JP6350909B2 - 電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法およびその装置 - Google Patents
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Description
しかしながら、従来技術におけるずれ量の検査は作業員の目視によっていた。このため、検査結果にばらつきを生起するばかりでなく、検査のタクトタイムも長くなっていた。
ジグザグ折りした絶縁体のセパレータの谷溝に正電極板と負電極板とを交互に積層してなる電極積層体の前記セパレータの位置ずれ検出方法であって、
前記電極積層体の一端部の所定範囲を撮像手段により撮像する撮像工程と、
前記撮像工程で撮像した画像データに基づき前記セパレータの幅方向の端部位置を検出し、前記電極積層体の幅方向の中心側から最も先端側の端部位置である最大ずれ位置と、最も中心側の端部位置である最小ずれ位置との間の距離が所定値を超える場合に前記電極積層体を不良と判定する工程を有し、
前記端部位置の特定の際には、前記所定範囲を前記幅方向に直交する前記電極積層体の厚さ方向に関して複数の区画に分割し、各区画毎に前記端部位置を特定することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法にある。
第1の態様に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法において、前記端部位置の検出は、各区画毎に区画内の画素の輝度の変化に基づくことを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法にある。
第1または第2の態様に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法による検出は、前記電極積層体における前記セパレータの幅方向における両端部を掴んで前記電極積層体を回転させて余剰セパレータを前記電極積層体に巻回するに際し、前記両端部を掴んだ状態である巻回作業の初期状態で実施することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法にある。
第1から第3の何れか1つの態様に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法による検出を第1の検査として先に実施し、この検査で良好と判定された場合は、第2の検査を実施し、第2の検査では、前記電極積層体の一端部の所定範囲を前記撮像手段により撮像する撮像工程と、
前記撮像工程で撮像した画像データに基づき前記電極積層体の最外周に巻回された余剰セパレータの幅方向の端部を特定するとともに、前記余剰セパレータの幅方向の端部から同方向に突出する電極シートの先端部を特定し、前記端部と前記先端部との間の距離が所定値を超えるか、または所定値未満の場合に前記電極積層体を不良と判定する工程を有し、
この第2の検査でも良好と判定された場合は、前記電極積層体を良品と判定することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法にある。
また、ジグザグ折りに伴うセパレータのずれと、最後の余剰セパレータの巻回によるジグザグ折りした以外の部分のセパレータのずれとが何れも規定値内に収められる結果、最終製品を高品質のものとすることができる。
第4の態様に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法において、前記第2の検査は、前記電極積層体に対する前記余剰セパレータの巻回が終了した状態で実施することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法にある。
ジグザグ折りした絶縁体のセパレータの谷溝に正電極板と負電極板とを交互に積層してなる電極積層体の前記セパレータの位置ずれ検出装置であって、
前記電極積層体の一端部の所定範囲を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した画像データに基づき前記セパレータの幅方向の端部位置を検出し、前記電極積層体の幅方向の中心側から最も先端側の端部位置である最大ずれ位置と、最も中心側の端部位置である最小ずれ位置との間の距離が所定値を超える場合に前記電極積層体を不良と判定する画像処理装置とを有し、
前記画像処理装置は、前記端部位置の特定の際に、前記幅方向に直交する前記電極積層体の厚さ方向に関して前記所定範囲を複数の区画に分割し、各区画毎に前記端部位置を特定することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置にある。
第6の態様に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置において、前記端部位置の検出は、各区画毎に区画内の画素の輝度の変化に基づくことを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置にある。
第6または第7の態様に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置において、前記撮像手段は、前記電極積層体における前記セパレータの幅方向における両端部を掴んで前記電極積層体を回転手段で回転させて前記余剰セパレータを前記電極積層体に巻回するに際し、前記回転手段に前記両端部を掴ませた初期状態で撮像することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置にある。
このように、複数の区画A,B,Cに分割し、さらに各区画A,B,C内の各画素(A1,A2,A3)、(B1,B2,B3)、(C1,C2,C3)間の輝度の変化に基づき端部と検出することで、画像データ上の狭い範囲のセパレータを対象として区画A,B,C毎に端部を、正確かつ確実に検出することができる。
1 正電極板
2 負電極板
3 正電極シート
4 負電極シート
5 正極活物質
6 負極活物質
7 正極側接続部
8 負極側接続部
9 セパレータ
10,11 クリップ
Claims (8)
- ジグザグ折りした絶縁体のセパレータの谷溝に正電極板と負電極板とを交互に積層してなる電極積層体の前記セパレータの位置ずれ検出方法であって、
前記電極積層体の一端部の所定範囲を撮像手段により撮像する撮像工程と、
前記撮像工程で撮像した画像データに基づき前記セパレータの幅方向の端部位置を検出し、前記電極積層体の幅方向の中心側から最も先端側の端部位置である最大ずれ位置と、最も中心側の端部位置である最小ずれ位置との間の距離が所定値を超える場合に前記電極積層体を不良と判定する工程を有し、
前記端部位置の特定の際には、前記所定範囲を前記幅方向に直交する前記電極積層体の厚さ方向に関して複数の区画に分割し、各区画毎に前記端部位置を特定することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法。 - 請求項1に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法において、前記端部位置の検出は、各区画毎に区画内の画素の輝度の変化に基づくことを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法。
- 請求項1または請求項2に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法による検出は、前記電極積層体における前記セパレータの幅方向における両端部を掴んで前記電極積層体を回転させて余剰セパレータを前記電極積層体に巻回するに際し、前記両端部を掴んだ状態である巻回作業の初期状態で実施することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法。
- 請求項1から請求項3の何れか1つに記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法による検出を第1の検査として先に実施し、この検査で良好と判定された場合は、第2の検査を実施し、第2の検査では、前記電極積層体の一端部の所定範囲を前記撮像手段により撮像する撮像工程と、
前記撮像工程で撮像した画像データに基づき前記電極積層体の最外周に巻回された余剰セパレータの幅方向の端部を特定するとともに、前記余剰セパレータの幅方向の端部から同方向に突出する電極シートの先端部を特定し、前記端部と前記先端部との間の距離が所定値を超えるか、または所定値未満の場合に前記電極積層体を不良と判定する工程を有し、
この第2の検査でも良好と判定された場合は、前記電極積層体を良品と判定することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法。 - 請求項4に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法において、前記第2の検査は、前記電極積層体に対する前記余剰セパレータの巻回が終了した状態で実施することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法。
- ジグザグ折りした絶縁体のセパレータの谷溝に正電極板と負電極板とを交互に積層してなる電極積層体の前記セパレータの位置ずれ検出装置であって、
前記電極積層体の一端部の所定範囲を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した画像データに基づき前記セパレータの幅方向の端部位置を検出し、前記電極積層体の幅方向の中心側から最も先端側の端部位置である最大ずれ位置と、最も中心側の端部位置である最小ずれ位置との間の距離が所定値を超える場合に前記電極積層体を不良と判定する画像処理装置とを有し、
前記画像処理装置は、前記端部位置の特定の際に、前記幅方向に直交する前記電極積層体の厚さ方向に関して前記所定範囲を複数の区画に分割し、各区画毎に前記端部位置を特定することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置。 - 請求項6に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置において、前記端部位置の検出は、各区画毎に区画内の画素の輝度の変化に基づくことを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置。
- 請求項6または請求項7に記載する電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置において、前記撮像手段は、前記電極積層体における前記セパレータの幅方向における両端部を掴んで前記電極積層体を回転手段で回転させて前記余剰セパレータを前記電極積層体に巻回するに際し、前記回転手段に前記両端部を掴ませた初期状態で撮像することを特徴とする電極積層体のセパレータの位置ずれ検出装置。
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