JP6277915B2 - 検出装置及び検出方法 - Google Patents
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Description
最初に、本発明の実施形態を列記して説明する。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
図1は、第1実施形態に係る検出装置を備えた光通信システムの構成を示す図である。図1に示す光通信システム1は、PON(Passive Optical Network)通信により局3の終端装置(以下、OLT:OpticalLine Terminal)5と加入者宅の光回線終端装置(以下、ONU:Optical Network Unit)7との間で光ケーブル9により通信を行うシステムである。第1実施形態に係る検出装置10は、OLT5とONU7との間に設けられた例えば分岐ドロップクロージャ6及びドロップクロージャ8に設けられている。検出装置10は、ONU7の有無(存在)を検出する装置である。
続いて、第2実施形態について説明する。図4は、第2実施形態に係る検出装置の構成を示す図である。図4に示されるように、検出装置10Aは、漏れ光取得部12と、AC結合部14と、AD変換部16と、制御部18と、デジタル信号記録部20と、判定部22と、表示部24と、ピーク強度記録部26と、を有している。
続いて、第3実施形態について説明する。図6は、第3実施形態に係る検出装置の構成を示す図である。図6に示されるように、検出装置10Bは、漏れ光取得部12と、AC結合部14と、AD変換部16と、制御部18と、デジタル信号記録部20と、判定部22と、表示部24と、光源部(第1光源部)28と、受光部30と、光合分波部32と、を有している。
続いて、第4実施形態について説明する。図7は、第4実施形態に係る検出装置の構成を示す図である。図7に示されるように、検出装置10Cは、漏れ光取得部12と、AC結合部14と、AD変換部16と、制御部18と、デジタル信号記録部20と、判定部22と、表示部24と、光源部28と、受光部30と、光合分波部32と、高反射光源部(第2光源部)34と、光合波部36と、を備えている。
波長 1.55μm:反射減衰量 約15dB(フレネル反射)
波長 1.65μm:反射減衰量 約1dB (高反射フィルタによる反射)
すなわち、上記条件においては、反射減衰量の差が14dB程度となる。
波長 1.55μm:反射減衰量 約18dB
波長 1.65μm:反射減衰量 約10.5dB
すなわち、反射減衰量の差が7.5dBとなる。したがって、光源部28及び高反射光源部34の両波長の反射減衰量の差が7.5dB程度である場合には、曲げ半径15mmの曲げが光ケーブル9に加えられていることとなる。更に、推定された曲げ半径から、伝送波長の伝送損失も推定できる。以上のように、検出装置10Cでは、光ケーブル9の曲げ半径、伝送損失を推定できる。
続いて、第5実施形態について説明する。図9は、第5実施形態に係る検出装置の構成を示す図である。図9に示されるように、検出装置10Dは、漏れ光取得部12と、AC結合部14と、エッジ検出部40と、判定部22と、表示部24と、を備えている。漏れ光取得部12は、受光素子25を1個備える構成であってもよいし、受光素子25を例えば2個備える構成であってもよい。
Claims (11)
- 光回線終端装置の有無を検出する検出装置であって、
光ケーブルから漏れた漏れ光を受光素子で受光し、当該漏れ光において、前記光回線終端装置に向かって送出された下り光の信号を直流成分を有する電圧信号に変換すると共に、前記光回線終端装置から送出された上り光の信号をバースト状のパルス波形を有する電圧信号に変換する電圧信号変換部と、
前記電圧信号変換部により変換された前記電圧信号のうち、前記直流成分を有する前記下り光の信号を除去すると共に、前記バースト状のパルス波形を有する前記上り光の信号を通過させる信号通過部と、
前記信号通過部を通過した前記上り光の信号を一定期間測定し、前記上り光の信号を解析することにより前記光回線終端装置の有無を判定する判定部と、
前記一定期間内に前記信号通過部を通過した前記上り光の信号において最も信号強度の高い最強度信号を記録するピーク強度記録部と、を備え、
前記判定部は、前記ピーク強度記録部に記録された前記最強度信号に基づいて、前記光回線終端装置の有無を判定する、検出装置。 - 前記判定部は、前記信号通過部を通過した前記上り光の信号からノイズ信号の平均値を求め、当該ノイズ信号の平均値と前記ピーク強度記録部に記録された前記最強度信号とを比較して、前記最強度信号が前記ノイズ信号の平均値と有意に差がある場合に前記光回線終端装置が有ると判定する、請求項1記載の検出装置。
- 前記判定部は、前記ピーク強度記録部に記録された前記最強度信号の値が予め設定された閾値を越えている場合に前記光回線終端装置が有ると判定する、請求項1記載の検出装置。
- 光回線終端装置の有無を検出する検出装置であって、
光ケーブルから漏れた漏れ光を受光素子で受光し、当該漏れ光において、前記光回線終端装置に向かって送出された下り光の信号を直流成分を有する電圧信号に変換すると共に、前記光回線終端装置から送出された上り光の信号をバースト状のパルス波形を有する電圧信号に変換する電圧信号変換部と、
前記電圧信号変換部により変換された前記電圧信号のうち、前記直流成分を有する前記下り光の信号を除去すると共に、前記バースト状のパルス波形を有する前記上り光の信号を通過させる信号通過部と、
前記信号通過部を通過した前記上り光の信号を一定期間測定し、前記上り光の信号を解析することにより前記光回線終端装置の有無を判定する判定部と、
前記一定期間内に前記信号通過部を通過した前記上り光の信号において最も信号強度の高い最強度信号を記録するピーク強度記録部と、を備え、
前記判定部は、前記ピーク強度記録部に記憶された前記最強度信号に応じて閾値を設定し、当該閾値を越える前記最強度信号を解析することにより前記光回線終端装置の有無を判定する、検出装置。 - 前記信号通過部を通過した前記上り光の信号のエッジを検出し、当該エッジを検出したことに応じてエッジ検出信号を出力するエッジ検出部を備え、
前記判定部は、前記エッジ検出部から出力された前記エッジ検出信号を一定期間測定し、当該エッジ検出信号の回数を解析することにより前記光回線終端装置の有無を判定する、請求項4記載の検出装置。 - 前記エッジ検出部は、前記信号通過部を通過した前記上り光の信号を微分して前記エッジを検出する、請求項5記載の検出装置。
- 前記判定部は、前記上り光の信号においてノイズ信号よりも強度の高い信号が存在している場合に、前記光回線終端装置が有ると判定する、請求項4記載の検出装置。
- 前記漏れ光は、前記光ケーブルを変形させることによって得られた漏れ光であり、
前記受光素子は、前記光ケーブルの長手方向に沿い且つ変形部分を挟んで少なくとも2個設けられている、請求項1〜7のいずれか一項記載の検出装置。 - 前記光ケーブルに対して前記光回線終端装置側に向かって第1の光を送出する第1光源部と、
前記第1光源部から送出されて前記光ケーブルに入射された前記第1の光の後方散乱光を受光する受光部と、を備え、
前記判定部は、前記第1光源部から送出された前記第1の光の強度と、前記受光部において受光された前記後方散乱光とに基づいて反射減衰量を求め、当該反射減衰量に基づいて前記光回線終端装置の有無を判定する、請求項1〜8のいずれか一項記載の検出装置。 - 前記光ケーブルには、前記光回線終端装置の直前に配置され、特定の波長の光を反射する反射部が設けられており、
前記第1光源部から送出される前記第1の光とは波長が異なり且つ前記反射部により反射される第2の光を送出する第2光源部を備え、
前記判定部は、前記第2光源部から送出された前記第2の光の強度と、前記第2光源部から送出されて前記光ケーブルに入射され前記受光部により受光された前記第2の光の後方散乱光とに基づいて反射減衰量を求め、当該反射減衰量から前記反射部による反射が確認された場合に、前記第1の光の前記反射減衰量の測定結果と合わせて前記光回線終端装置の有無を判定する、請求項9記載の検出装置。 - 光回線終端装置の有無を検出する検出方法であって、
光ケーブルから漏れた漏れ光を受光素子で受光し、当該漏れ光において、前記光回線終端装置に向かって送出された下り光の信号を直流成分を有する電圧信号に変換すると共に、前記光回線終端装置から送出された上り光の信号をバースト状のパルス波形を有する電圧信号に変換する電圧信号変換ステップと、
前記電圧信号変換ステップにおいて変換された前記電圧信号のうち、前記直流成分を有する前記下り光の信号を除去すると共に、前記バースト状のパルス波形を有する前記上り光の信号を通過させる信号通過ステップと、
前記信号通過ステップにおいて通過した前記上り光の信号を一定期間測定し、前記上り光の信号を解析することにより前記光回線終端装置の有無を判定する判定ステップと、
前記一定期間内に前記信号通過ステップにおいて通過した前記上り光の信号において最も信号強度の高い最強度信号を記録するピーク強度記録ステップと、を含み、
前記判定ステップでは、前記ピーク強度記録ステップにおいて記録された前記最強度信号に基づいて、前記光回線終端装置の有無を判定する、検出方法。
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