JP6070314B2 - 接触センサー装置、及び接触情報の検出方法 - Google Patents

Description

本実施形態は、接触センサー装置、及び接触情報の検出方法に関する。

触覚センサーの一例として、柔らかな人工皮膚を有するロボットの手の部分などに装着できる触覚センサーで、複数のセンサー素子チップを人工皮膚中に分散して埋設可能なものが知られている。複数のセンサー素子チップの各々は、人工皮膚に加えられる機械的変形や温度変化に応じて、外部に対して送信する電波の発振周波数が変化するＬＣ発振器を含み、かつ、それぞれのＬＣ発振器の発振周波数の変化範囲が相互に異なるようにずらされている。人工皮膚に加えられる機械的変形や温度変化は、ＬＣ発振器を構成する微細な信号送信コイルの変形を生じさせ、これによって、発振周波数が変化するようになっている。

人工皮膚に対し接触物が接触することで機械的変形等が起きる場合、接触物の接触位置及び接触圧を各発振周波数の変化と関連付けて、事前に学習させておくことができる。別途に接触物が機械的変形等を生じさせた場合、事前に学習させた内容を参照することで、各発振周波数の変化から接触物の接触位置及び接触圧を推定することができる。（以上につき、例えば、特許文献１参照）

特開平１１−２４５１９０号公報

しかしながら、背景技術に記載されている触覚センサでは、接触物の接触位置及び接触圧を推定可能な範囲を広くするためには、共振周波数の変化範囲が互いに異なる多数のセンサー素子チップを用意することになる。ここで、信号送信コイルを変形可能に作成するため、多くの種類を作成することは困難である。そのため、接触物の接触位置及び接触圧を推定可能な範囲を広くすることが困難である。

１つの側面では、本発明は、接触を検出できる面積が大きな接触センサー装置、及び接触情報の検出方法を提供することを目的とする。

被接触物に埋め込まれた複数の無線ＩＣタグと、前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化した無線ＩＣタグからの応答波の強度に基づいて、前記接触を推定する信号処理部と、を有することを特徴とする接触センサー装置が提供される。

接触を検出できる面積が大きな接触センサー装置、及び接触情報の検出方法を提供できる。

実施例１による接触センサー装置の一例を斜め下方からみた構成図。 図１に示した接触センサー装置を側方からみた構成図。 図２に示した接触センサー装置に接触物が接触した場合の一例を示す構成図。 接触センサー装置において取得された参照情報の一例を示すテーブル。 参照情報記録部に記録されるテーブル中の接触位置と接触強度の組み合わせと、参照応答波ベクトルと、を説明する概念図。 検出応答波ベクトルから、接触情報を検出する方法の一例を示すフローチャート。 接触センサー装置において取得された検出応答波ベクトルの内容の一例を示すテーブル。 検出応答波ベクトルから、接触情報を検出する方法の一例を示す概念図。 実施例２による接触センサー装置に接触物が接触した場合の一例を示す構成図。 実施例２の接触センサー装置において取得された参照情報の一例を示すテーブル。 実施例２の接触センサー装置において取得された検出応答波ベクトルの内容の一例を示すテーブル。 接触物の名称と接触物に取り付けられたＩＣタグのＩＤの集合との一例による対応テーブル。 接触物と接触位置を判定する方法の一例を示すフローチャート。 参照情報取得時のＩＣタグのＩＤと接触情報との関係の一例を示した木構造の図。 実施例３における検出応答波ベクトルから、接触情報を検出する方法の一例を示すフローチャート。 木構造の一例による図。 実施例４における木構造の再学習を説明するフローチャート。 接触毎の発生確率を示したテーブルの一例。

以下、図面に基づいて、実施例について詳細に説明する。なお、実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を用い、繰り返しの説明は省略する。

［実施例１］
実施例１の接触センサー装置を使用するためには、例えば、以下の手順を行う。（１）所定の構成を有する接触センサー装置を準備する。（２）接触センサーへの様々な接触情報（接触位置と接触強度の組み合わせ）毎に参照応答波ベクトルを取得して、接触と参照応答波ベクトルの対応関係を整理して保存する（参照情報の学習）。（３）実際に使用する。例えば、接触センサーへの接触により生じた応答波ベクトルに、一致あるいは類似する参照応答波ベクトルに対応する接触情報（接触位置と接触強度の組み合わせ）を求める。以下、手順（１）、（２）、及び（３）について説明する。

＜（１）接触センサー装置の構成＞
図１は、実施例１による接触センサー装置１の一例を斜め下方からみた構成図である。図２は、図１に示した接触センサー装置を側方からみた構成図である。図３は、図２に示した接触センサー装置に接触物９が接触した場合の一例を示す構成図である。

図１から図３を参照して、接触センサー装置１は、センサー素子２、柔軟物３、送受信アンテナ４、送受信部５、信号処理部６、及び、参照情報記録部７を有する。
センサー素子２は、例えばＩＣタグ２１から２７である。ここで、ＩＣタグ２１から２７は説明の簡単のために７個だけ図示しているが、その数には上限も下限もない。ＩＣタグ２１から２７には、無線回路（ＲＦ回路）とリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）が含まれる。ＩＣタグ２１から２７のＲＦ回路は、後述する送受信アンテナ４より質問波を受信して、これに応答して応答波を送信する。リードオンリーメモリ（ＲＯＭ）には、ＩＣタグ２１から２７に固有の識別子（以下、ＩＤと称する。）が記録されている。ＲＦ回路は、ＲＯＭより取得したＩＤを信号として、応答波に搬送させて送信できる。以上のように、ＩＣタグ２１から２７は、無線で動作するので無線ＩＣタグとも称する。

柔軟物３は、接触物９によって接触されると、接触された部分が変形するものであればよい。ここで、接触とは、柔軟物３の変形を生じさせることをいう。柔軟物３は、例えば、シート状や曲面の形状等を有していてよい。柔軟物３は、弾性体、塑性変形する物体等であってよい。柔軟物３の素材は、例えば、シリコンゴムである。なお、柔軟物３の接触物が接触する部分には、接触部３１を設けてもよい。接触部３１は、例えば、人工皮膚である。接触部３１を設けることにより、柔軟物３の強度を補うことができる。また、接触物９が柔軟物３に直接接触するのを避けることができる。こうすることで、接触物９の接触に対する耐久性を向上することができる。また、接触物９が指等である場合に、感触のよい素材で接触部３１を構成してもよい。

送受信アンテナ４は、例えば、コイルアンテナである。送受信アンテナ４は、接触物９の接触を妨げないように、柔軟物３が接触物９の接触を受けない部分に設けられる。送受信部５は、送受信アンテナ４によって質問波を送信する。また、送受信部５は、送受信アンテナ４がＩＣタグ２１から２７より受信した応答波を受信する。質問波は、ＩＣタグ２１から２７のＲＦ回路へ電力を供給する高周波の電磁波である。質問波は、例えば、マイクロ波で、２．４５ＧＨｚの周波数を有してよい。

信号処理部６は、送受信部５が受信した応答波を受信する。信号処理部６は、応答波に含まれる複数のＩＣタグ２１から２７のＩＤと質問波に対する応答内容を処理する。参照情報記録部７は、信号処理部６に接続され、後述する参照情報を記録する。

なお、接触センサー装置１は、電力供給部８をさらに有してもよい。電力供給部８は、電磁波を発生して、ＩＣタグ２１から２７の各ＲＦ回路へ電力を供給する。この場合、質問波はＩＣタグ２１から２７の各ＲＦ回路へ電力を供給しなくてよい。電力供給部８が発生する電磁波の周波数は、質問波と応答波の周波数とは、干渉しない周波数である。
＜（２）参照情報の学習＞
接触センサー装置１の柔軟物３への様々な接触情報（接触位置と接触強度の組み合わせ）毎に参照応答波ベクトルを取得して、接触と参照応答波ベクトルの対応関係を整理して保存することを、参照情報の学習と称する。

図３を参照して、参照情報の学習について説明する。まず、センサー素子２（ここでは、ＩＣタグ２１から２７）の混入された柔軟物３への接触を行わない状態で、送受信部５から質問波を発信すると、質問波は各ＩＣタグ２１から２７に到達する。ＩＣタグ２１から２７中において、各ＲＦ回路は各ＲＯＭよりＩＤを取得するとともに、質問波に対する応答波を生成する。ＩＣタグ２１から２７は、それぞれのＩＤを信号として、応答波に搬送させて送信する。ＩＣタグ２１から２７には、それぞれのアンテナが含まれている。ＩＣタグ２１から２７のそれぞれのアンテナが応答波を送信する。接触センサー装置１は、応答波をアンテナ４で受信する。アンテナ４で受信された応答波は、送受信部５を経由して信号処理部６に送られる。信号処理部６では、ＩＣタグ２１から２７毎に応答波の強度を計測する。応答波には、ＩＣタグ２１から２７を特定可能なＩＤが搬送されているので、各ＩＤに対応した応答波の強度が計測できる。このように、柔軟物３への接触を行わない状態で、取得されたＩＤ毎の応答波の強度を、以下、基本応答波の強度と称する。

次に、接触物９を、接触センサー装置１に接触させる。接触は、様々な接触強度や様々な接触位置において行わせる。接触物９は、例えば、指である。

図４は、接触センサー装置１において取得された参照情報の一例を示すテーブルである。テーブルには、接触情報の番号Ｔ１、Ｔ２、…、Ｔｊ、…、ＴＭが示される。各接触情報の番号は、様々な接触位置Ｌ１、Ｌ２、…、Ｌｊ、…、ＬＭと接触強度Ｐ１、Ｐ２、…、Ｐｊ、…、ＰＭとの組み合わせに対応する。

各接触情報の番号に対応する接触位置と接触強度で、接触物９が柔軟物３に接触した状態で、送受信部５から質問波を発信すると、質問波は各ＩＣタグ２１から２７に到達する。ＩＣタグ２１から２７中において、各ＲＦ回路は各ＲＯＭよりＩＤを取得するとともに、質問波に対する応答波を生成する。ＩＣタグ２１から２７は、それぞれのＩＤを信号として、応答波に搬送させて送信する。ＩＣタグ２１から２７には、それぞれのアンテナが含まれている。ＩＣタグ２１から２７のそれぞれのアンテナが応答波を送信する。

ここで、図２と図３とを比較して、ＩＣタグ２３は接触物９の接触を受けることで、図３では図２より下方へ位置変化する。ＩＣタグ２３の下方への位置変化により、ＩＣタグ２３から送受信アンテナ４が受信する応答波の強度は、対応する基本応答波の強度に比較して、変化を受ける。

接触センサー装置１は、応答波をアンテナ４で受信する。アンテナ４で受信された応答波は、送受信部５を経由して信号処理部６に送られる。信号処理部６では、ＩＣタグ２１から２７毎に応答波の強度を計測する。応答波には、ＩＣタグ２１から２７を特定可能なＩＤが搬送されているので、ＩＤ毎に応答波の強度が計測できる。

図４中、ＩＣタグ２３のＩＤがＩＤ１である場合で、図３における接触物の接触が接触番号Ｔ１に対応する接触位置Ｌ１と接触強度Ｐ１である場合、応答波ベクトルの強度Ｖ１１は、上記のＩＣタグ２３の応答波の強度から、ＩＣタグ２３の基本応答波の強度を減算することで得られる。

こうして、各接触情報の番号に対応して求めたＩＣタグ２１から２７毎のＩＤ応答強度から、上述したＩＣタグ２１から２７毎の基本応答波の強度を減算することで、参照応答波ベクトルの強度を求める。

図４を参照して、こうして求められた参照応答波の強度は、各接触情報の番号に対応したＶｊ１、Ｖｊ２、…、Ｖｊｉ、…、ＶｊＮとして、各接触位置と各接触強度とに対応付けられてテーブルに記録される。図４中、ＩＣタグ２３のＩＤがＩＤ１である場合、参照応答波の強度は、接触位置Ｌ１と接触強度Ｐ１（接触情報の番号Ｔ１）に対してはＶ１１となる。また、接触位置Ｌ２と接触強度Ｐ２（接触情報の番号Ｔ２）に対してはＶ２１となる。また、接触位置Ｌｊと接触強度Ｐｊ（接触情報の番号Ｔｊ）に対してはＶｊ１となる。また、接触位置ＬＭと接触強度ＰＭ（接触情報の番号ＴＭ）に対してはＶＭ１となる。同様にして、他のＩＣタグに対応する参照応答波ベクトルの強度も求めることで、図４に示すようなテーブルが信号処理部６によって取得される。取得されたテーブルは、信号処理部６より参照情報記録部７に送られて記録される。なお、接触位置と接触強度の組み合わせは多ければ多いほど、後の接触センサー装置１の使用時に、より正確な推定が可能となる。

図５は、参照情報記録部７に記録されるテーブル中の接触位置と接触強度の組み合わせと参照応答波ベクトルを説明する概念図である。

例えば、接触情報の番号Ｔ１に対応する接触位置Ｌ１と接触強度Ｐ１で、接触物９が柔軟物３に接触した状態で、送受信部５から質問波を発信すると、質問波は柔軟物３内のＩＣタグに到達する。上述のように、応答波には、ＩＣタグを特定可能なＩＤが信号として搬送されているので、ＩＤに対応した応答波の強度が計測できる。

図５を参照して、ＩＣタグのＩＤが、ＩＤ１、ＩＤ２、ＩＤ３の３つであるとき、各ＩＣタグの応答強度の変化をそれぞれＶ１１、Ｖ１２、Ｖ１３とする。３次元グラフの各次元にＩＣタグのＩＤ１、ＩＤ２、ＩＤ３の３つを割り当て、それぞれ対応する応答波強度の変化Ｖ１１、Ｖ１２、Ｖ１３を記入する。ここで、応答波強度の変化Ｖ１１、Ｖ１２、Ｖ１３は、各ＩＣタグの応答波強度から、接触物が無い時の各ＩＣタグの基本応答波の強度を減算したものである。

すると、接触情報の番号Ｔ１に対応する参照応答波ベクトルＲＶが得られる。参照応答波ベクトルＲＶの方向は、次元であるＩＣタグのＩＤの合成方向である。参照応答波ベクトルＲＶの強度は、前記ＩＤに対応する応答波の強度の変化を合成した強度によって表現できる。従って、参照応答波ベクトルＲＶを用いれば、参照情報記録部７内のテーブルの内容を簡単に表わすことができる。なお、説明の簡単のために、ＩＣタグのＩＤが３つの３次元の場合を例示したが、ＩＣタグのＩＤの数は３つに限らず、その数には上限も下限もない。
＜（３）使用＞
接触センサー装置１への接触物の接触により生じた検出応答波ベクトルＤＶから、接触強度と接触位置を求める方法について説明する。
図６は、検出応答波ベクトルから、接触情報を検出する方法の一例を示すフローチャートである。接触の有無にかかわらず、信号処理部６は送受信部５を介して、柔軟物３内に含まれる全てのＩＣタグに対して質問波を送信する（ステップＳ１１）。

質問波を受信したＩＣタグは、それぞれ応答波を発信する。この際、各ＩＣタグのＲＦ回路は、各ＩＣタグのＲＯＭに記録される各ＩＣタグのＩＤを取得し、信号として、応答波に搬送させる。接触センサー装置１の信号処理部６は、送受信アンテナ４と送受信部５を経由して、各ＩＣタグからの応答波を受信する（ステップＳ１２）。

接触センサー装置１の信号処理部６は、各ＩＣタグからの応答波の強度から、上述した各ＩＣタグ毎の基本応答波の強度を減算して、各ＩＣタグ毎の応答波の強度の変化を算出する。図７は、接触センサー装置１において取得された検出応答波ベクトルＤＶの内容の一例を示すテーブルである。図７を参照して、ＩＣタグのＩＤであるＩＤ１、ＩＤ２、…、ＩＤｉ、…、ＩＤＮについて、応答波の強度の変化は、それぞれＶ１、Ｖ２、…、Ｖｉ、…、ＶＮとなっている。

図８は、検出応答波ベクトルＤＶから、接触情報を検出する方法の一例を示す概念図である。図８の検出応答波ベクトルＤＶの部分を参照して、ＩＣタグのＩＤがＩＤ１、ＩＤ２、ＩＤ３の３つであるとき、各ＩＣタグの応答強度の変化をそれぞれＶ１、Ｖ２、Ｖ３とする。３次元グラフの各次元にＩＣタグのＩＤがＩＤ１、ＩＤ２、ＩＤ３の３つを割り当て、対応する応答波強度の変化Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３を記入する。すると、柔軟物３への上記接触があった場合の検出応答波ベクトルＤＶが得られる。検出応答波ベクトルＤＶの方向は、次元であるＩＣタグのＩＤの合成方向である。検出応答波ベクトルＤＶの強度は、前記ＩＤに対応する応答波の強度の変化を合成した強度によって表現できる。ここで、説明の簡単のために、図５と同様に、ＩＣタグのＩＤが３つの３次元の場合を例示したが、ＩＣタグのＩＤの数は３つに限らず、その数には上限も下限もない。

図８の検出応答波ベクトルＤＶからの接触情報の取得で説明したように、全てのＩＣタグについての応答波強度の変化から、検出応答波ベクトルＤＶを生成する（ステップＳ１３）。

次に、検出応答波ベクトルＤＶを構成する全てのＩＣタグのうち、いずれかのＩＣタグにおける応答波強度の変化が零でないか検出する（ステップＳ１４）。いずれかのＩＣタグにおける応答波強度の変化が零でないことが検出された場合には、非零値が検出されたことになる（ＹＥＳ）。非零値が検出された場合には、接触が発生したとして、ステップＳ１５に移行する。一方、いずれのＩＣタグにおいても、非零値が検出されなかった場合（ＮＯ）、接触が発生しなかったと判定し、ステップＳ１８へ移行する。ステップＳ１８では、処理の終了をするか判断する（ステップＳ１８）。処理の終了をする場合（ＹＥＳ）は、信号処理部６は処理を終了する。処理の終了をしない場合（ＮＯ）は、ステップＳ１１に戻り、送受信部５は、新たに全てのＩＣタグへ質問波を送信する。なお、ここで、非零値とは完全な零以外の値を示さなくてもよい。例えば、所定値以上を非零値としてもよい。これは、接触センサー装置１内のノイズ等がある場合には、応答波強度の変化が完全な零とならない場合があるからである。

接触が発生したと判定された場合には、検出応答波ベクトルＤＶに同一又は類似する参照応答波ベクトルＲＶが、参照情報記録部７に記録されているか照合する（ステップＳ１５）。図８を参照して、照合は次元の合成であるＩＣタグの合成方向と応答波ベクトルの強度で対比する。検出応答波ベクトルＤＶは、参照応答波ベクトルと、次元の合成方向であるＩＣタグのＩＤの合成方向と応答波の強度の変化の合成強度の２要素の同一又は近似によって表現できる。例えば、検出応答波ベクトルＤＶと参照応答波ベクトルＲＶの応答波について、ＩＣタグのＩＤの合成方向の相関係数が所定値以上であり、かつ、合成強度の相関係数が所定値以上である場合に、照合が成功としてよい。ここで、相関係数としては内積相関値等が利用できる。

なお、例えば、検出応答波ベクトルＤＶは、図７のＶ１、Ｖ２、…、Ｖｉ、…、ＶＮから求められる。参照応答波ベクトルＲＶは、図４の各接触情報の番号に対応したＶｊ１、Ｖｊ２、…、Ｖｊｉ、…、ＶｊＮから求められる。

照合が成功した場合（ＹＥＳ）には、ステップＳ１６に移行する。照合が失敗した場合（ＮＯ）には、ステップＳ１７に移行する。照合が成功した場合（ＹＥＳ）には、図８を参照して、信号処理部６は、照合が成功した参照応答波ベクトルＲＶに対応する接触情報を、参照情報記録部７より取得する。取得した接触情報は、図示しない他の装置等に通知する（ステップＳ１６）。通知する接触情報は、接触位置、接触強度、または接触位置及び接触強度等である。通知後は、ステップＳ１８に移行し、処理の終了をするか判断する（ステップＳ１８）。処理の終了をする場合（ＹＥＳ）は、信号処理部６は処理を終了する。処理の終了をしない場合（ＮＯ）は、ステップＳ１１に戻り、送受信部５は、新たに全ＩＣタグへ質問波を送信する。

照合が失敗した場合（ＮＯ）には、信号処理部６は、接触の内容が特定できないものとして、接触の発生のみを図示しない他の装置等に通知する（ステップＳ１７）。通知後は、ステップＳ１８に移行し、処理の終了をするか判断する（ステップＳ１８）。処理の終了をする場合（ＹＥＳ）は、信号処理部６は処理を終了する。一方、処理の終了をしない場合（ＮＯ）は、ステップＳ１１に戻り、送受信部５は、新たに全てのＩＣタグへ質問波を送信する。

なお、接触センサー装置１の信号処理部６は、各ＩＣタグからの応答波の強度から、各ＩＣタグ毎の基本応答波の強度を減算して、各ＩＣタグ毎の応答波の強度の変化を算出するものとして説明したが、実施例１はこれに限らない。各ＩＣタグからの応答波の強度を直接求めてもよい。この場合、参照応答波ベクトルも検出応答波ベクトルもＩＤを次元とする応答波の強度変化に代えて、ＩＤを次元とする応答波の強度により生成して比較に供する。

以上、実施例１によれば、大量のセンサー素子２を混入した柔軟物を用いることで、接触位置と接触強度の検出精度が高い接触センサー装置を提供できる。また、大量のセンサー素子を個々に識別可能に柔軟物に混入できるために、柔軟物上の接触物の接触位置と接触圧を推定可能な範囲を広くできる接触センサー装置を提供することができる。さらに、センサー素子２として、ＩＣタグを用いた場合には、コイルの変形による発振周波数の変化を用いた素子のような可動部分が無いため、耐故障性が高い。

［実施例２］
実施例１では、接触物９によって接触を受ける接触センサー装置１を説明した。実施例２では、さらに接触物が何であるかを判定して通知する。実施例２の接触センサー装置１の構成は、実施例１の接触センサー装置１の構成と基本的に同一である。以下、接触センサー装置１について、接触センサー装置１との相違点を説明する。

図９は、実施例２による接触センサー装置１に接触物が接触した場合の一例を示す構成図である。図９において、接触物９１には、センサー素子２が取り付けられている。センサー素子２は、例えばＩＣタグである。図９においては、接触物９１にＩＣタグ９１１及び９１２が取り付けられている。ＩＣタグ９２１が取り付けられた接触物９２は接触センサー装置１の接触部３１に接していない。

図１０は、実施例２の接触センサー装置１において取得された参照情報の一例を示すテーブルである。このテーブルは、実施例１の（２）参照情報の学習に従って取得される。

送受信アンテナ４は、ＩＣタグ２１から２７だけではなく、ＩＣタグ９１１及び９１２にも質問波を送信する。送受信部５は、送受信アンテナ４によって質問波を送信する。また、送受信部５は、送受信アンテナ４がＩＣタグ２１から２７だけではなく、ＩＣタグ９１１及び９１２から受信した応答波を受信する。信号処理部６は、送受信部５が受信した応答波を受信する。信号処理部６は、応答波に含まれる複数のＩＣタグ２１から２７だけではなく、ＩＣタグ９１１及び９１２のＩＤと質問波に対する応答内容を処理する。参照情報記録部７は、信号処理部６に接続され、複数のＩＣタグ２１から２７だけではなく、ＩＣタグ９１１及び９１２に関する参照情報を記録する。

図１１は、実施例２の接触センサー装置において取得された検出応答波ベクトルの内容の一例を示すテーブルである。このテーブルは実施例１の（３）使用に従って取得される。

図１０と図１１を参照して、接触センサー装置１への接触物の接触により生じた検出応答波ベクトルＤＶから、接触強度と接触位置を求める方法について説明する。図６のステップＳ１２で、質問波を受信したＩＣタグ２１から２７（ＩＤ１からＩＤ７）は、それぞれ応答波を発信する。この際、各ＩＣタグのＲＦ回路は、各ＩＣタグのＲＯＭに記録される各ＩＣタグのＩＤを取得し、信号として、応答波に搬送させる。接触センサー装置１の信号処理部６は、送受信アンテナ４と送受信部５を経由して、ＩＣタグ２１から２７（ＩＤ１からＩＤ７）からの応答波を受信する。

接触センサー装置１の信号処理部６は、各ＩＣタグからの応答波の強度から、上述した各ＩＣタグの基本応答波の強度を減算して、各ＩＣタグの応答波の強度の変化を算出する。図１１は、実施例２の接触センサー装置において取得された検出応答波ベクトルの内容の一例を示すテーブル。図１１を参照して、ＩＣタグのＩＤであるＩＤ１からＩＤ７について、応答波の強度の変化は、それぞれ−０．４、０．５、０、０．２、０、０、１、１となっている。

図６のステップＳ１３で、ＩＣタグ２１から２７（ＩＤ１からＩＤ７）についての応答波強度の変化から、検出応答波ベクトルＤＶを生成する（図８参照）。

次に、図６のステップＳ１４で、検出応答波ベクトルＤＶを構成する全てのＩＣタグのうち、いずれかのＩＣタグにおける応答波強度の変化が零でないか検出する。ＩＤ１、ＩＤ２、及びＩＤ４のＩＣタグにおける応答波強度の変化が零でないので（ＹＥＳ）、接触が発生したと判定される。

次に、図６のステップＳ１５で、検出応答波ベクトルＤＶに同一又は類似する参照応答波ベクトルＲＶが、参照情報記録部７に記録されているか照合する。図１０の接触情報の番号Ｔ２に対応する参照応答波ベクトルＲＶは、ＩＣタグのＩＤであるＩＤ１からＩＤ７について、応答波の強度の変化は、それぞれ−０．３、０．５、０、０．２、０、０、０である。図１１を図１０に照合すると、ＩＤ１の応答波の強度の変化について、検出応答波ベクトルＤＶにおいては−０．４に対して、接触番号Ｔ２の参照応答波ベクトルＲＶにおいては−０．３である以外は一致する。そこで、所定の相関関係が認められるとして、検出応答波ベクトルＤＶが、接触番号Ｔ２の参照応答波ベクトルＲＶと類似すると判定する（ＹＥＳ）。

照合が成功した（ＹＥＳ）ので、図６のステップＳ１６で、信号処理部６は、照合が成功した参照応答波ベクトルＲＶに対応する接触情報番号Ｔ２に対応する接触位置１と接触強度２を、参照情報記録部７より取得する。取得した接触情報は、図示しない他の装置、例えば、表示装置に通知する。

実施例２の接触センサー装置１を実施するには、上述の手順（１）、（２）、及び（３）に加え、例えば、以下の手順を行う。（４）複数の接触物のＩＣタグのＩＤを取得して、接触物とＩＤとの対応テーブルを作成保存する。また、接触物の接触箇所と参照応答波ベクトルを対応付けて保存する（接触物の学習）。（５）接触物を柔軟物に接触させて接触物と接触位置を判定する。以下、手順（４）と（５）について説明する。
＜（４）接触物とＩＤとの対応テーブル作成と接触物の接触箇所と参照応答波ベクトルの対応付け＞
図９を参照して、接触物９１が柔軟物３に接触した状態で、送受信部５から質問波が送信されると、各ＩＣタグ２１から２７だけではなく、接触物９１に取り付けられたＩＣタグ９１１及び９１２にも質問波が受信される。ＩＣタグ２１から２７とＩＣタグ９１１及び９１２内の各ＲＦ回路は各ＲＯＭよりＩＤを取得するとともに、質問波に対する応答波を生成する。ＩＣタグ２１から２７とＩＣタグ９１１及び９１２は、それぞれのＩＤを信号として、応答波に搬送させて送信する。

信号処理部６は、応答波を受信することで、ＩＣタグ２１から２７とＩＣタグ９１１及び９１２のＩＤを取得する。信号処理部６では、ＩＣタグ２１から２７とＩＣタグ９１１及び９１２のＩＤからＩＣタグ２１から２７のＩＤを削除し、残ったＩＣタグ９１１のＩＤ８及びＩＣタグ９１２のＩＤ９を接触物９１に含まれるＩＣタグを特定する情報として、参照情報記録部７に記録する。この際、接触物９１の名称と接触物９１に取り付けられたＩＣタグのＩＤとを対応させてテーブルの形で保存する。

図１２は、接触物の名称と接触物に取り付けられたＩＣタグのＩＤの集合との一例による対応テーブルである。接触物の名称Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬに対して、ＩＣタグのＩＤの集合Ｓ１、Ｓ２、…、Ｓｋ、…、ＳＬがそれぞれ対応している。接触物Ｏ１に対応するＩＣタグのＩＤの集合Ｓ１には、ＩＤ８とＩＤ９が含まれる。

同様に、図９を参照して、接触物９１に代えて接触物９２を柔軟物に接触させて、質問波に対する応答波を取得する場合を考える。この場合、図１２を参照して、ＩＣタグ９２１のＩＤ１０を接触物９２に含まれるＩＣタグ９２１を特定する情報として、参照情報記録部７内のテーブルに記録する。

このように、接触センサー装置１は、各接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬ毎に、それぞれに取り付けられたＩＣタグからの応答波をアンテナ４で受信する。この際、信号処理部６は、接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬが柔軟物に接触する接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬ上の位置と、参照応答波ベクトルＲＶとを対応付けて、参照情報とする。

接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬが柔軟物に接触する接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬ上の位置が変わると、接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬに取り付けられたＩＣタグと送受信アンテナ４との相対的な位置関係が変わる。すると、これらのＩＣタグからの応答波の強度も変化する。従って、参照応答波ベクトルＲＶも接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬが柔軟物３に接触する接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬ上の位置の変化に伴って変化する。接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬが柔軟物３に接触する接触物Ｏ１、Ｏ２、…、Ｏｋ、…、ＯＬ上の位置の変化と参照応答波ベクトルＲＶとの対応関係もテーブル（図示せず）にして、参照情報として参照情報記録部７に保存する。

参照情報は、信号処理部６が、参照情報記録部７に保存する。応答波の強度の変化は、ＩＣタグの応答波の強度から、そのＩＣタグの基本応答波の強度を減算することで得られる。なお、参照応答波ベクトルＲＶは、次元の合成方向であるＩＣタグのＩＤの合成方向と応答波の強度の変化の合成強度で得られる。これらの点は、実施例１の（２）参照情報の学習で説明したのと同様である。
＜（５）接触物と接触位置を判定＞
図１３は、接触物とその接触位置を判定する方法の一例を示すフローチャートである。処理が開始されると、ステップＳ２１では、接触が発生したかを判定する。具体的には、図６のステップＳ１１からステップＳ１４までを信号処理部６が実行する。ステップＳ１４で、検出応答波ベクトルが非零値を持つと判断された場合、接触物により接触が発生したとする（ＹＥＳ）。接触物により接触が発生した場合（ＹＥＳ）、ステップＳ２２へ移行する。一方、ステップＳ１４で、検出応答波ベクトルが非零値を持つと判断されない場合、接触物による接触は発生していないとし（ＮＯ）、ステップＳ２４に移行する。

図１３を参照して、図９の場合、ステップＳ２２では、信号処理部６が、前記ステップＳ１２で取得したＩＣタグ２１から２７と接触物９１のＩＣタグのＩＤ中、前記（４）の工程で参照情報記録部７に記録した柔軟物３に含まれるＩＣタグ２１から２７のＩＤと比較する。これらのＩＤの差分が、接触物９１のＩＣタグのＩＤとなる。ＩＤの差分を、図１２のテーブルに記録されたＩＣタグのＩＤの集合に含まれるＩＤと比較する。ＩＤの差分と、ＩＣタグのＩＤの集合Ｓ１、Ｓ２、…、Ｓｋ、…、ＳＬのいずれかに含まれるＩＤとが一致すれば、接触物９１の名称は判定できる。

図１１を参照して、ＩＣタグ２１から２７のＩＤ１からＩＤ７と接触物９１のＩＣタグのＩＤ８とＩＤ９のうち、ＩＤの差分は、接触物９１のＩＣタグのＩＤ８とＩＤ９である。このＩＤの差分ＩＤ８とＩＤ９は、図１２のＩＤ集合Ｓ１に含まれるＩＤ８とＩＤ９に該当する。よって、接触物９１の名称はＯ１と特定できる。

更に、図６を参照して、実施例１のステップ１３に対応する工程を実行する。つまり、ＩＤの差分とＩＣタグのＩＤの集合に含まれるＩＤとが一致した場合（ＹＥＳ）、信号処理部６は、前記ステップＳ１２に対応する工程で取得した接触物のＩＣタグの応答波の強度から基本応答波の強度を減算して、応答波の強度の変化を求める。信号処理部６は、ＩＣタグ毎の応答波の強度の変化から検出応答波ベクトルを求める。

更に、ステップＳ２２では、接触物に対応するＩＣタグの検出応答波ベクトルが参照応答波ベクトルと同一又は類似か判定する。具体的には、図６を参照して、実施例１のステップＳ１５からステップＳ１８に対応する工程を実行する。但し、ステップＳ１６では、照合が成功した場合（ＹＥＳ）には、信号処理部６は、照合が成功した参照応答波ベクトルに対応する接触物の柔軟体３上の接触位置を、参照情報記録部７より取得する。

以上のようにして、接触物に対応するＩＣタグの検出応答波ベクトルが参照応答波ベクトルと同一又は類似であると判定した場合（ＹＥＳ）、ステップＳ２３に移行する。一方、そうでない場合（ＮＯ）、ステップＳ２４に移行する。

ステップＳ２３では、信号処理部６が、前記ステップＳ２２で判定された接触物の名称と接触物の柔軟体上の接触位置を、図示しない他の装置等に通知する。その後、ステップＳ２４に移行する。

ステップＳ２４では、処理の終了をするか判断する。処理の終了をする場合（ＹＥＳ）は、信号処理部６は処理を終了する。処理の終了をしない場合（ＮＯ）は、ステップＳ２１に戻り、処理を続行する。

実施例２によれば、接触される柔軟物上の接触位置と接触強度だけでなく、接触する接触物の名称と接触した位置も検出可能となる。これにより、接触センサー装置の機能を拡大して様々な実用場面に適合させることができる。

［実施例３］
実施例１及び実施例２では、センサー素子２である全てのＩＣタグについて、応答波の強度を計測することができた。しかし、送受信アンテナ４で受信可能な範囲に存在するＩＣタグの数が増加した場合、増加したＩＣタグの読出す分だけ余分に時間がかかる。接触センサー装置１における処理の所要時間は、利便性の上で向上させることが望ましい。ここで、接触センサー装置１における処理の所要時間は、例えば、接触情報の取得のための時間を短縮することで達成できる。

そこで、効率的な応答波の強度の計測の一例として、全てのＩＣタグではなく一部のＩＣタグからの応答波のみを処理すること（ＩＣタグ読み取り数の低減）が考えられる。

このため、実施例１の手順（２）において、参照情報の学習をする際に、接触情報（接触位置と接触強度の組み合わせ）の分類を可能とする最小限のＩＣタグを特定する。実施例１の手順（２）において、接触センサー装置１の柔軟物３への接触を生じさせる様々な接触情報（接触位置と接触強度の組み合わせ）毎に、応答波が変化したＩＣタグのＩＤを取得する。次に、逆に、応答波が変化したＩＣタグのＩＤから、接触情報がたどれるように木構造を作成する。

図１４は、参照情報取得時のＩＣタグのＩＤと接触情報との関係の一例を示した木構造の図である。図１４中、木構造のノードにあるＩＤ１からＩＤ７までは、参照応答波の強度の変化を示したＩＣタグのＩＤを示す。木構造のリーフノードにあるＣＧ１からＣＧ８までは、接触情報の集合を示す。接触情報には、接触位置と接触強度が含まれる。

図１５は、実施例３の検出応答波ベクトルから、接触情報を検出する方法の一例を示すフローチャートである。図１４と図１５とを参照して、信号処理部６において、接触情報を取得する処理について説明する。最初に、木構造の先頭のＩＣタグを処理対象として設定する（ステップＳ３１）。例えば、図１４を参照して、ＩＤ１のＩＣタグが先頭にあるＩＣタグであるため、ＩＤ１のＩＣタグを処理対象として設定する。

次に、処理対象のＩＣタグへ質問波を送信する（ステップＳ３２）。次に、処理対象のＩＣタグから応答波を受信する（ステップＳ３３）。次に、ＩＣタグの応答波の強度の変化の有無に応じて、リンク先のＩＤを処理対象として設定する（ステップＳ３４）。次にリンク先のノードが、リーフノードか判定する（ステップＳ３５）。ここで、リンク先のノードが、選択肢のない末端にあるリーフノードである場合（ＹＥＳ）、接触情報の候補を含む接触情報集合から検出応答波ベクトルＤＶと同一又は類似する参照応答波ベクトルに対応する接触情報を特定し通知する（ステップＳ３６）。通知は、図示しない他の装置等に対して行われる。例えば、他の装置とは、表示装置である。なお、リンク先のノードが、リーフノードである場合（ＹＥＳ）、接触情報の候補が無ければ、接触が無いと判定して、図示しない他の装置等に対して通知する（ステップＳ３６）。一方、リンク先のノードが、リーフノードでなければ（ＮＯ）、リンク先のＩＤを処理対象に設定する（ステップＳ３７）。ステップＳ３７の後、ステップＳ３２へ戻り処理対象のＩＣタグへ質問波を送信する。

例えば、図１４を参照して、ＩＤ１のＩＣタグからの応答波に強度の変化があれば（ＹＥＳ）、ＩＤ２のＩＣタグからの応答波の処理を行う。ＩＤ１のＩＣタグからの応答波に強度の変化がなければ（ＮＯ）、ＩＤ３のＩＣタグからの応答波の処理を行う。ＩＤ２のＩＣタグからの応答波の処理を行う場合、ＩＤ２のＩＣタグからの応答波に強度の変化があれば（ＹＥＳ）、ＩＤ４のＩＣタグからの応答波の処理を行う。一方、ＩＤ２のＩＣタグからの応答波に強度の変化がなければ（ＮＯ）、ＩＤ５のＩＣタグからの応答波の処理を行う。

ＩＤ４のＩＣタグからの応答波に強度の変化があれば（ＹＥＳ）、ＣＧ１に含まれる接触情報の候補（接触位置と接触強度の組み合わせ）のいずれかが、ステップＳ３６で特定する接触情報となる。そこで、ＩＤ１、ＩＤ２、及びＩＤ４の応答波の強度の変化を用いて検出応答波ベクトルＤＶで生成する。また、検出応答波ベクトルＤＶと同一又はこれに類似する参照応答波ベクトルＲＶに対応する接触位置と接触強度の組み合わせを、接触情報として通知する。

同様にして、木構造のリーフノードに存在する接触情報集合ＣＧ２からＣＧ７についても、それぞれ、それら接触情報集合ＣＧ２からＣＧ７に含まれる接触位置と接触強度の組み合わせのいずれかがステップＳ３６で求める接触情報となる。

なお、最初に、ＩＤ１のＩＣタグからの応答波に強度の変化がなければ（ＮＯ）、ＩＤ３のＩＣタグからの応答波の処理を行う。ＩＤ３のＩＣタグからの応答波に強度の変化がなければ（ＮＯ）、ＩＤ６のＩＣタグからの応答波の処理を行う。ＩＤ６のＩＣタグからの応答波に強度の変化がなければ（ＮＯ）、接触情報集合ＣＧ８に到る。ここで、接触情報集合ＣＧ８に到った場合は、木構造中のＩＣタグのいずれからの応答波にも強度の変化がない。つまり、対応する接触情報は無いこと（空集合）になる。この場合、接触情報集合ＣＧ８に含まれる接触情報の候補（接触位置と接触強度の組み合わせ）は、存在せず、接触が無いことを通知する。

図１５を参照して、ステップＳ３６の終了後、処理を終了するか選択する（ステップＳ３８）。処理を終了する場合（ＹＥＳ）、処理は終わる。一方、処理を終了しない場合（ＮＯ）、ステップＳ３１に戻り、次の接触情報の取得を行う。

なお、上述した例では、読み出し順をＩＤ１のＩＣタグからとした。しかし、どのＩＣタグから順番に応答波の強度の変化を算出して図１４に沿って処理を行うかは、事前に任意に決定してよい。

［実施例４］
実施例３では、センサー素子２であるＩＣタグの一部について、応答波の強度を計測することで、接触情報の取得のための時間を短縮した。

ここで、実際の使用時において発生する接触の頻度には、その接触位置や接触強度に応じた、偏りがある。そこで、実施例４では、応答波が変化する頻度の高いＩＣタグを、より優先的に読み出せるように木構造上の選択に重み付けを行う。これにより、接触情報の取得のための時間をさらに短縮できる。

図１６は、木構造の一例による図である。例えば、接触の判定をしたい柔軟物の表面が広い場合、実施例３の木構造では、図１６のように応答波強度の有無について、無（ＮＯ）が続くバランスの悪い形状になることがある。この場合、接触の判定に有効なＩＣタグの処理までに、無駄な処理が起こる可能性がある。図１６を参照して、求めるべき接触情報が含まれる部分木１０１に到達するまでに、いくつものＮＯの選択を経なければならない場合がある。このような場合、接触情報の取得のための時間を短縮するには、接触判定に有効なＩＣタグ応答を得るまでの読出し数を減少させることが有効である。

図１７は、実施例４における木構造の再学習を説明するフローチャートである。図１７を参照して、実施例４における木構造の再学習を説明する。処理を開始してから、まず経過時間を初期化する（ステップＳ４１）。次に、図１５を参照して、実施例３で説明したように、ステップＳ３１からステップＳ３７に沿って、接触があるかないかを判定する（ステップＳ４２）。接触があれば（ＹＥＳ）、信号処理部６は、参照情報記録部７に特定した接触情報を記録する（ステップＳ４３）。その後、処理はステップＳ４４へ移行する。一方、接触がなければ（ＮＯ）、処理はステップＳ４４へ移行する。

次に、経過時間が、任意の設定値を超えたか判定する（ステップＳ４４）。経過時間が、任意の設定時間を超えている場合（ＹＥＳ）、ステップＳ４５へ移行する。経過時間が、任意の設定時間を超えていない場合（ＮＯ）、ステップＳ４２へ移行する。

ステップＳ４５では、ステップＳ４２で得た接触の発生回数から、設定時間あたりの各接触の発生確率を再計算する。さらに、この再計算に基づいて、木構造を再学習する（ステップＳ４５）。木構造の再学習は、例えば、設定時間あたりの発生確率が高い接触の接触情報が、木構造の上方に位置するよう配列する。具体的には、発生確率の高い接触の接触情報ほど、より少ないＹＥＳ又はＮＯの選択で到達できるようにしてよい。図１６を参照して、例えば、最も発生確率の高い接触の接触情報が部分木１０２のリーフノードに含まれるようにする。

図１８は、接触毎の発生確率を示したテーブルの一例である。図１８を参照して、接触番号Ｔ１、Ｔ２、…、Ｔｊ、…、ＴＭに対応して、設定時間内の接触回数は、それぞれｎ１、ｎ２、…、ｎｊ、…、ｎＭとなっている。ｎ１、ｎ２、…、ｎｊ、…、ｎＭのうち、接触回数が一番多いものを、発生確率が最も高いものとする。例えば、ｎ２が一番多ければ、対応する接触番号Ｔ２の接触情報（接触位置Ｌ２と接触強度Ｐ２）（図４参照）を、部分木１０２のリーフノードに記録する。こうすることで、もっとも頻繁に接触の発生する接触情報（接触位置Ｌ２と接触強度Ｐ２）に迅速に到達できる。

以上、実施例について詳述したが、この実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された範囲内において、上記実施例以外にも種々の変形及び変更が可能である。

以上の実施例に関し、更に、以下の付記を開示する。
（付記１）
被接触物に埋め込まれた複数の無線ＩＣタグと、
前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化する無線ＩＣタグからの応答波の強度に基づいて、前記接触を推定する信号処理部と、を有することを特徴とする接触センサー装置。
（付記２）
前記複数の無線ＩＣタグとの間で、前記複数の無線ＩＣタグに対応する複数の質問波と、前記複数の質問波に応答して前記複数の無線ＩＣタグから発信された応答波と、を送受信する送受信装置を更に有し、
前記信号処理部は、前記送受信装置に接続されており、前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化した無線ＩＣタグに対応した応答波の強度を、予め取得してある接触情報と前記複数の無線ＩＣタグに対応した応答波の強度の関係と比較することで、前記接触に関する接触情報を推定することを特徴とする付記１に記載の接触センサー装置。
（付記３）
前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化する無線ＩＣタグは、応答波に搬送されるＩＤを用いて一意に特定可能である付記１又は付記２に記載の接触センサー装置。
（付記４）
前記被接触物に外部から接触が発生して無線ＩＣタグが位置変化する時、前記送受信装置が、位置変化した無線ＩＣタグから受信する応答波の強度が変化する付記１から付記３のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記５）
前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度は、前記複数の無線ＩＣタグのＩＤと前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度を用いて生成した応答波ベクトルである付記１から付記４のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記６）
前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度の関係は、前記複数の無線ＩＣタグのＩＤ前記接触情報と前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度とを関係付ける関連付けテーブルである付記１から付記５のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記７）
前記信号処理部は、前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化する無線ＩＣタグの応答波を取得する際に、前記応答波を発信した無線ＩＣタグのＩＤを取得可能であり、前記ＩＤと前記ＩＤに対応する無線ＩＣタグの応答波の強度を用いて、検出応答波ベクトルを生成し、
前記予め取得してある接触情報と前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度の関係は、前記予め取得してある接触情報と前記接触情報における前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度を用いて生成された参照応答波ベクトルとの対応関係を示すテーブルであることを特徴とする付記１から付記６のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記８）
前記被接触物が外部から接触される位置に、被接触物の強度を補う接触部が備えられたことを特徴とする付記１から付記７のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記９）
外部からの接触は、無線ＩＣタグが取り付けられた接触物によって発生し、
前記送受信装置は、前記接触物に取り付けられた無線ＩＣタグに対応する質問波と、前記質問波に応答して前記無線ＩＣタグから発信され、前記無線ＩＣタグのＩＤを含む応答波と、を送受信し、
前記信号処理部は、前記応答波に含まれるＩＤに基づいて、前記接触物と前記接触物の接触位置を特定可能な付記１から付記８のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記１０）
前記無線ＩＣタグのＩＤを含む応答波の強度に基づいて、前記無線ＩＣタグの前記被接触物への、前記接触物の接触位置を推定することを特徴とする付記９に記載の接触センサー装置。
（付記１１）
前記信号処理部は、前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化する無線ＩＣタグの応答波の強度を、予め取得してある接触情報と前記複数の無線ＩＣタグ毎の応答波の強度の関係と比較する際に、前記複数の無線ＩＣタグに応答波の強度の変化が生じたかを順次判定することで、該当する前記接触情報を推定する付記１から付記１０のいずれかに記載の接触センサー装置。
（付記１２）
前記信号処理部は、発生する確率の高い接触に対応する前記接触情報に優先的に到達するように前記接触情報を推定する付記１１に記載の接触センサー装置。
（付記１３）
複数の無線ＩＣタグが埋め込まれた被接触物に質問波を送信し、
前記複数の無線ＩＣタグからの応答波を受信し、
接触により位置変化した無線ＩＣタグからの応答波の強度に基づいて、前記接触に関する接触情報を推定する接触情報の検出方法。

１ 接触センサー装置
２ センサー素子
３ 柔軟物
４ 送受信アンテナ
５ 送受信部
６ 信号処理部
７ 参照情報記録部
８ 電力供給部
２１、２２、２３、２４、２５、２６、２７ ＩＣタグ
３１ 接触部
９、９１、９２ 接触物
９１１、９１２、９１３ ＩＣタグ

Claims (4)

1. 被接触物に埋め込まれた複数の無線ＩＣタグと、
   前記被接触物に外部から接触が発生することで位置変化した無線ＩＣタグからの応答波の強度に基づいて、前記接触を推定する信号処理部と、を有することを特徴とする接触センサー装置。
2. 前記複数の無線ＩＣタグとの間で、前記複数の無線ＩＣタグに対応する複数の質問波と、前記複数の質問波に応答して前記複数の無線ＩＣタグから発信された応答波と、を送受信する送受信装置を更に有し、
   前記信号処理部は、前記送受信装置に接続されており、前記位置変化した無線ＩＣタグに対応した応答波の強度を、予め取得してある接触情報と前記複数の無線ＩＣタグに対応した応答波の強度の関係と比較することで、前記接触に関する接触情報を推定することを特徴とする請求項１に記載の接触センサー装置。
3. 外部からの接触は、前記複数の無線ＩＣタグとは異なる他の無線ＩＣタグが取り付けられた接触物によって発生し、
   前記送受信装置は、前記接触物に取り付けられた前記他の無線ＩＣタグに対応する質問波と、前記質問波に応答して前記他の無線ＩＣタグから発信され、前記他の無線ＩＣタグのＩＤを含む応答波と、を送受信し、
   前記信号処理部は、前記応答波に含まれるＩＤに基づいて、前記接触物と前記接触物の接触位置を特定可能な請求項２に記載の接触センサー装置。
4. 複数の無線ＩＣタグが埋め込まれた被接触物に質問波を送信し、
   前記複数の無線ＩＣタグからの応答波を受信し、
   接触により位置変化した無線ＩＣタグからの応答波の強度に基づいて、前記接触に関する接触情報を推定する接触情報の検出方法。

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