JP6128635B2 - 加工孔の位置測定装置 - Google Patents
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被加工物の内部に加工された加工孔又は被加工物の内部に加工中の加工孔の位置を測定する加工孔の位置測定装置において、
超音波を送信する振動子と前記超音波を受信する他の振動子を有し、前記被加工物の表面に接触面を接触させる探触子と、
前記探触子を保持すると共に、前記被加工物の表面に倣って、前記探触子の角度を変更させて、前記探触子の前記接触面を接触させる倣い機構と、
前記倣い機構を保持すると共に、前記探触子を前記被加工物の表面に沿って移動させる走査機構と、
前記倣い機構及び前記走査機構から前記探触子の位置を取得し、前記探触子から前記超音波の反射信号を取得して、前記加工孔の位置を検出する測定制御手段とを備え、
前記倣い機構は、所定方向に前記探触子を回転させる第1の回転軸と前記所定方向と直交する方向に前記探触子を回転させる第2の回転軸の少なくとも2つの回転軸と、前記探触子の前記接触面と共に前記被加工物の表面に接触するローラと、前記探触子の前記接触面と前記ローラの間に設けられ、前記走査機構に保持される支持部材とを有することを特徴とする。
上記第1の発明に記載の加工孔の位置測定装置において、
前記被加工物に対し、所定の表面側に前記探触子、前記倣い機構及び前記走査機構を配置すると共に、前記所定の表面側と反対の表面側に他の前記探触子、他の前記倣い機構及び他の前記走査機構を配置することを特徴とする。
上記第1、第2の発明に記載の加工孔の位置測定装置において、
前記探触子の前記接触面の大きさを、5mm角以下又は直径5mm以下とすることを特徴とする。
上記第1〜第3のいずれか1つの発明に記載の加工孔の位置測定装置において、
前記測定制御手段は、前記走査機構を用いて、特定の前記加工孔の設計経路範囲内を前記探触子で走査し、前記設計経路範囲内から前記超音波の反射信号が得られない場合には、前記加工孔の位置がずれていると判定することを特徴とする。
図1は、本実施例の加工孔の位置測定装置を示す概略構成図であり、図2は、図1に示した加工孔の位置測定装置で用いるUT探触子を説明する概略構成図であり、図3は、図2に示したUT探触子を保持すると共に、UT探触子の接触面をタービン翼面に倣わせる倣い機構を説明する斜視図であり、図4は、図3に示した倣い機構を保持すると共に、UT探触子を走査方向に移動させる走査機構を説明する概略構成図である。まず、図1〜図4を参照して、本実施例の加工孔の位置測定装置の構成を説明する。
本実施例の加工孔の位置測定装置は、実施例1において説明した加工孔の位置測定装置10と基本的に同じ構成を有しているが、実施例1では、UT探触子20をタービン翼60の一方の翼面側でのみ走査可能な構成であるのに対して、本実施例では、タービン翼60の他方(反対側)の翼面側でも走査可能な構成としている。
本実施例の加工孔の位置測定装置は、実施例1において説明した加工孔の位置測定装置10と同じ構成であるが、実施例1では、複数の冷却孔61を対象として、UT探触子20を走査するのに対して、本実施例では、特定の1つの冷却孔61を対象とし、当該冷却孔61の設計経路範囲内を走査するようにしている。
図9は、本参考例の加工孔の位置測定装置を示す概略構成図であり、図10は、本参考例におけるフレキシブルアレイ探触子の走査を説明する図である。まず、図9を参照して、本参考例の加工孔の位置測定装置の構成を説明する。
本参考例の加工孔の位置測定装置は、参考例1において説明した加工孔の位置測定装置70と基本的に同じ構成を有しているが、参考例1では、多数の振動子を長手方向に配置したフレキシブルアレイ探触子71を用いているのに対して、本参考例では、図12に示すように、多数の振動子を格子状に配列したフレキシブルマトリクスアレイ探触子(以降、FMA探触子と呼ぶ。)81を用いている。
20 UT探触子
21、22 振動子
26 接触面
30 倣い機構
32 第1の回転軸
33 第1の回転支持部材
34 第2の回転軸
35 第2の回転支持部材
36 ローラ
37 第3の回転軸
38 第3の回転支持部材
40、74 走査機構
43 第1のリニアガイド
46 第2のリニアガイド
47 第3のリニアガイド
50、75 測定制御部(測定制御手段)
60 タービン翼
61 冷却孔
71 フレキシブルアレイ探触子
72 変形部材
73 押付機構
81 フレキシブルマトリクスアレイ探触子
Claims (4)
- 被加工物の内部に加工された加工孔又は被加工物の内部に加工中の加工孔の位置を測定する加工孔の位置測定装置において、
超音波を送信する振動子と前記超音波を受信する他の振動子を有し、前記被加工物の表面に接触面を接触させる探触子と、
前記探触子を保持すると共に、前記被加工物の表面に倣って、前記探触子の角度を変更させて、前記探触子の前記接触面を接触させる倣い機構と、
前記倣い機構を保持すると共に、前記探触子を前記被加工物の表面に沿って移動させる走査機構と、
前記倣い機構及び前記走査機構から前記探触子の位置を取得し、前記探触子から前記超音波の反射信号を取得して、前記加工孔の位置を検出する測定制御手段とを備え、
前記倣い機構は、所定方向に前記探触子を回転させる第1の回転軸と前記所定方向と直交する方向に前記探触子を回転させる第2の回転軸の少なくとも2つの回転軸と、前記探触子の前記接触面と共に前記被加工物の表面に接触するローラと、前記探触子の前記接触面と前記ローラの間に設けられ、前記走査機構に保持される支持部材とを有することを特徴とする加工孔の位置測定装置。 - 請求項1に記載の加工孔の位置測定装置において、
前記被加工物に対し、所定の表面側に前記探触子、前記倣い機構及び前記走査機構を配置すると共に、前記所定の表面側と反対の表面側に他の前記探触子、他の前記倣い機構及び他の前記走査機構を配置することを特徴とする加工孔の位置測定装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の加工孔の位置測定装置において、
前記探触子の前記接触面の大きさを、5mm角以下又は直径5mm以下とすることを特徴とする加工孔の位置測定装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の加工孔の位置測定装置において、
前記測定制御手段は、前記走査機構を用いて、特定の前記加工孔の設計経路範囲内を前記探触子で走査し、前記設計経路範囲内から前記超音波の反射信号が得られない場合には、前記加工孔の位置がずれていると判定することを特徴とする加工孔の位置測定装置。
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