KR102030443B1 - 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법 - Google Patents

자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102030443B1
KR102030443B1 KR1020147026560A KR20147026560A KR102030443B1 KR 102030443 B1 KR102030443 B1 KR 102030443B1 KR 1020147026560 A KR1020147026560 A KR 1020147026560A KR 20147026560 A KR20147026560 A KR 20147026560A KR 102030443 B1 KR102030443 B1 KR 102030443B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
frequency
subsequent
spurious
frequencies
Prior art date
Application number
KR1020147026560A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20140135785A (ko
Inventor
크리스찬 볼프 올가드
치앙 자오
Original Assignee
라이트포인트 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 라이트포인트 코포레이션 filed Critical 라이트포인트 코포레이션
Publication of KR20140135785A publication Critical patent/KR20140135785A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102030443B1 publication Critical patent/KR102030443B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2839—Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers
    • G01R31/2841—Signal generators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

검사 시스템의 국부 발진기(LO)는 피검사 장치(DUT)가 무선 주파수(RF) 신호를 검사 시스템으로 전송하는 초기 주파수로 설정되어 있다. 이러한 RF 신호의 특성은 검사 시스템에 의해 측정되고, 스퓨리어스 신호 생성물의 진폭 및 주파수를 식별하는데 사용된다. 검사 시스템의 LO는 상기 초기 주파수로부터 오프셋된 하나 이상의 후속 주파수로 재설정된다. 하나 이상의 후속 RF 신호는 DUT로부터 검사 시스템으로 전송되고, DUT는 그 최초 신호 설정을 유지한다. 후속 RF 신호의 특성은 검사 시스템에 의해 측정되고, 후속 LO 주파수의 각각에 대한 스퓨리어스 신호 생성물의 진폭 및 주파수를 식별하는데 사용된다. 그다음, 이러한 후속 LO 주파수의 각각에 대해 주파수 시프트된 스퓨리어스 신호 생성물은 자기 발생 신호 생성물로서 식별될 수 있다.

Description

자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법{METHOD FOR IDENTIFYING SELF-GENERATED SPURIOUS SIGNALS}
본 발명은 일반적으로 전자 기기를 검사하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 하드웨어, 펌웨어 및/또는 소프트웨어 구성요소로 구성된 검사 플랫폼을 사용하여 무선 장치를 검사하기 위한 시스템 및 방법의 향상에 관한 것이다.
많은 오늘날의 휴대형 장치는 전화, 디지털 데이터 전송, 지리학적인 위치지정등에 무선 "접속"을 사용한다. 주파수 스펙트럼, 변조 방법 및 스펙트럼 파워 밀도의 차이에도 불구하고, 무선 접속 표준은 데이터를 송수신하기 위해, 동기화된 데이터 패킷을 사용한다. 일반적으로, 이러한 무선 기능 모두는 이러한 기능을 갖는 장치가 고수해야 하는 파라미터 및 한계를 특정하는 산업 인증된 표준(예를 들어, IEEE 802.11 및 3GPP LTE)에 의해 규정되어 있다.
연속된 장치 개발의 임의의 시점에서, 장치가 그 표준의 사양 내에서 동작하고 있는지를 검사하고 인증할 필요가 있을 수 있다. 이러한 많은 장치는 송수신기이다. 즉, 이들은 무선 주파수(RF) 신호를 송신하고 수신한다. 이러한 장치를 검사하도록 설계된 전용 시스템은 장치에 의해 전송된 신호를 수신하고 분석하도록 설계된 서브시스템(예를 들어, 벡터 신호 분석기(VSA)) 및 장치가 산업 인증된 표준에 따라 무선 신호를 수신하고 처리하고 있는지를 판정하기 위해 그 표준을 따르는 신호를 전송하도록 설계된 서브시스템(예를 들어, 벡터 신호 생성기(VSG))를 보통 포함한다.
이러한 검사 시스템은 그 의도된 신호와 함께, "스퍼(spur)"라고도 알려진, 스퓨리어스 (또는 의도치 않은) 신호를 생성하는 것이 일반적이다. 이러한 스퓨리어스 신호는 자주 검사기 내의 기존 신호의 기본 주파수 및 이러한 기본 주파수의 고조파와 연관되어 있다. 예를 들어, 다른 신호와 "혼합"되는 국부 발진기(LO)는 그 기본 주파수와 국부 발진기가 혼합되는 다른 신호의 주파수의 합과 차이 주파수를 생성할 것이다. LO는 또한 그 기본 주파수의 두배인 제2 고조파를 생성할 수 있다. 이것도 다른 신호와 혼합될 수 있어 합과 차이 신호 생성물(product) 등을 생성할 수 있다. 보통, 이러한 스퓨리어스 신호는 관심의 주파수에서 의도된 신호 보다 훨씬 더 낮은 출력 레벨에 있다.
그러나, 예를 들어, 파워 스펙트럼 밀도가 분석되고 있는 검사에서, 스펙트럼 마스크는 매우 넓을 수 있고, 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호는 스펙트럼 마스크의 경계 근방에서 피검사 장치(DUT)의 생성된 신호의 동일한 위수의 출력 진폭에 있을 수도 있다. 이러한 스퓨리어스 신호가 DUT의 신호로부터 구별되지 않으면, 이들은 파워 스펙트럼 밀도 고장과 같은, 적합하지 않은 결과를 보여주는 분석에 기여할 수도 있다.
일반적으로, 검사 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호가 식별될 때, 이들은 디지털 신호 처리(DSP) 여과 기술을 사용하여 제거될 수 있다. 그러나, 공지된 기기 스퓨리어스 신호를 "노칭 아웃"하거나 제거하는 것은 또한 검사 기기의 스퓨리어스 신호의 동일한 주파수에서 발생할 수도 있는 DUT 신호를 노칭 아웃하거나 제거할 수 있다. DUT의 신호 생성물을 식별하지 않고 이들을 검사 기기의 스퓨리어스 신호와 그룹화하면 후속 신호 분석 동안 어려움과 부정확함이 나타날 수 있다. 예를 들어, DUT의 스퓨리어스 신호가 검사 기기의 스퓨리어스 신호와 함께 그룹화되고 제거되면, DUT는 실제 DUT가 파워 스펙트럼 밀도 분석에 실패했을 때 검사를 통과하는 것으로 나타날 수도 있다. 따라서, 검사 시스템의 신호 포착 및 후속 신호 분석은 부정확할 수 있고 예를 들어, 표준의 규정된 검사 결과 기준에 따라 잘못된 가부여부를 산출하는 것을 포함하는 잘못된 결과를 산출할 수 있다.
이상적으로, 아무런 스퓨리어스 신호를 생성하지 않는 검사 기기를 사용하는 것이 유리하다. 그러나, 실제, 이것은 모든 검사 시나리오에서 현실적이 아닐 수 있다. 따라서, 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 식별하고 이들을 검사 시스템 내에 구성된 하나 이상의 DUT의 신호 생성물로부터 구별할 필요가 있다. 또한, 파워 스펙트럼 밀도 결과와 같은, 검사 결과의 분석이 기기 스퍼에 의해 영향을 받지 않도록 보장하고 검사 결과의 증가된 정확도를 보장할 필요가 있다.
따라서, 본 발명은 목적은 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 식별하고 이들을 DUT의 신호 생성물로부터 구별하기 위한 방법 및 시스템을 포함하도록 종래 기술의 결함을 극복하는 것이다.
본 실시예에 따라, 본 발명의 적어도 일부 특징에서, 검사 시스템의 국부 발전기를 초기 주파수로 설정하는 단계 및 무선 주파수(RF) 신호를 피검사 장치(DUT)로부터 상기 검사 시스템으로 전송하는 단계를 포함하는 자기 발생 스퓨리어스 신호를 식별하기 위한 방법이 제공되어 있다. 본 방법은 또한 상기 검사 시스템으로 상기 RF 신호의 물리적 아날로그 특성을 측정할 수 있다. 실시예는 상기 측정된 물리적 특성의 아날로그 값을 제1 디지털 등가로 전환하는 단계, 주파수 축에 대한 파워로 상기 측정된 물리적 특성 결과를 표시하는 단계, 디스플레이에 스퓨리어스 신호 생성물을 식별하는 단계 및 스퓨리어스 신호 생성물의 진폭과 주파수에 주의하는 단계를 포함한다. 본 발명의 추가 특징은 상기 검사 시스템의 국부 발진기를 상기 초기 주파수로부터 오프셋된 하나 이상의 후속 주파수로 재설정하는 단계 및 하나 이상의 후속 RF 신호를 상기 DUT로부터 상기 검사 시스템으로 전송하는 단계로서, 상기 DUT는 최초 물리적 신호 설정을 유지하는 단계를 포함할 수 있다. 본 발명은 또한 상기 하나 이상의 후속 RF 신호의 각각의 물리적 아날로그 특성을 상기 검사 시스템에 의해 측정하는 단계, 상기 측정된 각각의 물리적 특성의 아날로그 값을 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대한 디지털 등가로 전환하는 단계, 및 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 주파수 축에 대한 파워로 상기 측정된 물리적 특성 결과를 표시하는 단계를 제공할 수 있다. 스퓨리어스 신호 생성물은 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 표시될 수 있다. 실시예는 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대한 스퓨리어스 신호 생성물의 진폭 및 주파수에 주의하는 단계, 및 상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 주파수 시프트된 스퓨리어스 신호 생성물을 자기 발생 신호 생성물로서 식별하는 단계를 제공한다.
따라서, 본 발명의 상세한 설명이 보다 더 잘 이해되도록 그리고 본 발명의 효과를 보다 더 이해할 수 있도록 본 발명의 특정 실시예가 언급되어 있다. 물론, 아래에 설명되고 여기에 첨부된 청구범위를 형성할 본 발명의 추가 실시예가 존재한다.
이러한 관점에서, 본 발명의 적어도 하나의 실시예를 상세하게 설명하기 전에, 본 발명은 그 적용이 상세한 구성 및 다음의 설명에 제시되거나 도면에 설명된 구성요소의 배열에 제한되지 않는다는 것을 이해해야 한다. 본 발명은 설명된 것에 더해 다양한 방식으로 실시될 수 있다. 또한, 여기에 채용된 구 및 용어는 제한을 위한 설명을 위한 것이라는 것을 이해해야 한다.
따라서, 당업자는 이러한 설명이 기초하는 개념이 본 발명의 다수의 목적을 수행하기 위한 다른 구조, 방법 및 시스템의 설계를 위한 기초로서 사용될 수 있다는 것을 이해할 것이다. 따라서, 청구범위는 본 발명의 정신 및 범위로부터 벗어나지 않는 한 이러한 등가의 구성을 포함하는 것으로 생각해야 한다.
본 발명은 아래에 주어진 상세한 설명 및 본 발명의 다양한 실시예의 첨부된 도면으로부터 보다 온전히 이해될 것이지만, 이는 특정 실시예로 본 발명을 제한하지 않고 설명 및 이해를 위한 것이다.
도 1은 실시예에 따라 스펙트럼 마스크 아웃라인에 중첩된 전형적인 직교주파수분할다중화(OFDM) 신호를 설명하는 도면이다.
도 2는 실시예에 따라 스펙트럼 마스크 아웃라인에 중첩된 스퓨리어스 신호 생성물을 갖는 OFDM 신호를 설명하는 도면이다.
도 3은 실시예에 따라, 규정된 주파수에 설정된 검사 기기에서 포착된 OFDM 신호를 설명하는 도면이다.
도 4는 실시예에 따라, 다른 규정된 주파수에서 설정된 검사 기기에서 포착된 도 3의 OFDM 신호를 설명하는 도면이다.
도 5는 실시예에 따라, 서로 중첩된 도 3 및 도 4의 OFDM 신호를 설명하는 도면이다.
도 6은 실시예에 따라 스퓨리어스 신호를 식별하기 위한 스펙트럼 마스크 아웃라인에 중첩된 도 3 및 도 4의 신호 포착을 포함하는, OFDM 신호를 설명하는 도면이다.
본 발명은 동일한 부재 번호가 동일한 요소를 가리키는 도면을 참조하여 설명될 것이다. 다음의 상세한 설명은 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대한 것이다. 이러한 설명은 설명을 위한 것이고 본 발명의 범위에 대해 제한하기 위한 것이 아니다. 이러한 실시예는 당업자중 하나가 본 발명을 실시하도록 충분히 상세하게 설명될 것이고, 다른 실시예가 본 발명의 정신 및 범위로부터 벗어남 없이 일부 변화로 실시될 수 있다는 것을 이해할 것이다.
본 발명의 전반에서, 문맥으로부터 다르게 명확하게 언급되지 않으면, 용어 "신호"는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압, 또는 데이터 신호를 가리킬 수 있다.
본 발명의 장치는 장치가 그 표준 사양 내에서 동작하는지 검증하기 위해 검사 받을 수 있다. 피검사 장치(DUT)의 개시된 실시예는 무선 RF 신호를 전송하고 수신하기 위한 송수신기를 포함할 수 있다. 앞서 설명된 바와 같이, 이러한 차이를 검사하도록 설계된 전용 시스템은 보통 장치-전송된 신호를 수신하고 분석하도록 설계된 서브시스템(예를 들어, 벡터 신호 분석기(VSA)) 및 장치가 그 표준에 따라 무선 신호를 수신하고 처리하는지를 판정하기 위해 산업 인증된 표준에 가입된 신호를 송신하도록 설계된 서브시스템(예를 들어, 벡터 신호 생성기(VSG))을 보통 포함할 수 있다.
따라서, 테스트 시스템의 실시예는 DUT의 RF 신호를 수신하고 RF 신호의 물리적 아날로그 특성을 측정할 수 있도록 구성될 수 있다. 테스트 시스템은 또한 측정된 아날로그 값의 물리적 특성을 디지털 등가물로 전환할 수 있다. 이렇게 측정된 물리적 특성 결과는 예를 들어, 스퓨리어스 신호 생성물이 식별될 수 있고 이어서 분석될 수 있는, 주파수 축에 대한 파워를 따라 그래픽으로 표시될 수 있다.
따라서, 스퓨리어스 신호가 개시된 테스트에서 생성될 때, 본 발명은 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 식별하고 이들을 하나 이상의 DUT의 신호 생성물로부터 구별한다. 개시된 실시예는 또한 파워 스펙트럼 밀도 결과의 분석이 기기 스퍼와 같은 소스에 의해 영향을 받지 않고 증가된 정확도의 검사 결과를 제공하도록 보장할 수 있다.
도 1은 스펙트럼 마스크 아웃라인(102)에 중첩된 전형적인 직교주파수분할다중화(OFDM) 신호(101)를 도시하고 있다. 이러한 경우에, 의도된 DUT 신호는 2427과 2447MHz 사이의 스펙트럼(20MHz 대역폭)을 차지하고 있다. 이러한 스펙트럼 제한 위와 아래의 신호는 이들의 출력이 온전히 스펙트럼 마스크 제한 아래에 있도록 여과되었다.
OFDM RF 신호(101)를 전송하도록 설계된 장치는 관심의 스펙트럼 대역폭(예를 들어, 본 예에서는 2427 - 2447 MHz)에서 최고 출력을 갖는 신호 생성물을 생성하도록 채용될 수 있다. 허가되거나 허가되지 않은 스펙트럼을 공유하는 장치와 같은 장치 사이에 최소 간섭이 있도록 보장하기 위해, 예를 들어, 이러한 장치는 관심의 스펙트럼 대역폭 외측에 있는 신호 생성물의 출력을 제한해야 한다. 이러한 신호의 허용가능한 출력 제한은 스펙트럼 출력 밀도 마스크(102)에 의해 윤곽이 드러나 있다. 따라서, 도 1에 도시된 신호는 IEEE 802.11x와 같은, 이러한 신호를 통제하는 표준의 수용가능한 제한 내에 있다.
도 2는 도 1에서와 같이, 스펙트럼 마스트에 중첩된 전형적인 OFDM 신호를 도시하고 있다. 그러나, 이러한 예에서, 4개의 스퓨리어스 신호 생성물(201, 202, 203, 204)이 대략 2409, 2419, 2459 및 2463 MHz에 각각 나타난다. 이러한 스퓨리어스 신호 생성물은 피검사 장치(DUT) 자체 의해 생성될 수도 있거나, 상술된 신호 생성물은 검사 기기에 의해 생성될 수도 있다. 대안으로, 스퓨리어스 신호 생성물은 아마도, 동일한 주파수에서 일치하고 구조상 간섭하는 실제로 2개의 스퍼인 스퍼를 포함하는, DUT와 검사 기기 모두로부터 생성된 스퍼의 조합일 수도 있다. 본 예는 이러한 스퓨리어스 신호가 201, 202 및 203의 3개의 예에서 스펙트럼 마스크의 출력 한계를 초과하는 것을 보여주고 있다. 그러나, 이러한 단일 포착에 의해, 어느 스퍼가 DUT에 의해 생성되고 어느 스퍼가 검사 기기에 의해 생성되는지를 판단할 수 없다.
도 3에서, 신호가 DUT로부터 포착되고 4개의 스퓨리어스 신호 301, 302, 304, 304의 존재를 보여주는 주파수 영역에서 분석된다. 검사 기기의 국부 발진기(LO)가 F MHz의 주파수에서 설정된다. 스퓨리어스 신호 301, 302, 304, 304는 도시된 바와 같이, 주파수 f1, f2, f3, f4에서 각각 발생한다. 다시, 이러한 단일 포착에 의해, 이러한 스퓨리어스 신호의 하나 이상이 DUT에 의해 또는 검사 기기에 의해 생성되었는지를 식별할 수 없다.
도 4는 검사 기기의 국부 발진기 주파수가 F MHz로부터 F-Δ MHz로 변한 도 3의 동일한 신호를 도시하고 있다. LO 주파수가 변할 때, 도 3에 도시된 4개의 스퓨리어스 신호에서, 주파수 f1에서의 이전의 스퓨리어스 신호(301)는 이제 f1-d MHz(401)에 있고; 주파수 f3에서의 이전의 스퓨리어스 신호(303)은 이제 f3-3d MHz(403)에 있고; 주파수 f4에서의 이전의 스퓨리어스 신호(340)는 이제 하나는 여전히 f4(405)에 있고 하나는 f4-d MHz(404)에 있는 2개의 스퍼를 도시한다는 것에 주목해야 한다. 분석해보면, 주파수 시프트의 3개는 1차 생성물(즉, 여기에서 시프트는 fn-d이었다)이었고, 하나는 고차 생성물(즉, 여기에서 시프트는 fn-3d이었다)이다.
따라서, 도 4는 검사 기기의 LO 주파수가 F-Δ MHz로 설정되는 DUT의 신호의 제2 포착을 보여주고 있다. 이러한 포착 후에, 제1 스퓨리어스 신호(401) 및 제3 스퓨리어스 신호(403)는 모두 f1 및 f3 MHz로부터 f1-d 및 f3-d MHz로 각각 주파수 시프트되었다는 것이 주목된다. 그러나, 제2 스퓨리어스 신호(402)는 여전히 f2 MHz에서 발생한다. f4 MHz에서 이전에 발생한 스퓨리어스 신호(405)는 이제 진폭이 감소되어 나타나고, 새로운 스퓨리어스 신호(404)는 f4-d MHz에 나타난다. 이러한 시프트는 1차 보다 높을 수도 있고 이러한 스퓨리어스 신호의 주파수 시프트는 d의 배수일 수도 있다는 것이 주목된다. 주파수 시프트 및 신호 진폭에 기초하여 f1 MHz에서의 스퓨리어스 신호(401)는 검사 기기에 의해 생성되고 LO 주파수의 시프트와 직접 관련되어 있다고 결론지을 수 있다. 따라서, 주파수 및 진폭에서 고정된 상태로 남은 f2 MHz에서의 스퓨리어스 신호(402)는 DUT에 의해 생성된 것으로 결론지어진다. 또한, (f3-3d MHz에서의) 스퓨리어스 신호(403)는 제2 데이터 포착 동안 f3로부터 주파수 시프트되어 있다. 따라서, 스퓨리어스 신호(403)는 검사 기기에 의해 생성된 것으로 결론지어지고 LO 주파수의 고조파(예를 들어, 이러한 스퓨리어스 신호는 d 보다는 3d 만큼 시프트되어 있다)와 관련되어 있다. 주파수 f4에서의 스퓨리어스 신호는 실제로 (도 3에서와 같이) LO가 주파수 F로 설정되어 있을 때 양측 모두가 주파수 f4에서 발생하는 검사 기기 및 DUT로부터 생성되는 스퍼와 일치한다. 그러나, LO가 주파수 F-Δ MHz로 설정되어 있을 때, 주파수 f4에서의 스퓨리어스 신호는 f4-d MHz로 시프트된 스퓨리어스 신호(404)에 의해 표시된 바와 같이 분리되어 있다. 따라서, 제2 데이터 포착 동안의 주파수 시프트로 인해, 스퓨리어스 신호(404)는 검사 기기에 의해 생성된다고 판정된다. 대안으로, 스퓨리어스 신호(405)는 제2 데이터 포착 동안 주파수 f4에 남아 있어서, DUT에 의해 생성된 것으로 결론지어진다. 분리될 때, 각 스퓨리어스 신호(404, 405)의 진폭은 보다 낮은데, 그 이유는 이들이 이전에 구조적으로 서로 간섭하고 있었고(즉, LO가 F로 설정되었을 때), 이제 이들이 서로 시프트될 때 구조적으로 더 이상 간섭하고 있지 않기 때문이다.
도 5는 국부 발진가 처음에 F MHz로 설정되었을 때 생성된 4개의 신호의 스냅숏을 제공한다. 또한, 도 5는 국부 발진기가 F-Δ MHz로 설정되었을 때 생성된 신호들을 보여준다. 따라서, (도 3에 도시된 바와 같은) 제1 데이터 포착 및 (도 4에 도시된 바와 같은) 제2 데이터 포착의 결과가 도 5에 동시에 표시되어 있다. 표시된 결과를 분석하면 4개의 스퓨리어스 신호중 3개가 국부 발진기 주파수의 시프트로 시프트되어 있다. 1차 생성물은 LO 시프트의 양 만큼 시프트되어 있지만 고차 생성물은 LO 시프트의 배수 만큼 시프트되어 있다. 이것은 제1 스퓨리어스 신호(501), 제3 스퓨리어스 신호(504), 및 주파수 f4에서의 2개의 일치하는 스퓨리어스 신호중 하나(506)가 DUT 보다는 검사 기기에 의해 생성되는 것을 보여준다. 제2 스퍼(503) 및 주파수 f4에서의 2개의 일치하는 스퍼중 하나(507)는 DUT에 의해 생성된다.
LO 시프트가 제2 데이터 포착 동안 발생하였을 때 스퓨리어스 신호(501, 504)가 (스퓨리어스 신호(502, 505)로부터 각각) 주파수 시프트되었기 때문에, 본 발명의 실시예는 스퓨리어스 신호(501, 502, 503, 504, 505)가 검사 기기에 의해 생성되었다고 판정한다. 또한 기술된 실시예는 LO가 주파수 F-Δ MHz에 설정되어 있을 때, 주파수 f4에서의 스퓨리어스 신호가 (주파수 f4-d MHz로 시프트된 스퓨리어스 신호(506)와 주파수 f4에 남아 있는 스퓨리어스 신호(507)에 의해 표시된 바와 같이) 분리된 것으로 판정한다. 그래서, 본 발명은 제2 데이터 포착 동안 스퓨리어스 신호(506)의 시프트로 인해 스퓨리어스 신호(506)가 검사 기기에 의해 생성된다고 판정한다. 스퓨리어스 신호(506, 507)는 제2 데이터 포착 동안 시프트하지 않았으므로, DUT에 의해 생성된 것으로 판정된다.
도 6은 (DUT에 의해 생성된) 제2 스퓨리어스 신호 및 2개의 일치 신호 생성물 중 하나를 남겨두고 (검사 기기에 의해 생성된 제1 및 제3 스퓨리어스 신호 및 2개의 일치 스퓨리어스 신호 중 하나를 식별하고 이들을 여과한 결과를 보여주는 예이다. 이것은 DUT에 의해 생성된 신호 생성물의 결과가, 표시된 데이터 포착에 모든 3개의 스퍼가 남아 있는 경우, 또는 (예를 들어, DSP 여과 기술에 의해) 모든 3개의 스퓨리어스 신호가 제거된 경우 보다 정확하다는 것을 나타낸다. (예를 들어, 도 3 및 도 4에 도시된 신호 스냅숏에 도시된 바와 같은 (2개의 상술된 데이터 포착의 결과로서, LO가 여전히 F-Δ MHz에 설정된 상태에서, 기술된 실시예는 도 6에 도시된 바와 같이 검사 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 보다 용이하게 식별한다. 이러한 경우에, 스퓨리어스 신호(601, 603, 605)는 검사 기기에 의해 생성되는 것으로 용이하게 식별된다. 개시된 실시예는 이러한 결과를 보다 정제하기 위해 디지털 신호 처리(DSP) 및 여과 기술을 채용할 수 있다. 예를 들어, 검사 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호(스퓨리어스 신호(601, 603, 605))의 신호 특성을 여과하면 DUT에 의해 생성된 스퓨리어스 신호(602, 604)의 기여만을 반영할 수 있다. 이러한 방식으로, 개시된 발명은 신호 데이터 포착의 생성을 보다 효과적으로 돕고, 데이터 포착의 연속 분석은 보다 정확하게 일어난다. 예를 들어, 개시된 실시예는 예를 들어, 상술된 스퓨리어스 신호가 주파수 스펙트럼의 규정된 주파수 범위내에서 일어나는지를 체크하기 위해 DUT에 의해 생성된 스퓨리어스 신호의 분석 판정을 제공한다. 다른 분석은 예를 들어, 스펙트럼 마스트에 의해 표시된 출력 한계에 대해 각각의 스퓨리어스 신호의 출력 강도 레벨을 조사함으로써, 순응하지 않는 스퓨리어스 신호를 판정하는 단계를 포함할 수 있다. 예를 들어, 개시된 실시예에 따라, 도 6은 스펙트럼 마스크의 수용가능한 허용오차의 외측에 일어나는 것으로 용이하게 판정된, DUT에 의해 생성된 스퓨리어스 신호(602)를 도시하고 있다.
용이하게 이해되는 바와 같이, 하나의 LO 시프트 후에 상이한 스퓨리어스 신호가 생성될 수 있고, 실제 이전의 스퓨리어스 신호에 의해 점유된 주파수로 이동하는 것이 가능하다. 따라서, 상술된 생성된 스퓨리어스 신호는 검사 기기 보다는 DUT에 의해 생성된 것으로 여겨진다. 본 발명의 개시된 실시예는 DUT에 의해 생성된 스퓨리어스 신호에 대조적으로 검사 기기로부터 생성된 스퓨리어스 신호를 더 구별하기 위해 제1 LO 주파수 또는 제1 LO 시프트에 조화로 관련되지 않은 주파수에서 제2 LO를 채용할 수 있다.
따라서, 본 발명의 개시된 실시예는 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 식별하고 이들을 DUT의 신호 생성물로부터 구별하는 방법을 제공한다. 본 발명은 스퓨리어스 신호의 분석이 검사 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호에 영향을 받지 않을 것을 보장한다. 또한, 본 발명은 스퓨리어스 신호의 분석 효율 및 정확도를 증가시킨다. 본 발명은 검사 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 식별한다. 본 실시예는 또한 주파수 스펙트럼 안에서 스퓨리어스 신호를 식별하고 여과하여 이들을 DUT에 의해 생성된 신호 생성물로부터 구별하기 위해 DSP 기술을 채용할 수 있다. 이러한 방식으로, 본 발명은 DUT의 신호 생성물이 검사 기기의 스퓨리어스 신호와 일치하더라도 DUT의 스퓨리어스 신호를 설명할 수 있다. 본 발명은 규정된 신호 스펙트럼을 효과적으로 그리고 신속하게 포착하고 이들을 분석할 수 있다. 본 분석은 DUT로부터 생성된 스퓨리어스 신호의 품질의 측정값이 아닌 임의의 스퓨리어스 신호를 제거하기 위해 신호 스펙트럼을 조정하고 여과하는 단계를 포함할 수 있다. 따라서, 검사 장치로부터의 스퓨리어스 신호의 임의의 기여는 본 발명의 향상된 신호 분석에 포함되지 않는다.
개시된 실시예에 따라, 본 발명은 신호 포착 동안, 채용된 DUT에 의해 생성된 일치 주파수의 신호 생성물을 부주의로 제거하지 않고 기기에 의해 생성된 스퓨리어스 신호를 구체적으로 제거할 수 있다. 따라서, 본 발명의 향상된 기술은 표준에 규정된 검사 결과 기준에 따라 잘못된 가부판정을 감소시키거나 제거한다.
다양한 수정 및 변형이 본 발명의 범위로부터 벗어남 없이 개시된 장치 및 방법에 만들어질 수 있다는 것이 당업자에게 명백할 것이다. 또한, 본 장치 및 방법의 다른 실시예가 본 명세서로부터 당업자에게 이해될 것이다. 본 명세서 및 예는 단지 예이고 진정한 범위는 다음의 청구범위 및 이들의 등가물에 의해 표시될 것이다.
본 발명에 기술된 시스템 또는 임의의 그 구성요소는 컴퓨터 시스템의 형태로 구현될 수 있다. 컴퓨터 시스템의 전형적인 예는 범용 컴퓨터, 프로그램된 마이크로프로세서, 마이크로컨트롤러, 주변 집적회로 소자, 및 본 기술의 방법을 구성하는 단계를 구현할 수 있는 다른 장치 또는 장치의 배열을 포함한다.
이러한 컴퓨터 시스템은 컴퓨터, 입력 장치, 표시 유닛 및/또는 인터넷을 포함한다. 이러한 컴퓨터는 마이크로프로세서를 더 포함한다. 이러한 마이크로프로세서는 통신 버스에 접속되어 있다. 컴퓨터는 또한 메모리를 포함한다. 이러한 메모리는 랜덤 액세스 메모리(RAM) 및 읽기 전용 메모리(ROM)를 포함할 수 있다. 이러한 컴퓨터 시스템은 저장 장치를 더 포함한다. 이러한 저장 장치는 하드디스크 드라이브 또는, 플로피 디스크 드라이브, 광디스크 드라이브등과 같은 제거가능 저장 드라이브일 수 있다. 이러한 저장 장치는 또한 컴퓨터 시스템에 컴퓨터 프로그램 또는 다른 명령어를 로딩하기 위한 다른 유사한 수단일 수 있다. 이러한 컴퓨터 시스템은 또한 통신 유닛을 포함한다. 이러한 통신 유닛에 의해 컴퓨터는 다른 데이터베이스 및 I/O 인터페이스를 통해 인터넷에 접속할 수 있다. 이러한 통신 유닛에 의해 다른 데이터베이스로부터의 데이터의 수신은 물론 전송이 가능하다. 이러한 통신 유닛은 LAN, MAN, WAN 및 인터넷과 같은 네트워크 및 데이터베이스에 컴퓨터 시스템이 접속할 수 있도록 하는 모델, 이더넷 카드 또는 임의의 유사한 장치를 포함할 수 있다. 이러한 컴퓨터 시스템은 I/O 인터페이스를 통해 시스템에 접근가능한, 입력 장치를 통한 사용자로부터의 입력을 돕는다.
컴퓨터 시스템은 입력 데이터를 처리하기 위해, 하나 이상의 저장 소자에 저장된 명령어 세트를 실행한다. 이러한 저장 소자는 또한 요구되는 대로 데이터 또는 다른 정보를 보관할 수 있다. 이러한 저장 소자는 처리 기계에 존재하는 물리적인 메모리 소자 또는 정보 소스의 형태를 가질 수 있다.
이러한 명령어의 세트는 본 발명의 방법을 구성하는 단계와 같은 특정 태스크를 처리 기계가 수행하도록 명령하는 다양한 명령을 포함할 수 있다. 이러한 명령어의 세트는 소프트웨어 프로그램의 형태를 가질 수 있다. 또한, 이러한 소프트웨어는 본 기술에서와 같이, 별개의 프로그램의 집합, 보다 큰 프로그램을 갖는 프로그램 모듈 또는 프로그램 모듈의 일부의 형태를 가질 수 있다. 이러한 소프트웨어는 또한 객체지향프로그래밍의 형태로 모듈러 프로그램을 포함할 수 있다. 처리 기계에 의한 입력 데이터의 처리는 사용자 명령, 이전의 처리의 결과 또는 다른 처리 기계에 의한 요청에 응답일 수 있다.
상기 설명이 당업자가 본 기술을 실시하고 사용할 수 있도록 제공되었지만, 특허를 취득하기 위한 필요에 의해 제공되었다. 본 설명은 본 기술을 수행하기 위한 최상으로 현재 생각되는 방법이다. 바람직한 실시예에 대한 다양한 수정은 당업자에게 명백할 것이고, 본 기술의 일반적인 원리는 다른 실시예에 적용될 수 있고, 본 기술의 일부 특징은 다른 특징의 상응하는 사용 없이 사용될 수 있다. 따라서, 본 기술은 개시된 실시예에 제한되지 않고 여기에 기술된 원리 및 특징에 일치하는 가장 광범위한 범위까지 확대될 수 있다. 또한, 다수의 포착이 항상 필요하지 않다는 것을 당업자는 이해할 것이다. 일단 검사기의 스퓨리어스 신호가 공지되면, 이들의 위치 및 출력은 저장될 수 있고, 이러한 스퓨리어스 신호는 DUT 신호를 포착할 때 여과될 수 있다. 이러한 경우에, 이러한 스퓨리어스 신호의 출력이 시간에 따라 변하지 않도록 보장하기 위해 예정된 대로 기술된 바와 같이 다수의 포착을 실행할 것이다.

Claims (5)

  1. 자기 발생 스퓨리어스 신호를 식별하기 위한 방법으로서,
    검사 시스템의 국부 발진기를 초기 주파수로 설정하는 단계;
    무선 주파수(RF) 신호를 피검사 장치(DUT)로부터 상기 검사 시스템으로 전송하는 단계;
    상기 검사 시스템으로 상기 RF 신호의 물리적 아날로그 특성을 측정하는 단계;
    상기 측정된 물리적 아날로그 특성의 아날로그 값을 제1 디지털 등가로 전환하는 단계;
    상기 제1 디지털 등가에 따라 스퓨리어스 신호 생성물을 식별하는 단계;
    상기 스퓨리어스 신호 생성물의 진폭 및 주파수를 식별하는 단계;
    상기 검사 시스템의 상기 국부 발진기를 상기 초기 주파수로부터 오프셋된 하나 이상의 후속 주파수로 재설정하는 단계;
    하나 이상의 후속 RF 신호를 상기 DUT로부터 상기 검사 시스템으로 전송하는 단계로서, 상기 DUT는 최초 물리적 신호 설정을 유지하는 단계;
    상기 하나 이상의 후속 RF 신호의 각각의 물리적 아날로그 특성을 상기 검사 시스템에 의해 측정하는 단계;
    상기 측정된 각각의 물리적 아날로그 특성의 아날로그 값을 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 제2 이상의 디지털 등가로 전환하는 단계;
    상기 제2 이상의 디지털 등가에 따라 상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대한 스퓨리어스 신호 생성물을 식별하는 단계;
    상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대한 상기 스퓨리어스 신호 생성물의 진폭 및 주파수를 식별하는 단계; 및
    상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 주파수 시프트된 스퓨리어스 신호 생성물을 자기 발생 신호 생성물로서 식별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 디지털 등가에 따라 스퓨리어스 신호 생성물을 식별하는 단계는 주파수 축에 대한 파워로 상기 측정된 물리적 아날로그 특성 결과를 표시하는 단계를 포함하고;
    상기 제2 이상의 디지털 등가에 따라 상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대한 스퓨리어스 신호 생성물을 디스플레이에서 식별하는 단계는 상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 주파수 축에 대한 파워로 상기 측정된 각각의 물리적 아날로그 특성 결과를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법.
  3. 제1항에 있어서, 달리 식별되는 신호 생성물로부터 상기 하나 이상의 후속 LO 주파수의 각각에 대해 주파수 시프트된 스퓨리어스 신호 생성물을 여과하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법.
  4. 자기 발생 스퓨리어스 신호를 식별하기 위한 방법으로서,
    검사 시스템을 초기 주파수로 설정하는 단계;
    제1 신호를 피검사 장치(DUT)로부터 상기 검사 시스템으로 전송하는 단계;
    상기 제1 신호의 특성을 측정하는 단계;
    상기 제1 신호의 측정된 특성으로부터 스퓨리어스 신호 생성물을 식별하는 단계;
    상기 검사 시스템을 상기 초기 주파수로부터 오프셋된 하나 이상의 후속 주파수로 재설정하는 단계;
    하나 이상의 후속 신호를 상기 DUT로부터 상기 검사 시스템으로 전송하는 단계로서, 상기 DUT는 최초 물리적 신호 설정을 유지하는 단계;
    상기 하나 이상의 후속 신호의 각각의 특성을 측정하는 단계;
    상기 하나 이상의 후속 주파수의 각각에 대한 스퓨리어스 신호를 식별하는 단계;
    상기 하나 이상의 후속 주파수의 각각에 대해 주파수 시프트된 스퓨리어스 신호 생성물을 자기 발생 신호 생성물로서 식별하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법.
  5. 제4항에 있어서, 달리 식별되는 신호 생성물로부터 상기 하나 이상의 후속 주파수의 각각에 대해 주파수 시프트된 스퓨리어스 신호 생성물을 여과하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법.
KR1020147026560A 2012-03-09 2013-02-14 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법 KR102030443B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/416,517 2012-03-09
US13/416,517 US8912804B2 (en) 2012-03-09 2012-03-09 Method for identifying self-generated spurious signals
PCT/US2013/026052 WO2013133946A1 (en) 2012-03-09 2013-02-14 Method for identifying self-generated spurious signals

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140135785A KR20140135785A (ko) 2014-11-26
KR102030443B1 true KR102030443B1 (ko) 2019-10-10

Family

ID=49113532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147026560A KR102030443B1 (ko) 2012-03-09 2013-02-14 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8912804B2 (ko)
JP (1) JP6124365B2 (ko)
KR (1) KR102030443B1 (ko)
CN (1) CN104170288B (ko)
WO (1) WO2013133946A1 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10110336B2 (en) * 2016-07-22 2018-10-23 The Directv Group, Inc. Determining ambient noise in a device under test electromagnetic compatibility test environment
US11206090B2 (en) * 2017-03-24 2021-12-21 Maxlinear, Inc. Error measurement method using a time-variant stopband test signal
US10560203B2 (en) * 2018-07-06 2020-02-11 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Measurement system and method for spurious frequency determination
US11480597B2 (en) * 2020-01-16 2022-10-25 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method and apparatus for analyzing a relationship between tone frequencies and spurious frequencies
CN117805481B (zh) * 2024-02-29 2024-05-14 南京派格测控科技有限公司 杂散信号处理方法、装置、计算机设备及存储介质

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4568878A (en) * 1984-03-19 1986-02-04 Tektronix, Inc. Spectrum analyzers
US4918382A (en) * 1989-03-20 1990-04-17 Tektronix, Inc. Method for distinguishing between real and spurious responses in a spectrum analyzer
GB2319090B (en) * 1996-11-07 2000-11-22 Marconi Instruments Ltd A spectrum analyser
US6310646B1 (en) * 1996-11-29 2001-10-30 Wavetek Corporation Method and apparatus for measuring a radio frequency signal having program information and control information
GB0030693D0 (en) * 2000-12-15 2001-01-31 Nokia Mobile Phones Ltd Amplifier circuit radio transmitter method and use
KR20020049072A (ko) * 2000-12-19 2002-06-26 구자홍 고조파 왜곡을 줄이기 위한 무선 송신기
US8284886B2 (en) 2003-01-17 2012-10-09 Texas Instruments Incorporated Radio frequency built-in self test for quality monitoring of local oscillator and transmitter
US20050057253A1 (en) * 2003-09-03 2005-03-17 Gee Edward C. Digital phosphor spectrum analyzer
GB2414351B (en) * 2004-05-22 2006-04-12 Zarlink Semiconductor Ltd Tuner arrangement
US20080146184A1 (en) 2006-12-19 2008-06-19 Microtune (Texas), L.P. Suppression of lo-related interference from tuners
US8155904B2 (en) * 2007-10-05 2012-04-10 Dvorak Steven L Vector signal measuring system, featuring wide bandwidth, large dynamic range, and high accuracy
US20090247098A1 (en) * 2008-03-27 2009-10-01 Gray Thomas A System and Method for Autoranging in Test Apparatus
US20100007355A1 (en) * 2008-07-10 2010-01-14 Litepoint Corporation Method for testing radio frequency (rf) receiver to provide power correction data
KR101046990B1 (ko) 2008-10-16 2011-07-06 중앙대학교 산학협력단 미세 신호 검출장치
US8576947B2 (en) * 2011-04-19 2013-11-05 Litepoint Corporation System and method for simultaneous MIMO signal testing with single vector signal analyzer
US8537942B2 (en) * 2012-01-24 2013-09-17 Litepoint Corporation System and method of maintaining correction of DC offsets in frequency down-converted data signals

Also Published As

Publication number Publication date
JP6124365B2 (ja) 2017-05-10
CN104170288B (zh) 2015-12-09
KR20140135785A (ko) 2014-11-26
JP2015513865A (ja) 2015-05-14
WO2013133946A1 (en) 2013-09-12
US8912804B2 (en) 2014-12-16
US20130234728A1 (en) 2013-09-12
CN104170288A (zh) 2014-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102030443B1 (ko) 자기 발생 스퓨리어스 신호 식별 방법
US9702907B2 (en) Frequency mask trigger with non-uniform bandwidth segments
JP5482078B2 (ja) 部分放電検出装置
GB2559344A (en) Intermodulation test method and apparatus
US10042029B2 (en) Calibration of test instrument over extended operating range
CN108445313B (zh) 用频装备电磁辐射效应综合预测方法及终端设备
CN102759658B (zh) 用于在频谱分析仪中自动地设置频率跨度的方法和装置以及一种测试及测量设备
CN108490281B (zh) 用频装备随机噪声电磁辐射效应预测方法及终端设备
JP6505348B1 (ja) 放射妨害波測定方法及び放射妨害波測定システム
US9392479B2 (en) Pocket-size PIM inspector
CN108490280B (zh) 用频装备带内多频电磁辐射效应预测方法及终端设备
US9323879B2 (en) Method of optimizing the design of an electronic device with respect to electromagnetic emissions based on frequency spreading introduced by hardware, computer program product for carrying out the method and associated article of manufacture
CN105277821B (zh) 使用测量设备来确定信号生成器的工作特性
CN105959019B (zh) 基于双通道相位叠加的大带宽通信信号接收分析装置及方法
CN105425060B (zh) 一种天线耦合的干扰检测方法及检测系统
CN115664568A (zh) 测试天线性能的方法、装置、电子设备及存储介质
CN107835057B (zh) 一种跳频接收系统的硬件性能测试系统及方法
US20240022339A1 (en) Intermodulation measurement method, intermodulation measuring apparatus and computer program for ascertaining an intermodulation source in a transmission link
CN107835056A (zh) 一种多信道功率测量及显示方法和装置
Wu et al. Rapid Trials-and-Errors Approach Based on Time-domain EMI Testing–a New Way to Speed up Product EMC Compliance
Toh Electromagnetic interference laboratory correlation study and margin determination
Pieralisi et al. EMC aspects in test benches for automotive equipments
CN105445687A (zh) 一种频谱分析仪实时性能评价系统及评价方法
TW201401810A (zh) 無線網路裝置測試設備的檢驗方法
Cakir et al. Investigation of AMN Impedance Uncertainty Contribution in Conducted Emission Tests

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant