JP6325201B2 - 試験測定装置 - Google Patents

試験測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6325201B2
JP6325201B2 JP2013107148A JP2013107148A JP6325201B2 JP 6325201 B2 JP6325201 B2 JP 6325201B2 JP 2013107148 A JP2013107148 A JP 2013107148A JP 2013107148 A JP2013107148 A JP 2013107148A JP 6325201 B2 JP6325201 B2 JP 6325201B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
span
test
power
user
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013107148A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013242318A (ja
Inventor
ジョーン・エフ・ターピン
アルフレッド・ケイ・ヒルマン・ジュニア
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of JP2013242318A publication Critical patent/JP2013242318A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6325201B2 publication Critical patent/JP6325201B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/133Arrangements for measuring electric power or power factor by using digital technique
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/029Software therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/252Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques using analogue/digital converters of the type with conversion of voltage or current into frequency and measuring of this frequency
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/18Spectrum analysis; Fourier analysis with provision for recording frequency spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F15/00Digital computers in general; Data processing equipment in general
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/20Measurement of non-linear distortion

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

本発明は、試験測定装置に関し、特に、周波数領域情報を表示する試験測定装置に関する。
米国オレゴン州ビーバートンのテクトロニクス社から入手可能なRSA6100シリーズ・リアルタイム・スペクトラム・アナライザやMDO4000シリーズ・ミックスド・ドメイン・オシロスコープなどのような試験測定装置は、入力信号について、時間領域と周波数領域の両方から表示する能力がある。
こうした試験測定装置を利用する場合、ユーザは、時間領域では表示できるものの、周波数領域では表示できない信号に出くわすことがある。これは、時間領域表示では、試験測定装置の取込み(アクイジション)帯域幅から得られた全てのデータが示されるのに対して、周波数領域表示では、そのデータの一部分のみしか示されないために、普通に生じていることである。つまり、周波数領域表示では、取込み帯域幅の端部に関する信号のデータは、試験測定装置の取込みパス内の種々のアナログ及びデジタル・フィルタによって減衰されており、また、位相の非線形性が原因で歪んでいるために、取込み帯域幅の両端部における信号のデータも表示しないのである。結果として、試験測定装置の取込み帯域幅内にあるものの表示スパン外の信号、つまり、「帯域内だがスパン外」又は単純に「スパン外」の信号は、時間領域表示では見ることが可能であるが、周波数領域表示では見ることができない。
この不一致によって、ユーザが混乱する様々な事態が生じるという結果になり得る。
1つの状況としては、時間領域及び周波数領域の測定値が単純に一致しないというものがある。ユーザは、等しい測定値になると推定される2つの値が、なぜ異なる結果となるのか、その原因を探り続けることになる。
別の状況としては、取込み帯域内だがスパン外の過大パワーが、オーバーフロー状態を生じさせる場合がある。オーバーフロー状態とは、信号の振幅が過大で、デジタル信号処理の演算ビット数が不足している状態のことである。周波数領域表示を見ているユーザには、その過大パワーが見えず、そして、なぜ装置がオーバーフロー状態を示しているのか、考え続けることになる。
ドイツのローデ・シュワルツ社のFSWシグナル・スペクトラム・アナライザは、帯域端部のロールオフ部分を含む取込み帯域幅全体を示す拡大スペクトラム表示をユーザが見ることが可能になっている。
特開2005−164295号明細書
しかし、この実施形態における問題は、拡大スペクトラム表示機能を有効にする場合、ユーザがこの機能について、充分に精通していなければならないということである。スペクトラム・アナライザに関する経験の浅いユーザにとっては、異なる測定結果が得られることも、説明もなく警告メッセージ(例えば、上述のオーバーフロー状態など)が出ることも、非常に困惑することである。真の問題を見るためには、スパンの設定をもっと広くしなければならないが、十二分な経験のないユーザには、それがわからないかもしれない。
本発明の実施形態による試験測定装置は、取込み(アクイジション)帯域内だがスパン外の過大エネルギーを自動的に検出し、ユーザにその状態を通知する。
本発明の概念1は、試験測定装置であって、
入力信号をデジタル化してデジタル・データを生成するアナログ・デジタル変換部と、
上記デジタル・データをスパン内パワー及びスパン外パワーを有する周波数スペクトラムに変換する周波数変換部と、
スパン外過大パワーを検出する検出部と、
検出された上記スパン外過大パワーをユーザに通知する通知手段と
を具えている。
本発明の概念2は、上記概念1の試験測定装置であって、上記検出部が、あるパワー・レベル絶対値に対して上記スパン外パワーの合計を比較することによって、上記スパン外過大パワーを検出することを特徴としている。
本発明の概念3は、上記概念1の試験測定装置であって、上記スパン外パワーの合計を上記スパン内パワーの合計に対して比較することによって上記スパン外過大パワーを検出することを特徴としている。
本発明の概念4は、上記概念1の試験測定装置であって、上記検出部は、上記スパン外パワーの合計をスパン内の最大信号に対して比較することによって上記スパン外過大パワーを検出することを特徴としている。
本発明の概念5は、上記概念1の試験測定装置であって、上記検出部は、上記スパン外パワーの合計を表示値に対して比較することによって上記スパン外過大パワーを検出することを特徴としている。
本発明の概念6は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、時間領域表示上でメッセージを表示することによって、上記ユーザに通知することを特徴としている。この表示されるメッセージとは、スパン外過大エネルギー存在をユーザに警告するものである。
本発明の概念7は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、周波数領域表示上でメッセージを表示することによって、上記ユーザに通知することを特徴としている。この表示されるメッセージとは、スパン外過大エネルギー存在をユーザに警告するものである。



本発明の概念8は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、通知音を生成することによって、上記ユーザに通知することを特徴としている。
本発明の概念9は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、上記ユーザにフル・スパンで見るよう指示することによって、上記ユーザに通知することを特徴としている。
本発明の概念10は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、上記ユーザのために、フル・スパンを表示することによって、上記ユーザに通知することを特徴としている。このとき、スパン内とスパン外の境界を同時に表示しても良い。
本発明の概念11は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、インタラプトを生じさせることで、上記ユーザに通知することを特徴としている。
本発明の概念12は、上記概念1の試験測定装置であって、上記通知手段は、無効な測定値であることを示しつつ、測定結果を提供することによって、上記ユーザに通知することを特徴としている。
本発明の目的、効果及び他の新規な点は、以下の詳細な説明を添付の特許請求の範囲及び図面とともに読むことによって明らかとなろう。
図1は、従来の試験測定装置の単純化したハイレベル・ブロック図である。 図2は、本発明の実施形態による試験測定装置の単純化したハイレベル・ブロック図である。 図3は、図2の試験測定装置を用いて生成された周波数領域表示の一例を示した図である。
図1は、リアルタイム・スペクトラム・アナライザやミックスド・ドメイン・オシロスコープなどのような従来の試験測定装置100の単純化したハイレベル・ブロック図である。最もシンプルな形態においては、アナログ入力信号がアナログ・デジタル変換部105に入力され、アナログ・デジタル変換部105はアナログ入力信号をデジタル化して、デジタル・データを生成する。試験測定装置の形態によっては、アナログ入力信号をアナログ・フィルタ104によってデジタル化する前にフィルタ処理しても良く、また、デジタル化した後にデジタル・フィルタ106でフィルタ処理(例えば、サンプル・レートを間引きするなど)をしても良い。デジタル・データは、続いて、2つの異なる表示を行うために処理される。
第1に、デジタル・データは、時間対パワー又は振幅計算部110に供給され、例えば、デジタル・データを同相(I)サンプル及び直交(Q)サンプルに変換され、続いてI及びQの合計の平方根を計算することによって、時間に対するパワー又は振幅のトレースを計算する処理が行われ、次に、このトレースが時間領域表示115上で表示される。
また、デジタル・データは、スペクトラム計算部120に供給され、例えば、高速フーリエ変換(FFT)、チャープZなどのような周波数変換を用いて、周波数スペクトラムを計算する処理が行われる。上述のように、フィルタ104及び106には、ロールオフがあり、周波数スペクトラムの両端部、例えば、その帯域幅の上下10%について、歪ませるので、これらはユーザの使用に適したものでなくなる。そのため、スペクトラム計算部120は、周波数スペクトラムのこれら部分を表示部へと通常は通過させない。なお、試験測定装置100は、種々の試験測定装置の中の任意のものを代表したものと考えて良く、ダウン・コンバータ、トリガ回路などの具体的な構成要素は、簡単のために示していない。
図2は、本発明の実施形態による試験測定装置200の単純化したハイレベル・ブロック図である。試験測定装置200は、図1に示した試験測定装置100と似ているが、スペクトラム計算部120での計算で得られた周波数スペクトラムが、スパン外エネルギー計算部205にも供給され、これが入力信号に関して取込み(アクイジション)帯域内だがスパン外の過大エネルギーをモニタする点で異なっている。帯域内スパン外過大エネルギーが検出されると、試験測定装置200は、その状態をユーザに通知する。
帯域内スパン外過大エネルギーは、種々の方法の内の任意の方法で検出するようにしても良い。例えば、種々の実施形態においては、パワー・レベルの任意の絶対値、スパン内パワー合計に対する任意の比率(パーセンテージ)、スパン内信号の最高値に対する任意の比率(パーセンテージ)、又は表示値(例えば、スクリーン上の一番上の値や任意の基準値)などの種々の値の任意の1つを、スパン外パワーの合計が超えるか否かを判断することによって、帯域内スパン外過大エネルギーを検出するようにしても良い。これらの値は、ユーザ又は装置が定義するようにしても良い。これの代わりに、例えば、スパン内パワーを第1アナログ・フィルタでフィルタ処理し、スパン外パワーを第2アナログ・フィルタでフィルタ処理し、そして、これら得られたフィルタ処理信号の振幅を比較するなど、アナログ回路を用いてスパン外過大パワーを検出するようにしても良い。
試験測定装置は、帯域内スパン外過大エネルギーを種々の方法で通知するようにしても良い。例えば、ある実施形態では、試験測定装置が、その表示装置の画面内の時間領域表示115又は周波数領域表示130上にメッセージを表示する。別の実施形態では、試験測定装置が通知音を生成する。また別の実施形態では、試験測定装置がユーザにフル・スパンを見るように指示を出すことで、ユーザがスパン外過大エネルギーを見ることができるようにするか、これに代えて、試験測定装置が、そのユーザのために、自動的にフル・スパンを表示しても良い。試験測定装置が、外部の制御用パソコンから遠隔制御で動作している場合では、試験測定装置がインタラプト(interrupt:中断)信号を生成して制御用パソコンに送信し、制御用パソコンにおける処理を一時中断させたり、インタラプトのメッセージがパソコン上で表示されるようにしても良い。更には、試験測定装置が、測定値が無効であることを示しつつ、測定結果を返すようにしても良い。
理解を助けるために、図3では、図2の試験測定装置200を用いて生成された周波数領域表示300の一例を示している。その全取込み帯域幅は、97〜103MHz、つまり、6MHzである。しかし、スペクトラムの上部及び下部の0.5MHzは、上述のように歪んでいるので、通常の動作では、これら上部及び下部の0.5MHzは表示されず、そのため、ユーザには、点線305及び310で示される97.5〜102.5MHz、つまり、5MHzの帯域幅だけが見える。従って、通常の動作では、この表示300を見ているユーザは、表示の中央の信号315が取込み帯域幅内の最大の信号であると(誤って)考えるであろうが、帯域内ながらスパン外の信号320が実際にはパワーにおいて更に高い。帯域内スパン外信号320は、上述したような混乱を招く事態を起こし得るのであるが、上述のように、試験測定装置200は、帯域内スパン外信号320を自動的に検出し、メッセージ325を介してユーザに通知し、これによって混乱を回避する。試験測定装置200は、また、6MHzの帯域幅のフル・スパンを表示するようにユーザに指示しても良く、これによってユーザは、帯域内スパン外信号320を見ることができる。更に、試験測定装置200が、帯域内スパン外過大信号320を検出すると、自動的に6MHz帯域幅のフル・スパンを表示しても良く、このとき、設定された通常のスパンとの境界(スパン内とスパン外の境界、例えば、図3における点線305及び310)を合わせて表示しても良い。
時間領域及び周波数領域表示の両方を持つ試験測定装置の観点から本発明を説明してきたが、本発明は、周波数領域表示だけを持つ試験測定装置において、例えば、オーバーフロー状態となってしまう帯域内スパン外信号を検出する場合などにおいても、有用であることは明らかであろう。
先に図示するとともに説明してきたスペクトラム計算、時間対振幅計算、スパン外エネルギー計算などの種々の実施形態や要素は、ハードウェア、ソフトウェア、又は、これら2つの組み合わせで実現されても良く、そして、汎用マイクロプロセッサ、デジタル・シグナル・プロセッサ、特定用途向けIC(ASIC)、FPGA(フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ)を含んでいるか、これらの上で実現されても良い。
上述の説明から明らかなように、本発明は、試験測定装置の分野において、大きな進歩をもたらすものである。本発明の具体的な実施形態を図示及び説明してきたが、本発明の精神と範囲から逸脱することなく、多様な変形が可能なことは明らかであろう。
104 アナログ・フィルタ
105 アナログ・デジタル変換部
106 デジタル・フィルタ
110 時間対振幅計算部
115 時間領域表示
120 スペクトラム計算部
130 周波数領域表示
200 試験測定装置
205 スパン外エネルギー計算部

Claims (2)

  1. 入力信号をデジタル化してデジタル・データを生成するよう構成されるアナログ・デジタル変換部と、
    上記デジタル・データをスパン内パワー及びスパン外パワーを有する周波数スペクトラムに変換するよう構成される周波数変換部と、
    上記スパン外パワーをスパン外パワー状態パラメータと比較することによって、上記スパンパワーの状態を検出するよう構成される検出部と、
    検出された上記スパンパワーの上記状態をユーザに通知する通知手段と
    を具え
    上記周波数スペクトラムの全帯域幅は、測定に適した帯域幅であるスパンと、測定に適さないスパン外とから構成され、上記スパン外パワーが上記スパン外の上記周波数スペクトラムから算出される試験測定装置。
  2. 上記通知手段は、上記ユーザのために上記周波数スペクトラムの上記全帯域幅を表示することによって、上記ユーザに通知することを特徴とする請求項1記載の試験測定装置。
JP2013107148A 2012-05-22 2013-05-21 試験測定装置 Active JP6325201B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/477,360 US9207269B2 (en) 2012-05-22 2012-05-22 Automatically detecting in-band but out-of-span power in a frequency-domain test and measurement instrument
US13/477,360 2012-05-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013242318A JP2013242318A (ja) 2013-12-05
JP6325201B2 true JP6325201B2 (ja) 2018-05-16

Family

ID=48444194

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013107148A Active JP6325201B2 (ja) 2012-05-22 2013-05-21 試験測定装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9207269B2 (ja)
EP (1) EP2667203B1 (ja)
JP (1) JP6325201B2 (ja)
KR (1) KR20130130661A (ja)
CN (1) CN103424612B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD947693S1 (en) 2019-09-20 2022-04-05 Tektronix, Inc. Measurement probe head assembly

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5812551B2 (ja) * 1977-11-10 1983-03-09 横河電機株式会社 波形表示警報装置
DE3408026A1 (de) 1984-03-05 1985-09-12 Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim Digitales messgeraet zur quasi analogen messwertanzeige
JPH0769363B2 (ja) * 1988-03-10 1995-07-31 沖電気工業株式会社 周波数分析装置におけるラインスペクトル信号自動検出方式
JP2891497B2 (ja) * 1990-01-25 1999-05-17 アンリツ株式会社 スペクトラムアナライザ
US6522345B1 (en) * 1998-01-12 2003-02-18 Agilent Technologies, Inc. System and method for simultaneously invoking automated measurements in a signal measurement system
US6681191B1 (en) * 1999-12-21 2004-01-20 Tektronix, Inc. Frequency domain analysis system for a time domain measurement instrument
US6687628B2 (en) * 2000-12-29 2004-02-03 Agilent Technologies, Inc. Enhanced signal analysis in an amplitude versus frequency format
US6768293B2 (en) * 2001-11-30 2004-07-27 Agilent Technologies, Inc. Displaying signal measurements within multiple ranges of a parameter
US6950054B1 (en) * 2001-12-03 2005-09-27 Cyterra Corporation Handheld radar frequency scanner for concealed object detection
US6734857B2 (en) * 2002-08-07 2004-05-11 Agilent Technologies, Inc. Waveform zoom feature within an instrument having a table driven graphical display
JP4254193B2 (ja) * 2002-10-10 2009-04-15 横河電機株式会社 測定装置及び測定結果の表示方法
US7107165B2 (en) * 2003-11-19 2006-09-12 Agilent Technologies, Inc. Markers used in the calculation and display of band functions
US7233349B2 (en) 2004-09-01 2007-06-19 Videotek, Inc. Video timing display indicator
US20070027675A1 (en) * 2005-07-26 2007-02-01 Lecroy Corporation Spectrum analyzer control in an oscilloscope
US8184121B2 (en) 2005-11-04 2012-05-22 Tektronix, Inc. Methods, systems, and apparatus for multi-domain markers
JP5309331B2 (ja) 2007-07-16 2013-10-09 テクトロニクス・インコーポレイテッド 測定装置の関心領域管理方法
US8860400B2 (en) 2007-09-27 2014-10-14 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods for providing signal analysis data
US8155326B2 (en) * 2007-10-09 2012-04-10 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. System, method, and apparatus for using the sound signature of a device to determine its operability
US9784765B2 (en) * 2009-03-13 2017-10-10 Tektronix, Inc. Graphic actuation of test and measurement triggers
US8461850B2 (en) * 2010-08-13 2013-06-11 Tektronix, Inc. Time-domain measurements in a test and measurement instrument
CN201804043U (zh) * 2010-08-24 2011-04-20 浙江涵普电力科技有限公司 直流电源综合电能检测仪
KR101792261B1 (ko) * 2011-09-30 2017-11-02 삼성전기주식회사 전력 측정 장치
US9702907B2 (en) * 2011-12-16 2017-07-11 Tektronix, Inc. Frequency mask trigger with non-uniform bandwidth segments

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130130661A (ko) 2013-12-02
JP2013242318A (ja) 2013-12-05
US20130317769A1 (en) 2013-11-28
CN103424612A (zh) 2013-12-04
CN103424612B (zh) 2018-03-30
US9207269B2 (en) 2015-12-08
EP2667203A1 (en) 2013-11-27
EP2667203B1 (en) 2017-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5339536B2 (ja) 測定機器及びデータ取り込み方法
TWI586974B (zh) Partial discharge measurement devices, partial discharge measurement methods, and computer program products
JP2012042462A (ja) 試験測定機器及びトリガ方法
US9134347B2 (en) Rare anomaly triggering in a test and measurement instrument
US9291646B2 (en) Cross domain triggering in a test and measurement instrument
JP2006030202A (ja) 実時間パワー・マスク・トリガ
US9410989B2 (en) Oscilloscope with integrated generator and internal trigger
JP2006329979A (ja) 測定機器、自己相関トリガ発生方法及び発生器
US8452571B2 (en) Trigger figure-of-merit indicator
JP6325201B2 (ja) 試験測定装置
EP2905625A2 (en) Method for probe equalization
JP2009198188A (ja) 接地抵抗計
US20140012526A1 (en) Logical triggering in the frequency domain
KR101820040B1 (ko) 부분 방전 펄스 측정 장치 및 방법
JP2010185873A (ja) 測定機器及びデータ取り込み方法
JP2012233851A (ja) 実時間トリガ性能指数指示装置及び試験測定機器
JP6152806B2 (ja) 生体情報測定方法
JP2012047730A (ja) 試験測定機器
JP6168763B2 (ja) 試験測定装置及び試験測定装置における方法
KR20180015385A (ko) 보정 기능을 가지는 부분 방전 진단 장치 및 방법
EP2520941A1 (en) Trigger figure-of-merit indicator
JP2010139401A (ja) 入力信号処理方法
RU134028U1 (ru) Устройство регистрации биопотенциалов и температуры биологически активных точек
KR900000404B1 (ko) 오실로스코프내에서 선택된 신호의 검출여부를 가청음으로 알리는 방법
JP2016003915A (ja) 検査方法、検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A625 Written request for application examination (by other person)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625

Effective date: 20160502

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170214

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20170512

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20170713

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170809

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180123

R155 Notification before disposition of declining of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R155

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180412

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6325201

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150