JP6244492B1 - スペクトルの判定装置および判定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 本発明は、対象サンプルのスペクトルが標準スペクトルと一致するか否かを判定する判定装置および判定方法における精度向上の技術に関する。【解決手段】 スペクトル群によるリファレンススペクトルを用いて試料スペクトルがリファレンススペクトルと一致するか否かを判定するスペクトル判定装置１０であり、スペクトル判定装置１０は、リファレンススペクトルを記憶する記憶手段２６と、リファレンススペクトルと試料スペクトルとを比較してその比較結果から試料２０を判定する判定手段２８を備え、リファレンススペクトルは各ポイントごとに異なる重み付けが設定され、判定手段２８はリファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出し、個別一致度と異なる重み付けを用いてリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して試料２０を判定する。【選択図】 図１

Description

本発明はスペクトルの判定装置および判定方法、特に対象サンプルのスペクトルが標準スペクトルと一致するか否かを判定する判定装置および判定方法における精度向上の技術に関する。

従来から、食品分野や製薬分野等において、製品の品質管理に各種スペクトル判定が利用されている。例えば、ライブラリに含まれる既知物質の１本のリファレンススペクトル（標準スペクトル）と１本の対象サンプルのスペクトルを１対１で比較して対象サンプルの変性の有無を確認したり、あるいはリファレンススペクトル（標準スペクトル）を複数回測定し、そのバラつきを踏まえてリファレンススペクトルと対象サンプルのスペクトルを比較して統計的な差を考慮したスペクトルの判定方法が知られている。

このようなスペクトルの判定装置および判定方法は、例えばタンパク質のスペクトル強度と形状を比較（リファレンスとなる正常な未変性タンパク質と、変性の有無を確認したいタンパク質の強度と形状を比較）することでタンパク質の変性の有無を確認する場合などに利用されている。

ところが、リファレンススペクトルを複数回測定することでスペクトルの特性（およびスペクトルの傾向）は再現出来るものの、実際の測定ではランダムノイズなどの影響で全く同じスペクトルとして再現することは出来ない。したがって、従来のスペクトル測定を利用したスペクトル判定では、どうしても効率の良い判定は困難であり、また、判定結果についての信頼性には限界があった。そこで特許文献１には、分光スペクトルのピーク位置を求める方法として、分光スぺクトルの偶数次微分を行い、得られた微分スペクトルと元の分光スペクトルのスペクトル全体ごとにそれぞれ重み付けをして対応するポイント同士加算または乗算することにより混合スペクトルを求めることで、分光スペクトルにおける鋭くかつ高い（深い）ピーク位置を一度に数多く効率良く検出することができる技術が開示されている。

特開平６−１６０１８８号公報

しかしながら、特許文献１のように検出した元の分光スペクトルと偶数次微分スペクトルのスペクトル全体ごとにそれぞれに重み付けをして加算または乗算した混合スペクトルを対象サンプルのスペクトル判定に利用することで、ピーク位置を一度に数多く効率良く検出することは可能となるが、前述のとおりリファレンススペクトルは各測定ごとに異なる固有のスペクトルとなってしまうため、この方法では測定精度の改善は困難であり、まだまだ改良の余地がある。

本発明は上記従来技術の課題に鑑みて行われたものであって、その目的は、試料の同定や変性の有無を確認するスペクトルの判定において、リファレンススペクトルを工夫することで、良好な判定精度が得られるスペクトル判定装置および判定方法を提供することである。

上記課題を解決するために、本発明にかかるスペクトル判定装置は、
複数回測定されたスペクトル群から作成されたリファレンススペクトルを利用して該リファレンススペクトルと試料スペクトルを比較することで該試料スペクトルがリファレンススペクトルと一致するか否かを判定するスペクトル判定装置であって、
当該スペクトル判定装置は、前記リファレンススペクトルを記憶する記憶手段と、前記リファレンススペクトルと試料スペクトルとを比較してその比較結果から試料を判定する判定手段と、を備え、
前記リファレンススペクトルは、各ポイントごとに異なる重み付けが設定され、
前記判定手段は、前記リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出し、該算出された個別一致度と前記異なる重み付けを利用することでリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して該試料を判定することを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定装置は、
前記リファレンススペクトルは、前記スペクトル群のバラつきが大きい部分の重み付けを軽くするとともに前記スペクトル群のバラつきが小さい部分の重み付けを重くすることを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定装置は、
前記リファレンススペクトルの各ポイントごとの異なる重み付けは、前記スペクトル群のバラつきによる標準偏差を利用して算出されることを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定装置は、
請求項１から請求項３のいずれかに記載のスペクトル判定装置であって、
前記記憶手段に記憶されるリファレンススペクトルが円二色性スペクトルであって、
前記判定手段は、前記円二色性スペクトルのリファレンススペクトルを利用してタンパク質の変性の有無が確認できることを特徴とする。

そして、本発明に係るスペクトル判定方法は、
複数回測定されたスペクトル群から作成したリファレンススペクトルを利用して該リファレンススペクトルと試料スペクトルを比較することで該試料がリファレンススペクトルと一致するか否かを判定するスペクトル判定方法であって、
リファレンススペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けを設定する工程と、
スペクトル測定によって試料スペクトルを検出する工程と、
前記リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出する工程と、
前記個別一致度と前記異なる重み付けを利用することでリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して試料を判定する工程と、を含むことを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定方法は、
前記リファレンススペクトルは、前記スペクトル群のバラつきが大きい部分の重み付けを軽くするとともに前記スペクトル群のバラつきが小さい部分の重み付けを重くすることを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定方法は、
前記リファレンススペクトルの各ポイントごとの異なる重み付けは、前記スペクトル群のバラつきによる標準偏差を利用して算出されることを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定方法は、
前記スペクトル群により作成されたリファレンススペクトルが円二色性スペクトルであることを特徴とする。

また、本発明に係るスペクトル判定方法は、
前記円二色性スペクトルであるリファレンススペクトルを利用してタンパク質の変性の有無が確認できることを特徴とする。

そして、本発明に係る判定手段を実行させるためのプログラムは、
リファレンススペクトルと試料スペクトルとを比較してその比較結果から試料がリファレンススペクトルと一致するか否かを判定する判定手段を実行させるためのプログラムであって、
前記判定手段に、複数回測定されたスペクトル群から作成されたリファレンススペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けを設定させる工程と、
前記リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出させる工程と、
前記個別一致度と前記異なる重み付けを利用することでリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して試料を判定させる工程と、を実行させることを特徴とする。

本発明によれば、スペクトル判定装置がリファレンススペクトルを記憶する記憶手段と、試料がリファレンススペクトルと一致するか否かを判定する判定手段と、を備えており、前記リファレンススペクトルの各ポイントごとにスペクトル群のバラつきによる異なる重み付けを設定して各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出し、該個別一致度と異なる重み付けを利用して試料スペクトルの一致度を算出することで、高精度な試料の判定を行うことができる。例えば、リファレンススペクトルの各ポイントごとに、スペクトル群のバラつきが大きい部分の重み付けを軽くするとともにスペクトル群のバラつきが小さい部分の重み付けを重くすることで、良好な判定精度による試料の判定が可能となる。

本発明の実施形態に係るスペクトル判定装置の概略説明図を示す。 本発明の実施形態に係るスペクトル判定装置に用いられるリファレンス測定で得られたスペクトル群の概略説明図を示す。 本発明の実施形態に係るリファレンススペクトルの概略図を示す。 本発明の実施形態に係るスペクトル群とリファレンススペクトルの概略図を示す。 本実施形態に係るスペクトル判定装置によるスペクトル判定の概略説明図を示す。

以下、本発明のスペクトル判定装置について図面を用いて説明するが、本発明の趣旨を超えない限り何ら以下の例に限定されるものではない。

図１に本発明の実施形態に係るスペクトル判定装置の概略図を示す。本スペクトル判定装置は、試料に左右の円偏光を透過させてそれらの吸光度の差を検出する円二色性測定装置と一体化したスペクトル判定装置であり、本実施形態を実施するために必要な工程（リファレンススペクトルを得るためのリファレンス測定、及び、試料の試料スペクトルを得るためのスペクトル測定、リファレンススペクトルと試料スペクトルを比較して判定するスペクトル判定）を説明するために一般的なスペクトル測定装置と一体化したスペクトル判定装置としている。同図に示すスペクトル判定装置１０は、試料２０に測定光を照射する光源１２と、光源１２からの測定光を単色光に分光する分光器１４と、分光器１４からの光を直線偏光にするための偏光子１６と、偏光子１６からの直線偏光に位相差を与えるためのＰＥＭ（位相変調子）１８と、測定対象としての試料２０と、試料２０を透過した光を検出する検出器２２と、検出した光を既知のリファレンススペクトルと比較して測定したスペクトルを特定するための判定部（判定装置）２４と、を備えている。

光源１２からの光は、分光器１４で単色光に分光された後に、偏光子１６で直線偏光とされ、ＰＥＭ（位相変調子）１８へと到達する。到達した光はＰＥＭ１８を透過するときに位相差が与えられ、左右に交替する円偏光となる。この左右の円偏光が、試料２０へ入射する。試料２０はＣＤ（円二色性）を有する試料であり、左右の円偏光が試料２０を透過すると、左と右で異なった大きさの吸収を受け、ＣＤ（円二色性）に依存する強度変動を含む光として検出器２２で検出される。検出された光は、電気信号によるスペクトルとして判定部２４へ送られ、スペクトル判定が行われる。具体的には、判定部２４はリファレンススペクトルを記憶させる記憶手段２６と、リファレンススペクトルと試料２０のスペクトルとを比較して試料スペクトルがリファレンススペクトルと一致するか否かを判定する判定手段２８を備えており、該判定手段２８によって、試料２０の同定や試料２０の変性の有無の確認を行う。

リファレンス測定について
本実施形態では、試料２０の試料スペクトルを得るためのスペクトル測定を行う前に、試料２０の試料スペクトルとの比較を行うためのリファレンススペクトル（標準スペクトル）を作成する必要がある。そのため、はじめにリファレンススペクトルを得るためのリファレンス測定を行う。図２には本実施形態に係るスペクトル判定装置１０によるリファレンス測定で得られたスペクトル群の概略説明図を示す。図２では、リファレンス測定の説明を分かりやすくするために２本のスペクトル群（スペクトル１およびスペクトル２）が示されている。ここで、リファレンススペクトルを作成するために複数回のリファレンス測定を行った場合には同じ条件でリファレンス測定を行っていたとしても、実際には多種多様なパラメータ等により異なるスペクトルとして測定されることがほとんどである。例えば図２に示すように、同じ条件で２本のスペクトルを測定した場合であっても、スペクトル１とスペクトル２ではスペクトルとしての特性や傾向は同等であるものの、全く同じスペクトルであるとは言えない。

つまり、例えば１本のスペクトル（例えばスペクトル１）からリファレンススペクトルを作成し、そのリファレンススペクトルを利用して試料２０のスペクトルの判定を行っても、精度の良い判定（試料２０の同定や試料２０の変性の有無の確認）は困難である。そこで、本実施形態では複数回のリファレンス測定を行うことが好ましい。例えば、少なくても１０回のリファレンス測定を行うことが好ましい。また、測定時間の短縮等を考慮した場合には、少なくても５回のリファレンス測定を行うことが好適である。さらに、測定精度向上を重視した場合には少なくても２０回のリファレンス測定を行うことが好ましい。そして、このように測定されたスペクトル群を使用して実際のスペクトル測定に用いられるリファレンススペクトルを作成する。

リファレンススペクトルについて
上述のようにリファレンス測定で測定されたスペクトル（図２においてはスペクトル１とスペクトル２の２本のスペクトル）は、スペクトル群としてリファレンススペクトル作成のために利用される。そして図３には、本実施形態のリファレンススペクトルの概略図を示す。同図に示すリファレンススペクトルは、リファレンス測定で得られたスペクトル群の平均値として実線であらわされている平均スペクトルである。さらに、本実施形態におけるリファレンススペクトルは、前記平均スペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けが設定されている。例えば、図３に示すように、ポイント１〜４におけるバラつき（スペクトル群のバラつき幅）はそれぞれ異なっており、このバラつきを利用して各ポイントごとに異なる重み付けを設定している。

各ポイントごとの異なる重み付けは、図２に示されたスペクトル群を一定条件で解析して設定される。例えば、図２のスペクトル１とスペクトル２の各スペクトル同士のＣＤ値の差が比較的大きい部分（バラつきが大きいポイント）に対してはリファレンススペクトルの測定に対する重み付けを軽く設定し、逆にスペクトル１とスペクトル２の各スペクトル同士のＣＤ値の差が小さい部分（バラつきが小さいポイント）に対してはリファレンススペクトルの測定に対する重み付けを重く設定することができる。具体的には図４（ａ）に示すように、ポイント１では各スペクトル同士のＣＤ値のバラつきが大きいのでリファレンススペクトルの重み付けを軽く設定し（図４（ｂ））、ポイント４では各スペクトル同士のＣＤ値のバラつきが小さいので重み付けを軽く設定している（図４（ｂ））。このように、リファレンススペクトルの各ポイントごとの重み付けはスペクトル群のＣＤ値のズレやバラつき等を算出して、設定される。

また、リファレンススペクトルの各ポイントごとの重み付けは、例えば既知のスペクトル情報から、物質の特定（試料２０の同定や試料２０の変性の有無の確認）に重要な部分に対して重み付けを重くして、物質の特定に影響が少ない部分に対しては重み付けを軽くしても良い。また、スペクトル群によるＣＤ値のバラつきと既知のスペクトル情報を組み合わせることで各ポイントごとに重み付けを定めてリファレンススペクトルを作成することも好適である。実際には、例えば５回〜２０回以上のリファレンス測定によるスペクトル群に対して、上記のような平均スペクトルと各ポイントごとに異なる重み付けを有するリファレンススペクトルが作成される。リファレンススペクトルの作成は、前記判定手段２８で行うようにしても良いし、あるいは、判定手段２８とは別にリファレンススペクトル作成手段をスペクトル判定装置１０に設けて行っても良い。そして、作成されたリファレンススペクトルは、記憶手段２６に記憶される。

また、上記リファレンススペクトルの各ポイントごとの重み付けの具体的な算出方法としては、５回〜２０回以上のリファレンス測定によるスペクトル群を用いて各ポイントごとに例えば標準偏差などによりバラつきの値を算出し、リファレンススペクトルの各ポイントのスコアをバラつき（標準偏差など）で割算することで、バラつきの大きいポイントの重み付けを軽くし、逆にバラつきの小さいポイントの重み付けを重くすることを実現できる。

さらに、複数本のスペクトル群を用いてスペクトルの波長ごとのバラつきの値σｉを以下のモデル式で算出することができる。

また、上記モデル式で得られたバラつきの値を用いて、以下の式で相関係数を求めてスペクトル判定に利用することもできる。

スペクトル判定について
図５には本実施形態に係るスペクトル判定装置（円二色性測定装置）１０によるスペクトル判定の概略説明図を示す。図５に示されるスペクトル３は、例えばスペクトル測定によって得られた試料２０のＣＤ（円二色性）スペクトルである。また、スペクトル３は、本実施形態におけるスペクトル判定を分かりやすく説明するための概略的なスペクトルとしている。同図に示すように、図１における記憶手段２６に記憶されているリファレンススペクトルと試料２０のＣＤスペクトルであるスペクトル３との比較をすることで、試料２０の特定（試料２０の同定や試料２０の変性の有無の確認）を行う。

まず、リファレンススペクトルに対してスペクトル３の各ポイントごとに個別一致度が算出される。図５では、Ａ点における個別一致度は７５％、Ｂ点における個別一致度は６５％、Ｃ点における個別一致度は９７％である。ここで、Ａ点〜Ｃ点までの３点を利用してスペクトル３の一致度を一般的な方法で算出（解析）する場合であれば、７５％（Ａ点）＋６５％（Ｂ点）＋９７％（Ｃ点）／３を計算して、スペクトル３の一致度は７８％となる。そして、例えば一致度８０％以上であれば一致とみなし、８０％未満であれば不一致とみなしている場合では、スペクトル３は不一致の結果となる。しかしながら、スペクトル判定において、実際にはスペクトルの中でもそのスペクトル判定に重要な部分（スペクトル判定に大きな影響を及ぼす部分）とそうでない部分（スペクトル判定には影響が少ない部分）が存在する。

そこで本実施形態では、リファレンススペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けを設定することで、従来に比べてより精度の高い判定を可能としている。具体的には、図６では、スペクトルの再現性の低いポイントであるＡ点では重み付けを０．４とし、同じく再現性の低いポイントであるＢ点では重み付けを０．６とする。そして、スペクトルの再現性の高いポイントであるＣ点においては重み付けを１．０とする。そして、Ａ点〜Ｃ点までの３点における個別一致度とそれぞれの異なる重み付けを利用してスペクトル３の一致度を算出すると、（７５％×０．４）＋（６５％×０．６）＋（９７％×１．０）／（０．４＋０．６＋１．０）を計算して、スペクトル３の一致度は８３％となる。つまり、上記と同様に一致度８０％以上であれば一致とみなし、８０％未満であれば不一致とみなしている場合には、スペクトル３は一致という結果となる。

このように、従来の単純な算出（解析）による判定結果と本実施形態のように各ポイントごとに異なる重み付けを設定した算出による判定結果とでは異なる結果となった。これは、スペクトル判定に重要な部分に着目してうえで、各ポイントごとの異なる重み付けとしてスペクトル判定に反映させたことにより、正確なスペクトルの同定を可能としていると言える。

また、本実施形態はスペクトル判定装置に限らず、上記のとおり説明した工程を順番に行うスペクトル判定方法を行うことで、良好なスペクトル判定による試料の特定等が実現できる。具体的には、はじめに５回〜２０回以上のリファレンス測定を行うことでスペクトル群を測定する。そして、リファレンス測定により測定されたスペクトル群を利用して、上記説明した平均スペクトルと各ポイントごとに異なる重み付けが設定されたリファレンススペクトルを作成する。次に、スペクトル測定を行うことで試料スペクトルを検出する。ここで、リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出する。その後に個別一致度と異なる重み付けを利用してリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出することで、良好な判定精度が得られるスペクトル判定方法が実現できる。

さらに、スペクトル判定において、バラつきがあまりにも大き過ぎる領域、および、スペクトル信号そのものがないためにスペクトルのバラつきが極めて小さい領域が存在する。例えば、タンパク質のＣＤスペクトルでは、短波長領域ではノイズが大きくなる傾向がある。そこで、このような領域は比較には不適であるので、リファレンススペクトルと試料スペクトルを比較する領域を一定のバラつきの範囲内に絞る（バラつきが大き過ぎる領域および極めて小さい領域を比較対象領域から除外する）ことで判定精度を向上させることもできる。

そして、本実施形態においては円二色性測定装置によるＣＤスペクトルの判定について説明したが、このような測定装置によるスペクトルに限定されるものではなく、他のスペクトル測定装置で測定されたスペクトルにも利用することが出来る。また、上記のようなスペクトル判定装置およびスペクトル判定方法は、例えばタンパク質由来のバイオ医薬品のＣＤ測定による変性の有無の確認のように、非常に小さい現象を確認するようなスペクトル判定を行う際に特に精度の良い判定結果を得ることが出来る。

当然のことながら、本実施形態におけるスペクトル判定装置はスペクトル測定装置とは別に設けても良い。例えば、別途測定した試料スペクトルに対して、スペクトル判定装置で試料スペクトルがリファレンススペクトルに一致しているか否かを判定しても良い。この場合、例えば市販のパソコンなどにプログラムをインストールすることでスペクトル判定が行えるようなスペクトル判定装置にしても良い。

以上のように、本発明のスペクトル判定装置によれば、スペクトル判定装置１０がリファレンススペクトルを記憶する記憶手段２６と判定手段２８を備えており、前記リファレンススペクトルの各ポイントごとにスペクトル群のバラつきによる異なる重み付けを設定して各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出し、該個別一致度と異なる重み付けを利用して試料スペクトルの一致度を算出することで、高精度な試料の特定を行うことができる。例えば、リファレンススペクトルの各ポイントごとに、スペクトル群のバラつきが大きい部分（バラつきが大きいポイント）の重み付けを軽くするとともにスペクトル群のバラつきが小さい部分（バラつきが小さいポイント）の重み付けを重くすることで、良好な判定精度による試料の特定が可能となる。

また、本発明によれば、リファレンススペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けを設定する工程と、スペクトル測定によって試料スペクトルを検出する工程と、リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出する工程と、を含み、個別一致度と異なる重み付けを利用してリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して比較することで、良好な判定精度によるスペクトル測定方法が実現できる。

１０ スペクトル判定装置（円二色性測定装置を含む判定装置）
１２ 光源
１４ 分光器
１６ 偏光子
１８ ＰＥＭ
２０ 試料
２２ 検出器
２４ 判定部
２６ 記憶手段
２８ 判定手段

Claims (10)

1. 複数回測定されたスペクトル群から作成されたリファレンススペクトルを利用して該リファレンススペクトルと試料スペクトルを比較することで該試料スペクトルがリファレンススペクトルと一致するか否かを判定するスペクトル判定装置であって、
   当該スペクトル判定装置は、前記リファレンススペクトルを記憶する記憶手段と、前記リファレンススペクトルと試料スペクトルとを比較してその比較結果から試料を判定する判定手段と、を備え、
   前記リファレンススペクトルは、各ポイントごとに異なる重み付けが設定され、
   前記判定手段は、前記リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出し、該算出された個別一致度と前記異なる重み付けを利用することでリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して該試料を判定することを特徴とするスペクトル判定装置。
2. 請求項１に記載のスペクトル判定装置であって、
   前記リファレンススペクトルは、前記スペクトル群のバラつきが大きい部分の重み付けを軽くするとともに前記スペクトル群のバラつきが小さい部分の重み付けを重くすることを特徴とするスペクトル判定装置。
3. 請求項１および請求項２のいずれかに記載のスペクトル判定装置であって、
   前記リファレンススペクトルの各ポイントごとの異なる重み付けは、前記スペクトル群のバラつきによる標準偏差を利用して算出されることを特徴とするスペクトル判定装置。
4. 請求項１から請求項３のいずれかに記載のスペクトル判定装置であって、
   前記記憶手段に記憶されるリファレンススペクトルが円二色性スペクトルであって、
   前記判定手段は、前記円二色性スペクトルのリファレンススペクトルを利用してタンパク質の変性の有無が確認できることを特徴とするスペクトル判定装置。
5. 複数回測定されたスペクトル群から作成したリファレンススペクトルを利用して該リファレンススペクトルと試料スペクトルを比較することで該試料スペクトルがリファレンススペクトルと一致するか否かを判定するスペクトル測定方法であって、
   リファレンススペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けを設定する工程と、
   スペクトル測定によって試料スペクトルを検出する工程と、
   前記リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出する工程と、
   前記個別一致度と前記異なる重み付けを利用することでリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して試料を判定する工程と、を含むことを特徴とするスペクトル判定方法。
6. 請求項５に記載のスペクトル判定方法であって、
   前記リファレンススペクトルは、前記スペクトル群のバラつきが大きい部分の重み付けを軽くするとともに前記スペクトル群のバラつきが小さい部分の重み付けを重くすることを特徴とするスペクトル判定方法。
7. 請求項５および請求項６のいずれかに記載のスペクトル判定方法であって、
   前記リファレンススペクトルの各ポイントごとの異なる重み付けは、前記スペクトル群のバラつきによる標準偏差を利用して算出されることを特徴とするスペクトル判定方法。
8. 請求項５から請求項７のいずれかに記載のスペクトル判定方法であって、
   前記スペクトル群により作成されたリファレンススペクトルが円二色性スペクトルであることを特徴とするスペクトル判定方法。
9. 請求項８に記載のスペクトル判定方法であって、
   前記円二色性スペクトルであるリファレンススペクトルを利用してタンパク質の変性の有無が確認できることを特徴とするスペクトル判定方法。
10. リファレンススペクトルと試料スペクトルとを比較してその比較結果から試料がリファレンススペクトルと一致するか否かを判定する判定手段を実行させるためのプログラムであって、
    前記判定手段に、複数回測定されたスペクトル群から作成されたリファレンススペクトルの各ポイントごとに異なる重み付けを設定させる工程と、
    前記リファレンススペクトルの各ポイントごとに試料スペクトルとの個別一致度を算出させる工程と、
    前記個別一致度と前記異なる重み付けを利用することでリファレンススペクトルに対する試料スペクトルの一致度を算出して試料を判定させる工程と、を実行させることを特徴とするプログラム。