JP6105333B2 - Multiple bonding head alignment method and die bonder - Google Patents
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Description
本発明は、ダイボンダ等の半導体製造装置に関わり、特に、2つ以上のボンディングヘッドを有するダイボンダに関する。 The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus such as a die bonder, and more particularly to a die bonder having two or more bonding heads.
1つの基板搬送レーンに対し、2つ以上のボンディングヘッド及び光学系を有するダイボンダでは、異なるボンディングヘッドをそれぞれ使用して1つの基板にボンディングすることがある。
特許文献1には、同一基板にモールドされた完成電子部品とベアチップとを混載状態で搭載するボンダ(複合実装機)についての技術が開示されている。そして、完成電子部品を実装するためのヘッドユニットとベアチップ(ダイ)を実装するためのヘッドユニットと2種類のヘッドユニットが必要であることを開示しているが、両ヘッドユニット同士の位置補正については開示されていない。
In a die bonder having two or more bonding heads and an optical system for one substrate transport lane, different bonding heads may be used to bond to one substrate.
しかし、各ボンディングヘッドは、それぞれが、ボンディングヘッドテーブル及び光学系テーブルを備える。従って、それぞれの固有の違いによって、異なるボンディングヘッドは、対象とする1つの基板の同じ位置にボンディングできない。
このため、対象とする1つの基板の同じ位置にボンディングするために、検査装置等によって、各ボンディングヘッドでボンディングした基板について測定し、位置ずれを補正する必要がある。そして、この位置合わせによる位置補正は、新たに品種登録する都度行わなくてはならない。
However, each bonding head includes a bonding head table and an optical system table. Therefore, different bonding heads cannot be bonded to the same position on one target substrate due to their inherent differences.
For this reason, in order to bond at the same position of one target substrate, it is necessary to measure the substrate bonded by each bonding head by an inspection apparatus or the like and correct the positional deviation. The position correction by this alignment must be performed every time a new product type is registered.
位置補正を省略すると、ボンディングヘッド毎にボンディング位置がずれ、装置のボンディング位置精度が低下する。位置精度の低下は、精密な位置精度を必要とする製品を扱うダイボンダのような装置では、大きな問題となる。
しかし、上述のように、新たに品種登録する都度、検査装置等によって、各ボンディングヘッドでボンディングした基板について位置を測定し、測定した位置情報から位置合わせによる補正を行っていた。このため、検査装置等、ボンディング位置を測定するための別の装置が必要になること、及び、品種登録毎に、この工程が必要になり時間がかかっていた。
本発明は、上記のような問題に鑑み、検査装置等の別の装置を必要とせず、かつ、位置補正作業時間が短縮できる位置補正方法を提供し、複数のボンディングヘッドのどれを使用しても同じ位置にボンディング可能なダイボンダを提供することを目的とする。
If the position correction is omitted, the bonding position is shifted for each bonding head, and the bonding position accuracy of the apparatus is lowered. The decrease in positional accuracy is a serious problem in devices such as die bonders that handle products that require precise positional accuracy.
However, as described above, each time a new product type is registered, the position of the substrate bonded by each bonding head is measured by an inspection apparatus or the like, and correction by alignment is performed from the measured position information. For this reason, another apparatus for measuring the bonding position, such as an inspection apparatus, is required, and this process is required every time the product type is registered.
In view of the above problems, the present invention provides a position correction method that does not require another apparatus such as an inspection apparatus and can shorten the position correction work time, and uses any of a plurality of bonding heads. Another object of the present invention is to provide a die bonder that can be bonded at the same position.
上記の目的を達成するために、本発明の複数ボンディングヘッド位置合わせ方法は、複数のボンディングヘッドを有するダイボンダにおいて、第1エリアで第1の基板に第1のダイをボンディングする第1のボンディングステップ、該第1の基板にダイボンディングした第1のダイの位置を第2のエリアで認識して記憶部に登録する第1のダイ認識ステップ、前記第2のエリアで第2のダイをボンディングする第2のボンディングステップ、該第2の基板にダイボンディングした第2のダイの位置を前記第2のエリアで認識する第2のダイ認識ステップ、前記記憶部に登録された前記第1のダイの位置と前記第2のダイの位置の差分を計算する差分計算ステップ、及び、該計算した差分を位置補正条件に加える位置補正ステップを備え、前記第1エリアでボンディングするダイの位置と前記第2エリアでボンディングするダイの位置を位置合わせすることを本発明の第1の特徴とする。 In order to achieve the above object, a method for aligning a plurality of bonding heads according to the present invention includes a first bonding step of bonding a first die to a first substrate in a first area in a die bonder having a plurality of bonding heads. A first die recognition step of recognizing the position of the first die die-bonded to the first substrate in the second area and registering it in the storage unit; bonding the second die in the second area A second bonding step, a second die recognition step for recognizing the position of the second die die-bonded to the second substrate in the second area, and the first die registered in the storage unit. A difference calculating step for calculating a difference between the position and the position of the second die, and a position correcting step for adding the calculated difference to a position correction condition, That the position of the die to be bonded with one area to align the position of the die to be bonded with the second area to the first aspect of the present invention.
上記本発明の第1の特徴の複数ボンディングヘッド位置合わせ方法において、前記ダイボンダの前記第1のエリアは前記第2のエリアより上流に位置することを本発明の第2の特徴とする。 In the multiple bonding head alignment method of the first feature of the present invention, the second feature of the present invention is that the first area of the die bonder is located upstream of the second area.
上記本発明の第1の特徴または第2の特徴の複数ボンディングヘッド位置合わせ方法において、前記ダイの位置の位置合わせを品種登録データに記録することを本発明の第3の特徴とする。 In the multiple bonding head alignment method according to the first feature or the second feature of the present invention, the third feature of the present invention is to record the alignment of the die position in the product type registration data.
また、上記の目的を達成するために、本発明のダイボンダは、ダイをピックアップして第1の基板にボンディングする第1のボンディングヘッドと前記第1のボンディングヘッドの位置を認識するための第1の光学系を有する第1エリア、ダイをピックアップして第2の基板にボンディングする第2のボンディングヘッドと前記第2のボンディングヘッドの位置を認識するための第2の光学系を有する第2エリア、及びダイボンダの各機器を制御する制御部を少なくとも備え、ダイを基板にボンディングするダイボンダにおいて、前記制御部は、前記第1エリアで前記第1の基板に前記第1のダイをボンディングする第1のボンディングステップ、前記第1の基板にダイボンディングした前記第1のダイの位置を前記第2のエリアで認識して記憶部に登録する第1のダイ認識手段、前記第2のエリアで前記第2のダイをボンディングする第2のボンディング手段、前記第2の基板にダイボンディングした前記第2のダイの位置を前記第2のエリアで認識する第2のダイ認識手段、前記記憶部に登録された前記第1のダイの位置と前記第2のダイの位置の差分を計算する差分計算手段、及び、該計算した差分を位置補正条件に加える位置補正手段を備え、前記第1エリアでボンディングするダイの位置と前記第2エリアでボンディングするダイの位置を位置合わせすることを本発明の第4の特徴とする。 In order to achieve the above object, a die bonder of the present invention includes a first bonding head that picks up a die and bonds it to a first substrate, and a first bonding head for recognizing the position of the first bonding head. A first area having a second optical system, a second bonding head for picking up a die and bonding the second substrate to a second substrate, and a second area having a second optical system for recognizing the position of the second bonding head And a die bonder for bonding the die to the substrate, wherein the control unit is configured to bond the first die to the first substrate in the first area. The step of recognizing the position of the first die die-bonded to the first substrate in the second area. A first die recognizing unit registered in a storage unit; a second bonding unit for bonding the second die in the second area; and a position of the second die bonded to the second substrate. Second die recognition means for recognizing in a second area, difference calculation means for calculating a difference between the position of the first die and the position of the second die registered in the storage unit, and the calculation A fourth feature of the present invention is that a position correction unit that adds a difference to a position correction condition is provided, and the position of a die bonded in the first area and the position of a die bonded in the second area are aligned.
上記本発明の第4の特徴のダイボンダにおいて、前記ダイボンダの前記第1のエリアは前記第2のエリアより上流に位置することを本発明の第5の特徴とする。
上記本発明の第4の特徴または第5の特徴のダイボンダにおいて、前記制御部は、さらに、前記ダイの位置の位置合わせを品種登録データに記録することを本発明の第6の特徴とする。
In the die bonder of the fourth feature of the present invention, the fifth feature of the present invention is that the first area of the die bonder is located upstream of the second area.
In the die bonder according to the fourth feature or the fifth feature of the present invention, the control unit further records the alignment of the position of the die in the product type registration data.
本発明によれば、検査装置等の別の装置を必要とせず、かつ、位置補正作業時間が短縮できる位置補正方法を実現し、複数のボンディングヘッドのどれを使用しても同じ位置にボンディング可能なダイボンダを実現することができる。 According to the present invention, a position correction method that does not require another apparatus such as an inspection apparatus and can shorten the position correction work time is realized, and any of a plurality of bonding heads can be used for bonding at the same position. A simple die bonder can be realized.
以下に本発明の一実施形態について、図面等を用いて説明する。
なお、以下の説明は、本発明の一実施形態を説明するためのものであり、本願発明の範囲を制限するものではない。従って、当業者であればこれらの各要素若しくは全要素をこれと均等なものに置換した実施形態を採用することが可能であり、これらの実施形態も本願発明の範囲に含まれる。
また、本書では、各図の説明において、共通な機能を有する構成要素には同一の参照番号を付し、説明を省略する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
In addition, the following description is for describing one embodiment of the present invention, and does not limit the scope of the present invention. Accordingly, those skilled in the art can employ embodiments in which these elements or all of the elements are replaced with equivalent ones, and these embodiments are also included in the scope of the present invention.
Further, in this document, in the description of each drawing, components having common functions are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
図1によって、本発明のダイボンダの一実施例の構成を説明する。図1は、本発明の2ヘッドダイボンダの一実施例のブロック構成を説明するための平面図である。100はダイボンダ、10は搬送レーン、20は第1エリア、21は第1エリア10のボンディングヘッド、22は第1エリア10の光学系、30は第2エリア、31は第2エリアのボンディングヘッド、及び、32は第2エリアの光学系、70はダイボンダ内の各機器を制御する制御部である。
図1のダイボンダ100において、搬送レーン10は、第1エリア20と第2エリア20に上流側から基板50を搬入し、実装された基板を下流側から搬出する。即ち、基板50は、上流側の第1エリア20から下流側の第2エリア30を通って搬出される。基板50は、例えば、複数の子基板を均等に配置した多数個取りのワーク基板である。
The configuration of an embodiment of the die bonder of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a plan view for explaining a block configuration of an embodiment of a two-head die bonder according to the present invention. 100 is a die bonder, 10 is a transfer lane, 20 is a first area, 21 is a bonding head for the
In the
第1エリア20は、ダイをピックアップして基板50にダイをボンディングするボンディングヘッド21を有する。また、第1エリア20は、ダイの位置認識及び基板50の位置認識、並びに、ボンディングするために位置補正をしてダイを精密に位置決めする光学系22を有する。
また、第2エリア30は、第1のエリア20の下流にあり、ダイをピックアップして基板50にダイをボンディングするボンディングヘッド31と、ダイの位置認識及び基板50の位置認識、並びに、ボンディングするために位置補正をしてダイを精密に位置決めする光学系32を有する。
The
Further, the
図2〜図5は、2ヘッドダイボンディングにおける位置合わせの問題点を説明するための平面図である。50、50−0、50−1及び50−2は基板、51は、基板50、50−1または50−1における子基板、41は第1ボンディング系20によって基板50−1にダイボンディングされたダイ、42は第2ボンディング系30によって基板50−1にダイボンディングされたダイである。また、50−1’は、第1ボンディング系20によってダイボンディングされた基板50−1に、さらに第2ボンディング系30によってダイボンディングされた基板である。
2 to 5 are plan views for explaining the problem of alignment in the two-head die bonding. 50, 50-0, 50-1, and 50-2 are substrates, 51 is a substrate of the
2ヘッドダイボンダ100において、まず、基板50が第1エリア20に搬入する前で待機している。この基板50は、まだダイが未実装である。そして第1エリア20には、別の基板50−1があり、ダイボンディング中である。さらに、第2エリア30にも別の基板50−2がダイボンディング中である。
2ヘッドダイボンダでは、下流側のボンディング系である第2エリア(第2ボンディング系)30でのボンディング作業が終了すると、上流側のボンディング系である第1エリア20でまだ作業中であっても、第1エリア(第1ボンディング系)20にあった基板5を第2エリアに搬送する。
In the two-
In the two-head die bonder, when the bonding work in the second area (second bonding system) 30 that is the downstream bonding system is completed, even if the work is still in progress in the
従って、図2に示すように、第2エリア(第2ボンディング系)30でのボンディング作業が終了すると、ボンディングが終了した基板50−2は、下流に搬出される。この時、図3に示すように、第1エリア(第1ボンディング系)20の基板50−1では、矢印301で示した基板50−1の拡大図のように、ダイ41は子基板51のすべてにはボンディングされていない状態である。
しかし、図3に示すように、第2エリアにあった基板50−2がボンディングを終了し搬出された場合には、上記の矢印301で示した基板50−1が第2エリアに搬送される。
また、第1エリア20では、基板50−1が第2エリア30に搬出された場合には、図4に示すように、上流に待機していた基板50が搬入される(基板50−0)
そして、このようにして、第2ボンディング系30の基板待ちによる停止時間をなるべく短くし、生産性を高めている。
Therefore, as shown in FIG. 2, when the bonding operation in the second area (second bonding system) 30 is completed, the substrate 50-2 after the bonding is carried out downstream. At this time, as shown in FIG. 3, in the substrate 50-1 in the first area (first bonding system) 20, as shown in the enlarged view of the substrate 50-1 indicated by the arrow 301, the
However, as shown in FIG. 3, when the substrate 50-2 in the second area has been bonded and carried out, the substrate 50-1 indicated by the arrow 301 is transferred to the second area. .
In the
In this way, the stop time for waiting the substrate of the
しかし、このために、同一の基板50に、第1ボンディング系20でボンディングしたダイと第2ボンディング系30でボンディングしたダイが混載し、しかも混載する割合も一定ではない。そこで、ボンディングを高精度に実現するには、第1ボンディング系20と第2ボンディング系30間の位置合わせが必要になる。
図5は、上述の図2〜図4を使って説明した、基板50−1のダイのボンディング結果を示す図である。図5によって示すように、第1エリア20でボンディングされた子基板50−1上のダイ41のボンディング位置と、第2エリア30でボンディングされた子基板50−1上のダイ42のボンディング位置がずれる。
However, for this reason, the die bonded by the
FIG. 5 is a diagram showing the bonding result of the die of the substrate 50-1 described with reference to FIGS. As shown in FIG. 5, the bonding position of the die 41 on the daughter board 50-1 bonded in the
このように、基板50内のボンディングされたダイの位置がずれてしまうことは、製品の品質上非常に問題になってくる。
特に、ダイを数層にわたって積層する製品では、この位置ずれが製品の品質どころか、歩留まりに影響してくる恐れがある。
従って、複数のボンディングヘッドを有するダイボンダにおいては、複数のボンディングヘッド同士のボンディング位置が一致するように補正するための位置補正が必須である。
As described above, the displacement of the bonded die in the
In particular, in a product in which dies are stacked over several layers, this misalignment may affect the yield as well as the product quality.
Therefore, in a die bonder having a plurality of bonding heads, position correction for correcting the bonding positions of the plurality of bonding heads to be indispensable is essential.
図6と図7によって本発明の位置合わせ方法の一実施例を説明する。図6は、本発明の複数ヘッドダイボンダの一実施例の簡単なブロック構成を説明するための平面図である。また図7は、本発明の2ヘッドダイボンダにおける2つのヘッドの位置合わせを行う2ボンディングヘッド位置合わせ処理の手順を説明するためのフローチャートである。600はダイボンダ、60は搬送レーン、20(0)は第1エリア、20(1)は第2エリア、20(2)は第3エリア、・・・、20(K−1)は第Kエリアである。
図6のダイボンダ600において、搬送レーン60は、第1エリア20(0)、第2エリア20(1)、・・・、第Kエリア20(K−1)に上流側から基板を搬入し、実装された基板を下流側から搬出する(Kは2以上の自然数)。即ち、基板は、上流側の第1エリア20(0)から下流側の第Kエリア20(K−1)を通って搬出される。基板は、図示していないが、例えば、複数の子基板を均等に配置した多数個取りのワーク基板である。また、第1エリア20(0)、第2エリア20(1)、・・・、第Kエリア20(K−1)の各エリアは、それぞれ、ダイをピックアップして基板にダイをボンディングするボンディングヘッド21を有する。
An embodiment of the alignment method of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a plan view for explaining a simple block configuration of an embodiment of the multi-head die bonder of the present invention. FIG. 7 is a flowchart for explaining the procedure of a two-bonding head alignment process for aligning two heads in the two-head die bonder of the present invention. 600 is a die bonder, 60 is a transport lane, 20 (0) is a first area, 20 (1) is a second area, 20 (2) is a third area,..., 20 (K −1 ) is a Kth area. It is.
In the
図6の本発明の複数ヘッドダイボンダによって、図7の本発明の複数ボンディングヘッド位置合わせ方法について説明する。この処理動作は、制御部70がダイボンダ600の各機器を制御して実行する。なお、基板は、新規に品種登録する基板である。
ダイボンディング(0)ステップS701では、第1エリア20(0)で基板(0)にダイボンディングする。
次に、パラメータN初期化ステップS702では、パラメータNを1に設定する(N=1)。
次に、次のボンディングヘッド有無判定ステップS703では、パラメータNが複数ヘッドダイボンダ600のボンディングヘッド数Kより大きいか否かを判定する。パラメータNがボンディングヘッド数K以下であればステップS704の処理に移行する。パラメータNがボンディングヘッド数Kより大きければ本処理を終了する。
次に、ダイ位置認識ステップS704では、ダイボンディング(0)ステップS701でダイをボンディングした基板(0)について、第Nエリアの光学系によって画像解析処理してダイの位置を認識し、認識したダイの位置を制御部70の記憶部(後述する)に登録する。
The multi-bonding head alignment method of the present invention shown in FIG. 7 will be described using the multi-head die bonder of the present invention shown in FIG. This processing operation is executed by the
In die bonding (0) step S701, die bonding is performed on the substrate (0) in the first area 20 (0).
Next, in the parameter N initialization step S702, the parameter N is set to 1 (N = 1).
Next, in the next bonding head presence / absence determination step S703, it is determined whether or not the parameter N is larger than the number K of bonding heads of the
Next, in the die position recognition step S704, the substrate (0) to which the die is bonded in the die bonding (0) step S701 is subjected to image analysis processing by the optical system in the Nth area to recognize the die position and the recognized die. Are registered in a storage unit (described later) of the
次に、ダイボンディング(N)ステップS705では、第Nエリア20(N−1)で別の基板(N)にダイボンディングする。
次に、ダイ位置認識ステップS706では、ダイボンディング(N)ステップS705でダイをボンディングした基板(N)について、第Nエリアの光学系によって画像解析処理してダイの位置を認識する。
次に、差分計算ステップS707では、ダイ位置認識ステップS706で認識したダイの位置と、ダイ位置認識ステップS704で記憶部に登録されたダイの位置の差分を計算する。
次に、補正ステップS708では、第Nエリアの実装(ボンディング)位置に、差分計算ステップS707で計算した差分を位置補正条件に加える。
次に、品種登録ステップS709では、補正ステップS708で求めた位置補正条件を品種登録データに記録する。
次に、パラメータN加算ステップS710では、パラメータNに1を加えて(N=+1)、ボンディングヘッド有無判定ステップS703の処理に移行する。
Next, in die bonding (N) step S705, die bonding is performed on another substrate (N) in the Nth area 20 (N −1 ).
Next, in die position recognition step S706, image analysis processing is performed on the substrate (N) bonded with the die in die bonding (N) step S705 by the optical system in the Nth area to recognize the position of the die.
Next, in a difference calculation step S707, a difference between the die position recognized in the die position recognition step S706 and the die position registered in the storage unit in the die position recognition step S704 is calculated.
Next, in the correction step S708, the difference calculated in the difference calculation step S707 is added to the position correction condition at the mounting (bonding) position of the Nth area.
Next, in the product type registration step S709, the position correction condition obtained in the correction step S708 is recorded in the product type registration data.
Then, the parameter N addition step S710, 1 is added to parameter N (N = + 1), the process proceeds to the bonding head existence determination step S70 3.
図8は、本発明の複数ヘッドダイボンダの制御系の構成の一実施例を示すブロック図である。81は制御部70のCPU(Central Processing Unit)、82は制御部70の記憶部、83は入出力装置、84はモニタ装置、85はインタフェースである。また、23(0)、23(1)、23(2)、・・・、23(K)は画像処理部、24(0)、24(1)、24(2)、・・・、24(K)は表示部である。下記の図8の説明では、第1エリア20(0)、第2エリア20(1)、第3エリア20(3)、・・・、第Kエリア20(K)を代表して、エリア20と称する。同様に、ボンディングヘッド21(0)、21(1)、21(2)、・・・、21(K)を代表して、ボンディングヘッド21と称する。また同様に、光学系22(0)、22(1)、22(2)、・・・、22(K)を代表して、光学系22と称する。さらに同様に、画像処理部23(0)、23(1)、23(2)、・・・、23(K)を代表して、画像処理部23と称する。また同様に、表示部24(0)、24(1)、24(2)、・・・、24(K)を代表して、表示部24と称する。
FIG. 8 is a block diagram showing an embodiment of the configuration of the control system of the multi-head die bonder of the present invention.
図8において、記憶部82は、ダイボンダの動作プログラム、及び品種毎に動作プログラムに基づいてダイボンディングするための品種データ、及び、品種データを登録するための品種データ登録プログラムを少なくとも格納している。なお、適宜格納している品種データは、操作員の操作に応じて、適宜格納される。
In FIG. 8, the
CPU81は、記憶部82に記憶された品種登録データに基づき、ダイボンディングの動作プログラム若しくは品種データ登録プログラム、または操作員が操作する入出力装置から指令に応じて、ダイボンダ内の各機器を制御する。モニタ装置83は、前述の動作プログラムや種データ登録プログラム、または操作員の操作に応じて入出力装置84から与えられる指令に従って画像を画面に表示する。エリア20は、それぞれ、ボンディングヘッド21、光学系22、画像処理部23及び表示部24を備える。各画像処理部23は、それぞれ、所属する光学系22から送られてくる画像を解析し、処理結果を制御部70に送信する。各表示部24は、それぞれ、所属する光学系22若しくは画像処理部23、または制御部70から送られてくる画像を表示する。
インタフェース85は、制御部70、モニタ装置83、入出力装置84、及び各エリア20間を接続するインタフェースである。
The
The
上述の図6及び図7の実施例によれば、複数ヘッドダイボンダにおいて、同一位置にボンディング可能な位置補正データを迅速に計算することができる。また、そのために、他の検査装置を必要としない。さらに、品種登録に要する時間を大幅に低減できる。
なお、上記実施例では、基板にボンディングするダイの数は1であるが複数であっても良いことは勿論である。また、ダイを積層するボンディングでも良い。
According to the embodiments of FIGS. 6 and 7 described above, position correction data that can be bonded to the same position can be quickly calculated in the multi-head die bonder. For this reason, no other inspection device is required. Furthermore, the time required for product type registration can be greatly reduced.
In the above embodiment, the number of dies bonded to the substrate is one, but it goes without saying that a plurality of dies may be used. Also, bonding in which dies are stacked may be used.
本発明は、複数のボンディングヘッドを備えるダイボンダ及びフリップチップボンダに最適の位置合わせ方法である。
また、ダイボンダに限らず、ワイヤボンダにも適用可能であり、特に、1つの基板に複数のサイズの異なるダイを実装するダイボンダやワイヤボンダに適用すると効果が大きい。また、ダイを積層するダイボンダや、積層したダイにボンディングするワイヤボンダに適用すると効果が大きい。
さらに、ダイボンダにおける接着剤塗布工程または自動吐出装置において、複数回の塗布を行う場合の位置合わせにも最適である。
The present invention is an optimum alignment method for a die bonder and a flip chip bonder having a plurality of bonding heads.
Further, the present invention can be applied not only to a die bonder but also to a wire bonder, and is particularly effective when applied to a die bonder or a wire bonder in which a plurality of dies having different sizes are mounted on one substrate. Further, when applied to a die bonder for stacking dies or a wire bonder for bonding to stacked dies, the effect is great.
Furthermore, it is also optimal for alignment in the case of applying a plurality of times in an adhesive application process in a die bonder or an automatic discharge device.
10:搬送レーン、 20:第1エリア、20(0):第1エリア、 20(1):第2エリア、 20(2):第3エリア、 20(K):第Nエリア、 21:ボンディングヘッド、 22:光学系、 23:画像処理部、 24:表示部、 30:第2エリア、 31:ボンディングヘッド、 32:光学系、 41、42:ダイ、 50、50−0、50−1、50−2:基板、 51:子基板、 60:搬送レーン、 70:制御部、 81:CPU、 82:記憶部、 83:入出力装置、 84:モニタ装置、 85:インタフェース、 100:ダイボンダ、 600:ダイボンダ。 10: transport lane, 20: first area, 20 (0): first area, 20 (1): second area, 20 (2): third area, 20 (K): Nth area, 21: bonding Head: 22: Optical system, 23: Image processing unit, 24: Display unit, 30: Second area, 31: Bonding head, 32: Optical system, 41, 42: Die, 50, 50-0, 50-1, 50-2: Board, 51: Sub board, 60: Transfer lane, 70: Control unit, 81: CPU, 82: Storage unit, 83: Input / output device, 84: Monitor device, 85: Interface, 100: Die bonder, 600 : Die bonder.
Claims (6)
第1エリアで第1の基板に第1のダイをボンディングする第1のボンディングステップと、
該第1の基板にダイボンディングした第1のダイの位置を第2のエリアで認識して記憶部に登録する第1のダイ認識ステップと、
前記第2のエリアで第2の基板に第2のダイをボンディングする第2のボンディングステップと、
該第2の基板にダイボンディングした第2のダイの位置を前記第2のエリアで認識する第2のダイ認識ステップと、
前記記憶部に登録された前記第1のダイの位置と前記第2のダイの位置の差分を計算する差分計算ステップと、
該計算した差分を位置補正条件に加える位置補正ステップと、
を備え、
前記第1エリアでボンディングするダイの位置と前記第2エリアでボンディングするダイの位置を位置合わせすることを特徴とする複数ボンディングヘッド位置合わせ方法。 A method of aligning a plurality of bonding heads of a die bonder having a plurality of bonding heads ,
A first bonding step of bonding the first die to a first substrate in the first area,
A first die recognition step of registering in the storage unit the position of the first die and die-bonded to the first substrate is recognized by the second area,
A second bonding step of bonding the second die to the second substrate in the second area,
A second die recognition step recognizes in the second area of the location of the second die and die-bonded to the second substrate,
A difference calculation step of calculating a difference between the position of the second die and the position of the first die that is registered in the storage unit,
A position correction step of adding the calculated difference to the position correction condition ;
With
A method of aligning a plurality of bonding heads, wherein the position of a die to be bonded in the first area and the position of a die to be bonded in the second area are aligned.
前記第1のボンディングヘッドの位置を認識するための第1の光学系を有する第1エリアと、
第2のダイをピックアップして第2の基板にボンディングする第2のボンディングヘッドと、
前記第2のボンディングヘッドの位置を認識するための第2の光学系を有する第2エリアと、
制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記第1エリアで前記第1の基板に前記第1のダイをボンディングする第1のボンディング手段と、
前記第1の基板にダイボンディングした前記第1のダイの位置を前記第2のエリアで認識して記憶部に登録する第1のダイ認識手段と、
前記第2のエリアで前記第2の基板に前記第2のダイをボンディングする第2のボンディング手段と、
前記第2の基板にダイボンディングした前記第2のダイの位置を前記第2のエリアで認識する第2のダイ認識手段と、
前記記憶部に登録された前記第1のダイの位置と前記第2のダイの位置の差分を計算する差分計算手段と、
該計算した差分を位置補正条件に加える位置補正手段と、
を備え、
前記第1エリアでボンディングするダイの位置と前記第2エリアでボンディングするダイの位置を位置合わせすることを特徴とするダイボンダ。 A first bonding head for picking up a first die and bonding it to a first substrate ;
A first area having a first optical system for recognizing the position of the first bonding head,
A second bonding head for picking up a second die and bonding it to a second substrate ;
A second area having a second optical system for recognizing the position of the second bonding head,
And the control section,
Bei to give a,
Before Symbol control unit,
First bonding means for bonding the first die to the first substrate in the first area;
First die recognition means for recognizing the position of the first die die-bonded to the first substrate in the second area and registering it in a storage unit;
A second bonding means for bonding the second die to said second substrate in said second area,
A second die recognizing means recognizes the position of the second die and die-bonded to the second substrate in the second area,
Difference calculating means for calculating a difference between the position of the first die and the position of the second die registered in the storage unit ;
And position correcting means for adding the difference obtained by the calculation to the position correction condition,
With
A die bonder characterized in that a position of a die bonded in the first area and a position of a die bonded in the second area are aligned.
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