JP6268186B2 - 周辺光強度を感知するための光感知装置 - Google Patents

Description

本発明は周辺光強度を感知するための手首装着式の装置に関し、そのような手首装着式の装置を用いて周辺光強度を感知するための対応する方法にも関する。

光への暴露は体内時計を太陽の一日周期と正しく同期させることを可能にする鍵となる仕組みである。光暴露のタイミング、持続時間、強度、及びスペクトル成分は、全て、いわゆる２４時間概日リズムへの人のエントレインメント（同調）に対する影響を有する。回復睡眠は体内時計と同期してのみ起こり得ることが示されている。周りの社会的スケジュールに対する内部的な体内時計の位相シフトを有する特定の人々のためには、彼らの体内時計を前後にシフトさせて、彼らの体内時計を彼らの社会的な必要とより良好に整合させるよう、特定の時間に明るい光に暴露することを用い得る。季節性情緒障害の治療のためにも、明るい光への時間を決めた規則的な暴露が有効な手段である。

人が複数の日に亘って或いは複数の週にさえ亘って暴露される光レベルの評価は、気分障害及び睡眠障害の診断のための重要な手段である。既存の挙動記録製品は、腕時計と同様に用いられ且つ身に付けられる手首装着式の装置で活動及び光暴露を測定する。

そのような手首装着式の装置が、例えば、睡眠に関する情報を監視するためのシステム及び方法を示す特許文献１中に示されている。この文献に示される手首装着式の装置は、使用者の周辺照明（アンビアント照明）の強度に関する情報を提供する照明センサを含む。適切な電子計算手段によってセンサの信号を更に処理し得る。

手首装着式の装置のような、一般的な身体装着式の装置に関連する問題は、光センサを塞いでいる物体の存在を検出することである。そのような閉塞(occlusion)は、使用者に対する周辺光の暴露測定を歪め得る。塞ぐ物体の典型的な例は、手首装着式の光感知装置に一体化される周辺光センサを覆う使用者の衣服の袖である。本光感知装置を用いるならば、周辺光センサが何らかの物体によって塞がれているか否かを決定することが可能であるが、この情報は暴露データの解析を容易化する。例えば、閉塞期間を解析から完全に排除することが可能であろう。その上、光感知装置の使用者が塞いでいる物体を光センサから取り除いて、光センサを再び周辺光に晒す対抗手段を取り得るよう、光感知装置の使用者に閉塞状態について知らせるのが望ましい。
米国特許公開第２００８／０３１９３５４Ａ１号

従って、本発明の一目的は、周辺光センサによって得られる暴露データの全体的な信頼性を向上させるために、光センサを塞いでいる物体の検出を可能にする周辺光強度を感知するための装置を提供することであり、閉塞に対する対抗手段を取るために、光センサの閉塞状態について使用者に知らせる選択肢を提供することでもある。

この目的は、請求項１の特徴を含む光感知装置によって達成される。

本発明に従った光感知装置は、周辺光センサを塞いでいる物体を検出する閉塞検出器を含む。この閉塞検出器は、相応して暴露状況を解析して光センサによって測定される周辺光強度に配分される閉塞状態情報を提供し且つ塞いでいる物体を使用者が取り除き得るよう使用者に閉塞状態を知らせるために用い得る、追加的な情報をもたらす。これは取得される強度データの全体的な信頼性を向上させる。例えば、測定間隙を満たすことによって、強度測定値と共に閉塞状態情報を格納して、暴露情報の事後処理を強化し得る。

閉塞検出器は、塞いでいる物体の存在を検出する任意の種類、例えば、周辺光センサの付近環境における物体の存在を検出する近接センサであり得る。

本発明の好適な実施態様によれば、閉塞検出器は、赤外線センサと、赤外線光源とを含む。そのような光源は、例えば、光スペクトルの赤外範囲内の放射線を放射する赤外線発光装置（ＬＥＤ）であり得る。付近の物体によって反射させられる赤外光は、赤外線センサによって検出される。

好ましくは、本発明に従った光感知装置は、ケーシングを含み、赤外線センサ、赤外線光源、及び周辺光センサは、ケーシング上で同じ側に位置付けられる。そのような構成によって、赤外線光源は、周辺光センサが位置付けられるケーシングの側の付近で物体の存在を検出し得る。

好ましくは、本発明に従った光感知装置は、リストバンドを含む手首装着可能な装置である。

より好ましくは、本発明に従った光感知装置は、閉塞検出器による物体の検出の場合において可聴的な、視覚的な、及び／又は触覚的に知覚可能な通知信号を生成するインジケータ装置(indicator device)を更に含む。塞いでいる物体を取り除くことによって、使用者が周辺光センサを暴露し得るよう、この通知信号を使用者によって知覚可能な警報として解釈し得る。

本発明の他の好適な実施態様によれば、光感知装置は、周辺光センサによって生成される信号を処理するための並びに閉塞検出器を制御するためのプロセッサと、周辺光センサによって測定される周辺光強度を表す周辺光値と周辺光センサの閉塞状態を表す閉塞状態情報とを格納するメモリとを更に含む。これらのデータをメモリ内に互いに配分し得る、即ち、周辺光値は、更なる処理及び判断のために、配分される閉塞状態情報と共に格納される。閉塞検出器の制御は、赤外線光源及び／又は赤外線センサの作動並びにそれらの停止を含み得る。

より好ましくは、プロセッサは、周辺光センサによって測定される周辺光強度が所定の閾値より下である場合にのみ閉塞検出器を作動するために設けられる。この場合には、赤外線光源は常に作動されず、エネルギを節約して光感知装置の作動期間を延ばすことが可能である。

本発明は、更に、少なくとも１つの周辺光センサと周辺光センサを塞ぐ物体を検出する閉塞検出器とを含む光感知装置を用いて周辺光強度を感知するための方法であって、周辺光センサを用いて周辺光測定を行うステップと、閉塞検出器を用いて閉塞測定を行い、周辺光センサが物体によって塞がれているか否かを決定するステップとを含む、方法に関する。

この方法の好適な実施態様によれば、周辺光測定は、時間的に限定される後続のエポック(temporally limited subsequent epochs)内で行われる。

より好ましくは、閉塞測定は各エポックのために行われる。この場合には、各エポックを、閉塞状態、即ち、周辺光センサがこのエポックの間に塞がれているか否かを表す情報に配分し得るので、このエポックの周辺光値を相応して解析し得る。

この方法の他の実施態様によれば、閉塞測定は周辺光強度が所定の閾値より下であるエポックのためにのみ行われる。この場合、閉塞検出器は周辺光強度が低い場合にのみ作動され、光感知装置を作動させるためのエネルギを節約する。

他の好適な実施態様によれば、閉塞測定は周辺光強度が所定の閾値より下である第１のエポックのためにのみ行われる。塞いでいる物体が検出されるならば、対応するエポックが装置のメモリ内に閉塞の開始として印される。この実施態様の利点は、閉塞測定が行われる頻度が、周辺光強度が低い各エポックのために閉塞測定が行われる場合におけるよりもずっと少ないことである。

任意的に、エポックが閉塞の開始として印される場合には、警報を生成し得る。

他の好適な実施態様によれば、閉塞測定は周辺光強度が所定の閾値より下である第１のエポックのためにのみ行われ、閉塞測定は周辺光強度がこの閾値より下に留まる限り定期的に反復される。この場合には、閉塞の開始が検出された後に、追加的な閉塞測定が定期的に行われる。この実施態様を用いるならば、暗い周辺光条件の下で閉塞の更なる持続時間を検出し得る。任意的に、閉塞の終了が検出されるとき、対応する測定エポックは閉塞の終了として印される。この実施態様は、閉塞測定のために費やされるエネルギと閉塞検出の精度との間の釣合いを可能にする。

また、この実施態様では、エポックが閉塞を伴う第１のエポックと決定される、即ち、閉塞の開始として印されるときにはいつでも、装置の使用者に対する警報を生成することが選択肢である。警報の頻度を使用者の必要及び用途に応じてカスタマイズするために、警報をあらゆる閉塞検出のために生成するのではなく、所定の時間の後に生成することが更に可能である。

この方法の更に他の実施態様によれば、周辺光強度が所定の数のエポックに亘って所定の閾値より下に留まった後に、閉塞測定が一度又は定期的に反復される。この場合、閉塞測定は周辺光レベルが閾値より低い第１のエポックのために直ぐに行われない。その代わり、それは光レベルが所定の数のエポックに亘って閾値より下に留まるならば行われる。全体的な測定の精度に対して大きな影響を有しない極めて短い閉塞期間のためにさえも使用者に対する警報を生成することを避けるためにこれを用い得る。

この方法の他の好適な実施態様によれば、周辺光強度の所定の閾値及び／又は閉塞測定の反復期間は、使用者によって調節可能である。

周辺光強度の所定の閾値及び／又は閉塞測定の反復期間を日及び時刻に適合させることが更に選択肢である。

周辺光センサが昼頃に低い周辺光値を測定するならば、閉塞が起こる可能性は、周辺光センサが夏の間の真夜中に或いは冬の間の夕方近くに低い光値を感知する場合よりもずっと多い。

周辺光強度の閾値及び近接性感知の間のエポック数のような方策及びパラメータの選択は、感知方策を応用ニーズに適合させるために、日及び時刻によって制御されることに加えて、使用者プログラム可能である。

本発明は、リストバンドを備える手首装着式の装置に適用可能であるが、周辺光センサを塞ぐ衣服片のような物体を検出するための他の身体装着式の光感知装置にも適用可能である。

本発明のこれらの及び他の特徴は、以下に記載する実施態様を参照して明らかであり且つ解明されるであろう。

本発明に従った手首装着式の装置の１つの実施態様を示す斜視正面図である。 衣服片によって覆われた図１に示す手首装着式の装置を示す斜視概略図である。 図１の光感知装置の機能的な構成部品を示す概略図である。 図１の光感知装置の動作モードの異なる実施態様を示すフロー図であり、周辺光強度を感知するための方法のための異なる実施態様を示している。 図１の光感知装置の動作モードの異なる実施態様を示すフロー図であり、周辺光強度を感知するための方法のための異なる実施態様を示している。 図１の光感知装置の動作モードの異なる実施態様を示すフロー図であり、周辺光強度を感知するための方法のための異なる実施態様を示している。 図１の光感知装置の動作モードの異なる実施態様を示すフロー図であり、周辺光強度を感知するための方法のための異なる実施態様を示している。

図１は、手首装着式の装置の形態における光感知装置１０を示しており、光感知装置１０は、この光感知装置１０を身に着ける使用者（図示せず）の環境における周辺光の強度（強さ）を感知するためにある。一般的に、光感知装置１０は、平坦な長方形ボックスの形状の操作モジュール１２と、その両端で操作モジュール１２の両側に取り付けられる可撓なリストバンド１４とを含み、操作モジュール１２及びリストバンド１４はリングを形成する。リストバンド１４の内径は、手首装着式の装置１０を使用者の手首に快適に装着し得るような寸法とされる。装置１０を身に着けるために、リストバンド１４は広げられるべき特定の弾性を有し得るし、或いはリストバンド１４の一端を操作モジュール１２に接続するための開閉機構（図示せず）を設け得る。一般的に、操作モジュール１２及びリストバンド１４は、普通の腕時計と同じ様に形成される。

操作モジュール１２は、以下に更に記載するように、電気信号を処理し且つ格納するための並びに周辺光強度を感知する操作を遂行するための集積電子回路を受け入れるハウジングとして形成される。操作モジュール１２の頂面１６には、装置１０の状態情報又は例えば日時(daytime)のような任意の他の情報を表示するためのディスプレイ１８がある。

更に操作モジュール１２の頂面１６には、周辺光強度を測定するための周辺光センサ２０がある。この周辺光センサ２０は、可視光スペクトル内の光の強度を測定して、このスペクトル内で測定される光強度を表す電気信号を生成するために設けられる。これらの信号を現時点の周辺光強度に関するデータとして解釈し得る。

周辺光センサ２０は、１つ又は多数の関心のスペクトルを測定し得る。

周辺光センサ２０の隣には、周辺光センサ２０を塞ぐ物体を検出するための閉塞検出器２２(occlusion detector)が設けられる。この閉塞検出器２２は、放射線センサ、即ち、赤外線センサ２４（ＩＲセンサ）と、放射線光源、即ち、赤外線光源２６（ＩＲ光源）とを含む。この赤外線光源２６は、例えば、赤外光を放射する赤外線発光装置（ＬＥＤ）であり得る。周辺光センサ２０の正面の物体又は障害物によって反射させられ或いは散乱させられるこの赤外光は、赤外線センサ２４によって検出されて、周辺光センサ２０の正面にある物体がこの周辺光センサ２０を塞ぐ閉塞状況として解釈され得る。

そのような状況を図２に示す。この状況において、手首装着式の光感知装置１０は袖２８の一部によって完全に取り囲まれ或いは覆われ、それは周辺光が周辺光センサ２０に向かうことを妨げる。この袖２８は周辺光センサ２０を塞ぐ物体を表している。この物体は以下のように閉塞検出器２２によって検出される。赤外線光源２６によって放射される赤外光放射線は、袖２８の内表面によって反射させられて戻り、赤外線センサ２４によって受信される。反射させられた赤外放射線の検出後、赤外線センサ２４は対応する閉塞状態信号を生成し、光感知装置１０の電子光製部品によって閉塞状態信号を更に処理し得る。具体的には、閉塞状態情報を周辺光センサ２０によって測定される周辺光強度を表すデータに配分し得る。

図３の概略図は、上記で説明したような光感知装置１０の異なる構成部品を示している。操作モジュール１２内には、プロセッサ３０及びメモリ３２が設けられる。「プロセッサ」及び「メモリ」という用語は、処理又は格納操作を行うための異なる電子装置又は電子装置を含み得る回路を記述する一般用語であるに過ぎない。例えば、プロセッサ３０は、信号を処理するための、操作モジュール１２の頂部に設けられる周辺光センサ２０、赤外光センサ２４、及び赤外線光源２６と通信するための、並びにメモリ３２との入力及び出力操作を行うための、１つ又はそれよりも多くの電子回路を含み得る。

周辺光センサ２０によって生成される信号は、これらの信号の処理のためにプロセッサ３０に送信される。その上、プロセッサ３０は、閉塞検出器２２を制御するために設けられ、具体的には、赤外線光源２６を作動させ且つ停止させるために並びに赤外線センサ２４によって生成される信号を処理するために設けられる。メモリ３２は、周辺光センサ２０によって測定される周辺光強度を表す周辺光値と周辺光センサ２０の閉塞状態を表す閉塞状態情報とを格納するために設けられる。例えば、閉塞検出器２２によって閉塞が検出されるときに（即ち、対応する信号が赤外線センサ２４によって生成されるときに）測定される周辺光値をメモリ３２内に相応して印し得る。

具体的には、プロセッサ３０は、周辺光センサ２０によって測定される周辺光強度が所定の閾値よりも下である場合にのみ閉塞検出器２２を作動させるように設けられる。これは閉塞検出器２２、特に赤外線光源２６を作動させるためのエネルギを節約する。周辺光強度測定を行うための限定的な時間期間である後続の時間的に限定的なエポック（時期）内の周辺光値を処理し且つ格納し、相応して周辺光値を格納することが更に可能である。測定エポックに関する並びに周辺光センサ２０の閉塞状態を表す閉塞状態情報もメモリ３２内に格納し得る。

光感知装置１０は、閉塞検出器２２による物体の検出の場合において可聴的な、視覚的な、及び／又は触覚的に知覚可能な通知信号を生成するためのインジケータ装置３４（表示装置）を更に含む。このインジケータ装置３４は、図３に示すように、プロセッサ３０によっても作動させられて、塞いでいる物体を使用者が取り除き得るよう、閉塞の場合において使用者が知覚し得る警報を生成する。

以下において、上述のような光感知装置１０を作動させる異なるモードを詳細に記載する。フローチャートを用いた以下の操作の記載では、類似の処理ステップを同じ参照番号によって印しているが、それらは異なる操作の流れにおいて行われ、本発明に従って周辺光強度を感知するための方法の各実施態様の脈絡において異なる意味を有することを付記する。

図４のフローチャートは、基本的な感知操作原理を表している。ステップＳ１００において、周辺光センサ２０によって周辺光測定を行う。ステップＳ１０２において、処理ステップＳ１００において測定した周辺光が所定の閾値より下であるか否かを決定する。閾値より下でないならば、ステップＳ１０４において、操作は周辺光強度を表す測定済み周辺光値を格納することに進む。然る後、上述のように更なる周辺光測定値を取るために、操作はステップＳ１００に再び進む。

しかしながら、もしステップＳ１０２における決定が肯定的であるならば、即ち、ステップＳ１００において測定される周辺光が所定の閾値より下であることが決定されるならば、操作はステップＳ１０６における閉塞検出器２２を用いた閉塞測定に進み、周辺光が物体によって塞がれているか否かを決定する。これは、ステップＳ１０６における閉塞測定が、光が所定の閾値より下である場合においてのみ行われ、光が所定の閾値よりも明るいならば、閉塞測定が行われないことを意味する。

ステップＳ１０６における閉塞測定の後に、物体が検出されたか否かを決定する（ステップＳ１０８）。答えが肯定的であるならば、即ち、物体が検出されたのであれば、ステップＳ１１０において閉塞フラッグが設定され、メモリ内に格納され、閉塞フラッグは現時点の測定エポックに関係する。ステップＳ１１０の後、上述のように、操作はステップＳ１０４（周辺光値を格納すること）に進む。

上記操作において、閉塞が検出されるあらゆる測定エポックは、光感知装置１０のメモリ３２内に、塞がれているとして印される。代替的に、閉塞の開始及び終了のためのエポック数を格納することによって、その情報を符号化し得る。

図５は、閉塞測定が第１のエポックのためにのみ遂行される操作であって、測定される周辺光レベルは第１のエポックにおいて所定の閾値より下である操作を示す、フローチャートを表している。

操作の開始に、ステップＳ１１２において、閉塞テストフラッグを値０（ゼロ）に設定する。然る後、操作は上述のステップＳ１００（周辺光センサ２０を用いて周辺光を感知すること）に進み、そして、後続ステップＳ１０２（測定される周辺光が所定の閾値より下であるか否かを決定すること）に進む。そうでない場合には、操作はステップＳ１１４に進み、そこでは、閉塞テストフラッグを０（ゼロ）に設定し、更に、図４との関係において記載したようなステップＳ１０４（このエポックのための周辺光値を格納すること）に進む。ステップＳ１０４の後に、操作は他の周辺光測定でステップＳ１００に飛び戻る。

ステップＳ１０２における光が所定の閾値より下であるか否かの決定が肯定的であるならば、操作はステップＳ１１６に進み、そこでは、閉塞テストフラッグが値１に設定されるか否かを決定する。そうである場合には、ステップＳ１１６後の操作は、直ちに上述のステップＳ１０４（周辺光値を格納すること）に進む。しかしながら、ステップＳ１１６における決定が否定的であるならば、即ち、閉塞テストフラッグが１でないならば、図４において記載したのと同様に、閉塞検出器２２を用いて、ステップＳ１０６において閉塞測定を行う。次に、ステップＳ１０８において、先行ステップＳ１０６において物体が検出されたか否かを決定する。答えがイエスであるならば、現時点のエポックを閉塞の開始として印す（ステップＳ１１８）。然る後、ステップＳ１２０において、閉塞テストフラッグを１に設定し、ステップＳ１０４を行う。

ステップＳ１０８における答えが否定的であるならば、即ち、物体が検出されないならば、操作は直ちにステップＳ１２０（閉塞テストフラッグを１に設定すること）等に進む。

図５と関連して上述したこの代替的な閉塞感知操作を、図４と関連して記載した操作原理の拡大版として理解することができ、相違は閉塞テストフラッグが１に設定されなかった場合にのみ閉塞測定（ステップＳ１０６）が行われることにあり、それは各測定後のステップＳ１２０において当て嵌まる。これは、光が所定の閾値より下であり（ステップＳ１０２における決定）且つ先行する閉塞測定において閉塞テストフラッグが１に設定されるときの状況において、更なる閉塞測定が実施されず、プログラムが現時点のエポックの周辺光値の格納に直ちに飛び、閉塞測定を行わないことを意味する。その結果、閉塞測定は周辺光レベルが閾値より下である第１のエポックにおいてのみ行われる。塞いでいる物体が検出されるならば、対応するエポックが装置のメモリ３２内に閉塞の開始として印される。操作のこの実施態様の利点は、閉塞測定が図４の操作フロー図におけるよりもずっと少ない頻度で行われることである。任意的に、ステップＳ１１８において、エポックが閉塞の開始として印されるときにはいつでも、使用者に対する警報、即ち、通知信号を生成することが可能である。

図６のフロー図は、他の閉塞感知操作原理を明示している。図６は、ステップＳ１１２（操作の開始に閉塞テストフラッグを０に設定すること）、ステップＳ１００（周辺光を感知すること）、ステップＳ１０２（測定する光が所定の閾値より下であるか否かを決定すること）、ステップＳ１１６（閉塞テストフラッグを１に設定するか否かを決定すること）、ステップＳ１０６（閉塞測定）、ステップＳ１０８（先行する閉塞測定において物体が検出されたか否かを決定すること）、ステップＳ１１８（ステップＳ１０８において物体が検出される場合に、対応するエポックを閉塞の開始として印すこと）、ステップＳ１２０（閉塞測定後に閉塞テストフラッグを１に設定すること）、ステップＳ１０４（エポックのための周辺光値を格納すること）、及びステップＳ１１４（ステップＳ１０２における決定が否定的である、即ち、光は所定の閾値より下にある場合に、閉塞テストフラッグを０に設定すること）を含む。これらのステップの順序も、図５に関して記載したものと同じである。図６においても、光が所定の閾値より下にあり（Ｓ１０２）且つ閉塞テストフラッグが依然として１に設定されない（Ｓ１１６）ならば、閉塞測定がステップＳ１０６において行われる。閉塞測定が行われるや否や、Ｓ１２０において閉塞テストフラッグは１に設定され、その結果、当分の間、ステップＳ１００における後続の周辺光測定の後に、更なる閉塞測定は行われない。

図５に従った操作との相違は、閉塞テストフラッグを１に設定することをステップＳ１１６において決定した後に、後続のステップＳ１２１において、最後の閉塞測定がＸエポック前であるか否かを確認し、Ｘは所定の値であることにある。これが当て嵌まらないならば、操作はステップＳ１０４に進み、図５におけると同様に、現時点のエポックのために周辺光値を格納する。しかしながら、ステップＳ１２１におけるこの決定が肯定的であるならば、即ち、エポックの数が値Ｘに達するならば、ステップＳ１０４に先立って、ステップＳ１２２において閉塞テストフラッグを再びゼロに設定する。結果として、次の操作において、ステップＳ１０６において他の閉塞測定を行う。

図６に従った操作では、ステップＳ１０６における閉塞測定を周期的に値Ｘの期間で繰り返す。周辺光強度が所定の閾値より下に留まる限り、閉塞測定を周期的に繰り返す。この実施態様は、閉塞測定のために費やされるエネルギと閉塞検出の精度との間の釣合いを可能にする。この機構を用いるならば、暗い周辺光状態の下で、即ち、周辺光センサ２０が閾値より下の光レベルを依然として測定する状況において、閉塞周期の終了も検出し得る。

周辺光強度を感知するための方法の代替的な実施態様によれば、閉塞測定は光レベルが所定の閾値より下である第１のエポックのために直ちに行われない。代わりに、図７のフローチャートに示すように、それは光レベルが所定の数のエポックに亘って閾値より下に留まるならば行われる。単一のエポックが持続する極めて短い閉塞期間に亘ってさえも使用者に警報を出すのを避けるために、これは使用者警報を生成することとの組み合わせにおいて有利であり得る。

図７では、以下に説明するような略語に従った多数のパラメータを用いる。

ｏｔｆ ＝ 閉塞テストフラッグ
ｄｐｆ ＝ 暗期間フラッグ
ｅｉｘ ＝ エポック指数
ｐｓｉｘ＝ 近接性感知指数
ｄｐｉｘ＝ 暗期間開始指数

Ｌ［ｎ］＝ エポック数ｎの光値
Ｏ［ｎ］＝ エポック数ｎにおける閉塞の開始又は終了のためのマーカ

ＮＤＥ ＝ 近接性検出が開始する前の暗エポックの数
ＮＳＥ ＝ 周期的な近接性感知の間のエポックの数

操作の最初に、ステップＳ１２４において、全てのパラメータｅｉｘ，ｏｔｆ，及びｄｐｆ（即ち、エポック指数、閉塞テストフラッグ、及び暗期間フラッグ）をゼロに設定する。然る後、上述の実施態様におけるように、ステップＳ１００において周辺光測定を行う。ステップＳ１０２において、ステップＳ１００における先行する周辺光測定において測定される光が所定の閾値より下であるか否かを決定する。答えが否定的であるならば、光は閾値以上であり、ステップＳ１２６において、閉塞テストフラッグ及び暗期間フラッグの両方をゼロに設定することがもたらされる。ステップＳ１００において測定される光強度をステップＳ１０４において、即ち、値Ｌ［ｅｉｘ］として格納する。格納後、ステップＳ１２８において、エポック指数は１だけ増分させられ、プログラムは他の周辺光強度測定のためにステップＳ１００に飛び戻る。従って、パラメータｅｉｘは各エポックで増分させられるカウンタとして理解される。

ステップＳ１０２において光が所定の閾値より下であると決定されるならば、操作は暗期間フラッグを現時点でゼロに設定するか否かを決定することに進む。これが当て嵌まるならば、ステップＳ１３２において、暗期間開始指数ｄｐｉｘを現時点のエポック指数ｅｉｘに設定し、同時に、暗期間フラッグを値１に設定する。然る後、以下に説明するように、操作はステップＳ１３４に進む。ステップＳ１３０における答えが否定的であるならば、即ち、ｄｐｆがゼロに設定されないならば、操作は直ちにＳ１３０からＳ１３４に進む。

ステップＳ１３２における上記操作の意味は、ステップＳ１０２において光が閾値より下であることを決定した直後に、暗期間の開始をパラメータｄｐｉｘによって印すことであり、この場合、暗期間フラッグは値１に設定される。

即ち、後続のステップＳ１３４において、閉塞測定が開始する前に、所定の数の暗エポックを通ったことを決定する。暗期間開始指数ｄｐｉｘを減じたｅｉｘの現時点の値が値ＮＤＥ以上であるならば、以下に説明するように、操作は閉塞測定に進む。もしそうでないなら、プログラムは、閉塞測定を行わずに、直ちにステップＳ１３４からステップＳ１０４において現時点の光値を格納することに進む。これは暗さが所定の数のエポック（パラメータＮＤＥ）に亘って検出された後にのみ第１の近接性検出が行われることをもたらす。

ステップＳ１１６において、閉塞テストフラッグが１に設定されるか否かを確認する。これが当て嵌まらないならば、操作はステップＳ１３６における閉塞測定に進む。このステップでは、閉塞テストフラッグを１に設定する。後続のステップＳ１０８では、先行するステップＳ１３６において物体が検出されたか否かを決定する。答えがイエスであるならば、ステップＳ１３８において現時点のエポックをマーカＯ［ｅｉｘ］における閉塞の開始として印す。ステップＳ１０８における答えがノーであるならば、即ち、物体が検出されないならば、ステップＳ１４０において現時点のエポックをＯ［ｅｉｘ］における閉塞の終了として印す。ステップＳ１３８又はステップＳ１４０の後に、代替的に、プログラムはステップＳ１０４、即ち、上述のように、このエポックの現時点の周辺光値を格納することに進む。

しかしながら、ステップＳ１１６における答えが肯定的であるならば、即ち、閉塞テストフラッグを１に設定することが決定されるならば、ステップＳ１４２において、パラメータＮＳＥである周期的な近接性感知の間の所定数のエポックに既に到達したか否かを確認する。ｅｉｘ−ｐｓｉｘ＞ＮＳＥであるならば、上記で説明したように、ステップＳ１３６に進むことによって、他の閉塞測定を行う。答えが否定的であるならば、閉塞測定を行わず、操作は直ちにステップＳ１０４に進む。

本発明に従った光感知装置を用いるならば、特定の前提条件に従って、例えば、日及び時刻のようなパラメータに従って、図４乃至図７に関して上記に記載した方法の実施態様に従った異なる方策を選択し得る。その上、周辺光閾値及び後続の閉塞測定の間のエポックの数をプログラムによって決定し或いは使用者によって調節し得る。閉塞が起こる可能性は、周辺光センサが夏の間の夜間に或いは冬の間の夕方近くに低い光値を感知する場合よりも、周辺光センサが昼間に低い周辺光値を測定する場合により一層高い。

冬の夜間又は暗い時間の間、図４のフローチャートに従った操作は低いエネルギ消費の利点をもたらし、低い周辺光レベルの閉塞を検出することはより小さな問題である。しかしながら、明るい日中の時間の間には、図５及び６に従った代替的な操作方策が明るい周辺光レベルを遮蔽する閉塞事象のより正確な感知により適し得る。

図面及び上述の記述において本発明を詳細に例示し且つ記載したが、そのような例示及び記載は例示的又は例証的であると考えられるべきであり、限定的であると考えられるべきでない。本発明は開示の実施態様に限定されない。図面、開示、及び付属の請求項の検討から、本発明を実施する当業者は、開示の実施態様に対する他の変形を理解し且つ行い得る。請求項において、「含む」という用語は他の要素又はステップを排除せず、単数形の表現は複数形の表現を排除しない。特定の手段が相互に異なる従属項において引用されているという単なる事実は、これらの手段の組み合わせを有利に用い得ないことを示さない。請求項中の如何なる参照符号も範囲を限定するものとして理解されてはならない。

Claims (14)

1. 周辺光強度を感知する光感知装置であって、
   周辺光強度を測定するように構成される少なくとも１つの周辺光センサと、
   該周辺光センサを塞ぐ物体を検出するように構成される閉塞検出器と、
   前記周辺光センサによって測定される周辺光強度及び前記周辺光センサの対応する閉塞状態を時間の関数として格納するように構成される記録装置と、
   プロセッサとを含み、
   該プロセッサは、
   日付及び／又は時刻を含む１つ又はそれよりも多くのパラメータに基づき周辺光強度閾値を決定し、
   前記決定される周辺光強度閾値に基づき前記閉塞検出器をアクティブ化させて第１の閉塞測定値を測定し、
   該第１の閉塞測定値に基づき及び前記１つ又はそれよりも多くのパラメータに基づき前記閉塞検出器の後続のアクティブ化のタイミングを決定する
   ように構成される、
   光感知装置。
2. 前記閉塞検出器は、赤外線センサと、赤外線光源とを含む、請求項１に記載の光感知装置。
3. ケーシングを含み、前記赤外線センサ、前記赤外線光源、及び前記周辺光センサは、前記ケーシング上の同じ側に位置付けられる、請求項２に記載の光感知装置。
4. リストバンドを含む手首装着可能な装置である、請求項１に記載の光感知装置。
5. 前記閉塞検出器による物体の検出の場合において可聴的な、視覚的な、及び／又は触覚的に知覚可能な通知信号を生成するインジケータ装置を更に含む、請求項１に記載の光感知装置。
6. 前記プロセッサは、所定の閾値より下である前記周辺光強度に応答して前記閉塞検出器を作動させるように設けられる、請求項１に記載の光感知装置。
7. 少なくとも１つの周辺光センサと、該周辺光センサを塞ぐ物体を検出する閉塞検出器と、記録装置と、プロセッサとを含む光感知装置を用いて、周辺光強度を感知する方法であって、
   前記周辺光センサで周辺光強度測定を行うステップと、
   前記プロセッサを用いて、日付及び／又は時刻を含む１つ又はそれよりも多くのパラメータに基づき周囲光強度閾値を決定するステップと、
   前記プロセッサを用いて、前記決定される周囲光強度閾値に基づき前記閉塞検出器をアクティブ化させるステップと、
   前記閉塞検出器で閉塞測定を行って、前記周辺光センサが前記物体によって塞がれているか否かを決定するステップと、
   前記記録装置を用いて、周辺光センサによって測定される周辺光強度値及び前記周辺光センサの対応する閉塞状態を記録するステップと、
   前記プロセッサを用いて、第１の閉塞測定値に基づき並びに前記１つ又はそれよりも多くのパラメータに基づき前記閉塞検出器の後続のアクティブ化のタイミングを決定するステップとを含む、
   方法。
8. 周辺光測定が時間的に限定される後続のエポック内で行われる、請求項７に記載の方法。
9. 閉塞測定が各エポックに対して行われる、請求項８に記載の方法。
10. 前記周辺光強度が所定の閾値より下であるエポックのみに対して閉塞測定が行われる、請求項８に記載の方法。
11. 前記周辺光強度が所定の閾値より下である第１のエポックのみに対して閉塞測定が行われる、請求項８に記載の方法。
12. 前記周辺光強度が所定の閾値より下である第１のエポックのみに対して閉塞測定が行われ、該閉塞測定は前記周辺光強度がこの閾値より下に留まる限り定期的に反復される、請求項８に記載の方法。
13. 前記周辺光強度が所定の数のエポックに亘って所定の閾値より下に留まった後に、閉塞測定が一度行われ又は定期的に反復される、請求項８に記載の方法。
14. 前記周辺光強度の所定の閾値及び／又は閉塞測定の反復期間は、使用者によって調節可能である、請求項８に記載の方法。

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