JP6093507B2 - Electronic component mounting circuit board short inspection method - Google Patents

Electronic component mounting circuit board short inspection method Download PDF

Info

Publication number
JP6093507B2
JP6093507B2 JP2012078431A JP2012078431A JP6093507B2 JP 6093507 B2 JP6093507 B2 JP 6093507B2 JP 2012078431 A JP2012078431 A JP 2012078431A JP 2012078431 A JP2012078431 A JP 2012078431A JP 6093507 B2 JP6093507 B2 JP 6093507B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
circuit board
short
component mounting
mounting circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012078431A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013207292A (en
Inventor
徹 伊波
徹 伊波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Network and System Integration Corp
Original Assignee
NEC Network and System Integration Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Network and System Integration Corp filed Critical NEC Network and System Integration Corp
Priority to JP2012078431A priority Critical patent/JP6093507B2/en
Publication of JP2013207292A publication Critical patent/JP2013207292A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6093507B2 publication Critical patent/JP6093507B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、電子部品実装回路基板のショート検査方法に関し、特に、電子部品実装回路基板からの発熱情報を基にショート箇所を検査する電子部品実装回路基板のショート検査方法に関する。   The present invention relates to an electronic component mounting circuit board short inspection method, and more particularly, to an electronic component mounting circuit board short inspection method for inspecting a short portion based on heat generation information from an electronic component mounting circuit board.

回路基板は、部品実装前に配線パターン等に異常がないかをチェックして、ショート等の不具合がない回路基板に対して電子部品が実装される。表面実装用電子部品の実装は、実装する回路基板のパターンにクリーム半田等を塗布して、塗布した半田上に電子部品を搭載し、回路基板及び搭載部品に熱風を吹いて、半田を溶かして接合する。また、回路基板の組み立て後に、電子部品と回路基板の接合状態の確認、半田ミス等によるショートの検査が行われる。   The circuit board is checked for abnormalities in the wiring pattern or the like before the component is mounted, and the electronic component is mounted on the circuit board that does not have a defect such as a short circuit. For mounting electronic components for surface mounting, apply cream solder etc. to the pattern of the circuit board to be mounted, mount the electronic component on the applied solder, blow hot air on the circuit board and the mounting component, and melt the solder Join. In addition, after the circuit board is assembled, confirmation of the bonding state between the electronic component and the circuit board, and a short circuit inspection due to a soldering error or the like are performed.

特許文献1には、半導体チップの複数の電極と、プリント配線板のそれぞれ対応する複数の電極との接続状態を検査する検査装置が開示されている。特許文献1によれば、レーザー光を照射することにより、電子部品を外側から加熱する加熱手段により電子部品を所定状態に加熱し、次いでこの加熱した電子部品の温度分布を、測定手段を介して測定し、得られる測定結果に基づいて検査手段によって、電子部品の各電極とプリント配線板の対応する電極との接続状態を検査するようにしたものである。   Patent Document 1 discloses an inspection apparatus that inspects a connection state between a plurality of electrodes of a semiconductor chip and a plurality of electrodes corresponding to the printed wiring board. According to Patent Document 1, by irradiating a laser beam, the electronic component is heated to a predetermined state by a heating unit that heats the electronic component from the outside, and then the temperature distribution of the heated electronic component is measured via the measurement unit. The connection state between each electrode of the electronic component and the corresponding electrode of the printed wiring board is inspected by the inspection means based on the measurement result obtained.

特開平11−201926号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-201926

近年、回路基板の高密度実装に伴ってパターンのピッチが狭くなっているため、回路基板への電子部品実装時に半田ミスによりショートし易い状態となっている。このため、SMD(Surface Mount Device)が搭載されて組み立てられた直後の基板は、基板表面等でショート状態となっているものが混入しており、その主な原因は、部品実装時の半田ブリッジ等に起因するショートによるものである。また、半田ミスによるショート以外に、導電性の異物によるショートが発生していることもある。   In recent years, since the pitch of a pattern is narrowed with high-density mounting of a circuit board, a short circuit is likely to occur due to a soldering error when electronic components are mounted on the circuit board. For this reason, the substrate immediately after being assembled with the SMD (Surface Mount Device) is mixed with a short-circuited substrate surface or the like, the main cause of which is the solder bridge during component mounting. This is due to a short circuit caused by the above. In addition to a short circuit due to a solder mistake, a short circuit due to a conductive foreign matter may occur.

回路基板への電子部品の実装後に、電子部品実装回路基板に通電してボードテスタ等により電子部品実装回路基板の各部の信号レベル等を測定して、ショート等の異常が無いかをチェックしている。   After mounting the electronic components on the circuit board, energize the electronic component mounting circuit board, measure the signal level etc. of each part of the electronic component mounting circuit board with a board tester etc., and check for any abnormalities such as short circuit Yes.

しかしながら、電子部品実装回路基板に通電する前に、電源パターンがショートしていないかを確認する必要がある。電源パターンがショートしている場合には、目視でショート箇所を見つけるには、基板全体をチェックする必要があるため時間と労力を要する。更に、ショートしている箇所に電子部品が実装されている場合には、目視で確認することは困難である。   However, it is necessary to confirm whether the power supply pattern is short-circuited before energizing the electronic component mounting circuit board. When the power supply pattern is short-circuited, it takes time and labor to visually check the entire substrate in order to find the short-circuited portion. Furthermore, when an electronic component is mounted at a shorted location, it is difficult to confirm visually.

このため、回路図を見ながらテスタ等によりパターンの抵抗値を測定して、抵抗値の変化によりショート箇所を推定しながら、ショート箇所を見つけて、修復を行っていた。このため、ショート箇所を特定するために、時間を要し、作業効率が悪かった。従って、基板ショートの修復作業での効率化が求められている。   For this reason, the resistance value of the pattern was measured with a tester or the like while looking at the circuit diagram, and the short-circuited portion was found while the short-circuited portion was estimated from the change in the resistance value, and the repair was performed. For this reason, it takes time to identify the short-circuited portion, and the work efficiency is poor. Accordingly, there is a demand for efficiency in the repair work of the short circuit.

また、ショート箇所検出のために、赤外線放射温度計を用いて部品が実装された回路基板を撮像してサーモグラフィーにより発熱箇所を特定することができる。しかしながら、サーモグラフィーで抽出された発熱箇所と、実際の電子部品実装回路基板上でのショート箇所とが異なることがある。これは、例えば、ショート箇所で発生した熱が、ショート箇所に隣接する大きな面積を有するGNDパターンが放熱板となって、ショート箇所が放熱されてしまう。これにより、ショート箇所から離れた細いパターンに電流が流れて、その部分が発熱するためである。そのため、発熱箇所から一義的にショート箇所を特定できないため、時間を要することがあった。   Further, in order to detect a short portion, it is possible to identify a heat generation portion by thermography by imaging a circuit board on which a component is mounted using an infrared radiation thermometer. However, the heat generation location extracted by thermography may be different from the short-circuit location on the actual electronic component mounting circuit board. This is because, for example, the heat generated at the short portion becomes a heat sink by using a GND pattern having a large area adjacent to the short portion, and the short portion is radiated. This is because current flows in a thin pattern away from the shorted portion, and that portion generates heat. For this reason, it may take time because the short-circuited portion cannot be uniquely identified from the heat-generating portion.

そこで本発明は、回路基板に実装されている電子部品に負担とならない程度の電流を電源パターンに印加して基板を発熱させて、サーモグラフィーで発熱箇所を検出し、発熱箇所に基づいてデータベースからショート箇所を推定するようにして、基板ショートの検査、修復作業が短時間で行える電子部品実装回路基板のショート検査方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention applies a current that does not impose a burden on the electronic components mounted on the circuit board to cause the board to generate heat, detect the heat generation point by thermography, and short-circuit the database based on the heat generation point. It is an object of the present invention to provide a method for inspecting a short circuit of an electronic component-mounted circuit board that can perform inspection and repair work in a short time by estimating the location.

上記目的達成のため、本発明は、回路基板の電子部品実装後におけるショート箇所を特定する電子部品実装回路基板のショート検査方法であって、前記電子部品実装回路基板の電源パターンに通常使用時より少ない電流を供給し、電流を供給して前記電子部品実装回路基板の温度分布を撮像してサーモグラフィーにより前記電子部品実装回路基板上の発熱箇所を抽出し、当該発熱箇所を予め設定された前記電子部品実装回路基板上の位置を示すエリア情報に対応させて、前記電子部品実装回路基板のID情報と当該発熱箇所のエリア情報をキーとして、前記電子部品実装回路基板を特定するためのID情報と前記ID情報毎に前記電子部品実装回路基板上の発熱箇所に対応した単数又は複数のエリア情報に基づいた過去のショート箇所を記憶したデータベースに基づいて、前記電子部品実装回路基板の発熱箇所からショート箇所を特定することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a method for inspecting a short circuit of an electronic component mounted circuit board for identifying a short circuit location after mounting the electronic component on the circuit board. Supplying a small current, imaging the temperature distribution of the electronic component mounting circuit board by supplying a current, extracting a heat generation point on the electronic component mounting circuit board by thermography, and setting the heat generation point to the preset electronic Corresponding to the area information indicating the position on the component mounting circuit board, the ID information for identifying the electronic component mounting circuit board, using the ID information of the electronic component mounting circuit board and the area information of the heat generation point as a key; For each ID information, past short locations based on one or more area information corresponding to heat generation locations on the electronic component mounting circuit board are stored. It was based on the database, and identifies the short portion from the heating portion of the electronic component mounting circuit board.

また、本発明の電子部品実装回路基板のショート検査方法における前記ショート箇所の特定は、前記データベースに基づいて発熱箇所からショート箇所として推定される推定ショート箇所が、前記電子部品実装回路基板上で、前記ショート箇所として確認できない場合は、前記ショート箇所として起因しない前記発熱箇所を選択してマスクし、前記マスクされた前記発熱箇所を外して、少なくした発熱箇所のエリア情報をキーとして、再度前記データベースに基づいてショート箇所を推定し、新たに推定される推定ショート箇所のみを表示し、当該推定して表示した推定ショート箇所の確認を繰り返すことにより、前記ショート箇所を特定することを特徴とする。
In addition, in the electronic component mounting circuit board short inspection method of the present invention, the short circuit location is specified as an estimated short circuit location estimated as a short circuit location from the heat generation location on the electronic component mounting circuit board. If it cannot be confirmed as the short-circuited portion, the heat-generating portion that is not caused as the short-circuited portion is selected and masked, the masked heat-generating portion is removed, and the area information of the reduced heat-generating portion is used as a key again to the database. The short portion is estimated based on the above, only the newly estimated short portion is displayed, and the short portion is identified by repeating the estimation and displaying the estimated short portion .

また、本発明の電子部品実装回路基板のショート検査方法は、前記マスクする前の条件に一致する前記推定ショート箇所前記マスクした後の推定ショート箇所の対象外とすることを特徴とする。
Also, short test method of the electronic component mounting circuit board of the present invention, the estimated short portions that match the previous conditions the mask, characterized in that it excluded the estimated short portion after the mask.

また、本発明の電子部品実装回路基板のショート検査方法は、前記電子部品実装回路基板の電源パターンに電流を供給する前に、前記電子部品実装回路基板を冷却する工程を設けたことを特徴とする。   Also, the electronic component mounting circuit board short inspection method of the present invention is characterized in that a step of cooling the electronic component mounting circuit board is provided before supplying current to the power supply pattern of the electronic component mounting circuit board. To do.

本発明によれば、回路基板に実装されている電子部品に負担とならない程度の電流を印加して、サーモグラフィーで電子部品実装回路基板上の発熱箇所を抽出して、発熱箇所の位置をキーとして電子部品実装回路基板上の過去に発生したショート箇所を蓄積したデータベースからショート箇所を得るようにしたことにより、短時間でショート箇所が判明し、修復作業の効率化が図られる。   According to the present invention, a current that does not impose a burden on an electronic component mounted on a circuit board is applied, a heat generation location on the electronic component mounting circuit board is extracted by thermography, and the position of the heat generation location is used as a key. By obtaining the short location from the database storing the short locations that have occurred in the past on the electronic component mounting circuit board, the short location can be found in a short time, and the efficiency of the repair work can be improved.

また、電子部品実装回路基板の電源パターンに電流を供給する前に、電子部品実装回路基板を冷却することにより、サーモグラフィーによる発熱箇所の抽出をより確実に行うことができる。   Further, by cooling the electronic component mounting circuit board before supplying current to the power supply pattern of the electronic component mounting circuit board, it is possible to more reliably extract the heat generation location by thermography.

また、回路基板のショート箇所等の報告を製造工程にフィードバックすることにより、類似の事故を減らすことができる。   In addition, similar accidents can be reduced by feeding back a report of a shorted portion of the circuit board to the manufacturing process.

(a)は、回路基板に電子部品を実装した電子部品実装回路基板のショート検査をするためのショート検査装置の構成を示す図、(b)は、保護抵抗を介して電子部品実装回路基板に電源装置を接続した図である。(A) is a figure which shows the structure of the short test | inspection apparatus for carrying out the short test | inspection of the electronic component mounting circuit board which mounted the electronic component on the circuit board, (b) is an electronic component mounting circuit board via protection resistance It is the figure which connected the power supply device. 電子部品実装回路基板のショート検査の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the short test | inspection of an electronic component mounting circuit board. 電子部品実装回路基板を縦横に分割して、分割した分割エリアをモニタ画面上にグリットで表示した例を示す図である。It is a figure which shows the example which divided | segmented the electronic component mounting circuit board vertically and horizontally, and displayed the divided area on the monitor screen by the grid. モニタに表示された電子部品実装回路基板の発熱箇所を示す図である。It is a figure which shows the heat_generation | fever location of the electronic component mounting circuit board displayed on the monitor. 電子部品実装回路基板の推定されたショート箇所の位置をモニタに表示した一例を示す図である。It is a figure which shows an example which displayed on the monitor the position of the short part estimated of the electronic component mounting circuit board. モニタ上の分割エリアの一部をマスクした例を示す図である。It is a figure which shows the example which masked a part of division area on a monitor.

以下図面を参照して、発明による電子部品実装回路基板のショート検査方法を実施するための形態について説明する。尚、本発明は、電子部品実装回路基板に実装されている電子部品に負担とならない程度の電流を電源パターンに印加して電子部品実装回路基板を発熱させて、サーモグラフィーで発熱箇所を抽出し、発熱箇所に基づいてデータベースからショート箇所を推定するようにして、電源関連における基板ショートの検査、修復作業が短時間で行えるようにしたものである。
[ショート検査装置の構成]
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment for carrying out an electronic component mounting circuit board short inspection method according to the present invention will be described with reference to the drawings. The present invention applies a current that does not burden the electronic component mounted on the electronic component mounted circuit board to the power supply pattern to heat the electronic component mounted circuit board, and extracts the heat generation location by thermography, The short part is estimated from the database based on the heat generation part, so that the inspection and repair work for the short circuit of the power supply can be performed in a short time.
[Configuration of short inspection equipment]

図1(a)は、回路基板に電子部品を実装した電子部品実装回路基板のショートを検査するためのショート検査装置の構成を示す図、図1(b)は、保護抵抗を介して電子部品実装回路基板に電源装置を接続した図である。尚、以下の説明で、電子部品実装前の基板を回路基板と称し、回路基板に電子部品を実装したものを電子部品実装回路基板と称する。   FIG. 1A is a diagram showing a configuration of a short inspection apparatus for inspecting a short of an electronic component mounting circuit board in which an electronic component is mounted on a circuit board, and FIG. 1B is an electronic component through a protective resistor. It is the figure which connected the power supply device to the mounting circuit board. In the following description, a board before electronic component mounting is referred to as a circuit board, and an electronic component mounted circuit board is referred to as an electronic component mounting circuit board.

図1に示すように、ショート検査装置1は、電子部品実装回路基板3を撮像して発熱箇所を検出するための赤外線放射温度計5と、赤外線放射温度計5の撮像信号からサーモグラフィーにより温度分布をカラー画像化し、温度の画像データを処理して発熱箇所を抽出する画像処理装置6と、画像データ及び画像処理装置6の処理結果を表示するモニタ7と、画像処理装置6からのキー情報に基づいてショート箇所を推定して出力するデータベース10とを有している。また、コネクター15を介して被検査基板である電子部品実装回路基板に電源を供給する電源装置17を備えている。   As shown in FIG. 1, the short inspection apparatus 1 includes an infrared radiation thermometer 5 for imaging an electronic component mounting circuit board 3 to detect a heat generation point, and a temperature distribution by thermography from an imaging signal of the infrared radiation thermometer 5. Is converted into a color image, the image processing device 6 that extracts the heat generation portion by processing the temperature image data, the monitor 7 that displays the image data and the processing result of the image processing device 6, and the key information from the image processing device 6 And a database 10 for estimating and outputting a short portion based on the database. A power supply device 17 is also provided for supplying power to the electronic component mounting circuit board, which is the board to be inspected, via the connector 15.

電子部品実装回路基板3は、回路基板にSMD(表面実装部品)等が半田付けにより実装されているものであり、部品実装直後の電源のショート検査で、電源関連にショートが発見されたものである。電子部品実装回路基板3は、検査時に受台20の支柱を介して水平になるように設置される。   The electronic component mounting circuit board 3 is a circuit board on which SMD (surface mounted component) or the like is mounted by soldering, and a short circuit related to the power supply is found in the power supply short inspection immediately after the component mounting. is there. The electronic component mounting circuit board 3 is installed so as to be horizontal via the support column of the cradle 20 at the time of inspection.

赤外線放射温度計5は、電子部品実装回路基板3からから放射された赤外線をレンズで結像させ、赤外線検出素子で赤外線を検出して、検出した信号から温度を測定するものである。   The infrared radiation thermometer 5 forms an image of infrared rays emitted from the electronic component mounting circuit board 3 with a lens, detects the infrared rays with an infrared detection element, and measures the temperature from the detected signal.

画像処理装置6は、赤外線放射温度計5からのアナログ信号をデジタルデータに変換して、変換したデジタルデータを温度の高低に対応したカラーに変換して、モニタ7に二次元的に表示する信号を出力するサーモグラフィーを有する。また、画像処理装置6は、赤外線放射温度計5のアナログ信号からデジタルデータに変換された温度データをメモリに記憶し、メモリに記憶したデータを処理して発熱温度及びその箇所(位置)を抽出するものである。   The image processing device 6 converts an analog signal from the infrared radiation thermometer 5 into digital data, converts the converted digital data into a color corresponding to the level of temperature, and displays the two-dimensionally on the monitor 7 Is output. Further, the image processing device 6 stores in the memory the temperature data converted from the analog signal of the infrared radiation thermometer 5 into digital data, and processes the data stored in the memory to extract the heat generation temperature and its location (position). To do.

データベース10は、データベースを管理するソフトウェアが組み込んだPC等であり、電子部品実装回路基板毎に過去に発生した故障箇所情報を蓄積して、キー情報により電子部品実装回路基板上のショート箇所を検索できるようにしたものである。データベース10が記憶している故障箇所情報は、サーモグラフィーで抽出された発熱位置から検出されたショート箇所の位置を発熱位置に対応させたものである。尚、サーモグラフィー上における位置は、電子部品実装回路基板の表面を縦横に等分して設定したエリア情報により決定される。   The database 10 is a PC or the like in which software for managing the database is incorporated, accumulates information on fault locations that have occurred in the past for each electronic component mounting circuit board, and searches for short locations on the electronic component mounting circuit board using key information. It is something that can be done. The failure location information stored in the database 10 is obtained by associating the location of the short location detected from the heat generation location extracted by thermography with the heat generation location. The position on the thermography is determined by area information set by equally dividing the surface of the electronic component mounting circuit board vertically and horizontally.

このように、データベース10は、電子部品実装回路基板を特定するためのID情報毎に、電子部品実装回路基板上の発熱箇所を示すエリア情報に対応して、ショート箇所を記憶したものである。サーモグラフィーで抽出された発熱箇所と、実際の電子部品実装回路基板上でのショート箇所とが異なることがあるが、これらの情報はデータベース10に記憶されているため、データベース10を検索することにより発熱箇所からショート箇所を特定することができる。   As described above, the database 10 stores short locations corresponding to the area information indicating the heat generation locations on the electronic component mounting circuit board for each ID information for specifying the electronic component mounting circuit board. The heat generation location extracted by thermography may be different from the short-circuit location on the actual electronic component mounting circuit board. Since these pieces of information are stored in the database 10, the heat generation is performed by searching the database 10. The short part can be specified from the part.

これにより、電子部品実装回路基板3を特定するためのID及び発熱箇所をキーとして、過去に発生した類似のショート箇所をデータベース10から検索できるようになっている。尚、データベースの構成、検索方法等は、多数開示されており、これらの公知のデータベースを使用することが可能である。   Thereby, it is possible to search the database 10 for similar short locations that occurred in the past using the ID and heat generation location for specifying the electronic component mounting circuit board 3 as keys. A number of database configurations, search methods, and the like are disclosed, and these known databases can be used.

電源装置17は、電子部品実装回路基板3の電子部品に負担とならない程度の電流を、電源パターンを介して印加するものであり、徐々に流す電流の大きさを可変することができるようになっている。図1(b)に示すように、電源装置17は、保護抵抗19を介して電流を電子部品実装回路基板3に供給される。また、電源装置17は、所定の電流値以上を流さないように電流リミット機能を有している。   The power supply device 17 applies a current that does not become a burden to the electronic components of the electronic component mounting circuit board 3 through the power supply pattern, and can gradually vary the magnitude of the current that flows. ing. As shown in FIG. 1B, the power supply device 17 supplies current to the electronic component mounting circuit board 3 through the protective resistor 19. Further, the power supply device 17 has a current limit function so as not to flow a predetermined current value or more.

以上述べたように、ショート検査装置1のデータベース10には、電子部品実装回路基板3のID毎に、発熱した箇所に対応したショート箇所のデータが蓄積されている。データベース10に蓄積されたデータは、その電子部品実装回路基板特有のパターンレイアウトに起因するもの、実装部品に起因するものも含まれているため、同種の電子部品実装回路基板で、同じようなショートが発生する頻度が高くなる。このため、過去のショートに関するデータを蓄積し、蓄積したデータを活用することにより、ショート箇所を高い確率で検索することができる。   As described above, in the database 10 of the short inspection apparatus 1, the data of the short portion corresponding to the portion where the heat is generated is stored for each ID of the electronic component mounting circuit board 3. The data stored in the database 10 includes data originating from the pattern layout unique to the electronic component mounting circuit board and data originating from the mounting components. Will occur more frequently. For this reason, it is possible to search for a short portion with a high probability by accumulating data relating to past shorts and utilizing the accumulated data.

[ショート検査の手順]
次に、電子部品実装回路基板のショート検査の手順について図2乃至図6を用いて説明する。図2は、電子部品実装回路基板のショート検査の流れを示すフローチャートであり、図3は、電子部品実装回路基板を縦横に分割して、その分割エリアをモニタ画面上にグリットで表示した例を示す図、図4は、モニタに表示された電子部品実装回路基板の発熱箇所を示す図、図5は、電子部品実装回路基板の推定されたショート箇所の位置をモニタに表示した一例を示す図、図6は、モニタ上の分割エリアの一部をマスクした例を示す図である。
[Short inspection procedure]
Next, the procedure for short inspection of the electronic component mounting circuit board will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a flowchart showing a flow of a short inspection of an electronic component mounting circuit board, and FIG. 3 shows an example in which the electronic component mounting circuit board is divided vertically and horizontally and the divided areas are displayed on the monitor screen with grids. FIG. 4 is a diagram showing a heat generation location of the electronic component mounting circuit board displayed on the monitor, and FIG. 5 is a diagram showing an example of displaying on the monitor the position of the estimated short location of the electronic component mounting circuit board. FIG. 6 is a diagram showing an example in which a part of the divided area on the monitor is masked.

最初に、テスタ等により、電子部品が実装された電子部品実装回路基板3の電源ラインがショートしていないかを確認する(ステップS1)。電子部品実装回路基板3の電源ラインがショートしていない場合(ステップS2でYesのとき)には、検査は必要ないので、電子部品実装回路基板3を良品として検査を終了する。   First, it is confirmed by a tester or the like whether the power line of the electronic component mounting circuit board 3 on which the electronic component is mounted is short-circuited (step S1). If the power line of the electronic component mounting circuit board 3 is not short-circuited (Yes in step S2), the inspection is not necessary, and the inspection is terminated with the electronic component mounting circuit board 3 as a good product.

電子部品実装回路基板3の電源ラインがショートしている場合(ステップS2でNoのとき)には、最初に、電子部品実装回路基板3表面の検査を行う(ステップS3)。検査を行う前に、赤外線放射温度計5のレンズの光軸が、水平に設置した電子部品実装回路基板3に対して垂直となるように、電子部品実装回路基板3を受台20の支柱を介して水平に設置する。このとき、電子部品実装回路基板3にコネクター15を介して電源装置17を接続する(ステップS4)。また、赤外線放射温度計5は、画像処理装置6に接続するようにする。   If the power line of the electronic component mounting circuit board 3 is short-circuited (No in step S2), first, the surface of the electronic component mounting circuit board 3 is inspected (step S3). Before the inspection, the electronic component mounting circuit board 3 is placed on the column of the cradle 20 so that the optical axis of the lens of the infrared radiation thermometer 5 is perpendicular to the horizontally installed electronic component mounting circuit board 3. Install horizontally. At this time, the power supply device 17 is connected to the electronic component mounting circuit board 3 via the connector 15 (step S4). The infrared radiation thermometer 5 is connected to the image processing device 6.

次に、検査する電子部品実装回路基板3を赤外線放射温度計5で撮像して、電子部品実装回路基板3がモニタ7上に所定の向き、位置及び大きさに映し出されるように調整する(ステップS5)。この基板の位置決め調整は、前もって電子部品実装回路基板3毎に決められており、電子部品実装回路基板3毎に同一の調整が行われ、これにより同一条件で赤外線放射温度計5により撮像される。   Next, the electronic component mounting circuit board 3 to be inspected is imaged by the infrared radiation thermometer 5 and adjusted so that the electronic component mounting circuit board 3 is projected on the monitor 7 in a predetermined orientation, position and size (step). S5). This board positioning adjustment is determined in advance for each electronic component mounting circuit board 3, and the same adjustment is performed for each electronic component mounting circuit board 3, whereby an image is picked up by the infrared radiation thermometer 5 under the same conditions. .

また、画像処理装置6に検査対象の電子部品実装回路基板3のIDを入力する。画像処理装置6に電子部品実装回路基板3のIDを入力後、画像処理装置6は、電子部品実装回路基板3のサイズ及び形状から電子部品実装回路基板3を縦横に分割して、図3に示す分割した分割エリアがグリットでモニタ7画面上に表示される。   Further, the ID of the electronic component mounting circuit board 3 to be inspected is input to the image processing apparatus 6. After inputting the ID of the electronic component mounting circuit board 3 to the image processing device 6, the image processing device 6 divides the electronic component mounting circuit board 3 vertically and horizontally from the size and shape of the electronic component mounting circuit board 3, as shown in FIG. The divided area shown is displayed on the monitor 7 screen in grit.

図3に示すように、モニタ7画面上の電子部品実装回路基板3は、横方向にAからEまでの5分割され、縦方向は1から5までの5分割されている。これにより、モニタ7画面上の電子部品実装回路基板3は、分割エリアA1からE5までの25のエリアに分割されている。以後の処理では、電子部品実装回路基板3の各位置は、分割エリアに付されたエリア番号により管理される。尚、上述した分割エリアは、説明用のものであり、縦横の分割数は、これに限定するものではない。   As shown in FIG. 3, the electronic component mounting circuit board 3 on the screen of the monitor 7 is divided into five parts A to E in the horizontal direction and five parts 1 to 5 in the vertical direction. Thereby, the electronic component mounting circuit board 3 on the monitor 7 screen is divided into 25 areas from divided areas A1 to E5. In subsequent processing, each position of the electronic component mounting circuit board 3 is managed by an area number assigned to the divided area. The above-described divided areas are for explanation, and the number of vertical and horizontal divisions is not limited to this.

次に、電子部品実装回路基板3の電源端子にコネクター15を介して、電源装置17の電流調整器で電流を供給する(ステップS6)。電源装置17は、電子部品実装回路基板3の電子回路部品に負担とならない程度の電流を印加するものであり、電子部品実装回路基板3に流す電流の大きさを可変することができるようになっている。また、電源装置17の電流調整器は所定の電流以上を流さないように電流リミット機能を有している。電流の大きさを0(ゼロ)から徐々に増加させて0.2Aから0.3A程度の電流を印加する。   Next, a current is supplied to the power supply terminal of the electronic component mounting circuit board 3 by the current regulator of the power supply device 17 via the connector 15 (step S6). The power supply device 17 applies a current that does not impose a burden on the electronic circuit components of the electronic component mounting circuit board 3, and can vary the magnitude of the current flowing through the electronic component mounting circuit board 3. ing. Further, the current regulator of the power supply device 17 has a current limit function so as not to flow a predetermined current or more. The current is gradually increased from 0 (zero) and a current of about 0.2 A to 0.3 A is applied.

電子部品実装回路基板3に電流を印加して、そのとき撮像した画像は、サーモグラフィーで温度に応じて色分けされてモニタ7に表示される。これにより、サーモグラフィーで温度分布画像が得られる。また、温度分布画像は、画像処理装置6のメモリに記憶される(ステップS7)。温度分布画像のデータを記憶しているメモリのアドレスとモニタ7上の位置とは、一対一に対応している。また、メモリのデータは、温度を示す数値が記憶されている   A current is applied to the electronic component mounting circuit board 3, and an image captured at that time is color-coded according to temperature by thermography and displayed on the monitor 7. Thereby, a temperature distribution image is obtained by thermography. The temperature distribution image is stored in the memory of the image processing device 6 (step S7). The address of the memory storing the temperature distribution image data and the position on the monitor 7 have a one-to-one correspondence. The memory data stores a numerical value indicating the temperature.

次に、画像処理装置6は、メモリに記憶した温度分布画像のデータを処理して発熱温度及びその箇所(位置)を抽出する(ステップS8)。
図4に、モニタ7に表示された電子部品実装回路基板の発熱している箇所を示す。図4に示す発熱箇所は、円で示すエリア番号A2、B3と、四角で示すエリア番号C1、C4、D2である。
Next, the image processing device 6 processes the temperature distribution image data stored in the memory to extract the heat generation temperature and its location (position) (step S8).
FIG. 4 shows a portion where the electronic component mounting circuit board displayed on the monitor 7 is generating heat. The heat generation points shown in FIG. 4 are area numbers A2 and B3 indicated by circles and area numbers C1, C4 and D2 indicated by squares.

発熱位置の抽出は、温度分布画像の温度データを記憶しているメモリから、最も温度の高い順に発熱位置を抽出する。抽出した発熱位置は、電子部品実装回路基板3上のエリア番号に変換される。また、他の発熱位置の抽出法として、前もって閾値を設定しておき、閾値以上の発熱の温度が抽出された位置を発熱位置とするようにしてもよい。   The heat generation position is extracted from the memory storing the temperature data of the temperature distribution image in the order of the highest temperature. The extracted heat generation position is converted into an area number on the electronic component mounting circuit board 3. As another heat generation position extraction method, a threshold value may be set in advance, and a position where a temperature of heat generation equal to or higher than the threshold value is extracted may be set as the heat generation position.

ショート検査装置1の画像処理装置6は、電子部品実装回路基板3のID及び抽出された発熱位置のデータをデータベース10の検索条件とするべく、データベース10に出力する(ステップS9)。電子部品実装回路基板3のID及び発熱箇所のエリア番号をキーとしてデータベース10から推定されるショート箇所を検索して、検索結果をモニタ7上に表示する(ステップS10)。図5にデータベース10で検索して、推定されるショート箇所の位置をモニタに表示した一例を示す。図5に示すように、エリア番号D1にショートの位置を示す×印が表示される。   The image processing apparatus 6 of the short inspection apparatus 1 outputs the ID of the electronic component mounting circuit board 3 and the extracted heat generation position data to the database 10 as search conditions of the database 10 (step S9). The short location estimated from the database 10 is searched using the ID of the electronic component mounting circuit board 3 and the area number of the heat generation location as keys, and the search result is displayed on the monitor 7 (step S10). FIG. 5 shows an example of searching the database 10 and displaying the estimated position of the short part on the monitor. As shown in FIG. 5, an X mark indicating the short position is displayed in the area number D1.

モニタ7上に表示された推定されるショート箇所を確認する(ステップS11)。ショートが見られたとき(ステップS12でYesのとき)には、ショート箇所の修復を行う(ステップS13)。その後、ステップS15に移行する。   The estimated short part displayed on the monitor 7 is confirmed (step S11). When a short is observed (Yes in step S12), the short portion is repaired (step S13). Thereafter, the process proceeds to step S15.

また、推定されるショート箇所が確認できなかったとき(ステップS12でNoのとき)には、例えば、作業者が、モニタ7上で目視で確認したショートに起因しない発熱箇所と推定される分割エリアのエリア番号をマスクして、発熱箇所の情報から除くようにする(ステップS14)。図6は、モニタ上の分割エリアの一部をマスクした例を示す。図6に示すように、斜線で示すエリア番号C1をマスクして、発熱箇所から除外するようにする。   Further, when the estimated short-circuit location cannot be confirmed (No in step S12), for example, the divided area that is estimated to be a heat generation location not caused by the short visually confirmed on the monitor 7 by the operator The area number is masked so as to be excluded from the information on the heat generation point (step S14). FIG. 6 shows an example in which a part of the divided area on the monitor is masked. As shown in FIG. 6, the area number C1 indicated by diagonal lines is masked to be excluded from the heat generation point.

マスクした発熱箇所を外して、ステップS9に移行して、再度データベース10を参照してショート箇所を推定する。この時、発熱箇所のエリア情報が少なくなるため、推定されるショート箇所は、マスクする前と比較して、より多くのショート箇所が推定されるが、図6に示すように、マスクする前の条件にてショート箇所と推定されたエリア番号D1においてはショート箇所を示す×印は表示されず、新たに推定されるショート箇所のみが、エリア番号D4及びE4に示す×印で表示される。   The masked heat generation part is removed, the process proceeds to step S9, and the short part is estimated with reference to the database 10 again. At this time, since the area information of the heat generation portion is reduced, the estimated short portion is estimated to have more short portions than before masking, but as shown in FIG. In the area number D1 that is estimated to be a short place under the condition, the x mark indicating the short place is not displayed, and only the newly estimated short place is displayed with the x mark shown in the area numbers D4 and E4.

尚、推定されるショート箇所が確認できなかったときには、作業者が再度選択した発熱箇所をマスクするようにして、データベース10にアクセス時にマスクした発熱箇所を除外して、ステップS9からの工程を繰り返すようにする。   If the estimated short part cannot be confirmed, the heat generation part selected by the operator is masked again, and the heat generation part masked at the time of accessing the database 10 is excluded, and the processes from step S9 are repeated. Like that.

ステップS15では、電子部品実装回路基板3の両面の検査が必要なときには、電子部品実装回路基板3の裏面を検査するための準備を行って(ステップS16)、ステップS4に移行して電子部品実装回路基板3の他の面を検査するようにする。また、ステップS15で電子部品実装回路基板3検査が片面のみの場合(ステップS15でNoのとき)には、検査を終了する。   In step S15, when inspection of both sides of the electronic component mounting circuit board 3 is necessary, preparation for inspecting the back surface of the electronic component mounting circuit board 3 is performed (step S16), and the process proceeds to step S4 to mount the electronic component mounting. The other surface of the circuit board 3 is inspected. If the electronic component mounting circuit board 3 inspection is only on one side in step S15 (No in step S15), the inspection ends.

以上述べたように、回路基板に実装されている電子部品に負担とならない程度の電流を印加して、サーモグラフィーで発熱の位置を抽出して、発熱の位置をキーとして過去のショート箇所を蓄積したデータベースからショート箇所を得るようにしたことにより、短時間でショート箇所が判明し、修復作業の効率化が図られる。   As described above, current that does not impose a burden on the electronic components mounted on the circuit board is applied, the position of heat generation is extracted by thermography, and past short-circuited locations are stored using the position of heat generation as a key. By obtaining the short part from the database, the short part can be found in a short time and the efficiency of the repair work can be improved.

[ショート検査の他の実施形態]
上記したショート検査は、電子部品実装回路基板3の発熱箇所の抽出を室温で行っているが、サーモグラフィーの感度が低い場合や電子部品実装回路基板3のからの発熱温度が低い場合には、電源パターンに電流を供給する前に、電子部品実装回路基板を冷却する工程を加えることにしてもよい。電子部品実装回路基板3を冷却することにより、発熱箇所を際立たせることができ、ショート箇所発見の精度も向上する。
[Other Embodiments of Short Inspection]
In the above-described short inspection, the heat generation portion of the electronic component mounting circuit board 3 is extracted at room temperature. However, when the sensitivity of the thermography is low or the heat generation temperature from the electronic component mounting circuit board 3 is low, the power supply A step of cooling the electronic component mounting circuit board may be added before supplying current to the pattern. By cooling the electronic component mounting circuit board 3, it is possible to make the heat generation point stand out, and the accuracy of finding the short point is improved.

電子部品実装回路基板3の冷却は、電子部品実装回路基板3を収納したケースを冷やしたり、図1(b)の示す受台20に冷却機構を設けて、受台20から冷気を電子部品実装回路基板3に吹き付けるようにしてもよい。更に、室内の照明灯の影響をなくするために、消灯したり、暗室で検査するようにしてもよい。   The electronic component mounting circuit board 3 is cooled by cooling a case housing the electronic component mounting circuit board 3 or by providing a cooling mechanism in the cradle 20 shown in FIG. You may make it spray on the circuit board 3. FIG. Furthermore, in order to eliminate the influence of the indoor illumination lamp, the light may be turned off or the inspection may be performed in a dark room.

このように、電子部品実装回路基板3の電源パターンに電流を供給する前に、電子部品実装回路基板3を冷却する工程を設けたり、周囲を暗くすることにより、電子部品実装回路基板3における発熱箇所の抽出が容易に行えるため、ショート箇所発見の精度を向上させることができる。   As described above, before the current is supplied to the power supply pattern of the electronic component mounting circuit board 3, a process of cooling the electronic component mounting circuit board 3 is provided or the surroundings are darkened to generate heat in the electronic component mounting circuit board 3. Since the location can be easily extracted, the accuracy of finding the short location can be improved.

以上述べたように、本発明によれば、回路基板に実装されている電子部品に負担とならない程度の電流を印加して、サーモグラフィーで電子部品実装回路基板3上の発熱箇所を抽出して、発熱箇所の位置情報をキーとして電子部品実装回路基板3上の過去に発生したショート箇所を蓄積したデータベースからショート箇所を得るようにしたことにより、短時間でショート箇所が判明し、修復作業の効率化が図られる。   As described above, according to the present invention, a current that does not cause a burden on the electronic component mounted on the circuit board is applied, and a heat generation location on the electronic component mounting circuit board 3 is extracted by thermography, By using the location information of the heat generation points as a key, the short locations are obtained from the database of the short locations that have occurred in the past on the electronic component mounting circuit board 3 so that the short locations can be found in a short time and the efficiency of the repair work Is achieved.

また、電子部品実装回路基板の電源パターンに電流を供給する前に、電子部品実装回路基板3を冷却することにより、サーモグラフィーによる発熱箇所の抽出をより確実に行うことができる。   Further, by cooling the electronic component mounting circuit board 3 before supplying current to the power supply pattern of the electronic component mounting circuit board, it is possible to more reliably extract the heat generation location by thermography.

また、回路基板のショート箇所等の報告を製造工程にフィードバックすることにより、類似の事故を減らすことができる。
In addition, similar accidents can be reduced by feeding back a report of a shorted portion of the circuit board to the manufacturing process.

この発明は、その本質的特性から逸脱することなく数多くの形式のものとして具体化することができる。よって、上述した実施形態は専ら説明上のものであり、本発明を制限するものではないことは言うまでもない。   The present invention can be embodied in many forms without departing from its essential characteristics. Therefore, it is needless to say that the above-described embodiment is exclusively for description and does not limit the present invention.

1 ショート検査装置
3 電子部品実装電子部品
5 赤外線放射温度計
6 画像処理装置
7 モニタ
10 データベース(コンピュータ)
15 コネクター
17 電源装置
19 保護抵抗
20 受台
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Short inspection apparatus 3 Electronic component mounting electronic component 5 Infrared radiation thermometer 6 Image processing apparatus 7 Monitor 10 Database (computer)
15 Connector 17 Power supply 19 Protection resistance 20 Receiving base

Claims (4)

回路基板の電子部品実装後におけるショート箇所を特定する電子部品実装回路基板のショート検査方法であって、
前記電子部品実装回路基板の電源パターンに通常使用時より少ない電流を供給し、
電流を供給して前記電子部品実装回路基板の温度分布を撮像してサーモグラフィーにより前記電子部品実装回路基板上の発熱箇所を抽出し、
当該発熱箇所を予め設定された前記電子部品実装回路基板上の位置を示すエリア情報に対応させて、前記電子部品実装回路基板のID情報と当該発熱箇所のエリア情報をキーとして、前記電子部品実装回路基板を特定するためのID情報と前記ID情報毎に前記電子部品実装回路基板上の発熱箇所に対応した単数又は複数のエリア情報に基づいた過去のショート箇所を記憶したデータベースに基づいて、
前記電子部品実装回路基板の発熱箇所からショート箇所を特定することを特徴とする電子部品実装回路基板のショート検査方法。
An electronic component mounting circuit board short inspection method for identifying a short circuit location after mounting an electronic component on a circuit board,
Supply less current than normal use to the power pattern of the electronic component mounting circuit board,
Supply a current to image the temperature distribution of the electronic component mounting circuit board and extract the heat generation location on the electronic component mounting circuit board by thermography,
The electronic component mounting is performed using the ID information of the electronic component mounting circuit board and the area information of the heat generating portion as keys, corresponding to the area information indicating the position on the electronic component mounting circuit board that is set in advance. Based on a database storing ID information for specifying a circuit board and past short locations based on one or more area information corresponding to heat generation locations on the electronic component mounting circuit board for each ID information,
A method for inspecting a short circuit of an electronic component mounting circuit board, wherein a short circuit portion is specified from a heat generation position of the electronic component mounting circuit board.
前記ショート箇所の特定は、前記データベースに基づいて発熱箇所からショート箇所として推定される推定ショート箇所が、前記電子部品実装回路基板上で、前記ショート箇所として確認できない場合は、
前記ショート箇所として起因しない前記発熱箇所を選択してマスクし、前記マスクされた前記発熱箇所を外して、少なくした発熱箇所のエリア情報をキーとして、再度前記データベースに基づいてショート箇所を推定し、新たに推定される推定ショート箇所のみを表示し、当該推定して表示した推定ショート箇所の確認を繰り返すことにより、前記ショート箇所を特定することを特徴とする請求項1に記載の電子部品実装回路基板のショート検査方法。
The short part is identified as an estimated short part estimated as a short part from a heat generation part based on the database, on the electronic component mounting circuit board, and cannot be confirmed as the short part,
Select and mask the exothermic location that does not originate as the short location, remove the masked exothermic location, and use the area information of the reduced exothermic location as a key to again estimate the short location based on the database, 2. The electronic component mounting circuit according to claim 1, wherein only the newly estimated estimated short location is displayed, and the short location is specified by repeating confirmation of the estimated and displayed estimated short location. Substrate short inspection method.
前記マスクする前の条件に一致する前記推定ショート箇所を、前記マスクした後の推定ショート箇所の対象外とすることを特徴とする請求項2に記載の電子部品実装回路基板のショート検査方法。   3. The method for inspecting a short of an electronic component-mounted circuit board according to claim 2, wherein the estimated short portion that matches the condition before the masking is excluded from the target of the estimated short portion after the masking. 前記電子部品実装回路基板の電源パターンに電流を供給する前に、前記電子部品実装回路基板を冷却する工程を設けたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のうち、いずれか1に記載の電子部品実装回路基板のショート検査方法。   4. The method according to claim 1, further comprising a step of cooling the electronic component mounting circuit board before supplying a current to a power supply pattern of the electronic component mounting circuit board. 5. Short circuit inspection method for electronic component mounting circuit boards.
JP2012078431A 2012-03-29 2012-03-29 Electronic component mounting circuit board short inspection method Expired - Fee Related JP6093507B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012078431A JP6093507B2 (en) 2012-03-29 2012-03-29 Electronic component mounting circuit board short inspection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012078431A JP6093507B2 (en) 2012-03-29 2012-03-29 Electronic component mounting circuit board short inspection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013207292A JP2013207292A (en) 2013-10-07
JP6093507B2 true JP6093507B2 (en) 2017-03-08

Family

ID=49526035

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012078431A Expired - Fee Related JP6093507B2 (en) 2012-03-29 2012-03-29 Electronic component mounting circuit board short inspection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6093507B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6884202B2 (en) * 2017-05-15 2021-06-09 三菱電機株式会社 Manufacturing method of defect inspection equipment and semiconductor equipment
JPWO2020194524A1 (en) * 2019-03-26 2020-10-01
CN111665403B (en) * 2020-04-29 2022-12-23 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) Failure point positioning method, device and system for laminated electronic component
CN112731111B (en) * 2020-12-30 2022-12-20 苏州谨测检测技术服务有限公司 Novel PCBA device failure short circuit test method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3229411B2 (en) * 1993-01-11 2001-11-19 株式会社日立製作所 Method of detecting defects in thin film transistor substrate and method of repairing the same
JPH10335900A (en) * 1997-05-27 1998-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Device for inspecting mounted electronic component
JPH11133088A (en) * 1997-10-28 1999-05-21 Matsushita Electric Works Ltd Inspection method for conductor circuit substrate
JP2000068630A (en) * 1998-08-26 2000-03-03 Toshiba Fa Syst Eng Corp Test of printed board
JP4955949B2 (en) * 2005-07-12 2012-06-20 パナソニック株式会社 Inspection method and inspection apparatus
JP5179243B2 (en) * 2008-04-25 2013-04-10 日置電機株式会社 Short position detector

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013207292A (en) 2013-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108076674B (en) Method for assembling an electrical switching system and auxiliary assembly device for simplifying the assembly of the switching system
JP6093507B2 (en) Electronic component mounting circuit board short inspection method
JP4889913B2 (en) Infrared camera sensitive to infrared rays
JP6413246B2 (en) Quality control device and control method for quality control device
US5052816A (en) Junction inspection method and apparatus for electronic parts
US9760427B2 (en) Method and apparatus for identifying location related hardware failures
CN107238796A (en) A kind of maintainability test equipment for wiring board
JP6277754B2 (en) Quality control system and internal inspection device
JP5411913B2 (en) Pin tip position setting method
JP2011138930A (en) Method and apparatus for inspecting and managing electronic substrate, and visual inspection apparatus
CN101300473A (en) Verification of non-recurring defects in pattern inspection
WO2013073387A1 (en) Wire inspection method, and wire inspection device
US9811895B2 (en) Equipment manufacture supporting apparatus, equipment manufacture supporting method, and storage medium for equipment manufacture supporting program
JP6406221B2 (en) Semiconductor device evaluation apparatus and evaluation method
JP5832909B2 (en) WIRING DEFECT DETECTION DEVICE HAVING INFRARED CAMERA AND ABNORMALITY DETECTING METHOD FOR DETECTING ABNORMALITY OF THE IR
JP2005241491A (en) Substrate inspection device and its positioning method
CA2364564A1 (en) Short-circuit locator for printed circuit boards using a visible camera and an ir camera
TW201314202A (en) Method and apparatus for inspecting PCB defects
JP6522409B2 (en) Thermal evaluation device, thermal evaluation method
US6881595B2 (en) Method of and apparatus for testing the quality of printed circuits
JP6387620B2 (en) Quality control system
CN112798109B (en) Detection and evaluation device for mainboard quality
CN110554302B (en) Device for rapidly and automatically detecting circuit board fault
JPWO2019102890A1 (en) Board inspection device, inspection position correction method, position correction information generation method, and position correction information generation system
CN103182855A (en) Repair of PCB interconnect defects formed by conductive ink deposition

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20130807

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150319

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160115

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160129

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160318

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20160629

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160819

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160829

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6093507

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees