JP6091141B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Description
R1=α×Δ(log10Z)/Δ(log10fm)・・・・式(1)
(αは係数であって、図5の例では3.29、図6の例では4.45:Δは上昇分を示す符号)
この場合、この検査装置1および検査方法では、一例として、この上昇率R1が1.73(tan60°)以上のとき、つまり、図5に示すように、周波数を「log10」(常用対数)で示す座標軸(X軸)とインピーダンスを「log10」(常用対数)で示す座標軸(Y軸)とによって規定されるXY平面に周波数の変化に伴うインピーダンスの変化を示す波形曲線CLを描いたときに、波形曲線CLにおける接線の傾きが60°以上となる波形曲線CL上の点を転換点Ptとしている。
2 強磁性体
4 測定部
6 処理部
21a〜21c コンデンサ
13,113 基板
121 コイル
S1 測定用信号
S2 検出信号
Claims (5)
- 部品搭載済基板の一面に設けられている測定点に接続したプローブを介して当該部品搭載済基板の検査対象に対して第1信号を供給したときに当該プローブを介して検出される第2信号に基づいて物理量を測定する測定部と、当該測定部によって測定された前記物理量に基づいて前記部品搭載済基板を検査する検査部とを備えた検査装置であって、
強磁性材料によって形成された強磁性体を備え、
前記強磁性体は、前記部品搭載済基板における前記一面の裏面に配置され、
前記測定部は、前記強磁性体が前記裏面に配置されている状態で前記物理量を測定し、
前記検査部は、前記測定された物理量に基づいて前記検査対象が実装状態であるか非実装状態であるかを検査する検査装置。 - 前記測定部は、前記第1信号としての交流信号の供給に伴って検出される前記第2信号に基づいて前記物理量としてのインピーダンスを当該交流信号の周波数毎に測定し、
前記検査部は、前記測定部によって測定された前記周波数毎の前記インピーダンスの測定値に基づいて前記検査対象としてのコンデンサが実装状態であるか非実装状態であるかを検査する請求項1記載の検査装置。 - 前記測定部は、前記第1信号としての交流信号の供給に伴って検出される前記第2信号に基づいて前記物理量としてのインダクタンスを測定し、
前記検査部は、前記測定部によって測定された前記インダクタンスの測定値に基づいて前記検査対象としてのインダクタが実装状態であるか非実装状態であるかを検査する請求項1記載の検査装置。 - 前記強磁性体は、板状またはシート状に形成されている請求項1から3のいずれかに記載の検査装置。
- 部品搭載済基板の一面に設けられている測定点に接続したプローブを介して当該部品搭載済基板の検査対象に対して第1信号を供給したときに当該プローブを介して検出される第2信号に基づいて物理量を測定し、当該測定した物理量に基づいて前記部品搭載済基板を検査する検査方法であって、
強磁性材料によって形成された強磁性体を前記部品搭載済基板における前記一面の裏面に配置した状態で前記物理量を測定し、当該測定した物理量に基づいて前記検査対象が実装状態であるか非実装状態であるかを検査する検査方法。
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