JP6197896B2 - Polarized light irradiation device - Google Patents

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Description

本発明は、偏光光の偏光軸を測定するための偏光測定装置を備える偏光光照射装置に関する。   The present invention relates to a polarized light irradiation device including a polarization measuring device for measuring a polarization axis of polarized light.

近年、液晶パネルをはじめとする液晶表示素子の配向膜や、視野角補償フィルムの配向層などの配向処理に関し、所定の波長の偏光光を照射して配向を行う、光配向と呼ばれる技術が採用されている。
光配向に用いる照射装置は、一般に、光源と偏光子とを備え、光源の光を偏光子に通して得られる偏光光を照射する。光配向技術においては、照射装置から照射された偏光光の偏光軸(光照射面における偏光光の軸)が、所望の偏光軸となっているかどうかが非常に重要である。そのため、偏光子の角度を所定の角度にセッティングした後、実際に偏光光照射を行って偏光軸を測定し、所望の偏光軸となっていなければ偏光子の角度を修正するといった作業が必要となる。
従来の偏光軸測定方法としては、例えば特許文献1に記載の技術がある。この技術は、照射装置が備える第一の偏光子とは別に、偏光軸を検出するための第二の偏光子を設け、第一の偏光子及び第二の偏光子を順に通過した光を第二の偏光子を回転させながら検出し、その検出結果に基づいて偏光光の偏光特性を測定するものである。具体的には、第二の偏光子が回転したときの検出光の光量の周期的な変化を示す変化曲線を求め、その変化曲線から上記偏光特性として偏光軸及び消光比を測定する。
In recent years, a technique called photo-alignment has been adopted in which alignment is performed by irradiating polarized light of a predetermined wavelength with respect to alignment processing of alignment films for liquid crystal display elements such as liquid crystal panels and alignment layers for viewing angle compensation films. Has been.
An irradiation device used for photo-alignment generally includes a light source and a polarizer, and irradiates polarized light obtained by passing light from the light source through the polarizer. In the photo-alignment technique, it is very important whether the polarization axis of the polarized light irradiated from the irradiation device (the axis of the polarized light on the light irradiation surface) is a desired polarization axis. Therefore, after setting the angle of the polarizer to a predetermined angle, it is necessary to measure the polarization axis by actually irradiating polarized light, and correct the angle of the polarizer if it is not the desired polarization axis. Become.
As a conventional polarization axis measuring method, for example, there is a technique described in Patent Document 1. In this technique, a second polarizer for detecting the polarization axis is provided separately from the first polarizer included in the irradiation apparatus, and light that has passed through the first polarizer and the second polarizer in order is provided. It detects while rotating two polarizers, and measures the polarization characteristics of polarized light based on the detection result. Specifically, a change curve indicating a periodic change in the amount of detection light when the second polarizer rotates is obtained, and the polarization axis and the extinction ratio are measured as the polarization characteristics from the change curve.

特開2014−20890号公報JP 2014-20890 A

上記特許文献1に記載の技術では、光源として放電ランプを利用している。放電ランプには、アークの揺らぎに起因する光量の経時変化が存在し、第2の偏光子を回転させている間にも、光量は時々刻々と変化する。しかしながら、上記特許文献1に記載の技術にあっては、この放電ランプのアークの揺らぎを考慮していないため、偏光光の偏光軸の測定精度が低い。
そこで、本発明は、光源からの光に時間ごとの照度変動がある場合であっても、偏光光の偏光軸を高精度に検出することができる偏光測定装置を備える偏光光照射装置を提供することを課題としている。
In the technique described in Patent Document 1, a discharge lamp is used as a light source. In the discharge lamp, there is a temporal change in the amount of light due to the fluctuation of the arc, and the amount of light changes from moment to moment even while the second polarizer is rotating. However, in the technique described in Patent Document 1, since the fluctuation of the arc of the discharge lamp is not considered, the measurement accuracy of the polarization axis of the polarized light is low.
Therefore, the present invention provides a polarized light irradiation device including a polarization measuring device capable of detecting the polarization axis of polarized light with high accuracy even when the light from the light source has illuminance fluctuations over time. It is an issue.

上記課題を解決するために、本発明に係る偏光光照射装置の一態様は、配向膜に偏光光を照射して光配向を行う偏光光照射装置であって、ロングアーク放電ランプと、当該ロングアーク型放電ランプの延在する方向に沿って配設された複数の偏光子とを有し、前記ロングアーク型放電ランプから放射された光を前記偏光子によって偏光した偏光光を照射する光照射部と、前記光照射部が照射する偏光光の偏光軸を測定する偏光測定装置と、を備え、前記偏光測定装置は、前記偏光軸を検出するための回転可能な検出用偏光子と、前記検出用偏光子を通過した偏光光の照度情報を検出する第一の照度センサと、前記ロングアーク型放電ランプからの偏光光の照度情報を直接検出する第二の照度センサと、を有する偏光軸検出器と、前記偏光軸検出器を、前記偏光子の直下を前記ロングアーク放電ランプの延在する方向に搬送する搬送部と、を備え、前記第一の照度センサと前記第二の照度センサとは、前記ロングアーク型放電ランプの延在する方向に沿って並んで配設されている。 In order to solve the above problem, one aspect of the polarized light irradiation apparatus according to the present invention, by irradiating a polarized light to a polarized light irradiation apparatus for performing optical alignment in the alignment layer, b Nguaku discharge lamp and, the long A plurality of polarizers arranged along a direction in which the arc discharge lamp extends, and light irradiation for irradiating polarized light obtained by polarizing light emitted from the long arc discharge lamp with the polarizer. And a polarization measuring device that measures the polarization axis of the polarized light emitted by the light irradiating unit, the polarization measuring device comprising: a rotatable detection polarizer for detecting the polarization axis; and A first illuminance sensor that detects illuminance information of polarized light that has passed through the detection polarizer; and a second illuminance sensor that directly detects illuminance information of polarized light from the long arc discharge lamp. Polarization axis detector, and the polarization axis detector The vessel, and a transport unit for a directly under the polarizer is conveyed in a direction of extension of the long arc discharge lamps, the first of the illuminance sensor and the second illumination sensor, the long arc type discharge The lamps are arranged side by side along the extending direction of the lamp .

このように、検出用偏光子を通過しない線状光源からの偏光光を検出する第二の照度センサを第一の照度センサに並設する。そのため、2つの照度センサで同じ偏光光の揺らぎを見ることができ、第二の照度センサで検出した偏光光の照度情報を、第一の照度センサで検出した偏光光の照度情報の基準値とすることができる。したがって、線状光源の出力のばらつきやちらつき等により線状光源からの偏光光の照度が時間ごとに変動する場合であっても、その照度変動を考慮した偏光軸の検出が可能となる。また、2つの照度センサを線状光源の照度変化が少ない方向に並べて配置するので、場所ごとの依存性を少なくすることができ、信頼性のある測定結果が得られる。これにより、偏光測定装置が光照射部から照射される偏光光の偏光特性を精度良く測定することができる。したがって、偏光光照射装置は、光照射部から照射される偏光光の偏光軸が所望の偏光軸となっているかどうかを適切に判断することができる。   As described above, the second illuminance sensor that detects the polarized light from the linear light source that does not pass through the detection polarizer is arranged in parallel with the first illuminance sensor. Therefore, the fluctuation of the same polarized light can be seen by the two illuminance sensors, and the illuminance information of the polarized light detected by the second illuminance sensor is the reference value of the illuminance information of the polarized light detected by the first illuminance sensor. can do. Therefore, even when the illuminance of polarized light from the linear light source varies with time due to variations in the output of the linear light source, flickering, etc., the polarization axis can be detected in consideration of the illuminance variation. In addition, since the two illuminance sensors are arranged side by side in a direction in which the illuminance change of the linear light source is small, the dependence on each place can be reduced and a reliable measurement result can be obtained. Thereby, the polarization property of the polarized light irradiated from the light irradiation unit can be accurately measured by the polarization measuring device. Therefore, the polarized light irradiation apparatus can appropriately determine whether the polarization axis of the polarized light irradiated from the light irradiation unit is a desired polarization axis.

本発明の偏光光照射装置では、検出用偏光子を通過した光源からの偏光光を検出する第一の照度センサと、検出用偏光子を通過しない光源からの偏光光を検出する第二の照度センサとを線状光源であるロングアーク放電ランプの延在する方向に並設する。そのため、光源からの偏光光の照度が時間ごとに変動する場合であっても、その照度変動を考慮した偏光軸の検出が可能となる。   In the polarized light irradiation device of the present invention, a first illuminance sensor that detects polarized light from a light source that has passed through a detection polarizer, and a second illuminance that detects polarized light from a light source that does not pass through a detection polarizer The sensor is juxtaposed in the extending direction of the long arc discharge lamp which is a linear light source. Therefore, even when the illuminance of the polarized light from the light source varies with time, the polarization axis can be detected in consideration of the illuminance variation.

本実施形態の偏光光照射装置を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the polarized light irradiation apparatus of this embodiment. 光照射部の長手方向に直交する方向の断面図である。It is sectional drawing of the direction orthogonal to the longitudinal direction of a light irradiation part. 光照射部の長手方向の断面図である。It is sectional drawing of the longitudinal direction of a light irradiation part. 偏光子の配置例を示す図である。It is a figure which shows the example of arrangement | positioning of a polarizer. 偏光軸検出器の主要部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the principal part of a polarization axis detector. 偏光軸検出器の主要部を示す断面斜視図である。It is a cross-sectional perspective view which shows the principal part of a polarization axis detector. 第一の偏光光検出部の構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of a 1st polarized light detection part. 偏光測定装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a polarization measuring apparatus. 制御部で実行する偏光測定処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the polarization measurement process sequence performed with a control part. 偏光光の角度特性の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the angle characteristic of polarized light. 本実施形態の効果を説明する図である。It is a figure explaining the effect of this embodiment.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本実施形態の偏光光照射装置を示す概略構成図である。
偏光光照射装置100は、光照射部10A及び10Bと、ワークWを搬送する搬送部20とを備える。ここで、ワークWは、光配向膜が形成された、例えば液晶パネルの大きさに整形された矩形状の基板である。
偏光光照射装置100は、光照射部10A及び10Bから所定の波長の偏光光(偏光した光)を照射しながら、搬送部20によってワークWを直線移動させ、ワークWの光配向膜に上記偏光光を照射して光配向処理をするものである。
光照射部10A及び10Bは、線状の光源である放電ランプ11と、放電ランプ11の光を反射するミラー12とをそれぞれ備える。また、光照射部10Aは、その光出射側に配置された偏光子ユニット13Aを備え、光照射部10Bは、その光出射側に配置された偏光子ユニット13Bを備える。さらに、光照射部10A及び10Bは、それぞれランプハウス14を備える。放電ランプ11、ミラー12及び偏光子ユニット13A(又は13B)は、ランプハウス14に収容されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a polarized light irradiation apparatus of the present embodiment.
The polarized light irradiation device 100 includes light irradiation units 10 </ b> A and 10 </ b> B and a transport unit 20 that transports the workpiece W. Here, the workpiece W is a rectangular substrate on which a photo-alignment film is formed, for example, shaped to the size of a liquid crystal panel.
The polarized light irradiation apparatus 100 linearly moves the workpiece W by the transport unit 20 while irradiating polarized light (polarized light) having a predetermined wavelength from the light irradiation units 10A and 10B, and the polarized light is applied to the photo-alignment film of the workpiece W. Light alignment is performed by irradiating light.
Each of the light irradiation units 10A and 10B includes a discharge lamp 11 that is a linear light source and a mirror 12 that reflects light from the discharge lamp 11. The light irradiation unit 10A includes a polarizer unit 13A disposed on the light emission side, and the light irradiation unit 10B includes a polarizer unit 13B disposed on the light emission side. Further, each of the light irradiation units 10A and 10B includes a lamp house 14. The discharge lamp 11, the mirror 12, and the polarizer unit 13A (or 13B) are accommodated in the lamp house 14.

光照射部10A及び光照射部10Bは、放電ランプ11の長手方向をワークWの搬送方向(X方向)に直交する方法(Y方向)に一致させた状態で、ワークWの搬送方向(X方向)に沿って並設されている。
ここで、光照射部10Aの具体的構成について説明する。
図2は、光照射部10Aの長手方向に直交する方向の断面図であり、図3は、光照射部10Aの長手方向の断面図である。光照射部10Aと光照射部10Bとは同様の構成を有するため、ここでは光照射部10Aの構成について説明する。
放電ランプ11は、長尺状のロングアーク型放電ランプである。放電ランプ11は、例えば、波長200nm〜400nmの紫外光を照射する。
光配向膜の材料としては、波長254nmの光で配向されるもの、波長313nmの光で配向されるもの、波長365nmの光で配向されるものなどが知られており、光源の種類は必要とされる波長に応じて適宜選択する。
なお、光源としては、紫外光を放射するLEDやLDを直線状に並べて配置した線状光源を用いることもできる。その場合、LEDやLDを並べる方向がランプの長手方向に相当する。
The light irradiation unit 10A and the light irradiation unit 10B are configured so that the longitudinal direction of the discharge lamp 11 coincides with the method (Y direction) orthogonal to the conveyance direction (X direction) of the workpiece W, and the workpiece W conveyance direction (X direction). ) Along the line.
Here, a specific configuration of the light irradiation unit 10A will be described.
2 is a cross-sectional view in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the light irradiation unit 10A, and FIG. 3 is a cross-sectional view in the longitudinal direction of the light irradiation unit 10A. Since the light irradiation unit 10A and the light irradiation unit 10B have the same configuration, the configuration of the light irradiation unit 10A will be described here.
The discharge lamp 11 is a long long arc discharge lamp. For example, the discharge lamp 11 irradiates ultraviolet light having a wavelength of 200 nm to 400 nm.
As materials for the photo-alignment film, those that are aligned by light having a wavelength of 254 nm, those that are aligned by light having a wavelength of 313 nm, and materials that are aligned by light having a wavelength of 365 nm are known. It selects suitably according to the wavelength to be performed.
As the light source, a linear light source in which LEDs or LDs that emit ultraviolet light are arranged in a straight line can be used. In that case, the direction in which the LEDs and LDs are arranged corresponds to the longitudinal direction of the lamp.

ミラー12は、放電ランプ11からの放射光を所定の方向に反射するものであり、図2に示すように断面が楕円形の樋状集光鏡である。ミラー12は、その長手方向が放電ランプ11の長手方向と一致するように配置されている。
ランプハウス14は、その底面に、光照射部10Aから照射される光が通過する光出射口14aを有する。光出射口14aには、ここを通過する光を偏光するための偏光子を有する偏光子ユニット13Aが取り付けられている。
偏光子ユニット13Aは、図4に示すように、複数の偏光子13Aaをフレーム13Ab内に並べて配置して構成されている。このように、放電ランプ11の直下に、複数の偏光子13Aaが当該放電ランプ11の長手方向に沿って並んで配置されている。
The mirror 12 reflects the emitted light from the discharge lamp 11 in a predetermined direction, and is a bowl-shaped condensing mirror having an elliptical cross section as shown in FIG. The mirror 12 is arranged so that its longitudinal direction coincides with the longitudinal direction of the discharge lamp 11.
The lamp house 14 has, on the bottom surface thereof, a light emission port 14a through which light emitted from the light irradiation unit 10A passes. A polarizer unit 13A having a polarizer for polarizing light passing therethrough is attached to the light exit port 14a.
As shown in FIG. 4, the polarizer unit 13A is configured by arranging a plurality of polarizers 13Aa in a frame 13Ab. As described above, a plurality of polarizers 13 </ b> Aa are arranged along the longitudinal direction of the discharge lamp 11 immediately below the discharge lamp 11.

偏光子13Aaは、ワイヤーグリッド型偏光素子であり、偏光子13Aaの個数は、偏光光を照射する領域の大きさに合わせて適宜選択する。また、各偏光子13Aaは、それぞれ透過軸が同一方向を向くように配置されている。
偏光子ユニット13Bも、偏光子ユニット13Aと同様の構成を有する。
ただし、光照射部を2段に並べた2灯式の場合、偏光子ユニット13Bの偏光子13Baは、図4に示すように、偏光子13Aaの継ぎ目と偏光子13Baの継ぎ目とが、ワークWの搬送方向(X方向)において互いに重ならないように、搬送方向に直交する方向(Y方向)に位置をずらして配置する。これにより、光照射部10A及び10Bは均一なエネルギー分布で偏光光を照射することができる。
The polarizer 13Aa is a wire grid type polarization element, and the number of the polarizers 13Aa is appropriately selected according to the size of the region where the polarized light is irradiated. Each polarizer 13Aa is arranged such that the transmission axis faces the same direction.
The polarizer unit 13B has the same configuration as the polarizer unit 13A.
However, in the case of the two-lamp type in which the light irradiating units are arranged in two stages, the polarizer 13Ba of the polarizer unit 13B has a work W that is connected to the joint of the polarizer 13Aa and the joint of the polarizer 13Ba as shown in FIG. The positions are shifted in the direction (Y direction) orthogonal to the transport direction so as not to overlap each other in the transport direction (X direction). Thereby, light irradiation part 10A and 10B can irradiate polarized light with uniform energy distribution.

図1に戻って、搬送部20は、真空吸着等の方法によりワークWを吸着保持する平板状のワークステージ21と、ワークステージ21の移動方向に沿って延びる2本のガイド22と、ワークステージ21の移動機構を一例として構成する電磁石23とを備える。
ここでは、上記移動機構として、例えば、リニアモータステージを採用する。リニアモータステージは、碁盤目状に強磁性体の凸極が設けられた平面状のプラテンの上に移動体(ワークステージ)をエアーにより浮上させ、移動体に磁力を印加して、移動体とプラテンの凸極との間の磁力を変化させることにより移動体(ワークステージ)を移動する機構である。
ワークステージ21は、その一辺の方向がステージ移動方向(X方向)を向くように配置されると共に、ガイド22によって真直度を補償した状態で往復移動可能に支持されている。
Returning to FIG. 1, the transport unit 20 includes a flat work stage 21 that holds the work W by suction using a method such as vacuum suction, two guides 22 that extend along the moving direction of the work stage 21, and a work stage. The electromagnet 23 which comprises 21 moving mechanisms as an example is provided.
Here, for example, a linear motor stage is employed as the moving mechanism. A linear motor stage floats a moving body (work stage) by air on a flat platen provided with ferromagnetic convex poles in a grid pattern, and applies a magnetic force to the moving body. This is a mechanism for moving the moving body (work stage) by changing the magnetic force between the platen and the convex pole.
The work stage 21 is arranged so that the direction of one side thereof faces the stage moving direction (X direction) and is supported by the guide 22 so as to be able to reciprocate in a state where straightness is compensated.

本明細書において、ワークステージ21の移動方向がX方向であり、X方向に垂直な水平方向がY方向、鉛直方向がZ方向である。また、ワークWは矩形状であり、一辺の方向がX方向に向き、他方の辺がY方向を向いた姿勢でワークステージ21上に保持されているものとする。
ワークステージ21の移動経路は、光照射部10A及び10Bの真下を通るように設計されている。そして、搬送部20は、ワークWを光照射部10A及び10Bによる偏光光の照射位置に搬送し、且つその照射位置を通過させるように構成されている。この通過の過程で、ワークWの光配向膜が光配向処理される。
In this specification, the moving direction of the work stage 21 is the X direction, the horizontal direction perpendicular to the X direction is the Y direction, and the vertical direction is the Z direction. In addition, it is assumed that the workpiece W is rectangular and is held on the workpiece stage 21 in a posture in which one side is oriented in the X direction and the other side is oriented in the Y direction.
The movement path of the work stage 21 is designed to pass directly under the light irradiation units 10A and 10B. And the conveyance part 20 is comprised so that the workpiece | work W may be conveyed to the irradiation position of the polarized light by 10 A and 10B of light irradiation parts, and the irradiation position may be allowed to pass through. In the process of passing, the photo-alignment film of the workpiece W is photo-aligned.

また、偏光光照射装置100は、偏光測定装置30を備える。偏光測定装置30は、偏光軸検出器31と、偏光軸検出器31をガイド22に沿ってX方向に搬送するためのX方向搬送部32と、偏光軸検出器31をY方向に搬送するためのY方向搬送部33と、を備える。さらに、この偏光測定装置30は、偏光軸検出器31、X方向搬送部32、Y方向搬送部33の他に、後述する制御部34及びモニタ35も備えている。
偏光軸検出器31は、光照射部10A及び10Bから照射される偏光光の偏光軸(光照射面における偏光光の軸)を検出する。
X方向搬送部32は、偏光軸検出器31をX方向に移動させる移動機構であり、例えば、上述した搬送部20と同様の構成を有する。すなわち、偏光軸検出器31の移動経路は、光照射部10A及び10Bの真下を通るように設計されている。X方向搬送部32は、X方向において、偏光軸検出器31を光照射部10A及び10Bによる偏光光の照射位置に搬送する。
Y方向搬送部33は、偏光軸検出器31をY方向に移動させる移動機構である。Y方向搬送部33は、偏光軸検出器31が光照射部10A及び10Bによる偏光光の照射位置にある状態で、偏光軸検出器31をY方向(偏光子ユニット13A及び13Bの偏光子の配列方向)に移動する。
Further, the polarized light irradiation device 100 includes a polarization measuring device 30. The polarization measuring device 30 includes a polarization axis detector 31, an X direction transport unit 32 for transporting the polarization axis detector 31 in the X direction along the guide 22, and a transport of the polarization axis detector 31 in the Y direction. Y-direction transport unit 33. In addition to the polarization axis detector 31, the X direction transport unit 32, and the Y direction transport unit 33, the polarization measuring device 30 also includes a control unit 34 and a monitor 35 described later.
The polarization axis detector 31 detects the polarization axis of the polarized light irradiated from the light irradiation units 10A and 10B (the axis of the polarized light on the light irradiation surface).
The X-direction transport unit 32 is a moving mechanism that moves the polarization axis detector 31 in the X direction, and has the same configuration as the transport unit 20 described above, for example. That is, the movement path of the polarization axis detector 31 is designed to pass directly under the light irradiation units 10A and 10B. The X direction transport unit 32 transports the polarization axis detector 31 to the irradiation position of the polarized light by the light irradiation units 10A and 10B in the X direction.
The Y-direction transport unit 33 is a moving mechanism that moves the polarization axis detector 31 in the Y direction. The Y-direction transport unit 33 moves the polarization axis detector 31 in the Y direction (the arrangement of the polarizers of the polarizer units 13A and 13B) in a state where the polarization axis detector 31 is at the irradiation position of the polarized light by the light irradiation units 10A and 10B. Direction).

本実施形態では、偏光子ユニット13A及び13Bの各偏光子の直下(各偏光子の中央位置)を、それぞれ偏光軸を測定する位置(以下、「偏光測定位置」ともいう)とし、偏光軸検出器31は、各偏光測定位置において偏光軸を測定するものとする。
以下、偏光軸検出器31の具体的構成について、図5及び図6を参照しながら説明する。
偏光軸検出器31は、第一の偏光光検出部311と、第二の偏光光検出部312とを備える。
第一の偏光光検出部311は、偏光軸を検出するための検出用偏光子(以下、「検光子」ともいう)311aと、検出用偏光子311aを通過した偏光光を検出するための第一の照度センサ311bとを備える。第一の照度センサ311bは、検出用偏光子311aを通過した偏光光を受光する受光部311c(図6)を備える。受光部311cは支持部材311dによって偏光軸検出器31の筐体に固定されている。
In the present embodiment, the position immediately below each polarizer of polarizer units 13A and 13B (the center position of each polarizer) is the position at which the polarization axis is measured (hereinafter also referred to as “polarization measurement position”), and polarization axis detection is performed. The instrument 31 measures the polarization axis at each polarization measurement position.
Hereinafter, a specific configuration of the polarization axis detector 31 will be described with reference to FIGS. 5 and 6.
The polarization axis detector 31 includes a first polarized light detector 311 and a second polarized light detector 312.
The first polarized light detector 311 includes a detection polarizer (hereinafter also referred to as “analyzer”) 311a for detecting the polarization axis, and a first polarizer for detecting the polarized light that has passed through the detection polarizer 311a. And an illuminance sensor 311b. The first illuminance sensor 311b includes a light receiving unit 311c (FIG. 6) that receives the polarized light that has passed through the detection polarizer 311a. The light receiving unit 311c is fixed to the casing of the polarization axis detector 31 by a support member 311d.

図7は、第一の偏光光検出部311の構成を示す模式図である。この図7では、第一の偏光光検出部311が光照射部10Aから照射される偏光光を検出する場合の構成を示している。
図7に示すように、光照射部10Aの放電ランプ11からの光(放射光L1)は偏光子ユニット13Aを通過して直線偏光され、その偏光光L2が検出用偏光子311aに入射される。受光部311cは、このとき検出用偏光子311aを通過した光を検出光L3として受光する。
検出用偏光子311aは、例えばワイヤーグリッド型偏光素子である。なお、検出用偏光子311aは、直線偏光子であれば任意の偏光子を用いることができる。
FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a configuration of the first polarized light detection unit 311. FIG. 7 shows a configuration in the case where the first polarized light detection unit 311 detects polarized light emitted from the light irradiation unit 10A.
As shown in FIG. 7, the light (radiated light L1) from the discharge lamp 11 of the light irradiation unit 10A passes through the polarizer unit 13A and is linearly polarized, and the polarized light L2 enters the detection polarizer 311a. . At this time, the light receiving unit 311c receives the light that has passed through the detection polarizer 311a as detection light L3.
The detection polarizer 311a is, for example, a wire grid type polarization element. As the detection polarizer 311a, any polarizer can be used as long as it is a linear polarizer.

また、検出用偏光子311aは、その法線方向Sを回転軸として、180°以上の検出測定範囲内にわたり回転自在に構成されている。検出用偏光子311aの回転は、予め設定した基準位置P0からの回転角度θによって規定する。
検出用偏光子311aの回転角度θが、偏光子ユニット13Aを構成する偏光子13Aaの透過軸T1の方向と検出用偏光子311aの透過軸T2の方向とが一致する角度であるとき、受光部311cで受光する光の照度は最大となる。また、検出用偏光子311aの回転角度θが、透過軸T2が透過軸T1に直交する角度であるとき、受光部311cで受光する光の照度は最小となる。
すなわち、受光部311cが受光する光の照度は、検出用偏光子311aの回転角度に応じて周期的に変動する。したがって、検出用偏光子311aを回転させながら受光部311cが受光する光の照度を監視することで、光照射部10A,10Bから照射される偏光光の偏光軸角度を測定することができる。
The detection polarizer 311a is configured to be rotatable over a detection measurement range of 180 ° or more with the normal direction S as a rotation axis. The rotation of the detection polarizer 311a is defined by a rotation angle θ from a preset reference position P0.
When the rotation angle θ of the detection polarizer 311a is an angle at which the direction of the transmission axis T1 of the polarizer 13Aa constituting the polarizer unit 13A coincides with the direction of the transmission axis T2 of the detection polarizer 311a. The illuminance of light received by 311c is maximized. When the rotation angle θ of the detection polarizer 311a is an angle at which the transmission axis T2 is orthogonal to the transmission axis T1, the illuminance of light received by the light receiving unit 311c is minimized.
That is, the illuminance of the light received by the light receiving unit 311c periodically varies in accordance with the rotation angle of the detection polarizer 311a. Therefore, by monitoring the illuminance of the light received by the light receiving unit 311c while rotating the detection polarizer 311a, the polarization axis angle of the polarized light irradiated from the light irradiation units 10A and 10B can be measured.

検出用偏光子311aを回転可能に構成するために、第一の偏光光検出部311は、検出用偏光子311aを回転するための回転機構を備える。当該回転機構は、例えば、図5及び図6に示すロータリアクチュエータ311eと、ロータリアクチュエータ311eに固定された回転子311fとを備える。
ロータリアクチュエータ311eは、後述する制御部34によって駆動制御される。検出用偏光子311aは回転子311fに固定されており、制御部34が、ロータリアクチュエータ311eを駆動制御して回転子311fを回転させることで、検出用偏光子311aが回転する。これにより、検出用偏光子311aと第一の照度センサ311b(受光部311c)とが相対的に回転する。
さらに、図6に示すように、第一の照度センサ311bは、受光部311cへの入射光を制限する開口部311gを有する。開口部311gは、光照射部10A,10Bの偏光子ユニット13A,13Bが斜入射の光も通過させて偏光光を生成することに合わせて、これら斜入射の成分による偏光光を取り込むべく、入射角が例えば0°〜65°の範囲の偏光光を受光部311cに入射する形状となっている。
In order to configure the detection polarizer 311a to be rotatable, the first polarized light detection unit 311 includes a rotation mechanism for rotating the detection polarizer 311a. The rotation mechanism includes, for example, a rotary actuator 311e shown in FIGS. 5 and 6 and a rotor 311f fixed to the rotary actuator 311e.
The rotary actuator 311e is driven and controlled by the control unit 34 described later. The detection polarizer 311a is fixed to the rotator 311f, and the control unit 34 drives and controls the rotary actuator 311e to rotate the rotator 311f, thereby rotating the detection polarizer 311a. Thereby, the polarizer 311a for detection and the 1st illumination intensity sensor 311b (light-receiving part 311c) rotate relatively.
Further, as shown in FIG. 6, the first illuminance sensor 311b has an opening 311g that restricts the incident light to the light receiving portion 311c. The opening 311g is incident so that the polarizer units 13A and 13B of the light irradiators 10A and 10B also pass the obliquely incident light to generate the polarized light and take in the polarized light due to these obliquely incident components. For example, polarized light having an angle in the range of 0 ° to 65 ° is incident on the light receiving unit 311c.

また、第一の偏光光検出部311は、第一の照度センサ311bを冷却するための冷却機構を備える。当該冷却機構は、例えば空冷方式によるものであり、外部から冷気を取り込む冷気供給部311hを備える。
なお、冷却機構は、水冷方式によるものを採用することもできる。ただし、水冷バルブが破損した場合の影響などを鑑みると、空冷方式を採用することが好ましい。
また、第二の偏光光検出部312は、第一の偏光光検出部311において検出用偏光子311aと、この検出用偏光子311aを回転させるための回転機構とを備えていないことを除いては、第一の偏光光検出部311と同様の構成を有する。
The first polarized light detection unit 311 includes a cooling mechanism for cooling the first illuminance sensor 311b. The cooling mechanism is based on, for example, an air cooling system, and includes a cold air supply unit 311h that takes in cold air from the outside.
The cooling mechanism may be a water cooling system. However, it is preferable to adopt the air cooling method in view of the influence when the water cooling valve is broken.
The second polarized light detection unit 312 does not include the detection polarizer 311a and the rotation mechanism for rotating the detection polarizer 311a in the first polarized light detection unit 311. Has the same configuration as the first polarized light detector 311.

すなわち、第二の偏光光検出部312は、図5及び図6に示すように、光照射部10A,10Bからの偏光光をそのまま入射し、当該偏光光の照度を検出する第二の照度センサ312aを備える。第二の照度センサ312aは、光照射部10A,10Bからの偏光光を直接受光する受光部312b(図6)を備える。
第二の照度センサ312aは、支持部材312cによって、受光部312bの高さ位置が第一の照度センサ311bの受光部311cの高さ位置と同等となるように支持されている。支持部材312cは、偏光光検出器31の筐体に固定されている。
That is, as shown in FIGS. 5 and 6, the second polarized light detection unit 312 receives the polarized light from the light irradiation units 10 </ b> A and 10 </ b> B as it is and detects the illuminance of the polarized light. 312a is provided. The second illuminance sensor 312a includes a light receiving unit 312b (FIG. 6) that directly receives polarized light from the light irradiation units 10A and 10B.
The second illuminance sensor 312a is supported by the support member 312c so that the height position of the light receiving portion 312b is equal to the height position of the light receiving portion 311c of the first illuminance sensor 311b. The support member 312c is fixed to the casing of the polarized light detector 31.

また、図6に示すように、第二の照度センサ312aは、受光部312bへの入射光を制限する開口部312dを有する。開口部312dは、上述した開口部311fと同様に、入射角が例えば0°〜65°の範囲の偏光光を受光部312bに入射する形状となっている。
さらに、第二の偏光光検出部312は、第二の照度センサ312aを冷却するための冷却機構を備える。当該冷却機構は、例えば空冷方式によるものであり、外部から冷気を取り込む冷気供給部312eを備える。
なお、冷却機構は、水冷方式によるものを採用することもできる。ただし、水冷バルブが破損した場合の影響などを鑑みると、空冷方式を採用することが好ましい。
Further, as shown in FIG. 6, the second illuminance sensor 312a has an opening 312d that restricts incident light to the light receiving portion 312b. Similarly to the opening 311f described above, the opening 312d has a shape in which polarized light having an incident angle in the range of, for example, 0 ° to 65 ° is incident on the light receiving portion 312b.
Furthermore, the second polarized light detection unit 312 includes a cooling mechanism for cooling the second illuminance sensor 312a. The cooling mechanism is based on, for example, an air cooling system, and includes a cold air supply unit 312e that takes in cold air from the outside.
The cooling mechanism may be a water cooling system. However, it is preferable to adopt the air cooling method in view of the influence when the water cooling valve is broken.

第二の照度センサ312aは、第一の照度センサ311bと同じ波長域に感度を有するものであることが好ましい。ただし、放電ランプ11の放射光を同時に検出できれば、異なる波長域に感度を有するものであってもよい。
具体的には、第一の照度センサ311b及び第二の照度センサ312aは、例えば200nm〜400nmの波長域に感度を有するものであることが好ましい。より具体的には、第一の照度センサ311b及び第二の照度センサ312aは、例えば、波長254nm、313nm、365nmの照度が測定しやすいことが好ましい。
It is preferable that the 2nd illumination intensity sensor 312a has a sensitivity in the same wavelength range as the 1st illumination intensity sensor 311b. However, as long as the radiated light from the discharge lamp 11 can be detected at the same time, it may have sensitivity in different wavelength regions.
Specifically, it is preferable that the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a have sensitivity in a wavelength region of, for example, 200 nm to 400 nm. More specifically, it is preferable that the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a easily measure the illuminance at wavelengths of 254 nm, 313 nm, and 365 nm, for example.

また、第一の照度センサ311bの受光部311cと第二の照度センサ312aの受光部312bとは、放電ランプ11の管軸方向(長手方向)に沿って並設する。放電ランプ11の管軸方向は、偏光軸検出器31を移動させるY方向と同じ方向である。
これは、放電ランプ11から放射される光は、管径方向では照度変化が大きく、管軸方向では照度変化が小さいためである。このように、受光部311cと受光部312bとを放電ランプ11の管軸方向(長手方向)に沿って併設することで、第一の照度センサ311bと第二の照度センサ312aとが検出する光の照度の差を少なくすることができる。
なお、第一の偏光光検出部311及び第二の偏光光検出部312が、それぞれ受光部を冷却するための冷却機構を有する場合について説明したが、放電ランプ11から放射される熱は、Y方向搬送部32等を介して偏光軸検出部31の下側からも伝達される。そのため、偏光軸検出部31の筐体の底部に断熱部材を設けたり、回転機構を浮かせたりしてもよい。
Further, the light receiving unit 311c of the first illuminance sensor 311b and the light receiving unit 312b of the second illuminance sensor 312a are arranged in parallel along the tube axis direction (longitudinal direction) of the discharge lamp 11. The tube axis direction of the discharge lamp 11 is the same as the Y direction in which the polarization axis detector 31 is moved.
This is because the light emitted from the discharge lamp 11 has a large illuminance change in the tube diameter direction and a small illuminance change in the tube axis direction. In this way, the light detected by the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a is provided by arranging the light receiving unit 311c and the light receiving unit 312b along the tube axis direction (longitudinal direction) of the discharge lamp 11. The difference in illuminance can be reduced.
In addition, although the case where the first polarized light detection unit 311 and the second polarized light detection unit 312 each have a cooling mechanism for cooling the light receiving unit has been described, the heat radiated from the discharge lamp 11 is Y It is also transmitted from the lower side of the polarization axis detection unit 31 via the direction transport unit 32 and the like. Therefore, a heat insulating member may be provided at the bottom of the casing of the polarization axis detector 31 or the rotation mechanism may be floated.

次に、偏光測定装置30を構成する制御部34について説明する。
図8は、偏光測定装置30の構成を示すブロック図である。
上述したように、偏光測定装置30は、偏光軸検出器31、X方向搬送部32、Y方向搬送部33、制御部34及びモニタ35を備える。
制御部34は、回転子制御部34aと、入力信号変換部34bと、偏光特性演算部34cと、画像表示部34dと、搬送制御部34eとを備える。
回転子制御部34aは、第一の偏光光検出部311に対してロータリアクチュエータ311dを駆動制御するための駆動指令を出力する。本実施形態では、各偏光測定位置において、検光子311aを予め設定した回転角度範囲θ1≦θ≦θ2内で複数の指定角度に回転し、各指定角度で第一の照度センサ311bが偏光光を測定する。回転角度範囲は、第一の照度センサ311bが検出する偏光光の照度が最小となるはずである検光子311aの角度(設定基準値θa)を跨いで、例えば±20°の範囲に設定する。
例えば、設定基準値θaが120°に設定されている場合には、回転角度範囲は100°≦θ≦140°となる。
Next, the control unit 34 constituting the polarization measuring device 30 will be described.
FIG. 8 is a block diagram illustrating a configuration of the polarization measuring device 30.
As described above, the polarization measuring device 30 includes the polarization axis detector 31, the X direction transport unit 32, the Y direction transport unit 33, the control unit 34, and the monitor 35.
The control unit 34 includes a rotor control unit 34a, an input signal conversion unit 34b, a polarization characteristic calculation unit 34c, an image display unit 34d, and a transport control unit 34e.
The rotor control unit 34a outputs a drive command for driving and controlling the rotary actuator 311d to the first polarized light detection unit 311. In this embodiment, at each polarization measurement position, the analyzer 311a is rotated to a plurality of designated angles within a preset rotation angle range θ1 ≦ θ ≦ θ2, and the first illuminance sensor 311b emits polarized light at each designated angle. taking measurement. The rotation angle range is set to, for example, a range of ± 20 ° across the angle (setting reference value θa) of the analyzer 311a where the illuminance of the polarized light detected by the first illuminance sensor 311b should be minimized.
For example, when the setting reference value θa is set to 120 °, the rotation angle range is 100 ° ≦ θ ≦ 140 °.

また、本実施形態では、上記回転角度範囲において、例えば、θ=θaを除いて10°刻みで偏光光を測定する角度位置を設定する。すなわち、回転角度範囲が100°≦θ≦140°である場合、θ=θ1=100°、θ=110°、θ=130°、θ=θ2=140°で偏光光を測定する。回転子制御部34aは、検光子311aを上記4つの角度位置のいずれかとするために、ロータリアクチュエータ311dに対して駆動指令を出力する。
入力信号変換部34bは、第一の照度センサ311bが検出した照度情報である検出照度値(照度カウント値)Cd、及び第二の照度センサ312aが検出した照度情報である参照照度値(照度カウント値)Crを入力し、これらの検出信号を増幅して偏光特性演算部34cに出力する。
In the present embodiment, in the rotation angle range, for example, an angular position for measuring the polarized light is set in increments of 10 ° except θ = θa. That is, when the rotation angle range is 100 ° ≦ θ ≦ 140 °, the polarized light is measured at θ = θ1 = 100 °, θ = 110 °, θ = 130 °, and θ = θ2 = 140 °. The rotor control unit 34a outputs a drive command to the rotary actuator 311d in order to set the analyzer 311a to one of the four angular positions.
The input signal conversion unit 34b includes a detected illuminance value (illuminance count value) Cd that is illuminance information detected by the first illuminance sensor 311b, and a reference illuminance value (illuminance count) that is illuminance information detected by the second illuminance sensor 312a. Value) Cr is input, and these detection signals are amplified and output to the polarization characteristic calculator 34c.

ここで、第一の照度センサ311bと第二の照度センサ312aとは、同じタイミングで受光光の照度を検出するものであり、入力信号変換部34bは、2つのセンサで同時に検出された2つの検出信号を入力するように構成されている。
偏光特性演算部34cは、入力信号変換部34bから入力した照度情報に基づいて、光照射部10A,10Bから照射される偏光光の偏光特性を演算する。本実施形態では、偏光特性演算部34cは、上記偏光特性として偏光軸角度と消光比とを測定する。
画像表示部34dは、偏光特性演算部34cで演算した偏光特性をモニタ35に出力する。
搬送制御部34eは、X方向搬送部32及びY方向搬送部33を駆動制御し、偏光軸検出器31をXY方向に移動して所定の偏光測定位置に移動する。
Here, the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a detect the illuminance of the received light at the same timing, and the input signal converter 34b includes two sensors detected simultaneously by the two sensors. A detection signal is input.
The polarization characteristic calculation unit 34c calculates the polarization characteristic of the polarized light emitted from the light irradiation units 10A and 10B based on the illuminance information input from the input signal conversion unit 34b. In the present embodiment, the polarization characteristic calculator 34c measures the polarization axis angle and the extinction ratio as the polarization characteristics.
The image display unit 34d outputs the polarization characteristic calculated by the polarization characteristic calculation unit 34c to the monitor 35.
The conveyance control unit 34e drives and controls the X-direction conveyance unit 32 and the Y-direction conveyance unit 33, and moves the polarization axis detector 31 in the XY directions to move to a predetermined polarization measurement position.

制御部34及びモニタ35は、放電ランプ11から放射される紫外光の影響(主に熱の影響)を受けないように、偏光軸検出器31、X方向搬送部32及びY方向搬送部33とは離れた位置に設置されている。制御部34は、偏光軸検出器31への駆動指令の出力や偏光軸検出器31からの検出信号の取得等を、図示しないケーブルを介して行う。
図9は、制御部34で実行する偏光測定処理手順の一例を示すフローチャートである。この偏光測定処理は、所定の偏光測定位置における偏光光の測定手順を示すものである。
先ずステップS1では、制御部34は、回転子制御部34aからロータリアクチュエータ311dに対して駆動指令を出力し、検光子311aを指定角度まで回転する。ここで、指定角度の初期値はθ=θ1とする。
The control unit 34 and the monitor 35 are connected to the polarization axis detector 31, the X-direction transport unit 32, and the Y-direction transport unit 33 so as not to be affected by ultraviolet light (mainly heat) emitted from the discharge lamp 11. Is located at a remote location. The controller 34 outputs a drive command to the polarization axis detector 31 and acquires a detection signal from the polarization axis detector 31 via a cable (not shown).
FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a polarization measurement processing procedure executed by the control unit 34. This polarization measurement process shows a procedure for measuring polarized light at a predetermined polarization measurement position.
First, in step S1, the control unit 34 outputs a drive command to the rotary actuator 311d from the rotor control unit 34a, and rotates the analyzer 311a to a specified angle. Here, the initial value of the designated angle is θ = θ1.

次にステップS2では、制御部34は、第一の照度センサ311bから検出照度値Cd、第二の照度センサ312aから参照照度値Crを取得し、ステップS3に移行する。
ステップS3では、前記ステップS2で取得した検出照度値Cdで参照照度値Crを除算し、補正後照度値Ccを算出する(Cc=Cr/Cd)。この補正後照度値Ccは、検出照度値Cdに含まれる放電ランプ11からの光の時間毎の照度変動による誤差を、参照照度値Crで補正したものである。
次にステップS4では、制御部34は、予め設定したすべての角度位置で照度測定が完了しているか否かを判定する。そして、照度測定が完了していないと判断した場合には、指定角度を新たに設定して前記ステップS1に移行し、照度測定が完了したと判断した場合にはステップS5に移行する。
ステップS5では、制御部34は、前記ステップS3で算出した各角度位置における補正後照度値Ccに基づいて、偏光光の偏光軸を算出する。
Next, in step S2, the control unit 34 acquires the detected illuminance value Cd from the first illuminance sensor 311b and the reference illuminance value Cr from the second illuminance sensor 312a, and proceeds to step S3.
In step S3, the corrected illuminance value Cc is calculated by dividing the reference illuminance value Cr by the detected illuminance value Cd acquired in step S2 (Cc = Cr / Cd). The post-correction illuminance value Cc is obtained by correcting an error due to illuminance fluctuation for each hour of light from the discharge lamp 11 included in the detected illuminance value Cd with the reference illuminance value Cr.
Next, in step S4, the control unit 34 determines whether or not the illuminance measurement has been completed at all preset angular positions. If it is determined that the illuminance measurement has not been completed, the designated angle is newly set and the process proceeds to step S1. If it is determined that the illuminance measurement has been completed, the process proceeds to step S5.
In step S5, the control unit 34 calculates the polarization axis of the polarized light based on the corrected illuminance value Cc at each angular position calculated in step S3.

本実施形態では、各補正後照度値Ccをもとにカーブフィッティングを行い、検光子311aの回転角度と補正後照度値Ccとの関係を示す偏光光角度特性(以下、単に「角度特性」ともいう)を求める。この偏光光角度特性は、検光子311aを回転させたときの検光子311aを通過した偏光光の照度の周期的な変化を示すものであり、上述した照度変動による誤差が補正された適切な特性である。そして、求めた角度特性から偏光軸角度を算出する。
ここでは、フィッティング関数として、例えばAcos2(θ+B)+Cの関数を用いる。なお、フィッティング関数としては、他の関数を用いることもできる。
図10は、上記角度特性の一例を示す図である。ここで、偏光光を測定する角度位置は、θ=120°±10°、θ=120°±20°の4点としている。
この図10において、縦軸はモニタ照度カウント値[%]、横軸は検光子311aの回転角度θ[度]である。図中破線は参照照度値Crであり、点a〜dは、各角度位置で算出した補正後照度値Ccをプロットしたものである。また、曲線Fは、これら4つの測定点a〜dの値をもとに、最小二乗法およびニュートン法によりカーブフィッティングを行って定数A,B,Cを求めることで得られた曲線であり、上記偏光光角度特性に相当する。
In the present embodiment, curve fitting is performed based on each corrected illuminance value Cc, and a polarized light angle characteristic (hereinafter simply referred to as “angle characteristic”) indicating the relationship between the rotation angle of the analyzer 311a and the corrected illuminance value Cc. Say). This polarized light angle characteristic indicates a periodic change in the illuminance of the polarized light that has passed through the analyzer 311a when the analyzer 311a is rotated, and is an appropriate characteristic in which the error due to the illuminance fluctuation is corrected. It is. Then, the polarization axis angle is calculated from the obtained angle characteristics.
Here, for example, a function of Acos 2 (θ + B) + C is used as the fitting function. It should be noted that other functions can be used as the fitting function.
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of the angle characteristic. Here, the angular positions at which the polarized light is measured are four points of θ = 120 ° ± 10 ° and θ = 120 ° ± 20 °.
In FIG. 10, the vertical axis represents the monitor illuminance count value [%], and the horizontal axis represents the rotation angle θ [degree] of the analyzer 311a. The broken line in the figure is the reference illuminance value Cr, and the points a to d are plotted with the corrected illuminance value Cc calculated at each angular position. The curve F is a curve obtained by calculating the constants A, B, and C by performing curve fitting by the least square method and the Newton method based on the values of these four measurement points a to d. This corresponds to the polarized light angle characteristic.

この角度特性Fにおいて、モニタ照度カウント値が最小となる角度が、検光子311aの透過軸が偏光子13Aa(または13Ba)の透過軸と実際に直交する検光子311aの回転角度である。また、モニタ照度カウント値が最小となる角度から90°を差し引いた角度が、モニタ照度カウント値が最大となる角度であり、検光子311aの透過軸が偏光子13Aa(または13Ba)の透過軸と実際に一致する検光子311aの回転角度である。
ここで、モニタ照度カウント値が最小となる角度は、上述したカーブフィッティングにより求めたパラメータBであり、設定基準値θaに対して所定のずれ角θbを含むものとなる(B=θa+θb)。そこで、制御部34は、角度(θa+θb)をもとに、実際の偏光軸角度(偏光子13Aa,13Baの透過軸の方向)を出力する。
In this angle characteristic F, the angle at which the monitor illuminance count value is minimum is the rotation angle of the analyzer 311a in which the transmission axis of the analyzer 311a is actually orthogonal to the transmission axis of the polarizer 13Aa (or 13Ba). The angle obtained by subtracting 90 ° from the angle at which the monitor illuminance count value is minimum is the angle at which the monitor illuminance count value is maximum, and the transmission axis of the analyzer 311a is the transmission axis of the polarizer 13Aa (or 13Ba). This is the rotation angle of the analyzer 311a that actually matches.
Here, the angle at which the monitor illuminance count value is minimum is the parameter B obtained by the curve fitting described above, and includes a predetermined deviation angle θb with respect to the set reference value θa (B = θa + θb). Therefore, the control unit 34 outputs the actual polarization axis angle (direction of the transmission axes of the polarizers 13Aa and 13Ba) based on the angle (θa + θb).

検光子311aの回転角度は、上述したように、基準位置P0に対する角度θによって規定されている。そこで、偏光軸角度が、検光子311aと同様に基準位置P0に対する角度によって規定されている場合には、制御部34は、角度(θa+θb)から90°を差し引いた角度を実際の偏光軸角度として出力する。また、偏光軸角度が、基準位置P0から90°ずれた位置に対する角度によって規定されている場合には、制御部34は、角度(θa+θb)をそのまま実際の偏光軸角度として出力する。   As described above, the rotation angle of the analyzer 311a is defined by the angle θ with respect to the reference position P0. Therefore, when the polarization axis angle is defined by the angle with respect to the reference position P0 similarly to the analyzer 311a, the control unit 34 sets the angle obtained by subtracting 90 ° from the angle (θa + θb) as the actual polarization axis angle. Output. Further, when the polarization axis angle is defined by an angle with respect to a position shifted by 90 ° from the reference position P0, the control unit 34 outputs the angle (θa + θb) as it is as an actual polarization axis angle.

次にステップS6で、制御部34は、前記ステップS5で算出した、モニタ照度カウント値が最小となる角度(θa+θb)まで検光子311aを回転し、ステップS7に移行する。
ステップS7では、制御部34は、第一の照度センサ311bから検出照度値Cdを取得し(図10の測定点e)、これを偏光光の最小照度としてステップS8に移行する。
ステップS8では、制御部34は、前記ステップS5で算出した、モニタ照度カウント値が最小となる角度(θa+θb−90°)まで検光子311aを回転し、ステップS9に移行する。
Next, in step S6, the control unit 34 rotates the analyzer 311a to the angle (θa + θb) calculated in step S5 so that the monitor illuminance count value is minimum, and the process proceeds to step S7.
In step S7, the control unit 34 acquires the detected illuminance value Cd from the first illuminance sensor 311b (measurement point e in FIG. 10), and proceeds to step S8 with this as the minimum illuminance of polarized light.
In step S8, the control unit 34 rotates the analyzer 311a up to the angle (θa + θb−90 °) at which the monitor illuminance count value calculated in step S5 is minimized, and proceeds to step S9.

ステップS9では、制御部34は、第一の照度センサ311bから検出照度値Cdを取得し(図10の測定点f)、これを偏光光の最大照度としてステップS10に移行する。
ステップS10では、制御部34は、前記ステップS7で取得した最小照度と、前記ステップS9で取得した最大照度との比(最大照度/最小照度)に基づいて消光比を算出する。
ステップS11では、制御部34は、画像表示部34dからモニタ35に対して、前記ステップS5で演算した偏光軸角度と前記ステップS10で演算した消光比とを出力する。これにより、モニタ35に偏光特性の測定結果が表示される。
In step S9, the control unit 34 acquires the detected illuminance value Cd from the first illuminance sensor 311b (measurement point f in FIG. 10), and proceeds to step S10 using this as the maximum illuminance of the polarized light.
In step S10, the control unit 34 calculates the extinction ratio based on the ratio (maximum illuminance / minimum illuminance) between the minimum illuminance acquired in step S7 and the maximum illuminance acquired in step S9.
In step S11, the control unit 34 outputs the polarization axis angle calculated in step S5 and the extinction ratio calculated in step S10 from the image display unit 34d to the monitor 35. As a result, the measurement result of the polarization characteristic is displayed on the monitor 35.

次に、本実施形態の動作及び効果について説明する。
先ず、制御部34は、X方向搬送部32及びY方向搬送部33を駆動制御し、偏光光検出器31を、偏光子ユニット13Aの複数の偏光子13AaのうちY方向の最端に位置する偏光子13Aaの直下に配置する。このように、制御部34は、偏光光検出器31を、偏光特性の測定対象である偏光子13Aaを通過した偏光光の照射領域に配置する。
設定基準値θa=120°である場合、検光子311aがθ=120°であるときに、第一の照度センサ311bが検出する偏光光の照度が最小となるはずである。そのため、はじめに、制御部34は、ロータリアクチュエータ311dを駆動制御して、検光子311aをθ=θa−20°=100°となるように回転する。
Next, the operation and effect of this embodiment will be described.
First, the control unit 34 drives and controls the X-direction transport unit 32 and the Y-direction transport unit 33, and the polarized light detector 31 is positioned at the extreme end in the Y direction among the plurality of polarizers 13Aa of the polarizer unit 13A. It arrange | positions directly under polarizer 13Aa. As described above, the control unit 34 arranges the polarized light detector 31 in the irradiation region of the polarized light that has passed through the polarizer 13Aa, which is a measurement target of the polarization characteristics.
When the setting reference value θa = 120 °, the illuminance of the polarized light detected by the first illuminance sensor 311b should be minimized when the analyzer 311a is θ = 120 °. Therefore, first, the control unit 34 drives and controls the rotary actuator 311d to rotate the analyzer 311a so that θ = θa−20 ° = 100 °.

そして、この状態で、第一の照度センサ311bと第二の照度センサ312aとで、同時に偏光光の照度を測定し、制御部34はこれら2つのセンサで測定した照度情報を取得する。すなわち、制御部34は、第一の照度センサ311bから、検光子311aを通過した偏光光の照度情報である検出照度値Cdを取得し、第二の照度センサ312aから、検光子311aを通過しない偏光光の照度情報である参照照度値Crを取得する。
次に、制御部34は、ロータリアクチュエータ311dを駆動制御し、検光子311aをθ=100°の位置からθ=110°となるように回転する。そして、その位置で、制御部34は、第一の照度センサ311bと第二の照度センサ312aとで測定した検出照度値Cdと参照照度値Crとを取得する。
その後は、制御部34は、検光子311aをθ=130°とθ=140°とにそれぞれ回転し、同様に第一の照度センサ311bと第二の照度センサ312aとで測定した検出照度値Cdと参照照度値Crとを取得する。
In this state, the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a simultaneously measure the illuminance of the polarized light, and the control unit 34 acquires the illuminance information measured by these two sensors. That is, the control unit 34 acquires a detected illuminance value Cd that is illuminance information of polarized light that has passed through the analyzer 311a from the first illuminance sensor 311b, and does not pass through the analyzer 311a from the second illuminance sensor 312a. A reference illuminance value Cr that is illuminance information of polarized light is acquired.
Next, the control unit 34 drives and controls the rotary actuator 311d to rotate the analyzer 311a from the position θ = 100 ° so that θ = 110 °. Then, at that position, the control unit 34 acquires the detected illuminance value Cd and the reference illuminance value Cr measured by the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a.
Thereafter, the control unit 34 rotates the analyzer 311a to θ = 130 ° and θ = 140 °, respectively, and similarly detects the detected illuminance value Cd measured by the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a. And the reference illuminance value Cr.

そして、制御部34は、各角度位置で得られた検出照度値Cdと参照照度値Crとに基づいて、図10に示すような角度特性を算出する。
検出照度値Cdは、検光子311aを通過した偏光光の照度値であるため、偏光子13Aaの透過軸と検光子311aの透過軸とのなす角に応じて値が変動する。したがって、検光子311aの回転角度θを変化させながら検出照度値Cdの変動を監視することで、検光子311aの回転角度と検光子311aを通過した偏光光の照度情報との関係を示す角度特性を算出することができる。
Then, the control unit 34 calculates an angle characteristic as shown in FIG. 10 based on the detected illuminance value Cd and the reference illuminance value Cr obtained at each angular position.
Since the detected illuminance value Cd is the illuminance value of the polarized light that has passed through the analyzer 311a, the value varies depending on the angle formed by the transmission axis of the polarizer 13Aa and the transmission axis of the analyzer 311a. Therefore, by monitoring the fluctuation of the detected illuminance value Cd while changing the rotation angle θ of the analyzer 311a, an angle characteristic indicating the relationship between the rotation angle of the analyzer 311a and the illuminance information of the polarized light that has passed through the analyzer 311a. Can be calculated.

しかしながら、光源である放電ランプ11は、アークの揺らぎにより光量が時々刻々と変化しており、検光子311aの回転角度θを変化している間に放電ランプ11からの放射光の光量が変化するといった現象が生じる。
そのため、この放電ランプのアークの揺らぎを考慮せず、検出照度値Cdをそのまま用いて角度特性を算出すると、放電ランプ11から照射される光の時間ごとの照度変動による誤差を含んだ角度特性が算出されてしまい、偏光測定精度が著しく低下する。
そこで、本実施形態では、第一の照度センサ311bで検光子311aを介した光照射部からの偏光光の照度を測定し、これに同期して、第二の照度センサ312aで検光子311aを介さない光照射部からの偏光光の照度を測定する。つまり、両者で同じアークの揺らぎを見ることにより、第二の照度センサ312aで得られた参照照度値Crを、第一の照度センサ311bで得られた検出照度値Cdの基準値として用いるようにする。
However, the amount of light emitted from the discharge lamp 11 as the light source changes every moment due to the fluctuation of the arc, and the amount of light emitted from the discharge lamp 11 changes while the rotation angle θ of the analyzer 311a is changed. Such a phenomenon occurs.
Therefore, when the angle characteristic is calculated using the detected illuminance value Cd as it is without considering the arc fluctuation of the discharge lamp, the angular characteristic including an error due to the illuminance fluctuation of the light emitted from the discharge lamp 11 for each time is obtained. As a result, the accuracy of polarization measurement is significantly reduced.
Therefore, in the present embodiment, the illuminance of the polarized light from the light irradiation unit via the analyzer 311a is measured by the first illuminance sensor 311b, and the analyzer 311a is synchronized by the second illuminance sensor 311a. The illuminance of the polarized light from the light irradiation unit that is not interposed is measured. That is, the reference illuminance value Cr obtained by the second illuminance sensor 312a is used as a reference value of the detected illuminance value Cd obtained by the first illuminance sensor 311b by seeing the same arc fluctuation in both. To do.

制御部34は、第一の照度センサ311bから得られた検出照度値Cdを、第二の照度センサ312aから得られた参照照度値Crで除算することで、検出照度値Cdに含まれるアークの揺らぎに起因する照度変動による誤差を補正する。そして、補正後の照度値(補正後照度値Cc)をもとにカーブフィッティングの手法を用いて図10に示すような角度特性Fを算出する。
上述したように、同時に測定した検出照度値Cd及び参照照度値Crは、アークの揺らぎ条件が同じである。したがって、補正後照度値Ccを用いることで、検光子311aを回転させているうちにアークが変化していたとしても精度良く角度特性を算出することができる。
制御部34は、図10に示すような角度特性Fを算出すると、当該角度特性Fに基づいて偏光軸角度を算出する。具体的には、角度特性Fをもとに、検光子311aを通過した偏光光の照度が最小となる検光子311aの回転角度(θa+θb)を特定し、これをもとに実際の偏光軸角度を出力する。
The control unit 34 divides the detected illuminance value Cd obtained from the first illuminance sensor 311b by the reference illuminance value Cr obtained from the second illuminance sensor 312a, so that the arc included in the detected illuminance value Cd. It corrects errors due to illuminance fluctuations caused by fluctuations. Then, an angle characteristic F as shown in FIG. 10 is calculated using a curve fitting method based on the corrected illuminance value (corrected illuminance value Cc).
As described above, the detected illuminance value Cd and the reference illuminance value Cr measured simultaneously have the same arc fluctuation conditions. Therefore, by using the corrected illuminance value Cc, even if the arc changes while the analyzer 311a is rotated, the angle characteristic can be calculated with high accuracy.
When calculating the angle characteristic F as shown in FIG. 10, the control unit 34 calculates the polarization axis angle based on the angle characteristic F. Specifically, the rotation angle (θa + θb) of the analyzer 311a that minimizes the illuminance of the polarized light that has passed through the analyzer 311a is specified based on the angle characteristic F, and the actual polarization axis angle is based on this. Is output.

次に、制御部34は、角度特性Fを用いて、偏光光の消光比を算出する。先ず、制御部34は、偏光光の最小照度を検出するために、ロータリアクチュエータ311dを駆動制御して検光子311aをθ=(θa+θb)に回転する。その状態で、制御部34は、第一の照度センサ311bから最小照度値である検出照度値Cdを取得する(図10の測定点e)。
続いて、制御部34は、偏光光の最大照度を検出するために、ロータリアクチュエータ311dを駆動制御して検光子311aをθ=(θa+θb−90°)に回転する。その状態で、制御部34は、第一の照度センサ311bから最大照度値である検出照度値Cdを取得する(図10の測定点f)。
そして、制御部34は、最小照度値と最大照度値との比(最大照度値/最小照度値)に基づいて消光比を算出する。
Next, the control unit 34 calculates the extinction ratio of the polarized light using the angle characteristic F. First, the control unit 34 drives and controls the rotary actuator 311d to rotate the analyzer 311a to θ = (θa + θb) in order to detect the minimum illuminance of the polarized light. In this state, the control unit 34 acquires the detected illuminance value Cd that is the minimum illuminance value from the first illuminance sensor 311b (measurement point e in FIG. 10).
Subsequently, in order to detect the maximum illuminance of the polarized light, the control unit 34 drives and controls the rotary actuator 311d to rotate the analyzer 311a to θ = (θa + θb−90 °). In this state, the control unit 34 acquires the detected illuminance value Cd that is the maximum illuminance value from the first illuminance sensor 311b (measurement point f in FIG. 10).
Then, the control unit 34 calculates the extinction ratio based on the ratio between the minimum illuminance value and the maximum illuminance value (maximum illuminance value / minimum illuminance value).

以上により、偏光子ユニット13Aの複数の偏光子13AaのうちY方向の最端に位置する偏光子13Aaを通過した偏光光の偏光特性が得られる。次に、制御部34は、Y方向搬送部33を駆動制御し、偏光光検出器31を直前に偏光特性を測定した偏光子13Aaに隣接する偏光子13Aaの真下に配置する。このように、偏光特性の測定対象を順次切り替えて偏光特性を測定する。
偏光子ユニット13Aのすべての偏光子13Aaに対する偏光特性測定が完了すると、制御部34は、X方向搬送部33及びY方向搬送部33を駆動制御し、偏光光検出器31を、偏光子ユニット13Bの複数の偏光子13BaのうちY方向の最端に位置する偏光子13Baの真下に配置する。そして、偏光子ユニット13Aの場合と同様に、各偏光子13Baに対してそれぞれ偏光特性を測定する。
As described above, the polarization characteristic of the polarized light that has passed through the polarizer 13Aa located at the extreme end in the Y direction among the plurality of polarizers 13Aa of the polarizer unit 13A can be obtained. Next, the control unit 34 drives and controls the Y-direction transport unit 33 and arranges the polarized light detector 31 immediately below the polarizer 13Aa adjacent to the polarizer 13Aa whose polarization characteristics were measured immediately before. In this way, the polarization characteristics are measured by sequentially switching the measurement target of the polarization characteristics.
When the polarization characteristic measurement for all the polarizers 13Aa of the polarizer unit 13A is completed, the control unit 34 drives and controls the X-direction transport unit 33 and the Y-direction transport unit 33, and the polarization photodetector 31 is connected to the polarizer unit 13B. Among the plurality of polarizers 13Ba, the polarizer 13Ba is disposed immediately below the polarizer 13Ba located at the extreme end in the Y direction. Then, similarly to the case of the polarizer unit 13A, the polarization characteristic is measured for each polarizer 13Ba.

定点において、以上のように検出照度値Cdと参照照度値Crとを検出し、参照照度値Crを検出照度値Cdで補正したデータをもとに偏光軸角度を測定した結果を図11のαに示す。ここで、図11の縦軸は偏光軸角度、横軸は偏光軸角度の測定回数である。実験結果αに示すように、本実施形態では、測定された偏光軸角度にほとんどばらつきがなく、標準偏差3σは0.004であった。すなわち、測定された偏光軸角度は、±0.004°という極めてばらつきの少ない範囲に99.7%が含まれるということである。
比較例として、本実施形態のように参照照度値Crによる補正を行わず、検出照度値Cdのみを用いて偏光軸角度を測定した。その結果を図11のβに示す。
実験結果βに示すように、比較例では常に測定結果が変動しており、時折強い突出値も散見される。これは、検光子311aを回転させて角度の異なる4点で偏光光を測定している間にアークの揺らぎが生じ、偏光軸角度を安定して測定できないためである。このように、アークの揺らぎによって測定結果がばらつくことが視覚的にも理解できる。
At a fixed point, the detected illuminance value Cd and the reference illuminance value Cr are detected as described above, and the polarization axis angle is measured based on the data obtained by correcting the reference illuminance value Cr with the detected illuminance value Cd. Shown in Here, the vertical axis in FIG. 11 is the number of measurements of the polarization axis angle, and the horizontal axis is the number of measurements of the polarization axis angle. As shown in the experimental result α, in the present embodiment, the measured polarization axis angle has almost no variation, and the standard deviation 3σ is 0.004. That is, the measured polarization axis angle is 99.7% within a range with very little variation of ± 0.004 °.
As a comparative example, the polarization axis angle was measured using only the detected illuminance value Cd without performing correction using the reference illuminance value Cr as in the present embodiment. The result is shown by β in FIG.
As shown in the experimental result β, in the comparative example, the measurement result always fluctuates, and occasionally a strong protruding value is occasionally observed. This is because arc fluctuation occurs while the analyzer 311a is rotated and polarized light is measured at four points with different angles, and the polarization axis angle cannot be measured stably. Thus, it can be visually understood that the measurement results vary due to the fluctuation of the arc.

また、比較例の測定結果を統計した結果、測定された偏光軸角度の標準偏差3σは0.035であった。すなわち、測定された偏光軸角度は、±0.035°というばらつきを持つということである。
偏光光照射装置100においては、光配光処理の要求精度の観点から、偏光軸角度を設定値に対して±0.05°以内に調整することが望ましい。すなわち、偏光測定の要求精度は±0.01°程度であることが望ましい。しかしながら、上記比較例では、偏光測定の要求精度を満たすことはできない。
Moreover, as a result of statistically measuring the measurement result of the comparative example, the standard deviation 3σ of the measured polarization axis angle was 0.035. That is, the measured polarization axis angle has a variation of ± 0.035 °.
In the polarized light irradiation device 100, it is desirable to adjust the polarization axis angle within ± 0.05 ° with respect to the set value from the viewpoint of the required accuracy of the light distribution process. That is, it is desirable that the required accuracy of polarization measurement is about ± 0.01 °. However, the above comparative example cannot satisfy the required accuracy of polarization measurement.

本実施形態では、検光子を有する第一の偏光光検出部311とは別に、検光子を介さずに直接偏光光を検出する第二の偏光光検出部312を備え、第一の偏光光検出部311と第二の偏光光検出部312とで、同時に同じ偏光光を検出する。
したがって、第二の偏光光検出部312で検出した照度情報を偏光光の基準照度情報とし、第一の偏光光検出部311で検出した照度情報に含まれる放電ランプ11のアークの揺らぎに起因する時間ごとの照度変動による誤差を補正することができる。そのため、第一の偏光光検出部311の検光子311aを回転させたときの検出光の照度の周期的な変化を示す角度特性を精度良く算出することができ、偏光軸角度及び消光比を精度良く算出することができる。
In this embodiment, in addition to the first polarized light detection unit 311 having an analyzer, a second polarized light detection unit 312 that directly detects polarized light without going through the analyzer is provided, and the first polarized light detection is performed. The unit 311 and the second polarized light detection unit 312 simultaneously detect the same polarized light.
Therefore, the illuminance information detected by the second polarized light detection unit 312 is used as the reference illuminance information of the polarized light, resulting from the fluctuation of the arc of the discharge lamp 11 included in the illuminance information detected by the first polarized light detection unit 311. Errors due to illuminance fluctuations over time can be corrected. Therefore, it is possible to accurately calculate the angle characteristic indicating the periodic change in the illuminance of the detection light when the analyzer 311a of the first polarized light detection unit 311 is rotated, and to accurately calculate the polarization axis angle and the extinction ratio. It can be calculated well.

また、第一の偏光光検出部311と第二の偏光光検出部312とは、放電ランプ11の長手方向に並べて配置する。このように、放電ランプ11の照度変化が少ない方向に並べて配置するので、場所ごとの依存性を少なくすることができ、信頼性のある測定結果が得られる。
特に、光源として2灯式以上のランプを適用した場合、第一の偏光光検出部311と第二の偏光光検出部312とがランプの管径方向に並べて配置されていると、測定対象のランプに隣接するランプから放射される光の影響を受け易くなってしまい、信頼性のある測定結果が得られない。本実施形態では、第一の偏光光検出部311と第二の偏光光検出部312とを放電ランプ11の長手方向に並べて配置するため、光源として2灯式以上のランプを適用した場合であっても、信頼性のある測定結果を得ることができる。
Further, the first polarized light detection unit 311 and the second polarized light detection unit 312 are arranged side by side in the longitudinal direction of the discharge lamp 11. As described above, since the discharge lamps 11 are arranged side by side in a direction in which the change in illuminance is small, the dependence on each place can be reduced, and a reliable measurement result can be obtained.
In particular, when two or more lamps are used as the light source, if the first polarized light detection unit 311 and the second polarized light detection unit 312 are arranged side by side in the tube diameter direction of the lamp, It becomes susceptible to the light emitted from the lamp adjacent to the lamp, and a reliable measurement result cannot be obtained. In the present embodiment, since the first polarized light detection unit 311 and the second polarized light detection unit 312 are arranged side by side in the longitudinal direction of the discharge lamp 11, two or more lamps are used as the light source. Even with this, a reliable measurement result can be obtained.

さらに、第一の偏光光検出部311と第二の偏光光検出部312とは、放電ランプ11の直下に配置された状態で使用され、熱的な条件が厳しい。例えば、検光子311aを保持する保持部材をアルミ等で形成した場合、放電ランプ11より放射される紫外光(熱)の影響により当該保持部材が熱膨張し、検光子311aと受光部311cとの相対位置がずれ、受光部311cで検出する光の照度が変化するおそれがある。
本実施形態では、第一の偏光光検出部311と第二の偏光光検出部312とに、それぞれ第一の照度センサ311b、第二の照度センサ312aを冷却するための冷却機構を設けるので、安定して偏光光を検出することができる。
Furthermore, the first polarized light detection unit 311 and the second polarized light detection unit 312 are used in a state of being disposed immediately below the discharge lamp 11, and the thermal conditions are severe. For example, when the holding member that holds the analyzer 311a is formed of aluminum or the like, the holding member thermally expands due to the influence of ultraviolet light (heat) emitted from the discharge lamp 11, and the analyzer 311a and the light receiving unit 311c There is a possibility that the relative position shifts and the illuminance of light detected by the light receiving unit 311c changes.
In the present embodiment, the first polarized light detector 311 and the second polarized light detector 312 are provided with cooling mechanisms for cooling the first illuminance sensor 311b and the second illuminance sensor 312a, respectively. Polarized light can be detected stably.

また、第二の偏光光検出部312で検出した照度情報(参照照度値Cr)をもとに、第一の偏光光検出部311で検出した照度情報(検出照度値Cd)を補正する際、検出照度値Cdを参照照度値Crで除算することで、放電ランプ11のアークの揺らぎに起因する時間ごとの照度変動による誤差を補正した補正後照度値Ccを算出する。このように、比較的簡易な手法で、上記誤差を補正することができる。
さらに、偏光光の測定点は、第一の偏光光検出部311の検光子311aを回転させたときの検出光の照度が最小となるよう設定された設定基準値θaを跨いた所定の回転角度範囲内の4点とする。そして、これら4点の測定点での照度情報に基づいて、第一の偏光光検出部311の検光子311aを回転させたときの検出光の照度の周期的な変化を示す角度特性を算出する。
このように、検出光の照度が最小となる角度の近傍で測定した照度情報を角度特性の算出に用いるため、ノイズ成分の影響を抑えた角度特性を算出することができる。
When correcting the illuminance information (detected illuminance value Cd) detected by the first polarized light detector 311 based on the illuminance information (reference illuminance value Cr) detected by the second polarized light detector 312, By dividing the detected illuminance value Cd by the reference illuminance value Cr, a corrected illuminance value Cc that corrects an error due to illuminance fluctuation for each hour caused by the fluctuation of the arc of the discharge lamp 11 is calculated. Thus, the error can be corrected by a relatively simple method.
Furthermore, the measurement point of the polarized light is a predetermined rotation angle across the set reference value θa set so that the illuminance of the detection light is minimized when the analyzer 311a of the first polarized light detection unit 311 is rotated. 4 points within the range. Then, based on the illuminance information at these four measurement points, an angle characteristic indicating a periodic change in the illuminance of the detection light when the analyzer 311a of the first polarized light detection unit 311 is rotated is calculated. .
As described above, since the illuminance information measured in the vicinity of the angle at which the illuminance of the detection light is minimized is used for the calculation of the angle characteristic, the angle characteristic with the influence of the noise component suppressed can be calculated.

また、光照射部10A,10Bからの偏光光を直接検出する第二の偏光光検出部を設けるため、偏光光の偏光軸角度及び消光比を測定しながら、偏光光の照度を測定することもできる。このように、偏光光の偏光特性の測定と偏光光の照度の測定とを同時に行うことができ、効率が良い。
以上のように、本実施形態では、時間ごとの照度変動を有する光源を用いた場合であっても、当該照度変動の影響を受けずに偏光光の偏光軸角度及び消光比を簡便かつ高精度に測定することができる。
したがって、光照射部から照射される偏光光の偏光軸が所望の偏光軸となっているかどうか等を適切に判断することができる。そして、所望の偏光軸となっていない場合には、所望の偏光軸とするべく光照射部の偏光子の配置角度を調整する等の処理が可能であり、適切な光配向処理を行うことができる。
In addition, since the second polarized light detection unit that directly detects the polarized light from the light irradiation units 10A and 10B is provided, the illuminance of the polarized light can be measured while measuring the polarization axis angle and the extinction ratio of the polarized light. it can. Thus, the measurement of the polarization characteristics of the polarized light and the measurement of the illuminance of the polarized light can be performed at the same time, which is efficient.
As described above, in the present embodiment, the polarization axis angle and the extinction ratio of the polarized light are simply and highly accurate without being affected by the illuminance fluctuation, even when a light source having illuminance fluctuation every hour is used. Can be measured.
Therefore, it is possible to appropriately determine whether or not the polarization axis of the polarized light emitted from the light irradiation unit is a desired polarization axis. If the desired polarization axis is not obtained, it is possible to perform processing such as adjusting the arrangement angle of the polarizer of the light irradiation unit so as to obtain the desired polarization axis, and performing appropriate photo-alignment processing. it can.

(変形例)
上記実施形態においては、検出照度値Cdを参照照度値Crで除算することで補正後照度値Ccを算出する場合について説明したが、例えば、別の方式を適用することもできる。
以下、別の方式として、減算と平均値とを用いて補正する方式について説明する。
先ず、θ=θa±20°、θ=θa±10°の計4点で、第一の偏光光検出部311及び第二の偏光光検出部312は検出照度値Cd及び参照照度値Crをそれぞれ測定する。ここで、各指定角度で測定した検出照度値CdをCd1,Cd2,Cd3,Cd4とし、各指定角度で測定した参照照度値CrをCr1,Cr2,Cr3,Cr4とする。
そして、制御部34は、各指定角度で測定した参照照度値Cr1〜Cr4の平均値Craを算出し、検出照度値Cdnから平均値Craと参照照度値Crnとの差分を差し引いた値を補正後照度値Ccとして算出する。すなわち、補正後照度値Ccは、Cc1=Cd1−(Cra−Cr1)、Cc2=Cd2−(Cra−Cr2)、Cc3=Cd3−(Cra−Cr3)、Cc4=Cd4−(Cra−Cr4)である。
(Modification)
In the above embodiment, the case where the corrected illuminance value Cc is calculated by dividing the detected illuminance value Cd by the reference illuminance value Cr has been described. However, for example, another method may be applied.
Hereinafter, as another method, a method of correcting using subtraction and an average value will be described.
First, at a total of four points of θ = θa ± 20 ° and θ = θa ± 10 °, the first polarized light detection unit 311 and the second polarized light detection unit 312 respectively detect the detected illuminance value Cd and the reference illuminance value Cr. taking measurement. Here, the detected illuminance value Cd measured at each specified angle is Cd1, Cd2, Cd3, Cd4, and the reference illuminance value Cr measured at each specified angle is Cr1, Cr2, Cr3, Cr4.
Then, the control unit 34 calculates the average value Cra of the reference illuminance values Cr1 to Cr4 measured at each specified angle, and corrects the value obtained by subtracting the difference between the average value Cra and the reference illuminance value Crn from the detected illuminance value Cdn. Calculated as the illuminance value Cc. That is, the corrected illuminance value Cc is Cc1 = Cd1- (Cra-Cr1), Cc2 = Cd2- (Cra-Cr2), Cc3 = Cd3- (Cra-Cr3), Cc4 = Cd4- (Cra-Cr4). .

以降の処理は、図9のステップS5以降の処理と同様である。すなわち、制御部34は、補正後照度値Cc1〜Cc4をもとに、最小二乗法およびニュートン法によりカーブフィッティングを行ってフィッティング関数Acos2(θ+B)+Cの定数A,B,Cを求める。制御部34は、このようにして偏光光角度特性を算出する。
この場合にも、検出照度値Cdに含まれる放電ランプ11のアークの揺らぎに起因する時間ごとの照度変動による誤差を補正した照度値をもとに、偏光光角度特性を求めることができ、精度良く偏光軸角度及び消光比を測定することができる。
The subsequent processing is the same as the processing after step S5 in FIG. That is, the control unit 34 performs curve fitting by the least square method and the Newton method based on the corrected illuminance values Cc1 to Cc4, and obtains constants A, B, and C of the fitting function Acos 2 (θ + B) + C. In this way, the control unit 34 calculates the polarization light angle characteristic.
Also in this case, the polarization light angle characteristic can be obtained based on the illuminance value obtained by correcting the error due to the illuminance fluctuation for each hour caused by the fluctuation of the arc of the discharge lamp 11 included in the detected illuminance value Cd. The polarization axis angle and extinction ratio can be measured well.

さらに、上記実施形態においては、θ=θa±20°とθ=θa±10°とでそれぞれ1回ずつ計4回、第一の偏光光検出部311で照度を測定する場合について説明したが、測定回数は許容測定時間に応じて適宜設定可能である。最小二乗法による算出は測定点が3点でも行うことができるため、測定回数は3回であってもよい。4点測定した場合は、3点の組み合わせを4つ用いて、それぞれについて角度特性を算出するなどにより、測定結果の精度を高めるようにしてもよい。また、当然、測定回数は5回以上であってもよい。   Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the first polarized light detector 311 measures the illuminance has been described, with θ = θa ± 20 ° and θ = θa ± 10 °, each once for a total of four times. The number of measurements can be appropriately set according to the allowable measurement time. Since the calculation by the least square method can be performed even with three measurement points, the number of measurements may be three. When four points are measured, the accuracy of the measurement results may be increased by using four combinations of three points and calculating the angle characteristics for each. Of course, the number of measurements may be five or more.

また、上記実施形態では、照度測定に際し、10°刻みで検光子311aを回転する場合について説明したが、刻み角度も適宜設定可能である。
さらに、上記実施形態においては、偏光測定位置を各偏光子13Aa,13Baの中央の1箇所のみに設定する場合について説明したが、1枚の偏光子内で偏光軸角度のばらつきがあることを考慮して、各偏光子に対して偏光測定位置を複数箇所設定することもできる。この場合、各偏光測定位置における測定結果を加重平均するなどにより、最終的な偏光特性を算出すればよい。
Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the analyzer 311a was rotated by 10 degree increments in the case of illuminance measurement, a step angle can also be set suitably.
Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the polarization measurement position is set to only one central position of each polarizer 13Aa, 13Ba has been described, but it is considered that there is variation in the polarization axis angle within one polarizer. Thus, a plurality of polarization measurement positions can be set for each polarizer. In this case, the final polarization characteristic may be calculated by, for example, weighted averaging the measurement results at each polarization measurement position.

また、上記実施形態においては、偏光測定装置30で測定した偏光軸角度をもとに、偏光子13Aaや偏光子13Baの偏光軸角度が所望の偏光軸角度となるよう、偏光子13Aaや偏光子13Baの角度を自動的に調整する機構を設けてもよい。なお、偏光子13Aaや偏光子13Baの角度調整は、作業者が手動で行ってもよい。
さらに、上記実施形態においては、第一の照度センサ311bの受光部311cを、支持部材311dによって偏光軸検出器31の筐体に固定する場合について説明したが、受光部311cは検光子311aと共に回転可能な構成であってもよい。ただし、照度を安定して測定するためには、上記実施形態のように受光部311cを固定し、検光子311aと受光部311cとを相対的に回転させる構成であることが好ましい。
また、上記実施形態においては、光源として2灯式の放電ランプ11を適用する場合について説明したが、1灯式であってもよいし、3灯式以上であってもよい。
さらにまた、上記実施形態においては、ワークWとして光配向膜が形成された液晶パネルを用いる場合について説明したが、例えば、視野角補償フィルムのような、ロールに巻かれた長尺帯状のワークであってもよい。
Moreover, in the said embodiment, based on the polarization axis angle measured with the polarimetry apparatus 30, polarizer 13Aa and polarizer so that the polarization axis angle of polarizer 13Aa and polarizer 13Ba may become a desired polarization axis angle. A mechanism for automatically adjusting the angle of 13Ba may be provided. The angle adjustment of the polarizer 13Aa and the polarizer 13Ba may be manually performed by an operator.
Further, in the above embodiment, the case where the light receiving unit 311c of the first illuminance sensor 311b is fixed to the casing of the polarization axis detector 31 by the support member 311d has been described. However, the light receiving unit 311c rotates together with the analyzer 311a. A possible configuration may be used. However, in order to stably measure the illuminance, it is preferable that the light receiving unit 311c is fixed and the analyzer 311a and the light receiving unit 311c are relatively rotated as in the above embodiment.
Moreover, in the said embodiment, although the case where the 2 lamp type discharge lamp 11 was applied as a light source was demonstrated, a 1 lamp type may be sufficient and a 3 lamp type or more may be sufficient.
Furthermore, in the above embodiment, the case where a liquid crystal panel on which a photo-alignment film is formed is used as the work W has been described. However, for example, a long strip-shaped work wound around a roll such as a viewing angle compensation film. There may be.

10A,10B…光照射部、11…放電ランプ、12…ミラー、13A,13B…偏光子ユニット、13Aa,13Ba…偏光子、13Ab,13Bb…フレーム、14…ランプハウス、20…搬送部、21…ワークステージ、22…ガイド、23…電磁石、30…偏光測定装置、31…偏光軸検出器、311…第一の偏光光検出部、311a…検出用偏光子(検光子)、311b…第一の照度センサ、311c…受光部、311d…支持部材、311e…ロータリアクチュエータ、311f…回転子、311g…開口部、311h…冷気供給部、312…第二の偏光光検出部、312a…第二の照度センサ、312b…受光部、312c…支持部材、312d…開口部、312e…32…X方向搬送部、33…Y方向搬送部、34…制御部、34a…回転子制御部、34b…入力信号変換部、34c…偏光特性演算部、34d…画像表示部、34e…搬送制御部、35…モニタ、100…偏光光照射装置   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10A, 10B ... Light irradiation part, 11 ... Discharge lamp, 12 ... Mirror, 13A, 13B ... Polarizer unit, 13Aa, 13Ba ... Polarizer, 13Ab, 13Bb ... Frame, 14 ... Lamp house, 20 ... Conveyance part, 21 ... Work stage, 22 ... guide, 23 ... electromagnet, 30 ... polarization measuring device, 31 ... polarization axis detector, 311 ... first polarized light detector, 311a ... detection polarizer (analyzer), 311b ... first Illuminance sensor, 311c ... light receiving unit, 311d ... support member, 311e ... rotary actuator, 311f ... rotor, 311g ... opening, 311h ... cold air supply unit, 312 ... second polarized light detection unit, 312a ... second illuminance Sensor, 312b ... Light receiving part, 312c ... Support member, 312d ... Opening part, 312e ... 32 ... X direction transport part, 33 ... Y direction transport part, 34 ... Control part 34a ... rotator controller, 34b ... input signal converting unit, 34c ... polarization characteristics calculating unit, 34d ... image display unit, 34e ... conveyance control unit, 35 ... monitor, 100 ... polarized irradiation device

Claims (1)

配向膜に偏光光を照射して光配向を行う偏光光照射装置であって、
ングアーク型放電ランプと、当該ロングアーク型放電ランプの延在する方向に沿って配設された複数の偏光子とを有し、前記ロングアーク型放電ランプから放射された光を前記偏光子によって偏光した偏光光を照射する光照射部と、
前記光照射部が照射する偏光光の偏光軸を測定する偏光測定装置と、を備え、
前記偏光測定装置は、
前記偏光軸を検出するための回転可能な検出用偏光子と、
前記検出用偏光子を通過した偏光光の照度情報を検出する第一の照度センサと、
前記ロングアーク型放電ランプからの偏光光の照度情報を直接検出する第二の照度センサと、を有する偏光軸検出器と、
前記偏光軸検出器を、前記偏光子の直下を前記ロングアーク放電ランプの延在する方向に搬送する搬送部と、を備え、
前記第一の照度センサと前記第二の照度センサとは、前記ロングアーク型放電ランプの延在する方向に沿って並んで配設されていることを特徴とする偏光光照射装置。
A polarized light irradiation apparatus that performs photo-alignment by irradiating polarized light to an alignment film,
And b Nguaku type discharge lamp, and a the long arc type discharge lamp plurality of polarizers disposed along the direction of extension of the light emitted from the long arc type discharge lamp by the polarizer A light irradiation unit for irradiating polarized polarized light;
A polarization measuring device that measures a polarization axis of polarized light emitted by the light irradiation unit, and
The polarization measuring device includes:
A rotatable detection polarizer for detecting the polarization axis;
A first illuminance sensor that detects illuminance information of polarized light that has passed through the detection polarizer;
And the polarization axis detector have a, a second illuminance sensor for detecting illuminance information directly polarized light from the long arc type discharge lamp,
A transport unit that transports the polarization axis detector in a direction in which the long arc discharge lamp extends immediately below the polarizer;
Said 1st illumination intensity sensor and said 2nd illumination intensity sensor are arrange | positioned along with the direction where the said long arc type discharge lamp is extended, The polarized light irradiation apparatus characterized by the above-mentioned.
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