JP6102283B2 - 高分子化合物、及び該高分子化合物を含む絶縁層材料 - Google Patents
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Description
(1)
〔式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。R及びR2は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A1及びA3は、それぞれ独立に、二価の基を表す。B1は、−O−又は−COO−を表す。Zは、炭素数1〜60の一価の有機基を表す。nは、1〜4の整数を表す。Rが複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。複数個あるZは、同一であっても異なってもよい。A3が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。B1が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。aは、0又は1を表す。〕
(8)
〔式中、R18は、水素原子又はメチル基を表す。R19及びR20は、それぞれ独立に、炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A4及びA5は、それぞれ独立に、二価の基を表す。Z’は、炭素数1〜60の一価の有機基を表す。複数個あるZ’は、同一であっても異なってもよい。a1は、0又は1を表す。〕
第1の官能基:活性水素と反応しうる第2の官能基を、電磁波の照射もしくは熱の作用により生成しうる官能基。
(2)
〔式中、R3は、水素原子又はメチル基を表す。R4、R5及びR6は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Raは、二価の基を表す。tは、0又は1を表す。〕
(3)
〔式中、R7は、水素原子又はメチル基を表す。R8、R9、R10、R11、及びR12は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Rdは、二価の基を表す。wは、0又は1を表す。〕
(4)
〔式中、Xaは、酸素原子又は硫黄原子を表し、R24及びR25は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。〕
(5)
〔式中、Xbは、酸素原子又は硫黄原子を表し、R26、R27、及びR28は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。〕
(6)
〔式中、R13は、水素原子又はメチル基を表す。Rbは、二価の基を表す。R14は、酸により脱離しうる有機基を表す。R’は、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A2は、−O−又は−COO−を表す。uは、0又は1を表し、mは、1〜5の整数を表す。A2が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。R14が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。R’が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。〕
(7)
〔式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。R及びR2は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A1及びA3は、それぞれ独立に、二価の基を表す。B1は、−O−又は−COO−を表す。Zは、炭素数1〜60の一価の有機基を表す。nは、1〜4の整数を表す。Rが複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。B1が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。A3が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。複数個あるZは、同一であっても異なってもよい。aは、0又は1を表す。〕
該塗布層に熱を印加して硬化させる工程;及び
マスクを介して該硬化させた塗布層の一部分に電磁波又は電子線を照射して親液パターン及び撥液パターンを形成する工程;
を包含する絶縁層の形成方法を提供する。
本明細書において、「高分子化合物」とは、分子中に同じ構造単位が複数繰り返された構造を含む化合物をいい、いわゆる2量体もこれに含まれる。
本発明の高分子化合物は、式(1)で表される繰り返し単位及び式(8)で表される繰り返し単位からなる群より選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位を含む。
R及びR2で表される炭素数1〜20の一価の有機基としては、例えば、炭素数1〜20の直鎖状炭化水素基、炭素数3〜20の分岐状炭化水素基、炭素数3〜20の環状炭化水素基、炭素数1〜20のアルコキシ基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、及び炭素数6〜20のアリールオキシ基が挙げられ、炭素数1〜6の直鎖状炭化水素基、炭素数3〜6の分岐状炭化水素基、炭素数3〜6の環状炭化水素基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基、及び炭素数6〜20のアリールオキシ基が好ましい。
R及びR2で表される炭素数1〜20の一価の有機基は、フッ素原子を含有してもよい。
炭素数1〜20の一価の有機基としては、アルキル基、及びアルコキシ基が好ましい。
ある一形態では、Rはメトキシ基であり、R2はメチル基である。
ある一形態では、A1及びA3は、炭素数1〜20の二価の有機基である。
式(9)中、R15、R16、及びR17は、それぞれ独立に、炭素数1〜20の一価の有機基を表す。R15、R16、及びR17で表される炭素数1〜20の一価の有機基の定義及び具体例は、前述のR及びR2で表される炭素数1〜20の一価の有機基の定義及び具体例と同じである。
ある一形態では、Zは、トリメチルシロキシ基である。
ある一形態では、A4は炭素数1〜20の二価の有機基であり、A5はプロピル基である。
ある一形態では、R19及びR20はメチル基である。
式(10)中、R21、R22、及びR23は、それぞれ独立に、炭素数1〜20の一価の有機基を表す。R21、R22、及びR23で表される炭素数1〜20の一価の有機基の定義及び具体例は、前述のR及びR2で表される炭素数1〜20の一価の有機基の定義及び具体例と同じである。
ある一形態では、Z’はトリメチルシロキシ基である。
第1の官能基:活性水素と反応しうる第2の官能基を、電磁波の照射もしくは熱の作用により生成しうる官能基。
ある一形態では、R4、R5及びR6は水素原子である。
Raは、−COO−、及び−OCO−が好ましい。
ある一形態では、R8、R9、R10、R11、及びR12は、水素原子である。
Rdは、−COO−、及び−OCO−が好ましい。
R24、R25、R26、R27、及びR28で表される炭素数1〜20の一価の有機基としては、アルキル基が好ましい。
本明細書において活性水素とは、酸素原子、窒素原子及び硫黄原子のような炭素原子以外の原子に結合した水素原子をいう。
環状炭化水素構造を有する炭素数4〜20の炭化水素基としては、例えば、2−シクロプロピル−2−プロピル基、1−メチル−1−シクロペンチル基、1−メチル−1−シクロヘキシル基、1−メチル−1−シクロヘプタニル基、2−メチル−2−アダマンチル基及び2−アダマンチル−2−プロピル基が挙げられる。
ヒドロフラニル基及びヒドロピラニル基が有していてもよい置換基としては、例えば、ヒドロキシ基、アルコキシ基及びアルキル基が挙げられる。
ヒドロフラニル基とは、ジヒドロフラン又はテトラヒドロフランから水素原子1個を除いた基を意味し、置換されていてもよいヒドロフラニル基としては、例えば、テトラヒドロフラニル基が挙げられる。
ヒドロピラニル基とは、ジヒドロピラン又はテトラヒドロピランから水素原子1個を除いた基を意味し、置換されていてもよいヒドロピラニル基としては、例えば、テトラヒドロピラニル基及び4−メトキシテトラヒドロピラニル基が挙げられる。
活性水素と環状エーテル構造とを有する化合物としては、例えば、グリシジルアルコール、及び、3−ヒドロキシメチル−3−エチルオキセタンが挙げられる。
活性水素と反応しうる官能基と二重結合とを有する化合物としては、例えば、アクリル酸クロライド、メタクリル酸クロライド、2−イソシアナトエチルアクリレート、2−イソシアナトエチルメタクリレート、及び、ビニルベンゾイルクロライドが挙げられる。
二重結合とイソチオシアナト基とを有する化合物としては、例えば、2−アクリロイルオキシエチルイソチオシアネート、2−メタクリロイルオキシエチルイソチオシアネート、及び、2−(2’−メタクリロイルオキシエチル)オキシエチルイソチオシアネートが挙げられる。
式(1)で表される繰り返し単位及び式(8)で表される繰り返し単位からなる群より選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、環状エーテル構造を含有する繰り返し単位及び以下の第1の官能基を含有する繰り返し単位からなる群より選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、式(6)で表される繰り返し単位とを含む高分子化合物(A−3)は、例えば、式(1)で表される繰り返し単位の原料となる重合性モノマー及び式(8)で表される繰り返し単位の原料となる重合性モノマーからなる群より選ばれる少なくとも1種の重合性モノマーと、式(2)で表される繰り返し単位の原料となる重合性モノマー及び式(3)で表される繰り返し単位の原料となる重合性モノマー及び第1の官能基を含有する繰り返し単位の原料となる重合性モノマーとからなる群より選ばれる少なくとも1種の重合性モノマーと、式(6)で表される繰り返し単位の原料となる重合性モノマーとを含む重合性モノマー混合物を用い、前記高分子化合物(A)の製造と同様の方法により製造することが出来る。
アクリロニトリル及びその誘導体としては、例えば、アクリロニトリルが挙げられる。
(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アクリロニトリル−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボニルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アクリロニトリル−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−グリシジルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−N,N−ジエチルアクリルアミド−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−(3−エチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−N,N−ジエチルアクリルアミド−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アクリロニトリル−コ−N,N−ジエチルアクリルアミド−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボニルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アクリロニトリル−コ−N,N−ジエチルアクリルアミド−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−グリシジルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−メチルメタクリレート−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−(3−エチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−メチルメタクリレート−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アクリロニトリル−コ−メチルメタクリレート−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)、及び、ポリ(α−メチル−(4−(3-トリストリメチルシロキシシリルプロピル)オキシ−5−メトキシ−2−ニトロ)ベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボニルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アクリロニトリル−コ−メチルメタクリレート−コ−(2−テトラヒドロピラニル)−4−ビニルベンゾエート)が挙げられる。
本発明の絶縁層材料は、式(1)で表される繰り返し単位及び式(8)で表される繰り返し単位からなる群より選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位を含む高分子化合物を含む。さらに、混合や粘度調節のための溶媒、添加剤などを含有していてもよい。該溶媒としては、例えば、テトラヒドロフランやジブチルエーテルなどのエーテル溶媒、ヘキサンなどの脂肪族炭化水素溶媒、シクロヘキサンなどの脂環式炭化水素溶媒、ペンテンなどの不飽和炭化水素溶媒、キシレンなどの芳香族炭化水素溶媒、アセトンなどのケトン溶媒、ブチルアセテートなどのアセテート溶媒、イソプロピルアルコールなどのアルコール溶媒、クロロホルムなどのハロゲン溶媒、これらの溶媒の混合溶媒が挙げられる。溶媒としては、常圧での沸点が100℃〜200℃の有機溶媒が好ましい。常圧での沸点が100℃〜200℃の有機溶媒の例としては、2−ヘプタノン(沸点151℃)、及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(沸点146℃)が挙げられる。また、添加剤としては、例えば、増感剤、レべリング剤、粘度調節剤、光カチオン重合開始剤、熱カチオン重合開始剤、光酸発生剤、熱酸発生剤、及び、硬化促進剤が挙げられる。
絶縁層材料を含む液を基材に塗布し、次いで、乾燥させて該基材上に塗布層を形成する工程;
該塗布層に熱を印加する工程;及び、
マスクを介して該熱を印加した塗布層の一部分に電磁波又は電子線を照射して親液パターン及び撥液パターンを形成する工程;
を包含する絶縁層の形成方法である。
ここで、「基材」とは、その上に絶縁層が配置されることになる構成部材をいう。
本発明の高分子化合物が第1の官能基を含有する繰り返し単位を含む場合、加熱により第2の官能基が形成され、大気中の水分と第2の官能基の部位が反応し、高分子化合物が架橋構造を形成し、絶縁層が形成される。
本発明の高分子化合物が環状エーテル構造を含有する繰り返し単位及び第1の官能基を含有する繰り返し単位を含み、かつ、絶縁層材料中に加熱により酸を発生する化合物を含む場合、加熱により発生した酸により環状エーテルの部位が反応し、高分子化合物がカチオン重合して生成した水酸基と、第1の官能基から生成した第2の官能基とが反応して架橋構造が形成され、絶縁層が形成される。
(Y) (Y’)
該他の有機絶縁層上に積層する絶縁層の形成方法の一態様は、
絶縁層材料を含む液を有機絶縁層からなる基材に塗布し、次いで、乾燥させて該基材上に塗布層を形成する工程;
マスクを介して該熱を印加した塗布層の一部分に電磁波又は電子線を照射して親液パターン及び撥液パターンを形成する工程;及び
該親液パターン及び撥液パターンが形成された塗布層に熱を印加する工程;
を包含する絶縁層の形成方法である。
更に、親液パターン上に金属層を形成した後、撥液パターン部分の絶縁層を有機溶媒に溶解させて除去してもよい。
図1は、本発明の一実施形態であるボトムゲートトップコンタクト型有機薄膜トランジスタの構造を示す模式断面図である。この有機薄膜トランジスタには、基板1と、基板1上に形成されたゲート電極2と、ゲート電極2上に形成されたゲート絶縁層3と、ゲート絶縁層3上に形成された有機半導体層4と、有機半導体層4上にチャネル部を挟んで形成されたソース電極5及びドレイン電極6と、素子全体を覆うオーバーコート7とが、備えられている。
絶縁層材料を含む液を基材に塗布して該基材上に塗布層を形成する工程;
該塗布層に熱を印加する工程;
マスクを介して該熱を印加した塗布層の一部分に電磁波又は電子線を照射して親液パターン及び撥液パターンを形成する工程;並びに、
該親液パターン及び撥液パターンを形成した絶縁層上に、インクジェット法、又は印刷法により有機半導体層、及び、要すれば配線層を形成する工程;
を包含する有機薄膜トランジスタ絶縁層の形成方法である。
(化合物1の合成)
三方コックを上部に付けたジムロートを500mlの三つ口フラスコに取り付け、該三つ口フラスコ中に、3’−ヒドロキシ−4’−メトキシアセトフェノン(東京化成工業株式会社製)を9.84g、3−アイオドプロピルトリス(トリメチルシロキシ)シラン(信越化学工業株式会社製)を25.00g、炭酸カリウム(和光純薬工業株式会社製)を11.47g、N,N−ジメチルホルムアミド(和光純薬工業株式会社製)を200ml及び攪拌子を入れ、マグネティックスターラーで攪拌子を攪拌させながら室温で24時間反応させた。反応終了後、反応混合物を500mlのイオン交換水が入った1Lビーカーに入れた。析出物をジエチルエーテルで抽出し、更に、イオン交換水でジエチルエーテル層を十分に水洗し、ジエチルエーテル層を分液した後、ジエチルエーテル層に無水硫酸マグネシウムを加えて乾燥させた。ジエチルエーテル層中の塩を濾別後、ロータリーエバポレーターで濃縮して淡黄色透明液体である化合物1を得た。化合物1の得量は26.51gであり、収率は98%であった。
化合物1
(化合物2の合成)
200mlのナスフラスコに、化合物1を5.00g、及び攪拌子を入れた。該ナスフラスコを氷浴中に浸け、冷却しながら、氷浴中で冷却した濃硝酸(d=1.42g/cm3)7.50gをナスフラスコ内にゆっくり滴下した。滴下終了後、氷浴中で更に1時間攪拌し、更に、水浴中で3時間反応させた。反応終了後、100mlのイオン交換水を反応混合物に加え、炭酸カリウム水溶液で中和した。中和後、水層を500ml分液ロートに移し、更に、フラスコ内に残った沈殿物を酢酸エチル100mlに溶解させた溶液を500mlの分液ロートに移し、有機層を分液した。水層を更に酢酸エチル50mlで3回抽出し、すべての有機層を合わせてイオン交換水200mlで水洗、及び分液を3回繰り返した。有機層を分液し、有機層を無水硫酸マグネシウムで乾燥させた後、不溶物を濾別した。濾液をロータリーエバポレーターで濃縮して化合物2を淡黄色で粘稠な液体として得た。化合物2の収量は4.64gであり、収率は85%であった。
化合物2
(化合物3の合成)
200mlのナスフラスコに、化合物2を4.64g、エタノール(和光純薬工業株式会社製)を100ml、及び攪拌子を入れ、マグネティックスターラーで攪拌子を攪拌させながら均一な溶液を調製した。得られた溶液に水素化ホウ素ナトリウム(和光純薬工業株式会社製)0.32gを添加した。添加終了後、室温で4時間反応させた。反応終了後、反応液をロータリーエバポレーターで容積が10分の1程度になるまで濃縮し、酢酸エチルを200ml加えて析出物を再度溶解させた後、500mlの分液ロートに移した。酢酸エチル層をイオン交換水50mlで3回水洗した後、分液し、酢酸エチル層を無水硫酸マグネシウムで乾燥させた。不溶物を濾別した後、濾液をロータリーエバポレーターで濃縮し、濃黄色透明で粘稠な液体である化合物3を得た。化合物3の得量は、4.12gであり、収率は88%であった。
化合物3
(化合物4の合成)
三方コックを上部に付けたジムロートを200mlの三つ口フラスコに取り付け、該三つ口フラスコ中に、化合物3を4.12g、トリエチルアミン(和光純薬工業株式会社製)を1.59g、脱水テトラヒドロフラン(和光純薬工業株式会社製)を100ml、及び攪拌子を入れ、フラスコ内部の空気を窒素で置換し、マグネティックスターラーで攪拌子を攪拌させて均一な溶液を調製した。得られた溶液に、ガスタイトシリンジでメタクリロイルクロライド(東京化成工業株式会社製)を1.57g滴下した。滴下終了後、室温で18時間反応させ、その後、メタノール(和光純薬工業株式会社製)を40ml加え、更に、室温で3時間反応させた。反応終了後、反応混合物を200mlのナスフラスコに移し、ロータリーエバポレーターで体積が10分の1程度になるまで濃縮した。得られた粘稠物を酢酸エチル200mlに再溶解させ、500mlの分液ロートに移した。イオン交換水100mlで有機層を水洗し、水層を分液後、有機層に希塩酸を加え、水層が酸性になるまで有機層を洗浄した。その後、有機層にイオン交換水を加え、水層が中性になるまで有機層を洗浄した。有機層を無水硫酸マグネシウムで乾燥させ、不溶物を濾過した後、濾液をロータリーエバポレーターで濃縮し、更に、ロータリーポンプで溶媒を除去して淡黄色で粘稠な液体である化合物4を得た。化合物4の収量は3.90gであり、収率は84%であった。
化合物4
(化合物5の合成)
三方コック及びセプタムを取り付けた300mlの三つ口フラスコに、3−エチル−3−ヒドロキシメチルオキセタン(東亞合成株式会社製、商品名:OXT−101)を33.29g、トリエチルアミン(和光純薬工業株式会社製)を48.31g、脱水テトラヒドロフラン(和光純薬工業株式会社製)を200ml、及び攪拌子を入れ、フラスコ内部の空気を窒素で置換した。フラスコを氷浴中に浸け、マグネティックスターラーで攪拌子を攪拌させることにより反応混合物を攪拌させながら、ガスタイトシリンジを用いてメタクリロイルクロライド25.00gをゆっくり滴下した。滴下終了後、氷浴中で更に2時間攪拌を続け、その後、室温で一晩攪拌を続けて反応させた。反応終了後、生成したトリエチルアミン塩酸塩を濾別し、濾液を500mlの分液ロートに移し、濾液にジエチルエーテル200mlを加えた後、100mlのイオン交換水で有機層を水洗し、有機層を分液した。有機層の水洗を3回繰り返した後、有機層を分液し、無水硫酸マグネシウムを加えて乾燥させた。無水硫酸マグネシウムを濾別した後、濾液をロータリーエバポレーターを用いて濃縮し、化合物5を淡褐色の液体として得た。化合物5の得量は29.3gであり、収率は61.3%であった。
化合物5
(高分子化合物1の合成)
50ml耐圧容器(ACE GLASS社製)に、化合物4を2.00g、化合物5を1.79g、スチレン(和光純工業株式会社薬製)を1.01g、1,4−シクロヘキサンジメタノールモノアクリレート(日本化成株式会社製)を2.06g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)を0.03g、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(東京化成工業株式会社製)を8.82g入れ、溶存酸素をパージするためアルゴンガスでバブリングした後、密栓した。80℃のオイルバス中で8時間重合させ、高分子化合物1が溶解している粘稠なプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート溶液を得た。高分子化合物1は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。
(絶縁層の形成及び接触角の測定)
20mlのサンプル瓶に、実施例2で得た高分子化合物1のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート溶液を0.57g、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(YDCN−704、東都化成株式会社製)を1.13g、熱酸発生剤であるTA−100(サンアプロ株式会社製)を0.041g、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを6.20g入れ、攪拌しながら溶解させ、絶縁層材料である均一な塗布溶液1を調製した。
(絶縁層の形成及び接触角の測定)
アライナー(PLA−521、キャノン株式会社製)を用いて1600mJ/cm2のUV光(波長365nm)を塗布層に照射した以外は、実施例3と同様にして絶縁層を形成し、イオン交換水の接触角を測定した。結果を表1に示す。UV光の照射した絶縁層は親液性を有していた。
(絶縁層の形成及び接触角の測定)
アライナー(PLA−521、キャノン株式会社製)を用いて2400mJ/cm2のUV光(波長365nm)を塗布層に照射した以外は、実施例3と同様にして絶縁層を形成し、イオン交換水の接触角を測定した。結果を表1に示す。UV光の照射した絶縁層は親液性を有していた。
(絶縁層の形成及び接触角の測定)
アライナー(PLA−521、キャノン株式会社製)でUV光(波長365nm)を塗布層に照射しなかった以外は、実施例3と同様にして絶縁層を形成し、イオン交換水の接触角を測定した。結果を表1に示す。UV光の照射を行わなかったため、絶縁層は撥液性を有していた。
2…ゲート電極、
3…ゲート絶縁層、
4…有機半導体層、
5…ソース電極、
6…ドレイン電極、
7…オーバーコート。
Claims (12)
- 式(1)で表される繰り返し単位及び式(8)で表される繰り返し単位からなる群より選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、
式(2)で表される繰り返し単位、式(3)で表される繰り返し単位及び以下の第1の官能基を含有する繰り返し単位からなる群より選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と
を含む高分子化合物。
(1)
〔式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。R及びR2は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A1 は、炭素数1〜20の二価の有機基を表す。A3は、炭素数1〜20の二価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−OCO−、−NHCO−、−CONH−、−NHCOO−または−OCONH−を表す。B1は、−O−又は−COO−を表す。Zは、炭素数1〜60の一価の有機基を表す。nは、1〜4の整数を表す。Rが複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。複数個あるZは、同一であっても異なってもよい。A3が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。B1が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。aは、0又は1を表す。〕
(8)
〔式中、R18は、水素原子又はメチル基を表す。R19及びR20は、それぞれ独立に、炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A4 は、炭素数1〜20の二価の有機基を表す。A5は、炭素数1〜20の二価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−OCO−、−NHCO−、−CONH−、−NHCOO−または−OCONH−を表す。Z’は、炭素数1〜60の一価の有機基を表す。複数個あるZ’は、同一であっても異なってもよい。a1は、0又は1を表す。〕
(2)
〔式中、R 3 は、水素原子又はメチル基を表す。R 4 、R 5 及びR 6 は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。R a は、炭素数1〜20の二価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−OCO−、−NHCO−、−CONH−、−NHCOO−または−OCONH−を表す。tは、0又は1を表す。〕
(3)
〔式中、R 7 は、水素原子又はメチル基を表す。R 8 、R 9 、R 10 、R 11 、及びR 12 は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。R d は、炭素数1〜20の二価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−OCO−、−NHCO−、−CONH−、−NHCOO−または−OCONH−を表す。wは、0又は1を表す。〕
第1の官能基:活性水素と反応しうる第2の官能基を、電磁波の照射もしくは熱の作用により生成しうる官能基。 - 第1の官能基が、ブロック化剤でブロックされたイソシアナト基又はブロック化剤でブロックされたイソチオシアナト基である請求項1〜3のいずれか一項に記載の高分子化合物。
- 更に、式(6)で表される繰り返し単位を含む請求項1〜6のいずれか一項に記載の高分子化合物。
(6)
〔式中、R13は、水素原子又はメチル基を表す。Rbは、炭素数1〜20の二価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−OCO−、−NHCO−、−CONH−、−NHCOO−または−OCONH−を表す。R14は、酸により脱離しうる有機基を表す。R’は、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A2は、−O−又は−COO−を表す。uは、0又は1を表し、mは、1〜5の整数を表す。A2が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。R14が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。R’が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。〕 - 式(7)で表される化合物。
(7)
〔式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。R及びR2は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。A1 は、炭素数1〜20の二価の有機基を表す。A3は、炭素数1〜20の二価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−OCO−、−NHCO−、−CONH−、−NHCOO−または−OCONH−を表す。B1は、−O−又は−COO−を表す。Zは、炭素数1〜60の一価の有機基を表す。nは、1〜4の整数を表す。Rが複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。B1が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。A3が複数個ある場合、それらは同一であっても異なってもよい。複数個あるZは、同一であっても異なってもよい。aは、0又は1を表す。〕 - 請求項1〜7のいずれか一項に記載の高分子化合物を含む絶縁層材料。
- 請求項10に記載の絶縁層材料を含む液を基材に塗布し、次いで、乾燥させて該基材上に塗布層を形成する工程;
該塗布層に熱を印加して硬化させる工程;及び
マスクを介して該硬化させた塗布層の一部分に電磁波又は電子線を照射して親液パターン及び撥液パターンを形成する工程;
を包含する絶縁層の形成方法。 - 電磁波が紫外線である請求項11に記載の絶縁層の形成方法。
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