JP6372911B2 - Electronic component posture correction apparatus and electronic component posture correction method for IC handler - Google Patents

Electronic component posture correction apparatus and electronic component posture correction method for IC handler Download PDF

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Description

本発明は、半導体チップ等の電子部品をトレイと測定部との間に搬送させるICハンドラに関し、特に、搬送ミスによるポケット(収納部)に対する電子部品の姿勢の不良を修正してポケットに正しい姿勢で配置させる電子部品姿勢修正装置及び電子部品姿勢修正方法に関する。   The present invention relates to an IC handler that transports an electronic component such as a semiconductor chip between a tray and a measurement unit, and in particular corrects a defective posture of the electronic component with respect to a pocket (storage unit) due to a conveyance mistake and corrects the posture of the pocket. It is related with the electronic component attitude | position correction apparatus and electronic component attitude | position correction method which are arrange | positioned by.

一般に、半導体チップ等の電子部品の良否を検査する電子部品検査装置には、検査する電子部品をトレイから測定部まで搬送するためのICハンドラ(搬送用ロボット)と、測定検査後に、電子部品を測定部からトレイに戻すためのICハンドラが使用されている。   In general, an electronic component inspection apparatus for inspecting the quality of electronic components such as semiconductor chips includes an IC handler (conveying robot) for conveying the electronic components to be inspected from the tray to the measuring unit, and the electronic components after the measurement inspection. An IC handler is used to return the measurement unit to the tray.

このようなICハンドラとしては、例えば、特許文献1に記載されているようなものがある。特許文献1には、トレイと電子部品検査装置との間で電子部品を移動させるICハンドラに関するものが記載されている。   An example of such an IC handler is described in Patent Document 1. Patent Document 1 describes an IC handler that moves an electronic component between a tray and an electronic component inspection apparatus.

特開2006−337044号公報JP 2006-337044 A

この特許文献1に記載されたICハンドラは、多数の電子部品が収納されたトレイが位置付けられる部品領域と、電子部品が装填される検査用ソケットを有する検査領域と、この検査領域と部品領域との間で電子部品を移動させる部品移動装置とを備えている。部品領域は、平面視において検査領域から離間する方向とは直交する方向に複数並べて設けられ、部品移動装置は、部品領域のトレイと検査用ソケットとの間で電子部品を放すことなく吸着しながら移動する吸着ノズルを備えていることを特徴としている。   The IC handler described in Patent Document 1 includes a component region in which a tray in which a large number of electronic components are stored is positioned, an inspection region having an inspection socket in which electronic components are loaded, and the inspection region and the component region. And a component moving device for moving electronic components between the two. A plurality of component areas are provided side by side in a direction perpendicular to the direction away from the inspection area in plan view, and the component moving device sucks the electronic area between the tray of the component area and the inspection socket without releasing it. It is characterized by having a moving suction nozzle.

このICハンドラによれば、部品移動装置がトレイを越えて検査用ソケット側から離間する方向に移動することなく、全ての電子部品をトレイと検査用ソケットとの間で移動させることができる。そのため、従来のICハンドラに比べてタクトタイムを短縮することができる。   According to this IC handler, all electronic components can be moved between the tray and the inspection socket without moving the component moving device beyond the tray in a direction away from the inspection socket side. Therefore, the tact time can be shortened as compared with the conventional IC handler.

しかしながら、このようなICハンドラを備えた電子部品検査装置においては、ICハンドラによる電子部品の搬送ミスが生じると、その搬送ミスを自動的に修正する機構・装置が存在せず、その搬送ミスを作業者が手作業で修正する必要があった。   However, in an electronic component inspection apparatus equipped with such an IC handler, there is no mechanism / device that automatically corrects the transport error when an electronic component transport error is caused by the IC handler. The operator had to correct it manually.

この点を説明すると、次のようなことである。
一般に、半導体チップ等の電子部品の検査装置には、電子部品を搬送するための複数のICハンドラが備えられている。このICハンドラは電子部品を吸着して保持するための吸着ノズルを有しており、この吸着ノズルを用いて複数のICハンドラによる電子部品の受け渡しが、トレイと回転搬送体との間で行われる。そして、測定前の電子部品は、回転搬送体から測定を行うための測定部のテストソケットに搬送され、測定が済んだ後、電子部品はテストソケットから回転搬送体を経て回収トレイに回収されるようになっている。
This point is explained as follows.
In general, an inspection device for an electronic component such as a semiconductor chip is provided with a plurality of IC handlers for transporting the electronic component. The IC handler has a suction nozzle for sucking and holding electronic components, and the electronic components are delivered by the plurality of IC handlers between the tray and the rotary carrier using the suction nozzles. . Then, the electronic component before measurement is conveyed from the rotating conveyance body to the test socket of the measurement unit for performing measurement, and after the measurement is completed, the electronic component is collected from the test socket through the rotation conveyance body to the collection tray. It is like that.

具体的には、供給トレイのポケットに収納された電子部品は、ICハンドラの供給ロボットハンドの吸着ノズルにより吸着保持され、回転搬送体又は移動搬送体に搬送されて、凹陥部からなるポケットに収納される。回転搬送体又は移動搬送体のポケットに収納された電子部品は、搬送ロボットにより吸着保持され、測定部のテストソケットに搬送され、そのテストソケットのポケットで所定の測定が行われる。その測定後、測定済の電子部品は、再び搬送ロボットにより吸着保持され、回転搬送体又は移動搬送体のポケットに搬送される。そして、所定位置において、回収ロボットハンドにより吸着保持され、測定部における測定結果に応じて所定の回収トレイのポケットに離脱して収納されるようになっている。   Specifically, the electronic components stored in the pocket of the supply tray are sucked and held by the suction nozzle of the IC handler supply robot hand, transported to the rotary transport body or the movable transport body, and stored in the pocket made of the recessed portion. Is done. The electronic components stored in the pockets of the rotary carrier or the movable carrier are sucked and held by the carrier robot, conveyed to the test socket of the measurement unit, and predetermined measurement is performed in the pocket of the test socket. After the measurement, the measured electronic component is again sucked and held by the transport robot and transported to the rotary transport body or the pocket of the movable transport body. Then, it is sucked and held by a collection robot hand at a predetermined position, and is detached and stored in a pocket of a predetermined collection tray according to the measurement result in the measurement unit.

この場合、供給ロボットハンド又は回収ロボットハンドによって搬送される電子部品は、回転搬送体又は移動搬送体のいずれの場合にも、ポケットの所定位置に正しい姿勢で配置される必要がある。ポケットに電子部品が正しい姿勢で配置されていない場合には、吸着ノズルで電子部品を吸着して保持することができなくなり、その電子部品を回転搬送体又は移動搬送体のポケットまで搬送することができないからである。   In this case, the electronic component conveyed by the supply robot hand or the collection robot hand needs to be arranged in a correct posture at a predetermined position of the pocket in either case of the rotating conveyance body or the moving conveyance body. If the electronic component is not placed in the correct posture in the pocket, the electronic component cannot be sucked and held by the suction nozzle, and the electronic component can be transported to the pocket of the rotary carrier or the movable carrier. It is not possible.

一般に、回転搬送体及び移動搬送体のポケットは、検査対象である電子部品よりも少し大きな四角形の凹陥部として形成されている。そして、ポケットの縁には内側に傾斜したテーパ部が設けられており、このテーパ部で電子部品の各辺をガイドして、ポケット内に電子部品が正しい姿勢で配置されるようにしている。   In general, the pockets of the rotary carrier and the movable carrier are formed as rectangular recesses that are slightly larger than the electronic component to be inspected. A taper portion inclined inward is provided at the edge of the pocket, and each side of the electronic component is guided by the taper portion so that the electronic component is arranged in a correct posture in the pocket.

しかしながら、稀に数千から数万回に1回程度の割合で電子部品が、回転搬送体又は移動搬送体のポケットのテーパ部に引っ掛かり、電子部品がポケット内に正しい姿勢で配置されないという問題が生じていた。このような場合は、その電子部品を吸着ノズルによって吸着することができなくて電子部品の搬送ミスとなり、ICハンドラの動作が停止される原因となっていた。この搬送ミスを解消するためには、作業者が人手によって電子部品を取り除くか、或いは、人手によってポケット内に電子部品を挿入して正しい姿勢に置き直す必要があり、いずれの場合においても、電子部品検査装置の稼働が一時的に停止されるという問題があった。   However, in rare cases, the electronic component is caught at a taper portion of the pocket of the rotary carrier or the movable carrier at a rate of about once every several thousand to tens of thousands of times, and the electronic component is not placed in the correct posture in the pocket. It was happening. In such a case, the electronic component could not be picked up by the suction nozzle, causing an electronic component transport error and causing the IC handler to stop operating. In order to eliminate this transport mistake, it is necessary for the operator to manually remove the electronic components, or to manually insert the electronic components into the pockets and place them in the correct posture. There was a problem that the operation of the parts inspection apparatus was temporarily stopped.

このような電子部品検査装置の稼働が停止されるのを防止する手段としては、例えば、次のような方法が考えられる。その方法の1は、回転搬送体又は移動搬送体のポケットの大きさを、検査する電子部品よりも十分に大きくあけて電子部品の縁がポケットの縁に接触することなくポケットに収納されるようにし、その後、ポケットを狭めて電子部品がポケットの中央部に正しい姿勢で配置されるようにする場合である。また、その方法の2は、電子部品をカメラで撮像してその位置及び姿勢を算出し、その位置及び姿勢の良否を判定して、正しい姿勢で所定の位置に配置されていない場合に、その位置及び姿勢を修正する方法が考えられる。   As means for preventing the operation of the electronic component inspection apparatus from being stopped, for example, the following method is conceivable. One of the methods is that the size of the pocket of the rotary carrier or the movable carrier is sufficiently larger than the electronic component to be inspected so that the edge of the electronic component is accommodated in the pocket without contacting the edge of the pocket. After that, the pocket is narrowed so that the electronic component is arranged in the correct posture at the center of the pocket. The second method is to take an image of an electronic component with a camera, calculate its position and orientation, determine whether the position and orientation are good, and if the correct orientation is not placed at a predetermined position, A method for correcting the position and orientation is conceivable.

しかしながら、方法1による場合では、ポケットの大きさを広狭変化させるための機構が必要となり、方法2ではカメラが必要となる。そのため、方法1及び方法2のいずれの場合においても、それらの機構を実現するために回転搬送体及び移動搬送体その他の構造が複雑なものとなり、回転搬送体等を含むICハンドラの機構が複雑なものとなって電子部品検査装置のコストアップを招くという課題があった。   However, in the case of the method 1, a mechanism for changing the size of the pocket is required, and in the method 2, a camera is required. Therefore, in both cases of method 1 and method 2, the structure of the rotary carrier, the moving carrier, and other structures become complicated in order to realize those mechanisms, and the mechanism of the IC handler including the rotary carrier is complicated. Therefore, there is a problem that the cost of the electronic component inspection apparatus is increased.

本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたものであり、新たな機構を設けることなく従来からある機構を利用して、電子部品が回転搬送体又は移動搬送体のポケットのテーパ部に引っ掛かり、ポケット内に正しい姿勢で電子部品が配置されなかった場合には、回転搬送体又は移動搬送体を振動又は移動させて電子部品をポケット内に正しい姿勢で配置できるようにする。これにより、ICハンドラによる電子部品の搬送ミスを解消し、電子部品の搬送効率を高めて検査効率を向上させることができるICハンドラの電子部品姿勢修正装置及び電子部品姿勢修正方法を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and an electronic component can be formed by using a conventional mechanism without providing a new mechanism. When the electronic component is caught in the part and not placed in the correct posture in the pocket, the electronic component can be placed in the pocket in the correct posture by vibrating or moving the rotary carrier or the movable carrier. Accordingly, it is possible to provide an electronic component posture correcting apparatus and an electronic component posture correcting method for an IC handler that can eliminate an electronic component conveyance error by an IC handler, increase electronic component conveyance efficiency, and improve inspection efficiency. It is aimed.

本発明は、電子部品を第1の位置におけるトレイの第1ポケットと、第2の位置における回転搬送体又は移動搬送体の第2ポケットとの間に搬送するICハンドラの電子部品姿勢修正装置に関する。この電子部品姿勢修正装置は、電子部品を吸着保持して第1ポケットと第2ポケットとの間に搬送するロボットハンドと、第2の位置において第2ポケットに収納された電子部品が正しい姿勢で配置されているか否かを検出する姿勢検出器と、回転搬送体又は移動搬送体を第2の位置と、電子部品の良否を検査する回転測定ロボットとの間に移動する移動機構と、姿勢検出器の検出結果に応じて電子部品が正しい姿勢で配置されていないときに、移動機構を動作させて回転搬送体を振動させ又は移動搬送体を往復移動させる姿勢修正機構を設けたことを特徴としている。   The present invention relates to an electronic component posture correcting device for an IC handler that conveys electronic components between a first pocket of a tray at a first position and a second pocket of a rotary conveyance body or a movable conveyance body at a second position. . This electronic component posture correcting device is configured such that a robot hand that holds and holds an electronic component between the first pocket and the second pocket and the electronic component stored in the second pocket at the second position are in a correct posture. A posture detector for detecting whether or not the device is disposed, a moving mechanism for moving the rotary carrier or the movable carrier between the second position and the rotation measuring robot for checking the quality of the electronic component, and posture detection A posture correction mechanism is provided that operates the moving mechanism to vibrate the rotating transport body or to reciprocate the moving transport body when the electronic components are not arranged in the correct posture according to the detection result of the container. Yes.

回転搬送体の移動機構は、回転搬送体を、第2の位置を通る軌道上に巡回させる回転テーブルと、回転テーブルを回転駆動するテーブル駆動機構を備え、姿勢修正機構は、テーブル駆動機構により回転テーブルを微振動させるように構成するとよい。   The moving mechanism of the rotary transport body includes a rotary table that rotates the rotary transport body on a track passing through the second position, and a table drive mechanism that rotationally drives the rotary table. The posture correcting mechanism is rotated by the table drive mechanism. The table may be configured to be slightly vibrated.

移動搬送体の移動機構は、移動搬送体を、第2の位置を通る軌道上に往復移動させる往復移動機構を備え、姿勢修正機構は、往復移動機構により移動搬送体を往復移動させて微振動させるように構成するとよい。   The moving mechanism of the moving transport body includes a reciprocating mechanism that reciprocates the moving transport body on a trajectory passing through the second position, and the attitude correction mechanism reciprocates the moving transport body by the reciprocating mechanism to slightly vibrate. It is good to comprise so that it may.

姿勢修正機構による回転搬送体又は移動搬送体の微振動は、振幅を0.5mmから1.0mmの範囲内とし、振動時間を0.5秒から2.0秒の範囲内に設定することが好ましい。   For the fine vibration of the rotary carrier or the movable carrier by the posture correction mechanism, the amplitude may be set within the range of 0.5 mm to 1.0 mm, and the vibration time may be set within the range of 0.5 second to 2.0 seconds. preferable.

また、本発明は、電子部品をトレイの第1ポケットと回転搬送体又は移動搬送体の第2ポケットとの間に搬送するICハンドラの電子部品姿勢修正方法に関する。この電子部品姿勢修正方法は、ロボットハンドにより吸着保持されて回転搬送体又は移動搬送体のポケットに収納された電子部品の姿勢を姿勢検出器で検出して姿勢の良否を判定し、判定結果に応じて電子部品がポケットに対して正しい姿勢で配置されていないときに、回転搬送体又は移動搬送体を微振動させて電子部品をポケットに正しい姿勢で配置するように修正するようにしたことを特徴としている。   The present invention also relates to a method for correcting the attitude of an electronic component of an IC handler that conveys an electronic component between a first pocket of a tray and a second pocket of a rotary carrier or a movable carrier. This electronic component attitude correction method uses an attitude detector to detect the attitude of an electronic component that is attracted and held by a robot hand and stored in a pocket of a rotary carrier or a movable carrier, and determines whether the attitude is good or not. Accordingly, when the electronic component is not arranged in the correct posture with respect to the pocket, the rotation carrier or the movable carrier is slightly vibrated so that the electronic component is arranged in the correct posture in the pocket. It is a feature.

本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置及び電子部品姿勢修正方法によれば、電子部品の姿勢を修正するための複雑な構造・機構をICハンドラに追加したり、より正確な電子部品の位置決め制御を行うことなく、電子部品が収納されるポケットを有する回転搬送体又は移動搬送体を振動又は移動させるだけの簡単な機構・方法により、電子部品の搬送ミスを修正してポケットに正しい姿勢で配置させることができるという効果を得ることができる。   According to the electronic component posture correcting apparatus and electronic component posture correcting method of the present invention, a complicated structure / mechanism for correcting the posture of the electronic component is added to the IC handler, or the electronic component is more accurately positioned. A simple mechanism and method that simply vibrates or moves the rotary carrier or the movable carrier that has the pocket in which the electronic component is stored without any control, and corrects the mistake in conveying the electronic component so that the pocket is in the correct posture. The effect that it can arrange | position can be acquired.

本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第1の実施例の概略構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows schematic structure of the 1st Example of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention. 図1に示す電子部品検査装置のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of the electronic component inspection apparatus shown in FIG. 図1に示す電子部品検査装置のICハンドラの電子部品姿勢修正装置に用いた回転搬送体を説明するもので、図3Aは回転搬送体のポケットに電子部品が正しい姿勢で配置された状態を示す平面部、図3Bは図3AのV−V線断面図、図3Cは回転搬送体のポケットに電子部品が不正に配置された状態を示す平面部、図3Dは図3CのW−W線断面図である。FIG. 3A illustrates a rotary carrier used in the electronic component posture correcting device of the IC handler of the electronic component inspection apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 3A shows a state in which the electronic components are arranged in a correct posture in the pocket of the rotary carrier. 3B is a cross-sectional view taken along the line VV in FIG. 3A, FIG. 3C is a plan view showing a state in which electronic components are illegally arranged in the pocket of the rotating carrier, and FIG. 3D is a cross-sectional view taken along the line WW in FIG. FIG. 本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第1の実施例の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the 1st Example of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention. 本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第1の実施例の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining operation | movement of the 1st Example of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention. 図5に示すフローチャート内の微振動の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the operation | movement of the fine vibration in the flowchart shown in FIG. 本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第2の実施例の概略構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows schematic structure of the 2nd Example of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention. 図7に示す電子部品検査装置のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of the electronic component inspection apparatus shown in FIG. 図7に示す電子部品検査装置のICハンドラの電子部品姿勢修正装置に用いた移動搬送体を説明するもので、図9Aは移動搬送体のポケットに電子部品が正しい姿勢で配置された状態を示す平面部、図9Bは図9AのX−X線断面図、図9Cは移動搬送体のポケットに電子部品が不正に配置された状態を示す平面部、図9Dは図9CのY−Y線断面図である。FIG. 9A illustrates a moving carrier used in the electronic component posture correcting device of the IC handler of the electronic component inspection apparatus shown in FIG. 7, and FIG. 9A shows a state where the electronic components are arranged in the correct posture in the pocket of the moving carrier. 9B is a cross-sectional view taken along the line XX of FIG. 9A, FIG. 9C is a plan view showing a state in which electronic components are illegally arranged in the pocket of the moving carrier, and FIG. 9D is a cross-sectional view taken along the line YY of FIG. FIG. 本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第2の実施例の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the 2nd Example of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention. 本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第2の実施例の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining operation | movement of the 2nd Example of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention. 図11に示すフローチャート内の往復移動による微振動を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the fine vibration by the reciprocating movement in the flowchart shown in FIG. 本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の制御部の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of the control part of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component attitude | position correction apparatus of the IC handler of this invention.

以下に、図1乃至図13を参照して、本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の実施の例を説明する。
まず、本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第1の実施例について、図1乃至図6及び図13を参照して説明する。
In the following, an example of an electronic component inspection apparatus provided with an electronic component posture correcting device for an IC handler according to the present invention will be described with reference to FIGS.
First, a description will be given of a first embodiment of an electronic component inspection apparatus provided with an electronic component posture correcting apparatus for an IC handler according to the present invention with reference to FIGS. 1 to 6 and FIG.

図1に示すように、本発明の第1の実施例に係るICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置1は、トレイ部2と、ICハンドラ3と、測定部4と、制御部5とを備えて構成されている。   As shown in FIG. 1, an electronic component inspection apparatus 1 having an IC handler electronic component attitude correcting device according to a first embodiment of the present invention includes a tray unit 2, an IC handler 3, a measuring unit 4, And a control unit 5.

まず、電子部品検査装置1によって製品の良否が検査される検査対象である製品としての電子部品6について説明する。この電子部品6としては、例えば、QFP(Quad Flat Package)やQFN(Quad Flat No-lead Package)を挙げることができる。この第1の実施例においては、外形寸法が4mmの角型をなすパッケージを有するQFP、QFNを適用している。   First, the electronic component 6 as a product to be inspected by the electronic component inspection apparatus 1 to be inspected for product quality will be described. Examples of the electronic component 6 include QFP (Quad Flat Package) and QFN (Quad Flat No-lead Package). In the first embodiment, QFP and QFN having a square package with an outer dimension of 4 mm are applied.

図1に示すように、トレイ部2は、供給トレイ10と回収第一トレイ11と回収第二トレイ12と回収第三トレイ13と回収用空トレイ14と、トレイ搬送器15とを備えている。供給トレイ10は十数枚が重ね合されて用いられており、収納されている電子部品6が空になった状態において、上側から順番に自動的に1枚ずつ取り出し可能とされている。各トレイ10〜14の単体は同一のものが使用されており、長方形をなす平板状の板体からなっている。   As shown in FIG. 1, the tray unit 2 includes a supply tray 10, a recovery first tray 11, a recovery second tray 12, a recovery third tray 13, a recovery empty tray 14, and a tray transporter 15. . Ten or more supply trays 10 are used in an overlapping manner, and can be automatically taken out one by one in order from the top in a state where the stored electronic components 6 are empty. The single trays 10 to 14 are the same, and are formed of a rectangular flat plate.

各トレイ10〜14は、その上面に電子部品6を個別に収納することができる多数の収納部であるポケット16が碁盤の目のように整列されて設けられている。各ポケット16は、適用される電子部品6よりも少し大きな相似形をなす四角形の凹陥部として形成されている。各ポケット16の四辺の縁には内向きに傾斜されたテーパ部が設けられており、そのテーパ部で電子部品6の対応する辺をガイドして、電子部品6がポケット16に正しい姿勢で配置されるように構成されている。   Each of the trays 10 to 14 is provided with a plurality of pockets 16, which are a plurality of storage units capable of individually storing the electronic components 6, arranged on the upper surface thereof like a grid. Each pocket 16 is formed as a quadrangular recess having a similar shape slightly larger than the applied electronic component 6. The edges of the four sides of each pocket 16 are provided with tapered portions inclined inward, and the corresponding sides of the electronic component 6 are guided by the tapered portions so that the electronic component 6 is placed in the pocket 16 in a correct posture. It is configured to be.

供給トレイ10と回収第一トレイ11と回収第二トレイ12と回収用空トレイ14は横並びに整列されて配置されており、回収用空トレイ14と向き合う位置に回収第三トレイ13が配置されていて、全体としてL字状の配置構造となっている。供給トレイ10には、電子部品6が所定の機能・性能を有しているか否かを測定する検査対象としての多数の電子部品6が、1つのポケットに1個ずつそれぞれ収納されている。回収第一トレイ11は、測定済の電子部品のうち測定結果が所定の機能・性能を有していると判定された良品である電子部品6を収納するためのものである。   The supply tray 10, the recovery first tray 11, the recovery second tray 12, and the recovery empty tray 14 are arranged side by side, and the recovery third tray 13 is disposed at a position facing the recovery empty tray 14. As a whole, it has an L-shaped arrangement structure. In the supply tray 10, a large number of electronic components 6 as inspection targets for measuring whether or not the electronic components 6 have a predetermined function / performance are stored one by one in one pocket. The collection first tray 11 is for storing the electronic parts 6 which are non-defective products whose measurement results are determined to have a predetermined function / performance among the measured electronic parts.

回収第二トレイ12は、測定済の電子部品のうち測定結果が所定の機能・性能を有していないが、その不備な点が軽度であると判定された電子部品6を収納するためのものである。ここで「軽度の不良品」としては、例えば、測定値が合否の判断基準から若干劣っており、測定のやり直しが必要と考えられる電子部品等が該当する。この回収第二トレイ12に回収された電子部品6は、測定結果としての不具合が軽微であることから再検査に回され、再度の測定が行われる。   The collection second tray 12 is for storing electronic components 6 whose measured results do not have a predetermined function / performance among the measured electronic components, but whose deficiencies are determined to be mild. It is. Here, the “slightly defective product” corresponds to, for example, an electronic component whose measured value is slightly inferior to the pass / fail judgment standard and whose measurement needs to be repeated. The electronic component 6 collected in the collected second tray 12 is sent to a re-examination because of a minor defect as a measurement result, and the measurement is performed again.

回収第三トレイ13は、測定済の電子部品のうち測定結果が所定の機能・性能を有しておらず、その不備な点が重大は事項であると判定された電子部品6を収納するためのものである。ここで「重度の不良品」としては、例えば、パッケージに大きな傷があって製品として不適当である場合、或いは、測定値が合否の判定基準から大きく外れており、若しくは、測定不能であって、明らかに不具合な製品であると考えられる電子部品等が該当する。この回収第三トレイ13に回収された電子部品6は、再度の測定を行うことなく不良品として処理される。   The collection third tray 13 is for storing the electronic components 6 whose measurement results do not have a predetermined function / performance among the measured electronic components, and whose deficiencies are determined to be serious matters. belongs to. Here, the “severely defective product” is, for example, when the package has a large flaw and is inappropriate as a product, or the measured value greatly deviates from the acceptance criteria, or the measurement is impossible. This applies to electronic parts that are considered to be clearly defective products. The electronic component 6 collected in the collection third tray 13 is processed as a defective product without performing the measurement again.

回収用空トレイ14は、回収第一トレイ11から回収第三トレイ13までのいずれかのトレイに対して必要に応じて補充されるもので、トレイの全てのポケット16に電子部品6が回収された場合等に交換用のトレイとして使用される。この回収用空トレイ14のポケットは、当初はすべて空になっている。   The collection empty tray 14 is replenished as needed to any tray from the collection first tray 11 to the collection third tray 13, and the electronic components 6 are collected in all the pockets 16 of the tray. Used as a replacement tray. All of the pockets of the collection empty tray 14 are initially empty.

トレイ搬送器15は、トレイを1枚ずつ吸着及び離脱することができる吸着パッド20と、その吸着パッド20を搬送するためのパッド支持アーム21とを備えている。パッド支持アーム21は、横並びに配置された供給トレイ10、回収第一トレイ11、回収第二トレイ12及び回収用空トレイ14の4種類のトレイ間を移動できるように第1の方向(以下「X軸方向」という。)に移動可能に構成されている。   The tray transporter 15 includes a suction pad 20 that can suck and remove the trays one by one, and a pad support arm 21 for transporting the suction pad 20. The pad support arm 21 moves in a first direction (hereinafter referred to as “a”) so that it can move between four types of trays, that is, a supply tray 10, a collection first tray 11, a collection second tray 12, and a collection empty tray 14 arranged side by side. It is configured to be movable in the “X-axis direction”).

このパッド支持アーム21によって移動される吸着パッド20は、通常は、各トレイ10〜12,14に対して、その略中央部に配置される構成となっているが、平面方向においてX軸方向と直交する第2の方向であるY軸方向へ位置調整可能に構成されている。このトレイ搬送器15は、電子部品6がすべて搬送されて空になった供給トレイ10を回収用空トレイ14に搬送したり、空になった供給トレイ10を、すべてのポケット16が電子部品6で満杯になった回収第一トレイ11〜回収第三トレイ13上に搬送し、そのトレイ上に重ね合わせる。このように搬送された供給トレイは、新たな回収トレイとして使用される。   The suction pad 20 moved by the pad support arm 21 is normally arranged at the substantially central portion with respect to each of the trays 10 to 12 and 14, but in the X-axis direction in the planar direction. The position is adjustable in the Y-axis direction, which is the second direction orthogonal to each other. The tray transporter 15 transports the supply tray 10 that has been emptied by transporting all of the electronic components 6 to the collection empty tray 14, or all the pockets 16 are disposed in the electronic components 6 of the emptied supply tray 10. Are transported onto the collection first tray 11 to the collection third tray 13 that are full of and stacked on the tray. The supply tray thus transported is used as a new collection tray.

また、平面から見てL字状に配置された5組のトレイ10〜14に関連してICハンドラ3が配設されている。ICハンドラ3は、電子部品6を吸着保持して搬送する供給ロボットハンド31及び回収ロボットハンド32と、3個の回転搬送体33,34,35を備えた回転テーブル36と、この回転テーブル36を回転駆動するテーブル駆動機構37と、3個の回転搬送体33,34,35のポケット60に配置された電子部品6の姿勢の良否を検出する2組の姿勢検出器38、39等を備えている。   Further, the IC handler 3 is arranged in association with five sets of trays 10 to 14 arranged in an L shape when viewed from the plane. The IC handler 3 includes a supply robot hand 31 and a collection robot hand 32 that suck and hold the electronic component 6 and convey it, a rotary table 36 including three rotary transfer bodies 33, 34, and 35, and the rotary table 36. A table driving mechanism 37 that rotates and two sets of posture detectors 38 and 39 that detect the quality of the posture of the electronic component 6 disposed in the pocket 60 of the three rotary conveyance bodies 33, 34, and 35 are provided. Yes.

ここで、供給トレイ10及び回収第一トレイ11と回収第二トレイ12と回収第三トレイ13の各ポケット16を第1ポケットと定義し、3個の回転搬送体33〜35のポケット60を第2ポケットと定義して使用する。また、供給ロボットハンド31が供給トレイ10の第1ポケット60から電子部品6を吸着保持する位置のすべてと、回収ロボットハンド32が回収第一トレイ1〜回収第三トレイ13の第1ポケット60に電子部品6を収納する位置のすべてを第1の位置と定義する。そして、供給ロボットハンド31が電子部品6を各回転搬送体33〜35の第2ポケット60に配置する位置と、回収ロボットハンド32が第2ポケット60から電子部品6を吸着保持する位置を第2の位置と定義するものとする。 Here, the pockets 16 of the supply tray 10, the recovery first tray 11, the recovery second tray 12, and the recovery third tray 13 are defined as the first pockets, and the pockets 60 of the three rotary conveyance bodies 33 to 35 are defined as the first pockets. It is defined as 2 pockets. In addition, all the positions where the supply robot hand 31 sucks and holds the electronic component 6 from the first pocket 60 of the supply tray 10 and the recovery robot hand 32 the first pocket 60 of the recovery first tray 11 to the recovery third tray 13. All positions where the electronic component 6 is housed are defined as the first position. Then, the position where the supply robot hand 31 places the electronic component 6 in the second pocket 60 of each of the rotary conveyance bodies 33 to 35 and the position where the collection robot hand 32 sucks and holds the electronic component 6 from the second pocket 60 are second. Is defined as the position of.

供給ロボットハンド31と回収ロボットハンド32は、ロボットアーム41の長手方向の両端に設けられている。両ロボットハンド31,32は、電子部品6を吸着して保持したり、保持している電子部品6を離脱することができる吸着ノズル42をそれぞれ備えている。2つの吸着ノズル42,42は、X軸とY軸を有する平面方向と垂直をなす第3の方向であるZ軸方向へ別個独立に移動可能であって、電子部品6を別個独立に吸着・離脱可能に構成されている。   The supply robot hand 31 and the collection robot hand 32 are provided at both ends of the robot arm 41 in the longitudinal direction. Both robot hands 31 and 32 are each provided with a suction nozzle 42 that can suck and hold the electronic component 6 and can detach the held electronic component 6. The two suction nozzles 42 and 42 can move independently in the Z-axis direction, which is a third direction perpendicular to the plane direction having the X-axis and the Y-axis, and can individually suck and separate the electronic component 6. It is configured to be removable.

移動ベース44は、図示しないタイミングベルトによってX軸方向へ移動可能に構成されている。そのタイミングベルトは、X軸方向に延在されているガイドレール45にガイドされてその長手方向へ無端状に走行可能とされている。この移動ベース44がX軸方向へ移動することにより、供給ロボットハンド31が供給トレイ10の幅方向の一端から他端まで移動可能であり、回収ロボットハンド32は回収第一トレイ11の一端から回収第二トレイ12を経て回収第三トレイ13の他端まで移動可能とされている。   The moving base 44 is configured to be movable in the X-axis direction by a timing belt (not shown). The timing belt is guided by a guide rail 45 extending in the X-axis direction and can run endlessly in the longitudinal direction. As the moving base 44 moves in the X-axis direction, the supply robot hand 31 can move from one end to the other end in the width direction of the supply tray 10, and the recovery robot hand 32 recovers from one end of the recovery first tray 11. It can move to the other end of the collection third tray 13 through the second tray 12.

ガイドレール45の長手方向の両端にはスライド軸受46が夫々取り付けられている。各スライド軸受46には、Y軸方向へ延在されたガイドバー47が夫々貫通されている。図1において、符号48は、ガイドレール45をY軸方向へ往復移動させるための駆動モータであり、この駆動モータ48の回転軸48aがX軸方向に延在されている。回転軸48aの軸方向の両端にはベルト車49が取り付けられている。各ベルト車49には伝動ベルト49aの一端が掛け止められており、伝動ベルト49aの他端はY軸方向に延在されて図示しないベルト車に掛け止められている。この一対の伝動ベルト49aに一対のスライド軸受46が夫々固定されている。   Slide bearings 46 are attached to both ends of the guide rail 45 in the longitudinal direction. Each slide bearing 46 is penetrated by a guide bar 47 extending in the Y-axis direction. In FIG. 1, reference numeral 48 denotes a drive motor for reciprocating the guide rail 45 in the Y-axis direction, and a rotation shaft 48a of the drive motor 48 extends in the X-axis direction. Belt wheels 49 are attached to both ends of the rotation shaft 48a in the axial direction. One end of a transmission belt 49a is hooked on each belt wheel 49, and the other end of the transmission belt 49a extends in the Y-axis direction and is hooked on a belt wheel (not shown). A pair of slide bearings 46 are fixed to the pair of transmission belts 49a.

かくして、駆動モータ48の駆動によって回転軸48aが回転駆動されると、その回転力が左右のベルト車49から左右の伝動ベルト49aに伝達される。その結果、駆動モータ48の回転方向に応じて、一対のガイドバー47にガイドされてガイドレール45がY軸方向へ移動される。このガイドレール45によるY軸方向への移動と、ガイドレール45の長手方向に沿って移動する移動ベース44の動作を介して、供給ロボットハンド31及び回収ロボットハンド32が、供給トレイ10及び回収第一トレイ11から回収第三トレイ13までの全てのポケットの上方、並びに、回転テーブル36の上方に移動可能とされている。   Thus, when the rotary shaft 48a is rotationally driven by the drive motor 48, the rotational force is transmitted from the left and right belt wheels 49 to the left and right transmission belts 49a. As a result, the guide rail 45 is moved in the Y-axis direction by being guided by the pair of guide bars 47 according to the rotation direction of the drive motor 48. Through the movement of the guide rail 45 in the Y-axis direction and the movement of the moving base 44 that moves along the longitudinal direction of the guide rail 45, the supply robot hand 31 and the recovery robot hand 32 are connected to the supply tray 10 and the recovery process. It is possible to move above all the pockets from one tray 11 to the collection third tray 13 and above the rotary table 36.

図1及び図2に示すように、回転テーブル36は水平方向へ回転自在に支持されていると共に、テーブル駆動機構37によって回転自在に構成されている。テーブル駆動機構37は、駆動モータ50と駆動プーリ51と伝動ベルト52等を備えている。駆動モータ50は、モータブラケット53を介して装置フレーム54に回転軸50aの軸方向を上下方向へ向けた状態で固定されている。その駆動モータ50の回転軸50aに駆動プーリ51が固定されており、その駆動プーリ50aに伝動ベルト52の一端が掛け止められている。伝動ベルト52の他端は、回転テーブル36に設けたプーリ部に掛け止められている。 As shown in FIGS. 1 and 2, the rotary table 36 is rotatably supported in the horizontal direction and is configured to be rotatable by a table drive mechanism 37. The table drive mechanism 37 includes a drive motor 50, a drive pulley 51, a transmission belt 52, and the like. The drive motor 50 is fixed to the device frame 54 via the motor bracket 53 with the axial direction of the rotary shaft 50a directed in the vertical direction. A drive pulley 51 is fixed to a rotation shaft 50a of the drive motor 50, and one end of a transmission belt 52 is hooked on the drive pulley 50a. The other end of the transmission belt 52 is hooked on a pulley portion provided on the rotary table 36.

駆動モータ50としては、例えば、ステッピングモータを適用することができ、入力信号に応じて、回転テーブル36を120度連続回転させたり、微小角度を往復させて微振動を生じさせることができるものである。回転テーブル36の上面には3個の回転搬送体33,34,35が、周方向に等角度(120度)間隔をあけて回転自在に支持されている。3個の回転搬送体33〜35は、遊星ギア列55によって同一位相で回転するようになっている。遊星ギア列55は、回転テーブル36と同一の回転中心を有する太陽ギア56と、この太陽ギア56の外周に等角度間隔で配置された3個の遊星ギア57と、3個の回転搬送体33〜35に夫々設けられたギア部58とによって構成されている。   As the drive motor 50, for example, a stepping motor can be applied, and according to an input signal, the rotary table 36 can be continuously rotated by 120 degrees, or a minute angle can be reciprocated to generate micro vibrations. is there. Three rotary transport bodies 33, 34, and 35 are supported on the upper surface of the rotary table 36 so as to be rotatable at equal angular intervals (120 degrees) in the circumferential direction. The three rotary conveyance bodies 33 to 35 are rotated by the planetary gear train 55 in the same phase. The planetary gear train 55 includes a sun gear 56 having the same rotation center as that of the rotary table 36, three planetary gears 57 disposed on the outer periphery of the sun gear 56 at equal angular intervals, and three rotary transport bodies 33. To 35, the gear portions 58 are provided.

遊星ギア列55の太陽ギア56は回転テーブル36の回転中心部に一体的に設けられており、この太陽ギア56の外周に3個の遊星ギア57が噛合されていて、その3個の遊星ギア57が3個の回転搬送体33〜35の各ギア部58に噛合されている。3個の遊星ギア57は、回転テーブル36の上面に立設された枢軸によって回転テーブル36に回転自在に支持されている。   The sun gear 56 of the planetary gear train 55 is integrally provided at the rotation center of the rotary table 36, and three planetary gears 57 are meshed with the outer periphery of the sun gear 56, and the three planetary gears are engaged. 57 is meshed with each gear portion 58 of the three rotary conveyance bodies 33 to 35. The three planetary gears 57 are rotatably supported on the rotary table 36 by pivots provided upright on the upper surface of the rotary table 36.

かくして、テーブル駆動機構37によって回転テーブル36を回転すると、これと一体の太陽ギア56が同じ角度だけ回転し、その回転力が3個の遊星ギア57を介して3個のギア部58に伝達される。これにより、3個の回転搬送体33〜35が、回転テーブル36の回転角度と等しい角度だけ太陽ギア56の外側を公転しつつ、その回転角度に応じた角度だけ遊星ギア57の外側で自転する。この3個の回転搬送体33〜35の回転比率は、回転テーブル36が120度回転したときに、3個の回転搬送体33〜35が1回転自転するように構成されている。   Thus, when the rotary table 36 is rotated by the table driving mechanism 37, the sun gear 56 integrated with the rotary table 36 rotates by the same angle, and the rotational force is transmitted to the three gear portions 58 via the three planetary gears 57. The As a result, the three rotary conveyance bodies 33 to 35 revolve outside the planetary gear 57 by an angle corresponding to the rotation angle while revolving outside the sun gear 56 by an angle equal to the rotation angle of the turntable 36. . The rotation ratio of the three rotary conveyance bodies 33 to 35 is configured such that when the rotary table 36 rotates 120 degrees, the three rotary conveyance bodies 33 to 35 rotate by one rotation.

3個の回転搬送体33〜35の回転移動に関して、いずれか2個の回転搬送体を結ぶ線がX軸と平行をなすように配置され、かつ、残り1個の回転搬送体が、その結ぶ線の中間部においてY軸方向の延長線上に位置するとき、この位置を本実施例において「第2の位置」と定義するものとする。3個の回転搬送体33〜35は、通常では、この第2の位置を確保するように120度を単位として回転移動される。   Regarding the rotational movement of the three rotary transport bodies 33 to 35, a line connecting any two of the rotary transport bodies is arranged so as to be parallel to the X axis, and the remaining one rotary transport body is connected. When it is located on the extended line in the Y-axis direction in the middle part of the line, this position is defined as a “second position” in this embodiment. Normally, the three rotary conveyance bodies 33 to 35 are rotated and moved in units of 120 degrees so as to secure the second position.

3個の回転搬送体33〜35は、同一の形状・構造を有するものであり、円盤状をなす本体の上面の中央部に四角形をなす凹陥部からなるポケット60が設けられている。図3A〜3Dに示すように、回転搬送体33〜35のポケット60は、検査対象である電子部品6よりも少し大きな四角形の凹陥部として形成されている。そして、ポケット60の四辺の縁には内側に傾斜したテーパ部61がそれぞれ設けられており、これらのテーパ部61で電子部品6の各辺をガイドすることにより、ポケット60内の所定位置に電子部品6が正しい姿勢で配置される(図3A〜3Bの状態)ように構成している。   The three rotary conveyance bodies 33 to 35 have the same shape and structure, and a pocket 60 formed of a rectangular concave portion is provided at the center of the upper surface of the disk-shaped main body. As illustrated in FIGS. 3A to 3D, the pockets 60 of the rotary conveyance bodies 33 to 35 are formed as rectangular recesses that are slightly larger than the electronic component 6 to be inspected. Further, tapered portions 61 inclined inward are respectively provided at the edges of the four sides of the pocket 60, and by guiding each side of the electronic component 6 with these tapered portions 61, electrons are placed at predetermined positions in the pocket 60. The component 6 is configured so as to be arranged in a correct posture (the state shown in FIGS. 3A to 3B).

電子部品6を収納するポケット60の形状及び寸法は、測定する電子部品6の形状や大きさ(サイズ)によって異なるが、その開口部の大きさは、その電子部品6を載置させるために必要な載置部の寸法に約0.5mmから0.6mmの許容値を加えた寸法に設定することが好ましい。このように開口部の大きさを、電子部品6の大きさに0.5mm〜0.6mmの許容値を加えたものに設定すれば、電子部品6がポケット60に完全に収納されることにより、電子部品6のすべての端子を所定の端子に接続させて測定を行うことが可能となるからである。   The shape and size of the pocket 60 for storing the electronic component 6 vary depending on the shape and size (size) of the electronic component 6 to be measured, but the size of the opening is necessary for placing the electronic component 6. It is preferable to set a size obtained by adding an allowable value of about 0.5 mm to 0.6 mm to the size of the mounting portion. Thus, if the size of the opening is set to the size of the electronic component 6 plus an allowable value of 0.5 mm to 0.6 mm, the electronic component 6 is completely stored in the pocket 60. This is because measurement can be performed by connecting all terminals of the electronic component 6 to predetermined terminals.

なお、電子部品6のテーパ部61の傾斜角度は、18度から25度の範囲内に設定することが好ましい。テーパ部61の傾斜角度が18°以上25°以下の範囲内であれば、高い搬送位置精度を必要とすることがなく、電子部品6がポケット60のテーパ部61に引っ掛かるように配置された場合であっても、電子部品6の自重によって載置部に滑り込み、所定の載置部に正しい姿勢で配置させることができるというメリットがある。   The inclination angle of the taper portion 61 of the electronic component 6 is preferably set within a range of 18 degrees to 25 degrees. When the inclination angle of the taper portion 61 is within a range of 18 ° or more and 25 ° or less, the electronic component 6 is disposed so as to be caught by the taper portion 61 of the pocket 60 without requiring high conveyance position accuracy. Even so, there is an advantage that the electronic component 6 can slide into the placement portion due to its own weight and can be placed in a correct posture on the predetermined placement portion.

3個の回転搬送体33〜35の上面には、中央部に形成されたポケット60を貫通して直径方向の一端から他端まで連続する測光溝62が設けられている。測光溝62は、ポケット60に収納された電子部品6の姿勢の良否を検出するために使用されるもので、ポケット60の一方に対向する二辺の中央部において、その辺と直交する方向に延在されている。3個の回転搬送体33〜35の測光溝62は、第2の位置においてX軸と平行する方向に延在されている。更に、第2の位置において、供給トレイ10に対して最も近い場所に位置する回転搬送体と、回収第二トレイ12に対して最も近い場所に位置する回転搬送体に関連して、各回転搬送体に配置されている電子部品6の姿勢の良否を測定する姿勢検出器38,39が設けられている。   On the upper surfaces of the three rotary conveyance bodies 33 to 35, a photometric groove 62 is provided which passes through a pocket 60 formed in the center and continues from one end to the other end in the diameter direction. The photometric groove 62 is used for detecting the quality of the posture of the electronic component 6 accommodated in the pocket 60. In the central part of two sides facing one side of the pocket 60, the photometric groove 62 extends in a direction perpendicular to the side. Has been extended. The photometric grooves 62 of the three rotary conveyance bodies 33 to 35 extend in a direction parallel to the X axis at the second position. Further, in the second position, each rotary transport is related to the rotary transport body positioned closest to the supply tray 10 and the rotary transport body positioned closest to the recovery second tray 12. Posture detectors 38 and 39 for measuring the quality of the posture of the electronic component 6 arranged on the body are provided.

図2及び図3A〜3Dに示すように、姿勢検出器38,39は同一の構成を有する光電センサであり、回転搬送体を挟んで測光溝62の一側の外側に配置される発光素子64と、回転搬送体を挟んで測光溝62の他側の外側に配置される受光素子65とによって構成されている。発光素子64としては、例えば発光ダイオードを適用することができ、受光素子65としては例えばフォトダイオードを適用することができる。発光素子64は、その発光部を測光溝62の一側に臨ませるように配置されており、受光素子65は、その受光部を測光溝62の他側に臨ませるように配置されている。   As shown in FIGS. 2 and 3A to 3D, the posture detectors 38 and 39 are photoelectric sensors having the same configuration, and the light emitting element 64 disposed on the outer side of the photometric groove 62 with the rotary carrier interposed therebetween. And a light receiving element 65 disposed on the outer side of the other side of the photometric groove 62 with the rotary carrier interposed therebetween. As the light emitting element 64, for example, a light emitting diode can be applied, and as the light receiving element 65, for example, a photodiode can be applied. The light emitting element 64 is arranged so that the light emitting portion faces one side of the photometric groove 62, and the light receiving element 65 is arranged so that the light receiving portion faces the other side of the photometric groove 62.

発光素子64と受光素子65は、図1及び図2に示すように、回転テーブル36を回転自在に支持する装置フレーム54に固定されており、発光素子64と受光素子65が移動することはない。同図において、符号66は発光素子64を固定支持するブラケットであり、符号67は受光素子65を固定支持するブラケットである。   As shown in FIGS. 1 and 2, the light emitting element 64 and the light receiving element 65 are fixed to a device frame 54 that rotatably supports the rotary table 36, and the light emitting element 64 and the light receiving element 65 do not move. . In the drawing, reference numeral 66 denotes a bracket for fixing and supporting the light emitting element 64, and reference numeral 67 is a bracket for fixing and supporting the light receiving element 65.

図3A及び図3Bは、電子部品6が回転搬送体33〜35のポケット60に正しい姿勢で配置されている状態を示すものである。この場合には、発光素子64から放射された光は電子部品の上方を通過することができ、その光は電子部品6で進行を邪魔されることなく受光素子65によって受光される。これに対して、図3C及び図3Dは、電子部品6が回転搬送体33〜35のポケット60に正しくない姿勢で配置されている状態を示すものである。この場合には、発光素子64から放射された光は電子部品によって進行が遮断されるため、その光が受光素子65によって受光されることがない。この受光素子65が光信号を受ける場合には姿勢検出器38,39からオン信号が出力され、受けない場合にはオフ信号が出力される。   3A and 3B show a state in which the electronic component 6 is arranged in the correct posture in the pocket 60 of the rotary conveyance bodies 33 to 35. FIG. In this case, the light emitted from the light emitting element 64 can pass above the electronic component, and the light is received by the light receiving element 65 without being disturbed by the electronic component 6. On the other hand, FIG. 3C and FIG. 3D show a state in which the electronic component 6 is disposed in an incorrect posture in the pocket 60 of the rotary conveyance bodies 33 to 35. In this case, since the light emitted from the light emitting element 64 is blocked from traveling by the electronic component, the light is not received by the light receiving element 65. When the light receiving element 65 receives an optical signal, an on signal is output from the attitude detectors 38 and 39, and when not received, an off signal is output.

このように回転動作する回転テーブル36に搭載されている3個の回転搬送体33〜35に関連して、その側方に位置するように測定部4が設けられている。測定部4は、電子部品6の良否を測定するテストソケット70と、このテストソケット70と回転搬送体との間に電子部品6を搬送する回転測定ロボット71を備えている。   The measurement unit 4 is provided so as to be located on the side of the three rotary conveyance bodies 33 to 35 mounted on the rotary table 36 that rotates in this way. The measurement unit 4 includes a test socket 70 that measures the quality of the electronic component 6 and a rotation measurement robot 71 that conveys the electronic component 6 between the test socket 70 and the rotating conveyance body.

テストソケット70は、電子部品6の性能の良否を測定するものである。このテストソケット70の所定位置に電子部品6を配置することにより、その配線回路に電子部品6の端子が接続され、その電子部品6が所定の性能・機能を有しているか否かを測定することが可能に構成されている。   The test socket 70 measures the quality of the electronic component 6. By arranging the electronic component 6 at a predetermined position of the test socket 70, the terminal of the electronic component 6 is connected to the wiring circuit, and it is measured whether or not the electronic component 6 has a predetermined performance / function. It is configured to be possible.

回転測定ロボット71は、装置フレーム54に立設された回転枢軸72と、この回転枢軸72に回転自在に支持された円筒状をなす回転体73と、この回転体73に設けられた一対の搬送ロボット74,75と、各搬送ロボット74,75に設けられた吸着ノズル76等を備えて構成されている。   The rotation measuring robot 71 includes a rotating pivot 72 erected on the apparatus frame 54, a cylindrical rotating body 73 that is rotatably supported by the rotating pivot 72, and a pair of transports provided on the rotating body 73. The robot 74, 75 and the suction nozzle 76 provided in each of the transfer robots 74, 75 are provided.

回転体73は、図示しない駆動モータの駆動力により、回転枢軸72を回転中心として180度往復回転可能に構成されている。一対の搬送ロボット74,75は、回転体73の外周面であって、180度回転変位した位置において半径方向外側へ突出するように配置されており、更に、それぞれが別個独立に上下方向へ昇降移動可能に構成されている。一対の搬送ロボット74,75は、3個の回転搬送体33〜35のいずれかとテストソケット70との間に電子部品6を搬送するもので、回転枢軸72を中心として第2の位置に位置する一の回転搬送体に対して180度回転変位した位置であって、第2の搬送ロボット75の下方にテストソケット70が配設されている。   The rotating body 73 is configured to be capable of rotating 180 degrees reciprocally around the rotation pivot 72 by a driving force of a driving motor (not shown). The pair of transfer robots 74 and 75 are arranged on the outer peripheral surface of the rotating body 73 so as to protrude outward in the radial direction at positions rotated and rotated by 180 degrees. It is configured to be movable. The pair of transfer robots 74 and 75 transfer the electronic component 6 between any of the three rotary transfer bodies 33 to 35 and the test socket 70, and are positioned at the second position around the rotary pivot 72. A test socket 70 is disposed below the second transfer robot 75 at a position rotated by 180 degrees with respect to one rotary transfer body.

各搬送ロボット74,75の中心部には、電子部品6を吸着保持することが可能な吸引口を下方へ向けた状態で吸着ノズル76が保持されている。一対の搬送ロボット74,75のうち、一方の搬送ロボットの吸着ノズル76は回転搬送体のポケット60に対向され、他方の搬送ロボットの吸着ノズル76はテストソケット70のポケットに対向される。これら一対の搬送ロボット74,75のうち、第1の搬送ロボット74は、回転搬送体のポケット60に収納されている電子部品を吸引保持して搬送し、テストソケット70のポケットに収納するもので、第2の搬送ロボット75は、テストソケット70のポケットに収納されている電子部品を吸引保持して搬送し、回転搬送体のポケット60に離脱収納するものである。上述した構成を備えた電子部品検査装置1の概略構成を図4のブロック図として示している。   A suction nozzle 76 is held at the center of each of the transfer robots 74 and 75 with the suction port capable of sucking and holding the electronic component 6 facing downward. Of the pair of transfer robots 74 and 75, the suction nozzle 76 of one transfer robot faces the pocket 60 of the rotary transfer body, and the suction nozzle 76 of the other transfer robot faces the pocket of the test socket 70. Of the pair of transfer robots 74 and 75, the first transfer robot 74 sucks and holds the electronic components stored in the pocket 60 of the rotary transfer body, and stores them in the pocket of the test socket 70. The second transfer robot 75 sucks and holds the electronic components stored in the pockets of the test socket 70 and transfers them to the pockets 60 of the rotary transfer body. A schematic configuration of the electronic component inspection apparatus 1 having the above-described configuration is shown as a block diagram in FIG.

このような構成を有する電子部品検査装置1の測定部4、ICハンドラ3及びトレイ部2の動作は、制御部5により制御されて所定の動作を実行する。制御部5は、図13に示すような構成を有している。即ち、図13に示すように、制御部5は、制御装置80と表示装置81と入力装置82等を備えて構成されている。   The operations of the measurement unit 4, the IC handler 3, and the tray unit 2 of the electronic component inspection apparatus 1 having such a configuration are controlled by the control unit 5 and execute predetermined operations. The control unit 5 has a configuration as shown in FIG. That is, as shown in FIG. 13, the control unit 5 includes a control device 80, a display device 81, an input device 82, and the like.

表示装置81は、例えば、液晶ディスプレイ等の画像を表示することが可能な装置によって構成される。この表示装置81には、例えば、電子機器6の測定結果その他の情報を表示することができる。入力装置82は、例えば、タッチパネル等の情報を入力することが可能な装置によって構成される。この入力装置82には、制御装置80を制御するためにオペレータの操作によって制御情報が入力される。制御装置80は、CPU83とハードディスクドライブ84とIO制御基板85と表示処理部86とモータ制御基板87と入力インタフェース88とRAM89等を備えており、これらがバス90を介してそれぞれ電気的に接続されている。   The display device 81 is configured by a device capable of displaying an image, such as a liquid crystal display. The display device 81 can display, for example, measurement results of the electronic device 6 and other information. The input device 82 is configured by a device capable of inputting information such as a touch panel, for example. Control information is input to the input device 82 by an operator's operation in order to control the control device 80. The control device 80 includes a CPU 83, a hard disk drive 84, an IO control board 85, a display processing unit 86, a motor control board 87, an input interface 88, a RAM 89, and the like, which are electrically connected via a bus 90, respectively. ing.

この制御装置80には、姿勢検出器38,39及びその他各種のセンサからなるセンサ類91と、電源スイッチ及びその他各種のスイッチからなるスイッチ類92と、吸着ノズル42や吸着ノズル76等の電磁シリンダ類93と、回転テーブル36を駆動する駆動モータ50や回転測定ロボット71を回転動作するモータその他のモータ類94を駆動するモータドライバ類95が接続されている。CPU83は、IO制御基板85を介してセンサ類91及びスイッチ類92の状態を監視しながら、モータ制御基板8の作動を介して、該当するモータ類94や電磁シリンダ類93を駆動することにより、供給ロボットハンド31及び回収ロボットハンド32を動作させて電子部品6を搬送する。 The control device 80 includes sensors 91 including posture detectors 38 and 39 and other various sensors, switches 92 including a power switch and various other switches, and electromagnetic cylinders such as the suction nozzle 42 and the suction nozzle 76. A motor 93 for driving a motor 93 for driving a motor 93 for driving the rotary table 36, a motor for rotating the rotation measuring robot 71, and other motors 94 are connected. CPU83 while monitoring the state of the sensors 91 and switches 92 through the IO control board 85, via the operation of the motor control board 8 7, by driving the motors 94 and the solenoid cylinder such 93 corresponding Then, the electronic robot 6 is transported by operating the supply robot hand 31 and the collection robot hand 32.

ハードディスクドライブ84は、この電子部品検査装置1の動作を制御するためのOS(オペレーションシステム)や、ICハンドラ3の各種データに基づき当該ICハンドラ3の動作を制御するためのICハンドラ制御プログラム等を読み出し可能に記憶している。ハードディスクドライブ84に記憶されたハンドラ制御プログラムは、RAM89に読み出される。IO制御基板85は、ICハンドラ3のセンサ類91の状態やスイッチ類92の状態を読み込んだり、電磁シリンダ類93の動作の制御を行う。表示処理部86には表示装置81が接続されており、入力情報や演算情報等を処理して表示装置81に表示する。   The hard disk drive 84 includes an OS (operation system) for controlling the operation of the electronic component inspection apparatus 1 and an IC handler control program for controlling the operation of the IC handler 3 based on various data of the IC handler 3. It is stored so that it can be read. The handler control program stored in the hard disk drive 84 is read out to the RAM 89. The IO control board 85 reads the state of the sensors 91 and the state of the switches 92 of the IC handler 3 and controls the operation of the electromagnetic cylinders 93. A display device 81 is connected to the display processing unit 86, and processes input information, calculation information, and the like and displays them on the display device 81.

モータ制御基板87は、モータ類94の複数のモータの制御が可能である。入力インタフェース88には入力装置82が接続されており、入力装置82に入力された信号をCPU83やRAM89に渡す。この入力装置82への情報入力、或いは、IO制御基板85を介したセンサ類91及びスイッチ類92からの情報入力により、ICハンドラ3の起動及び停止操作が行われる。RAM89は、プログラムやデータを記憶する領域として、或いは、CPU83による処理に使用するデータを格納する作業領域として利用される。   The motor control board 87 can control a plurality of motors of the motors 94. An input device 82 is connected to the input interface 88, and a signal input to the input device 82 is passed to the CPU 83 and the RAM 89. The IC handler 3 is activated and stopped by information input to the input device 82 or information input from the sensors 91 and switches 92 via the IO control board 85. The RAM 89 is used as an area for storing programs and data, or as a work area for storing data used for processing by the CPU 83.

このような構成を有する電子部品検査装置1の動作の概略は、次のようなものである。
供給ロボットハンド31は、供給トレイ10の先頭に移動し、上下動作を行って供給トレイ10の第1の位置にある電子部品6を吸着保持する。そして、供給ロボットハンド31が電子部品6を第1の回転搬送体33まで搬送し、上下動作してそのポケット60に電子部品6を収納する。同時に、回収ロボットハンド32は上下動作し、第3の回転搬送体35のポケット60に収納されている測定後の電子部品6を吸着保持する。そして、回収ロボットハンド32は測定の結果に応じて、回収第一トレイ11と回収第二トレイ12と回収第三トレイ13のいずれかの位置まで搬送し、上下動作してそのポケット16に電子部品6を離脱して収納する。
The outline of the operation of the electronic component inspection apparatus 1 having such a configuration is as follows.
The supply robot hand 31 moves to the top of the supply tray 10 and moves up and down to suck and hold the electronic component 6 at the first position of the supply tray 10. Then, the supply robot hand 31 conveys the electronic component 6 to the first rotary conveyance body 33 and moves up and down to store the electronic component 6 in the pocket 60. At the same time, the collection robot hand 32 moves up and down and sucks and holds the electronic component 6 after measurement stored in the pocket 60 of the third rotary conveyance body 35. Then, the collection robot hand 32 conveys to any one of the collection first tray 11, the collection second tray 12, and the collection third tray 13 according to the measurement result, and moves up and down to place the electronic component in the pocket 16. Remove 6 and store.

次に、供給ロボットハンド31は、供給トレイ10の次のポケット16の位置に移動する。このように供給ロボット31は、指定された供給トレイ10の電子部品6が無くなるまで、この電子部品6の供給動作を繰り返す。   Next, the supply robot hand 31 moves to the position of the next pocket 16 of the supply tray 10. Thus, the supply robot 31 repeats the supply operation of the electronic component 6 until the electronic component 6 in the designated supply tray 10 is exhausted.

第1の回転搬送体33のポケット60に配置された電子部品6は、回転テーブル36を120度回転させることによって第2の回転搬送体34の位置に移動する。この位置にある第2の回転搬送体34のポケット60には、すでに測定が行われた後の電子部品6がある場合にはその電子部品6が収納されており、回転テーブル36の120度回転によって第3の回転搬送体35の位置まで搬送される。そして、第3の回転搬送体35の位置に移動してきた回収ロボットハンド32により、電子部品6が吸着保持され、測定結果に応じて、対応する回収トレイまで搬送され、そのポケット16に離脱収納することにより回収が行われる。   The electronic component 6 disposed in the pocket 60 of the first rotary transport body 33 moves to the position of the second rotary transport body 34 by rotating the rotary table 36 by 120 degrees. In the pocket 60 of the second rotary conveyance body 34 at this position, when there is an electronic component 6 that has already been measured, the electronic component 6 is accommodated, and the rotary table 36 rotates 120 degrees. Is carried to the position of the third rotary carrier 35. Then, the electronic robot 6 is sucked and held by the collection robot hand 32 that has moved to the position of the third rotary conveyance body 35, and is conveyed to the corresponding collection tray according to the measurement result, and detached and stored in the pocket 16. By doing so, recovery is performed.

一方、回転測定ロボット71は、第2の回転搬送体34のポケット60に配置された電子部品6を第1の搬送ロボット74によって吸着保持する。次に、回転測定ロボット71は、回転体73を180度回転し、テストソケット70の所定位置に電子部品を載置して測定を開始する。これと同時に、測定後の電子部品6が第2の搬送ロボット75により吸着保持された後、回転体73の180度回転によって第2の回転搬送体34の位置に移動し、そのポケット60に測定後の電子部品6を離脱して収納する。この第2の回転搬送体34のポケット60に収納された電子部品6が、回転テーブル36の120度回転によって第3の回転搬送体35の位置まで移動し、この位置から回収ロボットハンド32によって該当する回収トレイに回収される。   On the other hand, the rotation measuring robot 71 sucks and holds the electronic component 6 arranged in the pocket 60 of the second rotating transport body 34 by the first transport robot 74. Next, the rotation measurement robot 71 rotates the rotating body 73 by 180 degrees, places an electronic component at a predetermined position of the test socket 70, and starts measurement. At the same time, after the electronic component 6 after measurement is sucked and held by the second transfer robot 75, it is moved to the position of the second rotary transfer body 34 by the rotation of the rotary body 73 and measured in the pocket 60. The subsequent electronic component 6 is detached and stored. The electronic component 6 housed in the pocket 60 of the second rotary transport body 34 is moved to the position of the third rotary transport body 35 by the rotation of the rotary table 36 by 120 degrees, and the corresponding robot robot 32 performs the corresponding operation from this position. To be collected in a collection tray.

このような構成を有する電子部品検査装置1の詳細な動作は、例えば、次のようなものである。図5及び図6は、電子部品検査装置1における制御部5の動作のフローチャートを示すものである。この場合、予め、供給トレイ10には、測定対象である電子部品のポケット16に収納されているトレイを十数枚重ねて配置させておくようにする。これに対して、回収第一トレイ11と回収第二トレイ12と回収第三トレイ13には、ポケットが空となっているトレイを夫々配置し、回収用空トレイ14にはポケットが空となっているトレイを数枚重ねて配置させておく。一般に、このようなトレイの配置状態において、電子部品6の性能・機能の測定が開始される。   The detailed operation of the electronic component inspection apparatus 1 having such a configuration is, for example, as follows. 5 and 6 show a flowchart of the operation of the control unit 5 in the electronic component inspection apparatus 1. In this case, in advance, dozens of trays stored in the pocket 16 of the electronic component to be measured are stacked on the supply tray 10 in advance. In contrast, the collection first tray 11, the collection second tray 12, and the collection third tray 13 are each provided with a tray with empty pockets, and the collection empty tray 14 has empty pockets. Place several trays on top of each other. Generally, measurement of performance and function of the electronic component 6 is started in such a tray arrangement state.

図5に示すように、電子部品6の供給収納が開始されると、まず、ステップS1において、供給ロボットハンド31が供給トレイ10へ移動する。これは、ガイドレール45をY軸方向へ移動させると共に移動ベース44をX軸方向へ移動させて、供給ロボットハンド31の吸着ノズル42を供給トレイ10の第1の位置にあるポケット16の上方へ位置させることによって実行される。次に、ステップS2に移行して、供給ロボットハンド31の吸着ノズル42によって製品である電子部品6を吸着して保持する。次に、ステップS3に移行して、供給ロボットハンド31を第2の位置にある第1の回転搬送体33まで搬送する。この動作も、ガイドレール45をY軸方向へ移動させると共に移動ベース44をX軸方向へ移動させることによって実行される。   As shown in FIG. 5, when supply and storage of the electronic component 6 is started, first, the supply robot hand 31 moves to the supply tray 10 in step S1. This is because the guide rail 45 is moved in the Y-axis direction and the movement base 44 is moved in the X-axis direction, and the suction nozzle 42 of the supply robot hand 31 is moved above the pocket 16 at the first position of the supply tray 10. It is executed by positioning. Next, the process proceeds to step S <b> 2, and the electronic component 6, which is a product, is sucked and held by the suction nozzle 42 of the supply robot hand 31. Next, it transfers to step S3 and the supply robot hand 31 is conveyed to the 1st rotation conveyance body 33 in a 2nd position. This operation is also executed by moving the guide rail 45 in the Y-axis direction and moving the movement base 44 in the X-axis direction.

次に、ステップS4に移行して、供給ロボットハンド31の吸着ノズル42で保持している電子部品6を、第1の回転搬送体33のポケット60に収納する。これは、吸着ノズル42の吸引力を開放し、電子部品6の自重でポケット60内に落下させることによって実行される。これと同時に、回収ロボットハンド32の吸着ノズル42により、第2の位置に位置する第3の回転搬送体35のポケット60に測定済の電子部品6が収納されている場合には、その電子部品6を吸着して保持する。この際、検査開始初期のように、第3の回転搬送体35のポケット60に電子部品6が収納されていない場合には、その吸着ノズル42が電子部品6を保持することはない。   Next, the process proceeds to step S <b> 4, and the electronic component 6 held by the suction nozzle 42 of the supply robot hand 31 is stored in the pocket 60 of the first rotary conveyance body 33. This is executed by releasing the suction force of the suction nozzle 42 and dropping it into the pocket 60 by the weight of the electronic component 6. At the same time, when the measured electronic component 6 is stored in the pocket 60 of the third rotary conveyance body 35 located at the second position by the suction nozzle 42 of the collection robot hand 32, the electronic component 6 is adsorbed and held. At this time, when the electronic component 6 is not stored in the pocket 60 of the third rotary transport body 35 as in the initial stage of the inspection, the suction nozzle 42 does not hold the electronic component 6.

次に、ステップS5に移行して、第1の回転搬送体33のポケット60に収納されている電子部品6が、正しい姿勢で載置部に配置されているか否かを判定する。この電子部品6の姿勢の良否は、第3の回転搬送体35に収納されている電子部品6に対しても行われるが、その判定手法は第1の回転搬送体33の電子部品6に対するものと同一であるため、その説明は省略する。このステップS5の判定は、姿勢検出器38(第3の回転搬送体35の電子部品6に対するものは姿勢検出器39による。)の検出信号に基づいて行われる。   Next, it transfers to step S5 and it is determined whether the electronic component 6 accommodated in the pocket 60 of the 1st rotation conveyance body 33 is arrange | positioned in the mounting part with the correct attitude | position. The posture of the electronic component 6 is also determined for the electronic component 6 accommodated in the third rotary transport body 35, and the determination method is that for the electronic component 6 of the first rotary transport body 33. The description thereof will be omitted. The determination in step S5 is performed based on a detection signal of the attitude detector 38 (the attitude detector 39 is for the third rotary carrier 35 with respect to the electronic component 6).

即ち、図3A及び3Bに示すように、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されている場合には、回転搬送体33の測光溝62の一側に配置されている姿勢検出器38の発光素子64から放射された光が電子部品6の上方を通過し、測光溝62の他側に配置されている受光素子65に入力される。これにより、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されていることを知ることができる。この場合には、次に、ステップS8に移行する。   That is, as shown in FIGS. 3A and 3B, when the electronic component 6 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60, the posture is arranged on one side of the photometric groove 62 of the rotary carrier 33. The light emitted from the light emitting element 64 of the detector 38 passes above the electronic component 6 and is input to the light receiving element 65 disposed on the other side of the photometric groove 62. Thereby, it can be known that the electronic component 6 is disposed in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60. In this case, the process proceeds to step S8.

これに対して、図3C及び3Dに示すように、電子部品6の一辺がポケット60の縁に引っ掛かってしまい、ポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されていない場合には、測光溝62の一側に配置されている発光素子64から放射された光が電子部品6に衝突し、測光溝62の他側に配置されている受光素子65に入力されることがない。これにより、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されていないことを知ることができる。この場合には、次に、ステップS6に移行する。   On the other hand, as shown in FIGS. 3C and 3D, when one side of the electronic component 6 is caught by the edge of the pocket 60 and is not disposed in a correct position at a predetermined position in the pocket 60, the photometric groove 62 is used. Light emitted from the light emitting element 64 disposed on one side of the light does not collide with the electronic component 6 and is not input to the light receiving element 65 disposed on the other side of the photometric groove 62. Thereby, it can be known that the electronic component 6 is not arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60. In this case, the process proceeds to step S6.

ステップS6では、姿勢検出器38による検出結果により、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されていないときには、回転搬送体33を微振動させて電子部品6の姿勢を修正する。そして、ステップS7に移行して、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されているか否かを再度判定する。このステップS5からステップS7までの動作の詳細を図6に示す。   In step S <b> 6, when the electronic component 6 is not placed at a predetermined position in the pocket 60 in the correct posture based on the detection result by the posture detector 38, the posture of the electronic component 6 is corrected by slightly vibrating the rotary carrier 33. . Then, the process proceeds to step S <b> 7, and it is determined again whether or not the electronic component 6 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60. Details of the operations from step S5 to step S7 are shown in FIG.

図6において、ステップS5Aにより、光電センサである姿勢検出器38の検出結果に基づいて、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されているか否かを判定する。この判定に際し、発光素子64から放射された光が受光素子65に入力された場合には、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されていると判定して、ステップS9に移行する。このステップS9では、テーブル駆動機構37を動作させることによって回転テーブル36を120度回転させる。   In FIG. 6, in step S <b> 5 </ b> A, it is determined whether or not the electronic component 6 is placed in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60 based on the detection result of the posture detector 38 that is a photoelectric sensor. In this determination, when the light emitted from the light emitting element 64 is input to the light receiving element 65, it is determined that the electronic component 6 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60, and the process proceeds to step S9. Transition. In step S9, the table drive mechanism 37 is operated to rotate the rotary table 36 by 120 degrees.

これに対して、発光素子64から放射された光が受光素子65に入力されない場合には、ステップS5Bに移行して、受光素子65に光が入力されない時間が、発光素子64から光が放射された時から所定時間を経過したか否かを判定する。この判定において、所定時間が経過していない場合には、ステップS5Aに戻って、所定時間が経過するまで、この判定を繰り返す。一方、所定時間が経過している場合には、ステップS6A及びステップS6Bに移行して、電子部品6の姿勢を正しくする姿勢修正操作を実行する。   On the other hand, when the light emitted from the light emitting element 64 is not input to the light receiving element 65, the process proceeds to step S <b> 5 </ b> B, and the light is emitted from the light emitting element 64 for a time during which no light is input to the light receiving element 65. It is determined whether or not a predetermined time has elapsed since the last time. In this determination, if the predetermined time has not elapsed, the process returns to step S5A, and this determination is repeated until the predetermined time elapses. On the other hand, when the predetermined time has elapsed, the process proceeds to step S6A and step S6B, and an attitude correction operation for correcting the attitude of the electronic component 6 is executed.

ステップS6Aでは、回転テーブル36の動作を介して回転搬送体33を微小時間正転させる。続いて、ステップS6Bに移行して、回転テーブル36の動作を介して回転搬送体33を微小時間逆転させる。そして、ステップS6Cに移行して、回転搬送体33の正転動作と逆転動作とが所定時間以上行われたか否かを判定する。この判定において、回転搬送体33を正逆転操作する時間が所定時間経過しない場合には、ステップS6Aに戻り、所定時間が経過するまで微振動操作を繰り返す。これに対して、回転搬送体33を正逆転操作する時間が所定時間経過した場合には、ステップS7Aに移行する。   In step S <b> 6 </ b> A, the rotary carrier 33 is rotated forward for a minute time through the operation of the rotary table 36. Subsequently, the process proceeds to step S <b> 6 </ b> B, and the rotary conveyance body 33 is reversed for a minute time through the operation of the rotary table 36. And it transfers to step S6C and it is determined whether the normal rotation operation | movement and the reverse rotation operation | movement of the rotary conveyance body 33 were performed more than predetermined time. In this determination, when the time for forward / reverse operation of the rotary transport body 33 does not elapse for a predetermined time, the process returns to step S6A and the fine vibration operation is repeated until the predetermined time elapses. On the other hand, when a predetermined time has elapsed for the forward / reverse operation of the rotary transport body 33, the process proceeds to step S7A.

このステップS6に基づく回転搬送体33の正逆転動作を繰り返す微振動の振幅は、0.5mm以上1.0mm以下の範囲内が好ましい。ポケット60微振動の振幅が0.5mm〜1.0mmの範囲内であれば、その微振動によって電子部品6がポケット60の載置部に配置される時間が実用的な範囲に収まり、電子部品6がポケット60の開口縁から外側に飛び出すのを防ぐことができるというメリットがある。   The amplitude of the minute vibration that repeats the forward / reverse operation of the rotary conveyance body 33 based on this step S6 is preferably in the range of 0.5 mm to 1.0 mm. If the amplitude of the micro-vibration of the pocket 60 is in the range of 0.5 mm to 1.0 mm, the time during which the electronic component 6 is placed on the placement portion of the pocket 60 by the micro-vibration falls within a practical range, and the electronic component There is a merit that 6 can be prevented from jumping out from the opening edge of the pocket 60.

回転搬送体33の振動時間は、0.5秒以上2.0秒以下の範囲内であって、微振動の周波数が100Hz以上200Hz以下の範囲内が好ましい。ポケット微振動時間が0.5秒〜2.0秒の範囲内であれば、ポケット振動時間によるICハンドラ3の搬送動作の低下を実用的な範囲内に収めることができる。そして、回転搬送体33の振動周波数が100Hz〜200Hzの範囲内であれば、電子部品がIC、LSI等であった場合に、微振動により電子部品内部の機能・特性等にダメージを与えることがないというメリットがある。   The vibration time of the rotary carrier 33 is preferably in the range of 0.5 seconds to 2.0 seconds, and the frequency of the fine vibration is preferably in the range of 100 Hz to 200 Hz. If the pocket microvibration time is in the range of 0.5 seconds to 2.0 seconds, the decrease in the transport operation of the IC handler 3 due to the pocket vibration time can be kept within a practical range. And if the vibration frequency of the rotary conveyance body 33 is in the range of 100 Hz to 200 Hz, when the electronic component is an IC, LSI, or the like, the function / characteristics inside the electronic component may be damaged by slight vibration. There is no merit.

なお、常時、微振動を与えて電子部品を搬送する方法も考えられるが、その場合には、複数の搬送ロボットその他に過度の負担を与えるおそれがある。そのため、回転搬送体33〜35及び後述する移動搬送体のポケットへの収納ミスが生じた場合にのみ、微振動動作を与える方法が好ましい。   In addition, although a method is also conceivable in which an electronic component is conveyed while always giving a slight vibration, in that case, an excessive burden may be imposed on a plurality of conveying robots and the like. Therefore, a method of giving a fine vibration operation is preferable only when a storage error occurs in the pockets of the rotary transport bodies 33 to 35 and the mobile transport body described later.

ステップS7Aでは、姿勢検出器38の検出結果に基づいて、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されているか否かを再度判定する。この判定により、発光素子64から放射された光が受光素子65に入力された場合には、電子部品6がポケット60内の所定位置に正しい姿勢で配置されていると判定して、ステップS9に移行する。これに対して、発光素子64から放射された光が受光素子65に入力されない場合には、ステップS7Bに移行して、受光素子65に光が入力されない時間が、発光素子64から光が放射された時から所定時間を経過したか否かを判定する。   In step S <b> 7 </ b> A, based on the detection result of the posture detector 38, it is determined again whether or not the electronic component 6 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60. If the light emitted from the light emitting element 64 is input to the light receiving element 65 by this determination, it is determined that the electronic component 6 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 60, and the process proceeds to step S9. Transition. On the other hand, when the light emitted from the light emitting element 64 is not input to the light receiving element 65, the process proceeds to step S <b> 7 </ b> B, and the light is emitted from the light emitting element 64 for a time during which no light is input to the light receiving element 65. It is determined whether or not a predetermined time has elapsed since the last time.

この判定において、所定時間が経過していない場合には、ステップS7Aに戻って、所定時間が経過するまで、この判定を繰り返す。一方、所定時間が経過している場合には、この微振動方法によっても電子部品6を正しい姿勢に修正できなかったものと判定し、警告メッセージを表示してICハンドラ3の搬送動作を一時停止させる。そして、電子部品検査装置1の操作オペレータによって搬送ミスした電子部品6を取り除くか、電子部品の配置状態を改善し、再度搬送動作を繰り返すようにする。   In this determination, if the predetermined time has not elapsed, the process returns to step S7A and this determination is repeated until the predetermined time elapses. On the other hand, if the predetermined time has elapsed, it is determined that the electronic component 6 could not be corrected to the correct posture even by this fine vibration method, and a warning message is displayed to temporarily stop the transport operation of the IC handler 3. Let Then, the electronic component 6 missed by the operation operator of the electronic component inspection apparatus 1 is removed or the arrangement state of the electronic component is improved, and the conveying operation is repeated again.

次に、図5において、ステップS8に移行して、回転搬送体34のポケット60側に位置する回転測定ロボット71の第1の搬送ロボット74が上昇した位置にあるか否かと、テストソケット70側に位置する第2の搬送ロボット75が上昇した位置にあるか否かを判定する。この判定は、回転テーブル36を回転させてもよいか否かを判定するもので、いずれか一方又は両方の搬送ロボット74,75が上昇した位置にない場合には、搬送ロボット74,75による上下動作が行われている途中か、或いは、テストソケット70に配置されている電子部品6の測定中であると判定し、回転テーブル36が回転していない状態を維持する。そして、第1の搬送ロボット74及び第2の搬送ロボット75が共に上昇した位置に位置するまでステップS8の判定を繰り返す。   Next, in FIG. 5, the process proceeds to step S <b> 8, whether or not the first transfer robot 74 of the rotation measuring robot 71 positioned on the pocket 60 side of the rotary transfer body 34 is in the raised position, and the test socket 70 side. It is determined whether or not the second transfer robot 75 located at is in the raised position. This determination is to determine whether or not the rotary table 36 may be rotated. When one or both of the transfer robots 74 and 75 are not in the raised position, the transfer robots 74 and 75 move the upper and lower sides. It is determined that the operation is being performed or that the electronic component 6 disposed in the test socket 70 is being measured, and the state where the rotary table 36 is not rotating is maintained. The determination in step S8 is repeated until both the first transfer robot 74 and the second transfer robot 75 are located at the raised positions.

これに対して、ステップS8の判定が、第1の搬送ロボット74及び第2の搬送ロボット75が共に上昇した位置にあると判定された場合には、ステップS10に移行して、テーブル駆動装置37を動作させて回転テーブル36を120度回転させる。この際、ステップS4において第2の位置に位置する第3の回転搬送体35のポケット60に収納されていた測定済の電子部品6を回収ロボットハンド32の吸着ノズル42で吸着保持している場合には、ステップS11に移行し、回転測定ロボット71による電子部品6の測定結果に応じて、回収ロボットハンド32を回収第一トレイ11、回収第二トレイ12又は回収第三トレイ13のいずれかに移動させる。   On the other hand, if it is determined in step S8 that both the first transfer robot 74 and the second transfer robot 75 are in the raised position, the process proceeds to step S10 and the table driving device 37 is moved. Is operated to rotate the rotary table 36 by 120 degrees. At this time, when the measured electronic component 6 stored in the pocket 60 of the third rotary transport body 35 located at the second position in step S4 is suction-held by the suction nozzle 42 of the recovery robot hand 32 In step S11, the collection robot hand 32 is set to one of the collection first tray 11, the collection second tray 12, or the collection third tray 13 according to the measurement result of the electronic component 6 by the rotation measurement robot 71. Move.

次いで、ステップS12に移行して、対応するトレイのポケット16に、その吸着ノズル42で吸着保持している電子部品6を該当するトレイのポケット16に収納する。次に、ステップS13に移行して、電子部品6の測定を継続させるか否かを判定する。この判定は、測定済の電子部品6の数が、測定開始前に入力される測定数に達しているか否かを見ることによって行われる。このステップS13において、測定数が予め入力された数値に達していない場合には、運転を継続すると判定して、ステップS1に戻り、以上の処理を繰り返す。これに対して、測定数が予め入力された数値に達している場合には、これで処理を終了する。   Next, the process proceeds to step S12, and the electronic component 6 sucked and held by the suction nozzle 42 in the corresponding pocket 16 of the tray is stored in the corresponding pocket 16 of the tray. Next, it transfers to step S13 and it is determined whether the measurement of the electronic component 6 is continued. This determination is performed by checking whether or not the number of measured electronic components 6 has reached the number of measurements input before the start of measurement. In step S13, when the number of measurements has not reached the numerical value input in advance, it is determined that the operation is continued, the process returns to step S1, and the above processing is repeated. On the other hand, when the number of measurements has reached the numerical value input in advance, the process is terminated.

一方、上記ステップS11の処理と平行して、ステップS14に移行して、回転テーブル36が120度回転して第2の回転搬送体34の位置に移動したところで、回転測定ロボット71の回転搬送体側に位置する第1の搬送ロボット74によって第2の回転搬送体34のポケット60に収納されている電子部品6を吸着保持し、第1の搬送ロボット74を上昇させる。そして、ステップS15に移行して、回転測定ロボット71による電子部品6の測定動作が行われているか否かを判定する。   On the other hand, in parallel with the process of step S11, the process proceeds to step S14, where the rotary table 36 rotates 120 degrees and moves to the position of the second rotary transfer body 34. The first transfer robot 74 located at a position holds the electronic component 6 accommodated in the pocket 60 of the second rotary transfer body 34 and lifts the first transfer robot 74. Then, the process proceeds to step S15 to determine whether or not the measurement operation of the electronic component 6 by the rotation measurement robot 71 is being performed.

このステップS15において、電子部品6の測定動作中であると判定された場合には、その測定動作が終了するまでステップS15の処理を繰り返す。これに対して、電子部品6の測定動作中でないと判定された場合には、ステップS16に移行して、回転測定ロボット71のソケット側に位置する第2の搬送ロボット75を上昇させる。そして、ステップS17に移行する。   If it is determined in step S15 that the electronic component 6 is being measured, the process in step S15 is repeated until the measurement operation is completed. On the other hand, when it is determined that the measurement operation of the electronic component 6 is not in progress, the process proceeds to step S16, and the second transfer robot 75 located on the socket side of the rotation measurement robot 71 is raised. Then, the process proceeds to step S17.

ステップS17では、回転測定ロボット71の回転体73を180度回転させ、第2の搬送ロボット75を回転搬送体側に移動し、第1の搬送ロボット74をソケット側に移動する。次に、ステップS18に移行して、第2の搬送ロボット75の吸着ノズル76を下降させる。そして、ステップS19に移行して、第2の搬送ロボット75の吸着ノズル76に保持されている測定済の電子部品6を第2の回転搬送体34のポケット60に離脱して収納する。続いて、ステップS20に移行して、第2の搬送ロボット75の吸着ノズル76を上昇させる。   In step S17, the rotating body 73 of the rotation measuring robot 71 is rotated 180 degrees, the second transfer robot 75 is moved to the rotating transfer body side, and the first transfer robot 74 is moved to the socket side. Next, the process proceeds to step S18, and the suction nozzle 76 of the second transfer robot 75 is lowered. Then, the process proceeds to step S <b> 19, and the measured electronic component 6 held by the suction nozzle 76 of the second transport robot 75 is detached and stored in the pocket 60 of the second rotary transport body 34. Subsequently, the process proceeds to step S20, and the suction nozzle 76 of the second transfer robot 75 is raised.

このようなステップS18以下の処理と同時に、ステップS21の処理を実行し、第1の搬送ロボット74の吸着ノズル76を下降させてテストソケット70のポケットに測定前の電子部品6を収納する。次に、ステップS22に移行して、テストソケット70の所定位置に載置された電子部品6の測定を開始する。そして、ステップS8に戻り、これ以下の処理を繰り返す。以上のような処理を経ることにより、電子部品6の性能・特性等を検査することができる。   Simultaneously with the processing after step S18, the processing of step S21 is executed, the suction nozzle 76 of the first transfer robot 74 is lowered, and the electronic component 6 before measurement is stored in the pocket of the test socket 70. Next, the process proceeds to step S22, and measurement of the electronic component 6 placed at a predetermined position of the test socket 70 is started. Then, the process returns to step S8, and the following processing is repeated. Through the above processing, the performance and characteristics of the electronic component 6 can be inspected.

上述したような電子部品6の測定に際して、ICハンドラ3による搬送ミスが生じた場合にも、上記微振動による修正操作を行うことにより、搬送ミスを修正してポケットの所定位置に正しい姿勢で配置することができ、測定作業に停滞を生じることなく、効率よく電子部品6の検査を実行することが可能となる。   Even when a transport error by the IC handler 3 occurs during the measurement of the electronic component 6 as described above, the correct operation by the fine vibration is performed to correct the transport error and place the correct position at a predetermined position of the pocket. Thus, the electronic component 6 can be efficiently inspected without stagnation in the measurement work.

次に、本発明のICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置の第2の実施例について、図7乃至図12及び図13を参照して説明する。   Next, a second embodiment of the electronic component inspection apparatus provided with the electronic component posture correcting apparatus for an IC handler according to the present invention will be described with reference to FIGS. 7 to 12 and FIG.

図7に示すように、本発明の第2の実施例に係るICハンドラの電子部品姿勢修正装置を備えた電子部品検査装置101は、トレイ部102と、ICハンドラ103と、測定部104と、上記制御部5と同様の構成を有する制御部105とを備えて構成されている。   As shown in FIG. 7, an electronic component inspection apparatus 101 including an IC handler electronic component attitude correcting device according to a second embodiment of the present invention includes a tray unit 102, an IC handler 103, a measuring unit 104, A control unit 105 having the same configuration as that of the control unit 5 is provided.

まず、電子部品検査装置101によって製品の良否が検査される検査対象である製品としての電子部品106について説明する。この電子部品106としては、例えば、QFPやQFNを挙げることができ、この第2の実施例においては、外形寸法が15mmの角型をなすパッケージを有するQFP,QFNを適用している。   First, the electronic component 106 as a product to be inspected that is inspected for quality by the electronic component inspection apparatus 101 will be described. Examples of the electronic component 106 include QFP and QFN. In the second embodiment, QFP and QFN having a square package with an outer dimension of 15 mm are applied.

図7に示すように、トレイ部102は、供給トレイ110と供給空トレイ109と回収第一トレイ111と回収第二トレイ112と回収第三トレイ113と回収用空トレイ114と、トレイ搬送器115とを備えている。供給トレイ110は十数枚が重ね合されて用いられており、収納されている電子部品106が空になった状態において、上側から順番に自動的に1枚ずつ取り出し可能とされている。供給空トレイ109は、供給トレイ110において全ての電子部品106が取り出されて空になったトレイが搬送されてきて積み重ねられるものである。   As shown in FIG. 7, the tray unit 102 includes a supply tray 110, a supply empty tray 109, a recovery first tray 111, a recovery second tray 112, a recovery third tray 113, a recovery empty tray 114, and a tray transporter 115. And. Ten or more supply trays 110 are used in an overlapping manner, and can be automatically taken out one by one in order from the upper side in a state where the stored electronic components 106 are empty. In the supply empty tray 109, all the electronic components 106 are taken out from the supply tray 110, and empty trays are conveyed and stacked.

各トレイ109〜114の単体は同一のものが使用されており、長方形をなす平板状の板体からなっている。各トレイ109〜114は、その上面に電子部品106を個別に収納することができる多数の収納部であるポケット116が碁盤の目のように整列されて設けられている。各ポケット116は、適用される電子部品106よりも少し大きな相似形をなす四角形の凹陥部として形成されている。そして、各ポケット116の四辺の縁には内向きに傾斜されたテーパ部が設けられており、そのテーパ部で電子部品106の対応する辺をガイドして、電子部品106がポケット116に正しい姿勢で配置されるように構成されている。   The single trays 109 to 114 are the same, and are made of a rectangular plate. Each of the trays 109 to 114 is provided with a plurality of pockets 116 that are capable of individually storing the electronic components 106 on the upper surface of the trays 109 to 114 so as to be arranged like a grid. Each pocket 116 is formed as a rectangular recess having a similar shape slightly larger than the applied electronic component 106. Further, tapered portions inclined inward are provided at the edges of the four sides of each pocket 116, and the corresponding side of the electronic component 106 is guided by the tapered portion, so that the electronic component 106 is in a correct posture with respect to the pocket 116. It is comprised so that it may be arranged.

供給トレイ110と供給空トレイ109と回収用空トレイ114と回収第一トレイ111と回収第二トレイ112とは横並びに整列されて配置されており、回収第二トレイ112と向き合う位置に回収第三トレイ113が配置されていて、全体としてL字状の配置構造となっている。供給トレイ110には、電子部品106が所定の機能・性能を有しているか否かを測定する検査対象としての多数の電子部品106が、1つのポケットに1個ずつそれぞれ収納されている。回収第一トレイ111は、測定済の電子部品のうち測定結果が所定の機能・性能を有していると判定された良品である電子部品106を収納するためのものである。   The supply tray 110, the supply empty tray 109, the recovery empty tray 114, the recovery first tray 111, and the recovery second tray 112 are arranged side by side, and the recovery third tray 112 is disposed at a position facing the recovery second tray 112. The tray 113 is disposed, and has an L-shaped arrangement structure as a whole. In the supply tray 110, a large number of electronic components 106 to be inspected for measuring whether or not the electronic components 106 have a predetermined function / performance are stored one by one in one pocket. The collection first tray 111 is for storing the electronic parts 106 which are non-defective products whose measured results are determined to have a predetermined function / performance among the measured electronic parts.

回収第二トレイ112は、測定済の電子部品のうち測定結果が所定の機能・性能を有していないが、その不備な点が軽度であると判定された電子部品106を収納するためのものである。ここで「軽度の不良品」としては、例えば、測定値が合否の判断基準から若干劣っており、測定のやり直しが必要と考えられる電子部品等が該当する。この回収第二トレイ112に回収された電子部品106は、測定結果としての不具合が軽微であることから再検査に回され、再度の測定が行われる。   The collection second tray 112 is for storing the electronic components 106 whose measured results do not have a predetermined function / performance among the measured electronic components but whose deficiencies are determined to be light. It is. Here, the “slightly defective product” corresponds to, for example, an electronic component whose measured value is slightly inferior to the pass / fail judgment standard and whose measurement needs to be repeated. Since the electronic component 106 collected in the second collection tray 112 has a minor defect as a measurement result, the electronic component 106 is sent to a re-inspection and measurement is performed again.

回収第三トレイ113は、測定済の電子部品のうち測定結果が所定の機能・性能を有しておらず、その不備な点が重大は事項であると判定された電子部品106を収納するためのものである。ここで「重度の不良品」としては、例えば、パッケージに大きな傷があって製品として不適当である場合、或いは、測定値が合否の判定基準から大きく外れており、若しくは、測定不能であって、明らかに不具合な製品であると考えられる電子部品が該当する。この回収第三トレイ113に回収された電子部品106は、再度の測定を行うことなく不良品として処理される。   The collection third tray 113 is for storing the electronic components 106 whose measurement results do not have a predetermined function / performance among the measured electronic components, and whose deficiencies are determined to be serious matters. belongs to. Here, the “severely defective product” is, for example, when the package has a large flaw and is inappropriate as a product, or the measured value greatly deviates from the acceptance criteria, or the measurement is impossible. This applies to electronic components that are clearly considered defective products. The electronic component 106 collected in the collection third tray 113 is processed as a defective product without performing another measurement.

回収用空トレイ114は、回収第一トレイ111から回収第三トレイ113までのいずれかのトレイに対して必要に応じて補充されるもので、トレイの全てのポケット116に電子部品106が回収された場合等に交換用のトレイとして使用される。この回収用空トレイ114のポケットは、当初はすべて空になっている。   The collection empty tray 114 is replenished as needed to any tray from the collection first tray 111 to the collection third tray 113, and the electronic components 106 are collected in all the pockets 116 of the tray. Used as a replacement tray. The pockets of the collection empty tray 114 are initially all empty.

トレイ搬送器115は、トレイを1枚ずつ吸着及び離脱することができる吸着パッド120と、その吸着パッド120を搬送するためのパッド支持アーム121とを備えている。パッド支持アーム121は、横並びに配置された供給トレイ110、供給空トレイ109、回収用空トレイ114、回収第一トレイ111及び回収第二トレイ112の5種類のトレイ間を移動できるように第1の方向(以下「X軸方向」という。)に移動可能に構成されている。   The tray transporter 115 includes a suction pad 120 that can suck and remove the trays one by one, and a pad support arm 121 for transporting the suction pad 120. The pad support arm 121 is configured to move between five types of trays, a supply tray 110, a supply empty tray 109, a recovery empty tray 114, a recovery first tray 111, and a recovery second tray 112 arranged side by side. (Hereinafter referred to as “X-axis direction”).

このパッド支持アーム121によって移動される吸着パッド120は、通常は、各トレイ109〜112,114に対して、その略中央部に配置される構成となっているが、平面方向においてX軸方向と直交する第2の方向であるY軸方向へ位置調整可能に構成されている。このトレイ搬送器115は、電子部品106がすべて搬送されて空になった供給トレイ10を供給空トレイ109に搬送したり、空になっている回収用トレイ114を、すべてのポケット116が電子部品106で満杯になった回収第一トレイ111〜回収第三トレイ113のいずれかに搬送し、そのトレイの上に重ね合わせる。 The suction pad 120 moved by the pad support arm 121 is normally arranged at the substantially central portion with respect to each of the trays 109 to 112, 114. The position is adjustable in the Y-axis direction, which is the second direction orthogonal to each other. The tray transporting device 115, or conveying the feed tray 1 10 becomes empty supply empty tray 109 electronic component 106 is conveyed all the collecting tray 114 is empty, all the pockets 116 e It is transported to any one of the recovery first tray 111 to the recovery third tray 113 filled with the parts 106, and is superposed on the tray.

また、平面から見てL字状に配置された6組のトレイ109〜114に関連してICハンドラ103が配設されている。ICハンドラ103は、回転測定ロボット171に測定前の電子部品106を搬送する供給搬送体133と、測定後の電子部品106を回転測定ロボット171から回収する回収搬送体134と、電子部品106を吸着保持して供給トレイ110と供給搬送体132との間に搬送する供給ロボットハンド131と、電子部品106を吸着保持して回収搬送体134と回収第一トレイ111、回収第二トレイ112又は回収第三トレイ113のいずれかとの間に搬送する回収ロボットハンド132と、供給搬送体133及び回収搬送体134を各トレイから電子部品106を受け取る位置と回転測定ロボット171との間に搬送する往復移動機構と、供給搬送体133及び回収搬送体134の各ポケット160に配置された電子部品106の姿勢の良否を検出する2組の姿勢検出器等を備えている。 Further, the IC handler 103 is disposed in association with the six sets of trays 109 to 114 arranged in an L shape when viewed from above. The IC handler 103 adsorbs the electronic component 106 to the rotation measurement robot 171, the supply conveyance body 133 that conveys the electronic component 106 before measurement, the recovery conveyance body 134 that collects the electronic component 106 after measurement from the rotation measurement robot 171, and the electronic component 106. The supply robot hand 131 that holds and conveys between the supply tray 110 and the supply conveyance body 132 and the electronic component 106 are sucked and held, and the collection conveyance body 134 and the collection first tray 111, the collection second tray 112, or the collection second tray 112 are collected. A collection robot hand 132 that conveys between one of the three trays 113, and a reciprocating machine that conveys the supply conveyance body 133 and the collection conveyance body 134 between the position where the electronic component 106 is received from each tray and the rotation measuring robot 171. and structure, appearance of the electronic component 106 disposed in the respective pockets 160 of the feed carrier 133 and recovered carrier 134 It has two sets of detecting the quality of the posture detector, and the like.

ここで、供給トレイ110及び回収第一トレイ111と回収第二トレイ112と回収第三トレイ113の各ポケット116を第1ポケットと定義し、供給搬送体133及び回収搬送体134の各ポケット160を第2ポケットと定義して使用する。また、供給ロボットハンド131が供給トレイ110の第1ポケット160から電子部品106を吸着保持する位置のすべてと、回収ロボットハンド132が回収第一トレイ110〜回収第三トレイ113の第1ポケット160に電子部品106を収納する位置のすべてを第1の位置と定義する。そして、供給ロボットハンド131が電子部品106を供給搬送体133の第2ポケット160に配置する位置と、回収ロボットハンド132が第2ポケット160から電子部品106を吸着保持する位置を第2の位置と定義するものとする。   Here, the pockets 116 of the supply tray 110, the recovery first tray 111, the recovery second tray 112, and the recovery third tray 113 are defined as first pockets, and the pockets 160 of the supply transport body 133 and the recovery transport body 134 are defined. Used as a second pocket. Further, all the positions where the supply robot hand 131 sucks and holds the electronic component 106 from the first pocket 160 of the supply tray 110 and the collection robot hand 132 are placed in the first pocket 160 of the collection first tray 110 to the collection third tray 113. All positions where the electronic component 106 is accommodated are defined as the first position. The position where the supply robot hand 131 places the electronic component 106 in the second pocket 160 of the supply conveyance body 133 and the position where the collection robot hand 132 sucks and holds the electronic component 106 from the second pocket 160 are the second position. Shall be defined.

供給ロボットハンド131と回収ロボットハンド132は、ガイドバー141にガイドされてX軸方向へ個別に移動可能に構成されている。供給ロボットハンド131は供給トレイ110と供給空トレイ109の上方の全範囲をカバーするようにその範囲内において移動可能とされており、回収ロボットハンド132は回収用空トレイ114と回収第一トレイ一11から回収第三トレイ113までの上方の全範囲をカバーするようにその範囲内において移動可能とされている。   The supply robot hand 131 and the collection robot hand 132 are guided by a guide bar 141 and configured to be individually movable in the X-axis direction. The supply robot hand 131 is movable within the range so as to cover the entire range above the supply tray 110 and the supply empty tray 109, and the recovery robot hand 132 is connected to the recovery empty tray 114 and the recovery first tray. 11 is movable within the range so as to cover the entire upper range from the collection third tray 113.

両ロボットハンド131,132は、電子部品106を吸着して保持したり、保持している電子部品106を離脱することができる2個の吸着ノズル142A,142Bをそれぞれ備えている。2つの吸着ノズル142A,142Bは、X軸方向へ間隔調整可能とされていると共に、X軸とY軸を有する平面方向と垂直をなす第3の方向であるZ軸方向へ別個独立に昇降可能とされていて、電子部品106を別個独立に吸着・離脱可能に構成されている。   Both robot hands 131 and 132 are each provided with two suction nozzles 142A and 142B that can suck and hold the electronic component 106 and detach the held electronic component 106. The distance between the two suction nozzles 142A and 142B can be adjusted in the X-axis direction, and can be moved up and down independently in the Z-axis direction, which is a third direction perpendicular to the plane direction having the X-axis and the Y-axis. In other words, the electronic component 106 can be sucked and detached independently.

両ロボットハンド131,132は、図示しないタイミングベルトによってX軸方向へ個別に移動可能に構成されている。そのタイミングベルトは、X軸方向に延在されている図示しないガイドレールにガイドされてX軸方向へ無端状に走行可能とされており、このタイミングベルトの作動を介して、供給ロボットハンド131が供給トレイ110から供給空トレイ109の幅方向の一端から他端まで移動可能とされており、回収ロボットハンド132は回収用空トレイ114の一端から回収第一トレイ111を経て回収第トレイ11の他端まで移動可能とされている。 Both robot hands 131 and 132 are configured to be individually movable in the X-axis direction by a timing belt (not shown). The timing belt is guided by a guide rail (not shown) that extends in the X-axis direction and can travel endlessly in the X-axis direction. The supply robot 110 can move from one end to the other end in the width direction of the supply empty tray 109 from the supply tray 110, and the recovery robot hand 132 passes through the recovery first tray 111 from one end of the recovery empty tray 114 to the recovery third tray 11 3. It is possible to move to the other end.

図7及び図8に示すように、ガイドバー141の長手方向の両端は、Y軸方向に延在された一対の伝動ベルト147,147に夫々取り付けられている。各伝動ベルト147は、Y軸方向へ所定距離隔てて配置された一対のベルト車148,148に架け渡されている。そして、一方の各ベルト車148には駆動モータ149が夫々動力伝達可能に連結されており、一対の駆動モータ149,149の駆動力が一対のベルト車148,148を介して、一対の伝動ベルト147,147に夫々動力伝達可能とされている。   As shown in FIGS. 7 and 8, both ends of the guide bar 141 in the longitudinal direction are respectively attached to a pair of transmission belts 147 and 147 extending in the Y-axis direction. Each transmission belt 147 is spanned between a pair of belt wheels 148 and 148 arranged at a predetermined distance in the Y-axis direction. A driving motor 149 is connected to each one of the belt wheels 148 so as to be able to transmit power, and the driving force of the pair of driving motors 149 and 149 is passed through the pair of belt wheels 148 and 148. 147 and 147 can each transmit power.

かくして、左右の駆動モータ149,149が駆動されると、一対の伝動ベルト147.147がY軸方向へ走行される。これにより、ガイドバー141に保持されている供給ロボットハンド131及び回収ロボットハンド132が、夫々駆動モータ149の回転方向に応じて、回転測定ロボット171に近づく方向、又は、回転測定ロボット171から遠ざかる方向へ個別に移動される。このガイドバー141によるY軸方向への移動と、ガイドバー141の軸方向への移動を介して、回転測定ロボット171に近づく方向へ移動するときに供給ロボットハンド131の2個の吸着ノズル142A,142Aが、供給トレイ110で吸着保持した測定前の2個の電子部品106,106を供給搬送体133に搬送する。これに対して、回転測定ロボット171から遠ざかる方向へ移動するときに、回収ロボットハンド132の2個の吸着ノズル142B,142Bに吸着保持されている測定後の2個の電子部品106,106が3つの回収トレイのいずれかに搬送される。   Thus, when the left and right drive motors 149 and 149 are driven, the pair of transmission belts 147.147 travels in the Y-axis direction. As a result, the supply robot hand 131 and the collection robot hand 132 held by the guide bar 141 approach the rotation measurement robot 171 or move away from the rotation measurement robot 171 according to the rotation direction of the drive motor 149, respectively. Moved individually. When the guide bar 141 moves in the Y-axis direction and the guide bar 141 moves in the axial direction, the two suction nozzles 142A of the supply robot hand 131 move when approaching the rotation measuring robot 171. 142A conveys the two electronic components 106 and 106 before measurement sucked and held by the supply tray 110 to the supply conveyance body 133. On the other hand, the two electronic parts 106 and 106 after measurement held by the two suction nozzles 142B and 142B of the collection robot hand 132 when moving in a direction away from the rotation measuring robot 171 are three. It is conveyed to one of the two collection trays.

回転測定ロボット171は、前述した第1の実施例における回転測定ロボット71と同様のものであり、異なるところは電子部品の大きさ・形状に対応してそれに関連する部分の形状、大きさを異にした点である。そのため、ここでは回転測定ロボット171の詳細な説明は、上記回転測定ロボット71の説明を援用し、その概略を記載するに留める。即ち、回転測定ロボット171は、装置フレーム154に立設された回転枢軸と、この回転枢軸に回転自在に支持された円筒状をなす回転体173と、この回転体173に設けられた一対の搬送ロボット174,175と、各搬送ロボット174,175に設けられた吸着ノズル等を備えて構成されている。   The rotation measuring robot 171 is the same as the rotation measuring robot 71 in the first embodiment described above. The difference is that the shape and size of the parts related to the size and shape of the electronic component are different. This is the point. Therefore, here, the detailed description of the rotation measuring robot 171 uses only the description of the rotation measuring robot 71 and describes only the outline thereof. That is, the rotation measuring robot 171 includes a rotating pivot that is erected on the apparatus frame 154, a cylindrical rotating body 173 that is rotatably supported by the rotating pivot, and a pair of transports provided on the rotating body 173. Robots 174 and 175 and suction nozzles and the like provided on the transfer robots 174 and 175 are provided.

回転体173は、駆動モータの駆動力により、回転枢軸を回転中心として180度往復回転可能に構成されている。一対の搬送ロボット174,175は、回転体173の外周面であって、180度回転変位した位置において半径方向外側へ突出するように配置されていると共に、別個独立に上下方向へ昇降移動可能に構成されている。第1の搬送ロボット174は、供給搬送体133とテストソケット170との間に測定前の電子部品106を搬送し、第2の搬送ロボット175は、テストソケット170と回収搬送体134との間に測定後の電子部品106を搬送する。   The rotating body 173 is configured to be capable of rotating 180 degrees reciprocally about the rotation axis as a rotation center by the driving force of the driving motor. The pair of transfer robots 174 and 175 are arranged on the outer peripheral surface of the rotating body 173 so as to protrude radially outward at a position rotationally displaced by 180 degrees, and can be moved up and down independently. It is configured. The first transport robot 174 transports the electronic component 106 before measurement between the supply transport body 133 and the test socket 170, and the second transport robot 175 transports between the test socket 170 and the recovery transport body 134. The electronic component 106 after measurement is conveyed.

供給搬送体133と回収搬送体134は、回転体173を挟んでテストソケット170と反対側の位置に対向可能に配置されている。更に、供給搬送体133と回収搬送体134は、X軸方向に延在された一対のガイドレール155,155上に載置されていて、夫々X軸方向へ移動可能に構成されている。そして、図7に示すように、供給搬送体133は、常時は供給トレイ110と対向する位置に配置されており、第一駆動モータ156の作動により回転測定ロボット171の電子部品搬送側に位置する第一搬送ロボット174の位置との間に搬送される。また、回収搬送体134は、常時は回収第一トレイ111と対向する位置に配置されており、第二駆動モータ157の作動により回転測定ロボット171の電子部品搬送側に位置する第二搬送ロボット175の位置との間に搬送される。   The supply conveyance body 133 and the collection conveyance body 134 are disposed so as to face each other at a position opposite to the test socket 170 with the rotating body 173 interposed therebetween. Further, the supply transport body 133 and the recovery transport body 134 are placed on a pair of guide rails 155 and 155 extending in the X-axis direction, and are configured to be movable in the X-axis direction. As shown in FIG. 7, the supply transport body 133 is normally disposed at a position facing the supply tray 110, and is positioned on the electronic component transport side of the rotation measuring robot 171 by the operation of the first drive motor 156. It is transported between the position of the first transport robot 174. Further, the recovery transport body 134 is normally disposed at a position facing the recovery first tray 111, and the second transport robot 175 positioned on the electronic component transport side of the rotation measuring robot 171 by the operation of the second drive motor 157. It is conveyed between the positions of

第一駆動モータ156及び第二駆動モータ157としては、例えば、ステッピングモータを適用することができ、入力信号に応じて、供給搬送体133及び回収搬送体134をX軸方向へ所定距離移動させ、又は、微小距離を往復移動させて微振動を生じさせることができるものである。   As the first drive motor 156 and the second drive motor 157, for example, a stepping motor can be applied, and the supply transport body 133 and the recovery transport body 134 are moved by a predetermined distance in the X-axis direction according to the input signal, Or, it can reciprocate a minute distance to generate fine vibrations.

供給搬送体133と回収搬送体134は、同一の形状・構造を有するものであり、角形をなす本体の上面に四角形をなす凹陥部からなる4個のポケット160が縦横2列に配置されて設けられている。図9A〜9Dに示すように、両搬送体133,134の各ポケット160は、検査対象である電子部品106よりも少し大きな四角形の凹陥部として形成されている。そして、ポケット160の四辺の縁には内側に傾斜したテーパ部161が夫々設けられており、これらのテーパ部161〜161で電子部品106の各辺をガイドすることにより、ポケット160内の所定位置に電子部品106が正しい姿勢で配置される(図9A〜9Bの状態)ように構成している。   The supply transport body 133 and the recovery transport body 134 have the same shape and structure, and are provided with four pockets 160 formed of quadrangular concave portions on the top surface of a rectangular main body arranged in two rows. It has been. As shown in FIGS. 9A to 9D, the pockets 160 of both the carriers 133 and 134 are formed as rectangular recesses that are slightly larger than the electronic component 106 to be inspected. And the taper part 161 inclined inward is provided in the edge of the four sides of the pocket 160, respectively, By guide | inducing each side of the electronic component 106 with these taper parts 161-161, the predetermined position in the pocket 160 is provided. The electronic component 106 is arranged in a correct posture (the state shown in FIGS. 9A to 9B).

電子部品106を収納するポケット160の形状及び寸法は、測定する電子部品106の形状や大きさ(サイズ)によって異なるが、その開口部の大きさは、その電子部品106を載置させるために必要な載置部の寸法に約0.5mmから0.6mmの許容値を加えた寸法に設定することが好ましい。このように開口部の大きさを、電子部品106の大きさに0.5〜0.6mmの許容値を加えたものに設定すれば、電子部品106がポケット160に完全に収納されることにより、電子部品106のすべての端子を所定の端子に接続させて測定を行うことが可能となるからである。   The shape and dimensions of the pocket 160 for storing the electronic component 106 vary depending on the shape and size (size) of the electronic component 106 to be measured, but the size of the opening is necessary for placing the electronic component 106. It is preferable to set a size obtained by adding an allowable value of about 0.5 mm to 0.6 mm to the size of the mounting portion. Thus, if the size of the opening is set to the size of the electronic component 106 plus an allowable value of 0.5 to 0.6 mm, the electronic component 106 is completely stored in the pocket 160. This is because it is possible to perform measurement by connecting all terminals of the electronic component 106 to predetermined terminals.

なお、電子部品106のテーパ部161の傾斜角度は、18度から25度の範囲内に設定することが好ましい。テーパ部161の傾斜角度が18°以上25°以下の範囲内であれば、高い搬送位置精度を必要とすることがなく、電子部品106がポケット160のテーパ部161に引っ掛かるように配置された場合であっても、電子部品106の自重によって載置部に滑り込み、所定の載置部に正しい姿勢で配置されるというメリットがある。   Note that the inclination angle of the taper portion 161 of the electronic component 106 is preferably set within a range of 18 degrees to 25 degrees. When the inclination angle of the taper portion 161 is within a range of 18 ° to 25 °, the electronic component 106 is arranged so as to be caught by the taper portion 161 of the pocket 160 without requiring high conveyance position accuracy. Even so, there is an advantage that the electronic component 106 is slid into the placement portion by its own weight and is placed in a correct posture on the predetermined placement portion.

供給搬送体133及び回収搬送体134の底面の中央部には、各搬送体133,134を上下方向に貫通する吸引穴165が設けられている。吸引穴165は、ポケット160に収納された電子部品106の姿勢の良否を検出するために使用されるもので、この吸引穴165と、この吸引穴165に連通された図示しない吸引装置と、吸引穴165の圧力を検出する図示しない圧力検出器とによって姿勢検出器が構成されている。この姿勢検出器による姿勢良否の判定は、電子部品106が収納されたポケット160の吸引圧力を見ることで行うことができる。 A suction hole 165 penetrating each of the transport bodies 133 and 134 in the vertical direction is provided at the center of the bottom surface of the supply transport body 133 and the recovery transport body 134. The suction hole 165 is used to detect the quality of the electronic component 106 accommodated in the pocket 160. The suction hole 165, a suction device (not shown) communicated with the suction hole 165, and a suction A posture detector is constituted by a pressure detector (not shown) that detects the pressure in the hole 165. The determination of the posture acceptability by the posture detector, electronic components 106 can be performed by looking at the suction pressure of the pocket 160 is housed.

即ち、図9A及び図9Bに示すように、電子部品106が所定位置に正しく配置された場合には、吸引穴165が電子部品106で塞がれる。そのため、この場合には、吸引圧力が大きい(負圧大)ことから、電子部品106が所定位置に正しく配置されていることを知ることができる。これに対して、図9C及び図9Dに示すように、電子部品106がポケット160の縁に引っ掛かり、所定位置に正しく配置されていない場合には、吸引穴165が電子部品106で塞がれることがない。そのため、この場合には、吸引圧力が小さい(負圧小)ことから、電子部品106が所定位置に正しく配置されていないことを知ることができる。この姿勢検出器の検出信号が制御部105に供給される。 That is, as shown in FIGS. 9A and 9B, when the electronic component 106 is correctly placed at a predetermined position, the suction hole 165 is blocked by the electronic component 106. Therefore, in this case, since the suction pressure is large (negative pressure is large), it can be known that the electronic component 106 is correctly arranged at a predetermined position. On the other hand, as shown in FIG. 9C and FIG. 9D, when the electronic component 106 is caught by the edge of the pocket 160 and is not correctly arranged at a predetermined position, the suction hole 165 is blocked by the electronic component 106. There is no. Therefore, in this case, since the suction pressure is small (negative pressure is small), it can be known that the electronic component 106 is not correctly arranged at a predetermined position. A detection signal of this attitude detector is supplied to the control unit 105.

上述した構成を備えた電子部品検査装置101の概略構成を図10のブロック図として示している。
この電子部品検査装置101の測定部104、ICハンドラ103及びトレイ部102の動作は、制御部105により制御されて所定の動作を実行する。制御部105は、前述した第1の実施例における制御部5と同様のものであり、図13に示すような構成を有している。従って、ここでは制御部105の説明は省略する。
A schematic configuration of the electronic component inspection apparatus 101 having the above-described configuration is shown as a block diagram in FIG.
The operations of the measurement unit 104, the IC handler 103, and the tray unit 102 of the electronic component inspection apparatus 101 are controlled by the control unit 105 to execute predetermined operations. The control unit 105 is the same as the control unit 5 in the first embodiment described above, and has a configuration as shown in FIG. Therefore, the description of the control unit 105 is omitted here.

このような構成を有する電子部品検査装置101の動作の概略は、次のようなものである。
供給ロボットハンド131は、供給トレイ110の先頭位置に移動し、上下動作を行って供給トレイ110の第1の位置にある2個の電子部品106,106を吸着保持する。そして、供給ロボットハンド131が2個の電子部品106,106を供給搬送体133の最初の収納位置に搬送し、上下動作を行って供給搬送体133の2つのポケット160,160に夫々離脱して収納する。更に、供給ロボットハンド131は、供給トレイ110の次の位置に移動し、上下動作を行って2個の電子部品106,106を吸着保持し、その2個の電子部品106,106を供給搬送体133の2つのポケット160,160に夫々離脱して収納する。これにより、4個の電子部品106〜106が供給搬送体133の4つのポケット160〜160に夫々1個ずつ配置され、その供給搬送体133が回転測定ロボット171の第一搬送ロボット174が位置する電子部品搬送位置に移動される。
The outline of the operation of the electronic component inspection apparatus 101 having such a configuration is as follows.
The supply robot hand 131 moves to the leading position of the supply tray 110 and moves up and down to suck and hold the two electronic components 106 and 106 at the first position of the supply tray 110. Then, the supply robot hand 131 conveys the two electronic components 106 and 106 to the initial storage position of the supply conveyance body 133, and moves up and down to separate into the two pockets 160 and 160 of the supply conveyance body 133. Store. Further, the supply robot hand 131 moves to the next position of the supply tray 110, moves up and down, sucks and holds the two electronic components 106 and 106, and supplies the two electronic components 106 and 106 to the supply transport body. The two pockets 160 and 160 of 133 are separated and stored. As a result, four electronic components 106 to 106 are arranged one by one in the four pockets 160 to 160 of the supply transport body 133, and the first transport robot 174 of the rotation measuring robot 171 is positioned in the supply transport body 133. It is moved to the electronic component transfer position.

これを受けて回転測定ロボット171の第一搬送ロボット174が、供給搬送体133の4つのポケット160〜160に収納されている4個の電子部品106〜106を吸着保持した後、回転体173を180度回転させる。これにより、第一搬送ロボット174がテスト側位置に移動し、第二搬送ロボット175が製品搬送位置に移動する。これと同時に、供給搬送体133は、供給ロボットハンド131と対向する最初の位置に戻る。   In response to this, the first transfer robot 174 of the rotation measuring robot 171 sucks and holds the four electronic components 106 to 106 housed in the four pockets 160 to 160 of the supply transfer body 133, and then holds the rotation body 173. Rotate 180 degrees. Thereby, the first transfer robot 174 moves to the test side position, and the second transfer robot 175 moves to the product transfer position. At the same time, the supply transport body 133 returns to the initial position facing the supply robot hand 131.

回転測定ロボット171が180度回転動作した後、第一搬送ロボット174が4個の電子部品106〜106をテストソケット170の所定位置に配置し、4個の電子部品106〜106の測定を開始する。これと同時に、回収搬送体134が回転測定ロボット171の製品搬送位置に移動し、第二搬送ロボット175が測定終了後の4個の電子部品106〜106を回収搬送体134の4つのポケット160〜160に離脱して収納する。その後、回収搬送体134が最初の位置に戻り、その位置に回収ロボットハンド132が移動する。   After the rotation measuring robot 171 rotates 180 degrees, the first transfer robot 174 places the four electronic components 106 to 106 at predetermined positions of the test socket 170 and starts measuring the four electronic components 106 to 106. . At the same time, the collection conveyance body 134 moves to the product conveyance position of the rotation measuring robot 171, and the second conveyance robot 175 transfers the four electronic components 106 to 106 after the measurement to the four pockets 160 to 160 of the collection conveyance body 134. Separate into 160 and store. Thereafter, the collection transport body 134 returns to the initial position, and the collection robot hand 132 moves to that position.

回収ロボットハンド132は、上下動作を行って測定後の2個の電子部品106,106を吸着保持し、測定結果に応じて、回収第一トレイ111、回収第二トレイ112又は回収第三トレイ113のいずれかの位置に移動する。そして、回収ロボットハンド132の吸着ノズル142Bを上下動作させて、そのトレイの2つのポケット116に2個の電子部品106,106を離脱配置する。再度、回収ロボットハンド132は、回収搬送体134の位置まで移動し、上下動作を行って2個の電子部品106,106を吸着保持し、測定結果に応じて、回収第一トレイ111、回収第二トレイ112又は回収第三トレイ113のいずれかの位置に移動する。そして、回収ロボットハンド132の吸着ノズルを上下動作させて、そのトレイの2つのポケット116に2個の電子部品106,106を離脱配置する。   The collection robot hand 132 moves up and down to suck and hold the two electronic components 106 and 106 after measurement, and according to the measurement result, the collection first tray 111, the collection second tray 112, or the collection third tray 113. Move to one of the positions. Then, the suction nozzle 142B of the collecting robot hand 132 is moved up and down to dispose the two electronic components 106 and 106 in the two pockets 116 of the tray. The collection robot hand 132 again moves to the position of the collection conveyance body 134, moves up and down, and sucks and holds the two electronic components 106 and 106. Depending on the measurement result, the collection first tray 111 and the collection first are collected. It moves to either the second tray 112 or the collection third tray 113. Then, the suction nozzle of the collection robot hand 132 is moved up and down to dispose the two electronic components 106 and 106 in the two pockets 116 of the tray.

このように供給ロボットハンド131と供給搬送体133と回転測定ロボット171と回収搬送体134と回収ロボットハンド132との間の受け渡しにより、供給トレイ110に収納されている測定前の電子部品106が、その性能・特性等の測定結果に応じて、回収第一トレイ111から回収第三トレイ113までのいずれかの回収トレイに順次搬送されてそのポケット116に離脱配置される。   Thus, the electronic parts 106 before measurement stored in the supply tray 110 are transferred by the delivery robot hand 131, the supply transport body 133, the rotation measurement robot 171, the recovery transport body 134, and the recovery robot hand 132. Depending on the measurement results of performance, characteristics, etc., they are sequentially transported to any one of the collection trays from the collection first tray 111 to the collection third tray 113, and are separated from the pocket 116.

このような構成を有する電子部品検査装置101の詳細な動作は、例えば、次のようなものである。図11及び図12は、電子部品検査装置101における制御部105の動作のフローチャートを示すものである。この場合、予め、供給トレイ110には、測定対象である電子部品106がポケット116に収納されているトレイを十数枚重ねて配置させておくようにする。これに対して、回収第一トレイ111と回収第二トレイ112と回収第三トレイ113には、ポケットが空となっているトレイを夫々配置し、回収用空トレイ114にはポケット116が空となっているトレイを十数枚重ねて配置させておく。一般に、このようなトレイの配置状態において、電子部品106の性能・機能の測定が開始される。   The detailed operation of the electronic component inspection apparatus 101 having such a configuration is, for example, as follows. 11 and 12 are flowcharts showing the operation of the control unit 105 in the electronic component inspection apparatus 101. FIG. In this case, in advance, ten or more trays in which the electronic components 106 to be measured are stored in the pockets 116 are stacked on the supply tray 110. On the other hand, trays with empty pockets are arranged in the recovery first tray 111, the recovery second tray 112, and the recovery third tray 113, respectively, and the pockets 116 are empty in the recovery empty tray 114. Place dozens of stacked trays. Generally, measurement of performance and function of the electronic component 106 is started in such a tray arrangement state.

図11に示すように、電子部品106の供給収納が開始されると、まず、ステップS31において、供給ロボットハンド131が供給トレイ110へ移動する。これは、ガイドバー141をY軸方向へ移動させると共に供給ロボットハンド131をX軸方向へ移動させ、供給ロボットハンド131の吸着ノズル142Aを供給トレイ110の第1の位置にあるポケット116の上方へ位置させることによって実行される。次に、ステップS32に移行して、供給ロボットハンド131の吸着ノズル142Aによって製品である電子部品106を吸着して保持する。次に、ステップS33に移行して、供給ロボットハンド131を第2の位置にある供給搬送体133まで搬送する。この動作も、ガイドバー141をY軸方向へ移動させると共に供給ロボットハンド131をX軸方向へ移動させることによって実行される。   As shown in FIG. 11, when the supply and storage of the electronic component 106 is started, first, the supply robot hand 131 moves to the supply tray 110 in step S31. This is because the guide bar 141 is moved in the Y-axis direction and the supply robot hand 131 is moved in the X-axis direction, and the suction nozzle 142A of the supply robot hand 131 is moved above the pocket 116 at the first position of the supply tray 110. It is executed by positioning. Next, the process proceeds to step S <b> 32, and the electronic component 106 as a product is sucked and held by the suction nozzle 142 </ b> A of the supply robot hand 131. Next, the process proceeds to step S33, and the supply robot hand 131 is transferred to the supply transfer body 133 at the second position. This operation is also executed by moving the guide bar 141 in the Y-axis direction and moving the supply robot hand 131 in the X-axis direction.

次に、ステップS34に移行して、供給ロボットハンド31の2個の吸着ノズル142A、142Aで保持している2個の電子部品106,106を、供給搬送体133の2つのポケット160,160に離脱収納する。これは、吸着ノズル142Aの吸引力を開放し、電子部品106の自重でポケット160内に落下させることによって実行される。   Next, the process proceeds to step S 34, and the two electronic components 106 and 106 held by the two suction nozzles 142 A and 142 A of the supply robot hand 31 are placed in the two pockets 160 and 160 of the supply transport body 133. Separate and store. This is executed by releasing the suction force of the suction nozzle 142 </ b> A and dropping it into the pocket 160 by the weight of the electronic component 106.

次に、ステップS35に移行して、供給搬送体133のポケット160に収納されている各電子部品106が、正しい姿勢で載置部に配置されているか否かを判定する。この電子部品106の姿勢の良否は、回収搬送体134に収納されている各電子部品106に対しても行われるが、その判定手法は供給搬送体133の電子部品106に対するものと同一であるため、その説明は省略する。このステップS35の判定は、姿勢検出器(回収搬送体134の電子部品106に対するものは姿勢検出器による。)の検出信号に基づいて行われる。 Next, the process proceeds to step S <b> 35, and it is determined whether or not each electronic component 106 stored in the pocket 160 of the supply transport body 133 is placed on the mounting portion in a correct posture. Although the posture of the electronic component 106 is determined for each electronic component 106 accommodated in the collection conveyance body 134, the determination method is the same as that for the electronic component 106 of the supply conveyance body 133. The description is omitted. The determination of the step S35, the posture detector (those for electronic component 106 of the recovered carrier 134 by the posture detector.) Is performed based on the detection signal of.

即ち、図9A及び9Bに示すように、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しい姿勢で配置されている場合には、姿勢検出器でポケット160に電子部品160を吸着する際の吸引力を見ることによって知ることができる。即ち、姿勢検出器の圧力検出器で検出される圧力値が大きな値であれば図9A及び9Bに示す正しい姿勢で配置されていると判定し、検出される圧力値が小さい値であれば図9C及び9Dに示す正しくない姿勢で配置されていると判定する。このステップS35により、電子部品106がポケット160に正しい姿勢で配置されていると判定された場合にはステップS38に移行し、正しくない姿勢で配置されていると判定された場合にはステップS36に移行する。 That is, as shown in FIGS. 9A and 9B, when the electronic component 106 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 160, the suction force when the electronic component 160 is attracted to the pocket 160 by the posture detector . You can know by watching. That is, if the pressure value detected by the pressure detector of the attitude detector is a large value, it is determined that it is arranged in the correct attitude shown in FIGS. 9A and 9B, and if the detected pressure value is a small value, It determines with arrange | positioning with the incorrect attitude | position shown to 9C and 9D. If it is determined in step S35 that the electronic component 106 is disposed in the correct posture in the pocket 160, the process proceeds to step S38. If it is determined that the electronic component 106 is disposed in the incorrect posture, the process proceeds to step S36. Transition.

ステップS36では、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しい姿勢で配置されていないために、供給搬送体133を微振動させて電子部品106の姿勢を修正する。そして、ステップS37に移行して、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しい姿勢で配置されているか否かを再度判定する。このステップS35からステップS37までの微振動の動作の詳細を図12に示す。   In step S36, since the electronic component 106 is not arranged at a predetermined position in the pocket 160 in a correct posture, the posture of the electronic component 106 is corrected by slightly vibrating the supply transport body 133. Then, the process proceeds to step S <b> 37, and it is determined again whether or not the electronic component 106 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 160. Details of the micro-vibration operation from step S35 to step S37 are shown in FIG.

図12において、ステップS35Aにより、姿勢検出器の吸引装置による吸引圧力を検出し、その圧力値が大きな値(負圧大)である場合には、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しい姿勢で配置されていると判定して、ステップS38に移行する。これに対して、吸引装置による吸引圧力の値が小さい値(負圧小)である場合には、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しくない姿勢で配置されていると判定して、ステップS35Bに移行する。 In FIG. 12, the suction pressure by the suction device of the posture detector is detected in step S35A, and when the pressure value is a large value (a large negative pressure), the electronic component 106 is correctly positioned at a predetermined position in the pocket 160. It determines with having arrange | positioned with the attitude | position, and transfers to step S38. On the other hand, if the value of the suction pressure by the suction device is a small value (small negative pressure), it is determined that the electronic component 106 is disposed in a wrong posture at a predetermined position in the pocket 160, Control goes to step S35B.

ステップS35Bでは、吸引装置による負圧の検出時間が所定時間を経過したか否かを判定する。この判定において、所定の検出時間が経過していない場合には、ステップS35Aに戻り、ステップS35B及びステップS35Bの処理を繰り返す。これに対して、ステップS35Bの判定において、所定の検出時間が経過している場合には、ステップS36A及びステップS36Bに移行して、電子部品106の姿勢を正しくする姿勢修正操作を実行する。   In step S35B, it is determined whether the negative pressure detection time by the suction device has passed a predetermined time. In this determination, when the predetermined detection time has not elapsed, the process returns to step S35A, and the processes of step S35B and step S35B are repeated. On the other hand, if the predetermined detection time has elapsed in the determination in step S35B, the process proceeds to step S36A and step S36B, and an attitude correction operation for correcting the attitude of the electronic component 106 is executed.

即ち、ステップS36Aでは、搬送体駆動機構137の動作を介して供給搬送体133をX軸方向の一方に移動(正転移動)し、続いて、ステップS36Bに移行して、搬送体駆動機構137の動作を介して供給搬送体133をX軸方向の他方に移動(逆転移動)する。そして、ステップS36Cに移行して、供給搬送体133の正転移動と逆転移動とが所定の回数行われたか否かを判定する。この判定において、供給搬送体133の正転移動と逆転移動が所定回数行われていない場合には、ステップS36Aに戻り、所定回数行われるまでステップS36AとステップS36Bによる微振動操作を繰り返す。これに対して、供給搬送体133の正転移動と逆転移動が所定回数行われている場合には、ステップS37Aに移行する。   That is, in step S36A, the supply transport body 133 is moved to one side in the X-axis direction (forward rotation) through the operation of the transport body drive mechanism 137, and then the process proceeds to step S36B, where the transport body drive mechanism 137 is moved. Through this operation, the supply transport body 133 is moved to the other side in the X-axis direction (reverse movement). Then, the process proceeds to step S36C, and it is determined whether or not the forward movement and the reverse movement of the supply transport body 133 have been performed a predetermined number of times. In this determination, when the forward rotation movement and the reverse rotation movement of the supply transport body 133 are not performed a predetermined number of times, the process returns to step S36A, and the fine vibration operation in steps S36A and S36B is repeated until the predetermined number of times is performed. On the other hand, when the forward rotation movement and the reverse rotation movement of the supply transport body 133 have been performed a predetermined number of times, the process proceeds to step S37A.

このステップS36に基づく供給搬送体133の正転移動及び逆転移動を繰り返す微振動の振幅は、0.5mm以上1.0mm以下の範囲内が好ましい。この微振動の振幅が0.5mm〜1.0mmの範囲内であれば、その微振動によって電子部品106がポケット160の載置部に配置される時間が実用的な範囲に収まり、電子部品106がポケット160の開口縁から外側に飛び出すのを防ぐことができるというメリットがある。   The amplitude of the minute vibration that repeats the forward movement and the reverse movement of the supply conveyance body 133 based on this step S36 is preferably in the range of 0.5 mm or more and 1.0 mm or less. If the amplitude of the minute vibration is within a range of 0.5 mm to 1.0 mm, the time during which the electronic component 106 is arranged on the placement portion of the pocket 160 by the minute vibration is within a practical range, and the electronic component 106 Is advantageous in that it can be prevented from jumping out from the opening edge of the pocket 160.

供給搬送体133の振動時間は、0.5秒以上2.0秒以下の範囲内であって、微振動の周波数が100Hz以上200Hz以下の範囲内が好ましい。この微振動時間が0.5秒〜2.0秒の範囲内であれば、振動時間によるICハンドラ103の搬送動作の低下を実用的な範囲内に収めることができる。そして、供給搬送体133の振動周波数が100Hz〜200Hzの範囲内であれば、電子部品がIC、LSI等であった場合に、微振動により電子部品内部の機能・特性等にダメージを与えることがないというメリットがある。   The vibration time of the supply conveyance body 133 is preferably in the range of 0.5 second to 2.0 seconds, and the frequency of the fine vibration is preferably in the range of 100 Hz to 200 Hz. If the minute vibration time is in the range of 0.5 seconds to 2.0 seconds, the decrease in the transport operation of the IC handler 103 due to the vibration time can be kept within a practical range. And if the vibration frequency of the supply conveyance body 133 is in the range of 100 Hz to 200 Hz, when the electronic component is an IC, LSI, or the like, the function / characteristics inside the electronic component may be damaged by slight vibration. There is no merit.

なお、常時、微振動を与えて電子部品を搬送する方法も考えられるが、その場合には、複数の搬送ロボットその他に過度の負担を与えるおそれがある。そのため、供給搬送体133(回収搬送体134の場合も同様)のポケットへの収納ミスが生じた場合にのみ、微振動動作を与える方法が好ましい。   In addition, although a method is also conceivable in which an electronic component is conveyed while always giving a slight vibration, in that case, an excessive burden may be imposed on a plurality of conveying robots and the like. For this reason, a method of giving a fine vibration operation only when a storage error in the pocket of the supply conveyance body 133 (also in the case of the collection conveyance body 134) occurs is preferable.

ステップS37Aでは、姿勢検出器の検出結果に基づいて、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しい姿勢で配置されているか否かを再度判定する。この判定において、姿勢検出器の吸引装置による吸引圧力の値が大きな負圧である場合には、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しい姿勢で配置されていると判定して、ステップS38に移行する。これに対して、吸引装置による吸引圧力の値が小さい負圧である場合には、電子部品106がポケット160内の所定位置に正しくない姿勢で配置されていると判定して、ステップS37Bに移行する。 In step S37A, based on the detection result of the posture detector , it is determined again whether or not the electronic component 106 is placed at a predetermined position in the pocket 160 in a correct posture. In this determination, when the value of the suction pressure by the suction device of the posture detector is a large negative pressure, it is determined that the electronic component 106 is arranged in a correct posture at a predetermined position in the pocket 160, and step S38. Migrate to On the other hand, when the value of the suction pressure by the suction device is a small negative pressure, it is determined that the electronic component 106 is disposed in an incorrect posture at a predetermined position in the pocket 160, and the process proceeds to step S37B. To do.

ステップS37Bでは、吸引装置による負圧の検出時間が所定時間を経過したか否かを判定する。この判定において、所定の検出時間が経過していない場合には、ステップS37Aに戻り、ステップS37A及びステップS37Bの処理を繰り返す。これに対して、ステップS37Bの判定において、所定の検出時間が経過している場合には、この微振動方法によっても電子部品106を正しい姿勢に修正できなかったものと判定し、警告メッセージを表示してICハンドラ103の搬送動作を一時停止させる。そして、電子部品検査装置101の操作オペレータによって搬送ミスした電子部品106を取り除くか、電子部品106の配置状態を改善して再度搬送動作を繰り返すようにする。   In step S37B, it is determined whether the negative pressure detection time by the suction device has passed a predetermined time. In this determination, when the predetermined detection time has not elapsed, the process returns to step S37A, and the processes of step S37A and step S37B are repeated. On the other hand, if the predetermined detection time has passed in the determination in step S37B, it is determined that the electronic component 106 could not be corrected to the correct posture even by this fine vibration method, and a warning message is displayed. Then, the conveying operation of the IC handler 103 is temporarily stopped. Then, the electronic component 106 missed by the operation operator of the electronic component inspection apparatus 101 is removed, or the arrangement state of the electronic component 106 is improved and the conveying operation is repeated again.

次に、図11において、ステップS38では、供給ロボットハンド131を供給搬送体133の最初の位置に移動した後、回転測定ロボット171の電子部品供給側の位置に移動する。次いで、ステップS39に移行して、電子部品供給側に位置する回転測定ロボット171の第1の搬送ロボット174で電子部品106を吸着保持する。そして、ステップS40に移行し、供給搬送体133を最初の位置に戻す。次に、ステップS41に移行して、回収搬送体134を電子部品供給側の位置に移動する。そして、ステップ31に戻る。   Next, in FIG. 11, in step S <b> 38, the supply robot hand 131 is moved to the initial position of the supply conveyance body 133 and then moved to the position on the electronic component supply side of the rotation measurement robot 171. Next, the process proceeds to step S39, and the electronic component 106 is sucked and held by the first transfer robot 174 of the rotation measuring robot 171 located on the electronic component supply side. And it transfers to step S40 and returns the supply conveyance body 133 to the first position. Next, the process proceeds to step S41, and the collection carrier 134 is moved to a position on the electronic component supply side. Then, the process returns to step 31.

一方、上記ステップS40の処理と平行して、ステップS42に移行して、回転測定ロボット171による電子部品106の測定動作が行われているか否かを判定する。このステップS42において、電子部品106の測定動作中であると判定された場合には、その測定動作が終了するまでステップS42の処理を繰り返す。これに対して、電子部品106の測定動作中でないと判定された場合には、ステップS43に移行して、回転測定ロボット171のソケット側に位置する第2の搬送ロボット75を上昇させた後、回転測定ロボット171の回転体173を180度回転させ、第2の搬送ロボット175を電子部品供給側に移動し、第1の搬送ロボット174をテストソケット側に移動する。   On the other hand, in parallel with the process of step S40, the process proceeds to step S42 to determine whether or not the measurement operation of the electronic component 106 by the rotation measurement robot 171 is performed. If it is determined in step S42 that the electronic component 106 is being measured, the process in step S42 is repeated until the measurement operation is completed. On the other hand, when it is determined that the measurement operation of the electronic component 106 is not in progress, the process proceeds to step S43 and the second transfer robot 75 located on the socket side of the rotation measurement robot 171 is raised, The rotating body 173 of the rotation measuring robot 171 is rotated 180 degrees, the second transfer robot 175 is moved to the electronic component supply side, and the first transfer robot 174 is moved to the test socket side.

次に、ステップS44に移行して、第2の搬送ロボット175の吸着ノズルを下降させて測定前の電子部品106を吸着保持し、その電子部品106をテストソケット170にセットし、その電子部品106の測定を開始する。そして、電子部品106の測定が終了した後、ステップS39に戻る。このステップS44の処理と平行して、ステップS45に移行して、第2の搬送ロボット175の吸着ノズルに保持されている測定済の電子部品106を回収搬送体134のポケット160に収納する。続いて、ステップS46に移行して、回収搬送体134を最初の位置に戻す。   Next, the process proceeds to step S44, where the suction nozzle of the second transfer robot 175 is lowered to suck and hold the electronic component 106 before measurement, the electronic component 106 is set in the test socket 170, and the electronic component 106 Start measuring. Then, after the measurement of the electronic component 106 is completed, the process returns to step S39. In parallel with the processing of step S44, the process proceeds to step S45, and the measured electronic component 106 held by the suction nozzle of the second transfer robot 175 is stored in the pocket 160 of the collection transfer body 134. Subsequently, the process proceeds to step S46, and the collection carrier 134 is returned to the initial position.

次に、ステップS47に移行して、回収ロボットハンド132を回収搬送体134の位置まで移動する。次いで、ステップS48に移行して、回収ロボットハンド132の吸着ノズル142Bによって測定済の電子部品106を吸着保持する。そして、ステップS49に移行して、回収ロボットハンド132を、測定済の電子部品の測定結果に応じて、対応する回収トレイの位置に移動する。その後、ステップS50に移行して、回収ロボットハンド132の吸着ノズル142Bを下降させ、回収トレイのポケット116に測定済の電子部品106を離脱して収納する。   Next, the process proceeds to step S <b> 47, and the collection robot hand 132 is moved to the position of the collection conveyance body 134. Next, the process proceeds to step S48, and the measured electronic component 106 is sucked and held by the suction nozzle 142B of the collection robot hand 132. Then, the process proceeds to step S49, and the collection robot hand 132 is moved to the position of the corresponding collection tray according to the measurement result of the measured electronic component. Thereafter, the process proceeds to step S50, the suction nozzle 142B of the collection robot hand 132 is lowered, and the measured electronic component 106 is detached and stored in the pocket 116 of the collection tray.

次に、ステップS51に移行して、電子部品106の測定を継続させるか否かを判定する。この判定は、測定済の電子部品106の数が、測定開始前に入力される測定数に達しているか否かを見ることによって行われる。このステップS51において、測定数が予め入力された数値に達していない場合には、運転を継続すると判定して、ステップS41に戻り、以上の処理を繰り返す。これに対して、測定数が予め入力された数値に達している場合には、これで処理を終了する。以上のような処理を経ることにより、電子部品106の性能・特性等を検査することができる。   Next, it transfers to step S51 and it is determined whether the measurement of the electronic component 106 is continued. This determination is performed by checking whether or not the number of measured electronic components 106 has reached the number of measurements input before the start of measurement. In step S51, when the number of measurements has not reached the numerical value input in advance, it is determined that the operation is continued, the process returns to step S41, and the above processing is repeated. On the other hand, when the number of measurements has reached the numerical value input in advance, the process is terminated. Through the above processing, the performance / characteristics of the electronic component 106 can be inspected.

上述したような電子部品106の測定に際して、ICハンドラ103による搬送ミスが生じた場合にも、上記微振動による修正操作を行うことにより、搬送ミスを修正してポケット160の所定位置に正しい姿勢で電子部品106を配置することができ、測定作業に停滞を生じることなく、効率よく電子部品106の検査を実行することが可能となる。   Even when a transport error by the IC handler 103 occurs during the measurement of the electronic component 106 as described above, the transport error is corrected to correct the transport error at a predetermined position in the pocket 160 by performing the correction operation by the fine vibration. The electronic component 106 can be disposed, and the electronic component 106 can be efficiently inspected without causing a stagnation in measurement work.

以上説明したが、本発明は上記第1の実施例及び第2の実施例に限定されるものではなく、均等の範囲内で種々の変形が可能であり、特許請求の範囲に記載された発明の範囲において様々な変更が可能であることは、当業者によって容易に理解されよう。   As described above, the present invention is not limited to the first and second embodiments described above, and various modifications can be made within an equivalent range, and the invention described in the claims. It will be readily appreciated by those skilled in the art that various modifications can be made within the scope of the above.

1,101…電子部品検査装置、 2,102…トレイ部、 3,103…ICハンドラ、 4,104…測定部、 5,105…制御部、 6,106…電子部品、 10,110…供給トレイ、 11,111…回収第一トレイ、 12,112…回収第二トレイ、 13,113…回収第三トレイ、 14,114…回収用空トレイ、 15,115…トレイ搬送器、 20,120…吸着パッド、 31,131…供給ロボットハンド、 32,132…回収ロボットハンド、 33,34,35…回転搬送体、 36…回転テーブル、 37…テーブル駆動機構(移動機構)、 38,39…姿勢検出器、 50…駆動モータ、 52…伝動ベルト、 60,160…ポケット、 61,161…テーパ部、 62…測光溝、 70,170…テストソケット、 71,171…回転測定ロボット、 74,75,174,175…搬送ロボット、 76…吸着ノズル、 80…制御装置、 109…供給空トレイ、 133…供給搬送体(移動搬送体)、 134…回収搬送体(移動搬送体)、 137…往復移動機構、 165…吸引穴
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,101 ... Electronic component inspection apparatus 2,102 ... Tray part, 3,103 ... IC handler, 4,104 ... Measurement part, 5,105 ... Control part, 6,106 ... Electronic part, 10,110 ... Supply tray 11, 111 ... Recovery first tray, 12, 112 ... Recovery second tray, 13, 113 ... Recovery third tray, 14, 114 ... Empty tray for recovery, 15, 115 ... Tray transporter, 20, 120 ... Adsorption Pad 31, 131 ... Supply robot hand, 32, 132 ... Recovery robot hand, 33, 34, 35 ... Rotating carrier, 36 ... Rotating table, 37 ... Table drive mechanism (moving mechanism), 38, 39 ... Posture detector 50 ... Drive motor 52 ... Transmission belt 60,160 ... Pocket 61,161 ... Tapered portion 62 ... Photometric groove 70,170 ... Test socket 71 171 ... Rotation measuring robot, 74,75,174,175 ... Transport robot, 76 ... Suction nozzle, 80 ... Control device, 109 ... Supply empty tray, 133 ... Supply carrier (moving carrier), 134 ... Recovery carrier ( (Moving carrier), 137 ... reciprocating mechanism, 165 ... suction hole

Claims (5)

電子部品を第1の位置におけるトレイの第1ポケットと、第2の位置における回転搬送体又は移動搬送体の第2ポケットとの間に搬送するICハンドラの電子部品姿勢修正装置であって、
前記電子部品を吸着保持して前記第1ポケットと前記第2ポケットとの間に搬送するロボットハンドによって、前記第2の位置において前記第2ポケットに収納された前記電子部品が正しい姿勢で配置されているか否かを検出する姿勢検出器と
記姿勢検出器の検出結果に応じて前記電子部品が正しい姿勢で配置されていないときに、前記回転搬送体又は前記移動搬送体を前記第2の位置と、前記電子部品の良否を検査する回転測定ロボットとの間で、水平方向に移動させる移動機構を動作させて前記回転搬送体を正転動作および逆転動作させ又は前記移動搬送体を往復動作させる姿勢修正機構と、
備えるICハンドラの電子部品姿勢修正装置。
An electronic component attitude correction device for an IC handler that conveys electronic components between a first pocket of a tray at a first position and a second pocket of a rotary carrier or a movable carrier at a second position ,
The electronic component housed in the second pocket in the second position is placed in a correct posture by the robot hand that sucks and holds the electronic component and conveys it between the first pocket and the second pocket. an attitude detector for detecting whether it has,
When the electronic component in accordance with a detection result of the previous SL posture detector are not arranged in the correct position, to check with the rotary conveyance member or the moving carrier of the second position, the quality of the electronic component A posture correcting mechanism that operates a moving mechanism that moves in a horizontal direction with the rotation measuring robot to cause the rotating and conveying body to rotate forward and backward , or to reciprocate the moving and conveying body;
An electronic component posture correcting device for an IC handler.
前記回転搬送体の前記移動機構は、前記回転搬送体を、前記第2の位置を通る軌道上に巡回させる回転テーブルと、
前記回転テーブルを回転駆動するテーブル駆動機構と、を備える、
求項1記載のICハンドラの電子部品姿勢修正装置。
The moving mechanism of the rotary transport body is a rotary table for circulating the rotary transport body on a track passing through the second position;
A table drive mechanism for rotating the rotary table, Ru provided with,
Electronic components posture correction device of Motomeko 1 IC handler described.
前記移動搬送体の前記移動機構は、前記移動搬送体を、前記第2の位置を通る軌道上に往復移動させる往復移動機構を備える、
求項1記載のICハンドラの電子部品姿勢修正装置。
Wherein the moving mechanism of the moving carrier is the moving carrier, Ru with a reciprocating mechanism for reciprocating the orbit passing through the second position,
Electronic components posture correction device of Motomeko 1 IC handler described.
前記姿勢修正機構による前記回転搬送体の正転動作および逆転動作又は前記移動搬送体の往復動作は、振幅0.5mmから1.0mmの範囲内であり、振動時間0.5秒から2.0秒の範囲内である、
求項2又は3記載のICハンドラの電子部品姿勢修正装置。
The reciprocating movement of the forward operation and the reverse operation or the moving carrier of the posture correcting said rotary conveying member by mechanism, the amplitude is in the range from 0.5mm to 1.0 mm, vibration time from 0.5 seconds 2 Within the range of .0 seconds ,
Electronic component attitude adjustment device Motomeko 2 or 3 IC handler according.
電子部品をトレイの第1ポケットと回転搬送体又は移動搬送体の第2ポケットとの間に搬送するICハンドラの電子部品姿勢修正方法であって、
ロボットハンドにより吸着保持されて前記回転搬送体又は前記移動搬送体の前記第2ポケットに収納された前記電子部品の姿勢を姿勢検出器で検出して姿勢の良否を判定し、
判定結果に応じて前記電子部品が前記第2ポケットに対して正しい姿勢で配置されていないときに、前記回転搬送体を水平方向に正転動作および逆転動作させ又は前記移動搬送体を水平方向に往復運動させて前記電子部品を前記第2ポケットに正しい姿勢で配置するように修正する
ICハンドラの電子部品姿勢修正方法。
An electronic component attitude correction method for an IC handler that conveys electronic components between a first pocket of a tray and a second pocket of a rotary carrier or a movable carrier,
Detecting said electronic component posture stored in the second pocket of said held attraction rotating conveying member or the mobile carrier by the robot hand in a posture detector to determine the quality of the attitude,
Depending on the determination result, when the electronic component is not arranged in the correct posture with respect to the second pocket, the rotating carrier is moved forward and backward in the horizontal direction or the moving carrier is moved in the horizontal direction. A method of correcting an electronic component posture of an IC handler, wherein the electronic component is corrected to reciprocate so that the electronic component is disposed in a correct posture in the second pocket.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6503772B2 (en) * 2015-02-12 2019-04-24 セイコーエプソン株式会社 Electronic component conveying apparatus and electronic component inspection apparatus
KR102270760B1 (en) * 2019-11-29 2021-06-30 에이엠티 주식회사 The test apparatus of the device having fine pitch
US20230003794A1 (en) * 2019-12-13 2023-01-05 Shandong Caiju Electronic Technology Co., Ltd Chip detection device, chip detection system, and control method
JP7487076B2 (en) 2020-11-17 2024-05-20 株式会社Nsテクノロジーズ Device transport equipment
JP7133258B1 (en) 2022-01-18 2022-09-08 日本ファインテック株式会社 Chip part positioning device and taping machine
CN115453304B (en) * 2022-09-06 2023-09-22 无锡卓海科技股份有限公司 Super 360-degree rotating platform equipment for wafer detection and operation method thereof

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61145465A (en) * 1984-12-19 1986-07-03 Hitachi Yonezawa Denshi Kk Measuring apparatus and method thereof
JPH05208390A (en) * 1992-01-29 1993-08-20 Sony Corp Suction nozzle
JP3563108B2 (en) * 1994-05-27 2004-09-08 株式会社アドバンテスト Device transport mechanism for IC test handler
JPH08203962A (en) * 1995-01-25 1996-08-09 Hitachi Ltd Chip positioning equipment, chip stage, and inner lead bonding equipment and method
JP2003066096A (en) * 2001-08-27 2003-03-05 Hitachi Industries Co Ltd Positioning method
JP4443871B2 (en) * 2003-07-15 2010-03-31 新日本無線株式会社 Semiconductor device storage device
DE102004057776B4 (en) * 2004-11-30 2011-08-18 Multitest elektronische Systeme GmbH, 83026 Position correction device for correcting the position of a component holder for electronic components
JP5119744B2 (en) * 2007-05-28 2013-01-16 セイコーエプソン株式会社 Component detection method, component detection device, IC handler component detection method, and IC handler
JP2010202392A (en) * 2009-03-05 2010-09-16 Elpida Memory Inc Ic automatic handler
KR20130054787A (en) * 2011-11-17 2013-05-27 삼성전자주식회사 Semiconductor test apparatus

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