JP6290854B2 - 改良された光学式走査プローブ - Google Patents
改良された光学式走査プローブ Download PDFInfo
- Publication number
- JP6290854B2 JP6290854B2 JP2015502353A JP2015502353A JP6290854B2 JP 6290854 B2 JP6290854 B2 JP 6290854B2 JP 2015502353 A JP2015502353 A JP 2015502353A JP 2015502353 A JP2015502353 A JP 2015502353A JP 6290854 B2 JP6290854 B2 JP 6290854B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- plane
- lens assembly
- light source
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 201
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 191
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 84
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 78
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 28
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 21
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 20
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 20
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 14
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 14
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 14
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 3
- 229920001651 Cyanoacrylate Polymers 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- NLCKLZIHJQEMCU-UHFFFAOYSA-N cyano prop-2-enoate Chemical class C=CC(=O)OC#N NLCKLZIHJQEMCU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 2
- 239000012943 hotmelt Substances 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000002860 competitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical class 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49826—Assembling or joining
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
精度:ユーザは、自らのストライプ走査プローブよりいっそう高い精度およびデータ品質を求めている。
機械的安定性:ユーザは、機械的に安定したストライプ走査プローブを求めている。
長期にわたる信頼性:走査プローブ内の光学システムは、定期的に再較正される必要はない。
速度:表面が走査されるとき、これらはサンプリングされる。表面再構成または測定の品質および自動化は、走査される生の点の数および密度に関連付けられる。市場の電流センサの走査速度は、通常、1秒間あたり3000から20000点である。1秒間あたり200000点を超える速度は、データ取り込み時間および以後の処理作業における手動介入の両方を低減することにより、ストライプ走査プローブの生産性を増大させることになる。
コンパクト性:内蔵式処理を有し、電子装置および関連ケーブルの余分なボックスを有さないストライプ走査プローブを提供することが望ましい。重量:重量が軽いストライプ走査プローブを提供することが望ましい。
コスト:市場は、競争がますます激しくなってきており、したがってストライプ走査プローブの製造コストの低減が、望ましい。
−撮像センサ(122)と、反射した光を検出するためのセンサレンズ組立体(124)とを備える検出ユニット(120)と、
−光を生成するための光源(142)と、光を焦点合わせするための光源光学系(145)、および物体を照射するための光平面(149)を生成するための光平面生成光学系(143)とを備える、光投影ユニット(141)と、
−光平面の位置または向きを検出ユニットに対して調整するための、光投影ユニット(141)内に含まれる調整機構(155)と、を備える、走査プローブ(100)に関する。
−センサレンズ組立体(124)の撮像平面が光平面(149)と一致するように、調整機構(155)によって、光平面(149)の位置および/または向きを検出ユニット(120)に対して調整することと、
−光平面(149)の位置および向きを固定すること、とを含む方法に関する。
−センサレンズ組立体(124)の撮像平面が光平面(149)と一致するように、調整機構(155)によって、光源(142)と、光源(142)の光から光平面(149)を生成する光源光学系組立体(144)とを備えるサブユニット(140)の位置および/または向きを、検出ユニット(120)に対して調整することと、
−サブユニット(140)の位置および/または向きを固定すること、とを含む方法に関する。
−撮像センサ(122)およびセンサレンズ組立体(124)を備える検出ユニット(120)と、
−光投影ユニット(141)であって、
−光を生成するための光源(142)と、光を焦点合わせするための光源光学系(145)と、光平面(149)を生成するための光平面生成光学系(143)と、
−光平面(149)の位置および/または向きを検出ユニット(120)に対して調整および固定するように構成された、光偏向ユニット、LDUであって、光を偏向させるための光偏向要素、LDE(172)と、LDE(172)の位置および/または向きを基部プレート(150)に対して調整するように構成されたLDE調整機構(174)とを備え、それによって光平面を偏向させる、光偏向ユニットとを備え、方法が、
−センサレンズ組立体の撮像平面が光平面と一致するように、LDE(172)の位置および/または向きを調整することと、
−光偏向要素(172)の位置および/または向きを固定すること、とを含む方法に関する。
本明細書での用語「備えている(comprising)」、「備える(comprises)」、および「からなる(comprised of)」は、「含んでいる(including)」、「含む(includes)」、または「収容している(containing)」、「収容する(contains)」と同義語であり、包括的でありまたは無制限であり、さらなる列挙されない部材、要素、または方法ステップを除外するものではない。本明細書での用語「備えている(comprising)」、「備える(comprises)」、および「からなる(comprised of)」は、「から構成している(consisting of)」、「構成する(consists)」および「から構成する(consists of)」の用語を含むことが理解されよう。
i)基部プレート150、故に検出ユニット120に対する1つまたは複数の(たとえば1、2本の)軸周りのLPUサブユニット140の枢動(pivoting)166(図5)、
ii)基部プレート150、故に検出ユニット120に対するLPUサブユニット140の並進(translation)162(図4)、
iii)LPUサブユニット140の中央(光学)軸148周りのLPUサブユニット140の回転、
iv)光源142に対する、光源光学系組立体144の中央(光学)軸148に沿ったストライプ生成光学系143の回転164(図4)。
調整i)、ii)およびiv)が好ましい。調整は、個々にまたは同時に実施され得る。
LDU170は、光平面生成光学系143の前に設けられてもよく、それによって、たとえば図7に示すように焦点合わせされた光を偏向させる。
i)基部プレート150、故に検出ユニット120に対する、1つまたは複数の(たとえば1、2本の)軸周りのLDE172の枢動166、
ii)基部プレート150、故に検出ユニット120に対するLDE172の並進162、
iii)基部プレート150、故に検出ユニット120に対する、好ましくは角度付けされたLDE172の中央軸周りのLDE172の偏揺れ回転164(図8C)、
iv)基部プレート150、故に検出ユニット120に対する光平面生成光学系143のその入来するビームの回転164。
−投影された光平面149の位置および/または向きを検出ユニット120に対して調整するステップと、
−(使用前に)光平面149の位置および/または向きを固定するステップとを含む、方法も提供する。
−LPUサブユニット140の位置および/または向きを検出ユニット120に対して調整するステップと、
−(使用前に)LPUサブユニット140の位置および/または向きを固定するステップとを含む、方法も提供する。
−LDE172の位置および/または向きを検出ユニット120に対して調整するステップと、
−(使用前に)LDE172の位置および/または向きを固定するステップとを含む、方法も提供する。
投影された光平面149の位置を基部プレート150に対して固定するステップと、
−光平面149の位置および/または向きを基部プレート150に対して(故に検出ユニット120に対して)調整して、撮像センサ上に投影された画像の焦点、位置、向き、平坦性、および強度プロファイルの1つまたは複数を最適化するステップと、
−光平面149の位置および/または向きを最適化された位置に固定するステップとを含む方法に関する。
検出ユニット120の位置を基部プレート150に対して固定するステップと、
−LPUサブユニット140の位置および/または向きを基部プレート150に対して(故に検出ユニット120に対して)調整して、撮像センサ上に投影された画像の焦点、位置、向き、平坦性、および強度プロファイルの1つまたは複数を最適化するステップと、
−LPUサブユニット140の位置および/または向きを最適化された位置に固定するステップとを含む方法に関する。
検出ユニット120の位置を基部プレート150に対して固定するステップと、
−LDE172の位置および/または向きを基部プレート150に対して(故に検出ユニット120に対して)調整して、撮像センサ上に投影された画像の焦点、位置、向き、平坦性、および強度プロファイルの1つまたは複数を最適化するステップと、
−LDE172の位置および/または向きを最適化された位置に固定するステップとを含む方法に関する。
−ローカライザ200またはコンピュータ300からプローブ100への電力供給/接地
−ローカライザ200とコンピュータ300の間のデータ通信
−プローブ100とローカライザ200の間の同期化
−プローブ100とコンピュータ300の間のデータ通信。
本発明の1つの実施形態は、物体に光を照射し、反射した光を検出することによる物体(400)の寸法取得のための走査プローブ(100)であって、
−撮像センサ(122)およびセンサレンズ組立体(124)を備える検出ユニット(120)と、
−レーザ源(142)と、ストライプ生成光学系(143)を備えるレーザレンズ組立体(144)とを備えるレーザユニット(140)とを備え、
この場合
−センサレンズ組立体(124)は、互いとの、および撮像センサ(122)との調整不能な位置合わせで配置された1つまたは複数のレンズを備え、
−検出ユニット(120)に対するレーザユニット(140)の位置および/または向きは、以後の使用前に調整可能および固定可能である、走査プローブ(100)である。
−レーザユニット(140)の位置および/または向きを検出ユニット(120)に対して調整することと、
−レーザユニット(140)の位置および/または向きを固定すること、とを含む方法に関する。
Claims (14)
- 物体(400)に光を照射し、反射した光を検出することによる前記物体(400)の寸法取得のための走査プローブ(100)であって、
撮像センサ(122)、および、前記反射した光を検出するためのセンサレンズ組立体(124)を備える検出ユニット(120)と、
光を生成するための光源(142)、ならびに、前記光を焦点合わせするための光源光学系(145)および前記物体を照射するための光平面(149)を生成するための光平面生成光学系(143)を備える光投影ユニット(141)と、
前記光平面の位置または向きを前記検出ユニットに対して調整するための、前記光投影ユニット(141)内に含まれる調整機構(155)と、を備え、
前記センサレンズ組立体(124)が、1つまたは複数のレンズを備え、前記センサレンズ組立体(124)内の前記レンズすべてが、互いとの固定された調整不能な位置合わせで配置され、
前記検出ユニット(120)および前記光投影ユニット(141)が、剛体の基部プレート(150)に取り付けられ、前記センサレンズ組立体(124)が、前記剛体の基部プレート(150)に剛体的に取り付けられ、
前記剛体の基部プレート(150)が、当該走査プローブ(100)を位置決めするローカライザに取り付けられることができる、走査プローブ(100)。 - 前記物体側の前記センサレンズ組立体(124)の開口数が、0.08より大きい、請求項1に記載のプローブ(100)。
- 前記センサレンズ組立体の中央軸(126)および前記光投影ユニット(141)によって投影された前記光平面(149)が鋭角を形成する、請求項1または2に記載のプローブ(100)。
- 前記センサレンズ組立体(124)が、少なくとも2つのレンズ要素を備え、その少なくとも1つは、前記センサレンズ組立体(124)の中央軸(126)に対して傾斜され、その少なくとも1つは、前記センサレンズ組立体(124)の中央軸(126)と位置合わせされる、請求項1から3のいずれか1項に記載のプローブ(100)。
- 前記光源光学系(145)および光平面生成光学系(143)が、光源光学系組立体(144)内に含まれ、前記センサレンズ組立体の中央軸(126)および前記光源光学系組立体の中央軸(148)が、平行ではなく、好ましくは鋭角で交わる、請求項1から3のいずれか1項に記載のプローブ(100)。
- 前記光源(142)、前記光源光学系(145)および光平面生成光学系(143)が、サブユニット(140)として配置され、前記サブユニット(140)の位置および/または向きが、前記調整機構(155)によって前記検出ユニット(120)に対して調整可能および固定可能である、請求項1から5のいずれか1項に記載のプローブ(100)。
- 前記検出ユニット(120)に対する前記サブユニット(140)の向きが、前記サブユニット(140)のピボット軸によって、前記検出ユニット(120)に対して調整可能であり、光学三角平面(147)が、前記光源光学系(145)と前記光平面生成光学系(143)とを含む光源光学系組立体(144)の中央軸(148)および前記センサレンズ組立体(124)の中央軸(126)によって画定される、請求項6に記載のプローブ(100)。
- さらに、前記光投影ユニット(141)が、光を偏向させるための光偏向ユニット、LDU(170)を備え、前記LDU(170)が、前記光平面(149)の位置および/または向きを前記検出ユニット(120)に対して調整および固定するように構成される、請求項1から5のいずれか1項に記載のプローブ(100)。
- 前記LDU(170)が、前記光平面生成光学系(143)の前に設けられ、それによって前記焦点合わせされた光を偏向させ、または前記光平面生成光学系(143)の後に設けられ、それによって前記光平面を偏向させる、請求項8に記載のプローブ(100)。
- 前記LDU(170)が、前記光を偏向させるための光偏向要素、LDE(172)、ならびに、前記光偏向要素(172)の位置および/または向きを前記基部プレート(150)に対して調整するように構成されたLDE調整機構(174)を備え、好ましくは、前記LDE調整機構(174)は、1本、2本、または3本の回転軸の周りの調整、および、1つ、2つ、または3つの並進方向に沿った調整をもたらす、請求項8または9に記載のプローブ(100)。
- 撮像センサ(122)およびセンサレンズ組立体(124)を備える検出ユニット(120)と、光を生成するための光源(142)、ならびに、前記光を焦点合わせするための光源光学系(145)および光平面(149)を生成するための光平面生成光学系(143)を含む光源光学系組立体(144)を備える光投影ユニット(141)と、を備える走査プローブ(100)の組立方法であって、
前記センサレンズ組立体(124)の撮像平面が前記光平面(149)と一致するように、調整機構(155)によって、前記光平面(149)の位置および/または向きを前記検出ユニット(120)に対して調整することと、
前記光平面(149)の位置および向きを固定すること、とを含み、
前記センサレンズ組立体(124)が、1つまたは複数のレンズを備え、前記センサレンズ組立体(124)内の前記レンズすべてが、互いとの固定された調整不能な位置合わせで配置され、
前記検出ユニット(120)および前記光投影ユニット(141)が、剛体の基部プレート(150)に取り付けられ、前記センサレンズ組立体(124)が、前記剛体の基部プレート(150)に剛体的に取り付けられ、
前記剛体の基部プレート(150)が、前記走査プローブ(100)を位置決めするローカライザに取り付けられることができる、組立方法。 - 撮像センサ(122)およびセンサレンズ組立体(124)を備える検出ユニット(120)を備え、サブユニット(140)を備える走査プローブ(100)の組立方法であって、
前記センサレンズ組立体(124)の撮像平面が、物体を照射するための光平面(149)と一致するように、調整機構(155)によって、光源(142)と、前記光源(142)の光から光平面(149)を生成する光源光学系組立体(144)とを備える前記サブユニット(140)の位置および/または向きを前記検出ユニット(120)に対して調整することと、
前記サブユニット(140)の位置および/または向きを固定すること、とを含み、
前記センサレンズ組立体(124)が、1つまたは複数のレンズを備え、前記センサレンズ組立体(124)内の前記レンズすべてが、互いとの固定された調整不能な位置合わせで配置され、
前記検出ユニット(120)および前記サブユニット(140)が、剛体の基部プレート(150)に取り付けられ、前記センサレンズ組立体(124)が、前記剛体の基部プレート(150)に剛体的に取り付けられ、
前記剛体の基部プレート(150)が、前記走査プローブ(100)を位置決めするローカライザに取り付けられることができる、組立方法。 - 走査プローブ(100)の組立方法であって、前記走査プローブ(100)が、
撮像センサ(122)およびセンサレンズ組立体(124)を備える検出ユニット(120)と、
光投影ユニット(141)と、を備え、前記光投影ユニット(141)は、
光を生成するための光源(142)、および、前記光を焦点合わせするための光源光学系(145)と光平面(149)を生成するための光平面生成光学系(143)とを含む光源光学系組立体(144)と、
前記光平面(149)の位置および/または向きを前記検出ユニット(120)に対して調整および固定するように構成された、光偏向ユニット、LDUであって、光を偏向させるための光偏向要素、LDE(172)、および、前記LDE(172)の位置および/または向きを剛体の基部プレート(150)に対して調整するように構成されたLDE調整機構(174)を備え、それによって前記光平面を偏向させる、光偏向ユニットと、を備え、
前記組立方法が、
前記センサレンズ組立体の撮像平面が前記光平面と一致するように、前記LDE(172)の位置および/または向きを調整することと、
前記光偏向要素(172)の位置および/または向きを固定すること、とを含み、
前記センサレンズ組立体(124)が、1つまたは複数のレンズを備え、前記センサレンズ組立体(124)内の前記レンズすべてが、互いとの固定された調整不能な位置合わせで配置され、
前記検出ユニット(120)および前記光投影ユニット(141)が、前記剛体の基部プレート(150)に取り付けられ、前記センサレンズ組立体(124)が、前記剛体の基部プレート(150)に剛体的に取り付けられ、
前記剛体の基部プレート(150)が、前記走査プローブ(100)を位置決めするローカライザに取り付けられることができる、組立方法。 - 前記調整が、少なくとも前記光源光学系組立体(144)を備えるサブユニット(140)に結合する調整用具を用いて実施される、請求項11から13のいずれか1項に記載の組立方法。
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261618319P | 2012-03-30 | 2012-03-30 | |
US61/618,319 | 2012-03-30 | ||
US201261692109P | 2012-08-22 | 2012-08-22 | |
US61/692,109 | 2012-08-22 | ||
EP12181396 | 2012-08-22 | ||
EP12181396.8 | 2012-08-22 | ||
PCT/EP2013/056700 WO2013144293A1 (en) | 2012-03-30 | 2013-03-28 | Improved optical scanning probe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015517100A JP2015517100A (ja) | 2015-06-18 |
JP6290854B2 true JP6290854B2 (ja) | 2018-03-07 |
Family
ID=46888897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015502353A Active JP6290854B2 (ja) | 2012-03-30 | 2013-03-28 | 改良された光学式走査プローブ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9696146B2 (ja) |
EP (1) | EP2831539B1 (ja) |
JP (1) | JP6290854B2 (ja) |
WO (1) | WO2013144293A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020046275A (ja) * | 2018-09-19 | 2020-03-26 | ジック株式会社 | プロファイル検出装置、プロファイル検出方法、及び調整冶具 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6176957B2 (ja) * | 2013-03-18 | 2017-08-09 | 株式会社ミツトヨ | 形状測定装置 |
WO2015155209A1 (en) * | 2014-04-08 | 2015-10-15 | Nikon Metrology Nv | Measurement probe unit for metrology applications |
DE102015204473B4 (de) * | 2015-03-12 | 2019-03-28 | Hans-Günter Vosseler | Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen dreidimensionalen Vermessen von Bauteilen |
US11057608B2 (en) * | 2016-01-04 | 2021-07-06 | Qualcomm Incorporated | Depth map generation in structured light system |
DE102016212650B4 (de) * | 2016-07-12 | 2021-07-08 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung von verorteten Sensordaten eines Koordinatenmessgeräts |
US11169268B1 (en) | 2017-12-12 | 2021-11-09 | Philip Raymond Schaefer | System and method for measuring the position of a moving object |
KR101949635B1 (ko) * | 2018-01-26 | 2019-02-18 | 박영일 | 이동식 선형빔 출력구조를 갖는 3d 스캐너장치 |
CN111121651A (zh) | 2018-10-31 | 2020-05-08 | 财团法人工业技术研究院 | 光学测量稳定性控制系统 |
JP7240139B2 (ja) * | 2018-11-09 | 2023-03-15 | 株式会社キーエンス | 変位測定装置 |
DE102019110508A1 (de) | 2019-04-23 | 2020-10-29 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Steuern eines Koordinatenmessgerätes und Koordinatenmessgerät |
CN110133430A (zh) * | 2019-05-18 | 2019-08-16 | 叶勇 | 一种基于静电传感器的非接触式ict方法 |
DE102020204829A1 (de) | 2020-04-16 | 2021-10-21 | Kuka Deutschland Gmbh | Modellieren von Objekten mittels robotergeführter Kameras |
CN112097684B (zh) * | 2020-11-16 | 2021-05-07 | 中科元象(常州)智能装备有限公司 | 一种基于多姿态带结构光的视觉测量系统及测量方法 |
DE102021125542A1 (de) | 2021-10-01 | 2023-04-06 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Steuern einer Messvorrichtung und Messvorrichtung |
DE102023105684A1 (de) | 2023-03-08 | 2024-09-12 | Carl Mahr Holding Gmbh | Messmaschine und Verfahren zur Erfassung eines Messsensorwertes an einem zu messenden Objekt |
CN116817773B (zh) * | 2023-08-31 | 2023-10-31 | 广东金鼎光学技术股份有限公司 | 一种光学镜片的精度检测装置 |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1032892A (en) | 1974-11-13 | 1978-06-13 | Gow Enterprises Ltd. | Module electrode assembly for electrolytic cells |
JPS5945123B2 (ja) * | 1977-07-08 | 1984-11-05 | 富士写真光機株式会社 | 線状照明法 |
JPS5983124A (ja) * | 1982-11-04 | 1984-05-14 | Yasuto Ozaki | レ−ザビ−ム広角度集光器 |
CA1313040C (en) * | 1988-03-31 | 1993-01-26 | Mitsuaki Uesugi | Method and apparatus for measuring a three-dimensional curved surface shape |
JP2751435B2 (ja) * | 1989-07-17 | 1998-05-18 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品の半田付状態の検査方法 |
US5095386A (en) * | 1990-05-01 | 1992-03-10 | Charles Lescrenier | Optical system for generating lines of light using crossed cylindrical lenses |
US5402582A (en) | 1993-02-23 | 1995-04-04 | Faro Technologies Inc. | Three dimensional coordinate measuring apparatus |
US6535794B1 (en) | 1993-02-23 | 2003-03-18 | Faro Technologoies Inc. | Method of generating an error map for calibration of a robot or multi-axis machining center |
US5668631A (en) * | 1993-12-20 | 1997-09-16 | Minolta Co., Ltd. | Measuring system with improved method of reading image data of an object |
JP3338561B2 (ja) * | 1994-08-26 | 2002-10-28 | 株式会社ソニー・ディスクテクノロジー | ディスク欠陥検査装置 |
GB9515311D0 (en) | 1995-07-26 | 1995-09-20 | 3D Scanners Ltd | Stripe scanners and methods of scanning |
US6141105A (en) | 1995-11-17 | 2000-10-31 | Minolta Co., Ltd. | Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method |
JP3324367B2 (ja) * | 1995-11-17 | 2002-09-17 | ミノルタ株式会社 | 3次元入力カメラ |
JP3223416B2 (ja) | 1995-12-05 | 2001-10-29 | 株式会社日立製作所 | 加工位置検出装置および自動加工システム |
US5829148A (en) | 1996-04-23 | 1998-11-03 | Eaton; Homer L. | Spatial measuring device |
US6075883A (en) * | 1996-11-12 | 2000-06-13 | Robotic Vision Systems, Inc. | Method and system for imaging an object or pattern |
JP3645389B2 (ja) * | 1997-01-13 | 2005-05-11 | 富士写真フイルム株式会社 | 光源位置調整方法および光源装置 |
US6556783B1 (en) * | 1997-01-16 | 2003-04-29 | Janet L. Gelphman | Method and apparatus for three dimensional modeling of an object |
US6424422B1 (en) * | 1998-06-18 | 2002-07-23 | Minolta Co., Ltd. | Three-dimensional input device |
US6470578B1 (en) * | 1999-09-28 | 2002-10-29 | P&G Development Group, Inc. | Method and apparatus for indicating a pattern of intersection using a light column |
JP4186347B2 (ja) * | 1999-10-14 | 2008-11-26 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 3次元入力方法及び装置 |
US6377353B1 (en) * | 2000-03-07 | 2002-04-23 | Pheno Imaging, Inc. | Three-dimensional measuring system for animals using structured light |
JP3587303B2 (ja) * | 2001-06-26 | 2004-11-10 | オムロン株式会社 | 光学式変位センサ |
US7265844B2 (en) * | 2003-04-10 | 2007-09-04 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Horizontal surface plasmon resonance instrument with improved light path |
WO2004096502A1 (en) | 2003-04-28 | 2004-11-11 | Stephen James Crampton | Cmm arm with exoskeleton |
JP2006098065A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Sanyo Electric Co Ltd | キャリブレーション装置および方法、ならびにそれらを利用可能な3次元モデリング装置および3次元モデリングシステム |
US7400414B2 (en) | 2005-10-31 | 2008-07-15 | Mitutoyo Corporation | Hand-size structured-light three-dimensional metrology imaging system and method |
JP5098174B2 (ja) * | 2006-01-06 | 2012-12-12 | 株式会社ニコン | 3次元形状測定装置 |
GB0608841D0 (en) * | 2006-05-04 | 2006-06-14 | Isis Innovation | Scanner system and method for scanning |
US7826048B2 (en) * | 2006-12-28 | 2010-11-02 | Lexmark International, Inc. | Apparatus for measuring doctor blade geometric deviations |
JP2008256483A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-10-23 | Nikon Corp | 形状測定装置 |
US7995218B2 (en) * | 2009-05-29 | 2011-08-09 | Perceptron, Inc. | Sensor system and reverse clamping mechanism |
US8537371B2 (en) * | 2010-04-21 | 2013-09-17 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker |
-
2013
- 2013-03-28 JP JP2015502353A patent/JP6290854B2/ja active Active
- 2013-03-28 EP EP13715642.8A patent/EP2831539B1/en active Active
- 2013-03-28 US US14/387,552 patent/US9696146B2/en active Active
- 2013-03-28 WO PCT/EP2013/056700 patent/WO2013144293A1/en active Application Filing
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020046275A (ja) * | 2018-09-19 | 2020-03-26 | ジック株式会社 | プロファイル検出装置、プロファイル検出方法、及び調整冶具 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013144293A1 (en) | 2013-10-03 |
US9696146B2 (en) | 2017-07-04 |
EP2831539A1 (en) | 2015-02-04 |
EP2831539B1 (en) | 2019-06-05 |
JP2015517100A (ja) | 2015-06-18 |
US20150043008A1 (en) | 2015-02-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6290854B2 (ja) | 改良された光学式走査プローブ | |
US12007483B2 (en) | Three-dimensional coordinate measuring device | |
US9658335B2 (en) | Measurement system with a measuring device and a scanning module | |
EP3338054B1 (en) | Three-dimensional imager | |
JP5554459B2 (ja) | 予配置型且つ可換型の光学ベンチを有するジンバル式装置 | |
US9778037B2 (en) | Scanner for space measurement | |
JP5851444B2 (ja) | ビジョンシステムカメラ用のレーザプロファイリングアタッチメント | |
US9482525B2 (en) | Apparatus to compensate bearing runout in a three-dimensional coordinate measuring system | |
WO2018103268A1 (zh) | 用于测量转轴六自由度几何误差的激光测量系统及方法 | |
CN112556579A (zh) | 一种六自由度空间坐标位置和姿态测量装置 | |
US9891320B2 (en) | Measurement system with a measuring device and a scanning module | |
JPH06207817A (ja) | レーザー装置 | |
US9651764B2 (en) | Interchangeable reflective assembly for a chromatic range sensor optical pen | |
US20110167656A1 (en) | Laser module co-axis adjustment structure | |
US11689711B2 (en) | Configurable camera stimulation and metrology apparatus and method therefor | |
JP2001153632A (ja) | 医科的対象物、特に歯牙標本の模型を検出する方法と装置 | |
CN114415389A (zh) | 一种含有多个反射镜的光机系统装调方法 | |
JP2010014656A (ja) | 非接触側面形状測定装置 | |
CN110824459B (zh) | 一种基于干涉条纹的智能光轴装调系统及其装调方法 | |
CN109186503A (zh) | 基于四面锥形直角等腰反射棱镜的直线度误差测量系统 | |
US9804250B2 (en) | Systems, methods, and apparatus for optical bore sight error measurement and correction | |
KR100562961B1 (ko) | 중성자 유도관용 고정밀 정렬장치 | |
JP2006066745A (ja) | 放射光軸ずれ角測定方法及び装置 | |
JP2005345329A (ja) | 測長用レーザ干渉計 | |
CN116847176A (zh) | 长焦高分辨率数字成像装置及其校正方法、校正系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150925 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160823 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20161122 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170718 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180116 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180208 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6290854 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |