JP6216346B2 - 外部短絡試験装置 - Google Patents

Description

本発明は、外部短絡試験装置に関する。

二次電池等が使用中に外部短絡した場合、大きな短絡電流が発生し、二次電池等が発熱して発火するおそれがある。そこで、二次電池の使用前に予め外部短絡を再現し、安全性が保たれるか否かを確認するための外部短絡試験が知られている（例えば、非特許文献１参照）。

外部短絡試験では、試験規格が要求する抵抗値を満足するように短絡回路の抵抗値を設定する必要がある。この抵抗値は試験規格に応じて異なる。そこで、外部短絡試験装置では、短絡回路内に複数の抵抗を設けておき、試験開始前に短絡回路に組み込む抵抗を決定する作業が行われる。

短絡回路への抵抗の組み込みは、抵抗値が要求する抵抗値になるように短絡回路の配線を繋ぎ代える方式と、（ｉｉ）複数の抵抗のそれぞれに対して並列又は直列に電磁開閉器を設置し、短絡回路の抵抗値が要求する抵抗値になるように電磁開閉器を開閉させる方式とが考えられる。方式（ｉ）では、配線を繋ぎ代える作業が繁雑なので、方式（ｉｉ）の方がユーザにとって便利である。

北陸電力研究開発年報第４４号「リチウムイオン電池による蓄電システムの開発 その２」

しかしながら、方式（ｉｉ）では、複数の抵抗のそれぞれに対して直列又は並列に電磁開閉器を設置する必要がある。また、数千アンペアオーダーの短絡電流に対応するためには、大型の電磁開閉器を設置する必要がある。したがって、装置構成が大型化するという問題がある。

また、電磁開閉器は、動作音が大きいので、短絡回路の抵抗値を調整する作業の妨げとなる。抵抗値を調整する作業は、例えば、外部短絡抵抗の抵抗値を抵抗計でモニタしながら、短絡回路に組み込む抵抗を決定するというような神経の集中が課される作業なので、動作音が大きければ、作業効率が低下してしまう。

本発明は、装置構成を小型化し、且つ、抵抗値の調整作業の作業効率を高めることができる外部短絡試験装置を提供することである。

本発明の一態様による外部短絡試験装置は、試験対象の電池を外部短絡させるための短絡回路を備える外部短絡試験装置であって、前記短絡回路は、一対の端子を備え、前記電池が設置される電池設置部と、前記一対の端子間に接続された複数の抵抗を含む抵抗部と、前記電池設置部及び前記抵抗部間を導通又は遮断させる第１スイッチと、前記複数の抵抗のそれぞれに対して直列又は並列接続される複数の第２スイッチとを備え、前記第１スイッチは、機械式リレーで構成され、前記複数の第２スイッチは、それぞれ、半導体リレーで構成される。

この構成によれば、複数の抵抗のそれぞれに対して直列又は並列接続される複数の第２スイッチは、半導体リレーで構成されているので、機械式リレーのような動作音は発生しない。そのため、作業者は、抵抗値の調整作業に集中でき、調整作業の作業効率を高めることができる。また、第２スイッチは半導体リレーで構成されており、半導体リレーは小型なので、第２スイッチとして電磁開閉器を使用した場合に比べて装置構成を小型化できる。

更に、本構成によれば、電池設置部及び抵抗部間を導通又は遮断させる第１スイッチは機械式リレーで構成されている。そのため、第２スイッチを構成する半導体リレーが万が一故障して、導通状態が維持されている場合であっても、第１スイッチを非導通にすることで、安全に短絡回路を遮断できる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記電池設置部の端子間の電圧を計測する電圧計と、前記外部短絡試験装置の動作モードを抵抗調整モード又は試験モードに指定する操作が入力される操作部と、前記抵抗調整モードが指定された場合において、前記電圧計により計測された計測電圧値が前記電池設置部に前記電池が設置されていることを示す場合、前記第１スイッチを遮断させる開閉制御部とを更に備えてもよい。

この構成によれば、抵抗調整モードが指定された場合、電池設置部に電池が設置されていると、第１スイッチが遮断されるので、電池設置部に電池が設置された状態で抵抗値の調整作業が行われることを防止できる。そのため、抵抗値の調整作業中に第２スイッチを導通させた際に、電池から過大な短絡電流が流れ、電池が爆発するリスクを回避できる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記抵抗調整モードが指定された場合、前記動作モードが前記抵抗調整モードに設定されていることを報知する報知制御部を更に備えてもよい。

この構成によれば、抵抗調整モードが指定された場合、そのことが作業者に報知されるので、抵抗調整モードにおいて、作業者に対して電池設置部に電池を取り付けないように注意を喚起できる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記抵抗部に並列接続された抵抗計と、前記抵抗計及び前記抵抗部間を導通又は遮断させる第３スイッチと、試験開始の指示が入力される操作部と、前記試験開始の指示が入力された場合、前記第１スイッチを遮断させ且つ前記第３スイッチを導通させ、前記抵抗計により計測された計測抵抗値が所定の目標抵抗値となるように、導通させる第２スイッチを選択した後、前記第１スイッチを導通させ且つ前記第３スイッチを遮断する抵抗制御部とを更に備えてもよい。

この構成によれば、試験開始の指示が入力されると、第１スイッチが遮断されて計測抵抗値が目標抵抗値となるように導通させる第２スイッチが自動的に選択された後、第１スイッチが導通される。そのため、ユーザは、抵抗値の調整作業を行うことなく、試験開始の指示を入力するだけで、試験を自動的に開始させることができる。したがって、ユーザの操作負担を軽減できる。

また、第１スイッチが遮断され、且つ、第３スイッチが導通された状態で抵抗値の調整が行われるので、電池設置部に電池が設置されていたとしても、短絡回路に短絡電流が発生することを防止できる。また、第１スイッチが導通された場合、第３スイッチが遮断されるので、試験時に抵抗計が短絡回路に組み込まれることを防止でき、試験精度を高めることができる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記抵抗制御部は、前記選択した第２スイッチを導通させたときの前記計測抵抗値と前記目標抵抗値とのずれが許容範囲より小さい場合、前記第３スイッチを遮断させ、前記第１スイッチを導通させてもよい。

この構成によれば、計測抵抗値が目標抵抗値に対して許容範囲内になった場合に、試験を開始させることができる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記抵抗部は、互いに並列接続された複数の第１抵抗を備える並列抵抗部を備え、前記第１抵抗に対応する第２スイッチは、前記第１抵抗に対して直列接続され、各第１抵抗は、試験規格に応じた抵抗値が割り付けられていてもよい。

この構成によれば、第１抵抗は互いに並列接続され、第１抵抗に対応する第２スイッチは第１抵抗に対して直列接続され、各第１抵抗に各試験規格が要求する抵抗値が割り付けられている。そのため、複数の第１抵抗の中から試験規格に対応する第１抵抗を選択するだけで、短絡回路の抵抗値を試験規格が要求する抵抗値に調整することができ、抵抗値の調整作業が容易になる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記抵抗部は、前記並列抵抗部に対して直列接続され、互いに直列接続された複数の第２抵抗を備える直列抵抗部を備え、前記第２抵抗に対応する第２スイッチは、前記第２抵抗に対して並列接続されていてもよい。

この構成によれば、複数の第２抵抗は互いに直列接続されているので、外部短絡回路に組み込む第２抵抗の個数を変えて、第１抵抗で大まかに調整された短絡回路の抵抗値を微調整することができる。

また、上記外部短絡試験装置において、前記抵抗に接続された第２スイッチは、並列接続された複数の半導体リレーで構成されていてもよい。

この構成によれば、第２スイッチは並列接続された複数の半導体リレーで構成されているので、過大な短絡電流が各半導体リレーで分流され、各半導体リレーに通電容量以上の電流が流れることを防止できる。

本発明によれば、装置構成を小型化し、且つ、抵抗値の調整作業の作業効率を高めることができる。更に、第２スイッチを構成する半導体リレーが万が一故障して、導通状態が維持されている場合であっても、第１スイッチを非導通にすることで、安全に短絡回路を遮断できる。

本発明の実施の形態１における外部短絡試験装置が備える短絡回路の構成図である。 本発明の実施の形態１における外部短絡試験装置のブロック図である。 本発明の実施の形態１における外部短絡試験装置の処理を示すフローチャートである。 第２スイッチを複数の半導体リレーで構成した場合の第２スイッチの構成図である。 本発明の実施の形態２の外部短絡試験装置が備える短絡回路の構成図である。 本発明の実施の形態２における外部短絡試験装置のブロック図である。 本発明の実施の形態２における外部短絡試験装置の処理を示すフローチャートである。 図７の続きのフローチャートである。 本発明の実施の形態３の外部短絡試験装置が備える短絡回路の構成図である。 本発明の実施の形態３における外部短絡試験装置のブロック図である。 本発明の実施の形態３における外部短絡試験装置の処理を示すフローチャートである。 本発明の比較例に係る外部短絡試験装置の外部短絡回路の構成図である。 本発明の比較例に係る外部短絡試験装置の処理を示すフローチャートである。

（実施の形態１）
（短絡回路の構成）
図１は本発明の実施の形態１における外部短絡試験装置１が備える短絡回路１０の構成図である。外部短絡試験装置１は、試験対象である電池２０１を意図的に外部短絡させ、外部短絡試験を実施するための装置である。外部短絡試験装置１は、短絡回路１０、電源部１００、及び制御部４０を備える。電源部１００は、例えば、交流電力を直流電力に変換する電源回路で構成され、電力源等から供給される交流電力を整流及び平滑化し、所定レベルの直流電力に変換し、短絡回路１０、制御部４０に供給する。

短絡回路１０は、電池設置部２０、短絡ユニット３０を備える。電池設置部２０及び短絡ユニット３０は、例えば、一対のケーブルＬ１１，Ｌ１２を介して電気的に接続されている。電池設置部２０は、試験対象となる電池２０１が設置される。電池２０１としては、二次電池や、複数の二次電池及びこれらの二次電池を保護する保護回路を備える電池パックが採用できる。但し、これは一例である。電池設置部２０は、一対の端子２１，２２を備える。端子２１は、例えば、電池２０１の正極が接続され、端子２２は、例えば、電池２０１の負極が接続される。

短絡ユニット３０は、入力部３１０、第１スイッチＳＷ１、抵抗部３３０を備える。入力部３１０は、一対の端子３１１，３１２を備える。端子３１１は、ケーブルＬ１１を介して端子２１と電気的に接続され、端子３１２は、ケーブルＬ１２を介して端子２２と電気的に接続されている。これにより、電池設置部２０に電池２０１が設置されると、短絡電流が入力部３１０を介して短絡ユニット３０に流れる。

また、端子３１１，３１２間には、主線路Ｌ２が電気的に接続されている。主線路Ｌ２において、接続点Ｋ１及び接続点Ｋ２間には分岐線路Ｌ２１が接続され、接続点Ｋ３，Ｋ４間には分岐線路Ｌ２２が接続され、接続点Ｋ５，Ｋ６間には分岐線路Ｌ２３が接続されている。

第１スイッチＳＷ１は、一対の機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２を備える。機械式リレーＳＷ１１は端子３１１と電気的に接続され、機械式リレーＳＷ１２は端子３１２と電気的に接続されている。機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２としては、例えば、電磁開閉器が採用できる。機械式リレーＳＷ１１は、制御部４０の制御の下、機械式リレーＳＷ１２と同期して、導通及び遮断する。機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２が導通して第１スイッチＳＷ１が導通すると、電池設置部２０及び抵抗部３３０が導通する。一方、機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２が遮断して第１スイッチＳＷ１が遮断すると、電池設置部２０及び抵抗部３３０が切り離される。ここで、第１スイッチＳＷ１は一対の機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２で構成されているので、接点で発生するアークが分散され、個々の機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２で発生するアークが小さくなる。

抵抗部３３０は、並列抵抗部３４０及び直列抵抗部３５０を備える。並列抵抗部３４０は、互いに並列接続された２つの第１抵抗Ｒ１１，Ｒ１２と、第１抵抗Ｒ１１，Ｒ１２に対応する２つの第２スイッチＳＷ２１，ＳＷ２２とを備える。第１抵抗Ｒ１１及び第２スイッチＳＷ２１は主線路Ｌ２上で直列接続され、第１抵抗Ｒ１２及び第２スイッチＳＷ２２は分岐線路Ｌ２１上で直列接続されている。

第１抵抗Ｒ１１は、例えば、短絡回路１０の抵抗値を第１試験規格が規定する抵抗値にするための抵抗値を持つ。また、第２抵抗Ｒ１２は、例えば、短絡回路１０の抵抗値を第１試験規格とは別の第２試験規格が規定する抵抗値にするための抵抗値を持つ。

短絡回路１０においては、第１抵抗Ｒ１１，Ｒ１２以外にも、端子２１，２２、端子３１１，３１２、ケーブルＬ１１，Ｌ１２、主線路Ｌ２、第１スイッチＳＷ１、第２スイッチＳＷ２１，ＳＷ２２等の回路素子が存在し、これらの回路素子も抵抗値を持っている。そのため、短絡回路１０全体の抵抗値を試験規格が規定する抵抗値にするためには、これらの回路素子の抵抗値を考慮する必要がある。ここで、これらの抵抗値は事前に算出できる。そこで、第１抵抗Ｒ１１の抵抗値は、第１試験規格が規定する抵抗値からこれらの回路素子の抵抗値を差し引いた値が設定されている。また、第１抵抗Ｒ１２の抵抗値は、第２試験規格が規定する抵抗値からこれらの回路素子の抵抗値を差し引いた値が設定されている。

直列抵抗部３５０は、互いに直列接続された２つの第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２と、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２に対応する２つの第２スイッチＳＷ２３，ＳＷ２４とを備える。第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２は主線路Ｌ２上に設けられている。第２スイッチＳＷ２３は、分岐線路Ｌ２２上に設けられ、第２抵抗Ｒ２１と並列接続され、第２スイッチＳＷ２４は分岐線路Ｌ２３上に設けられ、第２抵抗Ｒ２２と並列接続されている。

以下、第２スイッチＳＷ２１〜ＳＷ２４を区別しない場合、第２スイッチに対して「ＳＷ２」の符号を付す。第２スイッチＳＷ２としては、電界効果型トランジスタ、バイポーラトランジスタ、又はＩＧＢＴ等で構成される半導体リレーが採用できる。

第２スイッチＳＷ２は、それぞれ、駆動部３６０を介して制御部４０と接続されている。駆動部３６０は、第２スイッチＳＷ２１〜ＳＷ２４に対応して４つ設けられている。駆動部３６０は、制御部４０から第２スイッチＳＷ２を導通させるための導通指示が入力されると、対応する第２スイッチＳＷ２の制御端子に所定の導通レベルの電圧を印加し、対応する第２スイッチＳＷ２を導通させる。一方、駆動部３６０は、制御部４０から第２スイッチＳＷ２を遮断させるための遮断指示が入力されると、対応する第２スイッチＳＷ２の制御端子に所定の遮断レベルの電圧を印加し、対応する第２スイッチＳＷ２を遮断させる。

なお、第２スイッチＳＷ２が電界効果型トランジスタやＩＧＢＴで構成される場合、制御端子はゲートであり、第２スイッチＳＷ２がバイポーラトランジスタで構成される場合、制御端子はベースである。

第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２は、微調整用の抵抗である。例えば、第１試験規格の試験を実施する場合、第１抵抗Ｒ１１が短絡回路１０に組み込まれるが、第１抵抗Ｒ１１の個体バラツキ等の理由で、短絡回路１０の抵抗値が第１試験規格が規定する抵抗値からずれることもある。第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２はこの個体バラツキを想定して予め短絡回路１０に組み込まれている。したがって、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２は、上記のずれを修正するための抵抗値を持つ。ここで、第１抵抗Ｒ１１，Ｒ１２の抵抗値が数十ｍΩのオーダーであるとすると、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２は、数ｍΩのオーダーの抵抗値を持つ。例えば、第１抵抗Ｒ１１又は第１抵抗Ｒ１２の実際の抵抗値が想定した抵抗値よりも大きければ、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２の少なくともいずれか一方が短絡回路１０から切り離される。

制御部４０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等のコンピュータや専用のハードウェア回路で構成され、外部短絡試験装置１全体の制御を司る。制御部４０の詳細については後述する。

なお、図１の例では、並列抵抗部３４０は２個の第１抵抗Ｒ１１，Ｒ１２を備えているが、これは一例であり、３個以上であってもよいし、１個であってもよい。例えば、外部短絡試験装置１をｎ（ｎは１以上の整数）個の試験規格に対応させる場合、第１抵抗の個数をｎ個にすればよい。この場合、分岐線路Ｌ２１の本数をｎ−１本設け、各分岐線路Ｌ２１に１つの第１抵抗と１つの第２スイッチＳＷ２とを配置すればよい。

また、図１の例では、直列抵抗部３５０は２個の第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２を備えているが、これは一例であり、３個以上であってもよいし、１個であってもよい。また、第２スイッチＳＷ２は第２抵抗の個数分設け、それぞれ、第２抵抗に並列接続させればよい。更に、駆動部３６０も第２スイッチＳＷ２の個数分設ければよい。

次に、外部短絡試験装置１における試験手順を簡単に説明する。まず、端子２１，２２間に抵抗計が接続され、抵抗値の調整作業が行われる。なお、調整作業の開始時には、第２スイッチＳＷ２は全て遮断されているので、第１抵抗Ｒ１１，Ｒ１２は短絡回路１０から切り離されているが、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２は短絡回路１０に組み込まれている。この調整作業では、まず、試験規格に応じて第２スイッチＳＷ２１，ＳＷ２２のいずれか一方が導通され、抵抗Ｒ１１，Ｒ１２のいずれか一方が短絡回路１０に組み込まれる。次に、第１スイッチＳＷ１が導通され、抵抗計で抵抗値が計測される。計測された抵抗値が試験規格が規定する抵抗値よりも大きければ、第２スイッチＳＷ２３，ＳＷ２４のいずれかが導通され、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２の少なくともいずれか一方が短絡回路１０から切り離される。そして、短絡回路１０に組み込まれる第１、第２抵抗が決定すると、電池設置部２０に電池２０１が設置され、試験が開始される。これにより、電池２０１から短絡回路１０に短絡電流が流れ、電流計で短絡電流が計測され、データロガー等で計測された短絡電流が記録される。

（制御部の構成）
図２は、本発明の実施の形態１における外部短絡試験装置１のブロック図である。外部短絡試験装置１は、制御部４０、操作部５０、第１スイッチＳＷ１、駆動部３６０、第２スイッチＳＷ２、及びブザー４０５を備える。

操作部５０は、主電源スイッチ５１、開閉器スイッチ５２、異常ランプ５３、異常リセットスイッチ５４、抵抗切替スイッチ５５、調整抵抗スイッチ５６，５７、及びモード切替スイッチ５８を備える。

主電源スイッチ５１は、ユーザから外部短絡試験装置１をオン又はオフさせる指示を受け付けるボタンである。主電源スイッチ５１がユーザにより押されると、電源部１００は外部短絡試験装置１への電源供給を開始する。一方、電源部１００が電源供給をしていない状態で主電源スイッチ５１がユーザにより押されると、電源部１００は外部短絡試験装置１への電源供給を停止する。

開閉器スイッチ５２は、ユーザから第１スイッチＳＷ１を導通又は遮断させる指示を受け付けるボタンである。異常ランプ５３は、外部短絡試験装置１において異常が発生した場合に点灯する。異常リセットスイッチ５４は、異常ランプ５３を消灯させるためのスイッチである。抵抗切替スイッチ５５は、短絡回路１０の抵抗値を指示するためのスイッチである。この例では、３０ｍΩと８０ｍΩとが選択可能である。ここで、３０ｍΩは例えば第１試験規格が規定する抵抗値であり、８０ｍΩは第２試験規格が規定する抵抗値である。よって、第１試験規格の試験を実施する場合、ユーザは、抵抗切替スイッチ５５を「３０ｍΩ」と記載された位置に位置決めし、第２試験規格の試験を実施する場合、ユーザは、抵抗切替スイッチ５５を「８０ｍΩ」と記載された位置に位置決めする。以下の説明では、第１抵抗Ｒ１１は第１試験規格に対応し、第２抵抗Ｒ１２は第２試験規格に対応しているものとする。また、第１抵抗Ｒ１１の抵抗値は、他の回路素子が持つ抵抗値を例えば７ｍΩと見積もって、例えば「２３ｍΩ」に設定されている。また、第２抵抗Ｒ１２の抵抗値は、８０ｍΩから他の回路素子が持つ抵抗値を例えば７ｍΩと見積もって例えば「７３ｍΩ」に設定されている。

調整抵抗スイッチ５６，５７は、短絡回路１０の抵抗値を微調整する際に押されるボタンである。短絡回路１０の抵抗値を１ｍΩ低下させる場合は調整抵抗スイッチ５６が押され、２ｍΩ低下させる場合は調整抵抗スイッチ５７が押される。以下の説明では、第２抵抗Ｒ２２の抵抗値は１ｍΩ、第２抵抗Ｒ２１の抵抗値は２ｍΩとする。

モード切替スイッチ５８は、外部短絡試験装置１の動作モードを抵抗調整モード又は試験モードに設定するための調整つまみである。ユーザは、抵抗調整モードを設定する場合、モード切替スイッチ５８を「抵抗調整」と記載された位置に位置決めし、試験モードに設定する場合、モード切替スイッチ５８を「試験」と記載された位置に位置決めする。

制御部４０は、開閉制御部４０１、抵抗制御部４０２、モード設定部４０３、及び報知制御部４０４を備える。これらは、ＣＰＵがＲＯＭに記憶された制御プログラムを実行することで実現されてもよいし、専用のハードウェア回路で実現されてもよい。

開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷ１の遮断状態において、開閉器スイッチ５２が押されると、第１スイッチＳＷ１を導通させる。一方、開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷ１の導通状態において、開閉器スイッチ５２が押されると、第１スイッチＳＷ１を遮断させる。

抵抗制御部４０２は、抵抗切替スイッチ５５が、「３０ｍΩ」の位置に位置決めされると、第２スイッチＳＷ２１を導通させる導通指示を駆動部３６０に出力し、第１抵抗Ｒ１１のみを短絡回路１０に組み込む。また、抵抗制御部４０２は、抵抗切替スイッチ５５が、「８０ｍΩ」の位置に位置決めされると、第２スイッチＳＷ２２を導通させる導通指示を駆動部３６０に出力し、第１抵抗Ｒ１２のみを短絡回路１０に組み込む。

また、抵抗制御部４０２は、調整抵抗スイッチ５６が押されると、第２スイッチＳＷ２４を導通させる導通指示を駆動部３６０に出力し、第２抵抗Ｒ２２を短絡回路１０から切り離す。また、抵抗制御部４０２は、調整抵抗スイッチ５７が押されると、第２スイッチＳＷ２３を導通させる導通指示を駆動部３６０に出力し、第２抵抗Ｒ２１を短絡回路１０から切り離す。なお、調整抵抗スイッチ５６，５７の両方が押された場合、抵抗制御部４０２は、第２スイッチＳＷ２３，Ｓ２４の両方を導通させ、第２抵抗Ｒ２１，Ｒ２２の両方を短絡回路１０から切り離す。

モード設定部４０３は、モード切替スイッチ５８が「抵抗調整」の位置に位置決めされると、動作モードを抵抗調整モードに設定し、モード切替スイッチ５８が「試験」の位置に位置決めされると、動作モードを試験モードに設定する。

報知制御部４０４は、モード設定部４０３により動作モードが抵抗調整モードに設定された場合、ブザー４０５を鳴動させる。

（動作）
図３は、本発明の実施の形態１における外部短絡試験装置１の処理を示すフローチャートである。本フローチャートの開始時には、外部短絡試験装置１はオフされており、電池設置部２０に抵抗計が接続されているものとする。

まず、主電源スイッチ５１が押され、主電源をオンする指示が入力されると（Ｓ３０１でＹＥＳ）、電源部１００は電源供給を開始し、外部短絡試験装置１がオンする（Ｓ３０２）。一方、主電源スイッチ５１が押されなければ（Ｓ３０１でＮＯ）、処理がＳ３０１に戻され、外部短絡試験装置１はオフの状態を維持する。

次に、モード切替スイッチ５８が「抵抗調整」の位置に位置決めされ、抵抗調整モードが選択されると（Ｓ３０３でＹＥＳ）、モード設定部４０３は、動作モードを抵抗調整モードに設定し（Ｓ３０４）、報知制御部４０４は、ブザー４０５を鳴動させる（Ｓ３０５）。一方、抵抗調整モードが選択されなければ（Ｓ３０３でＮＯ）、処理がＳ３０３に戻される。ブザーを鳴動させることで、ユーザに抵抗調整モードであることを報知でき、電池設置部２０に電池２０１を設置しないようにユーザに注意を促すことができる。

次に、開閉器スイッチ５２が押され、第１スイッチＳＷ１を導通する操作が入力されると（Ｓ３０６でＹＥＳ）、開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷ１を導通させる（Ｓ３０７）。一方、第１スイッチＳＷ１を導通する操作が入力されなければ、処理がＳ３０６に戻される。

次に、抵抗切替スイッチ５５及び調整抵抗スイッチ５６，５７が操作され、抵抗値を調整する指示が入力されると（Ｓ３０８でＹＥＳ）、抵抗制御部４０２は、入力された指示にしたがって短絡回路１０の抵抗値を調整する（Ｓ３０９）。ここでは、ユーザは抵抗計をモニタしながら、抵抗切替スイッチ５５及び調整抵抗スイッチ５６，５７を適宜操作することで、短絡回路１０の抵抗値を試験規格に応じた抵抗値に調整する。

抵抗値の調整作業が終了し、開閉器スイッチ５２が押され、第１スイッチＳＷ１を遮断する操作が入力されると（Ｓ３１０でＹＥＳ）、開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷを遮断させる（Ｓ３１１）。一方、第１スイッチＳＷ１を遮断する操作が入力されなければ（Ｓ３１０でＮＯ）、処理がＳ３０８に戻される。

次に、モード切替スイッチ５８が「試験」の位置に位置決めされ、試験モードを選択する指示が入力されると（Ｓ３１２でＹＥＳ）、モード設定部４０３は、動作モードを試験モードに設定する（Ｓ３１３）。一方、試験モードを選択する指示が入力されなければ（Ｓ３１２でＮＯ）、処理がＳ３１２に戻される。

次に、報知制御部４０４は、ブザー４０５を停止させる（Ｓ３１４）。これにより、抵抗調整モードが終了し、試験モードが開始されることをユーザに報知できる。

次に、ユーザは電池設置部２０に電池２０１を設置する。次に、開閉器スイッチ５２が押され、第１スイッチＳＷ１を導通させる指示が入力されると（Ｓ３１５でＹＥＳ）、開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷ１を導通する（Ｓ３１６）。これにより、外部短絡試験装置１は、試験を開始する（Ｓ３１７）。一方、第１スイッチＳＷ１を導通させる指示が入力されなければ（Ｓ３１５でＮＯ）、処理がＳ３１５に戻される。

試験が終了し、開閉器スイッチ５２が押され、第１スイッチＳＷ１を遮断する指示が入力されると（Ｓ３１８でＹＥＳ）、開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷ１を遮断させる（Ｓ３１９）。これにより試験が終了される。一方、第１スイッチＳＷ１を遮断する指示が入力されなければ（Ｓ３１８でＮＯ）、処理がＳ３１８に戻される。

（第２スイッチの構成）
図１の例では、第２スイッチＳＷ２は、１つの半導体リレーで構成されていたが、これに限定されず、複数の半導体リレーで構成されてもよい。図４は第２スイッチＳＷ２を複数の半導体リレーで構成した場合の第２スイッチＳＷ２の構成図である。図４の例では、第２スイッチＳＷ２は、並列接続された４つの半導体リレー４１１，４１２，４１３，４１４で構成されている。４つの半導体リレー４１１〜４１４が導通すると、電池２０１からの短絡電流Ｉは、導通した４つの半導体リレーによって４つの電流Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，Ｉ４に分流される。そのため、半導体リレー４１１〜４１４のそれぞれを通電容量の低い半導体リレーで構成できる。図４では、半導体リレー４１１〜４１４の個数を４つとしたが、これは一例であり、２個以上であればよい。具体的には、使用する半導体リレーの通電容量と短絡電流Ｉとの兼ね合いから半導体リレーの個数は決定されればよい。

なお、半導体リレー４１１〜４１４を電界効果トランジスタで構成した場合、半導体リレー４１１〜４１４はソース及びドレイン同士を繋げて並列接続されればよい。また、半導体リレー４１１〜４１４をバイポーラトランジスタで構成した場合、半導体リレー４１１〜４１４はエミッタ及びコレクタ同士を繋げて並列接続されればよい。

（作用効果）
外部短絡試験装置１によれば、第２スイッチＳＷ２は、半導体リレーで構成されているので、機械式リレーのような動作音は発生しない。そのため、作業者は、抵抗値の調整作業に集中でき、調整作業の作業効率を高めることができる。また、第２スイッチＳＷ２は半導体リレーで構成されており、半導体リレーは小型なので、第２スイッチＳＷ２として電磁開閉器を使用した場合に比べて装置構成を小型化できる。

更に、電池設置部２０及び抵抗部３３０間を導通又は遮断させる第１スイッチＳＷ１は機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２で構成されている。そのため、第２スイッチＳＷ２を構成する半導体リレーが万が一故障して、導通状態が維持されている場合であっても、第１スイッチＳＷ１を非導通にすることで、安全に短絡回路１０を遮断できる。

更に、抵抗調整モードが選択されて抵抗値の調整が完了した後に、試験開始モードが選択されて試験が開始されるので、試験開始時には、第２スイッチＳＷ２の遮断から導通への切り替えが完了している。そのため、試験開始時に第２スイッチＳＷ２の遮断から導通への切り替えが発生せず、第１スイッチＳＷ１を導通させた際に第２スイッチＳＷ２に突入電流が発生することを防止し、第２スイッチＳＷ２に与えるダメージを軽減できる。

更に、図４に示すように、第２スイッチＳＷ２を複数の半導体リレー４１１〜４１４で構成すると、半導体リレー４１１〜４１４に対して同時に導通指示をしたとしても、半導体リレー４１１〜４１４は導通タイミングにばらつきがあるので、同時に導通できない。そのため、試験開始時に半導体リレー４１１〜４１４を導通させる構成を採用すると、第１スイッチＳＷ１の導通直後において、一部の半導体リレーに電流が集中し、一部の半導体リレーに通電容量を超える電流が流れる可能性がある。本実施の形態では、試験開始前に第２スイッチＳＷ２の導通が完了しているので、このような問題を回避できる。

更に、第１スイッチＳＷ１は機械式リレーＳＷ１１，ＳＷ１２で構成されているので、半導体リレーのような導通タイミングのばらつきは発生しない。

（実施の形態２）
図５は、本発明の実施の形態２の外部短絡試験装置１Ａが備える短絡回路１０Ａの構成図である。なお、実施の形態２において実施の形態１と同じ構成要素には同一の符号を付し、説明を省く。外部短絡試験装置１Ａは、外部短絡試験装置１に対して、短絡回路１０Ａに電圧計３７０が設けられている。電圧計３７０は、一端が端子３１１に接続され、他端が端子３１２接続され、電池設置部２０の端子２１，２２間の電圧を計測する。

図６は、本発明の実施の形態２における外部短絡試験装置１Ａのブロック図である。外部短絡試験装置１Ａは、外部短絡試験装置１に対して、制御部４０Ａが備える開閉制御部４０１Ａの機能が相違する。開閉制御部４０１Ａは、抵抗調整モードが指定された場合において、電圧計３７０により計測された計測電圧値が、電池設置部２０に電池２０１が設置されていることを示す場合、第１スイッチＳＷ１を遮断させる。

電池設置部２０に電池２０１が設置されている場合、端子２１，２２間の電圧は、電池設置部２０に電池２０１が設置されていない場合に比べて高くなる。そこで、本実施の形態では、端子２１，２２間の電圧が、電池設置部２０に電池２０１が設置されていないことを示す所定の電圧（例えば、１Ｖ）未満であれば、開閉制御部４０１Ａは、電池設置部２０に電池２０１が設置されていないと判定する。一方、端子２１，２２間の電圧が所定の電圧以上であれば、開閉制御部４０１Ａは、電池設置部２０に電池２０１が設置されていると判定する。

図７、図８は、本発明の実施の形態２における外部短絡試験装置１Ａの処理を示すフローチャートである。なお、図７のフローチャートにおいて、図３と同じ処理には同じ符号を付し、説明を省く。

Ｓ３０５に続くＳ６０１では、開閉制御部４０１Ａは、電圧計３７０が計測した計測電圧値が１Ｖ未満であれば（Ｓ６０１でＹＥＳ）、電池設置部２０に電池が設置されていないと判定し、処理をＳ６０２に進める。Ｓ６０２にて、第１スイッチＳＷ１を導通させる指示が入力されると（Ｓ６０２でＹＥＳ）、開閉制御部４０１Ａは、計測電圧値が１Ｖ未満であれば（Ｓ６０３でＹＥＳ）、電池設置部２０に電池２０１が設置されていないと判定し、第１スイッチＳＷ１を導通し（Ｓ６０４）、処理をＳ３０８に進める。Ｓ３０８以後の処理は、図３と同じである。

Ｓ６０２にて、第１スイッチＳＷ１を導通させる指示が入力されなければ（Ｓ６０２でＮＯ）、処理がＳ６０１に戻される。これにより、抵抗調整モードにおいては、第１スイッチを導通する指示が入力されるまで、電池２０１が設置されたか否かが監視されることになる。

一方、計測電圧値が１Ｖ以上であれば（Ｓ６０１でＮＯ）、開閉制御部４０１Ａは、電池設置部２０に電池２０１が設置されていると判定し、第１スイッチＳＷ１を遮断する（Ｓ６０５）。これにより、電池２０１が短絡回路１０から切り離され、短絡電流が流れることを防止できる。

また、第１スイッチＳＷ１を導通する指示の入力後において（Ｓ６０２でＹＥＳ）、計測電圧値が１Ｖ以上であれば（Ｓ６０３でＮＯ）、開閉制御部４０１Ａは、電池設置部２０に電池２０１が設置されていると判定し、第１スイッチＳＷ１を遮断する（Ｓ６０５）。

Ｓ６０６では、開閉制御部４０１Ａは異常ランプ５３を点灯させる。これにより、電池２０１が設置されていることがユーザに報知される。

（作用効果）
このように、外部短絡試験装置１Ａよれば、抵抗調整モードが指定された場合、電池設置部２０に電池２０１が設置されていると、第１スイッチＳＷ１が遮断されるので、電池設置部２０に電池２０１が設置された状態で抵抗値の調整作業が行われることを防止できる。そのため、この調整作業中に第２スイッチＳＷ２を導通させた際に、電池２０１から過大な短絡電流が流れ、電池２０１が爆発するリスクを回避できる。

なお、抵抗値の調整作業は、電池設置部２０には抵抗計を接続しての作業が前提となるので、抵抗値の調整作業が開始されたＳ６０４から抵抗調整モードが終了されるＳ３１２までにおいて、ユーザが誤って電池２０１を電池設置部２０に接続させることはないと考えられる。そのため、この間に電池２０１が接続されているか否かを判定する処理は省かれている。

（実施の形態３）
図９は、本発明の実施の形態３の外部短絡試験装置１Ｂが備える短絡回路１０Ｂの構成図である。なお、実施の形態３において実施の形態１と同じ構成要素には同一の符号を付し、説明を省く。外部短絡試験装置１Ｂは、外部短絡試験装置１に対して短絡回路１０Ｂに抵抗計９０及び第３スイッチＳＷ３が設けられている。

第３スイッチＳＷ３は機械式リレーＳＷ３１，ＳＷ３２を備えている。機械式リレーＳＷ３１，Ｓ３２としては、例えば、電磁開閉器が採用できる。

抵抗計９０は、第３スイッチＳＷ３を介して、抵抗部３３０と並列接続されている。具体的には、抵抗計９０は、第１端子９１が機械式リレーＳＷ３１を介して接続点Ｋ７に接続され、第２端子９２が機械式リレーＳＷ３２を介して接続点Ｋ８に接続されている。

接続点Ｋ７は、主線路Ｌ２上の機械式リレーＳＷ１１と接続点Ｋ１との間の位置に設けられ、接続点Ｋ８は主線路Ｌ２上の機械式リレーＳＷ１２と接続点Ｋ６との間の位置に設けられている。

これにより、第３スイッチＳＷ３が導通されると、抵抗計９０は、第１端子９１及び第２端子９２から抵抗部３３０側の短絡回路１０Ｂの抵抗値を計測できる。

図１０は、本発明の実施の形態３における外部短絡試験装置１Ｂのブロック図である。外部短絡試験装置１Ｂは、操作部６０の構成及び制御部４０Ｂが備える抵抗制御部４０２Ｂの機能が、外部短絡試験装置１，１Ａと相違する。また、制御部４０Ｂには、第３スイッチＳＷ３及び抵抗計９０が接続されている。

抵抗制御部４０２Ｂは、試験開始の指示が入力された場合、第１スイッチＳＷ１を遮断させ且つ第３スイッチＳＷ３を導通させ、抵抗計９０により計測された計測抵抗値が所定の目標抵抗値となるように、導通させる第２スイッチＳＷ２を選択した後、第１スイッチＳＷ１を導通させ且つ第３スイッチＳＷ３を遮断する。これにより、ユーザは試験開始の指示を入力するだけで自動的に試験を実施させるができる。

操作部６０は、主電源スイッチ５１、異常ランプ５３、異常リセットスイッチ５４、及び抵抗切替スイッチ５５を備えている点は操作部５０と同じである。操作部６０は、これらの構成要素に加えて更に、試験開始／停止スイッチ６１を備えている。

試験開始／停止スイッチ６１は、外部短絡試験装置１Ｂに試験開始の指示を入力する又は試験停止の指示を入力する際に押されるボタンである。

図１１は、本発明の実施の形態３における外部短絡試験装置１Ｂの処理を示すフローチャートである。なお、図１１に示すフローチャートにおいて、図３と同じ処理には同一の符号を付し、説明を省く。

Ｓ３０２にて、主電源がオンすると、ユーザは電池設置部２０に電池２０１を設置する。次に、抵抗切替スイッチ５５を用いて抵抗値を選択する指示が入力されると（Ｓ１１０１でＹＥＳ）、処理がＳ１１０２に進められる。一方、抵抗値の選択指示が入力されなければ、処理がＳ１１０１に戻される。

次に、試験開始／停止スイッチ６１が押され、試験開始の指示が入力されると（Ｓ１１０２でＹＥＳ）、開閉制御部４０１は、第１スイッチＳＷ１が導通していれば、第１スイッチＳＷ１を遮断する（Ｓ１１０３）。一方、試験開始の指示が入力されなければ（Ｓ１１０２でＮＯ）、処理はＳ１１０２に戻される。なお、抵抗切替スイッチ５５が最初からユーザが所望する抵抗値の位置に位置決めされていれば、Ｓ１１０１の処理はスルーされてもよい。

次に、抵抗制御部４０２Ｂは、第３スイッチＳＷ３を導通させる（Ｓ１１０４）。これにより、抵抗計９０が抵抗部３３０に接続され、且つ、電池設置部２０が短絡回路１０Ｂから切り離される。

次に、抵抗制御部４０２Ｂは、Ｓ１１０１で指示された抵抗値に対応する第１抵抗に接続された第２スイッチＳＷ２を導通させる。例えば、抵抗切替スイッチ５５が「３０ｍΩ」の位置に位置決めされたとすると、第１抵抗Ｒ１１を短絡回路１０Ｂに組み込むために、スイッチＳＷ２１が導通される。一方、抵抗切替スイッチ５５が「８０ｍΩ」の位置に位置決めされたとすると、第１抵抗Ｒ１２を短絡回路１０Ｂに組み込むため、スイッチＳＷ２２が導通される。

次に、抵抗制御部４０２Ｂは、抵抗計９０が計測した計測抵抗値と目標抵抗値との差分絶対値ΔＲ（＝｜計測抵抗値−目標抵抗値｜）が許容範囲内に入っているか否かを判定する（Ｓ１１０６）。ここで、目標抵抗値としては、試験規格が要求する抵抗値そのものではなく、試験規格が要求する抵抗値から入力側抵抗値Ｒｉｎを差し引いた差分値が採用できる。入力側抵抗値Ｒｉｎとしては、接続点Ｋ７から電池設置部２０を介して接続点Ｋ８までに至る電気経路上に位置する回路素子の抵抗値であって、予め測定された抵抗値が採用できる。

例えば、抵抗切替スイッチ５５により「３０ｍΩ」が選択されたとすると、３０ｍΩ−Ｒｉｎが目標抵抗値となり、抵抗切替スイッチ５５により「８０ｍΩ」が選択されたとすると、８０ｍΩ−Ｒｉｎが目標抵抗値となる。これにより、試験時において、第１スイッチＳＷ１が導通されると、目標抵抗値に入力側抵抗値Ｒｉｎを加算した値が、短絡回路１０Ｂ全体の抵抗値となり、短絡回路１０Ｂ全体の抵抗値を試験規格が規定する抵抗値に設定できる。

差分絶対値ΔＲが許容範囲内であれば（Ｓ１１０６でＹＥＳ）、抵抗制御部４０２Ｂは第３スイッチＳＷ３を遮断する（Ｓ１１０９）。一方、差分絶対値ΔＲが許容範囲内でなければ（Ｓ１１０６でＮＯ）、抵抗制御部４０２Ｂは、第２抵抗Ｒ２１，第２抵抗Ｒ２２を用いて、差分絶対値ΔＲが許容範囲内に入るように抵抗値を調整する（Ｓ１１０７）。

ここで、抵抗制御部４０２Ｂは、以下のようにして抵抗値を調整すればよい。まず、第２スイッチＳＷ２４を導通させて第２抵抗のうち抵抗値の小さい第２抵抗Ｒ２２を短絡回路１０Ｂから切り離す。そして、差分絶対値ΔＲが許容範囲に入っていなければ、第２抵抗Ｒ２２を短絡回路１０Ｂに組み込み、第２抵抗Ｒ２１を短絡回路１０Ｂから切り離す。そして、差分絶対値ΔＲが許容範囲に入ってなければ、第２抵抗Ｒ２１に加えて第２抵抗Ｒ２２も短絡回路１０Ｂから切り離す。

以上の処理によっても、差分絶対値ΔＲが許容範囲内に入らなければ、抵抗制御部４０２Ｂは、処理をＳ１１１２に進める。この場合、差分絶対値ΔＲが許容範囲内に入らなかったことをユーザに報知してもよい。なお、許容範囲としては、計測抵抗値と目標抵抗値とがほぼ等しいとみなせる範囲が採用できる。

次に、抵抗制御部４０２Ｂは、第３スイッチＳＷ３を遮断し（Ｓ１１０９）、第１スイッチＳＷ１を導通する（Ｓ１１１０）。これにより、試験が開始される。次に、試験開始／停止スイッチ６１が押され、試験停止の指示が入力されると（Ｓ１１１１でＹＥＳ）、抵抗制御部４０２Ｂは、第１スイッチＳＷ１を遮断し（Ｓ１１１２）、第３スイッチＳＷ３を導通させる（Ｓ１１１３）。これにより、抵抗計９０が抵抗部３３０と接続され、且つ、電池設置部２０が短絡回路１０Ｂから切り離され、試験が終了される。一方、試験停止の指示が入力されなければ（Ｓ１１１１でＮＯ）、処理がＳ１１１１に戻され、試験が継続される。

（作用効果）
外部短絡試験装置１Ｂによれば、試験開始の指示が入力されると、第１スイッチＳＷ１が遮断されて計測抵抗値が目標抵抗値となるように導通させる第２スイッチＳＷ２が自動的に選択された後、第１スイッチＳＷ１が導通される。そのため、ユーザは、抵抗値の調整作業を行うことなく、試験開始の指示を入力するだけで、試験を自動的に開始させることができる。したがって、ユーザの操作負担を軽減できる。

（比較例）
図１２は、本発明の比較例に係る外部短絡試験装置１Ｘの短絡回路１０Ｘの構成図である。なお、図１２において、図１と同じ構成要素には同じ符号を付して説明を省略する。外部短絡試験装置１Ｘにおいて、外部短絡試験装置１との相違点は、第２スイッチＳＷ２１Ｘ〜ＳＷ２４Ｘにある。第２スイッチＳＷ２１Ｘ〜ＳＷ２４Ｘは、図１における第２スイッチＳＷ２１〜ＳＷ２４に対応する。外部短絡試験装置１Ｘでは、第２スイッチＳＷ２１Ｘ〜ＳＷ２４Ｘが機械式リレーで構成されている。そのため、図１に示す駆動部３６０が省かれている。

このように、外部短絡試験装置１Ｘでは、第２スイッチＳＷ２１Ｘ〜ＳＷ２Ｘが機械式リレーで構成されているので、装置構成が大型化するという問題がある。また、機械式リレーは動作音が大きいので、抵抗値の調整作業を行う作業者の集中力を低下させ、作業効率を低下させるという問題がある。

また、外部短絡試験装置１Ｘでは、操作部５０Ｘから、図１に示す異常ランプ５３、異常リセットスイッチ５４、及びモード切替スイッチ５８が省かれている。そのため、外部短絡試験装置１Ｘに何らかの異常が発生しても、そのことをユーザに報知できない。また、ユーザは抵抗調整モード及び試験モードを外部短絡試験装置１Ｘに認識させることができない。

図１３は、比較例に係る外部短絡試験装置１Ｘの処理を示すフローチャートである。図１３における図３との相違点は、図３に設けられている、Ｓ３０３、Ｓ３０４、Ｓ３０５、Ｓ３１２、Ｓ３１３、Ｓ３１４の処理が省かれている点にある。

外部短絡試験装置１Ｘは、Ｓ３０３、Ｓ３０４の処理が省かれているので、ユーザは抵抗調整モードを指定する操作を入力できず、外部短絡試験装置１Ｘに抵抗調整モードであることを認識させることができない。また、Ｓ３０５の処理が省かれているので、抵抗調整モードであることをユーザに報知させることもできない。

そのため、ユーザは電池２０１を接続した状態で抵抗値の調整作業を行う可能性が高くなる。したがって、調整作業中に過大な短絡電流が流れ電池２０１が爆発するリスクが高くなる。更に、Ｓ３１２が省かれているので、外部短絡試験装置１Ｘに抵抗値の調整作業を終モードの終了を認識させることができない。

Ｌ２ 主線路
Ｌ２１，Ｌ２２，Ｌ２３ 分岐線路
Ｒ１１，Ｒ１２，Ｒ２１，Ｒ２２，Ｒ２３，Ｒ２４ 抵抗
ＳＷ１ 第１スイッチ
ＳＷ２，ＳＷ２１，ＳＷ２２，ＳＷ２３，ＳＷ２４ 第２スイッチ
ＳＷ３ 第３スイッチ
１，１Ａ，１Ｂ 外部短絡試験装置
１０，１０Ａ，１０Ｂ 短絡回路
２０ 電池設置部
３０ 短絡ユニット
４０，４０Ａ，４０Ｂ 制御部
５０，６０ 操作部
９０ 抵抗計
１００ 電源部
２０１ 電池
３３０ 抵抗部
３４０ 並列抵抗部
３５０ 直列抵抗部
３７０ 電圧計
４０１，４０１Ａ 開閉制御部
４０２，４０２Ｂ 抵抗制御部
４０３ モード設定部
４０４ 報知制御部
４０５ ブザー
４１１ 半導体リレー

Claims (8)

1. 試験対象の電池を外部短絡させるための短絡回路を備える外部短絡試験装置であって、
   前記短絡回路は、
   一対の端子を備え、前記電池が設置される電池設置部と、
   前記一対の端子間に接続された複数の抵抗を含む抵抗部と、
   前記電池設置部及び前記抵抗部間を導通又は遮断させる第１スイッチと、
   前記複数の抵抗のそれぞれに対して直列又は並列接続される複数の第２スイッチとを備え、
   前記第１スイッチは、機械式リレーで構成され、
   前記複数の第２スイッチは、それぞれ、半導体リレーで構成される外部短絡試験装置。
2. 前記電池設置部の端子間の電圧を計測する電圧計と、
   前記外部短絡試験装置の動作モードを抵抗調整モード又は試験モードに指定する操作が入力される操作部と、
   前記抵抗調整モードが指定された場合において、前記電圧計により計測された計測電圧値が前記電池設置部に前記電池が設置されていることを示す場合、前記第１スイッチを遮断させる開閉制御部とを更に備える請求項１に記載の外部短絡試験装置。
3. 前記抵抗調整モードが指定された場合、前記動作モードが前記抵抗調整モードに設定されていることを報知する報知制御部を更に備える請求項２に記載の外部短絡試験装置。
4. 前記抵抗部に並列接続された抵抗計と、
   前記抵抗計及び前記抵抗部間を導通又は遮断させる第３スイッチと、
   試験開始の指示が入力される操作部と、
   前記試験開始の指示が入力された場合、前記第１スイッチを遮断させ且つ前記第３スイッチを導通させ、前記抵抗計により計測された計測抵抗値が所定の目標抵抗値となるように、導通させる第２スイッチを選択した後、前記第１スイッチを導通させ且つ前記第３スイッチを遮断する抵抗制御部とを更に備える請求項１に記載の外部短絡試験装置。
5. 前記抵抗制御部は、前記選択した第２スイッチを導通させたときの前記計測抵抗値と前記目標抵抗値とのずれが許容範囲より小さい場合、前記第３スイッチを遮断させ、前記第１スイッチを導通させる請求項４に記載の外部短絡試験装置。
6. 前記抵抗部は、互いに並列接続された複数の第１抵抗を備える並列抵抗部を備え、
   前記第１抵抗に対応する第２スイッチは、前記第１抵抗に対して直列接続され、
   各第１抵抗は、試験規格に応じた抵抗値が割り付けられている請求項１〜５のいずれか１に記載の外部短絡試験装置。
7. 前記抵抗部は、前記並列抵抗部に対して直列接続され、互いに直列接続された複数の第２抵抗を備える直列抵抗部を備え、
   前記第２抵抗に対応する第２スイッチは、前記第２抵抗に対して並列接続されている請求項６に記載の外部短絡試験装置。
8. 前記抵抗に接続された第２スイッチは、並列接続された複数の半導体リレーで構成されている請求項１〜７のいずれか１に記載の外部短絡試験装置。

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