JP6340034B2 - 非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材 - Google Patents
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Description
RVS(λ)=(FWHMi(λ)−FWHMr(λ))/(FWHMa(λ)−FWHMr(λ))
λ:レーザー光の波長(nm)
Claims (10)
- ジルコンとジルコニアの少なくとも一種を21〜50質量%含み、残部が実質的にコーディエライトよりなり、見掛け気孔率が0.01%未満の複合焼結体であることを特徴とする非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体の、明細書で定義される光の体積拡散相対係数RVS(670)が0.5以下である請求項1に記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体の波長400〜800nmにおける全反射率が70%以上である請求項1又は2に記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体中のコーディエライトの組成が、コーディエライトの全質量を100質量%としたとき、MgO:11〜14質量%、Al2O3:29〜36質量%、SiO2:50〜60質量%である請求項1から3のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体が希土類元素のLa,Ce,Sm,Gd,Dy,Er,Yb,Yの一種以上を酸化物換算で1〜7質量%含む請求項1から4のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体の20℃における熱膨張係数が1.5×10−6/K未満である請求項1から5のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体のヤング率が155GPa以上であり、ヤング率を嵩比重で割った値(ヤング率/嵩比重)の比剛性が52GPa・cm3/g以上である請求項1から6のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 形状が、平板、直方体、球又は階段形状である請求項1から7のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- スケールとして使用される請求項1から7のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
- 前記複合焼結体が圧力焼結により焼結されたものである請求項1から9のいずれかに記載の非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016098084A JP6340034B2 (ja) | 2016-05-16 | 2016-05-16 | 非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publications (2)
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JP2017207300A JP2017207300A (ja) | 2017-11-24 |
JP6340034B2 true JP6340034B2 (ja) | 2018-06-06 |
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ID=60417027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2016098084A Active JP6340034B2 (ja) | 2016-05-16 | 2016-05-16 | 非接触式形状測定機校正用のセラミックス基準器用部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6340034B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7201208B2 (ja) * | 2018-08-17 | 2023-01-10 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 校正ゲージ及び校正方法 |
JP6984621B2 (ja) * | 2019-01-30 | 2021-12-22 | Jfeスチール株式会社 | 鍛造プレス装置、鍛造プレス方法及び金属材の製造方法 |
JP7275835B2 (ja) * | 2019-05-15 | 2023-05-18 | 住友ゴム工業株式会社 | タイヤの外面形状測定装置 |
CN110345866B (zh) * | 2019-06-03 | 2021-05-07 | 武汉中观自动化科技有限公司 | 一种用于手持扫描仪测孔的测量装置和方法 |
JP7041828B2 (ja) * | 2020-06-05 | 2022-03-25 | 株式会社Xtia | 光学式三次元形状測定装置の空間測定誤差検査器、空間測定誤差検出方法、及び、補正方法、光学式三次元形状測定装置、光学式三次元形状測定装置の空間測定誤差校正方法、並びに、光学式三次元形状測定装置のプロービング性能検査用平面標準器 |
CN114322824A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-04-12 | 武汉航空仪表有限责任公司 | 一种冰形三维激光扫描的辅助装置及其使用方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3744703B2 (ja) * | 1998-11-30 | 2006-02-15 | 京セラ株式会社 | 基準器 |
JP4568979B2 (ja) * | 1999-09-17 | 2010-10-27 | Toto株式会社 | コーディエライト緻密焼結体及びその製造法 |
JP2002164273A (ja) * | 2000-11-28 | 2002-06-07 | Nikon Corp | 計測装置及び露光装置 |
JP2002167268A (ja) * | 2000-11-29 | 2002-06-11 | Kyocera Corp | コージェライト質焼結体とその製造方法 |
JP5762522B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2015-08-12 | 京セラ株式会社 | コージェライト質焼結体およびこのコージェライト質焼結体からなる半導体製造装置用部材 |
JP6119981B2 (ja) * | 2013-06-03 | 2017-04-26 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 校正治具および光干渉測定装置の校正方法 |
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2016
- 2016-05-16 JP JP2016098084A patent/JP6340034B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017207300A (ja) | 2017-11-24 |
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A977 | Report on retrieval |
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