JP6088770B2 - 穀粒成分分析装置および穀粒成分分析方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係る穀粒成分分析装置の概略構成を模式的に示す。本実施形態に係る穀粒成分分析装置は、穀粒中に含まれる特定成分を分光法により定量分析するものであり、発光手段10、ステージ20、スペクトル検出手段30、および演算手段40を備えている。
重み付き中心点XW=Σ(i*Pij)/ΣPij
重み付き中心点YW=Σ(j*Pij)/ΣPij
ここでiとjはそれぞれX座標値とY座標値、Pijは(X,Y)=(i,j)のスペクトル値である。なお、本発明の中心点は、相加平均によって求めている。
図5は、本発明の第2の実施形態に係る穀粒成分分析装置の概略構成を模式的に示す。本実施形態に係る穀粒成分分析装置はいわゆる前分光方式を採用したものであり、ステージ20上の穀粒100に所定波長の光を照射し、その透過光および/または反射光から穀粒中に含まれる特定成分を定量分析する。以下、第1の実施形態と異なる点について重点的に説明する。
図6は、本発明の第3の実施形態に係る穀粒成分分析装置の概略構成を模式的に示す。本実施形態に係る穀粒成分分析装置はいわゆる後分光方式を採用したものであり、ステージ20上の穀粒100からの透過光および/または反射光から所定波長の光をフィルタリングし、当該フィルタリングした光から穀粒中に含まれる特定成分を定量分析する。以下、第1の実施形態と異なる点について重点的に説明する。
図7は、本発明の第4の実施形態に係る穀粒成分分析装置の主要部とその内部構造を簡略に示した要部側断面図である。本実施形態に係る穀粒成分分析装置は、その上部位置に、タンク部401と振動フィーダ402とからなる穀粒供給装置400を備えている。穀粒供給装置400から供給された穀粒100は、穀粒100が横方向に並んで流下(すだれ状に流下)することが可能な所定幅を有したシュート410へ連続状に自然流下した後、シュート410の下端部から落下軌跡Lに沿って空中に放出される。
図8は、本発明の第5の実施形態に係る穀粒成分分析装置の主要部とその内部構造を簡略に示した要部側断面図である。また、図9は、当該穀粒成分分析装置の主要部の平面図である。本実施形態に係る穀粒成分分析装置は円盤500を備えている。円盤500は、その円周に穀粒100を配列可能な凹部501を配し、回転軸502を中心に矢印Q方向に回転にして穀粒100を搬送する。円盤500はこれよりも直径の大きい透明板510上に載置されており、回転軸502は駆動モータ503(減速モータ)によって回転駆動される。円盤500と透明板510は傾斜して駆動モータ503とともに基台520に固定されている。傾斜した円盤500の傾斜上部には光学検出装置530が配置され、傾斜下部には穀粒供給装置540が配置されている。透明板510の傾斜下方から回転方向にかけた周囲には衝立550を設けており、穀粒供給装置540から供給された穀粒100を貯留可能な貯留部560が形成されている。
図10は、本発明の第6の実施形態に係る穀粒成分分析装置の主要部とその内部構造を簡略に示した要部側断面図である。本実施形態に係る穀粒成分分析装置は、穀粒100を搬送する搬送ベルト600と、搬送ベルト600に穀粒100を供給する穀粒供給装置610とを備えている。搬送ベルト600は、並行に横設したローラ601と602に掛け渡されており、ローラ602とベルトなどによって連結した駆動モータ603により一定速度で回転する。穀粒供給装置610は、タンク部611と振動フィーダ612とからなり、搬送ベルト600の始点部に穀粒100を供給する。穀粒供給装置610から供給された穀粒100は、搬送ベルト600の終端部から落下軌跡Lに沿って空中に放出される。
12 光
14 発光手段(特定波長の光を照射する発光手段)
16 光(特定波長の光)
30 スペクトル検出手段
40 演算手段
100 穀粒
104 走査ライン
410 シュート(搬送手段)
440 選別装置(選別手段)
500 円盤(搬送手段)
580 選別装置(選別手段)
600 搬送ベルト(搬送手段)
640 選別装置(選別手段)
Claims (14)
- 穀粒中に含まれる特定成分を分光法により粒単位で定量分析する穀粒成分分析装置であって、
分析対象の穀粒に光を照射する発光手段と、
前記光が照射された穀粒からの透過光および/または反射光のスペクトルを検出するスペクトル検出手段と、
分析対象の穀粒に関して特定波長のスペクトル値と前記特定成分の含量との間の関係を示す検量線を用いて、粒単位で、前記穀粒の像の面積に対して20〜40%程度の面積の略中央部分から検出されたスペクトル値によって前記穀粒の前記特定成分の含量を算出する演算手段とを備えている
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1に記載の穀粒成分分析装置において、
前記演算手段は、単一の波長または離散的な複数の波長のスペクトル値によって前記穀粒の前記特定成分の含量を算出する
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1および2のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
前記発光手段は、前記特定波長の光を前記分析対象の穀粒に照射するものであり、
前記スペクトル検出手段が、前記特定波長の光が照射された穀粒からの透過光および/または反射光を二次元画像として撮像する撮像手段である
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1および2のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
前記スペクトル検出手段が、前記穀粒からの透過光および/または反射光のうち前記特定波長の光を二次元画像として撮像する撮像手段である
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1および2のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
前記スペクトル検出手段が、前記穀粒の像を走査ラインごとに走査して、当該走査した走査ライン中の各ピクセルについて波長とそのスペクトル値とを同時測定するハイパースペクトルカメラである
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1から5のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
前記光が近赤外領域の光である
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1から5のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
前記光が可視領域の光である
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1から5のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
前記光が可視領域から近赤外領域までの光である
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 請求項1から8のいずれか一つに記載の穀粒成分分析装置において、
穀粒を前記スペクトル検出手段による検出位置まで搬送する搬送手段と、
前記演算手段による前記特定成分の含量の算出結果に基づいて穀粒を選別する選別手段とを備えている
ことを特徴とする穀粒成分分析装置。 - 穀粒中に含まれる特定成分を分光法により粒単位で定量分析する穀粒成分分析方法であって、
分析対象の穀粒に光を照射するステップと、
前記光が照射された穀粒からの透過光および/または反射光のスペクトルを検出するステップと、
分析対象の穀粒に関して特定波長のスペクトル値と前記特定成分の含量との間の関係を示す検量線を用いて、粒単位で、前記穀粒の像の面積に対して20〜40%の面積の略中央部分から検出されたスペクトル値によって前記穀粒の前記特定成分の含量を算出するステップとを備えている
ことを特徴とする穀粒成分分析方法。 - 請求項10に記載の穀粒成分分析方法において、
前記特定成分の含量を算出するステップでは、単一の波長または離散的な複数の波長のスペクトル値によって前記穀粒の前記特定成分の含量が算出される
ことを特徴とする穀粒成分分析方法。 - 請求項10および11のいずれか一つに記載の穀粒成分分析方法において、
前記光が近赤外領域の光である
ことを特徴とする穀粒成分分析方法。 - 請求項10および11のいずれか一つに記載の穀粒成分分析方法において、
前記光が可視領域の光である
ことを特徴とする穀粒成分分析方法。 - 請求項10および11のいずれか一つに記載の穀粒成分分析方法において、
前記光が可視領域から近赤外領域までの光である
ことを特徴とする穀粒成分分析方法。
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