JP6060385B2 - 耐候性試験機および耐候性試験方法 - Google Patents
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Description
1.実施の形態(発光光源の選択位置の時間変化により照射光の入射角度を時間変化させる例)
2.変形例
変形例1(光源自体の移動により照射光の入射角度を時間変化させる例)
変形例2(ミラーでの反射角度の時間変化により照射光の入射角度を時間変化させる例)
変形例3(試料ホルダの傾斜角度の時間変化により照射光の入射角度を時間変化させる例)
変形例4(試験空間を複数に分割し、複数の試料について並行して試験を行う例)
3.その他の変形例
[構成]
図1は、本発明の一実施の形態に係る耐候性試験機(耐候性試験機1)の概略構成例を模式的に表したものである。この耐候性試験機1は、試験槽10内に配置された各種の材料からなる試料(試験片)9について、促進的環境条件下での耐候性試験(後述する加速試験による耐候性試験)を行うものである。
光源枠11は、後述する1または複数の光源(この例では複数の光源111)を有する半球状(ドーム状)の枠体である。
制御部18は、温度計171により検出された温度情報TB、照度計172により検出された照度情報I、温湿度測定部173により検出された湿度情報H,温度情報TC、および後述する所定の条件テーブル等に基づいて各種の制御信号CTL1〜CTL6を生成・出力することにより、耐候性試験機1内の各部材の動作を制御するものである。具体的には、制御部18は、照度情報I等に基づいて制御信号CTL1を生成・出力することにより、各光源111の放射照度を制御する。また、制御信号CTL2を生成・出力することにより、降雨スプレー12から出力される雨Rの量(降雨量)を制御し、制御信号CTL3を生成・出力することにより、噴霧塔13から出力される霧Fの量を制御する。温度情報TB,TC等に基づいて制御信号CTL4hを生成・出力することにより、ヒーター14hの動作を制御すると共に、温度情報TB,TC等に基づいて制御信号CTL4cを生成・出力することにより、冷却コイル14cの動作を制御する。湿度情報H等に基づいて制御信号CTL5を生成・出力することにより、湿度調整器15の動作を制御する。そして、制御信号CTL6を生成・出力することにより、循環送風機16の動作を制御する。なお、前述したように、試験の際の温度制御手法としては、温度計171を用いた制御手法だけでなく、例えば、乾球温度センサ173dの温度を利用した制御手法も挙げられる。このような制御部18は、例えばマイクロコンピュータ等を用いて構成されている。
(A.基本動作)
この耐候性試験機1では、試験槽10内において、光源枠11上の光源111から放射光が放射される。これにより、試料ホルダ110上に固定配置された試料9に対して、照射光Lが照射される。このような照射光Lの照射期間と非照射期間との周期的動作(サイクル)が、所定の試験時間(例えば数十時間〜数千時間程度)の間連続して行われることで、耐候性試験がなされる。
次に、図1〜図4に加えて図5〜図9を参照して、耐候性試験機1における具体的な耐候性試験方法について、比較例と比較しつつ詳細に説明する。
図5は、比較例に係る耐候性試験機(耐候性試験機101)の概略構成例を模式的に表したものである。この比較例の耐候性試験機101は、試験槽内に、単一の光源102と、円環状の試料取付枠(図示せず)上に固定配置された複数の試料ホルダ103、ブラックパネル温度計104および受光器(照度計)105とを備えている。
これに対して本実施の形態の耐候性試験機1では、加速試験による耐候性試験の際に、試料9が固定配置されたうえで、光源111からこの試料9への照射光Lの入射角度θが時間変化する。換言すると、光源111から試料9への照射光Lの入射角度θを時間変化させつつ、加速試験による耐候性試験が行われる。
○条件
・場所…東京・新宿(北緯35.68度、東経139.69度)
・1年間における屋外放射露光量…306MJ/m2(300nm〜400nm)
・試験時間の合計…1417時間
・LEDの放射照度…平均60W/m2(300nm〜400nm)
(照度:小=18W/m2、照度:中=60W/m2、照度:大=180W/m2)
○春(3〜5月)
・試験時間=354時間
・LEDの仰角=55度(3月21日に相当)
・LEDの放射照度のサイクル(LEDの発光時間=12時間)
…照度:小(4時間)→照度:中(4時間)→照度:小(4時間)→照度:0(12時間)
・温度のサイクル…14℃→18℃→14℃→10℃
・湿度=62%
・降雨量=500mm
○夏(6〜8月)
・試験時間=354時間
・LEDの仰角=78度(6月21日に相当)
・LEDの放射照度のサイクル(LEDの発光時間=13時間)
…照度:中(4時間)→照度:大(5時間)→照度:中(4時間)→照度:0(11時間)
・温度のサイクル…25℃→29℃→25℃→23℃
・湿度=72%
・降雨量=350mm
○秋(9〜11月)
・試験時間=354時間
・LEDの仰角=55度(9月21日に相当)
・LEDの放射照度のサイクル(LEDの発光時間=12時間)
…照度:小(4時間)→照度:中(4時間)→照度:小(4時間)→照度:0(12時間)
・温度のサイクル…19℃→23℃→19℃→16℃
・湿度=65%
・降雨量=500mm
○冬(12〜2月)
・試験時間=354時間
・LEDの仰角=31度(12月21日に相当)
・LEDの放射照度のサイクル(LEDの発光時間=11時間)
…照度:小(4時間)→照度:中(3時間)→照度:小(4時間)→照度:0(13時間)
・温度のサイクル…6℃→10℃→6℃→3℃
・湿度=47%
・降雨量=200mm
続いて、上記実施の形態の変形例(変形例1〜3)について説明する。なお、実施の形態における構成要素と同一のものには同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
図10は、変形例1に係る耐候性試験機における光源枠(光源枠11A)の概略構成例を、模式的に斜視図で表わしたものである。本変形例の光源枠11Aは、移動ラインLmに沿って移動可能な単一の光源111を有している。具体的には、この光源111は、無線または有線により送信される制御信号CTL1に従って、移動ラインLm上を自ら移動可能(自走式の光源111)となっている(図10中の矢印P71,P72,P73を参照)。また、図10中の矢印P81,P82に示したように、光源枠11Aの周囲に配置された一対のアクチュエータ112A,112Bによって、この移動ラインLm(光源111の走行ライン)の角度が任意に制御されるようになっている。
図11A,図11B,図11Cはそれぞれ、変形例2に係る耐候性試験機における光源枠(光源枠11B)の概略構成例を、照射光Lの入射角度θの時間変化について模式的に表したものである。本変形例の光源枠11Bは、1または複数のミラー(この例では複数のミラー113)を備えており、この光源枠11B内に光源111および試料9(試料ホルダ110)が固定配置されている。このミラー113は、光源111からの入射光を反射して試料9へ向けて照射するものであり、これにより試料9へ照射光Lが照射されるようになっている。
図12A,図12B,図12Cはそれぞれ、変形例3に係る耐候性試験機における光源枠(光源枠11C)の概略構成例を、照射光Lの入射角度θの時間変化について模式的に表したものである。本変形例の光源枠11Cは、固定配置された1つの光源111および試料9(試料ホルダ110)を備えている。
図13は、変形例4に係る耐候性試験機における光源枠(光源枠11D)の概略構成例を、模式的に上面図(X−Y上面図)で表わしたものである。本変形例の光源枠11Dでは、前述した両端点P1,P2に沿って(X軸方向に沿って)隔壁114が設けられており、これにより光源枠11D内が2つの試験空間St1,St2に分離されている。そして、これらの試験空間St1,St2ごとに個別に試料(2つの試料91,92)が固定配置され、これらの試料91,92について並行して耐候性試験が行われるようになっている。
以上、実施の形態および変形例を挙げて本発明を説明したが、本発明はこれらの実施の形態等に限定されず、種々の変形が可能である。
Claims (14)
- 複数の光源と、
試料を固定配置するための試料ホルダと、
加速試験による耐候性試験を行う際に、前記光源から前記試料への照射光の入射角度を時間変化させる制御部と
を備え、
前記制御部は、前記複数の光源のうちから選択されて発光する光源の選択位置を時間変化させることにより、前記照射光の入射角度を時間変化させる
耐候性試験機。 - 前記複数の光源がそれぞれ、半球状の枠体上に配置されており、
前記制御部は、前記半球状の枠体上に沿って、前記光源の選択位置を時間変化させる
請求項1に記載の耐候性試験機。 - 前記耐候性試験の際の環境条件の調整による試験時間の圧縮化によって、前記加速試験が実現される
請求項1または請求項2に記載の耐候性試験機。 - 前記加速試験を実現するための前記環境条件が、放射照度、温度、湿度、ならびに化学物質の種類および量のうちの少なくとも1つである
請求項3に記載の耐候性試験機。 - 前記制御部は、時間帯および季節のうちの少なくとも一方の設定に応じて、前記耐候性試験の際の環境条件を制御する
請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の耐候性試験機。 - 前記環境条件が、分光分布、放射照度、前記光源の仰角に依存する高度、前記光源の発光時間、温度、湿度、風量および降雨量のうちの少なくとも1つである
請求項5に記載の耐候性試験機。 - 前記制御部は、前記光源における印加電流もしくは印加電圧、または前記光源の発光個数を制御することにより、前記放射照度を制御する
請求項6に記載の耐候性試験機。 - 地球上の異なる複数地点における前記環境条件が、設定可能となっている
請求項5ないし請求項7のいずれか1項に記載の耐候性試験機。 - 予め用意された条件テーブルの選択操作、または、条件の都度入力操作の受付によって、前記環境条件が設定される
請求項5ないし請求項8のいずれか1項に記載の耐候性試験機。 - 前記光源が発光ダイオード(LED)である
請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の耐候性試験機。 - 前記LEDにおける発光強度が、連続的に制御可能となっている
請求項10に記載の耐候性試験機。 - 複数の光源を設けておくと共に試料を固定配置させ、
前記光源から前記試料への照射光の入射角度を時間変化させつつ、加速試験による耐候性試験を行う際に、
前記複数の光源のうちから選択されて発光する光源の選択位置を時間変化させることにより、前記照射光の入射角度を時間変化させる
耐候性試験方法。 - 前記耐候性試験の際の環境条件の調整による試験時間の圧縮化によって、前記加速試験を実現する
請求項12に記載の耐候性試験方法。 - 季節および時間帯のうちの少なくとも一方の設定に応じて、前記耐候性試験の際の環境条件を制御する
請求項12または請求項13に記載の耐候性試験方法。
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