JP6329376B2 - 放射線モニタおよび当該放射線モニタの電流測定方法 - Google Patents

放射線モニタおよび当該放射線モニタの電流測定方法 Download PDF

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Description

本発明は、広くは、放射線モニタに関し、更に詳しくは、ある温度範囲にわたる比較的低い漏れを示す電位計を含む放射線モニタに関する。
放射線モニタは、放射線レベルを監視するために、原子力発電所など既知の放射線源に近接した場所において広く用いられている。放射線の検出に応答して、放射線モニタは、検出された放射線の量に比例する電流を生じる。放射線モニタは、しばしば、電位計を用いて、処理のために、この比較的微量の電流を電圧信号に変換する。
電位計の構成の一部として、コンデンサと関連するリセット(すなわち、放電)を可能にするために、スイッチが用いられる。電界効果トランジスタ(FET)スイッチデバイスなどの電子的なスイッチを用いることができる。MOSFETやJFETなど、いくつかの特定のFETデバイスが使われることがある。更に、リードリレーデバイスなど、電子機械スイッチを用いることもできる。
FETデバイスは、漏れ電流の影響を受けやすい。漏れ電流の量は、温度の変動と共に変動しうる。特に、温度の上昇は、より多くの量の漏れを生じさせることがある。例えば、温度が摂氏10度上昇するたびに、漏れの量が2倍になることがありうる。したがって、比較的広い温度の範囲では、FETの漏れ電流の量が大きく変化することがありうる。また、そのような漏れ電流は、最も低くは摂氏35度の温度で生じ始めることがある。漏れ電流は、放射線検出の精度に悪影響を与えるため、問題となりうる。
漏れ電流の問題を回避しようとする試みとして、リードリレーなどの電気機械スイッチが用いられる場合がある。しかし、それらのリードリレーは、サイズが比較的かさ高/大型であり、スイッチング速度が低速である。
温度に基づく漏れ電流の変動および/またはかさ高さ/低速性に関する課題は、電位計構成の一部の使用例においては、それほどの問題でない場合がありうる。しかし、これらの課題が問題となるような場合がいくつか存在する。電位計を放射線モニタの内部において用いるのは、そのような場合に該当しうる。放射線モニタは、摂氏50度〜60度まで上昇する可能性がある環境温度に露出される場合がありうるのである。したがって、かさ高いリードリレーデバイスを用いずに、広範囲の温度で比較的低い漏れ電流比率を示す電位計を備えた放射線モニタを提供することは、有益であろう。
以下では、本発明のいくつかの例示的な態様に関する基本的理解を提供するために、本発明の簡略化された概要を与える。この概要は、本発明の詳細な概観ではない。また、本発明の重要な構成要素を識別することや、本発明の範囲の輪郭を画することも、意図していない。この概要の唯一の目的は、後述される更に詳細な説明への前段として、本発明のいくつかの概念を簡略化された形式で述べることにある。
ある態様によると、放射線モニタは、電離箱の中に至る放射線を検出する電離箱を含む。電離箱は、検出された放射線に応答して電流フローを生成する。電位計は、電離箱に電気的に接続されていて、電離箱によって生成された電流フローを測定し、電離箱によって生成された電流フローの大きさに基づいて複数のモードで動作可能であるように構成されている。
別の態様によると、放射線モニタは、電離箱の中に至る放射線を検出する電離箱を含む。電離箱は、検出された放射線に応答して電流フローを生成する。電位計は、電離箱に電気的に接続されており、電離箱の電流フローを測定する。電位計は、測定された電流が第1の範囲内にあることに応答して第1のモードで、測定された電流が前記第1の範囲よりも大きな第2の範囲内にあることに応答して第2のモードで動作可能であるように構成されている。第1のモードと第2のモードとにおける漏れ電流は、最小化されている。
別の態様によると、放射線モニタの電位計を流れる電流フローを測定する方法が提供される。この方法は、放射線を検出し検出された放射線に応答して電流フローを生成する電離箱を提供するステップを含む。この方法は、電離箱に電気的に接続されており電離箱の電流フローを測定する電位計を提供するステップを含む。更に、この方法は、測定された電流が第1の範囲内にあることに応答して、電位計を第1のモードで動作させるステップを含む。また、この方法は、測定された電流が第2の範囲内にあることに応答して、電位計を第2のモードで動作させるステップも含む。
本発明の上述のおよびそれ以外の態様は、次の添付の図面を参照しながら以下の説明を読むことにより、本発明が関係する技術分野の当業者に明らかになるだろう。
電位計を含む例示的な放射線モニタの非常に概略的なブロック図表現である。 リセットモードにある電位計を含む例示的な放射線モニタの回路図である。 第1のモードにある電位計を含む例示的な放射線モニタの回路図である。 第2のモードにある電位計を含む例示的な放射線モニタの回路図である。 放射線モニタの電位計を流れる電流フローを測定する例示的な方法のトップレベルの流れ図である。
本発明の1つまたは複数の態様を組み入れた例示的な実施形態が、図面に記載され図解されている。これらの図解されている例は、本発明に対する限定であることを意図するものではない。例えば、本発明の1つまたは複数の態様を、他の複数の実施形態や他のタイプのデバイスにおいても、利用することは可能である。更に、単に便宜的な目的だけのために本明細書で用いられている用語があるが、そのような用語は、本発明に対する限定と考えるべきではない。また更に、図面では、同じ構成要素を示すために、同じ参照番号が用いられている。
図1は、本発明の一態様による例示的な放射線モニタ10の、非常に概略的な表現である。簡単に要約するならば、放射線モニタ10は、放射線を検出するための電離箱12を含む。電離箱12は、その電離箱12自体の内部で、電離電流を検出する電位計14に電気的に接続されている。コントローラ16が、電位計14を制御して、電離電流を蓄積し測定する。電位計14は、広範囲の電離電流を正確に検出する間に、比較的広い温度範囲(例えば、摂氏50度から60度まで)にわたる場合でも、比較的微量の漏れ電流を生じる。
図1は、図解の目的のために、非常に概略的/一般的な表現で放射線モニタ10を示していることが理解できるはずである。実際、図1は、単に、構造/構成/その他に関する可能性がある一例を示しているのであり、他の複数の例を本発明の範囲で考えることもできる。一般に、放射線モニタ10は、戸外の場所に配置され、局所的な地域の大気における低レベルのガンマ放射線を監視する機能を実行する。
はじめに電離箱12を参照するが、この電離箱12は、図1において、図解の目的のために概略的に示されていることが理解されるはずである。実際には、電離箱12は、任意の数の可能な構造/構成/その他を含む。電離箱12は、放射線を監視および/または検出するための広く様々な応用例において、用いることができる。例えば、電離箱12は、放射線安全確保のための応用例、使用済み核燃料の放射線監視、国土安全保障のための応用例などとの関連で用いることがありうる。もちろん、電離箱12はこれらの応用例に限定されることはなく、放射線の監視および/または検出に関係する他の応用例でも用いることが可能である。
少なくとも1つの例では、電離箱12は、アノードとカソードとの2つの電極を有していて気体が充たされている箱を含む。アノードとカソードとは、円筒型の配列、平行なプレート、またはそれに類似するものとしての配列が可能である。電圧バイアス(例えば、400ボルト)がアノードとカソードとの間に印加され、気体の中に電場が生成される。電圧バイアスは、例えば、電池などを含む電源によって提供されうる。ある例では、カソードに電圧バイアスが印加され、他方で、アノードは接地電位に維持される。
電離箱12を通過するガンマ光子が、気体および一方の電極(例えば、アノードまたはカソード)との間で相互作用を生じ、電離した気体分子が生成される。生じた電離気体分子の量は、光子の数、ガンマ線のエネルギ、光子の入射方向などの関数である。生じた電離はアノードおよびカソードに至り、電流フローが生成される。いくつかの例では、この電流は、背景放射レベルでは、フェムトアンペアのオーダー(例えば、10-15)などの比較的微量である。しかし、それ以外の状況では、この電流は、2.1マイクロアンペア(例えば、10-6)の範囲などのように、より多くなることもありうる。つまり、電離箱12は、ガンマ放射線の存在に応答することにより、この電流フローを生成することがありうる。
次に電位計14を参照すると、電位計14は、電離箱12において生成された電流を検出および/または測定する。電位計14は、電離箱12に動作的に接続されていることにより、電離箱12との間で信号を送受信することができる。
次にコントローラ16を参照すると、コントローラ16は、電位計14に動作的に接続されている。コントローラ16は、電離箱12の中へのまたは電離箱12の中から外への電流フローの測定値を計算し記憶することができる。コントローラ16は、アナログデジタルコンバータ、メモリ、プロセッサなど、電離箱と関連し電離電流を測定する任意の数の構造を含みうる。いくつかの例では、コントローラ16は、タイマ、プロセッサモジュール、メモリ、またはそれに類するものなど、関連するデータ取得システム(DAQ)のハードウェアおよびソフトウェアを伴うDAQを含む。
コントローラ16は、電源17を含みうる。電源17は、電力を電位計14と電離箱12とに供給することができる。ある例では、電源17は、電圧バイアスを電離箱12に提供することができる高電圧電源を含むことがある。電源17は、例えば、電池、電池充電器、電圧調整器、および/または電力を供給することに関連するそれ以外のデバイス/構造を含みうる。コントローラ16は、プロセッサ18を更に含みうる。プロセッサ18は、信号(例えば、デジタル信号)の送受信を行うことができ、信号に対して任意の必要な補正を実行することができる。プロセッサ18は、電位計14および/または電離箱12に供給される電力を監視するために、電源17に接続されることもありうる。
ここで図2を参照すると、放射線モニタ10の一例の電気回路が示されている。図1では電位計14が一般的/概略的に示され、他方で、図2では電位計14の電気回路がより詳細に示されていることが、理解されるはずである。電位計14は、電離箱12に電流を送り、電離箱12から電流を受け取るように、電離箱12に電気的に接続されている。示されている例では、電離箱12に負のバイアスがかけられていることにより、電流は電位計14から電離箱12に流れる。もちろん、他の例では電離箱12に正のバイアスがかけられることもあり、その場合には、電流は電離箱12から電位計14に流れる。
電流フローを生成することにより、電離箱12は、電位計14に電流を送ることができるか、または電位計からの電流を受け取ることができることが理解されるはずである。例えば、現在の例では、電離箱12は負のバイアスがかけられている。したがって、電流は、電位計14から電離箱12に流れる。別の例では、電離箱12は正のバイアスがかけられていることがあり、電流は電離箱12から電位計14に流れる。これら2つの例のどちらでも、電流は、電流の向きとは関係なく、検出される電離に応答して生成される。
次に、電位計14の詳細に移るが、電位計14は演算増幅器20を含む。演算増幅器20は、反転入力22と非反転入力24とを含む。非反転入力24は、接地されている。反転入力22は、電離箱12に電気的に接続されている。演算増幅器20は、コントローラ16に付属させることが可能な出力26(例えば、電圧出力)を含む。ある例では、演算増幅器20は、電離箱12から信号(例えば、電流信号)を受け取り、この信号を、コントローラ16が読み取ることが可能なアナログ電圧信号に変換することができる。現在の例では、反転入力22は、演算増幅器20によって、仮想的に接地された状態に維持されている。
電位計14は、更に、第1のコンデンサ30を含む。第1のコンデンサ30は、演算増幅器20の反転入力22に電気的に接続された第1の端子32を有する。第1のコンデンサ30は、更に、演算増幅器20の出力26に電気的に接続された第2の端子34を含む。ある例では、第1のコンデンサ30は、例えば、約3ピコファラッドの範囲にある。別の例では、第1のコンデンサ30は、例えば、約4.7ピコファラッドの範囲にある。もちろん、第1のコンデンサ30はこれらの値に限定されることはなく他の容量を有する場合もあるということを理解すべきである。
電位計14は、更に、少なくとも1つのスイッチを含む。この少なくとも1つのスイッチは、第1のスイッチ40、第2のスイッチ46、および第3のスイッチ54を含む。他の例では、電位計14はこれら3つのスイッチを含むことに限定されることはなく、その代わり、図2に示されている3つのスイッチよりも多くの、または少数のスイッチを含むことがありうる。一般的に知られているように、これらのスイッチ(例えば、第1のスイッチ40、第2のスイッチ46、および第3のスイッチ54)は、これらのスイッチを流れる電流を中断させるように、選択的に開閉することが可能である。図2のスイッチは、それぞれが閉じた状態で示されている。しかし、図3および図4との関係で後述するのと同様に、これらのスイッチを開放して、開いた状態に移動させることが可能である。この例では、スイッチは、それぞれが、単極単投スイッチを含む。しかし、それ以外のスイッチも想定される。
第1のスイッチ40は、第1の端子41と第2の端子42とを含む。第1の端子41は、第1のコンデンサ30の第1の端子32と演算増幅器20の反転入力22とに電気的に接続されている。
第2のスイッチ46は、第1の端子47と第2の端子48とを含む。第2のスイッチ46の第1の端子47は、グランドに電気的に接続されている。第2のスイッチ46の第2の端子48は、第1のスイッチ40の第2の端子42に接続されている。
第3のスイッチ54は第1の端子55と第2の端子56とを含む。第1の端子55は、第1のスイッチ40の第2の端子42と第2のスイッチ46の第2の端子48とに電気的に接続されている。第3のスイッチ54の第2の端子56は、第1のコンデンサ30の第2の端子34と演算増幅器20の出力26とに電気的に接続されている。
電位計14は、更に、第2のコンデンサ60を含む。第2のコンデンサ60は、第1のスイッチ40の第2の端子42と、第2のスイッチ46の第2の端子48と、第3のスイッチ54の第1の端子55とに電気的に接続されている第1の端子62を有する。第2のコンデンサ60は、更に、第3のスイッチ54の第2の端子56と、第1のコンデンサ30の第2の端子34と、演算増幅器20の出力26とに電気的に接続されている第2の端子64を有する。
ある例では、第2のコンデンサ60は、第1のコンデンサ30よりも大きな容量を有する。ある例では、第2のコンデンサ60は、例えば約470ピコファラッドの範囲にある。別の例では、第2のコンデンサ60は、例えば約68ナノファラッドの範囲にある。もちろん、第2のコンデンサ60はこれらの値に限定されることはなく、より大きなまたはより小さなそれ以外の容量を有する場合もありうる。
更に図2を参照しながら、電位計14の例示的な動作について説明する。電位計14は、リセットモード、第1のモード、および第2のモードを含む複数の異なるモードで動作可能である。図2に示されているリセットモードは、第1のコンデンサ30と第2のコンデンサ60とを放電することにより、電位計14の周期的なリセットを可能にする。別の例では、リセットモードは、演算増幅器20の出力を流れる電流が多くなりすぎると、始動される。
リセットモードの間は、第1のスイッチ40、第2のスイッチ46および第3のスイッチ54を含むそれぞれのスイッチは閉じている。そのように、リセットモードの間は、電流がスイッチを流れる。一般的に知られているように、第1のコンデンサ30と第2のコンデンサ60とはそれぞれが電荷を蓄積する。リセットモードの間は、第1のスイッチ40、第2のスイッチ46および第3のスイッチ54は閉じており、第1のコンデンサ30と第2のコンデンサ60とから電流が放電されることを許容する。例えば、第1の電流フロー70(矢印を用いて一般的/概略的に示されている)は、第1のコンデンサ30から流れ出て、複数のスイッチを通過し、グランド(第2のスイッチ46に接続されている)に至る。第1の電流フロー70は、2つの経路の内の一方に沿って移動しうる。第1の電流フロー70のための第1の経路は、第1の端子32から、第1のスイッチ40と第2のスイッチ46とを通過して、グランドまでである。第2の経路は、第2の端子34から、第3のスイッチ54と第2のスイッチ46とを通過して、グランドまでである。
第1のコンデンサ30に加えて、第2のコンデンサ60もまたリセットモードの間に放電する。例えば、第2の電流フロー72(矢印を用いて一般的/概略的に示されている)は、第2のコンデンサ60から流れ出て、複数のスイッチを通過し、グランドに至る。第2の電流フロー72は、2つの経路の内の一方に沿って移動しうる。第2の電流フロー72のための第1の経路は、第1の端子62から、第2のスイッチ46を通過して、グランドまでである。第2の電流フロー72のための第2の経路は、第2の端子64から、第3のスイッチ54と第2のスイッチ46とを通過して、グランドまでである。
次に図3を参照すると、電位計14の動作の第1のモードが示されている。この第1の動作モードは、例えば、電離箱12の比較的小さな電流など、第1の範囲の電流を検出するのに用いられる。ある可能性がある例では、第1の動作モードは、比較的小さな電流レベルを生成する背景放射レベルを検出するのに用いられる。実際、第1のコンデンサ30の容量(例えば、3ピコファラッドから4.7ピコファラッド)は、第2のコンデンサ60の容量(例えば、470ピコファラッドから68ナノファラッド)よりも小さい。第1のコンデンサ30の容量が第2のコンデンサ60と比較して相対的に小さいことにより、背景放射レベルのモニタリングおよび/または低放射線の期間など、比較的小さな電流レベルに関するより正確な検出が可能になる。
第1の動作モードの間には、第2のスイッチ46が閉じているのに対して、第1のスイッチ40と第3のスイッチ54とが開いていることがありうる。第2のスイッチ46が閉じていて第1の端子47において接地されていることに起因して、第1のスイッチ40の両端の間の電位はゼロである。2つの端子(例えば、第1のスイッチ40の第1の端子41と第2の端子)の両端の間の電位がゼロであるときには、電流がそれらの端子の間を流れることはない。このゼロの電位が、第1のスイッチ40の両端の間の電流の漏れを制限する。よって、電流74は、第1のコンデンサ30から、第1の端子32を通過して、電離箱12に至る。
次に図4を参照すると、電位計14の動作の第2のモードが示されている。この第2の動作モードは、例えば、第1の動作モードと比較して、電離箱12における比較的大きな電流など、第2の範囲の電流を検出するのに用いられる。ある可能性がある例では、電離箱12の内部での比較的高いレベルの放射線に応答して、比較的大きな電流が生成される。実際、第1のコンデンサ30の容量(例えば、3ピコファラッドから4.7ピコファラッド)と第2のコンデンサ60の容量(例えば、470ピコファラッドから68ナノファラッド)とを組み合わせると、第1のコンデンサ30単独の容量よりも著しく大きい。第1のコンデンサ30と第2のコンデンサ60とを組み合わせた比較的大きな容量により、高レベルの放射線のモニタリングの間など、比較的大きな電流レベルに関するより正確な検出が可能になる。
第2の動作モードの間は、第1のスイッチ46は閉じている。他方で、第2のスイッチ46と第3のスイッチ54とは開いている。よって、電流80は、第2のコンデンサ60から、第1の端子62を通過し、第1のスイッチ40を通過して、電離箱12に至る。同様に、電流82は、第1のコンデンサ30から、第1の端子32を通過して、電離箱12に至る。
第1のスイッチ40、第2のスイッチ46、および第3のスイッチ54の開閉は、任意の数の方法で制御される。ある可能性がある例では、これらのスイッチは、光アイソレータ(例えば、オプトカプラ、フォトカプラ、光学アイソレータなど)を含む。そのような例では、発光ダイオード(LED)などの光源が光センサに対して選択的に点灯して、スイッチを開閉させることができる。光源は、例えば、コントローラ16によって制御することが可能である。一例として、東芝製のTLP3250フォトカプラがある。もちろん、スイッチはこの例に限定されることはなく、任意の数の方法で選択的に開閉することができる。
第1のスイッチ40、第2のスイッチ46、および第3のスイッチ54を選択的に開閉することにより、電位計14をリセットモード(図2)、第1の動作モード(図3)、および第2の動作モード(図4)で動作させることができる。第1のモードまたは第2のモードでの動作は、電離箱12の中へ流れ込む電流の大きさに基づく。特に、ある電圧がコンデンサに印加されると、そのコンデンサは、方程式I=Cx(dV/dt)で表される電流を生成する。ここで、Iは電流出力を表し、Cはコンデンサ(例えば、第1のコンデンサ30および/または第2のコンデンサ60)の容量を表し、(dV/dt)は入力電圧の変化率である。したがって、ある例において、電源17から一方または両方のコンデンサに印加された電圧が一定の割合の傾斜を有する場合には、(dV/dt)は定数になる。結果的に、コンデンサの容量が一定に維持される場合には、結果的にコンデンサから生じる電流信号は、一定の大きさを有することになる。
この関係を用いて、電位計14は、第1の動作モード、第2の動作モード、またはリセットモードの間で切り換わる。第1の動作モードの間は、電離箱12によって検出される放射線レベルは、比較的低い(例えば、背景放射レベル)。したがって、低い放射レベルに比例して、比較的小さな電流が生成される。この例では、電離箱12に負のバイアスがかけられているので、この低レベルの電流が、電位計14から電離箱12の中に引き込まれる。
電離箱12の中に引き込まれる電流が低レベルであることにより、コンデンサ(例えば、第1のコンデンサ30)に、浅い勾配を有する比較的傾斜の小さな電圧が生じる。この傾斜が小さな電圧はコントローラ16によって検出され、それに応答して、第1の動作モードが開始される。上述したように、第1の動作モードの間は、第1のスイッチ40と第3のスイッチ54とが開いており、他方で、第2のスイッチ46は閉じている。したがって、第1のスイッチ40と第3のスイッチ54との両端の電流の漏れは最小化され、放射線レベルの正確な測定が達成される。
第2の動作モードでは、電離箱12によって検出される放射線レベルは、比較的高い。したがって、より高い放射線レベルに比例して、比較的大きな電流が生成される。電離箱12の中に引き込まれる電流のレベルがより高いために、コンデンサ(例えば、第1のコンデンサ30および第2のコンデンサ)に、比較的急峻な勾配を有し傾斜がより大きな電圧が生じる。この傾斜がより大きな電圧がコントローラ16によって検出され、それに応答して、第2の動作モードが開始される。上述したように、第2の動作モードの間は、第1のスイッチ40が閉じており、他方で、第2のスイッチ46と第3のスイッチ54とが開いている。したがって、第2のスイッチ46と第3のスイッチ54との両端の電流の漏れは最小化され、放射線レベルの正確な測定が達成される。
次に図5を参照すると、放射線モニタ10の電位計14を流れる電流フローを測定する例示的な方法200の流れ図が示されている。この方法200は、図1から図4を参照して示し説明した例示的な放射線モニタ10と電位計14との関係で、実行することができる。この方法200は、すべてのスイッチが開いている最初のステップ204を含みうる。特に、第1のスイッチ40、第2のスイッチ46、および第3のスイッチ54を、最初に選択的に開くことが可能である。次に、ステップ208では、コントローラ16が、電流フローが受け入れ可能な限度の範囲内かどうかを判断することができる。例えば、電流フローが小さすぎるまたは大きすぎる(すなわち、「ワクを外れている」と称される)場合には、そのような電流は、受け入れ可能な限度の内にない。
次に、ステップ212に示されているように、電流が小さすぎるまたは大きすぎる場合には、スイッチはすべて閉じられる。スイッチがすべて閉じられている場合には、電位計14はリセットモードにある(図2に示されている)。このリセットモードにより、第1のコンデンサ30と第2のコンデンサ60とを放電することにより、電位計14の周期的なリセットが可能になる。
次に、ステップ216に示されているように、コントローラ16は、大きな電流が検出されたかどうかを判断することができる。大きな電流が検出されると、コントローラ16は、第2のスイッチ46と第3のスイッチ54とをトリガしてリリース/開放させることができる(ステップ220に示されている)。実際、図4に関して上述したように、第1のスイッチ40が閉じていて、他方で、第2のスイッチ46と第3のスイッチ54とが開いているときには、電位計14は第2のモードにある。この第2のモードは、例えば、電離箱12の中に流れる比較的大きな電流を検出するために用いられる。第2のモードにより、高放射線レベルのモニタリングの間など、より大きな電流レベルを比較的正確に検出することが可能になる。
ステップ216で大きな電流が検出されず、比較的小さな電流が電離箱12の中に流れ込んでいる場合には、コントローラ16は、第1のスイッチ40と第3のスイッチ54とをトリガして、リリース/開放させることができる(ステップ224に示されている)。図3に関して上述したように、第1のスイッチ40と第3のスイッチ54とが開いていて、他方で、第2のスイッチ46が閉じているときには、電位計14は第1のモードにある。この第1のモードは、例えば、電離箱12の中に流れる比較的小さな電流を検出するために用いられる。第1のモードにより、より小さな電流レベルを比較的正確に検出することが可能になる。
電位計14に第1のスイッチ40、第2のスイッチ46、および第3のスイッチ54を提供することにより、比較的高速のゲインの変化を、最小限の電流の漏れしか生じずに、モニタすることができる。更に、電流は、広範囲の温度にわたって、漏れを制限される。実際、このようなスイッチとコンデンサとの構成により、例えば、摂氏50度から60度、および/または摂氏35度の周囲温度を超える温度の範囲でも、電流の漏れが最小であることが保証される。
以上では、本発明について、上述した例示的な実施形態を参照しながら説明がなされてきた。本明細書を読み、理解することにより、他の実施形態への修正および改変を想到できるであろう。本発明の1つまたは複数の態様を組み入れている例示的な実施形態は、そのような修正や改変のすべてを、それらが添付の特許請求の範囲に属する限り、含むことが意図されている。
10 放射線モニタ
12 電離箱
14 電位計
16 コントローラ
17 電源
18 プロセッサ
20 演算増幅器
22 反転入力
24 非反転入力
26 出力
30 第1のコンデンサ
32 第1のコンデンサの第1の端子
34 第1のコンデンサの第2の端子
40 第1のスイッチ
41 第1のスイッチの第1の端子
42 第1のスイッチの第2の端子
46 第2のスイッチ
47 第2のスイッチの第1の端子
48 第2のスイッチの第2の端子
54 第3のスイッチ
55 第3のスイッチの第1の端子
56 第3のスイッチの第2の端子
60 第2のコンデンサ
62 第2のコンデンサの第1の端子
64 第2のコンデンサの第2の端子
70 第1の電流フロー
72 第2の電流フロー
80 電流
82 電流

Claims (9)

  1. 電離箱であって、前記電離箱の中に至る放射線を検出し、前記検出された放射線に応答して電流フローを生成する電離箱と、
    前記電離箱に電気的に接続されており、前記電離箱によって生成された前記電流フローを測定する電位計と、
    を備え、
    前記電位計は、
    前記電離箱に接続された少なくとも1つの入力と、出力とを有する増幅器と、
    第1端子および第2端子を有し、第1のコンデンサが前記少なくとも1つの入力と前記出力との間に直に接続されるように、前記第1端子および前記第2端子が、それぞれ前記少なくとも1つの入力および前記出力に接続される第1のコンデンサと、
    前記少なくとも1つの入力と前記出力との間に選択的に接続可能な第2のコンデンサと、
    前記第2のコンデンサを前記少なくとも1つの入力と前記出力との間に選択的に接続し、前記少なくとも1つの入力および前記出力を共にかつ直に、選択的に接地するように動作可能な複数のスイッチと、
    を備え、
    前記電位計は、前記複数のスイッチの動作により、前記電離箱によって生成された前記電流フローの大きさに基づき複数のモードで動作可能であるように構成されており、
    前記第2のコンデンサは第1端子および第2端子を有し、前記第2のコンデンサの前記第2端子が前記出力に接続され、
    前記複数のスイッチが、
    前記少なくとも1つの入力と前記第2のコンデンサの前記第1端子との間に接続された第1のスイッチであって、前記第1のスイッチが閉じたときに、前記第2のコンデンサの前記第1端子が前記少なくとも1つの入力に接続される第1のスイッチと、
    前記第2のコンデンサの前記第1端子と接地との間に接続された第2のスイッチであって、前記第2のスイッチが閉じたときに、前記第2のコンデンサの前記第1端子が接地される第2のスイッチと、
    前記第2のコンデンサと並列に、前記第2のコンデンサの前記第1端子と前記第2端子との間に接続された第3のスイッチであって、前記第3のスイッチが閉じたときに、前記第2のコンデンサの前記第1端子と前記第2端子とが接続される第3のスイッチと、
    を含む、
    放射線モニタ。
  2. 前記第1のコンデンサが、第1の容量を有し、
    前記第2のコンデンサが、異なる第2の容量を有する、
    請求項1に記載の放射線モニタ。
  3. 前記電位計が動作可能である前記複数のモードが、前記第1のスイッチと前記第3のスイッチとが開いており前記第2のスイッチが閉じて、前記第2のコンデンサの前記第1端子が接地する第1のモードを含む、請求項1または2に記載の放射線モニタ。
  4. 前記複数のモードが、前記第2のスイッチと前記第3のスイッチとが開いており前記第1のスイッチが閉じて、前記第1のコンデンサと前記少なくとも1つの入力との接続に加えて、前記第2のコンデンサの前記第1端子が前記少なくとも1つの入力に接続される第2のモードを含む、請求項3に記載の放射線モニタ。
  5. 前記複数のモードが、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチと前記第3のスイッチとのそれぞれが閉じて、前記少なくとも1つの入力および前記出力が接地され、前記第1のコンデンサの前記第1端子および前記第2端子が接地され、前記第2のコンデンサの前記第1端子および前記第2端子が接地されるリセットモードを含む、請求項4に記載の放射線モニタ。
  6. 前記電位計が、前記測定された電流フローが第1の範囲内にあることに応答して前記第1のモードで動作可能であるように構成されている、請求項4または5に記載の放射線モニタ。
  7. 前記電位計が、前記測定された電流フローが前記第1の範囲よりも大きな第2の範囲内にあることに応答して前記第2のモードで動作可能であるように構成されている、請求項6に記載の放射線モニタ。
  8. 前記第1から前記第3のスイッチの内の少なくとも1つが光アイソレータを含む、請求項1から7のいずれかに記載の放射線モニタ。
  9. 放射線モニタの電位計を流れる電流フローを測定する方法であって、
    放射線を検出し、検出された放射線に応答して電流フローを生成する電離箱を提供するステップと、
    前記電離箱に電気的に接続されており前記電離箱の電流フローを測定する電位計を提供するステップであって、
    前記電位計は、
    前記電離箱に接続された少なくとも1つの入力と、出力とを有する増幅器と、
    第1端子および第2端子を有し、第1のコンデンサが前記少なくとも1つの入力と前記出力との間に直に接続されるように、前記第1端子および前記第2端子が、それぞれ前記少なくとも1つの入力および前記出力に接続される第1のコンデンサと、
    前記少なくとも1つの入力と前記出力との間に選択的に接続可能な第2のコンデンサと、
    前記第2のコンデンサを前記少なくとも1つの入力と前記出力との間に選択的に接続し、前記少なくとも1つの入力および前記出力を共にかつ直に、選択的に接地するように動作可能な複数のスイッチと、
    を備え、
    前記第2のコンデンサは第1端子および第2端子を有し、前記第2のコンデンサの前記第2端子が前記出力に接続され、
    前記複数のスイッチが、
    前記少なくとも1つの入力と前記第2のコンデンサの前記第1端子との間に接続された第1のスイッチであって、前記第1のスイッチが閉じたときに、前記第2のコンデンサの前記第1端子が前記少なくとも1つの入力に接続される第1のスイッチと、
    前記第2のコンデンサの前記第1端子と接地との間に接続された第2のスイッチであって、前記第2のスイッチが閉じたときに、前記第2のコンデンサの前記第1端子が接地される第2のスイッチと、
    前記第2のコンデンサと並列に、前記第2のコンデンサの前記第1端子と前記第2端子との間に接続された第3のスイッチであって、前記第3のスイッチが閉じたときに、前記第2のコンデンサの前記第1端子と前記第2端子とが接続される第3のスイッチと、
    を含む、
    ステップと、
    前記測定された電流が第1の範囲内にあることに応答して、電流が前記第1のスイッチを流れず、前記第2のコンデンサの前記第1端子が接地されるように前記電位計を第1のモードで動作させるステップと、
    前記測定された電流が第2の範囲内にあることに応答して、前記電位計を第2のモードで動作させるステップであって、前記第2のスイッチを開き、前記第3のスイッチを開き、前記第1のスイッチを閉じて、前記第1のコンデンサと前記少なくとも1つの入力との接続に加えて、前記第2のコンデンサの前記第1端子が前記少なくとも1つの入力に接続されるように、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチと前記第3のスイッチとを動作させるステップを含む、前記電位計を第2のモードで動作させるステップと、
    前記電位計をリセットモードで動作させるステップであって、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチと前記第3のスイッチとを閉じて、前記少なくとも1つの入力および前記出力が接地され、前記第1のコンデンサの前記第1端子および前記第2端子が接地され、前記第2のコンデンサの前記第1端子および前記第2端子が接地されるように、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチと前記第3のスイッチとを動作させるステップを含む、前記電位計をリセットモードで動作させるステップと、
    を含む、方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105589503B (zh) * 2016-01-27 2017-11-07 中国计量科学研究院 一种直流恒流电流信号的产生方法和恒流源装置
WO2018231486A1 (en) * 2017-06-16 2018-12-20 Thermo Fisher Scientific Inc. System and method for an interrupt mode ion chamber
WO2019003406A1 (ja) * 2017-06-30 2019-01-03 株式会社島津製作所 放射線計測器および放射線撮影装置
US11646190B2 (en) 2017-07-21 2023-05-09 Atonarp Inc. Current detection device and spectrometer using the same
US10224192B2 (en) * 2017-07-21 2019-03-05 Atonarp Inc. High-speed low-noise ion current detection circuit and mass spectrometer using the same
US11417509B2 (en) * 2017-07-21 2022-08-16 Atonarp Inc. Current detection device and spectrometer using ihe same
EP3671285A1 (de) * 2018-12-21 2020-06-24 Berthold Technologies GmbH & Co. KG Vorrichtung zum messen ionisierender strahlung
CN110376499B (zh) * 2019-07-16 2021-08-31 西北核技术研究院 三极管三端电流波形、退火效应测量系统及方法、中子注量测量方法
US20240163586A1 (en) * 2021-03-26 2024-05-16 Sony Semiconductor Solutions Corporation Image sensor array with capacitive current source and solid-state imaging device comprising the same

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4050019A (en) * 1976-07-26 1977-09-20 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Range switching circuit for solid state electrometer
US4717548A (en) * 1980-06-09 1988-01-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services Analytically controlled blood perfusion system
JPS5734473A (en) * 1980-08-08 1982-02-24 Mitsubishi Electric Corp Measuring device for radiation
JPS6154487A (ja) * 1984-08-25 1986-03-18 Fuji Electric Co Ltd 放射線測定装置
DE3606894A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-10 Zdzislaw Gulczynski Digital-analog-wandler
US4977367A (en) * 1988-01-28 1990-12-11 Bicron Corporation Range selector switch for ion chamber instrument
US5572118A (en) * 1995-06-29 1996-11-05 Mks Instruments, Inc. Charge rate electrometer including means for substantially eliminating leakage currents
US6061009A (en) * 1998-03-30 2000-05-09 Silicon Laboratories, Inc. Apparatus and method for resetting delta-sigma modulator state variables using feedback impedance
JP4098884B2 (ja) * 1998-07-08 2008-06-11 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置
JP4427118B2 (ja) * 1999-03-12 2010-03-03 株式会社東芝 X線コンピュータ断層撮影装置
US7498585B2 (en) * 2006-04-06 2009-03-03 Battelle Memorial Institute Method and apparatus for simultaneous detection and measurement of charged particles at one or more levels of particle flux for analysis of same
JP4814775B2 (ja) * 2006-12-11 2011-11-16 日立アロカメディカル株式会社 放射線測定装置
US8354847B2 (en) * 2007-08-15 2013-01-15 Electrostatic Answers Llc Electrometer with in-measurement range adjustment and methods thereof for measuring electrostatic charge
CN201173909Y (zh) * 2008-03-05 2008-12-31 中国原子能科学研究院 一种离子脉冲电离室测量氡浓度的系统
KR101107164B1 (ko) * 2010-01-14 2012-01-25 삼성모바일디스플레이주식회사 엑스레이 검출장치 및 이의 구동방법
CN201622350U (zh) * 2010-02-10 2010-11-03 陕西卫峰核电子有限公司 高气压电离室

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