JP6187235B2 - 法線ベクトル抽出装置、法線ベクトル抽出方法及び法線ベクトル抽出プログラム - Google Patents
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Description
図1は、法線ベクトル抽出装置10のブロック図の一例である。
法線ベクトル抽出装置10は、画像取得部11、法線ベクトル算出部12、法線ベクトル記憶部13、サブセット算出部14、サブセット記憶部15、分散評価部16及び法線ベクトル抽出部17を含んでいる。法線ベクトル抽出装置10は、例えば被写体の表面形状を測定する測定装置に含まれる。
出力I/F10gには、表示装置22が接続される。表示装置22としては、例えば液晶ディスプレイがある。
入出力I/F10hには、半導体メモリ23が接続される。半導体メモリ23としては、例えばUniversal Serial Bus(USB)メモリやフラッシュメモリなどがある。入出力I/F10hは、半導体メモリ23に記憶されたプログラムやデータを読み取る。
入力I/F10f及び入出力I/F10hは、例えばUSBポートを備えている。出力I/F10gは、例えばディスプレイポートを備えている。
図7では、画素位置(77,85)の法線ベクトルの分散が評価されている。例えば図7では、サブセットID「0」〜「7」の各分布表に、8個の画像に基づいて算出された56個の点(データ)と8個の画像から1つの画像を除いた7個の画像に基づいて算出された35個の点(データ)が法線ベクトルとしてプロットされている。尚、分布表は、法線ベクトルを、xyz3成分(z成分が鉛直方向)の単位ベクトルとして表現し、そのxy成分に関して、横軸をx軸、縦軸をy軸としたxy平面をz軸方向から眺めた分布表である。
次に、図9を参照して、本件の第2実施形態について説明する。
次に、図10を参照して、本件の第3実施形態について説明する。
図10に示すように、第3実施形態における動作は、図3に示すフローチャートのステップS106に代えてステップS201〜S203の処理が実行される点で相違する。
次に、図11及び図12を参照して、本件の第4実施形態について説明する。
(付記1)フォトメトリックステレオ法における法線ベクトルをコンピュータが抽出する法線ベクトル抽出方法であって、前記コンピュータが、画素によっては影が掛からなくなる位置に配置された4つ以上の光源を利用して光源ごとに撮影された被写体の複数の第1の画像から該第1の画像から所定数の画像を除いた一部の画像を選ぶ第1の組み合わせごとに、前記一部の画像から3つ以上の第2の画像を選ぶ第2の組み合わせに基づいて算出された複数の前記法線ベクトルの中から、第1の分散が第2の分散より小さな前記法線ベクトルを抽出する抽出ステップを実行する法線ベクトル抽出方法。
(付記2)前記所定数は、固定値であることを特徴とする付記1に記載の法線ベクトル抽出方法。
(付記3)前記法線ベクトルを抽出する対象の画素の輝度値が、前記輝度値の高低を判定する第1閾値以下となる第1の画像の数を計数する計数ステップを有し、前記所定数は、前記計数ステップによって計数された計数値であることを特徴とする付記1又は2に記載の法線ベクトル抽出方法。
(付記4)前記抽出ステップは、前記第1の分散及び前記第2の分散が分散の大小を判定する第2閾値以下である場合、前記法線ベクトルのすべてを抽出することを特徴とする付記1から3のいずれか1項に記載の法線ベクトル抽出方法。
(付記5)前記所定数として複数の固定値を選択的に設定する設定ステップを有することを特徴とする付記1から4のいずれか1項に記載の法線ベクトル抽出方法。
(付記6)前記抽出ステップは、前記固定値のそれぞれが利用されて、それぞれの固定値において第1の分散が最小の法線ベクトルが抽出された場合、第1の固定値より小さな第2の固定値が利用されて抽出された法線ベクトルほど優先して抽出することを特徴とする付記5に記載の法線ベクトル抽出方法。
(付記7)前記抽出ステップは、前記固定値が大きいほど、抽出を妨げる重みを前記法線ベクトルに付与することを特徴とする付記6に記載の法線ベクトル抽出方法。
(付記8)前記抽出ステップは、前記固定値のそれぞれが利用されて、それぞれの固定値において第1の分散が最小の第1の法線ベクトルと前記第1の法線ベクトルの次に分散が小さな第2の法線ベクトルを抽出し、前記第1の法線ベクトルと前記第2の法線ベクトルとの差を前記固定値毎に算出した場合に、前記差が最も大きくなる固定値の前記第1の法線ベクトルを抽出することを特徴とする付記5に記載の法線ベクトル抽出方法。
17 法線ベクトル抽出部(抽出手段)
18 画像数計数部(計数手段)
19 固定値設定部(設定手段)
Claims (10)
- フォトメトリックステレオ法における法線ベクトルを抽出する法線ベクトル抽出装置であって、
画素によっては影が掛からなくなる位置に配置された4つ以上の光源を利用して光源ごとに撮影された被写体の複数の第1の画像から該第1の画像から所定数の画像を除いた一部の画像を選ぶ第1の組み合わせごとに、前記一部の画像から3つ以上の第2の画像を選ぶ第2の組み合わせに基づいて算出された複数の前記法線ベクトルの分散の中から、前記分散が小さな前記法線ベクトルを抽出する抽出手段
を有する法線ベクトル抽出装置。 - 前記所定数は、固定値であることを特徴とする請求項1に記載の法線ベクトル抽出装置。
- 前記法線ベクトルを抽出する対象の画素の輝度値が、前記輝度値の高低を判定する第1閾値以下となる第1の画像の数を計数する計数手段を有し、
前記所定数は、前記計数手段によって計数された計数値であることを特徴とする請求項1に記載の法線ベクトル抽出装置。 - 前記抽出手段は、前記分散が該分散の大小を判定する第2閾値以下である場合、前記法線ベクトルのすべてを抽出することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の法線ベクトル抽出装置。
- 前記所定数として複数の固定値を選択的に設定する設定手段を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の法線ベクトル抽出装置。
- 前記抽出手段は、前記固定値のそれぞれが利用されて、それぞれの固定値において前記分散が最小の法線ベクトルが抽出された場合、第1の固定値より小さな第2の固定値が利用されて抽出された法線ベクトルほど優先して抽出することを特徴とする請求項5に記載の法線ベクトル抽出装置。
- 前記抽出手段は、前記固定値が大きいほど、抽出を妨げる重みを前記法線ベクトルに付与することを特徴とする請求項6に記載の法線ベクトル抽出装置。
- 前記抽出手段は、前記固定値のそれぞれが利用されて、それぞれの固定値において前記分散が最小の第1の法線ベクトルと前記第1の法線ベクトルの次に分散が小さな第2の法線ベクトルを抽出し、前記第1の法線ベクトルと前記第2の法線ベクトルとの差を前記固定値毎に算出した場合に、前記差が最も大きくなる固定値の前記第1の法線ベクトルを抽出することを特徴とする請求項5に記載の法線ベクトル抽出装置。
- フォトメトリックステレオ法における法線ベクトルをコンピュータが抽出する法線ベクトル抽出方法であって、
前記コンピュータが、
画素によっては影が掛からなくなる位置に配置された4つ以上の光源を利用して光源ごとに撮影された被写体の複数の第1の画像から該第1の画像から所定数の画像を除いた一部の画像を選ぶ第1の組み合わせごとに、前記一部の画像から3つ以上の第2の画像を選ぶ第2の組み合わせに基づいて算出された複数の前記法線ベクトルの分散の中から、前記分散が小さな前記法線ベクトルを抽出する抽出ステップ
を実行する法線ベクトル抽出方法。 - フォトメトリックステレオ法における法線ベクトルをコンピュータに抽出させる法線ベクトル抽出プログラムであって、
前記コンピュータに、
画素によっては影が掛からなくなる位置に配置された4つ以上の光源を利用して光源ごとに撮影された被写体の複数の第1の画像から該第1の画像から所定数の画像を除いた一部の画像を選ぶ第1の組み合わせごとに、前記一部の画像から3つ以上の第2の画像を選ぶ第2の組み合わせに基づいて算出された複数の前記法線ベクトルの分散の中から、前記分散が小さな前記法線ベクトルを抽出する抽出ステップ
を実行させるための法線ベクトル抽出プログラム。
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