JP6053385B2 - 撮像装置及びその制御方法 - Google Patents

Description

本発明は、撮像装置において、撮像光学系により結像された被写体像を光電変換する撮像素子により取得された画像信号を使用して、焦点調整を行う技術に関するものである。

従来の自動焦点調整（ＡＦ）技術において、点光源被写体・高輝度被写体に対する自動焦点調整装置・自動焦点調整方法に関して以下のような文献がある。

例えば、特許文献１には以下の記載がある。撮像した映像信号に基づき合焦制御信号を検出し合焦動作を行うコントラスト検出制御方式の自動合焦装置において、高輝度被写体に対しても正確な合焦動作が行えるようにする。そして、撮像画面の映像信号の低輝度部あるいは中輝度部の面積を比較することにより高輝度被写体の判定を行い、一般的な被写体の場合の合焦動作はコントラスト信号を用いて行い、高輝度被写体の場合には高輝度信号の面積が小さくなるように合焦動作を行う。

また、特許文献２には以下の記載がある。夜景など高輝度の点光源が散在する被写体について正確な合焦を可能にする電子カメラ及びオートフォーカス（ＡＦ）制御方法を提供する。そして、ＡＥ処理によって被写体の平均的な明るさを検出し、明るさが規定値よりも暗い場合に、ＡＥに基づく適正露出レベルでＡＦサーチ動作を行い、焦点評価値のピークを示す合焦位置を検出する動作を実行する。それに加え、当該ＡＦサーチ動作によって合焦位置を検出できなかった場合には、適正露出よりも露光量を減らしてＡＦサーチ動作を行い、点光源による撮像信号の飽和を回避する。こうして、複数回のＡＦサーチ動作の結果を基に、より正確な合焦位置の検出を行い、得られた合焦位置にレンズを移動させる。

特許第３１０５３３４号公報 特開２００２−１９６２２０号公報

しかしながら、上記の特許文献１においては、高輝度被写体・点光源被写体の場合には高輝度信号の面積が小さくなるように合焦動作を行っている。そのため点光源のみで主被写体が構成される場合は良いが、点光源被写体と照明された通常被写体が混在する場合などは、正確な焦点調節が出来ない場合がある。最近の撮像装置は高画素化が進んでいるため、わずかなピントのずれが無視できなくなり、より正確な焦点調節が要求されている。

正確な焦点調整が出来ない理由としては、以下のようなものが考えられる。
（１）光源の色の影響。
（２）通常被写体の照明された部分がぼけることで輝度が落ち、高輝度部の面積が小さくなる。

また特許文献２においては、合焦位置が検出できない場合に露光量を適正露出よりも減らしＡＦサーチを行うこと、明るさが規定値より暗い場合に、適正露光と適正より低い露光の複数回のＡＦサーチを行うことが記載されている。高輝度被写体・点光源被写体の場合にはその影響により合焦位置ではない位置を合焦位置と誤判定してしまうことが問題であり、特許文献２のように合焦位置が検出できない場合に対策を行っても意味がない。また適正露光と適正より低い露光の複数回のＡＦサーチを行うことはＡＦに要する時間が長くなるという問題点がある。

本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、画面内に高輝度被写体や点光源被写体がある場合でも、正確な焦点調整ができる撮像装置を提供することである。

本発明に係わる撮像装置は、フォーカスレンズを含む撮影光学系により結像される被写体像を光電変換して画像信号を得る撮像手段と、前記撮像手段によって得られた画像信号のうちの一部分の画像信号に基づいて合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、前記撮影光学系から入射する光の明るさを測定する測光手段と、前記撮影光学系から入射する光の明るさにより、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域の内部に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う処理を異ならせる制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の最大値と、該画像信号の最大値と最小値の差と、所定値以上の出力の画像信号の比率及び前記所定値未満の出力の画像信号の比率を用いて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域の内部に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う処理における、判定を行う際の定数を、前記撮影光学系より入射する光の明るさにより異ならせることを特徴とする。

本発明によれば、画面内に高輝度被写体や点光源被写体がある場合でも、正確な焦点調整ができる撮像装置を提供することが可能となる。

本発明の実施形態に共通する撮像装置の構成を示すブロック図。 本発明の実施形態に共通する撮像装置の撮像動作を示すフローチャート。 第１の実施形態のスキャンＡＦの動作手順説明図。 第１及び第２の実施形態における点光源被写体判定の動作手順説明図。 第１及び第２の実施形態におけるヒストグラムＹｐ、ヒストグラムＭＭを求める動作の手順説明図。 ＡＦ枠、ヒストグラム枠の位置の説明図。 スキャンＡＦ動作の説明図。 第２の実施形態のスキャンＡＦの動作手順説明図。 第３の実施形態のスキャンＡＦの動作手順説明図。 通常被写体の場合のフォーカス位置による輝度信号の最大値と積算値の関係を示す図。 飽和被写体（点光源被写体）の場合のフォーカス位置による輝度信号の最大値と積算値の関係を示す図。 第３の実施形態の点光源被写体判定の動作手順説明図。

以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。

（第１の実施形態）
図１は、本発明の実施形態に共通する撮像装置の構成を示すブロック図である。図１において、１は撮像装置、２はズームレンズ群、３はフォーカスレンズ群、４はズームレンズ群２及びフォーカスレンズ群３等からなる撮影光学系に入射する光束の量を制御する光量調節手段であり露出手段である絞りである。３１はズームレンズ群２、フォーカスレンズ群３、絞り４等からなる撮影光学系を収納する撮影レンズ鏡筒、５は撮影光学系を透過した被写体像が結像し、これを光電変換する固体撮像素子（以下センサー）である。

６はセンサー５によって光電変換された電気信号を受けて各種の画像処理を施すことにより所定の画像信号を生成する撮像回路、７は撮像回路６により生成されたアナログ画像信号をデジタル画像信号に変化するＡ／Ｄ変換回路である。８はＡ／Ｄ変換回路７の出力を受けてこの画像信号を一時的に記憶するバッファメモリ等のメモリ（ＶＲＡＭ）である。９はＶＲＡＭ８に記憶された画像信号を読み出してこれをアナログ信号に変換するとともに再生出力に適する形態の画像信号に変換するＤ／Ａ変換回路、１０はこの画像信号を表示する液晶表示装置（ＬＣＤ）等の画像表示装置（以下ＬＣＤ）である。

１２は半導体メモリ等からなる画像データを記憶する記憶用メモリである。１１はＶＲＡＭ８に一時記憶された画像信号を読み出して記憶用メモリ１２に対する記憶に適した形態にするために画像データの圧縮処理や符号化処理を施す圧縮回路及び記憶用メモリ１２に記憶された画像データを再生表示等をするのに最適な形態とするための復号化処理や伸長処理等を施す伸長回路とからなる圧縮伸長回路である。

１３はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けて測光を行い自動露出（ＡＥ）処理を行うＡＥ処理回路、１４はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けてＡＦ評価値を生成する自動焦点調節（ＡＦ）処理を行うスキャンＡＦ処理回路（合焦位置検出部）である。１５は撮像装置の制御を行う演算用のメモリを内蔵したＣＰＵ、１６は所定のタイミング信号を発生するタイミングジェネレータ（以下ＴＧ）、１７はセンサードライバーである。

２１は絞り４を駆動する絞り駆動モータ、１８は絞り駆動モータ２１を駆動制御する第１モータ駆動回路である。２２はフォーカスレンズ群３を駆動するフォーカス駆動モータ、１９はフォーカス駆動モータ２２を駆動制御する第２モーター駆動回路である。２３はズームスレンズ群２を駆動するズーム駆動モータ、２０はズーム駆動モータ２３を駆動制御する第３モータ駆動回路である。

２４は各種のスイッチ群からなる操作スイッチ、２５は各種制御等を行うプログラムや各種動作を行わせるために使用するデータ等が予め記憶されている電気的に書き換え可能な読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）である。２６は電池、２８はストロボ発光部、２７はストロボ発光部２８の閃光発光を制御するスイッチング回路である。２９は警告表示などを行うＬＥＤなどの表示素子、３０は音声によるガイダンスや警告などを行うためのスピーカーである。３３はＡＦ評価値を取得する際に被写体の全部又は一部を照明する照明手段であるＬＥＤなどの光源で構成されるＡＦ補助光、３２はＡＦ補助光３３を駆動するためのＡＦ補助光駆動回路である。３５は手振れなどを検出する振れ検出センサー、３４は振れ検出センサー３５の信号を処理する振れ検出回路、３６はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けて画面上での顔位置や顔の大きさなどを検出する顔検出回路である。

なお、画像データ等の記憶媒体である記憶用メモリには、フラッシュメモリ等の固定型の半導体メモリや、カード形状やスティック形状からなり装置に対して着脱自在に形成されるカード型フラッシュメモリ等の半導体メモリが用いられる。また、その他、ハードディスクやフレキシブルディスク等の磁気記憶媒体等、様々な形態のものが適用される。

また、操作スイッチ２４としては、撮像装置１を起動させ電源供給を行うための主電源スイッチや撮影動作（記憶動作）等を開始させるレリーズスイッチ等がある。また、再生動作を開始させる再生スイッチ、撮影光学系のズームレンズ群２を移動させズームを行わせるズームスイッチ等もある。

そしてレリーズスイッチは撮影動作に先立ち行われるＡＥ処理、ＡＦ処理を開始させる指示信号を発生する第１ストローク（以下ＳＷ１）と実際の露光動作を開始させる指示信号を発生する第２ストローク（以下ＳＷ２）との二段スイッチにより構成される。

このように構成される本実施形態の撮像装置の動作を以下に説明する。

まず、撮像装置１の撮影レンズ鏡筒３１を透過した被写体光束は絞り部４によってその光量が調整された後、センサー５の受光面に結像される。この被写体像は、センサー５による光電変換処理により電気的な信号に変換され撮像回路６に出力される。撮像回路６では、入力された信号に対して各種の信号処理が施され、所定の画像信号が生成される。この画像信号はＡ／Ｄ変換回路７に出力されデジタル信号（画像データ）に変換された後、ＶＲＡＭ８に一時的に格納される。ＶＲＡＭ８に格納された画像データはＤ／Ａ変換回路９へ出力されアナログ信号に変換され表示するのに適した形態の画像信号に変換された後、ＬＣＤ１０に画像として表示される。一方ＶＲＡＭ８に格納された画像データは圧縮伸長回路１１にも出力される。この圧縮伸長回路１１における圧縮回路によって圧縮処理が行われた後、記憶に適した形態の画像データに変換され、記憶用メモリ１２に記憶される。

また、例えば操作スイッチ２４のうち不図示の再生スイッチが操作されオン状態になると、再生動作が開始される。すると記憶用メモリ１２に圧縮された形で記憶された画像データは圧縮伸長回路１１に出力され、伸長回路において復号化処理や伸長処理等が施された後、ＶＲＡＭ８に出力され一時的に記憶される。更に、この画像データはＤ／Ａ変換回路９へ出力されアナログ信号に変換され表示するのに適した形態の画像信号に変換された後、ＬＣＤ１０に画像として表示される。

他方、Ａ／Ｄ変換回路７によってデジタル化された画像データは、上述のＶＲＡＭ８とは別にＡＥ処理回路１３、スキャンＡＦ処理回路１４及び顔検回路３６に対しても出力される。まずＡＥ処理回路１３においては、入力されたデジタル画像信号を受けて、一画面分の画像データの輝度値に対して累積加算等の演算処理が行われる。これにより、被写体の明るさに応じたＡＥ評価値が算出される。このＡＥ評価値はＣＰＵ１５に出力される。

またスキャンＡＦ処理回路１４においては、入力されたデジタル画像信号を受けて、画像データの高周波成分がハイパスフィルター（ＨＰＦ）等を介して抽出され、更に累積加算等の演算処理を行い、高域側の輪郭成分量等に対応するＡＦ評価値信号が算出される。具体的にはスキャンＡＦ処理はＡＦ領域として指定された画面の一部分の領域に相当する画像データの高周波成分をハイパスフィルター（ＨＰＦ）等を介して抽出し、更に累積加算等の演算処理を行う。これにより、高域側の輪郭成分量等に対応するＡＦ評価値信号が算出される。このＡＦ領域は中央部分あるいは画面上の任意の部分の一箇所である場合や、中央部分あるいは画面上の任意の部分とそれに隣接する複数箇所である場合、離散的に分布する複数箇所である場合などがある。このようにスキャンＡＦ処理回路１４は、ＡＦ処理を行う過程において、センサー５によって生成された画像信号から所定の高周波成分を検出する高周波成分検出手段の役割を担っている。

顔検出回路３６においては、入力されたデジタル画像信号を受けて、目、眉などの顔を特徴付ける部分を画像上で探索し、人物の顔の画像上での位置を求める。更に顔の大きさや傾きなどを、顔を特徴付ける部分の間隔などの位置関係から求める。

一方、ＴＧ１６からは所定のタイミング信号がＣＰＵ１５、撮像回路６、センサードライバー１７へ出力されており、ＣＰＵ１５はこのタイミング信号に同期させて各種の制御を行う。また撮像回路６は、ＴＧ１６からのタイミング信号を受け、これに同期させて色信号の分離等の各種画像処理を行う。さらにセンサードライバー１７は、ＴＧ１６のタイミング信号を受けこれに同期してセンサー５を駆動する。

またＣＰＵ１５は、第１モータ駆動回路１８、第２モータ駆動回路１９、第３モータ駆動回路２０をそれぞれ制御することにより、絞り駆動モータ２１、フォーカス駆動モータ２２、ズーム駆動モータ２３を介して、絞り４、フォーカスレンズ群３、ズームスレンズ群２を駆動制御する。すなわちＣＰＵ１５はＡＥ処理回路１３において算出されたＡＥ評価値等に基づき第１モータ駆動回路１８を制御して絞り駆動モータ２１を駆動し、絞り４の絞り量を適正になるように調整するＡＥ制御を行う。またＣＰＵ１５はスキャンＡＦ処理回路１４において算出されるＡＦ評価値信号に基づき第２モータ駆動回路１９を制御してフォーカス駆動モータ２２を駆動し、フォーカスレンズ群３を合焦位置に移動させるＡＦ制御を行う。また操作スイッチ２４のうち不図示のズームスイッチが操作された場合は、これを受けてＣＰＵ１５は、第３モータ駆動回路２０を制御してズームモータ２３を駆動制御することによりズームレンズ群２を移動させ、撮影光学系の変倍動作（ズーム動作）を行う。

次に本実施形態の撮像装置の実際の撮影動作を図２に示すフローチャートを用いて説明する。なお本実施形態の説明においては、フォーカスレンズ群３を所定位置に駆動しながらＡＦ評価値を取得する動作をスキャン、ＡＦ評価値を取得するフォーカスレンズの位置の間隔をスキャン間隔と呼ぶ。また、ＡＦ評価値を取得する数をスキャンポイント数、ＡＦ評価値を取得する範囲をスキャン範囲、複数の合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域をＡＦ枠と呼ぶ。

撮像装置１の主電源スイッチがオン状態であり、かつ撮像装置の動作モードが撮影（録画）モードにあるときは、撮影処理シーケンスが実行され、センサー５等に電源を供給する等の動作を実行して撮像を可能にする。

まずステップＳ１においてＣＰＵ１５は、撮影レンズ鏡筒３１を透過しセンサー５上に結像した像をＬＣＤ１０に画像として表示する。すなわちセンサー５上に結像した被写体像は、センサー５により光電変換処理され電気的な信号に変換された後、撮像回路６に出力される。そこで入力された信号に対して各種の信号処理が施され、所定の画像信号が生成された後、Ａ／Ｄ変換回路７に出力されてデジタル信号（画像データ）に変換され、ＶＲＡＭ８に一時的に格納される。ＶＲＡＭ８に格納された画像データはＤ／Ａ変換回路９へ出力されアナログ信号に変換され表示するのに適した形態の画像信号に変換された後、ＬＣＤ１０に画像として表示される。

次いでステップＳ２において、レリーズスイッチの状態を確認する。撮影者によってレリーズスイッチが操作され、ＳＷ１（レリーズスイッチの第１ストローク）がオン状態になったことをＣＰＵ１５が確認すると、次のステップＳ３に進む。ステップＳ３では、通常のＡＥ処理が実行される。続いてステップＳ４においてスキャンＡＦ処理を行う。この処理については後述する。

スキャンＡＦ処理の結果、合焦可能と判断されれば、ステップＳ５においてＡＦＯＫ表示を行う。これは表示素子２９を点灯することなどにより行うと同時にＬＣＤ１０上に緑の枠を表示するなどの処理を行う。またステップＳ４において、合焦可能と判断されない場合には、ステップＳ５に進みＡＦＮＧ表示を行う。これは表示素子２９を点滅表示することなどにより行うと同時にＬＣＤ上に黄色の枠を表示するなどの処理を行う。

ＣＰＵ１５はステップＳ６において、ＳＷ２（レリーズスイッチの第２ストローク）の確認を行い、ＳＷ２がオンになっていたならば、ステップＳ７に進み、実際の露光処理を実行する。

ステップＳ４で合焦位置を検出するためのスキャンＡＦ処理の概略を図３を用いて説明する。

ＡＦ枠は図６の（Ａ）に示すように中央部分あるいは画面上の任意の部分とそれに隣接する複数箇所に複数の枠が設定されているものとする。図６（Ａ）は中央部とそれに隣接する複数箇所に複数の枠が設定されている例である。

まずステップＳ３０１において顔検出の結果から検出が成功し顔が検出されたか否かを調べる。検出が成功しかつ所定以上の大きさの顔が検出されていればステップＳ３２０に進み、通常のＡＦを行う。顔が検出されていても小さい顔の場合は、ＡＦ枠内（ＡＦ枠の内部）に点光源被写体が入る可能性があるため、この場合は点光源被写体か否かの判定を行うステップに進むようにしている。顔が検出された場合のＡＦ枠の大きさは顔の大きさに一致させるので通常はＡＦ枠内に点光源被写体が入ることは無いが、ＡＦ枠が小さくなるとＡＦ評価値を取得する際の信号量が減り精度の良いＡＦが期待できないため、ＡＦ枠の大きさには下限を設けている。そのため検出された顔の大きさが小さい場合、ＡＦ枠内に点光源被写体が入る可能性がある。

検出された顔の大きさが小さい場合や顔検出に成功しなかった場合はステップＳ３０２においてステップＳ３のＡＥ処理の結果から所定の輝度（ＢｖＴｈ１）より低輝度での撮影か否かを判断する。所定の輝度以上（所定値以上）の明るさの場合はステップＳ３２０に進む。所定の輝度より暗い（所定値未満の）場合はステップＳ３０３において輝度（Ｂｖ値）に応じた点光源被写体判定パラメータの設定を行う。

このパラメータ（定数）の設定は、暗いほど点光源被写体を領域内に含むと判定しやすいように設定される。点光源被写体を含むとするのは、低輝度部が多く、高輝度部がある程度以上存在し、高輝度部が十分明るく、コントラクトが高い場合である。

具体的には以下の場合にその領域に点光源被写体が存在すると判断する。
（１）低輝度画素数ＮｕｍＢｌｉｇｈｔＬｏｗと高輝度画素数ＮｕｍＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈの和が所定画素数（ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ）より多い、
且つ、
（２）高輝度画素数ＮｕｍＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈが所定画素数（ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ）より多い、
且つ、
（３）領域内の高輝度部の値ヒストグラムＹｐが所定値（Ｙｐ０）より大きい、
且つ、
（４）領域内のコントラストを表わす値ヒストグラムＭＭが所定値（ＭＭ０）より大きい。

そこでＢｖ値が小さくなるほど、これらの条件が緩くなるようにする。すなわち、ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ、ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓはＢｖ値が小さくなるほど小さい値にする。またＹｐ０は同じ値とするが、ＭＭ０は誤判定を避けるためＢｖ値が小さくなるほど大きな値とする。また高輝度とみなす値ＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈ、低輝度とみなす値ＢｌｉｇｈｔＬｏｗの値も変え、Ｂｖ値が小さくなるほど、点光源と判定する条件が緩くなるようにする。

Ｂｖ値に応じて例えば以下のように設定する。
（１）Ｂｖ値：０〜−２の場合
ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の７０％（１画素未満は四捨五入）
ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の１％（１画素未満は四捨五入）
Ｙｐ０＝２４０
ＭＭ０＝１６０
ＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈ＝２３５
ＢｌｉｇｈｔＬｏｗ＝１００
（２）Ｂｖ値：−２〜−３の場合
ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の６０％（１画素未満は四捨五入）
ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の０．９％（１画素未満は四捨五入）
Ｙｐ０＝２４０
ＭＭ０＝１７０
ＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈ＝２３０
ＢｌｉｇｈｔＬｏｗ＝８０
（３）Ｂｖ値：−３未満
ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の５０％（１画素未満は四捨五入）
ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の０．８％（１画素未満は四捨五入）
Ｙｐ０＝２４０
ＭＭ０＝１８０
ＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈ＝２２５
ＢｌｉｇｈｔＬｏｗ＝６０
但し、これらは、輝度値の最小値は０、最大値は２５５とした場合の数値である。もちろんこれらと異なる組み合わせであっても、暗いほど点光源被写体を領域内に含むと判定しやすいような設定であれば構わない。

判定パラメータを設定したならば、ステップＳ３０４において各ＡＦ枠内に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う。その結果全てのＡＦ枠に点光源被写体が存在し通常のＡＦでは焦点調整が出来ないと判定された場合は、ステップＳ３０５からＳ３１１へ進み、Ｂｖ値を調べる。Ｂｖ値が所定値ＢｖＴｈ４より小さい場合はステップＳ３１３へ進み、過焦点位置と呼ばれる無限遠を被写界深度の遠側に含む最も近距離のフォーカスレンズ位置へフォーカスレンズ３を制御する。逆に大きい場合はステップＳ３１２に進み全てのＡＦ枠でＡＦ範囲（制御範囲）を限定したＡＦを行う。

点光源被写体として想定されるのは、イルミネーションで装飾された建造物・オブジェクト、ネオンサイン、装飾されたクリスマスツリー、電球・ロウソクを使用したオブジェクトなど数ｍ以上離れているものがほとんどで近距離で撮影することは稀である。そこで例えば、ＡＦ範囲を無限遠から３ｍに限定する。この距離は設定された撮影レンズ鏡筒３１の焦点距離で変えても良い。またマクロモードは既に近側（例えば５０ｃｍからそれぞれの焦点距離における至近端）にＡＦ範囲が限定されているので、ＡＦ範囲の限定は行わない。

このようにすることにより、点光源被写体による誤測距により至近にピントが合う位置にフォーカスレンズ群３が制御されてしまって、点光源被写体が大きくボケてしまうことを防止できる。すなわちスキャンを行う範囲が遠距離側に限定されるため点光源による誤測距が生じてもスキャンの範囲内に影響が限定される。また誤測距の影響が近側の被写体にピントを合わせる位置にフォーカスレンズ群３がある際に起きるようなシーンにおいては、誤測距の影響を受けずに済む。テップＳ３１２の処理が終了したならば、ステップＳ３０９へ進む。

一方ステップＳ３０５での判定の結果、いずれかのＡＦ枠内に点光源被写体が存在せず通常のＡＦで焦点調整が可能と判断された場合は、ステップＳ３０６からＳ３０７に進む。そして、中央枠もしくは撮影者が設定した画面上の任意の部分のＡＦ枠が通常ＡＦ可能か否かを判定する。その結果、通常ＡＦ可能と判定された場合はステップＳ３０８に進み、通常ＡＦ可能と判定された枠のみで通常ＡＦを行う。逆に通常ＡＦ不可能と判定された場合はステップＳ３１１へ進む。以下の処理は上記の通りである。

ステップＳ３２０、Ｓ３０８ではそれぞれの撮影モードにおける遠側端から至近端（例えば、非マクロモードの場合は無限遠から３０ｃｍ、マクロモードの場合５０ｃｍからそれぞれの焦点距離における至近端）の範囲でＡＦを行う。また、Ｓ３１１ではＡＦ範囲を限定して（例えば、無限遠から３ｍ）ＡＦを行う。

その結果、いずれかのＡＦ枠で焦点調整が可能な場合は、ステップＳ３０９からステップＳ３１０へ進み、焦点調整可能なＡＦ枠の合焦位置から所定のアルゴリズムに従って選択された合焦位置へフォーカスレンズ３を制御する。このアルゴリズムの詳細は特許第０２６２０２３５号公報などで公知であるが、簡単に説明すると、前方障害物ではないと判断されるもののうち最も近側の合焦位置を選択するものである。逆に全てのＡＦ枠で焦点調整が不可能な場合は、ステップＳ３０９からステップＳ３１３へ進み、過焦点位置と呼ばれる無限遠を被写界深度の遠側に含む最も近距離のフォーカスレンズ位置へフォーカスレンズ３を制御する。

ここでステップＳ３０４において行われる点光源被写体判定の動作について説明する。いま図６（Ａ）に示すようにＡＦ枠が設定されているとすると、そのＡＦ枠内のヒストグラム（輝度の分布）を用い点光源被写体がそのＡＦ枠内に存在するか否かを判定する。その動作手順を図４に示す。

まずステップＳ４０１においてヒストグラムを取る枠位置を１枠目（図６（Ａ）の００枠）に設定する。ついでステップＳ４０２において、設定された枠内のヒストグラムを取る。ここで言うヒストグラムは、ヒストグラムを取る枠位置内の画素についてひとつづつその画素の輝度値を測定し、その輝度値の画素がいくつ存在するかを求める処理である。例えばＡ／Ｄ変換された後の輝度値が０〜２５５になる場合、輝度値０〜２５５の画素が何画素あるかを求める処理である。

そしてステップＳ４０３において、ヒストグラムから所定輝度値より低い輝度の画素数を求め、これをＮｕｍＢｌｉｇｈｔＬｏｗとする。その後ステップＳ４０４において、ヒストグラムから所定輝度値より高い輝度の画素数を求め、これをＮｕｍＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈとする。

その次にステップＳ４０５においてヒストグラムＹｐを求める。更にステップＳ４０６においてヒストグラムＭＭを求める。

これら４つの指標が求まったならば、その指標がそれぞれの所定の条件を満たすか否かを調べ、全ての指標が条件を満たしたならば、その枠は点光源被写体を含む枠であると判定する。すなわち、低輝度部が多く、高輝度部がある程度以上存在し、高輝度部が十分明るく、コントラクトが高い場合は点光源被写体を含む枠と判定する。

以下のステップＳ４０７〜Ｓ４１０で使用されるパラメータは、図３のステップＳ３０３で設定された値を用いる。

まずステップＳ４０７で低輝度画素数ＮｕｍＢｌｉｇｈｔＬｏｗと高輝度画素数ＮｕｍＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈの和が所定画素数（ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ）より多いか否かを調べる。多ければステップＳ４０８へ進む。

次いでステップＳ４０８で高輝度画素数ＮｕｍＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈが所定画素数（ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ）より多いか否かを調べる。多ければステップＳ４０９へ進む。
そしてステップＳ４０９でヒストグラムＹｐが所定値（Ｙｐ０）より大きいか調べ、大きければステップＳ４１０へ進む。

更にステップＳ４１０でヒストグラムＭＭが所定値（ＭＭ０）より大きいか調べ、大きければステップＳ４１１へ進む。

このように全ての条件を満たした場合はその枠内に点光源被写体が存在すると判定できるので、Ｓ４１１においてその枠を点光源被写体を含む枠と判定する。

ステップＳ４１２で全枠について判定が終了したかを調べる。今、図６（Ａ）に示すようにＡＦ枠が設定されているので、判定は００枠→０１枠→０２枠→１０枠→ … →２１枠→２２枠の順序で行われる。よって２２枠の判定が終了したか否かを調べれば良い。全枠の判定が終了したならば、図３のステップＳ３０５へ進む。

全枠の判定が終了していない場合はステップＳ４１３へ進み、判定する枠を次の枠に設定する。もし００枠の判定が終了していたならば０１枠に、０１枠の判定が終了していたならば０２枠にというように設定する。

ここでステップＳ４０５、Ｓ４０６において行われるヒストグラムＹｐ、ヒストグラムＭＭを求める動作について説明する。その動作手順を図５に示す。

まずステップＳ５０１においてヒストグラムを取る枠内の総画素数を求める。これをＮｕｍＨｉｓｔＰｉｘｓとする。

次いでステップＳ５０２において有効とみなす画素数の閾値ＴｈｒＮｕｍＨｉｓｔを、ＮｕｍＨｉｓｔＰｉｘｓと有効とみなす画素数の割合（比率）ＴｈｒＲａｔｉｏの積を取ることで求める。この有効とみなす画素数はノイズなどで本来は存在しない輝度値が存在してしまう場合があるので、所定の画素数に満たない輝度値はノイズ等による見せ掛けのものと判断し、ヒストグラムＹｐ、ヒストグラムＭＭを求める際に用いないようにするための閾値である。

閾値ＴｈｒＮｕｍＨｉｓｔが求まったならば、ステップＳ５０３で輝度値を０に初期化し、輝度値０から有効な輝度値であるか否かの判定を開始する。

ステップＳ５０４において、判定する輝度値の画素数を閾値ＴｈｒＮｕｍＨｉｓｔと比較し、その値以上であれば、ステップＳ５０５で有効輝度値とする。閾値ＴｈｒＮｕｍＨｉｓｔ未満であれば無効な輝度値となる。

この処理をステップＳ５０７で輝度値を更新しながら続け、輝度値の最大値２５５の判定を終えたならば、ステップＳ５０６からステップＳ５０８へ進む。ステップＳ５０８では有効と判定された輝度値の最大値と最小値を求める。

そしてステップＳ５０９で有効と判定された輝度値の最大値をヒストグラムＹｐとして記録し、ステップＳ５１０で有効と判定された輝度値の最大値と最小値の差を求め、これをヒストグラムＭＭとして記録する。その後図４のステップＳ４０７へ進む。

次に、ステップＳ３２０、Ｓ３０８、Ｓ３１２において行われるＡＦ動作について図７を用いて説明する。

スキャンＡＦはセンサー５によって生成された画像信号から出力される高周波成分が最も多くなるフォーカスレンズ群３の位置を求めることにより行われる。ＣＰＵ１５はフォーカス駆動モータ２２を駆動制御する第２モーター駆動回路１９を介してフォーカス駆動モータ２２を制御する。そして、フォーカスレンズ群３を無限遠に相当する位置（図７における「Ａ」）から各々の撮影モードにおいて設定される至近距離に相当する位置（図７における「Ｂ」）まで駆動する。そして駆動しながらスキャンＡＦ処理回路の出力（ＡＦ評価値信号）を取得し、フォーカスレンズ群３の駆動が終了した時点で取得したＡＦ評価値信号から、それが最大になる位置（図７における「Ｃ」）を求め、その位置にフォーカスレンズ群３を駆動する。マクロモード以外では図７における「Ｂ」がステップＳ３１２のＡＦにおいては限定され、例えば限定前の３０ｃｍから３ｍに限定される。

このＡＦ処理回路の出力の取得はスキャンＡＦの高速化のために、全てのフォーカスレンズ群３の停止位置については行わず、所定のステップ毎に行う。この場合、図７に示すａ１、ａ２、ａ３点においてＡＦ評価値信号を取得することがありうる。このような場合はＡＦ評価値信号が最大値となった点とその前後の点から合焦位置Ｃを計算にて求めている。このように補間計算を行いＡＦ評価値信号が最大値となる点（図７のＣ）を求める前にＡＦ評価値信号の信頼性を評価する。具体的な方法は特許第０４２３５４２２号公報や特許第０４１８５７４１号公報に記載されているので説明は省略する。

ステップＳ３２０の通常ＡＦに関しては上記に説明したスキャンＡＦを設定されたＡＦ枠全てに対して行い、各ＡＦ枠についてその信頼性が十分であれば、ＡＦ評価値信号が最大値となる点を求める。信頼性が十分でないＡＦ枠に関してはＡＦ評価値信号が最大値となる点を求める処理は行わない。そしていずれかのＡＦ枠の信頼性が十分であれば、ＡＦＯＫ表示を行う（図２ステップＳ５）。全てのＡＦ枠でＡＦ評価値信号の信頼性を評価した結果、全てのＡＦ枠でその信頼性が低い場合にはＡＦＮＧ表示を行う（図２ステップＳ５）。

ステップＳ３０７においては、通常ＡＦ可能と判定さえた枠のみで上記に説明したスキャンＡＦを行う。ステップＳ３２０と同様に、スキャンＡＦを行ったＡＦ枠の信頼性が十分であれば、ＡＦ評価値信号が最大値となる点を求め、信頼性が十分でないＡＦ枠に関してはＡＦ評価値信号が最大値となる点を求める処理は行わない。そしていずれかのＡＦ枠の信頼性が十分であれば、ＡＦＯＫ表示を行う（図２ステップＳ５）。全てのＡＦ枠でＡＦ評価値信号の信頼性を評価した結果、全てのＡＦ枠でその信頼性が低い場合にはＡＦＮＧ表示を行う（図２ステップＳ５）。

ステップＳ３１２においては、スキャン範囲を無限遠に相当するフォーカスレンズ群３の位置から、範囲を限定しない場合に比べて遠距離側に相当するフォーカスレンズ群３の位置に限定してスキャンＡＦを行う。例えば３０ｃｍに相当するフォーカスレンズ群３の位置から、３ｍに相当するフォーカスレンズ群３の位置に限定する。この場合、スキャン範囲は限定前の約８分の１になる。

このようにしてスキャンＡＦを設定されたＡＦ枠全てに対して行い、各ＡＦ枠についてその信頼性が十分であれば、ＡＦ評価値信号が最大値となる点を求める。信頼性が十分でないＡＦ枠に関してはＡＦ評価値信号が最大値となる点を求める処理は行わない。そしていずれかのＡＦ枠の信頼性が十分であれば、ＡＦＯＫ表示を行う（図２ステップＳ５）。全てのＡＦ枠でＡＦ評価値信号の信頼性を評価した結果、全てのＡＦ枠でその信頼性が低い場合にはＡＦＮＧ表示を行う（図２ステップＳ５）。

ユーザーによってＡＦ枠の位置が指定された場合は、その位置が指定されたＡＦ枠を中央のＡＦ枠として処理を行う。すなわち位置が指定されたＡＦ枠の周りに８つのＡＦ枠を作成し、合わせて９枠のＡＦ枠を用いて上記の処理を行う。但し画面からはみ出してＡＦ枠の設定を行うことはないので、ユーザーの指定した位置によっては９枠のＡＦ枠が作成されない場合がある。ＡＦ枠の個数が最小で４枠となる可能性がある。

ステップＳ３２０の通常ＡＦにおいてユーザーによって１点ＡＦ（中央１枠によるＡＦもしくはユーザーが指定した任意の１枠によるＡＦ）が設定されている場合や顔ＡＦで検出された顔位置にＡＦ枠が設定されている場合は、その枠についてのみ上記の処理を行う。但しステップＳ３０７、３１２のＡＦにおいては点光源被写体の影響を除去するため９枠のＡＦ枠を設定する。

このようにすることにより、点光源被写体と照明された通常被写体が混在する場合などにおいてもより正確な焦点調節が可能になる。

（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態の第１の実施形態に対する違いは、ＡＦ枠の設定とヒストグラムを求める枠の設定が異なる点である。このためそれぞれのＡＦ枠内に点光源被写体を含むか否かの判定方法が第１の実施形態と異なる。ＡＥ・ＡＦ双方においてヒストグラムを取る枠の設定を最適化した場合、ＡＥにおけるヒストグラムを取る枠の設定とＡＦにおけるヒストグラムを取る枠の設定は異なることになる。この場合、１度のセンサーからの画像読み出しに対してヒストグラム枠の設定を変えながら２度ヒストグラムを取る必要があるため、ＥＶＦの更新レートが長くなる弊害がある。そこでＡＥにおけるヒストグラムを取る枠の設定とＡＦにおけるヒストグラムを取る枠の設定を同一にする必要性が生じることになる。

ここで、図６（Ａ）に示すようにＡＦ枠が設定され、図６（Ｂ）に示すようにヒストグラムを取る枠が設定されている場合、両者の位置関係は図６（Ｃ）のようになる。

図８に、第２の実施形態におけるスキャンＡＦの手順を示す。なお第１の実施形態と同一の部分の説明は省略する。

第１の実施形態と同一の処理が行われステップＳ３０４に達すると、ステップＳ３０４において各ヒストグラム枠内に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う。いずれかのヒストグラム枠内に点光源被写体が存在せず、通常のＡＦで焦点調整が可能なＡＦ枠が存在する可能性がある場合はステップＳ８０１へ進み、各ＡＦ枠が通常のＡＦで焦点調整が可能かの判定を行う。

その判定は以下のように行う。ＡＦ００枠はヒストグラム枠１枠に点光源被写体を含まなければ、通常のＡＦで焦点調整が可能と判定する。ＡＦ０１枠はヒストグラム枠１枠とヒストグラム２枠がともに点光源被写体を含まなければ通常のＡＦで焦点調整が可能と判定する。同様にＡＦ０２枠はヒストグラム枠２枠に点光源被写体を含まなければ、ＡＦ１０枠はヒストグラム枠１枠とヒストグラム３枠がともに点光源被写体を含まなければ、ＡＦ１１枠はヒストグラム枠の４つのうち３つが点光源被写体を含まなければ、ＡＦ１２枠はヒストグラム枠２枠とヒストグラム４枠がともに点光源被写体を含まなければ、ＡＦ２０枠はヒストグラム枠３枠に点光源被写体を含まなければ、ＡＦ２１枠はヒストグラム枠３枠とヒストグラム４枠がともに点光源被写体を含まなければ、ＡＦ２２枠はヒストグラム枠４枠に点光源被写体を含まなければ、通常のＡＦで焦点調整が可能と判定する。
その後ステップＳ３０７に進む。以降の処理は第１の実施形態と同一である。

このようにすることにより、ＡＦ枠の設定とヒストグラムを求める枠の設定が異なる場合でも、点光源被写体と照明された通常被写体が混在する場合などにおいてもより正確な焦点調節が可能になる。

（第３の実施形態）
本発明の第３の実施形態の第１の実施形態に対する違いは、ＡＦ枠に点光源被写体が存在するか否かの判定方法が明るさ（Ｂｖ値）によって異なる点である。図２のステップＳ４で行われるスキャンＡＦの動作手順が図９に示すようになる。

図９を用いて第３の実施形態におけるスキャンＡＦの動作手順を説明する。なおＢｖ値に関する閾値の大小関係は、ＢｖＴｈ１＞ＢｖＴｈ２＞ＢｖＴｈ３≧ＢｖＴｈ４とする。

ステップＳ３０１、Ｓ３０２と第１の実施形態と同じ処理をした後、ステップＳ９０１において、Ｂｖ値がＢｖＴｈ３以上か否かのチェックを行い、ＢｖＴｈ３以上の場合はステップＳ９０２へ、ＢｖＴｈ３未満の場合はステップＳ９０３へ進む。

ステップＳ９０２では図３ステップＳ３０３と同様に、輝度（Ｂｖ値）に応じた点光源被写体判定パラメータの設定を行う。第１の実施形態と同様にこのパラメータの設定は、暗いほど点光源被写体を領域内に含むと判定しやすいように設定される。

ここでは、Ｂｖ値は、ＢｖＴｈ１未満、ＢｖＴｈ３以上であるので、その間のＢｖＴｈ２を閾値として、ＢｖＴｈ２以上の場合より、ＢｖＴｈ２未満の場合の方が点光源被写体を領域内に含むと判定しやすいように設定する。

例えば、以下のように設定する。
（１）Ｂｖ値≧ＢｖＴｈ２の場合
ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の７０％（１画素未満は四捨五入）
ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の１％（１画素未満は四捨五入）
Ｙｐ０＝２４０
ＭＭ０＝１６０
ＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈ＝２３５
ＢｌｉｇｈｔＬｏｗ＝１００
（２）Ｂｖ値＜ＢｖＴｈ２の場合
ＮｕｍＨｉｇｈＬｏｗＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の６０％（１画素未満は四捨五入）
ＮｕｍＨｉｇｈＰｉｘｓ＝領域内の総画素数の０．９％（１画素未満は四捨五入）
Ｙｐ０＝２４０
ＭＭ０＝１７０
ＢｌｉｇｈｔＨｉｇｈ＝２３０
ＢｌｉｇｈｔＬｏｗ＝８０
但し、これらは、輝度値の最小値は０、最大値は２５５とした場合の数値である。もちろんこれらと異なる組み合わせであっても、暗いほど点光源被写体を領域内に含むと判定しやすいようにする設定であれば構わない。

判定パラメータを設定したならば、ステップＳ３０４以下において第１の実施形態と同一の処理を行う。

ステップＳ９０３に進んだ場合は、ステップＳ９０２、Ｓ９０３では点光源被写体か否かの判定を行うが、その前にその原理を簡単に説明する。通常被写体の場合のフォーカス位置による輝度信号の最大値と積算値を図１０に示す。飽和被写体（点光源被写体）の場合のフォーカス位置により複数個取得された輝度信号の最大値と積算値を図１１に示す。

ここでいう輝度信号とは、ＡＥ処理が行われ、絞り４、センサー５の蓄積時間、撮像回路などにおける増幅率などが調整された後のＡ／Ｄ変換回路７の出力信号のことをいうものとする。

図１０に示すように通常被写体の場合は、ＡＦ枠内の輝度信号の最大値は合焦位置におい最大になる。これは被写体の輝度の高い部分（白い部分）がピントの合っていない（ボケている）状態では周りの他の色と混ざり輝度信号値が落ちるが、ピントが合うことによって、他の色との混ざりが解消されて、よりコントラスト高くなることで、輝度の高い白い部分はより白くなり、輝度信号値が高くなるためである。またＡＦ枠内の全ての画素の輝度信号の積算値は、飽和のない通常被写体の場合は、図に示すようにほとんど変化しない。原理的には光の量はピントの状態によらず一定なのでフォーカス位置による違いはない。しかし実際には光源のフリッカや信号にのるノイズ、スキャン動作中の手振れなどによるＡＦ枠内の被写体の変化により多少の変動が生じる。

図１１に示すように点光源被写体の場合は、ＡＦ枠内の輝度信号の最大値が図に示すようにほとんど変化しない。これは被写体の輝度の高い部分は点光源などのため飽和しており、ピントがぼけてその輝度信号値が低下しても、センサーからの出力としては飽和していることに変わりないので、観察される輝度信号値としては同じとなるためである。またＡＦ枠内の輝度信号の積算値は、ピントの合っていない（ボケている）状態では飽和している点光源が周りに広がるため、飽和してセンサーからの出力輝度信号が高い部分が多くなり、大きくなる。逆にピントが合うことによって、点光源の広がりがなくなり、飽和してセンサーからの出力輝度信号が高い部分が少なくなるため、輝度信号の積算値は小さくなる。

本実施形態ではこの特性を利用し、ＡＦ枠内の輝度信号の最大値の変化率とＡＦ枠内の輝度信号の積算値の変化率をみることで、点光源被写体か否かを判定する。

そこでまず、ステップＳ９０３において予備スキャンを行う。現在のフォーカスレンズ群３の位置を中心に遠側方向、近側方向に適当な量だけフォーカスレンズ群３を動かして、輝度信号のＡＦ枠内の最大値とＡＦ枠内の輝度信号の積算値をフォーカスレンズ群３の位置ごとに取得する。例えば、開放深度の５倍相当の間隔で５点程度、輝度信号の最大値と輝度信号の積算値を取得する。

ついでステップＳ９０４で各ＡＦ枠ごとに点光源被写体か否かの判定を行う。その動作手順を図１２に示す。

まずステップＳ１２０１において、処理を行うＡＦ枠を初期枠に設定する。例えば図６（Ａ）のように９枠が設定されていたならば、初めに処理する枠として００枠を設定する。次いでステップＳ１２０２で設定された枠について、フォーカスレンズ群３の位置毎の輝度信号の最大値と積算値を取得する。

そしてステップＳ１２０３で輝度信号の最大値の変化率ΔＹＰを、
ΔＹＰ＝（輝度信号の最大値の最大値−輝度信号の最大値の最小値）
÷（輝度信号の最大値の最大値＋輝度信号の最大値の最小値）
と求める。輝度信号の最大値の最大値とはフォーカスレンズ群３の位置毎の輝度信号の最大値のうち最も値の大きいもの、輝度信号の最大値の最小値は最も値の小さいものである。図１０を例にとれば、図１０のフォーカスレンズ群３の位置ａ２で取得された値が最大値、ａ０で取得された値が最小値となる。

そしてステップＳ１２０４で輝度信号の積算値の変化率ΔＹＩを、
ΔＹＩ＝（輝度信号の積算値の最大値−輝度信号の積算値の最小値）
÷（輝度信号の積算値の最大値＋輝度信号の積算値の最小値）
と求める。輝度信号の積算値の最大値とはフォーカスレンズ群３の位置毎の輝度信号の積算値のうち最も値の大きいもの、輝度信号の積算値の最小値は最も値の小さいものである。図１１を例にとれば、図１１のフォーカスレンズ群３の位置ａ０で取得された値が最大値、ａ２で取得された値が最小値となる。

変化率ΔＹＰ、ΔＹＩが求まったならば、ステップＳ１２０５で両者を比較する。その結果ΔＹＩがΔＹＰに比べて十分に大きければ、例えば２倍以上の値であれば、ステップＳ１２０７へ進みそのＡＦ枠には点光源被写体が存在すると判定する。十分に大きくない場合はステップＳ１２０６へ進み通常被写体（ＡＦ枠に点光源被写体を含まない）と判定する。

ΔＹＩがΔＹＰに比べて十分に大きい場合に点光源被写体を含むと判定するのは、この様な低照度の場合、信号に重畳するノイズの影響で図１０、図１１に示すように輝度信号の積算値や輝度信号の最大値は変動する場合があるので、ノイズの影響を除くためである。点光源の場合は明るい光源により輝度の積算値が信頼性の高いものとなる。また輝度信号が飽和するので、輝度信号の最大値も低照度下の通常被写体に比べれば安定する。よってΔＹＩとΔＹＰに明確な大小関係がない場合は通常被写体の可能性が高いと言える。

その後ステップＳ１２０８で全ＡＦ枠に関して処理が終了したか調べ、終了していなければステップＳ１２０９で処理を次の枠に移し、その枠に対して同様の処理を行う。このようにすることにより、点光源被写体と照明された通常被写体が混在する場合などにおいてもより正確な焦点調節が可能になる。

なお、第１乃至第３の実施形態はコンパクトタイプのデジタルカメラを例に説明したが、本発明は、デジタルビデオカメラやデジタル一眼レフのライブビュー時のＡＦに適用可能である。

Claims (7)

1. フォーカスレンズを含む撮影光学系により結像される被写体像を光電変換して画像信号を得る撮像手段と、
   前記撮像手段によって得られた画像信号のうちの一部分の画像信号に基づいて合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、
   前記撮影光学系から入射する光の明るさを測定する測光手段と、
   前記撮影光学系から入射する光の明るさにより、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域の内部に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う処理を異ならせる制御手段と、を備え、
   前記制御手段は、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の最大値と、該画像信号の最大値と最小値の差と、所定値以上の出力の画像信号の比率及び前記所定値未満の出力の画像信号の比率を用いて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域の内部に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う処理における、判定を行う際の定数を、前記撮影光学系より入射する光の明るさにより異ならせることを特徴とする撮像装置。
2. 前記制御手段は、前記撮影光学系より入射する光の明るさが暗い場合の方が前記撮影光学系より入射する光の明るさが明るい場合に比べて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の最大値と最小値の差に関する判定を行う際の定数を大きい数値とすることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記制御手段は、前記撮影光学系より入射する光の明るさが暗い場合の方が前記撮影光学系より入射する光の明るさが明るい場合に比べて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の前記所定値以上の出力の画像信号の比率と前記所定値未満の出力の画像信号の比率の和に関する判定を行う際の定数を小さい数値とすることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
4. 前記制御手段は、前記撮影光学系より入射する光の明るさが暗い場合の方が前記撮影光学系より入射する光の明るさが明るい場合に比べて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の前記所定値以上の出力の画像信号の比率に関する判定を行う際の定数を小さい数値とすることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
5. 前記制御手段は、前記撮影光学系より入射する光の明るさが暗い場合の方が前記撮影光学系より入射する光の明るさが明るい場合に比べて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の前記所定値以上の出力と判定する際の前記所定値を小さい数値とすることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
6. 前記制御手段は、前記撮影光学系より入射する光の明るさが暗い場合の方が前記撮影光学系より入射する光の明るさが明るい場合に比べて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の前記所定値未満の出力と判定する際の前記所定値を小さい数値とすることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
7. フォーカスレンズを含む撮影光学系により結像される被写体像を光電変換して画像信号を得る撮像手段によって得られた画像信号のうちの一部分の画像信号に基づいて合焦位置を検出する合焦位置検出ステップと、
   前記撮影光学系から入射する光の明るさを測定する測光ステップと、
   前記撮影光学系から入射する光の明るさにより、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域の内部に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う処理を異ならせる制御ステップと、を備え、
   前記制御ステップでは、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域から得られる画像信号の最大値と、該画像信号の最大値と最小値の差と、所定値以上の出力の画像信号の比率及び前記所定値未満の出力の画像信号の比率を用いて、前記合焦位置を検出するための画像信号を取得する領域の内部に点光源被写体が存在するか否かの判定を行う処理における、判定を行う際の定数を、前記撮影光学系より入射する光の明るさにより異ならせることを特徴とする撮像装置の制御方法。

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