JP6124365B2 - 自己生成スプリアス信号を特定する方法 - Google Patents

Description

本発明は、全般的には、電子装置を試験するためのシステム及び方法に関する。より詳細には、本発明は、ハードウェア構成要素、ファームウェア構成要素、及び／又はソフトウェア構成要素からなる試験プラットフォームを使用して、無線デバイスを試験するためのシステム及び方法の改善に関する。

今日の携帯用デバイスの多くは、電話、デジタルデータ転送、地理的位置決め等に無線「接続」を利用している。周波数スペクトル、変調方法、及びパワースペクトル密度における差異にかかわらず、無線接続性の規格は、同期させたデータパケットを使用してデータを伝送し、これを受信する。一般に、これらの無線接続性能力の全ては、それらの接続性能力を有するデバイスが順守しなければならないパラメーター及び制限を指定する業界承認規格（例えば、ＩＥＥＥ ８０２．１１及び３ＧＰＰ ＬＴＥ）によって定義される。

一連のデバイス開発に沿ったいずれかの時点において、デバイスがその規格の仕様内で動作するということを試験し、かつ検証する必要があり得る。多くのこのような装置は、送受信機であり、すなわちこれらは、無線周波（ＲＦ）信号を送受信する。このようなデバイスを試験するように設計された特殊システムは典型的には、デバイスが送信した信号を受信及び分析し（例えば、ベクトル信号分析器（ＶＳＡ））、業界で認可された基準に従う信号を送信する（例えば、ベクトル信号発生器（ＶＳＧ））ように設計されたサブシステムを含み、デバイスがその基準に従う無線信号を受信及び処理しているかを判定する。

一般的に、このような試験システムが、意図される信号と共に、スプリアス（又は意図されない）信号（これはまた「偶発的信号」としても既知である）を生成する。このような偶発的信号は、試験機内に存在する信号の、基本周波数及びこれらの基本周波数の高調波と関連する場合が多い。例えば、別の信号と「混合」する、局部発振器（ＬＯ）は、基本周波数、及びこれと混合される他の信号の周波数の、和周波数及び差周波数を生成する。ＬＯはまた、その基本周波数の２倍である、第２高調波を生成し得る。これもまた、別の信号と混合して、和及び差生成信号等を生成し得る。通常、このようなスプリアス信号は、関心の周波数における意図される信号よりも遥かに低い電力レベルである。

しかしながら、例えば、パワースペクトル密度が分析される試験において、スペクトルマスクは非常に広く、機器により生じるスプリアス信号は、スペクトルマスクの境界付近における試験中の装置（ＤＵＴ）が生じる電力規模と同程度となることがある。これらのスプリアス信号が、ＤＵＴの信号から区別されない場合、これらは、パワースペクトル密度のエラーなど、分析が望ましくない結果を示すことに繋がりかねない。

一般的に、試験機器により生成されるスプリアス信号が特定されない場合、これらは、デジタル信号処理（ＤＳＰ）フィルタリング技術を使用して排除され得る。したがって、既知の機器のスプリアス信号の「切り取り」又は排除はまた、試験機器のスプリアス信号と同じ周波数で生じ得るＤＵＴ信号も切り取る、又は排除する場合がある。ＤＵＴの生成信号を特定せず、これらを試験機器のスプリアス信号と一緒にすると、問題が生じ、続く信号分析において不正確性を生じることがある。例えば、ＤＵＴのスプリアス信号が、試験機器のスプリアス信号と一緒にされて、排除されると、実際にはＤＵＴがパワースペクトル密度分析に不合格しているときに、試験に合格しているように見える場合がある。したがって、試験システムの信号捕捉、及びその後の信号分析が不正確であり、例えば、標準的な規定の試験結果基準による正負の誤りを含む、間違った結果を生じる場合がある。

理想的には、スプリアス信号を生成しない試験機器を使用することが有利である。しかしながら、実際には、これは、全ての試験シナリオにおいて現実的であるわけではない。したがって、機器により生じたスプリアス信号を特定し、これらを、試験システム内で構成された１つ以上のＤＵＴの生成信号から区別することが必要とされている。パワースペクトル密度の結果など、試験結果の分析が、機器の偶発的信号に影響されないことを確実にし、試験結果の正確性を確実に増加する必要がある。

したがって、本発明の目的は、従来技術の欠陥を克服し、機器により生じるスプリアス信号を特定し、これらをＤＵＴによる生成信号から区別する方法及びシステムを含む。開示される代表的な実施形態により、自己発生スプリアス信号の特定方法がもたらされ、これは、少なくとも本発明のいくつかの態様において、試験システムの局部発振器（ＬＯ ）を、初期周波数に設定する工程、及び試験中の装置（ＤＵＴ）からの無線周波数（ＲＦ）信号を試験システムに送信する工程を含む。本方法はまた、試験システムにより、ＲＦ信号の物理的アナログ特性を測定することができる。実施形態は、測定された物理的特性のアナログ値をデジタルの相当値に変換する工程と、測定された物理的特性の結果を、電力対周波数軸にて示す工程と、表示中スプリアス生成信号を特定する工程と、スプリアス生成信号の振幅及び周波数を記録する工程とを含む。本発明の追加的な態様は、試験システムの局部発振器を、初期周波数からオフセットされた１つ以上の続く周波数へと再設定する工程と、ＤＵＴからの１つ以上の続くＲＦ信号を試験システムに送信する工程であって、ＤＵＴは、元の物理的信号設定を維持する工程とを含み得る。本方法はまた、試験システムにより、１つ以上の続くＲＦ信号の各物理アナログ特性を測定する工程と、測定された各物理特性のアナログ値を、１つ以上の続くＬＯの周波数それぞれの、デジタルの相当値に変換する工程と、測定される各物理的特性の結果を、１つ以上の続くＬＯの周波数それぞれに関して、電力対周波数軸に対して示す工程とを含む。スプリアス生成信号は、１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関して示されてもよい。実施形態は、１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関してスプリアス生成信号の振幅及び周波数を記録し、１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関して周波数がシフトした、スプリアス信号を自己生成した生成信号として特定する工程とを提供する。

本明細書の「発明を実施するための形態」を、より良好に理解することができるように、また当該技術への本発明の貢献を、より良好に認識することができるように、本発明の特定の実施形態を、このように、やや広範に概説してきた。当然ながら、以下に説明され、本明細書に添付される特許請求の範囲の主題を形成する、本発明の更なる実施形態が存在する。

この点で、本発明の少なくとも１つの実施形態を詳細に説明する前に、本発明は、以下の説明に記載されるか又は図面に示される、構成の詳細並びに構成要素の配列に、その用途が限定されないことを理解されたい。本発明は、説明される実施形態以外の実施形態が可能であり、様々な方法で実践及び実施することが可能である。また、本明細書並びに要約書で使用される、表現及び用語は、説明を目的とするものであって、限定として見なすべきではないことも理解されたい。

したがって、当業者であれば、本開示が基づくところの構想が、本発明の諸目的を実施するための他の構造、方法、及びシステムを設計するための基盤として容易に利用可能であることを、理解するであろう。したがって、そのような等価の構成が、本発明の趣旨及び範囲から逸脱しない限りにおいて、特許請求の範囲は、それらの等価の構成を含むものとして見なされることが重要である。
本発明は、以下に記載される「発明を実施するための形態」、及び本発明の様々な実施形態の添付図面から、より完全に理解されるが、しかしながら、これらは、本発明を特定の実施形態に限定するように解釈されるべきではなく、単に説明及び理解のためのものである。

図１は、代表的な開示される実施形態に従った、スペクトルマスクの外形の上に重ねた、典型的な直交周波数分割多重（ＯＦＤＭ）信号を例示する。 図２は、代表的な開示される実施形態に従った、スペクトルマスクの外形に重ねた、スプリアス生成信号を有するＯＦＤＭ信号を例示する。 図３は、代表的な開示される実施形態に従った、規定周波数に設定された試験機器に捕捉されたＯＦＤＭ信号を例示する。 図４は、代表的な開示される実施形態に従った、別の規定の周波数に設定された試験機器に捕捉されたＯＦＤＭ信号を例示する。 図５は、代表的な開示される実施形態に従った、更に別のものに重ねた、図３及び図４のＯＦＤＭ信号を例示する。 図６は、代表的な開示される実施形態に従った、スプリアス信号を特定するために、スペクトルマスクの外形に重ねた、図３及び図４の信号捕捉を含む、ＯＦＤＭ信号を例示する。図６は、試験機により影響を受けたスプリアス信号が、結果からフィルタリングされたことを示す。

本発明が、図面を参照して説明されるが、全体を通じて、同様の参照符号は、同様の要素を指す。以下で、添付図面を参照して、特許請求される本発明の例示的実施形態が詳説される。そのような説明は、例示的なものであって、本発明の範囲を限定するものではない。そのような実施形態は、主題となる発明を当業者が実施することを可能にするために、十分詳細に説明され、主題となる発明の思想又は範囲から逸脱することなく、何らかに変型して、他の実施形態を実施することができる点が理解されるであろう。

本開示を通じ、文脈にそうでないことが明確に示されない限り、用語「信号」は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指すことがある。

本発明の装置は、装置が基準の仕様内で動作していることを確認するための試験に供されてもよい。試験中の装置（ＤＵＴ）の開示される実施形態は、無線ＲＦ信号を送受信するための送受信機を含み得る。先に記載されたように、このようなデバイスを試験するように設計された特殊システムは典型的には、デバイスが送信した信号を受信及び分析し（例えば、ベクトル信号分析器（ＶＳＡ））、業界で認可された基準に従う信号を送信する（例えば、ベクトル信号発生器（ＶＳＧ））ように設計されたサブシステムを含み、デバイスがその基準に従う無線信号を受信及び処理しているかを判定してもよい。

したがって、試験システムの開示される実施形態は、ＤＵＴのＲＦ信号を受信するように構成され、ＲＦ信号の物理的アナログ特性を測定することができる。試験システムはまた、測定されたアナログ値の物理的特性を、デジタルの相当値に変換してよい。測定された物理的特性の結果が、図形的に表示されてよく（例えば、電力対周波数軸に沿って）、ここでスプリアス生成信号が特定されて、その後分析されてよい。

したがって、スプリアス信号が、開示される試験下において生じると、本発明は機器により生じたスプリアス信号を特定し、これらを、１つ以上のＤＵＴの生成信号から区別する。開示される実施形態は、パワースペクトル密度の結果が、機器の偶発的信号などのソースによって影響されないことを確実にしてよく、より高い精度の試験結果をもたらす。

図１は、スペクトルマスクの外形１０２に重ねた、典型的な直交周波数分割多重（ＯＦＤＭ）信号１０１を表す。この場合、意図されたＤＵＴ信号が、２４２７ＭＨｚと２４４７ＭＨｚ（２０ＭＨｚ帯域幅）を占める。これらのスペクトルの限界の上及び下の信号は、これらの電力が、スペクトルマスク限界を大きく下回るように、フィルタリングされた。

関心のスペクトル帯域幅（例えば、この例では２４２７〜２４４７ＭＨｚ）内の最も高い電力を有する生成信号を生成するために、ＯＦＤＭ ＲＦ信号１０１を送信するように設計された装置が利用されてよい。例えば、認可又は無認可のスペクトルを共有するものなどの、装置間における干渉が最小限であることを確実にするため、これらの装置は、関心のスペクトル帯域幅外になる、生成信号の電力を制限しなくてはならない。このような信号の許容可能な電力の限界が、スペクトルパワー密度マスク１０２により、画定される。したがって、図１に示される信号は、これが従う基準（例えば、ＩＥＥＥ ８０２．１１ｘ）の許容可能な限界の範囲内に収まる。

図２は、図１におけるスペクトルマスクの上に重ねた、典型的なＯＦＤＭ信号を表す。しかしながら、この例において、４つのスプリアス生成信号２０１、２０２、２０３、及び２０４はそれぞれ、およそ、２４０９、２４１９、２４５９、及び２４６３ＭＨｚで生じる。これらのスプリアス生成信号は、試験中の装置（ＤＵＴ）自体により生じる場合があり、又はこの生成信号は、試験機器により生じる場合がある。あるいは、スプリアス生成信号は、ＤＵＴ及び試験機器の両方により生じた偶発的信号の組み合わせ（おそらくは、同じ周波数において一致し、強め合うように干渉する、実際には２つの偶発的信号を含む）であり得る。この実施例は、スプリアス信号が３つの場合、２０１、２０２、及び２０３において、スペクトルマスクの電力限界を超えることを例示している。しかしながら、この信号捕捉において、どちらの偶発的信号がＤＵＴにより生成され、どちらの偶発的信号が試験機器により生成されたのか判断することができない。

図３に図示されているように、ＤＵＴからの信号が捕捉され、周波数領域において分析され、４つのスプリアス信号３０１、３０２、３０３、及び３０４の存在を示している。試験機器の局部発振器（ＬＯ）が、Ｆ ＭＨｚの周波数に設定されている。図示されるように、スプリアス信号３０１、３０２、３０３、及び３０４が、それぞれ、周波数ｆ_１、ｆ_２、ｆ_３、及びｆ_４で生じる。また、この単一の捕捉において、スプリアス信号の１つ以上が、ＤＵＴにより生じたのか、又は試験機器により生じたのかを知ることはできない。

図４は、図３の同じ信号を示し、ここで試験機器の局部発振器周波数は、Ｆ ＭＨｚからＦ−Δ ＭＨｚに変更されている。ＬＯの周波数が変更されるとき、図３に示される４つのスプリアス信号のうち、周波数ｆ_１の前のスプリアス信号３０１がここではｆ_１−ｄ ＭＨｚ ４０１であり、周波数ｆ_３の前のスプリアス信号３０３は、ここではｆ_３−３ｄ ＭＨｚ ４０３であり、周波数ｆ_４の前のスプリアス信号３０４はここでは２つの偶発的信号（一方は依然として周波数ｆ_４ ４０５であり、他方はｆ_４−ｄ ＭＨｚ ４０４）であることに留意する。分析は、周波数シフトの３つは、一次生成物であり（すなわち、シフトはｆｎ−ｄ）、及び１つはより高次の生成物である（すなわち、シフトはｆｎ−３ｄ）ことを示している。

したがって、図４は、ＤＵＴの信号の第２捕捉を例示し、ここで試験機器のＬＯの周波数は、Ｆ−Δ ΜΗｚに設定される。捕捉後、第１スプリアス信号４０１、及び第３スプリアス信号４０３が両方とも、それぞれ、周波数において、ｆ_１及びｆ_３ ＭＨｚから、ｆ_１−ｄ及びｆ_３−３ｄ ＭＨｚへと移動したことに留意する必要がある。しかしながら、第２スプリアス信号４０２は、依然としてｆ_２ ＭＨｚで生じる。ｆ_４ ＭＨｚで前に生じたスプリアス信号４０５はここでは、規模が縮小したものとして示され、新しいスプリアス信号４０４は、ｆ_４−ｄ ＭＨｚにおいて生じた。シフトは、一次のオーダーよりも高い可能性があり、スプリアス信号の周波数シフトはｄの倍数であり得る。周波数シフト、及び信号の振幅に基づき、ｆ_１ ＭＨｚのスプリアス信号４０１が、試験機器により生じ、ＬＯの周波数のシフトに直接関連することが結論づけられる場合がある。周波数及び振幅が一定である、ｆ_２ ＭＨｚのスプリアス信号４０２はしたがって、ＤＵＴによって生じたものと結論づけられる。スプリアス信号４０３（ｆ_３−３ｄ ＭＨｚ）はまた、第２データ捕捉の間に、ｆ_３からシフトしている。したがって、スプリアス信号４０３は、試験機器により生じ、ＬＯの周波数の高調波と関連するものと結論づけられる（例えば、スプリアス信号は、ｄではなく、３ｄだけシフトしている）。周波数ｆ_４のスプリアス信号は実際には、ＬＯが周波数Ｆに設定されるとき（図３）に、周波数ｆ_４において共に生じる、試験機器及びＤＵＴにより生成される一致した偶発的信号である。しかしながら、ＬＯが周波数Ｆ−Δ ＭＨｚに設定されるとき、周波数ｆ_４のスプリアス信号は、スプリアス信号４０４の、ｆ_４−ｄ ＭＨｚへのシフトにより示されるように、分離される。第２データ捕捉中における周波数のシフトにより、したがって、スプリアス信号４０４が、試験機器により生じていることが判定される。あるいは、スプリアス信号４０５は、第２データ捕捉中に周波数ｆ_４のままであり、したがって、ＤＵＴにより生じたものと結論づけられる。分離されるとき、各スプリアス信号４０４、４０５の振幅はより低くなるがこれは、これらが以前には互いに強め合うように干渉していた（すなわち、ＬＯはＦに設定されていた）が、今ではもはやこれらが互いにシフトして強め合うように干渉しないためである。

図５は、局部発振器が元々Ｆ ＭＨｚに設定されていたときに発生した４つの信号のスナップショットを示す。図５はまた、局部発振器がＦ−Δ ＭＨｚに設定されていたときに生成したこれらの信号を例示する。したがって、第１データ捕捉（図３に図示）、及び第２データ捕捉（図４に図示）の結果が図５に同時に示される。示された結果の分析は、局部発振器周波数のシフトにより、４つのスプリアス信号のうち、３つの周波数がシフトしたことを示している。一次の生成物は、ＬＯのシフトの量にだけシフトし、より高次の生成物はＬＯのシフトの倍数でシフトする。これは、第１スプリアス信号５０１及び第３スプリアス信号５０４、及び周波数ｆ_４における２つの一致するスプリアス信号の一方５０６が、ＤＵＴではなく、試験機器により生じたことを示す。第２偶発的信号５０３及び、周波数ｆ_４の２つの一致する偶発的スプリアスの一方５０７が、ＤＵＴにより生じている。

ＬＯのシフトが第２データ捕捉において生じるときに、スプリアス信号５０１及び５０４の周波数がシフトするため（それぞれ、スプリアス信号５０２、及び５０５により）、本発明の開示される実施形態は、スプリアス信号５０１、５０２、５０４、及び５０５が試験機器により生じることを決定する。開示される実施形態はまた、ＬＯが周波数Ｆ−Δ ＭＨｚに設定されるときに、周波数ｆ_４におけるスプリアス信号が分離されることを判定する（記載されているように、スプリアス信号５０６が周波数ｆ_４−ｄ ＭＨｚにシフトする一方で、スプリアス信号５０７が周波数ｆ_４のままであることにより示される）。したがって、開示される発明は、第２データ捕捉中におけるスプリアス信号５０６のシフトにより、スプリアス信号５０６は、試験機器により生じることが判定される。スプリアス信号５０３及び５０７は、第２データ捕捉の間シフトせず、したがって、ＤＵＴにより生じるものと判定される。

図６は、第１及び第３スプリアス信号、並びに２つの一致したスプリアス信号の一方（試験機器により生じる）を特定してこれらをフィルタリングし、一方で、第２スプリアス信号、及び２つの一致する生成信号の一方（ＤＵＴにより生じる）を残した結果を示す、実施例を示す。これは、３つ全ての偶発的信号が表示されるデータ捕捉に留まるか、又は３つ全ての偶発的信号が排除される（例えば、ＤＳＰフィルタリング技術）場合よりも、ＤＵＴにより生じる生成信号のより正確な結果を表す。ＬＯが依然としてＦ−Δ ＭＨｚに設定された、２つの上記のデータ捕捉の結果として（例えば、図３及び図４に例示される信号スナップショットにより示されているように）、図６に示されるように、記載される実施形態は、試験機器により生じたスプリアス信号をより容易に特定する。この場合、スプリアス信号６０１、６０３、及び６０５は、試験機器により生じるものとして容易に特定される。開示される実施形態は、結果を更に絞り込むために、デジタル信号処理（ＤＳＰ）、及びフィルタリング技術を利用してもよい。例えば、試験機器により生じるスプリアス信号（例えば、スプリアス信号６０１、６０３、及び６０５）の信号特性のフィルタリングは、ＤＵＴにより生じるスプリアス信号６０２及び６０４のみの影響を反映し得る。この方法により、開示される発明は、信号データ捕捉の発生をより効率的に促進し、続くデータ捕捉の分析がより正確に行われる。例えば、開示される実施形態は、上記のスプリアス信号が、周波数スペクトルの規定の周波数範囲内で、生じているかどうかを点検するために、ＤＵＴにより生成されるスプリアス信号の分析的判定をもたらす。別の分析は、例えば、スペクトルマスクにより示される電力の限界に対する、各スプリアス信号の電力強度レベルを調べることにより、不適合なスプリアス信号を判定することを含み得る。例として、開示される実施形態に従い、図６は、スペクトルマスクの許容範囲外で生じるものとして容易に判断できる、ＤＵＴにより生じるスプリアス信号６０２を例示する。

容易に評価されるように、ＬＯのシフトの後に、異なるスプリアス信号が生じ、実際に、前のスプリアス信号が占める周波数へと移動することが可能である。したがって、先に記載した生じたスプリアス信号は、試験機器ではなく、ＤＵＴによって生じるものとみなされる。本発明の開示される実施形態は、ＤＵＴにより生じるスプリアス信号とは異なる試験機器により生じるスプリアス信号を更に区別するために、第１ ＬＯの周波数又は第１ ＬＯのシフトと高調波的に関連しない周波数の、第２ ＬＯのシフトを利用してもよい。

したがって、本発明の開示される実施形態は、機器により生じるスプリアス信号を特定し、これらをＤＵＴの生成信号から区別する方法をもたらす。本開示は、スプリアス信号の分析が、試験機器により生じるスプリアス信号に影響されないことを確実にする。加えて、本開示は、スプリアス信号の分析の効率性及び正確性を増加させる。本発明は、試験機器により生じるスプリアス信号を特定する。この実施形態はまた、周波数スペクトル中の、スプリアス信号を特定及びフィルタリングして、これをＤＵＴにより生じる生成信号から区別するための、ＤＳＰ技術を利用してもよい。このように、本発明は、ＤＵＴの生成信号が、試験機器のスプリアス信号と一致するときに、ＤＵＴのスプリアス信号を認識することができる。本発明は、規定の信号スペクトルを効率的かつ迅速に捕捉し、これを分析することができる。分析は、いずれかのスプリアス信号を排除するために、信号スペクトルを調節及びフィルタリングすることを含んでもよく、これはＤＵＴにより生じるスプリアス信号の品質の測定ではない。したがって、試験装置からのスプリアス信号の影響は、本発明の改善された信号分析に含まれない。

開示される実施形態により、本発明は、信号捕捉中に、利用されるＤＵＴにより生じる、一致する周波数の生成信号を意図せずして排除することなく、機器により生じるスプリアス信号を特定的に排除することができる。したがって、本開示の改善された技術は、標準的な規定の試験結果基準による正負の誤りを、低減又は排除する。

本開示の範囲から逸脱することなく、様々な修正及び変型を、開示される装置及び方法に実施し得ることが、当業者には明らかとなるであろう。更には、本明細書を考察することにより、本装置及び方法の他の実施形態が、当業者には明らかとなるであろう。本明細書及び実施例は、例示としてのみ考慮され、本開示の真の範囲は、以下の特許請求の範囲及びそれらの等価物によって指示されるものとする。

本技術において説明されるようなシステム、又はその構成要素のいずれもが、コンピュータシステムの形態で具体化することができる。コンピュータシステムの典型的な例としては、汎用コンピュータ、プログラム式マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、周辺集積回路要素、及び本技術の方法を構成する工程を実施することが可能な他のデバイス、若しくはデバイスの配列が挙げられる。

このコンピュータシステムは、コンピュータ、入力デバイス、ディスプレイユニット、及び／又はインターネットを含む。コンピュータは、マイクロプロセッサを更に含む。マイクロプロセッサは、通信バスに接続される。コンピュータはまた、メモリも含む。このメモリは、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）及び読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）を含み得る。コンピュータシステムは、記憶デバイスを更に含む。この記憶デバイスは、ハードディスクドライブ、又はフロッピー（登録商標）ディスクドライブ、光ディスクドライブなどのような、取り外し可能記憶ドライブとすることができる。この記憶デバイスはまた、コンピュータシステム内に、コンピュータプログラム又は他の命令を読み込むための、別の同様の手段とすることもできる。コンピュータシステムはまた、通信ユニットも含む。この通信ユニットにより、コンピュータは、入出力インターフェースを通じて、他のデータベース及びインターネットに接続することが可能になる。この通信ユニットにより、データの転送、並びに他のデータベースからのデータの受信が可能になる。通信ユニットは、データベース、並びにＬＡＮ、ＭＡＮ、ＷＡＮ、及びインターネットなどのネットワークに、コンピュータシステムが接続することを可能にする、モデム、イーサネット（登録商標）カード、又は任意の同様のデバイスを含み得る。コンピュータシステムは、入出力インターフェースを通じてシステムにアクセス可能な、入力デバイスを通じて、ユーザーからの入力を容易にする。

コンピュータシステムは、入力データを処理するために、１つ以上の記憶要素内に記憶された、命令のセットを実行する。この記憶要素はまた、必要に応じて、データ又は他の情報も保持することができる。記憶要素は、情報源、又は処理機械内に存在する物理メモリ要素の形態にすることができる。

命令のセットは、処理機械に、本技術の方法を構成する工程などの特定のタスクを実行するように命令する、様々なコマンドを含み得る。命令のセットは、ソフトウェアプログラムの形態にすることができる。更には、このソフトウェアは、個別のプログラムのコレクション、より多くのプログラムを有するプログラムモジュール、又は本技術におけるような、プログラムモジュールの一部分の形態にすることができる。このソフトウェアはまた、オブジェクト指向プログラミングの形態での、モジュラープログラミングも含み得る。処理機械による入力データの処理は、ユーザーコマンド、先行の処理の結果、又は別の処理機械によって作成される要求に応答することができる。

上記の説明は、当業者が本技術を実施及び使用することを可能にするために提示される一方で、特許取得のための要件に関連して記載される。本説明は、本技術を実施するための、現時点で想到される最良の方法である。好ましい実施形態への様々な修正は、当業者には容易に明らかとなり、本技術の一般的原理は、他の実施形態に適用することができ、本技術の一部の特徴は、対応する他の特徴の使用を伴うことなく、使用することができる。したがって、本技術は、示される実施形態に限定されることを意図するものではなく、本明細書に記載される原理及び特徴に一致する最も広い範囲が与えられるものとする。更に、複数の捕捉が常に必要なわけではないことが、当業者には明らかである。一度試験機のスプリアス信号が既知となると、これらの位置及び電力が保存され得、これらのスプリアス信号は、ＤＵＴ信号捕捉の際に、フィルタリングされる。このような場合、複数の捕捉をスケジュールに従って記載される通りに実施し、このようなスプリアス信号の電力が経時的に変化しないことを確実にする。

Claims (5)

1. 自己生成スプリアス信号を特定する方法であって、
   試験システムの局部発振器（ＬＯ）を初期周波数に設定する工程と、
   試験中の装置（ＤＵＴ）からの無線周波（ＲＦ）信号を前記試験システムに送信する工程と、
   前記試験システムにより、前記ＲＦ信号の物理的アナログ特性を測定する工程と、
   前記測定された物理特性のアナログ値を、第１デジタル相当値に変換する工程と、
   スプリアス生成信号を、前記第１デジタル相当値に従って特定する工程と、
   前記スプリアス生成信号の振幅及び周波数を特定する工程と、
   前記試験システムの前記局部発振器を、前記初期周波数からオフセットされた、１つ以上の続く周波数に再設定する工程と、
   前記ＤＵＴからの１つ以上の続くＲＦ信号を、前記試験システムに送信する工程であって、前記ＤＵＴは、元の物理的な信号設定を維持する、工程と、
   前記試験システムにより、前記１つ以上の続くＲＦ信号の各物理的アナログ特性を測定する工程と、
   前記１つ以上の続くＬＯの周波数それぞれに関し、前記測定された各物理的特性のアナログ値を、第２の又はそれ以上のデジタル相当値に変換する工程と、
   前記第２又はそれ以上のデジタル相当値に従って、前記１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれについてスプリアス生成信号を特定する工程と、
   前記１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関して、前記スプリアス生成信号の振幅及び周波数を特定する工程と、
   前記１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関して、周波数がシフトした前記スプリアス生成信号を、自己生成した生成信号として特定する工程とを含む、方法。
2. 前記第１デジタル相当値に従って前記スプリアス生成信号を特定する工程が、前記測定された物理的特性の結果を、電力対周波数軸にて示す工程を含み、
   前記第２又はそれ以上のデジタル相当値に従って、前記１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関し表示内の前記スプリアス信号を特定する工程は、前記１つ以上の続くＬＯの周波数のそれぞれに関し、前記測定された各物理的特性の結果を電力対周波数軸に示す工程を含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記１つ以上の続くＬＯの周波数に関して、周波数がシフトした前記スプリアス生成信号を、別様に特定された前記生成信号からフィルタリングする工程を更に含む、請求項１に記載の方法。
4. 自己生成スプリアス信号を特定する方法であって、
   試験システムを初期周波数に設定する工程と、
   試験中の装置（ＤＵＴ）からの第１信号を前記試験システムに送信する工程と、
   前記第１信号の特性を測定する工程と、
   前記第１信号の前記測定された特性から、スプリアス生成信号を特定する工程と、
   前記試験システムを、前記初期周波数からオフセットされた、１つ以上続く周波数に再設定する工程と、
   前記ＤＵＴからの１つ以上の続く信号を前記試験システムに送信する工程と、ここで前記ＤＵＴは、元の物理的な信号設定を維持し、
   前記１つ以上の続く信号の各特性を測定する工程と、
   前記１つ以上の続く周波数のそれぞれに関して、スプリアス生成信号を特定する工程と、
   前記１つ以上の続く周波数のそれぞれに関して、周波数がシフトした前記スプリアス生成信号を、自己生成した生成信号として特定する工程とを含む、方法。
5. 前記１つ以上の続く周波数に関して、周波数がシフトした前記スプリアス生成信号を、別に特定された前記生成信号からフィルタリングする工程を更に含む、請求項４に記載の方法。