JP6216635B2 - 顕微鏡装置の自己較正方法 - Google Patents
顕微鏡装置の自己較正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6216635B2 JP6216635B2 JP2013261051A JP2013261051A JP6216635B2 JP 6216635 B2 JP6216635 B2 JP 6216635B2 JP 2013261051 A JP2013261051 A JP 2013261051A JP 2013261051 A JP2013261051 A JP 2013261051A JP 6216635 B2 JP6216635 B2 JP 6216635B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- subject
- image
- magnification
- determined
- magnification value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000003703 image analysis method Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
- G02B21/025—Objectives with variable magnification
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/04—Measuring microscopes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/14—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
- G06T7/73—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
- G06T7/74—Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods involving reference images or patches
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
3 コンピュータ
10 被写体
11 ピクセル
12 検出器装置
13 ズームレンズ装置
14 被写体側ピクセルサイズ
16 面積
16a ピクセルの数
17 長さ
18 幅
21 被写体視野
21a、21b、31a、31b、32a、32b、41a、41b、42a、42b、51a、51b、52a、52b、61a、61b、62a、62b 特徴的基準点
34、35 基準距離
30、41、50、51、71、72 画像
45 変位
46 回転中心
52 幾何学的中心
54 距離
64、65 基準軸
66、67 帯
Claims (13)
- 可変倍率を有する光学拡大系(13)と検出器装置(12)とを有する顕微鏡装置(1)であって、被写体(10)の画像を前記光学拡大系(13)の異なる倍率の値にて前記検出器装置(12)によってキャプチャすることが可能である顕微鏡装置(1)を較正するための方法であって、
まず、第1時点において、較正モードが実行され、
− 前記被写体(10)の画像(50)が前記光学拡大系(13)の既知の基準倍率値で前記検出器装置(12)によってキャプチャされ、
− 少なくとも2つの特徴的基準点(32a、32b)が前記画像(50)内にて決定され、
− 前記少なくとも2つの特徴的基準点(32a、32b)の間の距離が基準距離(34)として前記画像内にて決定され、
− 前記基準距離(34)と前記基準倍率値の間にて相関値が決定され、
そして、後に、第2時点において、計測モードが実施され、
− 前記被写体(10)の現在の画像(51)が前記光学拡大系(13)の第2倍率値にて前記検出器装置(12)によってキャプチャされ、
− 前記少なくとも2つの特徴的基準点が前記現在の画像(52a、52b)内にて識別され、
− 前記特徴的基準点の間の現在の距離(54)が前記現在の画像(52a、52b)内にて決定され、
− 前記基準距離(34)と前記基準倍率値の間の前記相関値に基づいて、前記現在の距離(54)から、第2倍率値が決定される、方法。 - 前記被写体(10)のサイズが、好ましくは、前記計測モードにて決定される、請求項1に記載の方法。
- 前記被写体(10)の面積(16)、長さ(17)、幅(18)、円周、又は別の幾何学的特徴が、好ましくは、前記計測モードにて、前記被写体(10)のサイズとして、決定される、請求項2に記載の方法。
- 被写体側ピクセルサイズ(14)が、前記基準倍率値又は前記第2倍率値及び前記検出器のピクセルサイズ(11)から決定される、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記被写体側ピクセルサイズ(14)と、前記被写体側ピクセルサイズ(14)を決定するために使用された前記倍率値に属する、前記画像(50、51)内にて前記被写体(10)がカバーする前記ピクセルの数(16a)と、から、前記被写体の前記サイズ(10)が決定される、請求項4に記載の方法。
- 基準軸(64、65)からなる帯(66、67)が、前記現在の画像(51)内の前記特徴的基準点(52a、52b)を識別するために使用され、前記基準軸(64、65)は、前記画像(51)の幾何学的中心(52)と前記較正モードの前記特徴的基準点(32a、32b)によって規定される、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基準軸(64、65)の1本の帯(66、67)の幅は、前記画像の前記幾何学的中心(52)から前記顕微鏡装置の光軸までの距離によって決定される、請求項6に記載の方法。
- 前記顕微鏡装置(1)内における前記被写体(10)の前記実際の位置が変化したのか、又は前記拡大系(13)の前記倍率値が変化したのかが、好ましくは前記計測モードにおいて判定される、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記顕微鏡装置(1)が動作しているモードに関する情報を提供する状態通知が発行される、請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基準倍率値は、前記光学拡大系(13)の最大倍率値である、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
- 請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法を実行するように構成されたコンピュータユニット(3)。
- 特に請求項11に記載のコンピュータユニット(3)にて稼働する際に、前記コンピュータユニット(3)に請求項1〜10のいずれか一項に記載された方法を実行させるプログラムコーディング手段を有するコンピュータプログラム。
- 請求項12に記載のコンピュータプログラムが保存されている機械可読ストレージ媒体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102012223763.1 | 2012-12-19 | ||
DE201210223763 DE102012223763B3 (de) | 2012-12-19 | 2012-12-19 | Verfahren zur Selbstkalibrierung eines Mikroskopgeräts |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014149289A JP2014149289A (ja) | 2014-08-21 |
JP6216635B2 true JP6216635B2 (ja) | 2017-10-18 |
Family
ID=48915460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013261051A Active JP6216635B2 (ja) | 2012-12-19 | 2013-12-18 | 顕微鏡装置の自己較正方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9471984B2 (ja) |
JP (1) | JP6216635B2 (ja) |
CN (1) | CN103885168B (ja) |
DE (1) | DE102012223763B3 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102014106233A1 (de) * | 2014-05-05 | 2015-11-05 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Digitales Mikroskop und Verfahren zum Erkennen einer Bildvorlage |
CN104406519A (zh) * | 2014-11-25 | 2015-03-11 | 深圳市计量质量检测研究院 | 一种放大倍率数字化测量方法和装置 |
US9786053B2 (en) | 2015-03-06 | 2017-10-10 | ZephaVision, LLC | Optical measuring device |
US10409051B2 (en) * | 2016-08-02 | 2019-09-10 | Novartis Ag | Extraction of microscope zoom level using object tracking |
DE102016217792A1 (de) * | 2016-09-16 | 2018-03-22 | Xion Gmbh | Justiersystem |
US10909708B2 (en) * | 2016-12-09 | 2021-02-02 | Hand Held Products, Inc. | Calibrating a dimensioner using ratios of measurable parameters of optic ally-perceptible geometric elements |
CN106783495B (zh) * | 2016-12-09 | 2018-07-27 | 北京中科科仪股份有限公司 | 电子显微镜的工作距离的校准装置 |
JP6564431B2 (ja) * | 2017-08-28 | 2019-08-21 | ファナック株式会社 | 工作機械および軸移動制御方法 |
CN108663792A (zh) * | 2018-07-20 | 2018-10-16 | 芜湖市皖江光电仪器有限公司 | 一种用于数码比较显微镜倍率差自动消除的方法 |
CN109834664B (zh) * | 2019-01-28 | 2022-03-22 | 上海交通大学 | 适用于长方形工作台的自校准方法 |
DE102022200823B3 (de) | 2022-01-25 | 2023-05-17 | Carl Zeiss Meditec Ag | Verfahren zum Bestimmen einer optischen Achse einer Hauptbeobachterkamera eines medizinischen Mikroskops in einem Referenzkoordinatensystem und medizinisches Mikroskop |
CN114879354A (zh) * | 2022-06-01 | 2022-08-09 | 深圳市劢科隆科技有限公司 | 可切换多物镜的快速测算数码显微镜装置及测算方法 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4521686A (en) * | 1983-05-24 | 1985-06-04 | Nanometrics Incorporated | Linewidth measuring with linearity calibration of the T.V. camera tube |
US5389774A (en) * | 1993-11-08 | 1995-02-14 | Optical Gaging Products, Inc. | Method and means for calibrating the magnification of zoom optical systems using reticle images |
JP3409931B2 (ja) * | 1994-12-19 | 2003-05-26 | 株式会社ニコン | 画像処理測定機用の倍率校正プレート |
US7209596B2 (en) * | 1999-07-02 | 2007-04-24 | General Phosphorix, Llc | Method of precision calibration of a microscope and the like |
DE10225193B4 (de) * | 2002-06-06 | 2004-08-12 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Verfahren zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Mikroskops sowie kalibrierbares Mikroskop |
US8218000B2 (en) * | 2002-09-13 | 2012-07-10 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Method and system for size calibration |
DE10242628B4 (de) * | 2002-09-13 | 2004-08-12 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Verfahren und System zur Größenkalibrierung |
US6875982B2 (en) * | 2003-08-29 | 2005-04-05 | International Business Machines Corporation | Electron microscope magnification standard providing precise calibration in the magnification range 5000X-2000,000X |
CN100371762C (zh) * | 2005-02-25 | 2008-02-27 | 宝钢集团上海梅山有限公司 | 一种数码金相显微图像放大倍率的标定方法 |
JP2007127578A (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-24 | Olympus Corp | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
CA2582112A1 (en) * | 2006-03-13 | 2007-09-13 | Clemex Technologies Inc. | System and method for automatic measurements and calibration of computerized magnifying instruments |
JP5125025B2 (ja) * | 2006-08-11 | 2013-01-23 | セイコーエプソン株式会社 | 撮像装置及び計測装置 |
US7848019B2 (en) * | 2007-12-10 | 2010-12-07 | Cytyc Corporation | Microscope calibration apparatus and method and stage including calibration apparatus |
DE102008014030B4 (de) * | 2008-03-12 | 2017-01-26 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zum Kalibrieren eines Bühne-Kamera-Systems sowie Bühne-Kamera-System und Mikroskop mit derartigem Bühne-Kamera-System |
DE102008000879A1 (de) | 2008-03-28 | 2009-10-01 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Mikroskop umfassend wenigstens zwei Komponenten |
US8331726B2 (en) * | 2009-06-29 | 2012-12-11 | International Business Machines Corporation | Creating emission images of integrated circuits |
JP2011043458A (ja) * | 2009-08-24 | 2011-03-03 | Hitachi High-Technologies Corp | パターン寸法計測方法及びそのシステム |
DE102009054703A1 (de) * | 2009-12-15 | 2011-06-16 | Carl Zeiss Imaging Solutions Gmbh | Kalibrierverfahren für ein Mikroskop und Mikroskop mit einer Kalibriereinheit |
JP2011169677A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Nikon Corp | 校正器および画像測定機 |
-
2012
- 2012-12-19 DE DE201210223763 patent/DE102012223763B3/de active Active
-
2013
- 2013-12-18 US US14/132,086 patent/US9471984B2/en active Active
- 2013-12-18 JP JP2013261051A patent/JP6216635B2/ja active Active
- 2013-12-19 CN CN201310724846.5A patent/CN103885168B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103885168A (zh) | 2014-06-25 |
US20140169637A1 (en) | 2014-06-19 |
JP2014149289A (ja) | 2014-08-21 |
CN103885168B (zh) | 2018-04-10 |
DE102012223763B3 (de) | 2013-08-22 |
US9471984B2 (en) | 2016-10-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6216635B2 (ja) | 顕微鏡装置の自己較正方法 | |
US8045165B2 (en) | Method and apparatus for determining a focal position of an imaging device adapted to image a biologic sample | |
US12130418B2 (en) | Microscope system | |
JP3188019U (ja) | 基準点を有した試料スライドとサンプル調査システム | |
US8917940B2 (en) | Edge measurement video tool with robust edge discrimination margin | |
US9177222B2 (en) | Edge measurement video tool and interface including automatic parameter set alternatives | |
EP3557231A1 (en) | Urine test strip comprising timer, and method for detecting and analyzing urine test strip | |
CN109767425B (zh) | 机器视觉光源均匀性评估装置及方法 | |
JP2014055864A (ja) | 画像測定装置、その制御方法及び画像測定装置用のプログラム | |
US10217011B2 (en) | Apparatus and method for facilitating manual sorting of slides | |
US10846882B2 (en) | System and method of dimensional calibration for an analytical microscope | |
JP3435019B2 (ja) | レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定方法 | |
JP2009300124A (ja) | 画像計測装置、画像計測方法及びコンピュータプログラム | |
JP5222430B1 (ja) | 寸法計測装置、寸法計測方法及び寸法計測装置用のプログラム | |
EP3839599A1 (en) | Metrology system with transparent workpiece surface mode | |
CN106415198B (zh) | 图像记录方法和执行该方法的坐标测量机 | |
WO2018173352A1 (ja) | 画像処理方法および画像処理装置 | |
US20220398778A1 (en) | Lens calibration method for digital imaging apparatus | |
JP6293453B2 (ja) | エッジ測定ビデオツールパラメータ設定ユーザインタフェース | |
JP2016003872A (ja) | 三次元形状測定装置、測定データ処理ユニット、測定データ処理方法、及びコンピュータプログラム | |
CN111289511B (zh) | 一种平整度调整方法及其系统 | |
JP6381262B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム | |
US20190158806A1 (en) | Image-based edge measurement | |
JP2008015714A (ja) | 画像処理方法および画像処理装置、並びに光学装置 | |
Vorburger et al. | Emerging technology in comparisons |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161213 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170823 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170829 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170925 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6216635 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |