JP6285376B2 - Edge detection device - Google Patents

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Description

この発明は、検出物体である被検出物体(ワーク)のエッジ位置を検出するエッジ検出装置に関する。   The present invention relates to an edge detection apparatus that detects an edge position of a detected object (work) that is a detection object.

レーザー光に代表される単色光の光路に物体が存在すると、該物体のエッジ位置にてフレネル回折が生じる。そこでラインセンサを用いて上記フレネル回折の光強度分布を求め、この光強度分布を解析することで上記物体のエッジ位置を検出するエッジ検出装置が開発されている。即ち、複数の画素を配列したラインセンサ に向けて投光部 から単色平行光を照射した光路の一部を遮るように検出物体 を位置付けると、上記ラインセンサ の出力は上記検出物体 のエッジ位置を境として大きく変化する。特にラインセンサ上の光強度分布は、エッジ位置の近傍におけるフレネル回折の影響を受けて一定の変化傾向を示すことが知られている。   When an object exists in the optical path of monochromatic light typified by laser light, Fresnel diffraction occurs at the edge position of the object. Therefore, an edge detection apparatus has been developed that uses a line sensor to determine the light intensity distribution of the Fresnel diffraction and detects the edge position of the object by analyzing the light intensity distribution. That is, when the detection object is positioned so as to block a part of the optical path irradiated with monochromatic parallel light from the light projecting unit toward the line sensor in which a plurality of pixels are arranged, the output of the line sensor indicates the edge position of the detection object. It changes greatly as a boundary. In particular, it is known that the light intensity distribution on the line sensor shows a certain change tendency under the influence of Fresnel diffraction in the vicinity of the edge position.

特許文献1に示された発明は、被検出物体のエッジ位置を正確に検出することのできることは勿論のこと、ラインセンサが全入光状態であるか、或いは透明体による全遮光状態であるかを判定することができる。例えば上記被検出物体の位置制御に用いるに好適なエッジ検出装置を提供するために、被検出物体のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段を備え、更に上記エッジ位置解析手段にて前記被検出物体のエッジ位置が検出できないとき、前記ラインセンサによる全受光量が予め記憶した該ラインセンサの全入光状態での全受光量よりも小さいときに前記被検出物体による全遮光状態として判定する全遮光状態判定手段を備えたことを特徴としている。 The invention disclosed in Patent Document 1 can accurately detect the edge position of an object to be detected, and whether the line sensor is in a completely incident state or in a completely shielded state by a transparent body. Can be determined. For example, in order to provide an edge detection device suitable for use in position control of the detected object, an edge position analyzing means for detecting the edge position of the detected object is provided, and the detected object is further detected by the edge position analyzing means. If the total light reception amount by the line sensor is smaller than the total light reception amount in the total light incident state of the line sensor stored in advance when the edge position of the line sensor cannot be detected, the total light shielding is determined as the total light shielding state by the detected object It is characterized by comprising state determination means.

特許文献2に示された発明は、複数の受光セルを所定のピッチで配列したラインセンサの出力から単色平行光の光路中に位置付けられた被検出物体のエッジ位置を検出するに際し、ラインセンサの出力を自由空間側からサーチして物体のエッジで生じた光量分布パターンからその光量が第1の光量閾値まで低下した位置を第1の検出位置として検出すると共に、更に光量が低下した後に第2の光量閾値まで増加した位置を前記物体の第2の検出位置として検出する。そしてエッジに沿って検査部位を走査したときの第1および第2の検出位置の変化から欠けやひび割れ等の欠陥を検出する。 In the invention disclosed in Patent Document 2, when detecting the edge position of an object to be detected positioned in the optical path of monochromatic parallel light from the output of a line sensor in which a plurality of light receiving cells are arranged at a predetermined pitch, The output is searched from the free space side, and the position where the light quantity is reduced to the first light quantity threshold is detected from the light quantity distribution pattern generated at the edge of the object as the first detection position. The position that has increased to the light amount threshold value is detected as the second detection position of the object. A defect such as a chip or a crack is detected from changes in the first and second detection positions when the inspection site is scanned along the edge.

特開2007−64733号公報JP 2007-64733 A 特開2009−75078号公報JP 2009-75078 A

特許文献1または特許文献2のエッジ検出装置では、あくまでも投光部であるレーザー光源と受光部であるラインセンサの位置関係は整合していることが前提となっている。機器校正時に、光軸にかかる位置は調整されているものであるが、経時的な設備の変化、振動衝撃などによってその光軸にズレが生じる問題があった。   In the edge detection device of Patent Document 1 or Patent Document 2, it is assumed that the positional relationship between the laser light source that is the light projecting unit and the line sensor that is the light receiving unit is consistent. At the time of device calibration, the position applied to the optical axis has been adjusted, but there has been a problem that the optical axis is displaced due to changes in equipment over time, vibration shocks, and the like.

本願発明は、そもそもラインセンサの両端は計測に適さないことの性質を利用して、両端部(未使用領域)の光量を監視することで、運転中であっても速やかに光軸ズレを検知することで課題を解決する。   The present invention uses the property that both ends of the line sensor are not suitable for measurement in the first place, and detects the optical axis deviation quickly even during operation by monitoring the light quantity at both ends (unused area). To solve the problem.

本願発明は、ラインセンサと、このラインセンサに向けて単色光を照射する光源と、上記単色光の光路に位置付けられた被検出物体のエッジにおけるフレネル回折の光強度分布から前記ラインセンサの画素配列方向における上記被検出物体のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段と、
前記エッジ位置解析手段では使用しない前記ラインセンサの両端部の光量データによって光軸のズレを検知する光軸ズレ判定手段と、を備えるエッジ検出装置である。
The present invention relates to a pixel arrangement of the line sensor from a line sensor, a light source that emits monochromatic light toward the line sensor, and a light intensity distribution of Fresnel diffraction at the edge of the detected object positioned in the optical path of the monochromatic light. Edge position analyzing means for detecting the edge position of the detected object in the direction;
An edge detection apparatus comprising: an optical axis misalignment determining unit that detects an optical axis misalignment based on light amount data at both ends of the line sensor not used in the edge position analyzing unit.

前記光軸ズレ判定手段は前記ラインセンサの両端部の光量データによって、前記被検出物体がある方と被検出物体がない方を見極めて、この被検出物体がない方の光量が所定の光量ズレ条件に合致した場合に光軸のズレを検知することを特徴とするエッジ検出装置である。   The optical axis misalignment determining means determines the direction where the detected object is present and the direction where there is no detected object based on the light amount data at both ends of the line sensor, and the light amount without the detected object is a predetermined light amount deviation. An edge detection apparatus that detects an optical axis shift when a condition is met.

より具体的には、前記光量ズレ条件とは、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より大きい場合、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より小さい場合、
のうちいずれかであることを特徴とするエッジ検出装置である。
More specifically, the light amount deviation condition is
If the amount of light without the detected object is greater than a predetermined threshold,
If the amount of light without the detected object is smaller than a predetermined threshold,
Is an edge detection device.

本願発明によれば、運転中であっても、透過型ラインセンサにより被検出物体を検出できる機能と並行しながら、光源とラインセンサの光軸ズレが発生したことを検知する機能を備えるエッジ検出装置を提供する。もちろん、被検出物体が存在しない場合にはフリーな条件で校正機能も実施できる。   According to the present invention, edge detection is provided with a function for detecting the occurrence of optical axis misalignment between the light source and the line sensor, in parallel with the function for detecting the detected object by the transmission line sensor even during operation. Providing equipment. Of course, when there is no object to be detected, the calibration function can be implemented under free conditions.

本願発明にかかるエッジ検出装置の全体構成図Overall configuration diagram of an edge detection apparatus according to the present invention 本願発明の実施例である光軸のズレに対する光量データ特性図Light quantity data characteristic chart with respect to optical axis deviation, which is an embodiment of the present invention 本願発明にかかるエッジ検出装置の要部フローチャートMain part flowchart of edge detection apparatus according to the present invention

(1)本願発明の実施の形態を以下、図面に基づいて説明する。まず、図1 はこの実施形態にかかるエッジ検出装置の概略構成を示す図で、1は複数の画素を所定のピッチで配列したラインセンサである。その内訳はCMOSリニアイメージセンサ、ADコンバータおよび通信制御部で構成される。一方、2はこのラインセンサ1 に対峙させて設けられて上記ラインセンサ1に向けて単色平行光を照射する光源である。この光源2は、例えばレーザー素子と、このレーザー素子が発したレーザー光を平行光として前記ラインセンサ1 に照射する投光レンズとを備えた投光器である。後述するマイクロコンピュータ4の投光制御部4cから駆動される。そして、上記ラインセンサ1と光源2との間の上記単色平行光が照射される光路は、被検出物体3のエッジを検出する為の検出領域として用いられる。なお、ラインセンサ1の両端部は計測に適さないため、中心部を使用領域、両端部(概ね数パーセントの画素領域)を未使用領域とする。 (1) Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an edge detection apparatus according to this embodiment, and 1 is a line sensor in which a plurality of pixels are arranged at a predetermined pitch. The breakdown consists of a CMOS linear image sensor, an AD converter, and a communication controller. On the other hand, reference numeral 2 denotes a light source provided so as to face the line sensor 1 and irradiating the line sensor 1 with monochromatic parallel light. The light source 2 is a projector including, for example, a laser element and a light projecting lens that irradiates the line sensor 1 with laser light emitted from the laser element as parallel light. It is driven from a light projection control unit 4c of the microcomputer 4 to be described later. The optical path irradiated with the monochromatic parallel light between the line sensor 1 and the light source 2 is used as a detection region for detecting the edge of the detected object 3. Since both end portions of the line sensor 1 are not suitable for measurement, the center portion is used region and both end portions (approximately several percent pixel region) are unused regions.

上記ラインセンサ1の出力信号( 光強度信号) を入力するマイクロコンピュータ4は、上記出力信号を解析して前記ラインセンサ1の画素配列方向における前記被検出物体3 のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段4aを備える。エッジ位置解析手段4aは、ラインセンサ1からの出力信号を受けて、まず外乱光除去を行い、信号データの正規化を行う。その正規化された光量データを用いてエッジ探索を行う。そこでは、サブピクセル処理その他の演算処理を行って、光量データが所定値以下となる位置をエッジ位置として検出する。そしてエッジ検出の結果を出力制御部4dに渡す。   The microcomputer 4 that receives the output signal (light intensity signal) of the line sensor 1 analyzes the output signal to detect the edge position of the detected object 3 in the pixel array direction of the line sensor 1. Means 4a are provided. The edge position analysis means 4a receives the output signal from the line sensor 1, first performs disturbance light removal, and normalizes the signal data. Edge search is performed using the normalized light quantity data. In this case, subpixel processing or other arithmetic processing is performed to detect a position where the light amount data is a predetermined value or less as an edge position. Then, the result of edge detection is passed to the output control unit 4d.

次に、上記エッジ位置解析手段4aにて被検出物体3のエッジ位置が検出できたときには、前記ラインセンサ1の両端部の光量データから実行する光軸ズレ判定手段4bを実行する。なお、光軸ズレ判定手段4bはエッジ位置解析手段4aで行った外乱光除去および正規化が行われた後の光量データを用いることでよい。   Next, when the edge position of the detected object 3 can be detected by the edge position analyzing means 4a, the optical axis deviation determining means 4b executed from the light quantity data at both ends of the line sensor 1 is executed. The optical axis deviation determination unit 4b may use light amount data after disturbance light removal and normalization performed by the edge position analysis unit 4a.

光軸ズレ判定手段4bは、予め該エッジ検出装置の初期起動時等に、光路中に被検出物体3を介在させない状態で検出される全入光状態でのラインセンサ1の出力信号からその全受光量を求め、これを初期値として記憶する手段を備える。ちなみに上記全受光量とは、ラインセンサ1を構成する複数の画素1~ nの光量データ の総和を求めることによって求められる。そして光軸ズレ判定手段4bは、その初期時のラインセンサ1両端部の光量データも記憶しておく。そして運転時に、被検出物体3にて覆われない部分の光量データで所定値として比較判定することに用いることでもよい。後述するM_Bottomのことである。   The optical axis misalignment determining means 4b is preliminarily determined from the output signal of the line sensor 1 in the total light incident state detected in a state where the detected object 3 is not interposed in the optical path when the edge detection device is initially started. Means are provided for determining the amount of received light and storing this as an initial value. Incidentally, the total amount of received light is obtained by calculating the sum of light quantity data of a plurality of pixels 1 to n constituting the line sensor 1. The optical axis misalignment determining means 4b also stores light amount data at both ends of the line sensor 1 at the initial stage. Then, it may be used for comparison and determination as a predetermined value with the light amount data of the portion not covered with the detected object 3 during driving. This is M_Bottom described later.

ラインセンサ1を構成する複数の画素1~ nの中央の計測領域を使用領域とするが、両端部の未使用領域をTopとBottomと呼ぶが、ここでは便宜上、マイクロコンピュータから遠い方をTop,近い方をBottomと呼ぶが、呼び方は任意である。いま初期時から光源2が先頭(Top)側にずれた場合を想定すると、Bottom側の光量データが小さくなることがわかる。図1中の光路の一端を破線で示すように、光軸がずれて光線が届かなくなるからである。このような異常が見つかった場合に、光軸ズレが発生したと判定するのが光軸ズレ判定手段4bである。   Although the measurement area at the center of the plurality of pixels 1 to n constituting the line sensor 1 is used, the unused areas at both ends are referred to as Top and Bottom. Here, for convenience, the one far from the microcomputer is denoted as Top, The closer one is called “Bottom”, but the calling method is arbitrary. Assuming that the light source 2 has shifted to the top (Top) side from the beginning, it can be seen that the light amount data on the Bottom side is small. This is because, as indicated by a broken line at one end of the optical path in FIG. When such an abnormality is found, it is the optical axis deviation determination means 4b that determines that an optical axis deviation has occurred.

(2)次に、図2の光軸のズレに対する光量データ特性図を用いて、光軸ズレの判定ロジックを説明する。図2は光源2からラインセンサ1を見た平面図で表すものである。図2の最上段で、ラインセンサ1の使用未使用領域を示す矩形を示し、その外郭に角丸矩形でレーザー光芒10が照射される様を示す。最上段左のX−Y座標に示すとおり、通常はTopからBottomのX軸方向で光軸ズレが発生すると想定する。 (2) Next, the determination logic of the optical axis deviation will be described using the light quantity data characteristic diagram with respect to the optical axis deviation of FIG. FIG. 2 is a plan view of the line sensor 1 viewed from the light source 2. 2 shows a rectangle indicating the unused area of the line sensor 1 and shows that the laser beam 10 is irradiated with a rounded rectangle on the outer periphery thereof. As shown in the upper left XY coordinate, it is usually assumed that an optical axis shift occurs in the X-axis direction from Top to Bottom.

さて、図2Aから図2Dまで、被検出物体(図では検出体と表記)3がTop側から挿入されている例を示す。
図2Aでは、光軸(すなわちレーザー光芒10)のズレはなく、正常な状態を示し、図2A右側の特性図における光量データの分布は正規なものである。
図2Bでは、光軸がBottom側にずれており、図2B右側でBootom側の光量データが大きくなっていることがわかる。
図2Cでは、光軸がTop側にずれた場合であり、図2C右側でBootom側の光量データが小さくなっていることがわかる。
図2Dでは、光軸がY軸(−)方向にずれた場合であり、図2D右側ではBootom側の光量データはさほどの変化を示さないことがわかる。
Now, FIGS. 2A to 2D show examples in which an object to be detected (denoted as a detection object in the figure) 3 is inserted from the Top side.
In FIG. 2A, there is no deviation of the optical axis (that is, the laser beam 10), indicating a normal state, and the distribution of light amount data in the characteristic diagram on the right side of FIG. 2A is normal.
In FIG. 2B, it can be seen that the optical axis is shifted to the bottom side, and the light amount data on the bottom side is increased on the right side of FIG. 2B.
FIG. 2C shows the case where the optical axis is shifted to the Top side, and it can be seen that the light amount data on the Bottom side is small on the right side of FIG. 2C.
FIG. 2D shows a case where the optical axis is shifted in the Y-axis (−) direction, and it can be seen that the light amount data on the Boot side does not change much on the right side of FIG. 2D.

このように、光軸ズレがあった場合にそれを検知するための、光軸ズレによる異常を検知する条件を説明する。光量データはM_の符号をつけて述べる。ここでの所定値とは、全受光量の平均値でもよいし、初期校正時のM_Bottom値を用いる。そしてこれにパラメータを乗じて閾値とする。 Thus, conditions for detecting an abnormality caused by an optical axis shift for detecting the optical axis shift when there is an optical axis shift will be described. The light quantity data is described with M_. The predetermined value here may be an average value of all received light amounts, or an M_Bottom value at the time of initial calibration is used. This is multiplied by a parameter to obtain a threshold value.

光量データM_Bottomの変化を検知するが、図2のケースにしたがって説明する:
M_Bottom > 110% Of 所定値 ・・・・・数(1)
これは図2Bのように光が過剰に当たりすぎるケースを考慮するものである。
次に、
M_Bottom < 10% Of 所定値 ・・・・・数(2)
図2Cのように光が異常に当たらなくなったケースを考慮するものである。
その他、図2DのようにY軸で光軸がずれた場合には、より特殊な演算を行う必要があるが(全受光量との相関などで)、本願発明ではそこまでは訴求しない。
A change in the light quantity data M_Bottom is detected, and will be described according to the case of FIG.
M_Bottom> 110% Of Predetermined value: number (1)
This considers the case where the light hits excessively as shown in FIG. 2B.
next,
M_Bottom <10% Of Predetermined value ... number (2)
The case where the light no longer hits abnormally as shown in FIG. 2C is considered.
In addition, when the optical axis is shifted with respect to the Y-axis as shown in FIG. 2D, it is necessary to perform a more specific calculation (in correlation with the total amount of received light), but the present invention does not appeal so far.

(3)エッジ位置解析手段4aと光軸ズレ判定手段4bを中心にした動作を、エッジ検出装置のフローチャート図3で説明する。
初めに、電源投入でスタートする(S0)(以降、図3中ステップをSnで示す)。ここでは、光源2を駆動するなどの初期化処理が行われる。全受光量などの記憶を行う。また光軸校正処理も行ってよい。
(3) The operation centering on the edge position analyzing means 4a and the optical axis deviation determining means 4b will be described with reference to the flowchart of FIG.
First, it starts when the power is turned on (S0) (hereinafter, steps in FIG. 3 are indicated by Sn). Here, initialization processing such as driving the light source 2 is performed. Stores the total amount of light received. An optical axis calibration process may also be performed.

続いて、ラインセンサ1 から出力信号( 光強度信号)を取得して、正規化などの受光処理を実行する(S1)。次に、エッジ検出用の閾値と比較してエッジ位置を検知する演算処理が行われる(S2)。そして、所定のエッジが検出された(Yes)ならステップS3のエッジ検出処理(S3)にすすむ。このような通常処理については、特許文献1などに説明されているものと同様であるので、これ以上の説明は省略する。 Subsequently, an output signal (light intensity signal) is acquired from the line sensor 1 and a light receiving process such as normalization is executed (S1). Next, a calculation process for detecting the edge position in comparison with the threshold for edge detection is performed (S2). If the predetermined edge is detected (Yes), the process proceeds to the edge detection process (S3) in step S3. Such normal processing is the same as that described in Patent Document 1 and the like, and thus further description thereof is omitted.

エッジが検出できない(No)なら、被検出物体が存在しない(フリー)状態で初期的な校正データから乖離していないかをラインセンサ1の両端部の光量データからチェックする校正検知処理(S10)へ飛ぶ。これは簡単なチェックでよいだろう。   If the edge cannot be detected (No), the calibration detection process for checking whether the detected object does not exist (free) from the initial calibration data based on the light amount data at both ends of the line sensor 1 (S10) Fly to. This can be a simple check.

エッジ検出処理(S3)の後は、光軸ズレ判定手段4bにかかる領域検知処理を行う(S4)。ここでは、ラインセンサ1の両端部の光量データを用いて、被検出物体の有無をTop/Bottom両方向で調べ、被検出物体がない方の光量データに基づいて異常がないかチェックする。その判断条件は上で述べた数式(1)(2)による。   After the edge detection process (S3), the area detection process for the optical axis deviation determination means 4b is performed (S4). Here, the presence / absence of an object to be detected is checked in both directions of Top / Bottom using the light intensity data at both ends of the line sensor 1, and it is checked whether there is an abnormality based on the light intensity data on the side without the object to be detected. The judgment condition is based on the equations (1) and (2) described above.

両端部の光量データにズレ異常は見つからなければ(No)場合には、ループエンドへ帰結する。
光量データにズレ異常が見つかった(Yes)場合には、速やかに光軸ズレが発生した旨を通知する光軸ズレ通知処理(S6)へ進む。そこで、その旨のイベント出力の準備を行う。
If a deviation error is not found in the light amount data at both ends (No), the result is a loop end.
If a deviation abnormality is found in the light amount data (Yes), the process proceeds to an optical axis deviation notification process (S6) for promptly notifying that an optical axis deviation has occurred. Therefore, preparation for event output to that effect is made.

エッジ検出なし時の校正検知処理(S10)、または光軸ズレ通知処理(S6)を実行後は、外部へイベント出力するなどの出力制御処理を行う(S20)。なお、当該イベント発生時に種々の光信号データをロギングするなどの機能を付加することもよい。 After executing the calibration detection process (S10) when no edge is detected or the optical axis deviation notification process (S6), an output control process such as an event output to the outside is performed (S20). It is also possible to add a function such as logging various optical signal data when the event occurs.

以上のとおり、全処理を終えてループしてステップS1へ戻り、これを繰り返す。   As described above, the entire process is completed and the process loops and returns to step S1, and this is repeated.

本願発明にかかるエッジ検出装置の実施の形態を述べたが、閾値その他のパラメータは例示の値にこだわる必要はなく、種々の設計上のチューニングは可能である。   Although the embodiment of the edge detection apparatus according to the present invention has been described, the threshold value and other parameters do not need to stick to the exemplified values, and various design tunings are possible.

被検出物体被検出物体はガラスに限らず、薄膜のフィルムなどの加工プロセスに関わるものである。本願発明の全遮光状態判定は瞬時に実行できるので、リアルタイム性を求められるプロセス制御システムに利用できる。   Object to be detected The object to be detected is not limited to glass but relates to a processing process such as a thin film. Since the total light-shielding state determination of the present invention can be executed instantaneously, it can be used for a process control system that requires real-time performance.

1 ラインセンサ
2 光源
3 被検出物体
4 マイクロコンピュータ
10 レーザー光芒
1 Line sensor 2 Light source 3 Object 4 Microcomputer 10 Laser beam

Claims (3)

ラインセンサと、このラインセンサに向けて単色光を照射する光源と、
上記単色光の光路に位置付けられた被検出物体のエッジにおけるフレネル回折の光強度分布から前記ラインセンサの画素配列方向における上記被検出物体のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段と、
前記エッジ位置解析手段では使用しない前記ラインセンサの両端部の光量データによって光軸のズレを検知する光軸ズレ判定手段と、を備えるエッジ検出装置。
A line sensor and a light source that emits monochromatic light toward the line sensor;
Edge position analysis means for detecting the edge position of the detected object in the pixel array direction of the line sensor from the light intensity distribution of Fresnel diffraction at the edge of the detected object positioned in the optical path of the monochromatic light;
An edge detection apparatus comprising: an optical axis shift determination unit that detects an optical axis shift based on light amount data at both ends of the line sensor that is not used in the edge position analysis unit.
請求項1に記載のエッジ検出装置において、
前記光軸ズレ判定手段は前記ラインセンサの両端部の光量データによって、前記被検出物体がある方と被検出物体がない方の端部を見極めて、この被検出物体がない方の光量が所定の光量ズレ条件に合致した場合に光軸のズレを検知することを特徴とするエッジ検出装置。
The edge detection apparatus according to claim 1,
The optical axis misalignment determining means determines the end of the line sensor where the detected object is present and the end where the detected object is absent based on the light amount data at both ends of the line sensor. An edge detection device that detects a deviation of an optical axis when a light quantity deviation condition of the optical axis is met.
請求項2に記載のエッジ検出装置において
前記光量ズレ条件とは、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より大きい場合、または、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より小さい場合、
のうちいずれかであることを特徴とするエッジ検出装置。
The edge detection apparatus according to claim 2, wherein the light amount deviation condition is:
If the amount of light without the detected object is greater than a predetermined threshold, or
If the amount of light without the detected object is smaller than a predetermined threshold,
An edge detection apparatus characterized by being one of the above.
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