JP6357669B2 - Vapor deposition apparatus and optical substrate holding member for vapor deposition apparatus - Google Patents

Vapor deposition apparatus and optical substrate holding member for vapor deposition apparatus Download PDF

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Description

本発明は、本発明は光学基板表面に薄膜を蒸着させるための蒸着装置及びそのような蒸着装置内に配置される光学基板を保持する蒸着装置用光学基板保持部材に関するものである。   The present invention relates to a vapor deposition apparatus for depositing a thin film on the surface of an optical substrate and an optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus that holds an optical substrate disposed in such a vapor deposition apparatus.

従来から減圧した筐体内で蒸着物質を加熱蒸散させて筐体内上部に配置されるレンズ基板の表面に薄膜を蒸着させる蒸着装置が提案されている。このような蒸着装置の一例として例えば、特許文献1を挙げる。特許文献1の蒸着装置ではその図9に示すようにレンズ基板が保持される光学基板保持部材としてのホルダー(基板ホルダ5)は羽子板状の平板な板部材であって、周方向に複数の枚数(ここでは8枚)が並び、外方に向かって若干下垂するように配置される。特許文献1の蒸着装置では筐体(真空室2)内の上部に配置されたホルダーを180度反転させることでレンズ基板の表裏面それぞれに蒸着するようにしている。また、蒸着装置に使用されるレンズ基板のホルダーとしては、例えば特許文献2の図1のレンズホルダー40のようなドーム型の形状のものも使用される。但し、特許文献2のホルダーは引用文献1のような反転可能な構造ではないため、レンズ基板の被蒸着面となる下面に蒸着処理をすると、人の手によって(つまり減圧状態を一旦解除する)ホルダーに保持されたレンズ基板の上下を反転させて再度減圧処理から開始して新たな被蒸着面に蒸着処理をする。   2. Description of the Related Art Conventionally, there has been proposed a vapor deposition apparatus that deposits a thin film on the surface of a lens substrate disposed on the upper portion of a casing by heating and evaporating a vapor deposition substance in a decompressed casing. For example, Patent Document 1 is cited as an example of such a vapor deposition apparatus. In the vapor deposition apparatus of Patent Document 1, as shown in FIG. 9, a holder (substrate holder 5) as an optical substrate holding member for holding a lens substrate is a flat plate member in the shape of a wing plate, and a plurality of sheets are arranged in the circumferential direction. (In this case, 8 sheets) are arranged and arranged so as to hang slightly toward the outside. In the vapor deposition apparatus of Patent Document 1, vapor deposition is performed on each of the front and back surfaces of the lens substrate by reversing the holder disposed at the upper part in the housing (vacuum chamber 2) by 180 degrees. Further, as a lens substrate holder used in the vapor deposition apparatus, for example, a dome-shaped holder such as the lens holder 40 of FIG. However, since the holder of Patent Document 2 does not have a reversible structure like that of Cited Document 1, when the vapor deposition process is performed on the lower surface, which is the deposition surface of the lens substrate, the reduced pressure state is temporarily released by human hands. The lens substrate held by the holder is turned upside down and started again from the decompression process, and a new deposition surface is deposited.

特開昭63−307260号公報JP-A-63-307260 特開2000−266904号公報JP 2000-266904 A

上記特許文献1と2のホルダーを比較した場合にはレンズ基板を反転させなくてよい特許文献1のようなホルダーは有利といえる。しかしながら、特許文献1のようなホルダーは特許文献2のホルダーに比べて蒸着むらが出やすくなるという特性がある。蒸着材料は蒸散すると球面状に放射していくため、その気体球面の曲率に近いドーム型の形状の方が蒸着むらが生じにくいからである。このようなことから、レンズ基板の向きを蒸着材料の蒸散状況に合わせることが可能な反転できる特許文献1のようなタイプのレンズ基板保持部材を備えた蒸着装置あるいはそのようなレンズ基板保持部材が望まれていた。また、これらはレンズ基板以外の光学基板、例えば光学フィルターであっても一般的に生じていた問題であった。
本発明は、このような従来の技術に存在する問題点に着目してなされたものである。その目的は、反転可能な光学基板保持部材を使用して光学基板の表裏に蒸着処理をする際に蒸着材料の蒸散状況に合わせた所望の蒸着処理が可能な蒸着装置及びそのような蒸着装置用の光学基板保持部材を提供することにある。
When the holders of Patent Documents 1 and 2 are compared, it can be said that a holder such as Patent Document 1 that does not need to reverse the lens substrate is advantageous. However, the holder as in Patent Document 1 has a characteristic that uneven deposition easily occurs compared to the holder of Patent Document 2. This is because the vapor deposition material radiates in a spherical shape when it evaporates, and the dome-shaped shape close to the curvature of the gas spherical surface is less likely to cause uneven deposition. For this reason, a vapor deposition apparatus equipped with a lens substrate holding member of the type as disclosed in Patent Document 1 that can reverse the direction of the lens substrate according to the evaporation state of the vapor deposition material, or such a lens substrate holding member. It was desired. In addition, these are problems that have generally occurred even with optical substrates other than lens substrates, such as optical filters.
The present invention has been made paying attention to such problems existing in the prior art. The purpose thereof is a vapor deposition apparatus capable of performing a desired vapor deposition process according to the evaporation state of the vapor deposition material when performing vapor deposition on the front and back of the optical substrate using a reversible optical substrate holding member, and for such a vapor deposition apparatus An optical substrate holding member is provided.

上記課題を解決するために手段1では、密閉可能な筐体と、同筐体内の下部位置に配設された蒸着材料と、同蒸着材料を加熱する加熱手段と、前記筐体内の気圧を下げるための減圧手段と、前記筐体内の上部位置に配置され1又は複数の光学基板を被蒸着面を露出させた状態で保持する1又は2以上の光学基板保持部材とを備えた蒸着装置において、前記光学基板保持部材は前記光学基板の外周及び外周寄り表裏面を包囲する包囲部を有し、同包囲部は同包囲部内に収容される前記光学基板に厚み方向の移動を許容する移動空間を有するとともに、前記包囲部は前記移動空間内を移動した前記光学基板が平行移動とならないように前記光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が不均等とされ、前記光学基板保持部材は第1の支持位置と同第1の支持位置に対して反転した第2の支持位置でそれぞれ停止可能に支持され、反転する際に保持した前記光学基板を前記移動空間内で揺動状に移動させてその揺動に伴って被蒸着面の向きを変位させるようにしたことをその要旨とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the means 1 lowers the pressure inside the casing, the casing that can be sealed, the vapor deposition material disposed in the lower position in the casing, the heating means that heats the vapor deposition material, and the casing. In a vapor deposition apparatus comprising: a decompression unit for holding; and one or more optical substrate holding members that are disposed at an upper position in the housing and hold one or a plurality of optical substrates in a state where a deposition surface is exposed, The optical substrate holding member has a surrounding portion that surrounds the outer periphery and front and rear surfaces near the outer periphery of the optical substrate, and the surrounding portion has a movement space that allows the optical substrate accommodated in the surrounding portion to move in the thickness direction. And the width of the portion surrounding the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate is non-uniform so that the optical substrate that has moved in the moving space does not move in parallel. A first support position; The optical substrate, which is supported so as to be able to stop at the second support position reversed with respect to the first support position, and held at the time of reversal is moved in a swinging manner in the moving space, and accompanying the swinging The gist is that the direction of the deposition surface is displaced.

このような構成とすれば、光学基板保持部材に保持された光学基板は第1の支持位置と第2の支持位置との間で光学基板保持部材が反転する際にそれに同期して包囲部内において移動空間を光学基板の厚み方向に移動する。そして、その際に包囲部は移動空間内を移動した光学基板が平行移動とならないように光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が不均等とされているため、光学基板は包囲部内でほとんどの断面方向では扇状形状に揺動する動作となる(最も大きく揺動する方向と直交する方向の180度対向する位置では平行的な移動となる)。そのため、例えば光学基板保持部材の位置(向き)や傾きや高さ等の蒸着環境や光学基板の形状に併せて所望の蒸着ができるように光学基板の被蒸着面の向きを所望の方向に変位させることができる。
ここで「光学基板」とは、ガラス又は樹脂製のレンズ又は平板であって、例えばレンズ、ダイクロイックミラー/フィルター、コールドミラー/フィルター、NDフィルター、バンドパスフィルター、ハーフミラー等を挙げることができる。
「光学基板保持部材が反転する」とは、光学基板の表裏が入れ替わり、概ね被蒸着面が下方向を向くことである。「幅が不均等」とは、例えば下記実施の形態のようにレンズの周囲を滑らかに幅が変位する場合のみならず不連続的に幅が変位するようにしてもよい。また、完全に包囲する場合のみならず、一部に包囲していない領域、例えば窓状あるいは切欠状の孔部分を有していてもよい。「包囲部」は光学基板保持部材と一体でも別部材であってもよい。別部材であれば包囲部に光学基板を収納した後に包囲部とともに光学基板保持部材に取り付けるようにすると取り付け作業上有利である。「光学基板保持部材は第1の支持位置と第1の支持位置に対して反転した第2の支持位置でそれぞれ停止可能に支持」という場合においては、例えば自身に回転機能と停止機能が併設されていても、例えば他の停止機構によって回転が阻止される場合の両方を意味している。例えば、光学基板保持部材が複数配設される場合には、各光学基板保持部材をリング状に配置することがよく、全体として周方向に回動して周方向に配置された干渉部材と干渉して反転するように構成することがよい。「被蒸着面の向きを変位させる」とは、例えばレンズであれば光軸方向が変位すると考えてもよい。
「揺動状に移動」とはここでは光学基板が移動の前後において平行ではなく例えれば扇を開くように幅方向の離間した位置で厚み方向への移動距離が異なるような移動状態をいう。
With such a configuration, the optical substrate held by the optical substrate holding member is synchronized with the inside of the surrounding portion when the optical substrate holding member is reversed between the first support position and the second support position. The moving space is moved in the thickness direction of the optical substrate. In this case, the width of the portion surrounding the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate is not uniform so that the optical substrate moved in the moving space does not move in parallel. In most of the cross-sectional directions, the movement swings in a fan shape (the movement is parallel at a position facing 180 degrees in the direction orthogonal to the largest swinging direction). Therefore, for example, the orientation of the deposition surface of the optical substrate is displaced in a desired direction so that the desired deposition can be performed in accordance with the deposition environment such as the position (orientation), tilt and height of the optical substrate holding member and the shape of the optical substrate. Can be made.
Here, the “optical substrate” is a glass or resin lens or flat plate, and examples thereof include a lens, a dichroic mirror / filter, a cold mirror / filter, an ND filter, a bandpass filter, and a half mirror.
“The optical substrate holding member is reversed” means that the front and back of the optical substrate are interchanged and the deposition surface is generally directed downward. The “uneven width” may be such that the width is discontinuously displaced as well as a case where the width is smoothly displaced around the lens as in the following embodiment, for example. Moreover, not only when completely enclosing, you may have the area | region which is not surrounded partially, for example, a window-shaped or notch-shaped hole part. The “enclosure” may be integral with or separate from the optical substrate holding member. In the case of another member, it is advantageous in terms of attachment work if the optical substrate is housed in the surrounding portion and then attached to the optical substrate holding member together with the surrounding portion. In the case of “the optical substrate holding member is supported so as to be able to stop at the first support position and the second support position inverted with respect to the first support position”, for example, the optical substrate holding member is provided with a rotation function and a stop function. Even in this case, for example, it means both cases where rotation is blocked by another stopping mechanism. For example, when a plurality of optical substrate holding members are arranged, it is preferable to arrange each optical substrate holding member in a ring shape, and as a whole, it rotates in the circumferential direction and interferes with interference members arranged in the circumferential direction. Then, it is preferable to configure so as to invert. “Displace the direction of the deposition surface” may be considered to be the displacement of the optical axis direction in the case of a lens, for example.
Here, “moving in a swinging manner” refers to a moving state in which the optical substrate is not parallel before and after the movement, and the moving distance in the thickness direction is different at positions spaced apart in the width direction so as to open the fan, for example.

また、手段2では、前記包囲部内で前記光学基板の被蒸着面の向きが変位することで指向することとなる方向は前記第1の支持位置と前記第2の支持位置とにおいて共に同じ方向となるようにしたことをその要旨とする。
つまり、反転して光学基板が揺動状に移動した際に被蒸着面の向く方向が第1の支持位置と第2の支持位置で同じ方向になるということである。これによって、表裏の被蒸着面に対する蒸着条件が同じになるため表裏でほぼ同様な蒸着面が構成されることとなる。また、例え蒸着むらが生じてもその傾向が同じになるため、表裏の蒸着傾向の統一が図られることとなる。
また、手段3では、前記包囲部内で前記光学基板の被蒸着面の向きが変位することで指向することとなる方向は前記第1の支持位置と前記第2の支持位置とにおいてそれぞれ異なる方向となるようにしたことをその要旨とする。
つまり、反転して光学基板が揺動状に移動した際に被蒸着面の向く方向が同じ方向にならないということである。これによって表裏で異なる特性の蒸着面を構成することが可能となる。
Further, in the means 2, the direction to be directed when the direction of the deposition surface of the optical substrate is displaced in the surrounding portion is the same in both the first support position and the second support position. The gist is to make it.
That is, when the optical substrate is reversed and moved in a swinging manner, the direction in which the deposition surface faces is the same in the first support position and the second support position. As a result, the vapor deposition conditions for the vapor deposition surfaces on the front and back surfaces are the same, so that substantially the same vapor deposition surfaces are formed on the front and back surfaces. Moreover, even if vapor deposition unevenness occurs, the tendency is the same, so that the vapor deposition tendency on the front and back is unified.
Further, in the means 3, the directions to be directed by the direction of the deposition surface of the optical substrate being displaced in the surrounding portion are different directions in the first support position and the second support position, respectively. The gist is to make it.
That is, when the optical substrate is reversed and moved in a swinging manner, the direction in which the deposition surface faces is not the same direction. This makes it possible to configure vapor deposition surfaces with different characteristics on the front and back sides.

また、手段4では、前記光学基板の被蒸着面の向きが変位する方向は前記筐体内における蒸散する蒸着物質の気体球面の曲率中心方向であることをその要旨とする。
筐体内に蒸散する蒸着物質は概ねある曲率で広がる気体球面となる。そのため、被蒸着面の向きが気体球面曲率中心方向であれば蒸着の際にむらなく蒸着されやすくなるが、角度がずれると蒸着むらとなりやすくなる。そのため、被蒸着面の向きの変位する方向を蒸散する蒸着物質の気体球面の曲率中心方向とすることで、より蒸着むらを生じさせないようにすることができる。
Further, the gist of the means 4 is that the direction in which the direction of the vapor deposition surface of the optical substrate is displaced is the direction of the center of curvature of the gas spherical surface of the vapor deposition material that evaporates in the housing.
The vapor deposition material that evaporates in the housing becomes a gas spherical surface that spreads with a certain curvature. Therefore, if the direction of the deposition surface is in the direction of the center of curvature of the gas spherical surface, it is easy to deposit evenly during deposition, but if the angle is shifted, uneven deposition tends to occur. For this reason, by setting the direction in which the direction of the deposition surface is displaced to be the direction of the center of curvature of the gas spherical surface of the vapor deposition material that evaporates, it is possible to prevent the occurrence of uneven deposition.

また、手段5では、前記光学基板保持部材が反転する際の回転軸方向は前記筐体の中央から外方向に向かう線分と平行となることをその要旨とする。
このような方向を光学基板保持部材が反転する際の回転軸方向とすることで、複数の光学基板保持部材を配置する際に各光学基板保持部材をすべてを気体球面の接線方向に沿った方向に均等に配置しやすくなり、光学基板への均一な蒸着処理に寄与することとなる。尚、ここで平行とは一致することも含む概念である。
また、手段6では、前記光学基板保持部材が反転する際の回転軸方向は前記筐体の中央から外方向に向かって下向きとなる線分と平行となることをその要旨とする。
このような方向を光学基板保持部材が反転する際の回転軸方向とすることで、複数の光学基板保持部材を配置する際に各光学基板保持部材をすべてを蒸散する蒸着物質の気体球面の接線方向により正確に沿った方向に配置しやすくなり、光学基板への均等な蒸着処理に寄与することとなる。
また、手段7では、前記光学基板の180度対向位置にある縁部間において最も大きな移動量と最も小さな移動量となる前記包囲部における2つの位置を結ぶ線分は前記回転軸に沿った方向に配置されることをその要旨とする。
このような方向が最も光学基板の変位の大きな方向であるため、この方向と筐体の中央から外方向に向かう線分とを平行とすることで、より蒸散する蒸着物質の気体球面の形状に沿った角度に調整しやすくなる。
また、手段8では、前記光学基板保持部材は蒸着物質の気体球面の曲率中心方向に正対する位置に前記光学基板の外周及び外周寄り表裏面を包囲する第2の包囲部を有し、同第2の包囲部は同第2の包囲部内に収容される前記光学基板に厚み方向の移動を許容する移動空間を有するとともに、前記包囲部は前記移動空間内を移動した前記光学基板が平行移動となるように前記光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が均等とされているようにしたことをその要旨とする。
包囲部(以下の説明では第2の包囲部との違う意味で第1の包囲部とする)内で光学基板を揺動状に移動させるのは、できるだけ蒸散する蒸着物質の気体球面の曲率中心方向に被蒸着面を向かせるためである。しかし、光学基板保持部材の位置によっては光学基板を揺動させなくともその被蒸着面を蒸散する蒸着物質の気体球面の曲率中心方向に正対した位置となるケースもある。その場合においては揺動させる必要はないものの、第1の包囲部内に収容された光学基板と同様に移動させることで(そのため、移動量は概ね同様とすることがよい)蒸着源からの距離を同じにして蒸着量の均一化を図ることがよいからである。
Further, the gist of the means 5 is that the rotation axis direction when the optical substrate holding member is reversed is parallel to a line segment extending outward from the center of the casing.
By setting such a direction as the rotation axis direction when the optical substrate holding member is reversed, when arranging a plurality of optical substrate holding members, all of the optical substrate holding members are directions along the tangential direction of the gas spherical surface. It becomes easy to arrange them evenly, which contributes to uniform vapor deposition on the optical substrate. Here, “parallel” is a concept including matching.
Further, the gist of the means 6 is that the rotation axis direction when the optical substrate holding member is reversed is parallel to a line segment that faces downward from the center of the housing.
By setting such a direction as the rotation axis direction when the optical substrate holding member is reversed, when arranging a plurality of optical substrate holding members, the tangent to the gas spherical surface of the vapor deposition material that evaporates all of the optical substrate holding members It becomes easy to arrange | position in the direction along the direction correctly according to a direction, and will contribute to the uniform vapor deposition process to an optical substrate.
Further, in the means 7, the line segment connecting the two positions in the surrounding portion having the largest movement amount and the smallest movement amount between the edge portions at the 180-degree opposed positions of the optical substrate is a direction along the rotation axis. The gist is to be arranged in
Since such a direction is the direction in which the displacement of the optical substrate is the largest, by making this direction and a line segment going outward from the center of the housing, the shape of the gas spherical surface of the evaporation material to be evaporated more is obtained. It becomes easy to adjust to the angle along.
Further, in the means 8, the optical substrate holding member has a second surrounding portion surrounding the outer periphery and the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate at a position facing the curvature center direction of the gas spherical surface of the vapor deposition material. The surrounding portion has a moving space that allows the optical substrate accommodated in the second surrounding portion to move in the thickness direction, and the surrounding portion has the parallel movement of the optical substrate moved in the moving space. The gist of the invention is that the widths of the portions surrounding the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate are made uniform.
The optical substrate is moved in an oscillating manner within the surrounding portion (in the following description, the first surrounding portion is different in meaning from the second surrounding portion). This is because the deposition surface is directed in the direction. However, depending on the position of the optical substrate holding member, there may be a case where the optical substrate is positioned in the direction of the center of curvature of the gas spherical surface of the vapor deposition material that evaporates the deposition surface without swinging the optical substrate. In that case, although it is not necessary to swing, the distance from the vapor deposition source can be increased by moving the optical substrate in the same manner as the optical substrate accommodated in the first enclosure (so that the movement amount should be substantially the same). This is because it is preferable to make the deposition amount uniform in the same manner.

また、手段9では、密閉可能な筐体と、同筐体内の下部位置に配設された蒸着材料と、同蒸着材料を加熱する加熱手段と、前記筐体内の気圧を下げるための減圧手段とを備えた蒸着装置の前記筐体内の上部位置に1又は複数の光学基板を被蒸着面を露出させた状態で保持するために配置され、第1の支持位置と同第1の支持位置に対して反転した第2の支持位置でそれぞれ停止可能な光学基板保持部材であって、前記光学基板保持部材は前記光学基板の外周及び外周寄り表裏面を包囲する包囲部を有し、同包囲部は同包囲部内に収容される前記光学基板に厚み方向の移動を許容する移動空間を有するとともに、前記包囲部は前記移動空間内を移動した前記光学基板が平行移動とならないように前記光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が不均等とされていることをその要旨とする。   Further, the means 9 includes a case that can be sealed, a vapor deposition material disposed at a lower position in the case, a heating means that heats the vapor deposition material, and a pressure reduction means that lowers the atmospheric pressure in the case. Is disposed to hold one or a plurality of optical substrates in a state in which the deposition surface is exposed, at an upper position in the housing of the vapor deposition apparatus comprising the first support position and the first support position. Each of the optical substrate holding members that can be stopped at the inverted second support position, the optical substrate holding member having a surrounding portion that surrounds the outer periphery and front and back surfaces of the optical substrate, The optical substrate accommodated in the surrounding portion has a moving space that allows movement in the thickness direction, and the surrounding portion has an outer periphery of the optical substrate so that the optical substrate moved in the moving space does not move in parallel. Of the part surrounding the front and back There the gist that it is unequal.

このような構成の光学基板保持部材を蒸着装置に適用すれば、光学基板保持部材に保持された光学基板は第1の支持位置と第2の支持位置との間で光学基板保持部材が反転する際にそれに同期して包囲部内において移動空間を光学基板の厚み方向に移動する。そして、その際に包囲部は移動空間内を移動した光学基板が平行移動とならないように光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が不均等とされているため、光学基板は包囲部内でほとんどの断面方向では扇状形状に揺動する動作となる(最も大きく揺動する方向と直交する方向の180度対向する位置では平行的な移動となる)。そのため例えば光学基板保持部材の位置(向き)や傾きや高さ等の蒸着環境に併せて所望の蒸着ができるように光学基板の被蒸着面の向きを所望の方向に変位させることができる。字句の意義については上記と同様である。   If the optical substrate holding member having such a configuration is applied to the vapor deposition apparatus, the optical substrate held by the optical substrate holding member is inverted between the first support position and the second support position. At the same time, the moving space is moved in the thickness direction of the optical substrate in the surrounding portion in synchronism. In this case, the width of the portion surrounding the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate is not uniform so that the optical substrate moved in the moving space does not move in parallel. In most of the cross-sectional directions, the movement swings in a fan shape (the movement is parallel at a position facing 180 degrees in the direction orthogonal to the largest swinging direction). Therefore, for example, the direction of the deposition surface of the optical substrate can be displaced in a desired direction so that desired deposition can be performed in accordance with the deposition environment such as the position (orientation), inclination, and height of the optical substrate holding member. The meaning of lexical terms is the same as above.

また、手段10では、前記光学基板の180度対向位置にある縁部間において最も大きな移動量と最も小さな移動量となる前記包囲部における2つの位置を結ぶ線分は反転する際の回転軸に沿った方向に配置されることをその要旨とする。
このような方向が最も光学基板の変位の大きな方向であるため、この方向と筐体の中央から外方向に向かう線分とを平行とすることで、より蒸散する蒸着物質の気体球面の形状に沿った角度に調整しやすくなる。
また、手段11では、前記光学基板保持部材は厚み方向に2分割された2枚の板状体から構成されていることをその要旨とする。
このように光学基板保持部材が厚み方向に2分割された2枚の板状体から構成されていると、片方の板状体に包囲部とともに光学基板を載置し、他方の板状体で包囲部を押さえて支持するような態様が可能となり、作業性が向上する。
また、手段12では、前記包囲部は前記光学基板保持部材に形成された取り付け穴に対して別部材として取り付け可能とされていることをその要旨とする。
このように包囲部が別部材とされていると、光学基板の揺動方向を包囲部の取り付け穴に対する位相を変更することで自在に変更することができる。また、包囲部に光学基板を収容した状態でこの包囲部を光学基板保持部材に取着することができ、作業性が向上することとなる。
また、手段13では、前記包囲部は幅方向に2分割された分割体を合体させて前記移動空間を形成するようにしたことをその要旨とする。
このように構成すれば光学基板を片方の分割体に収容した後、他方の分割体を合体させることで光学基板が移動空間から脱落することがなくなるため、合体させた状態の光学基板を取り扱うことで光学基板を安全に運搬することが可能となる。
また、手段14では、前記包囲部の前記光学基板の外周に面した内周面には周方向に対して直交する方向において、外に凸となるようなカーブ面が形成されていることをその要旨とする。
このようなカーブ面を形成することで、光学基板を収容した際に包囲部の内周面に接近した位置に光学基板があっても、揺動する際に光学基板を包囲部の内周面と干渉することがなくなる。
Further, in the means 10, the line segment connecting the two positions in the surrounding portion, which has the largest movement amount and the smallest movement amount between the edge portions at the 180-degree facing position of the optical substrate, is the rotation axis when reversing. Its gist is to be arranged in the direction along.
Since such a direction is the direction in which the displacement of the optical substrate is the largest, by making this direction and a line segment going outward from the center of the housing, the shape of the gas spherical surface of the evaporation material to be evaporated more is obtained. It becomes easy to adjust to the angle along.
Further, the gist of the means 11 is that the optical substrate holding member is composed of two plate-like bodies divided into two in the thickness direction.
In this way, when the optical substrate holding member is composed of two plate-like bodies divided into two in the thickness direction, the optical substrate is placed together with the surrounding portion on one plate-like body, and the other plate-like body is used. A mode in which the surrounding portion is pressed and supported becomes possible, and workability is improved.
Further, the gist of the means 12 is that the surrounding portion can be attached as a separate member to an attachment hole formed in the optical substrate holding member.
In this way, when the surrounding portion is a separate member, the swinging direction of the optical substrate can be freely changed by changing the phase of the surrounding portion with respect to the mounting hole. Further, the enveloping part can be attached to the optical substrate holding member in a state in which the optical substrate is accommodated in the encircling part, and workability is improved.
Further, the gist of the means 13 is that the surrounding portion is formed by combining the divided parts divided in the width direction to form the moving space.
With this configuration, after the optical substrate is accommodated in one divided body, the optical substrate is not dropped from the moving space by combining the other divided body, so that the combined optical substrate is handled. Thus, the optical substrate can be safely transported.
Further, in the means 14, the inner peripheral surface facing the outer periphery of the optical substrate of the surrounding portion is formed with a curved surface that is convex outward in a direction orthogonal to the circumferential direction. The gist.
By forming such a curved surface, even when the optical substrate is in a position close to the inner peripheral surface of the surrounding portion when the optical substrate is accommodated, the inner peripheral surface of the surrounding portion is moved when the optical substrate is swung. No longer interferes with

本発明では、反転可能な光学基板保持部材を使用して光学基板の表裏に蒸着処理をする際に、蒸着材料の蒸散状況に合わせた所望の蒸着処理が可能となる。   In the present invention, when vapor deposition processing is performed on the front and back surfaces of the optical substrate using the reversible optical substrate holding member, desired vapor deposition processing according to the evaporation state of the vapor deposition material is possible.

実施の形態の蒸着装置の模式図。The schematic diagram of the vapor deposition apparatus of embodiment. (a)及び(b)は実施の形態のホルダーを構成するプレート片の平面図。(A) And (b) is a top view of the plate piece which comprises the holder of embodiment. (a)はプレート片の透孔の上方に第1のリングを配置した状態の説明図、(b)は透孔内に第1のリングを配置した状態の説明図。(A) is explanatory drawing of the state which has arrange | positioned the 1st ring above the through-hole of a plate piece, (b) is explanatory drawing of the state which has arrange | positioned the 1st ring in the through-hole. (a)は図3(b)の状態において第1のリング内にレンズ基材を載置した状態の説明図、(b)はその上に組となる第1のリングを配置し、もう片方のプレート片を配置した状態の説明図。3A is an explanatory diagram of a state in which the lens base material is placed in the first ring in the state of FIG. 3B, and FIG. 3B is a diagram illustrating the arrangement of the first ring that forms a pair on the other side. Explanatory drawing of the state which has arrange | positioned the plate piece. (a)はホルダー内にレンズ基材を収容した状態の説明図、(b)は(a)を反転させた状態の説明図。(A) is explanatory drawing of the state which accommodated the lens base material in the holder, (b) is explanatory drawing of the state which reversed (a). 第1のリングの斜視図。The perspective view of a 1st ring. (a)はプレート片の透孔の上方に第2のリングを配置した状態の説明図、(b)は透孔内に第2のリングを配置した状態の説明図。(A) is explanatory drawing of the state which has arrange | positioned the 2nd ring above the through-hole of a plate piece, (b) is explanatory drawing of the state which has arrange | positioned the 2nd ring in the through-hole. レンズ基材を収容したホルダーの平面図。The top view of the holder which accommodated the lens base material. レンズ基材と気体球面の曲率中心方向との関係を説明する模式図。The schematic diagram explaining the relationship between a lens base material and the curvature center direction of a gas spherical surface. (a)及び(b)は他の実施の形態のホルダーを説明する説明図である。(A) And (b) is explanatory drawing explaining the holder of other embodiment.

以下、本発明の蒸着装置及び蒸着装置用光学基板保持部材を具体化した実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1に示すように、本実施の形態の蒸着装置は筐体としての減圧室1を有している。減圧室1内へのアクセスは図示しない扉を開放して行う。減圧室1は扉を閉じることで内部を外気と遮断した密閉状態とすることが可能である。減圧室1内にはダクト2を介してポンプ装置3が接続されている。蒸着時においてポンプ装置3を駆動させることで減圧室1内部をいわゆる真空引きして1×10−4〜1×10−3程度の真空度とすることが可能となっている。減圧室1内の下部の床板1a上には第1の蒸着源5と第2の蒸着源6が配設されている。本実施の形態では第1の蒸着源5は加熱手段としての電子銃と蒸着材料を収容した蒸着槽から構成され、第2の蒸着源6は加熱手段としてのジュール熱による抵抗加熱装置と蒸着材料を収容した蒸着槽から構成されている。各蒸着源5、6にはそれぞれシャッタ7が併設されている。シャッタ7の位置によって蒸着物質の蒸散を制御する。すなわちシャッタ7を移動させて各蒸着源5、6の上面に配置することで蒸着物質の蒸散をさせず、シャッタ7を各蒸着源5、6の上面からずれた位置とすることで蒸着物質の蒸散を可能とする。減圧室1内の側壁1bに面してハロゲンヒーター8が配設されている。ハロゲンヒーター8は減圧室1内部を加熱し、レンズ基材Lに含まれる水分を減少させるために使用される。減圧室1内の側壁1bの対向する2面には左右一対の補正板9が配設されている。補正板9は蒸散する蒸着物質の蒸散方向を制御する。補正板9の上方位置には係合突起10が突設形成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments embodying a vapor deposition apparatus and an optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
As shown in FIG. 1, the vapor deposition apparatus of this Embodiment has the decompression chamber 1 as a housing | casing. Access to the decompression chamber 1 is performed by opening a door (not shown). The decompression chamber 1 can be in a sealed state in which the inside is shut off from the outside air by closing the door. A pump device 3 is connected to the decompression chamber 1 through a duct 2. By driving the pump device 3 during vapor deposition, the inside of the decompression chamber 1 can be evacuated to a vacuum degree of about 1 × 10 −4 to 1 × 10 −3 . A first vapor deposition source 5 and a second vapor deposition source 6 are disposed on the lower floor board 1 a in the decompression chamber 1. In the present embodiment, the first vapor deposition source 5 is composed of an electron gun as a heating means and a vapor deposition tank containing vapor deposition material, and the second vapor deposition source 6 is a resistance heating device and vapor deposition material by Joule heat as a heating means. It is comprised from the vapor deposition tank which accommodated. Each of the vapor deposition sources 5 and 6 is provided with a shutter 7. The evaporation of the vapor deposition material is controlled by the position of the shutter 7. That is, by moving the shutter 7 and placing it on the upper surface of each vapor deposition source 5, 6, the vapor deposition material does not evaporate, and by placing the shutter 7 at a position shifted from the upper surface of each vapor deposition source 5, 6 Allow transpiration. A halogen heater 8 is disposed facing the side wall 1 b in the decompression chamber 1. The halogen heater 8 is used to heat the inside of the decompression chamber 1 and reduce the moisture contained in the lens substrate L. A pair of right and left correction plates 9 are disposed on two opposing surfaces of the side wall 1b in the decompression chamber 1. The correction plate 9 controls the transpiration direction of the vapor deposition material to be transpiration. An engaging protrusion 10 is formed to project from the position above the correction plate 9.

減圧室1の天板1c上には駆動手段としてのモータ装置11が配設されている。モータ装置11の図示しない回転軸は天板1cを貫通して減圧室1内において天板1cの下面に配設された回転子12に接続されている。図1〜図5に示すように、減圧室1内の上部位置に配置される回転子12の外周位置には光学基板保持部材としての複数の(本実施の形態では6基の)同形状のホルダー13が配設されている。各ホルダー13は回転子12の外周に等間隔に片持ち梁状に配置され、図2に示すような挿入部14を介して回転子12側のラチェット部15に対して着脱可能に支持されている。本実施の形態では各ホルダー13は天板1cの中央位置に配置された回転子12から外方に向かって延出され、かつ外下がりに取り付けられている。各ホルダー13は幅方向が水平において配置され一方の面が下方を向いた第1の支持位置と、180度反転した第2の支持位置とを取り得る。   On the top plate 1c of the decompression chamber 1, a motor device 11 as a driving means is disposed. A rotating shaft (not shown) of the motor device 11 passes through the top plate 1 c and is connected to a rotor 12 disposed on the lower surface of the top plate 1 c in the decompression chamber 1. As shown in FIGS. 1 to 5, a plurality of (six in the present embodiment) identical shapes as optical substrate holding members are disposed at the outer peripheral position of the rotor 12 disposed at the upper position in the decompression chamber 1. A holder 13 is provided. Each holder 13 is disposed in a cantilever shape at equal intervals on the outer periphery of the rotor 12, and is detachably supported on a ratchet portion 15 on the rotor 12 side through an insertion portion 14 as shown in FIG. Yes. In the present embodiment, each holder 13 extends outward from the rotor 12 disposed at the center position of the top plate 1c and is attached to the outer side. Each holder 13 can take a first support position in which the width direction is horizontally arranged and one surface faces downward, and a second support position reversed 180 degrees.

次に、ホルダー13の詳細な構成について説明する。
図2に示すように、ホルダー13は同形状の2枚のプレート片13A、13Bから構成されている。各プレート片13A、13Bは平面視において台形形状の薄い平板から構成されている。使用時においては両プレート片13A、13Bは互いの対向面13aを当接させるように重ねられることとなる。
各プレート片13A、13Bにはそれぞれ4つの透孔21が形成されている。透孔21は台形形状の短辺側(基部側となる)から順に1−1−2の順に配列されている。図2において最も上の透孔21を透孔21A、中間を透孔21B、最も下を透孔21Cとする。各透孔21A〜21Cは図2における左右方向において線対称(あるいは鏡像対象)となるように配置されているため回転軸回りに上下反転させても透孔21A〜21Cの位置は変化しない。図2〜図5に示すように、各プレート片13A、13Bの対向面13a側となる各透孔21A〜21Cの外周には全周にわたって凹状段差部22が形成されている。透孔21A〜21Cに隣接した位置には合計6つの(複数の)ネジ穴23が形成されている。プレート片13Aの透孔21Aと透孔21Cに隣接した対向面13aには位置決め手段としての第1のマーク26が形成されている。図2(a)に示すように、本実施の形態では第1のマーク26は印刷による白色の三角で示されている。後述するように第1のリング27の向きの相違から透孔21Aと透孔21Cでは異なった位置、すなわち180度位相のずれた位置に形成されている。
プレート片13Aの幅広側となる先端中央位置には十字形状のフック部を有する係合フック24が形成されている。プレート片13Bの幅狭側となる基端側中央位置には前記挿入部14が形成されている。挿入部14の長手方向に沿った中心線方向が回転軸方向とされる。
Next, a detailed configuration of the holder 13 will be described.
As shown in FIG. 2, the holder 13 includes two plate pieces 13A and 13B having the same shape. Each of the plate pieces 13A and 13B is formed of a trapezoidal thin flat plate in a plan view. At the time of use, both plate pieces 13A and 13B are overlapped so that the opposing surfaces 13a abut each other.
Four through holes 21 are formed in each of the plate pieces 13A and 13B. The through-holes 21 are arranged in the order of 1-1-2 from the trapezoidal short side (becomes the base side). In FIG. 2, the uppermost through hole 21 is a through hole 21A, the middle is a through hole 21B, and the lowermost is a through hole 21C. Since the through holes 21A to 21C are arranged so as to be line symmetric (or mirror images) in the left-right direction in FIG. 2, the positions of the through holes 21A to 21C do not change even if they are turned upside down around the rotation axis. As shown in FIGS. 2 to 5, a concave step portion 22 is formed on the outer circumference of each of the through holes 21 </ b> A to 21 </ b> C on the facing surface 13 a side of each plate piece 13 </ b> A, 13 </ b> B. A total of six (a plurality of) screw holes 23 are formed at positions adjacent to the through holes 21A to 21C. A first mark 26 as a positioning means is formed on the opposing surface 13a adjacent to the through holes 21A and 21C of the plate piece 13A. As shown in FIG. 2A, in the present embodiment, the first mark 26 is indicated by a white triangle by printing. As will be described later, due to the difference in the orientation of the first ring 27, the through hole 21A and the through hole 21C are formed at different positions, that is, at positions shifted by 180 degrees in phase.
An engagement hook 24 having a cross-shaped hook portion is formed at the center of the tip, which is the wide side of the plate piece 13A. The insertion portion 14 is formed at the center position on the base end side which is the narrow side of the plate piece 13B. The center line direction along the longitudinal direction of the insertion portion 14 is the rotation axis direction.

図3〜図8に示すように、透孔21A〜21Cには包囲部としての第1及び第2のリング27、28が配設される。第1のリング27は透孔21A、21Cに使用され、第2のリング28は透孔21Bに使用される。基本的な構成は両リング27、28ともに同じであるため、以下ではまず第1のリング27を説明し、その後第1のリング27との比較で第2のリング28を説明する。
第1のリング27は真円形状に内部を包囲する周壁29と、周壁29の外側においてその全周囲を包囲する凸状段差部30と、凸状段差部30の外側においてその全周囲を包囲するフランジ部31から構成されている。周壁29、凸状段差部30及びフランジ部31はそれぞれリングの外周側では段差状に配置され、リングの内周側、つまり内周面37はこれら周壁29、凸状段差部30及びフランジ部31の高さ分の幅を有するとともに幅方向において外側にわずかに凸となるように湾曲した(膨らんだ)環状の立体的な曲面とされている。
As shown in FIGS. 3 to 8, first and second rings 27 and 28 as surrounding portions are disposed in the through holes 21 </ b> A to 21 </ b> C. The first ring 27 is used for the through holes 21A and 21C, and the second ring 28 is used for the through holes 21B. Since both the rings 27 and 28 are the same in basic configuration, the first ring 27 will be described first, and then the second ring 28 will be described in comparison with the first ring 27.
The first ring 27 surrounds the inside in a perfect circle shape, the convex stepped portion 30 surrounding the entire periphery outside the peripheral wall 29, and the entire periphery outside the convex stepped portion 30. It is comprised from the flange part 31. FIG. The peripheral wall 29, the convex stepped portion 30, and the flange portion 31 are arranged in steps on the outer peripheral side of the ring, and the inner peripheral side of the ring, that is, the inner peripheral surface 37 is the peripheral wall 29, the convex stepped portion 30, and the flange portion 31. And a three-dimensional curved surface that is curved (swelled) so as to be slightly convex outward in the width direction.

フランジ部31の裏面側は平面に構成された当接面32とされている。第1のリング27は同形状の一対を一組として使用し、一組の第1のリング27(リング27Aとリング27B)は当接面32同士で当接されてレンズ基材Lを収容して内部で移動させる移動空間Eを構成する。第1のリング27の各当接面32にはそれぞれ位置決め手段としての凹部33と凸体34とが形成されている。以下では、凹部33が形成されている側をリング27Aとし、凸体34が形成されている側をリング27Bとする。
図6(b)に示すように、リング27Aにはちょうど凹部33と180度対向する位置のフランジ部31の表側に位置決め手段としての第2のマーク35が形成されている。第2のマーク35は本実施の形態では第2のマーク35は印刷による白色の丸で示されている。
周壁29は連続的に周方向に高さが変位するあたかも竹を斜めに剪断したようなような形態とされている。周壁29の最も高い位置H1と最も低い位置H2はちょうど180度対向する位置に配置される。つまり、最も高い位置H1と最も低い位置H2を結ぶ直径方向の直線Lnと直交する方向における180度対向する位置のみが周壁29の高さが均等となる対向位置とされる。本実施の形態では最も高い位置H1と最も低い位置H2は4:1の比率としているが、ホルダー13の角度や形状等の条件によって比率は変更可能である。このように周壁29の高さは均等でないためリング27の内周面37は高さ(幅)方向において均等とならない面とされる。周壁29の先端には内方に向かって突出する小フランジ36が形成されている。小フランジ36は周壁29の全周にわたって同じ突出量で形成されている。
以上が、第1のリング27についての説明である。次に第2のリング28について説明する。図7(a)(b)に示すように、第2のリング28は第1のリング27において周壁29を有さず凸状段差部30とフランジ部31のみの外形とされている。そのため、第2のリング28の内周面37は高さ(幅)方向において均等な面とされる。また、第2のリング28の透孔21Bに対する周方向の位相に特異性はないため(つまりどのような位置でも構わない)、凹部33と凸体34のような位置決め手段はない。
The rear surface side of the flange portion 31 is a contact surface 32 configured in a plane. The first ring 27 uses a pair of the same shape as a pair, and the pair of first rings 27 (ring 27A and ring 27B) are brought into contact with each other at the contact surfaces 32 to accommodate the lens base L. The moving space E to be moved inside is configured. Each contact surface 32 of the first ring 27 is formed with a concave portion 33 and a convex body 34 as positioning means. Hereinafter, the side on which the concave portion 33 is formed is referred to as a ring 27A, and the side on which the convex body 34 is formed is referred to as a ring 27B.
As shown in FIG. 6B, the ring 27A is provided with a second mark 35 as a positioning means on the front side of the flange portion 31 at a position just opposite to the concave portion 33 by 180 degrees. In the present embodiment, the second mark 35 is indicated by a white circle by printing.
The peripheral wall 29 has a shape as if the height of the peripheral wall 29 is continuously displaced in the circumferential direction as if the bamboo was sheared diagonally. The highest position H1 and the lowest position H2 of the peripheral wall 29 are arranged at positions that face each other exactly 180 degrees. That is, only the positions that face 180 degrees in the direction orthogonal to the straight line Ln in the diameter direction connecting the highest position H1 and the lowest position H2 are the facing positions where the height of the peripheral wall 29 is uniform. In the present embodiment, the highest position H1 and the lowest position H2 have a ratio of 4: 1, but the ratio can be changed depending on conditions such as the angle and shape of the holder 13. Thus, since the height of the peripheral wall 29 is not uniform, the inner peripheral surface 37 of the ring 27 is a surface that is not uniform in the height (width) direction. A small flange 36 that protrudes inward is formed at the tip of the peripheral wall 29. The small flange 36 is formed with the same protruding amount over the entire circumference of the peripheral wall 29.
The above is the description of the first ring 27. Next, the second ring 28 will be described. As shown in FIGS. 7A and 7B, the second ring 28 does not have the peripheral wall 29 in the first ring 27 and has an outer shape only of the convex stepped portion 30 and the flange portion 31. Therefore, the inner peripheral surface 37 of the second ring 28 is a uniform surface in the height (width) direction. Further, since there is no specificity in the circumferential phase of the second ring 28 with respect to the through hole 21B (that is, any position is acceptable), there is no positioning means such as the concave portion 33 and the convex body 34.

ホルダー13へのリング27の装着作業は蒸着されるレンズ基材Lとともに行われる。まず、透孔21A、21Cへの第1のリング27の装着方法について説明する。
図3(a)に示すように、ホルダー13のプレート片13Aの透孔21Aに対して凹状段差部22側からリング27Aを落とし込む。このとき、第1のマーク26の位置にリング27Aのフランジ部31に形成された第2のマーク35の向きを一致させるようにすることで、リング27Aをホルダー13に対して位置決め(所定の位相となるように配置すること)がされる。
透孔21A内にリング27Aを配置すると、凹状段差部22にフランジ部31がちょうど嵌まり込み、凸状段差部30は透孔21Aの内周に接する。リング27Aはプレート片13Aと一体化して周壁29のみが透孔21Aの反対側から外方に露出するような状態となる(図3(b)の状態)。次いで、図4(a)のようにレンズ基材Lをその周縁が小フランジ36上に載るようにリング27A内に配置する。
続いて図4(b)の矢印1のようにリング27Bをリング27Aの上に載置する。このとき、リング27Bの凸体34を凹部33に嵌合されるように載置することで、リング27Aに対するリング27Bの位置決めが自動的にされる。この状態は図5(a)(b)に示すようにリング27Aとリング27Bの最も高い位置H1と最も低い位置Hが一致した位相状態である。このようにリング27Aとリング27Bを合体させることで内周面37の幅が大きく異なった移動空間Eが構成されることとなる。
以上は、透孔21Aにリング27Aを取り付ける場合の動作である。本実施の形態ではリング27Aを透孔21Cに取り付ける場合もこのリング27Aに取り付ける場合と基本的に同様であるが、図9に示すように透孔21Cに取り付ける場合では周壁29の最も高い位置H1と最も低い位置H2の向きがちょうどリング27Aに取り付ける場合と鏡像関係になるように180度向きを変えることとなる。
The mounting operation of the ring 27 to the holder 13 is performed together with the lens base material L to be deposited. First, a method of attaching the first ring 27 to the through holes 21A and 21C will be described.
As shown in FIG. 3A, the ring 27A is dropped into the through hole 21A of the plate piece 13A of the holder 13 from the concave stepped portion 22 side. At this time, by aligning the direction of the second mark 35 formed on the flange portion 31 of the ring 27A with the position of the first mark 26, the ring 27A is positioned with respect to the holder 13 (predetermined phase). To be arranged).
When the ring 27A is disposed in the through hole 21A, the flange 31 is just fitted into the concave stepped portion 22, and the convex stepped portion 30 is in contact with the inner periphery of the through hole 21A. The ring 27A is integrated with the plate piece 13A so that only the peripheral wall 29 is exposed outward from the opposite side of the through hole 21A (the state shown in FIG. 3B). Next, as shown in FIG. 4A, the lens base material L is arranged in the ring 27A so that the peripheral edge thereof rests on the small flange 36.
Subsequently, the ring 27B is placed on the ring 27A as indicated by an arrow 1 in FIG. At this time, by positioning the convex body 34 of the ring 27B so as to be fitted into the concave portion 33, the positioning of the ring 27B with respect to the ring 27A is automatically performed. This state is a phase state in which the highest position H1 and the lowest position H of the rings 27A and 27B coincide with each other as shown in FIGS. In this way, by combining the ring 27A and the ring 27B, a moving space E in which the width of the inner peripheral surface 37 is greatly different is formed.
The above is the operation when the ring 27A is attached to the through hole 21A. In the present embodiment, the case where the ring 27A is attached to the through hole 21C is basically the same as the case where the ring 27A is attached to the ring 27A. However, when the ring 27A is attached to the through hole 21C as shown in FIG. The direction of 180 ° is changed so that the direction of the lowest position H2 is just a mirror image with the case where it is attached to the ring 27A.

次に、透孔21Bに装着される第2のリング28について説明する。この場合においても基本的には上記第1のリング27と同様であって、一組の第2のリング27(リング28Aとリング28B)を合体させるものとする。但し、リング28Bは図示は省略する。図7(a)に示すようにホルダー13のプレート片13Aの透孔21Bに対して凹状段差部22側からリング28Aを落とし込むようにする。この場合には凹状段差部22には第1のマーク26は形成されておらず、特に周方向の位相に配慮する必要はない。凹状段差部22にフランジ部31が嵌まり込み、凸状段差部30は透孔21Aの内周に接するのは同様であるが、透孔21A、21Cのように周壁29が反対側に露出することはなく、ちょうどぴったりとプレート片13Aの厚みに収まる(図7(b)の状態)。その後は第1のリング27と同様にレンズ基材Lをその周縁が小フランジ36上に載るようにリング28A内に配置する。そして、同形状のリング28Bをやはり周方向の位相に配慮することなく載置する。
すべての透孔21A〜21C内に一組の第1のリング27と一組の第2のリング28を配置した段階で、図4の矢印2のようにプレート片13Aにプレート片13Bを重ねる。次いで、照合されたネジ穴23を固定手段としてのネジ38で締結することで図9に示すようにホルダー13へのリング27の装着が完了する。
図8に示すように、本実施の形態では透孔21Aに装着された第1のリング27は最も高い位置H1が基部側(挿入部14側)に配置され、かつ最も高い位置H1と最も低い位置H2を結ぶ直線Lnが回転軸と平行(あるいは一致)するような周方向位置とされる。また、透孔21Cに装着された第1のリング27は最も高い位置H1が先端側に配置され、かつ最も高い位置H1と最も低い位置H2を結ぶ直線Lnが回転軸と平行(あるいは一致)するような周方向位置とされる。
Next, the second ring 28 attached to the through hole 21B will be described. Also in this case, it is basically the same as the first ring 27 described above, and a pair of second rings 27 (ring 28A and ring 28B) are combined. However, the ring 28B is not shown. As shown in FIG. 7A, the ring 28A is dropped from the concave stepped portion 22 side into the through hole 21B of the plate piece 13A of the holder 13. In this case, the first mark 26 is not formed in the concave stepped portion 22, and there is no need to particularly consider the circumferential phase. The flange portion 31 is fitted into the concave step portion 22 and the convex step portion 30 is in contact with the inner periphery of the through hole 21A, but the peripheral wall 29 is exposed to the opposite side like the through holes 21A and 21C. There is nothing, and it fits exactly in the thickness of the plate piece 13A (the state of FIG. 7B). Thereafter, like the first ring 27, the lens substrate L is arranged in the ring 28A so that the peripheral edge thereof rests on the small flange 36. The ring 28 </ b> B having the same shape is placed without considering the circumferential phase.
At the stage where a set of first rings 27 and a set of second rings 28 are arranged in all the through holes 21A to 21C, the plate pieces 13B are overlapped with the plate pieces 13A as indicated by the arrow 2 in FIG. Next, the collated screw hole 23 is fastened with a screw 38 as a fixing means, whereby the attachment of the ring 27 to the holder 13 is completed as shown in FIG.
As shown in FIG. 8, in the present embodiment, the first ring 27 attached to the through-hole 21A has the highest position H1 arranged on the base side (insertion part 14 side) and the lowest with the highest position H1. The position in the circumferential direction is such that the straight line Ln connecting the positions H2 is parallel (or coincides) with the rotation axis. The first ring 27 attached to the through hole 21C has the highest position H1 disposed on the tip side, and a straight line Ln connecting the highest position H1 and the lowest position H2 is parallel (or coincides) with the rotation axis. It is set as such a circumferential direction position.

このようにレンズ基材Lが第1及び第2のリング27、28内に収容されたホルダー13は、図1に示すように台形形状の幅広側が外向きになるように減圧室1内の上部位置に配置された回転子12のラチェット部15に挿入部14を介して装着される。挿入部14はラチェット部15に対して着脱可能とされ、かつラチェット部15に対して一方向に回動可能に支持されることとなる。   Thus, the holder 13 in which the lens base material L is accommodated in the first and second rings 27 and 28 is an upper portion in the decompression chamber 1 so that the wide side of the trapezoidal shape faces outward as shown in FIG. It is attached to the ratchet portion 15 of the rotor 12 arranged at the position via the insertion portion 14. The insertion portion 14 is detachably attached to the ratchet portion 15 and is supported so as to be rotatable in one direction with respect to the ratchet portion 15.

このような構成の蒸着装置では次のように蒸着処理が行われる。
定石に従ってポンプ装置を駆動させて減圧室1内を減圧し、ハロゲンヒーター8で加温した状態で第1の蒸着源5及び第2の蒸着源6を駆動させて蒸着材料を蒸散させる。減圧室1内にはある曲率で蒸着材料の気体球面が広がっていくこととなる。
図9はレンズ基材Lと気体球面の曲率中心方向との関係を説明する模式図である。ホルダー上のレンズ基材Lの被蒸着面(つまり、レンズ表裏面)はなるべくこの気体球面の曲率中心方向を指向することが蒸着むらを低減するためによい。この図9ではB位置では曲率中心方向を指向しているがA位置とC位置ではずれており、そのため破線のようにその指向する向きを曲率中心方向に変位させるわけである。第1のリング27はこのA位置とC位置での変位を実現させるものとなる。本実施の形態では透孔21AがA位置に相当し、透孔21BがB位置に相当し、透孔21CがC位置に相当する。以下ではこのような点を踏まえて説明する。
本実施の形態では、ホルダー13は上記のように回転軸回りに回転して第1の支持位置と180度反転した第2の支持位置とを取り得る。まず、ホルダー13の第1の支持位置を基準位置として蒸着作業が行われるものとする。この基準位置におけるホルダー13の水平方向に対する下方へ下がる角度はちょうど透孔21Bに配置されたレンズ基材Lが計算上ではちょうど気体球面の曲率中心方向を指向する設定とされている。つまり気体球面の曲率中心方向は概ねホルダー13の延出方向に直交する方向となる。そのため透孔21Bではレンズ基材Lをホルダー13の延出方向に対して傾かせることなく反転する毎に常に平行移動するように第2のリング28に保持させている。
一方、中心側に配置されている透孔21Aでは図5(a)に示すように、第1のリング27に周壁29を設け、かつホルダー13の延出方向に対して周壁29に角度を設けているためレンズ基材Lはホルダー13の延出方向に対して若干傾いた状態で保持されるわけである。この傾きはちょうど気体球面の曲率中心方向(実線矢印方向)と概ね一致する方向である。ホルダー13の延出方向に直交する方向は点線矢印方向であるため、透孔21Aではより蒸着むらの生じない方向に変位されていることとなる。
また、中心から離間した外位置に配置されている透孔21Cでも同様にレンズ基材Lは第1のリング27よって傾いた状態で保持される。但し、図5(a)の状態とは周壁29の角度が逆方向であるためレンズ基材Lは透孔21Aに保持されたレンズ基材Lとは逆方向を指向するが、その方向は透孔21A内のレンズ基材Lと同様に気体球面の曲率中心方向(実線矢印方向)と概ね一致する方向となる。
In the vapor deposition apparatus having such a configuration, the vapor deposition process is performed as follows.
The pump device is driven according to the fixed stone, the pressure inside the decompression chamber 1 is reduced, and the first vapor deposition source 5 and the second vapor deposition source 6 are driven in a state heated by the halogen heater 8 to evaporate the vapor deposition material. In the decompression chamber 1, the gas spherical surface of the vapor deposition material spreads with a certain curvature.
FIG. 9 is a schematic diagram for explaining the relationship between the lens base L and the direction of the center of curvature of the gas spherical surface. In order to reduce uneven deposition, it is preferable that the deposition surface (that is, the lens front and back surfaces) of the lens substrate L on the holder be directed in the direction of the center of curvature of the gas spherical surface as much as possible. In FIG. 9, the center of curvature is directed at the B position, but is shifted at the A position and the C position. Therefore, the orientation is displaced toward the center of curvature as indicated by a broken line. The first ring 27 realizes the displacement at the A position and the C position. In the present embodiment, the through hole 21A corresponds to the A position, the through hole 21B corresponds to the B position, and the through hole 21C corresponds to the C position. The following description is based on these points.
In the present embodiment, the holder 13 can rotate around the rotation axis as described above to take the first support position and the second support position reversed 180 degrees. First, it is assumed that the vapor deposition operation is performed using the first support position of the holder 13 as a reference position. The angle at which the holder 13 is lowered downward with respect to the horizontal direction at the reference position is set so that the lens base material L disposed in the through hole 21B is directed in the direction of the center of curvature of the gas spherical surface. That is, the curvature center direction of the gas spherical surface is substantially perpendicular to the extending direction of the holder 13. Therefore, the lens base L is held in the second ring 28 so as to always move in parallel through the through-hole 21 </ b> B without being inclined with respect to the extending direction of the holder 13.
On the other hand, in the through hole 21A arranged on the center side, as shown in FIG. 5A, a peripheral wall 29 is provided on the first ring 27 and an angle is provided on the peripheral wall 29 with respect to the extending direction of the holder 13. Therefore, the lens base L is held in a state slightly inclined with respect to the extending direction of the holder 13. This inclination is a direction that approximately coincides with the direction of the center of curvature of the gas spherical surface (the direction of the solid arrow). Since the direction orthogonal to the extending direction of the holder 13 is a dotted arrow direction, the through hole 21 </ b> A is displaced in a direction that does not cause uneven deposition.
Similarly, the lens substrate L is held in an inclined state by the first ring 27 even in the through hole 21 </ b> C arranged at an outer position away from the center. However, since the angle of the peripheral wall 29 is opposite to the state shown in FIG. 5A, the lens base L is directed in the opposite direction to the lens base L held in the through hole 21A. Similar to the lens base L in the hole 21A, the direction is substantially the same as the curvature center direction (solid arrow direction) of the gas spherical surface.

さて、レンズ基材Lの片面に対して定石に従って所定の蒸着処理が行われた段階で、モータ装置11が駆動され、回転子12は所定の回転動作をする。ホルダー13は回転子12の回転に伴って周方向に移動させられプレート片13Aの係合フック24が減圧室1内の係合突起10に干渉して上下反転して停止する。この回転した位置がホルダー13の第2の支持位置とされる。そして、反対側の面に対して続けて蒸着処理を行う。
このとき、図5(b)に示すように透孔21Aではレンズ基材Lは移動空間E内で揺動する動きをしながら平行とはならないように移動して逆側の小フランジ36に保持されることとなる。このように反転しても反転前と同様の角度でレンズ基材Lは第1のリング27に保持されることとなる。つまり、透孔21A内に収容されるレンズ基材Lは反転しても常に気体球面の曲率中心方向を指向する。また、透孔21Cでも同様である。透孔21Bではレンズ基材Lは平行移動することとなる。
このような位置で定石に従って所定の蒸着処理が行われた後に、減圧室1内の減圧状態を解除してホルダー13ごと減圧室1から取り出して第1及び第2のリング27、28とともにレンズ基材Lをホルダー13から取り外すようにする。
Now, when a predetermined vapor deposition process is performed on one side of the lens substrate L according to a fixed stone, the motor device 11 is driven and the rotor 12 performs a predetermined rotation operation. The holder 13 is moved in the circumferential direction along with the rotation of the rotor 12, and the engagement hook 24 of the plate piece 13A interferes with the engagement protrusion 10 in the decompression chamber 1 and is turned upside down and stopped. This rotated position is the second support position of the holder 13. Then, the vapor deposition process is continuously performed on the opposite surface.
At this time, as shown in FIG. 5B, in the through hole 21A, the lens base L moves while swinging in the moving space E so as not to be parallel, and is held by the small flange 36 on the opposite side. Will be. Even if it is reversed in this way, the lens substrate L is held by the first ring 27 at the same angle as before the reversal. That is, even if the lens base material L accommodated in the through-hole 21A is inverted, it always points in the direction of the center of curvature of the gas spherical surface. The same applies to the through hole 21C. In the through hole 21B, the lens substrate L moves in parallel.
After a predetermined vapor deposition process is performed in accordance with a fixed stone at such a position, the decompressed state in the decompression chamber 1 is released, the holder 13 and the holder 13 are taken out from the decompression chamber 1 and the first and second rings 27 and 28 together with the lens base. The material L is removed from the holder 13.

上記のように構成することにより本実施の形態では次のような効果が奏される。
(1)一組の第1のリング27(リング27Aとリング27B)は蒸着するための第1の支持位置と第2の支持位置において常にレンズ基材Lの被蒸着面を同じ方向に指向させ、その方向はレンズ基材Lの被蒸着面を蒸散する蒸着物質の気体球面の曲率を考慮した方向であるため、このような反転する方式のホルダー13において蒸着むらを効果的に軽減することができる。
(2)包囲体としての一組の第1のリング27はホルダー13とは別体であるため、ホルダー13に対して一組の第1のリング27内にレンズ基材Lを前もって収容できるため、取り付け作業において作業が効率化して有利である。また、ホルダー13の透孔21A(透孔21C)に対して相対的に周方向に位相を変更できる(回動できる)ため、取り付け位置を現場で調整することもでき、減圧室1内の気流の状況に応じてレンズ基材Lの指向方向を変更することも容易にできる。
(3)一組の第1のリング27(リング27Aとリング27B)は基本的に同じ形状であるため、反転させた場合にレンズ基材L同じ方向を指向することとなり、例え蒸着むらが発現するとしても表裏で大きく偏った蒸着むらとなることがない。また、リング27Aとリング27Bを作成する場合において共通した型枠を使用できるため製作費用が軽減される。
(4)一組の第1のリング27の向きは凸体34を凹部33に嵌合させることで位置決めが可能であるので作業が効率化する。また、リング27Aを透孔21A(透孔21C)に配置する際にも第1のマーク26と第2のマーク35を照合して位置決めできるので作業が効率化する。
(5)第1のリング27の内周面37は外に膨らんでいるため、レンズ基材Lが揺動する際にスムーズに移動が可能となる。
(6)レンズ基材Lの外周部分を固定していないので、例えばプラス度数のレンズのように縁部が薄いレンズ基材Lに蒸着する際に縁部の割れを防ぐことが可能となる。
By configuring as described above, the following effects are exhibited in the present embodiment.
(1) The pair of first rings 27 (ring 27A and ring 27B) always directs the deposition surface of the lens base L in the same direction at the first support position and the second support position for vapor deposition. Since the direction is a direction in consideration of the curvature of the gas spherical surface of the vapor deposition material that evaporates the deposition surface of the lens base L, the uneven deposition can be effectively reduced in the holder 13 of such a reversal method. it can.
(2) Since the set of first rings 27 as the enclosure is separate from the holder 13, the lens base L can be accommodated in advance in the set of first rings 27 with respect to the holder 13. In the mounting operation, the work is efficient and advantageous. Further, since the phase can be changed (rotated) in the circumferential direction relative to the through-hole 21A (through-hole 21C) of the holder 13, the mounting position can be adjusted on site, and the air flow in the decompression chamber 1 can be adjusted. It is also possible to easily change the orientation direction of the lens base material L according to the situation.
(3) Since the pair of first rings 27 (ring 27A and ring 27B) have basically the same shape, when they are reversed, they are directed in the same direction as the lens substrate L, for example, uneven deposition occurs. Even then, there will be no uneven deposition unevenly biased between the front and back sides. Further, since the common formwork can be used when the ring 27A and the ring 27B are produced, the manufacturing cost is reduced.
(4) Since the orientation of the pair of first rings 27 can be determined by fitting the convex body 34 to the concave portion 33, the work efficiency is improved. Further, when the ring 27A is disposed in the through hole 21A (the through hole 21C), the first mark 26 and the second mark 35 can be collated and positioned, so that the work efficiency is improved.
(5) Since the inner peripheral surface 37 of the first ring 27 swells outward, the lens base L can be moved smoothly when it swings.
(6) Since the outer peripheral portion of the lens base material L is not fixed, it is possible to prevent the edge portion from cracking when vapor deposition is performed on the lens base material L having a thin edge portion, for example, a plus power lens.

尚、この発明は、以下のように変更して具体化することも可能である。
・上記実施の形態のホルダー13の形状は一例であって、他の形状としたりその枚数を変更したり、透孔21の数を変更したり等することも自由である。例えば、ホルダー13の一部に窓部を形成してもよい。周壁29の形状を上記のような滑らかな連続的な傾斜ではなくともよい。
・上記の減圧室1内の設備は一例である。これら設備を他の設備と代替することも可能である。
・上記実施の形態では透孔21Bについてレンズ基材Lを傾けないようにしたが、蒸着物質の気体球面の曲率中心方向に応じて適宜どの透孔位置にあるレンズ基材Lをどのように傾けるかは(あるいは傾けないかは)変更可能である。例えば、上記ではリング28に保持されたレンズ基材Lは揺動せず平行に移動するような構成であったが、これも揺動させるようにリング28を構成することも可能である。
・上記実施の形態のホルダー13は二枚の分割体(プレート片13A、13B)とし、一組の第1及び第2のリング27、28を間に挟んで保持するような構成であったが、図10のように一組の第1のリング27を1枚で構成したホルダー41に保持させるようにしてもよい。ホルダー41に対してはリング27Aを装着した後、上側となるリング27Bを配置するが、リング27Bのフランジ部31は上記実施の形態よりも幅広に構成され、透孔21A(透孔21C)に隣接して形成されたネジ穴23と照合されるネジ穴42を備えている。これらネジ穴23、42をネジ38で締結することで一組の第1のリング27をの装着が完了する。尚、図10においては上記実施の形態と同じ構成については共通する番号で示している。
・上記では一組の第1のリング27を使用してホルダー13が反転した場合にそれぞれの位置でレンズ基材Lを変位させるようにしたが、この一組の第1のリング27を1つのリング体(包囲体)として構成してもよい。その場合にはレンズ基材Lをリング体に出し入れするための蓋部材を有するようにすればよい。
・上記では第1のリング27の最も傾斜が大きい方向(直線Ln方向)を回転軸と一致する方向としたが、蒸散の状況によってこの方向を変更させるようにしてもよい。つまり、いつも一番傾斜が大きい方向に沿ってホルダー13を反転させなければいけないわけではない。また、それほどの精密な方向性は要求されないため、概ね直線Ln方向が回転軸方向に沿っていればよい。
・上記において第1及び第2のマーク26、35のような目印ではなく、凸体34と凹部33のような凹凸関係による位置決め手段であってもよい。
・一組のリング27Aとリング27Bとの間での位置決めだけでなく、凸体34に凹部33が嵌合された際のこの点を中心とした相対的な回動動作を防止するための位置決め手段を設けるようにしてもよい。
・上記実施の形態では包囲部は別体として第1及び第2のリング27、28を用意するようにしていたが、透孔21A〜21Cの内部に直接第1及び第2のリング27、28のような構造を形成するようにして包囲体を光学基板保持部材と一体化するようにしてもよい。そのようにすれば部材点数が減少して取り扱いにおいて有利である。
・上記実施の形態では一組の第1のリング27は同じ形状で構成していたが、一方の周壁29の角度を変更して表裏反転させた際のレンズ基材Lの向きを異なるものとするようにしてもよい。このように構成することで、例えばレンズ基材Lの表裏の形状が大きく異なるような場合にこのようにしてなるべく均等な蒸着処理ができるようにすることが可能となる。
・上記ネジ38以外の固定手段を使用することも可能である。例えば、プレート片13A、13Bを固定するのにラッチ装置を使用してもよい。
・上記ではホルダー13を反転させる際には回転子12を回転させるようにし、係合フック24を係合突起10に干渉させて上下反転させるようにしていたが、ホルダー13自体が自転するような構造であってもよい。
・光学基板としてレンズ基材L以外にダイクロイックミラー/フィルター、コールドミラー/フィルター、NDフィルター、バンドパスフィルター、ハーフミラー等に適用するようにしてもよい。
・その他、本発明の趣旨を逸脱しない態様で実施することは自由である。
It should be noted that the present invention can be embodied with the following modifications.
The shape of the holder 13 in the above embodiment is merely an example, and it is also possible to change to another shape, change the number of the holders, change the number of the through holes 21, and the like. For example, a window portion may be formed in a part of the holder 13. The shape of the peripheral wall 29 may not be a smooth continuous inclination as described above.
The equipment in the decompression chamber 1 is an example. These facilities can be replaced with other facilities.
In the above embodiment, the lens base material L is not inclined with respect to the through hole 21B, but the lens base material L at which through hole position is appropriately inclined according to the center of curvature direction of the gas spherical surface of the vapor deposition material. It can be changed (or not tilted). For example, in the above description, the lens base L held on the ring 28 is configured to move in parallel without swinging. However, the ring 28 may be configured to swing also.
The holder 13 of the above embodiment is configured to be divided into two pieces (plate pieces 13A and 13B) and hold a pair of first and second rings 27 and 28 therebetween. As shown in FIG. 10, a pair of first rings 27 may be held by a holder 41 composed of a single sheet. After the ring 27A is attached to the holder 41, the upper ring 27B is disposed. The flange portion 31 of the ring 27B is configured wider than the above embodiment, and is formed in the through hole 21A (through hole 21C). A screw hole 42 to be matched with the screw hole 23 formed adjacent to the screw hole is provided. Fastening these screw holes 23 and 42 with screws 38 completes the mounting of the pair of first rings 27. In FIG. 10, the same components as those in the above embodiment are indicated by common numbers.
In the above description, when the holder 13 is reversed using the set of first rings 27, the lens base material L is displaced at each position. You may comprise as a ring body (enclosure). In that case, what is necessary is just to make it have a cover member for taking in and out the lens base material L in a ring body.
In the above description, the direction with the largest inclination of the first ring 27 (the direction of the straight line Ln) is the direction that coincides with the rotation axis, but this direction may be changed depending on the state of transpiration. That is, it is not always necessary to reverse the holder 13 along the direction with the largest inclination. In addition, since such a precise directionality is not required, it is only necessary that the direction of the straight line Ln is substantially along the rotation axis direction.
In the above description, the positioning means may be not a mark such as the first and second marks 26 and 35 but a concavo-convex relationship such as the convex body 34 and the concave portion 33.
-Positioning not only for positioning between the pair of rings 27A and 27B but also for preventing relative rotational movement around this point when the concave portion 33 is fitted to the convex body 34. Means may be provided.
In the above embodiment, the first and second rings 27 and 28 are prepared as separate enclosures, but the first and second rings 27 and 28 are directly inside the through holes 21A to 21C. The enclosure may be integrated with the optical substrate holding member so as to form a structure as described above. By doing so, the number of members is reduced, which is advantageous in handling.
In the above embodiment, the pair of first rings 27 is configured in the same shape, but the direction of the lens base L when the front and back are reversed by changing the angle of one peripheral wall 29 is different. You may make it do. With this configuration, for example, when the front and back shapes of the lens substrate L are greatly different, it is possible to perform vapor deposition processing as uniform as possible in this way.
-Fixing means other than the screw 38 can be used. For example, a latch device may be used to fix the plate pieces 13A and 13B.
In the above description, when the holder 13 is reversed, the rotor 12 is rotated and the engagement hook 24 is caused to interfere with the engagement protrusion 10 so as to be reversed upside down. However, the holder 13 itself rotates. It may be a structure.
In addition to the lens substrate L, the optical substrate may be applied to a dichroic mirror / filter, a cold mirror / filter, an ND filter, a bandpass filter, a half mirror, and the like.
-Besides, it is free to implement in a mode that does not depart from the gist of the present invention.

1…筐体としての減圧室、5、6…蒸着材料、加熱手段を構成する蒸着源、3…減圧手段としてのポンプ装置、13…光学基板保持部材としてのホルダー、27…包囲部としての第1のリング、E…移動空間、L…光学基板としてのレンズ基材。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Decompression chamber as a housing | casing, 5, 6 ... Vapor deposition material, the vapor deposition source which comprises a heating means, 3 ... The pump apparatus as a decompression means, 13 ... The holder as an optical board | substrate holding member, 27 ... The 1st as an enclosure part 1 ring, E ... moving space, L ... lens substrate as an optical substrate.

Claims (14)

密閉可能な筐体と、同筐体内の下部位置に配設された蒸着材料と、同蒸着材料を加熱する加熱手段と、前記筐体内の気圧を下げるための減圧手段と、前記筐体内の上部位置に配置され1又は複数の光学基板を被蒸着面を露出させた状態で保持する1又は2以上の光学基板保持部材とを備えた蒸着装置において、
前記光学基板保持部材は前記光学基板の外周及び外周寄り表裏面を包囲する包囲部を有し、同包囲部は同包囲部内に収容される前記光学基板に厚み方向の移動を許容する移動空間を有するとともに、前記包囲部は前記移動空間内を移動した前記光学基板が平行移動とならないように前記光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が不均等とされ、
前記光学基板保持部材は第1の支持位置と同第1の支持位置に対して反転した第2の支持位置でそれぞれ停止可能に支持され、反転する際に保持した前記光学基板を前記移動空間内で揺動状に移動させてその揺動に伴って被蒸着面の向きを変位させるようにしたことを特徴とする蒸着装置。
A case capable of being sealed; a vapor deposition material disposed at a lower position in the case; a heating means for heating the vapor deposition material; a decompression means for lowering the atmospheric pressure in the case; and an upper part in the case In a vapor deposition apparatus comprising one or more optical substrate holding members that are arranged at positions and hold one or a plurality of optical substrates in a state in which a vapor deposition surface is exposed,
The optical substrate holding member has a surrounding portion that surrounds the outer periphery and front and rear surfaces near the outer periphery of the optical substrate, and the surrounding portion has a movement space that allows the optical substrate accommodated in the surrounding portion to move in the thickness direction. And having the width of the portion surrounding the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate so that the optical substrate moved in the moving space does not move in parallel.
The optical substrate holding member is supported so as to be able to stop at a second support position that is inverted with respect to the first support position and the first support position, and the optical substrate held when the optical substrate is inverted is moved into the moving space. The vapor deposition apparatus is characterized in that the direction of the deposition surface is displaced in accordance with the rocking movement.
前記包囲部内で前記光学基板の被蒸着面の向きが変位することで指向することとなる方向は前記第1の支持位置と前記第2の支持位置とにおいて共に同じ方向となるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の蒸着装置。   The direction to be directed when the direction of the deposition surface of the optical substrate is displaced in the surrounding portion is set to be the same in both the first support position and the second support position. The vapor deposition apparatus according to claim 1. 前記包囲部内で前記光学基板の被蒸着面の向きが変位することで指向することとなる方向は前記第1の支持位置と前記第2の支持位置とにおいてそれぞれ異なる方向となるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の蒸着装置。   The direction to be directed when the direction of the deposition surface of the optical substrate is displaced in the surrounding portion is different in the first support position and the second support position. The vapor deposition apparatus according to claim 1. 前記光学基板の被蒸着面の向きが変位する方向は前記筐体内における蒸散する蒸着物質の気体球面の曲率中心方向であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の蒸着装置。   The vapor deposition apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein a direction in which a direction of a vapor deposition surface of the optical substrate is displaced is a central direction of curvature of a gas spherical surface of a vapor deposition material that evaporates in the housing. 前記光学基板保持部材が反転する際の回転軸方向は前記筐体の中央から外方向に向かう線分と平行となることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の蒸着装置。   The vapor deposition apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein a rotation axis direction when the optical substrate holding member is reversed is parallel to a line segment extending outward from the center of the casing. 前記光学基板保持部材が反転する際の回転軸方向は前記筐体の中央から外方向に向かって下向きとなる線分と平行となることを特徴とする請求項5に記載の蒸着装置。   The vapor deposition apparatus according to claim 5, wherein a rotation axis direction when the optical substrate holding member is reversed is parallel to a line segment that is downwardly directed outward from the center of the casing. 前記光学基板の180度対向位置にある縁部間において最も大きな移動量と最も小さな移動量となる前記包囲部における2つの位置を結ぶ線分は前記回転軸に沿った方向に配置されることを特徴とする請求項5又は6に記載の蒸着装置。   A line segment connecting the two positions in the surrounding portion that has the largest movement amount and the smallest movement amount between the edges at the 180-degree opposed positions of the optical substrate is arranged in a direction along the rotation axis. The vapor deposition apparatus according to claim 5 or 6, characterized in that 前記光学基板保持部材は蒸着物質の気体球面の曲率中心方向に正対する位置に前記光学基板の外周及び外周寄り表裏面を包囲する第2の包囲部を有し、同第2の包囲部は同第2の包囲部内に収容される前記光学基板に厚み方向の移動を許容する移動空間を有するとともに、前記包囲部は前記移動空間内を移動した前記光学基板が平行移動となるように前記光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が均等とされていることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の蒸着装置。   The optical substrate holding member has a second surrounding portion that surrounds the outer periphery and front and back surfaces of the optical substrate at a position facing the curvature center direction of the gas spherical surface of the vapor deposition material, and the second surrounding portion is the same. The optical substrate accommodated in the second enclosure portion has a movement space that allows movement in the thickness direction, and the enclosure portion moves in parallel with the optical substrate that has moved in the movement space. The vapor deposition apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the widths of the portions surrounding the front and back surfaces near the outer periphery are made uniform. 密閉可能な筐体と、同筐体内の下部位置に配設された蒸着材料と、同蒸着材料を加熱する加熱手段と、前記筐体内の気圧を下げるための減圧手段とを備えた蒸着装置の前記筐体内の上部位置に1又は複数の光学基板を被蒸着面を露出させた状態で保持するために配置され、第1の支持位置と同第1の支持位置に対して反転した第2の支持位置でそれぞれ停止可能な光学基板保持部材であって、
前記光学基板保持部材は前記光学基板の外周及び外周寄り表裏面を包囲する包囲部を有し、同包囲部は同包囲部内に収容される前記光学基板に厚み方向の移動を許容する移動空間を有するとともに、前記包囲部は前記移動空間内を移動した前記光学基板が平行移動とならないように前記光学基板の外周寄り表裏面を包囲する部分の幅が不均等とされていることを特徴とする蒸着装置用光学基板保持部材。
An evaporation apparatus comprising: a sealable casing; a deposition material disposed at a lower position in the casing; a heating unit that heats the deposition material; and a decompression unit that lowers the atmospheric pressure in the casing. The second support which is disposed to hold the one or more optical substrates at an upper position in the housing with the deposition surface exposed, and is inverted with respect to the first support position and the first support position. An optical substrate holding member that can be stopped at each supporting position,
The optical substrate holding member has a surrounding portion that surrounds the outer periphery and front and rear surfaces near the outer periphery of the optical substrate, and the surrounding portion has a movement space that allows the optical substrate accommodated in the surrounding portion to move in the thickness direction. And the width of a portion surrounding the front and back surfaces near the outer periphery of the optical substrate is not uniform so that the optical substrate moved in the moving space does not move in parallel. An optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus.
前記光学基板の180度対向位置にある縁部間において最も大きな移動量と最も小さな移動量となる前記包囲部における2つの位置を結ぶ線分は反転する際の回転軸に沿った方向に配置されることを特徴とする請求項9に記載の蒸着装置用光学基板保持部材。   The line segment connecting the two positions in the surrounding portion, which has the largest movement amount and the smallest movement amount between the edges at the 180 ° -opposing positions of the optical substrate, is arranged in a direction along the rotation axis when reversing. The optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus according to claim 9. 前記光学基板保持部材は厚み方向に2分割された2枚の板状体から構成されていることを特徴とする請求項9又は10に記載の蒸着装置用光学基板保持部材。   11. The optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus according to claim 9, wherein the optical substrate holding member is composed of two plate-like bodies divided into two in the thickness direction. 前記包囲部は前記光学基板保持部材に形成された取り付け穴に対して別部材として取り付け可能とされていることを特徴とする請求項9〜11のいずれかに記載の蒸着装置用光学基板保持部材。   The optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus according to any one of claims 9 to 11, wherein the surrounding portion can be attached as a separate member to an attachment hole formed in the optical substrate holding member. . 前記包囲部は幅方向に2分割された分割体を合体させて前記移動空間を形成するようにしたことを特徴とする請求項12に記載の蒸着装置用光学基板保持部材。   13. The optical substrate holding member for a vapor deposition apparatus according to claim 12, wherein the surrounding portion forms the moving space by combining divided parts that are divided into two in the width direction. 前記包囲部の前記光学基板の外周に面した内周面には周方向に対して直交する方向において、外に凸となるようなカーブ面が形成されていることを特徴とする請求項9〜13のいずれかに記載の蒸着装置用光学基板保持部材。   10. A curved surface that is convex outward is formed on an inner peripheral surface of the surrounding portion facing the outer periphery of the optical substrate in a direction orthogonal to the circumferential direction. The optical substrate holding member for vapor deposition apparatus in any one of 13.
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