JP6265484B2 - 磁気センサモジュール - Google Patents

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本発明は、磁気抵抗効果素子を用いた高感度で感度バラツキの小さい磁気センサモジュールに関する。
磁界の変化に応じて電圧・電流・抵抗値が変化する現象を利用した磁気センサは、携帯電話やノートパソコンなどの開閉部に用いられる非接触スイッチ、カードリーダーや紙幣識別装置に使用される磁気ヘッド、電子コンパスやGPS補正機能として利用される地磁気センサ、エンジン回転数検知や車輪角度検出に用いられる回転センサや角度センサなど種々の用途に適用されている。磁気センサの種類として、ホール素子、磁気抵抗効果素子、磁気インピーダンス(MI)素子、SQUID(超伝導量子素子)などがある。たとえば、磁界の強さにより電気抵抗値が変化する現象を用いた磁気抵抗効果素子(以下、MR素子とも記載)は、高感度で磁気ヘッド技術を応用できるので、磁気インクを印刷した紙幣や有価証券等のパターン検出や識別に用いられている。
特許文献1には、磁気インクなどの磁性体の存在、移動の検出を行う磁気センサの一形態が示されており、永久磁石の一方の磁極端面に2つの磁気抵抗効果素子を臨ませて配置し、各磁気抵抗効果素子には磁石によって等しく磁気バイアスされるようにしている。また、2つの磁気抵抗効果素子は直列接続とし、その直列接続された回路の両端子間にある電圧を印加し、各磁気抵抗効果素子の接続点を出力端子とすることで、磁性体がそれぞれの磁気抵抗効果素子に接近したときのそれら磁気抵抗効果素子での電気抵抗値の変化分が、出力端子における電位の変化分として現れるため、その電位変化分を監視することにより、磁性体の接近、移動を検出することを可能としている。
特許文献2には、MR素子を磁界の強度に対する電気抵抗の変化を示す特性(以下、磁気抵抗特性ともいう)における線形領域(非飽和領域ともいう)にて使用できる位置に配置した磁気センサの一形態が示されており、基板の一側面にMR素子を基板の中心に対して2つずつ配置して半ブリッジ、すなわち、直列接続された回路を形成し、その基板の反対側に磁石が設けられ、さらにMR素子の側方には強磁性体を配置している(特許文献2の第1図)。このような構成とすることで、磁石から出た磁束は強磁性体によって曲げられ、MR素子に作用するバイアス磁界は素子の面に沿った方向の成分を有するようになり、MR素子の磁気抵抗特性における線形領域において使用することができ、優れた検出精度が得られるようにしている。
特開昭59−44673 実開平4−94581
このように、磁気抵抗効果素子を直列接続とし、各磁気抵抗効果素子に対して適切なバイアス磁界を与えるようにした磁気センサが開示されているが、特許文献1では、直列接続されたそれぞれの磁気抵抗効果素子に、永久磁石によって等しく磁気バイアスされるようにしているとの記載があるのみで、具体的な磁気抵抗効果素子と永久磁石との位置関係が示されていない。また、特許文献2では、磁気抵抗効果素子を磁気抵抗特性における線形領域にて使用できる位置に配置するとの記載があるのみで、線形領域内のどの位置に配置するのが適切であるかなど、具体的には明記されていない。
実際、直列接続されたそれぞれの磁気抵抗効果素子に適切なバイアス磁界を与えようとする場合は、図9(a)に示す磁気抵抗効果素子の磁気抵抗特性での線形領域N1およびN2に配置するだけではなく、線形領域内であっても高感度を得るために、図9(b)に示す磁気抵抗効果素子の感度特性での感度が最大となるP1およびP2の位置(p1、p2)に、磁気抵抗効果素子を配置するようにしている。
しかし、感度が最大となる位置にそれぞれの磁気抵抗効果素子を配置したとしても、磁気抵抗効果素子と永久磁石との実装ずれや永久磁石の材質や着磁の仕方などの要因で磁気抵抗効果素子に対するバイアス磁界がずれてしまうことなどにより、感度が大きく変動してしまう。たとえば、図9(c)のように、磁気抵抗効果素子と永久磁石との実装ずれによって、プラス方向にΔxだけ位置がずれたとすると、P1はQ1へ、P2はQ2へそれぞれ移動するため、感度が大きく変動し、それぞれの磁気抵抗効果素子の感度が異なってしまう。また、P1からQ1へ移動したように、線形領域の範囲内に磁気抵抗効果素子を配置したとしても、実装ずれなどにより永久磁石の中心側へ位置がずれてしまうと、感度が急激に低下し、線形領域から外れてしまうため、正確な検出信号が得られないといった問題がある。
本発明は、トンネル磁気抵抗効果(TMR)素子等の磁気抵抗効果素子を用いた高感度で出力感度のバラツキの小さい磁気センサモジュールを提供するものである。具体的には、以下の特徴を有する。
(1)本発明は、電源間に直列接続された2個の磁気抵抗効果素子からなり、かつその共通接続点を出力端子とする少なくとも1組の直列回路と前記磁気抵抗効果素子にバイアス磁界を加える永久磁石を含む磁気センサモジュールにおいて、前記直列回路を構成する各々の前記磁気抵抗効果素子は、前記永久磁石の着磁方向と直交する平面上での前記永久磁石の磁石中心を通る前記着磁方向の磁石中心線と直角である直線に平行かつその直線の互いに対称な位置に配置されるとともに、前記磁気抵抗効果素子の感度が最大となる位置から前記永久磁石の外側方向へ離した位置に配置されることを特徴とする磁気センサモジュールである。また、前記磁気抵抗効果素子の感度が最大となる位置からの位置ずらし量は、実装ずれ許容量以上であることを特徴とする。
(2)本発明の磁気センサモジュールは、(1)に加えて、磁性体等の被検出物が移動することによる磁界の変化を検出する場合において、前記被検出物の移動方向は、前記磁気抵抗効果素子の磁界を検知する方向と同じであることを特徴とする。また、前記磁気抵抗効果素子は、水平方向の磁界を検知する磁気抵抗効果素子であり、さらに、前記直列回路は、同一チップ上に形成されていることを特徴とする。
本発明の磁気センサモジュールは、2個のMR素子を直列に接続し、各々のMR素子を永久磁石の着磁方向と直交する平面上に、磁石中心を通る着磁方向の磁石中心線と直角である直線(以後、その直線を配置中心線とも記載)と平行にかつその直線の両側に対称な位置に配置するとともに、MR素子の感度が最大となる位置から永久磁石の外側方向へ離した位置に配置しているので、磁気抵抗効果素子と永久磁石との実装ずれが生じたり、あるいは永久磁石の材質や着磁の仕方などの要因でMR素子に対するバイアス磁界が変化したりしても、感度の変動を小さくすることができる。特に、2個のMR素子は、各MR素子の感度ピーク位置よりも磁石の中心側にずれないように配置されているので、従来の直列接続MR素子のような急激な感度低下が生じることはない。従って、安定した高感度の磁気センサを実現できる。
図1は、本発明の磁気センサシステムの構成を示す図である。 図2は、永久磁石位置と永久磁石によるバイアス磁界を示す図である。 図3は、バイアス磁界に対するMR素子の磁気抵抗特性および感度特性を示す図である。 図4は、MR素子の感度設定に関する説明図である。 図5は、本発明の磁気センサシステムを構成した磁気センサパッケージを示す図である。 図6は、2個のMR素子からなる直列回路を複数配置した場合の磁気センサシステムの構成を示す図である。 図7は、実施例に用いた磁気センサシステム、ならびに、永久磁石の水平方向における位置と磁界との関係のグラフ(実測値)を示す図である。 図8は、磁界変化に対する磁気抵抗効果素子の感度特性を示す実施例である。 図9は、磁界変化に対する磁気抵抗効果素子の感度を示す図で、従来技術の課題を説明する図である。
図1は、本発明の磁気センサシステムの構成を示す図である。図1(a)はその構成の側面構造を模式的に示した図、図1(b)はその構成の平面構造を模式的に示した図である。永久磁石12の上方に磁気抵抗効果(MR)素子MR1およびMR2が形成された磁気センサチップ11が配置される。永久磁石12はMR素子MR1およびMR2にバイアス磁界を与える。永久磁石12は、平面的には磁気センサチップ11より広い領域を覆っており、平面的には矩形(正方形または長方形)で断面が長方形の平板状であり、上面側がN極で、下面側がS極である。(この極性は逆でも良い。ただし、その場合は磁力線分布など逆の特性になる。)その磁石中心部は永久磁石の上面に対して垂直磁界A0を生じる。従って垂直磁界上において、垂直磁界と直交する水平方向磁界はゼロである。
磁気センサチップ11およびその磁気センサチップ11内に形成されるMR素子はこの垂直磁界A0に垂直な平面上に配置される。すなわち、磁気センサチップ11は垂直磁界A0に対して垂直な平面(たとえば、プリント基板やパッケージフレーム台座)上に配置される。
さらに、2個のMR素子MR1およびMR2は磁気センサチップ内に直列に接続されて配置されるとともに、2個のMR素子MR1およびMR2およびその2個のMR素子MR1およびMR2を接続する配線は一直線上に配置(形成)される。これらのMR素子における電流が流れる方向は磁気インク検出方向Bに沿うようにする。従って、磁気インク検出方向Bは垂直磁界A0に直交する。
磁気センサチップ11の上方に磁性体通過面があり、磁性体通過面に沿って被検出物である磁性体13が移動する。磁性体通過面は永久磁石の垂直磁界A0に対して垂直であり、磁性体13の移動方向をCとすると、この移動方向Cは永久磁石の垂直磁界A0と直交する。従って、磁性体の移動方向Cは磁気センサチップ11と平行であり、さらに、磁性体の移動方向Cは磁気インク検出方向Bと平行になるようにする。ここで、被検出物である磁性体13は、紙幣や有価証券などの紙葉類等に印刷または漉きこまれた磁気インク等の磁性体である。
磁気センサチップ11内に形成されたMR素子MR1にはバイアス永久磁石12によって曲線磁界A1(バイアス磁界Hx1)が印加され、磁性体13が曲線磁界A1に近づき横切ると磁界A1が少し変動する。同様に、磁気センサチップ11内に形成されたMR素子MR2にはバイアス永久磁石12によって曲線磁界A2(バイアス磁界Hx2)が印加され、磁性体13が曲線磁界A2に近づき横切ると磁界A2が少し変動する。これらの磁界の変動によりMR素子MR1、MR2の抵抗値が変化する。
本発明の磁気センサチップ11内に形成された2個のMR素子MR1、MR2は、図1(b)に示すように、磁性体の移動方向Cと同方向に直線上に配置され、これらのMR素子は直列に接続されて、各MR素子との接続点を出力端子Voutとする直列回路が構成される。この直列回路の両端には、少なくとも磁性体検出時に電圧Vddが印加される。すなわち、直列接続された2個のMR素子MR1、MR2いずれか一方のMR素子の一端は接地され、もう一方の素子の一端は電圧Vddが印加される。また、磁気センサチップ11上の2個のMR素子MR1、MR2は、配置中心線M(永久磁石12の中心Oを通る着磁方向の磁石中心線と直角である直線)に対して平行な直線上でかつその配置中心線Mの両側に対称な位置に配置される。すなわち、配置中心線MとMR素子MR1との距離をx1、配置中心線MとMR素子MR2との距離をx2とすると、MR素子MR1、MR2は、x1=x2になるように配置される。さらに、2個のMR素子MR1、MR2から構成される直列回路の出力端子Voutには、磁性体13が移動したときの磁界の変動に対するMR素子MR1、MR2それぞれの抵抗値の変化分が、電圧値に変換されて出力される。すなわち、出力端子Voutから、2個のMR素子MR1、MR2から構成される直列回路の出力感度として、それぞれのMR素子の磁界の変動に対する感度の和が得られる。
図2は、永久磁石位置と永久磁石によるバイアス磁界との関係を示す図である。
図2(a)は永久磁石12の側面からみた磁力線の分布状態を示す図である。磁気センサチップ11上において、磁気インク検出方向Bでの永久磁石の中心O1からの距離xの位置での磁界をHとすると、磁界Hは、B方向に対して垂直方向の成分(垂直方向磁界)HzとB方向と同じ水平方向の成分(水平方向磁界)Hxに分解できる。理想的には磁石中心線O1上では垂直磁界のみになり、x=0ではHx=0となる。図2(b)は、磁気センサチップ11上での、永久磁石の中心O1付近における水平方向(磁気インク検出方向)の位置xと水平方向磁界Hxとの関係を示す図である。図2(b)に示されるように、永久磁石の中心付近では、位置xと水平方向磁界Hxとは比例関係にある。
図3は、バイアス磁界に対するMR素子(MR1、MR2)の磁気抵抗特性および感度特性を示す図である。図3(a)は水平方向磁界Hxの変化に対するMR1の抵抗変化を示す図であり、図3(b)は水平方向磁界Hxの変化に対するMR2の抵抗変化を示す図である。図3(c)は水平方向磁界Hxの変化に対するMR1の感度を示す図であり、図3(d)は水平方向磁界Hxの変化に対するMR2の感度を示す図である。
2個のMR素子(MR1、MR2)は配置中心線Mから少し離れた所(x1、x2)に配置するので、2個のMR素子(MR1、MR2)に印加する磁界は、図1(a)において曲線磁界A1またはA2で示すように、少し傾いている。図1において、磁性体13がC方向に移動しMR素子MR1に印加される磁界A1(C方向の位置L1における磁界)の近傍に達して横切ったときに磁界A1が変化するので、MR素子MR1の抵抗値が変化する。たとえば、図3(a)に示すように、L1近傍において磁界Hx1の変化に対して抵抗変化ΔRout1が生じる。曲線の傾きは急であるから、少しの磁界Hx1の変化に対して抵抗値は大きく変化する。
一方、磁性体13がC方向に移動しMR素子MR2に印加される磁界A2(C方向の位置L2における磁界)の近傍に達して横切ったときに磁界A2が変化するので、MR素子MR2の抵抗値が変化する。たとえば、図3(b)に示すように、L2近傍において磁界Hx2の変化に対して抵抗変化ΔRout2が生じる。少しの磁界Hx2の変化に対して抵抗値は大きく変化する。感度に関しては、図3(c)および図3(d)に示すように(または、図9に示されているように)、感度ピークを有する。また、感度ピーク位置より内側では感度が急激に低下(または増加)するが、感度ピーク位置より外側では感度がゆるやかに低下(または増加)する。
図4は、2個のMR素子(MR1、MR2)の感度設定に関する説明図であり、水平方向の位置xにおいて、MR1がマイナス側(配置中心線より左側)に配置され、MR2がプラス側(配置中心線より右側)に配置された場合において、磁界変化や位置変化が生じたときのMR1およびMR2それぞれの感度変化を示している。図4では、横軸は水平方向磁界または水平方向の位置、縦軸は感度Sの絶対値(|S|)で示す。本発明の直列接続した2個のMR素子(MR1、MR2)は、感度ピーク位置(P1、P2)より少し外側に外した位置に配置する。たとえば、MR素子MR1を感度ピーク位置P1より少し外側の位置T1に配置し、MR素子MR2を感度ピーク位置P2より少し外側の位置T2に配置する。
しかし、磁気センサチップ11上に、MR素子MR1やMR2をそれぞれ、T1およびT2の位置に精度良く配置したとしても、磁気センサチップ(MR素子)と永久磁石との実装ずれにより位置バラツキが生じる。あるいは、永久磁石の材質や着磁の仕方などの要因でMR素子に対するバイアス磁界にバラツキが生じる。よって、これらのバラツキの影響により、MR素子MR1およびMR2の感度が左右に変動する。ただし、MR素子MR1およびMR2は同一の磁気センサチップ上に形成されているため、これらのバラツキの影響を受けたとしても、位置T1と位置T2との間隔を一定に保ちながら左右に変動する。たとえば、位置T1よりも左側(外側)へΔvずれて、位置T1が位置V1へ移動したとしても、位置T2は左側(内側)へ同じΔvずれて位置V2へ移動(■印の位置に移動)するため、左側へ移動した位置V1と位置V2との間隔Fと、移動前の位置T1と位置T2との間隔Eと同じであり、一定の間隔を保つ。また、位置T1よりも右側(内側)へΔuずれて、位置T1が位置U1へ移動したとしても、位置T2は右側(外側)へ同じΔuずれて位置U2へ移動(★印の位置に移動)するため、右側へ移動した位置U1と位置U2との間隔Gと、移動前の位置T1と位置T2との間隔Eと同じであり、一定の間隔を保つ。
一方、感度ピーク値P1、P2より外側(P1より左側およびP2より右側)の感度特性は、直線的に変化する線形領域を有しているため、たとえば、位置T1よりも左側(外側)へΔvずれて、位置T1が位置V1へ移動しMR素子MR1の感度がSv分低下した場合、位置T2が左側(内側)へ同じΔvずれて位置V2へ移動するため、MR素子MR2の感度はSv分増大する。また、位置T1よりも右側(内側)へΔuずれて、位置T1が位置U1へ移動しMR素子MR1の感度がSu分増大した場合、位置T2は右側(外側)へ同じΔuずれて位置U2へ移動するため、MR素子MR2の感度はSu分低下する。従って、本発明の磁気センサは、2個のMR素子MR1、MR2から構成される直列回路の出力端子から、それぞれのMR素子の感度の和を出力感度として得ており、磁気センサチップと永久磁石との位置バラツキやMR素子に対するバイアス磁界のバラツキによってそれぞれのMR素子での感度が変動しても、一方のMR素子の感度が増大した分、他方のMR素子の感度が低下するように、お互いの感度を補完し合う関係にしているため、出力感度はほぼ一定になる。
尚、MR素子MR1およびMR2は、感度ピーク位置P1およびP2より内側に配置しないようにする。すなわち、図9に示す磁界Hp1とHp2の間、または位置p1とp2の間にMR素子MR1およびMR2を配置しないようにする。何故なら、感度ピーク位置P1およびP2より内側においては、図4に示すように感度が急激に低下するので、わずかな永久磁石の磁界バラツキや位置ずれによって感度の変化が大きくなるからである。従って、永久磁石の磁界バラツキや位置ずれを考慮して、感度ピーク位置P1およびP2より少し外側(たとえば、T1およびT2の位置)に2個のMR素子MR1およびMR2を配置するようにし、位置ずれ等が生じてもMR素子の感度が感度ピーク位置P1およびP2より内側に入らないようにする。たとえば、実装ずれ許容量がδ(たとえば、3σで)である場合は、感度ピーク位置P1およびP2より永久磁石の外側の方へδ以上離間してMR素子MR1およびMR2を配置する。ここで、実装ずれ許容量とは工程(プロセス)上で許容可能な最大の実装ずれ量である。
2個のMR素子MR1およびMR2を同じチップ内に形成した場合、2個のMR素子MR1およびMR2の間隔は正確に決定される。しかし、単体のMR素子2個をプリント基板等に各々実装した場合は、実装時のバラツキを考慮しなければならない。ただし、実装した後は、2個のMR素子MR1およびMR2の間隔は一定に保たれるため、本発明と同様の効果を得ることができる。このときもプリント配線を通じて直列接続された2個のMR素子MR1およびMR2の電流を流す方向は、B方向である。
図5は、本発明の磁気センサシステムを構成した磁気センサパッケージ20を示す。この磁気センサパッケージ20は永久磁石(バイアス用磁石)を内蔵したものである。リードフレーム台座24の下面に永久磁石22が接着剤等で接着され、リードフレーム台座24の上面に磁気センサチップ21が載置される。磁気センサチップ21内ではMR素子MR1およびMR2が配置中心線(永久磁石22の中心O1を通る着磁方向の磁石中心線と直角である直線)の両側に対称な位置に形成され、それらのMR素子は内部配線で直列に接続されている。
また、それらのMR素子は感度ピーク位置から少し永久磁石の外側に離して配置されるように磁気センサチップ21内に形成されている。
リードフレーム台座24上には磁気センサコントロール用IC26も載置されても良い。磁気センサコントロール用IC26はMR素子に電圧を印加したり、MR素子からの信号を演算処理したりする。磁気センサチップ21および磁気センサコントロール用IC26とリードフレーム27はワイヤ28で必要な接続が行なわれる。上記の各部品はエポキシ樹脂等の樹脂(レジン)29で封止され磁気センサパッケージ20が形成される。リードフレーム27の一部(アウターリード)は磁気センサパッケージ20の外側に出ており、外部からの電源供給や外部への出力が行なわれる。図5に示す磁気センサパッケージ20はDIP型であるが、SOP等の他の形態のパッケージやリードレスパッケージも採用できる。尚、リードフレーム台座24やレジン29等は非磁性材料であり、永久磁石から生じる磁界には影響を与えない。さらに、この磁気センサパッケージ20を図1に示すような構成にすることによって、磁性体検出装置(磁気センサシステム)を作成できる。すなわち、磁気センサパッケージ20の直上を磁気インク等の磁性体が移動できるようにする。このとき、2個のMR素子MR1およびMR2の配列方向は磁性体の移動方向と一致するように配置されている。このように、必要部品を内蔵した磁気センサパッケージにすることにより、磁気センサシステムを小型化することができる。
本発明の磁気センサモジュールは、上述した2個のMR素子からなる直列回路を複数有するMR素子群においても適用することができる。図6は、2個のMR素子からなる直列回路を複数配置した場合の磁気センサシステムの実施形態を示す図である。図6(a)はその構成の側面構造を模式的に示した図、図6(b)はその構成の平面構造を模式的に示した図である。磁気センサチップ11、永久磁石12、および被検出物である磁性体13の配置は図1と同様であり、垂直磁界A0、磁気インク検出方向B、および磁性体13の移動方向Cも図1と同様である。
磁気センサチップ11内には、図6(b)に示すように、2個のMR素子MR1n、MR2n(n=1、2、…、i)を磁性体の移動方向Cと同方向に直線上になるように配置し、各MR素子との接続点を出力端子Voutn(n=1,2,…,i)とする直列回路を、配置中心線上に複数並べて配置している。(図6(b)では、直列回路を5つ並べて配置した場合(i=5の場合)の実施形態の一例を示している。)
これらの直列回路の両端には、少なくとも磁性体検出時に電圧Vddが印加される。すなわち、直列接続された2個のMR素子いずれか一方のMR素子の一端は接地され、もう一方の素子の一端は電圧Vddが印加される。また、直列回路を構成する2個のMR素子MR1n、MR2n(n=1、2、…、i)は、配置中心線Mに対して平行な直線上でかつその配置中心線Mの両側に対称な位置に配置される。
すなわち、配置中心線MとMR素子MR1nとの距離をx1、配置中心線MとMR素子MR2nとの距離をx2とすると、MR素子MR1n、MR2nは、x1=x2になるように配置される。さらに、直列回路を構成する2個のMR素子MR1n、MR2n(n=1、2、…、i)から構成される直列回路の出力端子Voutn(n=1,2,…,i)には、磁性体13が移動したときの磁界の変動に対するMR素子MR1n、MR2nそれぞれの抵抗値の変化分が、電圧値に変換されて出力される。すなわち、出力端子Voutnから、2個のMR素子MR1n、MR2nから構成される直列回路の出力感度として、それぞれのMR素子の磁界の変動に対する感度の和が得られる。
このように磁気センサチップ11内に、2個のMR素子からなる直列回路を複数配置した場合においても、バイアス永久磁石12の中心近傍ではほぼ同じ磁束密度分布とみなすことができるため、磁石中心付近の配置中心線上では水平方向磁界はゼロ(垂直方向磁界のみ)となり、直列回路を構成するMR素子MR1n、MR2n(n=1、2、…、i)のうち、MR素子MR1nにはバイアス磁界Hx1が印加され、MR素子MR2nにはバイアス磁界Hx2が印加される。従って、図1に示した場合と同様、それぞれの直列回路において、各MR素子を感度ピーク値から永久磁石の外側方向に離して配置することで、本発明の効果を得ることができ、永久磁石によるMR素子に対するバイアス磁界、あるいは、磁気センサチップと永久磁石の位置関係が多少ずれたとしても、一定の出力感度が得られる。
以上のように、2個のMR素子からなる直列回路を複数配置した場合は、磁性体の移動方向Cと直角方向(図6(b)に示したY方向)に磁気インクの検出範囲を持たせることができるため、その検出範囲において2次元的(X−Y方向)に描かれた磁性体の状態(たとえば、文字や画像)を同時に認識することができる。
図7は、実施例に用いた磁気センサシステム、ならびに、永久磁石の水平方向における位置と磁界との関係のグラフ(実測値)を示す。図7(a)は、実施例に用いた磁気センサシステムの構造およびサイズを示す図である。平面サイズaが6mm(奥行きが5mm)、厚さbが1mmの永久磁石(上面側がN極、下面側がS極)の直上に2個のMR素子MR1およびMR2を形成した磁気センサチップ11を配置した。永久磁石とMR素子の離間距離c(永久磁石12の表面から2個のMR素子までの距離)は、1.1mmである。図7(b)は、実測により求めた永久磁石の水平方向(磁気インク検出方向)の位置と磁界との関係を示すグラフである。図7(b)のグラフから、永久磁石の中心O1から±0.3mm程度の範囲では、水平方向の位置xと水平方向磁界Hxは比例関係にあることが分かる。
図8は、実施例での感度特性を示す図である。感度測定に用いた磁気センサシステムは図7(a)と同じである。図8(a)は、感度を求めるために用いた測定回路図である。感度測定においては、2個のMR素子MR1、MR2の接続点から取り出される電圧は数mV程度であるため、その電圧を60dB(1000倍)に増幅した電圧を出力電圧とし、その出力電圧から感度を求めている。
図8(b)は、各MR素子MR1、MR2の感度を測定したグラフであり、図8(a)と同様の回路を用いて、各MR素子の感度を求めた。たとえば、MR1の感度は、図8(a)において、MR2を磁界によって抵抗値変化のない固定抵抗に置き換えて測定した。MR素子に外部から印加磁界をかけて図8(a)と同様の回路における出力電圧を測定し、その感度を求めた。図8(b)において、MR素子に印加される水平方向磁界Hx(単位:Oe)を横軸に、感度(単位:V/Oe)を縦軸に示す。また、図7(b)に示すように、水平方向磁界Hx(単位:Oe)と水平方向の位置x(単位:mm)は比例関係にあるので、この関係から求めた水平方向の位置x(単位:mm)も横軸に記載している。
水平方向磁界Hx(水平方向の位置x)のマイナス側がMR1単体の出力感度(絶対値|S1|で示す)であり、水平方向磁界Hx(水平方向の位置x)のプラス側がMR2単体の出力感度である(絶対値|S2|で示す)。図8(b)の測定結果から、これらのMR素子MR1およびMR2は、図4で示すような感度ピーク値を持つこと、およびMR1とMR2の感度は水平方向磁界Hx(水平方向の位置x)の原点に対してほぼ対称形となることが分かる。また、感度ピーク位置より内側(永久磁石の中心側)では感度が急激に低下することも分かる。これから、MR素子を感度ピーク位置より内側(永久磁石の中心側)に配置しないようにすることが重要である。
本実施例での感度ピーク位置はMR1およびMR2とも感度特性の原点から約0.03mm離れた位置であるため、本実施例では、感度ピーク位置より外側になるように、各MR素子を感度特性の原点から0.1mm離して、配置中心線の両側に対称な位置に配置する。(2つのMR素子の素子間距離dを0.2mmとする。)このように配置したとき、MR1の感度は約2.22V/Oe、MR2の感度は約2.27V/Oeになる。
図8(c)は、図8(a)に示す回路を用いて測定した出力感度を示すグラフである。
図8(c)の横軸の印加磁界は、それぞれのMR素子に、磁気インク検出方向に対して印加する磁界(磁気インク検知方向Bとは逆方向とする磁界)であり、実際の磁気センサシステムでは、それぞれのMR素子に設定された永久磁石によるバイアス磁界からの磁界変化分に相当する。この磁界変化分は、外部磁界、永久磁石の磁界分布のバラツキ等から生じる。
また、図8(c)の横軸の相対位置は、上述のようにMR素子を配置した位置(理想的な状態)からの相対的な位置であり、実際の磁気センサシステムでは、それぞれのMR素子を理想的に配置される位置からの位置ずれ量に相当する。この位置ずれ量は、MR素子と磁気センサチップや永久磁石との実装ずれによって生ずる。
たとえば、印加磁界がゼロ(相対位置がゼロ)の場合は、実装ずれ等がなく、MR1が配置中心線から−0.1mmの所に、MR2が配置中心線から+0.1mmの所に理想的に配置されている状態であり、この場合の出力感度は、約4.5V/Oeであり、図8(b)のグラフから得られるMR1の感度|Sx1|=2.22V/OeとMR2の感度|Sx2|=2.27V/Oeの和とほぼ同じである。また、たとえば、印加磁界が−10Oe変化した場合(約0.07mmの左(−)側への位置ずれに相当)は、出力感度は約5.0V/Oeであり、印加磁界が+10Oe変化した場合(約0.07mmの右(+)側への位置ずれに相当)は、出力感度は約4.8V/Oeである。
すなわち、本実施例では、感度ピーク値は感度特性の原点から約0.03mmであり、MR素子の位置を感度特性の原点(配置中心線)から0.1mmとし、感度ピーク位置からの位置ずらし量を0.07mm程度に設定しているため、図7(c)の測定結果からも分かるように、±0.07mm程度(±10Oe程度)までは、外部磁界や実装ずれがあったとしても、出力感度はほぼ一定になる。尚、感度ピーク位置からの位置ずらし量は、実装装置等の性能含む工場やプロセスの実力値で決まる実装ずれ許容量δよりも大きな値に設定する必要がある。しかし、位置ずらし量を実装ずれ許容量δよりも必要以上に大きくし、感度ピーク位置から余り離しすぎてしまうと、図7(a)の各MR素子の感度特性から分かるようにそれぞれのMR素子の感度が低くなり、出力感度も低くなる。実装ずれ許容量δは通常、約0.03mm〜0.07mmであり、できるだけこの値を小さくすることで、MR素子を感度ピーク値に近づけて配置することができ、さらに出力感度を高めることができる。
このことから、本発明のように、直列接続された2個のMR素子を感度ピーク位置から永久磁石の外側方向に離して配置することによって、永久磁石によるMR素子に対するバイアス磁界、あるいは、磁気センサチップと永久磁石の位置関係が多少ずれても、磁気センサシステムの感度は殆ど変わらないので、安定した磁気センサ特性を得ることができる。
これまで、磁気抵抗効果素子は、電流が流れる方向と直角方向の磁界に対して抵抗が変化する素子、特に磁界がゼロの場合には抵抗が大きく、磁界が大きくなるに従い抵抗が小さくなるトンネル磁気抵抗効果(TMR)素子である場合について説明してきた。TMR素子は磁界による磁気抵抗変化が100%以上と非常に大きくなること、抵抗が大きい(たとえば、10kΩ〜2MΩ)ため消費電流が小さいこと、単体の素子が小型で多数のMR素子を配列したアレイを1チップ化できること、さらに2端子で回路が簡単なこと、シリコン基板上にもTMR素子を形成できるためコントロール用ICと一体化できることなどの特徴があり、本発明の直列接続型MR素子には最適である。しかし、本発明は、巨大磁気抵抗効果(GMR)素子、あるいは異方性磁気抵抗効果(AMR)素子など他の磁気抵抗効果素子にも適用できる。
以上説明した様に、本発明は直列に接続した2個のMR素子を永久磁石の中心を通る着磁方向の磁石中心線と直角である直線(配置中心線)の両側に対称な位置に、各MR素子の感度ピーク位置から永久磁石の外側方向へ離して配置する。また、磁性体を検出する場合は、この2個のMR素子が配置された直線上に沿って移動させるようにする。この結果、高感度の磁気センサモジュールを実現でき、磁性体等の検出精度を高めることができる。
尚、明細書の各部分に記載し説明した内容を記載しなかった他の部分においても矛盾なく適用できることに関しては、当該他の部分に当該内容を適用できることは言うまでもない。さらに、上記実施形態は一例であり、要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施でき、本発明の権利範囲が上記実施形態に限定されないことも言うまでもない。
本発明は、磁気特性の感度バラッツキを小さくできるので、高性能の、非接触スイッチ、磁気ヘッド、地磁気センサ、回転センサや角度センサ等にも適用できる。
11、21・・・磁気センサチップ、12、22・・・永久磁石、13・・・磁性体、20・・・磁気センサパッケージ

Claims (5)

  1. 電源間に直列接続された2個の磁気抵抗効果素子からなりかつその共通接続点を出力端子とする少なくとも1組の直列回路と前記磁気抵抗効果素子にバイアス磁界を加える永久磁石を含む磁気センサモジュールにおいて、
    前記直列回路を構成する各々の前記磁気抵抗効果素子は、前記永久磁石の着磁方向と直交する平面上での前記永久磁石の磁石中心を通る前記着磁方向の磁石中心線と直角である直線に平行かつその直線の両側に対称な位置に配置されるとともに、前記磁気抵抗効果素子の感度が最大となる位置から前記永久磁石の外側方向へ離した位置に配置されることを特徴とする磁気センサモジュール。
  2. 前記磁気抵抗効果素子の感度が最大となる位置からの位置ずらし量は、実装ずれ許容量以上であることを特徴とする、請求項1に記載の磁気センサモジュール。
  3. 磁性体等の被検出物が移動することによる磁界の変化を検出する場合において、前記被検出物の移動方向は、前記磁気抵抗効果素子の磁界を検知する方向と同じであることを特徴とする、請求項1または請求項2に記載の磁気センサモジュール。
  4. 前記磁気抵抗効果素子は、水平方向の磁界を検知する磁気抵抗効果素子であることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の磁気センサモジュール。
  5. 前記直列回路は、同一チップ上に形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の磁気センサモジュール。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6660191B2 (ja) * 2016-01-25 2020-03-11 株式会社ヴィーネックス 磁気センサ装置
FR3067116B1 (fr) * 2017-06-02 2019-07-12 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Systeme et procede de suppression du bruit basse frequence de capteurs magneto-resistifs a magnetoresistence tunnel
FR3076932B1 (fr) 2018-01-12 2020-11-06 Ingenico Group Lecteur de carte magnetique a capteur a magnetoresistance a effet tunnel
FR3077665B1 (fr) 2018-02-06 2020-02-14 Ingenico Group Lecteur de piste magnetique, procede de determination de la vitesse de defilement de la piste, procede de reconnaissance de donnees enregistrees sur la piste et dispositifs correspondants
US11543267B2 (en) 2021-01-05 2023-01-03 Hiwin Mikrosystem Corp. Position sensing mechanism
JP2022109020A (ja) * 2021-01-14 2022-07-27 大銀微系統股▲分▼有限公司 位置検出機構
DE112021007445T5 (de) * 2021-03-31 2024-01-25 Mitsubishi Electric Corporation Magnetsensor-element, magnetsensor und magnetsensor-einrichtung

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5500589A (en) * 1995-01-18 1996-03-19 Honeywell Inc. Method for calibrating a sensor by moving a magnet while monitoring an output signal from a magnetically sensitive component
JP3506078B2 (ja) * 1999-11-25 2004-03-15 株式会社デンソー 回転検出装置
JP2008145302A (ja) * 2006-12-11 2008-06-26 Hamamatsu Koden Kk 磁気センサ
JP4894040B2 (ja) * 2006-12-13 2012-03-07 浜松光電株式会社 磁気センサ
US7923987B2 (en) * 2007-10-08 2011-04-12 Infineon Technologies Ag Magnetic sensor integrated circuit with test conductor

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