JP6255389B2 - 試料中の関心組織を高空間分解能で画像化するための顕微鏡 - Google Patents
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Description
−互いに反対を向いている第一及び第二の面を有しており、且つ上記第一及び第二の面の側に第一及び第二の焦点面がそれぞれ存在しており、上記試料は第一の面の側に置かれるためのものである、対物レンズ組み立て体、
−上記対物レンズ組み立て体を通って上記試料に向けて転移光線を放つために、上記対物レンズ組み立て体の第二の面の側に配置され、上記転移光線は強度及び位相の特性を有している、転移光源、
−上記転移光源及び上記対物レンズ組み立て体の間に設置されている光線調節装置であって、上記光線調節装置と上記対物レンズ組み立て体とを通過した上記転移光線が、上記第二の状態にある物質を、上記第一の状態に移すように適応されている第一の強度を有している、第一の強度の領域、及び、上記第一と第二の状態との間に上記物質を移さないように適応されている第二の領域を有している、第二の強度の領域を少なくとも呈するように、空間的に上記転移光線を変化させるために構成されている上記光線調節装置、
−上記第二の状態にある物質の一部から、光学測定信号を検出するように構成されているプローブ形検出器、
を含んでおり、
−位相差を発生させるように、さらに構成されている上記光線調節装置、
−上記試料に向けて照射光線を放つために配置されており、上記照射光線は強度及び位相の特性を有している、照射光源、並びに、
−上記照射光線が、上記試料、上記対物レンズ組み立て体及び上記光線調節装置を少なくとも1回通過した後に、上記照射光線の強度を検出するために配置されている強度検出器
を含む位相差顕微鏡検査システムを含む顕微鏡を提案する。
−第一の状態と第二の状態とで、プローブビームのための偏光特性が変化するもの、
−第一の状態と第二の状態とで、蛍光、燐光、電界発光及び化学発光から選ばれる発光が変化するもの。
Claims (26)
- 物質を含んでいる試料(2)中の関心組織を高空間分解能で画像化するための顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)であって、上記物質は第一分光特性を有している第一の状態及び第二分光特性を有している第二の状態を有しており、上記顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)は、
−互いに反対を向いている第一及び第二の面を有しており、且つ上記第一及び第二の面の側に第一及び第二の焦点面がそれぞれ存在しており、上記試料(2)は上記第一の面の側に置かれるためのものである、対物レンズ組み立て体(3)、
−上記対物レンズ組み立て体(3)を通って上記試料(2)に向けて転移光線(5b)を放つために、上記対物レンズ組み立て体(3)の上記第二の面の側に配置され、上記転移光線(5b)は強度及び位相の特性を有している、転移光源(4b)、
−上記転移光源(4b)及び上記対物レンズ組み立て体(3)の間に設置されている光線調節装置(10)であって、上記転移光線(5b)が、上記光線調節装置(10)と上記対物レンズ組み立て体(3)とを通過した後に、上記第二の状態にある上記物質を、上記第一の状態に移すように適応されている第一の強度を有している第一の強度の領域、及び、上記第一と第二の状態との間に上記物質を移さないように適応されている第二の領域を有している第二の強度の領域を少なくとも呈するように、空間的に上記転移光線(5b)を変化させるように構成されている上記光線調節装置(10)、
−上記第二の状態にある物質の一部から、光学測定信号を検出するように構成されているプローブ検出器(15)、
を含んでおり、
−さらに、位相差を発生させるように構成されている上記光線調節装置(10)、
−上記試料(2)に向けて照射光線(17;5b)を放つように配置されており、上記照射光線(17;5b)は強度及び位相の特性を有している、照射光源(16;4b)、並びに、
−上記照射光線(17;5b)が、上記試料(2)、上記対物レンズ組み立て体(3)及び上記光線調節装置(10)を少なくとも1回通過した後に、上記照射光線(17;5b)の強度を検出するように配置されている強度検出器(26)
を含む位相差顕微鏡検査システムを含むことを特徴とする顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。 - 上記光線調節装置(10)は、上記第一の強度の領域が上記第二の強度の領域を囲むように上記転移光線(5b)を変化させるように構成されている、請求項1に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記光線調節装置(10)は、上記転移光線(5b)及び上記照射光線(17;5b)の位相の特性を調節するように構成されている位相マスクである、請求項1又は2に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記光線調節装置(10)は、角度依存の位相シフトを、上記転移光線(5b)の位相の特性及び上記照射光線(17;5b)の位相の特性に適用するように構成されている螺旋状の位相マスクである、請求項3に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記物質は、上記第二の状態から上記第一の状態へ弛緩するとき蛍光を発する蛍光マーカーを含み、上記顕微鏡は上記転移光線(5b)と重ねられるプローブ光線(5a)を放つように構成されているプローブ光源(4a)をさらに含み、上記プローブ光線(5a)は、上記第一の状態にある上記マーカーを上記第二の状態に移すように構成されている強度を有しており、上記第一の強度の領域における上記転移光線(5b)は、上記マーカーの第二の状態を抑制させるように構成されている、請求項1〜4のいずれかに記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記転移光源(4b)及び上記プローブ光源(4a)は、上記転移光線(5b)及び上記プローブ光線(5a)の両方を生じさせる単一の光源(4)を形成する、請求項5に記載の顕微鏡(1)。
- 上記試料(2)が上記転移光線(5b)によって走査され得るように、上記転移光線(5b)及び上記試料(2)を互いに相対的に移動させるように構成されている、転移光走査配置をさらに有する、請求項1〜6のいずれかに記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記試料(2)が上記照射光線(17;5b)によって走査され得るように、上記照射光線(17;5b)及び上記試料(2)を、互いに相対的に移動させるように構成されている、照射光走査配置をさらに有する、請求項1〜7のいずれかに記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記強度検出器(26)は、画素化検出器である、請求項1〜8のいずれかに記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記画素化検出器は、CCDカメラである、請求項9に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記画素化検出器は、CMOSカメラである、請求項9に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記強度検出器(26)は、単一の画素検出器である、請求項1〜8のいずれかに記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記単一の画素検出器は、アバランシェフォトダイオードである、請求項12に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記単一の画素検出器は、光電増倍管である、請求項12に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記照射光源(16;4b)は、コヒーレント光源を含む、請求項1〜14のいずれかに記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記コヒーレント光源は、レーザー装置である、請求項15に記載の顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
- 上記照射光源(16)は、インコヒーレント光源を含む、請求項1〜14のいずれかに記載の顕微鏡(1)。
- 上記インコヒーレント光源は、発光ダイオードである、請求項17に記載の顕微鏡(1)。
- 上記インコヒーレント光源は、水銀灯である、請求項17に記載の顕微鏡(1)。
- 上記インコヒーレント光源は、ハロゲンランプである、請求項17に記載の顕微鏡(1)。
- 上記照射光源(16)は、上記対物レンズ組み立て体(3)の上記第一の面の側に、上記試料(2)を設置するために規定されている場所から隔てて配置されている、請求項1〜20のいずれかに記載の顕微鏡(1)。
- 上記強度検出器(26)は、上記対物レンズ組み立て体(3)の第二の面の側に配置されている、請求項21に記載の顕微鏡(1)。
- 上記照射光源(5b)は、上記対物レンズ組み立て体(3)の第二の面の側に配置されている、請求項1〜20のいずれかに記載の顕微鏡(1’;1’’;1’’’)。
- 反射素子(35)は、上記対物レンズ組み立て体(3)の第一の面の側に、上記試料(2)を設置するために規定されている場所から隔てて、配置されている、請求項23に記載の顕微鏡(1’;1’’;1’’’)。
- 上記強度検出器(26)は、上記対物レンズ組み立て体(3)の第一の面の側に配置されている、請求項23に記載の顕微鏡(1’)。
- 上記転移光線(5b)は、上記照射光線(17;5b)である、請求項23〜25のいずれかに記載の顕微鏡(1’;1’’;1’’’)。
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