JP6170827B2 - Processing method of package substrate - Google Patents
Processing method of package substrate Download PDFInfo
- Publication number
- JP6170827B2 JP6170827B2 JP2013261260A JP2013261260A JP6170827B2 JP 6170827 B2 JP6170827 B2 JP 6170827B2 JP 2013261260 A JP2013261260 A JP 2013261260A JP 2013261260 A JP2013261260 A JP 2013261260A JP 6170827 B2 JP6170827 B2 JP 6170827B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package substrate
- tape
- groove
- region
- package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
本発明は、CSP(Chip Size Package)、QFN(Quad Flat Non-leaded Package)等のパッケージ基板の加工方法に関する。 The present invention relates to a method for processing a package substrate such as a CSP (Chip Size Package) or a QFN (Quad Flat Non-leaded Package).
CSPやQFN等のパッケージ基板は、IC、LSI等の回路が作り込まれた複数の半導体チップを配列させ、モールド樹脂等で封止して略長方形の板状に形成されている。パッケージ基板には、パッケージデバイスとなるデバイス領域の周囲に余剰領域が設けられている。このため、デバイス領域が分割予定ラインに沿って切削されると、パッケージデバイスだけでなく余剰領域も端材としてパッケージ基板から切り離される。このため、パッケージデバイスの回収時に端材が混入しないように、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを抜き取る方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 A package substrate such as CSP or QFN is formed in a substantially rectangular plate shape by arranging a plurality of semiconductor chips in which a circuit such as an IC or LSI is formed and sealing with a mold resin or the like. In the package substrate, a surplus area is provided around a device area to be a package device. For this reason, when the device region is cut along the division line, not only the package device but also the surplus region is separated from the package substrate as an end material. For this reason, a method has been proposed in which only the package device is extracted from the package substrate so that the end material is not mixed when the package device is collected (see, for example, Patent Document 1).
特許文献1に記載の方法では、パッケージ基板の余剰領域を残した状態で、余剰領域の内側のデバイス領域だけが分割される。先ず、パッケージ基板の表面側に、余剰領域を避けるようにして分割予定ラインに沿って所定深さの分割溝が形成される。続いて、パッケージ基板の裏面側に、余剰領域を含むパッケージ基板全体について表面側の分割溝に連通するように分割溝が形成される。これにより、余剰領域については完全切断されずに、分割溝が連通したパッケージ基板のデバイス領域だけが、個々のパッケージデバイスに分割されてパッケージ基板から回収されている。 In the method described in Patent Document 1, only the device region inside the surplus region is divided while leaving the surplus region of the package substrate. First, a division groove having a predetermined depth is formed on the surface side of the package substrate along a division division line so as to avoid an excessive region. Subsequently, a dividing groove is formed on the back surface side of the package substrate so as to communicate with the dividing groove on the front surface side of the entire package substrate including the surplus region. As a result, the surplus region is not completely cut, and only the device region of the package substrate in which the dividing groove communicates is divided into individual package devices and collected from the package substrate.
しかしながら、特許文献1に記載の方法では、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができるが、加工が煩雑になるという問題がある。すなわち、パッケージ基板の表面側の加工後に、パッケージ基板を表裏反転させて裏面側を加工するため、それぞれの加工時にアライメントを実施しなければならなかった。さらに、パッケージ基板がダイシングテープを介して環状フレームに支持されている場合には、加工の度にダイシングテープを貼り直す必要があった。 However, in the method described in Patent Document 1, only the package device can be collected from the package substrate, but there is a problem that the processing becomes complicated. That is, after processing the front surface side of the package substrate, the package substrate is turned upside down and the back surface side is processed, so that alignment has to be performed at each processing. Further, when the package substrate is supported by the annular frame via the dicing tape, it is necessary to reattach the dicing tape every time processing is performed.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができるパッケージ基板の加工方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to provide a processing method of a package substrate that can recover only the package device from the package substrate without taking a complicated procedure.
本発明のパッケージ基板の加工方法は、表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成され該複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが配設されたデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する余剰領域とを有する金属板と、該金属板の裏面側から該デバイスをモールディングした合成樹脂部とからなるパッケージ基板を、該複数の分割予定ラインに沿って個々のパッケージデバイスに分割するパッケージ基板の加工方法であって、紫外線で硬化する紫外線粘着層を備えたUVテープを該パッケージ基板に貼着するUVテープ貼着工程と、該UVテープ貼着工程で該パッケージ基板に貼着された該UVテープに紫外線硬化しない粘着層を備えたダイシングテープを貼着すると共に、該ダイシングテープを介して開口部を有するリングフレームで該パッケージ基板を支持するダイシングテープ貼着工程と、該ダイシングテープ貼着工程を経た該パッケージ基板の該ダイシングテープを接触させチャックテーブルで保持し、切削ブレードを用いて該デバイス領域と該余剰領域との境に沿って該パッケージ基板の表面から該UVテープよりも深い位置にある該ダイシングテープに達する深さで該パッケージ基板に第1の溝を形成する第1の溝形成工程と、該切削ブレードを用いて該分割予定ラインに沿って、該パッケージ基板の表面から該UVテープに達する深さで該パッケージ基板に第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、該第1の溝で分割させ該パッケージ基板の該余剰領域を該UVテープと共に除去させる余剰領域除去工程と、該余剰領域除去工程にて該UVテープと共に該余剰領域が除去された該パッケージ基板に貼着している該UVテープに紫外線を照射して該紫外線粘着層を硬化させる紫外線照射工程と、該紫外線照射工程にて該紫外線粘着層が硬化された該パッケージ基板を該第2の溝で分割させパッケージデバイスを取得する。 A processing method of a package substrate according to the present invention includes a device region in which a plurality of division lines are formed in a lattice shape on a surface, and devices are arranged in a plurality of regions partitioned by the plurality of division lines, and the device region A package that divides a package substrate comprising a metal plate having a surplus area to surround and a synthetic resin portion obtained by molding the device from the back side of the metal plate into individual package devices along the plurality of division lines. A method for processing a substrate, wherein a UV tape having an ultraviolet adhesive layer that is cured by ultraviolet rays is attached to the package substrate, and the UV tape is attached to the package substrate in the UV tape attaching step. A dicing tape having an adhesive layer that does not cure ultraviolet rays is attached to the UV tape, and an opening is provided through the dicing tape. A dicing tape attaching step for supporting the package substrate with a ring frame; and the dicing tape of the package substrate that has undergone the dicing tape attaching step is brought into contact with and held by a chuck table, and the device region and the A first groove forming step of forming a first groove in the package substrate at a depth that reaches the dicing tape located deeper than the UV tape from the surface of the package substrate along the boundary with the surplus region; A second groove forming step of forming a second groove on the package substrate at a depth reaching the UV tape from the surface of the package substrate along the division line by using the cutting blade; The excess region of the package substrate is removed together with the UV tape, and the UV region is removed in the excess region removal step. UV irradiation step of curing the UV adhesive layer by irradiating the UV tape attached to the package substrate from which the excess region has been removed together with the UV, and the UV adhesive layer in the UV irradiation step. The cured package substrate is divided by the second groove to obtain a package device.
この構成によれば、第1の溝によってデバイス領域と余剰領域とが分割され、第2の溝によってパッケージ基板が個々のパッケージデバイスに分割される。そして、先にパッケージ基板から余剰領域が除去された状態で、パッケージ基板からパッケージデバイスが取得される。よって、パッケージデバイスだけをケースに回収して、ケース内に余剰領域が混入することを防止することができる。また、第1の溝によってUVテープが完全に切断されているため、余剰領域がUVテープと共にダイシングテープから剥がされる。この場合、UVテープを掴んでダイシングテープから余剰領域を剥がすことができるため、比較的容易にパッケージ基板から余剰領域を除去することができる。さらに、第2の溝によってUVテープが切断されないため、硬化したUVテープからパッケージデバイスだけを容易に取得することができる。この場合、1度のアライメントで第1、第2の溝を形成することができ、テープの貼り替え作業等が発生することがない。よって、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができる。 According to this configuration, the device region and the excess region are divided by the first groove, and the package substrate is divided into individual package devices by the second groove. Then, the package device is acquired from the package substrate in a state where the surplus area is removed from the package substrate first. Therefore, it is possible to collect only the package device in the case and prevent the surplus area from being mixed in the case. Further, since the UV tape is completely cut by the first groove, the surplus area is peeled off from the dicing tape together with the UV tape. In this case, since the excess area can be peeled off from the dicing tape by grasping the UV tape, the excess area can be removed from the package substrate relatively easily. Furthermore, since the UV tape is not cut by the second groove, only the package device can be easily obtained from the cured UV tape. In this case, the first and second grooves can be formed by one-time alignment, and a tape replacement operation or the like does not occur. Therefore, it is possible to recover only the package device from the package substrate without taking a complicated procedure.
また本発明のパッケージ基板の加工方法において、該第1の溝形成工程の後に該余剰領域除去工程が実施され、該余剰領域除去工程の後に該第2の溝形成工程が実施される。 In the package substrate processing method of the present invention, the excess region removal step is performed after the first groove formation step, and the second groove formation step is performed after the excess region removal step.
また本発明のパッケージ基板の加工方法において、該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、一方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、一方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から一部の該余剰領域が除去され、該一部の余剰領域が除去された後、該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、他方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、他方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から残りの該余剰領域が除去される。 In the package substrate processing method of the present invention, in the first groove forming step, the device region and the surplus region are arranged along one of the planned division lines among the lattice-shaped division planned lines of the package substrate. After the first groove is formed at the boundary, in the excess region removing step, the package substrate is divided by the first groove along one division planned line, and a part of the excess region is removed from the package substrate. After the partial surplus area is removed, in the first groove forming step, the device area and the surplus along the other planned dividing line among the lattice-shaped planned dividing lines of the package substrate. After the first groove is formed at the boundary with the region, in the excess region removing step, the package substrate is divided by the first groove along the other division line, and the remaining excess from the package substrate Frequency is removed.
本発明によれば、UVテープを介してダイシングテープにパッケージ基板を貼着して、余剰領域をUVテープごと除去した後にパッケージデバイスを取得することで、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができる。 According to the present invention, the package substrate is attached to the dicing tape via the UV tape, and the package device is obtained after removing the excess region together with the UV tape. Only package devices can be collected.
以下、添付図面を参照して、本実施の形態に係るパッケージ基板の加工方法に用いられる切削装置について説明する。図1は、本実施の形態に係る切削装置の斜視図である。図2は、本実施の形態に係るパッケージ基板の斜視図である。なお、本実施の形態に係る切削装置は、図1に示す構成に限定されない。本発明は、パッケージ基板を切削可能な切削装置であれば、どのような切削装置にも適用可能である。 Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a cutting apparatus used in the processing method of the package substrate according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a perspective view of a cutting apparatus according to the present embodiment. FIG. 2 is a perspective view of the package substrate according to the present embodiment. Note that the cutting apparatus according to the present embodiment is not limited to the configuration shown in FIG. The present invention is applicable to any cutting device as long as it can cut the package substrate.
図1に示すように、切削装置1は、加工手段17に対してチャックテーブル13を相対移動させることで、チャックテーブル13に保持されたパッケージ基板Wを個々のパッケージデバイス77(図4参照)に分割するように構成されている。図2A及び図2Bに示すように、パッケージ基板Wは、デバイス63が形成された金属板61に合成樹脂部62を積層した略長方形の板状に形成されている。金属板61の表面65は、格子状の分割予定ライン71によって複数の領域に区画されており、複数のデバイス63が配設されるデバイス領域72とデバイス領域72を囲繞する余剰領域73に分かれている。
As shown in FIG. 1, the cutting apparatus 1 moves the chuck table 13 relative to the processing means 17 so that the package substrate W held on the chuck table 13 is transferred to individual package devices 77 (see FIG. 4). It is configured to divide. 2A and 2B, the package substrate W is formed in a substantially rectangular plate shape in which a
複数のデバイス63は、金属板61の裏面側から合成樹脂部62によってモールディングされている。このパッケージ基板Wが分割予定ライン71に沿って切削されることで、余剰領域73は端材として分割され、デバイス領域72は個々のパッケージデバイス77(図4参照)として分割される。パッケージ基板Wの裏面66には、UVテープT1を介してダイシングテープT2が貼着されている。UVテープT1はパッケージ基板Wに合わせて略長方形状に形成されており、ダイシングテープT2はUVテープT1よりも大きな円形状に形成されている。
The plurality of
UVテープT1の表面68には紫外線で硬化する紫外線粘着層が塗布されており、ダイシングテープT2の表面69には紫外線で硬化しない粘着層が塗布されている。ダイシングテープT2の粘着層としては、硬化前の紫外線粘着層よりも粘着力が弱く、硬化後の紫外線粘着層よりも粘着力の強い粘着剤が使用される。ダイシングテープT2の中央にはパッケージ基板Wが貼着され、ダイシングテープT2の外周には開口部を有するリングフレームFが貼着されている。パッケージ基板Wは、ダイシングテープT2を介してリングフレームFの内側に支持された状態で切削装置1に搬入される。
An ultraviolet adhesive layer that is cured by ultraviolet rays is applied to the
なお、パッケージ基板Wは、CSP(Chip Size Package)基板、QFN(Quad Flat Non-leaded package)基板等のようにチップを搭載後の基板に限らず、チップ搭載前の基板でもよい。また、ダイシングテープT2の粘着層は、紫外線で完全に硬化しないものに限定されず、紫外線で粘着力が大幅に低下しないものであればよい。図1に戻り、切削装置1の基台11上には、パッケージ基板Wを保持したチャックテーブル13をX軸方向に加工送りする移動機構12が設けられている。
The package substrate W is not limited to a substrate after the chip is mounted, such as a CSP (Chip Size Package) substrate or a QFN (Quad Flat Non-leaded package) substrate, but may be a substrate before the chip is mounted. Further, the adhesive layer of the dicing tape T2 is not limited to the one that is not completely cured by ultraviolet rays, and any adhesive layer that does not significantly reduce the adhesive strength by ultraviolet rays may be used. Returning to FIG. 1, a
移動機構12は、基台11上に配置されたX軸方向に平行な一対のガイドレール21と、一対のガイドレール21にスライド可能に設置されたモータ駆動のX軸テーブル22とを有している。X軸テーブル22の上部には、チャックテーブル13が設けられている。X軸テーブル22の背面側には、不図示のナット部が形成され、これらナット部にボールネジ23が螺合されている。そして、ボールネジ23の一端部には、駆動モータ24が連結されている。駆動モータ24によりボールネジ23が回転駆動されることで、チャックテーブル13がガイドレール21に沿ってX軸方向に移動される。
The
チャックテーブル13の表面には、ポーラスセラミック材により保持面26が形成されており、この保持面26に生じる負圧によってパッケージ基板Wが吸引保持される。チャックテーブル13の周囲には、エアー駆動式の4つのクランプ部27が設けられ、各クランプ部27によってパッケージ基板Wの周囲のリングフレームFが挟持固定される。また、基台11上には、チャックテーブル13の移動経路を避けるように部分的に開口された立壁部14が設けられている。立壁部14には、チャックテーブル13の上方で加工手段17をY軸方向に割出送りすると共にZ軸方向に昇降させる移動機構15が設けられている。
A holding surface 26 is formed of a porous ceramic material on the surface of the chuck table 13, and the package substrate W is sucked and held by the negative pressure generated on the holding surface 26. Around the chuck table 13, four air-driven
移動機構15は、立壁部14の前面に対してY軸方向に平行な一対のガイドレール31と、一対のガイドレール31にスライド可能に設置されたモータ駆動のY軸テーブル32を有している。また、移動機構15は、Y軸テーブル32の前面に配置されたZ軸方向に平行な一対のガイドレール33と、このガイドレール33にスライド可能に設置されたモータ駆動のZ軸テーブル34とを有している。Z軸テーブル34の下部には、それぞれパッケージ基板Wを分割予定ライン71(図2参照)に沿って加工する加工手段17が設けられている。
The moving
Y軸テーブル32の背面側には、不図示のナット部が形成され、このナット部にボールネジ35が螺合されている。また、Z軸テーブル34の背面側には、不図示のナット部が形成され、このナット部に不図示のボールネジが螺合されている。Y軸テーブル32用のボールネジ35、Z軸テーブル34用のボールネジの一端部には、それぞれ駆動モータ36、37が連結されている。これら駆動モータ36、37によりボールネジ35が回転駆動されることで、加工手段17がガイドレール31、33に沿ってY軸方向及びZ軸方向に移動される。
A nut portion (not shown) is formed on the back side of the Y-axis table 32, and a
加工手段17は、スピンドル41の先端に切削ブレード42を装着して構成される。切削ブレード42はブレードカバー43によって周囲が覆われており、ブレードカバー43には切削部分に向けて切削水を噴射する噴射ノズルが設けられている。また、スピンドル41には撮像手段18が設けられており、撮像手段18の撮像画像に基づいてパッケージ基板Wの分割予定ライン71(図2参照)に対して切削ブレード42がアライメントされる。加工手段17では、複数の噴射ノズルから切削水が噴射され、切削ブレード42によってパッケージ基板Wが分割予定ライン71に沿って切削されることで、個々のパッケージデバイス77(図4参照)に分割される。
The processing means 17 is configured by attaching a
この場合、パッケージ基板Wには、デバイス領域72と余剰領域73とを分離する第1の溝75とデバイス領域72を個々のパッケージデバイス77に分離する第2の溝76が形成される(図3C及び図3D参照)。第1の溝75の深さは、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1の奥方(下方)のダイシングテープT2まで達しており、UVテープT1ごとパッケージ基板Wを切断している。第2の溝76の深さは、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1まで達しており、UVテープT1を完全切断せずにパッケージ基板Wだけを切断している。
In this case, a
本実施の形態に係るパッケージ基板Wの加工方法は、この第1、第2の溝75、76の深さの違いと、UVテープT1とダイシングテープT2の粘着力の違いを利用して、パッケージデバイス77の回収前に余剰領域73を除去するようにしている。パッケージ基板Wから余剰領域73を事前に除去することで、圧縮エアー等でパッケージデバイス77を吹き飛ばして回収する場合であっても、余剰領域73を端材として混在させることなくパッケージデバイス77だけを回収可能にしている。
The processing method of the package substrate W according to the present embodiment uses the difference in the depths of the first and
以下、図3及び図4を参照して、本実施の形態に係るパッケージ基板の加工方法について詳細に説明する。図3及び図4は、本実施の形態に係る加工方法の説明図である。なお、図3AがUVテープ貼着工程、図3Bがダイシングテープ貼着工程、図3Cが第1の溝形成工程、図3Dが第2の溝形成工程をそれぞれ示している。また、図4Aが余剰領域除去工程、図4Bが紫外線照射工程、図4Cがパッケージデバイス取得工程をそれぞれ示している。 Hereinafter, the processing method of the package substrate according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 3 and 4 are explanatory diagrams of the processing method according to the present embodiment. 3A shows the UV tape attaching step, FIG. 3B shows the dicing tape attaching step, FIG. 3C shows the first groove forming step, and FIG. 3D shows the second groove forming step. 4A shows the surplus area removing step, FIG. 4B shows the ultraviolet irradiation step, and FIG. 4C shows the package device acquisition step.
図3Aに示すように、先ずUVテープ貼着工程が実施される。UVテープ貼着工程では、パッケージ基板Wの裏面66を覆うようにUVテープT1が貼着される。UVテープT1の表面68には紫外線によって硬化する紫外線粘着層が塗布されており、紫外線粘着層の紫外線硬化後にパッケージ基板WからUVテープT1が剥離し易くなっている。なお、UVテープ貼着工程は、オペレータによる手作業で実施されてもよいし、不図示の貼着装置によって実施されてもよい。
As shown to FIG. 3A, a UV tape sticking process is first implemented. In the UV tape attaching step, the UV tape T1 is attached so as to cover the
図3Bに示すように、UVテープ貼着工程が実施された後には、ダイシングテープ貼着工程が実施される。ダイシングテープ貼着工程では、リングフレームFの開口部を覆うようにダイシングテープT2が貼着され、ダイシングテープT2の表面69にUVテープT1を介してパッケージ基板Wが貼着される。ダイシングテープT2の表面69には、UVテープT1とは異なり、紫外線によって硬化しない粘着層が塗布されている。なお、ダイシングテープ貼着工程は、オペレータによる手作業で実施されてもよいし、不図示の貼着装置によって実施されてもよい。ダイシングテープT2の貼着後のパッケージ基板Wは切削装置1(図1参照)に搬入される。
As shown to FIG. 3B, after a UV tape sticking process is implemented, a dicing tape sticking process is implemented. In the dicing tape attaching step, the dicing tape T2 is attached so as to cover the opening of the ring frame F, and the package substrate W is attached to the
図3Cに示すように、ダイシングテープ貼着工程が実施された後には、第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、パッケージ基板WのダイシングテープT2を接触させチャックテーブル13にパッケージ基板Wが保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部27に保持されている。そして、パッケージ基板Wに対して切削ブレード42がアライメントされてデバイス領域72と余剰領域73の境となる分割予定ライン71に位置合わせされた後、切削ブレード42によって切削加工が実施される。
As shown to FIG. 3C, after a dicing tape sticking process is implemented, a 1st groove | channel formation process is implemented. In the first groove forming step, the package substrate W is held on the chuck table 13 by contacting the dicing tape T2 of the package substrate W, and the ring frame F around the package substrate W is held by the
この場合、切削ブレード42がダイシングテープT2の途中まで切り込み可能な高さに調整され、高速回転した切削ブレード42に対してチャックテーブル13が相対移動される。この結果、デバイス領域72と余剰領域73との境に沿って、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1よりも深い位置にあるダイシングテープT2に達する深さで第1の溝75が形成される。第1の溝75によってパッケージ基板Wと共にUVテープT1が完全に切断され、UVテープT1ごとパッケージ基板Wがデバイス領域72と余剰領域73に分割される。
In this case, the
図3Dに示すように、第1の溝形成工程が実施された後には、第2の溝形成工程が実施される。第2の溝形成工程では、切削ブレード42がデバイス領域72内の分割予定ライン71に位置合わせされた後、切削ブレード42によって切削加工が実施される。この場合、切削ブレード42がUVテープT1の途中まで切り込み可能な位置に調整され、高速回転した切削ブレード42に対してチャックテーブル13が相対移動される。この結果、分割予定ライン71に沿って、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1に達する深さで第2の溝76が形成される。第2の溝76によってUVテープT1は切断されず、パッケージ基板Wだけが個々のパッケージデバイス77に分割される。切削後のパッケージ基板Wは不図示の剥離装置に搬入される。
As shown in FIG. 3D, after the first groove forming step is performed, the second groove forming step is performed. In the second groove forming step, the
図4Aに示すように、第2の溝形成工程が実施された後には、余剰領域除去工程が実施される。余剰領域除去工程では、剥離装置のチャックテーブル52上にダイシングテープT2を介してパッケージ基板Wが保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部53に保持される。チャックテーブル52の内部には後段の紫外線照射工程で使用されるUVランプ54が設けられている。上記したように紫外線硬化前のUVテープT1の粘着力は、ダイシングテープT2の粘着力よりも強く、UVテープT1からパッケージ基板Wを剥がすよりも、ダイシングテープT2からUVテープT1と共にパッケージ基板Wを剥がす方が容易である。
As shown in FIG. 4A, after the second groove forming step is performed, the surplus region removing step is performed. In the surplus area removing step, the package substrate W is held on the chuck table 52 of the peeling device via the dicing tape T2, and the ring frame F around the package substrate W is held by the
このため、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、パッケージ基板Wの余剰領域73がダイシングテープT2から容易に引き剥がされる。このようにして、第1の溝75によって分割されたパッケージ基板Wの余剰領域73がUVテープT1と共に除去され、ダイシングテープT2上にはパッケージ基板Wのデバイス領域72(パッケージデバイス77)だけが残されている。ダイシングテープT2から剥がされたパッケージ基板Wの余剰領域73は端材として廃棄される。なお、余剰領域除去工程は、オペレータによる手作業で実施されてもよいし、不図示の除去装置によって実施されてもよい。
For this reason, the
図4Bに示すように、余剰領域除去工程が実施された後には、紫外線照射工程が実施される。紫外線照射工程では、チャックテーブル52の内部に設けられたUVランプ54から紫外線が照射される。この場合、チャックテーブル52は透光性材等によって成形されており、UVランプ54から照射された紫外線がチャックテーブル52を透過してUVテープT1に照射される。これにより、UVテープT1の紫外線粘着層が硬化して、パッケージ基板Wに対するUVテープT1の粘着力が大幅に低下する。紫外線硬化後のUVテープT1の粘着力はダイシングテープT2の粘着力よりも弱くなり、UVテープT1からパッケージ基板Wのデバイス領域72(パッケージデバイス77)が剥がれ易くなる。
As shown in FIG. 4B, after the surplus region removing process is performed, an ultraviolet irradiation process is performed. In the ultraviolet irradiation process, ultraviolet rays are irradiated from a
図4Cに示すように、紫外線照射工程が実施された後には、パッケージデバイス取得工程が実施される。パッケージデバイス取得工程では、高圧ノズル55からパッケージデバイス77に対して圧縮エアーが吹き付けられて、第2の溝76で分割されたパッケージデバイス77がケース56に向けて吹き飛ばされる。このとき、UVテープT1の粘着力よりもダイシングテープT2の粘着力が強いため、UVテープT1がダイシングテープT2から剥がれることなく、UVテープT1から剥がれたパッケージデバイス77だけが吹き飛ばされる。また、予めダイシングテープT2上からパッケージ基板Wの余剰領域73が除去されているため、パッケージ基板Wの余剰領域73がケース56に回収されることがない。
As shown in FIG. 4C, after the ultraviolet irradiation process is performed, a package device acquisition process is performed. In the package device acquisition step, compressed air is blown from the
このように、ケース56には、UVテープT1から剥がれたパッケージデバイス77だけが回収される。よって、パッケージ基板Wの端材(余剰領域73)とパッケージデバイス77が混在している場合のように製品の振り分け作業が不要となり、パッケージデバイス77だけを効率的にケース56に回収することができる。ケース56に回収されたパッケージデバイス77は、洗浄後にケース56から取り出される。なお、本実施の形態においては、圧縮エアーによってパッケージデバイス77を回収する構成としたが、この構成に限定されない。パッケージデバイス取得工程では、例えば、チャックテーブル52の保持面57からエアーを噴射してパッケージデバイス77を吹き飛ばして回収してもよいし、ピックアップ機構によってパッケージデバイス77を回収してもよい。
Thus, only the
なお、上記した実施の形態においては、第1の溝形成工程、第2の溝形成工程を切削装置1(図1参照)で実施し、余剰領域除去工程、紫外線照射工程、パッケージデバイス取得工程を剥離装置で実施する構成としたが、この構成に限定されない。例えば、切削装置1で紫外線を照射可能であれば、全ての工程を切削装置1で実施する構成にしてもよい。 In the above-described embodiment, the first groove forming process and the second groove forming process are performed by the cutting apparatus 1 (see FIG. 1), and the excess region removing process, the ultraviolet irradiation process, and the package device acquiring process are performed. Although it was set as the structure implemented with a peeling apparatus, it is not limited to this structure. For example, as long as the cutting device 1 can irradiate ultraviolet rays, all the steps may be performed by the cutting device 1.
以上のように、本実施の形態に係るパッケージ基板Wの加工方法は、第1の溝75によってデバイス領域72と余剰領域73とが分割され、第2の溝76によってパッケージ基板Wが個々のパッケージデバイス77に分割される。そして、先にパッケージ基板Wから余剰領域73が除去された状態で、パッケージ基板Wからパッケージデバイス77が取得される。よって、パッケージデバイス77だけをケース56に回収して、ケース56内に余剰領域73が混入することを防止することができる。また、第1の溝75によってUVテープT1が完全に切断されているため、UVテープT1を掴んでダイシングテープT2から余剰領域73を剥がすことができる。さらに、第2の溝76によってUVテープT1が切断されないため、硬化したUVテープT1からパッケージデバイス77だけを容易に取得することができる。この場合、1度のアライメントで第1、第2の溝75、76を形成することができ、テープの貼り替え作業等が発生することがない。よって、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板Wからパッケージデバイス77だけを回収することができる。
As described above, in the processing method of the package substrate W according to the present embodiment, the
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can change and implement variously. In the above-described embodiment, the size, shape, and the like illustrated in the accompanying drawings are not limited to this, and can be appropriately changed within a range in which the effect of the present invention is exhibited. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the object of the present invention.
例えば、上記実施の形態では、UVテープ貼着工程、ダイシングテープ貼着工程、第1の溝形成工程、第2の溝形成工程、余剰領域除去工程、紫外線照射工程、パッケージデバイス取得工程の順に実施される構成としたが、この構成に限定されない。例えば、第1の変形例として、第1の溝形成工程の後に余剰領域除去工程が実施され、余剰領域除去工程の後に第2の溝形成工程が実施されてもよい。 For example, in the above embodiment, the UV tape attaching process, the dicing tape attaching process, the first groove forming process, the second groove forming process, the surplus area removing process, the ultraviolet irradiation process, and the package device obtaining process are performed in this order. However, the present invention is not limited to this configuration. For example, as a first modification, the excess region removing step may be performed after the first groove forming step, and the second groove forming step may be performed after the excess region removing step.
以下、図5を参照して、第1の変形例について説明する。図5Aは第1の溝形成工程、図5Bは第2の溝形成工程をそれぞれ示している。なお、第1の変形例は、一部の工程についてのみ上記実施の形態と相違するため、主に相違点について説明する。なお、図5においては説明の便宜上、チャックテーブルを省略している。 Hereinafter, a first modification will be described with reference to FIG. FIG. 5A shows the first groove forming step, and FIG. 5B shows the second groove forming step. Note that the first modification is different from the above embodiment only in a part of the steps, and therefore the differences will be mainly described. In FIG. 5, the chuck table is omitted for convenience of explanation.
図5Aに示すように、UVテープ貼着工程、ダイシングテープ貼着工程の後に第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、ダイシングテープT2を介してパッケージ基板Wがチャックテーブルに保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部27に保持されている。そして、破線に示すようにデバイス領域72と余剰領域73の境に沿って切削ブレード42で切削加工され、パッケージ基板Wに表面65からUVテープT1の奥方(下方)のダイシングテープT2に達する深さで第1の溝75(図3C参照)が形成される。これにより、パッケージ基板Wがデバイス領域72と余剰領域73に分割される。
As shown to FIG. 5A, a 1st groove | channel formation process is implemented after a UV tape sticking process and a dicing tape sticking process. In the first groove forming step, the package substrate W is held by the chuck table via the dicing tape T2, and the ring frame F around the package substrate W is held by the
余剰領域除去工程では、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、デバイス領域72の周囲の余剰領域73がダイシングテープT2から引き剥がされる。この結果、ダイシングテープT2上にはパッケージ基板Wのデバイス領域72だけが残される。図5Bに示すように、第2の溝形成工程では、破線に示すように分割予定ライン71に沿って切削ブレード42で切削加工され、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1に達する深さで第2の溝76(図3D参照)が形成される。これにより、パッケージ基板Wが個々のパッケージデバイス77に分割される。
In the excess area removing step, the
このとき、ダイシングテープT2上から余剰領域73が既に除去されているため、ダイシングテープT2に残されたデバイス領域72だけが切削される。すなわち、上記実施の形態の第2の溝形成工程では余剰領域73についても第2の溝76が形成されるが、第1の変形例の第2の溝形成工程では余剰領域73に第2の溝76が形成されることがない。よって、余剰領域73が除去された分だけ切削ブレード42の加工量を減らすことができ、切削ブレード42の消耗を抑えることができる。第2の溝形成工程の後には、上記実施の形態と同様に紫外線照射工程及びパッケージデバイス取得工程が実施される。
At this time, since the
また、第1の変形例では、第1の溝形成工程でデバイス領域72と余剰領域73との全ての境が分割された後、余剰領域除去工程で全ての余剰領域73が除去される構成としたが、この構成に限定されない。例えば、第2の変形例として、第1の溝形成工程で格子状の分割予定ライン71のうち一方の分割予定ライン71に沿うデバイス領域72と余剰領域73との境が分割された後、余剰領域除去工程で一部の余剰領域が除去されてもよい。さらに、第1の溝形成工程で他方の分割予定ライン71に沿うデバイス領域72と余剰領域73との境が分割された後、余剰領域除去工程で残りの余剰領域が除去されてもよい。
In the first modification, after all the boundaries between the
以下、図6を参照して、第2の変形例について説明する。図6Aは一方の分割予定ラインに対する第1の溝形成工程及び余剰領域除去工程、図6Bは他方の分割予定ラインに対する第1の溝形成工程及び余剰領域除去工程、図6Cは第2の溝形成工程をそれぞれ示している。なお、第2の変形例は、一部の工程についてのみ上記実施の形態と相違するため、主に相違点について説明する。なお、図6においては説明の便宜上、チャックテーブルを省略している。 Hereinafter, a second modification will be described with reference to FIG. 6A shows a first groove forming step and a surplus region removing step for one division planned line, FIG. 6B shows a first groove forming step and a surplus region removing step for the other division planned line, and FIG. 6C shows a second groove forming. Each process is shown. Note that the second modification is different from the above embodiment only in a part of the steps, and therefore the difference will be mainly described. In FIG. 6, the chuck table is omitted for convenience of explanation.
図6Aに示すように、UVテープ貼着工程、ダイシングテープ貼着工程の後に第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、ダイシングテープT2を介してパッケージ基板Wがチャックテーブルに保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部27に保持されている。そして、破線に示すように、格子状の分割予定ライン71のうち一方の分割予定ライン71に沿ってデバイス領域72と一部の余剰領域73aの境に第1の溝75(図3C参照)が形成される。余剰領域除去工程では、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、一部の余剰領域73aがダイシングテープT2から引き剥がされる。
As shown to FIG. 6A, a 1st groove | channel formation process is implemented after a UV tape sticking process and a dicing tape sticking process. In the first groove forming step, the package substrate W is held by the chuck table via the dicing tape T2, and the ring frame F around the package substrate W is held by the
図6Bに示すように、一部の余剰領域73aが除去されると、チャックテーブル13が90度回転されて、再び第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、破線に示すように、格子状の分割予定ライン71のうち他方の分割予定ライン71に沿ってデバイス領域72と残りの余剰領域73bの境に第1の溝75(図3C参照)が形成される。このとき、ダイシングテープT2上から余剰領域73aが既に除去されているため、余剰領域73bの切削時に余剰領域73aが切削されることがない。よって、余剰領域73aが事前に除去されている分だけ切削ブレード42の加工量を減らすことができ、切削ブレード42の消耗を抑えることができる。そして、再び余剰領域除去工程が実施され、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、残りの余剰領域73bがダイシングテープT2から引き剥がされる。この結果、ダイシングテープT2上にはパッケージ基板Wのデバイス領域72だけが残される。
As shown in FIG. 6B, when a part of the
図6Cに示すように、第2の溝形成工程では、デバイス領域72内の分割予定ライン71に沿って第2の溝76が形成され、デバイス領域72が個々のパッケージデバイス77に分割される。このとき、ダイシングテープT2上から余剰領域73が既に除去されているため、第2の溝形成工程において余剰領域73が切削されることがない。よって、余剰領域73が除去された分だけ切削ブレード42の加工量を減らすことができ、切削ブレード42の消耗を抑えることができる。第2の溝形成工程の後には、上記実施の形態と同様に紫外線照射工程及びパッケージデバイス取得工程が実施される。
As shown in FIG. 6C, in the second groove forming step, the
以上説明したように、本発明は、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができるという効果を有し、特にCSP(Chip Size Package)、QFN(Quad Flat Non-leaded Package)等のパッケージ基板の加工方法に有用である。 As described above, the present invention has an effect that only the package device can be recovered from the package substrate without taking a complicated procedure, and in particular, CSP (Chip Size Package), QFN (Quad Flat Non- This is useful for processing package substrates such as leaded packages.
1 切削装置
13 チャックテーブル
17 加工手段
42 切削ブレード
51 剥離装置
54 UVランプ
56 ケース
61 金属板
62 合成樹脂部
63 デバイス
65 パッケージ基板の表面
71 分割予定ライン
72 デバイス領域
73 余剰領域
75 第1の溝
76 第2の溝
77 パッケージデバイス
F リングフレーム
T1 UVテープ
T2 ダイシングテープ
W パッケージ基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (3)
紫外線で硬化する紫外線粘着層を備えたUVテープを該パッケージ基板に貼着するUVテープ貼着工程と、
該UVテープ貼着工程で該パッケージ基板に貼着された該UVテープに紫外線硬化しない粘着層を備えたダイシングテープを貼着すると共に、該ダイシングテープを介して開口部を有するリングフレームで該パッケージ基板を支持するダイシングテープ貼着工程と、
該ダイシングテープ貼着工程を経た該パッケージ基板の該ダイシングテープを接触させチャックテーブルで保持し、切削ブレードを用いて該デバイス領域と該余剰領域との境に沿って該パッケージ基板の表面から該UVテープよりも深い位置にある該ダイシングテープに達する深さで該パッケージ基板に第1の溝を形成する第1の溝形成工程と、
該切削ブレードを用いて該分割予定ラインに沿って、該パッケージ基板の表面から該UVテープに達する深さで該パッケージ基板に第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、
該第1の溝で分割させ該パッケージ基板の該余剰領域を該UVテープと共に除去させる余剰領域除去工程と、
該余剰領域除去工程にて該UVテープと共に該余剰領域が除去された該パッケージ基板に貼着している該UVテープに紫外線を照射して該紫外線粘着層を硬化させる紫外線照射工程と、
該紫外線照射工程にて該紫外線粘着層が硬化された該パッケージ基板を該第2の溝で分割させパッケージデバイスを取得するパッケージ基板の加工方法。 A metal plate having a device area in which a plurality of division lines are formed in a lattice pattern on the surface and devices are arranged in a plurality of areas partitioned by the plurality of division lines, and a surplus area surrounding the device area; A package substrate processing method for dividing a package substrate formed of a synthetic resin portion obtained by molding the device from the back side of the metal plate into individual package devices along the plurality of division lines,
A UV tape attaching step of attaching a UV tape having an ultraviolet adhesive layer curable with ultraviolet rays to the package substrate;
A dicing tape having an adhesive layer that is not UV-cured is attached to the UV tape attached to the package substrate in the UV tape attaching step, and the package is attached to the ring frame having an opening through the dicing tape. A dicing tape attaching process for supporting the substrate;
The dicing tape of the package substrate that has undergone the dicing tape attaching process is brought into contact with and held by a chuck table, and the UV is applied from the surface of the package substrate along the boundary between the device region and the surplus region using a cutting blade. A first groove forming step of forming a first groove in the package substrate at a depth reaching the dicing tape at a position deeper than the tape;
A second groove forming step of forming a second groove on the package substrate at a depth reaching the UV tape from the surface of the package substrate along the division line using the cutting blade;
A surplus area removing step of dividing by the first groove and removing the surplus area of the package substrate together with the UV tape;
An ultraviolet irradiation step of curing the ultraviolet adhesive layer by irradiating the UV tape attached to the package substrate from which the excessive region has been removed together with the UV tape in the excess region removing step;
A package substrate processing method for obtaining a package device by dividing the package substrate having the ultraviolet adhesive layer cured in the ultraviolet irradiation step by the second groove.
該一部の余剰領域が除去された後、該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、他方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、他方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から残りの該余剰領域が除去される請求項2に記載のパッケージ基板の加工方法。 In the first groove forming step, after the first groove is formed at the boundary between the device region and the surplus region along one of the lattice-divided scheduled lines of the package substrate. In the surplus area removing step, the package substrate is divided by the first groove along one of the division lines, and a part of the surplus area is removed from the package substrate.
After the part of the surplus region is removed, in the first groove forming step, the device region and the surplus region are arranged along the other planned division line among the lattice-shaped division planned lines of the package substrate. After the first groove is formed at the boundary, in the excess region removing step, the package substrate is divided by the first groove along the other division line and the remaining excess region is removed from the package substrate. A method for processing a package substrate according to claim 2.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013261260A JP6170827B2 (en) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | Processing method of package substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013261260A JP6170827B2 (en) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | Processing method of package substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015119029A JP2015119029A (en) | 2015-06-25 |
JP6170827B2 true JP6170827B2 (en) | 2017-07-26 |
Family
ID=53531524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013261260A Active JP6170827B2 (en) | 2013-12-18 | 2013-12-18 | Processing method of package substrate |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6170827B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6999350B2 (en) * | 2017-10-05 | 2022-01-18 | 株式会社ディスコ | Package substrate processing method |
JP7150401B2 (en) * | 2018-11-20 | 2022-10-11 | 株式会社ディスコ | Workpiece processing method |
JP7242268B2 (en) * | 2018-11-30 | 2023-03-20 | 株式会社ディスコ | Dicing machine |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006261525A (en) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | Package substrate |
JP5312997B2 (en) * | 2009-03-18 | 2013-10-09 | 株式会社ディスコ | UV irradiation equipment |
JP2011222651A (en) * | 2010-04-07 | 2011-11-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | Dividing method of package substrate |
-
2013
- 2013-12-18 JP JP2013261260A patent/JP6170827B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015119029A (en) | 2015-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9685377B2 (en) | Wafer processing method | |
CN106997867B (en) | Method for processing wafer | |
KR102210945B1 (en) | Wafer processing method | |
KR20150142597A (en) | Wafer machining method | |
JP2009123835A (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
KR102250216B1 (en) | Wafer processing method | |
JP2010027857A (en) | Semiconductor device manufacturing method | |
JP2019024038A (en) | Wafer processing method | |
JP6170827B2 (en) | Processing method of package substrate | |
TW201604996A (en) | Packaging substrate processing method | |
JP4680693B2 (en) | Plate-shaped member dividing device | |
JP2017092125A (en) | Processing method for wafer | |
CN105633017B (en) | Method for dividing package substrate | |
KR20170032182A (en) | Package substrate processing method | |
KR102084269B1 (en) | Laser machining apparatus and method for coating protection film | |
JP2012084720A (en) | Work processing method | |
KR102460049B1 (en) | Cutting method of workpiece | |
JP6232323B2 (en) | Splitting device | |
JP2015115526A (en) | Molding method of chuck table | |
JP2014212282A (en) | Processing method of wafer | |
KR102561376B1 (en) | Wafer processing method and supporting tool used in wafer processing | |
JP2016207820A (en) | Processing method of wafer | |
JP6059927B2 (en) | Wafer processing method | |
JP6804154B2 (en) | Package substrate processing method and cutting equipment | |
JP2020161618A (en) | Processing method of wafer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161017 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170607 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170613 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170703 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6170827 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |