JP6124366B2 - 方法、プロセッサ、システム、およびプログラム - Google Patents
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Description
Claims (21)
- 複数のキャッシュライン群における1つのキャッシュライン群に超低電力モード(ULPM)でアクセスする要求を受信する段階であって、前記ULPMでは前記キャッシュの全てのメモリセルが正確に動作する最低の電圧レベル以下の電圧レベルでキャッシュラインにアクセスするための超低電圧レベルを使用する、受信する段階と、
前記キャッシュライン群における第1ウェイのキャッシュラインが前記ULPMで動作可能であるか否かを、前記第1ウェイの前記キャッシュラインに対応する1または複数のディセーブルビットに少なくとも部分的に基づいて決定する段階と、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ミスを返す段階と、
前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ヒットを返す段階と、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを防ぎ、前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを可能とする段階と、
を備える、方法。 - ULPMへ入る要求を受信する段階と、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイに応答して、前記キャッシュライン群の前記第1ウェイの前記キャッシュラインをフラッシュする段階と、
を更に備える、請求項1に記載の方法。 - ULPMへ入る要求を受信する段階と、
前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイに応答して、前記キャッシュライン群の前記第1ウェイの前記キャッシュラインをフラッシュしない段階と、
を更に備える、請求項1または2に記載の方法。 - 前記超低電圧レベルで前記キャッシュの一部分が動作可能であるかを決定すべく、前記キャッシュの前記一部分を試験する段階を更に備え、前記試験する段階は、製造時またはパワー・オン・セルフ・テスト(POST)時に実行される、請求項3に記載の方法。
- 前記試験する段階に応じて前記1または複数のディセーブルビットを更新する段階を更に備える、請求項4に記載の方法。
- 共有L2キャッシュと、
前記共有L2キャッシュに結合された複数のプロセッサコアと、
ロジック回路と、
を備え、
前記複数のプロセッサコアは単一の集積回路チップに実装され、前記複数のプロセッサコアのそれぞれが複数のキャッシュライン群を含むL1キャッシュを有し、
前記L1キャッシュは、
前記複数のキャッシュライン群における1つのキャッシュライン群に超低電力モード(ULPM)でアクセスする要求を受信し、前記ULPMでは全てのメモリセルが正確に動作する最低の電圧レベル以下の電圧レベルでキャッシュラインにアクセスするための超低電圧レベルが使用され、
前記ロジック回路は、
前記キャッシュライン群における第1ウェイのキャッシュラインが前記ULPMで動作可能であるか否かを、前記第1ウェイの前記キャッシュラインに対応する1または複数のディセーブルビットに少なくとも部分的に基づいて決定し、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ミスを返し、
前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ヒットを返し、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを防ぎ、前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを可能とする、プロセッサ。 - 前記複数のプロセッサコアの間における通信を可能とするルータを更に備える、請求項6に記載のプロセッサ。
- 前記複数のキャッシュライン群は、第1の最小動作電圧で正確に動作する第1の複数のキャッシュラインのグループと、第2の最小動作電圧で正確に動作する第2の複数のキャッシュラインのグループとを有し、
前記第2の最小動作電圧は前記第1の最小動作電圧よりも低く、
前記第1の最小動作電圧は、前記全てのメモリセルが正確に動作する前記最低の電圧レベルに対応し、
前記第2の最小動作電圧は、前記超低電圧レベルに対応する、請求項6または7に記載のプロセッサ。 - 前記ロジック回路は、前記第2の複数のキャッシュラインのグループをディセーブルする、請求項8に記載のプロセッサ。
- キャッシュミスに応答してキャッシュラインを選択し除外するための置換ロジックを更に備える、請求項6から9のいずれか1項に記載のプロセッサ。
- 前記複数のプロセッサコアは、前記L1キャッシュにおいてMESIプロトコルを実装する、請求項6から10のいずれか1項に記載のプロセッサ。
- 命令列を含むデータを格納するメモリと、
前記メモリと通信すべく前記メモリに結合されたメモリコントローラと、
前記メモリコントローラに結合されたプロセッサと、
を備え、
前記プロセッサは、共有L2キャッシュと前記共有L2キャッシュに結合された複数のプロセッサコアと、ロジック回路とを備え、
前記複数のプロセッサコアは単一の集積回路チップに実装され、前記複数のプロセッサコアのそれぞれが複数のキャッシュライン群を含むL1キャッシュを有し、
前記L1キャッシュは、
前記複数のキャッシュライン群における1つのキャッシュライン群に超低電力モード(ULPM)でアクセスする要求を受信し、前記ULPMでは全てのメモリセルが正確に動作する最低の電圧レベル以下の電圧レベルでキャッシュラインにアクセスするための超低電圧レベルが使用され、
前記ロジック回路は、
前記キャッシュライン群における第1ウェイのキャッシュラインが前記ULPMで動作可能であるか否かを、前記第1ウェイの前記キャッシュラインに対応する1または複数のディセーブルビットに少なくとも部分的に基づいて決定し、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ミスを返し、
前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ヒットを返し、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを防ぎ、前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを可能とする、システム。 - 前記プロセッサに結合された、グラフィクス回路、通信デバイス、オーディオI/Oデバイス、およびデータストレージデバイスを、1つまたは複数個更に備える、請求項12に記載のシステム。
- 前記プロセッサが、前記複数のプロセッサコアの間における通信を可能とするルータを更に備える、請求項12または13に記載のシステム。
- 前記複数のキャッシュライン群は、第1の最小動作電圧で正確に動作する第1の複数のキャッシュラインのグループと、第2の最小動作電圧で正確に動作する第2の複数のキャッシュラインのグループとを有し、
前記第2の最小動作電圧は前記第1の最小動作電圧よりも低く、
前記第1の最小動作電圧は、前記全てのメモリセルが正確に動作する前記最低の電圧レベルに対応し、
前記第2の最小動作電圧は、前記超低電圧レベルに対応する、請求項12から14のいずれか1項に記載のシステム。 - 前記ロジック回路は、前記第2の複数のキャッシュラインのグループをディセーブルする、請求項15に記載のシステム。
- 前記プロセッサが、キャッシュミスに応答してキャッシュラインを選択し除外するための置換ロジックを更に備える、請求項12から16のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記複数のプロセッサコアは、前記L1キャッシュにおいてMESIプロトコルを実装する、請求項12から17いずれか1項に記載のシステム。
- 命令を有するプログラムであって、前記命令が実行されるとプロセッサに手順を実行させ、前記手順が、
プロセッサ内の複数のキャッシュライン群における1つのキャッシュライン群に超低電力モード(ULPM)でアクセスする要求を受信する段階であって、前記ULPMでは前記プロセッサの全てのキャッシュラインが正確に動作することのできる最低の電圧レベルよりも低い電圧レベルでキャッシュラインにアクセスするための超低電圧レベルを使用する、受信する段階と、
前記キャッシュライン群における第1ウェイのキャッシュラインが前記ULPMで動作可能であるか否かを、前記第1ウェイの前記キャッシュラインに対応する1または複数のディセーブルビットに少なくとも部分的に基づいて決定する段階と、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ミスを返す段階と、
前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインに少なくとも部分的に応答して、ヒットを返す段階と、
前記ULPMで動作不可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを防ぎ、前記ULPMで動作可能であると決定された前記キャッシュライン群における前記第1ウェイの前記キャッシュラインへの、置換プロセスによる割り当てを可能とする段階と、
を備える、プログラム。 - 前記手順が、前記要求に応じてキャッシュミスが発生した場合に、メモリからフェッチした新しいデータで、選択したキャッシュラインを上書きする段階を更に備える、請求項19に記載のプログラム。
- 前記手順が、前記プロセッサ内の置換ロジックによって、前記選択されたキャッシュラインを選択する段階を更に備える、請求項20に記載のプログラム。
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US8700864B2 (en) * | 2011-11-11 | 2014-04-15 | Microsoft Corporation | Self-disabling working set cache |
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US8943274B2 (en) | 2012-05-22 | 2015-01-27 | Seagate Technology Llc | Changing power state with an elastic cache |
US9275696B2 (en) | 2012-07-26 | 2016-03-01 | Empire Technology Development Llc | Energy conservation in a multicore chip |
US9256544B2 (en) * | 2012-12-26 | 2016-02-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Way preparation for accessing a cache |
US9075904B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-07-07 | Intel Corporation | Vulnerability estimation for cache memory |
US9176895B2 (en) | 2013-03-16 | 2015-11-03 | Intel Corporation | Increased error correction for cache memories through adaptive replacement policies |
US9223710B2 (en) | 2013-03-16 | 2015-12-29 | Intel Corporation | Read-write partitioning of cache memory |
US9360924B2 (en) * | 2013-05-29 | 2016-06-07 | Intel Corporation | Reduced power mode of a cache unit |
KR102031606B1 (ko) * | 2013-07-31 | 2019-10-14 | 휴렛 팩커드 엔터프라이즈 디벨롭먼트 엘피 | 버저닝된 메모리 구현 |
US10204056B2 (en) * | 2014-01-27 | 2019-02-12 | Via Alliance Semiconductor Co., Ltd | Dynamic cache enlarging by counting evictions |
US9626297B2 (en) | 2014-10-08 | 2017-04-18 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Memory fault patching using pre-existing memory structures |
US10073786B2 (en) | 2015-05-28 | 2018-09-11 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for compute enabled cache |
US9959075B2 (en) | 2015-08-05 | 2018-05-01 | Qualcomm Incorporated | System and method for flush power aware low power mode control in a portable computing device |
CN111471961A (zh) | 2015-09-11 | 2020-07-31 | 学校法人冲绳科学技术大学院大学学园 | 形成无铅钙钛矿膜的方法和包含该无铅钙钛矿膜的太阳能电池装置 |
US10185619B2 (en) * | 2016-03-31 | 2019-01-22 | Intel Corporation | Handling of error prone cache line slots of memory side cache of multi-level system memory |
US10318428B2 (en) | 2016-09-12 | 2019-06-11 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Power aware hash function for cache memory mapping |
US10241561B2 (en) | 2017-06-13 | 2019-03-26 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Adaptive power down of intra-chip interconnect |
US10884940B2 (en) * | 2018-12-21 | 2021-01-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for using compression to improve performance of low voltage caches |
US11106594B2 (en) | 2019-09-05 | 2021-08-31 | Advanced Micro Devices, Inc. | Quality of service dirty line tracking |
CN111930575B (zh) * | 2020-07-01 | 2024-06-18 | 联想(北京)有限公司 | 一种固件获取方法、装置及电子设备 |
US11720444B1 (en) * | 2021-12-10 | 2023-08-08 | Amazon Technologies, Inc. | Increasing of cache reliability lifetime through dynamic invalidation and deactivation of problematic cache lines |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01255944A (ja) * | 1988-04-05 | 1989-10-12 | Mitsubishi Electric Corp | キャッシュメモリ |
JPH0291742A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | Toshiba Corp | 仮想アドレスキャッシュ制御方式 |
US5371709A (en) | 1993-04-01 | 1994-12-06 | Microchip Technology Incorporated | Power management system for serial EEPROM device |
JPH0773057A (ja) * | 1993-06-03 | 1995-03-17 | Kano Densan Hongkong Yugenkoshi | 電子機器 |
JP2701703B2 (ja) * | 1993-09-03 | 1998-01-21 | 日本電気株式会社 | キャッシュメモリ |
KR100212420B1 (ko) * | 1995-09-25 | 1999-08-02 | 김영환 | 테스트회로를 내장한 캐쉬 스태틱램 |
JP2000010668A (ja) * | 1998-06-18 | 2000-01-14 | Hitachi Ltd | メモリカード供給電圧制御方式 |
US6845432B2 (en) | 2000-12-28 | 2005-01-18 | Intel Corporation | Low power cache architecture |
US20020103977A1 (en) | 2001-01-30 | 2002-08-01 | Andy Ewoldt | Low power consumption cache memory structure |
CN1482546A (zh) * | 2002-09-10 | 2004-03-17 | 连邦科技股份有限公司 | 免充电式超低功率虚拟动态随机存取内存 |
US7127560B2 (en) * | 2003-10-14 | 2006-10-24 | International Business Machines Corporation | Method of dynamically controlling cache size |
US7221613B2 (en) * | 2004-05-26 | 2007-05-22 | Freescale Semiconductor, Inc. | Memory with serial input/output terminals for address and data and method therefor |
US20060005053A1 (en) * | 2004-06-30 | 2006-01-05 | Jones Oscar F Jr | Cache and tag power-down function during low-power data retention standby mode technique for cached integrated circuit memory devices |
JP4676723B2 (ja) * | 2004-07-30 | 2011-04-27 | 富士通株式会社 | キャッシュメモリ、プロセッサ、キャッシュメモリの製造方法、プロセッサの製造方法 |
JP2006120098A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Toshiba Microelectronics Corp | キャッシュメモリ装置およびその管理方法 |
WO2006082551A1 (en) * | 2005-02-07 | 2006-08-10 | Nxp B.V. | Data processing system and method of cache replacement |
US7620778B2 (en) | 2005-05-25 | 2009-11-17 | Qualcomm Incorporated | Low power microprocessor cache memory and method of operation |
US20060280019A1 (en) * | 2005-06-13 | 2006-12-14 | Burton Edward A | Error based supply regulation |
US7809890B2 (en) * | 2005-07-06 | 2010-10-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Systems and methods for increasing yield of devices having cache memories by inhibiting use of defective cache entries |
US7904658B2 (en) * | 2005-11-30 | 2011-03-08 | International Business Machines Corporation | Structure for power-efficient cache memory |
US7512029B2 (en) * | 2006-06-09 | 2009-03-31 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for managing behavior of memory devices |
US20080010566A1 (en) | 2006-06-21 | 2008-01-10 | Chang Tsung-Yung Jonathan | Disabling portions of memory with non-deterministic errors |
US7650465B2 (en) | 2006-08-18 | 2010-01-19 | Mips Technologies, Inc. | Micro tag array having way selection bits for reducing data cache access power |
US7657708B2 (en) | 2006-08-18 | 2010-02-02 | Mips Technologies, Inc. | Methods for reducing data cache access power in a processor using way selection bits |
US7941683B2 (en) | 2007-05-02 | 2011-05-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | Data processing device with low-power cache access mode |
US8868836B2 (en) * | 2007-12-31 | 2014-10-21 | Intel Corporation | Reducing minimum operating voltage through hybrid cache design |
US8156357B2 (en) * | 2009-01-27 | 2012-04-10 | Freescale Semiconductor, Inc. | Voltage-based memory size scaling in a data processing system |
US20100228922A1 (en) * | 2009-03-09 | 2010-09-09 | Deepak Limaye | Method and system to perform background evictions of cache memory lines |
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