabris et al. Simultaneous ballistic deficit immunity and resilience to parallel noise sources: A new pulse shaping technique
Peltonen et al. On-chip error counting for hybrid metallic single-electron turnstiles
Shirvani et al. A transient model of lightning breakdown process based on photographic measurements
Hirano et al. Magnetic energy analyzer with a microchannel plate calibrated using cellulose nitrate film
Yamamoto et al. Timing modeling of multi-pixel photon counter
Poenaru Current and voltage pulses given by semiconductor radiation detectors

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170914

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180814

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180815

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6388815

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250